JPH10313013A - ボンディング装置及びボンディング方法並びに半導体装置の製造方法 - Google Patents
ボンディング装置及びボンディング方法並びに半導体装置の製造方法Info
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- JPH10313013A JPH10313013A JP11957997A JP11957997A JPH10313013A JP H10313013 A JPH10313013 A JP H10313013A JP 11957997 A JP11957997 A JP 11957997A JP 11957997 A JP11957997 A JP 11957997A JP H10313013 A JPH10313013 A JP H10313013A
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- bonding
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- Die Bonding (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 オペレータがボンディング条件を設定する必
要のないボンディング装置及びボンディング方法を得
る。 【解決手段】 ボンディング装置は、カメラ12が検出
した画像データに基づいて、半導体チップ1の中心位置
やダイパッド3aの中心位置のボンディング条件を自動
で算出する。したがって、オペレータがボンディング条
件をボンディング装置に設定する必要がない。さらに、
ボンディング装置が算出したボンディング条件に基づい
て、ハウジング7の位置制御を行うため、半導体チップ
1をリードフレーム3の適切な位置に精度良く接合する
ことができる。
要のないボンディング装置及びボンディング方法を得
る。 【解決手段】 ボンディング装置は、カメラ12が検出
した画像データに基づいて、半導体チップ1の中心位置
やダイパッド3aの中心位置のボンディング条件を自動
で算出する。したがって、オペレータがボンディング条
件をボンディング装置に設定する必要がない。さらに、
ボンディング装置が算出したボンディング条件に基づい
て、ハウジング7の位置制御を行うため、半導体チップ
1をリードフレーム3の適切な位置に精度良く接合する
ことができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】半導体チップとリードフレー
ム等のワーク同士を接着するボンディング装置及びボン
ディング方法並びに半導体装置の製造方法に関する。
ム等のワーク同士を接着するボンディング装置及びボン
ディング方法並びに半導体装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は従来のボンディング装置を示す斜
視図である。図5において、1は半導体チップ(第1の
ワーク)、2は半導体チップ1を載置しておくためのス
テージ、3はリードフレーム(第2のワーク)、3aは
リードフレーム3内のダイパッド、4a及び4bはリー
ドフレーム3を搬出入するためのガイドレール、5は半
導体チップ1を吸着して保持するためのコレット、6は
コレット5が取り付けられたスピンドル、7はスピンド
ル6が取り付けられたハウジング、8はハウジング7を
支持するボンディングアーム、9はボンディングアーム
8を支持し、ボンディングアーム8をZ方向(垂直方
向)に移動させるためのモータ11cを内蔵したZ駆動
部、10はZ駆動部9を支持するXYテーブル、11a
及び11bはXYテーブル10をX方向及びY方向に移
動させるためのモータである。
視図である。図5において、1は半導体チップ(第1の
ワーク)、2は半導体チップ1を載置しておくためのス
テージ、3はリードフレーム(第2のワーク)、3aは
リードフレーム3内のダイパッド、4a及び4bはリー
ドフレーム3を搬出入するためのガイドレール、5は半
導体チップ1を吸着して保持するためのコレット、6は
コレット5が取り付けられたスピンドル、7はスピンド
ル6が取り付けられたハウジング、8はハウジング7を
支持するボンディングアーム、9はボンディングアーム
8を支持し、ボンディングアーム8をZ方向(垂直方
向)に移動させるためのモータ11cを内蔵したZ駆動
部、10はZ駆動部9を支持するXYテーブル、11a
及び11bはXYテーブル10をX方向及びY方向に移
動させるためのモータである。
【0003】次に、従来のボンディング装置の動作につ
いて説明する。図6は、その動作を示すフローチャート
である。
いて説明する。図6は、その動作を示すフローチャート
である。
【0004】まず、ステップ201を参照して、オペレ
ータは、保持位置及び接着位置をボンディング条件とし
てボンディング装置に数値で設定する。
ータは、保持位置及び接着位置をボンディング条件とし
てボンディング装置に数値で設定する。
【0005】次に、ステップ202を参照して、図示し
ない搬送装置が、ボンディング装置に連動して、半導体
チップ1を搬入して、半導体チップ1をステージ2上に
設置する。また、ガイドレール4a及び4bは、ボンデ
ィング装置に連動して、ダイパッド3aに半田等の接合
剤が塗布されたリードフレーム3を定位置に搬入して設
置する。
ない搬送装置が、ボンディング装置に連動して、半導体
チップ1を搬入して、半導体チップ1をステージ2上に
