JPH1040548A - 光ディスクのランニングｏｐｃ方法及び光ディスク記録再生装置 - Google Patents
光ディスクのランニングｏｐｃ方法及び光ディスク記録再生装置Info
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- JPH1040548A JPH1040548A JP8198120A JP19812096A JPH1040548A JP H1040548 A JPH1040548 A JP H1040548A JP 8198120 A JP8198120 A JP 8198120A JP 19812096 A JP19812096 A JP 19812096A JP H1040548 A JPH1040548 A JP H1040548A
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Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 情報記録時においてレ−ザ光強度の的確な補
正を行える光ディスクのランニングＯＰＣ方法及び光デ
ィスク記録再生装置を提供する。 【解決手段】 情報記録中における光ディスク１のピッ
ト部からの反射光をフォトディテクタ21bで受光し、ピ
ット部の反射光強度最大値及びピット部の先端から基準
時間幅経過した後の反射光強度をピーク検出回路２５及
びサンプルホールド回路２６を介して検出し、光ディス
クへの情報記録開始時に実記録領域で数フレームに渡
り、複数のピット部の反射光強度最大値及びサンプル反
射光強度を検出し、この検出結果に基づいて、基準値と
なる反射光強度最大値及びサンプル反射光強度を求め、
情報記録開始時以降は、ピット部からの反射光強度最大
値及びサンプル反射光強度を検出して、この検出結果と
基準値とを比較し、比較結果に基づいて、レーザ光強度
を補正するランニングＯＰＣを行う。
正を行える光ディスクのランニングＯＰＣ方法及び光デ
ィスク記録再生装置を提供する。 【解決手段】 情報記録中における光ディスク１のピッ
ト部からの反射光をフォトディテクタ21bで受光し、ピ
ット部の反射光強度最大値及びピット部の先端から基準
時間幅経過した後の反射光強度をピーク検出回路２５及
びサンプルホールド回路２６を介して検出し、光ディス
クへの情報記録開始時に実記録領域で数フレームに渡
り、複数のピット部の反射光強度最大値及びサンプル反
射光強度を検出し、この検出結果に基づいて、基準値と
なる反射光強度最大値及びサンプル反射光強度を求め、
情報記録開始時以降は、ピット部からの反射光強度最大
値及びサンプル反射光強度を検出して、この検出結果と
基準値とを比較し、比較結果に基づいて、レーザ光強度
を補正するランニングＯＰＣを行う。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は、主としてＥＦＭ(E
ight to Fourteen Modulation)方式を用いて光ディスク
へ情報を記録する際の光ディスクのランニングＯＰＣ方
法及び光ディスク記録再生装置に関するものである。
ight to Fourteen Modulation)方式を用いて光ディスク
へ情報を記録する際の光ディスクのランニングＯＰＣ方
法及び光ディスク記録再生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、光情報記録媒体、例えばＷＯディ
スク等の光ディスクに大容量の情報を記録する技術が一
般に普及してきた。光ディスクに例えば音響信号を記録
する場合、再生時における歪みや雑音等を排除するため
に、記録時において音響信号をディジタル化して記録す
る方法が一般に行われている。また、ディジタル化され
た音響信号（以下、基準ディジタル信号と称する）に対
してＣＩＲＣ(Cross Interleaved Reed-Solomon Code)
により誤り訂正のためのパリティが付加されると共に、
さらにこれをＥＦＭ方式により変調することによって再
生特性の向上を図っている。
スク等の光ディスクに大容量の情報を記録する技術が一
般に普及してきた。光ディスクに例えば音響信号を記録
する場合、再生時における歪みや雑音等を排除するため
に、記録時において音響信号をディジタル化して記録す
る方法が一般に行われている。また、ディジタル化され
た音響信号（以下、基準ディジタル信号と称する）に対
してＣＩＲＣ(Cross Interleaved Reed-Solomon Code)
により誤り訂正のためのパリティが付加されると共に、
さらにこれをＥＦＭ方式により変調することによって再
生特性の向上を図っている。
【０００３】前述したＥＦＭ変調を行うことにより、基
準ディジタル信号のハイレベル及びロ−レベルの時間幅
として、所定の基準時間幅Ｔの３〜１１倍の９通りの時
間幅（以下、３Ｔ〜１１Ｔ時間幅と称する）が与えられ
る。この基準ディジタル信号に基づいて光ディスクにレ
−ザ光が照射され、記録層にピット部が形成される。例
えば、基準ディジタル信号のハイレベルの期間にピット
部を形成できる強度のパルス状のレ−ザ光が照射され
る。
準ディジタル信号のハイレベル及びロ−レベルの時間幅
として、所定の基準時間幅Ｔの３〜１１倍の９通りの時
間幅（以下、３Ｔ〜１１Ｔ時間幅と称する）が与えられ
る。この基準ディジタル信号に基づいて光ディスクにレ
−ザ光が照射され、記録層にピット部が形成される。例
えば、基準ディジタル信号のハイレベルの期間にピット
部を形成できる強度のパルス状のレ−ザ光が照射され
る。
【０００４】また従来、追記型光ディスク（ＣＤ−Ｗ
Ｏ）に情報を記録する際には記録レーザ光強度最適化
（ＯＰＣ：Optimun Power Control ，以下ＯＰＣと称す
る）を行っている。ＯＰＣは光ディスクのパワーキャリ
ブレーションエリア（ＰＣＡ：Power Calibration Are
a，以下、ＰＣＡと称する）に所定の情報を記録すると
共に、記録した情報を再生することによって行われてい
る。ＰＣＡはテストエリアとカウントエリアに分けら
れ、それぞれ１００個のパーティションに分けられてい
る。
Ｏ）に情報を記録する際には記録レーザ光強度最適化
（ＯＰＣ：Optimun Power Control ，以下ＯＰＣと称す
る）を行っている。ＯＰＣは光ディスクのパワーキャリ
ブレーションエリア（ＰＣＡ：Power Calibration Are
a，以下、ＰＣＡと称する）に所定の情報を記録すると
共に、記録した情報を再生することによって行われてい
る。ＰＣＡはテストエリアとカウントエリアに分けら
れ、それぞれ１００個のパーティションに分けられてい
る。
【０００５】テストエリアの１パーティションは１５フ
レームで構成され、１回の試し書きにおいて１パーティ
ションが使用される。追記型光ディスクの規格書である
オレンジブックには、使用例として、１５フレームの間
で、１５段階のレーザ光強度で試し書きを行い、その中
で最も記録状態の良かったレーザ光強度を選択して以降
の情報記録を行う、という方法が記載されている。
レームで構成され、１回の試し書きにおいて１パーティ
ションが使用される。追記型光ディスクの規格書である
オレンジブックには、使用例として、１５フレームの間
で、１５段階のレーザ光強度で試し書きを行い、その中
で最も記録状態の良かったレーザ光強度を選択して以降
の情報記録を行う、という方法が記載されている。
【０００６】さらにオレンジブックには、情報記録時に
おいては、ランニングＯＰＣを行うと記載されている。
このランニングＯＰＣとは、前述したＯＰＣ時における
ピット部からの反射光強度と、情報記録時におけるピッ
ト部からの反射光強度とを比較し、この比較結果に基づ
いて、ＯＰＣ時に求めたレーザ光強度に対して随時補正
を行いながら情報記録を行うというものである。ここ
で、反射光強度を求めるピット部としては１１Ｔ時間幅
を有するピット部が用いられ、このピット部の後端部か
らの反射光強度が使用されている。
おいては、ランニングＯＰＣを行うと記載されている。
このランニングＯＰＣとは、前述したＯＰＣ時における
ピット部からの反射光強度と、情報記録時におけるピッ
ト部からの反射光強度とを比較し、この比較結果に基づ
いて、ＯＰＣ時に求めたレーザ光強度に対して随時補正
を行いながら情報記録を行うというものである。ここ
で、反射光強度を求めるピット部としては１１Ｔ時間幅
を有するピット部が用いられ、このピット部の後端部か
らの反射光強度が使用されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たように情報記録中に１１Ｔ時間幅を有するピット部の
後端部からの反射光強度に基づいてレーザ光強度を補正
した場合、光ディスクの種類によってはレーザ光強度を
上げていくと、あるところで飽和してしまい、レーザ光
強度が高くなったことを検出できなくなってしまう。
たように情報記録中に１１Ｔ時間幅を有するピット部の
後端部からの反射光強度に基づいてレーザ光強度を補正
した場合、光ディスクの種類によってはレーザ光強度を
上げていくと、あるところで飽和してしまい、レーザ光
強度が高くなったことを検出できなくなってしまう。
【０００８】即ち、図２に示すように、３Ｔ時間幅のピ
