JPH10311812A - ガス検出方法とその装置 - Google Patents
ガス検出方法とその装置Info
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- JPH10311812A JPH10311812A JP13762297A JP13762297A JPH10311812A JP H10311812 A JPH10311812 A JP H10311812A JP 13762297 A JP13762297 A JP 13762297A JP 13762297 A JP13762297 A JP 13762297A JP H10311812 A JPH10311812 A JP H10311812A
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- gas
- gas sensor
- airflow
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- sensor
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 金属酸化物半導体ガスセンサへ周期的な気流
を加え、気流へのガスセンサの非線形応答からガスを定
性する。 【効果】 金属酸化物半導体ガスセンサを用いた新たな
ガスの検出方法が得られ、得られる応答波形はガスの種
類に特有で、情報量の多い信号が得られる。
を加え、気流へのガスセンサの非線形応答からガスを定
性する。 【効果】 金属酸化物半導体ガスセンサを用いた新たな
ガスの検出方法が得られ、得られる応答波形はガスの種
類に特有で、情報量の多い信号が得られる。
Description
【0001】
【発明の利用分野】この発明は、気流の変化に対するガ
スセンサの非線形性の強い応答からガスを検出すること
に関する。
スセンサの非線形性の強い応答からガスを検出すること
に関する。
【0002】
【従来技術】発明者らのグループはガスセンサの非線形
応答からガスを検出することを研究してきた。特にガス
センサへの刺激としてセンサの温度変化を用い、得られ
る非線形応答をフーリエ変換してガス種毎の特徴を求め
て検出することを検討してきた(非線形ダイナミクスに
よる知的センシング−半導体ガスセンサの動的非線形応
答による成分計測−,化学工学論文集,22(5),1079-10
82,1996; 非線形応答に基づくガスセンシング:炭化
水素の識別と混合物中の各成分の定量,アナリィテカル
ケミストリ,66,2067-2072,1996)。
応答からガスを検出することを研究してきた。特にガス
センサへの刺激としてセンサの温度変化を用い、得られ
る非線形応答をフーリエ変換してガス種毎の特徴を求め
て検出することを検討してきた(非線形ダイナミクスに
よる知的センシング−半導体ガスセンサの動的非線形応
答による成分計測−,化学工学論文集,22(5),1079-10
82,1996; 非線形応答に基づくガスセンシング:炭化
水素の識別と混合物中の各成分の定量,アナリィテカル
ケミストリ,66,2067-2072,1996)。
【0003】発明者は上記の成果をさらに発展させ、ガ
スセンサに対して新たな種類の刺激を加え、これに対す
る非線形な応答からガスを検出すること検討した。
スセンサに対して新たな種類の刺激を加え、これに対す
る非線形な応答からガスを検出すること検討した。
【0004】
【発明の課題】この発明の課題は、新たなガス検出方法
とその装置とを提供することにある。
とその装置とを提供することにある。
【0005】
【発明の構成】この発明は、ガスセンサを周期的に変化
する気流に曝し、気流の変化に対する前記ガスセンサの
応答からガスを検出することを特徴とする。好ましく
は、前記ガスセンサが金属酸化物半導体ガスセンサで、
ガスセンサの金属酸化物半導体を加熱して用いる。また
好ましくは、ガスセンサの付近に配置したファンをオン
/オフさせることにより、前記の気流の変化を生じさせ
る。
する気流に曝し、気流の変化に対する前記ガスセンサの
応答からガスを検出することを特徴とする。好ましく
は、前記ガスセンサが金属酸化物半導体ガスセンサで、
ガスセンサの金属酸化物半導体を加熱して用いる。また
好ましくは、ガスセンサの付近に配置したファンをオン
/オフさせることにより、前記の気流の変化を生じさせ
る。
【0006】好ましくは、気流の変化に対するガスセン
サの応答をパワースペクトルに分解し、パワースペクト
ルの特徴からガスを定性する。また好ましくは、気流の
変化に対するガスセンサ応答の位相差から、ガスを定性
する。また好ましくは、気流の周期的変化に対するガス
センサ応答のヒステリシスループの特徴からガスを定性
する。ここで好ましくは、ヒステリシスループの乱れの
程度と、気流が比較的弱い部分と比較的強い部分のルー
プ内の位置から、ガスを定性する。さらに好ましくは、