設置する。また、ガイドレール4a及び4bは、ボンデ
ィング装置に連動して、ダイパッド3aに半田等の接合
剤が塗布されたリードフレーム3を定位置に搬入して設
置する。
【0006】次に、ステップ203を参照して、ボンデ
ィング装置は、ステップ201において設定した保持位
置へコレット5を移動させて、コレット5によって半導
体チップ1を吸着して保持する。
ィング装置は、ステップ201において設定した保持位
置へコレット5を移動させて、コレット5によって半導
体チップ1を吸着して保持する。
【0007】次に、ステップ204を参照して、ボンデ
ィング装置は、ステップ201において設定した接着位
置へ半導体チップ1を保持した状態のコレット5を移動
させて、半導体チップ1をリードフレーム3のダイパッ
ド3aに接合する。
ィング装置は、ステップ201において設定した接着位
置へ半導体チップ1を保持した状態のコレット5を移動
させて、半導体チップ1をリードフレーム3のダイパッ
ド3aに接合する。
【0008】次に、ステップ205を参照して、ボンデ
ィングが終了すると、ボンディング装置は、吸着を止め
て、半導体チップ1をコレット5から解放し、その後、
ガイドレール4a及び4bは、ボンディング装置に連動
して、リードフレーム3を別の場所に搬出する。
ィングが終了すると、ボンディング装置は、吸着を止め
て、半導体チップ1をコレット5から解放し、その後、
ガイドレール4a及び4bは、ボンディング装置に連動
して、リードフレーム3を別の場所に搬出する。
【0009】以後、ステップ202〜205からなる一
連の処理を繰り返す。半導体チップ1及びリードフレー
ム3を別の種類の半導体チップ1及びリードフレーム3
に変更するときは、ボンディング条件も設定し直す必要
があるため、この一連の処理を中断して、再び、ステッ
プ201から行う。
連の処理を繰り返す。半導体チップ1及びリードフレー
ム3を別の種類の半導体チップ1及びリードフレーム3
に変更するときは、ボンディング条件も設定し直す必要
があるため、この一連の処理を中断して、再び、ステッ
プ201から行う。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
ボンディング装置では、オペレータが半導体チップ1及
びリードフレーム3の種類毎にボンディング条件を設定
する必要があるという問題点がある。また、ボンディン
グ装置の機械的な誤差により、半導体チップ1がリード
フレーム3の接着位置からずれた位置に接着されると
き、オペレータは、このずれを検出し、半導体チップ1
がリードフレーム3の接着位置に正しく接着されるよう
にボンディング条件を再設定なければならないという問
題点もある。
ボンディング装置では、オペレータが半導体チップ1及
びリードフレーム3の種類毎にボンディング条件を設定
する必要があるという問題点がある。また、ボンディン
グ装置の機械的な誤差により、半導体チップ1がリード
フレーム3の接着位置からずれた位置に接着されると
き、オペレータは、このずれを検出し、半導体チップ1
がリードフレーム3の接着位置に正しく接着されるよう
にボンディング条件を再設定なければならないという問
題点もある。
【0011】本発明は、これらの問題点を解決するため
になされたものであり、オペレータがボンディング条件
を設定する必要がないボンディング装置及びボンディン
グ方法並びに半導体装置の製造方法を得ることを目的と
する。
になされたものであり、オペレータがボンディング条件
を設定する必要がないボンディング装置及びボンディン
グ方法並びに半導体装置の製造方法を得ることを目的と
する。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
課題解決手段は、第1のワークを、ボンディングヘッド
によって保持して移動させて、第2のワークに接着する
ボンディング装置であって、前記ボンディングヘッドに
取り付けられ、前記第1及び第2のワークの像を画像デ
ータとして検出するための画像検出手段と、前記画像デ
ータを受け、この画像データに基づいて前記ボンディン
グヘッドの位置制御を行うための位置制御手段とを備え
る。
課題解決手段は、第1のワークを、ボンディングヘッド
によって保持して移動させて、第2のワークに接着する
ボンディング装置であって、前記ボンディングヘッドに
取り付けられ、前記第1及び第2のワークの像を画像デ
ータとして検出するための画像検出手段と、前記画像デ
ータを受け、この画像データに基づいて前記ボンディン
グヘッドの位置制御を行うための位置制御手段とを備え
る。
【0013】本発明の請求項2に係る課題解決手段は、
検出対象へエアーを吹き付けるためのエアー供給手段を
さらに備える。
検出対象へエアーを吹き付けるためのエアー供給手段を
さらに備える。
【0014】本発明の請求項3に係る課題解決手段は、
請求項1記載のボンディング装置を用いたボンディング
方法であって、前記第1のワークを第1の定位置に設置
する第1のステップと、前記画像検出手段が第1のワー
クの像を画像データとして検出し、前記位置制御手段が
この画像データから、前記ボンディングヘッドが前記第
1のワークを保持すべき保持位置を算出する第2のステ
ップと、前記位置制御手段が前記ボンディングヘッドを
前記保持位置へ移動させることによって、前記ボンディ
ングヘッドが前記第1のワークを保持する第3のステッ
プと、前記第2のワークを第2の定位置に設置する第4
のステップと、前記画像検出手段が第2のワークの像を
