JPH10508952A - M×n個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイ及びその製造方法 - Google Patents
M×n個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイ及びその製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】
薄膜アクチュエーテッドミラー(M及びNは正の整数)からなるアレイは光投射システムに用いられ、M×N個のトランジスタのアレイ及びM×N個の接続端子のアレイを有する基板を備える能動マトリックスと、各々が、第2バイアス電極用の第2薄膜電極、電気的に変形可能な下部薄膜部、信号電極用の中間薄膜電極、電気的に変形可能な上部薄膜部、ミラーのみならず第1バイアス電極の両方の働きをも果たす第1薄膜電極を備えるM×N個の駆動構造体のアレイとを含み、変形可能な両薄膜部は中間薄膜電極によって分離され、第1薄膜電極は上部薄膜部の上に、第2薄膜電極は下部薄膜部の底面に各々設けられ、中間薄膜電極は各接続端子を通じて各トランジスタに電気的に接続され、各駆動構造体の近位端は能動マトリックスの上面に付着されてバイモフ構造になった薄膜アクチュエーテッドミラーのアレイを形成する。
Description
【発明の詳細な説明】
M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイ及びその製造方法発明の技術分野
本発明は光投射システムに関し、特に、光投射システムに用いられ、バイモフ
構造を有するM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイ及びその製造方法
に関する。背景技術
従来、多様なビデオディスプレーシステムのうち、光投射システムは大画面で
高画質の映像を表示し得るものとして知られている。そのような光投射システム
において、ランプから発せられた光線は、例えば、M×N個のアクチュエーテッ
ドミラーからなるアレイ(以下、「アクチュエーテッドミラーアレイ」と称す)
に向かって一様に入射される。ここで、各ミラーは各アクチュエータに接続され
ている。このアクチュエータは、印加された電界信号に応じて変形を起こす圧電
物質または電歪物質のような電気的に変形可能な物質でできている。
各ミラーから反射された光線(以下、「反射光線」と称す)は開口(例えば、
光学バッフル)へ入射される。電気信号を各アクチュエータへ印加することによ
って、入射光線に対する各ミラーの相対的な位置が変更されて、各ミラーからの
反射光線の光路が偏向される。このように、各反射光線の光路が変更されるため
、開口を通じて各ミラーから反射された光線の量が変化されることによって、該
当光線の強さが調節されることになる。開口を通じて調節された光線は適切な光
学デバイス(例えば、投射レンズ)を介して投射スクリーンに入射されて、その
上に像をディスプレイする。
図1A〜図1Gには、光投射システムに用いられ、M×N個の薄膜アクチュエ
ーテッドミラー(M及びNは正の整数)11からなるアレイ10の製造過程を説
明するための断面図が各々示されている。このアレイ10は、本特許出願と出願
人を同じくする係属中の米国特許出願08/430,628号明細書に、「THIN
FILM ACTUATED MIRRORS ARRAY」との名称で開示されている。
上記の製造プロセスにおいて、最初、上面を有し、基板22、M×N個のトラ
ンジスタ(図示せず)のアレイ、導電性ラインパターン(図示せず)及びM×N
個の接続端子24のアレイからなる能動マトリックス20が準備される。
その後、能動マトリックス20の上面に薄膜犠牲層40が被着される。この被
着は、薄膜犠牲層40が金属からなる場合はスパッタリング法または蒸着法を、
PSGからなる場合は化学気相成長法(CVD)またはスピンコーティング法を
、またはポリシリコンからなる場合はCVD法を各々用いることによって行われ
る。
その後は、薄膜犠牲層40によって取り囲まれたM×N個の支持部30のアレ
イを有する支持層15が形成される。この支持層15は、図1Aに示したように
、フォトリソグラフィー法を用いて、薄膜犠牲層40の上に各接続端子24周り
に位置するM×N個の空スロット(図示せず)のアレイを形成し、スパッタリン
グ法またはCVD法を用いて、各接続端子24周りに位置する各空スロット内に
支持部30を形成することによって設けられる。ここで、支持部30は絶縁性物
質からなる。
