JPH10314503A - 流体の脱気装置 - Google Patents

流体の脱気装置

Info

Publication number
JPH10314503A
JPH10314503A JP9125393A JP12539397A JPH10314503A JP H10314503 A JPH10314503 A JP H10314503A JP 9125393 A JP9125393 A JP 9125393A JP 12539397 A JP12539397 A JP 12539397A JP H10314503 A JPH10314503 A JP H10314503A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tank
fluid
bubbles
capillary
degassing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9125393A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Kono
隆 河野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP9125393A priority Critical patent/JPH10314503A/ja
Publication of JPH10314503A publication Critical patent/JPH10314503A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Degasification And Air Bubble Elimination (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型に構成されると共に、流体の脱気が十分
に行われるようにした、流体の脱気装置を提供するこ
と。 【解決手段】 貯蔵源から加圧されて流体が圧送される
供給ライン11中に順次に設けられた第一のタンク12
及び第二のタンク20と、第一のタンク12に設けた脱
気促進手段13を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、気体により加圧し
て供給される流体中に含まれる気体を除去するための脱
気装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば半導体製造においては、半
導体基板の表面にパターン形成を行なう場合、半導体基
板の表面に、レジストを塗布して、パターンマスクを利
用してレジストを露光させた後、現像液によってレジス
トを現像することにより、所望のパターンのレジストが
半導体基板の表面に形成されるようになっている。この
ようなレジストの現像を行なう場合、従来は、現像液を
貯蔵する現像液タンクから、現像液タンク内を窒素等の
気体によって加圧したり、ポンプ等を使用することによ
り、現像液を供給ラインを介して現像装置内に圧送する
ようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
現像液の圧送は、加圧によって現像液中に気体が溶解し
やすくなる。これにより、現像液が現像装置内に供給さ
れ、圧力が解放された後に、現像液中の溶存気体が、現
像液内で微小気泡を発生させることになる。この微小気
泡が、現像の際に、半導体基板の表面に付着すると、微
小気泡の部分にて現像が進行せず、現像不良が発生し
て、半導体製造の歩留まりが低下してしまうことにな
る。このため、現像液中の溶存気体を除去するために、
従来は、現像液の供給ラインの現像装置手前にて、バッ
ファータンクを備えることにより、現像液が一旦バッフ
ァータンク内に貯留され、バッファータンク内にて撹拌
されることにより、現像液中の溶存気体の脱気を促進す
るようにしている。
【0004】しかしながら、このようなバッファータン
クを使用しても、現像液自体が粘性を有していることか
ら、脱気が不十分であり、現像不良の発生が不可避であ
るという問題があった。また、このようなバッファータ
ンクは比較的大型であり、設置スペースの点で問題があ
った。
【0005】本発明は、以上の点に鑑み、小型に構成さ
れると共に、流体の脱気が十分に行われるようにした、
流体の脱気装置を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、貯蔵源から加圧されて流体が圧送される供給ライ
ン中に順次に設けられた第一のタンク及び第二のタンク
と、前記第一のタンクに設けられる脱気促進手段とを備
えている、流体の脱気装置により、達成される。
【0007】本発明による流体の脱気装置は、好ましく
は、前記第一のタンクが、脱気促進手段として、タンク
中段にて上下方向に延びる微細ガラス管を敷き詰めたキ
