JPH10321125A - 電子放出素子及びこれを用いた表示装置 - Google Patents
電子放出素子及びこれを用いた表示装置Info
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- JPH10321125A JPH10321125A JP12595997A JP12595997A JPH10321125A JP H10321125 A JPH10321125 A JP H10321125A JP 12595997 A JP12595997 A JP 12595997A JP 12595997 A JP12595997 A JP 12595997A JP H10321125 A JPH10321125 A JP H10321125A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子放出効率の高い電子放出素子を提供す
る。 【解決手段】 金属又は半導体からなる電子供給層、電
子供給層上に形成された絶縁体層及び絶縁体層上に形成
され真空空間に面する金属薄膜電極からなり、電子供給
層及び金属薄膜電極間に電界を印加し電子を放出する電
子放出素子であって、絶縁体層は50nm以上の膜厚を有
し、電子供給層は透明である。
る。 【解決手段】 金属又は半導体からなる電子供給層、電
子供給層上に形成された絶縁体層及び絶縁体層上に形成
され真空空間に面する金属薄膜電極からなり、電子供給
層及び金属薄膜電極間に電界を印加し電子を放出する電
子放出素子であって、絶縁体層は50nm以上の膜厚を有
し、電子供給層は透明である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子及び
これを用いた電子放出表示装置に関する。
これを用いた電子放出表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から電界電子放出表示装置のFED
(field emission display)が、陰極の加熱を必要としな
い冷陰極の電子放出源のアレイを備えた平面形発光ディ
スプレイとして知られている。例えば、spindt型冷陰極
を用いたFEDの発光原理は、冷陰極アレイが異なるも
ののCRT(cathode ray tube)と同様に、陰極から離間
したゲート電極により電子を真空中に引出し、透明陽極
に塗布された蛍光体に衝突させて、発光させるものであ
る。
(field emission display)が、陰極の加熱を必要としな
い冷陰極の電子放出源のアレイを備えた平面形発光ディ
スプレイとして知られている。例えば、spindt型冷陰極
を用いたFEDの発光原理は、冷陰極アレイが異なるも
ののCRT(cathode ray tube)と同様に、陰極から離間
したゲート電極により電子を真空中に引出し、透明陽極
に塗布された蛍光体に衝突させて、発光させるものであ
る。
【0003】しかしながら、この電界放出源は、微細な
spindt型冷陰極の製造工程が複雑で、その工程数が多い
ので、製造歩留まりが低いといった問題がある。また、
面電子源として金属-絶縁-金属(MIM)構造の電子放
出素子もある。MIM構造の電子放出素子には、基板上
に下部Al層、膜厚10nm程度のAl2O3絶縁体層、膜厚1
0nm程度の上部Au層を順に形成した構造のものがある。
これを真空中で対向電極の下に配置して下部Al層と上部
Au層の間に電圧を印加するとともに対向電極に加速電圧
を印加すると、電子の一部が上部Au層を飛び出し対向電
極に達する。しかしながら、この素子を表示装置として
使用するにはまだ放出電子量が不足している。これを改
善するために、従来のAl2O3絶縁体層のさらなる数nm程
度膜厚への薄膜化や、極薄膜のAl2O3絶縁体層の膜質及
びAl2O3絶縁体層と上部Au層の界面を、より均一化する
ことが必要であると考えられている。
spindt型冷陰極の製造工程が複雑で、その工程数が多い
ので、製造歩留まりが低いといった問題がある。また、
面電子源として金属-絶縁-金属(MIM)構造の電子放
出素子もある。MIM構造の電子放出素子には、基板上
に下部Al層、膜厚10nm程度のAl2O3絶縁体層、膜厚1
0nm程度の上部Au層を順に形成した構造のものがある。
これを真空中で対向電極の下に配置して下部Al層と上部
Au層の間に電圧を印加するとともに対向電極に加速電圧
を印加すると、電子の一部が上部Au層を飛び出し対向電
極に達する。しかしながら、この素子を表示装置として
使用するにはまだ放出電子量が不足している。これを改
善するために、従来のAl2O3絶縁体層のさらなる数nm程
度膜厚への薄膜化や、極薄膜のAl2O3絶縁体層の膜質及
びAl2O3絶縁体層と上部Au層の界面を、より均一化する
ことが必要であると考えられている。
【0004】例えば、絶縁体層のさらなる薄膜化及び均
一化のために陽極酸化法を用いて、化成電流を制御する
ことにより電子放出特性を向上させる試みがなされてい
る(特開平7-65710号公報)。しかしながら、M
IM構造の電子放出素子でも、まだ放出電流は1x10
-6A/cm2程度で、放出電流比は1x10-3程度である。
一化のために陽極酸化法を用いて、化成電流を制御する
ことにより電子放出特性を向上させる試みがなされてい
る(特開平7-65710号公報)。しかしながら、M
IM構造の電子放出素子でも、まだ放出電流は1x10
-6A/cm2程度で、放出電流比は1x10-3程度である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の事情
に鑑みてなされたものであり、電子放出効率の高い電子
放出素子及びこれを用いた電子放出表示装置を提供する
ことを目的とする。
