JPH1038893A - 自動分析装置における検体ラックの搬送方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】安定した位置決め精度で検体ラックの搬送を行
う自動分析装置を提供する。 【解決手段】自動分析装置は、リセットラック２を暫時
ラック搬送ライン３に流し、リセットラック２の搬送中
の１カ所又は複数カ所の理想到達時間と実到達時間との
時間ずれ情報により、検体ラックの位置決め誤差を補償
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は自動分析装置の検体
ラックの搬送方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、複数の分析モジュールを備えた生
化学自動分析システムは、それぞれの分析モジュールに
ラック搬送ラインでラックを搬送する際に、あらかじめ
それぞれの分析モジュールに応じて唯一に計算上決めら
れたラック搬送距離でラックを搬送するものであった。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来技術は、
ラック搬送ライン機構部の製造上の誤差、同じくラック
搬送ライン機構部の経年変化、及びラックの滑り等の影
響で、ラック搬送の長距離化及び高速化に呼応して、ラ
ック搬送の位置精度が低下するという問題を有してい
た。

【０００４】本発明の目的は、ラック搬送の長距離化及
び高速化に対して、安定した位置決め精度を確保するこ
とにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、ラック供給部と、ラック収納部と、前
記ラック供給部と前記ラック収納部の間を結ぶ一つ又は
複数のラック搬送ラインと、前記ラック搬送ラインに接
して並べられた複数の分析モジュールと、ラック搬送を
管理する搬送制御部を有した生化学自動分析システムに
おいて、リセットラックを暫時ラック搬送ラインに流
し、前記リセットラック搬送中の１カ所又は複数カ所の
理想到達時間と実到達時間との時間ずれ情報により、検
体ラックの位置決め誤差を補償する。

【０００６】この特徴により、まず任意の時間間隔で、
ある搬送パターン（搬送距離，搬送速度，搬送加速度
等）によりリセットラックをラック搬送ラインに流す。
次に、リセットラック搬送中の１カ所又は複数カ所の理
想到達時間と実到達時間との時間ずれ量をセンサ等で測
定する。その後、計測で得られた時間ずれ情報によりラ
ックずれ量を推定し、この推定したラックずれ量よりラ
ックずれ補償量を導き出す。最後に、ラックずれ補償量
により搬送パラメータを変更し、位置決め精度を向上さ
せる。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
１を用いて説明する。

【０００８】ラック投入部１に並べられた１番目のリセ
ットラック２は、検体ラック搬送ライン３先端に移載さ
れる。移載されたリセットラック２は図２に示される様
な、検体ラック加速部３０，検体ラック高速搬送部３
１，検体ラック減速部３２，検体ラック低速搬送部３３
の四つの部分より構成される検体ラック駆動パターン３
７で駆動され、検体ラック取込部７へと運ばれる。検体
ラック駆動パターン３７は、検体ラック低速搬送部３３
の中央にある理想ラック検知時間３４でラック検知セン
サ２３の検知が入るように計画されている。リセットラ
ック２を搬送すると、理想的には理想ラック検知時間３
４でラック検知センサ２３の検知が入るはずであるが、
実際には実ラック検知時間３５でラック検知センサ２３
の検知が入る。ここで理想ラック検知時間３４と実ラッ
ク検知時間３５の関数で表されるラックずれ推定量（数
１）を導入する。

【０００９】

【数１】 ラックずれ推定量＝Ｆ₁(理想ラック検知時間，実ラック検知時間) …(数１) ラックずれ推定量の例は、ラックずれ推定量の一例３６
のようなものがあるが、これに限定されるものではな
い。検体ラック搬送ライン３先端から検体ラック取込部
７までの搬送距離３８及び搬送距離３８でのラックずれ
推定量４０を、制御部のメモリに登録する。その後、リ
セットラック２は、検体ラック搬送ライン３上をラック
収納部まで運ばれ、ラック収納部２２に収納される。