ャピラリーを有しており、このキャピラリーの下方にて
貯蔵源からの供給ラインが開口していると共に、第二の
タンクへの供給管が、キャピラリーの上方にて第一のタ
ンク内に開口している。
【0008】本発明による流体の脱気装置は、好ましく
は、前記第二のタンクが、減圧されている。
【0009】本発明による流体の脱気装置は、好ましく
は、前記第二のタンクが、その底部に撹拌手段を備えて
いる。
【0010】本発明による流体の脱気装置は、好ましく
は、上記第一のタンクが、上下に延びる回転軸の周りに
回転駆動されると共に、底面が中心から外側に向かって
下向きに傾斜して形成されており、第二のタンクへの供
給管が、第一のタンクの底面付近にて第一のタンク内に
開口している。
【0011】上記構成によれば、第一のタンク内に供給
された流体は、脱気促進手段、例えばキャピラリー及び
/又は第一のタンク自体の回転駆動によって、微小気泡
が纒められて、第二のタンクに供給される。そして、第
二のタンク内で、流体が一時的に貯蔵されることによっ
て、微小気泡よりやや大きくなった気泡が流体中から浮
上することにより、脱気が行なわれる。
【0012】上記第一のタンクが、脱気促進手段とし
て、タンク中段にて上下方向に延びる微細ガラス管を敷
き詰めたキャピラリーを有しており、このキャピラリー
の下方にて貯蔵源からの供給ラインが開口していると共
に、第二のタンクへの供給管が、キャピラリーの上方に
て第一のタンク内に開口している場合には、キャピラリ
ーの下方にて導入された流体は、上方に向かって流れる
ことにより、キャピラリーを構成する微細ガラス管中を
通過して、キャピラリー上方から供給管を通って、第二
のタンクに供給される。ここで、流体がキャピラリーを
構成する各微細ガラス管内を通過する際に、流体内の微
小気泡が、微細ガラス管の内壁に付着し、互いに隣接す
る微小気泡同士が接触して、大きな気泡を形成する。こ
の大きな気泡は、微小気泡に比較して脱気しやすいとい
う性質がある。そして、大きな気泡は、流体の流れによ
ってキャピラリー上方に達し、流体と共に、第二のタン
クに供給される。
【0013】ここで、上記第二のタンクが、減圧されて
いる場合には、流体中の溶存気体が、気泡として浮上し
やすく、容易に脱気されることになる。
【0014】さらに、上記第二のタンクが、その底部に
撹拌手段を備えている場合には、撹拌手段の撹拌によっ
て、流体中の溶存気体が、より一層気泡として浮上しや
すくなり、容易に脱気されることになる。この場合、撹
拌手段は、第二のタンクの底部の領域の流体のみを撹拌
すればよいことから、撹拌手段が小型に構成されること
になり、第二のタンク自体も小型に構成されることにな
る。
【0015】また、上記第一のタンクが、上下に延びる
回転軸の周りに回転駆動されると共に、底面が中心から
外側に向かって下向きに傾斜して形成されており、第二
のタンクへの供給管が、底面付近にて第一のタンク内に
開口している場合には、第一のタンクの回動によって、
流体中の気泡は、軽いことから、遠心分離によって、タ
ンクの回転軸付近に集まり、また流体は、遠心力を受け
て、外側に集まることになる。そして、第一のタンクの
底面が外側に向かって傾斜していることから、気泡がタ
ンクの外側付近に流れるようなことはなく、流体のみが
供給管を通って、第二のタンクに供給される。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図1乃至図4を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。
【0017】図1は、本発明による流体の脱気装置の第
一の実施形態を示している。図1において、脱気装置1
0は、例えば半導体製造の際にレジストの現像に使用さ
れる現像液の脱気のために、その現像液タンクから現像
装置(共に図示せず)への供給ライン11中に配設され
ている。脱気装置10は、供給ライン11中に順次に設
けられた二つのタンク、即ち第一のタンク12及び第二
のタンク20を含んでいる。
【0018】第一のタンク12は、図示の場合、全体が
円筒状に形成されており、上端が開放している。そし
て、第一のタンク12は、その上下方向の中段位置に
て、第一のタンク12内を上下に仕切るように配設され
たキャピラリー13を備えている。
【0019】さらに、第一のタンク12は、キャピラリ
ー13の下方にて、現像液タンクからの供給ライン11
が開口していると共に、キャピラリー13の上方にて、
第二のタンク20への供給管14が開口している。
【0020】上記キャピラリー13は、図2に示すよう
に、第二のタンク12の内壁を水平方向に埋め尽くすよ
うに、上下方向に延びる短い微細ガラス管13aを隙間
なく並べることにより、構成されている。この微細ガラ
ス管13aは、脱気すべき流体(この場合、現像液)に
対して反応しない組成のガラスから構成されており、そ