に鑑みてなされたものであり、電子放出効率の高い電子
放出素子及びこれを用いた電子放出表示装置を提供する
ことを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の電子放出素子
は、金属又は半導体からなる電子供給層、前記電子供給
層上に形成された絶縁体層及び前記絶縁体層上に形成さ
れ真空空間に面する金属薄膜電極からなり、前記電子供
給層及び前記金属薄膜電極間に電界を印加し電子を放出
する電子放出素子であって、前記絶縁体層は50nm以上
の膜厚を有し、前記電子供給層は透明であることを特徴
とする。
は、金属又は半導体からなる電子供給層、前記電子供給
層上に形成された絶縁体層及び前記絶縁体層上に形成さ
れ真空空間に面する金属薄膜電極からなり、前記電子供
給層及び前記金属薄膜電極間に電界を印加し電子を放出
する電子放出素子であって、前記絶縁体層は50nm以上
の膜厚を有し、前記電子供給層は透明であることを特徴
とする。
【0007】本発明の電子放出素子は、絶縁体層は厚い
膜厚を有するのでスルーホールが発生しにくいので製造
歩留まりが向上する。素子の放出電流は1x10-6A/cm
2をこえ1x10-3A/cm2程度であり、放出電流比は1x
10-1が得られるので、表示素子とした場合、高輝度が
得られ、駆動電流の消費及び発熱を抑制でき、駆動回路
への負担を低減できる。さらに、前記絶縁体層は50nm
以上の膜厚を有するが、前記電子供給層は透明なので、
電子供給層側からの発散光の取り出しが可能となる。
膜厚を有するのでスルーホールが発生しにくいので製造
歩留まりが向上する。素子の放出電流は1x10-6A/cm
2をこえ1x10-3A/cm2程度であり、放出電流比は1x
10-1が得られるので、表示素子とした場合、高輝度が
得られ、駆動電流の消費及び発熱を抑制でき、駆動回路
への負担を低減できる。さらに、前記絶縁体層は50nm
以上の膜厚を有するが、前記電子供給層は透明なので、
電子供給層側からの発散光の取り出しが可能となる。
【0008】さらに、本発明の電子放出素子は、画素バ
ルブの発光源、電子顕微鏡の電子放出源、真空ミクロエ
レクトロニクス素子などの高速素子に応用でき、さらに
面状又は点状の電子放出ダイオードとして、赤外線又は
可視光又は紫外線の電磁波を放出する発光ダイオード又
はレーザダイオードとして動作可能である。また、本発
明の電子放出表示装置は、真空空間を挾み対向する一対
の第1及び第2基板と、前記第1基板内面に設けられた
複数の電子放出素子と、前記第2基板内面に設けられた
コレクタ電極と、前記コレクタ電極上に形成された蛍光
体層と、からなる電子放出表示装置であって、前記電子
放出素子の各々は、前記第1基板側に形成された金属又
は半導体からなる電子供給層、前記電子供給層上に形成
された絶縁体層及び前記絶縁体層上に形成され前記真空
空間に面する金属薄膜電極からなり、前記絶縁体層は5
0nm以上の膜厚を有し、前記電子供給層は透明であるこ
とを特徴とする。
ルブの発光源、電子顕微鏡の電子放出源、真空ミクロエ
レクトロニクス素子などの高速素子に応用でき、さらに
面状又は点状の電子放出ダイオードとして、赤外線又は
可視光又は紫外線の電磁波を放出する発光ダイオード又
はレーザダイオードとして動作可能である。また、本発
明の電子放出表示装置は、真空空間を挾み対向する一対
の第1及び第2基板と、前記第1基板内面に設けられた
複数の電子放出素子と、前記第2基板内面に設けられた
コレクタ電極と、前記コレクタ電極上に形成された蛍光
体層と、からなる電子放出表示装置であって、前記電子
放出素子の各々は、前記第1基板側に形成された金属又
は半導体からなる電子供給層、前記電子供給層上に形成
された絶縁体層及び前記絶縁体層上に形成され前記真空
空間に面する金属薄膜電極からなり、前記絶縁体層は5
0nm以上の膜厚を有し、前記電子供給層は透明であるこ
とを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照しつつ説明する。図1に示すように、電子放出素子
は、インジウムスズ酸化物(ITO),ZnO,In2O3,
SrOなど透光性のオーミック電極11を備えた透明ガ
ラス基板10上に順に形成された、金属又は半導体から
なる電子供給層12、絶縁体層13及び真空空間に面す
る金属薄膜電極15からなり、電子供給層及び金属薄膜
電極間に電界を印加し電子を放出する電子放出素子であ
る。絶縁体層13は50nm以上の極めて厚い膜厚を有
し、電子供給層は100nm以下の膜厚を有する。
照しつつ説明する。図1に示すように、電子放出素子
は、インジウムスズ酸化物(ITO),ZnO,In2O3,
SrOなど透光性のオーミック電極11を備えた透明ガ
ラス基板10上に順に形成された、金属又は半導体から
なる電子供給層12、絶縁体層13及び真空空間に面す
る金属薄膜電極15からなり、電子供給層及び金属薄膜
電極間に電界を印加し電子を放出する電子放出素子であ
る。絶縁体層13は50nm以上の極めて厚い膜厚を有
し、電子供給層は100nm以下の膜厚を有する。
【0010】この電子放出素子の対向する一対の第1及
び第2基板10,1は真空空間を挾んで保持される。第
2基板1の内面にはコレクタ電極2と蛍光体層3とが設
けられる。この電子放出素子は、表面の薄膜電極を駆動
電位Vdにしオーミック電極を接地電位としたダイオー
ドである。オーミック電極11と薄膜電極15との間に
駆動電圧Vdを印加し電子供給層12に電子を注入する
と、ダイオード電流Idが流れ、絶縁体層13は高抵抗
であるので、印加電界の大部分は絶縁体層にかかる。電
子は、金属薄膜電極15側に向けて絶縁体層13内を移
動する。金属薄膜電極付近に達した電子は、そこで強電
界により一部は金属薄膜電極をトンネルし、外部の真空
