JPH10504643A - 水分センサを較正する方法及び装置 - Google Patents

水分センサを較正する方法及び装置

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JPH10504643A JP8501261A JP50126196A JPH10504643A JP H10504643 A JPH10504643 A JP H10504643A JP 8501261 A JP8501261 A JP 8501261A JP 50126196 A JP50126196 A JP 50126196A JP H10504643 A JPH10504643 A JP H10504643A
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Abstract

(57)【要約】 測定送信機(10)のセンサ(20)で測定した特定のパラメータに比例する出力信号を提供する測定送信機(10)を通常の動作位置から測定送信機(10)を取り外すことなく較正するための装置(34)および方法を提供する。本装置(34)は筐体(42)、筐体(42)内に配置し特定のパラメータを検出する較正センサ素子(52)と、筐体(42)を測定送信機(10)へ接続することで測定送信機(10)の測定センサ(20)と同じ特定のパラメータに前記較正センサ(52)を曝すチューブとを含む。本装置(34)は、測定センサ(20)を較正センサ(52)に接続する通信リンク(46)と、較正センサ(52)で検出した特定のパラメータに関連するデータを処理し、較正センサ(52)で検出した特定のパラメータに関連する処理済みデータと測定センサ(20)で検出した特定のパラメータに関連する処理済みデータとを比較し、前記比較に基づいて測定センサ(20)を較正するためのプロセッサ(50)を含む。

Description

【発明の詳細な説明】 水分センサを較正する方法及び装置技術分野・背景技術・産業上の利用の可能性及び発明の開示 本発明は水分センサおよび送信機を較正する方法及び装置に関する。さらに詳 しくは、本発明は水分送信機を設置した処理パイプから該水分送信機を取り外す ことなく、現場での水分送信機の自動再較正を行なう較正装置及び方法の改良に 関する。 処理パイプ内の水分を検出する水分測定システムは周知である。代表的システ ムはマイクロプロセッサ電子回路を含む遠隔送信機、プローブに装着したセンサ 素子、フロー・チャンバ、耐候性エンクロージャ、および各種接続部材を含む。 水分プローブはさまざまな方法で処理パイプに設置できる。例えば、水分センサ はパイプ内へインライン・マウントとして取り付ける、パイプ延長部に取り付け る、小径パイプでは屈曲部に取り付ける、またはバイパス線に取り付けて水分プ ローブの取り外しを容易にする、等が可能である。 水分送信機に関連した問題の一つは、少なくとも毎年、センサを再較正しなけ ればならないことである。従来の水分プローブでは処理パイプから分離して製造 メーカへ送付して再較正を受けなければならなかった。例えば、共通の設置にお いて、出口側に弁のついたバイパス・フローセルに水分プローブを取り付ける。 送信機はディスプレイと電流出力を提供する。再較正が必要な場合、水分プロー ブを処理パイプから取り外して製造メーカへ返送し再較正しなければならない。 これでは少なくとも2〜3週間のダウンタイムが発生する。水分プローブが返送 されて来たら、EPROMの交換または手動入力キーによるプログラミングで新 規の較正データを送信機へ入力しなければならない。 有利なことに、本発明の装置及び方法は処理パイプから水分送信機を取り外す ことなく水分送信機の現場での較正を行なえるように設計してある。フィールド ・キャリブレータを使用すると、水分送信機を処理パイプから取り外さずに約2 4時間で水分送信機を再較正できる。再較正は現場で自動的に行なわれる。利用 者はモイスチャ・アナライザ(水分計)の使い方や保守を知らなくとも構わない 。従来の再較正法では、EPROM交換のためにデータ入力したり、送信機を開 けたりして、再較正済みセンサを送信機に適合させる方法を理解するよう利用者 に求めている。 本発明の1つの態様によれば、測定送信機のセンサで測定した特定のパラメー タに比例した出力信号を提供する測定送信機を通常の動作位置から測定送信機を 取り外さずに較正するための装置が提供される。本装置は、筐体と、当該筐体内 に配置して前記特定のパラメータを検出する較正センサ素子と、前記筐体を測定 送信機に接続し、測定送信機の測定センサと同一の特定のパラメータに較正セン サを曝すためのチューブとを含む。