JPH10512925A - Cvi/cvdプロセスに使用するための装置 - Google Patents

Cvi/cvdプロセスに使用するための装置

Info

Publication number
JPH10512925A
JPH10512925A JP8516368A JP51636896A JPH10512925A JP H10512925 A JPH10512925 A JP H10512925A JP 8516368 A JP8516368 A JP 8516368A JP 51636896 A JP51636896 A JP 51636896A JP H10512925 A JPH10512925 A JP H10512925A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
porous
porous structure
gas
ring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8516368A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3759166B2 (ja
Inventor
ルドルフ,ジェイムズ・ダブリュ.
パーディ,マーク・ジェイ.
ボック,ローウェル・ディー.
Original Assignee
ザ ビー.エフ.グッドリッチ カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ザ ビー.エフ.グッドリッチ カンパニー filed Critical ザ ビー.エフ.グッドリッチ カンパニー
Publication of JPH10512925A publication Critical patent/JPH10512925A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3759166B2 publication Critical patent/JP3759166B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4411—Cooling of the reaction chamber walls
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/71—Ceramic products containing macroscopic reinforcing agents
    • C04B35/78—Ceramic products containing macroscopic reinforcing agents containing non-metallic materials
    • C04B35/80—Fibres, filaments, whiskers, platelets, or the like
    • C04B35/83—Carbon fibres in a carbon matrix
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/04—Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C16/045—Coating cavities or hollow spaces, e.g. interior of tubes; Infiltration of porous substrates
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/448—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
    • C23C16/452—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by activating reactive gas streams before their introduction into the reaction chamber, e.g. by ionisation or addition of reactive species
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45587—Mechanical means for changing the gas flow
    • C23C16/45591—Fixed means, e.g. wings, baffles
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16D—COUPLINGS FOR TRANSMITTING ROTATION; CLUTCHES; BRAKES
    • F16D69/00—Friction linings; Attachment thereof; Selection of coacting friction substances or surfaces
    • F16D69/02—Composition of linings ; Methods of manufacturing
    • F16D69/023—Composite materials containing carbon and carbon fibres or fibres made of carbonizable material

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 本発明は、化学浸透および析出(CVI/CVD)に使用するための装置に関する。さらに詳しくは、本発明はCVI/CVD加熱路内で反応体ガスを加熱するための予備加熱器および圧力勾配CVI/CVD法によって多孔質構造体の積層体中にマトリックスを結合するための取り付け装置に関する。本発明は、航空機のブレーキディスクの多量な(数百の)CVI/CVDプロセスが同時に行われるために、特に適している。

