JPH1068971A - アクティブマトリクス液晶表示装置及びアクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法 - Google Patents
アクティブマトリクス液晶表示装置及びアクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法Info
- Publication number
- JPH1068971A JPH1068971A JP9150494A JP15049497A JPH1068971A JP H1068971 A JPH1068971 A JP H1068971A JP 9150494 A JP9150494 A JP 9150494A JP 15049497 A JP15049497 A JP 15049497A JP H1068971 A JPH1068971 A JP H1068971A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- layer
- protective layer
- liquid crystal
- crystal display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 66
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 title claims abstract description 64
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 41
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 127
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 77
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 51
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 17
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- BCCOBQSFUDVTJQ-UHFFFAOYSA-N octafluorocyclobutane Chemical compound FC1(F)C(F)(F)C(F)(F)C1(F)F BCCOBQSFUDVTJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 21
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 21
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 18
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 17
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 17
- 235000019407 octafluorocyclobutane Nutrition 0.000 claims description 15
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 claims description 14
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 claims description 14
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 11
- 229920000052 poly(p-xylylene) Polymers 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 6
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 32
- 239000010408 film Substances 0.000 description 27
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 11
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 150000008378 aryl ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/01—Manufacture or treatment
- H10D86/021—Manufacture or treatment of multiple TFTs
- H10D86/0231—Manufacture or treatment of multiple TFTs using masks, e.g. half-tone masks
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136227—Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/40—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs
- H10D86/60—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates characterised by multiple TFTs wherein the TFTs are in active matrices
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/133357—Planarisation layers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
るアクティブマトリクス液晶表示装置を製作するための
方法を提供する。 【解決手段】 アクティブマトリクス液晶表示装置の製
造方法において、基板110上にゲートバス配線117とゲー
ト電極107を形成し、ゲートバス配線、ゲート電極及び
基板の上にゲート絶縁層109を形成し、ゲート絶縁層上
に半導体層111を形成し、半導体層上にオーミック接触
層112を形成し、オーミック接触層上にソースバス配線1
15、ソース電極105及びドレイン電極106を形成し、ソー
ス電極、ドレイン電極をエッチングマスクとしてオーミ
ック接触層をエッチングし、ソースバス配線、ドレイン
電極、ソース電極及び半導体層上に第1保護層113aを形
成し、第1保護層、半導体層及びゲート絶縁層を選択的
に除去し、基板の上に第2保護層113bを形成し、ドレイ
ン電極を露出させるコンタクトホールを形成するため
に、第1保護層及び第2保護層を選択的に除去し、コン
タクトホールを通してドレイン電極と接触する画素電極
を形成する段階を含む。
Description
(以下では「TFT」と称する)を含むアクティブマト
リクス液晶表示装置(以下では「AMLCD」と称す
る)の製造方法及びその製造方法によって製造されるア
クティブマトリクス液晶表示装置の構造に関する。
ティブマトリクス方式の液晶表示装置はマトリクス状に
複数の画素電極4が配置された基板(以下では「第1基
板」と称する)3から構成される。前記第1基板3に形
成された各画素電極4は、隣接する二つのゲートバス配
線17と隣接する二つのソースバス電極15が交差して
形成する部分に配置される。前記ゲートバス配線17は
横方向に形成され、前記ゲートバス配線から分岐したゲ
ート電極7が縦方向に複数個が形成されている。一方、
前記ソ−スバス配線15は縦方向に形成され、そのソー
スバス配線から分岐したソース電極5が水平方向に複数
個が形成されている。前記のソース電極5とゲート電極
7とが交差する部分にTFTが形成され、前記のTFT
は、画素電極と電気的に接触されるように形成されてい
る。第1基板のTFT及び画素電極の上には液晶を所定
の方向に配列させる配向膜(図示されない)が形成され
ている。また、アクティブマトリクス液晶表示装置は、
カラーフィルタ層(図示されない)、共通電極(図示さ
れない)及び配向膜(図示されない)とが形成された基
板(以下では「第2基板」と称する)2を有している。
前記第1基板3と第2基板2を一定な間隔を持たせて張
り合わせ、その空間に液晶が封入されている。第1基板
3と第2基板2の外部には各々の偏光板1A、1Bが配
置されている。
関連がある第1基板の製造方法を図3及び図8を引用し
て詳しく説明する。図3から分かるように、透明ガラス
基板10の上にCrを被着し、該Cr金属膜の上にフォトレジ
スト(図示されない)を塗布した後、マスクを使用し、
所定のパタ−ンになるように前記フォトレジストを露光
して現像する。前記現像されたパターンに従ってCr金属
膜をエッチングしてゲートバス配線17とゲートバス配線
17から分岐するゲート電極 7とを形成する(図3)。続
いて、ゲート絶縁層9になるSiNx層と、半導体層11にな
る非晶質シリコン(以下では「a−Si」と称する)層
と、オーミック接触層12になるn+形a-Si層を前記パター
ン化されたCr層を含む前記基板の上に連続的に被着する
(図4)。続いてn+形a-Si層の上にフォトレジストを塗
布し(図示しない)、マスクを使用して前記フォトレジ
ストを所定のパターンになるように露光して現像する。
前記現像されたパターンに従ってn+形a-Si層とa-Si層を
同時にエッチングしてオーミック接触層12と半導体層11
とを形成する(図5)。続いて前記ゲート絶縁層9、前記
オーミック接触層12及び前記半導体層11を覆うように全
面の基板にCrをスパッタリング法で被着する。前記Cr層
上にフォトレジストを塗布し、所定のパターンになるよ
うにマスクを使用して露光して現像する。前記フォトレ
ジストの現像されたパターンに従ってCr金属膜をエッチ
ングして信号線として機能するソースバス配線15と前記
ソースバス配線15から分岐するソース電極5、及びTFTの
出力端子として機能するドレイン電極6を形成する。前
記エッチングにより形成されたソース電極5及びドレイ
ン電極6をエッチングマスクとしてオーミック接触層12
が両側に分けられるようにオーミック接触層の中央部分
をエッチングする(図6)。
バス配線15、前記ソース電極5、前記ドレイン電極
6、前記オーミック接触層12及び前記半導体層11を覆う
ように保護層13を全面に被着する。該保護層13の上にフ
ォトレジストを塗布し(図示しない)、マスクを使用し
てフォトレジストを所定のパターンになるように露光し
て現像する。該現像されたパタ−ンに従って保護層13を
エッチングしてドレイン電極部上の保護層13にコンタン
クトホ−ル16を形成する (図7)。続いて、その保護層1
3と前記ドレイン電極の6(コンタクトホール)の上に I