の寸法が、例えばその外径1.0mm,内径0.7mm
で、長さ30.0mm程度に選定されている。
【0021】上記第二のタンク20は、図示の場合、全
体がほぼ円筒状に形成されていると共に、その上端が絞
られてキャップ21により密閉されている。そして、第
二のタンク20は、キャップ21を貫通する真空排気管
22に接続された真空排気装置(図示せず)によって、
内部が減圧されるようになっている。また、上記第二の
タンク20は、その底部に、撹拌装置23を備えてい
る。この撹拌装置23は、図示の場合、スターラーであ
るが、同様の作用を発揮する小型の撹拌装置なら、その
態様を問わず採用できる。これにより、第二のタンク2
0も小型に構成されることになる。
【0022】さらに、第二のタンク20は、底部付近に
て、第一のタンク12からの供給管14と、現像装置
(図示せず)への供給ライン11が開口している。
【0023】本実施形態による流体の脱気装置10は、
以上のように構成されており、供給ライン11を介して
現像液タンク(図示せず)から現像液が、第一のタンク
12内に供給されると、現像液は、第一のタンク12内
にて、キャピラリー13の下方から、キャピラリー13
を構成する各微細ガラス管13a内を通過して、キャピ
ラリー13の上方に進む。このとき、現像液中の溶存気
体は、キャピラリー13の各微細ガラス管13aの内壁
に微小気泡として付着することになる。そして、微細ガ
ラス管13aの内壁に付着した微小気泡が徐々に増えて
くると、互いに隣接する微小気泡が接触して、大きな気
泡となり、流体の流れによって、キャピラリー13の上
方に進むことになる。これにより、現像液中の微小気泡
は、キャピラリー13の作用によって、より大きな気泡
となり、脱気が容易に行われるようになる。そして、キ
ャピラリー13の上方に進んだ現像液は、供給管14を
通って、第二のタンク20の底部付近に供給されること
になる。
【0024】第二のタンク20内に収容された現像液
は、第二のタンク20の底部に設けられた撹拌装置23
によって撹拌されることにより、現像液の液面に浮上す
ることになる。その際、第二のタンク20内が減圧され
ていることにより、現像液中の気泡は、より一層容易に
浮上できることになる。そして、第二のタンク20内の
現像液は、一定時間だけ、上述した撹拌装置23による
撹拌と真空排気管22からの真空排気による減圧によっ
て脱気された後、供給ライン11を通って、現像装置に
送出される。
【0025】図3は、本発明による流体の脱気装置の第
二の実施形態を示している。図3において、脱気装置3
0は、例えば半導体製造の際にレジストの現像に使用さ
れる現像液の脱気のために、その現像液タンクから現像
装置への供給ライン11中に配設されている。脱気装置
30は、供給ライン11中に順次に設けられた二つのタ
ンク、即ち第一のタンク31及び第二のタンク40を含
んでいる。
【0026】第一のタンク31は、図示の場合、全体が
円筒状に形成されており、上端が開放している。そし
て、第一のタンク31は、その全体が中心軸の周りに、
駆動手段41によって、矢印で示すように、回転駆動さ
れるようになっている。
【0027】さらに、第一のタンク31は、現像液タン
クからの供給ライン11が、開放端から底部付近にまで
延びていると共に、底面31aが、中間から外側に向か
って下方に傾斜して形成されており、最外縁付近の底面
に、第二のタンク40への供給管32が開口している。
【0028】上記底面31aは、好ましくは、図4に示
すように、等角度間隔で半径方向に延びる突条部もしく
はフィン31bを備えている。
【0029】上記第二のタンク40は、図示の場合、全
体がほぼ円筒状に形成されていると共に、その上端が開
放している。そして、第二のタンク40は、第一のタン
ク31からの供給管32が、開放端から底部付近にまで
延びていると共に、底面に、現像装置への供給ライン1
1が開口している。
【0030】このような構成の流体の脱気装置30によ
れば、供給ライン11を介して現像液タンク(図示せ
ず)から現像液が、第一のタンク31内に供給される
と、現像液は、第一のタンク31の回転駆動によって、
底面に設けられた突条部31bにより撹拌されることに
なり、遠心力を受けることになる。このとき、現像液中
の溶存気体は、現像液に比較して軽いことから、微小気
泡として、遠心分離され、回転軸付近に集まって、大き
な気泡を形成することになる。
【0031】これに対して、遠心力を受けた現像液は、
遠心力によって、第一のタンク31の外側に向かって移
動する。ここで、第一のタンク31の底面31aが外側
に向かって低くなるように傾斜していることから、回転
軸付近に集まった微小気泡が、この底面31aに沿って
外側に移動するようなことはない。従って、第一のタン
ク31内に導入された現像液は、第一のタンク31の回
転駆動によって、ある程度微小気泡が除去された状態
で、第一のタンク31の底面外側に開口する供給管32
を通って、第二のタンク40内に供給されることにな
る。第二のタンク40内に進入した現像液は、一定時間
だけ貯蔵されることにより、現像液内の溶存気体が現像
液の表面に浮上して脱気された後、供給ライン11を通
って、現像装置に送出される。かくして、現像液の脱気
が行われることになる。
【0032】このように、上述の実施形態によれば、第
一のタンク内に供給された流体は、脱気促進手段、例え
ばキャピラリーあるいは第一のタンク自体の回転駆動に
よって、微小気泡が纒められて、第二のタンクに供給さ
れる。そして、第二のタンク内で、流体が一時的に貯蔵
されることによって、微小気泡よりやや大きくなった気
泡が流体中から浮上することにより、脱気が行なわれ
る。これにより、流体中の溶存気体が、十分に且つ確実
に脱気されることになる。従って、例えば半導体製造に
おける半導体基板に塗布されたレジストの現像のための
現像液の脱気を行なう場合、脱気が十分に且つ確実に行
われることにより、現像不良の発生が抑制されることに
なり、半導体製造の歩留まりが向上することになる。
【0033】尚、上述した実施形態においては、半導体
製造におけるレジストの現像液を脱気するための脱気装
置10,30について説明したが、これに限らず、気体
の加圧によって給送される種々の流体の脱気のために、
本発明が適用されることは明らかである。
【0034】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、小
型に構成されると共に、流体の脱気が十分に行われるよ
うにした、脱気装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による流体の脱気装置の第一の実施形態
を示す概略斜視図である。
【図2】図1の流体の脱気装置における第一のタンク内
のキャピラリーの構成を示す部分拡大斜視図である。
【図3】本発明による流体の脱気装置の第二の実施形態
を示す概略斜視図である。
【図4】図1の流体の脱気装置における第一のタンクの
底部を示す部分拡大斜視図である。
【符号の説明】
10・・・流体の脱気装置、11・・・流体の供給ライ
ン、12・・・第一のタンク、13・・・キャピラリ
ー、13a・・・微細ガラス管、14・・・供給管、2
0・・・第二のタンク、21・・・キャップ、22・・
・真空排気管、23・・・撹拌装置、30・・・流体の
脱気装置、31・・・第一のタンク、31a・・・底
面、31b・・・突条部、32・・・供給管、40・・
・第二のタンク。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 貯蔵源から加圧されて流体が圧送される
    供給ライン中に順次に設けられた第一のタンク及び第二
    のタンクと、 前記第一のタンクに設けられる脱気促進手段とを備えて
    いることを特徴とする流体の脱気装置。
  2. 【請求項2】 前記第一のタンクが、脱気促進手段とし
    て、タンク中段にて上下方向に延びる微細ガラス管を敷
    き詰めたキャピラリーを有しており、 このキャピラリーの下方にて貯蔵源からの供給ラインが
    開口していると共に、第二のタンクへの供給管が、キャ
    ピラリーの上方にて第一のタンク内に開口していること
    を特徴とする請求項1に記載の流体の脱気装置。
  3. 【請求項3】 前記第二のタンクが、減圧されているこ
    とを特徴とする請求項2に記載の流体の脱気装置。
  4. 【請求項4】 前記第二のタンクが、その底部に撹拌手
    段を備えていることを特徴とする請求項2に記載の流体
    の脱気装置。
  5. 【請求項5】 前記第一のタンクが、上下に延びる回転
    軸の周りに回転駆動されると共に、底面が中心から外側
    に向かって下向きに傾斜して形成されており、 第二のタンクへの供給管が、第一のタンクの底面付近に
    て第一のタンク内に開口していることを特徴とする請求
    項1に記載の流体の脱気装置。
JP9125393A 1997-05-15 1997-05-15 流体の脱気装置 Withdrawn JPH10314503A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9125393A JPH10314503A (ja) 1997-05-15 1997-05-15 流体の脱気装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9125393A JPH10314503A (ja) 1997-05-15 1997-05-15 流体の脱気装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10314503A true JPH10314503A (ja) 1998-12-02

