JPH1068762A - A/dコンバータを内蔵した半導体回路装置 - Google Patents

A/dコンバータを内蔵した半導体回路装置

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JPH1068762A
JPH1068762A JP8224289A JP22428996A JPH1068762A JP H1068762 A JPH1068762 A JP H1068762A JP 8224289 A JP8224289 A JP 8224289A JP 22428996 A JP22428996 A JP 22428996A JP H1068762 A JPH1068762 A JP H1068762A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
converter
digital data
input
input terminal
analog voltage
Prior art date
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Pending
Application number
JP8224289A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiro Ono
恭宏 大野
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来のA/Dコンバータを内蔵したマイクロ
コンピュータでは、良品不良品にかかわらず同じ検査時
間を必要とした。 【解決手段】 アナログ電圧を入力する入力端子1、入
力端子1に入力されるアナログ電圧に対応する理想デジ
タルデータを入力する入力端子4、入力端子1に入力さ
れたアナログ電圧をデジタルデータに変換するA/Dコ
ンバータ2、A/Dコンバータ2により変換されたデジ
タルデータ及び入力端子4に入力された理想デジタルデ
ータに基づいて、誤差を求める比較器6、比較器6によ
り求められた誤差を出力する出力端子7を備えたA/D
コンバータを内蔵した半導体回路装置によれば、その検
査時において、出力端子7の出力に基づいて、不良と判
定された段階で検査を中止することができ、全測定をす
ることなく、検査を容易かつ高速に実現することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アナログ信号をデ
ジタル信号に変換することのできるA/Dコンバータを
内蔵した半導体回路装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、A/Dコンバータ検査回路は特開
平2−67974号に記載されたものが知られている。
【0003】図2は、従来のA/Dコンバータを内蔵し
たマイクロコンピュータの構成を示す図である。図2に
おいて、1は1コード分のアナログ電圧を入力するため
の入力端子、2は入力端子1に入力されたアナログ電圧
をデジタルデータに変換するためのA/Dコンバータ、
3はA/Dコンバータ2によって変換されたデジタルデ
ータを蓄えるためのデータレジスタ、7はデータレジス
タ3に蓄えられているデジタルデータをマイクロコンピ
ュータの外部に出力するための出力端子、8は上記A/
Dコンバータ2等を内蔵したマイクロコンピュータであ
る。
【0004】以上のように構成されたA/Dコンバータ
を内蔵したマイクロコンピュータ8について、以下その
検査手法について説明する。
【0005】まず、デジタルテスタ(図示省略)から1
コード分のアナログ電圧を入力端子1から入力し、A/
Dコンバータ2で1コード分のアナログ電圧をデジタル
データに変換し、その変換後のデジタルデータをデータ
レジスタ3に蓄える。その蓄えたデジタルデータを出力
命令により出力端子7からマイクロコンピュータ8の外
部に出力し、デジタルテスタのメモリに蓄える。A/D
コンバータを内蔵したマイクロコンピュータ8の良否を
判定をするためには、入力可能なアナログ電圧範囲から
抽出した複数コード分または全コード分について、A/
D変換後のデジタルデータを測定した後判定を行うた
め、上記操作を複数回繰り返し行う必要がある。全測定
が終了した後デジタルテスタによって良否の判定を行
う。そのため、良品不良品にかかわらず同じ検査時間を
必要とする。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このA/Dコンバータ