TO(Indium Tin Oxide)層をスパッタリング法で全面に被
着する。該 ITO膜の上にフォトレジストを塗布し(図示
しない)、マスクを使用して前記のフォトレジストが所
定のパターンになるように露光して現像する。前記現像
されたフォトレジストのパターンに従って ITO膜をエッ
チングして画素電極 4を形成する (図8)。前記のよう
な従来のAMLCDの製造方法は、画素電極 4を含む第1基
板を形成するために5回のパターニング工程が行われ
た。前記パターニング工程は、基板上に膜を被着し、被
着表面の洗浄の段階、洗浄された被着表面にフォトレジ
ストの被着の段階、マスクを使用して前記フォトレジス
トを露光し現像する段階、該現像されたパターンによっ
て被着膜をエッチングする段階及び被着膜のパターンの
上に残っているフォトレジストを剥離する段階などで構
成されている。
ング工程は、非常に複雑だし、長時間がかかり、又他の
工程に比べて不良がたくさん生じる傾向がある。従っ
て、欠陥はパターニング工程の回数に比例して増大する
ので、可能であれば、前記パターニング工程の回数を減
らすことが望ましい。又、図8のように前記完成された
TFT部分に段差が生じ、該段差は、以後のラビング工
程で欠陥を発生させる。
ニング段階を有するアクティブマトリクス液晶表示装置
を製作するための方法を提供することを目的とする。
又、本発明は、ラビング不良が減少したアクティブマト
リクス液晶表示装置パネルを提供することを目的とす
る。
ス液晶表示装置の製造方法は、基板上にゲートバス配線
とゲート電極を形成し、前記ゲートバス配線、前記ゲー
ト電極及び前記基板を覆う表面にゲート絶縁層を形成
し、前記ゲート絶縁層上に半導体層を形成し、前記半導
体層上にオーミック接触層を形成し、前記オーミック接
触層上にソースバス配線、ソース電極及びドレイン電極
を形成し、前記ソース電極及び前記ドレイン電極をエッ
チングマスクとして前記オーミック接触層をエッチング
し、前記ソースバス配線、前記ドレイン電極、前記半導
体層及び前記ゲート絶縁層を覆うように表面に第1保護
層を形成し、前記基板上に第2保護層を形成し、前記ド
レイン電極を露出させるコンタクトホールを形成するた
めに前記第1、第2保護層を選択的に除去し、そして、
前記コンタクトホールを通して前記ドレイン電極と接触
する画素電極を形成する段階から構成される。
リクス液晶表示装置は、基板と、前記基板上に形成され
たゲートバス配線及びゲート電極と、前記基板、前記ゲ
ートバス配線及び前記ゲート電極上に形成されたゲート
絶縁層と、前記ゲート絶縁層上に形成された半導体層
と、前記半導体層上に形成されたオーミック接触層と、
前記オーミック接触層上に形成されたソースバス配線、
ソース電極及びドレイン電極と、前記半導体層、前記ソ
ースバス配線、前記ソース電極及び前記ドレイン電極を
覆う第1保護層と、前記第1保護層と前記基板を覆う第
2保護層、前記第1、第2保護層は、前記ドレイン電極
を露出させるために形成されたコンタクトホールを有
し、そして、少なくともドレイン電極上に形成された画
素電極から構成される。
明のアクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法を詳
しく説明する。 [実施例1]図10から図18により、実施例1につい
て説明する。まず、透明ガラス基板110の上に、第1金
属膜であるCr金属膜などを被着する。前記の第1金属
膜の上にフォトレジスト(図示されない)を塗布し、マ
スクを使ってフォトレジストを所定のパタ−ンになるよ
うに露光して現像する。前記フォトレジストの現像され
たパタ−ンに従って第1金属膜をウェトエッチング(we
t etching)などのエッチング法でエッチングしてゲ−ト
バス配線117と、ゲ−トバス配線117から分岐するゲ−ト
電極107を形成する(図10)。続いて、ゲ−ト絶縁層1
09になるSiNx膜、半導体層111になるa-Si膜とオ−ミッ
ク接触層112になるn+形のa-Si膜及び第2金属層140のCr
膜とを連続的に被着する(図11)。続いて前記の第2
金属層140の上にフォトレジスト(図示されない)を塗
布し、マスクを使用してフォトレジストを所定のパター
ンに成るように露光して現像する。前記フォトレジスト
の現像されたパターンに従って、この第2金属層140を
ウエットエッチングなどの方法でエッチングして、信号
線として機能するソースバス配線115、前記のソース配
線115から分岐するソース電極105、出力端子として機能
するドレイン電極106及び保持容量電極130を形成する。
前記の保持容量電極130はゲートバス配線117と一部分が
重畳されるように形成する(図12)。続いてソース配
線115、ソース電極105、ドレイン電極106及び保持容量
電極130をエッチングマスクとして、n+形a-Si層をエッ
チングして、オ−ミック接触層112を形成する(図1
3)。
接触層112のエッジ部、前記ソースバス配線115、前記ソ
ース電極105、前記ドレイン電極106及び前記保持容量電
極130を覆うように前記基板に第1保護層113aになるSiN
x及びSiO2のような無機絶縁物質などを被着する(図1
4)。第1保護層113aの上にフォトレジスト(図示され
ない)を塗布し、保持容量電極130、ドレイン電極106、
a-Si膜の一部分、ソースバス配線115及びソース電極105
を覆うようにマスクを使用して露光した後に現像する。
前記フォトレジストの現像されたパターンに従って第1
保護層113a、a-Si膜111及びSiNx膜109を同時にドライエ
ッチング法でエッチングして、半導体層111及びゲート
