JPH1038940A - 電波暗室及び磁界イミュニティ試験方法 - Google Patents
電波暗室及び磁界イミュニティ試験方法Info
- Publication number
- JPH1038940A JPH1038940A JP8193652A JP19365296A JPH1038940A JP H1038940 A JPH1038940 A JP H1038940A JP 8193652 A JP8193652 A JP 8193652A JP 19365296 A JP19365296 A JP 19365296A JP H1038940 A JPH1038940 A JP H1038940A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- floor
- lifter
- anechoic chamber
- magnetic
- magnetic field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電波暗室で要求されている性能(電磁界シー
ルド性能,サイトアッテネーション(測定場における送
受信アンテナ間の伝搬損失)性能)を維持しつつ磁界イ
ミュニティ試験を容易に行えるようにする。 【解決手段】 電磁波を吸収する壁面及び天井面を備え
た電波暗室であって、被試験物の底面の縦横より所定の
値以上大きい範囲について床面の一部を非磁性体の材料
41で構成したことを特徴とする電波暗室。
ルド性能,サイトアッテネーション(測定場における送
受信アンテナ間の伝搬損失)性能)を維持しつつ磁界イ
ミュニティ試験を容易に行えるようにする。 【解決手段】 電磁波を吸収する壁面及び天井面を備え
た電波暗室であって、被試験物の底面の縦横より所定の
値以上大きい範囲について床面の一部を非磁性体の材料
41で構成したことを特徴とする電波暗室。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁界妨害耐性(磁界
イミュニティ)試験を行う場合の試験方法及び試験を行
う電波暗室に関する。
イミュニティ)試験を行う場合の試験方法及び試験を行
う電波暗室に関する。
【0002】
【従来の技術】各種の電子機器が発生する電磁波が、他
の電子機器の機能に障害(Electromagnetic Interferen
ce: EMI)を与えることが問題となっている。
の電子機器の機能に障害(Electromagnetic Interferen
ce: EMI)を与えることが問題となっている。
【0003】この種の問題の解決のためには、電子機
器から発生する電磁波(電磁妨害波)の輻射を規制する
こと、及び、電磁妨害波が存在する環境において、機
器,装置またはシステムが性能劣化なしに動作すること
ができる能力(イミュニティ)を備えること、の2点が
重要である。
器から発生する電磁波(電磁妨害波)の輻射を規制する
こと、及び、電磁妨害波が存在する環境において、機
器,装置またはシステムが性能劣化なしに動作すること
ができる能力(イミュニティ)を備えること、の2点が
重要である。
【0004】以上のEMIやイミュニティなどの試験を
総称してEMC(ElectromagneticCompatibility:電磁
適合性)試験と呼んでおり、このような試験のために電
波暗室が用いられる。
総称してEMC(ElectromagneticCompatibility:電磁
適合性)試験と呼んでおり、このような試験のために電
波暗室が用いられる。
【0005】この種の電波暗室は、図8に示すように、
全体がシールド材11で囲まれており、壁面及び天井面
に電磁波吸収体12を使用している。また、床面にも電
波吸収体を使用した電波暗室もある。また、以上の試験
においては広帯域の電磁波が測定されるが、一般的には
MHzやGHzのオーダーの電磁波が対象となってい
る。
全体がシールド材11で囲まれており、壁面及び天井面
に電磁波吸収体12を使用している。また、床面にも電
波吸収体を使用した電波暗室もある。また、以上の試験
においては広帯域の電磁波が測定されるが、一般的には
MHzやGHzのオーダーの電磁波が対象となってい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、近年、電源周
波数における磁界イミュニティ試験についても国際規格
が発行されたため、配慮する必要が生じてきている。
波数における磁界イミュニティ試験についても国際規格
が発行されたため、配慮する必要が生じてきている。
【0007】ところで、IEC(国際電気標準会議)で
定められた電源周波数における磁界イミュニティ試験で
は、被試験物を磁性体から最低でも1m以上離すことが
定められている。
定められた電源周波数における磁界イミュニティ試験で
は、被試験物を磁性体から最低でも1m以上離すことが
定められている。
【0008】ところが、電波暗室の床面は強度が必要と
されるため、シールド材として鉄やフェライトといった
磁性体材料が使用されていることがある。従って、この
ような状況で電源周波数における磁界イミュニティ試験
を行う場合には、図8に示すように、電波暗室内に1m
の高さを有する非磁性体の支持台(木製の机等)30を
用意して、この支持台30の上に被試験物20を載置す
る必要がある。
されるため、シールド材として鉄やフェライトといった
磁性体材料が使用されていることがある。従って、この
ような状況で電源周波数における磁界イミュニティ試験
を行う場合には、図8に示すように、電波暗室内に1m
の高さを有する非磁性体の支持台(木製の机等)30を
用意して、この支持台30の上に被試験物20を載置す
る必要がある。
【0009】また、被試験物が重量物であったり、床置
きのものである場合には、磁性体の床を有する電波暗室
内で試験を行うことができないため、無筋コンクリート
床の別な部屋(例えば、電波暗室の外)に移動して試験
していた。
きのものである場合には、磁性体の床を有する電波暗室
内で試験を行うことができないため、無筋コンクリート
床の別な部屋(例えば、電波暗室の外)に移動して試験
していた。
【0010】しかし、被試験物が重量物の場合には、移
動と設置とに大変な労力を必要とする。例えば、医用機
器のCT装置やMRI装置では、移動と設置及び撤去に
半日を要することもある。
動と設置とに大変な労力を必要とする。例えば、医用機
器のCT装置やMRI装置では、移動と設置及び撤去に
半日を要することもある。
【0011】本発明は上記問題を解決するためになされ
たもので、その目的は、電波暗室で要求されている性能
(電磁界シールド性能,サイトアッテネーション(測定
場における送受信アンテナ間の伝搬損失)性能)を維持
しつつ磁界イミュニティ試験を容易に行える電波暗室及
び試験方法を実現することである。
たもので、その目的は、電波暗室で要求されている性能
(電磁界シールド性能,サイトアッテネーション(測定
