JPH1041797A - Switch circuit with overcurrent detection function - Google Patents
Switch circuit with overcurrent detection functionInfo
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- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 配線部材や負荷の保護を図る。
【解決手段】 マイコン4は、ランプLの点灯又は消灯
の指示信号に応じて駆動回路5を介してFET2のオ
ン、オフを制御する。また、マイコン4は、A/D変換
器6を介して入力されるランプLに流れる電流ILを所
定のサンプリング時間TS毎に取り込むとともに、取り
込んだ電流ILをランプLの既知の定格電流値IRと比較
する。そして、IL≧IRになると通電時間Tのカウント
を開始し、IL×TSの累積値が予め設定された値S0に
なるとFET2をオフにする。また、マイコン4は、検
出電流ILが予め設定された上限値I0(≫IR)以上の
ときは、駆動回路5を介して直ぐにFET2をオフにす
る。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To protect wiring members and loads. A microcomputer controls on and off of a FET through a drive circuit in accordance with an instruction signal for turning on or off a lamp. The microcomputer 4 also takes in the current I L flowing through the A / D converter 6 and flowing through the lamp L every predetermined sampling time T S , and converts the taken current I L into a known rated current of the lamp L. Compare with value I R. Then, to start the I L ≧ I count the energization time T becomes R, turn off I L × T FET2 the accumulated value reaches a value S 0 which is set in advance of the S. When the detection current I L is equal to or greater than the preset upper limit value I 0 (≫I R ), the microcomputer 4 turns off the FET 2 via the drive circuit 5 immediately.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電源から負荷への
電力供給をオン、オフ制御する過電流検出機能付きスイ
ッチ回路に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a switch circuit having an overcurrent detection function for controlling on / off of power supply from a power supply to a load.
【0002】[0002]
【従来の技術】 機器の故障や火災につながる電気回路の短絡への対策
は、長年検討されてきた重要課題の一つである。しかし
ながら、短絡の態様が多岐に亘っているため、いずれの
態様に対しても適切に動作する簡素な構成による対策を
実現するのは困難であった。2. Description of the Related Art Countermeasures against short-circuiting of an electric circuit leading to equipment failure or fire have been one of the important issues that have been studied for many years. However, since there are a variety of short-circuiting modes, it has been difficult to realize a countermeasure with a simple configuration that appropriately operates in any of the modes.
【0003】従来、短絡に対する機器や電気配線の保護
対策として最も多く使用されているのはヒューズであ
る。ヒューズは、金属導電体部を備え、この金属導電体
部の温度が設定値以上に上昇すると金属導電体部が溶断
するように構成されており、通常、負荷への電力供給ラ
インなどの保護対象の電気配線中に電源に直列接続され
て用いられる。そして、ヒューズに過電流が流れ、金属
導電体部の温度が上記設定値以上に上昇すると、金属導
電体部が溶断し、保護対象の電気配線を通しての電力供
給が遮断されるように構成されている。Conventionally, fuses have been most frequently used as a measure for protecting devices and electrical wiring against short circuits. The fuse is provided with a metal conductor portion, and when the temperature of the metal conductor portion rises above a set value, the metal conductor portion is blown, and is usually protected by a power supply line to a load or the like. Used in series with a power supply in the electric wiring of the present invention. When an overcurrent flows through the fuse and the temperature of the metal conductor rises above the set value, the metal conductor melts and the power supply through the electric wiring to be protected is cut off. I have.
【0004】一方、従来、電気製品の軽薄短小化を実
現するために、それに搭載する電子部品の小型化が図ら
れており、例えば、電源から負荷への電力供給を制御す
るスイッチング素子及びそのスイッチング素子の動作を
制御する制御回路が基板上に一体的に実装されたスイッ
チ回路が使用されている。このようなスイッチ回路とし
て、従来、単にスイッチング素子のオン、オフを制御す
るだけではなく、過電流、過電圧や過熱などの異常発生
を検出するとともに、異常に対応してスイッチング素子
の制御を行う保護回路を備えたものが用いられている。[0004] On the other hand, conventionally, in order to reduce the weight and thickness of electric products, electronic components mounted thereon have been miniaturized. For example, a switching element for controlling power supply from a power supply to a load and a switching element thereof have been proposed. A switch circuit in which a control circuit for controlling the operation of the element is integrally mounted on a substrate is used. Conventionally, such a switch circuit not only controls the on / off of the switching element, but also detects the occurrence of an abnormality such as overcurrent, overvoltage or overheating, and controls the switching element in response to the abnormality. The one provided with the circuit is used.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術で
は、金属導電体部の溶断は熱の蓄積によるので、周囲温
度が低いときは熱の蓄積速度も遅くなり、溶断時間が長
くなるため、周囲温度に対するディレーティングを見込
んで上記設定値を設計する必要がある。In the above-mentioned prior art, the fusing of the metal conductor is caused by the accumulation of heat. Therefore, when the ambient temperature is low, the rate of heat accumulation is slow, and the fusing time is long. It is necessary to design the above set value in consideration of derating with respect to temperature.
【0006】また、短絡の態様として、過電流が連続し
て流れる場合と、パルス状の過電流が断続的に流れる場
合とがあるが、後者の場合には、前者の場合に比べて熱
の蓄積速度が遅くなるので、過電流が流れているにも拘
らず、溶断時間が長くなったり、あるいは全く溶断しな
かったりする虞れがあった。従って、断続的に流れるパ
ルス状の過電流に対してヒューズを用いて機器や電気配
線の保護を確実に行うのは困難であった。There are two types of short-circuiting: a case where an overcurrent flows continuously and a case where a pulse-like overcurrent flows intermittently. In the latter case, the heat is more intense than in the former case. Since the accumulation speed becomes slow, there is a possibility that the fusing time may be long or the fusing may not be performed at all even though an overcurrent is flowing. Therefore, it has been difficult to reliably protect devices and electrical wiring using a fuse against intermittently flowing pulse-like overcurrent.
【0007】また、上記従来の技術のスイッチ回路に
おける過電流の検出は、回路や負荷の定格電流より大幅
に大きいレベルの電流を検出するとスイッチング素子を
即時オフにすることによりスイッチ回路の自己保護を図
るためのものであり、電源と負荷間の配線部材や負荷の
定格電流より多少大きいレベルの過電流に対して配線部
材や負荷の保護を考慮したものではなかった。Further, the overcurrent detection in the above-mentioned conventional switch circuit is such that when a current having a level significantly larger than the rated current of the circuit or load is detected, the switching element is immediately turned off to protect the switch circuit from self-protection. This is for the purpose of protection, and does not consider the protection of the wiring member and the load against an overcurrent at a level slightly larger than the rated current of the wiring member and the load between the power supply and the load.
【0008】本発明は、上記問題を解決するもので、配
線部材や負荷の保護を確実に行える過電流検出機能付き
スイッチ回路を提供することを目的とする。An object of the present invention is to solve the above problem and to provide a switch circuit with an overcurrent detection function capable of reliably protecting a wiring member and a load.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明は、負荷と電源の
間に設けられ、制御端子に入力される制御信号に応じて
上記負荷と上記電源との接続をオン、オフする半導体ス
イッチング素子と、指示信号出力部から出力される負荷
の動作を指示する指示信号を受信するとともに、受信し
た指示信号に従って上記半導体スイッチング素子の制御
端子に制御信号を出力するスイッチ制御手段とを備え、
上記電源から上記負荷への電力供給を制御するスイッチ
回路において、上記負荷に流れる負荷電流を検出する電
流検出手段と、上記負荷電流の検出が、上記負荷と電源
間の配線もしくは上記負荷の電気特性に応じて予め設定
された過電流判定条件を満足すると、上記半導体スイッ
チング素子のオン、オフ制御を変更する過電流制御手段
とを備えたものである(請求項1)。According to the present invention, there is provided a semiconductor switching element provided between a load and a power supply, for turning on and off the connection between the load and the power supply in accordance with a control signal input to a control terminal. A switch control means for receiving an instruction signal instructing the operation of the load output from the instruction signal output unit, and outputting a control signal to a control terminal of the semiconductor switching element according to the received instruction signal,
In a switch circuit for controlling power supply from the power supply to the load, current detection means for detecting a load current flowing through the load, and detection of the load current is performed by a wiring between the load and a power supply or an electrical characteristic of the load. And an overcurrent control means for changing the on / off control of the semiconductor switching element when an overcurrent determination condition set in advance is satisfied according to (1).
【0010】この構成によれば、指示信号出力部から出
力される負荷の動作を指示する指示信号を受信すると、
この受信した指示信号に従って半導体スイッチング素子
の制御端子に制御信号が出力され、この制御信号に応じ
て負荷と電源との接続がオン、オフされる。そして、負
荷に流れる負荷電流が検出され、負荷電流の検出が、負
荷と電源間の配線もしくは負荷の電気特性に応じて予め
設定された過電流判定条件を満足すると、半導体スイッ
チング素子のオン、オフ制御が変更されることによっ
て、負荷と電源間の配線もしくは負荷の電気特性を超え
る過電流の通電が防止される。According to this configuration, when receiving the instruction signal for instructing the operation of the load, which is output from the instruction signal output unit,
A control signal is output to the control terminal of the semiconductor switching element according to the received instruction signal, and the connection between the load and the power supply is turned on and off according to the control signal. When a load current flowing through the load is detected, and the detection of the load current satisfies an overcurrent determination condition set in advance according to a wiring between the load and the power supply or an electrical characteristic of the load, the semiconductor switching element is turned on and off. By changing the control, the passage of an overcurrent exceeding the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load is prevented.
【0011】また、上記半導体スイッチング素子、上記
スイッチ制御手段及び上記過電流制御手段が基板上に一
体的に形成されてなるものである(請求項2)。Further, the semiconductor switching element, the switch control means and the overcurrent control means are integrally formed on a substrate.
【0012】この構成によれば、半導体スイッチング素
子、スイッチ制御手段及び過電流制御手段が基板上に一
体的に形成されることにより、回路が小型化され、配線
が簡素化される。According to this structure, the semiconductor switching element, the switch control means and the overcurrent control means are integrally formed on the substrate, so that the circuit is downsized and the wiring is simplified.
【0013】また、上記電流検出手段が、更に上記基板
上に一体的に形成されてなるものである(請求項3)。Further, the current detecting means is further integrally formed on the substrate.
【0014】この構成によれば、半導体スイッチング素
子、スイッチ制御手段及び過電流制御手段に加えて、電
流検出手段も基板上に一体的に形成されることにより、
更に回路が小型化され、配線が簡素化される。According to this configuration, in addition to the semiconductor switching element, the switch control means, and the overcurrent control means, the current detection means is integrally formed on the substrate, so that
Further, the circuit is downsized and the wiring is simplified.
【0015】また、上記過電流制御手段は、上記検出し
た負荷電流と上記電気特性に応じて予め設定された基準
電流とを比較する比較手段と、上記基準電流以上の電流
が上記負荷に流れる通電時間をカウントするカウント手
段とを備え、上記過電流判定条件は、上記基準電流以上
である上記負荷電流及び上記通電時間を用いて設定され
ている(請求項4)。The overcurrent control means includes a comparing means for comparing the detected load current with a reference current set in advance in accordance with the electrical characteristics, and an energizing means for supplying a current equal to or more than the reference current to the load. Counting means for counting time, wherein the overcurrent determination condition is set using the load current that is equal to or greater than the reference current and the energizing time (claim 4).