画像データとして検出し、前記位置制御手段がこの画像
データから、前記第1のワークを前記第2のワークに接
着すべき接着位置を算出する第5のステップと、前記位
置制御手段が前記ボンディングヘッドを前記接着位置へ
移動させることによって、前記第1のワークを前記第2
のワークに接着させる第6のステップと、前記画像検出
手段が前記接着後の第1、第2のワークの像を画像デー
タとして検出し、前記第1のワークと第2のワークとの
間のずれをこの画像データから検出する第7のステップ
と、前記第1〜第7のステップを繰り返すステップとを
備え、前記第2及び第5のステップにおいて、算出した
保持位置及び接着位置の少なくとも一方を、前記第7の
ステップにおいて検出したずれに基づいて補正する。
請求項1記載のボンディング装置を用いたボンディング
方法であって、前記第1のワークを第1の定位置に設置
する第1のステップと、前記画像検出手段が第1のワー
クの像を画像データとして検出し、前記位置制御手段が
この画像データから、前記ボンディングヘッドが前記第
1のワークを保持すべき保持位置を算出する第2のステ
ップと、前記位置制御手段が前記ボンディングヘッドを
前記保持位置へ移動させることによって、前記ボンディ
ングヘッドが前記第1のワークを保持する第3のステッ
プと、前記第2のワークを第2の定位置に設置する第4
のステップと、前記画像検出手段が第2のワークの像を
画像データとして検出し、前記位置制御手段がこの画像
データから、前記第1のワークを前記第2のワークに接
着すべき接着位置を算出する第5のステップと、前記位
置制御手段が前記ボンディングヘッドを前記接着位置へ
移動させることによって、前記第1のワークを前記第2
のワークに接着させる第6のステップと、前記画像検出
手段が前記接着後の第1、第2のワークの像を画像デー
タとして検出し、前記第1のワークと第2のワークとの
間のずれをこの画像データから検出する第7のステップ
と、前記第1〜第7のステップを繰り返すステップとを
備え、前記第2及び第5のステップにおいて、算出した
保持位置及び接着位置の少なくとも一方を、前記第7の
ステップにおいて検出したずれに基づいて補正する。
【0015】本発明の請求項4に係る課題解決手段は、
前記ずれを用いてボンディング検査を行う第8のステッ
プをさらに備える。
前記ずれを用いてボンディング検査を行う第8のステッ
プをさらに備える。
【0016】本発明の請求項5に係る課題解決手段は、
前記画像データの中から前記第1及び第2のワークの種
類を識別する第9のステップをさらに備え、前記第8の
ステップは、前記ずれを前記第9のステップにおいて認
識した種類毎に分けて、前記ボンディング検査を行う。
前記画像データの中から前記第1及び第2のワークの種
類を識別する第9のステップをさらに備え、前記第8の
ステップは、前記ずれを前記第9のステップにおいて認
識した種類毎に分けて、前記ボンディング検査を行う。
【0017】本発明の請求項6に係る課題解決手段は、
前記ボンディング装置が前記ずれに基づいてボンディン
グの異常を検出してこの異常の旨を出力する第10のス
テップをさらに備える。
前記ボンディング装置が前記ずれに基づいてボンディン
グの異常を検出してこの異常の旨を出力する第10のス
テップをさらに備える。
【0018】本発明の請求項7に係る課題解決手段にお
いて、前記ボンディング装置は、検出対象へエアーを吹
き付けるためのエアー供給手段をさらに備え、前記第7
のステップは、前記第6のステップにおいて接着された
前記第1及び第2のワークに前記エアー供給手段がエア
ーを吹き付けている状態で、前記画像検出手段が前記第
1及び第2のワークの像を画像データとして検出する。
いて、前記ボンディング装置は、検出対象へエアーを吹
き付けるためのエアー供給手段をさらに備え、前記第7
のステップは、前記第6のステップにおいて接着された
前記第1及び第2のワークに前記エアー供給手段がエア
ーを吹き付けている状態で、前記画像検出手段が前記第
1及び第2のワークの像を画像データとして検出する。
【0019】本発明の請求項8に係る課題解決手段は、
請求項3〜7のいずれかに記載のボンディング方法を用
いて、前記第1のワークを前記第2のワークに接着する
ステップを備える。
請求項3〜7のいずれかに記載のボンディング方法を用
いて、前記第1のワークを前記第2のワークに接着する
ステップを備える。
【0020】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態におけ
るボンディング装置を示す斜視図である。図1におい
て、1は半導体チップ(第1のワーク)、2は半導体チ
ップ1を載置しておくためのステージ、3はリードフレ
ーム(第2のワーク)、3aはリードフレーム3内のダ
イパッド、4a及び4bはリードフレーム3を搬出入す
るためのガイドレール、5は半導体チップ1を吸着して
保持するためのコレット、6はコレット5が取り付けら
れたスピンドル、7はスピンドル6が取り付けられたハ
ウジング、8はハウジング7を支持するボンディングア
ーム、9はボンディングアーム8を支持し、ボンディン
グアーム8をZ方向(垂直方向)に移動させるためのモ
ータ11cを内蔵したZ駆動部、10はZ駆動部9を支
持するXYテーブル、11a及び11bはXYテーブル
10をX方向及びY方向に移動させるためのモータであ
る。
るボンディング装置を示す斜視図である。図1におい
て、1は半導体チップ(第1のワーク)、2は半導体チ
ップ1を載置しておくためのステージ、3はリードフレ
