JPH1056102A - ボール・グリッド・アレイ・モジュール用プリント回路板 - Google Patents
ボール・グリッド・アレイ・モジュール用プリント回路板Info
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- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
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- Combinations Of Printed Boards (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 最終パッケージに対する反り効果を補正でき
るプラスチック・ボール・グリッド・アレイ電子パッケ
ージを提供すること。 【解決手段】 ボール・グリッド・アレイ電子モジュー
ルの製造に用いるプリント回路板(PCB)は、表面に
はんだ合金の複数のほぼ球形の部分に接続可能な複数の
導電性金属パッド501、503を有し、パッド501
と503は異なる表面積を有する。
るプラスチック・ボール・グリッド・アレイ電子パッケ
ージを提供すること。 【解決手段】 ボール・グリッド・アレイ電子モジュー
ルの製造に用いるプリント回路板(PCB)は、表面に
はんだ合金の複数のほぼ球形の部分に接続可能な複数の
導電性金属パッド501、503を有し、パッド501
と503は異なる表面積を有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント回路板
(PCB)に関し、より詳細にはボール・グリッド・ア
レイ(BGA)電子モジュールの製造に用いるPCBに
関する。
(PCB)に関し、より詳細にはボール・グリッド・ア
レイ(BGA)電子モジュールの製造に用いるPCBに
関する。
【0002】
【従来の技術】最近の技術開発により、シングル・チッ
プ・モジュール(SCM)タイプまたはマルチ・チップ
・モジュール(MCM)タイプの電子モジュール製造用
の基板として、有機プリント回路板(PCB)積層板の
使用が導入された。このモジュールは、電子回路(マザ
ー・ボード、バック・プレーン、アプリケーション・ボ
ード等)との電気接続用の複数の導電性パッドを備え
る。はんだ合金の小さな球形部分によって電気接続が得
られ、このことからこの種の電子モジュールはボール・
グリッド・アレイ(BGA)と名付けられている。これ
らのモジュールは通常、プラスチック・ボール・グリッ
ド・アレイと呼ばれる。「プラスチック」との定義は、
セラミック製基板とは違ってPCBが可とう性であるこ
とを示している。
プ・モジュール(SCM)タイプまたはマルチ・チップ
・モジュール(MCM)タイプの電子モジュール製造用
の基板として、有機プリント回路板(PCB)積層板の
使用が導入された。このモジュールは、電子回路(マザ
ー・ボード、バック・プレーン、アプリケーション・ボ
ード等)との電気接続用の複数の導電性パッドを備え
る。はんだ合金の小さな球形部分によって電気接続が得
られ、このことからこの種の電子モジュールはボール・
グリッド・アレイ(BGA)と名付けられている。これ
らのモジュールは通常、プラスチック・ボール・グリッ
ド・アレイと呼ばれる。「プラスチック」との定義は、
セラミック製基板とは違ってPCBが可とう性であるこ
とを示している。
【0003】図1は、SCMタイプのBGAモジュール
の断面の例である。積層板101の下側の面には複数の
導電性パッド103があり、各パッドははんだボール1
05を備え、それが電子回路に接触してリフローされ、
それによって電気接続が実現される。モジュールの上側
の面には、能動素子を保護する成形(モールドされた)
キャップ109で覆われた能動素子107がある。
の断面の例である。積層板101の下側の面には複数の
導電性パッド103があり、各パッドははんだボール1
05を備え、それが電子回路に接触してリフローされ、
それによって電気接続が実現される。モジュールの上側
の面には、能動素子を保護する成形(モールドされた)
キャップ109で覆われた能動素子107がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】プラスチックBGA技
術には、信頼性、堅牢性、製造コストなどの点で、ピン
・グリッド・アレイなど従来の技術と比べていくつかの
利点がある。しかしながら、依然として解決すべき問題
もある。プラスチックBGAモジュールの欠点はいわゆ
るパッケージの反りであり、これについては3月3日に
米国カリフォルニア州サンノゼで開催されたIPC Printe
d Circuit Expoおよび第39回年次総会の「Packaging
for the 90s: an Overview」と題する会合で討議されて
いる(「Circuit World Journal of the Institute of
Circuit technology」および「Technical Journal of t