続いて、支持部30と同様に絶縁性物質からなる弾性層70がゾル−ゲル法、
スパッタリング法またはCVD法を用いて支持層15の上に被着される。
しかる後、図1Bに示したように、最初、エッチング法を用いて、弾性層70
の上部から各接続端子24の上部まで延在されている、M×N個の孔(図示せず
)からなるアレイを形成し、該孔内に金属を埋め込むことによって、金属からな
るコンジット35が形成される。
その後、電気的に変形可能な物質からなる第2薄膜層60が、スパッタリング
法によって、コンジット35を有する弾性層70の上部に形成される。この第2
薄膜層60は、支持部30内に形成されたコンジット35を通じてトランジスタ
に電気的に接続されている。
その後、圧電物質(例えば、PZT)からなる電気的に変形可能な薄膜層80
(以下、「変形可能層80と称す」)が、図1Cに示したように、スパッタリン
グ法、CVD法またはゾル−ゲル法を用いて、第2薄膜層60の上部に被着され
る。
続いて、変形可能層80、第2薄膜層60及び弾性層70が、図1Dに示した
ように、支持層15が露出されるまで、フォトリソグラフィー法またはレーザ切
断法を用いて、電気的に変形可能な薄膜部85(以下、「変形可能部85」と称
す)のアレイ、M×N個の第2薄膜電極層65のアレイ及びM×N個の弾性部7
5のアレイに各々パターン化される。各々の第2薄膜電極層65は、各支持部3
0内の各コンジット35を通じて各トランジスタに電気的に接続され、M×N個
の薄膜アクチュエーテッドミラー11において信号電極として機能する。
しかる後、各変形可能部85が高温(例えば、PZTからなっている場合、約
650℃)にて熱処理されることによって、相転移が生じ、M×N個の熱処理済
みの構造(図示せず)のアレイが形成される。この際、熱処理済みの変形可能部
85の厚さは十分に薄くなっているため、圧電物質からなる場合は別に分極すべ
き必要がない。これは、薄膜アクチュエーテッドミラー11の作動の際、印加さ
れた電気信号によって分極され得るためである。
その後、導電性及び光反射性物質からなるM×N個の第1薄膜電極層50のア
レイが、最初、図1Eに示したように、スパッタリング法を用いて、M×N個の
熱処理済みの構造のアレイの上部と露出された支持層15とを完全に覆い、導電
性及び光反射性物質からなる層88を変形可能部85の上部に形成した後、図1
Fに示したように、エッチング法を用いて、層88を選択的に取り除いて形成さ
れる。その結果、一つの上面及び四つの側面を有するM×N個のアクチュエーテ
ッドミラー構造95からなるアレイ90が形成される。各第1薄膜電極層50は
M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー11においてミラーだけでなくバイア
ス電極としての働きをも果たす。
その後は、薄膜保護層(図示せず)が各アクチュエーテッドミラー構造95の
一つの上面及び四つの側面全体を完全に覆うことになる。
しかる後、支持層15の薄膜犠牲層40がエッチング法を用いて取り除かれる
。最後に、図1Gに示したように、薄膜保護層が取り除かれてM×N個の薄膜ア
クチュエーテッドミラー11からなるアレイ10が形成される。
しかしながら、上述したM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー11のアレ
イ10の製造方法には多くの欠陥がある。まず、変形可能部85を形成するには
高温を要するので、薄膜犠牲層40用の高温に耐える物質を注意深く選択しなけ
ればならない。さらに、アレイ10の製造方法も高温で行われるので、M×N個
の薄膜アクチュエーテッドミラー11においての電極用物質及び能動マトリック
ス20における導電性ラインパターンも耐高温性を有するべきである。従って、
そのような耐高温性を有する物質は一般的に高価のため、アレイ10の製造コス
トが高まる欠点を有する。
さらに、変形可能部85の形成の際の高温は、各薄膜アクチュエーテッドミラ
ー11の構造にも不都合の影響を与えることになり、アレイ10の全体的な駆動
性能を低下させる短所を有する。発明の開示
従って、本発明の目的は、アレイ製造の際、高温処理を不要とする、光投射シ
ステムで用いる、M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイを提供するこ
とにある。
本発明の他の目的は、その製造の際に高温処理を要せず、かつ薄膜犠牲層に用
いる物質をより一層容易に選択し得る光投射システム用M×N個の薄膜アクチュ