ット部Ｐａからの反射光強度Ｖに比べると、１１Ｔ時間
幅のピット部Ｐａの後端部からの反射光強度Ｖは、ある
程度ピット部が形成されてしまっているので低くなると
共に、レーザ光強度を上げても、もともとの反射光強度
が低いのでその変化量は少ない。このため、使用する光
ディスクの種類によっては検出感度が大きく落ちること
があり、レーザ光強度の変動を検出できなかったり、誤
検出することがあった。
ット部Ｐａからの反射光強度Ｖに比べると、１１Ｔ時間
幅のピット部Ｐａの後端部からの反射光強度Ｖは、ある
程度ピット部が形成されてしまっているので低くなると
共に、レーザ光強度を上げても、もともとの反射光強度
が低いのでその変化量は少ない。このため、使用する光
ディスクの種類によっては検出感度が大きく落ちること
があり、レーザ光強度の変動を検出できなかったり、誤
検出することがあった。
【０００９】さらに、ＰＣＡを用いた初期のＯＰＣにお
ける測定値を基準値としてランニングＯＰＣ時の補正を
行っているので、偏芯の影響を受けやすく、的確なレー
ザ光強度の補正ができないことがあった。
ける測定値を基準値としてランニングＯＰＣ時の補正を
行っているので、偏芯の影響を受けやすく、的確なレー
ザ光強度の補正ができないことがあった。
【００１０】即ち、オレンジブックの記載によると、Ｐ
ＣＡを用いた初期のＯＰＣの一連の動作は前述したよう
に１５フレーム以内で行うことになっており、通常１５
フレーム中１３フレームを使用している。従って、ラン
ニングＯＰＣの基準値測定に使用できるのは残りの２フ
レームであり、この２フレームは約２６．７ｍｓであ
る。また、ＯＰＣは光ディスクの内周で行われるため、
偏芯成分を平均化するのには少なくとも１回転分のデー
タを取り込む必要があるが、ＯＰＣ領域では標準速度の
場合１回転に約１２０ｍｓかかるので、ＯＰＣ領域で基
準値を測定すると偏芯の影響を大きく受けてしまう。
ＣＡを用いた初期のＯＰＣの一連の動作は前述したよう
に１５フレーム以内で行うことになっており、通常１５
フレーム中１３フレームを使用している。従って、ラン
ニングＯＰＣの基準値測定に使用できるのは残りの２フ
レームであり、この２フレームは約２６．７ｍｓであ
る。また、ＯＰＣは光ディスクの内周で行われるため、
偏芯成分を平均化するのには少なくとも１回転分のデー
タを取り込む必要があるが、ＯＰＣ領域では標準速度の
場合１回転に約１２０ｍｓかかるので、ＯＰＣ領域で基
準値を測定すると偏芯の影響を大きく受けてしまう。
【００１１】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、情報
記録時においてレ−ザ光強度の的確な補正を行える光デ
ィスクのランニングＯＰＣ方法及び光ディスク記録再生
装置を提供することにある。
記録時においてレ−ザ光強度の的確な補正を行える光デ
ィスクのランニングＯＰＣ方法及び光ディスク記録再生
装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、請求項１では、記録対象の情報に対応す
ると共に、ピット部を形成できる強度のレ−ザ光を照射
する期間を表す第１の信号レベルと前記強度よりも低い
所定強度のレ−ザ光を照射する期間を表す第２の信号レ
ベルとを有し、該第１及び第２の信号レベルは所定の基
準時間幅の３倍乃至１１倍の時間幅をもつ基準ディジタ
ル信号に基づき、光ディスクに対して所定強度のパルス
状のレ−ザ光を照射してピットを形成し、情報を記録す
るときの光ディスクのランニングＯＰＣ方法において、
前記光ディスクへの情報記録開始時に実記録領域で複数
フレームに渡り、複数のピット部の反射光強度の最大値
及び該ピット部の先端から所定時間後のサンプル反射光
強度を検出し、該検出結果に基づいて、基準値となる反
射光強度最大値及びサンプル反射光強度を求めると共
に、前記基準値における前記反射光強度最大値に所定の
定数を乗算した値と前記サンプル反射光強度との差を補
正基準値として求め、前記情報記録開始時以降は、前記
ピット部からの反射光強度最大値及び前記サンプル反射
光強度を検出して、該情報記録時において検出した前記
反射光強度最大値とサンプル反射光強度とから、同様に
して反射光強度最大値に所定の定数を乗算した値とサン
プル反射光強度との差を検出値として求め、該検出値と
前記補正基準値とを比較し、前記検出値と前記補正基準
値との差が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度
を補正する光ディスクのランニングＯＰＣ方法を提案す
る。
成するために、請求項１では、記録対象の情報に対応す
ると共に、ピット部を形成できる強度のレ−ザ光を照射
する期間を表す第１の信号レベルと前記強度よりも低い
所定強度のレ−ザ光を照射する期間を表す第２の信号レ
ベルとを有し、該第１及び第２の信号レベルは所定の基
準時間幅の３倍乃至１１倍の時間幅をもつ基準ディジタ
ル信号に基づき、光ディスクに対して所定強度のパルス
状のレ−ザ光を照射してピットを形成し、情報を記録す
るときの光ディスクのランニングＯＰＣ方法において、
前記光ディスクへの情報記録開始時に実記録領域で複数
フレームに渡り、複数のピット部の反射光強度の最大値
及び該ピット部の先端から所定時間後のサンプル反射光
強度を検出し、該検出結果に基づいて、基準値となる反
射光強度最大値及びサンプル反射光強度を求めると共
に、前記基準値における前記反射光強度最大値に所定の
定数を乗算した値と前記サンプル反射光強度との差を補
正基準値として求め、前記情報記録開始時以降は、前記
ピット部からの反射光強度最大値及び前記サンプル反射
光強度を検出して、該情報記録時において検出した前記
反射光強度最大値とサンプル反射光強度とから、同様に
して反射光強度最大値に所定の定数を乗算した値とサン
プル反射光強度との差を検出値として求め、該検出値と
前記補正基準値とを比較し、前記検出値と前記補正基準
値との差が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度
を補正する光ディスクのランニングＯＰＣ方法を提案す
る。
【００１３】該光ディスクのランニングＯＰＣ方法によ
れば、前記光ディスクへの情報記録開始時に実記録領域
で複数フレームに渡り、複数のピット部からの反射光強
度最大値及びピット部の先端から所定時間経過後のサン
プル反射光強度が検出され、該検出結果に基づいて、基
準値となる反射光強度最大値及びサンプル反射光強度が
求められると共に、該基準値における前記反射光強度最
大値に所定の定数を乗算した値と前記サンプル反射光強
度との差が補正基準値として求められる。
れば、前記光ディスクへの情報記録開始時に実記録領域
で複数フレームに渡り、複数のピット部からの反射光強
度最大値及びピット部の先端から所定時間経過後のサン
プル反射光強度が検出され、該検出結果に基づいて、基
準値となる反射光強度最大値及びサンプル反射光強度が
求められると共に、該基準値における前記反射光強度最
大値に所定の定数を乗算した値と前記サンプル反射光強
度との差が補正基準値として求められる。
【００１４】さらに、前記情報記録開始時以降は、前記
ピット部からの反射光強度最大値及び前記サンプル反射
光強度が検出されると共に、該反射光強度最大値とサン
プル反射光強度とから、同様にして反射光強度最大値に
所定の定数を乗算した値とサンプル反射光強度との差が
検出値として求められ、この後、該検出値と前記補正基
準値とが比較され、前記検出値と前記補正基準値との差
が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度が補正さ
れる。前記ピット部の反射光強度の最大値は、前記ピッ
ト部の先端におけるものであり、情報記録に使用するレ
ーザ光強度に対して飽和するポイントが高いので、より
高い光強度まで検出することが可能となる。これにより
例えば、外乱や周囲温度の上昇があり、見かけ上の記録
レーザ光強度が下がり、記録中のピット部からの反射光
強度が上昇しても、最適状態での情報記録が可能とな
る。
ピット部からの反射光強度最大値及び前記サンプル反射
光強度が検出されると共に、該反射光強度最大値とサン
プル反射光強度とから、同様にして反射光強度最大値に
所定の定数を乗算した値とサンプル反射光強度との差が
検出値として求められ、この後、該検出値と前記補正基
準値とが比較され、前記検出値と前記補正基準値との差
が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度が補正さ
れる。前記ピット部の反射光強度の最大値は、前記ピッ
ト部の先端におけるものであり、情報記録に使用するレ
ーザ光強度に対して飽和するポイントが高いので、より
高い光強度まで検出することが可能となる。これにより
例えば、外乱や周囲温度の上昇があり、見かけ上の記録
レーザ光強度が下がり、記録中のピット部からの反射光
強度が上昇しても、最適状態での情報記録が可能とな
る。
【００１５】また、請求項２では、請求項１記載の光デ
ィスクのランニングＯＰＣ方法において、前記定数は、
情報記録対象となる光ディスクの種類毎に予め設定され
ている光ディスクのランニングＯＰＣ方法を提案する。
ィスクのランニングＯＰＣ方法において、前記定数は、
情報記録対象となる光ディスクの種類毎に予め設定され