he Printed Circuit and Interconnection Federation,
Volume 22 No. 3, 1996」に報告されている)。
術には、信頼性、堅牢性、製造コストなどの点で、ピン
・グリッド・アレイなど従来の技術と比べていくつかの
利点がある。しかしながら、依然として解決すべき問題
もある。プラスチックBGAモジュールの欠点はいわゆ
るパッケージの反りであり、これについては3月3日に
米国カリフォルニア州サンノゼで開催されたIPC Printe
d Circuit Expoおよび第39回年次総会の「Packaging
for the 90s: an Overview」と題する会合で討議されて
いる(「Circuit World Journal of the Institute of
Circuit technology」および「Technical Journal of t
he Printed Circuit and Interconnection Federation,
Volume 22 No. 3, 1996」に報告されている)。
【0005】この反りは主として、製造の際にプラスチ
ックBGAモジュールに使用される様々の材料の間の熱
膨張係数(CTE)の相違によるものである。これらの
材料依存性CTEは、組立てからアプリケーション・ボ
ードへのモジュールの実装に至るまでの様々な工程段階
でモジュールの挙動に影響を与える。
ックBGAモジュールに使用される様々の材料の間の熱
膨張係数(CTE)の相違によるものである。これらの
材料依存性CTEは、組立てからアプリケーション・ボ
ードへのモジュールの実装に至るまでの様々な工程段階
でモジュールの挙動に影響を与える。
【0006】プラスチックBGAモジュールに用いられ
る材料は、有機複合材(中程度ないし高いCTEを持つ
積層板)からシリコン(低いCTEを持つ能動素子)ま
でに及び、樹脂(すべて高いCTEを持つエポキシ、ア
クリル、ウレタンなど)が広範に使用される。
る材料は、有機複合材(中程度ないし高いCTEを持つ
積層板)からシリコン(低いCTEを持つ能動素子)ま
でに及び、樹脂(すべて高いCTEを持つエポキシ、ア
クリル、ウレタンなど)が広範に使用される。
【0007】BGAモジュールの製造工程では、能動シ
リコン素子を積層基板に実装した後に最終キャップ・カ
バー109がモジュール上に置かれる(図1)。このカ
バーは、能動素子107を外部環境から保護し、モジュ
ールの移動および位置決め用の高速「ピック・アンド・
プレイス」装置に適した表面を提供するのに必要であ
る。現在、ブロブ・トップ(Blob Top)(グロブ・トッ
プ-Glob Topとも呼ばれる)法と被覆成形(overmoldin
g)法という2つの方法が一般に用いられている。ブロ
ブ・トップ法では、通常90℃未満の比較的低温で液状
樹脂を供給する。被覆成形法では、通常約180℃の高
温で圧力によって型内に樹脂を射出する。
リコン素子を積層基板に実装した後に最終キャップ・カ
バー109がモジュール上に置かれる(図1)。このカ
バーは、能動素子107を外部環境から保護し、モジュ
ールの移動および位置決め用の高速「ピック・アンド・
プレイス」装置に適した表面を提供するのに必要であ
る。現在、ブロブ・トップ(Blob Top)(グロブ・トッ
プ-Glob Topとも呼ばれる)法と被覆成形(overmoldin
g)法という2つの方法が一般に用いられている。ブロ
ブ・トップ法では、通常90℃未満の比較的低温で液状
樹脂を供給する。被覆成形法では、通常約180℃の高
温で圧力によって型内に樹脂を射出する。
【0008】いずれにしても樹脂供給温度は利用温度よ
り高く、どちらの方法でも重合の後に体積が減少する材
料が用いられる。これは、温度低下によって樹脂の収縮
が生じることを意味する。考慮すべきもう一つの側面
は、供給または射出される材料がモジュールの片側にの
み存在することである。
り高く、どちらの方法でも重合の後に体積が減少する材
料が用いられる。これは、温度低下によって樹脂の収縮
が生じることを意味する。考慮すべきもう一つの側面
は、供給または射出される材料がモジュールの片側にの
み存在することである。
【0009】上記の理由により、樹脂の収縮によって、
加工温度から室温に冷却したときにモジュール内に生じ
る張力が決定される。組立工程の終了時にモジュールは
変形を示し、積層板の4つのコーナが中央に対して持ち
上がる。これが上述のパッケージの反りであり、図2に
示したようにモジュールのボールの共面性に影響を与え
る。この「4つのコーナが持ち上がった」形状は、基板
積層板に接着またははんだ付けされる領域で補剛材の役
割をするシリコン素子の存在によって決定される。一
方、積層板は、シリコン素子が存在しない場所ではより
可とう性が高いため、樹脂の収縮によって誘発される力
に屈する。
加工温度から室温に冷却したときにモジュール内に生じ
る張力が決定される。組立工程の終了時にモジュールは
変形を示し、積層板の4つのコーナが中央に対して持ち
上がる。これが上述のパッケージの反りであり、図2に
示したようにモジュールのボールの共面性に影響を与え
る。この「4つのコーナが持ち上がった」形状は、基板
積層板に接着またははんだ付けされる領域で補剛材の役
割をするシリコン素子の存在によって決定される。一
方、積層板は、シリコン素子が存在しない場所ではより
可とう性が高いため、樹脂の収縮によって誘発される力
に屈する。
【0010】この反りは、パッケージをアプリケーショ
ン・ボードにはんだ付けするためのリフロー工程の間、
あるいはモジュールの使用寿命の間に重大な問題を引き
起こす可能性がある。すべてのボールを適切な接点では
んだ付けしたとしても、外側のボールがその立体形状に
影響しうる力を受けることは明らかである。接点の1つ
が開いたままである場合、これは通常、プラスチックB
GAパッケージが不良となり工程をやり直す必要がある
ことを意味する。手作業による再加工は(不可能ではな
いにしても)極めて難しく、手作業で再加工したボール
接合部の信頼性が低いことが判明している。
ン・ボードにはんだ付けするためのリフロー工程の間、
あるいはモジュールの使用寿命の間に重大な問題を引き
起こす可能性がある。すべてのボールを適切な接点では
んだ付けしたとしても、外側のボールがその立体形状に
影響しうる力を受けることは明らかである。接点の1つ
が開いたままである場合、これは通常、プラスチックB
GAパッケージが不良となり工程をやり直す必要がある
ことを意味する。手作業による再加工は(不可能ではな
いにしても)極めて難しく、手作業で再加工したボール
接合部の信頼性が低いことが判明している。
【0011】元の樹脂供給/射出温度に達するか、ある
いはそれを越える熱サイクルにモジュールを曝すと、反
りは減少する傾向にあり理論上は消失する。
いはそれを越える熱サイクルにモジュールを曝すと、反
りは減少する傾向にあり理論上は消失する。
【0012】図3に、アプリケーション基板へのモジュ
ール(図1に示したようなSCMタイプのもの)の取付
けに関する可能なリフロー・プロファイルと温度に関連
するモジュール挙動の例を示す。リフローの際、はんだ
合金ボールがつぶれて高さが低くなると同時に、モジュ
ールは上述の反りを失う傾向がある。これは、樹脂キャ
ップ(高いCTEを持つ)の体積が温度の上昇に伴って
実質的に増大するためである。こうした状態では、ボー
ルをアプリケーション基板(図3.b)上の接点に接合
することができる。温度が再び低下すると、樹脂の収縮
(およびそれによる反り)によりモジュールの辺縁部に
上向きの力が発生し、外側のはんだボールが完全に再凝
固する前に変形する傾向がある。したがって、ボールの
破損が全くないという最良の場合を想定しても、モジュ
ール上の位置に応じて異なる接合形状が得られる。図4
の断面に、SCMモジュールの場合のこれらの異なる形
状を概略的に示す。はんだボールは結果として、シリコ
ン素子が取り付けられる中央の領域では低く太くなり、
モジュールの縁部に向かうに従って高くなり円形が損な
われる。したがって、はんだボールは、常温でまたは製
品寿命時間での電力オン/オフのサイクルの間に受ける
応力比が異なる。
ール(図1に示したようなSCMタイプのもの)の取付
けに関する可能なリフロー・プロファイルと温度に関連
するモジュール挙動の例を示す。リフローの際、はんだ
合金ボールがつぶれて高さが低くなると同時に、モジュ
ールは上述の反りを失う傾向がある。これは、樹脂キャ
ップ(高いCTEを持つ)の体積が温度の上昇に伴って
実質的に増大するためである。こうした状態では、ボー
ルをアプリケーション基板(図3.b)上の接点に接合
することができる。温度が再び低下すると、樹脂の収縮
(およびそれによる反り)によりモジュールの辺縁部に
上向きの力が発生し、外側のはんだボールが完全に再凝
固する前に変形する傾向がある。したがって、ボールの
破損が全くないという最良の場合を想定しても、モジュ
ール上の位置に応じて異なる接合形状が得られる。図4
の断面に、SCMモジュールの場合のこれらの異なる形
状を概略的に示す。はんだボールは結果として、シリコ
ン素子が取り付けられる中央の領域では低く太くなり、
モジュールの縁部に向かうに従って高くなり円形が損な
われる。したがって、はんだボールは、常温でまたは製
品寿命時間での電力オン/オフのサイクルの間に受ける
応力比が異なる。
【0013】上記の理由により、電子パッケージの反り
は切実であり周知の問題である。国際的な専門機関であ
るJEDEC(合同電子デバイス・エンジニアリング評
議会)では、最終パッケージへの反り効果の悪影響を抑
えるために、プラスチックBGAモジュールの中央部に
対する縁部の共面度の最大値δを150μmとしてい
る。この値は、モジュールのサイズとは関係ないことを
考慮すると極めて厳しく、既知の製造技術ではその遵守
を保証することはできない。
は切実であり周知の問題である。国際的な専門機関であ
るJEDEC(合同電子デバイス・エンジニアリング評
議会)では、最終パッケージへの反り効果の悪影響を抑
えるために、プラスチックBGAモジュールの中央部に
対する縁部の共面度の最大値δを150μmとしてい
る。この値は、モジュールのサイズとは関係ないことを
考慮すると極めて厳しく、既知の製造技術ではその遵守
を保証することはできない。
【0014】本発明の目的は、上記の欠点を克服する技
法を提供することである。
法を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、ボール
・グリッド・アレイ電子モジュールの製造に用いるプリ
ント回路板(PCB)であって、第1の面上にはんだ合
金の複数のほぼ球形の部分に接続可能な複数の導電性金
属パッドを有し、前記パッドが異なる表面積を有するこ
とを特徴とするPCBが提供される。
・グリッド・アレイ電子モジュールの製造に用いるプリ
ント回路板(PCB)であって、第1の面上にはんだ合
金の複数のほぼ球形の部分に接続可能な複数の導電性金
属パッドを有し、前記パッドが異なる表面積を有するこ
とを特徴とするPCBが提供される。
【0016】さらに、本発明によれば、PCBを備える
プラスチック・ボール・グリッド・アレイ・モジュール
であって、第1の面にはんだ合金の複数のほぼ球形の部
分に接続可能な複数の導電性金属パッドを有し、前記パ
ッドが異なる表面積を有し、かつ第2の面に少なくとも
1つの電子素子を有するプラスチック・ボール・グリッ
ド・アレイ・モジュールが提供される。
プラスチック・ボール・グリッド・アレイ・モジュール
であって、第1の面にはんだ合金の複数のほぼ球形の部
分に接続可能な複数の導電性金属パッドを有し、前記パ
ッドが異なる表面積を有し、かつ第2の面に少なくとも
1つの電子素子を有するプラスチック・ボール・グリッ
ド・アレイ・モジュールが提供される。
【0017】本発明の上記その他の利点は、添付の図を
参照すればよりよく理解されよう。
参照すればよりよく理解されよう。
【0018】
【発明の実施の形態】プラスチックBGAモジュールは
本質的に、モジュール・ボールとアプリケーション基板
の表面との間に接合部を形成するためにはんだペースト
を添加するかどうかにかかわらず、2工程で組み立てる
ことができる。どちらの場合も、モジュールの「4つの
コーナが持ち上がった」形状によって、組立作業の最終
結果への厳しい歩留まり効果が決定される可能性があ
る。
本質的に、モジュール・ボールとアプリケーション基板
の表面との間に接合部を形成するためにはんだペースト
を添加するかどうかにかかわらず、2工程で組み立てる
ことができる。どちらの場合も、モジュールの「4つの
コーナが持ち上がった」形状によって、組立作業の最終
結果への厳しい歩留まり効果が決定される可能性があ
る。
【0019】はんだペーストの添加を伴う組立工程の場
合、共晶はんだペースト(通常はスズ−鉛合金)をスク
リーン印刷によって塗布面に供給する。次いで、BGA
モジュールを通常、「ピック・アンド・プレイス」機構
によってスクリーン印刷されたペースト上に載せる。ス
クリーン印刷されたペーストの量および厚さを変化させ
てモジュールの反りを補正することができるが、この手
法はボールの共面性の偏差が少ない場合にのみ有効であ
る。また、1つのアプリケーション・ボード上にそれぞ
れ異なる必要性を有する異なる構成要素が実装される可
能性があり、これらすべての必要性が与えられたとして
はんだペーストの量はそれらの折り合いをつけなければ
ならないことに留意されたい。
合、共晶はんだペースト(通常はスズ−鉛合金)をスク
リーン印刷によって塗布面に供給する。次いで、BGA
モジュールを通常、「ピック・アンド・プレイス」機構
によってスクリーン印刷されたペースト上に載せる。ス
クリーン印刷されたペーストの量および厚さを変化させ
てモジュールの反りを補正することができるが、この手
法はボールの共面性の偏差が少ない場合にのみ有効であ
る。また、1つのアプリケーション・ボード上にそれぞ
れ異なる必要性を有する異なる構成要素が実装される可
能性があり、これらすべての必要性が与えられたとして
はんだペーストの量はそれらの折り合いをつけなければ
ならないことに留意されたい。
【0020】はんだペーストを使わない組立工程の場
合、BGAモジュールはアプリケーション・ボードの金
属パッドに直接載せられ、中央のボールのみが直接接触
する。外側のボールは、上述の反りにより離れる。先に
述べたリフローの後のはんだボールの変形よりいっそう
悪い別の危険性、すなわちモジュールが片側に「傾斜」
して反対側の接点が完全に離れる可能性がある。
合、BGAモジュールはアプリケーション・ボードの金
属パッドに直接載せられ、中央のボールのみが直接接触
する。外側のボールは、上述の反りにより離れる。先に
述べたリフローの後のはんだボールの変形よりいっそう
悪い別の危険性、すなわちモジュールが片側に「傾斜」
して反対側の接点が完全に離れる可能性がある。
【0021】本発明によれば、モジュールの下側の面に
ある、はんだボールを取り付ける金属パッドは、モジュ
ール上でのその位置に応じて差別化された幾何形状を有
する。
ある、はんだボールを取り付ける金属パッドは、モジュ
ール上でのその位置に応じて差別化された幾何形状を有
する。
【0022】好ましい実施形態では、金属パッドは2つ
の異なる寸法を有する。パッドに対応するシリコン素子
の有無を、「ゲーティング要因」として使用することが
好ましい。SCMタイプ(すなわち、通常は中央に1つ
のシリコン・チップのみを有する)のモジュールを考え
た場合、金属パッドは中央の面積がより広くモジュール
の縁部付近の面積がより狭いことになる。
の異なる寸法を有する。パッドに対応するシリコン素子
の有無を、「ゲーティング要因」として使用することが
好ましい。SCMタイプ(すなわち、通常は中央に1つ
のシリコン・チップのみを有する)のモジュールを考え
た場合、金属パッドは中央の面積がより広くモジュール
の縁部付近の面積がより狭いことになる。
【0023】この差別化された幾何形状により、モジュ
ールの自然変形が打ち消され、パッケージの反りの効果
が平均される。
ールの自然変形が打ち消され、パッケージの反りの効果
が平均される。
【0024】図5は、基準面に対するプラスチックBG
Aモジュールの断面図であり、金属パッドの差別化され
た幾何形状の例とそれによってモジュールに与えられる
低減された反り効果を示す。中央の4つのパッド501
は、縁部近傍のパッド503より面積が広い。
Aモジュールの断面図であり、金属パッドの差別化され
た幾何形状の例とそれによってモジュールに与えられる
低減された反り効果を示す。中央の4つのパッド501
は、縁部近傍のパッド503より面積が広い。
【0025】はんだボールを金属パッドに取り付けると
き、濡らすべき接触面積がより広い中央のボールがパッ
ド全体に分散することになり、その結果最終的なボール
の高さが低くなる。これにより、反りの影響のために基
準面から離れていた外側のパッドが、共面度の値δを小
さくし反りの悪影響を打ち消すことができる。
き、濡らすべき接触面積がより広い中央のボールがパッ
ド全体に分散することになり、その結果最終的なボール
の高さが低くなる。これにより、反りの影響のために基
準面から離れていた外側のパッドが、共面度の値δを小
さくし反りの悪影響を打ち消すことができる。
【0026】この差別化された幾何形状によって達成さ
れる追加の効果は、モジュールをアプリケーション・ボ
ード上でリフローするときに、広くなったパッド(この
例では中央のもの)との接合部が、はんだ付け面積が広
くなったために堅牢性の向上を示すことである。
れる追加の効果は、モジュールをアプリケーション・ボ
ード上でリフローするときに、広くなったパッド(この
例では中央のもの)との接合部が、はんだ付け面積が広
くなったために堅牢性の向上を示すことである。
【0027】図6は、プラスチックBGAモジュール上
での2つの異なる大きさのパッドの配置例である。これ
は底面図を示しており、ここでは4×4個の中央のパッ
ドは外側のパッドより面積が広い。これは、この例がS
CMタイプ(すなわち、1つの能動シリコン素子のみを
持つ)のプラスチックBGAモジュールを参照している
ためである。当然のことながら、別の種類の電子モジュ
ールではパッドは異なる配置をとることができる。好ま
しい実施形態では、パッドは円形であり、中央のパッド
の面積は他のパッドより25%広い。
での2つの異なる大きさのパッドの配置例である。これ
は底面図を示しており、ここでは4×4個の中央のパッ
ドは外側のパッドより面積が広い。これは、この例がS
CMタイプ(すなわち、1つの能動シリコン素子のみを
持つ)のプラスチックBGAモジュールを参照している
ためである。当然のことながら、別の種類の電子モジュ
ールではパッドは異なる配置をとることができる。好ま
しい実施形態では、パッドは円形であり、中央のパッド
の面積は他のパッドより25%広い。
【0028】当然のことながら、特定のモジュールの必
要性により適した他の配置、形状、および比率が可能で
ある(たとえば、3種以上の異なるパッド寸法)。ただ
し、この単に大きさを2倍にしたパッドを用いた場合で
も、プラスチックBGAモジュールにおける基準面に対
するボールの共面性の偏差δを、JEDEC(合同電子
デバイス・エンジニアリング評議会)によって提案され
ている上述の150μmの閾値の範囲内に維持できるこ
とが判明している。
要性により適した他の配置、形状、および比率が可能で
ある(たとえば、3種以上の異なるパッド寸法)。ただ
し、この単に大きさを2倍にしたパッドを用いた場合で
も、プラスチックBGAモジュールにおける基準面に対
するボールの共面性の偏差δを、JEDEC(合同電子
デバイス・エンジニアリング評議会)によって提案され
ている上述の150μmの閾値の範囲内に維持できるこ
とが判明している。
【図1】従来技術のBGAモジュールを示す概略図であ
る。
る。
【図2】プラスチックBGAモジュールへの反り効果を
示す概略図である。
示す概略図である。
【図3】リフロー工程でのプラスチックBGAモジュー
ルの挙動を示す概略図である。
ルの挙動を示す概略図である。
【図4】反り効果によるプラスチックBGAモジュール
のはんだボールの変形を示す概略図である。
のはんだボールの変形を示す概略図である。
【図5】本発明の好ましい実施形態の断面図である。
【図6】本発明の好ましい実施形態による、プラスチッ
クBGAモジュールの金属パッドの差別化された幾何形
状の平面図である。
クBGAモジュールの金属パッドの差別化された幾何形
状の平面図である。
101 積層板 103 導電性パッド 105 はんだボール 107 能動素子 109 成形キャップ(最終外被) 501 中央の4つのパッド 503 縁部近傍のパッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フテファーノ・オッジーノ イタリア20059 ミラノ ヴィメルカーテ ヴィア・ブレンタ 13
Claims (5)
- 【請求項1】ボール・グリッド・アレイ電子モジュール
の製造に用いるプリント回路板(PCB)であって、第
1の表面上にはんだ合金の複数のほぼ球形の部分に接続
可能な複数の導電性金属パッドを有し、前記複数のパッ
ドが異なる表面積を有することを特徴とするPCB。 - 【請求項2】前記導電性金属パッドが、第1の表面積を
有する第1組のパッドと第2の表面積を有する第2組の
パッドを含むことを特徴とする、請求項1に記載のPC
B。 - 【請求項3】第1組のパッドがPCBの中央部にあり、
第2組のパッドがPCBの周辺部にあることを特徴とす
る、請求項2に記載のPCB。 - 【請求項4】第1の表面積が第2の表面積より広いこと
を特徴とする、請求項2または3に記載のPCB。 - 【請求項5】請求項1ないし4のいずれか一項に記載の
PCBを備え、PCBが第2面に少なくとも1つの電子
素子を有するプラスチック・ボール・グリッド・アレイ
・モジュール。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB9612769.1 | 1996-06-19 | ||
| GB9612769A GB2314463A (en) | 1996-06-19 | 1996-06-19 | PCB mounting pad arrangement for plastic ball grid array module |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1056102A true JPH1056102A (ja) | 1998-02-24 |
Family
ID=10795510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9130646A Pending JPH1056102A (ja) | 1996-06-19 | 1997-05-21 | ボール・グリッド・アレイ・モジュール用プリント回路板 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0814511A3 (ja) |
| JP (1) | JPH1056102A (ja) |
| KR (1) | KR100294602B1 (ja) |
| CN (1) | CN1168617A (ja) |
| GB (1) | GB2314463A (ja) |
| TW (1) | TW345797B (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006190902A (ja) * | 2005-01-07 | 2006-07-20 | Denso Corp | 半導体電子部品の実装方法及び半導体電子部品の配線基板 |
| JP2008227439A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Hynix Semiconductor Inc | ボールアタッチ装置及びこれを用いるソルダボールアタッチ方法 |
| US7586186B2 (en) | 2006-01-24 | 2009-09-08 | Denso Corporation | Ball grid array |
| US12564080B2 (en) | 2021-12-08 | 2026-02-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory module having first connection bumps and second connection bumps |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001007473A (ja) * | 1999-06-17 | 2001-01-12 | Nec Corp | 集積回路素子の実装構造および方法 |
| JP2004214657A (ja) | 2003-01-07 | 2004-07-29 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | プリント回路板製造用水溶性保護ペースト |
| US7074049B2 (en) * | 2004-03-22 | 2006-07-11 | Johnstech International Corporation | Kelvin contact module for a microcircuit test system |
| US8766453B2 (en) * | 2012-10-25 | 2014-07-01 | Freescale Semiconductor, Inc. | Packaged integrated circuit having large solder pads and method for forming |
| KR20200111520A (ko) | 2019-03-19 | 2020-09-29 | 현대자동차주식회사 | 자동차용 대시 판넬 어셈블리 및 대시 판넬용 더스트 커버 판넬 |
| CN111755339B (zh) * | 2020-06-30 | 2022-03-25 | 青岛歌尔微电子研究院有限公司 | 基于变形基板的锡膏植球方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4600970A (en) * | 1984-05-29 | 1986-07-15 | Rca Corporation | Leadless chip carriers having self-aligning mounting pads |
| JP3291368B2 (ja) * | 1993-07-06 | 2002-06-10 | シチズン時計株式会社 | ボールグリッドアレイ型半導体パッケージの構造 |
| JP2867313B2 (ja) * | 1993-12-10 | 1999-03-08 | 日本特殊陶業株式会社 | セラミック基板 |
| JPH0897322A (ja) * | 1994-09-22 | 1996-04-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体パッケージ |
| JPH08162560A (ja) * | 1994-12-01 | 1996-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品 |
-
1996
- 1996-06-19 GB GB9612769A patent/GB2314463A/en not_active Withdrawn
-
1997
- 1997-02-19 TW TW086101974A patent/TW345797B/zh active
- 1997-04-09 CN CN97110352A patent/CN1168617A/zh active Pending
- 1997-04-26 KR KR1019970015783A patent/KR100294602B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1997-05-21 JP JP9130646A patent/JPH1056102A/ja active Pending
- 1997-06-10 EP EP97304020A patent/EP0814511A3/en not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006190902A (ja) * | 2005-01-07 | 2006-07-20 | Denso Corp | 半導体電子部品の実装方法及び半導体電子部品の配線基板 |
| US7586186B2 (en) | 2006-01-24 | 2009-09-08 | Denso Corporation | Ball grid array |
| JP2008227439A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Hynix Semiconductor Inc | ボールアタッチ装置及びこれを用いるソルダボールアタッチ方法 |
| US12564080B2 (en) | 2021-12-08 | 2026-02-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory module having first connection bumps and second connection bumps |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1168617A (zh) | 1997-12-24 |
| GB9612769D0 (en) | 1996-08-21 |
| KR100294602B1 (ko) | 2001-09-17 |
| GB2314463A (en) | 1997-12-24 |
| EP0814511A2 (en) | 1997-12-29 |
| EP0814511A3 (en) | 1998-11-18 |
| TW345797B (en) | 1998-11-21 |
| KR980007895A (ko) | 1998-03-30 |
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