Description

【発明の詳細な説明】 CVI/CVDプロセスに使用するための装置 発明の背景 本発明は、化学浸透および析出(CVI/CVD)に使用するための装置に関 する。さらに詳しくは、本発明はCVI/CVD加熱路内で反応体ガスを加熱す るための予備加熱器および圧力勾配CVI/CVD法によって多孔質構造体の積 層体中にマトリックスを結合するための取り付け装置に関する。 化学浸透および析出(CVI/CVD)は多孔質構造体の内部に結合マトリッ クスを析出させるのに公知の技術である。用語「化学析出」とは一般的に表面皮 膜の析出を示すが、それとともに多孔質構造体内のマトリックスの浸透および析 出を参照するときにも使用される。ここで使用されるように、用語“CVI/C VD”とは多孔質構造体内のマトリックスの浸透および析出を参照することが意 図されている。その技術は、炭素/炭素航空機用ブレーキディスク、およびセラ ミック燃焼器またはタービンの部品のような非常に有用な構造となる炭質または セラミック多孔質構造体の内部に炭質またはセラミックのマトリックスを析出す ることによって耐熱構造の複合材料を加工するのに特に好適である。一般的に知 られているCVI/CVD法は、恒温勾配、熱勾配、圧力勾配、およびパルス流 動の4つの一般的な区分に分類することができる。ケミストリ エンド フィジッ クス オブ カーボン、173、190−203(1973)に記載のW.V. Kotlensky著の「多孔質固体における熱分解炭素の析出」8、およびC eram.Eng.Sci.Proc.10[7−8]577、577−81( 1989)に記載のW.J.Lackey著の「繊維強化されたセラミック複合 材料の加工の化学浸透工程の検討、状況、および未来」(W.J. Lacke yは圧力勾配工程を「恒温強制流動」として参照している。)を参照のこと。 恒温CVI/CVD法において、反応体ガスは数ミリトールほどの低い絶対圧 で加熱された多孔質構造体のまわりを通過する。ガスは結合マトリックスを析出 させるために、密度勾配によって駆動される多孔質構造体中に拡散し、分解する 。この方法は「従来公知の」CVI/CVD法としても知られている。多孔質構 造 体は幾分均一の温度に加熱され、ゆえに「恒温」と呼ばれるが、これは実際には 誤称である。多孔質構造体内の幾分の温度変化は不均一な加熱(大部分の加熱炉 において回避することは実質的には不可能)、反応体ガスの流動による部分的な 冷却化、および反応効果の熱による他の部分の加熱および冷却化のため避けられ ない。本質的には、「恒温」とは結合マトリックスの析出に優先的に影響する熱 勾配を誘発する試みがないことを意味する。この方法は大量の多孔質な物の密度 を同時に高めるのに非常に好適であり、特に炭素/炭素ブレーキディスクを製造 するのに適している。適切な加工条件において、望ましい物理的特性を有するマ トリックスが析出される。しかしながら、従来公知のCVI/CVDは有用な密 度に達するために数週間におよぶ連続した加工を必要とする可能性があり、そし て表面の密度が最初に高くなる傾向があり、結果として多孔質構造体の内部領域 への反応体ガスのさらなる浸透を妨げる「封鎖塗」を生じる。従って、この技術 は一般的に、密度を高める工程を妨げる幾つかの表面機械加工操作を必要とする 。 熱勾配CVI/CVD法においては、多孔質構造体は、多孔質構造体内の望ま しい部分に析出を誘発する急な熱勾配を生じさせるような方法で加熱される。熱 勾配は、多孔質構造体のある一つの表面だけを加熱すること、例えば多孔質構造 体の表面をサセプター(感知)の壁に対して配置することによって誘発され、そ の反対側の表面を冷却化すること、例えば液体冷却された壁に対して多孔質構造 体の反対側の表面を配置することによって強化される。結合マトリックスの析出 は高温な表面から低温な表面へと進行していく。熱勾配法への定着剤は複雑で、 高価、そしてかなり大量の多孔質構造体の密度を高めるのに実行するのは難しい という傾向がある。 圧力勾配CVI/CVD法においては、反応体ガスは、圧力勾配を多孔質構造 体のある一つの表面からその反対側の表面へと誘発することによって多孔質構造 体を通過して流れることを強いられる。反応体ガスの流動速度は、結合マトリッ クスの析出速度の増加を促す恒温および熱勾配法に関して非常に増加する。この 方法は「強制流動」CVI/CVDとしても知られている。圧力勾配CVI/C VDへの以前の定着剤は複雑で、高価、そして大量の多孔質構造体の密度を高め るのに実行するのは難しいという傾向がある。一束の一方向繊維の長さに沿って 縦圧力勾配を生み出す方法の例が、カーボン’80(ジャーマン セラミック ソ サイエティー)(1980)に記載のS.kamura、N.Takase、S .Kasuya、およびE.Yasuda著の「Cファイバー/C CVD コン ポジットの破壊動作」に記載されている。環状多孔質壁の密度を高めるための純 粋な半径方向の圧力勾配を発生させる方法の例が、米国特許第4,212,906 号および4,134,360号に記載されている。それらの特許に開示されている 環状多孔質壁は(ブレーキディスクを作るための)複数枚重ねられた環状のディ スクから、または単一の管状構造として形成されてもよい。厚壁構造の複合材料 にとって、純粋な半径方向圧力勾配法は環状多孔質壁の内部の円柱面から外部の 円柱面へと非常に大きく密度勾配を生じさせる。また、高圧力を受ける表面は非 常に急速に密度が高くなる傾向があり、その表面を封止し、また、低密度の領域 への反応体ガスの浸透を妨げる。この動作は、純粋な半径方向圧力勾配法の有用 性を深刻に制限してしまう。 最後に、パルス流動は反応体ガスを有する加熱された多孔質構造体を包含する 室の、急速且つ循環的な充填および排気を包含する。この循環的な動作は反応体 ガスの多孔質構造体への浸透を強いることとなり、また多孔質構造体からの副産 物である分解された反応体ガスの除去も強いることとなる。そのような方法を実 行するための装置は複雑で、高価、しかも維持するのが困難である。この方法は 多数の多孔質構造体の密度を高めるために実行するには非常に困難である。 当業者は熱勾配法と圧力勾配法を組み合せて、“熱勾配強制流動”法を発明し た。これら二つの方法を組み合せることはそれぞれの方法の弱点を克服するよう であり、また多孔質構造体の非常に急速な緻密化を生じさせる。しかしながら、 熱勾配および圧力勾配の両方をある程度の制御のもとに誘発させるためには定着 剤と装置が供給されなければならないため、これら二つの方法を組み合せること は複雑性を2倍にすることでもある。熱勾配強制流動法による小さなディスクお よびチューブの密度を高める方法は、米国特許第4,580,524号、および契 約番号第DE−AD05−840R21400(1984)のもとにthe O AK RIDGE NATIONAL LABORATORY for the U. S.DEPARTMENT OF ENERGYによって作成されたA.J. K apu toとW.J.Lackey著の「化学浸透による繊維強化されたセラミック複 合材料の加工」によって開示されている。この方法によれば、繊維予備成形物は 水冷却されたジャケットの内部に配置される。予備成形物の最上部は加熱され、 ガスは予備成形物を通過し、それがマトリックスを分解し析出させる加熱された 部分へと強制的に送られる。管状の多孔質構造体内でマトリックスを析出させる 方法は米国特許第4,895,108号によって開示されている。この方法によれ ば、管状の多孔質構造体の外円柱面は加熱され、内円柱面は水ジャケットによっ て冷却される。反応体ガスは内円柱面へと導入される。様々な物を成形するため の同様な強制流動熱勾配法が、Ceram.Eng.Sci.Proc.12[ 9−10]pp.2005−2014(1991)に記載のT. Hunh、C .V. Burkland、およびB. Bustamante著の「CVI法に よるシリコンカーバイドマトリックスを伴なう厚手のディスク予備成形物の緻密 化」、Journal De Physique, Colloque C5, s upplement au n・5, Tome 50(1989)に記載のT.M . Besmann、R.A. Lowden、D.P.Stinton、および T.L.Starr著の「セラミック複合材料の急速な化学浸透のための方法」 、Proc.Electrochemical Society(1990), 90−12(Proc.Int.Conf.Chem.Vap.Deposit ion,11th, 1990)546−52に記載のT.D. Gulden、 J.L.Kaee、およびK.P.Norton著の「セラミックマトリックス 複合材料の強制流動熱勾配化学浸透(CVI)」によって開示されている。これ らの開示の各々が、一度に多孔質な物品を一つだけ緻密化する方法しか開示して おらず、炭素/炭素ブレーキディスクのような複合物を大量に加工するには非実 用的である。 これらの進歩にも関わらず、コストと複雑性を最小限に押さえた上で急速に且 つ単一に多孔質構造体を緻密化するCVI/CVD法およびその方法を実行する ための装置が望まれている。そのような装置はCVI/CVDプロセスにおいて 好ましくは(数百という)多数の多孔質構造体のそれぞれを同時に緻密化できる 。 発明の要約 本発明の一面によると、加熱炉内に配置された封入調節板構造体であってこの 封入調節板構造体は調節板構造体入口および調節板構造体出口を有し、そして加 熱炉内に配置された封入導管構造体であって、この封入導管構造体は、前記封入 調節板構造体を通してその調節板構造体の出口へ、ガス流入口から流入した実質 的に全ての反応体ガスが流通しかつ送り込まれるようにガス流入口および該調節 板構造体入口の周囲が封入されている、ことを特徴とするガス流入口から反応体 ガスを流入するCVI/CVD加熱炉に使用するためのガス予備加熱器が提供さ れる。 本発明の他の局面によると、ガス流入口からCVI/CVD加熱炉内に配置さ れたガス予備加熱器へ反応体ガスを導入し、そのガス予備加熱器は調節板構造体 入口および調節板構造体出口を有するCVI/CVD加熱炉内に配置された封入 調節板構造体と、そのガス流入口および調節板構造体入口の周囲に封入された封 入導管構造体とを含み;そして該ガス流入口から該調節板構造体入口へ導入され た反応体ガスを、該調節板構造体を通して調節板構造体出口外へ流通させる工程 よりなることを特徴とするガス流入口からCVI/CVD加熱炉へ反応体ガスを 導入する方法が提供される。 本発明のさらに他の局面によると、それぞれの多孔質構造体はその中に連通し た開孔部を有する多孔質構造体の積層体; 連通したベースプレート開孔部を有している、加熱炉内側に固定化して適合さ れたベースプレート; 該ベースプレートに間隔をおいて直面しているトッププレート; 該ベースプレートおよび該トッププレートの間に配置されたスペーシング構造 体、このスペーシング構造体は、該ベースプレートと該トッププレートとの間に 位置し、該多孔質構造体はそのベースプレートに隣接している多孔質構造体の1 つおよびトッププレートに隣接している多孔質構造体の他の1つとともにベース プレートおよびトッププレートの間に配置している;およびそれぞれの一対の近 接している多孔質構造体の間に多孔質構造体の積層体内に配置されている少なく とも1つのリング状スペーサー、このリング状スペーサーは近接している多孔質 構造体の開孔部を取り囲んでいる; ここで該ベースプレート、多孔質構造体の積層体および少なくとも1つのリン グ状スペーサーは、ベースプレートの開孔部から拡張し、それぞれの多孔質構造 体の開孔部を含みそして近接するトッププレートまで終結している、囲まれた空 洞を規定している、ことを特徴とする加熱炉の内側に沿って圧力勾配CVI/C VDである多孔質構造体を有する取り付け装置が提供される。 本発明のさらに別の局面によると、それぞれの隣接した一対の多孔質構造体の 間にリング状スペーサーとともに多孔質構造体およびリング状スペーサーを多数 積層して組立て; ベースプレートおよびトッププレートの間に多孔質構造体の積層体を配置し、 そのベースプレートは連通したベースプレート開孔部を有し、そこでベースプレ ート、多孔質構造体の積層体および少なくとも1つのリング状スペーサーは、ベ ースプレート開孔部から拡張し、それぞれの多孔質構造体を含みそして近接する トッププレートまで終結している、囲まれた空洞を規定している; ベースプレートおよびトッププレートの間に多孔質構造体の積層体の周囲にス ペーシング構造体を配置し、そのスペーシング構造体はベースプレートおよびト ッププレートを結合している; 工程よりなる取り付け装置および勾配したCVI/CVDである多数の多孔質構 造体、このそれぞれの多孔質構造体は連通した開孔を有している、を組立てる方 法が提供される。 図面の簡単な説明 図1は、本発明の態様による装置を含むCVI/CVD加熱炉の図式的断面図 を示す。 図2は、本発明の態様による予備加熱器の遠近図を示す。 図3は、図2のライン3−3に沿った断面図を示す。 図4は、本発明の態様による他の予備加熱器の遠近図を示す。 図5は、図4の予備加熱器の上面図を示す。 図6は、図5のライン6−6に沿った断面図を示す。 図7は、図4の予備加熱器の側面図の一部分を示す。 図8は、隣接した一組の貫通プレートの詳細図を示す。 図9は、本発明の態様による多孔質構造体の積層体を有する取り付け装置を示 す。 図10は、図9のライン10−10に沿った断面図を示す。 図11は、図10のライン11−11に沿った断面図を示す。 図12Aは、本発明の態様による封止装置を示す。 図12Bは、本発明の態様による封止装置を示す。 図13Aは、本発明の態様による封止装置を示す。 図13Bは、本発明の態様による封止装置を示す。 図14Aは、本発明の態様による封止装置を示す。 図14Bは、本発明の態様による封止装置を示す。 図15Aは、本発明の態様による封止装置を示す。 図15Bは、本発明の態様による封止装置を示す。 図16は、積層体の高さを調節するための方法および装置を示す。 図17は、積層体の高さを調節するためのもう一つの方法および装置を示す。 図18は、スペーシング構造体の高さを調節するための方法および装置を示す 。 図19Aは、本発明の態様による取り付け装置を組み立てるための方法を示す 。 図19Bは、本発明の態様による取り付け装置を組み立てるための方法を示す 。 図20は、本発明の態様による多孔質構造体を有するもう一つの取り付け装置 を示す。 図21は、本発明の態様による多孔質構造体を有するもう一つの取り付け装置 を示す。 図22は、本発明の態様による交互に配置した”ID”および”OD”封止体 を持つ多孔質構造体を有するもう一つの取り付け装置を示す。 図23は、本発明の態様による全て”ID”封止体を持つ多孔質構造体を有す るもう一つの取り付け装置を示す。 図24は、本発明の態様による予備加熱器とともに使用するための配列した貫 通孔を持つカバープレートを示す。 詳細な説明 本発明およびその種々の態様は、図1から24およびそれに伴う説明中に示さ れている。ここで、同じ番号が付けられた項目は、同じものである。この中で使 用されるときには、”従来のCVI/CVD”の用語は、前述の恒温CVI/C VD法を指すことを意図している。”圧力勾配CVI/CVD”の用語は、前述 の圧力勾配CVI/CVDまたは強制流動法を指すことを意図し、そして前述の 熱勾配および熱勾配強制流動法を、これらの方法が析出方法に影響を与える故意 に引き起こされた熱勾配を利用する範囲に、特に除外することを意図している。 図1を引用すると、本発明の態様による、ガス予備加熱器50を持つCVI/ CVD加熱炉10の図式的記述が示されている。