ガスの定性後に、気流の強度が比較的弱い部分でのガス
センサ信号からガスを定量する。
サの応答をパワースペクトルに分解し、パワースペクト
ルの特徴からガスを定性する。また好ましくは、気流の
変化に対するガスセンサ応答の位相差から、ガスを定性
する。また好ましくは、気流の周期的変化に対するガス
センサ応答のヒステリシスループの特徴からガスを定性
する。ここで好ましくは、ヒステリシスループの乱れの
程度と、気流が比較的弱い部分と比較的強い部分のルー
プ内の位置から、ガスを定性する。さらに好ましくは、
ガスの定性後に、気流の強度が比較的弱い部分でのガス
センサ信号からガスを定量する。
【0007】好ましくは、ガスの検出結果に応じて気流
変化の周波数を変え、ガスの存在時には高周波数で、ガ
スの非存在時には低周波数で、気流を変化させる。
変化の周波数を変え、ガスの存在時には高周波数で、ガ
スの非存在時には低周波数で、気流を変化させる。
【0008】この発明はまた、金属酸化物半導体ガスセ
ンサの周囲にファンを配置し、ファンを周期的にオン/
オフさせてファンからガスセンサへの気流を周期的に変
化させると共に、気流の変化に対するガスセンサの応答
をサンプリングしてガスを検出する。
ンサの周囲にファンを配置し、ファンを周期的にオン/
オフさせてファンからガスセンサへの気流を周期的に変
化させると共に、気流の変化に対するガスセンサの応答
をサンプリングしてガスを検出する。
【0009】
【発明の作用と効果】この発明では、金属酸化物半導体
ガスセンサやプロトン導電体ガスセンサ,ジルコニアガ
スセンサ等のガスセンサに周期的に変化する気流を加
え、気流の変化に対するガスセンサの応答からガスを検
出する。なおガスセンサはヒータで加熱しても良く、ま
た煙道の排ガス中でのガス検出のように周囲の雰囲気で
ガスセンサを加熱しても良く、さらには間欠的にヒート
クリーニングして室温でガスを検出するガスセンサのよ
うに、室温のガスセンサの気流変化に対する応答からガ
スを検出しても良い。これは、この発明でのガス検出
が、気流の変化によるセンサの温度変化よりも、気流の
変化による雰囲気の拡散状況の変化に基づくものだから
である。
ガスセンサやプロトン導電体ガスセンサ,ジルコニアガ
スセンサ等のガスセンサに周期的に変化する気流を加
え、気流の変化に対するガスセンサの応答からガスを検
出する。なおガスセンサはヒータで加熱しても良く、ま
た煙道の排ガス中でのガス検出のように周囲の雰囲気で
ガスセンサを加熱しても良く、さらには間欠的にヒート
クリーニングして室温でガスを検出するガスセンサのよ
うに、室温のガスセンサの気流変化に対する応答からガ
スを検出しても良い。これは、この発明でのガス検出
が、気流の変化によるセンサの温度変化よりも、気流の
変化による雰囲気の拡散状況の変化に基づくものだから
である。
【0010】上で示唆したように、気流の変化に対する
ガスセンサの応答は、単なる気流による冷却への応答と
は異なり、気流による冷却から予想される振幅よりも大
きな振幅でセンサは応答する。また気流の変化に対する
ガスセンサの応答波形はガスの種類に特有で、例えばC
O中やエチレン中では複雑な応答波形が得られ、しかも
CO中での応答波形とエチレン中との応答波形は異質で
ある。これに対して空気中やエタン中での応答波形は単
純である。
ガスセンサの応答は、単なる気流による冷却への応答と
は異なり、気流による冷却から予想される振幅よりも大
きな振幅でセンサは応答する。また気流の変化に対する
ガスセンサの応答波形はガスの種類に特有で、例えばC
O中やエチレン中では複雑な応答波形が得られ、しかも
CO中での応答波形とエチレン中との応答波形は異質で
ある。これに対して空気中やエタン中での応答波形は単
純である。
【0011】発明者は、気流変化に対するガスセンサの
応答をフーリエ変換等のパワースペクトルへの分解や、
気流の変化に対するガスセンサの応答のヒステリシスル
ープの特徴から解析した。気流変化に対する応答のパワ
ースペクトルでは、例えばエタン中や空気中では高調波
成分が少ない。これに対して例えばエチレン中では高調
波成分が大きく、また応答波形中の基本波成分では気流
の変化に対する位相差が濃度の増加と共に減少する。ま
た例えばCO中では、応答波形中の高調波成分が大き
く、応答波形中の基本波成分での気流変化に対する位相
差が濃度の増加と共に増大する。
応答をフーリエ変換等のパワースペクトルへの分解や、
気流の変化に対するガスセンサの応答のヒステリシスル
ープの特徴から解析した。気流変化に対する応答のパワ
ースペクトルでは、例えばエタン中や空気中では高調波
成分が少ない。これに対して例えばエチレン中では高調
波成分が大きく、また応答波形中の基本波成分では気流
の変化に対する位相差が濃度の増加と共に減少する。ま
た例えばCO中では、応答波形中の高調波成分が大き
く、応答波形中の基本波成分での気流変化に対する位相
差が濃度の増加と共に増大する。
