JPH1050203A - 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置、及びそれらの製造方法 - Google Patents
電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置、及びそれらの製造方法Info
- Publication number
- JPH1050203A JPH1050203A JP21814796A JP21814796A JPH1050203A JP H1050203 A JPH1050203 A JP H1050203A JP 21814796 A JP21814796 A JP 21814796A JP 21814796 A JP21814796 A JP 21814796A JP H1050203 A JPH1050203 A JP H1050203A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron
- emitting device
- conductive film
- parallel
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高品位画像形成装置を実現し得る電子ビーム
源としての電子放出素子を提供する。 【解決手段】 素子電極2,3間の導電性膜4、素子電
極2,3の対向面に略平行な複数の溝よりなる平行溝6
を付与したことを特徴とする。 【効果】 形状の揃った電子放出部を形成でき、素子毎
の特性のバラツキを低減できる。
源としての電子放出素子を提供する。 【解決手段】 素子電極2,3間の導電性膜4、素子電
極2,3の対向面に略平行な複数の溝よりなる平行溝6
を付与したことを特徴とする。 【効果】 形状の揃った電子放出部を形成でき、素子毎
の特性のバラツキを低減できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子、該
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、及び該電子
源を用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装
置に関する。
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、及び該電子
源を用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子には大別して熱電子
放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られてい
る。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「FE
型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「MI
M型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有る。
放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られてい
る。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「FE
型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「MI
M型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有る。
【0003】FE型の例としては、W.P.Dyke
and W.W.Dolan,“Field Emis
sion”,Advance in Electron
Physics,8,89(1956)あるいはC.
A.Spindt,“Physical Proper
ties of thin−filmfield em
ission cathodes withmolyb
denum cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976)等に開示されたもの
が知られている。
and W.W.Dolan,“Field Emis
sion”,Advance in Electron
Physics,8,89(1956)あるいはC.
A.Spindt,“Physical Proper
ties of thin−filmfield em
ission cathodes withmolyb
denum cones”,J.Appl.Phy
s.,47,5248(1976)等に開示されたもの
が知られている。
【0004】MIM型の例としては、C.A.Mea
d,“Operation ofTunnel−Emi
ssion Devices”,J.Appl.Phy
s.,32,646(1961)等に開示されたものが
知られている。
d,“Operation ofTunnel−Emi
ssion Devices”,J.Appl.Phy
s.,32,646(1961)等に開示されたものが
知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、
M.I.Elinson,RadioEng.Elec
tron Phys.,10,1290(1965)等
に開示されたものがある。
M.I.Elinson,RadioEng.Elec
tron Phys.,10,1290(1965)等
に開示されたものがある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は、絶縁性基板上
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“ThinSolid
Films”,9,317(1972)]、In2O3
/SnO2薄膜によるもの[M.Hartwell a
nd C.G.Fonstad:“IEEE Tran
s.ED Conf.”,519(1975)]、カー
ボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、第26巻、第
1号、22頁(1983)]等が報告されている。
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“ThinSolid
Films”,9,317(1972)]、In2O3
/SnO2薄膜によるもの[M.Hartwell a
nd C.G.Fonstad:“IEEE Tran
s.ED Conf.”,519(1975)]、カー
ボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、第26巻、第
1号、22頁(1983)]等が報告されている。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図1
7に模式的に示す。同図において1は基板である。4は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部5が形成される。
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図1
7に模式的に示す。同図において1は基板である。4は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部5が形成される。
【0008】これらの表面伝導型電子放出素子において
は、電子放出を行う前に導電性膜4を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜4の両端に電圧を印加通電し、導電性膜4を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部5を形成する処
理である。尚、電子放出部5では導電性膜4の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
は、電子放出を行う前に導電性膜4を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜4の両端に電圧を印加通電し、導電性膜4を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部5を形成する処
理である。尚、電子放出部5では導電性膜4の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
【0009】上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
【0010】従来、多数の表面伝導型電子放出素子を配
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
【0011】また、特に表示装置においては、液晶を用
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来、通電処理や加熱
処理等によって導電性膜に電子放出部を形成する場合、
同一の材料であっても、前駆体材料の違いや成膜条件等
の違いにより、導電性膜表面の微細構造が異なる畏れが
ある。そのために、導電性膜部分を構成する導電性材料
の表面被覆率が同じであっても、通電処理や加熱処理等
による電子放出部形成条件に違いが生じ、以下に述べる
ような様々な問題が生じていた。
処理等によって導電性膜に電子放出部を形成する場合、
同一の材料であっても、前駆体材料の違いや成膜条件等
の違いにより、導電性膜表面の微細構造が異なる畏れが
ある。そのために、導電性膜部分を構成する導電性材料
の表面被覆率が同じであっても、通電処理や加熱処理等
による電子放出部形成条件に違いが生じ、以下に述べる
ような様々な問題が生じていた。
【0013】(1)フォーミング時の消費電力がおおき
くなったり小さくなったりする消費電力のバラツキが生
じる。
くなったり小さくなったりする消費電力のバラツキが生
じる。
【0014】(2)フォーミング時に形成される亀裂の
形状が直線的であったりジグザグ状であったりする亀裂
の形状バラツキが生じる。
形状が直線的であったりジグザグ状であったりする亀裂
の形状バラツキが生じる。
【0015】(3)フォーミング時に形成される亀裂の
幅が太くなったり狭くなったりする亀裂幅バラツキが生
じる。
幅が太くなったり狭くなったりする亀裂幅バラツキが生
じる。
【0016】(4)フォーミング時のバラツキに起因し
て電子の放出効率のバラツキが生じ、電子放出素子をデ
ィスプレイとして応用する場合には、輝度むら等のバラ
ツキが発生する。
て電子の放出効率のバラツキが生じ、電子放出素子をデ
ィスプレイとして応用する場合には、輝度むら等のバラ
ツキが発生する。
【0017】電子放出効率を改善するうえでは、導電性
膜の材料そのものや前駆体材料の変更が不可欠となる可
能性があり、材料系固有の性質に起因して膜表面の微細
構造が異なるような場合でも、フォーミング時のバラツ
キや電子放出効率等の素子特性のバラツキの少ない電子
放出部を形成できる技術が望まれる。
膜の材料そのものや前駆体材料の変更が不可欠となる可
能性があり、材料系固有の性質に起因して膜表面の微細
構造が異なるような場合でも、フォーミング時のバラツ
キや電子放出効率等の素子特性のバラツキの少ない電子
放出部を形成できる技術が望まれる。
【0018】本発明は、上記事情を鑑み、電子放出部が
より均一な電子放出素子、電子放出素子を複数備え各素
子の電子放出部が均一な電子源、かかる電子源を備えよ
り高品位な画像を形成し得る画像形成装置の提供を目的
とするものである。
より均一な電子放出素子、電子放出素子を複数備え各素
子の電子放出部が均一な電子源、かかる電子源を備えよ
り高品位な画像を形成し得る画像形成装置の提供を目的
とするものである。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべく
成された本発明の構成は、以下の通りである。
成された本発明の構成は、以下の通りである。
【0020】即ち、本発明の第一は、基板上の対向する
一対の電極間に、導電性膜を配置した電子放出素子にお
いて、前記電極間の基板部分又は/及び導電性膜部分
に、互いに略平行な複数の溝よりなる平行溝を有するこ
とを特徴とする電子放出素子にある。
一対の電極間に、導電性膜を配置した電子放出素子にお
いて、前記電極間の基板部分又は/及び導電性膜部分
に、互いに略平行な複数の溝よりなる平行溝を有するこ
とを特徴とする電子放出素子にある。
【0021】上記本発明第一の電子放出素子は、更にそ
の特徴として、「上記平行溝は、該溝中の少なくとも一
部に導電性材料が充填され、該導電性材料により、上記
導電性膜に導電性を付与するものである」こと、「上記
平行溝は、導電性膜の当該溝の両側の部分の間の電気抵
抗を増大させる、若しくは少なくとも一部を絶縁状態と
するものである」こと、「上記平行溝は、導電性膜を、
対向する電極間を結び互いに平行な短冊状の部分に分割
するものである」こと、「前記平行溝は、前記一対の電
極の対向面に垂直である」こと、「前記平行溝は、前記
一対の電極の対向面に平行である」こと、「前記平行溝
を2種類有し、各平行溝は互いに交差している」こと、
「一方の平行溝は前記一対の電極の対向面に垂直であ
り、他方の平行溝は前記一対の電極の対向面に平行であ
る」こと、「前記2種類の平行溝は、前記一対の電極の
対向面に対して斜めに形成されている」こと、「表面伝
導型電子放出素子である」こと、をも含むものである。
の特徴として、「上記平行溝は、該溝中の少なくとも一
部に導電性材料が充填され、該導電性材料により、上記
導電性膜に導電性を付与するものである」こと、「上記
平行溝は、導電性膜の当該溝の両側の部分の間の電気抵
抗を増大させる、若しくは少なくとも一部を絶縁状態と
するものである」こと、「上記平行溝は、導電性膜を、
対向する電極間を結び互いに平行な短冊状の部分に分割
するものである」こと、「前記平行溝は、前記一対の電
極の対向面に垂直である」こと、「前記平行溝は、前記
一対の電極の対向面に平行である」こと、「前記平行溝
