JPH1032743A - 画像加算装置 - Google Patents

画像加算装置

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JPH1032743A
JPH1032743A JP8186076A JP18607696A JPH1032743A JP H1032743 A JPH1032743 A JP H1032743A JP 8186076 A JP8186076 A JP 8186076A JP 18607696 A JP18607696 A JP 18607696A JP H1032743 A JPH1032743 A JP H1032743A
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JP
Japan
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image
image data
stage
blur
objective lens
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Withdrawn
Application number
JP8186076A
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English (en)
Inventor
Shinji Matsushita
真治 松下
Shigeru Kobayashi
茂 小林
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、複数画像の加算処理をぶれの影響を
受けることなく正確に行うことができ、良質な加算画像
が得られる画像加算装置を提供する。 【解決手段】複数合焦点における各画像を加算処理する
際に、テレビカメラ4より取り込まれる画像データに、
ステージ2の移動に原因するぶれを生じるような場合で
も、ステージ2のぶれ量を光学式エンコーダからなるぶ
れ検出部12で検出し、このぶれ検出部12により検出
されたぶれ量と対物レンズ情報読み取り部13の対物レ
ンズ情報により像ぶれ補正量計算部14により像ぶれ補
正量を計算し、この結果に応じてメモリコントローラ1
5により加算用メモリ7の読み出しアドレスを制御し、
このアドレス制御により加算用メモリ7より読み出され
た画像データにテレビカメラ4より取り込まれる画像デ
ータを加算するとともに、さらにこの加算された画像デ
ータを加算用メモリ7に書き込むようになる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡による観察
像の複数合焦点における画像を加算処理する画像加算装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、光学顕微鏡に用いられる結像光学
系では、光学的に解像度にすぐれ、かつ明るさの大きな
画像を取り込もうとしたら、開口の大きな光学素子を採
用したものを用いればよいことが知られている。また、
このような結像光学系に用いられるレンズに代表される
結像用光学素子は、その開口が大きくなると、焦点深度
が浅くなることも知られている。
【0003】ところが、このような結像光学系を用いた
顕微鏡、カメラ、内視鏡などの画像機器の分野では、得
られた画像が解像度や明るさに優れていることが望まし
いのは無論であるが、同時に焦点深度が深い画像である
ことが強く要求される。
【0004】このことは、例えば光学顕微鏡による標本
検査観察において、段差のある標本、例えば半導体ウエ
ハーのパターン、凹凸のある生物標本、LCDパネル検
査などを取り扱うと、従来の焦点深度の浅いままの画像
では観察画像にぼけ画像が混在し、検査過程に支障をき
たす可能性がある。
【0005】特に、顕微鏡により段差のある試料を観察
するような場合、試料の位置によってピントのあう合焦
位置が異なるため、観察画像には、ステージと対物レン
ズの距離によって、ピントが合ってはっきりと見える部
分と、ピントが外れてぼやけて見える部分が生じてしま
う。
【0006】そこで、このような段差のある試料を観察
のに、焦点深度を深くして表示する方法が知られてい
る。この方法では、まず、試料を載置したステージをZ
方向、つまり対物レンズの光軸方向に移動しながら複数
の画像を取り込み、これら画像の加算を行うようにす
る。こうすると、段差のある試料面の全ての位置にピン
トが合った画像の情報と、ピントの合っていない画像情
報が得られるので、このうちのぼけ画像を取り除くべ
く、加算画像に対して画像処理による回復処理を行い、
最終的にどの面にもピントの合った画像を得るようにし
ている。
【0007】一方、観察画像において、ぼけた画像とし
て見にくくなる現象は、像ぶれを起こした画像の場合も
ある。このような像ぶれ画像は、顕微鏡により試料を拡
大して観察することから、わずかなステージのぶれも対
物レンズを通したCCD面上では拡大され、TVカメラ
観察画像に大きなぶれを生じるからである。
【0008】このような観察像の揺れにより見にくくな
る現象は、顕微鏡観察に限らず、一般のTVカメラを通
した観察するときにも生じている。そこで、従来、この
ような像ぶれを防止するため、次のような方法でぶれ量
を検出することで対処している。
【0009】(a)角速度センサにより、X方向及びY
方向のぶれ量を検出するもの。 (b)画像処理(パターンマッチング)により、動きベ
クトルを求め、像ぶれ量の検出を行うもの。 このように、従来から、顕微鏡による観察像のぼけ画像
を取り除く方法として、焦点深度を深くする方法や像ぶ
れを防止する方法などが採用されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
方法を採用しても、さらに以下のような問題があった。
つまり、顕微鏡による試料検査では、ステージをZ方向
に移動させると、この時の移動に伴ってステージがXY
方向に横ゆれを生じたり、複数位置の検査を行うのに、
現在の検査位置から次の検査位置に移動する際にステー
ジに振動を生ずる現象がある。また、顕微鏡は、試料を
拡大して観察するため、わずかなステージのぶれも対物
レンズを通してCCD面上では拡大され、TVカメラ観
察画像に大きく像ぶれを生じる。
【0011】この結果として、Z方向にステージ移動し
た時の複数合焦面の画像を取り込み、これら画像を加算
するような場合、各画像の取り込み時に、それぞれステ
ージX,Y方向の振動が存在すると、画像がX,Y方向
に位置ぶれしたものが取り込まれ、これら取込み画像を
加算すると、像ぶれした画像が何枚も重ねられ、いわゆ
る手ぶれ写真のような画像となる。この像ぶれは加算枚
数が多くなるほど手ぶれした写真のようになる傾向が強
くなり、画質劣化が著しく、これを回復処理しようとし
ても良好な画像は得られない。このため、わずかなステ
ージの位置ぶれによる像ぶれも画素単位で除去する必要
がある。
【0012】図8は、像ぶれの状態を具体的に示すもの
で、いま、顕微鏡に100倍の対物レンズ101を用
い、観察像の撮像手段として2/3インチのCCDカメ
ラ102を使用した場合、一般的に、このサイズのCC
Dカメラ102は、CCD面上で14μm×14μm程
度が1画素として認識される。ここで、ステージ103
が振動して試料104の観察点が1μmぶれたとする
と、CCD面上では1μm×100倍で、100μmぶ
れることになり、これを画素数に直すと、100μm/
14μmより、ほぼ7画素となる。
【0013】このことは、複数の合焦面の画像を加算す
ると、X,Y方向に大きくぶれた画像を加算することに
なるため、実際の画像とまったく違うものになってしま
う。例えば、図9(a)に示すようにステージ103の
Z方向の移動により3点の合焦位置から3枚の画像取り
込むような場合、ステージ103にぶれがない場合は、
Za,Zb,Zcの各位置で画像が取り込まれ、これら
の加算画像は、同図(b)に示すようになる。
【0014】ところが、ステージ103にX,Y方向の
振動が存在すると、各画像は、図10(a)〜(c)の
状態で取り込まれる。つまり、図10(a)は、1枚目
の画像の取り込み状態を示すもので、この場合は、直接
メモリに取り込まれるので、ステージ3のぶれは関係な
くできる。しかし、2枚目以降は、ステージ103が
X,Y方向にぶれながら画像を取り込みむようになるた
め、これらの加算画像は、同図(b),(c)に示すよ
うになり、この時、上述したようにステージ3が1μm
ぶれると、画像のぶれは7画素にもなることから、図9
(b)に示す本来の加算画像とまったく違うものになっ
てしまう。
【0015】このことから、ステージ103のぶれ量を
極力抑えてCCDカメラ102のCCD面上での像ぶれ
を、いかなる場合でも1画素以下にすることが考えられ
るが、これには、ステージ103のぶれ量を14μm/
100倍=0.14μmの精度で検出する必要があり、
このような精度を満足する像ぶれ検出には、角速度セン
サーは不向きで、顕微鏡画像として、かような高精度の
検出には対応できない。
【0016】また、画像処理によるぶれ検出について
は、ステージをZ方向に移動しながら、複数の合焦面の
画像を加算し、加算画像に対して回復処理を行って焦点
深度の深い最終画像を得るため、図11(a)に示すよ
うに像取り込みの開始位置Zsにてパターンマッチング
用に設定した図形p1の画像パターンは、ステージのZ
方向への移動にともない合焦点のぶれによりコントラス
トが低下し、同図(b)では、検出できた画像パターン
も、同図(c)では、画像パターンのうち図形p1がぼ
けて検出できなくなり、さらにステージ移動が焦点深度
以上に進むと、同図(d)に示すように図形p1がまっ
たく検出できなくなる。なお、図形p2は、像取り込み
の開始位置Zsでは見えなかったものが、ステージ移動
とともに、画像パターンの図形p1に代わって見えるよ
うになる様子を示している。
【0017】このようにして、パターンマッチングを用
いて像ぶれの検出ができる範囲は、ステージが焦点深度
の範囲内で移動する場合に限られてしまい、それ以上移
動する場合には像ぶれの検出ができなかった。
【0018】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、複数画像の加算処理をぶれの影響を受けることなく
正確に行うことができ、良質な加算画像が得られる画像
加算装置を提供することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
複数合焦点における各画像を加算処理する画像加算装置
において、合焦点の画像データを取り込む画像データ取
り込み手段と、この画像データ取り込み手段より取り込
まれた画像データを記憶する記憶手段と、合焦点への移
動による前記画像データ取り込み手段により取り込まれ
る画像データのぶれ量を検出するぶれ量検出手段と、こ
のぶれ量検出手段により検出されたぶれ量により前記記
憶手段の書き込み、読み出しアドレスを制御するアドレ
ス制御手段と、このアドレス制御手段のアドレス制御に
より前記記憶手段より読み出された画像データに前記画
像データ取り込み手段より取り込まれる画像データを加
算するとともに、該加算された画像データを前記記憶手
段に書き込む制御手段とにより構成している。
【0020】請求項2記載の発明は、請求項1記載にお
いて、前記画像データ取り込み手段は、対物レンズを介
してステージ上の試料の観察画像の画像データを取り込
み、前記ぶれ量検出手段は、前記ステージの前記対物レ
ンズの光軸方向の移動によるステージのぶれ量を検出
し、前記アドレス制御手段は、前記ぶれ量検出手段によ
り検出されたぶれ量とさらに前記対物レンズに関する情
報により前記記憶手段の書き込み、読み出しアドレスを
制御するようにしている。
【0021】請求項3記載の発明は、請求項2記載にお
いて、ぶれ量検出手段は、前記ステージに設けられる光
学式エンコーダからなっている。この結果、請求項1記
載の発明によれば、複数合焦点における画像を加算処理
する際、画像データ取り込み手段により取り込まれる画
像データにぶれを生じるような場合でも、この時のぶれ
量に応じて読み出しアドレスが制御された記憶手段から
の画像データに取り込み画像データが加算されるように
なるので、取り込み画像のぶれの影響を受けない、正確
な画像加算を行うことができ、良質な加算画像を得るこ
とができる。
【0022】また、請求項2記載の発明によれば、記憶
手段のアドレスを制御に、ステージのぶれ量と、対物レ
ンズに関する情報を加味しているので、対物レンズ倍率
に合わせた精度の高いぶれ量制御が可能になる。さら
に、請求項3記載の発明によれば、ぶれ量検出に光学式
エンコーダを用いているので、さらに精度の高いぶれ量
検出を実現できる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。 (第1の実施の形態)図1は本発明が適用される顕微鏡
の画像加算装置の概略構成を示している。
【0024】図において、1は光学顕微鏡本体で、この
光学顕微鏡本体1は、図示しない試料を載置するステー
ジ2、対物レンズ3、顕微鏡観察用テレビカメラ4を有
していて、対物レンズ3を通して得られるステージ2上
の試料の観察像をテレビカメラ4により撮像するように
している。
【0025】また、20は画像加算装置本体で、この装
置本体20では、テレビカメラ4にA/D変換器5を接
続している。このA/D変換器5は、テレビカメラ4か
らのビデオ信号をデジタル信号に変換するものである。
【0026】そして、このA/D変換器5には、加算器
6、画像メモリ7、除算器8、空間フィルタ9、画像メ
モリ10、D/A変換器11を順に接続し、このD/A
変換器11に表示部19を接続している。
【0027】ここで、加算器6は、テレビカメラ4から
の入力画像とメモリ画像7に記憶された画像を加算する
ものである。画像メモリ7は、加算器6で加算された結
果を格納するものである。さらに、除算器8は、画像メ
モリ7に蓄えられた加算画像を加算枚数で除算を行い1
枚分の画像に戻すためのものである。空間フィルタ9
は、回復処理を行うためのものである。画像メモリ10
は、回復処理された表示画像データを記憶するものであ
る。そして、D/A変換器11は、画像メモリ10より
読み出される表示用画像データをアナログデータ変換
し、これを表示部19に表示するためのものである。
【0028】一方、装置本体20のステージ2に光学式
エンコーダからなるぶれ検出部12を設け、対物レンズ
3に対応させて対物レンズ情報読み取り部13を設けて
いる。ここで、ぶれ検出部12は、顕微鏡本体1のステ
ージ2に固定して設けられ、ステージ2のX,Y方向へ
のぶれ量を検出するものである。対物レンズ情報読み取
り部13は、現在使用している対物レンズ3の倍率を読
み取るものである。
【0029】ぶれ検出部12には、像ぶれ補正量計算部
14を接続し、この像ぶれ補正量計算部14にメモリコ
ントローラ15を接続している。像ぶれ補正量計算部1
4は、ぶれ検出部12の光学式エンコーダにより検出さ
れたぶれ量と対物レンズ情報読み取り部13の対物レン
ズ情報により補正画素数を計算するものである。メモリ
コントローラ15は、像ぶれ補正量計算部14で計算さ
れた像ぶれ補正量に基づいて、画像加算用メモリ7、画
像表示用メモリ10への書き込み、読み出しアドレスを
制御するものである。
【0030】そして、これら加算器6、除算器8、空間
フィルタ9、ぶれ検出部12、対物レンズ情報読み取り
部13、像ぶれ補正量計算部14には、CPU16を接
続し、このCPU16により画像処理、像ぶれ補正およ
び駆動制御の全体をコントロールするようにしている。
また、CPU16には、ステージ2をZ方向、つまり対
物レンズ3の光軸方向に駆動するステージ駆動部17と
ダイナミックフォーカスなどを指示する操作部18を接
続している。
【0031】図2は、ぶれ検出部12の光学式エンコー
ダの概略構成を示している。この場合、顕微鏡本体1の
ステージ2は、ステージ台21上にX方向のみに移動可
能に第1のステージ22を設け、さらに第1のステージ
22上にY方向のみに移動可能に第2のステージ23を
設けたもので、X方向ぶれ検出用光学式エンコーダ12
1は、ステージ台21にフォトディテクタ1211、第
1のステージ22にリニアスケール1212を設け、一
方、Y方向ぶれ検出用光学式エンコーダ122は、第1
のステージ22にフォトディテクタ1221、第2のス
テージ23にリニアスケール1222を設けるようにし
ている。
【0032】このようにすることで、ステージ2のZ方
向への移動では、第1および第2のステージ22、23
ともステージ台21とともに移動するので、X方向ぶれ
検出用光学式エンコーダ121のフォトディテクタ12
11とリニアスケール1212の間およびY方向ぶれ検
出用光学式エンコーダ122のフォトディテクタ122
1とリニアスケール1222の間とも相対位置に変化を
生じないが、X方向の移動には、ステージ台21に対し
て第1のステージ22が移動し、X方向ぶれ検出用光学
式エンコーダ121のフォトディテクタ1211とリニ
アスケール1212の間の相対位置に変化が生じ、ま
た、Y方向の移動には、第1のステージ22に対して第
2のステージ23が移動し、Y方向ぶれ検出用光学式エ
ンコーダ122のフォトディテクタ1221とリニアス
ケール1222の間の相対位置に変化が生じることか
ら、ステージ2のX,Y方向へのそれぞれのぶれ量を検
出することができるようになる。
【0033】この場合、これら光学式エンコーダ12
1、122は、図3(a)に示すように各フォトディテ
クタ1211、1221からA相、B相の2系統の出力
が得られる。これら2系統の出力は、それぞれ90度位
相のずれた正弦波となっているので、この2つの出力を
用いると、図3(b)のようにぶれ量を角度として検出
できることになる。
【0034】ここで、光学式エンコーダ121、122
の分解能としては、リニアスケールの1ピッチが8μ
m、フォトディテクタからの出力から1周期を80分割
できるものがあり、8μm÷80=0.1μmとなっ
て、0.1μmの精度での検出が可能である。このこと
から、顕微鏡ステージのぶれ補正の必要精度である0.
14μm以下のぶれ検出精度を実現できる。
【0035】次に、このように構成した実施の形態の動
作を図4に示すフローチャートにより説明する。まず、
ステップ401で、スタート位置へ測定画像位置を移動
し、この位置を基準位置とする。次に、ステップ402
で、操作部18で画像加算処理スタートのボタンが押さ
れるまで待機する。そして、ボタンが押されたら、ステ
ップ403で、モータ駆動部17によりパルスモータに
必要信号数のパルスと移動方向の信号を入力し、画像取
込開始位置までZ方向に移動し、移動後は、ステップ4
04で、所定距離だけZ方向にステージを移動しなが
ら、目的の位置にきたらステージ2上の試料の画像をテ
レビカメラ4により撮像する。
【0036】この画像撮像では、同時にステージ2のぶ
れ量も検出し、像ぶれ補正を行う。具体的には、最初に
画像の1フレーム目の垂直同期信号の立ち下がりをトリ
ガにしてステージ2のぶれ量をぶれ検出部12の光学式
エンコーダにより検出する。
【0037】次いで、ステップ405で、対物レンズ情
報取得部13により、対物レンズ3の倍率を読み込み、
像ぶれ補正量計算部14に与え、この像ぶれ補正量計算
部14により、対物レンズ3の倍率を加味したぶれ検出
部12からのステージ2のぶれ量に基づいて像ぶれが画
像に対して何ライン、何画素ぶれているかを計算する。
【0038】そして、この計算結果を、メモリコントロ
ーラ15に送り、ステップ406で、このメモリコント
ローラ15により、加算用メモリ7のリード、ライトの
アドレスを制御する。つまり、メモリコントローラ15
では、加算用メモリ7からの加算用画像データによりテ
レビカメラ4の撮像画像の像ぶれをキャンセルするよう
に、その読み出し、書き込みタイミングを制御する。
【0039】次いで、このタイミングで読み出した加算
用データを(ステップ407)、ステップ408で、加
算器6によりカメラ4で撮像されたデータと加算し、さ
らに、この加算結果を、メモリコントローラ15により
書き込みアドレスを制御された加算用メモリ7に再格納
する(ステップ409)。この場合、テレビカメラ4か
らのデータは、A/D変換器5で所定のクロックの周期
でデジタルデータに変換されたものである。
【0040】このような動作は、加算枚数分だけ繰り返
えすことになるが、ステップ410で、加算終了を判断
するまで、ステップ411で、ステージ2を次の画像取
り込み位置まで移動して、ステップ404に戻り、上述
したと同様な動作を繰り返す。そして、ステップ410
で、画像加算を終了すると、空間フィルタ9を用いた回
復処理を行う。
【0041】この場合、ステップ412で、メモリコン
トローラ15により、像ぶれ補正量計算部14で得られ
た像ぶれ量を補正して表示用メモリ10の書き込み、読
み出しを制御しながら以下の回復処理を実行する。
【0042】この場合、まず、加算用メモリ7から読み
出した加算画像データを除算器8に与える。除算器8で
は、加算画像データを加算した枚数で除算し1枚分の画
像データに戻し、これを空間フィルタ9での回復処理に
より周波数成分の高いエッジ部を強調し、加算後のぼけ
部分を除いて合焦画像のみを復元し、この復元画像を、
ステップ414で、表示用メモリ10に書き込む。そし
て、ステップ415で、表示用メモリ10中の表示画像
データのうち有効データ領域のみを読み出し、これをD
/A変換器111によりアナログ変換した後、ステップ
416で、表示部19に回復処理された試料観察像とし
て表示する。
【0043】図5は、メモリコントローラ15による画
像加算タイミングを説明するものである。いま、同図
(a)が加算用メモリ7に記憶されている加算画像デー
タ、同図(b)がテレビカメラ4から入力された像ぶれ
を伴った入力画像データであるとすると、テレビカメラ
4からの入力画像データによる同図(b)の破線で示す
(xts,yts),(xte,yte)の領域に対し、像ぶれ
補正量計算部14で得られた像ぶれ補正量に基づいて、
加算用メモリ7からは同図(a)の破線で示す(xms,
yms),(xme,yme)の領域が指定され、加算用メモ
リ7からの加算画像データの読み出し領域は同図
(c)、入力画像データの加算領域は、同図(d)に示
すようになって、これら領域が加算器6で加算されるこ
とにより、同図(e)に示す加算結果が生成され、これ
を再び加算用メモリ7に格納されることで像ぶれが補正
されることになる。
【0044】この場合、このような像ぶれ補正により、
有効画素期間が少なくなっていく。このことは、カメラ
入力画像の有効画素期間は決まっているため、ぶれ補正
により、最終的に得られる表示画像が小さくなってしま
うことである。
【0045】例えば、NTSC方式で水平方向の有効画
素640画素、有効ライン480ラインの場合、表示サ
イズが640×400のディスプレイでは、水平方向へ
のぶれは直接に有効画像領域に影響して表示領域が減っ
てしまう。しかし、垂直方向へのぶれは、480−40
0=80ラインだけ余るため、この範囲であれば、ぶれ
補正による有効ライン数の減少を吸収し、400ライン
表示することができる。また、さらに像ぶれが大きくな
るような場合は、有効画素期間が十分長いテレビ方式を
用いて、有効画素、有効ラインの減少を吸収できるよう
にする必要がある。このような方式を用いても補正でき
ないような像ぶれ、たとえば処理後の画面全体の半分位
になってしまうような像ぶれに対しては、もう一度画像
の取り込みをやり直すといった制御を行えば、十分必要
な有効画像エリアを確保することができる。
【0046】従って、このようにすれば、複数合焦点に
おける各画像を加算処理する際に、テレビカメラ4より
取り込まれる画像データに、ステージ2の移動に原因す
るぶれを生じるような場合でも、ステージ2のぶれ量を
光学式エンコーダからなるぶれ検出部12で検出し、こ
のぶれ検出部12により検出されたぶれ量と対物レンズ
情報読み取り部13の対物レンズ情報により像ぶれ補正
量計算部14により像ぶれ補正量を計算し、この結果に
応じてメモリコントローラ15により加算用メモリ7の
読み出しアドレスが制御され、このアドレス制御により
加算用メモリ7より読み出された画像データにテレビカ
メラ4より取り込まれる画像データを加算するととも
に、さらにこの加算された画像データを加算用メモリ7
に書き込むようになるので、テレビカメラ4より取り込
まれる画像のぶれの影響を受けない、正確な画像加算を
行うことができ、良質な加算画像を得ることができる。
【0047】なお、第1の実施の形態では、像ぶれの補
正をするのに、加算用メモリ7、表示用メモリ10への
書き込み、読み込みアドレスを制御する方法をとった
が、制御を簡単にするには、ステージ2の振動が収まる
のを待って画像加算を行うような方法をとってもよい。
【0048】また、試料観察に用いるテレビカメラ4
は、NTSC方式の他に、PAL,SECAM,ハイビ
ジョン等の方式でもよいが、図5に示すように撮影画像
の有効画素期間を制御してメモリへの書き込み、読み出
しを調整するようになっているので、有効画素数が多い
方式ほど像ぶれ補正に伴う有効画素の減少は少なくな
り、画面サイズが大きくできる。また、ぶれ量を読み取
る精度を上げれば、CCDのピクセルサイズは特に制限
はない。 (第2の実施の形態)図6は、本発明が適用される走査
型共焦点顕微鏡の概略構成を示している。
【0049】図において、31は走査型共焦点顕微鏡本
体で、この顕微鏡本体31は、レーザー光源32、光検
出器33、レンズ34、ピンホール板35、ミラー3
6、ハーフミラー37、XY方向走査機構38、対物レ
ンズ39、観察試料40、試料40を載置するステージ
49、Z方向走査機構48を有している。
【0050】また、顕微鏡本体31に画像処理部41を
接続している。この画像処理部41は、第1のメモリ4
2、第2のメモリ43、演算メモリ44およびこれらメ
モリの書き込み、読み出しアドレスを制御するメモリコ
ントローラ45を有している。
【0051】さらに、これら顕微鏡本体31および画像
処理部41の他に、CPU46、走査駆動制御回路4
7、Z方向走査機構48、ぶれ検出部50、像ぶれ補正
量計算部51、対物レンズ情報読み取り部52、画像表
示部53を有している。
【0052】ここで、レーザー光源32は、試料40表
面を走査するスポット光としてのレーザー光を発生する
ためのレーザー光源、ミラー36は、レーザー光源32
からのレーザー光を対物レンズ39に導くための反射鏡
である。ハーフミラー47は、対物レンズ39からの反
射光を検出系に導くための鏡である。レンズ34は、こ
のハーフミラー37を介して得られた試料40からの反
射光を集光するレンズ、ピンホール板35は、所要の径
のピンホールを開けたもので、光検出器33の受光面の
前面におけるレンズ34の焦点位置にそのピンホールを
位置させて配される。光検出器33は、ピンホールを介
して得られる光をその光量対応のの電気信号に変換する
光検出素子である。
【0053】一方、走査駆動制御回路47は、ステージ
49をX,Y方向に駆動する制御部、XY方向走査機構
38は、走査駆動制御回路47によりX軸方向及びY軸
方向走査用ガルバノミラーをX軸方向、Y軸方向に振る
ことで対物レンズ39に対するスポット光の光路をXY
方向に振らせるようにしている。Z方向走査機構48
は、対物レンズ39をZ方向、つまり同対物レンズ39