【0012】上記のように気流変化に対する応答波形の
複雑さは、例えばエチレン中やCO中で著しく、例えば
空気中やエタン中では小さい。このことはヒステリシス
ループでも同様で、ヒステリシスループの複雑さから例
えば空気中やエタン中と、例えばCO中やエチレン中と
を区別でき、かつヒステリシスループの面積が大きいの
がCO中で、小さいのがエチレン中である。ループ波形
の安定性は昇温側で高く、かつ昇温側で一般に波形が単
純で、降温側で波形の複雑さが著しい。例えばエチレン
とCOとの識別では、昇温側が降温側と同抵抗もしくは
降温側よりも高抵抗なのがエチレンで、昇温側が降温側
よりも低抵抗なのがCOである。そして波形の安定性の
点から、ガス濃度の定量では昇温側の信号を用いるのが
好ましい。
複雑さは、例えばエチレン中やCO中で著しく、例えば
空気中やエタン中では小さい。このことはヒステリシス
ループでも同様で、ヒステリシスループの複雑さから例
えば空気中やエタン中と、例えばCO中やエチレン中と
を区別でき、かつヒステリシスループの面積が大きいの
がCO中で、小さいのがエチレン中である。ループ波形
の安定性は昇温側で高く、かつ昇温側で一般に波形が単
純で、降温側で波形の複雑さが著しい。例えばエチレン
とCOとの識別では、昇温側が降温側と同抵抗もしくは
降温側よりも高抵抗なのがエチレンで、昇温側が降温側
よりも低抵抗なのがCOである。そして波形の安定性の
点から、ガス濃度の定量では昇温側の信号を用いるのが
好ましい。
【0013】
【実施例】図1〜図25に、実施例とその変形とを示
す。図1に実施例のガス検出装置の概要を示すと、2は
金属酸化物半導体等のガスセンサ、4はセンサ本体で、
ここではガスセンサ2のカバーを外してセンサ本体4を
露出して用いた。6はファンで、周期的に気流を変化さ
せるものであればよく、8は赤外線温度計である。なお
周知のように、センサ本体4にはヒータが内蔵され、ヒ
ータで加熱された金属酸化物の抵抗値を信号として、負
荷抵抗RLへの電圧の変化として取り出す。またE1はガ
スセンサ2の電源である。ここでは、ガスセンサ2にS
nO2系のガスセンサTGS813(TGS813は商品
名で、フィガロ技研製)を用い、気流が無い際の金属酸
化物半導体の温度が約330℃となるようにヒータ電圧
を定め、周囲温度は22℃に固定し、相対湿度は約40
%に固定した。
す。図1に実施例のガス検出装置の概要を示すと、2は
金属酸化物半導体等のガスセンサ、4はセンサ本体で、
ここではガスセンサ2のカバーを外してセンサ本体4を
露出して用いた。6はファンで、周期的に気流を変化さ
せるものであればよく、8は赤外線温度計である。なお
周知のように、センサ本体4にはヒータが内蔵され、ヒ
ータで加熱された金属酸化物の抵抗値を信号として、負
荷抵抗RLへの電圧の変化として取り出す。またE1はガ
スセンサ2の電源である。ここでは、ガスセンサ2にS
nO2系のガスセンサTGS813(TGS813は商品
名で、フィガロ技研製)を用い、気流が無い際の金属酸
化物半導体の温度が約330℃となるようにヒータ電圧
を定め、周囲温度は22℃に固定し、相対湿度は約40
%に固定した。
【0014】金属酸化物半導体ガスセンサ2の種類は任
意で、SnO2系に限らずWO3系やIn2O3系,ZnO系
等でもよい。実施例のガスセンサ2は厚膜系であるが、
薄膜系やビード状のガスセンサ等でも良い。ガスセンサ
は金属酸化物半導体ガスセンサに限らず、例えばプロト
ン導電体ガスセンサ(COやH2の検出用)、ジルコニ
アガスセンサ(O2やH2O,H2S等の検出用)等でも
良い。ファン6の回転数の変化による気流の変化は、ガ
スセンサ2への周囲雰囲気の拡散状況の変化として表
れ、任意のガスセンサがこれに対して非線形に応答す
る。例えば周波数Fで気流を変化させた場合、ガスセン
サの応答には周波数2F等の高調波成分が含まれる場合
が多い。ガスセンサ2は加熱して用いる必要はなく、例
えばヒータを用いて間欠的にヒートクリーニングし、そ
れ以外は常温に保っても良い。そして常温に保ったガス
センサ2に対して気流の変化を加えると、ガスセンサの
信号はそれに応答して非線形に変動する。
意で、SnO2系に限らずWO3系やIn2O3系,ZnO系
等でもよい。実施例のガスセンサ2は厚膜系であるが、
薄膜系やビード状のガスセンサ等でも良い。ガスセンサ
は金属酸化物半導体ガスセンサに限らず、例えばプロト
ン導電体ガスセンサ(COやH2の検出用)、ジルコニ
アガスセンサ(O2やH2O,H2S等の検出用)等でも
良い。ファン6の回転数の変化による気流の変化は、ガ
スセンサ2への周囲雰囲気の拡散状況の変化として表
れ、任意のガスセンサがこれに対して非線形に応答す
る。例えば周波数Fで気流を変化させた場合、ガスセン
サの応答には周波数2F等の高調波成分が含まれる場合
が多い。ガスセンサ2は加熱して用いる必要はなく、例
えばヒータを用いて間欠的にヒートクリーニングし、そ
れ以外は常温に保っても良い。そして常温に保ったガス