中に放出される。このトンネル効果によって薄膜電極1
5から放出された電子e(放出電流Ie)は、対向した
コレクタ電極(透明電極)2に印加された高い加速電圧
Vcによって加速され、コレクタ電極2に集められる。
コレクタ電極2に蛍光体3が塗布されていれば対応する
可視光を発散させる。
び第2基板10,1は真空空間を挾んで保持される。第
2基板1の内面にはコレクタ電極2と蛍光体層3とが設
けられる。この電子放出素子は、表面の薄膜電極を駆動
電位Vdにしオーミック電極を接地電位としたダイオー
ドである。オーミック電極11と薄膜電極15との間に
駆動電圧Vdを印加し電子供給層12に電子を注入する
と、ダイオード電流Idが流れ、絶縁体層13は高抵抗
であるので、印加電界の大部分は絶縁体層にかかる。電
子は、金属薄膜電極15側に向けて絶縁体層13内を移
動する。金属薄膜電極付近に達した電子は、そこで強電
界により一部は金属薄膜電極をトンネルし、外部の真空
中に放出される。このトンネル効果によって薄膜電極1
5から放出された電子e(放出電流Ie)は、対向した
コレクタ電極(透明電極)2に印加された高い加速電圧
Vcによって加速され、コレクタ電極2に集められる。
コレクタ電極2に蛍光体3が塗布されていれば対応する
可視光を発散させる。
【0011】通常、電子放出素子においては、オーミッ
ク電極11、絶縁体層13及び薄膜電極15の積層は不
透明であり、内面にコレクタ電極2と蛍光体層3を設け
た第2基板1を透明体として、第2基板側から可視光を
目視する。この構成では、目視光は蛍光体3及び第2基
板1を透過した光しか利用できない。そこで、図2に示
すように、第1基板側にて、インジウムスズ酸化物(IT
O),ZnO,In2O3,SrOなど透光性のオーミック
電極11を備えた透明ガラス基板10として、さらに電
子供給層12膜厚を100nm以下と薄膜化することによ
り、第2基板10側から可視光を目視可能としている。
絶縁体層の厚さは、50nm以上、好ましくは 100〜 4
00nm程度であるが、オーミック電極11、絶縁体層1
3及び薄膜電極15の全体の積層が薄いので、蛍光体層
3からの発光は該積層を十分透過する。
ク電極11、絶縁体層13及び薄膜電極15の積層は不
透明であり、内面にコレクタ電極2と蛍光体層3を設け
た第2基板1を透明体として、第2基板側から可視光を
目視する。この構成では、目視光は蛍光体3及び第2基
板1を透過した光しか利用できない。そこで、図2に示
すように、第1基板側にて、インジウムスズ酸化物(IT
O),ZnO,In2O3,SrOなど透光性のオーミック
電極11を備えた透明ガラス基板10として、さらに電
子供給層12膜厚を100nm以下と薄膜化することによ
り、第2基板10側から可視光を目視可能としている。
絶縁体層の厚さは、50nm以上、好ましくは 100〜 4
00nm程度であるが、オーミック電極11、絶縁体層1
3及び薄膜電極15の全体の積層が薄いので、蛍光体層
3からの発光は該積層を十分透過する。
【0012】各層の成膜法としては、スパッタリング法
が特に有効であるが、真空蒸着法、CVD(chemical v
apor deposition)法、レーザアブレイション法、MB
E(molecular beam epitaxy)法、イオンビームスパッ
タリング法でも有効である。スパッタリング法はAr,
Kr,Xeあるいはそれらの混合ガス、又はこれらの希
ガスを主成分とし所定材料とO2,N2,H2などを混入
した混合ガスを用いてガス圧0.1〜100mTorr好ま
しくは0.1〜20mTorr、成膜レート0.1〜100
0nm/min好ましくは0.5〜100nm/minのスパッタ条
件で成されている。スパッタリング装置のターゲットや
スパッタ条件を適宜変えることにより、電子供給層及び
絶縁体層のアモルファス相、粒径、原子比は制御され得
る。
が特に有効であるが、真空蒸着法、CVD(chemical v
apor deposition)法、レーザアブレイション法、MB
E(molecular beam epitaxy)法、イオンビームスパッ
タリング法でも有効である。スパッタリング法はAr,
Kr,Xeあるいはそれらの混合ガス、又はこれらの希
ガスを主成分とし所定材料とO2,N2,H2などを混入
した混合ガスを用いてガス圧0.1〜100mTorr好ま
しくは0.1〜20mTorr、成膜レート0.1〜100
0nm/min好ましくは0.5〜100nm/minのスパッタ条
件で成されている。スパッタリング装置のターゲットや
スパッタ条件を適宜変えることにより、電子供給層及び
絶縁体層のアモルファス相、粒径、原子比は制御され得
る。
【0013】電子供給層12の材料としてはSiが特に
有効であるが、ゲルマニウム(Ge)、炭化シリコン(Si
C)、ヒ化ガリウム(GaAs)、リン化インジウム(InP)、セ
レン化カドミウム(CdSe)など、IV族、III−V族、II−V
I族などの単体半導体及び化合物半導体が、用いられ得
る。又は、電子供給層の材料としてAl, Au, Ag, Cuなど
の金属でも有効であるが、Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co,
Ni, Zn, Ga, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Cd, L
n, Sn, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Tl, Pb, La, Ce, Pr,
Nd, Pm, Sm, Eu, Gd,Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Luある
いはCも用いられ得る。電子供給層はこれら材料の結晶
