JPH10312306A - 電子回路基板故障個所探索装置 - Google Patents
電子回路基板故障個所探索装置Info
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- JPH10312306A JPH10312306A JP9122745A JP12274597A JPH10312306A JP H10312306 A JPH10312306 A JP H10312306A JP 9122745 A JP9122745 A JP 9122745A JP 12274597 A JP12274597 A JP 12274597A JP H10312306 A JPH10312306 A JP H10312306A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 コンピュータ装置において、正常に動作する
電子回路基板と故障を有する電子回路基板との比較判定
を行い、故障個所を探索する。 【解決手段】 正常な電子回路基板２０および故障した
電子回路基板３０の各ノードにおいて、電圧電流特性値
が等しければ、表示部２における２つの波形がほぼ等し
く表示され、電圧電流特性値が異なれば、表示部２にお
ける２つの波形が相違して表示され、故障個所であると
判断される。また、中央処理装置１に、正常な電子回路
基板２０の各ノードの電圧電流特性値を予め測定して記
憶させ、かつ、予め故障と判断するかどうか電圧電流特
性値の差に対するしきい値を与え、電圧電流特性値の差
の大きい箇所より小さな箇所へと順番に表示することに
より、効率良く故障箇所の探索が行なえる。
電子回路基板と故障を有する電子回路基板との比較判定
を行い、故障個所を探索する。 【解決手段】 正常な電子回路基板２０および故障した
電子回路基板３０の各ノードにおいて、電圧電流特性値
が等しければ、表示部２における２つの波形がほぼ等し
く表示され、電圧電流特性値が異なれば、表示部２にお
ける２つの波形が相違して表示され、故障個所であると
判断される。また、中央処理装置１に、正常な電子回路
基板２０の各ノードの電圧電流特性値を予め測定して記
憶させ、かつ、予め故障と判断するかどうか電圧電流特
性値の差に対するしきい値を与え、電圧電流特性値の差
の大きい箇所より小さな箇所へと順番に表示することに
より、効率良く故障箇所の探索が行なえる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路基板故障
箇所探索装置に関し、特に、コンピュータ装置の電子回
路基板の故障箇所探索装置に関する。
箇所探索装置に関し、特に、コンピュータ装置の電子回
路基板の故障箇所探索装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の電子回路基板の故障箇所
を探索する電子回路基板故障箇所探索装置は、例えば、
特公昭６１−６１４２６号公報のデジタル回路の故障診
断方式に示すように、被試験デジタル回路の正常動作を
するときの出力情報を使用して、故障回路の異常を診断
する目的で使用されている。
を探索する電子回路基板故障箇所探索装置は、例えば、
特公昭６１−６１４２６号公報のデジタル回路の故障診
断方式に示すように、被試験デジタル回路の正常動作を
するときの出力情報を使用して、故障回路の異常を診断
する目的で使用されている。
【０００３】図４は、上述した従来のデジタル回路の故
障診断方式の構成の一例を示すブロック図である。この
方式は、被試験デジタル回路を実装する被試験ボード１
０２と、この被試験ボード１０２の出力情報を一定の規
則に従って巡回符号に圧縮する手段と、被試験デジタル
回路の接続情報を内蔵し、与えられた入力パタンに対し
てこの被試験デジタル回路が正常に動作するときに出力
するパタンを送出する手段と、入力に対して出力が一つ
に定まる試験用入力パタンを与える手段と、故障箇所と
圧縮された出力パタンとの対応関係を示す一覧表を作成
する手段とを備え、被試験ボード１０２の出力情報を圧
縮した情報から正常に動作しない出力パタンと故障箇所
との対応関係を示す一覧表を参照し故障箇所を判定する
手段とから構成されている。
障診断方式の構成の一例を示すブロック図である。この
方式は、被試験デジタル回路を実装する被試験ボード１