Family

ID=14909037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9125393A Withdrawn JPH10314503A (ja) 1997-05-15 1997-05-15 流体の脱気装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10314503A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007002429A3 (en) * 2005-06-21 2007-06-28 Intel Corp Capillary tube bubble containment in liquid cooling systems
JP2008053689A (ja) * 2006-07-26 2008-03-06 Shibaura Mechatronics Corp 基板の処理装置
CN102452310A (zh) * 2010-10-19 2012-05-16 通用汽车环球科技运作有限责任公司 具有脱气容器的冷却系统
JP2014090189A (ja) * 2003-07-09 2014-05-15 Nikon Corp 露光装置、及びデバイス製造方法
JP2017023990A (ja) * 2015-07-28 2017-02-02 株式会社Screenホールディングス 塗布装置および塗布方法
JP2019214011A (ja) * 2018-06-12 2019-12-19 東京エレクトロン株式会社 脱泡装置および脱泡方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014090189A (ja) * 2003-07-09 2014-05-15 Nikon Corp 露光装置、及びデバイス製造方法
JP2016053734A (ja) * 2003-07-09 2016-04-14 株式会社ニコン 露光装置、及びデバイス製造方法
US9500959B2 (en) 2003-07-09 2016-11-22 Nikon Corporation Exposure apparatus and device manufacturing method
US9977352B2 (en) 2003-07-09 2018-05-22 Nikon Corporation Exposure apparatus and device manufacturing method
WO2007002429A3 (en) * 2005-06-21 2007-06-28 Intel Corp Capillary tube bubble containment in liquid cooling systems
US7274567B2 (en) 2005-06-21 2007-09-25 Intel Corporation Capillary tube bubble containment in liquid cooling systems
JP2008053689A (ja) * 2006-07-26 2008-03-06 Shibaura Mechatronics Corp 基板の処理装置
TWI400131B (zh) * 2006-07-26 2013-07-01 芝浦機械電子裝置股份有限公司 基板處理裝置
CN102452310A (zh) * 2010-10-19 2012-05-16 通用汽车环球科技运作有限责任公司 具有脱气容器的冷却系统
US8966917B2 (en) 2010-10-19 2015-03-03 GM Global Technology Operations LLC Cooling systems with deaeration reservoirs
JP2017023990A (ja) * 2015-07-28 2017-02-02 株式会社Screenホールディングス 塗布装置および塗布方法
JP2019214011A (ja) * 2018-06-12 2019-12-19 東京エレクトロン株式会社 脱泡装置および脱泡方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2635482B2 (ja) 表層液排出装置
US3676983A (en) Apparatus and method for degassing a liquid
CN101128253B (zh) 过滤系统
US6648943B2 (en) Integrated use of deaeration methods to reduce bubbles and liquid waste
JPH10314503A (ja) 流体の脱気装置
EP0927073B1 (en) Hydromechanical mixing apparatus for producing a mixture of powder or granular state material and liquid
CN101265030B (zh) 基板薄化设备以及薄化基板的方法
JPH1187306A (ja) 超臨界乾燥装置
JP3631999B2 (ja) 微細気泡供給装置
JPH0947647A (ja) 流液板回転式混合脱泡装置
JP2006179765A (ja) 基板処理装置およびパーティクル除去方法
KR100386712B1 (ko) 웨이퍼 표면으로 불순물의 부착을 방지하는 노광된포토레지스트 현상 처리 방법 및 장치
JP2008542012A (ja) 塗工材料脱気方法及び装置
JP2009262017A (ja) 遊星運動式脱泡システム及び遊星運動式脱泡方法
KR20110132660A (ko) 메가소닉 세정 방법 및 세정 장치
JP3338380B2 (ja) ウェーハ処理装置及びウェーハ処理方法
JP2006179764A (ja) 基板処理装置およびパーティクル除去方法
JP2007262466A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2008140964A (ja) 薬液供給装置および半導体装置の製造方法
JP2002200453A (ja) 塗布装置および塗布方法
JP2000167374A (ja) 撹拌装置
JP3494521B2 (ja) 薬液供給装置の気液分離装置
JP2669054B2 (ja) 現像装置
JP2004290859A (ja) 液体の脱気方法及び脱気装置
JP2000068197A (ja) 気泡発生防止兼用気泡除去装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20040803

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20040817

A072 Dismissal of procedure [no reply to invitation to correct request for examination]

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A072

Effective date: 20041124