JPH10304520A - 単体試験装置 - Google Patents
単体試験装置Info
- Publication number
- JPH10304520A JPH10304520A JP9104256A JP10425697A JPH10304520A JP H10304520 A JPH10304520 A JP H10304520A JP 9104256 A JP9104256 A JP 9104256A JP 10425697 A JP10425697 A JP 10425697A JP H10304520 A JPH10304520 A JP H10304520A
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- JP
- Japan
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- test
- unit test
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Abstract
(57)【要約】
【課題】操作場所切替器の切替忘れも有り管理が難しか
った。 【解決手段】常時接触導通している端子を閉回路Ｂ1，
開回路Ｂ2に夫々２ヶ有し、且つ常時開放し不導通の端
子を閉回路にＡ1，Ａ2、開回路にＣ1，Ｃ2の４端子を有
する受口ジャック３と、これに装着する単体スイッチ箱
４は挿入ガイド兼用で且つ挿入時常時閉接点Ｂ1，Ｂ2を
開放する絶縁棒と内蔵するテストボタンに接続された４
端子を有する単体テスト箱で構成されている。
った。 【解決手段】常時接触導通している端子を閉回路Ｂ1，
開回路Ｂ2に夫々２ヶ有し、且つ常時開放し不導通の端
子を閉回路にＡ1，Ａ2、開回路にＣ1，Ｃ2の４端子を有
する受口ジャック３と、これに装着する単体スイッチ箱
４は挿入ガイド兼用で且つ挿入時常時閉接点Ｂ1，Ｂ2を
開放する絶縁棒と内蔵するテストボタンに接続された４
端子を有する単体テスト箱で構成されている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、盤内に引出し形遮
断器を内蔵する閉鎖配電盤の全てに適用される。
断器を内蔵する閉鎖配電盤の全てに適用される。
【０００２】
【従来の技術】試験位置を有する閉鎖配電盤は従来図４
に示す様にインターロックを含むフルシーケンステスト
が可能な「中央」と、遮断器単体の開閉試験が出来る
「現場」の操作場所切替器１６と、現場での単体試験用
操作開閉器１７が各盤毎に夫々１ヶずつ取付ける必要が
あった。又、「中央−現場」の操作場所切替器１６も常
時「中央」側１６ａで運用すべき処、「現場」側１６ｂ
になっていても判らない不便さがあった。このため、
「中央」位置でのみハンドル１８が引き抜けるキースイ
ッチとし、ハンドル１８が挿入されていると正面扉５が
閉められない様な構造として、ハンドルを管理する必要
があった。
に示す様にインターロックを含むフルシーケンステスト
が可能な「中央」と、遮断器単体の開閉試験が出来る
「現場」の操作場所切替器１６と、現場での単体試験用
操作開閉器１７が各盤毎に夫々１ヶずつ取付ける必要が
あった。又、「中央−現場」の操作場所切替器１６も常
時「中央」側１６ａで運用すべき処、「現場」側１６ｂ
になっていても判らない不便さがあった。このため、
「中央」位置でのみハンドル１８が引き抜けるキースイ
ッチとし、ハンドル１８が挿入されていると正面扉５が
閉められない様な構造として、ハンドルを管理する必要
があった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このため、各盤内には
遮断器毎にハンドル引き抜き形操作場所切替器や、操作
開閉器が設けられ、且つ引き抜いたハンドルの保管もし
なければならなかった。本発明の目的は、各遮断器毎に
設けていた単体試験用操作開閉器を遮断器全台に共用で
１ヶとし、通常の運用では試験位置は必ずフルシーケン
ス対応として、単体テスト箱挿入時「入−切」用テスト
スイッチと接触導通する４回路と、常時接触導通し単体
テスト箱挿入時のみ不導通となる単体試験装置を盤正面