センサ2に対して気流の変化を加えると、ガスセンサの
信号はそれに応答して非線形に変動する。
【0015】10は制御部、12はフーリエ変換部であ
り、ガスセンサ信号をパワースペクトルに分解できるも
のであればよく、例えばフーリエ変換に代えて、最大エ
ントロピー法(MEM)でパワースペクトルに分解して
も良い。14はサンプリング部で、例えば昇温側の所定
の時点、(実施例ではガスセンサ2をヒータで加熱して
用いるので、気流が相対的に弱いときに昇温し、相対的
に強いときに降温する)、でのセンサ信号をサンプリン
グして記憶する。16は参照表で、ガス種毎にガスセン
サ信号とガス濃度との関係を記録している。
り、ガスセンサ信号をパワースペクトルに分解できるも
のであればよく、例えばフーリエ変換に代えて、最大エ
ントロピー法(MEM)でパワースペクトルに分解して
も良い。14はサンプリング部で、例えば昇温側の所定
の時点、(実施例ではガスセンサ2をヒータで加熱して
用いるので、気流が相対的に弱いときに昇温し、相対的
に強いときに降温する)、でのセンサ信号をサンプリン
グして記憶する。16は参照表で、ガス種毎にガスセン
サ信号とガス濃度との関係を記録している。
【0016】実施例では、フーリエ変換で求めたパワー
スペクトルの特徴からガス種を定性し、これによって参
照表16の内の参照部分を決定し、サンプリング部14
に記憶したガスセンサ信号と参照表のデータとを比較し
てガス濃度を求める。18は表示部でガス種と濃度とを
表示する。なお実施例では、ファン6は0.2Hz(5
秒周期で2.5秒オン,2.5秒オフ)でオン/オフさせ
るようにしたが、例えば常時は20〜100秒周期で動
作させ、その内2〜3秒間ファン6をオンさせ、ガス濃
度が所定値を越えると、制御部10を介してファン6の
オン/オフの周波数を例えば0.2Hzへと増加させて
も良い。このようにすれば常時はファン6の消費電力を
最小にし、ガスが発生した際に高い周波数でガスを検出
できる。
スペクトルの特徴からガス種を定性し、これによって参
照表16の内の参照部分を決定し、サンプリング部14
に記憶したガスセンサ信号と参照表のデータとを比較し
てガス濃度を求める。18は表示部でガス種と濃度とを
表示する。なお実施例では、ファン6は0.2Hz(5
秒周期で2.5秒オン,2.5秒オフ)でオン/オフさせ
るようにしたが、例えば常時は20〜100秒周期で動
作させ、その内2〜3秒間ファン6をオンさせ、ガス濃
度が所定値を越えると、制御部10を介してファン6の
オン/オフの周波数を例えば0.2Hzへと増加させて
も良い。このようにすれば常時はファン6の消費電力を
最小にし、ガスが発生した際に高い周波数でガスを検出
できる。
【0017】図1の鎖線は変形例の構成を示し、フーリ
エ変換に代えて、ガスセンサ2の応答波形のヒステリシ
スループを解析する例を示している。20はメモリで、
各点(例えばファン6の1周期に対して20〜100
点)のセンサ信号を記憶し、22は定性部で、高調波解
析部と差分部とを備え、高調波解析部でヒステリシスル
ープ中の高調波の強弱を検出する。これはヒステリシス
ループ中の降温部に対して高周波フィルタを作用させる
ことで実現できる。これによってガスの種類が大まかに
定まる。差分部はヒステリシスループ中の降温部と昇温
部とのセンサ信号の差を求めて積算する。この値はガス
の種類に特有で、高調波成分の大小により大まかにガス
の種類を定性し、ヒステリシスループの面積でガスの定
性を完了する。この後の処理はフーリエ変換の場合と同
様で、ガスの種類が定まると参照表16中の定性したガ
スに対応する部分を参照し、メモリ20に記憶したガス
センサ信号の内で、昇温側の適宜の点の信号と参照表1
6のデータとを比較して、ガス濃度を決定する。
エ変換に代えて、ガスセンサ2の応答波形のヒステリシ
スループを解析する例を示している。20はメモリで、
各点(例えばファン6の1周期に対して20〜100
点)のセンサ信号を記憶し、22は定性部で、高調波解
析部と差分部とを備え、高調波解析部でヒステリシスル
ープ中の高調波の強弱を検出する。これはヒステリシス
ループ中の降温部に対して高周波フィルタを作用させる
ことで実現できる。これによってガスの種類が大まかに
定まる。差分部はヒステリシスループ中の降温部と昇温
部とのセンサ信号の差を求めて積算する。この値はガス
の種類に特有で、高調波成分の大小により大まかにガス
の種類を定性し、ヒステリシスループの面積でガスの定
性を完了する。この後の処理はフーリエ変換の場合と同
様で、ガスの種類が定まると参照表16中の定性したガ
スに対応する部分を参照し、メモリ20に記憶したガス
センサ信号の内で、昇温側の適宜の点の信号と参照表1
6のデータとを比較して、ガス濃度を決定する。
【0018】図2〜図24に、実施例で求めた結果を示
す。図2は清浄空気中でのガスセンサ2の表面温度の変
化とセンサ抵抗の変化とを示している。以下の図におい