【0016】この構成によれば、負荷に流れる負荷電流
が検出され、検出された負荷電流と配線もしくは負荷の
電気特性に応じて予め設定された基準電流とが比較さ
れ、基準電流以上の電流が負荷に流れる通電時間がカウ
ントされる。そして、基準電流以上である負荷電流及び
通電時間が過電流判定条件を満足すると、半導体スイッ
チング素子のオン、オフ制御が変更されることによっ
て、過電流の通電時間が負荷と電源間の配線もしくは負
荷の電気特性を超えることが確実に防止される。基準電
流としては、配線や負荷の定格電流を用いればよい。According to this configuration, the load current flowing through the load is detected, and the detected load current is compared with a reference current preset according to the wiring or the electrical characteristics of the load. The energization time flowing to the load is counted. When the load current and the energization time that are equal to or greater than the reference current satisfy the overcurrent determination condition, the ON / OFF control of the semiconductor switching element is changed, so that the overcurrent energization time is determined by the wiring between the load and the power supply or the load. Is reliably prevented from being exceeded. As the reference current, the rated current of the wiring or load may be used.
【0017】また、上記過電流制御手段は、上記基準電
流以上で予め設定された電流が上記負荷に流れる状態が
上記電気特性に応じて予め設定された時間以上継続する
ことを過電流判定条件とし、かつ、上記設定電流が高い
ほど上記設定時間を短くした異なる設定電流及び設定時
間の組合せからなる複数の過電流判定条件を有するもの
で、上記比較手段は、更に、上記検出した負荷電流と上
記各設定電流とを比較するもので、上記カウント手段
は、更に、上記各設定電流以上の電流が上記負荷に流れ
る通電時間をカウントするものである(請求項5)。Further, the overcurrent control means determines that an overcurrent determination condition is that a state in which a preset current equal to or higher than the reference current flows to the load for a preset time in accordance with the electric characteristic. And a plurality of overcurrent determination conditions comprising a combination of different set currents and set times in which the set time is shortened as the set current is higher, wherein the comparing means further includes the detected load current and the The count means compares the set currents with each other, and the counting means further counts a conduction time during which a current equal to or more than the set currents flows to the load.
【0018】この構成によれば、負荷に流れる負荷電流
が検出され、検出された負荷電流と、基準電流及び各設
定電流とが比較され、基準電流及び各設定電流以上の電
流が負荷に流れる通電時間がカウントされる。そして、
設定電流が高いほど設定時間が短くなっているので、負
荷に流れる電流が基準電流に比べて高くなるほど、短時
間で過電流と判定されることにより、過電流の判定がき
め細かく行われ、配線もしくは負荷の電気特性を超える
通電が確実に防止される。According to this configuration, the load current flowing through the load is detected, and the detected load current is compared with the reference current and each set current. Time is counted. And
The higher the set current is, the shorter the setting time is. Therefore, as the current flowing to the load becomes higher than the reference current, the overcurrent is determined in a short time, so that the overcurrent is determined finely. Energization exceeding the electrical characteristics of the load is reliably prevented.
【0019】なお、上記請求項4の構成において、上記
過電流制御手段は、所定時間毎に上記負荷に流れる上記
基準電流以上の電流と上記所定時間との積を求め、これ
を累積する演算手段と、この累積値が予め設定された値
になると過電流であると判定する判定手段とを備えるよ
うにしてもよい。この構成によれば、負荷電流のレベル
が大きければ短い通電時間で、負荷電流のレベルが小さ
ければ長い通電時間で過電流と判定されることにより、
過電流の判定がよりきめ細かく行われ、配線もしくは負
荷の電気特性を超える通電が確実に防止される。In the above configuration, the overcurrent control means obtains a product of the current equal to or more than the reference current flowing through the load and the predetermined time every predetermined time, and accumulates the product. And a judging means for judging an overcurrent when the accumulated value reaches a preset value. According to this configuration, when the level of the load current is large, the overcurrent is determined in a short energization time, and when the level of the load current is low, the overcurrent is determined in a long energization time.
The determination of the overcurrent is performed more finely, and the energization exceeding the electrical characteristics of the wiring or the load is reliably prevented.
【0020】また、上記過電流制御手段は、上記過電流
判定条件を満足すると上記半導体スイッチング素子をオ
フにするものである(請求項6)。Further, the overcurrent control means turns off the semiconductor switching element when the overcurrent determination condition is satisfied.
【0021】この構成によれば、指示信号出力部から出
力される負荷の動作を指示する指示信号を受信すると、
この受信した指示信号に従って半導体スイッチング素子
の制御端子に制御信号が出力され、この制御信号に応じ
て負荷と電源との接続がオン、オフされる。そして、負
荷に流れる負荷電流が検出され、負荷電流の検出が、負
荷と電源間の配線もしくは負荷の電気特性に応じて予め
設定された過電流判定条件を満足すると、半導体スイッ
チング素子がオフにされることによって、負荷と電源間
の配線もしくは負荷の電気特性を超える過電流の通電が
防止される。According to this configuration, when the instruction signal for instructing the operation of the load, which is output from the instruction signal output unit, is received,
A control signal is output to the control terminal of the semiconductor switching element according to the received instruction signal, and the connection between the load and the power supply is turned on and off according to the control signal. When a load current flowing through the load is detected, and the detection of the load current satisfies an overcurrent determination condition preset according to a wiring between the load and the power supply or an electrical characteristic of the load, the semiconductor switching element is turned off. This prevents the passage of an overcurrent exceeding the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load.
【0022】また、上記過電流制御手段は、上記電気特
性に応じて予め設定された基準電流を記憶する記憶手段
と、上記検出した負荷電流と上記基準電流とを比較する
比較手段とを備え、上記検出した負荷電流が上記基準電
流以上のときに過電流であると判定するものである(請
求項7)。The overcurrent control means includes a storage means for storing a reference current preset according to the electrical characteristics, and a comparison means for comparing the detected load current with the reference current, When the detected load current is equal to or larger than the reference current, it is determined that the current is an overcurrent (claim 7).
【0023】この構成によれば、負荷と電源間の配線も
しくは負荷の電気特性に応じて予め設定された基準電流
と検出された負荷電流とが比較され、負荷電流が基準電
流以上のときに過電流であると判定されることにより、
完全な短絡ではなく、断続的に短絡状態になるような場
合でも、半導体スイッチング素子がオフにされ、負荷と
電源間の配線もしくは負荷の電気特性を超える過電流の
通電が確実に防止されることとなる。According to this configuration, the reference current preset according to the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load is compared with the detected load current. By being determined to be a current,
Even in the case of an intermittent short-circuit condition rather than a complete short-circuit, the semiconductor switching element is turned off and the overcurrent exceeding the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load is reliably prevented. Becomes
【0024】また、上記記憶手段は、更に、上記基準電
流より高いレベルの高レベル基準電流と、予め設定され
た設定時間とを記憶するもので、上記過電流制御手段
は、更に、上記スイッチ制御手段による上記半導体スイ
ッチング素子のオン時点からの経過時間をカウントする
カウント手段を備え、上記経過時間が上記設定時間未満
のときには、上記負荷電流が上記高レベル基準電流以上
になると過電流であると判定し、上記経過時間が上記設
定時間以上のときには、上記負荷電流が上記基準電流以
上になると過電流であると判定するものである(請求項
8)。Further, the storage means further stores a high-level reference current having a higher level than the reference current and a preset time, and the overcurrent control means further comprises the switch control means. Means for counting an elapsed time from the time when the semiconductor switching element is turned on by the means, and when the elapsed time is less than the set time, it is determined that an overcurrent occurs when the load current exceeds the high-level reference current. When the elapsed time is equal to or longer than the set time, it is determined that an overcurrent occurs when the load current exceeds the reference current (claim 8).
【0025】この構成によれば、半導体スイッチング素
子のオン時点からの経過時間がカウントされ、オン時点
から予め設定された設定時間が経過するまでは、負荷電
流が高レベル基準電流以上になると過電流であると判定
され、オン時点から設定時間以上経過した後は、負荷電
流が基準電流以上になると過電流であると判定されるこ
とにより、オン時点から突入電流が流れるような負荷で
あっても、この突入電流を過電流であると誤判定するこ
とがない。According to this configuration, the elapsed time from the time when the semiconductor switching element is turned on is counted. Until the preset time elapses from the time when the semiconductor switching element is turned on, if the load current becomes higher than the high-level reference current, an overcurrent occurs. It is determined that the load current is equal to or greater than the reference current after the set time has elapsed from the ON time, so that the load is determined to be an overcurrent. Therefore, there is no possibility that the inrush current is erroneously determined to be an overcurrent.
【0026】また、上記記憶手段は、更に、上記基準電
流より低いレベルの低レベル基準電流を記憶するもの
で、上記過電流制御手段は、更に、上記経過時間が上記
設定時間以上のときには、上記負荷電流が上記低レベル
基準電流以下になると異常であると判定するものである
(請求項9)。The storage means further stores a low-level reference current having a lower level than the reference current, and the overcurrent control means further comprises, when the elapsed time is longer than the set time, When the load current is lower than the low level reference current, it is determined that the load current is abnormal (claim 9).
【0027】この構成によれば、オン時点から設定時間
以上経過した後は、負荷電流が低レベル基準電流以下の
ときも異常であると判定されることにより、断続的に開
放状態になるような態様の異常が生じた場合でも、半導
体スイッチング素子がオフにされ、異常状態のままでの
通電が確実に防止されることとなる。According to this configuration, after a lapse of the set time or more from the ON time, it is determined that the load current is abnormal even when the load current is equal to or lower than the low-level reference current, so that the open state is intermittently opened. Even when an abnormality occurs in the mode, the semiconductor switching element is turned off, so that energization in an abnormal state is reliably prevented.
【0028】[0028]
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る過電流検出機
能付きスイッチ回路の第1実施形態を示す回路ブロック
図である。この過電流検出機能付きスイッチ回路1は、
自動車のバッテリー(電源)Bからランプ(負荷)Lへ
の電力供給を制御する自動車のランプ制御回路を構成す
るもので、Nチャネル電界効果トランジスタ(以下、
「FET」という。)2、シャント抵抗(電流検出部)
3、マイコン4、駆動回路5及びA/D変換器6を備
え、これらがプリント回路基板や半導体基板などの基板
上に一体的に形成されている。なお、各部が配置された
基板上を合成樹脂などでモールドするようにしてもよ
い。FIG. 1 is a circuit block diagram showing a first embodiment of a switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention. This switch circuit 1 with an overcurrent detection function is:
It constitutes an automobile lamp control circuit for controlling power supply from an automobile battery (power supply) B to a lamp (load) L.
It is called "FET". ) 2, shunt resistor (current detector)
3, a microcomputer 4, a drive circuit 5, and an A / D converter 6, which are integrally formed on a substrate such as a printed circuit board or a semiconductor substrate. Note that the substrate on which the components are arranged may be molded with a synthetic resin or the like.
【0029】FET2及びシャント抵抗3は、バッテリ
ーBとランプL間に直列に接続されており、FET2の
ドレインがバッテリーBの正極に、ソースがシャント抵
抗3に、ゲートが駆動回路5に、それぞれ接続されてお
り、FET2がオンになるとシャント抵抗3を介してラ
ンプLに電流が流れる。The FET 2 and the shunt resistor 3 are connected in series between the battery B and the lamp L. The drain of the FET 2 is connected to the positive electrode of the battery B, the source is connected to the shunt resistor 3, and the gate is connected to the drive circuit 5, respectively. When the FET 2 is turned on, a current flows through the lamp L via the shunt resistor 3.
【0030】シャント抵抗3は、電流を電圧に変換する
ための低抵抗で、この両端電圧を検出することによりラ
ンプLに流れる電流が検出される。このシャント抵抗3
によって、電流を精度よく検出することができるととも
に、急激な電流変化を検出することができる。A/D変
換器6は、シャント抵抗3の両端電圧のアナログ値をデ
ィジタル値に変換してマイコン4に入力するものであ
る。The shunt resistor 3 is a low resistor for converting a current into a voltage. By detecting the voltage between both ends, the current flowing through the lamp L is detected. This shunt resistor 3
Thus, the current can be detected with high accuracy, and a sharp current change can be detected. The A / D converter 6 converts an analog value of the voltage between both ends of the shunt resistor 3 into a digital value and inputs the digital value to the microcomputer 4.
【0031】マイコン4は、外部から入力されるランプ
Lの点灯又は消灯の指示信号に応じて駆動回路5を介し
てFET2のオン、オフを制御してランプLの点灯、消
灯を制御するものである。駆動回路5は、マイコン4か
らの制御信号の電圧レベルを昇圧するチャージポンプな
どからなり、マイコン4の制御信号に従ってFET2に
ゲート信号を印加してFET2をオン、オフさせるもの
である。The microcomputer 4 controls on / off of the FET 2 via the drive circuit 5 in response to an externally input instruction signal for turning on or off the lamp L, thereby controlling turning on / off of the lamp L. is there. The drive circuit 5 includes a charge pump or the like that boosts the voltage level of a control signal from the microcomputer 4 and applies a gate signal to the FET 2 according to the control signal of the microcomputer 4 to turn on and off the FET 2.
【0032】また、マイコン4は、A/D変換器6を介
して入力されるランプLに流れる電流ILを所定のサン
プリング時間TS(本実施形態では1sec)毎に取り込む
とともに、取り込んだ電流ILをランプLの既知の定格
電流値IRと比較する。そして、IL≧IRになると通電
時間Tのカウントを開始し、IL×TSの累積値が予め設
定された値S0になるとFET2をオフにする。Further, the microcomputer 4 fetches each (1 sec in this embodiment) of the current I L which flows in the lamp L predetermined sampling time T S, which is input via an A / D converter 6, fetched current the I L is compared with the known rated current I R of the lamp L. Then, to start the I L ≧ I count the energization time T becomes R, turn off I L × T FET2 the accumulated value reaches a value S 0 which is set in advance of the S.
【0033】また、マイコン4は、検出電流ILが予め
設定された上限値I0(≫IR)以上のときは、駆動回路
5を介して直ぐにFET2をオフにする。また、マイコ
ン4は、過電流の検出によってFET2をオフにしたと
きは、その旨のステータス信号を出力する。When the detected current I L is equal to or greater than the preset upper limit I 0 (≫I R ), the microcomputer 4 turns off the FET 2 via the drive circuit 5 immediately. When the microcomputer 4 turns off the FET 2 by detecting an overcurrent, the microcomputer 4 outputs a status signal to that effect.
【0034】図2は過電流検出手順のフローチャートで
ある。ランプLの点灯指示信号があると、このルーチン
の動作が開始され、まず、メモリレジスタSを0にリセ
ットし(ステップS100)、次いで、サンプリング時
間TSが経過すると(ステップS110でYES)、A
/D変換器6から電流ILが取り込まれる(ステップS
120)。FIG. 2 is a flowchart of the overcurrent detection procedure. When there is a lighting instruction signal for the lamp L, the operation of this routine is started. First, the memory register S is reset to 0 (step S100). Then, when the sampling time T S has elapsed (YES in step S110), A
The current IL is taken in from the / D converter 6 (step S
120).
【0035】そして、IL≧I0かどうかが判別され(ス
テップS130)、IL≧I0であれば(ステップS13
0でYES)、直ぐにFET2がオフにされ(ステップ
S140)、ステータス信号が出力されて(ステップS
150)、このルーチンを終了する。Then, it is determined whether or not I L ≧ I 0 (step S130). If I L ≧ I 0 (step S13)
0 and YES), immediately turns off FET 2 (step S140), and outputs a status signal (step S140).
150), this routine ends.
【0036】一方、IL<I0であれば(ステップS13
0でNO)、IL≧IRかどうかが判別され(ステップS
160)、IL<IRであれば(ステップS160でN
O)、ステップS110に戻る。On the other hand, if I L <I 0 (step S13)
0 NO), whether I L ≧ I R is determined (step S
160), if I L <I R (N in step S160)
O), and return to step S110.
【0037】ステップS160において、IL≧IRであ
れば(ステップS160でYES)、S=S+IL×TS
として、メモリレジスタSに電流ILと通電時間TSの積
が累積され(ステップS170)、次いで、S≧S0か
どうかが判別される(ステップS180)。[0037] In step S160, if I L ≧ I R (YES at step S160), S = S + I L × T S
As a product of the memory registers S current I L and the energization time T S is accumulated (step S170), then whether S ≧ S 0 is determined (step S180).
【0038】そして、S≧S0であれば(ステップS1
80でYES)、ステップS140に進み、一方、S<
S0であれば(ステップS180でNO)、ランプLの
消灯の指示信号があるかどうかが判別され(ステップS
190)、消灯指示信号があれば(ステップS190で
YES)、このルーチンを終了する。[0038] Then, if the S ≧ S 0 (step S1
(YES at 80), the process proceeds to step S140, while S <
If it is S 0 (NO in step S180), it is determined whether there is an instruction signal for turning off the lamp L (step S180).
190), if there is a light-off instruction signal (YES in step S190), this routine ends.
【0039】一方、ステップS190において、消灯指
示信号がなければ(ステップS190でNO)、ステッ
プS120に戻って、サンプリング時間TS毎に以上の
動作が繰り返される。On the other hand, if there is no light-off instruction signal in step S190 (NO in step S190), the process returns to step S120, and the above operation is repeated every sampling time T S.
【0040】このように、定格電流IR以上の過電流IL
が流れるときに、通電時間TSとの積IL×TSの累積値
が予め設定された値S0になるとFET2をオフにして
ランプLへの通電を停止するようにしたので、過電流I
Lのレベルが小さいときは比較的長時間の通電で、過電
流ILのレベルが大きいときは短時間の通電で、ランプ
Lへの通電が停止されることとなり、過電流のレベルに
応じた通電停止制御を行うことができる。また、過電流
時にランプLの耐電流特性に適合した通電停止制御を行
うことができる。As described above, the overcurrent I L which is equal to or higher than the rated current I R
When the flow, since the accumulated value of the product I L × T S of the energization time T S has to stop the power supply to the lamp L in the preset value S 0 to become the FET2 off, overcurrent I
When L-level is low in a relatively long period of energization, when the level of the over current I L is large in a short time of energization, becomes the energization of the lamp L is stopped, according to the level of overcurrent Power supply stop control can be performed. In addition, it is possible to perform power supply stop control suitable for the withstand current characteristics of the lamp L at the time of overcurrent.
【0041】図3は本発明に係る過電流検出機能付きス
イッチ回路の第2実施形態を示す回路ブロック図であ
る。なお、第1実施形態と同一部材には同一符号を付
し、説明を省略する。FIG. 3 is a circuit block diagram showing a second embodiment of the switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
【0042】第2実施形態では、過電流検出機能付きス
イッチ回路1は、シャント抵抗3に代えてホールセンサ
(電流検出部)30を備えるとともに、マイコン4に代
えて、インターフェース(I/F)回路40、電流監視
部41、ORゲート回路42及びFET43を備え、第
1実施形態と同様に、各部がプリント回路基板や半導体
基板などの基板上に一体的に形成されている。なお、ラ
ンプLの定格電流IRは5Aとする。In the second embodiment, the switch circuit 1 with an overcurrent detection function includes a Hall sensor (current detection unit) 30 instead of the shunt resistor 3, and an interface (I / F) circuit instead of the microcomputer 4. 40, a current monitoring unit 41, an OR gate circuit 42, and an FET 43. Like the first embodiment, each unit is integrally formed on a substrate such as a printed circuit board or a semiconductor substrate. Incidentally, the rated current I R of the lamp L is set to 5A.
【0043】ホールセンサ30は、半導体素子からな
り、磁束密度Bの磁界中に配置されたときに半導体素子
に流れる電流Iと磁束密度Bの積I×Bに比例した電圧
Vを出力するホール効果を利用したもので、この出力電
圧VのレベルによってランプLに流れる電流ILが検出
可能になっている。このホールセンサ30によって、小
型で精度よく電流を検出することができる。The Hall sensor 30 is composed of a semiconductor element, and outputs a voltage V proportional to a product I × B of a current I flowing through the semiconductor element and a magnetic flux density B when arranged in a magnetic field having a magnetic flux density B. utilizes the current I L flowing through the level of the output voltage V to the lamp L is discoverable. The Hall sensor 30 can detect a current with a small size and high accuracy.
【0044】I/F回路40は、外部から入力されるラ
ンプLの点灯又は消灯の指示信号を受信するとともに、
この指示信号に応じて駆動回路5を介してFET2のオ
ン、オフを制御してランプLの点灯、消灯を制御するも
のである。The I / F circuit 40 receives an externally input instruction signal for turning on or off the lamp L,
In response to the instruction signal, the on / off of the FET 2 is controlled via the drive circuit 5 to control the lighting and extinguishing of the lamp L.
【0045】電流監視部41は、コンパレータ及びオン
ディレイタイマーなどからなる第1〜第5監視回路41
1〜415を備え、各出力はそれぞれORゲート回路4
2の入力に接続されている。また、ORゲート回路42
の出力はFET43のゲートに接続され、FET43の
ドレインはFET2のゲートに接続され、FET43の
ソースはアースラインに接続されている。The current monitoring section 41 includes first to fifth monitoring circuits 41 including a comparator and an on-delay timer.
1 to 415, and each output is an OR gate circuit 4 respectively.
2 inputs. The OR gate circuit 42
Is connected to the gate of the FET 43, the drain of the FET 43 is connected to the gate of the FET 2, and the source of the FET 43 is connected to the ground line.
【0046】電流監視回路411〜415は、A/D変
換器6を介して入力される電流ILを所定のサンプリン
グ時間TS(本実施形態では1sec)毎に取り込み、その
電流レベルによってハイレベル信号を出力するものであ
る。第1監視回路411は、100A以上の電流ILが入力
されると動作を開始し、直ぐにハイレベル信号を出力す
る。The current monitoring circuits 411 to 415 take in the current I L input via the A / D converter 6 every predetermined sampling time T S (1 second in the present embodiment), and set the high level according to the current level. It outputs a signal. First monitoring circuit 411 starts operating and 100A or more current I L is input, immediately it outputs a high level signal.
【0047】第2監視回路412は、70A以上の電流I
Lが入力されると動作を開始し、この電流入力が5秒間継
続するとハイレベル信号を出力する。第3監視回路41
3は、30A以上の電流ILが入力されると動作を開始
し、この電流入力が10秒間継続するとハイレベル信号を
出力する。第4監視回路414は、10A以上の電流IL
が入力されると動作を開始し、この電流入力が30秒間継
続するとハイレベル信号を出力する。第5監視回路41
5は、5A以上の電流ILが入力されると動作を開始
し、この電流入力が60秒間継続するとハイレベル信号を
出力する。The second monitoring circuit 412 detects the current I of 70 A or more.
The operation starts when L is input, and outputs a high level signal when this current input continues for 5 seconds. Third monitoring circuit 41
3 starts operating and 30A or more current I L is input, outputs a high level signal when the current input is continued for 10 seconds. The fourth monitoring circuit 414 detects the current I L of 10 A or more.
When the current input is continued for 30 seconds, a high level signal is output. Fifth monitoring circuit 41
5 starts operation and 5A above current I L is input, outputs a high level signal when the current input is continued for 60 seconds.
【0048】そして、電流監視回路411〜415の内
の少なくとも1の回路からハイレベル信号が出力される
と、ORゲート回路42からFET43のゲートにハイ
レベル信号が出力され、これによってFET43がオン
になり、FET2のゲート電位がローに降下してFET
2がオフになり、ランプLへの通電が遮断される。When a high-level signal is output from at least one of the current monitoring circuits 411 to 415, a high-level signal is output from the OR gate circuit 42 to the gate of the FET 43, thereby turning on the FET 43. And the gate potential of FET2 drops to low,
2 is turned off, and the power supply to the lamp L is cut off.
【0049】下記表1は、電流監視部41によるランプ
Lの遮断条件を示している。表1に示すように、ランプ
Lに流れる電流ILのレベルに応じて、各電流監視回路
411〜415により、ランプLへの通電が遮断される
ようになっている。Table 1 below shows conditions for shutting off the lamp L by the current monitoring unit 41. As shown in Table 1, in accordance with the level of the current I L which flows in the lamp L, the respective current monitoring circuits 411 to 415, energization of the lamp L is adapted to be shut off.
【0050】[0050]
【表1】 [Table 1]
【0051】次に、図4のタイミングチャートを用いて
動作例〜について説明する。 t11時点で15Aの電流ILを検出すると、第4電流監
視回路414及び第5電流監視回路415が動作を開始
する。そして、30秒間に亘って10A以上30A未満の電流
ILが流れると、t12時点で第4電流監視回路414か
らハイレベル信号がORゲート回路42に送出されるの
で、ORゲート回路42からFET43のゲートにハイ
レベル信号が出力される。これによって、FET43が
導通状態となり、FET2のゲート電位がローに降下し
て、FET2がオフになり、ランプLへの通電が遮断さ
れる。Next, an operation example 1 will be described with reference to the timing chart of FIG. Upon detection of the current I L of 15A at t 11 time, the fourth current monitoring circuit 414 and the fifth current monitoring circuit 415 starts operating. When the current flows I L less 10A or 30A for 30 seconds, the high level signal from the fourth current monitoring circuit 414 is sent to the OR gate circuit 42 at t 12 time, the OR gate circuit 42 FET 43 A high-level signal is output to the gate of. As a result, the FET 43 becomes conductive, the gate potential of the FET 2 drops to low, the FET 2 is turned off, and the current to the lamp L is cut off.
【0052】t21時点で検出電流ILが15Aになる
と、第4電流監視回路414及び第5電流監視回路41
5が動作を開始する。t21時点から30秒未満のt22時点
で検出電流ILが10A未満(5A以上)になると、第4
電流監視回路414の動作は中断し、第5電流監視回路
415の動作が継続する。そして、t21時点から60秒に
亘って5A以上の電流ILが流れると、t22時点で第5
監視回路415からハイレベル信号がORゲート回路4
2に送出されるので、ORゲート回路42からFET4
3のゲートにハイレベル信号が出力される。これによっ
て、FET43が導通状態となり、FET2のゲート電
位がローに降下して、FET2がオフになり、ランプL
への通電が遮断される。[0052] If t 21 detected at current I L is 15A, the fourth current monitoring circuit 414 and the fifth current monitoring circuit 41
5 starts operation. If t 21 detected current t 22 time less than 30 seconds from the time I L is less than 10A (or 5A), the fourth
The operation of the current monitoring circuit 414 is interrupted, and the operation of the fifth current monitoring circuit 415 continues. When the flows t 21 current from the time of more than 5A for 60 seconds I L, the at t 22 time 5
The high level signal from the monitoring circuit 415 is output from the OR gate circuit 4
2 to the OR gate circuit 42 and the FET 4
A high-level signal is output to the gate of No. 3. As a result, the FET 43 becomes conductive, the gate potential of the FET 2 drops to low, the FET 2 turns off, and the lamp L
Is turned off.
【0053】t31時点で10A以上かつ30A未満の電流
ILが流れ始めると、第4電流監視回路414及び第5
電流監視回路415が動作を開始する。t31時点から30
秒未満のt32時点で検出電流ILが85Aになると、更に
第2電流監視回路412及び第3電流監視回路413が
動作を開始する。そして、t32時点から5秒間に亘って
検出電流ILが70A以上かつ100A未満の状態が続くと、
第2電流監視回路412からハイレベル信号がORゲー
ト回路42に送出されるので、FET43が導通状態と
なり、FET2のゲート電位がローに降下して、FET
2がオフになり、ランプLへの通電が遮断される。[0053] When the current I L of less than 10A or more t 31 time and 30A begins to flow, the fourth current monitoring circuit 414 and the fifth
The current monitoring circuit 415 starts operating. 30 from t 31
When detected at t 32 the time of the sub-second current I L is 85A, further second current monitoring circuit 412 and the third current monitoring circuit 413 starts operating. When over the t 32 time to 5 seconds detected current I L 70A or more and a state of less than 100A continues,
Since a high-level signal is sent from the second current monitoring circuit 412 to the OR gate circuit 42, the FET 43 becomes conductive, the gate potential of the FET 2 drops to low, and the
2 is turned off, and the power supply to the lamp L is cut off.
【0054】t41時点で50Aの電流ILが流れ始める
と、第3電流監視回路413〜第5電流監視回路415
が動作を開始する。そして、t41時点から10秒未満のt
42時点に検出電流ILが100Aを超えると、直ぐに第1電
流監視回路411からハイレベル信号がORゲート回路
42に送出されるので、FET43が導通状態となり、
FET2のゲート電位がローに降下して、FET2がオ
フになり、ランプLへの通電が遮断される。[0054] When the current I L of 50A at t 41 the time begins to flow, the third current monitoring circuit 413~ fifth current monitoring circuit 415
Starts operation. Then, less than 10 seconds from the t 41 time t
42 When the time to detect the current I L exceeds 100A, immediately since the high level signal from the first current monitor circuit 411 is sent to the OR gate circuit 42, it becomes FET43 is conductive,
The gate potential of the FET2 drops to low, turning off the FET2 and cutting off the current to the lamp L.
【0055】このように、ランプLに流れる電流ILが
過電流であると判別するとFET2をオフにするように
したので、ランプLへの通電を自動的に遮断することが
できる。また、電流ILのレベルを検出し、過電流のレ
ベルが増大するに従って短い通電時間でFET2をオフ
にするようにしたので、ランプLの耐電流特性を超える
ことなく確実に通電を遮断することができる。[0055] Thus, the current I L flowing through the lamp L has to turn off the FET2 If determined to be in an overcurrent, can be automatically shut off the power supply to the lamp L. Further, it detects the level of the current I L, the level of the overcurrent so as to turn off the FET2 in a short energizing time according to increasing and blocks reliably energizing without exceeding the withstand current property of the lamp L Can be.
【0056】なお、本発明は上記第1、第2実施形態に
は限られず、以下の変形形態(1)〜(10)を採用する
ことができる。 (1)第1実施形態において、図1中、一点鎖線で示す
ように、ディップスイッチなどからなる入力部7を備
え、マイコン4は、この入力部7への入力に応じてラン
プLの定格電流値IR、設定値S0,I0などを任意に設
定できるようにしてもよい。Note that the present invention is not limited to the first and second embodiments, but can adopt the following modified embodiments (1) to (10). (1) In the first embodiment, as shown by a dashed line in FIG. 1, an input unit 7 including a dip switch and the like is provided, and the microcomputer 4 controls the rated current of the lamp L in accordance with the input to the input unit 7. The value I R , the set values S 0 , I 0 and the like may be arbitrarily set.
【0057】(2)第1実施形態では、過電流が検出さ
れたときにFET2をオフにしているが、マイコン4か
ら駆動回路5に所要のデューティ比のPWM制御信号を
出力し、FET2を所要のスイッチング周波数でオン、
オフさせることによって、ランプLへの供給電流を低減
するようにしてもよい。なお、PWM制御信号のスイッ
チング周波数としては、好ましくは100Hz以上が用いら
れるが、スイッチング素子としてFET2を用いること
によって、好適にオン、オフを行うことができる。(2) In the first embodiment, the FET 2 is turned off when an overcurrent is detected. However, the microcomputer 4 outputs a PWM control signal having a required duty ratio to the drive circuit 5 so that the FET 2 is turned on. ON at the switching frequency of
By turning off, the supply current to the lamp L may be reduced. The switching frequency of the PWM control signal is preferably 100 Hz or more. However, by using the FET 2 as the switching element, it is possible to suitably turn on and off.
【0058】(3)第1、第2実施形態では、半導体ス
イッチング素子としてNチャネル電界効果トランジスタ
を用いているが、PチャネルFETや、絶縁ゲート型バ
イポーラトランジスタ(IGBT)などのバイポーラト
ランジスタを用いてもよい。これらの場合にも、上記変
形形態(2)と同様に、PWM制御信号を用いてオン、
オフさせることによって、ランプLへの供給電流を低減
させることができる。(3) In the first and second embodiments, an N-channel field effect transistor is used as a semiconductor switching element. However, a P-channel FET or a bipolar transistor such as an insulated gate bipolar transistor (IGBT) is used. Is also good. Also in these cases, similar to the above-described modification (2), the on / off state is controlled by using the PWM control signal.
By turning off, the current supplied to the lamp L can be reduced.
【0059】(4)第2実施形態では、電流監視部41
は、5個の電流監視回路を備えているが、電流監視回路
の個数を増加又は減少したものでもよい。電流監視回路
の個数を増加させて、判別する電流レベル及び遮断まで
の通電時間の組合せを増加することにより、図5に示す
ように遮断特性Sを設定することができる。(4) In the second embodiment, the current monitoring unit 41
Has five current monitoring circuits, but the number of current monitoring circuits may be increased or decreased. By increasing the number of current monitoring circuits and increasing the combination of the current level to be determined and the energizing time until interruption, the interruption characteristic S can be set as shown in FIG.
【0060】図5は本変形形態(4)によるランプLの
遮断特性Sを説明する図で、負荷や配線部材が発煙する
電流レベルを示す発煙特性Rを併記するとともに、比較
例としてヒューズの溶断特性Fを併記している。なお、
ランプLの定格電流をIRとする。図5では、検出電流
ILがI1≦ILのときには、通電を直ぐに遮断する。ま
た、I2≦IL<I1のときには、通電時間T1で遮断す
る。また、IR≦IL<I3のときには、通電時間T2で遮
断する。FIG. 5 is a diagram for explaining a shutoff characteristic S of a lamp L according to the present modification (4). A smoke emission characteristic R indicating a current level at which a load or a wiring member emits smoke is shown together with a fuse blowing as a comparative example. The characteristic F is also shown. In addition,
Let the rated current of the lamp L be IR. In Figure 5, the detection current I L when I 1 ≦ I L is cut off immediately the power supply. When I 2 ≦ IL <I 1 , the current is cut off at the power-on time T 1 . When I R ≦ IL <I 3 , the current is cut off at the power-on time T 2 .
【0061】ランプLの遮断特性Sを図5に示すように
設定することにより、負荷や配線部材の発煙特性Rにヒ
ューズの溶断特性Fより接近させることができる。言い
換えると、配線部材の定格電流を実際に通電される電流
レベルまで低下させることができるので、配線部材に使
用する電線の細径化を実現することができ、これによっ
て、部材の軽量化及びコストの低減を図ることができ
る。By setting the cutoff characteristic S of the lamp L as shown in FIG. 5, the smoke emission characteristic R of the load and the wiring member can be made closer to the fuse blowing characteristic F. In other words, since the rated current of the wiring member can be reduced to the level of the current that is actually supplied, the diameter of the wire used for the wiring member can be reduced, thereby reducing the weight and cost of the member. Can be reduced.
【0062】(5)第1、第2実施形態において、過電
流検出機能付きスイッチ回路1から外部に出力されるス
テータス信号によって過電流による通電遮断を使用者に
報知するLCDパネルなどの表示部からなる報知手段
を、過電流検出機能付きスイッチ回路1の外部適所に備
えるようにしてもよい。これによって、使用者に対し
て、過電流による電流遮断を確実に報知することができ
る。(5) In the first and second embodiments, a status signal output from the switch circuit 1 with an overcurrent detection function to the outside informs the user of interruption of power supply due to overcurrent from a display unit such as an LCD panel. The notification means may be provided at an appropriate place outside the switch circuit 1 with the overcurrent detection function. As a result, the user can be reliably notified of the current interruption due to the overcurrent.
【0063】(6)第1、第2実施形態において、電流
検出部は、シャント抵抗3やホールセンサ30に代え
て、FET2とランプLの間に直列に接続された抵抗体
と、この抵抗体の温度を検出する温度センサとから構成
してもよい。この場合には、電流監視部4は、抵抗体の
温度変化を検出することにより電流の変化を監視するも
のを用いることによって、簡易な構成で同様の効果が得
られる。(6) In the first and second embodiments, instead of the shunt resistor 3 and the Hall sensor 30, the current detecting section includes a resistor connected in series between the FET 2 and the lamp L, And a temperature sensor for detecting the temperature. In this case, the same effect can be obtained with a simple configuration by using a current monitoring unit 4 that monitors a change in current by detecting a change in temperature of the resistor.
【0064】(7)また、電流検出部は、直流電流トラ
ンス方式を用いてもよい。これは、互いに巻線方向が逆
の2個のコイルを、バッテリーBからランプL間の被測
定電線が貫通するように配設し、一方のコイルに交流電
圧を印加する交流電源を備えるとともに、交流電圧が印
加されたときに他方のコイルに誘起される交流電流を検
出する検出部を備えたもので、この交流電流が被測定電
線に流れる電流に比例することから、ランプLに流れる
電流を検出可能にするものである。(7) The current detector may use a DC current transformer method. In this method, two coils whose winding directions are opposite to each other are arranged so that the electric wire to be measured between the battery B and the lamp L penetrates, and an AC power supply for applying an AC voltage to one of the coils is provided. It is provided with a detection unit for detecting an AC current induced in the other coil when an AC voltage is applied. Since the AC current is proportional to the current flowing through the wire to be measured, the current flowing through the lamp L is reduced. It is intended to be detectable.
【0065】これによって、電流検出部を被測定電線と
絶縁することができる。また、コイルの巻線比を調整す
ることによって、出力レベルを所望のレベルに上昇させ
ることができる。なお、この場合には、電流検出部の一
部又は全体を、各部が配置された基板外に配設するよう
にしてもよい。Thus, the current detector can be insulated from the electric wire to be measured. The output level can be increased to a desired level by adjusting the winding ratio of the coil. Note that, in this case, a part or the whole of the current detection unit may be provided outside the substrate on which each unit is provided.
【0066】(8)また、電流検出部は、交流電流トラ
ンス方式を用いてもよい。これは、バッテリーBからラ
ンプL間の被測定電線が、コイルを貫通又はコイルと磁
気結合するように配設し、ランプLへの突入電流などの
電流変化によってコイルに誘起される交流電流を検出す
る検出部を備えたものである。この場合には、ランプL
への突入電流の微分波形が検出されることになるので、
電流波形の変化率によって過電流のレベルを識別する電
流監視部を備えることによって、過電流を判別すること
ができる。(8) The current detecting section may use an AC current transformer method. This is because an electric wire to be measured between the battery B and the lamp L is disposed so that the coil penetrates or is magnetically coupled to the coil, and an alternating current induced in the coil due to a current change such as an inrush current to the lamp L is detected. And a detection unit that performs the operation. In this case, the lamp L
Since the differential waveform of the inrush current to the
The provision of the current monitoring unit that identifies the level of the overcurrent based on the change rate of the current waveform enables the overcurrent to be determined.
【0067】(9)第1、第2実施形態において、過電
流検出機能付きスイッチ回路1の基板上に一体的に形成
された過電圧検出部や温度検出部などを備えるようにし
てもよい。過電圧検出部は、バッテリーBからの電源供
給ラインに接続され、過電圧の有無を検出するもので、
温度検出部は、サーミスタなどからなり、周囲温度を検
出して過熱の有無を検出するものである。(9) In the first and second embodiments, an overvoltage detection unit and a temperature detection unit may be provided integrally on the substrate of the switch circuit 1 with an overcurrent detection function. The overvoltage detection unit is connected to a power supply line from the battery B and detects the presence or absence of an overvoltage.
The temperature detecting section is composed of a thermistor or the like, and detects the ambient temperature to detect the presence or absence of overheating.
【0068】(10)第1、第2実施形態では負荷として
ランプを制御するスイッチ回路に適用された例で説明し
たが、モータなどランプ以外の負荷のオン、オフを制御
するスイッチ回路にも適用することができる。(10) In the first and second embodiments, an example in which the present invention is applied to a switch circuit for controlling a lamp as a load has been described. However, the present invention is also applicable to a switch circuit for controlling on / off of a load other than a lamp such as a motor. can do.
【0069】次に、第3実施形態について説明する。図
6は本発明に係る過電流検出機能付きスイッチ回路の第
3実施形態を示す回路ブロック図である。Next, a third embodiment will be described. FIG. 6 is a circuit block diagram showing a third embodiment of the switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention.
【0070】この過電流検出機能付きスイッチ回路11
は、自動車のバッテリー(電源)Bからランプ(負荷)
Lへの電力供給を制御する自動車のランプ制御回路を構
成するもので、FET12、シャント抵抗(電流検出
部)13、マイコン14、駆動回路15及びA/D変換
器16を備えている。Switch circuit 11 with overcurrent detection function
Is from the car battery (power supply) B to the lamp (load)
It constitutes a lamp control circuit of an automobile for controlling power supply to the L, and includes an FET 12, a shunt resistor (current detector) 13, a microcomputer 14, a drive circuit 15, and an A / D converter 16.
【0071】FET12及びシャント抵抗13は、バッ
テリーBとランプL間に直列に接続されており、FET
12のドレインがバッテリーBの正極に接続され、ソー
スがシャント抵抗13の一端に接続され、ゲートが駆動
回路15を介してマイコン14の出力端子に接続され、
シャント抵抗13の他端が電気配線W及びランプLを介
して接地されている。この構成によって、FET12が
オンになると、バッテリーBからシャント抵抗13及び
電気配線Wを介して、ランプLに電力が供給される。The FET 12 and the shunt resistor 13 are connected in series between the battery B and the lamp L.
A drain 12 is connected to the positive electrode of the battery B, a source is connected to one end of the shunt resistor 13, a gate is connected to an output terminal of the microcomputer 14 via the drive circuit 15,
The other end of the shunt resistor 13 is grounded via the electric wiring W and the lamp L. With this configuration, when the FET 12 is turned on, power is supplied from the battery B to the lamp L via the shunt resistor 13 and the electric wiring W.
【0072】シャント抵抗13は、電流を電圧に変換す
るための低抵抗で、この両端電圧を検出することにより
ランプLに流れる負荷電流ILが検出される。このシャ
ント抵抗13によって、電流を精度よく検出することが
できるとともに、急激な電流変化を検出することができ
る。また、シャント抵抗13として温度依存性の小さい
ものを用いることにより、雰囲気温度の変化に対して電
流の検出精度を向上することができる。The shunt resistor 13 is a low resistor for converting a current into a voltage. By detecting the voltage between both ends, the load current I L flowing through the lamp L is detected. With the shunt resistor 13, the current can be detected with high accuracy, and a sudden current change can be detected. Further, by using a shunt resistor 13 having a small temperature dependency, it is possible to improve current detection accuracy with respect to a change in ambient temperature.
【0073】A/D変換器16は、シャント抵抗13の
両端電圧のアナログ値をディジタル値に変換してマイコ
ン14に入力するものである。駆動回路15は、マイコ
ン14からの制御信号の電圧レベルを昇圧するチャージ
ポンプなどからなり、マイコン14の制御信号に従って
FET12にゲート信号を印加してFET12をオン、
オフさせるものである。The A / D converter 16 converts an analog value of the voltage between both ends of the shunt resistor 13 into a digital value and inputs the digital value to the microcomputer 14. The drive circuit 15 includes a charge pump that boosts the voltage level of a control signal from the microcomputer 14, and applies a gate signal to the FET 12 in accordance with the control signal from the microcomputer 14 to turn on the FET 12.
It is to turn off.
【0074】マイコン14は、ROM14a及びRAM
14bを内蔵し、このランプ制御回路の動作を制御する
ものである。RAM14bは、データを一時的に保管す
るもので、ROM14aは、後述する設定時間T1、基
準電流I1,I2,I3などの予め設定された設定値や制
御プログラムなどを記憶するものである。The microcomputer 14 has a ROM 14a and a RAM
14b, which controls the operation of the lamp control circuit. The RAM 14b temporarily stores data, and the ROM 14a stores preset setting values such as a set time T 1 , reference currents I 1 , I 2 , and I 3 described later, a control program, and the like. is there.
【0075】なお、設定時間T1は、ランプLの点灯時
に流れる突入電流の継続時間を考慮して設定されてい
る。また、基準電流I1,I2(I1>I2)は、電気配線
Wの耐電流特性(例えば電線被覆材の発煙特性)を考慮
して設定され、基準電流I3は、0<I3<I2となる所
要の値に設定されている。The set time T 1 is set in consideration of the duration of the rush current flowing when the lamp L is turned on. Further, the reference currents I 1 and I 2 (I 1 > I 2 ) are set in consideration of the withstand current characteristics of the electric wiring W (for example, the smoke generation characteristics of the electric wire covering material), and the reference current I 3 is 0 <I 3 <is set to a predetermined value that is a I 2.
【0076】マイコン14は、次の(A)〜(F)の機
能を有する。 (A)外部から入力されるランプLの点灯又は消灯の指
示信号に応じて駆動回路15を介してFET12のオ
ン、オフを制御することによりランプLの点灯、消灯を
制御する。The microcomputer 14 has the following functions (A) to (F). (A) The turning on and off of the lamp L is controlled by controlling the turning on and off of the FET 12 via the drive circuit 15 in response to an instruction signal for turning on or off the lamp L input from the outside.
【0077】(B)FET12がオフからオンに切り替
えられた時点からの経過時間Tをカウントする計時手段
としての機能を有する。 (C)所定のサンプリング時間TS(本実施形態では100
msec)毎にA/D変換器16からの入力値を取り込んで
ランプLに流れる負荷電流ILを検出する。(B) It has a function as time counting means for counting an elapsed time T from the time when the FET 12 is switched from off to on. (C) Predetermined sampling time T S (100 in this embodiment)
Every msec), an input value from the A / D converter 16 is taken in, and a load current IL flowing through the lamp L is detected.
【0078】(D)検出した負荷電流ILをROM14
aに格納されている基準電流I1,I2,I3と比較する
比較手段及びその比較結果に基づいて過電流であるか否
かを判定する過電流判定手段としての機能を有する。こ
の場合において、上記経過時間Tが設定時間T1未満の
ときには、負荷電流ILを基準電流I1と比較し、IL≧
I1であれば過電流であると判定する。また、上記経過
時間Tが設定時間T1以上のときには、基準電流I2,I
3と比較し、IL≧I2であれば過電流であると判定し、
IL≦I3であれば異常であると判定する。ここで、IL
≦I3の場合には、必ずしも過電流ではないが、負荷電
流ILが定常レベルから基準電流I3以下に低下した異常
状態であると判定している。[0078] (D) is detected by the load current I L ROM14
It has a function as comparing means for comparing with the reference currents I 1 , I 2 , I 3 stored in a, and as overcurrent judging means for judging whether or not an overcurrent is present based on the comparison result. In this case, when the elapsed time T is less than the set time T 1, the load current I L is compared with a reference current I 1, I L ≧
If I 1 judges that an overcurrent. Further, when the elapsed time T is time above T 1 configuration, the reference current I 2, I
3, and if I L ≧ I 2 , it is determined that an overcurrent has occurred.
If I L ≦ I 3 , it is determined to be abnormal. Where I L
≦ the case of I 3 is not necessarily overcurrent, the load current I L is determined to be abnormal state falls below the reference current I 3 from a steady level.
【0079】(E)過電流又は異常であると判定したと
きに駆動回路15を介してFET12をオフにする過電
流制御手段としての機能を有する。 (F)過電流又は異常であると判定してFET12をオ
フにしたときは、その旨のステータス信号を出力する。(E) It has a function as an overcurrent control means for turning off the FET 12 via the drive circuit 15 when it is determined that an overcurrent or an abnormality has occurred. (F) When it is determined that an overcurrent or abnormality has occurred and the FET 12 is turned off, a status signal to that effect is output.
【0080】次に、図7〜図9を用いて第3実施形態の
動作について説明する。図7は第3実施形態における過
電流判定手順のフローチャート、図8、図9はそれぞれ
異常状態の態様の一例を示す図である。Next, the operation of the third embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a flowchart of an overcurrent determination procedure in the third embodiment, and FIGS. 8 and 9 are diagrams each showing an example of an abnormal state.
【0081】ランプLの点灯指示信号によりFET12
がオンにされてランプLが点灯すると、このルーチンが
スタートし、まず、経過時間Tのカウントが開始され
(ステップS200)、次いで、設定時間T1が経過し
たか否かが判別され(ステップS210)、未だ経過し
ていなければ(ステップS210でYES)、A/D変
換器16から負荷電流ILが取り込まれる(ステップS
220)。The FET 12 is turned on by the lighting instruction signal of the lamp L.
When There is turned on the lamp L is lighted, and start this routine, first, the count of the elapsed time T is started (step S200), then it is determined whether or not the set time T 1 is elapsed (step S210 ), If it has not passed yet (YES in step S210), load current IL is taken in from A / D converter 16 (step S210).
220).
【0082】そして、取り込んだ負荷電流ILを基準電
流I1と比較して負荷電流ILが基準電流I1未満かどう
かが判別され(ステップS230)、IL<I1であれば
(ステップS230でYES)、ステップS210に戻
る。一方、ステップS230において、IL≧I1であれ
ば(ステップS230でNO)、過電流であると判定し
てFET12がオフにされ(ステップS240)、ステ
ータス信号が出力されて(ステップS250)、このル
ーチンを終了する。[0082] Then, if the load current I L the load current I L or less than the reference current I 1 is compared with a reference current I 1 a captured is determined (step S230), if I L <I 1 (step (YES in S230), and returns to step S210. On the other hand, if I L ≧ I 1 in step S230 (NO in step S230), it is determined that an overcurrent has occurred, the FET 12 is turned off (step S240), and a status signal is output (step S250). This routine ends.
【0083】ステップS210において、T≧T1、す
なわちランプLの点灯から設定時間T1経過していれば
(ステップS210でNO)、経過時間Tのカウントが
停止され(ステップS260)、次いで、負荷電流IL
が取り込まれ(ステップS270)、取り込まれた負荷
電流ILを基準電流I2,I3と比較してその大小が判別
され(ステップS280)、I3<IL<I2であれば
(ステップS280でYES)、ステップS270に戻
る。In step S210, if T ≧ T 1 , that is, if the set time T 1 has elapsed since the lighting of the lamp L (NO in step S210), the counting of the elapsed time T is stopped (step S260), and then the load Current I L
(Step S270), the load current I L is compared with the reference currents I 2 and I 3 to determine the magnitude (Step S280). If I 3 <I L <I 2 (Step S270) (YES in S280), returning to step S270.
【0084】一方、ステップS280において、IL≧
I2又はIL≦I3であれば(ステップS280でN
O)、過電流又は異常であると判定してステップS24
0に進む。On the other hand, in step S280, I L ≧
If I 2 or I L ≦ I 3 (N in step S280
O), it is determined that there is an overcurrent or abnormality, and step S24 is performed.
Go to 0.
【0085】このような手順によって、図8に示す態様
の異常が生じると、FET12のオンから設定時間T1
の経過後において、負荷電流ILが基準電流I2以上にな
る時点t1にFET12がオフにされ、ランプLへの電
力供給が遮断される。When an abnormality of the mode shown in FIG. 8 occurs by such a procedure, the set time T 1 from the turning on of the FET 12 is set.
After the lapse of, at the time t 1 at which the load current I L becomes the reference current I 2 or FET12 is turned off, power supply to the lamp L is interrupted.
【0086】このように、完全な短絡ではなく断続的に
短絡状態が生じるような異常の場合には、図中、二点鎖
線で示す溶断特性を持つヒューズを備えていたとして
も、温度上昇が緩慢になるのでヒューズが溶断しないた
め、電力供給を遮断することはできないが、この第3実
施形態によれば、電力供給を確実に遮断することがで
き、これによって、異常発生部にアーク放電などが生じ
る虞れをなくし、電気配線WやランプLを確実に保護す
ることができる。As described above, in the case of an abnormality in which a short-circuit state occurs intermittently instead of a complete short-circuit, even if a fuse having a fusing characteristic indicated by a two-dot chain line in the drawing is provided, the temperature rise will not increase. The power supply cannot be cut off because the fuse is not blown because the fuse is slowed down. However, according to the third embodiment, the power supply can be cut off without fail. Can be eliminated, and the electric wiring W and the lamp L can be reliably protected.
【0087】また、図9に示す態様の異常が生じると、
FET12のオンから設定時間T1の経過後において、
負荷電流ILが基準電流I3以下になる時点t2にFET
12がオフにされ、ランプLへの電力供給が遮断され
る。When an abnormality of the embodiment shown in FIG. 9 occurs,
After the lapse of the set time T 1 from the on of FET12,
Load current I L FET to time t 2 which is below the reference current I 3
12 is turned off, and the power supply to the lamp L is cut off.
【0088】このように、断続的に開放状態が生じるよ
うな異常の場合には、過電流ではないのでヒューズが溶
断しないため、電力供給を遮断することはできないが、
この第3実施形態によれば、異常が発生したと判定する
ことによって電力供給を遮断することができ、これによ
って、異常発生部にアーク放電などが生じる虞れをなく
し、電気配線WやランプLを確実に保護することができ
る。As described above, in the case of an abnormality in which an open state occurs intermittently, the power supply cannot be cut off because the fuse does not blow because it is not an overcurrent.
According to the third embodiment, it is possible to cut off the power supply by determining that an abnormality has occurred, thereby eliminating the possibility that an arc discharge or the like may occur in the abnormality occurrence portion, and reducing the electric wiring W and the lamp L. Can be reliably protected.
【0089】なお、図8、図9において、t1,t2時点
以降の一点鎖線は、それぞれ本実施形態によりランプL
への電力供給が遮断されなかった場合の異常の態様を示
している。In FIGS. 8 and 9, the dashed lines after the times t 1 and t 2 indicate the lamp L according to the present embodiment.
4 shows an abnormal state when the power supply to the power supply is not interrupted.
【0090】図10は本発明に係る過電流検出機能付き
スイッチ回路の第4実施形態を示す回路ブロック図であ
る。なお、第3実施形態と同一部材には同一符号を付
し、説明を省略する。第4実施形態では、第3実施形態
におけるシャント抵抗13に代えて、ホールセンサ(電
流検出部)30を備えている。FIG. 10 is a circuit block diagram showing a fourth embodiment of the switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention. The same members as those in the third embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In the fourth embodiment, a Hall sensor (current detection unit) 30 is provided instead of the shunt resistor 13 in the third embodiment.
【0091】ホールセンサ30は、半導体素子が磁界中
に配置されたときに、磁界の磁束密度Bと半導体素子に
流れる電流Iとの積I×Bに比例した電圧Vを出力する
ホール効果を利用したもので、電池電圧によって定まる
既知の電流Iと、マイコン14によって検出される出力
電圧Vとから、磁束密度Bを求めることによって、磁束
密度Bに比例する負荷電流ILを求めることができる。
このホールセンサ30によって、小型で精度よく負荷電
流ILを検出することができる。The Hall sensor 30 utilizes the Hall effect that outputs a voltage V proportional to the product I × B of the magnetic flux density B of the magnetic field and the current I flowing through the semiconductor element when the semiconductor element is placed in a magnetic field. in which the it can be determined and the known current I determined by the battery voltage, and an output voltage V detected by the microcomputer 14, by determining the magnetic flux density B, and the load current I L which is proportional to the magnetic flux density B.
This Hall sensor 30, it is possible to accurately detect the load current I L is compact.
【0092】この第4実施形態によれば、マイコン14
が第3実施形態と同様の機能を果たすことにより、同様
の効果を得ることができる。According to the fourth embodiment, the microcomputer 14
Perform the same function as in the third embodiment, the same effect can be obtained.
【0093】図11は本発明に係る過電流検出機能付き
スイッチ回路の第5実施形態を示す回路ブロック図であ
る。なお、第3実施形態と同一部材には同一符号を付
し、説明を省略する。第5実施形態は、第3実施形態に
おけるシャント抵抗13及びA/D変換器16に代え
て、FET17、コンパレータ18、定電流回路19及
び基準抵抗Rrefを備えており、FET12は電気配線
WによってランプLに直結されている。FIG. 11 is a circuit block diagram showing a fifth embodiment of the switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention. The same members as those in the third embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. The fifth embodiment includes an FET 17, a comparator 18, a constant current circuit 19, and a reference resistor Rref in place of the shunt resistor 13 and the A / D converter 16 in the third embodiment. L is directly connected.
【0094】FET17のドレインは、バッテリーBの
正極端子に接続され、ゲートはFET12のゲートに接
続され、ソースは定電流回路19の入力側に接続される
とともに、コンパレータ18の一方の入力端子Pに接続
されている。The drain of the FET 17 is connected to the positive terminal of the battery B, the gate is connected to the gate of the FET 12, the source is connected to the input side of the constant current circuit 19, and to one input terminal P of the comparator 18. It is connected.
【0095】コンパレータ18の他方の入力端子Qは、
FET12のソースに接続され、出力端子は、マイコン
14の入力端子に接続されている。コンパレータ18
は、入力端子P,Qへの入力電圧VP,VQを比較し、V
P≧VQのときにローレベル信号を、VP<VQのときにハ
イレベル信号を出力するものである。定電流回路19の
出力側は、基準抵抗Rrefを介して接地されている。The other input terminal Q of the comparator 18 is
The output terminal is connected to the source of the FET 12 and the input terminal of the microcomputer 14. Comparator 18
Compares the input terminal P, the input voltage V P, V Q to Q, V
A low level signal when the P ≧ V Q, and outputs a high level signal when V P <V Q. The output side of the constant current circuit 19 is grounded via a reference resistor Rref.
【0096】ここで、FET12,17のオン抵抗をそ
れぞれRDS(on)12,RDS(on)17とすると、FET17
は、RDS(on)12<RDS(on)17になるものを用いている。
これは、FET12のセル数より少ないセル数を有する
FETを採用することにより実現することができる。こ
のオン抵抗の差によって、FET17に比べてFET1
2、すなわちランプLに大電流を流すことができる。Here, assuming that the ON resistances of the FETs 12 and 17 are R DS (on) 12 and R DS (on) 17 , respectively,
Is such that R DS (on) 12 <R DS (on) 17 .
This can be realized by employing an FET having a smaller number of cells than the number of cells of the FET 12. Due to this difference in on-resistance, FET 1
2, that is, a large current can flow through the lamp L.
【0097】この回路によれば、定電流回路19によっ
て一定電流が基準抵抗Rrefに供給されるので、電圧VP
が一定値になる。そこで、負荷電流ILがIL=I2のと
きの電圧VQの値VQ2がVQ2=VPとなるように、基準抵
抗Rrefの抵抗値を設定しておく。According to this circuit, since a constant current is supplied to the reference resistor Rref by the constant current circuit 19, the voltage V P
Becomes a constant value. Therefore, the resistance value of the reference resistor Rref is set so that the value V Q2 of the voltage V Q when the load current I L is I L = I 2 is V Q2 = V P.
【0098】そして、マイコン14は、VP<VQになっ
てコンパレータ18からハイレベル信号が入力される
と、過電流であると判定する。Then, when V P <V Q and a high-level signal is input from the comparator 18, the microcomputer 14 determines that an overcurrent has occurred.
【0099】なお、第5実施形態では、負荷電流ILを
直接検出するのではなく、ランプLの両端電圧VQを用
いている。従って、ランプLの特性によって、突入電流
が流れている間にVP<VQになる場合には、マイコン1
4は、コンパレータ18からの入力信号レベルの判別
を、設定時間T1が経過するまでは行わず、設定時間T1
の経過後に開始するようにすればよい。[0099] In the fifth embodiment, instead of directly detecting the load current I L, it is used across the voltage V Q of the lamp L. Therefore, if V P <V Q during the inrush current due to the characteristics of the lamp L, the microcomputer 1
4, an input signal level of discrimination from the comparator 18 is not performed until after the set time T 1, the set time T 1
May be started after the elapse of.
【0100】一方、突入電流が流れるのはランプLの抵
抗値が低いためであり、ランプLの特性によって、設定
時間T1の経過までにVP<VQにならない場合には、マ
イコン14は、経過時間Tのカウントは行わず、常にコ
ンパレータ18からの入力信号レベルの判別を行うよう
にすればよい。On the other hand, the reason why the inrush current flows is that the resistance value of the lamp L is low. If V P <V Q does not become satisfied by the elapse of the set time T 1 due to the characteristics of the lamp L, the microcomputer 14 The elapsed time T is not counted, and the input signal level from the comparator 18 may always be determined.
【0101】このように、第5実施形態によれば、ラン
プLの両端電圧VQを一定電圧VPと比較することにより
負荷電流ILと基準電流I2との比較を行い、VP<VQに
なると過電流であると判定することにより、上記図8の
ような態様の異常に対して、第3実施形態と同様の効果
を得ることができる。As described above, according to the fifth embodiment, the load current I L is compared with the reference current I 2 by comparing the voltage V Q across the lamp L with the constant voltage V P, and V P < By determining that an overcurrent occurs at V Q , the same effect as in the third embodiment can be obtained with respect to the abnormality in the mode as shown in FIG.
【0102】なお、本発明は、上記第3〜第5実施形態
に限られず、以下の変形形態(11)〜(14)を採用する
ことができる。 (11)第3、第4実施形態において、図6、図10中、
一点鎖線で示すように、ディップスイッチなどからなる
入力部21を備え、マイコン14は、この入力部21へ
の入力に応じて基準電流I1,I2,I3の値を任意に設
定できるようにしてもよい。The present invention is not limited to the above-described third to fifth embodiments, but may employ the following modifications (11) to (14). (11) In the third and fourth embodiments, in FIGS.
As shown by the dashed line, the microcomputer 14 includes an input unit 21 including a dip switch, and the microcomputer 14 can arbitrarily set the values of the reference currents I 1 , I 2 , and I 3 according to the input to the input unit 21. It may be.
【0103】(12)第3〜第5実施形態では、半導体ス
イッチング素子としてNチャネル電界効果トランジスタ
を用いているが、PチャネルFETや、絶縁ゲート型バ
イポーラトランジスタ(IGBT)等のバイポーラトラン
ジスタを用いてもよい。(12) In the third to fifth embodiments, an N-channel field-effect transistor is used as a semiconductor switching element. However, a P-channel FET or a bipolar transistor such as an insulated gate bipolar transistor (IGBT) is used. Is also good.
【0104】(13)第3〜第5実施形態において、過電
流検出機能付きスイッチ回路11から外部に出力される
ステータス信号によって過電流による通電遮断を使用者
に報知するLCDパネルなどの表示部からなる報知手段
を、過電流検出機能付きスイッチ回路11の外部適所に
備えるようにしてもよい。これによって、使用者に対し
て、過電流による電流遮断を確実に報知することができ
る。(13) In the third to fifth embodiments, a status signal output from the switch circuit 11 with an overcurrent detection function to the outside is used to notify a user of interruption of power supply due to an overcurrent from a display unit such as an LCD panel. The notification means may be provided at an appropriate place outside the switch circuit 11 with an overcurrent detection function. As a result, the user can be reliably notified of the current interruption due to the overcurrent.
【0105】(14)第3〜第5実施形態では、負荷とし
てランプLを制御するスイッチ回路に適用された例で説
明したが、これに限られず、モータや大容量コンデンサ
その他の突入電流の大きい負荷であってもよい。(14) In the third to fifth embodiments, an example in which the present invention is applied to a switch circuit for controlling a lamp L as a load has been described. However, the present invention is not limited to this. It may be a load.
【0106】また、突入電流が生じない負荷であっても
よい。この場合には、経過時間Tのカウントや、基準電
流I1と負荷電流ILの比較は不要になる。A load that does not generate an inrush current may be used. In this case, the count and the elapsed time T, the comparison of the reference current I 1 and the load current I L is not necessary.
【0107】[0107]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
負荷に流れる負荷電流を検出し、負荷電流の検出が、負
荷と電源間の配線もしくは負荷の電気特性に応じて予め
設定された過電流判定条件を満足すると、半導体スイッ
チング素子のオン、オフ制御を変更するようにしたの
で、配線もしくは負荷の電気特性を超える過電流の通電
を防止することができ、これによって配線及び負荷の過
電流に対する保護を行うことができる。As described above, according to the present invention,
When the load current flowing to the load is detected and the detection of the load current satisfies the overcurrent determination condition set in advance according to the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load, the on / off control of the semiconductor switching element is performed. Since the change is made, it is possible to prevent an overcurrent that exceeds the electrical characteristics of the wiring or the load from being applied, thereby protecting the wiring and the load against the overcurrent.
【0108】また、半導体スイッチング素子、スイッチ
制御手段及び過電流制御手段を基板上に一体的に形成す
ることにより、回路の小型化及び配線の簡素化を図るこ
とができる。Further, by integrally forming the semiconductor switching element, the switch control means and the overcurrent control means on the substrate, it is possible to reduce the size of the circuit and simplify the wiring.
【0109】また、電流検出手段を更に基板上に一体的
に形成することにより、更に回路の小型化及び配線の簡
素化を図ることができる。Further, by forming the current detecting means integrally on the substrate, further downsizing of the circuit and simplification of the wiring can be achieved.
【0110】また、基準電流レベル以上の負荷電流が流
れる通電時間及びその負荷電流を用いて過電流判定条件
を設定することにより、過電流の通電時間が配線や負荷
の電気特性を超えるような事態を確実に防止することが
でき、これによって確実に配線や負荷の保護を図ること
ができる。Further, by setting an overcurrent judging condition using the energizing time during which a load current equal to or higher than the reference current level flows and the load current, a situation where the energizing time of the overcurrent exceeds the electrical characteristics of the wiring or the load. Can be reliably prevented, whereby the wiring and the load can be surely protected.
【0111】また、負荷に流れる負荷電流を検出し、検
出された負荷電流と、基準電流及び複数の設定電流とを
比較し、基準電流及び各設定電流以上の電流が負荷に流
れる通電時間をカウントして、設定電流が高いほど設定
時間が短くされた複数の過電流判定条件を用いて過電流
を判定することにより、過電流の判定をきめ細かく行う
ことができ、これによって配線もしくは負荷の電気特性
を超える通電を確実に防止することができる。Further, the load current flowing to the load is detected, the detected load current is compared with the reference current and a plurality of set currents, and the energizing time during which the reference current and a current equal to or more than each set current flows to the load is counted. By determining the overcurrent using a plurality of overcurrent determination conditions in which the set time is shortened as the set current is higher, the overcurrent can be determined in a finer manner. Can be reliably prevented.
【0112】また、負荷に流れる負荷電流を検出し、負
荷電流の検出が、負荷と電源間の配線もしくは負荷の電
気特性に応じて予め設定された過電流判定条件を満足す
ると、半導体スイッチング素子をオフにすることによ
り、負荷と電源間の配線もしくは負荷の電気特性を超え
る過電流の通電を防止することができる。Further, when the load current flowing through the load is detected and the detection of the load current satisfies the overcurrent determination condition set in advance according to the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load, the semiconductor switching element is switched off. By turning off, it is possible to prevent the passage of an overcurrent exceeding the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load.
【0113】また、負荷と電源間の配線もしくは負荷の
電気特性に応じて予め設定された基準電流と検出した負
荷電流とを比較し、負荷電流が基準電流以上のときに過
電流であると判定することにより、完全な短絡ではな
く、断続的に短絡状態になるような場合でも、半導体ス
イッチング素子をオフにし、負荷と電源間の配線もしく
は負荷の電気特性を超える過電流の通電を確実に防止す
ることができる。Also, the reference current preset according to the wiring between the load and the power supply or the electrical characteristics of the load is compared with the detected load current, and when the load current is equal to or more than the reference current, it is determined that an overcurrent occurs. In this case, the semiconductor switching element is turned off and the overcurrent exceeding the electrical characteristics of the load or the wiring between the load and the power supply is reliably prevented even if the short-circuit occurs intermittently instead of completely. can do.
【0114】また、半導体スイッチング素子のオン時点
からの経過時間をカウントし、オン時点から予め設定さ
れた設定時間が経過するまでは、負荷電流が高レベル基
準電流以上になると過電流であると判定し、オン時点か
ら設定時間以上経過した後は、負荷電流が基準電流以上
になると過電流であると判定することにより、オン時点
から突入電流が流れるような負荷であっても、この突入
電流を過電流であると誤判定することを防止することが
できる。The elapsed time from the ON time of the semiconductor switching element is counted, and it is determined that an overcurrent occurs when the load current becomes higher than the high-level reference current until a preset time elapses from the ON time. However, after a lapse of a set time or more from the on-time, when the load current becomes equal to or more than the reference current, it is determined that an overcurrent occurs. It is possible to prevent erroneous determination that the current is an overcurrent.
【0115】また、オン時点から設定時間以上経過した
後は、負荷電流が低レベル基準電流以下のときも異常で
あると判定することにより、断続的に開放状態になるよ
うな態様の異常が生じた場合でも、半導体スイッチング
素子をオフにし、異常状態のままでの通電を確実に防止
することができる。Further, after a lapse of a set time or more from the ON point, it is determined that the load current is abnormal even when the load current is equal to or lower than the low-level reference current. Even in such a case, the semiconductor switching element is turned off, so that energization in an abnormal state can be reliably prevented.
【図1】本発明に係る過電流検出機能付きスイッチ回路
の第1実施形態を示す回路ブロック図である。FIG. 1 is a circuit block diagram showing a first embodiment of a switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention.
【図2】過電流検出手順のフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart of an overcurrent detection procedure.
【図3】本発明に係る過電流検出機能付きスイッチ回路
の第2実施形態を示す回路ブロック図である。FIG. 3 is a circuit block diagram showing a second embodiment of a switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention.
【図4】動作例〜を説明するためのタイミングチャ
ートである。FIG. 4 is a timing chart for explaining an operation example 1;
【図5】変形形態(4)によるランプの遮断特性を説明
する図である。FIG. 5 is a view for explaining a shutoff characteristic of a lamp according to a modification (4).
【図6】本発明に係る過電流検出機能付きスイッチ回路
の第3実施形態を示す回路ブロック図である。FIG. 6 is a circuit block diagram showing a third embodiment of a switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention.
【図7】第3実施形態における過電流判定手順のフロー
チャートである。FIG. 7 is a flowchart of an overcurrent determination procedure according to a third embodiment.
【図8】異常状態の態様の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of an abnormal state.
【図9】異常状態の態様の別の例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing another example of the mode of the abnormal state.
【図10】本発明に係る過電流検出機能付きスイッチ回
路の第4実施形態を示す回路ブロック図である。FIG. 10 is a circuit block diagram showing a fourth embodiment of a switch circuit with an overcurrent detection function according to the present invention.
【図11】本発明に係る過電流検出機能付きスイッチ回
路の第5実施形態を示す回路ブロック図である。FIG. 11 is a circuit block diagram illustrating a switch circuit with an overcurrent detection function according to a fifth embodiment of the present invention.
【符号の説明】 1 過電流検出機能付きスイッチ回路 2 FET(半導体スイッチング素子) 3 シャント抵抗(電流検出手段) 30 ホールセンサ(電流検出手段) 4 マイコン(スイッチ制御手段、過電流制御手段) 40 I/F回路(スイッチ制御手段) 41 電流監視部(過電流制御手段) 411〜415 第1電流監視回路〜第5電流監視回路 42 ORゲート回路(過電流制御手段) 43 FET(過電流制御手段) 5 駆動回路 6 A/D変換器 11 過電流検出機能付きスイッチ回路 12 FET 13 シャント抵抗 14 マイコン 15 駆動回路 16 A/D変換器 17 FET 18 コンパレータ 19 定電流回路 B バッテリー(電源) L ランプ(負荷) Rref 基準抵抗[Description of Signs] 1 Switch circuit with overcurrent detection function 2 FET (semiconductor switching element) 3 Shunt resistor (current detection means) 30 Hall sensor (current detection means) 4 Microcomputer (switch control means, overcurrent control means) 40 I / F circuit (switch control means) 41 current monitoring unit (overcurrent control means) 411 to 415 first current monitoring circuit to fifth current monitoring circuit 42 OR gate circuit (overcurrent control means) 43 FET (overcurrent control means) Reference Signs List 5 drive circuit 6 A / D converter 11 switch circuit with overcurrent detection function 12 FET 13 shunt resistor 14 microcomputer 15 drive circuit 16 A / D converter 17 FET 18 comparator 19 constant current circuit B battery (power supply) L lamp (load) ) Rref reference resistance
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 星野 孝志 愛知県名古屋市南区菊住1丁目7番10号 株式会社ハーネス総合技術研究所内 (72)発明者 城戸 元則 愛知県名古屋市南区菊住1丁目7番10号 株式会社ハーネス総合技術研究所内 (72)発明者 宮▲崎▼ 順之 愛知県名古屋市南区菊住1丁目7番10号 株式会社ハーネス総合技術研究所内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Takashi Hoshino 1-7-10 Kikuzumi, Minami-ku, Nagoya City, Aichi Prefecture Inside Harness Research Institute, Inc. (72) Inventor Motonori Kido 1 Kikuzumi, Minami-ku, Nagoya City, Aichi Prefecture 7-7-10 Harness Research Institute, Inc. (72) Inventor Miya ▲ Saki ▼ Junyuki 1-7-10 Kikuzumi, Minami-ku, Nagoya-shi, Aichi Harness Research Institute, Inc.
Claims (9)
入力される制御信号に応じて上記負荷と上記電源との接
続をオン、オフする半導体スイッチング素子と、指示信
号出力部から出力される負荷の動作を指示する指示信号
を受信するとともに、受信した指示信号に従って上記半
導体スイッチング素子の制御端子に制御信号を出力する
スイッチ制御手段とを備え、上記電源から上記負荷への
電力供給を制御するスイッチ回路において、上記負荷に
流れる負荷電流を検出する電流検出手段と、上記負荷電
流の検出が、上記負荷と電源間の配線もしくは上記負荷
の電気特性に応じて予め設定された過電流判定条件を満
足すると、上記半導体スイッチング素子のオン、オフ制
御を変更する過電流制御手段とを備えたことを特徴とす
る過電流検出機能付きスイッチ回路。A semiconductor switching element provided between a load and a power supply for turning on and off a connection between the load and the power supply in response to a control signal input to a control terminal; Switch control means for receiving an instruction signal instructing the operation of the load to be controlled and outputting a control signal to a control terminal of the semiconductor switching element in accordance with the received instruction signal, and controlling power supply from the power supply to the load. Current detection means for detecting a load current flowing through the load, and detecting the load current by an overcurrent determination condition preset according to a wiring between the load and a power supply or an electrical characteristic of the load. And an overcurrent control means for changing on / off control of the semiconductor switching element. Switch circuit.
ッチ制御手段及び上記過電流制御手段が基板上に一体的
に形成されてなることを特徴とする請求項1記載の過電
流検出機能付きスイッチ回路。2. The switch circuit according to claim 1, wherein said semiconductor switching element, said switch control means, and said overcurrent control means are integrally formed on a substrate.
一体的に形成されてなることを特徴とする請求項2記載
の過電流検出機能付きスイッチ回路。3. The switch circuit with an overcurrent detection function according to claim 2, wherein said current detection means is further integrally formed on said substrate.
荷電流と上記電気特性に応じて予め設定された基準電流
とを比較する比較手段と、上記基準電流以上の電流が上
記負荷に流れる通電時間をカウントするカウント手段と
を備え、上記過電流判定条件は、上記基準電流以上であ
る上記負荷電流及び上記通電時間を用いて設定されてい
ることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の過
電流検出機能付きスイッチ回路。4. The overcurrent control means includes: a comparison means for comparing the detected load current with a reference current set in advance according to the electrical characteristics; A counting means for counting time, wherein the overcurrent determination condition is set using the load current and the energization time that are equal to or greater than the reference current. 2. The switch circuit with an overcurrent detection function according to 1.
上で予め設定された電流が上記負荷に流れる状態が上記
電気特性に応じて予め設定された時間以上継続すること
を過電流判定条件とし、かつ、上記設定電流が高いほど
上記設定時間を短くした異なる設定電流及び設定時間の
組合せからなる複数の過電流判定条件を有するもので、
上記比較手段は、更に、上記検出した負荷電流と上記各
設定電流とを比較するもので、上記カウント手段は、更
に、上記各設定電流以上の電流が上記負荷に流れる通電
時間をカウントするものであることを特徴とする請求項
4記載の過電流検出機能付きスイッチ回路。5. The overcurrent control means according to claim 1, wherein a condition in which a preset current equal to or higher than the reference current flows through the load continues for a preset time in accordance with the electrical characteristic. And, having a plurality of overcurrent determination conditions consisting of a combination of different set current and set time shortened the set time as the set current is higher,
The comparing means further compares the detected load current with each of the set currents, and the counting means further counts a conduction time during which a current equal to or more than each of the set currents flows through the load. 5. The switch circuit with an overcurrent detection function according to claim 4, wherein:
条件を満足すると上記半導体スイッチング素子をオフに
するものであることを特徴とする請求項1記載の過電流
検出機能付きスイッチ回路。6. The switch circuit with an overcurrent detection function according to claim 1, wherein said overcurrent control means turns off said semiconductor switching element when said overcurrent determination condition is satisfied.
応じて予め設定された基準電流を記憶する記憶手段と、
上記検出した負荷電流と上記基準電流とを比較する比較
手段とを備え、上記検出した負荷電流が上記基準電流以
上のときに過電流であると判定するものであることを特
徴とする請求項6記載の過電流検出機能付きスイッチ回
路。7. The storage device according to claim 1, wherein the overcurrent control unit stores a reference current preset according to the electrical characteristics.
7. A comparison means for comparing the detected load current with the reference current, wherein when the detected load current is equal to or more than the reference current, it is determined that the current is an overcurrent. Switch circuit with overcurrent detection function as described.
り高いレベルの高レベル基準電流と、予め設定された設
定時間とを記憶するもので、上記過電流制御手段は、更
に、上記スイッチ制御手段による上記半導体スイッチン
グ素子のオン時点からの経過時間をカウントするカウン
ト手段を備え、上記経過時間が上記設定時間未満のとき
には、上記負荷電流が上記高レベル基準電流以上になる
と過電流であると判定し、上記経過時間が上記設定時間
以上のときには、上記負荷電流が上記基準電流以上にな
ると過電流であると判定するものであることを特徴とす
る請求項7記載の過電流検出機能付きスイッチ回路。8. The storage means further stores a high-level reference current having a higher level than the reference current, and a preset time, and the overcurrent control means further comprises: the switch control means. Means for counting an elapsed time from the time when the semiconductor switching element is turned on by the means, and when the elapsed time is less than the set time, it is determined that an overcurrent occurs when the load current exceeds the high-level reference current. 8. The switch circuit with an overcurrent detection function according to claim 7, wherein when the elapsed time is equal to or longer than the set time, when the load current is equal to or higher than the reference current, it is determined that an overcurrent occurs. .
り低いレベルの低レベル基準電流を記憶するもので、上
記過電流制御手段は、更に、上記経過時間が上記設定時
間以上のときには、上記負荷電流が上記低レベル基準電
流以下になると異常であると判定するものであることを
特徴とする請求項8記載の過電流検出機能付きスイッチ
回路。9. The storage means further stores a low-level reference current having a lower level than the reference current, and the overcurrent control means further comprises: when the elapsed time is equal to or longer than the set time. 9. The switch circuit with an overcurrent detection function according to claim 8, wherein when the load current is equal to or lower than the low level reference current, it is determined that the load current is abnormal.
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Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP12599696 | 1996-05-21 | ||
| JP8-125996 | 1996-05-21 | ||
| JP9035083A JPH1041797A (en) | 1996-05-21 | 1997-02-19 | Switch circuit with overcurrent detection function |
Publications (1)
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| JPH1041797A true JPH1041797A (en) | 1998-02-13 |
Family
ID=26374000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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