絶縁層109を形成する(図15)。前記工程の後、前記
基板110、前記ゲート絶縁層のエッジ部、前記半導体層11
1のエッジ部及び前記第1保護層113aを覆うように全基
板にフッ素添加ポリイミド(fluorinated polyimide)、
フッ素添加パリレン(fluorinated parylene)、テフロン
(teflon)、Cytop、フルオロポリアリールエーテル(fluo
ropolyarylether)、Perfluorocyclobutane(PFCB)、 又
は、Benzocyclobutane(BCB)のような有機物質を被着し
て第2保護層113bを形成する(図16)。
フッ素添加ポリイミド(fluorinatedpolyimide)、フッ素
添加パリレン(fluorinated parylene)、テフロン(teflo
n)、Cytop、フルオロポリアリールエーテル(fluoropoly
arylether)、Perfluorocyclobutane(PFCB)、 又は、Ben
zocyclobutane(BCB)のような有機物質から形成される場
合、ソースバス配線などのように段差がある部分に被着
された有機物質の表面は、段差がなくなる。従って、前
記第2有機保護層の上に形成される画素電極も平坦に形
成することができ、段差を有する部分でラビング不良の
発生を減らすことができる。従って、画素電極をソース
バス配線などに重ねて構成しても、ソースバス配線の段
差部分でラビング不良が起こらない。そのために、液晶
表示装置の高い開口率の実現が可能である。続いて前記
の第2保護層113bの上にフォトレジスト(図示されな
い)を塗布し、マスクを用いて前記フォトレジストを所
定のパターンになるように露光した後に現像する。前記
フォトレジストの現像されたパターンに従って第2保護
層113bと第1保護層113aをエッチングしてドレイン電極
106及び保持容量電極130を露出させるコンタクトホ−ル
116及び116’を形成する(図17)。続いて透明導電膜
である ITO膜をスパッタリング法で前記第2保護層113
b、前記第1保護層113a、前記ドレイン電極106及び前記
保持容量電極130を含む全面に被着する。該 ITO層にフ
ォトレジスト(図示されない)を塗布し、マスクを使用
してフォトレジストを所定のパターンになるように露光
して現像する。前記フォトレジストの現像されたパター
ンに従って ITO膜をエッチングして前記保持容量電極13
0の一部と前記ドレイン電極106 の一部と電気的に接触
される画素電極104を形成する(図18)。
例1の図10−図14までの製造工程は同じであるか
ら、これについての説明は省略する。前記の図14の工
程の状態で前記第1保護層113aの上にフォトレジスト
(図示されない)を塗布し、マスクを使用してこのフォ
トレジストを所定のパターンになるように露光して現像
する。前記現像されたパターンに従って第1保護層113a
をエッチングして前記ドレイン電極106と前記保持容量
電極130の一部にコンタクトホ−ル116を形成する(図1
9)。続いて透明導電膜である ITO層を前記基板110、
前記ゲート絶縁層109のエッジ部、前記半導体層111のエ
ッジ部、前記オーミック接触層112のエッジ部、前記保
護層113及び前記ドレイン電極106を覆うように全面に被
着する。該 ITO膜の上にフォトレジスト(図示されな
い)を塗布し、マスクを使用してこのフォトレジストを
所定のパターンになるように露光して現像する。前記現
像されたパターンに従って ITO膜をエッチングして前記
保持容量電極120の一部及び前記ドレイン電極106の一部
と電気的に接触される画素電極104を形成する(図2
0)。
従来の技術の図3−図8に行われた5回のパターニング
段階を本発明の実施例2により4回のパターニング段階
に減らすことができた。従って、本発明は、パターニン
グプロセスで発生する欠陥を減らすことが可能であり、
又、製造歩留まりを向上させる効果がある。
部の構造を示す立体図。
部を示す平面図。
造工程を説明するための断面図であり、図2のIII−III
線に沿った断面図。
造工程を説明するための断面図であり、図2のIII−III
線に沿った断面図。
造工程を説明するための断面図であり、図2のIII−III
線に沿った断面図。
造工程を説明するための断面図であり、図2のIII−III
線に沿った断面図。
造工程を説明するための断面図であり、図2のIII−III
線に沿った断面図。
造工程を説明するための断面図であり、図2のIII−III
線に沿った断面図。
一部を示す平面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のV−V線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のVI−VI線に沿った断面図。
ブマトリクス液晶表示装置の製造工程を示す断面図であ
り、図9のVI−VI線に沿った断面図。
Claims (29)
- 【請求項1】アクティブマトリクス液晶表示装置の製造
方法において、 基板上にゲートバス配線とゲート電極を形成し、 前記ゲートバス配線、前記ゲート電極及び前記基板の上
にゲート絶縁層を形成し、 前記ゲート絶縁層上に半導体層を形成し、 前記半導体層上にオーミック接触層を形成し、 前記オーミック接触層上にソースバス配線、ソース電極
及びドレイン電極を形成し、 前記ソース電極、前記ドレイン電極をエッチングマスク
としてオーミック接触層をエッチングし、 前記ソースバス配線、前記ドレイン電極、ソース電極及