ている光ディスクのランニングＯＰＣ方法を提案する。
【００１６】該光ディスクのランニングＯＰＣ方法によ
れば、前記検出結果と基準値との比較の際に用いる定数
は、情報記録対象となる光ディスクの種類毎に予め設定
され、該定数を用いて補正が行われるので、光ディスク
の種類が変わってもこれに対応してレーザ光強度の補正
が可能となる。
れば、前記検出結果と基準値との比較の際に用いる定数
は、情報記録対象となる光ディスクの種類毎に予め設定
され、該定数を用いて補正が行われるので、光ディスク
の種類が変わってもこれに対応してレーザ光強度の補正
が可能となる。
【００１７】また、請求項３では、請求項１乃至２の何
れかに記載の光ディスクのランニングＯＰＣ方法におい
て、前記ピット部の先端から前記基準時間幅経過後に前
記サンプル反射光強度を検出する光ディスクのランニン
グＯＰＣ方法を提案する。
れかに記載の光ディスクのランニングＯＰＣ方法におい
て、前記ピット部の先端から前記基準時間幅経過後に前
記サンプル反射光強度を検出する光ディスクのランニン
グＯＰＣ方法を提案する。
【００１８】該光ディスクのランニングＯＰＣ方法によ
れば、ピット部の先端から基準時間幅経過後に検出した
反射光強度がサンプル反射光強度とされる。このように
ピット部の先端から基準時間幅経過後の位置における反
射光強度は、ピット部の形成状態が確定していないの
で、基準時間幅の３倍乃至１１倍の時間幅をもつピット
部の何れにおいてもほぼ同一となる。
れば、ピット部の先端から基準時間幅経過後に検出した
反射光強度がサンプル反射光強度とされる。このように
ピット部の先端から基準時間幅経過後の位置における反
射光強度は、ピット部の形成状態が確定していないの
で、基準時間幅の３倍乃至１１倍の時間幅をもつピット
部の何れにおいてもほぼ同一となる。
【００１９】また、請求項４では、記録対象の情報に対
応すると共に、ピット部を形成できる強度のレ−ザ光を
照射する期間を表す第１の信号レベルと前記強度よりも
低い所定強度のレ−ザ光を照射する期間を表す第２の信
号レベルとを有し、該第１及び第２の信号レベルは所定
の基準時間幅の３倍乃至１１倍の時間幅をもつ基準ディ
ジタル信号に基づき、光ディスクに対して所定強度のパ
ルス状のレ−ザ光を照射し、ピットを形成する光情報記
録装置において、少なくとも前記ピット部の形成時に前
記光ディスクからの反射光の強度を検知する光強度検知
手段と、該光強度検知手段の検知結果に基づき、前記ピ
ット部の反射光強度の最大値を検出する最大反射光強度
検出手段と、前記光強度検知手段の検知結果に基づき、
前記ピット部の先端から所定時間経過後の反射光強度を
検出するサンプル反射光強度検出手段と、情報記録開始
時における前記反射光強度最大値に所定の定数を乗算し
た値と前記サンプル反射光強度との差を補正基準値とし
て算出する第１の算出手段と、前記補正基準値を記憶す
る記憶手段と、情報記録開始時以降に、前記最大反射光
強度検出手段によって検出された反射光強度最大値に所
定の定数を乗算した値と前記サンプル反射光強度検出手
段によって検出されたサンプル反射光強度との差を検出
値として算出する第２の算出手段と、前記検出値と前記
補正基準値とを比較し、前記検出値と前記補正基準値と
の差が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度を補
正するレーザ光強度補正手段とを備えた光ディスク記録
再生装置を提案する。
応すると共に、ピット部を形成できる強度のレ−ザ光を
照射する期間を表す第１の信号レベルと前記強度よりも
低い所定強度のレ−ザ光を照射する期間を表す第２の信
号レベルとを有し、該第１及び第２の信号レベルは所定
の基準時間幅の３倍乃至１１倍の時間幅をもつ基準ディ
ジタル信号に基づき、光ディスクに対して所定強度のパ
ルス状のレ−ザ光を照射し、ピットを形成する光情報記
録装置において、少なくとも前記ピット部の形成時に前
記光ディスクからの反射光の強度を検知する光強度検知
手段と、該光強度検知手段の検知結果に基づき、前記ピ
ット部の反射光強度の最大値を検出する最大反射光強度
検出手段と、前記光強度検知手段の検知結果に基づき、
前記ピット部の先端から所定時間経過後の反射光強度を
検出するサンプル反射光強度検出手段と、情報記録開始
時における前記反射光強度最大値に所定の定数を乗算し
た値と前記サンプル反射光強度との差を補正基準値とし
て算出する第１の算出手段と、前記補正基準値を記憶す
る記憶手段と、情報記録開始時以降に、前記最大反射光
強度検出手段によって検出された反射光強度最大値に所
定の定数を乗算した値と前記サンプル反射光強度検出手
段によって検出されたサンプル反射光強度との差を検出
値として算出する第２の算出手段と、前記検出値と前記
補正基準値とを比較し、前記検出値と前記補正基準値と
の差が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度を補
正するレーザ光強度補正手段とを備えた光ディスク記録
再生装置を提案する。
【００２０】該光ディスク記録再生装置によれば、光強
度検知手段によって、ピット部の形成時に光ディスクか
らの反射光の強度が検知され、該光強度検知手段の検知
結果に基づき、最大反射光強度検出手段によって前記ピ
ット部からの反射光強度の最大値が検出されると共に、
サンプル反射光強度検出手段によって、前記ピット部の
先端から所定時間経過後の反射光強度が検出される。さ
らに、第１の算出手段によって、情報記録開始時におけ
る前記反射光強度最大値に所定の定数が乗算された値と
前記サンプル反射光強度との差が補正基準値として算出
され、該補正基準値が記憶手段に記憶される。
度検知手段によって、ピット部の形成時に光ディスクか
らの反射光の強度が検知され、該光強度検知手段の検知
結果に基づき、最大反射光強度検出手段によって前記ピ
ット部からの反射光強度の最大値が検出されると共に、
サンプル反射光強度検出手段によって、前記ピット部の
先端から所定時間経過後の反射光強度が検出される。さ
らに、第１の算出手段によって、情報記録開始時におけ
る前記反射光強度最大値に所定の定数が乗算された値と
前記サンプル反射光強度との差が補正基準値として算出
され、該補正基準値が記憶手段に記憶される。
【００２１】さらに、情報記録開始時以降には、第２の
算出手段により、前記最大反射光強度検出手段によって
検出された反射光強度最大値に所定の定数を乗算した値
と前記サンプル反射光強度検出手段によって検出された
サンプル反射光強度との差が検出値として算出された
後、レーザ光強度補正手段によって、前記検出値と前記
補正基準値とが比較され、前記検出値と前記補正基準値
との差が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度が
補正される。前記ピット部の反射光強度最大値はピット
部の先端におけるものであり、情報記録に使用するレー
ザ光強度に対して飽和するポイントが高いので、より高
い光強度まで検出することが可能となる。これにより、
例えば、偏芯等の外乱や周囲温度の上昇があり、見かけ
上の記録レーザ光強度が下がり、記録中のピット部から
の反射光強度が上昇しても、最適状態での情報記録が可
能となる。
算出手段により、前記最大反射光強度検出手段によって
検出された反射光強度最大値に所定の定数を乗算した値
と前記サンプル反射光強度検出手段によって検出された
サンプル反射光強度との差が検出値として算出された
後、レーザ光強度補正手段によって、前記検出値と前記
補正基準値とが比較され、前記検出値と前記補正基準値
との差が所定範囲内となるように、前記レーザ光強度が
補正される。前記ピット部の反射光強度最大値はピット
部の先端におけるものであり、情報記録に使用するレー
ザ光強度に対して飽和するポイントが高いので、より高
い光強度まで検出することが可能となる。これにより、
例えば、偏芯等の外乱や周囲温度の上昇があり、見かけ
上の記録レーザ光強度が下がり、記録中のピット部から
の反射光強度が上昇しても、最適状態での情報記録が可
能となる。
【００２２】また、請求項５では、請求項４記載の光デ
ィスク記録再生装置において、前記定数は、情報記録対
象となる光ディスクの種類毎に予め設定されている光デ
ィスク記録再生装置を提案する。
ィスク記録再生装置において、前記定数は、情報記録対
象となる光ディスクの種類毎に予め設定されている光デ
ィスク記録再生装置を提案する。
【００２３】該光ディスク記録再生装置によれば、前記
定数は、情報記録対象となる光ディスクの種類毎に予め
設定されており、前記レーザ光強度補正の際には該定数
が使用される。
定数は、情報記録対象となる光ディスクの種類毎に予め
設定されており、前記レーザ光強度補正の際には該定数
が使用される。
【００２４】また、請求項６では、請求項４乃至５の何
れかに記載の光ディスク記録再生装置において、前記サ
ンプル反射光強度検出手段は、前記ピット部の先端から
前記基準時間幅経過後に前記ピット部からの反射光強度
を検出する光ディスク記録再生装置を提案する。
れかに記載の光ディスク記録再生装置において、前記サ
ンプル反射光強度検出手段は、前記ピット部の先端から
前記基準時間幅経過後に前記ピット部からの反射光強度
を検出する光ディスク記録再生装置を提案する。