加熱炉10は内表面12を規定 する加熱炉殻13を持つ。内表面12は加熱炉体積14を規定する。加熱炉10 は矢印24で示されるように、ガス入口16から反応物を受け入れる。予備加熱 器50は加熱炉10の内部に、多くの多孔質構造体22と一緒に配置される。多 孔質構造体22は、多孔質構造体を加熱炉体積の至る所に等間隔に置く取り付け 装置(示されていない)によって支持される。従来のCVI/CVD法によって 多孔質構造体を高密度化するのに適した取り付け装置は当業界ではきわめてよく 知られており、そのいずれも予備加熱器50と共に使用するのに適している。本 発明のもう一つの態様によれば、図9から24についてより詳細に後述されるよ うに、取り付け装置は圧力勾配CVI/CVD法によって多孔質構造体22を高 密度化するために特に適合されてもよい。加熱炉10は誘導加熱、抵抗加熱、マ イクロ波加熱、または相当する当業界に既知の全ての方法で加熱されてもよい。 好ましい態様によれば、加熱炉10は誘導加熱され、そして加熱炉10の内部に 配置された感知器(susceptor)30から成る。感知器30は好ましく は、一般に円筒形の感知器壁464および感知器底部18を含む。第1誘導コイ ル466、第2誘導コイル468および第3誘導コイル370は、感知器壁46 4を取り囲む。絶縁隔壁31は感知器壁464とコイル466、468、および 470の間に配置される。感知器30は、加熱炉体積14の内部に含まれる反応 器体積88を規定する内表面86を持つ。多孔質構造体は反応器体積88の内部 に配置され、そして感知器30からの放射によって主に加熱される。 予備加熱器50はガスを受け入れ、そして残留反応器体積88内に導入する前 にガス温度を上げる。予備加熱器50は、加熱炉10内部の封入調節板構造体5 8および封入導管構造体52を有している。調節板構造体58は調節板構造体入 口54および調節板構造体出口56を有している。封入導管構造体52は、矢印 36で示されるように、ガス入口から受け入れられる実質的に全ての反応体ガス が封入調節板構造体58を通って調節板構造体出口56の方へ押し流されるよう に、ガス入口16および調節板構造体入口54の周囲で封止される。実際には、 予備加熱器50は926.7℃(1700°F)を越える温度に加熱されてもよ い。そのような高温度で完全な封止を保持することは難しい。少量の漏洩は差し 支えないし、そして避けることは難しいかもしれない。”実質的に全てのガス” の用語は少量の漏洩は認容することを意図している。少なくとも90%、そして より好ましくは少なくとも95%のガスが調節板構造体58を通って押し流され る。調節板構造体58は、配列したロッド、チューブ、貫通プレート、またはそ れに相当する、流れを分散させそして調節板構造体58から反応体ガスへの対流 による熱移動を増加させるための構造体を有してもよい。 反応器体積88に入った後、ガスは多孔質構造体22の周囲をまたは突き抜け て通り、そして矢印28で示されるように排気装置32を通り抜けて加熱炉体積 14から出る。ガスは多孔質構造体22を浸透し、そしてそれぞれの多孔質構造 体22の内部に結合マトリックスを析出させる。本発明の種々の態様は、炭素ま たはセラミックベースの多孔質構造体22の内部で析出される炭素またはセラミ ックマトリックスを含むがそれに限定されないどのタイプのCVI/CVDマト リックスが使用されてもよい。本発明は、炭素ベースの多孔質構造体の内部で炭 素マトリックスを析出させるのに特に有用であり、そして航空機のブレーキディ スクのような炭素/炭素複合構造体を製作するのにとりわけ有用である。好まし い態様によれば、カバープレート60は調節板構造体出口56の上方に配置され 、そして少なくとも一つの開孔部64を持つ。このカバープレートは好ましくは 、調節板構造体出口56の周囲で封止され、調節板構造体出口56からの実質的 に全てのガスが少なくとも一つの開孔部64を通るように方向付けられる。 図2を引用すると、予備加熱器50の詳細な態様を表す予備加熱器500が示 されている。予備加熱器500は封入導管構造体502および封入調節板構造体 508から成る。この封入導管構造体502は感知器底部18上に設置され、そ して多数の封止接合部526、528、530、532および534を形成する 多数のピース(piece)516、518、520、522および524から 成る。封止接合部526、528、530、532および534は適応性ガスケ ットおよび/または固化液体接着物またはガスケット材料から成ってもよい。図 2のライン3−3に沿って得られた予備加熱器500の断面図が図3に示されて いる。封入調節板構造体508は好ましくは封入導管構造体502上にのる。封 入導管構造体ピース516、518、520および522は、調節板構造体50 8とかみ合うレッジ(出張り部)536、538のようなレッジを有して与えら れてもよい。ガス入口16は底部の導管構造物ピース524に封止されてもよい 。 好ましい態様によれば、封入調節板構造体508は多数の等間隔に置かれた平 行な貫通プレート540から成る。底部の貫通プレート540は調節板構造体入 口504から成り、そして最上部の貫通プレート540は調節板構造体出口50 6から成る。それぞれの貫通プレート540は配列した貫通孔542を有する。 一つの貫通プレート540の配列した貫通孔542は隣接した貫通プレート54 0の配列した貫通孔542に対して一列にならない(同一直線上にない)。調節 板構造体508は好ましくは、貫通プレートの周辺長544(太線として示され ている)を規定する、同一枠内に積層された配列した貫通プレート540から成 る。多数の第1適応性ガスケット546は、貫通プレートの周辺長544の周囲 に、隣接した貫通プレート540のそれぞれの組の間に配置される。貫通プレー ト540を封止し且つ等間隔に置くことによって二つの目的にかなう。第2適応 性ガスケット548はレッジ536および538と封入調節板構造体508の間 に配置される。ガスは矢印24で示されるように、ガス入口16を通って予備加 熱器の中に導入される。封入導管構造体502は矢印550で示されるようにガ スが広がりそして分散するのを認容し、そしてガスを調節板構造体入口504の 方へ仕向ける。実質的に全てのガスは調節板構造体508を通って分散させられ 、そして矢印552で示されるように調節板構造体出口506を出る。再び図2 を引用すると、カバープレート510は、少なくとも一つの開孔部514を持っ て いる調節板構造体出口508の上方に配置されてもよい。カバープレート510 は好ましくは、調節板構造体出口508の周囲で封止され、それによって調節板 構造体出口508からの実質的に全てのガスが、少なくとも一つの開孔部514 を通るように方向付けられる。これは封入導管構造体を調節板構造体出口の上方 に短い距離で延長し、そして適応性ガスケットをカバープレート510と封入導 管構造体502の間に配置することによって達成されてもよい。 図4を引用すると、予備加熱器50の好ましい態様を表す予備加熱器100が 示されている。この予備加熱器100は封入導管構造体102および加熱炉10 の内部に配置される封入調節板構造体108から成る。この予備加熱器100は ガス入口16(図1)からガスを受け入れる。この例では、封入調節板構造体1 08は配列した空間貫通プレート128および129から成る。空間貫通プレー ト128および129は調節板構造体入口104から成る底部の貫通プレートと 、調節板構造体出口106から成る最上部の貫通プレートを有する。封入導管構 造体102は、ガス入口16(図1)および調節板構造体入口104の周囲で封 止され、それによってガス入口から受け入れられる実質的に全ての反応体ガスが 封入調節板構造体108を通って調節板構造体出口108に流れるように方向付 けられそして押し流される。封入導管構造体102および封入調節板構造体10 8は互いに封止され、そのためガスは残留反応器体積88(図1)の中を通る前 に封入調節板構造体108を通って流れるのを避けることができない。示された 態様では、封入導管構造体102は、封入調節板構造体108を通り抜けないで 予備加熱器100から反応器体積88(図1)にガスが漏洩するのを防ぐために 、感知器底部18に封止される。入口16から導管構造体102内に導入された 実質的に全てのガスは、封入調節板構造体108内に押し流される。 好ましい態様によれば、封入導管構造体102は多数の封止接合部を形成する 少なくとも2つのピースを有する。図4の予備加熱器100のピースは、合わせ ることによっていくつかの封止接合部124、125、166、168、170 、172および174を形成する支持バー119、120および121、上部リ ング122および下部リング123から成る。この支持バー119、120およ び121と下部リング123は好ましくは、封入調節板構造体の重量を支持する 。 接合部166、168、170、172および174は好ましくは、後に固化す る液体接着物で封止される。上部リング122および下部リング123と封入調 節板構造体108の間の接合部124および125は好ましくは、図6に描かれ るように適応性ガスケット126および138で封止される。上部リング122 と支持バー119および121の間の接合部166および174は好ましくは、 図7に描かれるように適応性ガスケット176で封止される。下部リング123 と支持バー121の間の接合部172は好ましくは、図7に描かれるように(同 様のガスケットが下部リング123と支持バー119の間に与えられる)、適応 性ガスケット178で封止される。図6に描かれるように、封入導管構造体10 2と感知器底部の間の封止は、周辺長構造体102と感知器底部18の間に配置 された適応性ガスケット118から成ってもよい。特に、ガスケット118は下 部リング123と感知器底部18の間、および支持バー119、120および1 21と感知器底部18の間に配置されてもよい。封止を増強するために液体接着 物を使用してもよい。適応性ガスケット材料は、それが封入導管構造体102を 構成するいくつかのピースの熱膨張によって引き起こされる歪みを吸収するので 、特に有用である。 再び図4を引用すると、カバープレート110は好ましくは、調節板構造体出 口106の上方に配置される封入導管構造体102に接する。このカバープレー ト110は多孔質構造体取り付け装置を支持するのに役に立つ。カバープレート 110は圧力勾配CVI/CVD法に使用するために適合され、そして複数の開 孔部114および116を有する。代わりのカバープレート152は図24に示 されており、配列した貫通孔153を持ち、そして反応器体積88の至る所での ガスの実質的に均一な分散が要求される所で、従来のCVI/CVD法に使用す るために適合される。本発明による予備加熱器は、従来のあるいは圧力勾配CV I/CVD法の一方と等しい実用性を持っている。多孔質構造体22を支える取 り付け装置は好ましくは、カバープレート110または152上に設置される。 再び図4を引用すると、カバープレート110は好ましくは、調節板構造体出口 106の周囲で封止される。かくして、調節板構造体出口106からの実質的に 全てのガスは、開孔部114および116の方へ方向付けられる。カバープレー ト110は図5および6に示されるように、封入導管構造体102とカバープレ ート110の間の接合部に適応ガスケットを置くことによって、封入導管構造体 102に封止されてもよい。この場合、封入導管構造体102は封入調節板構造 体108の上方に拡張される。 再び図4を引用すると、封入調節板構造体108は少なくとも一つの貫通プレ ート128を有する。好ましい態様によれば、多数のプレート128および12 9は平行に与えられ、且つ互いから等間隔に置かれる。より好ましい態様によれ ば、プレート128および129は互いに接し、そして調節板構造体周囲長13 2を規定する積層体内に配列される(図5および6中に強調線として示されてい る)。それぞれの封入調節板構造体プレート128は図8に描かれるように、配 列した貫通孔130から成り、一つの貫通プレート128の配列した貫通孔13 0は隣接した貫通プレート129の配列した貫通孔131と一列にならない(同 一直線上にない)。板128のそれぞれの貫通孔は好ましくは、隣接したプレー ト129の4つの貫通孔に囲まれ且つそれらから等距離である。同様に、プレー ト129のそれぞれの貫通孔は好ましくは、隣接したプレート128の4つの貫 通孔に囲まれ且つそれらから等距離である。再び図4を引用すると、調節板構造 体周囲長132は封止され、そしてそれぞれの貫通プレート128および129 の外部平面方向限界を有する。調節板構造体周囲長132は好ましくは、図5、 6および7に示されるように、調節板構造体周囲長132の周囲で、隣接する貫 通プレート128および129のそれぞれの組の間に、適応性ガスケット134 を配置することによって封止される。この適応性ガスケット134は、調節板構 造体周囲長134を封止し、且つ個々の貫通プレート128および129を等間 隔に置くことによって二つの目的にかなう。図6に描かれるように、封入調節板 構造体108の一部分109は感知器壁464にきわめて接近して露出している 。この配列は感知器壁464から直接に貫通プレート128および129への放 射による熱の移動をきわめて容易にする。熱はプレート128および129に沿 って伝導によって移動され、そして強制対流によってガスに移動される。 図4、6および7に示したとおり、封入導管構造体108は、封入調節板構造 体108の設置している上にレッヂ(出っ張り部)136を好ましくは規定して いる。実施態様においては、支持バー119、120および121は下部リング 123と組合わせてレッヂを規定している。適応性ガスケット138は、封入調 節板構造体108および封入導管構造体102の間に封入剤を備えそれによって レッヂ123および封入調節板構造体108の間に配置されている。 図6を引用すると、多数の支柱140は、さらに封入調節板構造体108を支 持するように備えられている。それぞれの支柱140はシート144を規定して いる拡大部分142を有している。封入調節板構造体108はシート144の上 に設置されている。それぞれの支柱140は封入調節板構造体108の上に拡大 された柱の部分にタップ付穴を有している。アイボルトが封入調節板構造体10 8を持ち上げたり移動したりするために適当な硬度を付与されているネジ切り穴 へ導入されてもよい。 ガス予備加熱器100は、前述したとおり支持バー119、120および12 1、それと適当な封止剤とともに底部部分18の上に下部リング123を備え付 けることにより組み立てられる。次いで封入調節板構造体108は適当な封止剤 とともに支柱140の上に組立てられ、引き続いて加熱炉10中におろし、レッ ヂ136に結合するようにおろされる。そして上部リング122は調節板構造体 108のトップに適当なガスケットおよび接着剤とともに取り付ける。カバープ レート110または152は加熱炉10中におろされ封入導管構造体102に結 合するようにおろされる。カバープレート110または152はアイボルトが挿 入されている多数のタップ付穴に備えられていてもよい。封入調節板構造体10 8およびカバープレート110または152を持ち上げかつ移動するために、適 当な硬度がアイボルトに付与されている。 さらに支柱140が図示されているようにカバープレート110または152 のために支持体として具備されている。図6に示されるように上部および下部リ ング122および123が支持バー119および121から離れて移動しないよ うにするため、くさび148が感知器壁464および封入導管構造体102の間 に配置されている。 