ーム(第2のワーク)、3aはリードフレーム3内のダ
イパッド、4a及び4bはリードフレーム3を搬出入す
るためのガイドレール、5は半導体チップ1を吸着して
保持するためのコレット、6はコレット5が取り付けら
れたスピンドル、7はスピンドル6が取り付けられたハ
ウジング、8はハウジング7を支持するボンディングア
ーム、9はボンディングアーム8を支持し、ボンディン
グアーム8をZ方向(垂直方向)に移動させるためのモ
ータ11cを内蔵したZ駆動部、10はZ駆動部9を支
持するXYテーブル、11a及び11bはXYテーブル
10をX方向及びY方向に移動させるためのモータであ
る。
【0021】さらに、図1において、12はスピンドル
6の軸芯と偏心した位置でハウジング7に取り付けら
れ、半導体チップ1及びリードフレーム3の像を画像デ
ータとして検出するためのカメラ(画像検出手段)、1
3はボンディングアーム8に取り付けられ、カメラ12
から眺めた像にエアーを吹き付けるためのエアーパイプ
である。
6の軸芯と偏心した位置でハウジング7に取り付けら
れ、半導体チップ1及びリードフレーム3の像を画像デ
ータとして検出するためのカメラ(画像検出手段)、1
3はボンディングアーム8に取り付けられ、カメラ12
から眺めた像にエアーを吹き付けるためのエアーパイプ
である。
【0022】図2は本実施の形態におけるボンディング
装置の制御に関するブロック図である。図2において、
23はエアーをエアーパイプ13に送るためのエアー供
給装置、22はモニター等の出力装置、21はカメラ1
2が検出した画像データを受けて、この画像データに基
づいて、エアー供給装置23、出力装置22、モータ1
1a、11b及び11cを制御するための制御装置であ
る。
装置の制御に関するブロック図である。図2において、
23はエアーをエアーパイプ13に送るためのエアー供
給装置、22はモニター等の出力装置、21はカメラ1
2が検出した画像データを受けて、この画像データに基
づいて、エアー供給装置23、出力装置22、モータ1
1a、11b及び11cを制御するための制御装置であ
る。
【0023】図1のコレット5、スピンドル6及びハウ
ジング7はボンディングヘッドを構成する。図2の制御
装置21、モータ11a〜11cは、ボンディングヘッ
ドの位置制御を行うための位置制御手段を構成する。エ
アーパイプ13及びエアー供給装置23はエアー供給手
段を構成する。
ジング7はボンディングヘッドを構成する。図2の制御
装置21、モータ11a〜11cは、ボンディングヘッ
ドの位置制御を行うための位置制御手段を構成する。エ
アーパイプ13及びエアー供給装置23はエアー供給手
段を構成する。
【0024】次に、本実施の形態におけるボンディング
装置の動作について説明する。図3は、その動作を示す
フローチャートである。
装置の動作について説明する。図3は、その動作を示す
フローチャートである。
【0025】まず、ステップ101を参照して、図示し
ない搬送装置が、ボンディング装置に連動して、半導体
チップ1を搬入して、半導体チップ1をステージ2(第
1の定位置)上に設置する。また、ガイドレール4a及
び4bは、ボンディング装置に連動して、ダイパッド3
aに半田等の接合剤が塗布されたリードフレーム3を第
2の定位置に搬入して設置する。
ない搬送装置が、ボンディング装置に連動して、半導体
チップ1を搬入して、半導体チップ1をステージ2(第
1の定位置)上に設置する。また、ガイドレール4a及
び4bは、ボンディング装置に連動して、ダイパッド3
aに半田等の接合剤が塗布されたリードフレーム3を第
2の定位置に搬入して設置する。
【0026】次に、ステップ102を参照して、制御装
置21は、モータ11a〜11cを制御して、ボンディ
ングヘッドをステージ2上方近傍の第3の定位置に移動
させる。そして、カメラ12は、制御装置21に制御さ
れることによって、カメラ12から眺めた半導体チップ
1の像を画像データとして検出する。制御装置21は半
導体チップ1を認識して、この画像データから半導体チ
ップ1の中心位置を、コレット5が半導体チップ1を保
持すべき保持位置として算出する。
置21は、モータ11a〜11cを制御して、ボンディ
ングヘッドをステージ2上方近傍の第3の定位置に移動
させる。そして、カメラ12は、制御装置21に制御さ
れることによって、カメラ12から眺めた半導体チップ
1の像を画像データとして検出する。制御装置21は半
導体チップ1を認識して、この画像データから半導体チ
ップ1の中心位置を、コレット5が半導体チップ1を保
持すべき保持位置として算出する。
【0027】次に、ステップ103を参照して、制御装
置21は、モータ11a〜11cを制御して、ステップ
102において算出した保持位置へコレット5を移動さ
せて、コレット5が半導体チップ1を吸着して保持す
る。
置21は、モータ11a〜11cを制御して、ステップ
102において算出した保持位置へコレット5を移動さ
せて、コレット5が半導体チップ1を吸着して保持す
る。
【0028】次に、ステップ104を参照して、制御装
置21は、モータ11a〜11cを制御して、半導体チ
ップ1を保持した状態のボンディングヘッドをリードフ
レーム3上方近傍の第4の定位置に移動させる。そし
て、カメラ12は、制御装置21に制御されることによ
って、カメラ12から眺めたリードフレーム3の像を画
像データとして検出する。制御装置21はリードフレー
ム3を認識して、この画像データからダイパッド3aの