の光軸方向に駆動する機構である。対物レンズ情報読み
取り部52は、対物レンズ39の倍率を読み取り、像ぶ
れ補正量を算出する係数を求めるものである。ぶれ検出
部50は、対物レンズ39のぶれ量を検出するものであ
り、像ぶれ補正量計算部51は対物レンズ情報読み取り
部52で得られた対物レンズ情報と、ぶれ検出部で得ら
れたぶれ量から対物レンズ39のぶれが、何画素、何ラ
イン分に相当するか計算するものである。メモリコント
ローラ45は、像ぶれ補正量計算部51の出力を用い、
像ぶれをキャンセルするように第1のメモリ42、第2
のメモリ43、演算メモリ44への書き込み、読み出し
アドレスを制御する。画像表示部53は画像処理回路4
1での処理結果を表示するものである。
【0054】しかして、かかる第2の実施の形態でも、
ステージ49をZ方向に移動しながら試料40からの入
力画像を取り込むが、この画像取り込みの際に、画像サ
ンプリングパルスを発生する前に、ぶれ検出部50によ
りステージ49のぶれ量検出を行い、対物レンズ情報読
み取り部52で得られた対物レンズ情報も用いて像ぶれ
補正量計算部51で像ぶれ補正量を計算し、この補正量
に基づいてメモリコントローラ45により第1のメモリ
42、第2のメモリ43、演算メモリ44に対する書き
込み、読込みを行うアドレスを制御する。
【0055】これにより、入力画像は、そのX,Y方向
へのぶれを補正して取り込むことができる。また、この
入力画像の取り込みを、ステージ49をZ方向に移動し
ながら繰り返すことで、X,Y方向への像ぶれのない3
次元像が得られる。
【0056】ところで、このような第2の実施の形態で
は、走査型共焦点顕微鏡を用いるため、あるZ位置での
画像は、レーザー光をX,Y方向に走査することにより
取り込むため、画像の取り込み時にステージ49のぶれ
の影響で、予定した位置を走査せず、異なったX,Y座
標のデータを取り込むおそれがある。
【0057】つまり、図7に示すレーザ光のX,Y方向
の走査において、走査開始位置から出発したレーザー光
は予定では図示実線の走査線に沿って移動し、その反射
光を検出するようになるが、この走査の間にステージぶ
れがあったような場合は、予定の走査線上を通らないこ
とがあり、こうして得られた画像は本来求める画像とは
違ったものになってしまう。
【0058】そして、このようなぶれの中でも、各ライ
ン走査のぶれが無視できるような周波数帯のもの、つま
り、各1ライン毎は、ほぼぶれなく走査できるが、複数
ライン走査すると、ぶれのため、ライン走査方向(X方
向)に数画素分、走査移動方向(Y方向)に数ライン分
ぶれてしまうようなもの(例えば、走査の開始位置から
200ライン目の走査が、ぶれのため1ライン分ずれて
199ライン目を走査した場合や、200ライン目のス
タート位置が1画素ライン走査方向にずれて走査スター
トした場合)は、以下のようなぶれ補正が可能である。
【0059】このようなぶれ補正を行うには、ぶれ検出
を、テレビの走査でいうブランキング期間に相当する部
分で行うようにすればよい。この場合、ステージがぶれ
によりライン走査方向(X方向)にぶれた場合は画像の
書き込み、読み出しアドレスを制御することで補正可能
である。一方、ライン走査方向(X方向)と垂直方向に
ぶれた場合は、ぶれの方向がわかるため、また、走査の
移動方向と逆方向の場合は、既にその位置の画像は取り
込んであるため、これらの場合は、メモリに対する書き
込みを行わず、さらに、走査の移動方向と同方向の場合
は、途中が抜けてしまうため、そのラインを再度取込み
直すか、画像取込みを中止することで対処するようにな
る。
【0060】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、複数
合焦点における画像を加算処理する際、画像データ取り
込み手段により取り込まれる画像データにぶれを生じる
ような場合でも、この時のぶれ量に応じて読み出しアド
レスが制御された記憶手段からの画像データに取り込み
画像データが加算されるようになるので、取り込み画像
のぶれの影響を受けない、正確な画像加算を行うことが
でき、良質な加算画像を得ることができる。また、記憶
手段のアドレスを制御に、ステージのぶれ量に、さらに
対物レンズに関する情報を加味しているので、対物レン
ズ倍率に合わせた精度の高いぶれ量制御が可能になる。
さらに、ぶれ量検出に光学式エンコーダを用いているの
で、さらに精度の高いぶれ量検出を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図2】第1の実施の形態に用いられる光学式エンコー
ダの概略構成を示す図。
【図3】第1の実施の形態に用いられる光学式エンコー