本装置はまた、測定センサを較正センサへ接 続する通信リンクと、較正センサで検出した特定のパラメータに関連するデータ を処理し、較正センサで検出した特定のパラメータに関連した処理済データを測 定センサで検出した特定のパラメータに関連する処理済データと比較し、その比 較に基づいて測定センサを較正するための手段とを含む。 図示した実施例において、本装置はさらに、測定送信機からの特定のパラメー タに関連した本来の較正データと、測定センサおよび較正センサの両方からの特 定のパラメータの最大検出値と、測定センサおよび較正センサの両方からの特定 のパラメータの最小検出値とを記憶する手段を含む。本装置はまた測定している 特定のパラメータの関数として可変長を有する周期を発生する信号ジェネレータ も含む。 さらに図示した実施例において、本装置は等間隔のパルスを発生するためのク ロックと、較正センサの特定のパラメータの最大検出値を表す周期、測定センサ からの特定のパラメータの最大検出値を表す周期、較正センサの特定のパラメー タの最大検出値を表す周期、測定センサで特定のパラメータの最小検出値を表す 周期の中で発生するパルスカウントを決定するための手段とを含む。 処理手段はさらに特定のパラメータの最大検出値についての本来の較正データ と較正センサからの特定のパラメータの最大検出値の間の差分、および特定のパ ラメータの最小検出値についての本来の較正データと較正センサからの特定のパ ラメータの最小検出値との間の差分を計算する。ディスプレイ装置は処理手段と 接続され較正手段の動作状況を視覚表示する。 本発明の別の態様によれば、測定送信機の測定センサで測定した特定のパラメ ータに比例した出力信号を提供する測定送信機を通常の動作位置から測定送信機 を取り外すことなく再較正するための方法が提供される。本法は前記特定のパラ メータを検出する較正センサを提供するステップと、前記較正センサを測定送信 装置へ接続して当該較正センサを測定センサと同一の特定のパラメータに曝すス テップとを含む。本方法はまた較正センサで検出した特定のパラメータに関連す るデータを処理するステップと、較正センサで検出した特定のパラメータに関連 する処理済みデータを測定センサで検出した特定のパラメータに関連する処理済 みデータと比較するステップと、比較に基づいて前記測定センサを再較正するス テップとを含む。 本発明の更なる目的、特徴、利点は、本発明を実施する最良の形態を現在認知 されるように例示する好適な実施例についての後述の詳細な説明を勘案すること で当該分野の当業者には明らかになろう。図面の簡単な説明 詳細な説明では特に添付の図面を参照する。図面において、 図1は水分センサで検出される水分に比例した出力信号を発生するための水分 送信機の細部を示す部分切欠斜視図である。 図2は処理パイプから水分送信機を取り外さずに現場で水分送信機を較正する ため、処理パイプへ接続した図1に示す水分送信機と該水分送信機へ接続したキ ャリブレータとを示す略図である。 図3はキャリブレータの電子回路を示すブロック図である。 図4Aおよび図4Bは較正センサ制御回路系の模式図である。 図5から図7は時間的な水分送信機の結露点温度ドリフトを示すグラフである 。 図8は水分送信機にプログラムしてあり、容量センサ信号を結露点温度に比例 した出力信号に変換できる各種結露点温度に対応するカウント数を表すグラフ図 である。 図9は水分送信機を処理パイプに接続している間に水分送信機を再較正するた めキャリブレータが実行するステップを示すフローチャートである。 図10は水分送信機を再較正するためキャリブレータが実行するステップをさ らに示すフローチャートである。 図11は水分送信機で測定した結露点温度に対応するカウントとキャリブレー タで測定した結露点温度に対応するカウントを示すグラフ図である。 図12は水分送信機とキャリブレータの機能図である。発明を実施するための最良の形態 ここで図面を参照すると、図1には外部筐体12、螺子切りキャップ部14、 電力信号ケーブル入口16を有する水分送信機10が図示してある。図面におい て、水分送信機はDewPro MMY30トレース・モイスチャ・トランスミ ッタで、インディアナ州グリーンウッド所在のエンドレス+ハウザー社(DewPro MMY30 trace moisture transmitter from Endress + Hauser,Greenwood,India na)から入手できる。水分送信機10は筐体12に接続したフローセル18を含 む。センサ素子20はフローセル18内部に取り付けてある。水分送信機10は さらに、焼結フィルタ24を内部に取り付けてある螺子切り流入口即ち処理接続 部22を含む。水分送信機10は又フローセル18に螺合する吐出口即ち排出接 合部26も含む。