エーテッドミラーアレイの製造方法を提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明の一実施例によれば、光投射システムに
用いられ、各々がバイモフ構造を有するM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラ
ー(M及びNは正の整数)からなるアレイであって、
上面を有し、M×N個のトランジスタからなるアレイ及びM×N個の接続端子
からなるアレイを有する基板を備える能動マトリックスと、
各々が、近位端及び遠位端を有し、第2バイアス電極としての機能を果たす第
2薄膜電極、上面及び底面を有する電気的に変形可能な下部薄膜部、信号電極と
しての機能を果たす中間薄膜電極、上面及び底面を有する電気的に変形可能な上
部薄膜部及びミラーだけでなく第1バイアス電極としての働きをも果たす第1薄
膜電極を備えるM×N個の駆動構造体のアレイとを含み、
前記電気的に変形可能な上部、下部薄膜部は前記中間薄膜電極によって分離さ
れ、前記第1薄膜電極は前記上部薄膜部の上面に設けられ、前記第2薄膜電極は
前記下部薄膜部の底面に設けられ、前記中間薄膜電極は前記各接続端子を通じて
前記各トランジスタに電気的に接続され、前記各駆動構造体の近位端は前記能動
マトリックスの上面に付着されることによって前記バイモフ構造になった薄膜ア
クチュエーテッドミラーを形成することを特徴とするM×N個の薄膜アクチュエ
ーテッドミラーアレイが提供される。
本発明の他の実施例によれば、光投射システムに用いられ、各々がバイモフ構
造を有するM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー(M及びNは正の整数)か
らなるアレイの製造方法であって、
上面を有し、M×N個のトランジスタからなるアレイ及びM×N個の接続端子
からなるアレイを有する基板を備える能動マトリックスを形成する第1工程と、
前記能動マトリックスの上面に薄膜犠牲層を形成する第2工程と、
前記能動マトリックス上の、各接続端子の上面に形成された前記薄膜犠牲層の
一部分を取り除く第3工程と、
前記薄膜犠牲層を有する前記能動マトリックスの上面に第2導電性物質からな
る第2薄膜電極層を形成する第4工程と、
前記能動マトリックスで各接続端子の上部に形成された前記第2薄膜電極層の
一部分を取り除く第5工程と、
前記能動マトリックス及び前記第2薄膜電極層の上部に電気的に変形可能な下
部層を形成する第6工程と、
各々が内面を有し、前記電気的に変形可能な下部層から前記各接続端子の上部
まで延在するM×N個の孔を形成する第7工程と、
前記各孔の内面を有する前記電気的に変形可能な下部層の上部に第1導電性物
質からなる中間電極層を形成する第8工程と、
前記孔を埋め込むとともに、前記中間電極層の上部に電気的に変形可能な上部
層を形成する第9工程と、
前記電気的に変形可能な上部層の上部に導電性及び光反射性物質からなる第1
薄膜電極層を形成することによって、前記薄膜電極層、前記電気的に変形可能な
上部層、前記中間電極層、前記電気的に変形可能な下部層及び前記第2薄膜電極
層からなる、多層構造体を形成する第10工程と、
前記多層構造体を、第1薄膜電極、電気的に変形可能な上部部材、中間薄膜電
極、電気的に変形可能な下部部材及び第2薄膜電極からなる、M×N個の未完成
駆動構造体にパターニングする第11工程と、
前記薄膜犠牲層を取り除いて、前記M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー
アレイを形成する第12工程と
を含むことを特徴とするM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイの製造
方法が提供される。図面の簡単な説明
図1A〜図1Gは、従来によるM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレ
イの製法を説明するための概略的な断面図である。
図2は、本発明によるM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイの斜視
断面図である。
図3A〜図3Hは、本発明によるM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーア
レイの製法を説明するための概略的な断面図である。発明の実施の態様
以下、本発明の好適実施例について図面を参照しながらより詳しく説明する。
図2及び図3A〜図3Hには、本発明に基づいて、M×N個の薄膜アクチュエ
ーテッドミラー101からなるアレイ100の製造方法を説明するための斜視断