状態、膜厚を適宜設定することにより透明とすることが
できる。
有効であるが、ゲルマニウム(Ge)、炭化シリコン(Si
C)、ヒ化ガリウム(GaAs)、リン化インジウム(InP)、セ
レン化カドミウム(CdSe)など、IV族、III−V族、II−V
I族などの単体半導体及び化合物半導体が、用いられ得
る。又は、電子供給層の材料としてAl, Au, Ag, Cuなど
の金属でも有効であるが、Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co,
Ni, Zn, Ga, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Cd, L
n, Sn, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Tl, Pb, La, Ce, Pr,
Nd, Pm, Sm, Eu, Gd,Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Luある
いはCも用いられ得る。電子供給層はこれら材料の結晶
状態、膜厚を適宜設定することにより透明とすることが
できる。
【0014】絶縁体層の誘電体材料としては酸化珪素S
iOx、(xは原子比を示す)が特に有効であるが、L
iOx,LiNx,NaOx,KOx,RbOx,SsOx,
BeOx,MgOx,MgNx,CaOx,CaNx,Sr
Ox,BaOx,ScOx,YO x,YNx,LaOx,La
Nx,CeOx,PrOx,NdOx,SmOx,EuOx,
GdOx,TbOx,DyOx,HoOx,ErOx,Tm
Ox,YbOx,LuOx,TbOx,DyOx,HoOx,
ErOx,TmOx,YbOx,LuOx,TiOx,Ti
Nx,ZrOx,ZrNx,HfOx,HfNx,ThOx,
VOx,VNx,NbOx,NbNx,TaOx,TaNx,
CrOx,CrNx,MoOx,MoNx,WOx,WNx,
MnOx,ReOx,FeOx,FeNx,RuOx,Os
Ox,CoO x,RhOx,IrOx,NiOx,PdOx,
PtOx,CuOx,CuNx,AgO x,AuOx,Zn
Ox,CdOx,HgOx,BOx,BNx,AlOx,Al
Nx,GaOx,GaNx,InOx,TiOx,TiNx,
SiNx,GeOx,SnOx,PbOx,POx,PNx,
AsOx,SbOx,SeOx,TeOxなどの金属酸化物
又は金属窒化物でもよい。
iOx、(xは原子比を示す)が特に有効であるが、L
iOx,LiNx,NaOx,KOx,RbOx,SsOx,
BeOx,MgOx,MgNx,CaOx,CaNx,Sr
Ox,BaOx,ScOx,YO x,YNx,LaOx,La
Nx,CeOx,PrOx,NdOx,SmOx,EuOx,
GdOx,TbOx,DyOx,HoOx,ErOx,Tm
Ox,YbOx,LuOx,TbOx,DyOx,HoOx,
ErOx,TmOx,YbOx,LuOx,TiOx,Ti
Nx,ZrOx,ZrNx,HfOx,HfNx,ThOx,
VOx,VNx,NbOx,NbNx,TaOx,TaNx,
CrOx,CrNx,MoOx,MoNx,WOx,WNx,
MnOx,ReOx,FeOx,FeNx,RuOx,Os
Ox,CoO x,RhOx,IrOx,NiOx,PdOx,
PtOx,CuOx,CuNx,AgO x,AuOx,Zn
Ox,CdOx,HgOx,BOx,BNx,AlOx,Al
Nx,GaOx,GaNx,InOx,TiOx,TiNx,
SiNx,GeOx,SnOx,PbOx,POx,PNx,
AsOx,SbOx,SeOx,TeOxなどの金属酸化物
又は金属窒化物でもよい。
【0015】また、LiAlO2,Li2SiO3,Li2
TiO3,Na2Al22O34,NaFeO2,Na4SiO
4,K2SiO3,K2TiO3,K2WO4,Rb2Cr
O4,CS2CrO4,MgAl2O4,MgFe2O4,M
gTiO3,CaTiO3,CaWO4,CaZrO3,S
rFe12O19,SrTiO3,SrZrO3,BaAl2O
4,BaFe12O19,BaTiO3,Y3Al5O12,Y3
Fe5O12,LaFeO3,La3Fe5O12,La2Ti2
O7,CeSnO4,CeTiO4,Sm3Fe5O12,E
uFeO3,Eu3Fe5O12,GdFeO3,Gd3Fe5
O12,DyFeO3,Dy3Fe5O12,HoFeO3,H
o3Fe5O12,ErFeO3,Er3Fe5O 12,Tm3F
e5O12,LuFeO3,Lu3Fe5O12,NiTi
O3,Al2TiO3,FeTiO3,BaZrO3,Li
ZrO3,MgZrO3,HfTiO4,NH4VO3,A
gVO3,LiVO3,BaNb2O6,NaNbO3,S
rNb2O6,KTaO3,NaTaO3,SrTa2O6,
CuCr2O4,Ag2CrO4,BaCrO4,K2MoO
4,Na2MoO4,NiMoO4,BaWO4,Na2WO
4,SrWO4,MnCr2O4,MnFe2O4,MnTi
O3,MnWO4,CoFe2O4,NnFe2O4,FeW
O4,CoMoO4,CoTiO3,CoWO4,NiFe
2O4,NiWO4,CuFe2O4,CuMoO4,CuT
iO3,CuWO4,Ag2MoO4,Ag2WO4,ZnA
l2O4,ZnMoO4,ZnWO4,CdSnO3,Cd
TiO3,CdMoO4,CdWO4,NaAlO2,Mg
Al2O4,SrAl2O4,Gd3Ga5O12,InFeO
3,MgIn2O4,Al2TiO5,FeTiO3,MgT
iO3,Na2SiO3,CaSiO3,ZrSiO4,K2
GeO3,Li2GeO3,Na2GeO3,Bi2Sn
3O9,MgSnO3,SrSnO3,PbSiO3,Pb
MoO4,PbTiO3,SnO2−Sb2O3,CuSe
O4,Na2SeO3,ZnSeO3,K2TeO3,K2T