【００１０】ラック投入部１に並べられた２番目のリセ
ットラック２は、検体ラック搬送ライン３先端に移載さ
れる。移載されたリセットラック２は図２に示される様
な、検体ラック加速部３０，検体ラック高速搬送部３
１，検体ラック減速部３２，検体ラック低速搬送部３３
の四つの部分より構成される検体ラック駆動パターン３
７で駆動され、検体ラック取込部へと運ばれる。検体ラ
ック駆動パターン３７は、検体ラック低速搬送部３３の
中央にある理想ラック検知時間３４でラック検知センサ
２４の検知が入るように計画されている。リセットラッ
ク２を搬送すると、理想的には理想ラック検知時間３４
でラック検知センサ２４の検知が入るはずであるが、実
際には実ラック検知時間３５でラック検知センサ２４の
検知が入る。ここで理想ラック検知時間３４と実ラック
検知時間３５の関数で表されるラックずれ推定量（数
１）を導入する。ラックずれ推定量の例は、ラックずれ
推定量の一例３６のようなものがあるが、これに限定さ
れるものではない。検体ラック搬送ライン３先端から検
体ラック取込部７までの搬送距離３８及び搬送距離３８
でのラックずれ推定量４０を、制御部のメモリに登録す
る。その後リセットラック２は、検体ラック搬送ライン
３上をラック収納部まで運ばれ、ラック収納部２２に収
納される。

【００１１】ここで、図３に示される様な、ラック搬送
距離の関数で表わされるラックずれ補償量を導入する。
ラックずれ補償量の例は、ラックずれ補償量の一例４２
の様なものがあるが、これに限定されるものではない。
ラックずれ補償量（数２）の関数は、（ラック搬送距離
３８，ラックずれ推定量４０）及び（ラック搬送距離３
９，ラックずれ推定量４１）の情報を使用し、最小２乗
近似を行うことにより、一意的に決定する。

【００１２】

【数２】 ラックズレ補償量＝Ｆ₂（ラック搬送距離） …(数２) 検体ラック搬送ライン３先端から検体ラック取込部７ま
での搬送，検体ラック搬送ライン３先端から検体ラック
取込部１５までの搬送，検体ラック搬出部１３から検体
ラック取込部１５への搬送，検体ラック搬出部１３から
検体ラック収納部２２入口までの搬送、及び検体ラック
搬出部２１から検体ラック収納部２２入口までの搬送
は、まず、それぞれの搬送距離に応じて、（数２）によ
りラックずれ補償量を算出し、それぞれの検体ラック駆
動パターン３７における検体ラック高速搬送部３１に算
出されたラックずれ補償量を加えることで検体ラック２
の位置ずれ補償を行い、これを実際の検体ラック駆動パ
ターン３７として制御部のメモリに登録する。そして、
以後ラックの搬送は、この位置ずれ補償後の検体ラック
駆動パターン３７をそれぞれ使用する。

【００１３】２個のリセットラック２を用いた位置ずれ
補償動作は、装置の出荷前あるいはメンテナンス時など
暫時行う。

【００１４】ラック投入部１に並べられた検体ラック２
は、検体ラック搬送ライン３に移載された後、検体ラッ
ク情報及び検体情報を読み取りポジション４で読み取ら
れる。

【００１５】ラック投入部１の左上流部には、緊急ラッ
ク投入部５がありラック投入部１に検体ラック２がある
状態で緊急ラック投入部５に検体ラック２が置かれた場
合には、ラック投入部１にある検体に優先して緊急ラッ
ク投入部５にある検体が、検体ラック搬送ライン３に移
載される。

【００１６】読み取りの終了した検体ラック２は、分析
モジュール６に設定されている測定項目が検体ラック２
上に並べられた全ての検体に依頼されているかどうかを
装置制御コンピュータにより判断される。もし一つでも
測定依頼がなされている場合には、位置ずれ補償後の検
体ラック駆動パターン３７を使用して分析モジュール６
まで運ばれ、分析モジュール６に設置されている検体ラ
ック取込部７により分析モジュール６内に取り込まれ、
モジュール内のサンプリング部８まで移送された後、サ
ンプリング機構９によって採取された試料は、一定量反
応ディスク１０に分注された後、一定量の試薬が試薬デ
ィスク１１に設置された試薬から試薬サンプリング機構
１２によって分注され、一定時間反応した後、図には明
示されていない光度計によって測定され、測定結果とし
て出力される。分析モジュール６に設定されている測定
項目が第一ポジションにある検体にさらに依頼されてい
る場合には上記のサンプリングを繰り返す。同様に、検
体ラック２上にある全ての検体について分析モジュール
６上に設定されている測定項目のサンプリングが終了す
るまで繰り返される。