予備加熱器50、100および500の種々の成分は、好ましくは一枚のグラ ファイトから形成されている。グラファイトセメントが封止剤を形成しまたは強 化するために液体接着剤として使用される。種々の適応性ガスケットは、EGC ァイトシートおよびリボン−パック[これらはEGC Enterprises Incorporated社(Montor,Ohio,U.S.A.)より 入手できる]のようなフレキシブルグラファイトから形成することができる。類 似のものがUCAR Carbon Company Inc.社(Cleve land,ohio,U.S.A.)より入手しうる。 本発明の態様によれば、入口からCVI/CVD加熱炉へガスを導入する方法 は図6に示されている。この方法は、矢印24および34に示されているように 入口16から封入導管構造体へガスを導入することによって開始される。入口1 6は封入調節板構造体108へ入る前に封入導管構造体中でガスを分散する多数 の有孔入口レッグ(leg)17および19を好ましくは有している。次いで入 口16から導入された実質的に全てのガスは、調節板構造体の入口104に流通 し、封入調節板構造体108を通り、そして調節板構造体の出口108から出る 。 ガスは前述したように封入予備加熱器の構造の効果によって残留反応器体積8 8に到達する前に封入調節板構造体を通して押し流される。かくしてガスは反応 器体積86へ直接流れることができない。ガスは必ず封入調節板構造体108を 最初に流れる。 好ましい態様によれば、ガスは封入調節板構造体108内において矢印36に より図示したようにいくつかの貫通プレート128および129の間の前後に押 し流される。ガスを前後に押し流す力は、封入貫通プレート128および129 から熱対流を増加しそして熱効率を改善する。圧力勾配CVI/CVD法が採用 されると、カバープレート110は調節板構造体出口106から矢印29で示す ように開孔部114を通ってガスを流通させる。図4に示されるように1個以上 の開孔部がカバープレート110に設けられている。 ある態様によれば、1時間当たり約900標準立方フィートの反応性ガス流れ が約800°Fの温度および約10Torrの反応器体積圧で予備加熱器100 に入り、そして約0.06〜0.07秒の予備加熱器滞留時間で約1750〜18 00°Fの温度でカバープレート開孔部114または116の1つを通り、予備 加熱器110から放出される。本発明による予備加熱器内での反応性ガスの滞留 時間は、好ましくは約0.05〜0.10秒の範囲である。 図1を再度引用すると、少なくとも第2のガス予備加熱器70は加熱炉10が 少なくとも第2のガス入口20を有している場合に備えられる。反応性ガスは矢 印26により示したように第2ガス入口20を通して加熱炉10へ導入される。 予備加熱器50におけるように第2の予備加熱器70はガスを受け入れるとガス を残留反応器体積86へ導入する前にガス温度が上昇する。第2の予備加熱器7 0は加熱炉10内において、第2の封入調節板構造体78および第2の封入導管 構造体72を有している。 第2の封入調節板構造体78は第2の調節板構造体入口74および第2の調節 板構造体出口76を有している。第2の封入導管構造体72は、第2ガス入口か ら受け取られた実質的に全ての反応性ガスが矢印37により示したように第2の 封入調節板構造体78を通して第2の調節板構造体出口76に押し流されるよう に、第2のガス入口20および第2の調節板構造体入口74の周囲が封止されて いる。 第2の調節板構造体78は、第2の調節板構造体入口74における反応性ガス よりも高い温度に加熱され、第2の調節板構造体出口76を通して残留反応器体 積86に入る前に反応性ガスの温度を上昇させる。反応器体積88に入って後、 ガスは多孔質構造体22の周囲または中を通って流れ、矢印28により示したよ うに出口32を通して加熱炉体積14を離れる。 好ましい態様によれば、カバープレート80は、調節板構造体出口76の上に 配置され、少なくとも1つの開孔部84を有している。好ましくはカバープレー トは、調節板構造体出口76から実質的に全てのガスが少なくとも1つの開孔部 84を通って流出するように、調節板構造体出口76の周囲が封止されている。 予備加熱器50および第2の予備加熱器70は、隣接する予備加熱器の間でガ スの移動が妨げられるように互いに封止されているのが好ましい。 第3のまたは追加的な予備加熱器は、予備加熱器50および第2の予備加熱器 70と実質的に同じように加熱炉10の中で種々の調整をして配置されていても よい。 図5に示したように、追加的な予備加熱器154、156および158は、予 備加熱器100の近辺に配置され、個々の封入導管構造体は、近辺の予備加熱器 の間に配置された構造体と一緒になっている。加熱炉が円筒状である場合には、 多数の外部予備加熱器は、加熱炉底部の中央に配置された1つの多角形の予備加 熱器の周囲に配置されたアーチ状の円弧のような形であってもよい。例として中 央予備加熱器は四角形である。分離ガス入口は、それぞれの封入導管構造体のた めに準備されている。 再度図1を引用すると、反応性ガスの流れの第1ガス温度は、第1温度感知器 490によって調節板構造体出口の近辺で感知される。予備加熱器温度は、予備 加熱器50の加熱の増大あるいは減少により所望のガス温度を達成するように調 整される。図1において、感知器壁464は、第1感知器壁部467、第2感知 器壁部469および第3感知器壁部471よりなる。第1誘導コイル466は、 第1誘導コイル466から第1感知器壁部467において熱エネルギーに電気エ ネルギーが移動する方法で第1感知器壁部467に誘導的に接続される。同じこ とが、第2感知器壁部469および第2誘導コイル468、第3感知器壁部47 1および第3誘導コイル470にも適用される。予備加熱器50は、第1誘導コ イル466の近辺にある第1感知器壁部467から放射熱エネルギーによって主 に加熱される。 かくして第1予備加熱器温度は、第1誘導コイル466に電力を調整すること によって調整することができる。第2誘導コイル468および470への電力は 、加熱炉の長さ(ガスの流れの一般的方向)に沿って望ましい多孔質構造体温度 プロファイルを維持するのに必要とするために調整される。 第1予備加熱器50は放射による熱エネルギーの移動を改善する第1感知器壁 部467の近辺に配置するのが好ましい。第1温度感知器490によって感知し た温度は、第1温度感知器ライン494を経由して制御器415に送られる。制 御器は、調節板構造体出口56を放出するガス流れの所望の温度が達成されるの に必要な第1誘導コイル466に電力をマニュアルでまたは自動的に調整するこ とができる。第2温度感知器492は第2調節板構造体出口76を放出するガス の温度を感知するために同じように設置される。第2温度感知器492によって 感知された温度は、第2温度感知器ライン496を経由して制御器415に接続 される。 前述したように、多数の予備加熱器は中央予備加熱器へ放射によって熱エネル ギーの移動を遮断する感知器壁464の近辺にある多孔質構造体の予備加熱器に 囲まれた1またはそれ以上の予備加熱器を備えていてもよい。 かくして中央予備加熱器は、感知器壁からの放射によって直接加熱され、中央 予備加熱器温度は、第1誘導コイル466への電力を変えることによって制御さ れる。また予備加熱器は、それぞれの予備加熱器へ供給される熱エネルギーの直 接制御を行うよう加熱された抵抗器でもある。かかる変更は本発明の範囲内にお いて考慮される。 加熱炉内側における圧力密度勾配CVI/CVDである多孔質構造体22を有 する取り付け装置200は図9に表される。多孔質構造体22は積層体206中 に配列されている。取り付け装置はベースプレート204、スペーシング構造体 206およびトッププレート208よりなる。トッププレート208は、カバー プレート212およびおもし214によって封止された開孔部210を随意に有 してもよい。随意にカバープレート封止体213は、トッププレート開孔部21 0の周囲を囲んでいるカバープレート212およびトッププレート208との間 に配置されることが好ましい。それぞれの多孔質構造体22は開孔部23を有し ている。多孔質構造体22を有する取り付け装置200は、CVI/CVD加熱 炉(図1)の反応器体積88の中に配置されている。 図10を引用すると、図9のライン10−10に沿って取り付け装置の断面図 が示されている。ベースプレート204はCVI/CVD加熱炉10(図1)の 内側にカバープレート110に対して固定化されるように適合されている。その カバープレート110は図6に示されているように予備加熱器100のような予 備加熱器に対し封止されていることが好ましい。 図10を引用すると、ベースプレート204はカバープレート開口部114ま たは116で流通したベースプレート開口部216を有している。ベースプレー トは、カバープレート110において対となる円錐状のピンホール228中に配 置された多数の円錐状ピン226によって設置されているのが好ましい。 ベースプレート204は、円錐状ピン226と並びかつ受け入れる、対となる 円錐状ベースプレートホール230を有している。この設置は、カバープレート 開孔部114または116とともにベースプレート開孔部216と並べることを 容易にする。ベースプレート204は、カバープレート114または116に対 して封止されることが好ましく、この目的のために適応性ガスケット280は、 ベースプレート204およびカバープレート110との間に配置される。また取 り付け装置200は、予備加熱器500(図2および3)に含まれている他の封 入予備加熱器とともに同じ態様で使用される。 トッププレート208はベースプレート204と間隔をおいて直面している。 スペーシング構造体206は、ベースプレート204およびトッププレート20 8の間に結合して配置されている。本発明の態様においては、そのスペーシング 構造体は、ベースプレート204およびトッププレート208の間に拡張されて いる多孔質構造体の積層体の周りに配置されている。それぞれの支柱はベースプ レート204において対となるホール222およびトッププレート208におい て対となるホール224によって受け入れられる両端部にピン220を有してい る。スペーシング構造体206は少なくとも3つの支柱218よりなるのが好ま しい。 またスペーシング構造体202は、貫通した筒状物または同様の構造体のよう な単一部品として形成され、ベースプレート204およびトッププレート208 を結合するための他調整も可能であり、その全ては本発明の範囲内として考慮さ れる。 多孔質構造体の積層体は、ベースプレート204に隣接した多孔質構造体22 の1つおよびトッププレート208に隣接した多孔質構造体の他の1つとともに ベースプレート204およびトッププレート208との間に配置される。 少なくとも1つのリング状スペーサー234は多孔質構造体202の近傍のそ れぞれの対の間に多孔質構造体の積層体中に配置される。リング状スペーサー2 34は多孔質構造体開孔部23の近辺を囲っている。少なくとも1つのリング状 スペーサー234はベースプレート204およびベースプレート204の近辺の 多孔質構造体22との間に配置されるのが好ましく、少なくとも1つのリング状 スペーサー234はトッププレート208およびトッププレート208の近辺の 多孔質構造体22との間に配置されることが好ましい。 また、トッププレート208およびベースプレート204の近辺のリング状ス ペーサー234と類似したリング構造体は、これらリング状スペーサーに必要な ものを除いたベースプレート204およびトッププレート208中に一体化して 形成されている。ベースプレート204、多孔質構造体の積層体および少なくと も1つのリング状スペーサー234は、それぞれの多孔質構造体開口部23を含 みかつトッププレート208の近辺まで終結しているベースプレート開口部21 6から拡張して囲まれた空洞236を規定している。 カバープレート212およびカバープレート封止体213は、トッププレート 208が積層体202の上部においてトッププレート開口部210を有している 場合には、囲まれた空洞236で終結している。 取り付け装置200は、圧力勾配CVI−CVD法に使用するために特に適し ているが、また前記した適当な冷却ジャケットを用いて熱勾配強制流動CVI/ CVD法にも使用される。図10を引用すると、矢印29に示されているように カバープレート開口部114または116を通して囲まれた空洞中に導入される 。その流れは反応器体積88(図1)および囲まれた空洞236の間での圧力の 差を生じることによって誘発される。 そのガスは矢印242の方向に空洞236を通り、矢印244で示したように それぞれの多孔質構造体中へ、そして矢印246で示したようにそれぞれの多孔 質構造体から流れる。そこでは矢印28(図1)の方向に排出口32を通して加 熱炉体積14から流出する。多孔質構造体22を通して押し流されたガスの分散 あるいは流れは、前述したように加熱炉体積14および反応器体積88における 圧力を減圧に減じることによりまたは封入予備加熱器構造体を通じて囲まれた空 洞236により高い圧力で反応性ガスを供給することによって誘発することが好 ましい。そこでは多孔質構造体を交叉して圧力勾配が展開する。それぞれの環状 多孔質構造体22は、表面領域238(図10および11において太線で示され ている)を有している。表面領域238の一部は、リング状スペーサーにより覆 われ、そして多孔質構造体22に入ったりまたは出たりするようにガスにさらさ れることはない。 好ましくは、それぞれの多孔質構造体22の表面領域238の大部分(少なく とも50%)は多孔質構造体22に入ったりまた出たりするようにガスにさらさ れている。表面領域238のほとんどはさらされているのが好ましい。実際は多 孔質構造体22およびリング状スペーサーは長楕円形、四角形、多角形などのよ うな種々の形であることができ、その全ては本発明の範囲内に含まれる。 しかしながら、多孔質構造体22は、航空機ブレーキディスクを製作するため の2つのフラット対面表面の形の環状であることが好ましい。かくして図10を 引用すると、取り付け装置200を有する環状多孔質構造体の積層体は、環状多 孔質壁の反対側にCVI/CVD加熱炉へ向かっておよびそれから取り出される 反応性ガスと一緒に環状多孔質壁240を規定している。 図11を引用すると、図10のライン11−11に沿った断面図が示されてい る。本発明の好ましい態様によれば、それぞれの多孔質構造体開孔部23は、多 孔質構造体内径42を規定し、そしてそれぞれのリング状スペーサーは、スペー サーの内径235よりも小さいそれぞれの多孔質構造体の内径42とともにスペ ーサーの内径235を規定している。より好ましくは、多孔質構造体22は外径 44を規定し、そしてスペーサーの内径235は、反応性ガスに対して多孔質構 造体の表面領域をほとんどさらすために多孔質構造体の外径44よりも僅かに小 さい。そのような場合、リング状スペーサー234は、多孔質構造体の外径23 5に一般的に近似している。スペーサーの内径235および多孔質構造体の外径 の差は集積を助けるのに充分に大きくなければならないが、リング状スペーサー および多孔質構造体22の間に引き続く密度化プロセスで結合力を充分に最小化 するために小さいことが必要である。 スペーサーの外径233はリング状スペーサー234および多孔質構造体の間 にプライ・ポイント(pry−point)を備えているほど充分に大きいこと が好ましい。