中心位置を、半導体チップ1をリードフレーム3に接着
すべき接着位置として算出する。このように、制御装置
21は、ボンディング条件である保持位置及び接着位置
を自動的に算出する。
置21は、モータ11a〜11cを制御して、半導体チ
ップ1を保持した状態のボンディングヘッドをリードフ
レーム3上方近傍の第4の定位置に移動させる。そし
て、カメラ12は、制御装置21に制御されることによ
って、カメラ12から眺めたリードフレーム3の像を画
像データとして検出する。制御装置21はリードフレー
ム3を認識して、この画像データからダイパッド3aの
中心位置を、半導体チップ1をリードフレーム3に接着
すべき接着位置として算出する。このように、制御装置
21は、ボンディング条件である保持位置及び接着位置
を自動的に算出する。
【0029】次に、ステップ105を参照して、制御装
置21は、ステップ102において算出した中心位置が
ステップ104において算出したリードフレーム3のダ
イパッド3aの中心位置に接着するように、モータ11
a〜11cの制御によるコレット5の位置制御を行っ
て、ステップ104において算出した中心へ半導体チッ
プ1を保持した状態のコレット5を移動させて、半導体
チップ1をリードフレーム3に接合する。また、この接
合は、加熱装置(図示せず)によって接合剤が熱せられ
る熱接合であるため、カメラ12から接合された状態の
半導体チップ1及びリードフレーム3を眺めた像には乱
れ(かげろう現象)が生じている。
置21は、ステップ102において算出した中心位置が
ステップ104において算出したリードフレーム3のダ
イパッド3aの中心位置に接着するように、モータ11
a〜11cの制御によるコレット5の位置制御を行っ
て、ステップ104において算出した中心へ半導体チッ
プ1を保持した状態のコレット5を移動させて、半導体
チップ1をリードフレーム3に接合する。また、この接
合は、加熱装置(図示せず)によって接合剤が熱せられ
る熱接合であるため、カメラ12から接合された状態の
半導体チップ1及びリードフレーム3を眺めた像には乱
れ(かげろう現象)が生じている。
【0030】次に、ステップ106を参照して、ボンデ
ィングが終了すると、制御装置21は、モータ11a〜
11cを制御して、ハウジング7をリードフレーム3上
方近傍の第5の定位置に移動させる。そして、制御装置
21は、カメラ12及びエアー供給装置23を制御し
て、ステップ106において接合された半導体チップ1
及びリードフレーム3にエアーパイプ12がエアーを吹
き付けている状態で、カメラ12がこの像を画像データ
として検出する。エアーパイプ13がエアーを吹き付け
ることによって、かげろう現象を防止できる。図4はス
テップ106においてカメラ12が検出した像を示す例
である。図4に示すように、半導体チップ1の中心位置
CP1とダイパッド3aの中心位置CP2との間にはず
れx、y及びθが生じている場合がある。このずれはボ
ンディング装置の機械的な誤差によって生じる。制御装
置21は、半導体チップ1とダイパッド3aとの間のず
れx、y及びθを画像データから検出する。また、制御
装置21は、画像データの中から予めオペレータによっ
て制御装置21内に与えられている半導体チップ1及び
ダイパッド3aの寸法を用いて、半導体チップ1及びリ
ードフレーム3の種類を識別する。
ィングが終了すると、制御装置21は、モータ11a〜
11cを制御して、ハウジング7をリードフレーム3上
方近傍の第5の定位置に移動させる。そして、制御装置
21は、カメラ12及びエアー供給装置23を制御し
て、ステップ106において接合された半導体チップ1
及びリードフレーム3にエアーパイプ12がエアーを吹
き付けている状態で、カメラ12がこの像を画像データ
として検出する。エアーパイプ13がエアーを吹き付け
ることによって、かげろう現象を防止できる。図4はス
テップ106においてカメラ12が検出した像を示す例
である。図4に示すように、半導体チップ1の中心位置
CP1とダイパッド3aの中心位置CP2との間にはず
れx、y及びθが生じている場合がある。このずれはボ
ンディング装置の機械的な誤差によって生じる。制御装
置21は、半導体チップ1とダイパッド3aとの間のず
れx、y及びθを画像データから検出する。また、制御
装置21は、画像データの中から予めオペレータによっ
て制御装置21内に与えられている半導体チップ1及び
ダイパッド3aの寸法を用いて、半導体チップ1及びリ
ードフレーム3の種類を識別する。
【0031】次に、ステップ107を参照して、ガイド
レール4a及び4bは、ステップ107の後、ボンディ
ング装置に連動して、リードフレーム3を別の場所に搬
出する。
レール4a及び4bは、ステップ107の後、ボンディ
ング装置に連動して、リードフレーム3を別の場所に搬
出する。
【0032】以後、ステップ101〜107からなる一
連の処理を繰り返す。なお、半導体チップ1及びリード
フレーム3を別の種類の半導体チップ1及びリードフレ
ーム3に変更するとき、ボンディング装置が自動的にボ
ンディング条件を算出するため、従来のように、この一
連の処理を中断する必要はない。
連の処理を繰り返す。なお、半導体チップ1及びリード
フレーム3を別の種類の半導体チップ1及びリードフレ
ーム3に変更するとき、ボンディング装置が自動的にボ
ンディング条件を算出するため、従来のように、この一
連の処理を中断する必要はない。
【0033】制御装置21内には、この繰り返しによっ
てステップ107において検出されたずれが蓄積されて