０２と、この被試験ボード１０２の出力情報を一定の規
則に従って巡回符号に圧縮する手段と、被試験デジタル
回路の接続情報を内蔵し、与えられた入力パタンに対し
てこの被試験デジタル回路が正常に動作するときに出力
するパタンを送出する手段と、入力に対して出力が一つ
に定まる試験用入力パタンを与える手段と、故障箇所と
圧縮された出力パタンとの対応関係を示す一覧表を作成
する手段とを備え、被試験ボード１０２の出力情報を圧
縮した情報から正常に動作しない出力パタンと故障箇所
との対応関係を示す一覧表を参照し故障箇所を判定する
手段とから構成されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来例によれ
ば、しきい値の設定が困難なために、予め複数個の故障
点の予測箇所を一覧表の形式で診断辞書にし、それらを
故障箇所の判定基準にするしかなかった。従って、被試
験ボードの出力情報を圧縮した情報から正常に動作しな
い出力パタンと故障箇所との対応関係を示す一覧表を参
照して故障箇所を判定する必要があるという問題を有す
る。
ば、しきい値の設定が困難なために、予め複数個の故障
点の予測箇所を一覧表の形式で診断辞書にし、それらを
故障箇所の判定基準にするしかなかった。従って、被試
験ボードの出力情報を圧縮した情報から正常に動作しな
い出力パタンと故障箇所との対応関係を示す一覧表を参
照して故障箇所を判定する必要があるという問題を有す
る。
【０００５】また、アナログ回路を含む回路網一般のも
のについて故障個所を特定するには他の技術と組合せて
使用する必要があった。従って、主としてマイクロプロ
セッサ回路を含むロジック回路を対象としたものであ
り、アナログ回路に対して利用することができないとい
う問題も有する。
のについて故障個所を特定するには他の技術と組合せて
使用する必要があった。従って、主としてマイクロプロ
セッサ回路を含むロジック回路を対象としたものであ
り、アナログ回路に対して利用することができないとい
う問題も有する。
【０００６】そこで、本発明の目的は、故障した電子回
路基板の故障箇所を効率良く探索する電子回路基板故障
箇所探索装置を提供することにある。
路基板の故障箇所を効率良く探索する電子回路基板故障
箇所探索装置を提供することにある。
【０００７】また、本発明の他の目的は、正常な電子回
路基板と故障した電子回路基板とに電源を供給しない状
態で、毎回正常な電子回路基板を用意する必要がない電
子回路基板故障箇所探索装置を提供することにある
路基板と故障した電子回路基板とに電源を供給しない状
態で、毎回正常な電子回路基板を用意する必要がない電
子回路基板故障箇所探索装置を提供することにある
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の電子回路故障箇所探索装置は、コンピュー
タ装置の電子回路基板の故障個所を探索する電子回路基
板故障探索装置において、本体の制御を行う中央制御部
と、中央制御部に接続され測定結果を表示する表示部
と、操作者が動作開始の操作を行う操作部と、中央制御
部より送られたデータに従って出力電圧を発生する測定
信号発生部と、測定信号発生部で発生した出力電圧を電
流制限抵抗を直列に介して電圧電流特性を検出する測定
信号検出部と、測定信号発生部で発生した出力電圧と、
電子回路基板からの電圧電流特性とを切替えるセレクタ
と、セレクタを介して測定信号検出部の出力電圧を、正
常な電子回路基板の電庄電流特性としてサンプリングす
る第１のスイッチャと、第１のスイッチャを正常な電子
回路基板に接続する第１のプローブと、セレクタを介し
て測定信号検出部の出力電圧を、故障した電子回路基板
の電圧電流特性としてサンプリングする第２のスイッチ
ャと、第２のスイッチャを故障した電子回路基板を接続
する第２のプローブとを備え、中央制御部が、正常な電
子回路基板および故障した電子回路基板の各ノードの電
圧電流特性値を算出する手段と、電圧電流特性値を記憶
する手段とを有することを特徴とする。
め、本発明の電子回路故障箇所探索装置は、コンピュー
タ装置の電子回路基板の故障個所を探索する電子回路基
板故障探索装置において、本体の制御を行う中央制御部
と、中央制御部に接続され測定結果を表示する表示部
と、操作者が動作開始の操作を行う操作部と、中央制御