それは引き続く密度化プロセスでリング状スペーサー234を除去 するのを助け、加熱炉スペースの使用を最大化するのに充分にコンパクト化する のを助けている。本発明のある態様によれば、約21インチの外径を有している 環状多孔質構造体22をプロセスするために、スペーサーの外径233は約21 . 9インチであり、スペーサーの内径235は約19.9インチである。リング状 スペーサーは好ましくは少なくとも0.25インチの厚さである。 図14Aおよび14Bはスペーサー234の詳細図を示し、隣接している一対 の多孔質構造体の境界面を示している。それぞれのリング状スペーサー234は 、隣接する多孔質構造体22に互いに間隔を置き、そして直面している2つの平 行したスペーサー面252および254を有している。多孔質構造体22が適応 性である場合には、隣接する多孔質構造体22は多孔質構造体22を僅かに変形 させ、そして封止を展開させる矢印250に示されるリングに対して加圧される 。リング状スペーサー234に対して隣接する多孔質構造体を加圧することは、 多孔質構造体22を通して通過することなく、反応器体積中へガスがもれること を防ぐリング状スペーサー234に対してそれぞれの多孔質構造体を封止するこ とになる。リング状スペーサーの平坦面252および254を有するリング状ス ペーサー234は、表面を熱分解カーボンで被覆して封止され、それは密度化の 後多孔質構造体22から分離することができる。好ましい態様によれば、リング 状スペーサー234は、125RMSマイクロインチの最大表面粗さを有するリ ング状スペーサー面252および254に一枚(monolithic)のグラ ファイトから加工される。このことはスペーサーおよび多孔質構造体の間のガス ケットの必要性を除きそして積層体の集積が極めて簡単になったので驚くべき発 見である。 リング状スペーサー234の別の態様は図15Aおよび15Bに示されている 。この態様では少なくとも1つのリング状適応性ガスケット256および258 は、それぞれのスペーサー面252および254に隣接して配置され、それぞれ の適応性ガスケット256および258は矢印250に示されるように近接する 多孔質構造体22に対して加圧される。その構造体はリング状スペーサー234 に対して適応性ガスケット256および258を変形させ、封止を形成する。こ の態様は多孔質構造体22が適応性でない(例えば既に部分的に密度化されてい る)場合には好ましい。そのような場合、図14Aおよび14Bのようにリング 状スペーサーに対して単に多孔質構造体を加圧することは充分な封止を形成しな い。 図12Aおよび12Bを引用すると、ベースプレート204またはトッププレ ート208のどちらかに隣接するリング状スペーサーの詳細図が示されている。 トッププレート208、底部プレート204およびリング状スペーサー234は 非適応性材料で形成されている。従って、リング状適応性ガスケット260はリ ング状スペーサー234およびトッププレート208または底部プレート204 の間に配置されている。多孔質構造体22が適応性である場合には、多孔質構造 体22を変形する矢印250に示されているようにリング状スペーサー234に 対して加圧して封止を形成してもよい。リング状スペーサー234に対して多孔 質構造体22を加圧することは、多孔質構造体22を通して通過することなく、 ガスが囲まれた空洞から反応器体積へもれるのを防ぐのに効果的である。別の態 様は図13Aおよび13Bに示されている。この態様では多孔質構造体22が相 対的に硬く、適応性でない場合には好ましい。追加的なリング状の適応性ガスケ ット262がリング状スペーサー234および多孔質構造体22の間に配置され 、引き続いて矢印250に示したように圧力が加えられる。ガスケット260お よび262はいずれも適応性であるのが好ましい。 本発明による取り付け装置200の種々の構成部品は好ましくは、一体構造の 図形から機械製作される。種々の適応性ガスケットは、EGC Enterpr ises Incorporated社(Mentor,Ohio,U.S.A .) パックのような、屈曲性のあるグラファイトから形成されてもよい。匹敵する材 料はUCAR Carbon Company Inc.社(Clevelan d,Ohio,U.S.A.)から入手できる。本発明の実施において、グラフ ァイトまたはセラミックベースセメントおよびペーストのような、他のタイプの 封止剤が使用されてもよい。しかし、ここに開示された封止剤は、経済的に実施 でき、且つ高密度化する前に取り付け装置200および多孔質構造体202の積 層体を容易に組み立てることができ、そして高密度化の後に取り付け装置200 および多孔質構造体202の積層体を容易に解体することができる。多孔質構造 体202の積層体は既述の封止剤を使用して形成され、そしてベースプレート2 04とトッププレート208の間に圧縮して配置される。高密度化の後、トップ プレート208は取り去ってもよいし、また、積層体は多孔質構造体22をさら に処理するために解体されてもよい。リング状スペーサー234および取り付け 装置200を構成する他の構成部品は、他の多孔質構造体22を高密度化するた めにその後再利用してもよい。 図19Aおよび19Bを引用すると、取り付け装置200を組み立てるための 好ましい方法が示されている。好ましい態様によれば、スペーシング構造体20 6はトッププレート208に分離できるようにかみ合い、それによってトッププ レート208がスペーシング構造体206から離脱するのを可能にする。これは 前述のように、取り付け装置200においてピン220を持つスペーシング支柱 218、およびピン220を受け入れるトッププレートの穴224を持つトップ プレート208によって達成される。ピン220はトッププレートの穴224に 滑りはめ込みでかみ合い、それでトッププレート208はスペーシング構造体2 06の方に向かっておよびそれから離れて自由に動くことができる。スペーシン グ構造体206および多孔構造体202の積層体は、トッププレート208が取 り付けられる前に(積層体202が向かい合っているプレート204と208の 間に配置される前に)、積層体がベースプレート204の最上面に関係のある高 さAを規定し、スペーシング構造体がベースプレート204の最上面に関係のあ る高さBを規定するように配置される。ここでAはBより大きい。トッププレー ト208はそれから、多孔質構造体202の積層体上に置かれ、そして図19B に示されるように、スペーシング構造体206上に据え付けるまでベースプレー ト204の方へ押し込まれる。スペーシング構造体206は多孔質構造体202 の積層体を前もって定められた高さBまで圧縮する。トッププレート208は支 柱218によって規定されるストップ上に据え付ける。 このように、多孔質構造体202の積層体を有する取り付け装置200を組み 立てる方法は、向かい合っているプレート204および208を圧縮によって積 層体の高さAを減少させる距離(A−B)互いのほうへ押し込むことによって、 多孔質構造体22の積層体を圧縮して向かい合っているプレート204と208 の間に置くことを含む。積層体202の圧縮は、空洞236を図12Aから15 Bについて述べられている前述の封止配列の効力によって封止になるようにさせ る。なお図19Aおよび19Bを引用すると、ベースプレート204、スペーシ ング構造体206、およびトッププレート208は好ましくは、重力がトッププ レート208をベースプレート204の方に押し、そしてトッププレート208 がスペーシング構造体206から離脱するのを防ぐように方向付けられる。トッ ププレートが積層体202を高さBに圧縮するのに十分な重量に満たない場合に は、トッププレートの開孔部210を有するまたは有しないおもし214がトッ ププレート208上に置かれてもよい。前述のように、トッププレート208が トッププレートの開孔部210を持っている場合は、カバープレート212が使 用されてもよい。おもし214および/またはカバープレート212はトッププ レート208上にのり、そして重力によって維持される。おもし214は、グラ ファイトブロック、耐火金属、または他の適当な高温抵抗特性を持つ材料から形 成されてもよい。カバープレート212はおもし214を中に含むように皿形で あってもよい。 積層体202が圧縮された距離(AマイナスB)は好ましくは、前もって定め られ、そして取り付け装置200を組み立てる方法は、要求される圧縮を達成す るためにAとBの間の差を調節する手段を含む。高さBは図18で示されるよう にシム(詰め木)266を使用してストップ264を調節することによって調節 されてもよい。シム266は、スペーシング構造体206が円筒形の支柱218 を使用する場合には、好ましくは形が環状である。シムはピン220の上方で、 支柱218の一つの端または両端に置かれてもよい。異なった厚さのシムおよび 複合的に積層されたシムが、高さBを正確に調節するのに使用されてもよい。高 さAは、図16に示されるように、隣接している多孔質構造体22の組の間に一 つより多くのリング状スペーサー234を配置することによって調節されてもよ い。 適応性リング状ガスケット268は、十分な封止を与えるために、隣接するリ ング状スペーサー234の間に配置されてもよい。リング状スペーサー270お よび異なった厚さを持つリング状スペーサー234は、図17に示されるように 、高さAを調節するのにも使用されてもよい。高さAおよび高さBの両方とも、 前もって定められた圧縮量を正確に供給して調節されてもよい。好ましい態様に よれば、スペーシング構造体206は、既知の積層体の高さAを持つ積層体と共 に 使用されるように設計される。距離(A−B)を調節することは、そのときシム を有するストップ264を調節することに制限される。この方法は積層体202 を有する取り付け装置200を組み立てるプロセスをきわめて簡単にする。ある 態様によれば、距離(A−B)は、Bの寸法が約16インチの場合には、約1/ 4インチである。 図20を引用すると、好ましい取り付け装置201が、多くの多孔質構造体2 2を高密度化する圧力勾配CVI/CVDとして示されている。スペーシング構 造体207は、ベースプレート204と多孔質構造体203の積層体を分割する トッププレート208の間に配置された少なくとも一つの中間プレート272か ら成る。他の点では、取り付け装置201は取り付け装置200に本質的に等し い。それぞれの中間プレート272はそれを突き抜ける中間プレート開孔部27 4を持ち、多孔質構造体22の組の間に挟まれる。囲まれた空洞236はそれぞ れの中間プレート開孔部274をさらに含む。少なくとも一つのリング状スペー サー234は、中間プレート272と多孔質構造体22の間で中間プレート27 2の片側上に配置されればよく、そして図12Aから13Bの封止配列に利用し てもよい。複合的な取り付け装置201は積層されてもよい。この場合、一つの 取り付け装置201からのベースプレート204は、上方の取り付け装置のベー スプレートの開孔部216が下方の取り付け装置のトッププレートの開孔部21 0と流体伝達するように、下方の取り付け装置201のトッププレート208と かみ合う。このようにして、囲まれた空洞は一つの取り付け装置201から次に 延長され、最上部のトッププレートの開孔部210の上方に配置されたカバープ レート212によって終わる。 図21は、取り付け装置199を示す。第1のおよび第2のあるいはより後の 多孔質構造体の積層体は互いに隣接して配置されてもよい。多孔質構造体202 の多数の隣接した積層体は、スペーシング構造体282と一緒にトッププレート 209とベースプレート205の間に配置される。スペーシング構造体282は 多数の支柱218を有する。トッププレート209は、カバープレート212お よびおもし214によって封止されてもよいそれぞれの積層体202に向かって いるトッププレートの開孔部211を随時有している。ベースプレートはそれぞ れの積層体202に向かっているベースプレート開孔部217を持ち、そしてカ バープレート110はそれぞれの積層体202に向かっているカバープレート開 孔部を有している。他の点では、取り付け装置199は取り付け装置200に非 常に類似しており、そして好ましくは図19Aおよび19Bについて述べられて いるのと同じ方法で組み立てられる。加えて、スペーシング構造体282は積層 体202を分割する中間プレートを有してもよく、そして複合的な取り付け装置 199は、図20の取り付け装置201について述べられているのと別の最上部 上の一つに積層されてもよい。そのようにして、取り付け装置199および20 1の特徴は、非常に多くの多孔質構造体22の圧力勾配の高密度化を可能にする 必要がある場合には結合されてもよい。 図22を引用すると、多孔質構造体302の積層体を高密度化する圧力勾配の ための代わりの取り付け装置300が示されている。取り付け装置300は取り 付け装置200に本質的に等しく、積層体302を除いて、それぞれの多孔質構 造体の内径の周囲に配置された”ID”(内径)リング状スペーサー284と交 互になっている、それぞれの多孔質構造体22の外径の周囲に配置された”OD ”(外径)リング状スペーサー234から成る。このODリング状スペーサー2 34は好ましくは、多孔質構造体外径44より僅かに小さい内径233、および 多孔質構造体外径44と一般的に互いに接する外径235を持つ。IDリング状 スペーサー284は好ましくは、多孔質構造体内径42よりわずかに大きい外径 554、および多孔質構造体内径42と一般的に互いに接する内径546を持つ 。IDリング状スペーサー284と共に、多孔質構造体外径44はリング状スペ ーサー284の先述の外径556より大きい。それぞれのリング状スペーサー2 34および284の壁厚は好ましくは、反応性ガスがそれぞれの多孔質構造体2 2に入るかまたは出るときの多孔質構造体表面領域の反応性ガスへの露出を最大 にするために、最小にされる。図22のID/OD交互配列は、また取り付け装 置199および201と共に使用されてもよい。図23を引用すると、多孔質構 造体303の積層体を高密度化する圧力勾配のための代わりの取り付け装置30 1が示されている。取り付け装置301は取り付け装置200に本質的に同じで あり、積層体303を除いて、それぞれの多孔質構造体の内径の周囲に配置され た 全ての”ID”リング状スペーサー284から成る。図23の全ID配列は取り 付け装置199および201と共に使用されてもよい。取り付け装置300およ び301の内部の種々の接合部は、図12Aから15Bについて前述されたよう に封止されてもよい。積層体の高さおよびスペーシング構造体は図16から19 Bについて述べられるように調節されてもよい。 後述の特許請求の範囲によって規定されるように、本発明の範囲から外れない で、多くの変化が可能なことは明らかである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF,CG ,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,SN, TD,TG),AP(KE,LS,MW,SD,SZ,U G),AM,AU,BB,BG,BR,BY,CA,C N,CZ,EE,FI,GE,HU,IS,JP,KE ,KG,KR,KZ,LK,LR,LT,LV,MD, MG,MN,MW,MX,NO,NZ,PL,RO,R U,SD,SG,SI,SK,TJ,TM,TT,UA ,UG,UZ,VN (72)発明者 ボック,ローウェル・ディー. アメリカ合衆国,オハイオ45302,アンナ, アムステルダム12861