いる。このずれを用いてボンディング検査を次のように
行う。すなわち、制御装置21は、蓄積されたずれの平
均値やバラツキを算出する。あるいは、制御装置21
は、蓄積されたずれをステップ107において識別した
半導体チップ1及びリードフレーム3の種類毎に分け
て、この種類毎にずれの平均値やバラツキを算出しても
よい。そして、制御装置21は、この平均値やバラツキ
を出力装置22に出力する。オペレータは、出力装置2
2に出力された平均値及びバラツキによって、装置に異
常があるかどうかを判断する。または、制御装置21
が、ずれ、この平均値あるいはバラツキが予めオペレー
タによって制御装置21内に与えられているマージンよ
り大きいか否かを判断して、大きければ装置に異常があ
ると判断して、この異常の旨を出力装置22に出力して
もよい。
てステップ107において検出されたずれが蓄積されて
いる。このずれを用いてボンディング検査を次のように
行う。すなわち、制御装置21は、蓄積されたずれの平
均値やバラツキを算出する。あるいは、制御装置21
は、蓄積されたずれをステップ107において識別した
半導体チップ1及びリードフレーム3の種類毎に分け
て、この種類毎にずれの平均値やバラツキを算出しても
よい。そして、制御装置21は、この平均値やバラツキ
を出力装置22に出力する。オペレータは、出力装置2
2に出力された平均値及びバラツキによって、装置に異
常があるかどうかを判断する。または、制御装置21
が、ずれ、この平均値あるいはバラツキが予めオペレー
タによって制御装置21内に与えられているマージンよ
り大きいか否かを判断して、大きければ装置に異常があ
ると判断して、この異常の旨を出力装置22に出力して
もよい。
【0034】さらに、ステップ104において、算出し
た接着位置を、ステップ106において検出したずれを
引いたり上述の平均値を引いたりすることによって、補
正する。あるいは、ステップ102において、算出した
保持位置を、同様に補正してもよいし、保持位置及び接
着位置の両方をステップ106において検出したずれあ
るいはその平均値から補正してもよい。このように、制
御装置21がボンディング条件(保持位置や接着位置)
を自動的に補正することによって、ずれの発生が抑制さ
れ、ボンディング装置は、半導体チップ1をリードフレ
ーム3の接着位置に正確に接着する。
た接着位置を、ステップ106において検出したずれを
引いたり上述の平均値を引いたりすることによって、補
正する。あるいは、ステップ102において、算出した
保持位置を、同様に補正してもよいし、保持位置及び接
着位置の両方をステップ106において検出したずれあ
るいはその平均値から補正してもよい。このように、制
御装置21がボンディング条件(保持位置や接着位置)
を自動的に補正することによって、ずれの発生が抑制さ
れ、ボンディング装置は、半導体チップ1をリードフレ
ーム3の接着位置に正確に接着する。
【0035】本実施の形態による効果は、次の通りであ
る。本実施の形態におけるボンディング装置は、カメラ
12が検出した画像データに基づいて、ボンディング条
件を自動で算出するため、従来のようにオペレータがボ
ンディング条件を設定する必要がない。また、ボンディ
ング装置が算出したボンディング条件に基づいて、コレ
ット5の位置制御を行うため、半導体チップ1をリード
フレーム3の適切な位置に精度良く接合することができ
る。また、オペレータがボンディング条件を設定する必
要がないため、ボンディング装置の操作が簡単になり、
操作ミスが減少する。また、ボンディング装置はずれの
平均値やバラツキを自動的に検出して出力するため、オ
ペレータは、この検出結果により製品の品質管理を容易
に行うことができたり、装置の事前保全の要否の判断
を、確実、容易に行うことができたりする。さらに、制
御装置21がボンディング条件を自動的に補正すること
によって、ずれの発生が抑制され、ボンディング装置
は、半導体チップ1をリードフレーム3の接着位置に正
確に接着できる。
る。本実施の形態におけるボンディング装置は、カメラ
12が検出した画像データに基づいて、ボンディング条
件を自動で算出するため、従来のようにオペレータがボ
ンディング条件を設定する必要がない。また、ボンディ
ング装置が算出したボンディング条件に基づいて、コレ
ット5の位置制御を行うため、半導体チップ1をリード
フレーム3の適切な位置に精度良く接合することができ
る。また、オペレータがボンディング条件を設定する必
要がないため、ボンディング装置の操作が簡単になり、
操作ミスが減少する。また、ボンディング装置はずれの
平均値やバラツキを自動的に検出して出力するため、オ
ペレータは、この検出結果により製品の品質管理を容易
に行うことができたり、装置の事前保全の要否の判断
を、確実、容易に行うことができたりする。さらに、制
御装置21がボンディング条件を自動的に補正すること
によって、ずれの発生が抑制され、ボンディング装置
は、半導体チップ1をリードフレーム3の接着位置に正
確に接着できる。
【0036】変形例.リードフレーム3に代えて、プリ
ント基板であってもよい。また、半導体チップ1に代え
て、半導体パッケージであってもよい。
ント基板であってもよい。また、半導体チップ1に代え
て、半導体パッケージであってもよい。
【0037】
【発明の効果】本発明請求項1によると、位置制御手段
は、画像検出手段が検出した画像データに基づいて、ボ
ンディングヘッドの位置制御を行うため、オペレータが