場における送受信アンテナ間の伝搬損失)性能)を維持
しつつ磁界イミュニティ試験を容易に行える電波暗室及
び試験方法を実現することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】従って、課題を解決する
手段である本発明は以下に説明するように構成されたも
のである。
手段である本発明は以下に説明するように構成されたも
のである。
【0013】(1)第1の発明は、電磁波を吸収する壁
面及び天井面を備えた電波暗室であって、被試験物の底
面の縦横より所定の値以上大きい範囲について床面の一
部を非磁性体の材料で構成したことを特徴とする電波暗
室である。
面及び天井面を備えた電波暗室であって、被試験物の底
面の縦横より所定の値以上大きい範囲について床面の一
部を非磁性体の材料で構成したことを特徴とする電波暗
室である。
【0014】この第1の発明の電波暗室では、被試験物
の底面の縦横より所定の値以上大きい範囲について床面
の一部を非磁性体の材料で構成したことにより、所定の
値以上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。
の底面の縦横より所定の値以上大きい範囲について床面
の一部を非磁性体の材料で構成したことにより、所定の
値以上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。
【0015】(2)第2の発明は、電磁波を吸収する壁
面及び天井面を備えた電波暗室であって、少なくとも被
試験物の底面と等しい面積の載置面を有し、載置面の下
方向に所定の値以上の部分を非磁性体の材料で構成され
たことを特徴とする電波暗室である。
面及び天井面を備えた電波暗室であって、少なくとも被
試験物の底面と等しい面積の載置面を有し、載置面の下
方向に所定の値以上の部分を非磁性体の材料で構成され
たことを特徴とする電波暗室である。
【0016】この第2の発明の電波暗室では、被試験物
の底面積が大きいために被試験物を電波暗室の床面から
所定の値だけ離すことができない場合でも、載置面の下
方向に所定の値の部分を非磁性体で構成しているので、
被試験物を床面より上昇させることにより、所定の値以
上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。
の底面積が大きいために被試験物を電波暗室の床面から
所定の値だけ離すことができない場合でも、載置面の下
方向に所定の値の部分を非磁性体で構成しているので、
被試験物を床面より上昇させることにより、所定の値以
上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。
【0017】(3)第3の発明は、非磁性体で構成され
たリフタを床面の一部に備えた電波暗室内で磁界イミュ
ニティ試験を行う磁界イミュニティ試験方法であって、
リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上に所定の絶縁物
支持材を載置し、前記絶縁物支持材の上面が床面と同じ
高さになるまでリフタを下降させ、前記絶縁物支持材の
上面に床置き用の被試験物を載置し、前記被試験物と前
記絶縁物支持材とを載置した状態でリフタを床面と同じ
高さになるまでリフタを上昇させ、前記床置き用の被試
験物の磁界イミュニティ試験を行うことを特徴とする磁
界イミュニティ試験方法である。
たリフタを床面の一部に備えた電波暗室内で磁界イミュ
ニティ試験を行う磁界イミュニティ試験方法であって、
リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上に所定の絶縁物
支持材を載置し、前記絶縁物支持材の上面が床面と同じ
高さになるまでリフタを下降させ、前記絶縁物支持材の
上面に床置き用の被試験物を載置し、前記被試験物と前
記絶縁物支持材とを載置した状態でリフタを床面と同じ
高さになるまでリフタを上昇させ、前記床置き用の被試
験物の磁界イミュニティ試験を行うことを特徴とする磁
界イミュニティ試験方法である。
【0018】この第3の発明の磁界イミュニティ試験方
法では、まず、リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上
に所定の絶縁物支持材を載置し、前記絶縁物支持材の上
面が床面と同じ高さになるまでリフタを下降させ、この
ようにして床面と同じ高さになった前記絶縁物支持材の
上面に床置き用の被試験物を載置し、前記被試験物と前
記絶縁物支持材とを載置した状態でリフタを床面と同じ
高さになるまでリフタを上昇させ、この状態で前記床置
き用の被試験物の磁界イミュニティ試験を行うようにす
る。
法では、まず、リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上
に所定の絶縁物支持材を載置し、前記絶縁物支持材の上
面が床面と同じ高さになるまでリフタを下降させ、この
ようにして床面と同じ高さになった前記絶縁物支持材の
上面に床置き用の被試験物を載置し、前記被試験物と前
記絶縁物支持材とを載置した状態でリフタを床面と同じ
高さになるまでリフタを上昇させ、この状態で前記床置
き用の被試験物の磁界イミュニティ試験を行うようにす
る。
【0019】床置き機器については、所定の高さの絶縁
物支持材に被試験物を載置して磁界イミュニティ試験を
行うことが定められているため、まず、リフタを床面と
同じ高さにしてリフタ上に所定の絶縁物支持材を載置す
ることで、絶縁物支持材の移動が容易になり、更に、絶
縁物支持材の上面が床面と同じ高さになるまでリフタを
下降させ、このようにして床面と同じ高さになった前記
絶縁物支持材の上面に床置き用の被試験物を載置するこ
とで、被試験物の移動が容易になる。
物支持材に被試験物を載置して磁界イミュニティ試験を
行うことが定められているため、まず、リフタを床面と
同じ高さにしてリフタ上に所定の絶縁物支持材を載置す
ることで、絶縁物支持材の移動が容易になり、更に、絶
縁物支持材の上面が床面と同じ高さになるまでリフタを
下降させ、このようにして床面と同じ高さになった前記
絶縁物支持材の上面に床置き用の被試験物を載置するこ
とで、被試験物の移動が容易になる。
【0020】(4)第4の発明は、非磁性体で構成され
たリフタを床面の一部に備えた電波暗室内で磁界イミュ
ニティ試験を行う磁界イミュニティ試験方法であって、
リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上に被試験物を載
置し、床面とリフタの被試験物載置面との距離が、被試
験物と磁性体とを離すよう定められた所定の値に達する
まで、被試験物を載置したリフタを上昇させ、前記被試
験物の磁界イミュニティ試験を行うことを特徴とする磁
界イミュニティ試験方法である。
たリフタを床面の一部に備えた電波暗室内で磁界イミュ