においては、デジタルテスタでA/D変換誤差の検査を
容易かつ高速に行うことが要求されている。
【0007】本発明は上記の要求を満たすもので、入力
した1コード分のアナログ電圧をA/Dコンバータによ
り変換されたデジタルデータと入力した1コード分のア
ナログ電圧に対応する理想デジタルデータとを比較する
ことで誤差を求め、その誤差を出力命令を介することな
く出力端子から出力し、デジタルテスタで随時良否の判
定をする。その操作を複数回繰り返しているなかで、不
良と判定された段階で測定を中止し、不良品は全測定を
することなく判定ができ、検査を容易かつ高速に行うこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、図1において、デジタルテスタから1コー
ド分のアナログ電圧を1の入力端子から入力し、2のA
/Dコンバータで1コード分のアナログ電圧をデジタル
データに変換し、その変換後のデジタルデータを3のデ
ータレジスタに蓄える。デジタルテスタから1の1コー
ド分のアナログ電圧に対応する理想デジタルデータを4
の入力端子から入力し、3のA/Dコンバータによって
変換されたデジタルデータと4の理想デジタルデータと
を6の比較器で比較することで誤差を求め、6の比較器
によって求められた誤差を出力命令を介することなく7
の出力端子により随時出力し、その出力された誤差をデ
ジタルテスタで随時判定する。同時に2のA/Dコンバ
ータの変換終了信号を5の出力端子から出力し、デジタ
ルテスタで感知することで1の入力端子から入力した1
コード分のアナログ電圧を次に入力するアナログ電圧に
変え、次の測定を行うように構成したものである。
【0009】これにより、A/Dコンバータにより変換
されたデジタルデータと1コード分のアナログ電圧に対
応する理想デジタルデータとの誤差を、出力命令を介す
ることなく出力端子から出力し、デジタルテスタで随時
良否の判定をする。その操作を複数回繰り返しているな
かで、不良と判定された段階で測定を中止し、不良品は
全測定をすることなく判定ができ、検査を容易かつ高速
に実現することができるという有利な効果が得られる。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、入力されたアナログ電圧をデジタルデータに変換す
るためのA/Dコンバータと、前記A/Dコンバータに
より変換されたデジタルデータを蓄えるためのデータレ
ジスタと、A/Dコンバータによって変換されたデジタ
ルデータとデジタルテスタより入力された理想デジタル
データとを比較し誤差を求めるための比較器とを具備
し、A/D変換されたデジタルデータと理想デジタルデ
ータとの誤差を出力命令を介することなくマイクロコン
ピュータの外部に出力し、随時良否の判定をするように
構成したA/Dコンバータを内蔵したマイクロコンピュ
ータであり、A/D変換の検査を容易かつ高速に行うこ
とができるという作用を有する。
【0011】本発明の請求項2に記載の発明は、アナロ
グ電圧を入力するための第1の入力端子と、その第1の
入力端子に入力されるアナログ電圧に対応する理想デジ
タルデータを入力するための第2の入力端子と、前記第
1の入力端子に入力されたアナログ電圧をデジタルデー
タに変換するためのA/Dコンバータと、そのA/Dコ
ンバータにより変換されたデジタルデータ及び前記第2
の入力端子に入力された理想デジタルデータに基づい
て、誤差を求めるための比較器と、その比較器により求
められた誤差を出力するための出力端子とを備えたこと
を特徴とするA/Dコンバータを内蔵した半導体回路装
置である。
【0012】以下、本発明の実施の形態について、図1
を用いて説明する。 (実施の形態1)図1は、A/Dコンバータを内蔵した
マイクロコンピュータの構成図である。図1において、
1はデジタルテスタ(図示省略)より1コード分のアナ
ログ電圧を入力するための入力端子、2は入力端子1に
入力されたアナログデータをデジタルデータに変換する
ためのA/Dコンバータ、3はA/Dコンバータ2によ
って変換されたデジタルデータを蓄えるためのデータレ
ジスタ、4は入力端子1で入力した1コード分のアナロ
グ電圧に対応した理想デジタルデータをデジタルテスタ
から入力するための入力端子、5はA/Dコンバータ2
の変換終了信号をマイクロコンピュータの外部に出力す
る出力端子、6はA/Dコンバータ2によって変換され
たデジタルデータと入力端子4に入力された理想デジタ
ルデータとを比較し誤差を求めるための比較器、7は検
査時に比較器6によって求められた誤差をマイクロコン