て、時刻の原点はセンサ温度の最小値(ファン6がオン
からオフした時点)に対応している。気流の変化に対す
る空気中での応答波形は単純で比較的サイン波に近くな
だらかである。また気流のオン/オフにより、センサの
抵抗値は8kΩ〜10.5kΩ程度の範囲で変化し、こ
れは約25℃のセンサの温度変化に対する抵抗値の変化
の約2倍である。
す。図2は清浄空気中でのガスセンサ2の表面温度の変
化とセンサ抵抗の変化とを示している。以下の図におい
て、時刻の原点はセンサ温度の最小値(ファン6がオン
からオフした時点)に対応している。気流の変化に対す
る空気中での応答波形は単純で比較的サイン波に近くな
だらかである。また気流のオン/オフにより、センサの
抵抗値は8kΩ〜10.5kΩ程度の範囲で変化し、こ
れは約25℃のセンサの温度変化に対する抵抗値の変化
の約2倍である。
【0019】図3は100〜3000ppmのエタン中で
の気流の変化に対するセンサの応答波形を示し、測定法
は図2のものと同様である。センサの応答波形は比較的
なだらかで位相は空気中のものに近いが、濃度が増すと
(3000ppm)波形の乱れが目立ち、高調波成分が生
じたことを示している。
の気流の変化に対するセンサの応答波形を示し、測定法
は図2のものと同様である。センサの応答波形は比較的
なだらかで位相は空気中のものに近いが、濃度が増すと
(3000ppm)波形の乱れが目立ち、高調波成分が生
じたことを示している。
【0020】図4はエチレン中での応答波形を示し、セ
ンサの表面温度は310〜333℃で、空気中に比べて
約5℃高温側にシフトしていた。エチレン中での波形は
高調波成分が目立ち、特に降温側(図の2.5〜5秒の
領域を参照)での波形の乱れが著しい。図5はCO中で
の波形を示し、センサの表面温度は310〜333℃で
ある。CO中では1000ppm以上で波形の乱れが著し
く、エチレンと同様、降温側での波形の乱れが著しい。
ンサの表面温度は310〜333℃で、空気中に比べて
約5℃高温側にシフトしていた。エチレン中での波形は
高調波成分が目立ち、特に降温側(図の2.5〜5秒の
領域を参照)での波形の乱れが著しい。図5はCO中で
の波形を示し、センサの表面温度は310〜333℃で
ある。CO中では1000ppm以上で波形の乱れが著し
く、エチレンと同様、降温側での波形の乱れが著しい。
【0021】図6に気流の変化の有無による抵抗値の変
化を示す。破線や鎖線はファン6をオフに固定した場合
を示し、網掛部分はファン6を0.2Hzでオン/オフ
させた際の抵抗値の変化の振幅を示している。エタン中
ではファン6の有無による抵抗値の変化が小さく、ファ
ン6をオン/オフさせると抵抗値はやや増加する。これ
に対してCO中やエチレン中ではファン6の有無による
抵抗値の変化は大きく、しかもファン6をオン/オフさ
せると抵抗値は減少する。このようにファン6を用いる
か否かとファン6をオン/オフさせた際の抵抗値の変化
の方向から、ガス種を大まかに定性できる。
化を示す。破線や鎖線はファン6をオフに固定した場合
を示し、網掛部分はファン6を0.2Hzでオン/オフ
させた際の抵抗値の変化の振幅を示している。エタン中
ではファン6の有無による抵抗値の変化が小さく、ファ
ン6をオン/オフさせると抵抗値はやや増加する。これ
に対してCO中やエチレン中ではファン6の有無による
抵抗値の変化は大きく、しかもファン6をオン/オフさ
せると抵抗値は減少する。このようにファン6を用いる
か否かとファン6をオン/オフさせた際の抵抗値の変化
の方向から、ガス種を大まかに定性できる。
【0022】図7は、空気中でのファン6のオン/オフ
によるセンサ抵抗のヒステリシスループを4ループ分示
している。昇温側で波形は比較的なだらかで、降温側で
波形はやや乱れている。図8〜図11は、エタン中での
4ループ分のヒステリシスループを示している。ヒステ
リシスループの面積は空気中に比べて僅かに減少してい
る。
によるセンサ抵抗のヒステリシスループを4ループ分示
している。昇温側で波形は比較的なだらかで、降温側で
波形はやや乱れている。図8〜図11は、エタン中での
4ループ分のヒステリシスループを示している。ヒステ
リシスループの面積は空気中に比べて僅かに減少してい
る。
【0023】図12〜図15は、エチレン中でのヒステ
リシスループを4ループ分示している。昇温側での波形
は降温側の波形に比べて乱れが少ない(高調波成分が少
ない)。ヒステリシスループの面積は小さく、ガス濃度
が増加するにつれてループ中の昇温側が降温側に対して
相対的に上昇し、1000ppm中以上では昇温側が降温
側よりも高抵抗となる。このことは、前記の定性部22
で差分した際に、差分を降温側の抵抗値から昇温側の抵
抗値を引算したものとして定義すると、エチレン100
〜300ppm中では差分の値が小さく、1000ppm以上
で差分の値が負となることを意味する。
リシスループを4ループ分示している。昇温側での波形
は降温側の波形に比べて乱れが少ない(高調波成分が少