ニティ試験を行う磁界イミュニティ試験方法であって、
リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上に被試験物を載
置し、床面とリフタの被試験物載置面との距離が、被試
験物と磁性体とを離すよう定められた所定の値に達する
まで、被試験物を載置したリフタを上昇させ、前記被試
験物の磁界イミュニティ試験を行うことを特徴とする磁
界イミュニティ試験方法である。
【0021】この第4の発明の磁界イミュニティ試験方
法では、まず、リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上
に被試験物を載置し、床面とリフタの被試験物載置面と
の距離が、被試験物と磁性体とを離すよう定められた所
定の値に達するまでリフタを上昇させ、この状態で前記
床置き用の被試験物の磁界イミュニティ試験を行うよう
にする。
法では、まず、リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上
に被試験物を載置し、床面とリフタの被試験物載置面と
の距離が、被試験物と磁性体とを離すよう定められた所
定の値に達するまでリフタを上昇させ、この状態で前記
床置き用の被試験物の磁界イミュニティ試験を行うよう
にする。
【0022】このように、非磁性体で構成されたリフタ
を、被試験物と磁性体とを離すよう定められた所定の値
に達するまで上昇させることで、被試験物を磁性体の暗
室床面から所定の距離だけ離すことができる。従って、
リフタの載置面と同程度の底面を有する大型の被試験物
を試験することが可能になる。
を、被試験物と磁性体とを離すよう定められた所定の値
に達するまで上昇させることで、被試験物を磁性体の暗
室床面から所定の距離だけ離すことができる。従って、
リフタの載置面と同程度の底面を有する大型の被試験物
を試験することが可能になる。
【0023】(5)また、上述した第2の発明の変形例
としての発明は、電磁波を吸収する壁面及び天井面を備
えた電波暗室であって、少なくとも被試験物の底面と等
しい面積の載置面を有し、載置面の下方向に所定の値以
上の部分を非磁性体の材料で構成され、床面より上昇可
能なリフタを備えたことを特徴とする電波暗室である。
としての発明は、電磁波を吸収する壁面及び天井面を備
えた電波暗室であって、少なくとも被試験物の底面と等
しい面積の載置面を有し、載置面の下方向に所定の値以
上の部分を非磁性体の材料で構成され、床面より上昇可
能なリフタを備えたことを特徴とする電波暗室である。
【0024】この発明の電波暗室では、被試験物の底面
積が大きいために被試験物を電波暗室の床面から所定の
値だけ離すことができない場合でも、載置面の下方向に
所定の値の部分を非磁性体で構成しているので、リフタ
により被試験物を床面より上昇させることにより、所定
の値以上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。
積が大きいために被試験物を電波暗室の床面から所定の
値だけ離すことができない場合でも、載置面の下方向に
所定の値の部分を非磁性体で構成しているので、リフタ
により被試験物を床面より上昇させることにより、所定
の値以上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態例を詳細に説明する。 <第1の実施の形態例>ここで、図1は本発明の第1の
実施の形態例としての電波暗室の概略構成を示す断面
図、図2は本発明の一実施の形態例としての電波暗室の
概略構成を示す平面図である。
施の形態例を詳細に説明する。 <第1の実施の形態例>ここで、図1は本発明の第1の
実施の形態例としての電波暗室の概略構成を示す断面
図、図2は本発明の一実施の形態例としての電波暗室の
概略構成を示す平面図である。
【0026】これらの図において、10は電波暗室であ
り、鉄などの磁性体のシールド材11で全体(天井,床
面,壁面)を囲まれている。そして、天井及び壁面に
は、タイル,くさび形状あるいはピラミッド形状などの
各種の電磁波吸収材12が設けられている。
り、鉄などの磁性体のシールド材11で全体(天井,床
面,壁面)を囲まれている。そして、天井及び壁面に
は、タイル,くさび形状あるいはピラミッド形状などの
各種の電磁波吸収材12が設けられている。
【0027】尚、壁面や天井面のシールド材11につい
ては磁性体でないこともあるが、電波暗室の床面は強度
が必要とされるために鉄やフェライトといった磁性体材
料が使用されている。
ては磁性体でないこともあるが、電波暗室の床面は強度
が必要とされるために鉄やフェライトといった磁性体材
料が使用されている。
【0028】また、鉄などの磁性体のシールド材11で
構成された床面13の一部に非磁性体床部41を備えて
いる。尚、非磁性体床部41の大きさについては、被試
験物20の底面より所定の値以上大きくなるように定め
る。尚、この所定の値とは、IECで定めた電源周波数
における磁界イミュニティ試験の場合における被試験物
と磁性体と離す距離(最低でも1m以上)を意味する。
従って、図2に示す例では、被試験物20の底面端と非
磁性体床部41端との間隔a〜dが1m以上となるよう
に、非磁性体床部41の大きさを決定する。また、非磁
性体床部42の下方向にも下方向も、非磁性体で構成し
ておく。例えば、コンクリートの場合には鉄筋や鉄骨を
使用しないように配慮しておく。
構成された床面13の一部に非磁性体床部41を備えて
いる。尚、非磁性体床部41の大きさについては、被試
験物20の底面より所定の値以上大きくなるように定め
る。尚、この所定の値とは、IECで定めた電源周波数
における磁界イミュニティ試験の場合における被試験物
と磁性体と離す距離(最低でも1m以上)を意味する。
従って、図2に示す例では、被試験物20の底面端と非
磁性体床部41端との間隔a〜dが1m以上となるよう
に、非磁性体床部41の大きさを決定する。また、非磁
性体床部42の下方向にも下方向も、非磁性体で構成し
ておく。例えば、コンクリートの場合には鉄筋や鉄骨を
使用しないように配慮しておく。
【0029】この場合、非磁性体床部41については、
非磁性体であると共にシールド材であることが必要であ
る。従って、銅,アルミ,非磁性体のステンレス等の材
質、又は高剛性のエンジニアリングプラスチックに前記
金属を塗布あるいはコーティングした材質が使用可能で
ある。強度とシールド性との両立の点からは、SUS3
16のステンレス材を使用することが好ましい。
非磁性体であると共にシールド材であることが必要であ
る。従って、銅,アルミ,非磁性体のステンレス等の材
質、又は高剛性のエンジニアリングプラスチックに前記
金属を塗布あるいはコーティングした材質が使用可能で
ある。強度とシールド性との両立の点からは、SUS3
16のステンレス材を使用することが好ましい。
【0030】以上のように、被試験物の底面の縦横より
所定の値以上大きい範囲について床面(磁性体)の一部
を非磁性体の材料で構成したことにより、非磁性体の支
持台を用いなくても所定の値以上被試験物20を磁性体
から離すことが可能になる。
所定の値以上大きい範囲について床面(磁性体)の一部
を非磁性体の材料で構成したことにより、非磁性体の支
持台を用いなくても所定の値以上被試験物20を磁性体
から離すことが可能になる。
【0031】従って、被試験物20を非磁性体床部41
上に載置するだけで、電波暗室で要求されている性能を
何等変更することなく、電源周波数の磁界イミュニティ
試験が容易に行えるようになる。
上に載置するだけで、電波暗室で要求されている性能を
何等変更することなく、電源周波数の磁界イミュニティ
試験が容易に行えるようになる。
【0032】<第2の実施の形態例>次に、本発明の第
2の実施の形態例を説明する。ここで、図3は本発明の
第2の実施の形態例としての磁界イミュニティ試験方法
の処理手順を示すフローチャートであり、図4は本発明
の第2の実施の形態例としての電波暗室の概略構成を示
す断面図である。
2の実施の形態例を説明する。ここで、図3は本発明の
第2の実施の形態例としての磁界イミュニティ試験方法
の処理手順を示すフローチャートであり、図4は本発明
の第2の実施の形態例としての電波暗室の概略構成を示
す断面図である。
【0033】まず、図4を参照してこの実施の形態例の
電波暗室の構成について説明する。これらの図におい
て、10は電波暗室であり、鉄などの磁性体のシールド
材11で全体(天井,床面,壁面)を囲まれている。そ
して、天井及び壁面には、タイル,くさび形状あるいは
ピラミッド形状などの各種の電磁波吸収材12が設けら
れている。
電波暗室の構成について説明する。これらの図におい
て、10は電波暗室であり、鉄などの磁性体のシールド
材11で全体(天井,床面,壁面)を囲まれている。そ
して、天井及び壁面には、タイル,くさび形状あるいは
ピラミッド形状などの各種の電磁波吸収材12が設けら
れている。
【0034】鉄などの磁性体のシールド材11で構成さ
れた床面13の一部に穴が設けられており、この穴の中
には非磁性体の材質で構成されたリフタ40が設けられ
ている。
れた床面13の一部に穴が設けられており、この穴の中
には非磁性体の材質で構成されたリフタ40が設けられ
ている。
【0035】尚、このリフタ40は、電波暗室10の階
下に設けられた別室から電波暗室10に機器を移動させ
るため、又はその逆に電波暗室から階下の別室に移動さ
せるために使用するものである。但し、図4では階下の
別室などについては詳細な構成を省略する。
下に設けられた別室から電波暗室10に機器を移動させ
るため、又はその逆に電波暗室から階下の別室に移動さ
せるために使用するものである。但し、図4では階下の
別室などについては詳細な構成を省略する。
【0036】リフタ40は昇降可能なテーブル42を備
えており、このテーブル42に被試験物20を載置した
状態で、床面13と同じ高さにしたり、上昇あるいは下
降させることが可能である。
えており、このテーブル42に被試験物20を載置した
状態で、床面13と同じ高さにしたり、上昇あるいは下
降させることが可能である。
【0037】また、このリフタ40は非磁性体の材質で
構成されているので、磁界に影響を与えることはない。
そして、磁界イミュニティ試験に影響を与えるようなも
の(磁界を発生するものだけでなく、磁界の分布を乱す
ようなもの)、例えば磁気的な結合を生じるようなもの
(コイル等)を有しないことが好ましい。
構成されているので、磁界に影響を与えることはない。
そして、磁界イミュニティ試験に影響を与えるようなも
の(磁界を発生するものだけでなく、磁界の分布を乱す
ようなもの)、例えば磁気的な結合を生じるようなもの
(コイル等)を有しないことが好ましい。
【0038】尚、テーブル42の大きさについては、図
2で説明したように、被試験物20の底面より所定の値
以上大きくなるように定める。尚、この所定の値とは、
IECで定めた電源周波数における磁界イミュニティ試
験の場合における被試験物と磁性体と離す距離(最低で
も1m以上)を意味する。
2で説明したように、被試験物20の底面より所定の値
以上大きくなるように定める。尚、この所定の値とは、
IECで定めた電源周波数における磁界イミュニティ試
験の場合における被試験物と磁性体と離す距離(最低で
も1m以上)を意味する。
【0039】この場合、テーブル42については、非磁
性体であると共にシールド材であることが必要である。
従って、銅,アルミ,非磁性体のステンレス等の材質、
又は高剛性のエンジニアリングプラスチックに前記金属
を塗布あるいはコーティングした材質が使用可能であ
る。強度とシールド性との両立の点から、SUS316
のステンレス材を使用することが好ましい。
性体であると共にシールド材であることが必要である。
従って、銅,アルミ,非磁性体のステンレス等の材質、
又は高剛性のエンジニアリングプラスチックに前記金属
を塗布あるいはコーティングした材質が使用可能であ
る。強度とシールド性との両立の点から、SUS316
のステンレス材を使用することが好ましい。
【0040】また、リフタ40についても、下方向に少
なくとも上記所定の値については、非磁性体で構成して
おく。尚、このリフタ40については、図4に示す初期
位置でテーブル42が停止している状態では、非磁性体
のテーブル42が電波暗室のシールド性能を維持する機
能をも有している。
なくとも上記所定の値については、非磁性体で構成して
おく。尚、このリフタ40については、図4に示す初期
位置でテーブル42が停止している状態では、非磁性体
のテーブル42が電波暗室のシールド性能を維持する機
能をも有している。
【0041】以上のように、被試験物の底面の縦横より
所定の値以上大きい範囲について床面(磁性体)の一部
を非磁性体の材料で構成したことにより、非磁性体の支
持台を用いなくても所定の値以上被試験物20を磁性体
から離すことが可能になる。
所定の値以上大きい範囲について床面(磁性体)の一部
を非磁性体の材料で構成したことにより、非磁性体の支
持台を用いなくても所定の値以上被試験物20を磁性体
から離すことが可能になる。
【0042】従って、被試験物20をテーブル42上に
載置するだけで、電波暗室で要求されている性能を維持
しつつ電源周波数の磁界イミュニティ試験が容易に行え
るようになる。
載置するだけで、電波暗室で要求されている性能を維持
しつつ電源周波数の磁界イミュニティ試験が容易に行え
るようになる。
【0043】ここで、図3のフローチャートを参照して
電波暗室における磁界イミュニティ試験の手順を説明す
る。この実施の形態例では、IEC1000−4−8試
験について床置き機器を用いて行う場合を例にして説明
を行う。尚、この試験では、床置き機器については、所
定の高さの絶縁物支持材上に被試験物を載置してから試
験を行うことが定められている。
電波暗室における磁界イミュニティ試験の手順を説明す
る。この実施の形態例では、IEC1000−4−8試
験について床置き機器を用いて行う場合を例にして説明
を行う。尚、この試験では、床置き機器については、所
定の高さの絶縁物支持材上に被試験物を載置してから試
験を行うことが定められている。
【0044】まず、初期調整として、テーブル42(リ
フタ載置面)が電波暗室の床面13と同じ高さになるよ
うにリフタ40を動作させる(図3S1,S2)。尚、
通常の場合は、初期状態でテーブル42と床面13とは
同じ高さになっている。
フタ載置面)が電波暗室の床面13と同じ高さになるよ
うにリフタ40を動作させる(図3S1,S2)。尚、
通常の場合は、初期状態でテーブル42と床面13とは
同じ高さになっている。
【0045】そして、テーブル42上に所定の高さの絶
縁物支持材31を載置する(図3S3)。この所定の高
さの絶縁物支持材31とは、IEC1000−4−8試
験で要求されるものであり、床置き機器を試験する場合
に床と被試験物との間に配置する10cmの高さの絶縁
物の支持材のことである。
縁物支持材31を載置する(図3S3)。この所定の高
さの絶縁物支持材31とは、IEC1000−4−8試
験で要求されるものであり、床置き機器を試験する場合
に床と被試験物との間に配置する10cmの高さの絶縁
物の支持材のことである。
【0046】テーブル42上に絶縁物支持材31を載置
した後、リフタ40を下降させ(図3S4)、絶縁物支
持材31の上面が電波暗室の床面13と同じ高さになる
ようにリフタ40の下降を制御する(図3S5)。
した後、リフタ40を下降させ(図3S4)、絶縁物支
持材31の上面が電波暗室の床面13と同じ高さになる
ようにリフタ40の下降を制御する(図3S5)。
【0047】ここで絶縁物支持材31の上面に、被試験
物20を載置する(図3S6)。この状態では絶縁物支
持材31の上面が電波暗室の床面13と同じ高さである
ので、床面13に載置された大型の被試験物20を滑ら
すように移動させることで、被試験物20を容易に絶縁
物支持材31上に移動させることができる。
物20を載置する(図3S6)。この状態では絶縁物支
持材31の上面が電波暗室の床面13と同じ高さである
ので、床面13に載置された大型の被試験物20を滑ら
すように移動させることで、被試験物20を容易に絶縁
物支持材31上に移動させることができる。
【0048】そして、リフタ40を上昇させ(図3S
7)、テーブル42が床面13と同じ高さになるように
リフタ40を動作させる(図3S8)。リフタ40の動
作が完了した時点(図2に示す状態)で、規則に定めら
れた手順に従って磁界イミュニティ試験を実行する(図
3S9)。この磁界イミュニティ試験では、図示してい
ない誘導コイルを電波暗室10内に配置して電源周波数
の磁界を発生させ、被試験物20が磁界を受けた状態で
機能を維持できるかを調べる。
7)、テーブル42が床面13と同じ高さになるように
リフタ40を動作させる(図3S8)。リフタ40の動
作が完了した時点(図2に示す状態)で、規則に定めら
れた手順に従って磁界イミュニティ試験を実行する(図
3S9)。この磁界イミュニティ試験では、図示してい
ない誘導コイルを電波暗室10内に配置して電源周波数
の磁界を発生させ、被試験物20が磁界を受けた状態で
機能を維持できるかを調べる。
【0049】以上のような手順で磁界イミュニティ試験
を行うことで、 床置きの重量物について、非磁性体の机等を用いなく
ても所定の値以上被試験物20を磁性体から離すことが
可能になる。 所定の高さの絶縁物支持材を使用する場合にも、リフ
タの昇降を利用して絶縁物支持材の上面が床面と等しい
高さになるようにしてから被試験物を移動させているの
で、重量物の設置が極めて容易になる。
を行うことで、 床置きの重量物について、非磁性体の机等を用いなく
ても所定の値以上被試験物20を磁性体から離すことが
可能になる。 所定の高さの絶縁物支持材を使用する場合にも、リフ
タの昇降を利用して絶縁物支持材の上面が床面と等しい
高さになるようにしてから被試験物を移動させているの
で、重量物の設置が極めて容易になる。
【0050】従って、電波暗室で要求されている性能を
維持しつつ電源周波数の磁界イミュニティ試験が容易に
行えるようになる。 <第3の実施の形態例>次に、本発明の第3の実施の形
態例を図5及び図6を参照して説明する。尚、ここで
は、比較的大型の機器をテーブル42上に載置する実施
の形態例を説明するものとし、図2の場合とは異なり、
テーブル42の載置面一杯の底面を有する被試験物を載
置する場合を例にする。
維持しつつ電源周波数の磁界イミュニティ試験が容易に
行えるようになる。 <第3の実施の形態例>次に、本発明の第3の実施の形
態例を図5及び図6を参照して説明する。尚、ここで
は、比較的大型の機器をテーブル42上に載置する実施
の形態例を説明するものとし、図2の場合とは異なり、
テーブル42の載置面一杯の底面を有する被試験物を載
置する場合を例にする。
【0051】まず、テーブル42上に絶縁物支持材31
を載置(図5S1〜3)した後、絶縁物支持材31を床
面13と同じ高さにする(図5S4〜5)。そして、絶
縁物支持材31の上面に、被試験物20を載置する(図
5S6)。この状態では絶縁物支持材31の上面が電波
暗室の床面13と同じ高さであるので、床面13に載置
された大型の被試験物20を滑らすように移動させるこ
とで、被試験物20を容易に絶縁物支持材31上に移動
させることができる。
を載置(図5S1〜3)した後、絶縁物支持材31を床
面13と同じ高さにする(図5S4〜5)。そして、絶
縁物支持材31の上面に、被試験物20を載置する(図
5S6)。この状態では絶縁物支持材31の上面が電波
暗室の床面13と同じ高さであるので、床面13に載置
された大型の被試験物20を滑らすように移動させるこ
とで、被試験物20を容易に絶縁物支持材31上に移動
させることができる。
【0052】尚、この実施の形態例で使用する被試験物
20は大型のものであり、テーブル42が床面と同じ高
さにある場合には、被試験物と磁性体(床面13)との
距離は、IECで定めた磁界イミュニティ試験の規定を
満たさない状態になっている。
20は大型のものであり、テーブル42が床面と同じ高
さにある場合には、被試験物と磁性体(床面13)との
距離は、IECで定めた磁界イミュニティ試験の規定を
満たさない状態になっている。
【0053】そこで、図6に示すようにリフタ40を上
昇させ、テーブル42の載置面が床面13から所定の距
離h(1m)以上離れるようにする(図5S7〜S
8)。リフタ40の動作が完了した時点(図6に示す状
態)で、規則に定められた手順に従って磁界イミュニテ
ィ試験を実行する(図5S9)。この磁界イミュニティ
試験では、図示していない誘導コイルを電波暗室10内
に配置して電源周波数の磁界を発生させ、被試験物20
が磁界を受けた状態で機能を維持できるかを調べる。
昇させ、テーブル42の載置面が床面13から所定の距
離h(1m)以上離れるようにする(図5S7〜S
8)。リフタ40の動作が完了した時点(図6に示す状
態)で、規則に定められた手順に従って磁界イミュニテ
ィ試験を実行する(図5S9)。この磁界イミュニティ
試験では、図示していない誘導コイルを電波暗室10内
に配置して電源周波数の磁界を発生させ、被試験物20
が磁界を受けた状態で機能を維持できるかを調べる。
【0054】以上のような手順で磁界イミュニティ試験
を行うことで、 床置きの大型機器について、非磁性体の机等を用いな
くても所定の値以上被試験物20を磁性体から離すこと
が可能になる。 所定の高さの絶縁物支持材を使用する場合にも、リフ
タの昇降を利用して絶縁物支持材の上面が床面と等しい
高さになるようにしてから被試験物を移動させているの
で、重量物の設置が極めて容易になる。 テーブル42を上昇させて磁性体の床面13から所定
距離だけ離すようにしているので、非磁性体のテーブル
42の大きさを最大限有効に使うことができる。
を行うことで、 床置きの大型機器について、非磁性体の机等を用いな
くても所定の値以上被試験物20を磁性体から離すこと
が可能になる。 所定の高さの絶縁物支持材を使用する場合にも、リフ
タの昇降を利用して絶縁物支持材の上面が床面と等しい
高さになるようにしてから被試験物を移動させているの
で、重量物の設置が極めて容易になる。 テーブル42を上昇させて磁性体の床面13から所定
距離だけ離すようにしているので、非磁性体のテーブル
42の大きさを最大限有効に使うことができる。
【0055】従って、電波暗室で要求されている性能を
維持しつつ電源周波数の磁界イミュニティ試験が容易に
行えるようになる。 <その他の実施の形態例>尚、上述した第1の実施の形
態例における非磁性体床部41を、回動可能なターンテ
ーブルの一部として構成することも可能である。電波暗
室内の各種試験はターンテーブル上で行うことが多いた
め、このようにターンテーブルの一部を非磁性体床部4
1で構成することで、他の試験から磁界イミュニティ試
験への移行が極めて容易になる。
維持しつつ電源周波数の磁界イミュニティ試験が容易に
行えるようになる。 <その他の実施の形態例>尚、上述した第1の実施の形
態例における非磁性体床部41を、回動可能なターンテ
ーブルの一部として構成することも可能である。電波暗
室内の各種試験はターンテーブル上で行うことが多いた
め、このようにターンテーブルの一部を非磁性体床部4
1で構成することで、他の試験から磁界イミュニティ試
験への移行が極めて容易になる。
【0056】また、上述した第2及び第3の実施の形態
例において、テーブル42を上昇させた場合に床面13
に穴が開いた状態になることを防止するために、テーブ
ル42の下に底板43を設けることも可能である。
例において、テーブル42を上昇させた場合に床面13
に穴が開いた状態になることを防止するために、テーブ
ル42の下に底板43を設けることも可能である。
【0057】すなわち、図7に示すように、高さhにテ
ーブル42を上昇させた際に、リフタに設けられた底板
43が床部13と同じ高さになるようにすればよい。
尚、この底板43も非磁性体で構成しておくことが好ま
しく、シールド性を有するようにSUS316などで構
成することが更に好ましい。尚、テーブル42と底板4
3とが高さh以上離れている場合には、底板43は磁性
体で構成しても問題はない。
ーブル42を上昇させた際に、リフタに設けられた底板
43が床部13と同じ高さになるようにすればよい。
尚、この底板43も非磁性体で構成しておくことが好ま
しく、シールド性を有するようにSUS316などで構
成することが更に好ましい。尚、テーブル42と底板4
3とが高さh以上離れている場合には、底板43は磁性
体で構成しても問題はない。
【0058】また、上記の第1〜第3の各実施の形態例
の電波暗室の非磁性体床部41及びテーブル42をEM
C試験用のシールドルームに応用することも可能であ
る。更に、このように応用したシールドルームにおい
て、上述したように非磁性体床部41をターンテーブル
の一部として構成することも可能である。
の電波暗室の非磁性体床部41及びテーブル42をEM
C試験用のシールドルームに応用することも可能であ
る。更に、このように応用したシールドルームにおい
て、上述したように非磁性体床部41をターンテーブル
の一部として構成することも可能である。
【0059】
【発明の効果】以上実施の形態例と共に詳細に説明した
ように、この明細書記載の各発明によれば以下のような
効果が得られる。
ように、この明細書記載の各発明によれば以下のような
効果が得られる。
【0060】(1)第1の発明の電波暗室は、被試験物
の底面の縦横より所定の値以上大きい範囲について床面
の一部を非磁性体の材料で構成したことにより、所定の
値以上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。従
って、電波暗室で要求されている性能を維持しつつ磁界
イミュニティ試験を容易に行えるようになる。
の底面の縦横より所定の値以上大きい範囲について床面
の一部を非磁性体の材料で構成したことにより、所定の
値以上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。従
って、電波暗室で要求されている性能を維持しつつ磁界
イミュニティ試験を容易に行えるようになる。
【0061】(2)第2の発明の電波暗室は、被試験物
の底面積が大きいために被試験物を電波暗室の床面から
所定の値だけ離すことができない場合でも、載置面の下
方向に所定の値の部分を非磁性体で構成しているので、
被試験物を床面より上昇させることにより、所定の値以
上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。従っ
て、電波暗室で要求されている性能を維持しつつ磁界イ
ミュニティ試験を容易に行えるようになる。
の底面積が大きいために被試験物を電波暗室の床面から
所定の値だけ離すことができない場合でも、載置面の下
方向に所定の値の部分を非磁性体で構成しているので、
被試験物を床面より上昇させることにより、所定の値以
上被試験物と磁性体とを離すことが可能になる。従っ
て、電波暗室で要求されている性能を維持しつつ磁界イ
ミュニティ試験を容易に行えるようになる。
【0062】(3)第3の発明の磁界イミュニティ試験
方法では、床置き機器については所定の高さの絶縁物支
持材に被試験物を載置して磁界イミュニティ試験を行う
ことが定められているため、まず、リフタを床面と同じ
高さにしてリフタ上に所定の絶縁物支持材を載置するこ
とで、絶縁物支持材の移動が容易になり、更に、絶縁物
支持材の上面が床面と同じ高さになるまでリフタを下降
させ、このようにして床面と同じ高さになった前記絶縁
物支持材の上面に床置き用の被試験物を載置すること
で、被試験物の移動が容易になる。従って、電波暗室で
要求されている性能を維持しつつ磁界イミュニティ試験
を容易に行えるようになる。
方法では、床置き機器については所定の高さの絶縁物支
持材に被試験物を載置して磁界イミュニティ試験を行う
ことが定められているため、まず、リフタを床面と同じ
高さにしてリフタ上に所定の絶縁物支持材を載置するこ
とで、絶縁物支持材の移動が容易になり、更に、絶縁物
支持材の上面が床面と同じ高さになるまでリフタを下降
させ、このようにして床面と同じ高さになった前記絶縁
物支持材の上面に床置き用の被試験物を載置すること
で、被試験物の移動が容易になる。従って、電波暗室で
要求されている性能を維持しつつ磁界イミュニティ試験
を容易に行えるようになる。
【0063】(4)第4の発明の磁界イミュニティ試験
方法では、まず、リフタを床面と同じ高さにしてリフタ
上に被試験物を載置し、床面とリフタの被試験物載置面
との距離が、被試験物と磁性体とを離すよう定められた
所定の値に達するまでリフタを上昇させ、この状態で前
記床置き用の被試験物の磁界イミュニティ試験を行うよ
うにする。このように、非磁性体で構成されたリフタ
を、被試験物と磁性体とを離すよう定められた所定の値
に達するまで上昇させることで、被試験物を磁性体の暗
室床面から所定の距離だけ離すことができる。従って、
リフタの載置面と同程度の底面を有する大型の被試験物
を試験することが可能になる。従って、電波暗室で要求
されている性能を維持しつつ磁界イミュニティ試験を容
易に行えるようになる。
方法では、まず、リフタを床面と同じ高さにしてリフタ
上に被試験物を載置し、床面とリフタの被試験物載置面
との距離が、被試験物と磁性体とを離すよう定められた
所定の値に達するまでリフタを上昇させ、この状態で前
記床置き用の被試験物の磁界イミュニティ試験を行うよ
うにする。このように、非磁性体で構成されたリフタ
を、被試験物と磁性体とを離すよう定められた所定の値
に達するまで上昇させることで、被試験物を磁性体の暗
室床面から所定の距離だけ離すことができる。従って、
リフタの載置面と同程度の底面を有する大型の被試験物
を試験することが可能になる。従って、電波暗室で要求
されている性能を維持しつつ磁界イミュニティ試験を容
易に行えるようになる。
【図1】本発明の第1の実施の形態例の電波暗室を示す
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態例の電波暗室を示す
平面図である。
平面図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態例の手順を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図4】本発明の第2の実施の形態例の電波暗室を示す
断面図である。
断面図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態例の手順を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図6】本発明の第3の実施の形態例の電波暗室を示す
断面図である。
断面図である。
【図7】本発明のその他の実施の形態例の電波暗室を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図8】従来の電波暗室を示す断面図である。
10 電波暗室 11 シールド材 12 電磁波吸収材 13 床面 20 被試験物 40 リフタ 41 非磁性体床部 42 テーブル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 篤志 東京都日野市旭が丘四丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内
Claims (4)
- 【請求項1】 電磁波を吸収する壁面及び天井面を備え
た電波暗室であって、 被試験物の底面の縦横より所定の値以上大きい範囲につ
いて床面の一部を非磁性体の材料で構成したことを特徴
とする電波暗室。 - 【請求項2】 電磁波を吸収する壁面及び天井面を備え
た電波暗室であって、 少なくとも被試験物の底面と等しい面積の載置面を有
し、載置面の下方向に所定の値以上の部分を非磁性体の
材料で構成されたことを特徴とする電波暗室。 - 【請求項3】 非磁性体で構成されたリフタを床面の一
部に備えた電波暗室内で磁界イミュニティ試験を行う磁
界イミュニティ試験方法であって、 リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上に所定の絶縁物
支持材を載置し、 前記絶縁物支持材の上面が床面と同じ高さになるまでリ
フタを下降させ、 前記絶縁物支持材の上面に床置き用の被試験物を載置
し、 前記被試験物と前記絶縁物支持材とを載置した状態でリ
フタを床面と同じ高さになるまでリフタを上昇させ、 前記床置き用の被試験物の磁界イミュニティ試験を行う
ことを特徴とする磁界イミュニティ試験方法。 - 【請求項4】 非磁性体で構成されたリフタを床面の一
部に備えた電波暗室内で磁界イミュニティ試験を行う磁
界イミュニティ試験方法であって、 リフタを床面と同じ高さにしてリフタ上に被試験物を載
置し、 床面とリフタの被試験物載置面との距離が、被試験物と
磁性体とを離すよう定められた所定の値に達するまで、
被試験物を載置したリフタを上昇させ、 前記被試験物の磁界イミュニティ試験を行うことを特徴
とする磁界イミュニティ試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8193652A JPH1038940A (ja) | 1996-07-23 | 1996-07-23 | 電波暗室及び磁界イミュニティ試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8193652A JPH1038940A (ja) | 1996-07-23 | 1996-07-23 | 電波暗室及び磁界イミュニティ試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1038940A true JPH1038940A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16311515
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8193652A Pending JPH1038940A (ja) | 1996-07-23 | 1996-07-23 | 電波暗室及び磁界イミュニティ試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1038940A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001194400A (ja) * | 2000-01-14 | 2001-07-19 | Tdk Corp | 電波暗室用ターンテーブル装置 |
| CN102323455A (zh) * | 2011-08-10 | 2012-01-18 | 苏州电器科学研究院股份有限公司 | 辐射骚扰测量中的大电流电源连接装置 |
| CN102720282A (zh) * | 2012-06-26 | 2012-10-10 | 苏州岸肯电子科技有限公司 | 消音室的吸音尖劈 |
| CN103487751A (zh) * | 2013-09-22 | 2014-01-01 | 上海电器科学研究所(集团)有限公司 | 一种低压大电流旋转试验装置 |
| CN104749451A (zh) * | 2013-12-27 | 2015-07-01 | 深圳市计量质量检测研究院 | 电波暗室及其使用方法 |
| KR101842946B1 (ko) * | 2016-12-20 | 2018-05-14 | 주식회사 서진시스템 | 안테나 자동 검사 장치 및 그 방법 |
| CN112415320A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-02-26 | 一汽解放汽车有限公司 | 一种基于汽车仪表的辐射抗干扰度测试系统及方法 |
| CN113188666A (zh) * | 2021-04-16 | 2021-07-30 | 麦克斯(郑州)医疗科技有限公司 | 一种用于额温计辐射抗扰测试的自动开机装置 |
-
1996
- 1996-07-23 JP JP8193652A patent/JPH1038940A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001194400A (ja) * | 2000-01-14 | 2001-07-19 | Tdk Corp | 電波暗室用ターンテーブル装置 |
| CN102323455A (zh) * | 2011-08-10 | 2012-01-18 | 苏州电器科学研究院股份有限公司 | 辐射骚扰测量中的大电流电源连接装置 |
| CN102720282A (zh) * | 2012-06-26 | 2012-10-10 | 苏州岸肯电子科技有限公司 | 消音室的吸音尖劈 |
| CN103487751A (zh) * | 2013-09-22 | 2014-01-01 | 上海电器科学研究所(集团)有限公司 | 一种低压大电流旋转试验装置 |
| CN104749451A (zh) * | 2013-12-27 | 2015-07-01 | 深圳市计量质量检测研究院 | 电波暗室及其使用方法 |
| KR101842946B1 (ko) * | 2016-12-20 | 2018-05-14 | 주식회사 서진시스템 | 안테나 자동 검사 장치 및 그 방법 |
| CN112415320A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-02-26 | 一汽解放汽车有限公司 | 一种基于汽车仪表的辐射抗干扰度测试系统及方法 |
| CN113188666A (zh) * | 2021-04-16 | 2021-07-30 | 麦克斯(郑州)医疗科技有限公司 | 一种用于额温计辐射抗扰测试的自动开机装置 |
| CN113188666B (zh) * | 2021-04-16 | 2023-11-14 | 麦克斯(郑州)医疗科技有限公司 | 一种用于额温计辐射抗扰测试的自动开机装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0353923B1 (en) | Electromagnetic wave absorber | |
| US4651099A (en) | Scan room for magnetic resonance imager | |
| JP2574409B2 (ja) | Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材 | |
| Chung et al. | Modeling of RF absorber for application in the design of anechoic chamber | |
| CN203658500U (zh) | 电波暗室 | |
| CN104749451A (zh) | 电波暗室及其使用方法 | |
| Holloway et al. | Time-domain modeling, characterization, and measurements of anechoic and semi-anechoic electromagnetic test chambers | |
| JPH1038940A (ja) | 電波暗室及び磁界イミュニティ試験方法 | |
| Bergsma et al. | Shielding Effectiveness of Cabinets using IEEE 299 and IEEE 299.1 and Effect of Loading | |
| CN214067229U (zh) | 一种共存测试架构以及共存测试系统 | |
| USRE33505E (en) | Scan room for magnetic resonance imager | |
| CN211061622U (zh) | 光伏逆变器电磁兼容性电波测试暗室 | |
| CN216350957U (zh) | 一种电磁环境噪声测试系统 | |
| CN220543000U (zh) | 天线测试暗室与电磁兼容测试暗室相互切换装置 | |
| JP2554394Y2 (ja) | 電波暗室 | |
| JP2026501652A (ja) | フェーズドアンテナアレイ較正ステーション | |
| JPH06249899A (ja) | 電磁界分布推定方式 | |
| JPH05333072A (ja) | 放射妨害波分布の推定方法 | |
| JP2584466Y2 (ja) | 電波暗室 | |
| Jiakui et al. | Simulation of the field uniformity of anechoic chamber | |
| JP2001165983A (ja) | 均一電界発生方法及び装置 | |
| JP3711729B2 (ja) | グランドプレーンおよびオープンサイト | |
| JP2007059724A (ja) | ターンテーブル装置 | |
| Stuckey | The hooded antenna: an approach to meaningful field strength measurements in shielded enclosures | |
| JPH0643197A (ja) | 分布推定装置 |