【００２５】該光ディスク記録再生装置によれば、サン
プル反射光強度検出手段によって、ピット部の先端から
基準時間幅経過後に検出した反射光強度がサンプル反射
光強度とされる。このようにピット部の先端から基準時
間幅経過後の位置における反射光強度は、ピット部の形
成状態が確定していないので、基準時間幅の３倍乃至１
１倍の時間幅をもつピット部の何れにおいてもほぼ同一
となる。
プル反射光強度検出手段によって、ピット部の先端から
基準時間幅経過後に検出した反射光強度がサンプル反射
光強度とされる。このようにピット部の先端から基準時
間幅経過後の位置における反射光強度は、ピット部の形
成状態が確定していないので、基準時間幅の３倍乃至１
１倍の時間幅をもつピット部の何れにおいてもほぼ同一
となる。
【００２６】
【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施形態を示す
構成図である。図において、１は光情報記録媒体である
光ディスク、２は光情報記録装置（以下、記録装置と称
する）である。 周知のように情報記録時において、光
ディスク１は図示せぬスピンドルモ−タ等によって回転
される。
構成図である。図において、１は光情報記録媒体である
光ディスク、２は光情報記録装置（以下、記録装置と称
する）である。 周知のように情報記録時において、光
ディスク１は図示せぬスピンドルモ−タ等によって回転
される。
【００２７】記録装置２は、光ピックアップ２１、ＲＦ
アンプ２２、ロ−パスフィルタ２３、タイミングパルス
発生回路２４、ピーク検出回路２５、サンプルホ−ルド
回路２６、演算回路２７、光ディスクエンコーダ２８、
レ−ザ駆動回路２９及びＡＴＩＰデコーダ３０によって
構成され、周知のＥＦＭ変調された基準ディジタル信号
Ａを入力し、基準ディジタル信号Ａがハイレベルのとき
にピット部を形成できる高強度のレ−ザ光を光ディスク
１に出射し、基準ディジタル信号Ａがロ−レベルのとき
に非ピット部を形成できかつ情報を再生できる低強度の
レ−ザ光を光ディスク１に出射する。
アンプ２２、ロ−パスフィルタ２３、タイミングパルス
発生回路２４、ピーク検出回路２５、サンプルホ−ルド
回路２６、演算回路２７、光ディスクエンコーダ２８、
レ−ザ駆動回路２９及びＡＴＩＰデコーダ３０によって
構成され、周知のＥＦＭ変調された基準ディジタル信号
Ａを入力し、基準ディジタル信号Ａがハイレベルのとき
にピット部を形成できる高強度のレ−ザ光を光ディスク
１に出射し、基準ディジタル信号Ａがロ−レベルのとき
に非ピット部を形成できかつ情報を再生できる低強度の
レ−ザ光を光ディスク１に出射する。
【００２８】光ピックアップ２１は、レ−ザダイオ−ド
２１ａ、フォトディテクタ２１ｂ、ハ−フミラ−２１
ｃ、レンズ２１ｄ等から構成されている。レ−ザダイオ
−ド２１ａは、レ−ザ駆動回路２９から入力する電流に
対応した強度のレ−ザ光を出射し、このレ−ザ光はハ−
フミラ−２１ｃ及びレンズ２１ｄを介して光ディスク１
に照射される。
２１ａ、フォトディテクタ２１ｂ、ハ−フミラ−２１
ｃ、レンズ２１ｄ等から構成されている。レ−ザダイオ
−ド２１ａは、レ−ザ駆動回路２９から入力する電流に
対応した強度のレ−ザ光を出射し、このレ−ザ光はハ−
フミラ−２１ｃ及びレンズ２１ｄを介して光ディスク１
に照射される。
【００２９】これにより、レ−ザ光の強度が高いときに
光ディスク１にピット部が形成され、レ−ザ光の強度が
低いときに非ピット部が形成される。また、光ディスク
１からの反射光はレンズ２１ｄ及びハ−フミラ−２１ｃ
を介してフォトディテクタ２１ｂに入射され、フォトデ
ィテクタ２１ｂによって反射光強度に比例した電圧を有
する電気信号Ｂに変換されてＲＦアンプ２２に入力され
る。
光ディスク１にピット部が形成され、レ−ザ光の強度が
低いときに非ピット部が形成される。また、光ディスク
１からの反射光はレンズ２１ｄ及びハ−フミラ−２１ｃ
を介してフォトディテクタ２１ｂに入射され、フォトデ
ィテクタ２１ｂによって反射光強度に比例した電圧を有
する電気信号Ｂに変換されてＲＦアンプ２２に入力され
る。
【００３０】ＲＦアンプに入力された信号Ｂは所定の増
幅度にて増幅された信号Ｂ1とされた後、ロ−パスフィ
ルタ２３によって所定周波数以上の高周波成分が除去さ
れた信号Ｂ2として、ピーク検出回路２５及びサンプル
ホ−ルド回路２６に入力される。これにより、光ディス
ク１に形成された傷等によるノイズ成分が除去される。
幅度にて増幅された信号Ｂ1とされた後、ロ−パスフィ
ルタ２３によって所定周波数以上の高周波成分が除去さ
れた信号Ｂ2として、ピーク検出回路２５及びサンプル
ホ−ルド回路２６に入力される。これにより、光ディス
ク１に形成された傷等によるノイズ成分が除去される。
【００３１】サンプルパルス発生回路２４は、演算回路
２７から読み出し書き込み制御信号Ｇを入力すると共
に、光ディスクエンコーダ２８から記録制御信号Ａ’を
入力し、読み出し書き込み制御信号Ｇが書き込みを表し
ているときに、図３に示すように、記録制御信号Ａ’の
立ち上がりから基準時間幅Ｔを経過した後に基準時間幅
Ｔを有するパルス信号Ｄをサンプルホールド回路２６に
出力する。
２７から読み出し書き込み制御信号Ｇを入力すると共
に、光ディスクエンコーダ２８から記録制御信号Ａ’を
入力し、読み出し書き込み制御信号Ｇが書き込みを表し
ているときに、図３に示すように、記録制御信号Ａ’の
立ち上がりから基準時間幅Ｔを経過した後に基準時間幅
Ｔを有するパルス信号Ｄをサンプルホールド回路２６に
出力する。
【００３２】ピーク検出回路２５は、信号Ｂ２における
パルスの電圧レベルの最大値を検出して、この電圧を有
する信号Ｅを出力する。
パルスの電圧レベルの最大値を検出して、この電圧を有
する信号Ｅを出力する。
【００３３】サンプルホ−ルド回路２６は、サンプルパ
ルス発生回路２４からパルス信号Ｄを入力したときに、
信号Ｂ２の電圧レベルを検出して保持すると共に、この
保持電圧を有する信号Ｆを出力する。
ルス発生回路２４からパルス信号Ｄを入力したときに、
信号Ｂ２の電圧レベルを検出して保持すると共に、この
保持電圧を有する信号Ｆを出力する。
【００３４】これにより、図４に示すように、ピーク検
出回路２５にはピット部Ｐａの先端部からの反射光強度
に対応した電圧ＶＦが保持され、サンプルホ−ルド回路
２６にはピット部Ｐａの先端から基準時間幅Ｔを経過し
た後の位置における反射光強度に対応した電圧ＶＳが保
持される。
出回路２５にはピット部Ｐａの先端部からの反射光強度
に対応した電圧ＶＦが保持され、サンプルホ−ルド回路
２６にはピット部Ｐａの先端から基準時間幅Ｔを経過し
た後の位置における反射光強度に対応した電圧ＶＳが保
持される。
【００３５】演算回路２７は周知のＣＰＵ２７ａを主体
として構成され、ＣＰＵ２７ａには演算処理動作のプロ
グラムが記憶されたＲＯＭ２７ｂ及び演算処理に必要な
データ並びに演算処理中のデータ等を記憶するＥＥＰＲ
ＯＭ２７ｃ、ＲＡＭ２７ｄが接続されている。
として構成され、ＣＰＵ２７ａには演算処理動作のプロ
グラムが記憶されたＲＯＭ２７ｂ及び演算処理に必要な
データ並びに演算処理中のデータ等を記憶するＥＥＰＲ
ＯＭ２７ｃ、ＲＡＭ２７ｄが接続されている。
【００３６】また、演算回路２７のＣＰＵ２７ａには、
ＡＴＩＰデコーダ３０から出力されるＡＴＩＰシンクパ
ルスＣ及び信号Ｅ，Ｆが入力され、ピーク検出回路２５
及びサンプルホ−ルド回路２６のそれぞれから出力され
た信号Ｅ，Ｆは、ＡＴＩＰシンクパルスＣをタイミング
パルスとして２ＡＴＩＰフレーム毎にＣＰＵ２７ａに取
り込まれる。
ＡＴＩＰデコーダ３０から出力されるＡＴＩＰシンクパ
ルスＣ及び信号Ｅ，Ｆが入力され、ピーク検出回路２５
及びサンプルホ−ルド回路２６のそれぞれから出力され
た信号Ｅ，Ｆは、ＡＴＩＰシンクパルスＣをタイミング
パルスとして２ＡＴＩＰフレーム毎にＣＰＵ２７ａに取
り込まれる。
【００３７】これによりＣＰＵ２７ａには、ピット部Ｐ
ａの先端における最大反射光強度に対応した電圧ＶＦの
値と、ピット部Ｐａの先端から基準時間幅Ｔを経過した
位置の反射光強度（サンプル反射光強度）に対応した電
圧ＶＳの値とが、ディジタルデータとして取り込まれ
る。
ａの先端における最大反射光強度に対応した電圧ＶＦの
値と、ピット部Ｐａの先端から基準時間幅Ｔを経過した
位置の反射光強度（サンプル反射光強度）に対応した電
圧ＶＳの値とが、ディジタルデータとして取り込まれ
る。
【００３８】さらに、ＣＰＵ２７ａは取り込んだ電圧Ｖ
Ｆ，ＶＳの値に基づいて後述する演算を行い、レーザダ
イオード２１ａからの出射光強度を制御する電圧値デー
タＫを算出し、これをレーザ駆動回路２９に出力する。
Ｆ，ＶＳの値に基づいて後述する演算を行い、レーザダ
イオード２１ａからの出射光強度を制御する電圧値デー
タＫを算出し、これをレーザ駆動回路２９に出力する。
【００３９】光ディスクエンコーダ２８は、基準ディジ
タル信号Ａ及び読み出し書き込み制御信号Ｇを入力し、
基準ディジタル信号Ａに対応した記録制御信号Ａ’をサ
ンプルパルス発生回路２４に出力すると共に、レーザ駆
動回路２９の動作を制御する制御信号Ｊを出力する。
タル信号Ａ及び読み出し書き込み制御信号Ｇを入力し、
基準ディジタル信号Ａに対応した記録制御信号Ａ’をサ
ンプルパルス発生回路２４に出力すると共に、レーザ駆