部より送られたデータに従って出力電圧を発生する測定
信号発生部と、測定信号発生部で発生した出力電圧を電
流制限抵抗を直列に介して電圧電流特性を検出する測定
信号検出部と、測定信号発生部で発生した出力電圧と、
電子回路基板からの電圧電流特性とを切替えるセレクタ
と、セレクタを介して測定信号検出部の出力電圧を、正
常な電子回路基板の電庄電流特性としてサンプリングす
る第１のスイッチャと、第１のスイッチャを正常な電子
回路基板に接続する第１のプローブと、セレクタを介し
て測定信号検出部の出力電圧を、故障した電子回路基板
の電圧電流特性としてサンプリングする第２のスイッチ
ャと、第２のスイッチャを故障した電子回路基板を接続
する第２のプローブとを備え、中央制御部が、正常な電
子回路基板および故障した電子回路基板の各ノードの電
圧電流特性値を算出する手段と、電圧電流特性値を記憶
する手段とを有することを特徴とする。
【０００９】また、正常な電子回路基板および故障した
電子回路基板の各ノードにおいて、同じノードにおける
電圧電流特性値が等しければ、表示部における２つの波
形がほぼ等しく表示され、ノードが故障個所ではないと
判断されるのが好ましい。
電子回路基板の各ノードにおいて、同じノードにおける
電圧電流特性値が等しければ、表示部における２つの波
形がほぼ等しく表示され、ノードが故障個所ではないと
判断されるのが好ましい。
【００１０】さらに、正常な電子回路基板および故障し
た電子回路基板の各ノードにおいて、同じノードにおけ
る電圧電流特性値が異なれば、表示部における２つの波
形が相違して表示され、ノードが故障個所であると判断
されるのが好ましい。
た電子回路基板の各ノードにおいて、同じノードにおけ
る電圧電流特性値が異なれば、表示部における２つの波
形が相違して表示され、ノードが故障個所であると判断
されるのが好ましい。
【００１１】またさらに、電圧電流特性値を記憶する手
段が、正常な電子回路基板の各ノードの電圧電流特性値
を予め記憶し、毎回正常な電子回路基板を用意する必要
はなく、さらに効率良く故障箇所の探索が行えるのが好
ましい。
段が、正常な電子回路基板の各ノードの電圧電流特性値
を予め記憶し、毎回正常な電子回路基板を用意する必要
はなく、さらに効率良く故障箇所の探索が行えるのが好
ましい。
【００１２】また、電圧電流特性値を記憶する手段が、
２つの電圧電流特性にどの程度の差があれば故障箇所で
あるか判断できるように、電圧電流特性値の差に対して
しきい値を予め記憶し、２つの波形を重ねてグラフ表示
したものを操作者が見て相違を判断し易く、また判断誤
りがないようにするのが好ましい。
２つの電圧電流特性にどの程度の差があれば故障箇所で
あるか判断できるように、電圧電流特性値の差に対して
しきい値を予め記憶し、２つの波形を重ねてグラフ表示
したものを操作者が見て相違を判断し易く、また判断誤
りがないようにするのが好ましい。
【００１３】さらに、表示部が、正常な電子回路基板お
よび故障した電子回路基板の各ノードにおける電圧電流
特性の比較判定を終えた段階で、しきい値を超えた箇所
につき、電圧電流特性値の差の大きな箇所より特定値の
差の小さな箇所へと順番に並べて表示するのが好まし
い。
よび故障した電子回路基板の各ノードにおける電圧電流
特性の比較判定を終えた段階で、しきい値を超えた箇所
につき、電圧電流特性値の差の大きな箇所より特定値の
差の小さな箇所へと順番に並べて表示するのが好まし
い。
【００１４】またさらに、電圧電流特性値の差の大きい
ものから順に調査することにより効率よく故障箇所の探
索が行なえるのが好ましい。
ものから順に調査することにより効率よく故障箇所の探
索が行なえるのが好ましい。
【００１５】本発明の電子回路基板故障箇所探索装置
は、特に、正常な電子回路基板の各ノードの電圧電流特
性を予め測定して、中央制御部に記憶させる手段と、故
障として判断するか予め中央制御部にしきい値を与えて
おく手段と、電圧電流特性値の特性差の大きな箇所より
小さな箇所へと順番に並べて表示部に表示する機能を備
える。中央制御部に予め測定した電圧電流特性を記憶さ
せる手段を与えることにより、毎回正常な電子回路基板
を用意する必要がない。また、中央制御部に、しきい値
を与えておくことによって、中央制御部は高速に判定す
る。また、表示部を見れば、操作者は真の故障部位がど