ボンディング条件を設定する必要がないという効果を奏
す。
は、画像検出手段が検出した画像データに基づいて、ボ
ンディングヘッドの位置制御を行うため、オペレータが
ボンディング条件を設定する必要がないという効果を奏
す。
【0038】本発明請求項2によると、エアー供給手段
がエアーを吹き付けるため、例えばかげろう現象が防止
でき、精度の高い画像データが得られるという効果を奏
す。
がエアーを吹き付けるため、例えばかげろう現象が防止
でき、精度の高い画像データが得られるという効果を奏
す。
【0039】本発明請求項3によると、ボンディング装
置が保持位置と接着位置との検出及び補正を行うことに
よって、オペレータがボンディング条件を設定する必要
がないという効果を奏す。
置が保持位置と接着位置との検出及び補正を行うことに
よって、オペレータがボンディング条件を設定する必要
がないという効果を奏す。
【0040】本発明請求項4によると、検出したずれを
利用してボンディング検査を行うことができるという効
果を奏す。
利用してボンディング検査を行うことができるという効
果を奏す。
【0041】本発明請求項5によると、ボンディング装
置は、画像データを利用することによってワークの種類
を識別し、この種類毎にボンディング検査を自動的に行
えるという効果を奏す。
置は、画像データを利用することによってワークの種類
を識別し、この種類毎にボンディング検査を自動的に行
えるという効果を奏す。
【0042】本発明請求項6によると、オペレータは、
ボンディング条件を設定する必要がない分、ボンディン
グ装置を監視する必要がないが、ボンディングの異常が
生じたときは、ボンディング装置がこの異常をオペレー
タに知らせてくれることによって、オペレータはこの異
常を知ることができるという効果を奏す。
ボンディング条件を設定する必要がない分、ボンディン
グ装置を監視する必要がないが、ボンディングの異常が
生じたときは、ボンディング装置がこの異常をオペレー
タに知らせてくれることによって、オペレータはこの異
常を知ることができるという効果を奏す。
【0043】本発明請求項7によると、エアー供給手段
がエアーを吹き付けることによって例えばかげろう現象
を防止することで精度良くずれを検出できるという効果
を奏す。
がエアーを吹き付けることによって例えばかげろう現象
を防止することで精度良くずれを検出できるという効果
を奏す。
【0044】本発明請求項8によると、互いに適切な位
置に精度良く接着された第1及び第2のワークを有する
半導体装置が得られるという効果を奏す。
置に精度良く接着された第1及び第2のワークを有する
半導体装置が得られるという効果を奏す。
【図1】 本発明の実施の形態におけるボンディング装
置を示す斜視図である。
置を示す斜視図である。
【図2】 本発明の実施の形態におけるボンディング装
置の制御に関するブロック図である。
置の制御に関するブロック図である。
【図3】 本発明の実施の形態におけるボンディング方
法を示すフローチャートである。
法を示すフローチャートである。
【図4】 半導体チップ1とリードフレーム3との間に
生じるずれを示す図である。
生じるずれを示す図である。
【図5】 従来のボンディング装置を示す斜視図であ
る。
る。
【図6】 従来のボンディング方法を示すフローチャー
トである。
トである。
CP1,CP2 中心位置、x,y,θ ずれ。
Claims (8)
- 【請求項1】 第1のワークを、ボンディングヘッドに
よって保持して移動させて、第2のワークに接着するボ
ンディング装置であって、 前記ボンディングヘッドに取り付けられ、前記第1及び
第2のワークの像を画像データとして検出するための画
像検出手段と、 前記画像データを受け、この画像データに基づいて前記
ボンディングヘッドの位置制御を行うための位置制御手
段と、を備えたボンディング装置。 - 【請求項2】 検出対象へエアーを吹き付けるためのエ
アー供給手段をさらに備えた請求項1記載のボンディン
グ装置。 - 【請求項3】 請求項1記載のボンディング装置を用い
たボンディング方法であって、 前記第1のワークを第1の定位置に設置する第1のステ
ップと、 前記画像検出手段が第1のワークの像を画像データとし
て検出し、前記位置制御手段がこの画像データから、前
記ボンディングヘッドが前記第1のワークを保持すべき
保持位置を算出する第2のステップと、 前記位置制御手段が前記ボンディングヘッドを前記保持
位置へ移動させることによって、前記ボンディングヘッ
ドが前記第1のワークを保持する第3のステップと、 前記第2のワークを第2の定位置に設置する第4のステ
ップと、 前記画像検出手段が第2のワークの像を画像データとし
て検出し、前記位置制御手段がこの画像データから、前
記第1のワークを前記第2のワークに接着すべき接着位
置を算出する第5のステップと、 前記位置制御手段が前記ボンディングヘッドを前記接着
位置へ移動させることによって、前記第1のワークを前
記第2のワークに接着させる第6のステップと、 前記画像検出手段が前記接着後の第1、第2のワークの
像を画像データとして検出し、前記第1のワークと第2
のワークとの間のずれをこの画像データから検出する第
7のステップと、 前記第1〜第7のステップを繰り返すステップと、を備
え、 前記第2及び第5のステップにおいて、算出した保持位
置及び接着位置の少なくとも一方を、前記第7のステッ
プにおいて検出したずれに基づいて補正するボンディン
グ方法。 - 【請求項4】 前記ずれを用いてボンディング検査を行