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.加熱炉内に配置された封入調節板構造体であってこの封入調節板構造体は調 節板構造体入口および調節板構造体出口を有し、そして加熱炉内に配置された封 入導管構造体であって、この封入導管構造体は、前記封入調節板構造体を通して その調節板構造体の出口へ、ガス流入口から流入した実質的に全ての反応体ガス が流通しかつ送り込まれるようにガス流入口および該調節板構造体入口の周囲が 封入されている、ことを特徴とするガス流入口から反応体ガスを流入するCVI /CVD加熱炉に使用するためのガス予備加熱器。 2.該調節板構造体出口の上に配置されたカバープレートをさらに有し、そのカ バープレートは配列された貫通孔を有している請求項1のガス予備加熱器。 3.該調節板構造体出口の上に配置されそして少なくとも1つの開口部を有して いるカバープレートをさらに有し、そのカバープレートはその調節板構造体出口 からの実質的に全てのガスがその少なくとも1つの開口部を通して流通するよう に該調節板構造体出口の周囲が封入されている請求項1のガス予備加熱器。 4.その加熱炉は感知器壁を規定する感知器およびその感知器壁に一部が密接し て配置されている封入調節板構造体よりなる請求項1のガス予備加熱器。 5.その加熱炉は、感知器底部を規定する感知器を有し、その封入導管構造体は その感知器の底部の上に設置されている請求項1のガス予備加熱器。 6.そのガス流入口は該感知器底部へ封入され、かつその封入導管構造体はその 感知器底部へ封入されている請求項5のガス予備加熱器。 7.該封入導管構造体および該感知器底部との間に配置された圧縮しうるガスケ ットをさらに有する請求項6のガス予備加熱器。 8.該封入導管構造体は多数の封入された結合体を形成している少なくとも2つ のピースを有している請求項1のガス予備加熱器。 9.該封入調節板構造体は該封入導管構造体の上に設置されている請求項5のガ ス予備加熱器。 10.該加熱炉は感知器底部を規定する感知器を有し、そしてその封入導管構造 体はその感知器の上に設置されかつその封入調節板構造体は該封入導管構造体の 上に設置され、そしてさらに該調節板構造体出口の上部に配置されかつ少なくと も1つの開口部を有するカバープレートを有し、このカバープレートは該調節構 造体出口から実質的に全てのガスをその少なくとも1つの開口部から流通させる ように該調節構造体の周囲に封入されており、このカバープレートは該封入導管 構造体の上部に設置されている請求項1のガス予備加熱器。 11.該封入調節板構造体は少なくとも1つの貫通プレートを有する請求項1の ガス予備加熱器。 12.該封入調節板構造体は、多数の空間並列貫通プレートを有している請求項 1のガス予備加熱器。 13.それぞれの貫通プレートは、配列された貫通孔を有し、1つの貫通プレー トの配列された貫通孔は隣接した貫通プレートの配列された貫通孔とは一列には なっていない請求項12のガス予備加熱器。 14.該貫通プレートは、封入された周囲長を規定している請求項13のガス予 備加熱器。 15.該封入調節板構造体は、封入調節板構造体の周囲長を規定する、配列され 積み重ねられた隣接する貫通プレートを有し、そして該封入調節板構造体は、そ れぞれの一対の隣接する貫通プレートの間に封入調節板構造体の周囲長の周囲に 配置された圧縮しうるガスケットを有している請求項1のガス予熱器。 16.該封入導管構造体は、該封入調節構造体が設置されたレッヂ(出っ張り部 )を規定し、そして該封入調節構造体は、封入調節構造体の周囲長を、それぞれ 一対の隣接する貫通プレートの間の貫通プレートの周囲長の周囲に配置された少 なくとも第1の圧縮しうるガスケットおよびそのレッジとその封入調節板構造体 との間に配置された少なくとも第2の圧縮しうるガスケットにより規定する、配 列され積み重ねられた隣接する貫通プレートを有する請求項5のガス予備加熱器 。 17.該加熱炉は少なくとも第2のガス流入口から反応体ガスを流入し、そして さらに該加熱炉内に配置された第2の封入調節板構造体を少なくとも有し、その 第2の封入調節板構造体は第2の調節板構造体入口および第2の調節板構造体出 口を有し、そして該加熱炉内に配置された第2の封入導管構造体を少なくとも有 し、その第2の封入導管構造体は、第2のガス流入口から流入した実質的に全て の反応体ガスが第2の封入調節構造体を通して第2の封入調節構造体出口へ流通 するように第2のガス流入口および第2の調節構造体の周囲に封入されている請 求項1のガス予備加熱器。 18.さらに第2の調節板構造体出口の上部に配置された第2のカバープレート を有し、その第2のカバープレートは配列された貫通孔を有する請求項17のガ ス予備加熱器。 19.さらに該調節板構造体出口の上部に配置されかつ少なくとも1つの開孔部 を有する第2のカバープレートを少なくとも有し、その第2のカバープレートは 第2の調節板構造体出口から実質的に全てのガスが、その第2のカバープレート における少なくとも1つの開孔部から流通するように第2の調節板構造体の周囲 に封入されている請求項17のガス予備加熱器。 20.ガス流入口からCVI/CVD加熱炉内に配置されたガス予備加熱器へ反 応体ガスを導入し、そのガス予備加熱器は調節板構造体入口および調節板構造体 出口を有するCVI/CVD加熱炉内に配置された封入調節板構造体と、そのガ ス流入口および調節板構造体入口の周囲に封入された封入導管構造体とを含み; そして該ガス流入口から該調節板構造体入口へ導入された反応体ガスを、該調節 板構造体を通して調節板構造体出口の外へ流通させる工程よりなることを特徴と するガス流入口からCVI/CVD加熱炉へ反応体ガスを導入する方法。 21.さらに調節板構造体出口の上に配置されたカバープレートを有し、そのカ バープレートは配列された貫通孔を有しさらに反応体ガスをその配列された貫通 孔を通して流通させる請求項20の方法。 22.さらに調節板構造体出口が配置されそして少なくとも1つの開孔部を有す るカバープレートを有し、そのカバープレートは、その調節板構造体出口の周囲 に封入され、そしてさらに反応体ガスを少なくとも1つの開孔部を通じて流通さ せる工程よりなる請求項20の方法。 23.該加熱炉は、感知器壁を規定する感知器をさらに有し、そして封入調節板 構造体の一部は、その感知器壁へ密接して露出している請求項20の方法。 24.該加熱炉は、感知器底部を規定する感知器を有し、そしてその封入導管構 造体はその感知器底部の上部に設置されている請求項20の方法。 25.該ガス流入口は、該感知器底部に封入されそして封入導管構造体は該感知 器底部に封入されている請求項24の方法。 26.さらに該封入導管構造体および感知器の間に配置された圧縮しうるガスケ ットを有する請求項25の方法。 27.該封入導管構造体は、多数の封入された結合体を形成している少なくとも 2つのピースを有している請求項20の方法。 28.該調節板構造体は該封入導管構造体の上部に設置されている請求項24の 方法。 29.該加熱炉は感知器底部を規定する感知器を有し、該封入導管構造体は該感 知器底部の上部に設置され、そして封入調節板構造体は該封入導管構造体の上部 に設置され; さらに該調節板構造体出口の上部に配置されかつ少なくとも1つの開孔部を有 するカバープレートを有し、そのカバープレートは調節板構造体出口の周囲に封 入されかつその封入導管の上に設置され;そして さらにそのガスを調節板構造体出口からその少なくとも1つの開孔部を通して 流通する工程よりなる請求項20の方法。 30.該封入調節板構造体は少なくとも1つの貫通プレートを有する請求項20 の方法。 31.該封入調節板構造体は多数の空間並列貫通プレートを有する請求項20の 方法。 32.それぞれの貫通プレートは、配列された貫通孔を有し、1つの貫孔プレー トの配列された貫通孔は隣接した貫通プレートの配列された貫通孔とは一列には なっていない請求項31の方法。 33.該貫通プレートは、封入された周囲長を規定する請求項32の方法。 34.該封入調節板構造体は、封入調節板構造体の周囲長を規定する、配列され た積み重ねられた隣接する貫通プレートを有し、そして該封入調節板構造体はそ れぞれの一対の隣接する貫通プレートの間に封入調節板構造体の周囲長の周囲に 配置された圧縮しうるガスケットを有している請求項20の方法。 35.該封入導管構造体は封入調節板構造体を設置したレッヂ(出っ張り部)を 規定し、そして該封入調節板構造体は封入調節板構造体の周囲長を、それぞれ一 対の隣接する貫通プレートの間の貫通プレートの周囲長の周囲に配置された少な くとも第1の圧縮しうるガスケットおよびそのレッヂとその封入調節板構造体と の間に配置された少なくとも第2の圧縮しうるガスケットにより規定する、配列 され積み重ねられた隣接する貫通プレートを有する請求項24の方法。 36.該加熱炉は、少なくとも第2のガス流入口から反応体ガスを流入し、そし てさらにCVI/CVD加熱炉内に配置された第2のガス予備加熱器へ該ガス流 入口から反応体ガスを導入し、その第2のガス予備加熱器は第2の調節板構造体 入口および第2の調節板構造体出口を有するCVI/CVD加熱炉内に配置され た第2の封入調節板構造体および第2のガス流入口と第2の調節板構造体入口と の周囲に封入された第2の封入導管構造体を有しており;そして第2のガス流入 口から第2の調節板構造体入口へ導入された反応体ガスを第2の封入調節板構造 体を通して第2の調節板構造体出口の外へ流通させることよりなる請求項20の 方法。 37.さらに第2の調節板構造体出口の上部に配置された少なくとも第2のカバ ープレートを有し、その第2のカバープレートは配列された貫通孔を有している 請求項36の方法。 38.さらに第2の調節板構造体出口の上部に配置されかつ少なくとも1つの開 孔部を有する第2のカバープレートを少なくとも有し、その第2のカバープレー トは、第2の調節板構造体出口からの実質的に全てのガスが、少なくとも1つの 開孔部から流通するように、第2の調節板構造体の周囲に封入されている請求項 36の方法。 39.それぞれの多孔質構造体はその中に連通した開孔部を有する多孔質構造体 の積層体; 連通したベースプレート開孔部を有している、加熱炉内側に固定化して適合さ れたベースプレート; 該ベースプレートに間隔をおいて直面しているトッププレート; 該ベースプレートおよび該トッププレートの間に配置されたスペーシング構造 体、このスペーシング構造体は、該ベースプレートと該トッププレートとの間に 位置し、該多孔質構造体はそのベースプレートに隣接している多孔質構造体の1 つおよびトッププレートに隣接している多孔質構造体の他の1つとともにベース プレートおよびトッププレートの間に配置している; およびそれぞれの一対の近接している多孔質構造体の間に多孔質構造体の積層 体内に配置されている少なくとも1つのリング状スペーサー、このリング状スペ ーサーは近接している多孔質構造体の開孔部を取り囲んでいる; ここで該ベースプレート、多孔質構造体の積層体および少なくとも1つのリン グ状スペーサーは、ベースプレートの開孔部から拡張し、それぞれの多孔質構造 体の開孔部を含みそして近接するトッププレートまで終結している、囲まれた空 洞を規定している、ことを特徴とする加熱炉の内側に沿って圧力勾配CVI/C VDである多孔質構造体を有する取り付け装置。 40.少なくとも1つのリング状スペーサーは、ベースプレートおよびそのベー スプレートに隣接している多孔質構造体の間のベースプレート開孔部の周囲に配 置されている請求項39の取り付け装置。 41.少なくとも1つのスペーサーは、トッププレートおよびそのトッププレー トに隣接している多孔質構造体の間に配置されている請求項39の取り付け装置 。 42.該トッププレートは、それに連通しているトッププレート開孔部を有し、 そしてさらに該トッププレート開孔部を覆っているカバープレートおよびそのカ バープレートとトッププレート開孔部を取り囲んでいるトッププレートとの間に 配置されているカバープレート封止体よりなり、そのカバープレートおよびカバ ープレート封止体は囲まれた空洞まで終結していることを特徴とする請求項39 の取り付け装置。 43.該多孔質構造体は適応性であり、そしてそれぞれのリング状スペーサーは 、互いに間隔を有した2つのほぼ平行したリング側面を有し、そして近接してい る多孔質構造体に面しており、その近接している多孔質構造体はリング状スペー サーに対して押し付けられていることを特徴とする請求項39の取り付け装置。 44.それぞれのリング状スペーサーは、互いに間隔を有した2つのほぼ平行し たリング側面を有し、そして近接している多孔質構造体に面しており、さらに多 数の適応性を有するグラファイト・ガスケットを有し、その少なくとも1つのガ スケットはそれぞれのリング側面に隣接して配置され、それぞれのガスケットは 近接している多孔質構造体に対して押し付けられている請求項39の取り付け装 置。 45.該多孔質構造体は適応性であり、そして多孔質構造体の積層体は、ベース プレートおよびトッププレートの間に圧縮して配置されている請求項39の取り 付け装置。 46.該スペーシング構造体は、ベースプレートおよびトッププレートの間に拡 張されている多孔質構造体の積層体のまわりに配置された多数の支柱よりなる請 求項39の取り付け装置。 47.該スペーシング構造体は、そのスペーシング構造体から離れてトッププレ ートを移動しうるように別個にトッププレートを拘束し、 そしてそのベースプレート、スペーシング構造体およびトッププレートは、ト ッププレートがスペーシング構造体から離れて移動するのを防ぐようにベースプ レートへ向かってトッププレートに重力がかかるように配列されている請求項3 9の取り付け装置。 48.さらにトッププレートの上部に設置されているおもしを有する請求項39 の取り付け装置。 49.さらに多孔質構造体の第2の積層体を少なくとも有し、そのそれぞれの第 2の多孔質構造体はそれに連通した多孔質構造体の開孔部を有しており、そして ベースプレートはそれに連通した第2のベースプレート開孔部を少なくとも有し 、多孔質構造体の第2の積層体はベースプレートに隣接してその第2の多孔質構 造体の1つおよびトッププレートに隣接している第2の多孔質構造体の他の1つ とともにベースプレートおよびトッププレートの間に配置されており、そしてそ れぞれの一対の隣接している第2の多孔質構造体の間に多孔質構造体の第2の積 層体内に配置された、少なくとも1つの第2のリング状スペーサー、そのリング 状スペーサーはその隣接する第2の多孔質構造体開孔部を取り囲んでいて; そのベースプレート、多孔質構造体の第2の積層体および少なくとも1つの第 2のリング状スペーサーは、ベースプレート開孔部から拡張し、それぞれの多孔 質構造体開孔部を含み、そして隣接するトッププレートまで終結している第2の 囲まれた空洞を規定している; ことよりなる請求項39の取り付け装置。 50.該スペーシング構造体は多孔質構造体の積層体を分割しているベースプレ ートおよびトッププレートの間に配置された少なくとも1つの中間プレートを有 し、それぞれの中間プレートは、一対の多孔質構造体の間にはさまれ、それぞれ の中間プレートは連通した開孔部を有し、それぞれの中間プレート開孔部はその 囲まれた空洞の一部を形成している請求項39の取り付け装置。 51.さらに中間プレートおよび多孔質構造体の間の中間プレートのいずれか一 方の側に配置された少なくとも1つのリング状スペーサーを有する請求項50の 取り付け装置。 52.それぞれの多孔質構造体は多孔質構造体の外径を規定し、そしてそれぞれ のリング状スペーサーは、スペーサーの外径を規定し、少なくとも1つの多孔質 構造体の多孔質構造体外径は、少なくとも1つのリング状スペーサーのスペーサ ー外径よりも大きい請求項39の取り付け装置。 53.それぞれの多孔質構造体開口部は、多孔質構造体の内径を規定し、そして それぞれのリング状スペーサー開孔部は、スペーサーの内径を規定し、その多孔 質構造体の内径は少なくとも1つのリング状スペーサーのスペーサー内径よりも 小さい請求項39の取り付け装置。 54.それぞれの多孔質構造体は、多孔質構造体の内径を規定し、そしてそれぞ れのリング状スペーサーは、スペーサーの内径を規定し、それぞれの多孔質構造 体の内径は、スペーサーの内径よりも小さい請求項39の取り付け装置。 55.それぞれの多孔質構造体は、多孔質構造体の外径を規定し、そしてそれぞ れのスペーサーの内径は、多孔質構造体の外径よりも僅かに小さい請求項40の 取り付け装置。 56.それぞれの多孔質構造体は環状であり、多孔質構造体の外径および多孔質 構造体の内径を規定し、多孔質構造体の積層体は、外径リング状スペーサーと交 互に並んだ内径リング状スペーサーを有し、それぞれの外径リング状スペーサー は、多孔質構造体の外径および多孔質構造体の外径と隣接した外径よりも僅かに 小さい内径を有し、それぞれの内径リング状スペーサーは多孔質構造体の内径お よび多孔質構造体の内径に隣接している内径よりも僅かに大きい外径を有してい る請求項39の取り付け装置。 57.それぞれの多孔質構造体は環状であり、多孔質構造体の内径を規定し、そ して多孔質構造体の積層体は、全内径リング状スペーサーを有し、それぞれの内 径リング状スペーサーは多孔質構造体の内径および多孔質構造体の内径と隣接し た内径よりも僅かに大きい外径を有する請求項39の取り付け装置。 58.それぞれの隣接した一対の多孔質構造体の間にリング状スペーサーととも に多孔質構造体およびリング状スペーサーを多数積層して組立て; ベースプレートおよびトッププレートの間に多孔質構造体の積層体を配置し、 そのベースプレートは連通したベースプレート開孔部を有し、そこでベースプレ ート、多孔質構造体の積層体および少なくとも1つのリング状スペーサーは、ベ ースプレート開孔部から拡張し、それぞれの多孔質構造体を含みそして隣接する トッププレートまで終結している、囲まれた空洞を規定している; ベースプレートおよびトッププレートの間に多孔質構造体の積層体の周囲にス ペーシング構造体を配置し、そのスペーシング構造体はベースプレートおよびト ッププレートを結合している; 工程よりなる取り付け装置および勾配したCVI/CVDである多数の多孔質構 造体、このそれぞれの多孔質構造体は連通した開孔を有している、を組立てる方 法。 59.それぞれの多孔質構造体は、外径を規定し、そしてそれぞれのリング状ス ペーサーは外径と隣接したリングを有する請求項58の方法。 60.多孔質構造体の積層体は適応性であり、そしてその多孔質構造体は、多孔 質構造体の積層体がその反対のプレートの間に配置される前に積層体の高さを規 定し、そして圧縮によってその積層体の高さを減少する互いの方向の距離にその 反対のプレートを押し付けることによって反対のプレートの間に圧縮して多孔質 構造体の積層体を置く工程よりなる請求項58の方法。 61.スペーシング構造体は、その距離を制限して停止を規定している請求項6 0の方法。 62.その距離は予め決定され、そしてさらにその距離を達成するため停止を調 整する工程よりなる請求項61の方法。 63.さらにシム(詰め木)を用いてその停止を調整する工程よりなる請求項6 2の方法。 64.それぞれの多孔質構造体は環状であり、そして多孔質構造体の外径を規定 し、そして多孔質構造体の積層体は、全外径リング状スペーサーよりなり、それ ぞれの外径リング状スペーサーは多孔質構造体の外径および多孔質構造体の外径 に隣接している外径よりも僅かに小さい内径を有している請求項58の方法。 65.それぞれの多孔質構造体は環状であり、そして多孔質構造体の外径および 多孔質構造体の内径を規定し、そして多孔質構造体の積層体は外径リング状スペ ーサーと交互に並んだ内径リング状スペーサーを有し、それぞれの外径リング状 スペーサーは多孔質構造体の外径および多孔質構造体の外径と隣接した外径より も僅かに小さい内径を有し、それぞれの内径リング状スペーサーは多孔質構造体 の内径および多孔質構造体の内径に隣接している内径よりも僅かに大きい外径を 有している請求項58の方法。 66.それぞれの多孔質構造体は環状であり、そして多孔質構造体の内径を規定 し、ここで多孔質構造体の積層体は、全内径リング状スペーサーを有し、それぞ れの内径リング状スペーサーは多孔質構造体の内径および多孔質構造体の内径と 隣接した内径よりも僅かに大きい外径を有する請求項58の方法。
JP51636896A 1994-11-16 1995-11-16 Cvi/cvdプロセスに使用するための装置 Expired - Fee Related JP3759166B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/340,677 1994-11-16
US08/340,677 US5480678A (en) 1994-11-16 1994-11-16 Apparatus for use with CVI/CVD processes
PCT/US1995/015501 WO1996015288A2 (en) 1994-11-16 1995-11-16 Apparatus for use with cvi/cvd processes