通常動作では、処理気体を噴出するオリフィスを内部に有する プラグを吐出口接合部26に加工してある。図面において、水分送信機10は° Cか°Fで結露点温度に直接比例する4〜20mAループ電流によって表わされ る2線式出力信号を出力する。標準範囲では、4mAが−90°C(−130° F)に相当し、20mAが+10°C(+50°F)の結露点温度に対応する。 センサ素子20は容量原理で動作するアルミニウム酸化物微量水分センサ素子 が望ましい。センサ素子20はインディアナ州グリーンウッド所在のエンドレス +ハウザー社から入手可能である。センサ素子20は長期に渡る較正安定性と、 すぐれた耐蝕性、良好な応答速度を提供する。センサ素子20はセラミック基板 上に装着してあり温度係数が小さい。 通常、水分送信機10は米国標準技術院(NIST)認定の精密水分基準に工 場で較正され、結露点±2℃の精度を有する。図2は処理パイプ28内に装着し た水分送信機10を示す。図示したように、水分送信機10は処理接合部30内 に装着してある。遮断弁32は水分送信機10のフローセル18に接続してある 。水分送信機10の再較正が必要な場合、キャリブレータ・ユニット34を図2 に図示したように水分送信機10に接続する。さらに詳しくは、キャリブレータ ・ユニット34の流入口接続部36をキャリブレータ・センサー34のフローセ ル38に接続する。チューブ40は水分送信機10の吐出口接合部26とキャリ ブレータ・ユニット34の流入口接続36との間を接続する。図示したように、 チューブ40は1/4インチ(6ミリ)チューブである。キャリブレータ・ユニ ット34は水分送信機と直列接続し、キャリブレータ・ユニット34が水分送信 機10と同じ加圧処理気体に曝されるようにする。接合部44は処理気体を噴出 するオリフィスを含む。 キャリブレータ・ユニット34は前述した水分送信機10と構造的に同一物で ある。キャリブレータ・ユニット34は電子筐体42、吐出口接合部44、アル ミ酸化物センサ、および送信機を含む。キャリブレータ・ユニット34はRS4 85通信リンク46で水分送信機10に電子的に接続してある。キャリブレータ ・センサ34はまた、水分送信機10の再較正時にキャリブレータ34の処理状 況の視覚表示を提供する表示ユニット48へ電気的に接続する。 図3はキャリブレータ・ユニット34の電子回路のブロック図である。電子回 路を制御しキャリブレータ・ユニット34からの情報を処理し、また詳細は以下 で説明するように水分送信機10を再較正するためマイクロコントローラ50が 設けられている。センサ52は特定のパラメータを検出するために設けてある。 図示したように、センサ52はアルミ酸化物微量水分センサで、容量原理で動作 する。センサ52は発振回路54に接続してある。発振回路54は分周回路56 に接続してある。分周回路56の出力はマイクロコントローラ50の入力取り込 みピンに接続してある。 較正データはEEPROM58に記憶されている。EEPROM58はマイク ロコントローラ50のI/Oピンに電気的に接続してある。電圧レギュレータ6 0はキャリブレータ34の各種電子部品に電力を供給するために設けてある。ル ープ制御回路62はセンサ52で測定した特定のパラメータを表す4〜20mA の範囲の出力信号を発生するために設けてある。図示したように、端子64、6 6の間に発生するループ制御回路62からの出力は°Cか°Fでの結露点温度で ある。検知抵抗65も設けてある。検知抵抗はキャリブレータの全電流量を測定 してループ制御回路62内の電圧−電流コンバータを調節することにより、結露 点に比例した4〜20mAの出力信号を維持するものである。 RS−485通信インタフェース68はマイクロコントローラ50に接続して ある。インタフェース68は較正インタフェース70で水分送信機10に接続さ れキャリブレータ34で水分送信機10を再較正できるように設定してある。 キャリブレータ34の電子回路の詳細は図4Aおよび図4Bに図示してある。 マイクロコントローラ50は図面ではモトローラ製モデル番号MC68HC70 5B5である。発振回路54は図面ではマキシム(Maxim)製のモデル番号IC L7556オシレータ集積回路チップ72である。チップ72のピン2、6、7 は接地に接続してある。チップ72のピン4は+3.3V供給電圧に接続してあ る。チップ72のピン8は33nFコンデンサ74から水分センサ52のピン4に 接続してある。水分センサ52のピン2は接地に接続してある。チップ72のピ ン8はフェライト・ビーズ75と10kΩ抵抗76を通してチップ72のピン9に 接続してある。フェライト・ビーズ75はフェア・ライト(Fair-Rite)社製モ デル番号2643021801である。チップ72のピン9も分周集積回路チッ プ78のピン11へ接続してある。