JPH1030959A - 屈折率測定方法及びその装置 - Google Patents

屈折率測定方法及びその装置

Info

Publication number
JPH1030959A
JPH1030959A JP18604096A JP18604096A JPH1030959A JP H1030959 A JPH1030959 A JP H1030959A JP 18604096 A JP18604096 A JP 18604096A JP 18604096 A JP18604096 A JP 18604096A JP H1030959 A JPH1030959 A JP H1030959A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
prism
light
receiving element
convex lens
refractive index
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP18604096A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3599908B2 (ja
Inventor
Kenji Kawaguchi
賢治 川口
Hiroshi Tsuda
博司 津田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd filed Critical Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd
Priority to JP18604096A priority Critical patent/JP3599908B2/ja
Publication of JPH1030959A publication Critical patent/JPH1030959A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3599908B2 publication Critical patent/JP3599908B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 屈折率測定方法及びその装置に関し、部品点数を削減で
きると共に、光学系の各素子の位置合わせが簡単にな
り、しかも、装置の小型化及びコンパクト化を図れるよ
うにした屈折率測定方法及びその装置の提供を目的とす
る。 【解決手段】 光源1 から出射される光を凸レンズ2 を
通してプリズム4 に入射させ、プリズム4 の試料に接す
る反射面6 で全反射させて受光素子8 に入射させる屈折
率測定方法において、凸レンズ2 の結像点3 をプリズム
4 の出射面7 以遠に設定して、従来プリズム4 と受光素
子8 との間に配置されていた凸レンズを省略する構成と
した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリズムを用いる
全反射法による屈折率測定方法及びその装置に関し、特
に、部品点数を削減できると共に、光学系の各素子の位
置合わせが簡単になり、しかも、装置の小型化及びコン
パクト化を図れるようにした屈折率測定方法及びその装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のプリズムを用いる全反射法による
屈折率測定方法として、例えば、特開平6−27332
9号公報に開示されている構成がある。すなわち図4
(a) に示すようにように、まず、プリズム104の斜め
下方に配置した光源101から出射される光を凸レンズ
102で1点に結像させて擬似光源点103を形成して
測定範囲に見合った角度分布を持つ拡散光を発生させる
ようにする。次いで、プリズム104の入射面105に
入射させた上記拡散光を、プリズム104の試料に接す
る反射面106から反射させ、出射面107から出射さ
せる。このように出射面107から出射された光を別の
凸レンズ108を介して受光素子109に入射させ、受
光素子109上のアドレスによる受光強度の分布に基づ
いて屈折率の判定を行う構成を採っている。
【0003】また図4(b) に示すように上記凸レンズ1
08を介して受光素子109上の一点に決像させた場合
には該受光素子109の受けた受光量に基づいて屈折率
を判定することができるようになっている。この場合に
おいても、プリズム104の試料と接する面106に対
して測定範囲に見合った角度分布を持つ拡散光が使用さ
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の屈折率測定
方法では、図4(a) の例では受光素子としてCCDを用
いるため、CPUを用いた複雑な処理または回路が必要
になる。また、光源101側で光を収束させる凸レンズ
102の他に、拡散光である全反射光を受光素子109
に集光させるための凸レンズ108が必要になり、部品
点数が多く、その結果、光源101、2枚の凸レンズ1
02,108及び受光素子109を含む光学系の各素子
の位置合わせが非常に面倒になるという問題がある。
【0005】又、プリズム104と受光素子109との
間に凸レンズ108を介在させるので、装置の小型化及
びコンパクト化、コストダウンを図る上で一定の限界が
ある。
【0006】本発明は、上記の事情を鑑みてなされたも
のであり、部品点数を削減できると共に、光学系の素子
の位置合わせが容易になり、しかも、装置の小型化及び
コンパクト化を図れるようにした屈折率測定方法と、こ
の方法を実施できる屈折率測定装置とを提供することを
目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る屈折率測定
方法(以下、本発明方法と言う。)は、上記の目的を達
成するため、例えば図1に示すように、光源1とプリズ
ム4との間に配置され、光源1から出射される光を1点
に結像させる前記凸レンズ2の結像点3をプリズム4の
出射面7以遠に設定することを特徴とする。
【0008】これにより、光源1から出射した光は凸レ
ンズ2を通って、プリズム4の入射面5からプリズム4
内に入射し、反射面6で反射してプリズム4の出射面7
以遠で結像される。そして、この光が結像する結像点3
で光を直接に受光素子8に受光させたり、光伝送手段9
を介して受光素子8に受光させることにより、反射面6
からの全反射光量を測定できる。
【0009】従って、プリズム4と受光素子8との間の
凸レンズを省略して部品点数を削減でき、光源1又は凸
レンズ2の位置調整により結像点3を調整し、この結像
点3に受光素子8あるいはその結像点3に結像された光
を受光素子8に導く光伝送手段9の入力端の位置を合わ
せることにより、簡単に光学系の各素子の位置合わせが
できるようになる。
【0010】本発明において、特に、前記凸レンズ2の
結像点をプリズム4の出射面7上に設定する場合には、
プリズム4の出射面に受光素子8或いは光伝送手段9の
入力端を接することにより、一層簡単に光学系の位置合
わせができるようになる。
【0011】又、本発明に係る屈折率測定装置(以下、
本発明装置と言う。)は、前記本発明方法を実施するた
めに、光源1と、光源1の光を1点に結像させる凸レン
ズ2と、プリズム3と、光源1から凸レンズ2を通って
プリズム4に入射し、プリズム4の試料に接する反射面
7で全反射した光を受光する受光素子8とを備える屈折
率測定装置において、前記凸レンズ2の結像点がプリズ
ム4の出射面7以遠に設定されることを特徴とするもの
である。
【0012】これにより、光源1から出射する光を凸レ
ンズ2で集束させながらプリズム4の入射面5に入射さ
せ、反射面6で反射させ、この全反射光を出射面7以遠
に結像させることができる。そして、この結像点3に集
束された全反射光の光量を受光素子8に直接に又は光伝