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005314678A Division JP2006097136A (ja) 1994-11-16 2005-10-28 Cvi/cvdプロセスに使用するための装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10512925A true JPH10512925A (ja) 1998-12-08
JP3759166B2 JP3759166B2 (ja) 2006-03-22

Family

ID=23334475

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51636896A Expired - Fee Related JP3759166B2 (ja) 1994-11-16 1995-11-16 Cvi/cvdプロセスに使用するための装置
JP2005314678A Ceased JP2006097136A (ja) 1994-11-16 2005-10-28 Cvi/cvdプロセスに使用するための装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005314678A Ceased JP2006097136A (ja) 1994-11-16 2005-10-28 Cvi/cvdプロセスに使用するための装置

Country Status (13)

Country Link
US (2) US5480678A (ja)
EP (2) EP0792385B1 (ja)
JP (2) JP3759166B2 (ja)
KR (1) KR100389503B1 (ja)
CN (2) CN1298888C (ja)
AT (2) ATE202805T1 (ja)
AU (1) AU4370996A (ja)
CA (1) CA2205139C (ja)
DE (2) DE69521630T2 (ja)
DK (1) DK0792385T3 (ja)
ES (1) ES2137561T3 (ja)
RU (1) RU2146304C1 (ja)
WO (1) WO1996015288A2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005514524A (ja) * 2002-01-15 2005-05-19 スネクマ・プロピュルシオン・ソリド 化学的蒸気浸透による基材の緻密化方法および装置
JP2010534126A (ja) * 2007-07-25 2010-11-04 コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ 多孔性材料構造の化学気相堆積による溶浸のための方法及びデバイス
JP2015501884A (ja) * 2012-01-10 2015-01-19 ツェーファオテー ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー 屈折物質の化学蒸気浸透法
CN108680009A (zh) * 2018-05-07 2018-10-19 西安航空制动科技有限公司 一种碳/碳复合材料的防氧化涂层热处理设备及方法
JP2020500823A (ja) * 2016-12-07 2020-01-16 サフラン・セラミックス ファイバプリフォームの、化学気相浸透法のためのシェーピングツールおよび設備

Families Citing this family (128)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69526259T2 (de) 1994-11-16 2002-11-07 The B.F. Goodrich Co., Richfield Vorrichtung zur Druckfeld CVD/CVI, Verfahren und Produkt
FR2733254B1 (fr) * 1995-04-18 1997-07-18 Europ Propulsion Procede d'infiltration chimique en phase vapeur pour la densification de substrats poreux disposes en piles annulaires
US5916633A (en) * 1995-05-19 1999-06-29 Georgia Tech Research Corporation Fabrication of carbon/carbon composites by forced flow-thermal gradient chemical vapor infiltration
US5743967A (en) * 1995-07-13 1998-04-28 Semiconductor Energy Laboratory Co. Low pressure CVD apparatus
US5908792A (en) 1995-10-04 1999-06-01 The B. F. Goodrich Company Brake disk having a functional gradient Z-fiber distribution
US6083560A (en) * 1995-11-16 2000-07-04 Alliant Techsystems Inc Process for controlled deposition profile forced flow chemical vapor infiltration
FR2754813B1 (fr) * 1996-10-18 1999-01-15 Europ Propulsion Densification de substrats poreux disposes en piles annulaires par infiltration chimique en phase vapeur a gradient de temperature
DE19646094C2 (de) * 1996-11-08 1999-03-18 Sintec Keramik Gmbh Verfahren zur chemischen Gasphaseninfiltration von refraktären Stoffen, insbesondere Kohlenstoff und Siliziumkarbid, sowie Verwendung des Verfahrens
US6161500A (en) * 1997-09-30 2000-12-19 Tokyo Electron Limited Apparatus and method for preventing the premature mixture of reactant gases in CVD and PECVD reactions
US6352430B1 (en) 1998-10-23 2002-03-05 Goodrich Corporation Method and apparatus for cooling a CVI/CVD furnace
US6440220B1 (en) * 1998-10-23 2002-08-27 Goodrich Corporation Method and apparatus for inhibiting infiltration of a reactive gas into porous refractory insulation
US7476419B2 (en) * 1998-10-23 2009-01-13 Goodrich Corporation Method for measurement of weight during a CVI/CVD process
US6062851A (en) * 1998-10-23 2000-05-16 The B. F. Goodrich Company Combination CVI/CVD and heat treat susceptor lid
US6669988B2 (en) * 2001-08-20 2003-12-30 Goodrich Corporation Hardware assembly for CVI/CVD processes
US6162298A (en) * 1998-10-28 2000-12-19 The B. F. Goodrich Company Sealed reactant gas inlet for a CVI/CVD furnace
KR20000046418A (ko) * 1998-12-31 2000-07-25 추호석 브레이크 디스크의 제조방법
US6499425B1 (en) * 1999-01-22 2002-12-31 Micron Technology, Inc. Quasi-remote plasma processing method and apparatus
DE60013208T2 (de) 1999-06-04 2005-08-11 Goodrich Corp. Suzeptordeckel sowohl für Gasphaseninfiltration bzw. -Beschichtung als auch Wärmebehandlung
DE60024524T2 (de) 1999-06-04 2006-08-31 Goodrich Corp. Verfahren und Vorrichtung zum Kühlen von einem CVI/CVD-Ofen
EP1065294B1 (en) 1999-06-04 2003-10-15 Goodrich Corporation Method and apparatus for pressure measurement in a CVI/CVD furnace
US7378362B2 (en) * 2000-09-29 2008-05-27 Goodrich Corporation Boron carbide based ceramic matrix composites
ATE350358T1 (de) 2000-09-29 2007-01-15 Goodrich Corp Verbundwerkstoffe mit keramischer matrix auf borcarbidbasis
US6878206B2 (en) * 2001-07-16 2005-04-12 Applied Materials, Inc. Lid assembly for a processing system to facilitate sequential deposition techniques
FR2821859B1 (fr) * 2001-03-06 2004-05-14 Snecma Moteurs Procede pour la densification par infiltration chimique en phase vapeur de substrats poreux ayant un passage central
US6758909B2 (en) 2001-06-05 2004-07-06 Honeywell International Inc. Gas port sealing for CVD/CVI furnace hearth plates
KR100400044B1 (ko) * 2001-07-16 2003-09-29 삼성전자주식회사 간격 조절 장치를 가지는 웨이퍼 처리 장치의 샤워 헤드
US6793966B2 (en) * 2001-09-10 2004-09-21 Howmet Research Corporation Chemical vapor deposition apparatus and method
US7017514B1 (en) * 2001-12-03 2006-03-28 Novellus Systems, Inc. Method and apparatus for plasma optimization in water processing
US6953605B2 (en) * 2001-12-26 2005-10-11 Messier-Bugatti Method for densifying porous substrates by chemical vapour infiltration with preheated gas
US20040250763A1 (en) * 2002-01-11 2004-12-16 Ovshinsky Stanford R. Fountain cathode for large area plasma deposition
US6572371B1 (en) * 2002-05-06 2003-06-03 Messier-Bugatti Gas preheater and process for controlling distribution of preheated reactive gas in a CVI furnace for densification of porous annular substrates
JP4338355B2 (ja) * 2002-05-10 2009-10-07 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
US6657905B1 (en) * 2002-05-17 2003-12-02 Micron Technology, Inc. Clamping circuit for the Vpop voltage used to program antifuses
US20050121143A1 (en) * 2002-05-23 2005-06-09 Lam Research Corporation Pump baffle and screen to improve etch uniformity
FR2842193B1 (fr) * 2002-07-12 2004-10-01 Messier Bugatti Procede et installation pour le traitement thermique a haute temperature et la densification par infiltration chimique en phase vapeur de textures en carbone
ATE398193T1 (de) * 2002-10-24 2008-07-15 Goodrich Corp Verfahren und vorrichtung zur stückweisen und zur kontinuierlichen verdichtung durch chemische dampfphaseninfitration (cvi)
RU2305718C2 (ru) * 2002-12-10 2007-09-10 Етк Эпитаксиал Текнолоджи Сентер Срл Система токоприемника
US6919101B2 (en) * 2003-02-04 2005-07-19 Tegal Corporation Method to deposit an impermeable film on porous low-k dielectric film
UA84862C2 (en) * 2003-03-03 2008-12-10 Месье-Бугатти Substrate
NL1025155C2 (nl) * 2003-12-30 2005-07-04 Draka Fibre Technology Bv Inrichting voor het uitvoeren van PCVD, alsmede werkwijze voor het vervaardigen van een voorvorm.
RU2258763C1 (ru) * 2004-02-16 2005-08-20 Касьянов Сергей Евгеньевич Реактор для плазмохимического осаждения веществ из газовой фазы
US7335397B2 (en) * 2004-02-16 2008-02-26 Goodrich Corporation Pressure gradient CVI/CVD apparatus and method
US20060029804A1 (en) * 2004-08-03 2006-02-09 Klett James W Continuous flow closed-loop rapid liquid-phase densification of a graphitizable carbon-carbon composite
US7332195B2 (en) * 2004-08-26 2008-02-19 Honeywell International Inc. Chemical vapor deposition method
US7344584B2 (en) * 2004-09-03 2008-03-18 Inco Limited Process for producing metal powders
US20060054090A1 (en) * 2004-09-15 2006-03-16 Applied Materials, Inc. PECVD susceptor support construction
US20060054758A1 (en) * 2004-09-16 2006-03-16 Simpson Allen H Fixture for holding a preform during a heating process
US7572340B2 (en) * 2004-11-29 2009-08-11 Applied Materials, Inc. High resolution substrate holder leveling device and method
FR2882064B1 (fr) * 2005-02-17 2007-05-11 Snecma Propulsion Solide Sa Procede de densification de substrats poreux minces par infiltration chimique en phase vapeur et dispositif de chargement de tels substrats
US20060194060A1 (en) * 2005-02-25 2006-08-31 Honeywell International Furnace spacers for spacing preforms in a furnace
US20060194059A1 (en) * 2005-02-25 2006-08-31 Honeywell International Inc. Annular furnace spacers and method of using same
US20060254162A1 (en) * 2005-04-21 2006-11-16 Deslauriers, Inc. Shim having through openings
US7691443B2 (en) * 2005-05-31 2010-04-06 Goodrich Corporation Non-pressure gradient single cycle CVI/CVD apparatus and method
US7442443B2 (en) 2005-05-31 2008-10-28 Goodrich Corporation Chromium-nickel stainless steel alloy article having oxide coating formed from the base metal suitable for brake apparatus
US8057855B1 (en) 2005-05-31 2011-11-15 Goodrich Corporation Non-pressure gradient single cycle CVI/CVD apparatus and method
US20070014990A1 (en) * 2005-07-14 2007-01-18 Honeywell International Inc. Support structure for radiative heat transfer
KR100792396B1 (ko) * 2005-10-11 2008-01-08 주식회사 유진테크 파티션 구조형 가열유닛과 이를 이용한 히팅장치
US8673188B2 (en) * 2006-02-14 2014-03-18 Goodrich Corporation Carbon-carbon parts and methods for making same
FR2897422B1 (fr) * 2006-02-14 2008-05-16 Messier Bugatti Sa Dispositif d'etancheite pour une entree de gaz d'un four ou analogue
US7811085B2 (en) * 2006-05-04 2010-10-12 Honeywell International Inc. Gas preheater for chemical vapor processing furnace
US20070269597A1 (en) * 2006-05-17 2007-11-22 Honeywell International Inc. Modified CVD cooling loop
US7771194B2 (en) * 2006-05-26 2010-08-10 Honeywell International Inc. Gas preheater for chemical vapor processing furnace having circuitous passages
RU2322774C1 (ru) * 2006-07-27 2008-04-20 Сергей Дмитриевич Вихлянцев Электротехническая установка радиационного нагрева конвейерного типа
KR20090040458A (ko) * 2006-08-07 2009-04-24 메씨어-부가띠 다공질체의 치밀화 방법
WO2008017382A2 (de) * 2006-08-07 2008-02-14 Behr Gmbh & Co. Kg Verfahren zum herstellen von bauteilen in einem mediumkreislauf, wie insbesondere eines wärmeübertragers und solche bauteile
US8105649B1 (en) 2007-08-09 2012-01-31 Imaging Systems Technology Fabrication of silicon carbide shell
JP5208128B2 (ja) * 2007-12-04 2013-06-12 フルテック株式会社 加圧ガスパルス制御処理方法及び加圧ガスパルス制御処理装置
WO2010060646A1 (de) * 2008-11-28 2010-06-03 Volker Probst Verfahren zum herstellen von halbleiterschichten bzw. von mit elementarem selen und/oder schwefel behandelten beschichteten substraten, insbesondere flächigen substraten
US8132442B2 (en) * 2008-09-22 2012-03-13 Siemens Energy, Inc. Compressible ceramic seal
US8293013B2 (en) * 2008-12-30 2012-10-23 Intermolecular, Inc. Dual path gas distribution device
KR200475462Y1 (ko) * 2009-03-27 2014-12-03 램 리써치 코포레이션 플라즈마 처리 장치의 교체 가능한 상부 챔버 섹션
US10655219B1 (en) * 2009-04-14 2020-05-19 Goodrich Corporation Containment structure for creating composite structures
US10689753B1 (en) * 2009-04-21 2020-06-23 Goodrich Corporation System having a cooling element for densifying a substrate
DE212010000009U1 (de) * 2009-09-10 2011-05-26 LAM RESEARCH CORPORATION (Delaware Corporation), California Auswechselbare obere Kammerteile einer Plasmaverarbeitungsvorrichtung
US20110064891A1 (en) * 2009-09-16 2011-03-17 Honeywell International Inc. Methods of rapidly densifying complex-shaped, asymmetrical porous structures
US9449859B2 (en) * 2009-10-09 2016-09-20 Applied Materials, Inc. Multi-gas centrally cooled showerhead design
CN101831623B (zh) * 2010-05-28 2011-12-07 湖南金博复合材料科技有限公司 化学气相增密炉炉膛
US20120052189A1 (en) * 2010-08-30 2012-03-01 Litian Liu Vapor deposition system
JP2012195565A (ja) * 2011-02-28 2012-10-11 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置、基板処理方法及び半導体装置の製造方法
US9644285B2 (en) 2011-08-22 2017-05-09 Soitec Direct liquid injection for halide vapor phase epitaxy systems and methods
US20130052806A1 (en) * 2011-08-22 2013-02-28 Soitec Deposition systems having access gates at desirable locations, and related methods
TWI505400B (zh) * 2011-08-26 2015-10-21 Lg Siltron Inc 基座
FR2980486B1 (fr) * 2011-09-28 2013-10-11 Snecma Propulsion Solide Dispositif de chargement pour la densification par infiltration chimique en phase vapeur en flux dirige de substrats poreux de forme tridimensionnelle
CN102363878B (zh) * 2011-11-10 2014-09-10 西安航空制动科技有限公司 一种化学气相沉积炉预热装置
FR2993044B1 (fr) * 2012-07-04 2014-08-08 Herakles Dispositif de chargement et installation pour la densification de preformes poreuses tronconiques et empilables
FR2993555B1 (fr) * 2012-07-19 2015-02-20 Herakles Installation d'infiltration chimique en phase vapeur a haute capacite de chargement
US11326255B2 (en) * 2013-02-07 2022-05-10 Uchicago Argonne, Llc ALD reactor for coating porous substrates
US10107506B2 (en) * 2013-04-03 2018-10-23 Trane International Inc. Heat exchanger with differentiated resistance flowpaths
US9964333B2 (en) * 2013-05-28 2018-05-08 Trane International Inc. System and method for furnace fluid flow management
FR3007511B1 (fr) * 2013-06-19 2017-09-08 Herakles Installation pour traitements thermiques de produits en materiau composite comprenant des moyens de mesure de temperature delocalises
US9605345B2 (en) * 2013-08-23 2017-03-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Vertical furnace for improving wafer uniformity
KR102162366B1 (ko) * 2014-01-21 2020-10-06 우범제 퓸 제거 장치
FR3018526B1 (fr) * 2014-03-14 2021-06-11 Herakles Installation de densification cvi comprenant une zone de prechauffage a forte capacite
US9964332B2 (en) * 2014-03-27 2018-05-08 Lam Research Corporation Systems and methods for bulk vaporization of precursor
CN104034159B (zh) * 2014-06-06 2016-01-20 西安航空制动科技有限公司 一种c/c复合材料沉积炉
TWI624554B (zh) * 2015-08-21 2018-05-21 弗里松股份有限公司 蒸發源
US10982319B2 (en) 2015-08-21 2021-04-20 Flisom Ag Homogeneous linear evaporation source
US9963779B2 (en) 2016-02-29 2018-05-08 Goodrich Corporation Methods for modifying pressure differential in a chemical vapor process
US10407769B2 (en) * 2016-03-18 2019-09-10 Goodrich Corporation Method and apparatus for decreasing the radial temperature gradient in CVI/CVD furnaces
EP3527691A4 (en) * 2016-10-14 2020-06-24 IHI Corporation HEAT RECOVERY DEVICE FOR GAS PHASE PROCESS
RU2665860C2 (ru) * 2016-11-30 2018-09-04 Вячеслав Максимович Бушуев Способ металлирования крупногабаритных заготовок в реакторе установки для объемного металлирования, конструкция реактора и способ его изготовления
RU2665646C2 (ru) * 2016-12-26 2018-09-03 Вячеслав Максимович Бушуев Футеровка корпуса реактора установок для металлирования заготовок
KR102576220B1 (ko) * 2018-06-22 2023-09-07 삼성디스플레이 주식회사 박막 처리 장치 및 박막 처리 방법
FR3084672B1 (fr) * 2018-08-03 2020-10-16 Safran Ceram Procede de densification par infiltration chimique en phase gazeuse de substrats annulaires poreux
CN109279908B (zh) * 2018-10-30 2021-06-01 中南大学 一种制备超薄碳/碳复合材料面板的夹具
IT201800009953A1 (it) 2018-10-31 2020-05-01 Petroceramics Spa Metodo ed un assieme di infiltrazione e la deposizione rapida da fase vapore di componenti porosi
EP3647459A1 (en) 2018-10-31 2020-05-06 Petroceramics S.p.A. Method and an assembly by chemical vapor infiltration of porous components
EP3887562A4 (en) * 2018-11-30 2022-08-24 Ferrotec (USA) Corporation CRUCIBLE LID FOR COATING WITH AN ELECTRON BEAM SOURCE
US11111578B1 (en) 2020-02-13 2021-09-07 Uchicago Argonne, Llc Atomic layer deposition of fluoride thin films
US11691924B2 (en) 2020-02-21 2023-07-04 Raytheon Technologies Corporation CVI matrix densification process
CN111235548B (zh) * 2020-03-12 2024-09-24 清华大学 一种基于cvd/cvi双工艺的纤维增强复合材料沉积炉
CN113248272B (zh) * 2021-05-11 2022-06-21 广州三的投资管理企业(有限合伙) 一种碳陶摩擦材料的制备方法和应用
US12065738B2 (en) 2021-10-22 2024-08-20 Uchicago Argonne, Llc Method of making thin films of sodium fluorides and their derivatives by ALD
US11932941B1 (en) 2021-12-29 2024-03-19 Rolls-Royce High Temperature Composites, Inc. Load assemblies for loading parts in a furnace
US12000046B1 (en) * 2021-12-29 2024-06-04 Rolls-Royce High Temperature Composites, Inc. Load assemblies for loading parts in a furnace
US12078417B1 (en) 2021-12-29 2024-09-03 Rolls-Royce High Temperature Composites, Inc. Load assemblies for loading parts in a furnace
US11901169B2 (en) 2022-02-14 2024-02-13 Uchicago Argonne, Llc Barrier coatings
CN115094402B (zh) * 2022-06-24 2023-04-11 清华大学 一种立式双温区-双通道化学气相沉积设备
US11993548B2 (en) 2022-09-30 2024-05-28 Rtx Corporation Minimization of chemical vapor infiltration tooling hole length through windows
US12703915B2 (en) 2022-09-30 2026-08-11 Rtx Corporation Minimization of chemical vapor infiltration tooling hole length through counterbores
US12410520B2 (en) 2022-09-30 2025-09-09 Rtx Corporation Stacking tool fixture for forced flow chemical vapor infiltration
US12187656B2 (en) 2022-09-30 2025-01-07 Raytheon Technologies Corporation Ceramic matrix composite tooling for chemical vapor infiltration process
FR3149962B1 (fr) * 2023-06-16 2025-05-02 Safran Ceram Module de préchauffage, four comprenant un tel module de préchauffage et procédé de densification et de consolidation d’une pièce au moyen d’un tel module de préchauffage
CN117947409A (zh) * 2023-12-28 2024-04-30 西安鑫垚陶瓷复合材料股份有限公司 薄壁陶瓷基复合材料管件的沉积定位装置及制备方法
CN118007103B (zh) * 2024-02-06 2026-05-29 青岛晶易新材料科技股份有限公司 一种定向流cvi流场结构及碳碳复合材料生产工艺
WO2025171270A1 (en) * 2024-02-09 2025-08-14 Rtx Corporation Chemical vapor infiltration gas inlet injector plate
EP4600009A1 (en) * 2024-02-09 2025-08-13 RTX Corporation Tooling for forced-flow chemical vapor infiltration process
US20250361615A1 (en) * 2024-05-24 2025-11-27 Kaustav Banerjee Methods of forming transistor interconnects on top of a semiconductor device substrate