こにあるのかが容易に判断ができる。
は、特に、正常な電子回路基板の各ノードの電圧電流特
性を予め測定して、中央制御部に記憶させる手段と、故
障として判断するか予め中央制御部にしきい値を与えて
おく手段と、電圧電流特性値の特性差の大きな箇所より
小さな箇所へと順番に並べて表示部に表示する機能を備
える。中央制御部に予め測定した電圧電流特性を記憶さ
せる手段を与えることにより、毎回正常な電子回路基板
を用意する必要がない。また、中央制御部に、しきい値
を与えておくことによって、中央制御部は高速に判定す
る。また、表示部を見れば、操作者は真の故障部位がど
こにあるのかが容易に判断ができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して詳細に説明する。
面を参照して詳細に説明する。
【００１７】図１は、本発明の電子回路基板故障箇所探
索装置の実施例の構成を示すブロック図である。この装
置は、本体の制御を行う中央制御部１と、中央制御部１
に接続され測定結果を表示する表示部２と、操作者が動
作開始の操作を行う操作部３と、中央制御部１より送ら
れたデータに従って出力電圧を発生する測定信号発生部
４と、測定信号発生部４で発生した出力電圧を電流制限
抵抗Ｒを直列に介して電圧電流特性を検出する測定信号
検出部５と、測定信号発生部４で発生した出力電圧およ
び電子回路基板からの電圧電流特性を切替えるセレクタ
６と、測定信号検出部５の出力電圧をセレクタ６を介し
て正常な電子回路基板２０の電庄電流特性をサンプリン
グする第１のスイッチャ７と、第１のスイッチャ７を正
常な電子回路基板２０に接続する第１のプローブ９と、
故障した電子回路基板３０の電圧電流特性をサンプリン
グする第２のスイッチャ８と、故障した電子回路基板３
０を接続する第２のプローブ１０とから構成される。
索装置の実施例の構成を示すブロック図である。この装
置は、本体の制御を行う中央制御部１と、中央制御部１
に接続され測定結果を表示する表示部２と、操作者が動
作開始の操作を行う操作部３と、中央制御部１より送ら
れたデータに従って出力電圧を発生する測定信号発生部
４と、測定信号発生部４で発生した出力電圧を電流制限
抵抗Ｒを直列に介して電圧電流特性を検出する測定信号
検出部５と、測定信号発生部４で発生した出力電圧およ
び電子回路基板からの電圧電流特性を切替えるセレクタ
６と、測定信号検出部５の出力電圧をセレクタ６を介し
て正常な電子回路基板２０の電庄電流特性をサンプリン
グする第１のスイッチャ７と、第１のスイッチャ７を正
常な電子回路基板２０に接続する第１のプローブ９と、
故障した電子回路基板３０の電圧電流特性をサンプリン
グする第２のスイッチャ８と、故障した電子回路基板３
０を接続する第２のプローブ１０とから構成される。
【００１８】次に、本発明の電子回路基板故障箇所探索
装置の実施例の動作について、図１〜図３を参照して説
明する。
装置の実施例の動作について、図１〜図３を参照して説
明する。
【００１９】図２は、図１の測定信号発生部５から出力
される出力電圧の波形図である。図３は、本発明の電子
回路基板故障箇所探索装置を使用して正常な電子回路基
板２０および故障した電子回路基板３０の各ノードにお
ける電圧電流特性値の差を示す波形図である。
される出力電圧の波形図である。図３は、本発明の電子
回路基板故障箇所探索装置を使用して正常な電子回路基
板２０および故障した電子回路基板３０の各ノードにお
ける電圧電流特性値の差を示す波形図である。
【００２０】まず、本発明を使用して故障した電子回路
基板の故障箇所探索を行なう動作について説明する。以
下の説明において、正常な電子回路基板とは正常に動作
する電子回路基板であり、故障した電子回路基板とは、
ある部位に異常のある電子回路基板である。正常な測定
信号発生部４からの出力電圧は、第１のスイッチャ７を
介して第１のプローブ９に接続し、故障した電子回路基
板３０の電圧電流特性は、第２のスイッチャ８を介して
第２のブロープ１０に接続する。まず、操作者は操作部
３により動作開始の操作を行なうと、測定信号用データ
が中央制御部１から測定信号発生部４に順次送られる。
測定信号発生部４から出力される出力電圧は、図２の波
形図に示すように、時間の経過と共にＯＶから＋ｍＶま
で増加する。中央制御部１で測定信号発生部４に与えた
