JPH10507828A - 光学式スキャナの校正方法と装置 - Google Patents
光学式スキャナの校正方法と装置Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.蛍光分光計を校正する方法において、 均質なソリッドステートな校正基準を励起することで蛍光光線を発生し; 上記蛍光光線を参照して上記蛍光分光計の校正を行う各工程から構成されてい ることを特徴とする蛍光分光計を校正する方法。 2.上記蛍光光線を発生する上記工程は、イオンを添加したガラスを励起する ことを含んでいる請求の範囲第1項記載の方法。 3.上記蛍光光線を発生する上記工程は、結晶を励起することを含んでいる請 求の範囲第1項記載の方法。 4.上記蛍光光線を発生する上記工程は、イオンを添加したルビーを励起する ことを含んでいる請求の範囲第3項記載の方法。 5.上記校正基準は、結晶構造を有しており、上記校正中に蛍光分光計に対し て上記結晶構造を整列させる工程から構成されている請求の範囲第3項記載の方 法。 6.上記校正基準の温度を計り; 蛍光分光計の上記校正を補償して上記温度に対して補償する付加工程から構成 されている請求の範囲第1項記載の方法。 7.蛍光分光計の2つのチャンネルを校正する方法において、 長波長チャンネルと短波長チャンネルを有した蛍光分光計を用意し; 蛍光校正光線を発生させる為に校正基準を励起し; 該蛍光校正光線を分割長波長光線と分割短波長光線とに分離し; 長波長強度値を発生させる為に上記分割長波長光線を上記長波長チャンネルで 検出し; 短波長強度値を発生させる為に上記分割短波長光線を上記短波長チャンネルで 検出し;そこで上記長波長チャンネルは上記長波長強度値を使用して校正され、 また上記短波長チャンネルは上記長波長強度値を使用して校正されることを特徴 とする蛍光分光計の2つのチャンネルを校正する方法。 8.上記校正基準を励起する上記工程は、ルビーを励起することを含んでいる 請求の範囲第7項記載の方法。 9.上記ルビーの温度を計り; 上記校正基準の温度によって引き起こされる上記校正光線の強さの変化に対し て上記短波長強度値と上記長波長強度値を補償する付加工程から構成されている 請求の範囲第8項記載の方法。 10.複数のチャンネルを有した蛍光分光計を校正する方法において、 長波長チャンネルと短波長チャンネルを有した蛍光分光計を用意し; 第一校正光線を発生させる為に校正基準を励起し; 該第一校正光線を第一分割長波長校正光線と第一分割短波長校正光線とに分離 し; 第一長波長強度値を発生させる為に上記長波長チャンネルによって上記第一分 割長波長校正光線を検出し; 第一短波長強度値を発生させる為に上記短波長チャンネルによって上記第一分 割短波長校正光線を検出し; 上記短波長校正強度値によって割られた上記長波長校正強度値に等しい第一割 合を発生し; 引き続いて、第二校正光線を発生させる為に上記校正基準を励起し; 該第二校正光線を第二分割長波長校正光線と第二分割短波長校正光線とに分離 し; 第二長波長強度値を発生させる為に上記第二分割長波長光線を上記長波長チャ ンネルで検出し; 第二短波長強度値を発生させる為に上記第二分割短波長光線を上記短波長チャ ンネルで検出し; 上記第二短波長校正強度値によって割られた上記第二長波長校正強度値に等し い第二割合を発生し; 上記第二割合を第一割合で割って校正係数を発生する各工程から構成され、上 記蛍光分光計によって発生されたデータが上記校正係数によって校正されること を特徴とする蛍光分光計を校正する方法。 11.第一蛍光染料の傾斜を決め; 第二蛍光染料の傾斜を決め; 上記第一蛍光染料の傾斜を上記校正係数によって調節し; 上記第二蛍光染料の傾斜を上記校正係数によって調節する付加工程から構成さ れている請求の範囲第10項記載の方法。 12.複数のチャンネルを有した蛍光分光計を校正する方法において、 長波長チャンネルと短波長チャンネルを有した蛍光分光計を用意し; 第一校正光線を発生させる為にルビーを励起し; 該第一校正光線を第一分割長波長校正光線と第一分割短波長校正光線とに分離 し; 第一長波長強度値を発生させる為に上記第一分割長波長光線を上記長波長チャ ンネルで検出し; 第一短波長強度値を発生させる為に上記第一分割短波長光線を上記短波長チャ ンネルで検出し; 上記短波長校正強度値によって割られた上記長波長校正強度値に等しい第一ル ビー割合を発生し; 引き続いて、第二校正光線を発生させる為に上記ルビーを励起し; 該第二校正光線を第二分割長波長校正光線と第二分割短波長校正光線とに分離 し; 第二長波長強度値を発生させる為に上記第二分割長波長光線を上記長波長チャ ンネルで検出し; 第二短波長強度値を発生させる為に上記第二分割短波長光線を上記短波長チャ ンネルで検出し; 上記第二短波長校正強度値によって割られた上記第二長波長校正強度値に等し い第二ルビー割合を発生し; 上記第二ルビー割合を第一ルビー割合で割って校正係数を発生する各工程から 構成され、上記蛍光分光計によって発生されたデータが上記校正係数によって校 正されることを特徴とする蛍光分光計を校正する方法。 13.蛍光分光計を校正する方法において、 第一蛍光校正光線を発生する為に均質なソリッドステートな校正基準を励起し ; 第一校正強度値を発生させる為に検出手段に上記第一蛍光校正光線を導き; 引き続き、第二蛍光校正光線を発生する為に上記校正基準を励起し; 第二校正強度値が上記第一校正強度値の所定範囲以内に入るように上記検出手 段を調節する各工程から構成されていることを特徴とする蛍光分光計を校正する 方法。 14.長波長検出器を有した長波長チャンネルと短波長検出器を有した短波長チ ャンネルを備えた上記検出手段を用意し; 上記第一蛍光校正光線を第一分割長波長校正光線と第一分割短波長校正光線と に分離し; 第一長波長校正強度値を発生させる為に上記長波長チャンネルによって上記第 一分割長波長校正光線を検出し; 第一長波長校正強度値を発生させる為に上記短波長チャンネルによって上記第 一分割短波長校正光線を検出し; 上記第二蛍光校正光線を第二分割長波長校正光線と第二分割短波長校正光線と に分離し; 第二長波長校正強度値を発生させる為に上記長波長チャンネルによって上記第 二分割長波長校正光線を検出し; 第二長波長校正強度値を発生させる為に上記短波長チャンネルによって上記第 二分割短波長校正光線を検出し; 上記第二長波長校正強度値が上記第一長波長校正強度値の所定範囲以内に入る ように上記短波長検出器を調節し; 上記第二長波長校正強度値が上記第一長波長校正強度値の所定範囲以内に入る ように上記短波長検出器を調節する各工程から構成されている請求の範囲第13 項記載の方法。 15.ゴールド基準を参照して校正基準を評価する方法において、 ゴールド基準光線を発生させる為にゴールド基準を励起し; ゴールド基準強度値を発生させる為に上記ゴールド基準光線を検出し; 校正基準光線を発生させる為に校正基準を励起し; 校正基準強度値を発生させる為に上記校正基準光線を検出し; 上記ゴールド基準強度値と上記校正基準強度値の関数として評価係数を決める 各工程から構成されており、上記校正基準強度値は、上記ゴールド基準からの強 度差を補償する為に上記評価係数によって調節されることを特徴とするゴールド 基準を参照して校正基準を評価する方法。 16.校正光線を得る為に校正基準を励起する工程は、均質でソリッドステート な校正基準を励起することを含んでいる請求の範囲第15項記載の方法。 17.均質でソリッドステートな校正基準を励起する工程は、イオン添加ガラス を励起することを含んでいる請求の範囲第16項記載の方法。 18.均質でソリッドステートな校正基準を励起する工程は、結晶を励起するこ とを含んでいる請求の範囲第16項記載の方法。 19.結晶を励起する工程は、ルビーを励起することを含んでいる請求の範囲第 18項記載の方法。 20.ゴールド基準を参照して校正基準を評価する方法において、 長波長チャンネルと短波長チャンネルを有した蛍光分光計を用意し; 蛍光ゴールド基準光線を発生させる為にゴールド基準を励起し; 該ゴールド基準光線を分割長波長ゴールド基準光線と分割短波長ゴールド基準 光線とに分離し; 長波長ゴールド基準強度値を得る為に上記長波長チャンネルで上記分割長波長 ゴールド基準光線を検出し; 短波長ゴールド基準強度値を得る為に上記短波長チャンネルで上記分割短波長 ゴールド基準光線を検出し; 蛍光校正光線を発生させる為に校正基準を励起し; 該校正光線を分割長波長校正光線と分割短波長校正光線とに分離し; 長波長校正基準強度値を得る為に上記長波長チャンネルで上記分割長波長校正 光線を検出し; 短波長校正基準強度値を得る為に上記短波長チャンネルで上記分割短波長校正 光線を検出し; 第一評価係数を決める各工程から構成されており、上記長波長校正基準強度は 、長波長ゴールド基準強度値に等しくなる為に上記評価係数によって調節され、 また上記短波長校正基準強度値は、短波長ゴールド基準強度値に等しくなる為に 上 記評価係数によって調節されることを特徴とするゴールド基準を参照して校正基 準を評価する方法。 