動回路２９の動作を制御する制御信号Ｊを出力する。
【００４０】レーザ駆動回路２９は、信号Ｇ及び電圧値
データＫに基づく記録信号Ｍを生成する。この記録信号
Ｍによりレ−ザダイオ−ド２１ａが駆動され、光ディス
ク１に情報が記録される。
データＫに基づく記録信号Ｍを生成する。この記録信号
Ｍによりレ−ザダイオ−ド２１ａが駆動され、光ディス
ク１に情報が記録される。
【００４１】また、ここでは光ディスク１としては、例
えばトラッキング用グル−ブが形成された基板上にシア
ニン色素によって記録層が形成され、さらにこの記録層
の上に金の反射層及び紫外線硬化樹脂による保護層が形
成された光ディスクが用いられる。
えばトラッキング用グル−ブが形成された基板上にシア
ニン色素によって記録層が形成され、さらにこの記録層
の上に金の反射層及び紫外線硬化樹脂による保護層が形
成された光ディスクが用いられる。
【００４２】さらに、図５に示すように、基準ディジタ
ル信号ＡがハイレベルＨのときにピット部Ｐａを形成で
きる高強度のレ−ザ光を光ディスクに照射し、ロ−レベ
ルＬのときにはレーザ光強度は再生パワーレベルにな
り、ピット部が形成されるずに非ピット部Ｐｂとなる。
ル信号ＡがハイレベルＨのときにピット部Ｐａを形成で
きる高強度のレ−ザ光を光ディスクに照射し、ロ−レベ
ルＬのときにはレーザ光強度は再生パワーレベルにな
り、ピット部が形成されるずに非ピット部Ｐｂとなる。
【００４３】次に、前述の構成よりなる本実施形態の動
作を説明する。本実施形態における光ディスク記録再生
装置では、予め光ディスクの各種類において後述する演
算に用いる定数Ｎを実験によって求め、これらの定数Ｎ
をディスクの種類に対応してＥＥＰＲＯＭ２７ｃに記憶
させておく。
作を説明する。本実施形態における光ディスク記録再生
装置では、予め光ディスクの各種類において後述する演
算に用いる定数Ｎを実験によって求め、これらの定数Ｎ
をディスクの種類に対応してＥＥＰＲＯＭ２７ｃに記憶
させておく。
【００４４】また、情報の記録を行う際には従来と同様
にＯＰＣを行うと共に、情報記録時にはランニングＯＰ
Ｃを行っている。このランニングＯＰＣでは、光ディス
ク１への情報記録開始時に実記録領域で数フレームに渡
り、複数のピットの先端及び先端から基準時間幅Ｔを経
過した位置の反射光強度を検出し、この検出結果に基づ
いて、基準値となる反射光強度最大値及びサンプル反射
光強度を求め、これらをＲＡＭ２７ｄに記憶している。
にＯＰＣを行うと共に、情報記録時にはランニングＯＰ
Ｃを行っている。このランニングＯＰＣでは、光ディス
ク１への情報記録開始時に実記録領域で数フレームに渡
り、複数のピットの先端及び先端から基準時間幅Ｔを経
過した位置の反射光強度を検出し、この検出結果に基づ
いて、基準値となる反射光強度最大値及びサンプル反射
光強度を求め、これらをＲＡＭ２７ｄに記憶している。
【００４５】さらに、情報記録開始時以降は、ピットＰ
ａの先端及び先端から基準時間幅Ｔを経過した位置の反
射光強度を検出して、この検出結果とＲＡＭ２７ｄに記
憶してある基準値とを比較して後述する演算を行い、こ
の結果に基づいて、レーザ光強度を随時補正しながら情
報の記録を行っている。
ａの先端及び先端から基準時間幅Ｔを経過した位置の反
射光強度を検出して、この検出結果とＲＡＭ２７ｄに記
憶してある基準値とを比較して後述する演算を行い、こ
の結果に基づいて、レーザ光強度を随時補正しながら情
報の記録を行っている。
【００４６】これらのＯＰＣ処理は、図６及び図７に示
す制御フローに基づいて行われている。即ち、光ディス
ク１に情報を記録する際には、ＣＰＵ２７ａは光ディス
ク１のＡＴＩＰに記録されている光ディスク種別を読み
取り（Ｓ１）、これに対応した演算定数Ｎを選択する
（Ｓ２）。
す制御フローに基づいて行われている。即ち、光ディス
ク１に情報を記録する際には、ＣＰＵ２７ａは光ディス
ク１のＡＴＩＰに記録されている光ディスク種別を読み
取り（Ｓ１）、これに対応した演算定数Ｎを選択する
（Ｓ２）。
【００４７】次に、従来と同様にＰＣＡにおいてＯＰＣ
を行い（Ｓ３）、パルス幅補正値を求める（Ｓ４）と共
に、レーザ光強度の補正値を求め（Ｓ５）、これらをＲ
ＡＭ２７ｄに記憶する（Ｓ６）。
を行い（Ｓ３）、パルス幅補正値を求める（Ｓ４）と共
に、レーザ光強度の補正値を求め（Ｓ５）、これらをＲ
ＡＭ２７ｄに記憶する（Ｓ６）。
【００４８】この後、これらの補正値に基づいてパルス
幅及びレーザ光強度を補正し（Ｓ７）、光ディスク１上
の所定領域に記録対象となる情報の書き込みを行う（Ｓ
８）。
幅及びレーザ光強度を補正し（Ｓ７）、光ディスク１上
の所定領域に記録対象となる情報の書き込みを行う（Ｓ
８）。
【００４９】次いで、ＣＰＵ２７ａは、光ディスクに対
して情報の記録中であるか否かを判定し（Ｓ９）、情報
の記録中であるときには１ＡＴＩＰフレーム（以下、１
フレームと称する）分の情報記録を行ったか否かを判定
する（Ｓ１０）。この判定の結果、１フレーム分の情報
を記録し終わっていないときは前記Ｓ９の処理に移行
し、１フレーム分の情報を記録し終わったときは、次の
１フレーム分の情報を記録するのと並行して光ディスク
１に記録した情報の再生が行われ、ピット部Ｐａの先端
からの反射光強度（反射光強度最大値）Ａ0と先端から
基準時間幅Ｔを経過した位置の反射光強度（サンプル反
射光強度）Ｂ0を検出して記憶する（Ｓ１１）。
して情報の記録中であるか否かを判定し（Ｓ９）、情報
の記録中であるときには１ＡＴＩＰフレーム（以下、１
フレームと称する）分の情報記録を行ったか否かを判定
する（Ｓ１０）。この判定の結果、１フレーム分の情報
を記録し終わっていないときは前記Ｓ９の処理に移行
し、１フレーム分の情報を記録し終わったときは、次の
１フレーム分の情報を記録するのと並行して光ディスク
１に記録した情報の再生が行われ、ピット部Ｐａの先端
からの反射光強度（反射光強度最大値）Ａ0と先端から
基準時間幅Ｔを経過した位置の反射光強度（サンプル反
射光強度）Ｂ0を検出して記憶する（Ｓ１１）。
【００５０】この後、ＣＰＵ２７ａは、１５回分の検出
データが得られたか否かを判定し（Ｓ１２）、１５回に
至っていないときは前記Ｓ９の処理に移行し、１５回分
の検出データが得られたときは、検出した１５個の反射
光強度最大値Ａ0 とサンプル反射光強度Ｂ0 のそれぞれ
の平均値Ａm ，Ｂm を算出する（Ｓ１３）。
データが得られたか否かを判定し（Ｓ１２）、１５回に
至っていないときは前記Ｓ９の処理に移行し、１５回分
の検出データが得られたときは、検出した１５個の反射
光強度最大値Ａ0 とサンプル反射光強度Ｂ0 のそれぞれ
の平均値Ａm ，Ｂm を算出する（Ｓ１３）。
【００５１】次いで、ＣＰＵ２７ａはＳ１３の演算処理
に使用した検出データが情報記録開始直後の１５回分の
ものであるか否かを判定し（Ｓ１４）、情報記録開始直
後の検出データを用いているときは、これらの平均値Ａ
m ，Ｂm を用いて、次の(1)式に示す値ＳＢ0 を算出す
ると共にＲＡＭ２７ｄに記憶する（Ｓ１５）。
に使用した検出データが情報記録開始直後の１５回分の
ものであるか否かを判定し（Ｓ１４）、情報記録開始直
後の検出データを用いているときは、これらの平均値Ａ
m ，Ｂm を用いて、次の(1)式に示す値ＳＢ0 を算出す
ると共にＲＡＭ２７ｄに記憶する（Ｓ１５）。
【００５２】 ＳＢ0 ＝Ａm ×（１／Ｎ）−Ｂm …（１） ここで、Ｎは、前述したように実験によって予め求めら
れ、ＥＥＰＲＯＭ２７ｃに記憶されている光ディスクの
種類に対応した定数である。
れ、ＥＥＰＲＯＭ２７ｃに記憶されている光ディスクの
種類に対応した定数である。
【００５３】この後、前記Ｓ９の処理に移行する。
【００５４】前記Ｓ１４の判定の結果、Ｓ１３の演算処
理に使用した検出データが記録開始直後のものでないと
きは、これらの平均値Ａm ，Ｂm を用いて、次の(2) 式
に示す値ＳＢ1 を算出すると共にＲＡＭ２７ｄに記憶す
る（Ｓ１６）。
理に使用した検出データが記録開始直後のものでないと
きは、これらの平均値Ａm ，Ｂm を用いて、次の(2) 式
に示す値ＳＢ1 を算出すると共にＲＡＭ２７ｄに記憶す
る（Ｓ１６）。
【００５５】 ＳＢ1 ＝Ａm ×（１／Ｎ）−Ｂm …（２） ここで、Ｎは、前述したように実験によって予め求めら
れ、ＥＥＰＲＯＭ２７ｃに記憶されている光ディスクの
種類に対応した定数である。
れ、ＥＥＰＲＯＭ２７ｃに記憶されている光ディスクの
種類に対応した定数である。
【００５６】次に、ＣＰＵ２７ａは、次の(3) 式に基づ
いてＳＢ0 の値からＳＢ1 の値を減算した値Ｗp を算出
した後（Ｓ１７）、 Ｗp ＝ＳＢ0 −ＳＢ1 …（３） このＷp の値が０よりも大きいか否かを判定する（Ｓ１
８）。
いてＳＢ0 の値からＳＢ1 の値を減算した値Ｗp を算出
した後（Ｓ１７）、 Ｗp ＝ＳＢ0 −ＳＢ1 …（３） このＷp の値が０よりも大きいか否かを判定する（Ｓ１
８）。
【００５７】この判定の結果、Ｗp の値が０よりも大き
いときは、ＳＢ1 の値をＳＢ0 の値に近づけるためにレ
ーザ光強度を増加するようにレーザ光強度補正を行い
（Ｓ１９）、また、Ｗp の値が０以下の時は、Ｗp の値
が−ΔＷp よりも小さいか否かを判定する（Ｓ２０）。
ここで、−ΔＷp は、許容範囲の設定値である。
いときは、ＳＢ1 の値をＳＢ0 の値に近づけるためにレ
ーザ光強度を増加するようにレーザ光強度補正を行い
（Ｓ１９）、また、Ｗp の値が０以下の時は、Ｗp の値
が−ΔＷp よりも小さいか否かを判定する（Ｓ２０）。
ここで、−ΔＷp は、許容範囲の設定値である。
【００５８】このＳ２０の判定の結果、Ｗp の値が−Δ
Ｗp よりも小さいときは、ＳＢ1 の値をＳＢ0 の値に近
づけるためにレーザ光強度を減少するようにレーザ光強
度補正を行い（Ｓ２１）、Ｗp の値が−ΔＷp 以上の時
はＳＢ1 の値がＳＢ0 の値にほぼ等しいものとして（レ
ーザ光強度が適切な値に設定されているものとして）レ
ーザ光強度補正を行わない。
Ｗp よりも小さいときは、ＳＢ1 の値をＳＢ0 の値に近
づけるためにレーザ光強度を減少するようにレーザ光強
度補正を行い（Ｓ２１）、Ｗp の値が−ΔＷp 以上の時
はＳＢ1 の値がＳＢ0 の値にほぼ等しいものとして（レ
ーザ光強度が適切な値に設定されているものとして）レ
ーザ光強度補正を行わない。
【００５９】ここで、前述したＳ１３乃至Ｓ１７の処理
の具体的意味を説明する。情報記録開始時においては、
図８の（ａ）に示すように適切なレーザ光強度によって
ピット部Ｐａの形成が行われているので、ピット部Ｐａ
の先端及び先端から基準時間幅Ｔを経過した位置の反射
光強度Ａ0 ，Ｂ0 は最適状態におけるものであると見な
すことができる。前記(1) 式によって求めた値ＳＢ0
は、このときの反射光強度最大値Ａ0 とサンプル反射光
強度Ｂ0 の差ＳＡ0 に対応する値となっている。
の具体的意味を説明する。情報記録開始時においては、
図８の（ａ）に示すように適切なレーザ光強度によって
ピット部Ｐａの形成が行われているので、ピット部Ｐａ
の先端及び先端から基準時間幅Ｔを経過した位置の反射
光強度Ａ0 ，Ｂ0 は最適状態におけるものであると見な
すことができる。前記(1) 式によって求めた値ＳＢ0
は、このときの反射光強度最大値Ａ0 とサンプル反射光
強度Ｂ0 の差ＳＡ0 に対応する値となっている。
【００６０】また、偏芯等の外乱や周囲温度変化によっ
て、ピット部Ｐａの形成状態が最適状態でなくなると、
ピット部Ｐａの先端及び先端から基準時間幅Ｔを経過し
た位置の反射光強度Ａ0 ，Ｂ0 も変化してくる。この変
化は、１１Ｔ時間幅を有するピット部よりも３Ｔ時間幅
を有するピット部において顕著に現れてくることが実験
によって確認されている。
て、ピット部Ｐａの形成状態が最適状態でなくなると、
ピット部Ｐａの先端及び先端から基準時間幅Ｔを経過し
た位置の反射光強度Ａ0 ，Ｂ0 も変化してくる。この変
化は、１１Ｔ時間幅を有するピット部よりも３Ｔ時間幅
を有するピット部において顕著に現れてくることが実験
によって確認されている。
【００６１】即ち、レーザ光強度が増加したと同じ状態
になると、図８（ｂ）に示すように、ピット部Ｐａが深
く広く形成されて反射光強度Ａ0 ’，Ｂ0 ’が低下す
る。また、レーザ光強度が低下したと同じ状態になる
と、図８の（ｃ）に示すように、ピット部Ｐａが浅く狭
く形成されて反射光強度Ａ0 ’，Ｂ0 ’が増加する。こ
のとき、ピット部Ｐａは通常、熱伝導の影響によって涙
形状に形成されるので、先端部よりも後端部の方がより
深く広く形成され、各部における反射率は微妙に変化し
てくる。
になると、図８（ｂ）に示すように、ピット部Ｐａが深
く広く形成されて反射光強度Ａ0 ’，Ｂ0 ’が低下す
る。また、レーザ光強度が低下したと同じ状態になる
と、図８の（ｃ）に示すように、ピット部Ｐａが浅く狭
く形成されて反射光強度Ａ0 ’，Ｂ0 ’が増加する。こ
のとき、ピット部Ｐａは通常、熱伝導の影響によって涙
形状に形成されるので、先端部よりも後端部の方がより
深く広く形成され、各部における反射率は微妙に変化し
てくる。
【００６２】従って、Ａ0 −Ｂ0 曲線は平行移動するこ
とは無く、この曲線を最適記録状態時のものに維持する
こと、即ち前述したＳＢ0 の値に保つことによって、最
適な記録状態を維持することができる。
とは無く、この曲線を最適記録状態時のものに維持する
こと、即ち前述したＳＢ0 の値に保つことによって、最
適な記録状態を維持することができる。
【００６３】また、Ｓ２０の判定の結果、Ｗp の値が−
ΔＷp 以上のときは、情報の書き込み（記録）が終了し
たか否かを判定する（Ｓ２２）。この判定の結果、情報
の書き込みが終了していないときは前記Ｓ９の処理に移
行する。
ΔＷp 以上のときは、情報の書き込み（記録）が終了し
たか否かを判定する（Ｓ２２）。この判定の結果、情報
の書き込みが終了していないときは前記Ｓ９の処理に移
行する。
【００６４】前述したように本実施形態によれば、ラン
ニングＯＰＣを情報の記録領域にて行い、光ディスク１
の記録層の性質の変化、或いは光ディスク１の偏心等に
よって形成状態が顕著に変化するピット部Ｐａの形成状
態を反射光によって検出し、レ−ザ光強度を増減して光
ディスク１への熱の供給量を補正しているので、常に基
準ディジタル信号Ａに対応した形状のピットを形成する
ことができ、記録特性を向上させることができる。
ニングＯＰＣを情報の記録領域にて行い、光ディスク１
の記録層の性質の変化、或いは光ディスク１の偏心等に
よって形成状態が顕著に変化するピット部Ｐａの形成状
態を反射光によって検出し、レ−ザ光強度を増減して光
ディスク１への熱の供給量を補正しているので、常に基
準ディジタル信号Ａに対応した形状のピットを形成する
ことができ、記録特性を向上させることができる。
【００６５】また、周囲温度が変化し、レーザ光の強度
或いは発振波長が変化した場合においても、前述したよ
うにレーザ光強度が増減補正されて、光ディスク１への
熱の供給量が補正されるので、ジッター等を低減できる
と共に、常に基準ディジタル信号Ａに対応した形状のピ
ットを形成することができ、記録特性を向上させること
ができる。
或いは発振波長が変化した場合においても、前述したよ
うにレーザ光強度が増減補正されて、光ディスク１への
熱の供給量が補正されるので、ジッター等を低減できる
と共に、常に基準ディジタル信号Ａに対応した形状のピ
ットを形成することができ、記録特性を向上させること
ができる。
【００６６】さらに、レーザ光強度の増減補正におい
て、Ｗp が０＞Ｗp ＞−ΔＷp の範囲内にあるときにレ
ーザ光強度は適正であると判断しているため、レーザ光
強度の適正値近傍においてレーザ光強度の無駄な増減を
行うことがないので、情報記録後のピット形成状態が不
安定になることがない。
て、Ｗp が０＞Ｗp ＞−ΔＷp の範囲内にあるときにレ
ーザ光強度は適正であると判断しているため、レーザ光
強度の適正値近傍においてレーザ光強度の無駄な増減を
行うことがないので、情報記録後のピット形成状態が不
安定になることがない。
【００６７】尚、本実施形態における演算等は一例であ
りこれに限定されることはない。
りこれに限定されることはない。
【００６８】
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１記
載の光ディスクのランニングＯＰＣ方法によれば、光デ
ィスクへの情報記録開始時に実記録領域で複数フレーム
に渡り、複数のピット部からの反射光強度が検出され、
該検出結果に基づいて、補正基準値が求められ、前記情
報記録開始時以降は、前記ピット部からの反射光強度最
大値及びサンプル反射光強度から検出値が求められて、
該検出値と前記補正基準値との差が所定範囲内となるよ
うに、前記レーザ光強度が補正される。従って、前記ピ
ット部からの反射光強度最大値は、情報記録に使用する
レーザ光強度に対して飽和するポイントが高いため、よ
り高い光強度まで検出することが可能となるので、偏芯
等の外乱や周囲温度変化の影響を受けることなく、的確
なレーザ光強度の補正を行うことができる。これによ
り、例えば、外乱や周囲温度の上昇があった場合に、見
かけ上の記録レーザ光強度が下がり、記録中のピット部
からの反射光強度が上昇しても、常に最適な状態で情報
記録を行うことができる。
載の光ディスクのランニングＯＰＣ方法によれば、光デ
ィスクへの情報記録開始時に実記録領域で複数フレーム
に渡り、複数のピット部からの反射光強度が検出され、
該検出結果に基づいて、補正基準値が求められ、前記情
報記録開始時以降は、前記ピット部からの反射光強度最
大値及びサンプル反射光強度から検出値が求められて、
該検出値と前記補正基準値との差が所定範囲内となるよ
うに、前記レーザ光強度が補正される。従って、前記ピ
ット部からの反射光強度最大値は、情報記録に使用する
レーザ光強度に対して飽和するポイントが高いため、よ
り高い光強度まで検出することが可能となるので、偏芯
等の外乱や周囲温度変化の影響を受けることなく、的確
なレーザ光強度の補正を行うことができる。これによ
り、例えば、外乱や周囲温度の上昇があった場合に、見
かけ上の記録レーザ光強度が下がり、記録中のピット部
からの反射光強度が上昇しても、常に最適な状態で情報
記録を行うことができる。
【００６９】また、請求項２記載の光ディスクのランニ
ングＯＰＣ方法によれば、上記の効果に加えて、前記検
出結果と基準値との比較の際に用いる定数は、情報記録
対象となる光ディスクの種類毎に予め設定され、該定数
を用いてレーザ光強度の補正が行われるので、光ディス
クの種類が変わってもこれに対応してレーザ光強度の補
正が可能となる。
ングＯＰＣ方法によれば、上記の効果に加えて、前記検
出結果と基準値との比較の際に用いる定数は、情報記録
対象となる光ディスクの種類毎に予め設定され、該定数
を用いてレーザ光強度の補正が行われるので、光ディス
クの種類が変わってもこれに対応してレーザ光強度の補
正が可能となる。
【００７０】また、請求項３記載の光ディスクのランニ
ングＯＰＣ方法によれば、上記の効果に加えて、ピット
部の先端から基準時間幅経過後に検出した反射光強度が
サンプル反射光強度とされ、このようにピット部の先端
から基準時間幅経過後の位置における反射光強度は、ピ
ット部の形成状態が確定していないため、基準時間幅の
３倍乃至１１倍の時間幅をもつピット部の何れにおいて
もほぼ同一となるので、情報記録に使用するレーザ光強
度に対して飽和するポイントが高くなり、より高い光強
度まで検出することが可能となる。これにより、偏芯等
の外乱や周囲温度変化の影響をさらに排除することがで
き、常に最適な状態で情報記録を行うことができる。
ングＯＰＣ方法によれば、上記の効果に加えて、ピット
部の先端から基準時間幅経過後に検出した反射光強度が
サンプル反射光強度とされ、このようにピット部の先端
から基準時間幅経過後の位置における反射光強度は、ピ
ット部の形成状態が確定していないため、基準時間幅の
３倍乃至１１倍の時間幅をもつピット部の何れにおいて
もほぼ同一となるので、情報記録に使用するレーザ光強
度に対して飽和するポイントが高くなり、より高い光強
度まで検出することが可能となる。これにより、偏芯等
の外乱や周囲温度変化の影響をさらに排除することがで
き、常に最適な状態で情報記録を行うことができる。
【００７１】また、請求項４記載の光ディスク記録再生
装置によれば、情報記録開始時におけるピット部からの
反射光強度最大値及びサンプル反射光強度に基づく補正
基準値が記憶手段に記憶され、情報記録開始時以降には
最大反射光強検出手段及びサンプル反射光強度検出手段
の検出結果とに基づいて算出された検出値と前記補正基
準値との差が所定範囲内となるようにレーザ光強度補正
手段によってレーザ光の強度が補正される。従って、前
記ピット部からの反射光強度最大値はピット部の先端に
おけるものであり、情報記録に使用するレーザ光強度に
対して飽和するポイントが高いため、より高い光強度ま
で検出することが可能となるので、偏芯等の外乱や周囲
温度変化の影響を受けることなく、的確なレーザ光強度
の補正を行うことができる。これにより、偏芯等の外乱
や周囲温度の上昇があった場合にも、適切なレーザ光強
度の補正が行われるので、常に最適状態での情報記録が
可能となる。
装置によれば、情報記録開始時におけるピット部からの
反射光強度最大値及びサンプル反射光強度に基づく補正
基準値が記憶手段に記憶され、情報記録開始時以降には
最大反射光強検出手段及びサンプル反射光強度検出手段
の検出結果とに基づいて算出された検出値と前記補正基
準値との差が所定範囲内となるようにレーザ光強度補正
手段によってレーザ光の強度が補正される。従って、前
記ピット部からの反射光強度最大値はピット部の先端に
おけるものであり、情報記録に使用するレーザ光強度に
対して飽和するポイントが高いため、より高い光強度ま
で検出することが可能となるので、偏芯等の外乱や周囲
温度変化の影響を受けることなく、的確なレーザ光強度
の補正を行うことができる。これにより、偏芯等の外乱
や周囲温度の上昇があった場合にも、適切なレーザ光強
度の補正が行われるので、常に最適状態での情報記録が
可能となる。
【００７２】また、請求項５記載の光ディスク記録再生
装置によれば、上記の効果に加えて、レーザ光強度補正
の際に用いる定数は、情報記録対象となる光ディスクの
種類毎に予め設定されているので、光ディスクの種類が
変わってもこれに対応してレーザ光強度の適切な補正が
可能となる。
装置によれば、上記の効果に加えて、レーザ光強度補正
の際に用いる定数は、情報記録対象となる光ディスクの
種類毎に予め設定されているので、光ディスクの種類が
変わってもこれに対応してレーザ光強度の適切な補正が
可能となる。
【００７３】また、請求項６記載の光ディスク記録再生
装置によれば、上記の効果に加えて、ピット部の先端か
ら基準時間幅経過後に検出した反射光強度がサンプル反
射光強度とされ、このようにピット部の先端から基準時
間幅経過後の位置における反射光強度は、ピット部の形
成状態が確定していないため、基準時間幅の３倍乃至１
１倍の時間幅をもつピット部の何れにおいてもほぼ同一
となるので、情報記録に使用するレーザ光強度に対して
飽和するポイントが高くなり、より高い光強度まで検出
することが可能となる。これにより、偏芯等の外乱や周
囲温度変化の影響をさらに排除することができ、的確な
レーザ光強度の補正を行うことができる。
装置によれば、上記の効果に加えて、ピット部の先端か
ら基準時間幅経過後に検出した反射光強度がサンプル反
射光強度とされ、このようにピット部の先端から基準時
間幅経過後の位置における反射光強度は、ピット部の形
成状態が確定していないため、基準時間幅の３倍乃至１
１倍の時間幅をもつピット部の何れにおいてもほぼ同一
となるので、情報記録に使用するレーザ光強度に対して
飽和するポイントが高くなり、より高い光強度まで検出
することが可能となる。これにより、偏芯等の外乱や周
囲温度変化の影響をさらに排除することができ、的確な
レーザ光強度の補正を行うことができる。
【図１】本発明の一実施形態の光ディスク記録再生装置
を示す構成図
を示す構成図
【図２】従来例における３Ｔ時間幅ピット部と１１Ｔ時
間幅ピット部の反射光強度の違いを説明する図
間幅ピット部の反射光強度の違いを説明する図
【図３】本発明の一実施形態における検出タイミングを
説明する図
説明する図
【図４】本発明の一実施形態におけるピーク検出回路及
びサンプルホールド回路の検出値を説明する図
びサンプルホールド回路の検出値を説明する図
【図５】本発明の一実施形態におけるディジタル基準信
号とピットとの関係を説明する図
号とピットとの関係を説明する図
【図６】本発明の一実施形態におけるＯＰＣ処理制御フ
ローチャート
ローチャート
【図７】本発明の一実施形態におけるＯＰＣ処理制御フ
ローチャート
ローチャート
【図８】本発明の一実施形態におけるレーザ光強度補正
方法を説明する図
方法を説明する図
１…光ディスク、２…光情報記録装置、２１…光ピック
アップ、２１ａ…レ−ザダイオ−ド、２１ｂ…フォトデ
ィテクタ、２１ｃ…ハ−フミラ−、２１ｄ…レンズ、２
２…ＲＦアンプ、２３…ローパスフィルタ、２４…サン
プルパルス発生回路、２５…ピーク検出回路、２６…サ
ンプルホ−ルド回路、２７…演算回路、２７ａ…ＣＰ
Ｕ、２７ｂ…ＲＯＭ、２７ｃ…ＥＥＰＲＯＭ、２７ｄ…
ＲＡＭ、２８…光ディスクエンコーダ、２９…レ−ザ駆
動回路、３０…ＡＴＩＰデコーダ。
アップ、２１ａ…レ−ザダイオ−ド、２１ｂ…フォトデ
ィテクタ、２１ｃ…ハ−フミラ−、２１ｄ…レンズ、２
２…ＲＦアンプ、２３…ローパスフィルタ、２４…サン
プルパルス発生回路、２５…ピーク検出回路、２６…サ
ンプルホ−ルド回路、２７…演算回路、２７ａ…ＣＰ
Ｕ、２７ｂ…ＲＯＭ、２７ｃ…ＥＥＰＲＯＭ、２７ｄ…
ＲＡＭ、２８…光ディスクエンコーダ、２９…レ−ザ駆
動回路、３０…ＡＴＩＰデコーダ。
Claims (6)
- 【請求項１】 記録対象の情報に対応すると共に、ピッ
ト部を形成できる強度のレ−ザ光を照射する期間を表す
第１の信号レベルと前記強度よりも低い所定強度のレ−
ザ光を照射する期間を表す第２の信号レベルとを有し、
該第１及び第２の信号レベルは所定の基準時間幅の３倍
乃至１１倍の時間幅をもつ基準ディジタル信号に基づ
き、光ディスクに対して所定強度のパルス状のレ−ザ光
を照射してピットを形成し、情報を記録するときの光デ
ィスクのランニングＯＰＣ方法において、 前記光ディスクへの情報記録開始時に実記録領域で複数
フレームに渡り、複数のピット部の反射光強度の最大値
及び該ピット部の先端から所定時間後のサンプル反射光
強度を検出し、 該検出結果に基づいて、基準値となる反射光強度最大値
及びサンプル反射光強度を求めると共に、 前記基準値における前記反射光強度最大値に所定の定数
を乗算した値と前記サンプル反射光強度との差を補正基
準値として求め、 前記情報記録開始時以降は、前記ピット部からの反射光
強度最大値及び前記サンプル反射光強度を検出して、 該情報記録時において検出した前記反射光強度最大値と
サンプル反射光強度とから、同様にして反射光強度最大
値に所定の定数を乗算した値とサンプル反射光強度との
差を検出値として求め、 該検出値と前記補正基準値とを比較し、 前記検出値と前記補正基準値との差が所定範囲内となる
ように、前記レーザ光強度を補正することを特徴とする
光ディスクのランニングＯＰＣ方法。 - 【請求項２】 前記定数は、情報記録対象となる光ディ
スクの種類毎に予め設定されていることを特徴とする請
求項１記載の光ディスクのランニングＯＰＣ方法。 - 【請求項３】 前記ピット部の先端から前記基準時間幅
経過後に前記サンプル反射光強度を検出することを特徴
とする請求項１乃至２の何れかに記載の光ディスクのラ
ンニングＯＰＣ方法。 - 【請求項４】 記録対象の情報に対応すると共に、ピッ