う第8のステップをさらに備えた請求項3記載のボンデ
ィング方法。 - 【請求項5】 前記画像データの中から前記第1及び第
2のワークの種類を識別する第9のステップをさらに備
え、 前記第8のステップは、 前記ずれを前記第9のステップにおいて認識した種類毎
に分けて、前記ボンディング検査を行う請求項4記載の
ボンディング方法。 - 【請求項6】 前記ボンディング装置が前記ずれに基づ
いてボンディングの異常を検出してこの異常の旨を出力
する第10のステップをさらに備えた請求項4記載のボ
ンディング方法。 - 【請求項7】 前記ボンディング装置は、検出対象へエ
アーを吹き付けるためのエアー供給手段をさらに備え、 前記第7のステップは、前記第6のステップにおいて接
着された前記第1及び第2のワークに前記エアー供給手
段がエアーを吹き付けている状態で、前記画像検出手段
が前記第1及び第2のワークの像を画像データとして検
出する請求項3〜6のいずれかに記載のボンディング方
法。 - 【請求項8】 請求項3〜7のいずれかに記載のボンデ
ィング方法を用いて、前記第1のワークを前記第2のワ
ークに接着するステップを備えた半導体装置の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11957997A JPH10313013A (ja) | 1997-05-09 | 1997-05-09 | ボンディング装置及びボンディング方法並びに半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11957997A JPH10313013A (ja) | 1997-05-09 | 1997-05-09 | ボンディング装置及びボンディング方法並びに半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10313013A true JPH10313013A (ja) | 1998-11-24 |
Family
ID=14764856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11957997A Pending JPH10313013A (ja) | 1997-05-09 | 1997-05-09 | ボンディング装置及びボンディング方法並びに半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10313013A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005252008A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Olympus Corp | 半導体接合方法及び接合装置 |
| KR100709006B1 (ko) * | 2001-04-13 | 2007-04-18 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 제조 방법 |
| KR100843198B1 (ko) | 2006-06-28 | 2008-07-02 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 본딩장치 |
| KR100961690B1 (ko) | 2008-11-12 | 2010-06-10 | (주) 에스에스피 | 카메라모듈 제작용 라운드 디스펜싱 장치와 이를 이용한 라운드 디스펜싱 방법 |
| WO2021125778A1 (ko) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | 서울바이오시스주식회사 | 마이크로 엘이디 본딩 평가 장치 및 그것을 이용한 마이크로 엘이디 본딩 평가 방법 |
-
1997
- 1997-05-09 JP JP11957997A patent/JPH10313013A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100709006B1 (ko) * | 2001-04-13 | 2007-04-18 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 제조 방법 |
| JP2005252008A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Olympus Corp | 半導体接合方法及び接合装置 |
| KR100843198B1 (ko) | 2006-06-28 | 2008-07-02 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 본딩장치 |
| KR100961690B1 (ko) | 2008-11-12 | 2010-06-10 | (주) 에스에스피 | 카메라모듈 제작용 라운드 디스펜싱 장치와 이를 이용한 라운드 디스펜싱 방법 |
| WO2021125778A1 (ko) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | 서울바이오시스주식회사 | 마이크로 엘이디 본딩 평가 장치 및 그것을 이용한 마이크로 엘이디 본딩 평가 방법 |
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