21.ゴールド基準を用意する工程は、第一ルビーを用意することを含み、校正 基準を用意する工程は、第二ルビーを用意することを含む請求の範囲第20項記 載の方法。 22.上記ゴールド基準光線を発生させる為に上記ゴールド基準が励起される時 の前後に上記ゴールド基準の第一温度を決め; 上記ゴールド基準光線を発生させる為に上記ゴールド基準が励起される時の前 後に上記ゴールド基準の第二温度を決め; 上記第一温度と上記第に温度の差を調節する為に上記長波長校正基準強度値と 上記短波長校正基準強度値とを補償する付加工程から構成されている請求の範囲 第20項記載の方法。 23.改良された蛍光分光計において、改良は、光光線によって励起されると校 正基準蛍光光線発生する均質でソリッドステートな校正基準から構成されており 、蛍光分光計が上記校正基準蛍光光線を参照して校正されることを特徴とする改 良された蛍光分光計。 24.上記校正基準は、イオン添加ガラスを含んでいる請求の範囲第23項記載 の蛍光分光計。 25.上記校正基準は、結晶を含んでいる請求の範囲第23項記載の蛍光分光計 。 26.上記結晶は、ルビーを含んでいる請求の範囲第25項記載の蛍光分光計。 27.上記ルビーは、長さ寸法と幅寸法とを有する形状で、上記長さ寸法は上記 幅寸法に等しく無い請求の範囲第26項記載の蛍光分光計。 28.更に、上記校正基準の温度を計る為に配置された温度センサーから構成さ れている請求の範囲第23項記載の蛍光分光計。 29.蛍光分光計からの光光線によって励起されると、蛍光ゴールド基準光線を 発生させるように形成されたゴールド基準と; 蛍光分光計からの光光線によって励起されると、校正光線を発生させるように 蛍光分光計に搭載され且つ形成された校正基準と; 強度値を発生する検出手段と; ゴールド基準強度値を発生する為に上記検出手段に上記ゴールド基準光線を導 く手段と; 校正強度値を発生する為に上記検出手段に上記校正光線を導く手段と; ゴールド基準強度値と校正強度値の関数として評価係数を発生する手段とから 構成されている特徴とする校正基準を評価する装置。 30.上記ゴールド基準は第一ルビーを含み、上記校正基準は第二ルビーを含ん でいる請求の範囲第29項記載の装置。 31.上記第二ルビーは、長さ寸法と幅寸法とを有する形状で、上記長さ寸法は 上記幅寸法に等しく無い請求の範囲第30項記載の装置。 32.上記評価係数を発生する手段は、上記校正基準の温度を検出する温度セン サーを含んでいる請求の範囲第29項記載の装置。 33.蛍光分光計からの光光線によって衝突されると、蛍光校正光線を発生させ るように形成された校正基準と; 上記蛍光校正光線を分割短波長光線と分割長波長光線とに分離するように形成 されたもので、上記分割短波長光線が短波長強度値を発生するように蛍光分光計 の短波長チャンネルで検出され且つ上記長割短波長光線が長波長強度値を発生す るように蛍光分光計の短波長チャンネルで検出されるようにした光線分割器と; 上記短波長強度値と上記長波長強度値の関数として校正係数を決める手段とか ら構成されている特徴とする長波長チャンネルと短波長チャンネルを有した蛍光 分光計を校正する装置。 34.上記校正基準は、イオン添加ガラスである請求の範囲第33項記載の装置 。 35.上記校正基準は、結晶である請求の範囲第33項記載の装置。 36.上記結晶は、ルビーである請求の範囲第35項記載の装置。 37.上記ルビーは、長さ寸法と幅寸法とを有する形状で、上記長さ寸法は上記 幅寸法に等しくない請求の範囲第36項記載の装置。 38.上記校正係数を決める手段は、上記校正基準の温度を決めるように形成さ れた温度センサーを有している請求の範囲第33項記載の装置。 39.改良された蛍光分光計において、改良は、組み込まれた均質でソリッドス テートな校正基準から構成されていることを特徴とする蛍光分光計。 40.上記校正基準はルビーである請求の範囲第39項記載の装置。
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