送手段9を介して受光させることにより全反射光量を測
定できるようになる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体
的に説明する。図1の構成図に示すように、本発明は光
源1と、光源1の光を1点に結像させる凸レンズ2と、
プリズム4と、受光素子8とを備える本発明装置に対し
て適用される。この屈折率測定装置の前記プリズム4の
一面は試料に接する反射面6として上向きに水平に配置
される。又、上記光源1はその出射光軸が反射面6に対
して所定の角度になるようにプリズム4の入射面5の斜
め下方に配置され、この光源1とプリズム4との間に前
記凸レンズ2が配置される。
【0014】この凸レンズ2の結像点3はプリズム4の
反射面6で反射した光がプリズム4から出射する面、即
ち、出射面7に設定され、前記受光素子8は出射面7に
接して配置され、プリズム4及び結像点3に対する受光
素子4の位置調整を不要にするため、受光素子8をプリ
ズム4に例えば接着により固定している。換言すれば、
受光素子8をプリズム4の出射面7に貼り付けることに
より結像点3の位置を決定している。
【0015】更に、図示はしないが、この受光素子8の
受光量に基づいて試料の屈折率を演算する演算回路が設
けられる。本発明方法の一実施例に係る屈折率測定方法
においては、光源1から出射させた光を凸レンズ2を通
過させることにより集束させながらプリズム4の入射面
5に入射し、反射面6で全反射された全反射光が出射面
7上の結像点3に結像される。そして、この結像点3に
集束された全反射光が受光素子8に受光され、この受光
量に基づいて演算処理することによって試料の屈折率が
求められる。
【0016】つまり、この屈折率測定方法によれば、プ
リズム面に一致させた結像点3に受光素子8を貼り付け
るのみでよいので、受光素子8の位置は固定され経過時
的にその位置が変化することはない。従って、製造時に
は上記光源1とプリズム4との間に前記凸レンズ2の焦
点位置のみを調整することで足り、製造が簡単になると
ともに、たとえ経過時的に焦点位置がずれたとしても、
上記凸レンズ2の焦点位置のみを調整すればよいので保
守が簡単となる。
【0017】更に、プリズム4と受光素子8との間の凸
レンズを省略することができ、部品点数を削減して、コ
ストダウンを図ることができることは勿論である。更
に、受光素子8をプリズム4の出射面7に密着させるこ
とにより、プリズム4の出射面7側の装置の容積を小さ
くすることができ、装置の小型化及びコンパクト化を図
ることができる。
【0018】図2の構成図に示す本発明装置の他の実施
例に係る屈折率測定装置では、前例の結像点3に例えば
光ファイバーからなる光伝送手段9の入力端が配置さ
れ、例えば装置内の任意の位置に配置された受光素子8
にこの光伝送手段9により結像点3に結像された光が伝
送される。
【0019】この場合、光伝送手段9の入力端の位置は
プリズム4の出射面7に沿って調整すればよいので、光
学系の各素子の位置合わせは前例と同様に簡単になる。
更に、受光素子8の位置合わせは不要になり、装置内で
の受光素子8の配置を例えばプリズム4の下方のデッド
スペース内に配置することにより、前例と同様にプリズ
ム4の出射側の装置の容積を小さくすることができ、装
置の小型化及びコンパクト化を図ることができる。
【0020】この実施例のその他の構成、作用ないし効
果は上記の一実施例のそれらと同様であるので、重複を
避けるためこれらの説明は省略する。図3の構成図に示
す本発明装置の他の実施例に係る屈折率測定装置では、
凸レンズ2の結像点3がプリズム4の反射面7よりも遠
くに設定され、その結像点3に受光素子8が配置され
る。この実施例のその他の構成は上記の一実施例のそれ
らと同様であるので、重複を避けるためこれらの説明は
省略する。
【0021】なお、この実施例においては、結像点3に
受光素子8を配置しているが、前例と同様に結像点3に
光伝送手段9の入力端を配置し、この光伝送手段9によ
り結像点3に結像された光を任意の位置に配置された受
光素子8に導くように変形してもよい。
【0022】この屈折率測定装置によれば、上述の本発
明方法の一実施例に係る屈折率測定方法と同様にして試
料の屈折率を求めることができる。又、光学系の各素子
の位置合わせとしては、例えば光源1の位置を基準にし
て、凸レンズ2の位置をある程度ラフに調整して結像点
3をある程度ラフに設定し、この結像点3に受光素子8
を配置したり、凸レンズ2の位置を基準にして光源1の
位置をある程度ラフに調整して結像点3をある程度ラフ
に設定し、この結像点3に受光素子8を配置したり、受
光素子8の位置を基準にして、光源1及び/又は凸レン
ズ2の位置を調整して結像点3を受光素子8に合わせた
り、光源1及び受光素子8の位置を基準にして凸レンズ
2の位置を調整して結像点3を受光素子8に合わせたり
することにより簡単にできる。
【0023】この実施例のその他の作用ないし効果は上
記の一実施例のそれらと同様であるので、重複を避ける
ためこれらの説明は省略する。
【0024】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明方法は、
光源の光を一点に結像させる凸レンズの結像点をプリズ
ムの出射面以遠に設定するので、この結像点の光量を測
定することにより全反射光量を測定することができる。
従って、従来必要とされていたプリズムと受光素子との
間の凸レンズを省略して部品点数を削減することがで
き、又CCDを使用した時のような複雑なコンピュータ
回路あるいはプログラムを必要とせず、コストダウンが
できる効果が得られる。
【0025】又、本発明方法によれば、例えば受光素子
或いは受光素子に光を導く光伝送手段の入力端を結像点
に位置させ、光源の出射光軸の方向及び位置を調整し、
凸レンズの位置を調整するという簡単な方法で光源から
受光素子に至る光学系の各素子の位置合わせできる効果
が得られる。
【0026】更に、プリズムと受光素子との間の凸レン
ズを省略することにより、プリズムの受光素子側の装置
の容積を小さくすることができ、装置の小型化及びコン
パクト化を図ることができる効果が得られる。
【0027】本発明方法において、特に、前記凸レンズ
の結像点をプリズムの出射面に設定する場合には、プリ
ズム出射面の結像点に受光素子、あるいはこれに光を伝
送する光伝送手段の入力端の位置を合わせて固定するこ
とにより、プリズム及び結像点に対する受光素子、ある
いはこれに光を伝送する光伝送手段の入力端の位置調整
が不要になり、光学系の各素子の位置合わせを一層簡単
にできる効果が得られる。
【0028】又、本発明装置は、前記凸レンズの結像点
がプリズムの出射面に設定されるので、光源の光をプリ
ズムの出射面以遠に結像させてこの結像点の光量を測定
することにより全反射光量を測定する本発明方法を実施
することができ、これにより、上述の本発明方法により
得られる効果を得ることができる。
【0029】更に、本発明装置において、特に前記凸レ
ンズの結像点がプリズムの出射面に設定される場合に
は、プリズムの結像点に受光素子、あるいはこれに光を
伝送する光伝送手段の入力端の位置を合わせて固定する
ことにより、プリズム及び結像点に対する受光素子、あ
るいはこれに光を伝送する光伝送手段の入力端の位置調
整が不要になり、光学系の各素子の位置合わせを一層簡
単にできる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明方法及び本発明装置の一実施例の構成図
である。
【図2】本発明方法及び本発明装置の他の実施例の構成
図である。
【図3】本発明方法及び本発明装置の又他の実施例の構
成図である。
【図4】従来例の構成図である。
【符号の説明】
1 光源 2 凸レンズ 3 結像点 4 プリズム 6 反射面 7 出射面 8 受光素子 9 光伝送手段