【００１７】分析モジュール６での試料サンプリングが
終了した検体ラック２は、検体ラック排出部１３まで運
ばれ、検体ラック排出部１３によって搬送ライン３に戻
される。さらに下流に置かれた分析モジュール１４に設
定されている測定項目が、検体ラック２上に並べられた
全ての検体に依頼されているかどうかが装置制御部のコ
ンピュータにより判別される。もし一つでも測定依頼が
なされている場合には、位置ずれ補償後の検体ラック駆
動パターン３７を使用して分析モジュール１４まで運ば
れ、分析モジュールに設置されている検体ラック取込部
１５によって分析モジュール１４内に取り込まれ、モジ
ュール内のサンプリング部１６まで移送された後、サン
プリング機構１７によって採取された試料は、一定量反
応ディスク１８に分注された後、一定量の試薬が試薬デ
ィスク１９に設置された試薬から試薬サンプリング機構
２０によって分注され、一定時間反応した後、図には明
示されていない光度計によって測定され、測定結果とし
て出力される。分析モジュール１４に設定されている測
定項目が、第１のポジションにある検体にさらに依頼さ
れている場合には、サンプリング動作を繰り返す。同様
に、一つの検体ラック２上にある全ての検体について分
析モジュール上に設定されている測定項目のサンプリン
グが終了するまで繰り返される。

【００１８】分析モジュール１４での試料サンプリング
が終了した検体ラック２は、検体ラック排出部２１まで
運ばれ、検体ラック排出部２１によって検体ラック搬送
ライン３に戻され、検体ラックは検体ラック搬送ライン
３上をラック収納部まで運ばれ、ラック収納部に収納さ
れる。

【００１９】

【発明の効果】本発明によれば、リセットラックを暫時
ラック搬送ラインに流し、リセットラック搬送中の１カ
所又は複数カ所の理想到達時間と実到達時間との時間ず
れ情報により、検体ラックの位置決め誤差を補償するこ
とにより、ラック搬送の長距離化及び高速化に対して、
安定した位置決め精度を確保することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の説明図。

【図２】本発明の速度特性図。

【図３】本発明のラックずれ補償量特性図。

【符号の説明】

１…ラック投入部、２…検体ラック及びリセットラッ
ク、３…検体ラック搬送ライン、４…ラック及び検体Ｉ
Ｄ読み取りポジション、５…緊急ラック投入部、６，１
４…分析モジュール、７，１５…検体ラック取込部、
８，１６…サンプリング部、９，１７…サンプリング機
構、１０，１８…反応ディスク、１１，１９…試薬ディ
スク、１２，２０…試薬サンプリング機構、１３，２１
…検体ラック排出部、２２…ラック収納部、２３，２４
…検体ラック検知センサ、３８，３９…搬送距離。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 甲斐 奨 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内 (72)発明者 塙 雅明 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ラック供給部と、ラック収納部と、前記ラ
   ック供給部と前記ラック収納部の間を結ぶ一つ又は複数
   のラック搬送ラインと、前記ラック搬送ラインに接して
   並べられた複数の分析モジュールと、ラック搬送を管理
   する搬送制御部を有した自動分析装置の検体ラックの搬
   送方法において、リセットラックを暫時前記ラック搬送
   ラインに流し、前記リセットラックの搬送中の１カ所又
   は複数カ所の理想到達時間と実到達時間との時間ずれ情
   報により、検体ラックの位置決め誤差を補償することを
   特徴とする自動分析装置における検体ラックの搬送方
   法。
2. 【請求項２】前記リセットラックを使用する代わりに、
   通常の前記検体ラックの搬送動作中に搬送中の１カ所又
   は複数カ所の理想到達時間と実到達時間との時間ずれ情
   報を得、前記時間ずれ情報により、前記検体ラックの位
   置決め誤差を補償する請求項１に記載の自動分析装置に
   おける検体ラックの搬送方法。