eO4,Na2TeO3,Na2TeO4などの金属複合酸
化物、FeS,Al2S3,MgS,ZnSなどの硫化
物、LiF,MgF2,SmF3などのフッ化物、HgC
l,FeCl2,CrCl3などの塩化物、AgBr,C
uBr,MnBr2などの臭化物、Pbl2,CuI,F
eI2などのヨウ化物、又は、SiAlONなどの金属
酸化窒化物でも絶縁体層の誘電体材料として有効であ
る。
TiO3,Na2Al22O34,NaFeO2,Na4SiO
4,K2SiO3,K2TiO3,K2WO4,Rb2Cr
O4,CS2CrO4,MgAl2O4,MgFe2O4,M
gTiO3,CaTiO3,CaWO4,CaZrO3,S
rFe12O19,SrTiO3,SrZrO3,BaAl2O
4,BaFe12O19,BaTiO3,Y3Al5O12,Y3
Fe5O12,LaFeO3,La3Fe5O12,La2Ti2
O7,CeSnO4,CeTiO4,Sm3Fe5O12,E
uFeO3,Eu3Fe5O12,GdFeO3,Gd3Fe5
O12,DyFeO3,Dy3Fe5O12,HoFeO3,H
o3Fe5O12,ErFeO3,Er3Fe5O 12,Tm3F
e5O12,LuFeO3,Lu3Fe5O12,NiTi
O3,Al2TiO3,FeTiO3,BaZrO3,Li
ZrO3,MgZrO3,HfTiO4,NH4VO3,A
gVO3,LiVO3,BaNb2O6,NaNbO3,S
rNb2O6,KTaO3,NaTaO3,SrTa2O6,
CuCr2O4,Ag2CrO4,BaCrO4,K2MoO
4,Na2MoO4,NiMoO4,BaWO4,Na2WO
4,SrWO4,MnCr2O4,MnFe2O4,MnTi
O3,MnWO4,CoFe2O4,NnFe2O4,FeW
O4,CoMoO4,CoTiO3,CoWO4,NiFe
2O4,NiWO4,CuFe2O4,CuMoO4,CuT
iO3,CuWO4,Ag2MoO4,Ag2WO4,ZnA
l2O4,ZnMoO4,ZnWO4,CdSnO3,Cd
TiO3,CdMoO4,CdWO4,NaAlO2,Mg
Al2O4,SrAl2O4,Gd3Ga5O12,InFeO
3,MgIn2O4,Al2TiO5,FeTiO3,MgT
iO3,Na2SiO3,CaSiO3,ZrSiO4,K2
GeO3,Li2GeO3,Na2GeO3,Bi2Sn
3O9,MgSnO3,SrSnO3,PbSiO3,Pb
MoO4,PbTiO3,SnO2−Sb2O3,CuSe
O4,Na2SeO3,ZnSeO3,K2TeO3,K2T
eO4,Na2TeO3,Na2TeO4などの金属複合酸
化物、FeS,Al2S3,MgS,ZnSなどの硫化
物、LiF,MgF2,SmF3などのフッ化物、HgC
l,FeCl2,CrCl3などの塩化物、AgBr,C
uBr,MnBr2などの臭化物、Pbl2,CuI,F
eI2などのヨウ化物、又は、SiAlONなどの金属
酸化窒化物でも絶縁体層の誘電体材料として有効であ
る。
【0016】さらに、絶縁体層の誘電体材料としてダイ
ヤモンド,フラーレン(C2n)などの炭素、或いは、Al
4C3,B4C,CaC2,Cr3C2,Mo2C,MoC,NbC,SiC,TaC,T
iC,VC,W2C,WC,ZrCなどの金属炭化物も有効である。
なお、フラーレン(C2n)は炭素原子だけからなりC60に
代表される球面篭状分子でC32〜C960などがあり、ま
た、上式中、Ox,Nxのxは原子比を表す。以下、同じ。
ヤモンド,フラーレン(C2n)などの炭素、或いは、Al
4C3,B4C,CaC2,Cr3C2,Mo2C,MoC,NbC,SiC,TaC,T
iC,VC,W2C,WC,ZrCなどの金属炭化物も有効である。
なお、フラーレン(C2n)は炭素原子だけからなりC60に
代表される球面篭状分子でC32〜C960などがあり、ま
た、上式中、Ox,Nxのxは原子比を表す。以下、同じ。
【0017】電子放出側の金属薄膜電極材料としてはP
t, Au, W, Ru, Irなどの金属が有効であるが、Al, Sc,
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Y, Zr, Nb,
Mo,Tc, Rh, Pd, Ag, Cd, Ln, Sn, Ta, Re, Os, Tl, Pb,
La, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm,Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, T
m, Yb, Luも用いられ得る。素子基板10の材質はガラ
スの他に、Al2O3,Si3N4、石英等のセラミックス
でも良い。 (実施例)具体的に、電子放出素子を作製し特性を調べ
た。
t, Au, W, Ru, Irなどの金属が有効であるが、Al, Sc,
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Y, Zr, Nb,
Mo,Tc, Rh, Pd, Ag, Cd, Ln, Sn, Ta, Re, Os, Tl, Pb,
La, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm,Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, T
m, Yb, Luも用いられ得る。素子基板10の材質はガラ
スの他に、Al2O3,Si3N4、石英等のセラミックス
でも良い。 (実施例)具体的に、電子放出素子を作製し特性を調べ
た。
【0018】ITOオーミック電極をスパッタリング法に
より膜厚300nmで形成したガラス基板の電極表面
に、シリコン(Si)の電子供給層及びSiOx絶縁体