ピュータの外部に出力する出力端子、8は上記A/Dコ
ンバータ2等を内蔵したマイクロコンピュータである。
【0013】次に、検査時における本実施の形態のA/
Dコンバータを内蔵したマイクロコンピュータの動作に
ついて説明する。このA/Dコンバータを内蔵したマイ
クロコンピュータ8の良否を検査する場合、少なくとも
入力端子1、4及び出力端子7はデジタルテスタに接続
される。
【0014】検査を開始すると、そのデジタルテスタ
は、入力端子1に1コード分のアナログ電圧を入力し、
そして、その入力端子1に入力した1コード分のアナロ
グ電圧に対応する理想デジタルデータを入力端子4に入
力する。
【0015】A/Dコンバータ2は、入力端子1に入力
されたアナログデータをデジタルデータに変換する。そ
の変換されたデジタルデータは、データレジスタ3を介
して比較器6に入力され、データ変換が終了するとA/
Dコンバータ2から出力端子5に変換終了信号が出力さ
れる。また、入力端子4に入力された理想デジタルデー
タもその比較器6に入力される。
【0016】比較器6は、A/Dコンバータ2によって
変換されたデジタルデータと入力端子4に入力された理
想デジタルデータとを比較して、その誤差を求める。そ
の比較器6により求められた誤差は、出力端子7を介し
て前述のデジタルテスタに入力される。そして、そのデ
ジタルテスタは、その出力端子7の出力に基づいて、A
/Dコンバータを内蔵したマイクロコンピュータ8の良
否を判定する。
【0017】通常、複数種類のコード分のアナログ電圧
が予め決められており、その決められた複数種類のコー
ドをクリアするか否かによって、そのA/Dコンバータ
を内蔵したマイクロコンピュータ8の最終的な良否が判
定される。
【0018】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、A/D変
換されたデジタルデータと理想デジタルデータとの誤差
を出力命令を介することなくマイクロコンピュータの外
部に出力し、デジタルテスタで随時良否の判定をする。
その操作を複数回繰り返しているなかで、不良と判定さ
れた段階で測定を中止し、不良品は全測定をすることな
く判定ができ、A/D変換の検査を容易かつ高速に行う
という有利な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態におけるA/Dコンバータ
を内蔵したマイクロコンピュータの構成図
【図2】従来のA/Dコンバータを内蔵したマイクロコ
ンピュータの構成図
【符号の説明】
1 1コード分のアナログ電圧入力端子 2 A/Dコンバータ 3 データレジスタ 4 理想デジタルデータ入力端子 5 変換終了信号出力端子 6 比較器 7 デジタルデータ出力端子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ電圧をデジタルデータに変換す
    るためのA/Dコンバータと、前記A/Dコンバータに
    より変換されたデジタルデータを蓄えるためのデータレ
    ジスタと、A/Dコンバータによって変換されたデジタ
    ルデータとデジタルテスタより入力された理想デジタル
    データとを比較し誤差を求めるための比較器とを具備
    し、A/D変換されたデジタルデータと理想デジタルデ
    ータとの誤差を出力命令を介することなく外部に出力
    し、随時良否の判定をすることで検査を容易かつ高速に
    行うことができるように構成したA/Dコンバータを内
    蔵した半導体回路装置。
  2. 【請求項2】 アナログ電圧を入力するための第1の入
    力端子と、その第1の入力端子に入力されるアナログ電
    圧に対応する理想デジタルデータを入力するための第2
    の入力端子と、前記第1の入力端子に入力されたアナロ
    グ電圧をデジタルデータに変換するためのA/Dコンバ
    ータと、そのA/Dコンバータにより変換されたデジタ
    ルデータ及び前記第2の入力端子に入力された理想デジ
    タルデータに基づいて、誤差を求めるための比較器と、
    その比較器により求められた誤差を出力するための出力
    端子とを備えたことを特徴とするA/Dコンバータを内
    蔵した半導体回路装置。
JP8224289A 1996-08-27 1996-08-27 A/dコンバータを内蔵した半導体回路装置 Pending JPH1068762A (ja)

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