チップ78はシグネティクス(Signetics)社 製74HC4060Dである。チップ72のピン10は+3.3V供給電圧に接続 してある。チップ72のピン12はフェライト・ビーズ75および抵抗76の共 通端子へ接続してある。チップ72のピン10はまた100nFコンデンサ80経 由で接地に接続してある。チップ72のピン14は+3.3V供給電圧に接続して ある。さらに、ピン14はコンデンサ80経由で接地へ接続してある。 分周器チップ78のピン1はマイクロコントローラ50の第1の入力取り込み ピン22に接続してある。チップ78のピン8とピン12は接地に接続してある。 チップ78のピン16は+3.3V供給電圧に接続してある。さらに、チップ78 のピン16は100nFコンデンサ82経由で接地へ接続してある。 2MHzクロック84はマイクロコントローラ50のピン16とピン17(OSC1と OSC2)の間の1M抵抗88と並列接続した2MHz発振回路86を含む。低電圧 割り込みチップ90のピン1はマイクロコントローラ50のピン18に接続してあ る。チップ90のピン1はまた10K抵抗91経由でチップ90のピン2に接続し てある。チップ90のピン2は+3.3V供給電圧に接続してある。チップ90 のピン4は接地に接続してある。チップ90は供給電圧を測定し、電圧が設定値 以下に低下した場合にマイクロコントローラ50をリセットする。 マイクロコントローラ50のピン4、5、7、9、11〜14、23〜39、 41〜43は全て接地へ接続してある。マイクロコントローラ50のピン8、1 0、15、19は+3.3V供給電圧へ接続してある。マイクロコントローラ5 0のピン10は100nFコンデンサ92経由で接地へ接続してある。 マイクロコントローラ50のピン44はEEPROMチップ94のピン4へ接続 してある。図示してあるように、チップ94はアトメル(Atmel)社製AT93 C66-10SI型EEPROMチップである。マイクロコントローラ50のピ ン44はチップ94のピン4へ接続してある。マイクロコントローラ50のピン 45はチップ94のピン3へ接続してある。マイクロコントローラ50のピン46 はチップ94のピン2へ接続してある。マイクロコントローラ50のピン47はチ ップ94のピン1へ接続してある。 チップ94のピン5は接地へ接続してある。チップ94のピン6はチップ94の ピン8へ接続してある。ピン6とピン8の共通端子は+3.3V供給電圧へ接続し てある。さらに、ピン6とピン8の共通端子は100nFコンデンサ96経由で接 地へ接続してある。 マイクロコントローラ50のピン48は通信インタフェースチップ98のピン3 へ接続してある。図示してあるように、チップ98はリニアテック(Linear Tec h)社製LTC485チップである。マイクロコントローラ50のピン49はチッ プ98のピン2に接続してある。マイクロコントローラ50のピン50は56K抵 抗100経由でチップ98のピン1に接続してある。さらに、マイクロコントロ ーラ50のピン50は93.1K抵抗102経由で接地へ接続してある。マイクロ コントローラ50のピン52はチップ98のピン4へ接続してある。チップ98の ピン5は接地へ接続してある。チップ98のピン5はまた1M抵抗104経由でコ ネクタ10 6のピン2へ接続してある。チップ98のピン6はコネクタ106のピン1に接続 してある。チップ98のピン7はコネクタ106のピン2に接続してある。チップ 98のピン8は+5V供給電圧に接続してある。ピン8は100nFコンデンサ1 08経由で接地にも接続してある。さらに、チップ98のピン8は1M抵抗110 経由でコネクタ106のピン1に接続してある。 マイクロコントローラ50のピン2はループ制御回路62へ接続してある。さ らに詳しくは、マイクロコントローラ50のピン2は1M抵抗112、1M抵抗1 14、1M抵抗116経由でオペアンプ118の+入力端子に接続してある。オ ペアンプはリニアテック社製LT1078IS8型である。抵抗112、114 の共通端子は100nFコンデンサ120経由で接地へ接続してある。抵抗11 4、116の共通端子は1nFコンデンサ122経由で接地へ接続してある。オ ペアンプ118のピン1で+入力端子は1nFコンデンサ124経由で接地へ接 続してある。オペアンプ118のピン1は221K抵抗126と10Ω検出抵抗 65経由で接地へも接続してある。抵抗126と抵抗65の共通端子はフェライ ト・ビーズ128を通して出力端子66へ接続してある。ピン8でオペアンプ1 18の一入力端子は205K抵抗130経由で接地へ接続してある。オペアンプ 118のピン8は22nFコンデンサ132経由でオペアンプ118のピン7で出 力端子へ接続してある。