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3991248A (en) * 1972-03-28 1976-11-09 Ducommun Incorporated Fiber reinforced composite product
US3895084A (en) * 1972-03-28 1975-07-15 Ducommun Inc Fiber reinforced composite product
GB1586959A (en) * 1976-08-11 1981-03-25 Dunlop Ltd Method and apparatus for the production of carbon/carbon composite material
US4580524A (en) * 1984-09-07 1986-04-08 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Process for the preparation of fiber-reinforced ceramic composites by chemical vapor deposition
US4590042A (en) * 1984-12-24 1986-05-20 Tegal Corporation Plasma reactor having slotted manifold
US4612077A (en) * 1985-07-29 1986-09-16 The Perkin-Elmer Corporation Electrode for plasma etching system
JPS63295476A (ja) * 1987-05-28 1988-12-01 Nippon Steel Corp 炭素繊維強化炭素材料の製造方法
US4895108A (en) * 1988-06-22 1990-01-23 The Babcock & Wilcox Company CVD apparatus and process for the preparation of fiber-reinforced ceramic composites
JPH0273624A (ja) * 1988-09-08 1990-03-13 Fujitsu Ltd Cvd用ガス導入装置
DE3922539A1 (de) * 1989-07-08 1991-01-10 Sintec Keramik Gmbh Verfahren zur herstellung von hochpraezisen heizelementen aus c f c
JPH0373527A (ja) * 1989-08-14 1991-03-28 Fujitsu Ltd 化学気相成長装置
JP2849606B2 (ja) * 1990-08-29 1999-01-20 京セラ株式会社 気相含浸法およびその装置
FR2671797B1 (fr) * 1991-01-18 1994-02-25 Propulsion Ste Europeenne Procede de densification d'un substrat poreux par une matrice contenant du carbone.
US5362228A (en) * 1991-11-04 1994-11-08 Societe Europeenne De Propulsion Apparatus for preheating a flow of gas in an installation for chemical vapor infiltration, and a densification method using the apparatus
US5447568A (en) * 1991-12-26 1995-09-05 Canon Kabushiki Kaisha Chemical vapor deposition method and apparatus making use of liquid starting material
US5389152A (en) * 1992-10-09 1995-02-14 Avco Corporation Apparatus for densification of porous billets
US5348774A (en) * 1993-08-11 1994-09-20 Alliedsignal Inc. Method of rapidly densifying a porous structure
JP3468859B2 (ja) * 1994-08-16 2003-11-17 富士通株式会社 気相処理装置及び気相処理方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005514524A (ja) * 2002-01-15 2005-05-19 スネクマ・プロピュルシオン・ソリド 化学的蒸気浸透による基材の緻密化方法および装置
JP2010534126A (ja) * 2007-07-25 2010-11-04 コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ 多孔性材料構造の化学気相堆積による溶浸のための方法及びデバイス
JP2015501884A (ja) * 2012-01-10 2015-01-19 ツェーファオテー ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー 屈折物質の化学蒸気浸透法
JP2020500823A (ja) * 2016-12-07 2020-01-16 サフラン・セラミックス ファイバプリフォームの、化学気相浸透法のためのシェーピングツールおよび設備
CN108680009A (zh) * 2018-05-07 2018-10-19 西安航空制动科技有限公司 一种碳/碳复合材料的防氧化涂层热处理设备及方法

Also Published As

Publication number Publication date
ATE183552T1 (de) 1999-09-15
EP0792385B1 (en) 1999-08-18
DK0792385T3 (da) 2000-01-24
WO1996015288A2 (en) 1996-05-23
CN1170442A (zh) 1998-01-14
EP0792385A2 (en) 1997-09-03
AU4370996A (en) 1996-06-06
CA2205139A1 (en) 1996-05-23
DE69511573T2 (de) 2000-05-04
WO1996015288A3 (en) 1996-08-08
RU2146304C1 (ru) 2000-03-10
DE69521630D1 (de) 2001-08-09
US6109209A (en) 2000-08-29
JP2006097136A (ja) 2006-04-13
CA2205139C (en) 2007-07-31
US5480678A (en) 1996-01-02
JP3759166B2 (ja) 2006-03-22
DE69511573D1 (de) 1999-09-23
EP0846787B1 (en) 2001-07-04
DE69521630T2 (de) 2002-05-16
KR970707318A (ko) 1997-12-01
KR100389503B1 (ko) 2003-10-30
CN1136335C (zh) 2004-01-28
CN1528949A (zh) 2004-09-15
CN1298888C (zh) 2007-02-07
ES2137561T3 (es) 1999-12-16
EP0846787A1 (en) 1998-06-10
ATE202805T1 (de) 2001-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3759166B2 (ja) Cvi/cvdプロセスに使用するための装置
RU2315821C2 (ru) Подогреватель газа
JP4171740B2 (ja) 摩擦ディスク
RU2319682C2 (ru) Способ и устройство для уплотнения пористого субстрата путем химической инфильтрации газовой фазой
EP1718783B1 (en) Pressure gradient cvi/cvd apparatus and method
CN1234014A (zh) 放置在环形堆垛中的基片的温度梯度化学气相渗透致密
EP1329534B1 (en) Combination CVI/CVD and heat treat susceptor lid
RU2173354C2 (ru) Способ и устройство инфильтрации газовой фазы химического вещества и химического осаждения из газовой фазы (варианты), изделие, получаемое этим способом, устройство для подачи первого газа-реагента в печь для инфильтрации и осаждения из газовой фазы и фрикционный диск
US6257881B1 (en) Combination CVI/CVD and heat treat susceptor lid
RU97110154A (ru) Способ и устройство инфильтрации газовой фазы химического вещества и химического осаждения из газовой фазы (варианты), изделие, получаемое этим способом, устройство для подачи первого газа-реагента в печь для инфильтрации и осаждения из газовой фазы, и фрикционный диск
AU738402B2 (en) Method for densifying and refurbishing brakes
JPS62144314A (ja) クライオパネル
AU1845099A (en) Method for densification of porous billets

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050802

A72 Notification of change in name of applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A721

Effective date: 20051021

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051028

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051213

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090113

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100113

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110113

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees