JPH1054355A - 真空排気装置 - Google Patents

真空排気装置

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Publication number
JPH1054355A
JPH1054355A JP21364896A JP21364896A JPH1054355A JP H1054355 A JPH1054355 A JP H1054355A JP 21364896 A JP21364896 A JP 21364896A JP 21364896 A JP21364896 A JP 21364896A JP H1054355 A JPH1054355 A JP H1054355A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cryopump
gate valve
vacuum chamber
purge gas
regeneration
Prior art date
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Pending
Application number
JP21364896A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukio Sasada
幸夫 笹田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP21364896A priority Critical patent/JPH1054355A/ja
Publication of JPH1054355A publication Critical patent/JPH1054355A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F04POSITIVE - DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS FOR LIQUIDS OR ELASTIC FLUIDS
    • F04BPOSITIVE-DISPLACEMENT MACHINES FOR LIQUIDS; PUMPS
    • F04B37/00Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00
    • F04B37/06Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00 for evacuating by thermal means
    • F04B37/08Pumps having pertinent characteristics not provided for in, or of interest apart from, groups F04B25/00 - F04B35/00 for evacuating by thermal means by condensing or freezing, e.g. cryogenic pumps

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Details Of Valves (AREA)
  • Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 真空チャンバ1の上部にゲートバルブ2を介
してクライオポンプ3が設けられている真空排気装置に
おいて、クライオポンプ3の再生処理中に発生する汚染
物質12の真空チャンバ1内への侵入を防止する。 【解決手段】 ゲートバルブ2とクライオポンプ3との
間に、蓋部材4aを開閉駆動する蓋開閉機構4を設け
る。クライオポンプ3の再生中は、蓋部材4aを閉じて
ゲートバルブ2の上部を覆うと共に、クライオポンプ3
の運転中は、真空排気のコンダクタンスの悪化を招かな
いように蓋部材4aを開く。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置等
の内部を清浄に保つ必要のある装置に供される真空排気
装置に関し、特に、クライオポンプを使用した真空排気
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】イオン注入装置をはじめとする半導体製
造装置では、装置内部を清浄で高真空な状態に保持する
必要があり、従来より高真空ポンプとしてクライオポン
プを使用した真空排気装置が多用されている。その一例
として、イオン注入装置のエンドステーションについて
以下に説明する。
【0003】図5及び図6に示すように、ウエハ処理室
を形成する真空チャンバ51には、ゲートバルブ52を
介してクライオポンプ53が設置されている。円筒状の
真空チャンバ51内には、被処理物であるウエハ55を
保持する保持部材54が設けられている。また、上記ゲ
ートバルブ52は、図7に示すように、真空チャンバ5
1とクライオポンプ53との間の流通路の開閉を行う弁
体56と、この弁体56を開閉方向へ駆動するための弁
体駆動部57と、弁体56及び弁体駆動部57を揺動可
能に連結するリンク機構58と、外部に設けられた図示
しない動力源の動力を弁体駆動部57へ伝達する動力伝
達機構59とを備えている。
【0004】ところで、上記クライオポンプ53は、極
低温に冷却された吸着面(コールドパネル)を有し、ポ
ンプ本体内に流入した気体分子を上記吸着面で凝縮吸着
し、真空チャンバ51内を排気するものであるが、その
吸着面への吸着量は、クライオポンプ53の運転時間と
共に増加し、長時間運転が行われるとポンプの排気性能
が低下する。このため、クライオポンプ53は、定期的
な再生を必要とする。
【0005】上記クライオポンプ53の再生処理は、ゲ
ートバルブ52を閉じた状態で行われる。この再生処理
は、クライオポンプ53の吸着面をヒータによって加熱
して常温に戻すと共に、クライオポンプ53の内部に窒
素ガス等のパージガスを導入し、吸着面に吸着されてい
た物質をパージガスと共に外部へ排出する処理である。
この再生処理が終了すれば、再びクライオポンプ53を
起動して真空チャンバ51の真空排気を行うためにゲー
トバルブ52を開く。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ゲート
バルブ52及びクライオポンプ53の設置スペースを確
保するためのレイアウト上の問題で、図5及び図6に示
すように、真空チャンバ51の上部に、ゲートバルブ5
2及びクライオポンプ53をこの順に設置しなければな
らない場合があり、この場合には上記のクライオポンプ
53の再生処理に伴って、以下のような不都合が生じる
ことがある。
【0007】すなわち、クライオポンプ53の再生処理
中はゲートバルブ52が閉じられているが、クライオポ
ンプ53の内部で吸着されていた物質が常温に戻された
ときに当該ゲートバルブ52上に落下することがある。
クライオポンプ53からの落下物としては、水滴以外に
油状の物質も考えられる。これは、真空チャンバ51内
に設けられている数本のケーブルから、可塑剤として使
用されているフタル酸エステル等の物質が高真空中に放
出され、これがクライオポンプ53内に吸着されるため
であり、この物質はクライオポンプ53の再生処理中に
油滴となって落下する。また、油滴の要因としては、真
空チャンバ51内の粗引きを行うロータリーポンプの油
等も考えられる。
【0008】そして、クライオポンプ53からの落下物
(図7中の汚染物質60)がゲートバルブ52に付着す
ると、再生処理の終了後にゲートバルブ52が開かれた
際に、当該汚染物質60が端面で擦られて真空チャンバ
51内に落下することになる。真空チャンバ51内に
は、ウエハ55を保持する保持部材54が設けられてお
り、チャンバ内に落下した物質がウエハ55を汚染して
製品不良を招来し、歩留りが低下するという問題があ
る。特に、近年は、デバイスの微細化が進み、真空チャ
ンバ51内の汚染物質を低減することが重要な課題とな
っている。
【0009】本発明は、上記に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、クライオポンプの再生処理中に発生す
る汚染物質の真空チャンバ内への侵入を防止することが
できる真空排気装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る真
空排気装置は、真空チャンバの上部に、ゲートバルブを
介してクライオポンプが設けられているものであって、
上記の課題を解決するために、ゲートバルブとクライオ
ポンプとの間の流通路内に進入してゲートバルブの上部
を覆う閉位置と当該流通路から退避した開位置との間を
移動可能に設けられている蓋部材を備えていることを特
徴としている。
【0011】上記の構成によれば、ゲートバルブとクラ
イオポンプとの間に開閉可能な蓋部材が設けられてい
る。この蓋部材の開閉駆動は、モータ等の駆動源を用い
て自動で行ってもよいし又は操作ハンドルをオペレータ
が手動で操作してもよい。
【0012】そして、クライオポンプの再生処理時に
は、上記の蓋部材を閉じる(すなわち、蓋部材をゲート
バルブとクライオポンプとの間の流通路内に進入してゲ
ートバルブの上部を覆う閉位置に移動させる)ことによ
って、再生処理中にクライオポンプから落下する汚染物
質を蓋部材の上面で受け止めて、ゲートバルブに汚染物
質が付着することを確実に防止することができる。この
ため、再生処理終了後にゲートバルブを開いても、汚染
物質が真空チャンバ内へ侵入することがなく、真空チャ
ンバ内を清浄に保つことができる。
【0013】また、クライオポンプの真空排気運転中に
は、上記の蓋部材を開く(すなわち、蓋部材をゲートバ
ルブとクライオポンプとの間の流通路から退避した開位
置に移動させる)ことによって、真空排気時のコンダク
タンスを悪化させることがなく、クライオポンプの真空
排気能力に殆ど影響を及ぼさない。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について図
1ないし図4に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。
【0015】本実施の形態では、本発明の真空排気装置
を、イオン注入装置のエンドステーションに設けられる
ウエハ処理室に適用した場合について説明する。
【0016】図1及び図3に示すように、ウエハ処理室
を形成する円筒形の真空チャンバ1内には、被処理物で
あるウエハ13を保持する保持部材14が設けられてお
り、その上部には、ゲートバルブ2を介してクライオポ
ンプ3が設置されている。そして、ゲートバルブ2とク
ライオポンプ3との間には、再生処理中のクライオポン
プ3からの落下物が真空チャンバ1内へ侵入するのを防
止するための蓋開閉機構4が設けられている。
【0017】図1に示すように、上記蓋開閉機構4は、
ゲートバルブ2とクライオポンプ3との間の流通路5の
径より若干小さな径を有する円盤状の蓋部材4aを備え
ている。この蓋部材4aは、クライオポンプ3の再生中
にゲートバルブ2とクライオポンプ3の間の流通路5内
に進入してゲートバルブ2の上部を覆うためのものであ
る。また、上記蓋部材4aは、クライオポンプ3の運転
中には、上記の流通路5から退避して当該流通路5と連
通して設けられた蓋用チャンバ6内で待機するようにな
っている。
【0018】上記蓋部材4aは、蓋駆動機構7によって
駆動されて進退移動を行う。この蓋駆動機構7は、図1
及び図2に示すように、蓋部材4aに一体的に取付けら
れたラック8、及びこのラック8と歯合するピニオン9
等から構成される。尚、蓋用チャンバ6内には、蓋部材
4aの開閉方向の移動を案内する図示しないガイド機構
も設けられている。
【0019】上記ピニオン9の回転軸9aは、ベアリン
グやオイルシール等を含む真空フィードスルー11を通
して蓋用チャンバ6の外部(大気側)に引き出されてい
る。外部に引き出された回転軸9aの端部には、蓋部材
4aの開閉をオペレータが手動で操作するための手動ハ
ンドル10が設けられている。尚、手動ハンドル10の
代わりに回転軸9aの端部にギヤを設け、当該ギヤをモ
ータ等の駆動源にて正・逆回転させる構成であってもよ
い。
【0020】上記蓋開閉機構4の下方に位置するゲート
バルブ2は、従来より用いられている一般的なものを使
用することができ、その一構成例を図4に示している。
このゲートバルブ2は、真空チャンバ1とクライオポン
プ3との間の流通路5の開閉を行う弁体21と、この弁
体21を開閉方向へ駆動するための弁体駆動部22と、
弁体21及び弁体駆動部22を揺動可能に連結するリン
ク機構23と、外部に設けられた図示しない動力源の動
力を弁体駆動部22へ伝達する動力伝達機構24とを備
えている。上記動力伝達機構24は、同図に示すよう
に、真空フィードスルー27を介して大気側から真空側
へ導入された回転軸25を中心として水平方向に回動
(スイング)し、その回動端部を弁体駆動部22に形成
された長溝(開閉方向と直交する方向に延びる溝)22
aに遊嵌してなるスイングアーム26によって構成する
ことができる。
【0021】上記蓋開閉機構4の蓋部材4aがゲートバ
ルブ2とクライオポンプ3の間の流通路5内に進入した
場合は、上記ゲートバルブ2の弁体21の上面全体が、
その上方に位置する蓋部材4aによって覆われる。
【0022】上記の構成において、上記クライオポンプ
3の再生処理について以下に説明する。
【0023】再生処理を行うために、クライオポンプ3
の本体には、吸着面の凝縮吸着物質を加熱して気化させ
るヒータが設けられている。また、その本体には、内部
に窒素ガス等のパージガスを導入するためのパージガス
導入ライン、パージガスを排出するためのパージガス排
出ライン等が設けられている。尚、上記のヒータはクラ
イオポンプ3の再生時間を短縮することを目的として設
けられるものであり、勿論、ヒータを使用せずにパージ
ガスによる再生を行うことも可能である。
【0024】再生処理の開始に際して、先ず、ゲートバ
ルブ2を閉じると共に、図1に示すように、蓋開閉機構
4の蓋部材4aを閉方向に駆動し、ゲートバルブ2の上
方を覆う閉位置に蓋部材4aを配置する。そして、その
後クライオポンプ3の運転を停止する。
【0025】その後、30分程度そのまま放置してから
ヒータへの通電を開始すると共に、パージガス導入ライ
ンよりパージガスをクライオポンプ3の本体内に導入
し、パージガス排出ラインよりパージガスを排出する。
そして、クライオポンプ3が常温に戻るまで待つ。
【0026】この再生処理中に、先述のようにクライオ
ポンプ3内で常温に戻された物質が水滴や油滴となって
落下することがあるが、図1及び図4に示すように、こ
のような落下物(以下、汚染物質)12は全て蓋部材4
aの上面で受け止められ、ゲートバルブ2の弁体21に
付着することはない。
【0027】尚、上記蓋部材4aの上面に関しては、周
端部よりも中央部の方が低くなるような受皿状の加工を
施すことが望ましい。これにより、蓋部材4aの進退移
動時の振動によって蓋部材4aに付着した物質がその周
端部からこぼれ落ちることを確実に防止できる。
【0028】上記の再生処理を所望の時間行ってクライ
オポンプ3の再生が完了すれば、パージガスの導入及び
ヒータへの通電を停止し、再生処理を終了する。
【0029】その後、クライオポンプ3の運転を開始す
る前に、図1に示すように、先ず、上記の汚染物質12
が付着した蓋部材4aを開方向へ駆動し、図中に仮想線
で示すように蓋用チャンバ6の内部の開位置へ退避させ
る。その後又は上記の蓋部材4aの開放動作と略同時に
ゲートバルブ2を開くが、ゲートバルブ2には汚染物質
12が付着していないので、このバルブ開放時に従来の
ように汚染物質12が真空チャンバ1内へ落下すること
はない。これにより、真空チャンバ1の内部を清浄に保
つことができる。
【0030】また、上記のように、クライオポンプ3の
運転中は、蓋部材4aが、ゲートバルブ2とクライオポ
ンプ3との間の流通路5を塞がない位置に退避している
ので、排気時のコンダクタンスを悪化させることがな
く、クライオポンプ3の真空排気能力に何ら影響を及ぼ
すことはない。
【0031】尚、蓋部材4aが閉じていない状態でクラ
イオポンプ3の再生が行われることを防止するために、
蓋部材4aの閉状態を検知するセンサ(図示せず)がそ
の閉状態を検出していないときにはクライオポンプ3の
再生処理を禁止するインターロック機構を設けることが
望ましい。
【0032】また、蓋部材4aが開いていない状態でク
ライオポンプ3の運転が行われることを防止するため
に、蓋部材4aの開状態を検知するセンサ(図示せず)
がその開状態を検出していないときにはクライオポンプ
3の運転を禁止するインターロック機構を設けることが
望ましい。
【0033】尚、本実施の形態では、ラック8及びピニ
オン9を用いた蓋駆動機構7によって蓋部材4aの開閉
を行うようになっているが、これに限定されるものでは
なく、その他の駆動機構、例えば、上記ゲートバルブ2
の弁体駆動部22を開閉方向に移動させるための機構と
同様の駆動機構を用いることができる。
【0034】また、本実施の形態では、本発明の真空排
気装置をイオン注入装置のウエハ処理室に適用した例を
示したが、これに限定されるものではない。本発明の真
空排気装置は、特に、上記のイオン注入装置をはじめと
する半導体製造装置に好適に用いることができるが、汚
染物質の侵入によって悪影響が生じるその他の装置にも
適用可能である。
【0035】
【発明の効果】請求項1の発明に係る真空排気装置は、
以上のように、ゲートバルブとクライオポンプとの間の
流通路内に進入してゲートバルブの上部を覆う閉位置と
当該流通路から退避した開位置との間を移動可能に設け
られている蓋部材を備えている構成である。
【0036】それゆえ、クライオポンプの再生処理時に
は、蓋部材を閉位置に移動させることによって、再生処
理中にクライオポンプから落下する汚染物質を蓋部材の
上面で受け止め、汚染物質が真空チャンバ内へ侵入する
ことを確実に防止することができる。したがって、真空
チャンバ内を清浄に保つことができるという効果を奏す
る。また、クライオポンプの真空排気運転中には、蓋部
材を開位置に移動させることによって、真空排気時のコ
ンダクタンスを悪化させることがなく、クライオポンプ
の真空排気能力に殆ど影響を及ぼさないという効果も併
せて奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態を示す図であり、蓋開閉
機構の構成を示す概略の縦断面図である。
【図2】上記蓋開閉機構の構成を示す概略の横断面図で
ある。
【図3】上記蓋開閉機構を具備したウエハ処理室(真空
排気装置)の概略正面図である。
【図4】上記ウエハ処理室のゲートバルブの構成を示す
概略の縦断面図である。
【図5】従来のウエハ処理室の構成を示す模式図であ
る。
【図6】従来のウエハ処理室の概略正面図である。
【図7】従来のウエハ処理室のゲートバルブの構成を示
す概略の縦断面図である。
【符号の説明】
1 真空チャンバ 2 ゲートバルブ 3 クライオポンプ 4 蓋開閉機構 4a 蓋部材 5 ゲートバルブとクライオポンプとの間の流通路 6 蓋用チャンバ 7 蓋駆動機構 8 ラック 9 ピニオン 12 汚染物質