オペアンプ118のピン2は接地へ接続してある。オペ アンプ118のピン6は+3.3V供給電圧へ接続してある。さらに、オペアン プ118のピン6は100nFコンデンサ134経由で接地へ接続してある。オ ペアンプ118のピン7での出力端子は10K抵抗136経由でトランジスタ1 38のベースに接続してある。図示したように、トランジスタ138はモトロー ラ社製MJD31トランジスタである。トランジスタ138のエミッタは接地へ 接続してある。トランジスタ138のコレクタはダイオード140のカソードへ 接続してある。ダイオード140は図示したようにITT社製LL4148ダイ オードである。ダイオード140のアノードはフェライト・ビーズ141を介し て端子64に接続する。トランジスタ138のコレクタはまた電圧レギュレータ 142の端子1に接続してある。図示したように、電圧レギュレータ142はリ ニアテック社製LT1121−IST−5.0レギュレータである。電圧レギュ レータ142のピン1は10 0nFコンデンサ144経由で接地へ接続してある。電圧レギュレータ142の ピン2は接地に接続してある。電圧レギュレータ142のピン3は+5V供給電圧 へ接続してある。電圧レギュレータ142のピン3は1μFコンデンサ146経 由で接地へも接続してある。さらに、電圧レギュレータ142のピン3は電圧レ ギュレータ148のピン1へ接続してある。図示したように、電圧レギュレータ 148はリニアテック社製LT1121−IST−3.3レギュレータである。 電圧レギュレータ148のピン2は接地に接続してある。電圧レギュレータ14 8のピン3は+3.3V供給電圧へ接続してある。電圧レギュレータ148のピ ン3は1μFコンデンサ150経由で接地へも接続してある。 図5は通常の室温15℃から30℃の乾燥空気中で7カ月間動作させた水分送 信機の結露点温度ドリフトを示す表である。最大点と最小点を通る線の傾きは破 線152で図示してある。図6は9カ月間に渡って結露点−90℃の乾燥空気中 で連続動作させた水分送信機の表である。図7は60℃の高温の乾燥空気中での 最悪の用途を示す表である。較正したばかりのセンサは0度結露点温度ドリフト 線を通る直線を図5、図6、図7の全てで示すはずである。図7に示したように 、水分送信機は高温に曝された後で実質的な結露点温度ドリフトが見られた。こ のようなドリフトの後では、許容限界を越えており水分送信機を再較正する必要 がある。 工場では、水分送信機10には4〜20mAループ電流に相当する温度範囲− 90℃から+10℃に対応するデータがロードされている。水分センサ素子20 に関連する発振回路はセンサ素子20の容量の関数として異なる周期を有する信 号を発生する。クロックが発生する信号は各周期の間にカウントされて各周期ご とのカウント数を作成する。水分センサ20に関連して各周期内で発生したカウ ント数が決定され水分送信機10のメモリにロードされる。このようなデータの サンプルは以下に示すようなもので、図8に模式的に図示してある。 結露点温度 カウント −90.00 20692 −83.75 20910 −77.50 21110 −71.25 21320 −65.00 21529 −58.75 21792 −52.50 22079 −46.25 22362 −40.00 22646 −33.75 22999 −27.50 23403 −21.25 23890 −15.00 24573 −8.75 25509 −2.50 26673 3.75 28561 10.00 32447 通常動作中、水分送信機10の水分センサ20は結露点温度が変化するにつれ て容量を変化させ、さまざまな長さの周期を有する信号を発生する。この周期は 水分送信機10内の各周期内でマイクロプロセッサが検出するカウント数に影響 を与える。検出されたカウントは前述した表に戻って相関させる。この表から水 分送信機10のマイクロプロセッサは計算した結露点温度に比例する出力電流を 発生する。 しかし、ある程度の時間経過の後に、水分送信機10を再較正する必要が出て くる。この時点で、キャリブレータ34を前述したように水分送信機10に接続 させる。図9および図10は水分送信機10を再較正するキャリブレータ34の ソフトウェアおよびハードウェア構成要素で実行されるステップのフロー図を示 す。第1に、遮断弁32が閉じて水分送信機10へ処理空気が流入するのを防止 し、送信機をパワーダウンする。このステップは図9のブロック160に図示し てある。次に、プラグ26を除去して、線40を取り付けキャリブレータ34を 水分送信機10と直列に接続する。キャリブレータ34と水分送信機10を互い に接続する前に、水分送信機10の水分センサ20とキャリブレータ34の水分 センサ52の双方をブロック162に図示したように環境空気に5分間曝す必要 がある。