ない)。ヒステリシスループの面積は小さく、ガス濃度
が増加するにつれてループ中の昇温側が降温側に対して
相対的に上昇し、1000ppm中以上では昇温側が降温
側よりも高抵抗となる。このことは、前記の定性部22
で差分した際に、差分を降温側の抵抗値から昇温側の抵
抗値を引算したものとして定義すると、エチレン100
〜300ppm中では差分の値が小さく、1000ppm以上
で差分の値が負となることを意味する。
【0024】図16〜図19に、CO中での4ループ分
のヒステリシスループを示す。CO100ppm中での応
答波形(図5)は乱れの少ない波形であったが、ヒステ
リシスループではループの面積が大きいことから、エタ
ンや空気中との区別は明瞭である。ヒステリシスループ
の面積はCO濃度と共に増加し、(CO3000ppmは
実用的には存在しない濃度であり、CO100〜100
0ppmを考慮する)、CO濃度と共にループの面積が増
加する。また空気中,エタン中,あるいはエチレン中と
同様に、波形の乱れは昇温側で少なく降温側で著しい。
そこでヒステリシスループの降温側波形の高調波成分を
検出すれば、空気中やエタン中とCO中やエチレン中を
識別でき、次にヒステリシスループの面積を比較すれば
COとエチレンとを識別できる。
のヒステリシスループを示す。CO100ppm中での応
答波形(図5)は乱れの少ない波形であったが、ヒステ
リシスループではループの面積が大きいことから、エタ
ンや空気中との区別は明瞭である。ヒステリシスループ
の面積はCO濃度と共に増加し、(CO3000ppmは
実用的には存在しない濃度であり、CO100〜100
0ppmを考慮する)、CO濃度と共にループの面積が増
加する。また空気中,エタン中,あるいはエチレン中と
同様に、波形の乱れは昇温側で少なく降温側で著しい。
そこでヒステリシスループの降温側波形の高調波成分を
検出すれば、空気中やエタン中とCO中やエチレン中を
識別でき、次にヒステリシスループの面積を比較すれば
COとエチレンとを識別できる。
【0025】図20〜図23に、図2〜図5の応答波形
のフーリエ変換スペクトルを示し、図20は空気中の応
答波形で、各図の実線は気流の変化に対するコサイン成
分を示し、破線はサイン成分を示している。空気中では
高調波成分(0.4Hz,0.6Hz等の成分)は僅か
で、正のコサイン成分に負のサイン成分が加わってい
る。このため気流の変化に対する空気中での応答波形の
位相差は約110度となる。図21はエタン中での応答
波形のフーリエ変換スペクトルを示し、特徴は空気中と
ほぼ同じである。
のフーリエ変換スペクトルを示し、図20は空気中の応
答波形で、各図の実線は気流の変化に対するコサイン成
分を示し、破線はサイン成分を示している。空気中では
高調波成分(0.4Hz,0.6Hz等の成分)は僅か
で、正のコサイン成分に負のサイン成分が加わってい
る。このため気流の変化に対する空気中での応答波形の
位相差は約110度となる。図21はエタン中での応答
波形のフーリエ変換スペクトルを示し、特徴は空気中と
ほぼ同じである。
【0026】図22はエチレン中での応答波形のフーリ
エ変換スペクトルを示し、高調波成分が空気中やエタン
中よりも多く、また0.1Hz等の気流の変化よりも低
周波の成分が存在する。エチレン100ppm中では基本
波(0.2Hz)のサイン成分はほぼ0で、1000ppm
以上でサイン成分は顕著に正となり、このため気流の変
化に対する基本波成分の位相差は減少する。このこと
が、ヒステリシスループにおいてループ面積を減少させ
た原因である。
エ変換スペクトルを示し、高調波成分が空気中やエタン
中よりも多く、また0.1Hz等の気流の変化よりも低
周波の成分が存在する。エチレン100ppm中では基本
波(0.2Hz)のサイン成分はほぼ0で、1000ppm
以上でサイン成分は顕著に正となり、このため気流の変
化に対する基本波成分の位相差は減少する。このこと
が、ヒステリシスループにおいてループ面積を減少させ
た原因である。
【0027】図23はCO中での気流の変化に対する応
答波形のフーリエ変換スペクトルを示し、高調波成分が
空気中やエタン中に対して強く、1000ppm以上で気
流の変化よりも低周波数の成分が存在する。CO中では
100ppm中からサイン波成分の符号は負でその絶対値
は大きく、3000ppm中ではコサイン成分も負とな
る。このため、CO濃度が増加すると気流の変化に対す
るセンサ応答の位相差が増大する。このことが、前記の
ヒステリシスループにおいてループ面積を増大させてい
た原因である。
答波形のフーリエ変換スペクトルを示し、高調波成分が
空気中やエタン中に対して強く、1000ppm以上で気
流の変化よりも低周波数の成分が存在する。CO中では
100ppm中からサイン波成分の符号は負でその絶対値
は大きく、3000ppm中ではコサイン成分も負とな
る。このため、CO濃度が増加すると気流の変化に対す