面図及び断面図が各々示されている。ここで、M及びNは正の整数である。各図
中で、同一部分は同一の参照符号を付して表示したことに注意されたい。
図2を参照すると、能動マトリックス120とバイモフ構造のM×N個の駆動
構造体111のアレイとからなる、本発明によるM×N個の薄膜アクチュエーテ
ッドミラー101のアレイ100の斜視断面図が示されている。
能動マトリックス120は、上面を有し、各トランジスタに電気的に接続され
ているM×N個の接続端子124からなるアレイを有する基板122、導電性ラ
インパターン(図示せず)及びM×N個のトランジスタ(図示せず)のアレイを
備える。
近位端及び遠位端を有する駆動構造体111の各々は、第2バイアス電極用の
第2薄膜電極165と、上面及び底面を有する電気的に変形可能な下部部材18
5(以下、「変形可能下部部材」と称す)と、信号電極用の中間薄膜電極135
と、上面及び底面を有する電気的に変形可能な上部部材175(以下、「変形可
能上部部材」称す)と、ミラー及び第1バイアス電極の双方用の第1薄膜電極1
55とを備える。ここで、各駆動構造体111の遠位端は能動マトリックス12
0の上面に付着され、第1及び第2薄膜電極155、165は電気的に接続し合
っている。変形可能上部部材175及び変形可能下部部材185は、中間薄膜電
極135によって区切られている。第1薄膜電極155は変形可能上部部材17
5の上面に形成され、第2薄膜電極165は変形可能下部部材185の底面に位
置する。中間薄膜電極135は、各接続端子124を通じて各トランジスタに電
気的に接続されている。各薄膜アクチュエーテッドミラー101に於ける変形可
能上部部材175、変形可能下部部材185は、結晶学的非対称性物質(例えば
、酸化亜鉛ZnO)からなる。この物質は、ヒステリシスループがなく200℃
〜300℃の温度にて形成され得る。さらに、変形可能上部部材175及び変形
可能下部部材185に対してそのような物質を用いると、第1薄膜電極155、
第2薄膜電極165及び中間薄膜電極135においてアルミニウム(Al)また
は銀(Ag)のような低融点及び低価の電極材料を用い得るため、アレイ100
の全体的な製造コストを大幅に軽減させ得る。
変形可能上部部材175の分極方向は変形可能下部部材185の分極方向と同
一である。電界が各薄膜アクチュエーテッドミラー101における変形可能上部
部材175及び変形可能下部部材185の両端に印加されると、一つの変形可能
薄膜部の分極方向は該電界と一致し、その他は反対になる。この場合、電界と同
一の分極方向を有する電気的に変形可能な薄膜部は垂直へ拡張すると共に水平へ
収縮し、電界と反対の分極方向を有する電気的に変形可能な薄膜部は垂直へ収縮
すると共に水平へ拡張することによって、バイモフ構造を形成することになる。
図3A〜3Hには、本発明による、M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー
101からなるアレイ100の製造方法を説明するための概略的な断面図が各々
示されている。
アレイ100の製造プロセスは、上面を有し、M×N個の接続端子124、導
電性ラインパターン(図示せず)及びM×N個のトランジスタからなるアレイ(
図示せず)から構成される能動マトリックス120の準備から始まる。
その後、酸化物(例えば、ZnO)または重合体(例えば、ポリイミド)から
なり、1〜2μmの厚さを有する薄膜犠牲層140が能動マトリックス120の
上に被着される。この被着は、薄膜犠牲層140が酸化物からなる場合はスパッ
タリング法または蒸着法を、重合体からなる場合はスピンコーティング法を各々
用いることによって行われる。
上述したように、変形可能上部部材175、変形可能下部部材185に対して
ZnOを用いると、従来の問題となった高温処理プロセスが除去されて、薄膜犠
牲層140に適した物質をより一層容易に選択し得る。
しかる後、図3Aに示したように、フォトリソグラフィー法を用いて、能動マ
トリックス120における各接続端子124の上部に形成された薄膜犠牲層14
0の一部分が取り除かれる。
続いて、第2導電性物質(例えば、Al)からなり、0.1〜2μmの厚さを
有する第2薄膜電極層160が、スパッタリング法または蒸着法を用いて、薄膜
犠牲層140を含む能動マトリックス120の上部に被着される。
その後、図3Bに示したように、能動マトリックス120に於ける各接続端子
124の上部に被着された第2薄膜電極層160の各部分がフォトリソグラフィ
ー法またはレーザ切断法を用いて取り除かれる。