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から出射される光を凸レンズを通し
    てプリズムに入射させ、プリズムの試料に接する反射面
    で全反射させて受光素子に入射させる屈折率測定方法に
    おいて、 前記凸レンズの結像点をプリズムの出射面以遠に設定す
    ることを特徴とする屈折率測定方法。
  2. 【請求項2】 前記凸レンズの結像点をプリズムの出射
    面上に設定する請求項1に記載の屈折率測定方法。
  3. 【請求項3】 前記凸レンズの結像点に受光素子を配置
    する請求項1又は2に記載の屈折率測定方法。
  4. 【請求項4】 前記凸レンズの結像点から光伝送手段に
    より受光素子に光を伝送させる請求項1又は2に記載の
    屈折率測定方法。
  5. 【請求項5】 光源と、光源の光を1点に結像させる凸
    レンズと、プリズムと、光源から凸レンズを通ってプリ
    ズムに入射し、プリズムの試料に接する反射面で全反射
    した光を受光する受光素子とを備える屈折率測定装置に
    おいて、 前記凸レンズの結像点がプリズムの出射面以遠に設定さ
    れることを特徴とする屈折率測定装置。
  6. 【請求項6】 前記凸レンズの結像点がプリズムの出射
    面上に設定される請求項5に記載の屈折率測定装置。
  7. 【請求項7】 前記凸レンズの結像点に前記受光素子が
    配置される請求項5又は6に記載の屈折率測定装置。
  8. 【請求項8】 前記凸レンズの結像点と前記受光素子と
    の間に結像点に結像された光を受光素子に伝送する光伝
    送手段を設けた請求項5又は6に記載の屈折率測定装
    置。
JP18604096A 1996-07-16 1996-07-16 屈折率測定方法及びその装置 Expired - Fee Related JP3599908B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18604096A JP3599908B2 (ja) 1996-07-16 1996-07-16 屈折率測定方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18604096A JP3599908B2 (ja) 1996-07-16 1996-07-16 屈折率測定方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1030959A true JPH1030959A (ja) 1998-02-03
JP3599908B2 JP3599908B2 (ja) 2004-12-08

Family

ID=16181354

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18604096A Expired - Fee Related JP3599908B2 (ja) 1996-07-16 1996-07-16 屈折率測定方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3599908B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1105125C (zh) * 1997-11-27 2003-04-09 台橡股份有限公司 适用于轮胎胎面的橡胶
CN100405043C (zh) * 2004-11-02 2008-07-23 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种光学玻璃折射率的高精度测量方法
JP2009105414A (ja) * 2002-12-10 2009-05-14 Nikon Corp 露光方法、及びデバイス製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1105125C (zh) * 1997-11-27 2003-04-09 台橡股份有限公司 适用于轮胎胎面的橡胶
JP2009105414A (ja) * 2002-12-10 2009-05-14 Nikon Corp 露光方法、及びデバイス製造方法
CN100405043C (zh) * 2004-11-02 2008-07-23 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种光学玻璃折射率的高精度测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3599908B2 (ja) 2004-12-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6127674A (en) Uneven-surface data detection apparatus
JPH09105625A (ja) 距離測定装置
US20080037933A1 (en) Speckle reduction using a fiber bundle and light guide
US6504611B2 (en) Two stage optical alignment device and method of aligning optical components
JP6331196B2 (ja) 光学素子、照射光学系、集光光学系および光導波路検査装置
JP3599908B2 (ja) 屈折率測定方法及びその装置
US5715055A (en) Spectroscope utilizing a coupler to concurrently apply parallel light beams to a sample and a reference light and processing the resulting light beams thereby compensating for environmental changes
US6486942B1 (en) Method and system for measurement of a characteristic of lens
JP4694290B2 (ja) 有限系光学素子の透過率測定方法及び透過率測定装置
JP4262380B2 (ja) 光量測定装置
JP3285769B2 (ja) 屈折率測定方法及びその装置
JP2580148B2 (ja) 光ミキサ−
JP3575586B2 (ja) 傷検査装置
JPH01304339A (ja) 屈折角測定装置
JP2757541B2 (ja) 焦点検出装置及びそれを備えた観察装置
JPH05232212A (ja) 受信光学系
JPH1020142A (ja) 光ファイバの観測系およびその観測系を用いた光ファイバ観測方法および光ファイバの軸合わせ方法
CN221726289U (zh) 一种偏心无杂光镜头
JP2005500539A5 (ja)
JPH1062344A (ja) 屈折率測定方法及びその装置
JPH08271209A (ja) 光導波路型変位センサおよびそれに用いる半球状レンズ
JPH04262244A (ja) 光学的測定装置
JP3045991B2 (ja) 光部品の光軸調整方法
JPH0588052A (ja) 計測器用光源装置
JPH11109022A (ja) 光波測距装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Effective date: 20040608

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20040618

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Effective date: 20040816

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040913

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20040915

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees