JPH10337519A - 多層ダイコータギャップ変位測定装置 - Google Patents
多層ダイコータギャップ変位測定装置Info
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- JPH10337519A JPH10337519A JP14906597A JP14906597A JPH10337519A JP H10337519 A JPH10337519 A JP H10337519A JP 14906597 A JP14906597 A JP 14906597A JP 14906597 A JP14906597 A JP 14906597A JP H10337519 A JPH10337519 A JP H10337519A
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Landscapes
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 多層ダイコータの複数のリップ部についてバ
ッキングロールとの間のギャップ変位測定をそれぞれ行
えるようにして最適塗布条件の再現性を向上させる。 【解決手段】 ギャップ変位測定時にバッキングロール
12を微小回転させるロール回転機構30と、バッキン
グロール12の軸方向に移動可能に設けられ、かつギャ
ップ変位測定時にバッキングロール12とともに微小回
転する接触変位計50とを備え、多層ダイコータ本体2
0が塗布位置よりもバッキングロールから後退したギャ
ップ変位測定位置にあるときに接触変位計50の測定子
51が多層ダイコータ本体20の長手方向の任意の点で
複数の先端リップ部に接触しながら微小回転するように
してある。
ッキングロールとの間のギャップ変位測定をそれぞれ行
えるようにして最適塗布条件の再現性を向上させる。 【解決手段】 ギャップ変位測定時にバッキングロール
12を微小回転させるロール回転機構30と、バッキン
グロール12の軸方向に移動可能に設けられ、かつギャ
ップ変位測定時にバッキングロール12とともに微小回
転する接触変位計50とを備え、多層ダイコータ本体2
0が塗布位置よりもバッキングロールから後退したギャ
ップ変位測定位置にあるときに接触変位計50の測定子
51が多層ダイコータ本体20の長手方向の任意の点で
複数の先端リップ部に接触しながら微小回転するように
してある。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のスロットか
ら塗料をそれぞれ吐出して、連続走行する帯状基材の表
面に多層塗布を施す多層ダイコータのギャップ変位測定
装置に関する。
ら塗料をそれぞれ吐出して、連続走行する帯状基材の表
面に多層塗布を施す多層ダイコータのギャップ変位測定
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、帯状基材に多層塗布を施す多層
ダイコータでは、複数の先端リップ部間に複数の塗料吐
出用スロットが形成されており、2つのスロットを有す
る2層ダイコータの場合には上、中、下の3つの先端リ
ップ部を有している。そして、この2層ダイコータで美
しい光沢のある2層同時塗布を安定して行うには、各先
端リップ部と基材表面との間の各ギャップがそれぞれ最
適条件に設定されている必要がある。このための調整範
囲はウエット塗膜厚みの1〜1.6倍程度、具体的には
20〜80μm程度である。
ダイコータでは、複数の先端リップ部間に複数の塗料吐
出用スロットが形成されており、2つのスロットを有す
る2層ダイコータの場合には上、中、下の3つの先端リ
ップ部を有している。そして、この2層ダイコータで美
しい光沢のある2層同時塗布を安定して行うには、各先
端リップ部と基材表面との間の各ギャップがそれぞれ最
適条件に設定されている必要がある。このための調整範
囲はウエット塗膜厚みの1〜1.6倍程度、具体的には
20〜80μm程度である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】一般建材用カラーコー
ト鋼板の塗装において2層ダイコータでウエットオンウ
エットの2層同時塗布を行う場合、通常、ウェット状態
で、下塗り層は十数μm程度の厚みに塗布するが、下塗
り用スロットから吐出される塗料を均一に塗布するため
には、上中下3つの先端リップ部のうち下塗り用スロッ
トの塗料流出方向下流側に位置する中リップ部について
のギャップが正確に設定されていなければならない。
ト鋼板の塗装において2層ダイコータでウエットオンウ
エットの2層同時塗布を行う場合、通常、ウェット状態
で、下塗り層は十数μm程度の厚みに塗布するが、下塗
り用スロットから吐出される塗料を均一に塗布するため
には、上中下3つの先端リップ部のうち下塗り用スロッ
トの塗料流出方向下流側に位置する中リップ部について