層をスパッタリング法によりそれぞれ膜厚数nm〜10
0nm及び数nm〜500nmで順に形成した。かかる
Si基板を多数用意した。最後に、各基板のアモルファ
スSiOx層の表面上にPt薄膜電極を膜厚10nmで
スパッタ成膜し、素子基板を多数作成した。
より膜厚300nmで形成したガラス基板の電極表面
に、シリコン(Si)の電子供給層及びSiOx絶縁体
層をスパッタリング法によりそれぞれ膜厚数nm〜10
0nm及び数nm〜500nmで順に形成した。かかる
Si基板を多数用意した。最後に、各基板のアモルファ
スSiOx層の表面上にPt薄膜電極を膜厚10nmで
スパッタ成膜し、素子基板を多数作成した。
【0019】一方、透明ガラス基板の内面にITOコレ
クタ電極が形成されたものや、各コレクタ電極上に、
R,G,Bに対応する蛍光体からなる蛍光体層を常法に
より形成した透明基板を作成した。これら素子基板及び
透明基板を、薄膜電極及びコレクタ電極が向かい合うよ
うに平行に10mm離間してスペーサにより保持し、間
隙を10-7Torr又は10-5Paの真空になし、電子放出素
子を組立て、作製した。
クタ電極が形成されたものや、各コレクタ電極上に、
R,G,Bに対応する蛍光体からなる蛍光体層を常法に
より形成した透明基板を作成した。これら素子基板及び
透明基板を、薄膜電極及びコレクタ電極が向かい合うよ
うに平行に10mm離間してスペーサにより保持し、間
隙を10-7Torr又は10-5Paの真空になし、電子放出素
子を組立て、作製した。
【0020】その後、多数の得られた素子について各S
iOx層膜厚に対応したダイオード電流Id及び放出電
流Ieを測定した。図3及び図4は、作製した電子放出
素子にVdを0〜200Vで印加したときのSiOx層
膜厚に対する、各膜厚における放出電流Ieの関係並び
に電子放出効率(Ie/Id)の関係を示す。図3及び
図4から明らかなように、膜厚50nmにおいても十分
な放出電流並びに電子放出効率を得て、膜厚300〜4
00nmの素子で最大放出電流1x10-3A/cm2、最大
電子放出効率1x10-1程度が得られた。
iOx層膜厚に対応したダイオード電流Id及び放出電
流Ieを測定した。図3及び図4は、作製した電子放出
素子にVdを0〜200Vで印加したときのSiOx層
膜厚に対する、各膜厚における放出電流Ieの関係並び
に電子放出効率(Ie/Id)の関係を示す。図3及び
図4から明らかなように、膜厚50nmにおいても十分
な放出電流並びに電子放出効率を得て、膜厚300〜4
00nmの素子で最大放出電流1x10-3A/cm2、最大
電子放出効率1x10-1程度が得られた。
【0021】この結果より、200V以下の電界を加え
ることにより、1x10-6A/cm2以上の放出電流、1x
10-3以上の電子放出効率が、膜厚50nm以上好まし
くは、100〜400nmのSiOx誘電体層を有する
素子から得られることが判明した。また、蛍光体を塗布
したコレクタ電極及び薄膜電極の間に約4kVの加速電
圧を印加した状態では、SiOx層膜厚50nm以上の
素子で薄膜電極に対応する形の均一な蛍光パターンが観
測された。このことは、アモルファスSiOx層からの
電子放出が均一であり、直線性の高いことを示し、電子
放出ダイオードとして、赤外線又は可視光又は紫外線の
電磁波を放出する発光ダイオード又はレーザダイオード
として動作可能であることを示している。
ることにより、1x10-6A/cm2以上の放出電流、1x
10-3以上の電子放出効率が、膜厚50nm以上好まし
くは、100〜400nmのSiOx誘電体層を有する
素子から得られることが判明した。また、蛍光体を塗布
したコレクタ電極及び薄膜電極の間に約4kVの加速電
圧を印加した状態では、SiOx層膜厚50nm以上の
素子で薄膜電極に対応する形の均一な蛍光パターンが観
測された。このことは、アモルファスSiOx層からの
電子放出が均一であり、直線性の高いことを示し、電子
放出ダイオードとして、赤外線又は可視光又は紫外線の
電磁波を放出する発光ダイオード又はレーザダイオード
として動作可能であることを示している。
【0022】スパッタリングで成膜した絶縁体層の表面
をSEMで観察したところ、20nm程度の粒塊からな
ることを特徴としていることが判った。50nm以上の
膜厚を有しながらトンネル電流が流れるといった特異な
現象はこの特徴に起因すると考えられる。すなわち、図
6に示すように、SiO2は本来絶縁体であるが、粒塊
あるいは、その近傍に発生しやすい結晶欠陥や不純物な
どによりポテンシャルの低いバンドが多数現れる。電子
はこのポテンシャルの低いバンドを介し次々にトンネリ
ングし、結果として50nm以上の膜厚をもトンネルす
るのであると推定される。
をSEMで観察したところ、20nm程度の粒塊からな
ることを特徴としていることが判った。50nm以上の
膜厚を有しながらトンネル電流が流れるといった特異な
現象はこの特徴に起因すると考えられる。すなわち、図
6に示すように、SiO2は本来絶縁体であるが、粒塊
あるいは、その近傍に発生しやすい結晶欠陥や不純物な
どによりポテンシャルの低いバンドが多数現れる。電子
はこのポテンシャルの低いバンドを介し次々にトンネリ
ングし、結果として50nm以上の膜厚をもトンネルす
るのであると推定される。
【0023】図5に実施例の電子放出表示装置を示す。
実施例は、一対の透明基板1及び素子基板10からな
り、基板は真空空間4を挾み互いに対向している。図示
する電子放出表示装置において、表示面である透明な前
面板1すなわち透明基板の内面(背面板10と対向する
面)には、例えばインジウム錫酸化物(いわゆるIT
O)、酸化錫(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)などから
なる透明なコレクタ電極2の複数が互いに平行に形成さ