環境空気は典型的に「湿潤」空気と呼ばれる0-10℃の間の結露点温度を 有する空気である。ブロック164に図示したようにキャリブレータ34を水分 送信機10に接続した後、較正インタフェース70を水分送信機10に接続して キャリブレータ34と水分送信機10の間にデジタル・シリアル通信リンク46 を提供する。このステップはブロック166に図示してある。 次に、ブロック168に図示したように、キャリブレータ34と水分送信機1 0の電源を投入する。すると、水分送信機10に記憶されている本来の較正デー タのテーブルがブロック170に図示したように通信リンク46経由でキャリブ レータ34へ転送される。この本来の較正データはブロック172に図示したよ うにキャリブレータ34のEEPROM58に記憶される。 次に、水分送信機10で測定した結露点温度をブロック174で検出する。こ の検出した結露点温度は湿潤空気の読み値について最大結露点温度である。典型 的には、最大値はセンサを環境空気へ露出することにより水分送信機10のプラ グ26を除去して5分以内に発生するはずである。水分送信機10の最大湿潤値 はブロック176に図示したようにキャリブレータ34のEEPROM58に記 憶される。キャリブレータ34で測定した結露点温度もブロック178で示した ように検出される。キャリブレータ34で測定した結露点温度の最大湿潤値は基 準カウントKirefwetに変換されてブロック180に図示したようにキャリブレ ータ34のEEPROM58に記憶される。次に、遮断弁32を開いて水分送信 機10とキャリブレータ34の両方を処理パイプ28からの処理空気に曝す。処 理空気は水分送信機10とキャリブレータ34の両方に加圧供給される。前述し たようにキャリブレータ34は水分送信機10に直列接続してあるので水分セン サ20と水分センサ52はほぼ同時に同一の処理空気に曝される。このステップ はブロック182に図示してある。 水分送信機10とキャリブレータ34の両方で検出した結露点温度は約24時 間の間モニタしてブロック184に示したように最低結露点の値を検出する。水 分送信機10とキャリブレータ34の両方で検出した最低結露点温度はブロック 186に図示したように結露点温度についての最低「乾燥」値としてキャリブレ ータ34のEEPROM58に記憶される。水分送信機10とキャリブレータ3 4の両方での最低結露点温度の値が記憶されてから、キャリブレータ34は水分 送信機10の再較正手順を開始する。Kirawwetは水分送信機10で検出した最 大湿潤結露点温度に対応するカウント数である。変数Kirawdryは水分送信機1 0で検出した最低結露点温度に対応するカウント数である。キャリブレータ34 は水分トランスデューサからの本来のデータを用いてカウント数を計算し、キャ リブレータ34で測定した正確な結露点最大温度と結露点最低温度を実現する。 キャリブレータ34は工場で最近較正したばかりなので、キャリブレータで検出 した最大値と最小値は結露点温度の実際の最大値と最小値であると仮定する。K irefwetはキャリブレータ34で検出される最大結露点温度を発生するのに必要 な本来記憶している水分送信機較正データでカウント数を表す変数である。変数 Kirefdryはキャリブレータ34で測定した最低結露点温度を発生するのに必要 な本来記憶されている水分送信機10からのカウント数を表す。このステップは ブロック180とブロック186に図示してある。 検出データのグラフィック表現が図11に図示してある。第1の工場較正の後 、KirawカウントはKirefカウントと等しい(例えば、3200および180 0カウントでのKirawを参照)。図11の下側の線の傾きは本来の工場設定に 対応して1であり、オフセットは0である。ドリフトの後、Kirawwet(例えば 3200)とKirawwet(たとえば1400)カウント読み値は低くなり、新し いKirawカウントを必要なKirefの湿潤および乾燥の値(3200と1800 )に参照している。線195はKirawとKirefの新しい相関を表す。キャリブ レータ34は次に図11の線195の傾きを次式から計算する。 m=(Kirefwet−Kirefdry)/(Kirawwet−Kirawdry) このステップは図10のステップ188に図示してある。 傾きが得られると、キャリブレータ34はm、Kirawdry、Kirefdryの値を 転送し、測定送信機が補正電流カウントKicを出力するために使用する補正式 にその値を代入する。これによりセンサが経験したドリフトを除外する。これは 図 12と図10のブロック190に図示してある。