のギャップが正確に設定されていなければならない。
【0004】しかしながら、従来より単層ダイコータに
ついて簡易的に行われている隙間ゲージを用いてのギャ
ップ測定方法では、上下リップ部のいずれかについての
最狭ギャップ部しか測定できなかったので、この測定方
法を2層ダイコータに適用しても中リップ部についての
正確なギャップ測定ができず、微小なギャップ調整がで
きなかった。また、他に適当なギャップ測定方法もなか
ったため、中リップ部のギャップが最適条件に設定され
いるかどうかを確認するには、実際に塗布テストを行っ
て塗布状態を確認しながら試行錯誤してギャップの微調
整を繰り返すほかなかった。そのため、最適ギャップに
設定されるまでに手間と時間がかかると共に、テスト用
に使用した塗布基材が無駄になるという問題があった。
さらに、塗布仕様は一様ではなく、塗布仕様の変更に応
じてギャップの最適化作業が必要となるが、最適ギャッ
プ条件の再現性が極めて悪かった。ここで、上リップ部
とバッキングロールの間を測定して所定の値を得たとし
ても、バッキングロール表面は曲面となっているため、
中リップ部または下リップ部とバッキングロールの間の
ギャップは上記上リップ部において得られた値と異なっ
ているはずである。したがって、各リップ部とロール曲
面間で変化するギャップ、すなわちギャップ変位を正確
に測定することが重要な課題となってくる。
ついて簡易的に行われている隙間ゲージを用いてのギャ
ップ測定方法では、上下リップ部のいずれかについての
最狭ギャップ部しか測定できなかったので、この測定方
法を2層ダイコータに適用しても中リップ部についての
正確なギャップ測定ができず、微小なギャップ調整がで
きなかった。また、他に適当なギャップ測定方法もなか
ったため、中リップ部のギャップが最適条件に設定され
いるかどうかを確認するには、実際に塗布テストを行っ
て塗布状態を確認しながら試行錯誤してギャップの微調
整を繰り返すほかなかった。そのため、最適ギャップに
設定されるまでに手間と時間がかかると共に、テスト用
に使用した塗布基材が無駄になるという問題があった。
さらに、塗布仕様は一様ではなく、塗布仕様の変更に応
じてギャップの最適化作業が必要となるが、最適ギャッ
プ条件の再現性が極めて悪かった。ここで、上リップ部
とバッキングロールの間を測定して所定の値を得たとし
ても、バッキングロール表面は曲面となっているため、
中リップ部または下リップ部とバッキングロールの間の
ギャップは上記上リップ部において得られた値と異なっ
ているはずである。したがって、各リップ部とロール曲
面間で変化するギャップ、すなわちギャップ変位を正確
に測定することが重要な課題となってくる。
【0005】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明の多層ダ
イコータギャップ変位測定装置は上記問題点を解消する
ことを目的として、多層ダイコータ本体をその複数の先
端リップ部がバッキングロールに僅かなギャップを隔て
て対向するように配置し、上記各先端リップ部間に形成
される複数のスロットから塗料をそれぞれ吐出してバッ
キングロールに支持されつつ連続搬送される帯状基材に
多層塗布を施す多層ダイコータにおいて、ギャップ変位
測定時に上記バッキングロールを微小回転させるロール
回転機構と、バッキングロールの軸方向に移動可能に設
けられ、かつギャップ変位測定時に上記バッキングロー
ルとともに微小回転する接触変位計とを備え、上記多層
ダイコータ本体が塗布位置よりもバッキングロールから
後退したギャップ変位測定位置にあるときに上記接触変
位計の測定子が上記多層ダイコータ本体の長手方向の任
意の点で上記各先端リップ部に接触しながら微小回転す
るようにしたものである。
イコータギャップ変位測定装置は上記問題点を解消する
ことを目的として、多層ダイコータ本体をその複数の先
端リップ部がバッキングロールに僅かなギャップを隔て
て対向するように配置し、上記各先端リップ部間に形成
される複数のスロットから塗料をそれぞれ吐出してバッ
キングロールに支持されつつ連続搬送される帯状基材に
多層塗布を施す多層ダイコータにおいて、ギャップ変位
測定時に上記バッキングロールを微小回転させるロール
回転機構と、バッキングロールの軸方向に移動可能に設
けられ、かつギャップ変位測定時に上記バッキングロー
ルとともに微小回転する接触変位計とを備え、上記多層
ダイコータ本体が塗布位置よりもバッキングロールから
後退したギャップ変位測定位置にあるときに上記接触変
位計の測定子が上記多層ダイコータ本体の長手方向の任
意の点で上記各先端リップ部に接触しながら微小回転す
るようにしたものである。
【0006】この多層ダイコータギャップ変位測定装置
では、ギャップ変位測定時にロール回転機構によりバッ
キングロールを微小回転させる。このとき、接触変位計
はバッキングロールと連動するようにセットしてあるた
め、バッキングロールと共に微小回転する。多層ダイコ
ータ本体が塗布位置よりもバッキングロールから後退し
たギャップ変位測定位置にあるときに、接触変位計の測
定子は多層ダイコータ本体の複数の先端リップ部と接触
しながらバッキングロールと共に微小回転する。これに
より、各先端リップ部についてバッキングロールとの間
のギャップ変位をそれぞれ正確に測定することができ
る。また、接触変位計はバッキングロールの軸方向に移
動可能としてあるため、多層ダイコータ本体の長手方向
の任意の点で各先端リップ部についてのギャップ変位測
定が可能である。
では、ギャップ変位測定時にロール回転機構によりバッ
キングロールを微小回転させる。このとき、接触変位計
はバッキングロールと連動するようにセットしてあるた
め、バッキングロールと共に微小回転する。多層ダイコ
ータ本体が塗布位置よりもバッキングロールから後退し
たギャップ変位測定位置にあるときに、接触変位計の測
定子は多層ダイコータ本体の複数の先端リップ部と接触
しながらバッキングロールと共に微小回転する。これに
より、各先端リップ部についてバッキングロールとの間
のギャップ変位をそれぞれ正確に測定することができ
る。また、接触変位計はバッキングロールの軸方向に移
動可能としてあるため、多層ダイコータ本体の長手方向
の任意の点で各先端リップ部についてのギャップ変位測
定が可能である。
【0007】本発明の多層ダイコータギャップ変位測定
装置では、上記接触変位計からの測定出力信号を自動記
録装置に入力し、測定結果を自動的にグラフ化表示する
ようにしてもよい。この場合には、測定結果が自動的に
記録および表示されるため、記録のための労力を省ける
とともに、即座に表示される測定データを確認しながら
ギャップ調整作業を行えるので最適ギャップの設定作業
を迅速に行うことができる。
装置では、上記接触変位計からの測定出力信号を自動記
録装置に入力し、測定結果を自動的にグラフ化表示する
ようにしてもよい。この場合には、測定結果が自動的に
記録および表示されるため、記録のための労力を省ける
とともに、即座に表示される測定データを確認しながら
ギャップ調整作業を行えるので最適ギャップの設定作業
を迅速に行うことができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態について説明する。図1は、本発明にかか
る多層ダイコータギャップ変位測定装置の側面図、図2
はその上面図である。図1に示すように、全体を符号1
0で示す多層ダイコータギャップ変位測定装置は、バッ
キングロール12に取り付けられている。バッキングロ
ール12は、両端から突出した回転軸14がロール軸受
16により支持されて回転可能となっている。
の実施の形態について説明する。図1は、本発明にかか
る多層ダイコータギャップ変位測定装置の側面図、図2
はその上面図である。図1に示すように、全体を符号1
0で示す多層ダイコータギャップ変位測定装置は、バッ
キングロール12に取り付けられている。バッキングロ
ール12は、両端から突出した回転軸14がロール軸受
16により支持されて回転可能となっている。
【0009】バッキングロール12には、2層ダイコー
タ本体20を平行に対向させてある。2層ダイコータ本
体20は、バッキングロール12に対向する上、中、下
の3つの先端リップ部を有しており、上リップ部と中リ
ップ部との間に上塗り用スロット21が形成され、中リ
ップ部と下リップ部との間に下塗り用スロット22が形
成されている。塗布時には、各スロット21、22から
塗料がそれぞれ吐出され、バッキングロール12の外周
面に支持されつつ連続搬送される帯状基材(図示せず)
に2層同時塗布が施される。
タ本体20を平行に対向させてある。2層ダイコータ本
体20は、バッキングロール12に対向する上、中、下
の3つの先端リップ部を有しており、上リップ部と中リ
ップ部との間に上塗り用スロット21が形成され、中リ
ップ部と下リップ部との間に下塗り用スロット22が形
成されている。塗布時には、各スロット21、22から
塗料がそれぞれ吐出され、バッキングロール12の外周
面に支持されつつ連続搬送される帯状基材(図示せず)
に2層同時塗布が施される。
【0010】2層ダイコータ本体20は架台23上に取
り付けられている。架台23はベースプレート24上に
固定されている。ベースプレート24は、支持台25上
部の斜面に設けられたリニアレール26にリニアベアリ
ング27によって取り付けられている。架台23および
ベースプレート24がリニアレール26に沿って移動す
ると、2層ダイコータ本体20がバッキングロール12
の回転中心18に向かう方向へ進退移動することにな
る。これにより、2層ダイコータ本体20は、先端リッ
プ部がバッキングロール12に僅かなギャップgを隔て
て対向する塗布位置(点線28で示す位置)と、この塗
布位置よりもバッキングロール12から所定距離だけ後
退したギャップ変位測定位置(実線で図示した位置)と
を採ることができる。なお、上記架台23には、バッキ
ングロール12に対する2層ダイコータ本体20の角度
や高さを微調整できる調整機構(図示せず)が設けてあ
る。
り付けられている。架台23はベースプレート24上に
固定されている。ベースプレート24は、支持台25上
部の斜面に設けられたリニアレール26にリニアベアリ
ング27によって取り付けられている。架台23および
ベースプレート24がリニアレール26に沿って移動す
ると、2層ダイコータ本体20がバッキングロール12
の回転中心18に向かう方向へ進退移動することにな
る。これにより、2層ダイコータ本体20は、先端リッ
プ部がバッキングロール12に僅かなギャップgを隔て
て対向する塗布位置(点線28で示す位置)と、この塗
布位置よりもバッキングロール12から所定距離だけ後
退したギャップ変位測定位置(実線で図示した位置)と
を採ることができる。なお、上記架台23には、バッキ
ングロール12に対する2層ダイコータ本体20の角度
や高さを微調整できる調整機構(図示せず)が設けてあ
る。
【0011】ロール軸受け16の上部には、ロール回転
機構30が設けてある。ロール回転機構30は、ハンド
ル31に連結されたボールネジ32と、ボールネジ32
に螺合するナット部33と、ナット部33に一端部が連
結されたターンバックルロッド34とからなる。ターン
バックルロッド34の他端部36はバッキングロール1
2の端面の外周面近傍位置に取り外し可能にねじ止めさ
れている。ハンドル31を回すと、ボールネジ32の回
転にしたがってナット部33が移動し、ターンバックル
ロッド34の移動によりバッキングロール12が矢印a
方向に微小回転するようになっている。
機構30が設けてある。ロール回転機構30は、ハンド
ル31に連結されたボールネジ32と、ボールネジ32
に螺合するナット部33と、ナット部33に一端部が連
結されたターンバックルロッド34とからなる。ターン
バックルロッド34の他端部36はバッキングロール1
2の端面の外周面近傍位置に取り外し可能にねじ止めさ
れている。ハンドル31を回すと、ボールネジ32の回
転にしたがってナット部33が移動し、ターンバックル
ロッド34の移動によりバッキングロール12が矢印a
方向に微小回転するようになっている。
【0012】また、バッキングロール12の上部には、
変位計支持機構40が設けてある。変位計支持機構40
はコ字状の固定板41を備えている。固定板41はバッ
キングロール12の両端面に取り外し可能にねじ止めさ
れている。固定板41の上面には2本のリニアレール4
2がバッキングロール12の軸方向に平行に設けてあ
る。リニアレール42にはリニアベアリング43を介し
て移動台44が取り付けられており、バッキングロール
12に沿って移動可能になっている。移動台44上に
は、X軸ステージ45が矢印b方向に移動可能に設けて
ある。このX軸ステージ45には、ブラケット46、4
7を介してレバー型の接触変位計50が取り付けられて
いる。これにより、接触変位計50はバッキングロール
12の軸方向に沿って移動可能になっている。
変位計支持機構40が設けてある。変位計支持機構40
はコ字状の固定板41を備えている。固定板41はバッ
キングロール12の両端面に取り外し可能にねじ止めさ
れている。固定板41の上面には2本のリニアレール4
2がバッキングロール12の軸方向に平行に設けてあ
る。リニアレール42にはリニアベアリング43を介し
て移動台44が取り付けられており、バッキングロール
12に沿って移動可能になっている。移動台44上に
は、X軸ステージ45が矢印b方向に移動可能に設けて
ある。このX軸ステージ45には、ブラケット46、4
7を介してレバー型の接触変位計50が取り付けられて
いる。これにより、接触変位計50はバッキングロール
12の軸方向に沿って移動可能になっている。
【0013】この接触変位計50のレバー型の測定子5
1の先端は、例えばギャップ変位測定位置にある2層ダ
イコータ本体20の上リップ部の先端面に当接させてあ
る。また、上記測定子51は支持点を中心に矢印c方向
に微小回転可能であり、この回転により2層ダイコータ
本体20の先端リップ部とバッキングロール12との間
のギャップ変位に対応できるようになっている。また、
ロール回転機構30によりバッキングロール12を矢印
a方向に微小回転させることで接触変位計50も同様に
回転し、これにより測定子51が上、中、下の各リップ
部に接触しながら回転して各リップ部についてバッキン
グロール12との間のギャップ変位をそれぞれ測定でき
るようにしてある。さらに、移動台44がリニアレール
42に沿ってバッキングロール12の軸方向に移動する
と、接触変位計50の測定子51は先端リップ部に接触
しながら2層ダイコータ本体20の長手方向に移動す
る。したがって、2層ダイコータ本体20の長手方向の
任意の位置において、先端リップ部とバッキングロール
12間のギャップ変位測定が可能である。
1の先端は、例えばギャップ変位測定位置にある2層ダ
イコータ本体20の上リップ部の先端面に当接させてあ
る。また、上記測定子51は支持点を中心に矢印c方向
に微小回転可能であり、この回転により2層ダイコータ
本体20の先端リップ部とバッキングロール12との間
のギャップ変位に対応できるようになっている。また、
ロール回転機構30によりバッキングロール12を矢印
a方向に微小回転させることで接触変位計50も同様に
回転し、これにより測定子51が上、中、下の各リップ
部に接触しながら回転して各リップ部についてバッキン
グロール12との間のギャップ変位をそれぞれ測定でき
るようにしてある。さらに、移動台44がリニアレール
42に沿ってバッキングロール12の軸方向に移動する
と、接触変位計50の測定子51は先端リップ部に接触
しながら2層ダイコータ本体20の長手方向に移動す
る。したがって、2層ダイコータ本体20の長手方向の
任意の位置において、先端リップ部とバッキングロール
12間のギャップ変位測定が可能である。
【0014】図2に示すように、接触変位計50は自動
記録装置であるパソコン60に接続されている。接触変
位計50からの測定出力信号は、パソコン60に接続さ
れたデータ収集システム61に入力され、表計算ソフト
により測定結果が自動的にグラフ化されてパソコン60
に表示されるようにしてある。
記録装置であるパソコン60に接続されている。接触変
位計50からの測定出力信号は、パソコン60に接続さ
れたデータ収集システム61に入力され、表計算ソフト
により測定結果が自動的にグラフ化されてパソコン60
に表示されるようにしてある。
【0015】次に、上記構成の多層ダイコータギャップ
変位測定装置10によるギャップ変位測定について説明
する。ギャップ変位測定時には、まず、2層ダイコータ
本体20を前工程の塗布位置から所定距離(例えば、1
0mm)だけ後退したギャップ変位測定位置に移動させ
る。また、通常の塗布状態にあるときには、ロール回転
機構30のターンバックルロッド34はバッキングロー
ル12から取り外されており、変位計支持機構40およ
び接触変位計50もまたバッキングロール12から取り
外されている。そのため、ギャップ変位測定時には、タ
ーンバックルロッド34の先端部36をバッキングロー
ル12に固定するとともに、変位計支持機構40をバッ
キングロール12に取り付けて、接触変位計50のレバ
ー測定子51の先端をギャップ変位測定位置にある2層
ダイコータ本体20の上リップ部の上縁部に接触させ
る。
変位測定装置10によるギャップ変位測定について説明
する。ギャップ変位測定時には、まず、2層ダイコータ
本体20を前工程の塗布位置から所定距離(例えば、1
0mm)だけ後退したギャップ変位測定位置に移動させ
る。また、通常の塗布状態にあるときには、ロール回転
機構30のターンバックルロッド34はバッキングロー
ル12から取り外されており、変位計支持機構40およ
び接触変位計50もまたバッキングロール12から取り
外されている。そのため、ギャップ変位測定時には、タ
ーンバックルロッド34の先端部36をバッキングロー
ル12に固定するとともに、変位計支持機構40をバッ
キングロール12に取り付けて、接触変位計50のレバ
ー測定子51の先端をギャップ変位測定位置にある2層
ダイコータ本体20の上リップ部の上縁部に接触させ
る。
【0016】この状態で、ロール回転機構30のハンド
ル31を回転させてバッキングロール12を微小回転さ
せる。このバッキングロール12の回転に伴って接触変
位計50も微小回転し、その測定子51の先端が2層ダ
イコータ本体20の上リップ部、中リップ部、下リップ
部に順次接触しながら移動する。あるいは、下リップ部
に接触させた測定子51を中リップ部、上リップ部の順
に接触するように移動させてもよい。この移動の間に各
リップ部とバッキングロール12との間のギャップ変位
を測定するが、測定の時間的間隔を10〜20msec
に設定しておくことで約200点ほどの測定データが収
集される。続いて、接触変位計50をバッキングロール
12の軸方向へ移動させ、2層ダイコータ本体20の長
手方向の別のポイントにおいて上記と同様にギャップ変
位測定を行う。このように少なくとも2つ以上のポイン
トでギャップ変位測定を行う。
ル31を回転させてバッキングロール12を微小回転さ
せる。このバッキングロール12の回転に伴って接触変
位計50も微小回転し、その測定子51の先端が2層ダ
イコータ本体20の上リップ部、中リップ部、下リップ
部に順次接触しながら移動する。あるいは、下リップ部
に接触させた測定子51を中リップ部、上リップ部の順
に接触するように移動させてもよい。この移動の間に各
リップ部とバッキングロール12との間のギャップ変位
を測定するが、測定の時間的間隔を10〜20msec
に設定しておくことで約200点ほどの測定データが収
集される。続いて、接触変位計50をバッキングロール
12の軸方向へ移動させ、2層ダイコータ本体20の長
手方向の別のポイントにおいて上記と同様にギャップ変
位測定を行う。このように少なくとも2つ以上のポイン
トでギャップ変位測定を行う。
【0017】接触変位計50による測定結果は、図3に
示すように、パソコン60に即座にグラフ化されて表示
される。接触変位計50により直接測定されるのは各リ
ップ部とバッキングロール12との間のギャップ変位で
あるが、2層ダイコータ本体20を塗布位置からギャッ
プ変位測定位置へ後退させたときの移動距離と次工程で
塗布する帯状基材の厚みは既知であるため、測定結果に
基づき各リップ部と帯状基材間のそれぞれのギャップ変
位値は容易に求まり、図3はこのギャップ変位値をグラ
フ化したものである。このグラフに基づき、各リップ部
についてのギャップが塗布条件に応じた最適ギャップと
なるように2層ダイコータ本体20の進退位置や高さや
角度を微調整する。
示すように、パソコン60に即座にグラフ化されて表示
される。接触変位計50により直接測定されるのは各リ
ップ部とバッキングロール12との間のギャップ変位で
あるが、2層ダイコータ本体20を塗布位置からギャッ
プ変位測定位置へ後退させたときの移動距離と次工程で
塗布する帯状基材の厚みは既知であるため、測定結果に
基づき各リップ部と帯状基材間のそれぞれのギャップ変
位値は容易に求まり、図3はこのギャップ変位値をグラ
フ化したものである。このグラフに基づき、各リップ部
についてのギャップが塗布条件に応じた最適ギャップと
なるように2層ダイコータ本体20の進退位置や高さや
角度を微調整する。
【0018】上記一連の調整作業が終了すると、バッキ
ングロール12からターンバックルロッド34と変位計
支持機構40を取り外す。それから、帯状基材を2層ダ
イコータ本体20とバッキングロール12の間を通して
バッキングロール12の外周に支持されるようにセット
した後、2層ダイコータ本体20をギャップ変位測定位
置から所定距離だけ前進させて塗布位置に設定する。そ
して、ダイコータ本体20に塗料を供給して各スロット
21、22から吐出させるとともに、帯状基材を走行さ
せることにより2層同時塗布が行われる。
ングロール12からターンバックルロッド34と変位計
支持機構40を取り外す。それから、帯状基材を2層ダ
イコータ本体20とバッキングロール12の間を通して
バッキングロール12の外周に支持されるようにセット
した後、2層ダイコータ本体20をギャップ変位測定位
置から所定距離だけ前進させて塗布位置に設定する。そ
して、ダイコータ本体20に塗料を供給して各スロット
21、22から吐出させるとともに、帯状基材を走行さ
せることにより2層同時塗布が行われる。
【0019】以上に説明したように、上記多層ダイコー
タギャップ変位測定装置10によれば、ロール回転機構
30でバッキングロール12を微小回転させ、これによ
り接触変位計50の測定子51を2層ダイコータ本体2
0の先端リップ部に接触させながら同様に微小回転させ
ることで、複数のリップ部についてそれぞれギャップ変
位測定を行える。しかも、接触変位計50を各リップ部
の全長にわたって移動できるので、ギャップ調整が必要
な箇所すべてにギャップ変位測定ができる。したがっ
て、各リップ部のそれぞれのギャップについて最適塗装
条件を再現するための作業を迅速かつ正確に行うことが
でき、作業の省力化と生産性の向上を図れる。また、接
触変位計50をバッキングロール12の軸方向へ移動さ
せることで、2層ダイコータ本体20の長手方向の任意
の点についてギャップ変位測定が行えるので、塗布幅方
向にわたってギャップを均一に設定するのが容易とな
る。
タギャップ変位測定装置10によれば、ロール回転機構
30でバッキングロール12を微小回転させ、これによ
り接触変位計50の測定子51を2層ダイコータ本体2
0の先端リップ部に接触させながら同様に微小回転させ
ることで、複数のリップ部についてそれぞれギャップ変
位測定を行える。しかも、接触変位計50を各リップ部
の全長にわたって移動できるので、ギャップ調整が必要
な箇所すべてにギャップ変位測定ができる。したがっ
て、各リップ部のそれぞれのギャップについて最適塗装
条件を再現するための作業を迅速かつ正確に行うことが
でき、作業の省力化と生産性の向上を図れる。また、接
触変位計50をバッキングロール12の軸方向へ移動さ
せることで、2層ダイコータ本体20の長手方向の任意
の点についてギャップ変位測定が行えるので、塗布幅方
向にわたってギャップを均一に設定するのが容易とな
る。
【0020】また、接触変位計50による測定結果はパ
ソコン60に自動的に記録されてグラフ化されて即座に
表示されるため、記録の労力が省けるとともに、表示さ
れる測定データを確認しながらギャップ調整作業を行え
るので、最適ギャップの設定作業を迅速に行うことがで
きる。
ソコン60に自動的に記録されてグラフ化されて即座に
表示されるため、記録の労力が省けるとともに、表示さ
れる測定データを確認しながらギャップ調整作業を行え
るので、最適ギャップの設定作業を迅速に行うことがで
きる。
【0021】なお、図示しない調整機構により2層ダイ
コータ本体20の高さや角度を変えると各リップ部につ
いてのギャップも変わるが、上記多層ダイコータギャッ
プ変位測定装置10で高さおよび角度の調整量とギャッ
プ変化の関係を予め調べておくことで、各種塗装条件に
おける最適ギャップ条件を確立することができる。
コータ本体20の高さや角度を変えると各リップ部につ
いてのギャップも変わるが、上記多層ダイコータギャッ
プ変位測定装置10で高さおよび角度の調整量とギャッ
プ変化の関係を予め調べておくことで、各種塗装条件に
おける最適ギャップ条件を確立することができる。
【0022】また、上記説明では塗布時には変位計支持
機構40を取り去るようにしたが、変位計支持機構40
の全長をバッキングロール幅よりも大きくしてバッキン
グロール両側面より離れた位置に設けた適当な手段で固
定支持し、接触変位計50だけを取り外して塗布作業を
行うようにしてもよい。また、接触変位計50の取付形
態には種々の態様が考えられ、例えば、適当なブラケッ
トを用いて接触変位計50をバッキングロール12の外
周面に取り付けてもよい。
機構40を取り去るようにしたが、変位計支持機構40
の全長をバッキングロール幅よりも大きくしてバッキン
グロール両側面より離れた位置に設けた適当な手段で固
定支持し、接触変位計50だけを取り外して塗布作業を
行うようにしてもよい。また、接触変位計50の取付形
態には種々の態様が考えられ、例えば、適当なブラケッ
トを用いて接触変位計50をバッキングロール12の外
周面に取り付けてもよい。
【0023】さらに、以上の説明では2層ダイコータの
例について説明したが、本発明は3層以上の多層ダイコ
ータにも同様に適用できる。
例について説明したが、本発明は3層以上の多層ダイコ
ータにも同様に適用できる。
【0024】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よれば、多層ダイコータの複数のリップ部についてのギ
ャップをそれぞれ正確に測定でき、最適塗装条件を再現
する作業を迅速に行うことができ、作業の省力化と生産
性の向上を図れる。
よれば、多層ダイコータの複数のリップ部についてのギ
ャップをそれぞれ正確に測定でき、最適塗装条件を再現
する作業を迅速に行うことができ、作業の省力化と生産
性の向上を図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 多層ダイコータギャップ変位測定装置の側面
図である。
図である。
【図2】 多層ダイコータギャップ変位測定装置の上面
図である。
図である。
【図3】 接触変位計による測定結果をグラフ化したも
のである。
のである。
10…多層ダイコータギャップ変位測定装置、12…バ
ッキングロール、20…多層ダイコータ本体、21,2
2…スロット、30…ロール回転機構、40…変位計支
持機構、50…接触変位計、51…測定子。
ッキングロール、20…多層ダイコータ本体、21,2
2…スロット、30…ロール回転機構、40…変位計支
持機構、50…接触変位計、51…測定子。
Claims (2)
- 【請求項1】 多層ダイコータ本体をその複数の先端リ
ップ部がバッキングロールに僅かなギャップを隔てて対
向するように配置し、上記各先端リップ部間に形成され
る複数のスロットから塗料をそれぞれ吐出してバッキン
グロールに支持されつつ連続搬送される帯状基材に多層
塗布を施す多層ダイコータにおいて、 ギャップ変位測定時に上記バッキングロールを微小回転
させるロール回転機構と、バッキングロールの軸方向に
移動可能に設けられ、かつギャップ変位測定時に上記バ
ッキングロールとともに微小回転する接触変位計とを備
え、上記多層ダイコータ本体が塗布位置よりもバッキン
グロールから後退したギャップ変位測定位置にあるとき
に上記接触変位計の測定子が上記多層ダイコータ本体の
長手方向の任意の点で上記各先端リップ部に接触しなが
ら微小回転するようにしたことを特徴とする多層ダイコ
ータギャップ変位測定装置。 - 【請求項2】 上記接触変位計からの測定出力信号を自
動記録装置に入力し、測定結果を自動的にグラフ化表示
するようにした請求項1に記載の多層ダイコータギャッ