れている。また、コレクタ電極2は一体的に形成されて
いてもよい。放出電子を捕獲する透明コレクタ電極群
は、カラーディスプレイパネルとするために赤、緑、青
のR,G,B色信号に応じて3本1組となっており、そ
れぞれに電圧が印加される。よって、3本のコレクタ電
極2の上には、R,G,Bに対応する蛍光体からなる蛍
光体層3R,3G,3Bが真空空間4に面するように、
それぞれ形成されている。
実施例は、一対の透明基板1及び素子基板10からな
り、基板は真空空間4を挾み互いに対向している。図示
する電子放出表示装置において、表示面である透明な前
面板1すなわち透明基板の内面(背面板10と対向する
面)には、例えばインジウム錫酸化物(いわゆるIT
O)、酸化錫(SnO)、酸化亜鉛(ZnO)などから
なる透明なコレクタ電極2の複数が互いに平行に形成さ
れている。また、コレクタ電極2は一体的に形成されて
いてもよい。放出電子を捕獲する透明コレクタ電極群
は、カラーディスプレイパネルとするために赤、緑、青
のR,G,B色信号に応じて3本1組となっており、そ
れぞれに電圧が印加される。よって、3本のコレクタ電
極2の上には、R,G,Bに対応する蛍光体からなる蛍
光体層3R,3G,3Bが真空空間4に面するように、
それぞれ形成されている。
【0024】一方、真空空間4を挾み前面板に対向する
ガラスなどからなる背面板10すなわち素子基板内面
(前面板1と対向する面)には、インシュレータ層18
を介してそれぞれ平行に伸長する複数のオーミック電極
11が形成されている。このインシュレータ層18は、
SiO2, SiNx, Al2O3, AlNなどの絶縁体からなり、基板1
0から素子への悪影響(アルカリ成分などの不純物の溶
出や、基板面の凹凸など)を防ぐ働きをなす。オーミッ
ク電極の上に複数の電子放出素子Sが形成され、隣接す
る金属薄膜電極を電気的に接続しその一部上に、オーミ
ック電極に垂直に伸長して架設され、それぞれが平行に
伸長する複数のバス電極16と、が設けられている。電
子放出素子Sはオーミック電極上に順に形成された電子
供給層12、絶縁体層13及び金属薄膜電極15からな
る。金属薄膜電極15は真空空間4に面する。また、金
属薄膜電極15の表面を複数の電子放出領域に区画する
ため、開口を有した絶縁保護層17が成膜される。この
絶縁保護層17はバス電極16を覆うことで不要な短絡
を防止する。
ガラスなどからなる背面板10すなわち素子基板内面
(前面板1と対向する面)には、インシュレータ層18
を介してそれぞれ平行に伸長する複数のオーミック電極
11が形成されている。このインシュレータ層18は、
SiO2, SiNx, Al2O3, AlNなどの絶縁体からなり、基板1
0から素子への悪影響(アルカリ成分などの不純物の溶
出や、基板面の凹凸など)を防ぐ働きをなす。オーミッ
ク電極の上に複数の電子放出素子Sが形成され、隣接す
る金属薄膜電極を電気的に接続しその一部上に、オーミ
ック電極に垂直に伸長して架設され、それぞれが平行に
伸長する複数のバス電極16と、が設けられている。電
子放出素子Sはオーミック電極上に順に形成された電子
供給層12、絶縁体層13及び金属薄膜電極15からな
る。金属薄膜電極15は真空空間4に面する。また、金
属薄膜電極15の表面を複数の電子放出領域に区画する
ため、開口を有した絶縁保護層17が成膜される。この
絶縁保護層17はバス電極16を覆うことで不要な短絡
を防止する。
【0025】オーミック電極11の材料としては、A
u、Pt、Al、W等の一般にICの配線に用いられる
材料で、各素子にほぼ同電流を供給する均一な厚さであ
る。電子供給層12の材質は、シリコン(Si)が挙げ
られるが、本発明の電子供給層はシリコンに限られたも
のではなく他の半導体又は金属であり、アモルファス、
多結晶、単結晶の何れでも良い。
u、Pt、Al、W等の一般にICの配線に用いられる
材料で、各素子にほぼ同電流を供給する均一な厚さであ
る。電子供給層12の材質は、シリコン(Si)が挙げ
られるが、本発明の電子供給層はシリコンに限られたも
のではなく他の半導体又は金属であり、アモルファス、
多結晶、単結晶の何れでも良い。
【0026】薄膜電極15の材質は、電子放出の原理か
ら仕事関数φが小さい材料で、薄い程良い。電子放出効
率を高くするために、薄膜電極15の材質は周期律表の
I族、II族の金属が良く、たとえばMg、Ba、Ca、
Cs、Rb、Li、Sr等が有効で、更に、それらの合
金であっても良い。また、薄膜電極15の材質は極薄化
の面では、導電性が高く化学的に安定な金属が良く、た
とえばAu、Pt、Lu、Ag,Cuの単体又はこれら
の合金等が望ましい。また、これらの金属に、上仕事関
数の小さい金属をコート、あるいはドープしても有効で
ある。
ら仕事関数φが小さい材料で、薄い程良い。電子放出効
率を高くするために、薄膜電極15の材質は周期律表の
I族、II族の金属が良く、たとえばMg、Ba、Ca、
Cs、Rb、Li、Sr等が有効で、更に、それらの合
金であっても良い。また、薄膜電極15の材質は極薄化
の面では、導電性が高く化学的に安定な金属が良く、た
とえばAu、Pt、Lu、Ag,Cuの単体又はこれら
の合金等が望ましい。また、これらの金属に、上仕事関
数の小さい金属をコート、あるいはドープしても有効で
ある。
【0027】バス電極16の材料としては、Au、P
t、Al等の一般にICの配線に用いられる物で良く、
各素子にほぼ同電位を供給可能ならしめるに足る厚さ
で、0.1〜50μmが適当である。また、この表示装
置の駆動方式としては単純マトリクス方式又はアクティ
ブマトリクス方式が適用できる。
t、Al等の一般にICの配線に用いられる物で良く、
各素子にほぼ同電位を供給可能ならしめるに足る厚さ
で、0.1〜50μmが適当である。また、この表示装
置の駆動方式としては単純マトリクス方式又はアクティ
ブマトリクス方式が適用できる。
【0028】なお、上記実施例においては、Si及びS
iOxが絶縁体層中に分散しているものであるが、絶縁
体層をSiの層及びSiOxの層の交互に積層された多
層から構成しても良い。
iOxが絶縁体層中に分散しているものであるが、絶縁
体層をSiの層及びSiOxの層の交互に積層された多
層から構成しても良い。
【図1】本発明による電子放出素子の概略断面図であ
る。
る。
【図2】本発明による電子放出素子の概略断面図であ
る。
る。
【図3】本発明による電子放出表示素子における電子放
出電流の絶縁体層膜厚依存性を示すグラフである。
出電流の絶縁体層膜厚依存性を示すグラフである。
【図4】本発明による電子放出表示素子における電子放
出効率の絶縁体層膜厚依存性を示すグラフである。
出効率の絶縁体層膜厚依存性を示すグラフである。
【図5】本発明による実施例の電子放出表示装置を示す
概略斜視図である。
概略斜視図である。
【図6】本発明による電子放出素子の動作を説明する動
作説明図である。
作説明図である。
1 透明基板 2 コレクタ電極 3R,3G,3B 蛍光体層 4 真空空間 10 素子基板 11 オーミック電極 12 電子供給層 13 絶縁体層 15 金属薄膜電極 16 バス電極 17 絶縁保護層 18 インシュレータ層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩崎 新吾 埼玉県鶴ヶ島市富士見6丁目1番1号パイ オニア株式会社総合研究所内 (72)発明者 小笠原 清秀 埼玉県鶴ヶ島市富士見6丁目1番1号パイ オニア株式会社総合研究所内 (72)発明者 伊藤 寛 埼玉県鶴ヶ島市富士見6丁目1番1号パイ オニア株式会社総合研究所内
Claims (3)
- 【請求項1】 金属又は半導体からなる電子供給層、前
記電子供給層上に形成された絶縁体層及び前記絶縁体層
上に形成され真空空間に面する金属薄膜電極からなり、
前記電子供給層及び前記金属薄膜電極間に電界を印加し
電子を放出する電子放出素子であって、前記絶縁体層は
50nm以上の膜厚を有し、前記電子供給層は透明である
ことを特徴とする電子放出素子。 - 【請求項2】 真空空間を挾み対向する一対の第1及び
第2基板と、前記第1基板内面に設けられた複数の電子
放出素子と、前記第2基板内面に設けられたコレクタ電
極と、前記コレクタ電極上に形成された蛍光体層と、か
らなる電子放出表示装置であって、前記電子放出素子の
各々は、前記第1基板側に形成された金属又は半導体か
らなる電子供給層、前記電子供給層上に形成された絶縁
体層及び前記絶縁体層上に形成され前記真空空間に面す
る金属薄膜電極からなり、前記絶縁体層は50nm以上の
膜厚を有し、透明であることを特徴とする電子放出表示
装置。 - 【請求項3】 前記第1基板は透明でありかつ前記第1
基板及び前記電子供給層の間に形成された透明電極を有
することを特徴とする請求項2記載の電子放出表示装
置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12595997A JPH10321125A (ja) | 1997-05-15 | 1997-05-15 | 電子放出素子及びこれを用いた表示装置 |
| US09/032,111 US6130503A (en) | 1997-03-04 | 1998-02-27 | Electron emission device and display using the same |
| EP98301594A EP0863533B1 (en) | 1997-03-04 | 1998-03-04 | Electron emission device and display device using the same |
| DE1998609819 DE69809819T2 (de) | 1997-03-04 | 1998-03-04 | Elektronenemissionsvorrichtung und Anzeigevorrichtung unter Verwendung derselben |
| US09/520,213 US6166487A (en) | 1997-03-04 | 2000-03-07 | Electron emission device and display device using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12595997A JPH10321125A (ja) | 1997-05-15 | 1997-05-15 | 電子放出素子及びこれを用いた表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10321125A true JPH10321125A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=14923215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12595997A Pending JPH10321125A (ja) | 1997-03-04 | 1997-05-15 | 電子放出素子及びこれを用いた表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10321125A (ja) |
-
1997
- 1997-05-15 JP JP12595997A patent/JPH10321125A/ja active Pending
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