側の枠面に取付けることにより、単体テスト箱は共通で
１ヶで、且つ正面扉の閉状態で単体テスト箱の引き抜き
忘れを防止することが出来る。
遮断器毎にハンドル引き抜き形操作場所切替器や、操作
開閉器が設けられ、且つ引き抜いたハンドルの保管もし
なければならなかった。本発明の目的は、各遮断器毎に
設けていた単体試験用操作開閉器を遮断器全台に共用で
１ヶとし、通常の運用では試験位置は必ずフルシーケン
ス対応として、単体テスト箱挿入時「入−切」用テスト
スイッチと接触導通する４回路と、常時接触導通し単体
テスト箱挿入時のみ不導通となる単体試験装置を盤正面
側の枠面に取付けることにより、単体テスト箱は共通で
１ヶで、且つ正面扉の閉状態で単体テスト箱の引き抜き
忘れを防止することが出来る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため「入−切」用スイッチ（ＰＢ）を内蔵し、その
ＰＢの接点が夫々接続された接触端子と、挿入ガイドを
兼ね、且つ閉回路と開回路用の２回路の短絡接触子を開
放する為の絶縁棒を持った単体スイッチ箱を１台準備す
るだけで、各遮断器を収納した閉鎖配電盤にはその単体
スイッチ箱と接触する受口ジャック（閉回路と開回路の
短絡接触子２組と、閉回路・開回路接触子４端子を有す
る）を各盤に設ける。
するため「入−切」用スイッチ（ＰＢ）を内蔵し、その
ＰＢの接点が夫々接続された接触端子と、挿入ガイドを
兼ね、且つ閉回路と開回路用の２回路の短絡接触子を開
放する為の絶縁棒を持った単体スイッチ箱を１台準備す
るだけで、各遮断器を収納した閉鎖配電盤にはその単体
スイッチ箱と接触する受口ジャック（閉回路と開回路の
短絡接触子２組と、閉回路・開回路接触子４端子を有す
る）を各盤に設ける。
【０００５】
【発明の実施の形態】常時バネ圧により接触導通してい
る２端子（Ｂ1，Ｂ2）を有し、又常時開放されている不
導通の４端子を有する受口ジャックに、「入−切」スイ
ッチを内蔵し、且つ挿入ガイドを兼ねた絶縁棒により、
接触導通端子（Ｂ1，Ｂ2）がまず最初に開放され、続い
て非接触端子（Ａ1，Ａ2，Ｃ1，Ｃ2）が接触するスイッ
チ箱を挿入する。このスイッチ箱の入スイッチ，切スイ
ッチを押すことにより、遮断器の入−切単体試験が出来
る。
る２端子（Ｂ1，Ｂ2）を有し、又常時開放されている不
導通の４端子を有する受口ジャックに、「入−切」スイ
ッチを内蔵し、且つ挿入ガイドを兼ねた絶縁棒により、
接触導通端子（Ｂ1，Ｂ2）がまず最初に開放され、続い
て非接触端子（Ａ1，Ａ2，Ｃ1，Ｃ2）が接触するスイッ
チ箱を挿入する。このスイッチ箱の入スイッチ，切スイ
ッチを押すことにより、遮断器の入−切単体試験が出来
る。
【０００６】以下、本発明の実施例を図面によって説明
する。
する。
【０００７】図１は、本発明の一実施例による引出し形
遮断器内蔵の閉鎖配電盤の操作回路で、図２がその構造
図、図３（ａ）〜（ｃ）が閉鎖配電盤の正面側に取付け
られる単体試験装置の外観・構造図である。
遮断器内蔵の閉鎖配電盤の操作回路で、図２がその構造
図、図３（ａ）〜（ｃ）が閉鎖配電盤の正面側に取付け
られる単体試験装置の外観・構造図である。
【０００８】内蔵遮断器の操作回路は直流操作電源１，
内蔵遮断器１２が試験位置であることを検出する位置検
出スイッチ２，単体試験用スイッチ箱４の受口ジャック
３、受口ジャック３は常時開放の閉指令接続端子
（Ａ1，Ａ2）と開指令接続端子(Ｃ1，Ｃ2)、及び常時接
触導通し単体スイッチ挿入時開放される接続端子(Ｂ1，
Ｂ2)で構成されている。単体スイッチ箱４は受口ジャッ
ク３へ挿入するための挿入ガイドを兼ねた絶縁棒１３と
閉回路接続端子１４，開回路接続端子１５を有し、更に
入−切のテストスイッチ７と８を内蔵して構成されてい
る。
内蔵遮断器１２が試験位置であることを検出する位置検
出スイッチ２，単体試験用スイッチ箱４の受口ジャック
３、受口ジャック３は常時開放の閉指令接続端子
（Ａ1，Ａ2）と開指令接続端子(Ｃ1，Ｃ2)、及び常時接
触導通し単体スイッチ挿入時開放される接続端子(Ｂ1，
Ｂ2)で構成されている。単体スイッチ箱４は受口ジャッ