ト部を形成できる強度のレ−ザ光を照射する期間を表す
第１の信号レベルと前記強度よりも低い所定強度のレ−
ザ光を照射する期間を表す第２の信号レベルとを有し、
該第１及び第２の信号レベルは所定の基準時間幅の３倍
乃至１１倍の時間幅をもつ基準ディジタル信号に基づ
き、光ディスクに対して所定強度のパルス状のレ−ザ光
を照射し、ピットを形成する光情報記録装置において、 少なくとも前記ピット部の形成時に前記光ディスクから
の反射光の強度を検知する光強度検知手段と、 該光強度検知手段の検知結果に基づき、前記ピット部の
反射光強度の最大値を検出する最大反射光強度検出手段
と、 前記光強度検知手段の検知結果に基づき、前記ピット部
の先端から所定時間経過後の反射光強度を検出するサン
プル反射光強度検出手段と、 情報記録開始時における前記反射光強度最大値に所定の
定数を乗算した値と前記サンプル反射光強度との差を補
正基準値として算出する第１の算出手段と、 前記補正基準値を記憶する記憶手段と、 情報記録開始時以降に、前記最大反射光強度検出手段に
よって検出された反射光強度最大値に所定の定数を乗算
した値と前記サンプル反射光強度検出手段によって検出
されたサンプル反射光強度との差を検出値として算出す
る第２の算出手段と、 前記検出値と前記補正基準値とを比較し、前記検出値と
前記補正基準値との差が所定範囲内となるように、前記
レーザ光強度を補正するレーザ光強度補正手段とを備え
たことを特徴とする光ディスク記録再生装置。 - 【請求項５】 前記定数は、情報記録対象となる光ディ
スクの種類毎に予め設定されていることを特徴とする請
求項４記載の光ディスク記録再生装置。 - 【請求項６】 前記サンプル反射光強度検出手段は、前
記ピット部の先端から前記基準時間幅経過後に前記ピッ
ト部からの反射光強度を検出することを特徴とする請求
項４乃至５の何れかに記載の光ディスク記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8198120A JPH1040548A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 光ディスクのランニングｏｐｃ方法及び光ディスク記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8198120A JPH1040548A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 光ディスクのランニングｏｐｃ方法及び光ディスク記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1040548A true JPH1040548A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16385793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8198120A Pending JPH1040548A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 光ディスクのランニングｏｐｃ方法及び光ディスク記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1040548A (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001006499A1 (de) * | 1999-07-15 | 2001-01-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Laserdiodenregelung bei wiederbeschreibbaren optischen aufzeichnungsgeräten |
| WO2003001519A1 (en) * | 2001-06-26 | 2003-01-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording method and information recording apparatus |
| WO2003021584A1 (en) | 2001-09-06 | 2003-03-13 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and device for running optimum power control |
| EP1306839A3 (en) * | 2001-10-29 | 2004-04-21 | Hitachi-LG Data Storage Korea Inc. | Method and apparatus of recording data optimally onto a disk recorded in multiple speed zones |
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| KR100505642B1 (ko) * | 2002-09-26 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | Ｃｄ-ｒ 디스크에 데이터를 기입할 때 표준 ｂ-레벨을결정하는 방법 |
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| CN100429707C (zh) * | 2003-03-11 | 2008-10-29 | 雅马哈株式会社 | 光盘记录方法及光盘记录系统 |
-
1996
- 1996-07-26 JP JP8198120A patent/JPH1040548A/ja active Pending
Cited By (16)
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|---|---|---|---|---|
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| KR100489543B1 (ko) * | 2001-06-25 | 2005-05-16 | 티아크 가부시키가이샤 | 광 디스크장치 |
| US6950377B2 (en) | 2001-06-26 | 2005-09-27 | Matsushita Electric Industial Co., Ltd. | Information recording method and information recording apparatus |
| WO2003001519A1 (en) * | 2001-06-26 | 2003-01-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Information recording method and information recording apparatus |
| KR100712781B1 (ko) * | 2001-07-10 | 2007-05-02 | 엘지전자 주식회사 | 발광 소자에서 방사되는 레이저 빔의 세기를 자동으로설정하는 장치 및 방법 |
| WO2003021584A1 (en) | 2001-09-06 | 2003-03-13 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and device for running optimum power control |
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| EP1306839A3 (en) * | 2001-10-29 | 2004-04-21 | Hitachi-LG Data Storage Korea Inc. | Method and apparatus of recording data optimally onto a disk recorded in multiple speed zones |
| CN100423094C (zh) * | 2002-02-25 | 2008-10-01 | 蒂雅克株式会社 | 光盘装置 |
| US7133337B2 (en) | 2002-08-27 | 2006-11-07 | Nec Corporation | Method for recording data on an optical disk by using a running optimum power control technique |
| KR100505642B1 (ko) * | 2002-09-26 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | Ｃｄ-ｒ 디스크에 데이터를 기입할 때 표준 ｂ-레벨을결정하는 방법 |
| CN100429707C (zh) * | 2003-03-11 | 2008-10-29 | 雅马哈株式会社 | 光盘记录方法及光盘记录系统 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010515 |