測定信号用データと、測定信号検出部５で検出された電
庄値により第１のプローブ９または第２のプローブ１０
に流れた電流値とにより、第１のブローブ９に接続され
た正常な電子回路基板２０の各ノードと、第２のプロー
ブ１０に接続された故障した電子回路基板３０の同じ箇
所の各ノードとの電圧電流特性値を比較する。この電圧
電流特性値が等しければ、２つの曲線はほぼ近似して表
示部２に表示される。比較された各ノードにおいて、電
圧電流値が異なり、２つの曲線が相違した場合は、図３
に示すような波形図となり、そお箇所に異常があると判
断される。
基板の故障箇所探索を行なう動作について説明する。以
下の説明において、正常な電子回路基板とは正常に動作
する電子回路基板であり、故障した電子回路基板とは、
ある部位に異常のある電子回路基板である。正常な測定
信号発生部４からの出力電圧は、第１のスイッチャ７を
介して第１のプローブ９に接続し、故障した電子回路基
板３０の電圧電流特性は、第２のスイッチャ８を介して
第２のブロープ１０に接続する。まず、操作者は操作部
３により動作開始の操作を行なうと、測定信号用データ
が中央制御部１から測定信号発生部４に順次送られる。
測定信号発生部４から出力される出力電圧は、図２の波
形図に示すように、時間の経過と共にＯＶから＋ｍＶま
で増加する。中央制御部１で測定信号発生部４に与えた
測定信号用データと、測定信号検出部５で検出された電
庄値により第１のプローブ９または第２のプローブ１０
に流れた電流値とにより、第１のブローブ９に接続され
た正常な電子回路基板２０の各ノードと、第２のプロー
ブ１０に接続された故障した電子回路基板３０の同じ箇
所の各ノードとの電圧電流特性値を比較する。この電圧
電流特性値が等しければ、２つの曲線はほぼ近似して表
示部２に表示される。比較された各ノードにおいて、電
圧電流値が異なり、２つの曲線が相違した場合は、図３
に示すような波形図となり、そお箇所に異常があると判
断される。
【００２１】ここで、正常な電子回路基板２０の各ノー
ドの電圧電流特性を予め測定して、中央制御部１に記憶
させておくことにより、毎回正常な電子回路基板を用意
する必要はなく、故障箇所の探索をより効率的に行うこ
とができる。図３に示すように、２つの電圧電流特性を
重ねてグラフ表示したものを操作者が見て相違を判断す
るには時間を要し、また判断誤りの原因となる。そこ
で、２つの電圧電流特性にどの程度の差があれば、故障
として判断するか予め中央制御部１にしきい値を与えて
おくことによって、中央制御部１は高速に判定する。故
障した電子回路基板３０について、正常な電子回路基板
２０との各ノードの電圧電流特性の比較判定を終えた段
階で、電庄電流特性値の差が一定のしきい値を越えた箇
所につき、電圧電流特性値の差の大きな箇所より電圧電
流特定値の差の小さな箇所へと順番に並べて表示部２に
表示を行なう。電圧電流特性値の差の大きな順に並んだ
表示部２を見れば、操作者は真の故障部位がどこにある
のかが容易に判断できる場合が多く、また真の故障箇所
の探索するのに、電圧電流特性値の差の大きいものから
順に調査することにより効率よく故障箇所の探索を行う
ことができる。また、故障箇所の探索結果をまとめれ
ば、しきい値をどの程度に設定すれば良いのかの目安が
得られる。
ドの電圧電流特性を予め測定して、中央制御部１に記憶
させておくことにより、毎回正常な電子回路基板を用意
する必要はなく、故障箇所の探索をより効率的に行うこ
とができる。図３に示すように、２つの電圧電流特性を
重ねてグラフ表示したものを操作者が見て相違を判断す
るには時間を要し、また判断誤りの原因となる。そこ
で、２つの電圧電流特性にどの程度の差があれば、故障
として判断するか予め中央制御部１にしきい値を与えて
おくことによって、中央制御部１は高速に判定する。故
障した電子回路基板３０について、正常な電子回路基板
２０との各ノードの電圧電流特性の比較判定を終えた段
階で、電庄電流特性値の差が一定のしきい値を越えた箇
所につき、電圧電流特性値の差の大きな箇所より電圧電
流特定値の差の小さな箇所へと順番に並べて表示部２に
表示を行なう。電圧電流特性値の差の大きな順に並んだ
表示部２を見れば、操作者は真の故障部位がどこにある
のかが容易に判断できる場合が多く、また真の故障箇所
の探索するのに、電圧電流特性値の差の大きいものから
順に調査することにより効率よく故障箇所の探索を行う
ことができる。また、故障箇所の探索結果をまとめれ
ば、しきい値をどの程度に設定すれば良いのかの目安が
得られる。
【００２２】
【発明の効果】本発明の電子回路基板故障箇所探索装置
では、電源を供給しない状態における各ノードの電圧電
流特性を比較し、その結果がしきい値を越える場合にこ
れらの差を計算して記憶させ全ノードの比較完了後に、
電圧電流特性値の差の大きなものから表示させるように
した。従って、故障箇所を有する電子回路基板を、電源
を供給しない状態で、故障箇所の探索が容易かつ効果的
に行なえるという効果を奏する。
では、電源を供給しない状態における各ノードの電圧電
流特性を比較し、その結果がしきい値を越える場合にこ
れらの差を計算して記憶させ全ノードの比較完了後に、
電圧電流特性値の差の大きなものから表示させるように
した。従って、故障箇所を有する電子回路基板を、電源
を供給しない状態で、故障箇所の探索が容易かつ効果的
に行なえるという効果を奏する。
【図１】本発明の電子回路基板故障箇所探索装置の実施
例の構成を示すブロック図である。
例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の測定信号発生部から出力される出力電圧
の波形図である。
の波形図である。
【図３】正常な電子回路基板と故障した電子回路基板と
の各ノードにおける電圧電流特性を比較した波形図であ
る。
の各ノードにおける電圧電流特性を比較した波形図であ
る。
【図４】従来例の構成を示すブロック図である。
１ 中央制御部 ２ 表示部 ３ 操作部 ４ 測定信号発生部 ５ 測定信号検出部 ６ セレクタ ７ 第１のスイッチャ ８ 第２のスイッチャ ９ 第１のプローブ １０ 第２のプローブ ２０ 正常な電子回路基板 ３０ 故障した電子回路基板 １０２ 被試験ボード
Claims (7)
- 【請求項１】コンピュータ装置の電子回路基板の故障個
所を探索する電子回路基板故障探索装置において、 本体の制御を行う中央制御部と、 前記中央制御部に接続され測定結果を表示する表示部
と、 操作者が動作開始の操作を行う操作部と、 前記中央制御部より送られたデータに従って出力電圧を
発生する測定信号発生部と、 前記測定信号発生部で発生した出力電圧を電流制限抵抗
を直列に介して電圧電流特性を検出する測定信号検出部
と、 前記測定信号発生部で発生した出力電圧と、電子回路基
板からの電圧電流特性とを切替えるセレクタと、 前記セレクタを介して前記測定信号検出部の出力電圧
を、正常な電子回路基板の電庄電流特性としてサンプリ
ングする第１のスイッチャと、 前記第１のスイッチャを正常な電子回路基板に接続する
第１のプローブと、 前記セレクタを介して前記測定信号検出部の出力電圧
を、故障した電子回路基板の電圧電流特性としてサンプ
リングする第２のスイッチャと、 前記第２のスイッチャを故障した電子回路基板を接続す
る第２のプローブと、 を備え、 前記中央制御部が、前記正常な電子回路基板および前記
故障した電子回路基板の各ノードの電圧電流特性値を算
出する手段と、前記電圧電流特性値を記憶する手段とを
有することを特徴とする電子回路基板故障箇所探索装
置。 - 【請求項２】前記正常な電子回路基板および前記故障し
た電子回路基板の各ノードにおいて、同じノードにおけ
る電圧電流特性値が等しければ、前記表示部における２
つの波形がほぼ等しく表示され、前記ノードが故障個所
ではないと判断されることを特徴とする、請求項１に記
載の電子回路基板故障箇所探索装置。 - 【請求項３】前記正常な電子回路基板および前記故障し
た電子回路基板の各ノードにおいて、同じノードにおけ
る電圧電流特性値が異なれば、前記表示部における２つ
の波形が相違して表示され、前記ノードが故障個所であ
ると判断されることを特徴とする、請求項１に記載の電
子回路基板故障個所探索装置。 - 【請求項４】前記電圧電流特性値を記憶する手段が、前
記正常な電子回路基板の各ノードの電圧電流特性値を予
め記憶し、毎回正常な電子回路基板を用意する必要はな
く、さらに効率良く故障箇所の探索が行えることを特徴
とする、請求項１〜３のいずれかに記載の電子回路基板
故障個所探索装置。 - 【請求項５】前記電圧電流特性値を記憶する手段が、前
記２つの電圧電流特性にどの程度の差があれば故障箇所
であるか判断できるように、前記電圧電流特性値の差に
対してしきい値を予め記憶し、前記２つの波形を重ねて
グラフ表示したものを操作者が見て相違を判断し易く、
また判断誤りがないようにしたことを特徴とする、請求
項１〜４のいずれかに記載の電子回路基板故障個所探索
装置。 - 【請求項６】前記表示部が、前記正常な電子回路基板お
よび前記故障した電子回路基板の各ノードにおける電圧
電流特性の比較判定を終えた段階で、前記前記しきい値
を超えた箇所につき、前記電圧電流特性値の差の大きな
箇所より特定値の差の小さな箇所へと順番に並べて表示
することを特徴とする、請求項１〜５のいずれかに記載
の電子回路基板故障個所探索装置。 - 【請求項７】前記電圧電流特性値の差の大きいものから
順に調査することにより効率よく故障箇所の探索が行な
えることを特徴とする、請求項１〜６のいずれかに記載
の電子回路基板故障個所探索装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9122745A JPH10312306A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 電子回路基板故障個所探索装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9122745A JPH10312306A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 電子回路基板故障個所探索装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10312306A true JPH10312306A (ja) | 1998-11-24 |
Family
ID=14843561
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9122745A Pending JPH10312306A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | 電子回路基板故障個所探索装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10312306A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103165203A (zh) * | 2011-12-14 | 2013-06-19 | 中国广东核电集团有限公司 | 核电站电路板件检测方法 |
| KR20200082470A (ko) * | 2018-12-28 | 2020-07-08 | (주) 페스코 | 선박용 pcb 및 scr 열화 진단시스템 |
| CN112014725A (zh) * | 2020-09-02 | 2020-12-01 | 韩熔 | 电子电路板的多结点波形预存储故障检测方法 |
| CN114895169A (zh) * | 2022-04-06 | 2022-08-12 | 广东乐心医疗电子股份有限公司 | 排查电路板异常的方法、装置和电子设备 |
-
1997
- 1997-05-14 JP JP9122745A patent/JPH10312306A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103165203A (zh) * | 2011-12-14 | 2013-06-19 | 中国广东核电集团有限公司 | 核电站电路板件检测方法 |
| KR20200082470A (ko) * | 2018-12-28 | 2020-07-08 | (주) 페스코 | 선박용 pcb 및 scr 열화 진단시스템 |
| CN112014725A (zh) * | 2020-09-02 | 2020-12-01 | 韩熔 | 电子电路板的多结点波形预存储故障检测方法 |
| CN114895169A (zh) * | 2022-04-06 | 2022-08-12 | 广东乐心医疗电子股份有限公司 | 排查电路板异常的方法、装置和电子设备 |
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