図3Cに示したように、ZnOからなり、0.1〜2μmの厚さを有する下部
変形可能層180が、蒸着法またはスパッタリング法を用いて、第2薄膜電極層
160を含む能動マトリックス120の上部に形成される。ZnOの薄膜は約2
00℃〜300℃にて形成され得る。
しかる後、図3Dに示したように、M×N個の孔190からなるアレイが形成
される。各孔190は内面を有し、エッチング法を用いて、能動マトリックス1
20を通じて下部変形可能層180の上部から各接続端子124の上部まで延在
されて形成される。
図3Eに示したように、第1導電性物質(例えば、Al)からなり、0.1〜
2μmの厚さを有する中間電極層130が、スパッタリング法または蒸着法を用
いて、M×N個の孔190の内面を内含する下部変形可能層180の上に形成さ
れる。
続いて、図3Fに示したように、下部変形可能層180と同一の物質からなり
、0.1〜2μmの厚さを有する上部変形可能層170が、蒸着法またはスパッ
タリング法を用いて、M×N個の孔190を埋めると同時に、中間電極層130
の上面に形成される。
図3Gに示したように、導電性または光反射性物質(例えば、AlまたはAg
)からなり、0.1〜2μmの厚さを有する第1薄膜電極層150が、スパッタ
リング法または蒸着法を用いて、上部変形可能層170の上に被着されることに
よって、第1薄膜電極層150、上部変形可能層170、中間電極層130、下
部変形可能層180及び第2薄膜電極層160を備える、多層構造体200を形
成することになる。
その後、多層構造体200は、薄膜犠牲層140がフォトリソグラフィー法ま
たはレーザ切断法によって露出されるまで、第1薄膜電極155、変形可能上部
部材175、中間薄膜電極135、変形可能下部部材185及び第2薄膜電極1
65を備えるM×N個の未完成の駆動構造体250のアレイに各々パターニング
される。
しかる後、図3Hに示したように、薄膜犠牲層140がエッチング法によって
取り除かれることによって、M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー101か
らなるアレイ100が形成される。
本発明によるM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー101のアレイ100
では、従来のアレイ製造とは異なり、各駆動構造体111の変形可能上部部材1
75、変形可能下部部材185がZnOからなっているため、薄膜変形可能層8
0に対して相転移を引き起こすようにする高温処理プロセスの必要がなくなるこ
とによって、薄膜犠牲層140に使用すべき物質をより多様に選択することがで
きる。
さらに、変形可能上部部材175、変形可能下部部材185に対してZnOを
用いると、M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー101に於ける第1薄膜電
極155、第2薄膜電極165、中間薄膜電極135及び能動マトリックス12
0の導電性ラインパターンにおいて、低融点かつ低価格の物質を用いることによ
って、アレイ100の全体的な製造コストを減らすことができる。
また、アレイ100は高温処理プロセスなしに形成されるため、構造及びアレ
イの駆動効率を一層高めることができる。
上記において、本発明の好適な実施の形態について説明したが、本発明の請求
範囲を逸脱することなく、当業者は種々の改変をなし得るであろう。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.光投射システムに用いられ、各々がバイモフ構造を有するM×N個の薄膜ア クチュエーテッドミラー(M及びNは正の整数)からなるアレイであって、 上面を有し、M×N個のトランジスタからなるアレイ及びM×N個の接続端 子からなるアレイを有する基板を備える能動マトリックスと、 各々が、近位端及び遠位端を有し、第2バイアス電極としての機能をする第 2薄膜電極、上面及び底面を有する電気的に変形可能な下部薄膜部、信号電極と しての機能をする中間薄膜電極、上面及び底面を有する電気的に変形可能な上部 薄膜部及びミラーだけでなく第1バイアス電極としての働きをも果たす第1薄膜 電極を備えるM×N個の駆動構造体のアレイとを含み、 前記電気的に変形可能な上部、下部薄膜部は前記中間薄膜電極によって分離 され、前記第1薄膜電極は前記上部薄膜部の上面に設けられ、前記第2薄膜電極 は前記下部薄膜部の底面に設けられ、前記中間薄膜電極は前記各接続端子を通じ て前記各トランジスタに電気的に接続され、前記各駆動構造体の近位端は前記能 動マトリックスの上面に付着されることによって前記バイモフ構造になった薄膜 アクチュエーテッドミラーを形成することを特徴とするM×N個の薄膜アクチュ エーテッドミラーアレイ。 