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空チャンバの上部に、ゲートバルブを介
    してクライオポンプが設けられている真空排気装置にお
    いて、 ゲートバルブとクライオポンプとの間の流通路内に進入
    してゲートバルブの上部を覆う閉位置と当該流通路から
    退避した開位置との間を移動可能に設けられている蓋部
    材を備えていることを特徴とする真空排気装置。
JP21364896A 1996-08-13 1996-08-13 真空排気装置 Pending JPH1054355A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21364896A JPH1054355A (ja) 1996-08-13 1996-08-13 真空排気装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21364896A JPH1054355A (ja) 1996-08-13 1996-08-13 真空排気装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1054355A true JPH1054355A (ja) 1998-02-24

Family

ID=16642646

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21364896A Pending JPH1054355A (ja) 1996-08-13 1996-08-13 真空排気装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1054355A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000257751A (ja) * 1999-03-10 2000-09-19 Shin Meiwa Ind Co Ltd 真空ゲート弁
US6263679B1 (en) 2000-04-05 2001-07-24 Helix Technology Corporation Particulate dam for cryopump flange

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000257751A (ja) * 1999-03-10 2000-09-19 Shin Meiwa Ind Co Ltd 真空ゲート弁
US6263679B1 (en) 2000-04-05 2001-07-24 Helix Technology Corporation Particulate dam for cryopump flange

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