を2種類有し、各平行溝は互いに交差している」こと、
「一方の平行溝は前記一対の電極の対向面に垂直であ
り、他方の平行溝は前記一対の電極の対向面に平行であ
る」こと、「前記2種類の平行溝は、前記一対の電極の
対向面に対して斜めに形成されている」こと、「表面伝
導型電子放出素子である」こと、をも含むものである。
【0022】また、本発明の第二は、上記本発明第一の
電子放出素子の製造方法において、前記平行溝を形成す
る工程が、回転ローラーに前記電極間の基板又は導電性
膜を接触させながら、基板を回転ローラーに対して相対
的に移動させる工程であることを特徴とする電子放出素
子の製造方法にある。
電子放出素子の製造方法において、前記平行溝を形成す
る工程が、回転ローラーに前記電極間の基板又は導電性
膜を接触させながら、基板を回転ローラーに対して相対
的に移動させる工程であることを特徴とする電子放出素
子の製造方法にある。
【0023】上記本発明第二の製造方法は、更にその特
徴として、「前記導電性膜を形成する工程において、該
導電性膜が前記平行溝のパターンに対応する表面被覆率
となるように制御する」ことを含むものである。
徴として、「前記導電性膜を形成する工程において、該
導電性膜が前記平行溝のパターンに対応する表面被覆率
となるように制御する」ことを含むものである。
【0024】また、本発明の第三は、基板上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源において、前記電子放
出素子が、上記本発明第一の電子放出素子であることを
特徴とする電子源にある。
電子放出素子が配列された電子源において、前記電子放
出素子が、上記本発明第一の電子放出素子であることを
特徴とする電子源にある。
【0025】上記本発明第三の電子源は、更にその特徴
として、「前記複数の電子放出素子が、マトリクス状に
配線されている」こと、「前記複数の電子放出素子が、
梯子状に配線されている」こと、をも含むものである。
として、「前記複数の電子放出素子が、マトリクス状に
配線されている」こと、「前記複数の電子放出素子が、
梯子状に配線されている」こと、をも含むものである。
【0026】また、本発明の第四は、基板上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源の製造方法において、
前記電子放出素子を、上記本発明第二の方法により製造
することを特徴とする電子源の製造方法にある。
電子放出素子が配列された電子源の製造方法において、
前記電子放出素子を、上記本発明第二の方法により製造
することを特徴とする電子源の製造方法にある。
【0027】また、本発明の第五は、基板上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置において、前記電子源が、上記
本発明第三の電子源であることを特徴とする画像形成装
置にある。
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置において、前記電子源が、上記
本発明第三の電子源であることを特徴とする画像形成装
置にある。
【0028】更に、本発明の第六は、基板上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置の製造方法において、前記電子
源を、上記本発明第四の方法により製造することを特徴
とする画像形成装置の製造方法にある。
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置の製造方法において、前記電子
源を、上記本発明第四の方法により製造することを特徴
とする画像形成装置の製造方法にある。
【0029】本発明によれば、電極間の基板部分又は/
及び導電性膜部分に、互いに平行な複数の溝よりなる平
行溝を付与し、導電性膜表面の微細構造を制御すること
により、フォーミング処理を施すことなく形成される亀
裂、又は、通電処理若しくは加熱処理等によるフォーミ
ング処理を施して形成される亀裂の形状を制御すること
ができ、電子放出効率等の素子特性のバラツキを低減し
得る。
及び導電性膜部分に、互いに平行な複数の溝よりなる平
行溝を付与し、導電性膜表面の微細構造を制御すること
により、フォーミング処理を施すことなく形成される亀
裂、又は、通電処理若しくは加熱処理等によるフォーミ
ング処理を施して形成される亀裂の形状を制御すること
ができ、電子放出効率等の素子特性のバラツキを低減し
得る。
【0030】また、特に、回転ローラーに前記電極間の
基板又は導電性膜を接触させながら、基板を回転ローラ
ーに対して相対的に移動させる処理によって前記平行溝
を形成することにより、電子放出効率等の素子特性のバ
ラツキの少ない電子放出素子を効率よく量産し得る。
基板又は導電性膜を接触させながら、基板を回転ローラ
ーに対して相対的に移動させる処理によって前記平行溝
を形成することにより、電子放出効率等の素子特性のバ
ラツキの少ない電子放出素子を効率よく量産し得る。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
を説明する。図1は、本発明を適用可能な表面伝導型電
子放出素子の基本的な構成を示す模式図であり、図1
(a)は平面図、図1(b)は縦断面図である。図1に
おいて、1は基板、2と3は電極(素子電極)、4は導
電性膜、5は電子放出部である。
を説明する。図1は、本発明を適用可能な表面伝導型電
子放出素子の基本的な構成を示す模式図であり、図1
(a)は平面図、図1(b)は縦断面図である。図1に
おいて、1は基板、2と3は電極(素子電極)、4は導
電性膜、5は電子放出部である。
【0032】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、スパッタ
法等によりSiO2 を積層したガラス基板及びアルミナ
等のセラミックス及びSi基板等を用いることができ
る。
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、スパッタ
法等によりSiO2 を積層したガラス基板及びアルミナ
等のセラミックス及びSi基板等を用いることができ
る。
【0033】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi,C
r,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等
の金属或は合金及びPd,Ag,Au,RuO2 ,Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi,C
r,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,Cu,Pd等
の金属或は合金及びPd,Ag,Au,RuO2 ,Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
【0034】素子電極間隔L、素子電極幅W、導電性膜
4の形状等は、応用される形態等を考慮して設計され
る。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nmから数百
μmの範囲とすることができ、より好ましくは、素子電
極間に印加する電圧等を考慮して数μmから数百μmの
範囲とすることができる。素子電極幅Wは、電極の抵抗
値、電子放出特性を考慮して、数μmから数百μmの範
囲とすることができる。素子電極2,3の膜厚dは、数
十nmから数μmの範囲とすることができる。
4の形状等は、応用される形態等を考慮して設計され
る。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nmから数百
μmの範囲とすることができ、より好ましくは、素子電
極間に印加する電圧等を考慮して数μmから数百μmの
範囲とすることができる。素子電極幅Wは、電極の抵抗
値、電子放出特性を考慮して、数μmから数百μmの範
囲とすることができる。素子電極2,3の膜厚dは、数
十nmから数μmの範囲とすることができる。
【0035】尚、図1に示した構成だけでなく、基板1
上に、導電性膜4、対向する素子電極2,3の順に積層
した構成とすることもできる。
上に、導電性膜4、対向する素子電極2,3の順に積層
した構成とすることもできる。
【0036】導電性膜4を構成する材料は、例えばP
d,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,C
r,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、Pd
O,SnO2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 等の酸
化物、HfB2 ,ZrB2 ,LaB6 ,CeB6 ,YB
4 ,GdB4 等の硼化物、TiC,ZrC,HfC,T
aC,SiC,WCなどの炭化物、TiN,ZrN,H
fN等の窒化物、Si,Ge等の半導体、カーボン等の
中から適宜選択される。
d,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,C
r,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、Pd
O,SnO2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 等の酸
化物、HfB2 ,ZrB2 ,LaB6 ,CeB6 ,YB
4 ,GdB4 等の硼化物、TiC,ZrC,HfC,T
aC,SiC,WCなどの炭化物、TiN,ZrN,H
fN等の窒化物、Si,Ge等の半導体、カーボン等の
中から適宜選択される。
【0037】導電性膜4には、良好な電子放出特性を得
るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが好
ましい。ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子が集
合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に分散
配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、あるい
は重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体
として島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。微粒子の粒径は、数Å〜数百nmの範囲、好ましく
は、1nm〜20nmの範囲である。
るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが好
ましい。ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子が集
合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に分散
配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、あるい
は重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体
として島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。微粒子の粒径は、数Å〜数百nmの範囲、好ましく
は、1nm〜20nmの範囲である。
【0038】電子放出部5は、導電性膜4の一部に形成
された高抵抗の亀裂により構成され、予め素子電極2,
3間の基板部分や導電性膜4に形成した平行溝のパター
ンに依存するものである。電子放出部5の内部には、数
Åから数十nmの範囲の粒径の導電性微粒子が存在する
場合もある。この導電性微粒子は、導電性膜4を構成す
る材料の元素の一部、あるいは全ての元素を含有するも
のとなる。電子放出部5及びその近傍の導電性膜4に
は、後述する活性化工程を経た場合、その活性化工程を
行った気相中に含まれる一部あるいは全ての元素からな
る単体物質及び化合物を有する場合もある。
された高抵抗の亀裂により構成され、予め素子電極2,
3間の基板部分や導電性膜4に形成した平行溝のパター
ンに依存するものである。電子放出部5の内部には、数
Åから数十nmの範囲の粒径の導電性微粒子が存在する
場合もある。この導電性微粒子は、導電性膜4を構成す
る材料の元素の一部、あるいは全ての元素を含有するも
のとなる。電子放出部5及びその近傍の導電性膜4に
は、後述する活性化工程を経た場合、その活性化工程を
行った気相中に含まれる一部あるいは全ての元素からな
る単体物質及び化合物を有する場合もある。
【0039】次に、平行溝を素子電極2,3間の基板部
分や導電性膜4に形成した本発明の電子放出素子の形態
例について、図2〜図5の模式図を用いて説明する。
尚、図2〜図5において、図1に示した部位と同じ部位
には図1に付した符号と同一の符号を付している。ま
た、6,6a,6bは平行溝である。
分や導電性膜4に形成した本発明の電子放出素子の形態
例について、図2〜図5の模式図を用いて説明する。
尚、図2〜図5において、図1に示した部位と同じ部位
には図1に付した符号と同一の符号を付している。ま
た、6,6a,6bは平行溝である。
【0040】図2に示した素子は、素子電極2,3の対
向面に垂直な平行溝6を有する例であり、図2(a)は
平面図、図2(b)は図2(a)におけるA−A’面に
おける断面図である。
向面に垂直な平行溝6を有する例であり、図2(a)は
平面図、図2(b)は図2(a)におけるA−A’面に
おける断面図である。
【0041】図3に示した素子は、素子電極2,3の対
向面に平行な平行溝6を有する例であり、図3(a)は
平面図、図3(b)は図3(a)におけるB−B’面に
おける断面図である。
向面に平行な平行溝6を有する例であり、図3(a)は
平面図、図3(b)は図3(a)におけるB−B’面に
おける断面図である。
【0042】図4に示した素子は、素子電極2,3の対
向面に垂直な平行溝6aと、素子電極2,3の対向面に
平行な平行溝6bを有する例であり、図4(a)は平面
図、図4(b)及び(c)は図4(a)におけるC−
C’面における断面図である。尚、図4(b)は、素子
電極2,3間の導電性膜4部分に平行溝を付与した場合
を示し、図4(c)は、素子電極2,3間の基板部分と
導電性膜4部分の両方に平行溝を付与した場合を示して
いる。
向面に垂直な平行溝6aと、素子電極2,3の対向面に
平行な平行溝6bを有する例であり、図4(a)は平面
図、図4(b)及び(c)は図4(a)におけるC−
C’面における断面図である。尚、図4(b)は、素子
電極2,3間の導電性膜4部分に平行溝を付与した場合
を示し、図4(c)は、素子電極2,3間の基板部分と
導電性膜4部分の両方に平行溝を付与した場合を示して
いる。
【0043】図5に示した素子は、素子電極2,3の対
向面に対して斜めに形成された平行溝6a,6bを有す
る例である。
向面に対して斜めに形成された平行溝6a,6bを有す
る例である。
【0044】本発明の表面伝導型電子放出素子の製造方
法の一例として、図2に示したような素子の製法につい
て、図6に基づいて説明する。
法の一例として、図2に示したような素子の製法につい
て、図6に基づいて説明する。
【0045】1)基板1を洗剤、純水及び有機溶剤等を
用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等により
前述の素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフ
ィー技術を用いて基板1上に素子電極2,3を形成する
(図6(a))。
用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等により
前述の素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフ
ィー技術を用いて基板1上に素子電極2,3を形成する
(図6(a))。
【0046】2)素子電極2,3を設けた基板1上に、
有機金属溶液を塗布して、有機金属薄膜を形成する。有
機金属溶液には、前述の導電性膜4の材料の金属を主元
素とする有機金属化合物の溶液を用いることができる。
有機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッチン
グ等によりパターニングし、導電性膜4を形成する(図
6(b))。ここでは、有機金属溶液の塗布法を挙げて
説明したが、導電性膜の形成法はこれに限られるもので
はなく、真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相堆積法、
分散塗布法、ディッピング法、スピンナー等を用いるこ
ともできる。
有機金属溶液を塗布して、有機金属薄膜を形成する。有
機金属溶液には、前述の導電性膜4の材料の金属を主元
素とする有機金属化合物の溶液を用いることができる。
有機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッチン
グ等によりパターニングし、導電性膜4を形成する(図
6(b))。ここでは、有機金属溶液の塗布法を挙げて
説明したが、導電性膜の形成法はこれに限られるもので
はなく、真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相堆積法、
分散塗布法、ディッピング法、スピンナー等を用いるこ
ともできる。
【0047】3)次に、素子電極2,3間の導電性膜4
に、平行溝6を付与する。具体的には、例えば図6
(c)に示されるように、コア部分12と布部分13か
らなる回転ローラー11と導電性膜4を接触させなが
ら、不図示の移動手段によって図中矢印方向に基板1を
移動させることによって、素子電極2,3の対向面に垂
直な平行溝6を形成する。
に、平行溝6を付与する。具体的には、例えば図6
(c)に示されるように、コア部分12と布部分13か
らなる回転ローラー11と導電性膜4を接触させなが
ら、不図示の移動手段によって図中矢印方向に基板1を
移動させることによって、素子電極2,3の対向面に垂
直な平行溝6を形成する。
【0048】上記の例では、導電性膜4に直接、平行溝
6を形成したが、本発明では予め基板1に平行溝を形成
しておき、この上に導電性膜4を形成することにより、
導電性膜4に平行溝6を付与することもできる。この様
な場合には、先に形成した平行溝のタイプに合わせて、
その表面における導電性材料の表面被覆率を制御して導
電性膜4を形成するのが好ましい。これにより、フォー
ミング処理を施すことなく、又は、フォーミング処理を
施すことにより形成される亀裂の形状を、一定のパター
ンに制御することができる。この点に関しては、後述す
る実施例において詳述する。
6を形成したが、本発明では予め基板1に平行溝を形成
しておき、この上に導電性膜4を形成することにより、
導電性膜4に平行溝6を付与することもできる。この様
な場合には、先に形成した平行溝のタイプに合わせて、
その表面における導電性材料の表面被覆率を制御して導
電性膜4を形成するのが好ましい。これにより、フォー
ミング処理を施すことなく、又は、フォーミング処理を
施すことにより形成される亀裂の形状を、一定のパター
ンに制御することができる。この点に関しては、後述す
る実施例において詳述する。
【0049】4)次に、必要に応じてフォーミング処理
を施す。このフォーミング処理の一例として、通電処理
による方法を説明する。素子電極2,3間に、不図示の
電源より通電すると、導電性膜4に、局所的に破壊,変
形もしくは変質等の構造の変化した亀裂が形成される。
この亀裂領域が電子放出部5を構成する(図6
(d))。通電フォーミングの電圧波形の例を図7に示
す。
を施す。このフォーミング処理の一例として、通電処理
による方法を説明する。素子電極2,3間に、不図示の
電源より通電すると、導電性膜4に、局所的に破壊,変
形もしくは変質等の構造の変化した亀裂が形成される。
この亀裂領域が電子放出部5を構成する(図6
(d))。通電フォーミングの電圧波形の例を図7に示
す。
【0050】電圧波形は、特にパルス波形が好ましい。
これには、パルス波高値を定電圧としたパルスを連続的
に印加する図7(a)に示した手法と、パルス波高値を
増加させながらパルスを印加する図7(b)に示した手
法がある。
これには、パルス波高値を定電圧としたパルスを連続的
に印加する図7(a)に示した手法と、パルス波高値を
増加させながらパルスを印加する図7(b)に示した手
法がある。
【0051】まず、パルス波高値を定電圧とした場合に
ついて図7(a)で説明する。図7(a)におけるT1
及びT2は電圧波形のパルス幅とパルス間隔であり、例
えば、T1を1μ秒〜10m秒、T2を10μ秒〜10
0m秒とし、三角波の波高値(通電フォーミング時のピ
ーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子の形態に応じて
適宜選択される。このような条件のもと、例えば、数秒
から数十分間電圧を印加する。パルス波形は、三角波に
限定されるものではなく、矩形波等の所望の波形を採用
することができる。
ついて図7(a)で説明する。図7(a)におけるT1
及びT2は電圧波形のパルス幅とパルス間隔であり、例
えば、T1を1μ秒〜10m秒、T2を10μ秒〜10
0m秒とし、三角波の波高値(通電フォーミング時のピ
ーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子の形態に応じて
適宜選択される。このような条件のもと、例えば、数秒
から数十分間電圧を印加する。パルス波形は、三角波に
限定されるものではなく、矩形波等の所望の波形を採用
することができる。
【0052】次に、パルス波高値を増加させながら電圧
パルスを印加する場合について図7(b)で説明する。
図7(b)におけるT1及びT2は、図7(a)に示し
たのと同様とすることができる。三角波の波高値(通電
フォーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステ
ップ程度づつ、増加させることができる。
パルスを印加する場合について図7(b)で説明する。
図7(b)におけるT1及びT2は、図7(a)に示し
たのと同様とすることができる。三角波の波高値(通電
フォーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステ
ップ程度づつ、増加させることができる。
【0053】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2中に、導電性膜4を局所的に破壊,変形しない程
度の電圧を印加し、電流を測定して検知することができ
る。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる電流を
測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した
時、通電フォーミングを終了させる。
隔T2中に、導電性膜4を局所的に破壊,変形しない程
度の電圧を印加し、電流を測定して検知することができ
る。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる電流を
測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した
時、通電フォーミングを終了させる。
【0054】5)フォーミングを終えた素子には活性化
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程と
は、この工程により、素子電流If,放出電流Ieが著
しく変化する工程である。
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程と
は、この工程により、素子電流If,放出電流Ieが著
しく変化する工程である。
【0055】活性化工程は、例えば、有機物質のガスを
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、素子
にパルスの印加を繰り返すことで行うことができる。こ
の雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプな
どを用いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留
する有機ガスを利用して形成することができる他、イオ
ンポンプなどにより一旦十分に排気した真空中に適当な
有機物質のガスを導入することによっても得られる。こ
のときの好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形
態、真空容器の形状や、有機物質の種類などにより異な
るため、場合に応じ適宜設定される。適当な有機物質と
しては、アルカン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水
素類、芳香族炭化水素類、アルコール類、アルデヒド
類、ケトン類、アミン類、フェノール、カルボン、スル
ホン酸等の有機酸類等を挙げることが出来、具体的に
は、メタン、エタン、プロパンなどCn H2n+2で表され
る飽和炭化水素、エチレン、プロピレンなどCn H2n等
の組成式で表される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエ
ン、メタノール、エタノール、ホルムアルデヒド、アセ
トアルデヒド、アセトン、メチルエチルケトン、メチル
アミン、エチルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロ
ピオン酸等が使用できる。この処理により、雰囲気中に
存在する有機物質から、炭素あるいは炭素化合物が素子
上に堆積し、素子電流If,放出電流Ieが、著しく変
化するようになる。
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、素子
にパルスの印加を繰り返すことで行うことができる。こ
の雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプな
どを用いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留
する有機ガスを利用して形成することができる他、イオ
ンポンプなどにより一旦十分に排気した真空中に適当な
有機物質のガスを導入することによっても得られる。こ
のときの好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形
態、真空容器の形状や、有機物質の種類などにより異な
るため、場合に応じ適宜設定される。適当な有機物質と
しては、アルカン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水
素類、芳香族炭化水素類、アルコール類、アルデヒド
類、ケトン類、アミン類、フェノール、カルボン、スル
ホン酸等の有機酸類等を挙げることが出来、具体的に
は、メタン、エタン、プロパンなどCn H2n+2で表され
る飽和炭化水素、エチレン、プロピレンなどCn H2n等
の組成式で表される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエ
ン、メタノール、エタノール、ホルムアルデヒド、アセ
トアルデヒド、アセトン、メチルエチルケトン、メチル
アミン、エチルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロ
ピオン酸等が使用できる。この処理により、雰囲気中に
存在する有機物質から、炭素あるいは炭素化合物が素子
上に堆積し、素子電流If,放出電流Ieが、著しく変
化するようになる。
【0056】炭素及び炭素化合物とは、例えばグラファ
イト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含するもの
で、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、PG
は結晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたもの、
GCは結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れがさら
に大きくなったものを指す。)、非晶質カーボン(アモ
ルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと前記グ
ラファイトの微結晶の混合物を指す。)であり、その膜
厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、30n
m以下の範囲とすることがより好ましい。
イト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含するもの
で、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、PG
は結晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたもの、
GCは結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れがさら
に大きくなったものを指す。)、非晶質カーボン(アモ
ルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと前記グ
ラファイトの微結晶の混合物を指す。)であり、その膜
厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、30n
m以下の範囲とすることがより好ましい。
【0057】活性化工程の終了判定は、素子電流Ifと
放出電流Ieを測定しながら、適宜行うことができる。
なお、パルス幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜
設定される。
放出電流Ieを測定しながら、適宜行うことができる。
なお、パルス幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜
設定される。
【0058】6)このような工程を経て得られた電子放
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープ
ションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げる
ことが出来る。
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープ
ションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げる
ことが出来る。
【0059】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素及び炭素化合物がほぼ新た
に堆積しない分圧で1×10-6Pa以下が好ましく、さ
らには1×10-8Pa以下が特に好ましい。さらに真空
容器内を排気するときには、真空容器全体を加熱して、
真空容器内壁や、電子放出素子に吸着した有機物質分子
を排気しやすくするのが好ましい。このときの加熱条件
は、80〜200℃好ましくは150℃以上で、できる
だけ長時間処理するのが望ましいが、特にこの条件に限
るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子放出素
子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件により行
う。真空容器内の圧力は極力低くすることが必要で、1
×10-5Pa以下が好ましく、さらには1×10-6Pa
以下が特に好ましい。
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素及び炭素化合物がほぼ新た
に堆積しない分圧で1×10-6Pa以下が好ましく、さ
らには1×10-8Pa以下が特に好ましい。さらに真空
容器内を排気するときには、真空容器全体を加熱して、
真空容器内壁や、電子放出素子に吸着した有機物質分子
を排気しやすくするのが好ましい。このときの加熱条件
は、80〜200℃好ましくは150℃以上で、できる
だけ長時間処理するのが望ましいが、特にこの条件に限
るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子放出素
子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件により行
う。真空容器内の圧力は極力低くすることが必要で、1
×10-5Pa以下が好ましく、さらには1×10-6Pa
以下が特に好ましい。
【0060】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、また真空容器や基板などに吸着したH2
O,O2 なども除去でき、結果として素子電流If,放
出電流Ieが、安定する。
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、また真空容器や基板などに吸着したH2
O,O2 なども除去でき、結果として素子電流If,放
出電流Ieが、安定する。
【0061】上述した工程を経て得られた本発明の電子
放出素子の基本特性について、図8,図9を参照しなが
ら説明する。
放出素子の基本特性について、図8,図9を参照しなが
ら説明する。
【0062】図8は、真空処理装置の一例を示す模式図
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図8においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図8においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。
【0063】図8において、55は真空容器であり、5
6は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素
子が配されている。また、51は電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3間
の導電性膜4を流れる素子電流Ifを測定するための電
流計、54は素子の電子放出部5より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極、53はアノード
電極54に電圧を印加するための高圧電源、52は電子
放出部5より放出される放出電流Ieを測定するための
電流計である。一例として、アノード電極54の電圧を
1KV〜10KVの範囲とし、アノード電極54と電子
放出素子との距離Hを2〜8mmの範囲として測定を行
うことができる。
6は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素
子が配されている。また、51は電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3間
の導電性膜4を流れる素子電流Ifを測定するための電
流計、54は素子の電子放出部5より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極、53はアノード
電極54に電圧を印加するための高圧電源、52は電子
放出部5より放出される放出電流Ieを測定するための
電流計である。一例として、アノード電極54の電圧を
1KV〜10KVの範囲とし、アノード電極54と電子
放出素子との距離Hを2〜8mmの範囲として測定を行
うことができる。
【0064】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
【0065】排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータ
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより加熱できる。従っ
て、この真空処理装置を用いると、前述の通電フォーミ
ング以降の工程も行うことができる。
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより加熱できる。従っ
て、この真空処理装置を用いると、前述の通電フォーミ
ング以降の工程も行うことができる。
【0066】図9は、図8に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie及び素子電流Ifと、素子電
圧Vfとの関係を模式的に示した図である。図9におい
ては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さ
いので、任意単位で示している。尚、縦・横軸ともリニ
アスケールである。
て測定された放出電流Ie及び素子電流Ifと、素子電
圧Vfとの関係を模式的に示した図である。図9におい
ては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さ
いので、任意単位で示している。尚、縦・横軸ともリニ
アスケールである。
【0067】図9からも明らかなように、本発明の表面
伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関して次の3つ
の特徴的性質を有する。
伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関して次の3つ
の特徴的性質を有する。
【0068】即ち、第1に、本素子はある電圧(閾値電
圧と呼ぶ;図9中のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth以
下では放出電流Ieが殆ど検出されない。つまり、放出
電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線形
素子である。
圧と呼ぶ;図9中のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth以
下では放出電流Ieが殆ど検出されない。つまり、放出
電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線形
素子である。
【0069】第2に、放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
【0070】第3に、アノード電極54(図8参照)に
捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に
依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電荷
量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に
依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電荷
量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0071】以上の説明より理解されるように、本発明
を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に応
じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。こ
の性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成し
た電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能とな
る。
を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に応
じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。こ
の性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成し
た電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能とな
る。
【0072】図9においては、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対して単調増加する(MI特性)例を示したが、
素子電流Ifが素子電圧Vfに対して電圧制御型負性抵
抗特性(VCNR特性)を示す場合もある(不図示)。
これらの特性は、前述の工程を制御することで制御でき
る。
Vfに対して単調増加する(MI特性)例を示したが、
素子電流Ifが素子電圧Vfに対して電圧制御型負性抵
抗特性(VCNR特性)を示す場合もある(不図示)。
これらの特性は、前述の工程を制御することで制御でき
る。
【0073】次に、本発明の電子放出素子の応用例につ
いて以下に述べる。本発明の表面伝導型電子放出素子を
複数個基板上に配列し、例えば電子源や画像形成装置が
構成できる。
いて以下に述べる。本発明の表面伝導型電子放出素子を
複数個基板上に配列し、例えば電子源や画像形成装置が
構成できる。
【0074】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
【0075】本発明の表面伝導型電子放出素子について
は、前述した通り3つの特性がある。即ち、表面伝導型
電子放出素子からの放出電子は、閾値電圧以上では、対
向する素子電極間に印加するパルス状電圧の波高値と幅
で制御できる。一方、閾値電圧以下では、殆ど放出され
ない。この特性によれば、多数の電子放出素子を配置し
た場合においても、個々の素子にパルス状電圧を適宜印
加すれば、入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子
を選択して電子放出量を制御できる。
は、前述した通り3つの特性がある。即ち、表面伝導型
電子放出素子からの放出電子は、閾値電圧以上では、対
向する素子電極間に印加するパルス状電圧の波高値と幅
で制御できる。一方、閾値電圧以下では、殆ど放出され
ない。この特性によれば、多数の電子放出素子を配置し
た場合においても、個々の素子にパルス状電圧を適宜印
加すれば、入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子
を選択して電子放出量を制御できる。
【0076】以下この原理に基づき、本発明を適用可能
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図10を用いて説明する。図10において、71は
電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配線であ
る。74は表面伝導型電子放出素子、75は結線であ
る。
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図10を用いて説明する。図10において、71は
電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配線であ
る。74は表面伝導型電子放出素子、75は結線であ
る。
【0077】m本のX方向配線72は、Dx1,Dx
2,……,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。
Y方向配線73は、Dy1,Dy2,……,Dynのn
本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形成され
る。これらm本のX方向配線72とn本のY方向配線7
3との間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、
両者を電気的に分離している(m,nは、共に正の整
数)。
2,……,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。
Y方向配線73は、Dy1,Dy2,……,Dynのn
本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形成され
る。これらm本のX方向配線72とn本のY方向配線7
3との間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、
両者を電気的に分離している(m,nは、共に正の整
数)。
【0078】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
【0079】表面伝導型電子放出素子74を構成する一
対の素子電極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線
72とn本のY方向配線73に、導電性金属等からなる
結線75によって電気的に接続されている。
対の素子電極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線
72とn本のY方向配線73に、導電性金属等からなる
結線75によって電気的に接続されている。
【0080】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
【0081】X方向配線72には、X方向に配列した表
面伝導型電子放出素子74の行を選択するための走査信
号を印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。
一方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導
型電子放出素子74の各列を入力信号に応じて変調する
ための、不図示の変調信号発生手段が接続される。各電
子放出素子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加さ
れる走査信号と変調信号の差電圧として供給される。
面伝導型電子放出素子74の行を選択するための走査信
号を印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。
一方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導
型電子放出素子74の各列を入力信号に応じて変調する
ための、不図示の変調信号発生手段が接続される。各電
子放出素子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加さ
れる走査信号と変調信号の差電圧として供給される。
【0082】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0083】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図11と図12
及び図13を用いて説明する。図11は、画像形成装置
の表示パネルの一例を示す模式図であり、図12は、図
11の画像形成装置に使用される蛍光膜の模式図であ
る。図13は、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示
を行うための駆動回路の一例を示すブロック図である。
用いて構成した画像形成装置について、図11と図12
及び図13を用いて説明する。図11は、画像形成装置
の表示パネルの一例を示す模式図であり、図12は、図
11の画像形成装置に使用される蛍光膜の模式図であ
る。図13は、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示
を行うための駆動回路の一例を示すブロック図である。
【0084】図11において、71は電子放出素子を複
数配した電子源基板、81は電子源基板71を固定した
リアプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜8
4とメタルバック85等が形成されたフェースプレート
である。82は支持枠であり、該支持枠82には、リア
プレート81、フェースプレート86がフリットガラス
等を用いて接続されている。88は外囲器であり、例え
ば大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範
囲で10分間以上焼成することで、封着して構成され
る。
数配した電子源基板、81は電子源基板71を固定した
リアプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜8
4とメタルバック85等が形成されたフェースプレート
である。82は支持枠であり、該支持枠82には、リア
プレート81、フェースプレート86がフリットガラス
等を用いて接続されている。88は外囲器であり、例え
ば大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範
囲で10分間以上焼成することで、封着して構成され
る。
【0085】74は、図2〜図5に示したような本発明
の表面伝導型電子放出素子である。72,73は、表面
伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続されたX方
向配線及びY方向配線ある。
の表面伝導型電子放出素子である。72,73は、表面
伝導型電子放出素子の一対の素子電極と接続されたX方
向配線及びY方向配線ある。
【0086】外囲器88は、上述の如く、フェースプレ
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
【0087】図12は、蛍光膜を示す模式図である。蛍
光膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列により、ブラックストライプ(図12(a))あるい
はブラックマトリクス(図12(b))等と呼ばれる黒
色導電材91と蛍光体92とから構成することができ
る。ブラックストライプ、ブラックマトリクスを設ける
目的は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の
各蛍光体92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を
目立たなくすることと、蛍光膜84における外光反射に
よるコントラストの低下を抑制することにある。黒色導
電材91の材料としては、通常用いられている黒鉛を主
成分とする材料の他、導電性があり、光の透過及び反射
が少ない材料を用いることができる。
光膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列により、ブラックストライプ(図12(a))あるい
はブラックマトリクス(図12(b))等と呼ばれる黒
色導電材91と蛍光体92とから構成することができ
る。ブラックストライプ、ブラックマトリクスを設ける
目的は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の
各蛍光体92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を
目立たなくすることと、蛍光膜84における外光反射に
よるコントラストの低下を抑制することにある。黒色導
電材91の材料としては、通常用いられている黒鉛を主
成分とする材料の他、導電性があり、光の透過及び反射
が少ない材料を用いることができる。
【0088】ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
【0089】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0090】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
【0091】図11に示した画像形成装置は、例えば以
下のようにして製造される。
下のようにして製造される。
【0092】外囲器88内は、前述の安定化工程と同様
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプ等のオイルを使用しない排気装置により不図示の排
気管を通じて排気し、10-5Pa程度の真空度の有機物
質の十分に少ない雰囲気にした後、封止が成される。外
囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲッター
処理を行うこともできる。これは、外囲器88の封止を
行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高周波加
熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所定の位置に
配置されたゲッター(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成
する処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分であ
り、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-5Pa
以上の真空度を維持するものである。ここで、表面伝導
型電子放出素子のフォーミング処理以降の工程は適宜設
定できる。
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプ等のオイルを使用しない排気装置により不図示の排
気管を通じて排気し、10-5Pa程度の真空度の有機物
質の十分に少ない雰囲気にした後、封止が成される。外
囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲッター
処理を行うこともできる。これは、外囲器88の封止を
行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高周波加
熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所定の位置に
配置されたゲッター(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成
する処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分であ
り、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-5Pa
以上の真空度を維持するものである。ここで、表面伝導
型電子放出素子のフォーミング処理以降の工程は適宜設
定できる。
【0093】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図13を用いて説明する。図13において、
101は画像表示パネル、102は走査回路、103は
制御回路、104はシフトレジスタ、105はラインメ
モリ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発
生器、Vx及びVaは直流電圧源である。
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図13を用いて説明する。図13において、
101は画像表示パネル、102は走査回路、103は
制御回路、104はシフトレジスタ、105はラインメ
モリ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発
生器、Vx及びVaは直流電圧源である。
【0094】表示パネル101は、端子Dx1乃至Dx
m、端子Dy1乃至Dyn及び高圧端子87を介して外
部の電気回路と接続している。端子Dx1乃至Dxmに
は、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された表面伝導
型電子放出素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Dy1乃至Dynには、
前記走査信号により選択された1行の表面伝導型電子放
出素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信
号が印加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaよ
り、例えば10KVの直流電圧が供給されるが、これは
表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに、
蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する為の
加速電圧である。
m、端子Dy1乃至Dyn及び高圧端子87を介して外
部の電気回路と接続している。端子Dx1乃至Dxmに
は、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された表面伝導
型電子放出素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Dy1乃至Dynには、
前記走査信号により選択された1行の表面伝導型電子放
出素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信
号が印加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaよ
り、例えば10KVの直流電圧が供給されるが、これは
表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに、
蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する為の
加速電圧である。
【0095】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1乃至Dxmと電気的に接
続される。各スイッチング素子S1乃至Smは、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作
するものであり、例えばFETのようなスイッチング素
子を組み合わせることにより構成することができる。
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1乃至Dxmと電気的に接
続される。各スイッチング素子S1乃至Smは、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作
するものであり、例えばFETのようなスイッチング素
子を組み合わせることにより構成することができる。
【0096】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づ
き、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出閾値電圧以下となるような一定電圧を出力するよう
設定されている。
導型電子放出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づ
き、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出閾値電圧以下となるような一定電圧を出力するよう
設定されている。
【0097】制御回路103は、外部より入力される画
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsync
に基づいて、各部に対してTscan,Tsft及びT
mryの各制御信号を発生する。
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsync
に基づいて、各部に対してTscan,Tsft及びT
mryの各制御信号を発生する。
【0098】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信
号と表した。このDATA信号は、シフトレジスタ10
4に入力される。
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信
号と表した。このDATA信号は、シフトレジスタ10
4に入力される。
【0099】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
のデータ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
のデータ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
【0100】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
【0101】変調信号発生器107は、画像データI
d’1乃至Id’nの各々に応じて、表面伝導型電子放
出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であり、
その出力信号は、端子Dy1乃至Dynを通じて表示パ
ネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
d’1乃至Id’nの各々に応じて、表面伝導型電子放
出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であり、
その出力信号は、端子Dy1乃至Dynを通じて表示パ
ネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
【0102】前述したように、本発明の電子放出素子は
放出電流Ieに関して以下の基本特性を有している。即
ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth
以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生じる。電子
放出閾値以上の電圧に対しては、素子への印加電圧の変
化に応じて放出電流も変化する。このことから、本素子
にパルス状の電圧を印加する場合、例えば電子放出閾値
電圧以下の電圧を印加しても電子放出は生じないが、電
子放出閾値電圧以上の電圧を印加する場合には電子ビー
ムが出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化さ
せることにより、出力電子ビームの強度を制御すること
が可能である。また、パルスの幅Pwを変化させること
により、出力される電子ビームの電荷の総量を制御する
ことが可能である。
放出電流Ieに関して以下の基本特性を有している。即
ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth
以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生じる。電子
放出閾値以上の電圧に対しては、素子への印加電圧の変
化に応じて放出電流も変化する。このことから、本素子
にパルス状の電圧を印加する場合、例えば電子放出閾値
電圧以下の電圧を印加しても電子放出は生じないが、電
子放出閾値電圧以上の電圧を印加する場合には電子ビー
ムが出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化さ
せることにより、出力電子ビームの強度を制御すること
が可能である。また、パルスの幅Pwを変化させること
により、出力される電子ビームの電荷の総量を制御する
ことが可能である。
【0103】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
【0104】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0105】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
【0106】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
【0107】このような構成をとり得る本発明の画像形
成装置においては、各電子放出素子に、容器外端子Dx
1乃至Dxm、Dy1乃至Dynを介して電圧を印加す
ることにより、電子放出が生じる。高圧端子87を介し
てメタルバック85あるいは透明電極(不図示)に高圧
を印加し、電子ビームを加速する。加速された電子は、
蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形成される。
成装置においては、各電子放出素子に、容器外端子Dx
1乃至Dxm、Dy1乃至Dynを介して電圧を印加す
ることにより、電子放出が生じる。高圧端子87を介し
てメタルバック85あるいは透明電極(不図示)に高圧
を印加し、電子ビームを加速する。加速された電子は、
蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形成される。
【0108】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基
づいて種々の変形が可能である。入力信号についてはN
TSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限られるもの
ではなく、PAL、SECAM方式等の他、これらより
も多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方
式をはじめとする高品位TV)方式をも採用できる。
明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基
づいて種々の変形が可能である。入力信号についてはN
TSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限られるもの
ではなく、PAL、SECAM方式等の他、これらより
も多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方
式をはじめとする高品位TV)方式をも採用できる。
【0109】次に、前述の梯子型配置の電子源及び画像
形成装置について、図14及び図15を用いて説明す
る。
形成装置について、図14及び図15を用いて説明す
る。
【0110】図14は、梯子型配置の電子源の一例を示
す模式図である。図14において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線D1〜D10であ
り、これらは外部端子として引き出されている。電子放
出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複数
個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置されて、電子源を構成している。各素子行
の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子行を
独立に駆動させることができる。即ち、電子ビームを放
出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を印加
し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電子放
出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置する共
通配線D2〜D9は、例えばD2とD3、D4とD5、
D6とD7、D8とD9とを夫々一体の同一配線とする
こともできる。
す模式図である。図14において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線D1〜D10であ
り、これらは外部端子として引き出されている。電子放
出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複数
個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置されて、電子源を構成している。各素子行
の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子行を
独立に駆動させることができる。即ち、電子ビームを放
出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を印加
し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電子放
出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置する共
通配線D2〜D9は、例えばD2とD3、D4とD5、
D6とD7、D8とD9とを夫々一体の同一配線とする
こともできる。
【0111】図15は、梯子型配置の電子源を備えた画
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、D1乃至Dmは容器外端子、G1乃至Gnは
グリッド電極120と接続された容器外端子である。1
10は各素子行間の共通配線を同一配線とした電子源基
板である。図15においては、図11、図14に示した
部位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符
号を付している。ここに示した画像形成装置と、図11
に示した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな
違いは、電子源基板110とフェースプレート86の間
にグリッド電極120を備えているか否かである。
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、D1乃至Dmは容器外端子、G1乃至Gnは
グリッド電極120と接続された容器外端子である。1
10は各素子行間の共通配線を同一配線とした電子源基
板である。図15においては、図11、図14に示した
部位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符
号を付している。ここに示した画像形成装置と、図11
に示した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな
違いは、電子源基板110とフェースプレート86の間
にグリッド電極120を備えているか否かである。
【0112】図15においては、基板110とフェース
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型電子放出素
子111から放出された電子ビームを変調するためのも
のであり、梯子型配置の素子行と直交して設けられたス
トライプ状の電極に電子ビームを通過させるため、各素
子に対応して1個ずつ円形の開口121が設けられてい
る。グリッド電極の形状や配置位置は、図15に示した
ものに限定されるものではない。例えば、開口としてメ
ッシュ状に多数の通過口を設けることもでき、グリッド
電極を表面伝導型電子放出素子の周囲や近傍に設けるこ
ともできる。
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型電子放出素
子111から放出された電子ビームを変調するためのも
のであり、梯子型配置の素子行と直交して設けられたス
トライプ状の電極に電子ビームを通過させるため、各素
子に対応して1個ずつ円形の開口121が設けられてい
る。グリッド電極の形状や配置位置は、図15に示した
ものに限定されるものではない。例えば、開口としてメ
ッシュ状に多数の通過口を設けることもでき、グリッド
電極を表面伝導型電子放出素子の周囲や近傍に設けるこ
ともできる。
【0113】容器外端子D1乃至Dm及びグリッド容器
外端子G1乃至Gnは、不図示の制御回路と電気的に接
続されている。
外端子G1乃至Gnは、不図示の制御回路と電気的に接
続されている。
【0114】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
【0115】以上説明した本発明の画像形成装置は、テ
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
【0116】
【実施例】以下、具体的な実施例を挙げて本発明を詳し
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0117】[実施例1]図16は本実施例の特徴を表
す図であり、基本的には図4に示した構成と同じであ
る。同図(a)において、161の実線と162の点線
からなる正方格子状の模様は、前記2種類の平行溝6
a,6bを交差させた微細溝構造である。また、162
の点線は、溝部分に導電性膜4の材料が不足して導電パ
スが形成されていない状態を示し、161の実線は溝部
分に導電性膜4の材料があり、導電パスが形成されてる
状態を示す。また、同図(b)は微細溝構造が基板1に
形成されていることを示し、更に上記の実線161の溝
部分に導電性膜の材料があり、上記の点線162の溝部
分では導電性膜の材料が不足していることを概念的に示
している。
す図であり、基本的には図4に示した構成と同じであ
る。同図(a)において、161の実線と162の点線
からなる正方格子状の模様は、前記2種類の平行溝6
a,6bを交差させた微細溝構造である。また、162
の点線は、溝部分に導電性膜4の材料が不足して導電パ
スが形成されていない状態を示し、161の実線は溝部
分に導電性膜4の材料があり、導電パスが形成されてる
状態を示す。また、同図(b)は微細溝構造が基板1に
形成されていることを示し、更に上記の実線161の溝
部分に導電性膜の材料があり、上記の点線162の溝部
分では導電性膜の材料が不足していることを概念的に示
している。
【0118】また、浸透(パーコレーション)理論によ
ると、1つのサイトからでているボンド数がzであるよ
うなサイトとボンドから構成される適当な格子に対し
て、ボンドを確率pでランダムに占有状態(導電状態)
とし、確率(1−p)で非占有状態(絶縁状態)とした
時の浸透しきい値pc(b) は、次元数をdとすると、p
c(b) =d/{z(d−1)}となることが知られてい
る。
ると、1つのサイトからでているボンド数がzであるよ
うなサイトとボンドから構成される適当な格子に対し
て、ボンドを確率pでランダムに占有状態(導電状態)
とし、確率(1−p)で非占有状態(絶縁状態)とした
時の浸透しきい値pc(b) は、次元数をdとすると、p
c(b) =d/{z(d−1)}となることが知られてい
る。
【0119】それゆえ、適当な格子に相当する微細溝構
造を素子電極2,3間の基板表面に付与し、該基板表面
での導電性材料の表面被覆率を、上式で決定されるp
c(b)なる値に略等しい値に制御することによって、導
電性膜4の電気的性質を浸透しきい値付近の状態にする
ことができる。ここで、表面における導電性材料の表面
被覆率とは、素子電極2,3間の基板面積に対する、導
電性材料が覆う基板表面の面積比である。
造を素子電極2,3間の基板表面に付与し、該基板表面
での導電性材料の表面被覆率を、上式で決定されるp
c(b)なる値に略等しい値に制御することによって、導
電性膜4の電気的性質を浸透しきい値付近の状態にする
ことができる。ここで、表面における導電性材料の表面
被覆率とは、素子電極2,3間の基板面積に対する、導
電性材料が覆う基板表面の面積比である。
【0120】本実施例では2次元の正方格子型の微細溝
構造であるため、z=4,d=2であり、上式より、p
c(b) =0.5である。0.5なるボンド連結率は、正
方格子の全ボンド数の半分が導電状態となることで得ら
れる。それゆえ、確率0.5で正方格子型の微細溝構造
の溝を導電性材料で被覆することにより、導電性膜4の
電気的性質を、素子電極2,3間が導電状態から絶縁状
態に変化する浸透しきい値付近の状態に制御できる。こ
こで、素子を浸透しきい値付近の状態に制御すると、線
状の電界集中領域が形成されることを我々は見つけた。
構造であるため、z=4,d=2であり、上式より、p
c(b) =0.5である。0.5なるボンド連結率は、正
方格子の全ボンド数の半分が導電状態となることで得ら
れる。それゆえ、確率0.5で正方格子型の微細溝構造
の溝を導電性材料で被覆することにより、導電性膜4の
電気的性質を、素子電極2,3間が導電状態から絶縁状
態に変化する浸透しきい値付近の状態に制御できる。こ
こで、素子を浸透しきい値付近の状態に制御すると、線
状の電界集中領域が形成されることを我々は見つけた。
【0121】すなわち、本実施例では、前記微細溝構造
のタイプに合わせて、表面における導電性材料の表面被
覆率を制御することによって、導電性膜4の電気的性質
を素子電極2,3間が導電状態から絶縁状態に変化する
浸透しきい値付近の状態に制御し、通電フォーミングが
不用、または、通電フォーミング時の消費電力が極めて
小さく、形状のバラツキの少ない亀裂を安定して形成す
ることができ、電子放出特性等の素子特性が均一な電子
放出素子を実現できる効果がある。
のタイプに合わせて、表面における導電性材料の表面被
覆率を制御することによって、導電性膜4の電気的性質
を素子電極2,3間が導電状態から絶縁状態に変化する
浸透しきい値付近の状態に制御し、通電フォーミングが
不用、または、通電フォーミング時の消費電力が極めて
小さく、形状のバラツキの少ない亀裂を安定して形成す
ることができ、電子放出特性等の素子特性が均一な電子
放出素子を実現できる効果がある。
【0122】微細溝構造のタイプに合わせて、表面にお
ける導電性材料の表面被覆率を制御する方法としては、
例えば、(i)薄膜部分23を印刷で作成する際に、膜
厚を制御する方法、(ii)薄膜部分23を蒸着で作成
する際に、蒸着量を制御する方法、(iii)導電性材
料に絶縁性材料を混ぜて膜を形成させる方法、等があ
る。
ける導電性材料の表面被覆率を制御する方法としては、
例えば、(i)薄膜部分23を印刷で作成する際に、膜
厚を制御する方法、(ii)薄膜部分23を蒸着で作成
する際に、蒸着量を制御する方法、(iii)導電性材
料に絶縁性材料を混ぜて膜を形成させる方法、等があ
る。
【0123】[実施例2]本実施例の素子は、図2に示
した構成であり、平行溝6が一次元的に形成されること
を除いて実施例1とほぼ同様である。
した構成であり、平行溝6が一次元的に形成されること
を除いて実施例1とほぼ同様である。
【0124】1次元の浸透しきい値pc(b) は1.0で
あり、2次元の浸透しきい値より高い。また、素子電極
間隔Lが、素子電極幅Wに比べて極めて大きい帯状の
系、例えば、Nx ×Ny ,Nx ≫Ny なる帯状の正方格
子のサイト浸透問題に対して、サイトの占有確率をp,
サイトの非占有確率を(1−p)とすると、第L列が全
て非占有となる確率は(1−p)Ny となり、帯の幅Ny
が小さい程、浸透しきい値が大きくなり、1次元の浸
透しきい値(1.0)に近付く。ただし、サイト間距離
をSとするとき、Nx=L/S,Ny=W/Sである。
あり、2次元の浸透しきい値より高い。また、素子電極
間隔Lが、素子電極幅Wに比べて極めて大きい帯状の
系、例えば、Nx ×Ny ,Nx ≫Ny なる帯状の正方格
子のサイト浸透問題に対して、サイトの占有確率をp,
サイトの非占有確率を(1−p)とすると、第L列が全
て非占有となる確率は(1−p)Ny となり、帯の幅Ny
が小さい程、浸透しきい値が大きくなり、1次元の浸
透しきい値(1.0)に近付く。ただし、サイト間距離
をSとするとき、Nx=L/S,Ny=W/Sである。
【0125】本実施例は、素子電極2,3の対向面に対
して略垂直な方向に形成した微細溝構造により、素子電
極2,3間に帯状の導電経路を形成し、導電性膜4の次
元性を減少させた電子放出素子である。これによって表
面被覆率の高い状態で導電性膜4に亀裂を形成すること
を可能にした。一般に表面被覆率が低い程、寄生抵抗が
増加する。本実施例では、表面被覆率の高い状態で亀裂
を形成することができるため、亀裂部以外の導電性膜の
寄生抵抗を低く抑えることができ、寄生抵抗による電圧
降下を抑制できる効果がある。
して略垂直な方向に形成した微細溝構造により、素子電
極2,3間に帯状の導電経路を形成し、導電性膜4の次
元性を減少させた電子放出素子である。これによって表
面被覆率の高い状態で導電性膜4に亀裂を形成すること
を可能にした。一般に表面被覆率が低い程、寄生抵抗が
増加する。本実施例では、表面被覆率の高い状態で亀裂
を形成することができるため、亀裂部以外の導電性膜の
寄生抵抗を低く抑えることができ、寄生抵抗による電圧
降下を抑制できる効果がある。
【0126】[実施例3]本実施例の素子は、図3に示
した構成であり、素子電極2,3の対向面に対して略平
行な方向に微細溝構造が付与されていることを除いて実
施例1とほぼ同様である。また、同図(b)に示される
ように、微細溝構造が導電性膜4部分に形成され、膜厚
が周期的に変化している。それゆえ、抵抗も周期的に変
化し、先述の通電フォーミング処理を施すことにより、
最も抵抗の高い溝部に沿って、素子電極2,3の対向面
に略平行な直線的な亀裂を形成できる。
した構成であり、素子電極2,3の対向面に対して略平
行な方向に微細溝構造が付与されていることを除いて実
施例1とほぼ同様である。また、同図(b)に示される
ように、微細溝構造が導電性膜4部分に形成され、膜厚
が周期的に変化している。それゆえ、抵抗も周期的に変
化し、先述の通電フォーミング処理を施すことにより、
最も抵抗の高い溝部に沿って、素子電極2,3の対向面
に略平行な直線的な亀裂を形成できる。
【0127】素子電極に平行な直線的にバラツキなく作
成することは困難であるが、多数の直線的な溝を用意す
ることにより、確実に亀裂を形成できる。すなわち、本
実施例では、亀裂が一定方向に沿って形成されるように
制御でき、素子特性のバラツキを抑制できる効果があ
る。 [実施例4]本実施例の素子は、図5に示した構成であ
り、素子電極2,3の対向面に対して斜めに配置された
2種の平行溝6a,6bを交差させた微細溝構造が、導
電性膜4に付与されていることを除いて、実施例1とほ
ぼ同様である。
成することは困難であるが、多数の直線的な溝を用意す
ることにより、確実に亀裂を形成できる。すなわち、本
実施例では、亀裂が一定方向に沿って形成されるように
制御でき、素子特性のバラツキを抑制できる効果があ
る。 [実施例4]本実施例の素子は、図5に示した構成であ
り、素子電極2,3の対向面に対して斜めに配置された
2種の平行溝6a,6bを交差させた微細溝構造が、導
電性膜4に付与されていることを除いて、実施例1とほ
ぼ同様である。
【0128】本実施例の微細溝構造は実施例3と同様に
導電性膜4に形成され、膜厚が斜め格子に沿って周期的
に変化している。それゆえ、抵抗も周期的に変化し、先
述の通電フォーミング処理を施すことにより、抵抗の高
い溝部に沿って、素子電極2,3の対向面に対して斜め
方向の2種類の直線からなるジグザグ型の亀裂が形成さ
れるように制御できる効果がある。特に2種の平行溝6
a,6bの交差角度を調整することにより、ジグザグの
角形状をある程度制御できる効果がある。
導電性膜4に形成され、膜厚が斜め格子に沿って周期的
に変化している。それゆえ、抵抗も周期的に変化し、先
述の通電フォーミング処理を施すことにより、抵抗の高
い溝部に沿って、素子電極2,3の対向面に対して斜め
方向の2種類の直線からなるジグザグ型の亀裂が形成さ
れるように制御できる効果がある。特に2種の平行溝6
a,6bの交差角度を調整することにより、ジグザグの
角形状をある程度制御できる効果がある。
【0129】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明によれば、電
極間の基板部分又は/及び導電性膜部分に、互いに平行
な複数の溝よりなる平行溝を付与し、導電性膜表面の微
細構造を制御することにより、亀裂形成条件を制御する
ことができ、ひいては電子放出効率等の素子特性のバラ
ツキを低減することができる。
極間の基板部分又は/及び導電性膜部分に、互いに平行
な複数の溝よりなる平行溝を付与し、導電性膜表面の微
細構造を制御することにより、亀裂形成条件を制御する
ことができ、ひいては電子放出効率等の素子特性のバラ
ツキを低減することができる。
【0130】また、特に、回転ローラーに前記電極間の
基板又は導電性膜を接触させながら、基板を回転ローラ
ーに対して相対的に移動させる処理によって前記平行溝
を形成することにより、電子放出効率等の素子特性のバ
ラツキの少ない電子放出素子を効率よく量産することが
できる。
基板又は導電性膜を接触させながら、基板を回転ローラ
ーに対して相対的に移動させる処理によって前記平行溝
を形成することにより、電子放出効率等の素子特性のバ
ラツキの少ない電子放出素子を効率よく量産することが
できる。
【0131】そのため、本発明により電子放出素子を同
一基板上に多数配列形成した電子源においては、製造効
率が高いばかりでなく、素子特性のバラツキの少ない安
定した電子線発生装置となる。また、上記電子源を用い
た画像形成装置は、輝度むらの少ない高品位な画像を安
定して表示することができ、高品位なカラーフラットテ
レビ等が実現される。
一基板上に多数配列形成した電子源においては、製造効
率が高いばかりでなく、素子特性のバラツキの少ない安
定した電子線発生装置となる。また、上記電子源を用い
た画像形成装置は、輝度むらの少ない高品位な画像を安
定して表示することができ、高品位なカラーフラットテ
レビ等が実現される。
【図1】本発明を適用可能な電子放出素子の一例である
表面伝導型電子放出素子を模式的に示した平面図及び縦
断面図である。
表面伝導型電子放出素子を模式的に示した平面図及び縦
断面図である。
【図2】本発明の電子放出素子の一例を示す模式図であ
る。
る。
【図3】本発明の電子放出素子の一例を示す模式図であ
る。
る。
【図4】本発明の電子放出素子の一例を示す模式図であ
る。
る。
【図5】本発明の電子放出素子の一例を示す模式図であ
る。
る。
【図6】本発明の電子放出素子の製造方法の一例を説明
するための図である。
するための図である。
【図7】フォーミング処理に用いる電圧波形の例であ
る。
る。
【図8】本発明の電子放出素子の製造に用いることので
きる真空処理装置(測定評価装置)の一例を示す概略構
成図である。
きる真空処理装置(測定評価装置)の一例を示す概略構
成図である。
【図9】本発明の表面伝導型電子放出素子の放出電流I
eおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関係の典型的な
例を示す図である。
eおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関係の典型的な
例を示す図である。
【図10】本発明の単純マトリクス配置の電子源の概略
構成図である。
構成図である。
【図11】本発明の単純マトリクス配置の電子源を用い
た画像形成装置に用いる表示パネルの概略構成図である
た画像形成装置に用いる表示パネルの概略構成図である
【図12】図11の表示パネルにおける蛍光膜を示す図
である。
である。
【図13】図11の表示パネルにNTSC方式のテレビ
信号に応じて表示を行うための駆動回路の一例を示すブ
ロック図である。
信号に応じて表示を行うための駆動回路の一例を示すブ
ロック図である。
【図14】本発明の梯子型配置の電子源の概略平面図で
ある。
ある。
【図15】本発明の梯子型配置の電子源を用いた画像形
成装置に用いる表示パネルの概略構成図である。
成装置に用いる表示パネルの概略構成図である。
【図16】実施例1に係る電子放出素子を説明するため
の模式図である。
の模式図である。
【図17】従来例の表面伝導型電子放出素子の平面図で
ある。
ある。
1 基板 2,3 素子電極 4 導電性膜 5 電子放出部 6,6a,6b 平行溝 11 回転ローラー 12 回転ローラーのコア部分 13 回転ローラーの布部分 50 導電性膜4を流れる素子電流Ifを測定するため
の電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための電
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 Vx,Va 直流電圧源 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 161 導電状態にある溝部分 162 絶縁状態にある溝部分
の電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための電
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 Vx,Va 直流電圧源 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 161 導電状態にある溝部分 162 絶縁状態にある溝部分
Claims (18)
- 【請求項1】 基板上の対向する一対の電極間に、導電
性膜を配置した電子放出素子において、前記電極間の基
板部分又は/及び導電性膜部分に、互いに略平行な複数
の溝よりなる平行溝を有することを特徴とする電子放出
素子。 - 【請求項2】 上記平行溝は、該溝中の少なくとも一部
に導電性材料が充填され、該導電性材料により、上記導
電性膜に導電性を付与するものであることを特徴とする
請求項1に記載の電子放出素子。 - 【請求項3】 上記平行溝は、導電性膜の当該溝の両側
の部分の間の電気抵抗を増大させる、若しくは少なくと
も一部を絶縁状態とするものであることを特徴とする請
求項1に記載の電子放出素子。 - 【請求項4】 上記平行溝は、導電性膜を、対向する電
極間を結び互いに平行な短冊状の部分に分割するもので
あることを特徴とする請求項1に記載の電子放出素子。 - 【請求項5】 前記平行溝は、前記一対の電極の対向面
に垂直であることを特徴とする請求項1に記載の電子放
出素子。 - 【請求項6】 前記平行溝は、前記一対の電極の対向面
に平行であることを特徴とする請求項1に記載の電子放
出素子。 - 【請求項7】 前記平行溝を2種類有し、各平行溝は互
いに交差していることを特徴とする請求項1に記載の電
子放出素子。 - 【請求項8】 一方の平行溝は前記一対の電極の対向面
に垂直であり、他方の平行溝は前記一対の電極の対向面
に平行であることを特徴とする請求項7に記載の電子放
出素子。 - 【請求項9】 前記2種類の平行溝は、前記一対の電極
の対向面に対して斜めに形成されていることを特徴とす
る請求項7に記載の電子放出素子。 - 【請求項10】 前記電子放出素子が、表面伝導型電子
放出素子であることを特徴とする請求項1〜9のいずれ
かに記載の電子放出素子。 - 【請求項11】 請求項1〜10のいずれかに記載の電
子放出素子の製造方法において、前記平行溝を形成する
工程が、回転ローラーに前記電極間の基板又は導電性膜
を接触させながら、基板を回転ローラーに対して相対的
に移動させる工程であることを特徴とする電子放出素子
の製造方法。 - 【請求項12】 前記導電性膜を形成する工程におい
て、該導電性膜が前記平行溝のパターンに対応する表面
被覆率となるように制御することを特徴とする請求項1
1に記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項13】 基板上に、複数の電子放出素子が配列
された電子源において、前記電子放出素子が、請求項1
〜10のいずれかに記載の電子放出素子であることを特
徴とする電子源。 - 【請求項14】 前記複数の電子放出素子が、マトリク
ス状に配線されていることを特徴とする請求項13に記
載の電子源。 - 【請求項15】 前記複数の電子放出素子が、梯子状に
配線されていることを特徴とする請求項13に記載の電
子源。 - 【請求項16】 基板上に、複数の電子放出素子が配列
された電子源の製造方法において、前記電子放出素子
を、請求項11又は12に記載の方法により製造するこ
とを特徴とする電子源の製造方法。 - 【請求項17】 基板上に、複数の電子放出素子が配列
された電子源と、該電子源から放出される電子線の照射
により画像を形成する画像形成部材とを有する画像形成
装置において、前記電子源が、請求項13〜15のいず
れかに記載の電子源であることを特徴とする画像形成装
置。 - 【請求項18】 基板上に、複数の電子放出素子が配列
された電子源と、該電子源から放出される電子線の照射
により画像を形成する画像形成部材とを有する画像形成
装置の製造方法において、前記電子源を、請求項16に
記載の方法により製造することを特徴とする画像形成装
置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21814796A JPH1050203A (ja) | 1996-08-01 | 1996-08-01 | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置、及びそれらの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21814796A JPH1050203A (ja) | 1996-08-01 | 1996-08-01 | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置、及びそれらの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1050203A true JPH1050203A (ja) | 1998-02-20 |
Family
ID=16715387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21814796A Withdrawn JPH1050203A (ja) | 1996-08-01 | 1996-08-01 | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置、及びそれらの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1050203A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006210091A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Seiko Epson Corp | 電子源および電子源の製造方法、並びに電気光学装置、電子機器 |
-
1996
- 1996-08-01 JP JP21814796A patent/JPH1050203A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006210091A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Seiko Epson Corp | 電子源および電子源の製造方法、並びに電気光学装置、電子機器 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3372835B2 (ja) | 電子源及び画像形成装置の製造方法 | |
| JP3323750B2 (ja) | 電子放出素子及びそれを備えた電子源並びに画像形成装置 | |
| JP3372759B2 (ja) | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置の製造方法 | |
| JPH1050203A (ja) | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置、及びそれらの製造方法 | |
| JP3294487B2 (ja) | 電子放出素子の製造方法、並びにそれを用いた電子源、表示パネルおよび画像形成装置の製造方法 | |
| JP3402891B2 (ja) | 電子源および表示パネル | |
| JP3408065B2 (ja) | 電子放出素子、電子源及び画像形成装置の製造方法 | |
| JP2000021305A (ja) | 画像表示装置の製造方法 | |
| JPH0945226A (ja) | 電子放出素子、それを用いた電子源並びに画像形成装置と、それらの製造方法 | |
| JP2884496B2 (ja) | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 | |
| JP2000021291A (ja) | 電子放出素子、それを用いた電子源及び画像形成装置 | |
| JP2884482B2 (ja) | 電子放出素子、電子源及び画像形成装置の製造方法 | |
| JP3472033B2 (ja) | 電子源基板の製造方法および画像形成装置の製造方法 | |
| JP3524278B2 (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH09330676A (ja) | 電子放出素子、電子源、及び画像形成装置 | |
| JPH09277586A (ja) | 電子源、画像形成装置及びその製造方法 | |
| JP3548431B2 (ja) | 電子源、該電子源を用いた画像形成装置 | |
| JP2000243224A (ja) | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 | |
| JPH09199008A (ja) | 電子源およびその製造方法、表示パネルならびに画像形成装置 | |
| JPH1050208A (ja) | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 | |
| JPH1039788A (ja) | 電子源基板、及び画像表示装置 | |
| JP2000021293A (ja) | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 | |
| JPH09330649A (ja) | 電子放出素子、電子源、及び画像形成装置 | |
| JPH11260243A (ja) | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 | |
| JPH103848A (ja) | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20031007 |