2.前記第1薄膜電極が、前記第2薄膜電極に電気的に接続されていることを特 徴とする請求の範囲1に記載のM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイ 。 3.光投射システムに用いられ、各々がバイモフ構造を有するM×N個の薄膜ア クチュエーテッドミラー(M及びNは正の整数)からなるアレイの製造方法であ って、 上面を有し、M×N個のトランジスタからなるアレイ及びM×N個の接続端 子からなるアレイを有する基板を備える能動マトリックスを形成する第1工程と 、 前記能動マトリックスの上面に薄膜犠牲層を形成する第2工程と、 前記能動マトリックス上の、各接続端子の上面に形成された前記薄膜犠牲層 の一部分を取り除く第3工程と、 前記薄膜犠牲層を有する前記能動マトリックスの上面に第2導電性物質から なる第2薄膜電極層を形成する第4工程と、 前記能動マトリックスで各接続端子の上部に形成された前記第2薄膜電極層 の一部分を取り除く第5工程と、 前記能動マトリックス及び前記第2薄膜電極層の上部に電気的に変形可能な 下部層を形成する第6工程と、 各々が内面を有し、前記電気的に変形可能な下部層から前記各接続端子の上 部まで延在するM×N個の孔を形成する第7工程と、 前記各孔の内面を有する前記電気的に変形可能な下部層の上部に第1導電性 物質からなる中間電極層を形成する第8工程と、 前記孔を埋め込むとともに、前記中間電極層の上部に電気的に変形可能な上 部層を形成する第9工程と、 前記電気的に変形可能な上部層の上部に導電性及び光反射性物質からなる第 1薄膜電極層を形成することによって、前記薄膜電極層、前記電気的に変形可能 な上部層、前記中間電極層、前記電気的に変形可能な下部層及び前記第2薄膜電 極層からなる、多層構造体を形成する第10工程と、 前記多層構造体を、第1薄膜電極、電気的に変形可能な上部部材、中間薄膜 電極、電気的に変形可能な下部部材及び第2薄膜電極からなる、M×N個の未完 成駆動構造体にパターニングする第11工程と、 前記薄膜犠牲層を取り除いて、前記M×N個の薄膜アクチュエーテッドミラ ーアレイを形成する第12工程と を含むことを特徴とするM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイの製 造方法。 4.前記電気的に変形可能な上部、下部層が、結晶学的非対称性物質からなるこ とを特徴とする請求の範囲3に記載のM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラー アレイの製造方法。 5.前記結晶学的非対称性物質が、酸化亜鉛(ZnO)であることを特徴とする 請求の範囲3に記載のM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイの製造 方法。 6.前記電気的に変形可能な上部層、下部層が、0.1〜2μmの厚さで形成さ れることを特徴とする請求の範囲3に記載のM×N個の薄膜アクチュエーテッド ミラーアレイの製造方法。 7.前記電気的に変形可能な上部層、下部層が、蒸着法またはスパッタリング法 を用いて形成されることを特徴とする請求の範囲3に記載のM×N個の薄膜アク チュエーテッドミラーアレイの製造方法。 8.前記薄膜犠牲層が、酸化物または重合体からなることを特徴とする請求の範 囲3に記載のM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイの製造方法。 9.前記薄膜犠牲層が、酸化物からなっている場合はスパッタリング法または蒸 着法を、重合体からなっている場合にはスピンコーティング法を各々用いて形成 されることを特徴とする請求の範囲3に記載のM×N個の薄膜アクチュエーテッ ドミラーアレイの製造方法。 10.前記第1薄膜電極層、前記第2薄膜電極層及び前記中間電極層が、スパッ タリング法または蒸着法を用いて形成されることを特徴とする請求の範囲3に記 載のM×N個の薄膜アクチュエーテッドミラーアレイの製造方法。 11.前記第1薄膜電極層、前記第2薄膜電極層及び前記中間電極層が、0.1 〜2μmの厚さで形成されることを特徴とする請求の範囲3に記載のM×N個の 薄膜アクチュエーテッドミラーアレイの製造方法。
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