るセンサ応答の位相差が増大する。このことが、前記の
ヒステリシスループにおいてループ面積を増大させてい
た原因である。
【0028】図24に、各ガスの濃度と気流の変化に対
する0.2Hzの応答成分での位相差を示す。エタン中
では位相差はほぼ一定で、エチレン中では濃度と共に位
相差は減少し、CO中では位相差は増大する。
する0.2Hzの応答成分での位相差を示す。エタン中
では位相差はほぼ一定で、エチレン中では濃度と共に位
相差は減少し、CO中では位相差は増大する。
【0029】なお実施例ではファン6をオン/オフさせ
たが、ファン6をオン/オフさせるのではなく、例えば
サイン波でファン6の強弱を変調しても良い。またファ
ン6のオン/オフ周波数を0.2Hzとしたのは、ガス
センサ2から明瞭な応答波形を得るためで、ファン6の
周波数が1Hz以上ではセンサ2からの応答波形は曖昧
になる。また0.005Hz以下では検出が遅すぎるの
で、ファン6の周波数は0.005〜1Hzが好まし
く、より好ましくは0.01〜0.5Hzとする。
たが、ファン6をオン/オフさせるのではなく、例えば
サイン波でファン6の強弱を変調しても良い。またファ
ン6のオン/オフ周波数を0.2Hzとしたのは、ガス
センサ2から明瞭な応答波形を得るためで、ファン6の
周波数が1Hz以上ではセンサ2からの応答波形は曖昧
になる。また0.005Hz以下では検出が遅すぎるの
で、ファン6の周波数は0.005〜1Hzが好まし
く、より好ましくは0.01〜0.5Hzとする。
【0030】図25に第2の実施例を示すと、これは図
1で制御部10によりファン6のオン/オフ周波数を変
更するものに対応する。即ちフーリエ変換部12とサン
プリング部14とにより所定濃度以上のガスが存在する
ことを確認した場合、制御部10でファン6のオン/オ
フの周波数を変更する。そして通常モードではファン6
のオン/オフ周波数は例えば0.01Hz等とし、嗅ぎ
込みモードではファン6のオン/オフ周波数を例えば
0.2Hzにする。実施例には示さなかったが、気流の
変化に対するガスセンサ2の応答波形は、ファン6のオ
ン/オフの周波数によっても異なる。そこで通常モード
でガス種を大まかに定性しておき、嗅ぎ込みモードでフ
ァン6のオン/オフ周波数を増加させると、オン/オフ
周波数の増加前の応答波形と増加後の応答波形の2種類
の応答波形を用いて、より正確にガス種を特定できる。
1で制御部10によりファン6のオン/オフ周波数を変
更するものに対応する。即ちフーリエ変換部12とサン
プリング部14とにより所定濃度以上のガスが存在する
ことを確認した場合、制御部10でファン6のオン/オ
フの周波数を変更する。そして通常モードではファン6
のオン/オフ周波数は例えば0.01Hz等とし、嗅ぎ
込みモードではファン6のオン/オフ周波数を例えば
0.2Hzにする。実施例には示さなかったが、気流の
変化に対するガスセンサ2の応答波形は、ファン6のオ
ン/オフの周波数によっても異なる。そこで通常モード
でガス種を大まかに定性しておき、嗅ぎ込みモードでフ
ァン6のオン/オフ周波数を増加させると、オン/オフ
周波数の増加前の応答波形と増加後の応答波形の2種類
の応答波形を用いて、より正確にガス種を特定できる。
【図1】 実施例のガス検出装置の要部斜視図
【図2】 実施例での空気中の気流による温度変化と
抵抗値の変化を示す図
抵抗値の変化を示す図
【図3】 実施例でのエタン中での抵抗値変化を示す
図
図
【図4】 実施例でのエチレン中の抵抗値変化を示す
図
図
【図5】 実施例でのCO中の抵抗値変化を示す図
【図6】 実施例でのファンの有無による抵抗値のシ
フトを示す図
フトを示す図
【図7】 実施例での空気中のヒステリシスカーブを
示す図
示す図
【図8】 実施例でのエタン100ppm中のヒステリ
シスを示す図
シスを示す図
【図9】 実施例でのエタン300ppm中のヒステリ
シスを示す図
シスを示す図
【図10】 実施例でのエタン1000ppm中のヒステ
リシスを示す図
リシスを示す図
【図11】 実施例でのエタン3000ppm中のヒステ
リシスを示す図
リシスを示す図
【図12】 実施例でのエチレン100ppm中のヒステ
リシスを示す図
リシスを示す図
【図13】 実施例でのエチレン300ppm中のヒステ
リシスを示す図
リシスを示す図
【図14】 実施例でのエチレン1000ppm中のヒス
テリシスを示す図
テリシスを示す図
【図15】 実施例でのエチレン3000ppm中のヒス
テリシスを示す図
テリシスを示す図
【図16】 実施例でのCO100ppm中のヒステリシ
スを示す図
スを示す図
【図17】 実施例でのCO300ppm中のヒステリシ
スを示す図
スを示す図
【図18】 実施例でのCO1000ppm中のヒステリ
シスを示す図
シスを示す図
【図19】 実施例でのCO3000ppm中のヒステリ
シスを示す図
シスを示す図
【図20】 実施例での空気中の応答波形のフーリエ変
換スペクトルを示す図
換スペクトルを示す図
【図21】 実施例での100〜3000ppmのエタン
中の応答波形のフーリエ変換スペクトルを示す図
中の応答波形のフーリエ変換スペクトルを示す図
【図22】 実施例での100〜3000ppmのエチレ
ン中の応答波形のフーリエ変換スペクトルを示す図
ン中の応答波形のフーリエ変換スペクトルを示す図
【図23】 実施例での100〜3000ppmのCO中
の応答波形のフーリエ変換スペクトルを示す図
の応答波形のフーリエ変換スペクトルを示す図
【図24】 実施例での、気流変化に対する基本波成分
の位相差を、エタン,エチレン,COについて示す図
の位相差を、エタン,エチレン,COについて示す図
【図25】 第2の実施例の動作を示すフロチャート
2 金属酸化物半導体ガスセンサ 4 センサ本体 6 ファン 8 赤外線温度計 10 制御部 12 フーリエ変換部 14 サンプリング部 16 参照表 18 表示部 20 メモリ 22 定性部
Claims (10)
- 【請求項1】 ガスセンサを周期的に変化する気流に曝
し、気流の変化に対する前記ガスセンサの応答からガス
を検出することを特徴とするガス検出方法。 - 【請求項2】 前記ガスセンサが金属酸化物半導体ガス
センサで、ガスセンサの金属酸化物半導体を加熱して用
いることを特徴とする、請求項1のガス検出方法。 - 【請求項3】 ガスセンサの付近に配置したファンをオ
ン/オフさせることにより、前記の気流の変化を生じさ
せることを特徴とする、請求項1のガス検出方法。 - 【請求項4】 気流の変化に対するガスセンサの応答を
パワースペクトルに分解し、パワースペクトルの特徴か
らガスを定性することを特徴とする、請求項1のガス検
出方法。 - 【請求項5】 気流の変化に対するガスセンサ応答の位
相差から、ガスを定性することを特徴とする、請求項1
のガス検出方法。 - 【請求項6】 気流の周期的変化に対するガスセンサ応
答のヒステリシスループの特徴からガスを定性すること
を特徴とする、請求項1のガス検出方法。 - 【請求項7】 ヒステリシスループの乱れの程度と、気
流が比較的弱い部分と比較的強い部分のループ内の位置
から、ガスを定性することを特徴とする、請求項6のガ
ス検出方法。 - 【請求項8】 ガスの定性後に、気流の強度が比較的弱
い部分でのガスセンサ信号からガスを定量することを特
徴とする、請求項4〜7のいずれかのガス検出方法。 - 【請求項9】 ガスの検出結果に応じて気流変化の周波
数を変え、ガスの存在時には高周波数で、ガスの非存在
時には低周波数で、気流を変化させることを特徴とす
る、請求項1のガス検出方法。 - 【請求項10】 金属酸化物半導体ガスセンサの周囲に
ファンを配置し、ファンを周期的にオン/オフさせてフ
ァンからガスセンサへの気流を周期的に変化させると共
に、気流の変化に対するガスセンサの応答をサンプリン
グしてガスを検出することを特徴とするガス検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13762297A JPH10311812A (ja) | 1997-05-12 | 1997-05-12 | ガス検出方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13762297A JPH10311812A (ja) | 1997-05-12 | 1997-05-12 | ガス検出方法とその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10311812A true JPH10311812A (ja) | 1998-11-24 |
Family
ID=15202979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13762297A Pending JPH10311812A (ja) | 1997-05-12 | 1997-05-12 | ガス検出方法とその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10311812A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005331473A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | U-Tec Kk | 化学物質の計測方法 |
-
1997
- 1997-05-12 JP JP13762297A patent/JPH10311812A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005331473A (ja) * | 2004-05-21 | 2005-12-02 | U-Tec Kk | 化学物質の計測方法 |
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