測定送信機10が使用する補正 式は次の通りである: Kic=m(Kiraw−Kirawdry)+Kirefdry キャリブレータ34は次にブロック192に図示したようにうまく較正したか を確認する。信号をディスプレイ48に送出してブロック194に図示したよう に較正手順が完了したことを表示させる。次に前述した取り付けステップの逆を 行なってキャリブレータ34を水分送信機10から取り外す。このステップはブ ロック196に図示してある。 このようにして水分送信機10は処理パイプ28から水分送信機10を移動す る必要なしに現場で再較正されたことになる。再較正は利用者が何らかの情報を 水分送信機10へ入力する必要なしに自動的に行なわれる。 水分センサが発生した信号周期内のクロックカウントが再較正に使用する好適 な変数であるが、結露点温度の関数である他の変数を本発明の範囲と趣旨から逸 脱することなく使用することができることは理解されよう。その他の変数として は、センサの容量または水分送信機の出力として発生される4〜20mA信号の アンペア数に対応するパルスの周波数が挙られる。したがって、本発明は再較正 に使用する変数として周期内のカウントの使用に制限されることを意図するもの ではない。 幾つかの好適実施例を参照して詳細に本発明を説明したが、後続の請求項に記 載し定義されるように本発明の範囲と趣旨において変化および変形が存在する。
【手続補正書】特許法第184条の7第1項 【提出日】1995年11月16日 【補正内容】 請求の範囲 1.測定送信機内のセンサで測定した特定のパラメータに比例する出力信号を 提供する測定送信機を通常の動作位置から前記測定送信機を取り外すことなく較 正するための装置であって、 筐体と、 前記特定のパラメータを検知するため前記筐体内に配置した較正センサ素子と 、 前記筐体を前記測定送信機へ接続して、前記測定送信機内の前記測定センサと 同一の特定のパラメータに前記較正センサを曝すためのチューブと、 前記較正センサで検出した前記特定のパラメータに関するデータを処理し、前 記測定センサで検出した前記特定のパラメータに関するデータを処理し、前記較 正センサで検出した前記特定のパラメータに関する処理済みデータを前記測定セ ンサで検出した前記特定のパラメータに関する処理済みデータと比較し、前記比 較に基づいて少なくとも一つの補正値を決定するための手段と、 前記測定センサで検出した前記特定のパラメータに関するデータを前記データ 処理手段へ送信し、前記測定送信機へ前記補正値を送信して前記測定センサを再 較正するための通信リンクとを含む装置。 2.前記測定送信機から前記特定のパラメータに関連する本来の較正データと 、前記測定センサおよび前記較正センサの双方からの前記特定のパラメータの最 大検出値と、前記測定センサと前記較正センサの双方での前記特定のパラメータ の最小検出値とを記憶するための手段をさらに含む請求の範囲1に記載の装置。 3.測定している前記特定のパラメータの関数として可変長の周期を発生する ための信号ジェネレータをさらに含む請求の範囲2に記載の装置。 4.等間隔のパルスを発生するクロックをさらに含む請求の範囲3に記載の装 置。 5.前記較正センサについて前記特定のパラメータの前記最大検出値を表す周 期と、前記測定センサからの前記特定のパラメータの前記最大検出値を表す周期 と、前記較正センサについて前記特定のパラメータの前記最小検出値を表す周期 と、前記測定センサについて前記特定のパラメータの前記最小検出値を表す周期 との中で発生するパルスカウントを決定する手段をさらに含む請求の範囲4に記 載の装置。 6.前記処理手段が前記特定のパラメータの前記最大検出値についての本来の 較正データと前記較正センサからの前記特定のパラメータの前記最大検出値の間 の差分と、前記特定のパラメータの前記最小検出値についての前記本来の較正デ ータと前記較正センサからの前記特定のパラメータの前記最小検出値との間の差 分とを計算する請求の範囲5に記載の装置。 7.前記特定のパラメータが結露点温度である請求の範囲6に記載の装置。 8.前記較正センサは容量原理で動作するアルミ酸化物センサである請求の範 囲7に記載の装置。 9.前記処理手段に接続されて前記較正手段の進行状況の視覚表示を提供する ディスプレイ装置をさらに含む請求の範囲1に記載の装置。 10.測定送信機内の測定センサで測定した特定のパラメータに比例する出力 信号を提供する測定送信機を通常の動作位置から前記測定送信機を取り外すこと なく再較正するための方法であって、 前記特定のパラメータを検出する較正センサを設けるステップと、 前記測定送信装置へ前記較正センサを接続し、前記測定センサと同一の特定の パラメータに前記較正センサを曝すステップと、 前記較正センサで検出した前記特定のパラメータに関連するデータを処理する ステップと、 前記較正センサで検出した前記特定のパラメータに関連する処理済みデータと 前記測定センサで検出した前記特定のパラメータに関連する処理済みデータとを 比較するステップと、 前記較正センサと前記測定送信機との間に通信リンクを設け、前記比較ステッ プに基づいて前記測定センサを自動的に再較正するステップとを含む方法。 11.前記再較正に関する情報を表示して、前記再較正の進行状況の視覚表示 を提供するステップをさらに含む請求の範囲10に記載の方法。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 メイヤー,クラウス,シー. アメリカ合衆国・インディアナ州 46227・インディアナポリス・サウス マ ンカー ストリート 7048 (72)発明者 マッカーシー,ダブリュー.,パトリック アメリカ合衆国・インディアナ州 46237・インディアナポリス・ペニーロイ ヤル レーン 7832

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.測定送信機内のセンサで測定した特定のパラメータに比例する出力信号を 提供する前記測定送信機を通常の動作位置から前記測定送信機を取り外すことな く較正するための装置であって、 筐体と、 前記特定のパラメータを検知するため前記筐体内に配置した較正センサ素子と 、 前記筐体を前記測定送信機へ接続して、前記測定送信機内の前記測定センサと 同一の特定のパラメータに前記較正センサを曝すためのチューブと、 前記較正センサに前記測定センサを接続するための通信リンクと、 前記較正センサが検出した前記特定のパラメータに関連するデータを処理する 手段であって、前記較正センサが検出した前記特定のパラメータに関連する処理 済みデータと前記測定センサが検出した前記特定のパラメータに関連する処理済 みデータとを比較し、前記比較に基づいて前記測定センサを較正するための手段 とを含む装置。 2.前記測定送信機から前記特定のパラメータに関連する本来の較正データと 、前記測定センサおよび前記較正センサの双方からの前記特定のパラメータの最 大検出値と、前記測定センサと前記較正センサの双方での前記特定のパラメータ の最小検出値とを記憶するための手段をさらに含む請求の範囲1に記載の装置。 3.測定している前記特定のパラメータの関数として可変長の周期を発生する ための信号ジェネレータをさらに含む請求の範囲2に記載の装置。 4.等間隔のパルスを発生するクロックをさらに含む請求の範囲3に記載の装 置。 5.前記較正センサについて前記特定のパラメータの前記最大検出値を表す周 期と、前記測定センサからの前記特定のパラメータの前記最大検出値を表す周期 と、前記較正センサについて前記特定のパラメータの前記最大検出値を表す周期 と、前記測定センサについて前記特定のパラメータの前記最小検出値を表す周期 との中で発生するパルスカウントを決定する手段をさらに含む請求の範囲4に記 載の装置。 6.前記処理手段が前記特定のパラメータの前記最大検出値についての本来の 較正データと前記較正センサからの前記特定のパラメータの前記最大検出値の間 の差分と、前記特定のパラメータの前記最小検出値についての前記本来の較正デ ータと前記較正センサからの前記特定のパラメータの前記最小検出値との間の差 分とを計算する請求の範囲5に記載の装置。 7.前記特定のパラメータが結露点温度である請求の範囲6に記載の装置。 8.前記較正センサは容量原理で動作するアルミ酸化物センサである請求の範 囲7に記載の装置。 9.前記処理手段に接続されて前記較正手段の進行状況の視覚表示を提供する ディスプレイ装置をさらに含む請求の範囲1に記載の装置。 10.測定送信機内の測定センサで測定した特定のパラメータに比例する出力 信号を提供する測定送信機を通常の動作位置から前記測定送信機を取り外すこと なく再較正するための方法であって、 前記特定のパラメータを検出する較正センサを設けるステップと、 前記測定送信装置へ前記較正センサを接続し、前記測定センサと同一の特定の パラメータに前記較正センサを曝すステップと、 前記較正センサで検出した前記特定のパラメータに関連するデータを処理する ステップと、 前記較正センサで検出した前記特定のパラメータに関連する処理済みデータと 前記測定センサで検出した前記特定のパラメータに関連する処理済みデータとを 比較するステップと、 前記比較に基づいて前記測定センサを再較正するステップとを含む方法。 11.前記再較正に関する情報を表示して前記較正手段の進行状況の視覚表示 を提供するステップをさらに含む請求の範囲1に記載の装置。
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