ク３へ挿入するための挿入ガイドを兼ねた絶縁棒１３と
閉回路接続端子１４，開回路接続端子１５を有し、更に
入−切のテストスイッチ７と８を内蔵して構成されてい
る。
【０００９】又、単体テスト箱１４を受口ジャック１３
へ挿入する際、まず、最初に常時導通常態の接触端子
（Ｂ1，Ｂ2）が開放され、続いて閉回路・開回路用接続
端子（Ａ1，Ａ2，Ｃ1，Ｃ2）が接続する構成になってい
る。内蔵遮断器１２が運転位置２９にある時は中央に設
置のＣＳ６でインターロック案件９を満たし、且つ電気
的事故が無いことを閉鎖継電器（８６）１１ａで確認後
入−切操作が出来る。これを模擬するため、遮断器を試
験位置に引き出すと位置検出のリミットスイッチ２が２
ｂ側に倒れる。このままの状態で中央側のＣＳ６によ
り、インターロック条件９及び電気的故障１１の確認を
含めたフルシーケンス試験が出来る。ここで本発明の単
体スイッチ箱４を挿入すると、まず最初に常時接触常態
の受口ジャック３の（Ｂ1，Ｂ2）が不導通状態となり、
続いて閉回路端子（Ａ1，Ａ2），開回路端子（Ｃ1，
Ｃ2）が接続される。次に単体スイッチ箱４内蔵のテス
トＰＢ７・８を押すことにより、遮断器１２は開−閉し
単体試験が実施できる。又、単体スイッチ箱４を挿入状
態のままでは正面扉５は閉じることが出来ず、引き抜き
忘れが一目で判る。
へ挿入する際、まず、最初に常時導通常態の接触端子
（Ｂ1，Ｂ2）が開放され、続いて閉回路・開回路用接続
端子（Ａ1，Ａ2，Ｃ1，Ｃ2）が接続する構成になってい
る。内蔵遮断器１２が運転位置２９にある時は中央に設
置のＣＳ６でインターロック案件９を満たし、且つ電気
的事故が無いことを閉鎖継電器（８６）１１ａで確認後
入−切操作が出来る。これを模擬するため、遮断器を試
験位置に引き出すと位置検出のリミットスイッチ２が２
ｂ側に倒れる。このままの状態で中央側のＣＳ６によ
り、インターロック条件９及び電気的故障１１の確認を
含めたフルシーケンス試験が出来る。ここで本発明の単
体スイッチ箱４を挿入すると、まず最初に常時接触常態
の受口ジャック３の（Ｂ1，Ｂ2）が不導通状態となり、
続いて閉回路端子（Ａ1，Ａ2），開回路端子（Ｃ1，
Ｃ2）が接続される。次に単体スイッチ箱４内蔵のテス
トＰＢ７・８を押すことにより、遮断器１２は開−閉し
単体試験が実施できる。又、単体スイッチ箱４を挿入状
態のままでは正面扉５は閉じることが出来ず、引き抜き
忘れが一目で判る。
【００１０】
【発明の効果】以上説明した様に本発明による単体試験
装置によれば下記３点の効果がある。 １．従来各遮断器毎に取付けていた操作場所切替器１６
と単体試験用入−切スイッチ１ヶが不要となり、全台に
１台単体スイッチ箱があればよい。
装置によれば下記３点の効果がある。 １．従来各遮断器毎に取付けていた操作場所切替器１６
と単体試験用入−切スイッチ１ヶが不要となり、全台に
１台単体スイッチ箱があればよい。
【００１１】２．通常操作場所切替器「中央」側に倒し
ておく必要があるが、本品は単体スイッチ箱を挿入しな
い限り自動的に中央側になっている。
ておく必要があるが、本品は単体スイッチ箱を挿入しな
い限り自動的に中央側になっている。
【００１２】３．単体スイッチ箱を挿入中は正面扉が閉
出来ず、引き抜き忘れを防止出来る。
出来ず、引き抜き忘れを防止出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明による一実施例。
【図２】図２はその取付構造の側面図。
【図３】図３は単体スイッチ箱の受口ジャックとその受
口ジャック構造図。
口ジャック構造図。
【図４】図４は従来の操作切替シーケンス。
【図５】図５はそれら操作器の取付を示す構造側面図。
【図６】図６は「中央」位置でハンドルが引き抜ける操
作場所切替器１６の正面観を示す。
作場所切替器１６の正面観を示す。
１…直流操作電源、２…内蔵遮断器の位置検出リミット
スイッチ、３…単体スイッチ箱の受口ジャック、４…単
体スイッチ箱、５…正面扉、６…中央に設置の操作開閉
器、７，８…単体スイッチ箱内蔵の入−切スイッチ、９
…インターロック条件、１０…保護リレー接点、１１…
閉鎖継電器、１２…遮断器、１３…ガイド兼用の絶縁
棒、１４，１５…単体スイッチの開−閉路端子接触子、
１６…操作場所切替器、１７…単体試験用入−切スイッ
チ、１８…引き抜けるハンドル。
スイッチ、３…単体スイッチ箱の受口ジャック、４…単
体スイッチ箱、５…正面扉、６…中央に設置の操作開閉
器、７，８…単体スイッチ箱内蔵の入−切スイッチ、９
…インターロック条件、１０…保護リレー接点、１１…
閉鎖継電器、１２…遮断器、１３…ガイド兼用の絶縁
棒、１４，１５…単体スイッチの開−閉路端子接触子、
１６…操作場所切替器、１７…単体試験用入−切スイッ
チ、１８…引き抜けるハンドル。
Claims (3)
- 【請求項１】盤内に引出し形遮断器を内蔵し、運転−試
験−断路の３位置を有する閉鎖配電盤に於て、試験位置
で「導通する回路が４回路、絶縁板が挿入されて不導通
となる回路が２回路を有する単体テスト箱」を挿入する
ことにより、盤内の遮断器の単体開閉試験が実施でき、
逆に単体テスト箱を引き抜くと導通していた４回路は開
路され、不導通であった２回路はバネで押圧されて接触
導通状態となることにより、フルシーケンステストが可
能となる単体試験装置。 - 【請求項２】単体開閉試験時挿入する単体テスト箱の受
け口を閉鎖配電盤の正面扉の真下に設置することによ
り、単体テスト箱を装着すると正面扉を閉じることが出
来ないことから、単体テスト箱の引き抜き忘れを防止す
ることを特徴とする単体試験装置。 - 【請求項３】試験位置の無い引出し形遮断器を内蔵した
閉鎖配電盤でも本装置を設けておけば断路位置で単体テ
スト箱を挿入しただけで、単体試験が実施出来る単体試
験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9104256A JPH10304520A (ja) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | 単体試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9104256A JPH10304520A (ja) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | 単体試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10304520A true JPH10304520A (ja) | 1998-11-13 |
Family
ID=14375859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9104256A Pending JPH10304520A (ja) | 1997-04-22 | 1997-04-22 | 単体試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10304520A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011193558A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Hitachi Ltd | スイッチギヤ及びスイッチギヤの連動試験方法 |
| JP2012019631A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 |
-
1997
- 1997-04-22 JP JP9104256A patent/JPH10304520A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011193558A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Hitachi Ltd | スイッチギヤ及びスイッチギヤの連動試験方法 |
| JP2012019631A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 |
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