ダの出力波形を示す図。
【図4】第1の実施の形態の動作を説明するためのフロ
ーチャート。
【図5】第1の実施の形態に用いられるメモリコントロ
ーラによる画像加算タイミングを説明するための図。
【図6】本発明の第2の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図7】第2の実施の形態を説明するレーザ光の走査方
向を示す図。
【図8】像ぶれの状態を説明するための図。
【図9】複数の合焦画像の加算状態を説明するための
図。
【図10】複数の合焦画像の加算状態を説明するための
図。
【図11】パターンマッチングによる像ぶれ検出を説明
するための図。
【符号の説明】
1…光学顕微鏡本体、 2…ステージ、 21…ステージ台、 22…第1のステージ、 23…第2のステージ、 3…対物レンズ、 4…テレビカメラ、 5…A/D変換器、 6…加算器、 7…画像メモリ、 8…除算器、 9…空間フィルタ、 10…画像メモリ、 11…D/A変換器、 12…ぶれ検出部、 121、122…光学式エンコーダ、 13…対物レンズ情報読み取り部、 14…像ぶれ補正量計算部、 15…メモリコントローラ、 16…CPU、 17…ステージ駆動部、 18…操作部、 19…表示部、 20…画像加算装置本体、 31…走査型共焦点顕微鏡本体、 32…レーザー光源、 33…光検出器、 34…レンズ、 35…ピンホール板、 36…ミラー、 37…ハーフミラー、 38…XY方向走査機構、 39…対物レンズ、 40…試料、 41…画像処理部、 42…第1のメモリ、 43…第2のメモリ、 44…演算メモリ、 45…メモリコントローラ、 46…CPU、 47…走査駆動制御回路、 48…Z方向走査機構、 49…ステージ、 50…ぶれ検出部、 51…像ぶれ補正量計算部、 52…対物レンズ情報読み取り部、 53…画像表示部。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数合焦点における各画像を加算処理す
    る画像加算装置において、 合焦点の画像データを取り込む画像データ取り込み手段
    と、 この画像データ取り込み手段より取り込まれた画像デー
    タを記憶する記憶手段と、 合焦点への移動による前記画像データ取り込み手段によ
    り取り込まれる画像データのぶれ量を検出するぶれ量検
    出手段と、 このぶれ量検出手段により検出されたぶれ量により前記
    記憶手段の書き込み、読み出しアドレスを制御するアド
    レス制御手段と、 このアドレス制御手段のアドレス制御により前記記憶手
    段より読み出された画像データに前記画像データ取り込
    み手段より取り込まれる画像データを加算するととも
    に、該加算された画像データを前記記憶手段に書き込む
    制御手段とを具備したことを特徴とする画像加算装置。
  2. 【請求項2】 前記画像データ取り込み手段は、対物レ
    ンズを介してステージ上の試料の観察画像の画像データ
    を取り込み、 前記ぶれ量検出手段は、前記ステージの前記対物レンズ
    の光軸方向の移動によるステージのぶれ量を検出し、 前記アドレス制御手段は、前記ぶれ量検出手段により検
    出されたぶれ量とさらに前記対物レンズに関する情報に
    より前記記憶手段の書き込み、読み出しアドレスを制御
    することを特徴とする請求項1記載の画像加算装置。
  3. 【請求項3】 ぶれ量検出手段は、前記ステージに設け
    られる光学式エンコーダからなることを特徴とする請求
    項2記載の画像加算装置。
JP8186076A 1996-07-16 1996-07-16 画像加算装置 Withdrawn JPH1032743A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003021784A (ja) * 2001-07-06 2003-01-24 Olympus Optical Co Ltd 走査型レーザー顕微鏡及びその画像取得方法
KR100459437B1 (ko) * 2002-09-27 2004-12-03 엘지전자 주식회사 디지털 카메라 잔상 제거 방법
JP2005037902A (ja) * 2003-07-01 2005-02-10 Olympus Corp 顕微鏡システム、顕微鏡画像表示システム、観察体画像表示方法、及びプログラム
JP2006194981A (ja) * 2005-01-11 2006-07-27 Olympus Corp 顕微鏡観察システム

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