プ変位測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14906597A JPH10337519A (ja) | 1997-06-06 | 1997-06-06 | 多層ダイコータギャップ変位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14906597A JPH10337519A (ja) | 1997-06-06 | 1997-06-06 | 多層ダイコータギャップ変位測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10337519A true JPH10337519A (ja) | 1998-12-22 |
Family
ID=15466916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14906597A Pending JPH10337519A (ja) | 1997-06-06 | 1997-06-06 | 多層ダイコータギャップ変位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10337519A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014176811A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Chugai Ro Co Ltd | ロールコータ |
| JP2021102177A (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-15 | 株式会社ヒラノテクシード | 刃先調整装置、塗工装置、塗工装置の刃先調整方法 |
| WO2022014948A1 (ko) * | 2020-07-14 | 2022-01-20 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 다이 코터 검사 장치 및 방법 |
| WO2022014945A1 (ko) * | 2020-07-14 | 2022-01-20 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 다이 코터 및 그의 검사 장치 |
| KR20220056056A (ko) * | 2020-10-27 | 2022-05-04 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 다이코터 검사장치 |
-
1997
- 1997-06-06 JP JP14906597A patent/JPH10337519A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014176811A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Chugai Ro Co Ltd | ロールコータ |
| JP2021102177A (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-15 | 株式会社ヒラノテクシード | 刃先調整装置、塗工装置、塗工装置の刃先調整方法 |
| WO2022014948A1 (ko) * | 2020-07-14 | 2022-01-20 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 다이 코터 검사 장치 및 방법 |
| WO2022014945A1 (ko) * | 2020-07-14 | 2022-01-20 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 다이 코터 및 그의 검사 장치 |
| CN115335157A (zh) * | 2020-07-14 | 2022-11-11 | 株式会社Lg新能源 | 模具涂覆机及其检验装置 |
| CN115768565A (zh) * | 2020-07-14 | 2023-03-07 | 株式会社Lg新能源 | 模具涂布机检查装置和方法 |
| US12551921B2 (en) | 2020-07-14 | 2026-02-17 | Lg Energy Solution, Ltd. | Die coater inspection device and method |
| US12594573B2 (en) | 2020-07-14 | 2026-04-07 | Lg Energy Solution, Ltd. | Die coater and inspection device thereof |
| KR20220056056A (ko) * | 2020-10-27 | 2022-05-04 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 다이코터 검사장치 |
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