び前記半導体層上に第1保護層を形成し、 前記第1保護層、前記半導体層及び前記ゲート絶縁層を
選択的に除去し、 前記基板の上に第2保護層を形成し、 前記ドレイン電極を露出させるコンタクトホールを形成
するために、前記第1保護層及び第2保護層を選択的に
除去し、 前記コンタクトホールを通して前記ドレイン電極と接触
する画素電極を形成する段階を含むことを特徴とする、
アクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項2】前記ゲート電極を形成する段階、前記半導
体層を形成する段階、前記オーミック接触層を形成する
段階及び前記ソースバス配線、前記ソース電極及びドレ
イン電極を形成する段階において、 前記ゲート絶縁層のための物質、前記半導体層のための
物質、前記オーミック接触のための物質、前記ソースバ
ス配線、前記ソース電極及び前記ドレイン電極のための
物質を連続的に被着することを特徴とする、請求項1記
載のアクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項3】前記ソースバス配線、前記ソース電極及び
前記ドレイン電極を形成する段階において、 前記オーミック接触層上に保持容量部の保持容量電極を
形成することを特徴とする、請求項2記載のアクティブ
マトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項4】前記第2保護層を形成する段階において、 有機物質で前記第2保護層を形成し、 又、前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinat
ed polyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated pary
lene)、テフロン(登録商標)(teflon)、Cytop、フルオ
ロポリアリールエーテル(fluoropolyarylether)、Perfl
uorocyclobutane(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)
中の少なくとも一つを含むことを特徴とする、請求項1
記載のアクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項5】前記画素電極を形成する段階において、 前記第2保護層上に前記画素電極を形成することを特徴
とする、請求項1記載のアクティブマトリクス液晶表示
装置の製造方法。 - 【請求項6】第2保護層を形成する段階において、 前記第2保護層として大体に平面の保護層を形成するこ
とを特徴とする、請求項5記載のアクティブマトリクス
液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項7】前記第2保護層を形成する段階において、 有機物質で前記第2保護層を形成し、 又、前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinat
ed polyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated pary
lene)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリー
ルエーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobut
ane(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくと
も一つを含むことを特徴とする、請求項6記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項8】第2保護層を形成する前記段階において、 前記第2保護層として大体に平面の保護層を形成するこ
とを特徴とする、請求項1記載のアクティブマトリクス
液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項9】前記第2保護層を形成する段階において、 有機物質で前記第2保護層を形成し、 又、前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinat
ed polyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated pary
lene)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリー
ルエーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobut
ane(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくと
も一つを含むことを特徴とする、請求項8記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項10】アクティブマトリクス液晶表示装置の製
造方法において、 基板の上にゲートバス配線とゲート電極を形成し、 前記ゲートバス配線、前記ゲート電極及び前記基板上に
ゲート絶縁層を形成し、 前記ゲート絶縁層上に半導体層を形成し、 前記半導体層上にオーミック接触層を形成し、 前記オーミック接触層上にソースバス配線、ソース電極
及びドレイン電極を形成し、 前記ソース電極、前記ドレイン電極をエッチングマスク
としてオーミック接触層をエッチングし、 前記ソースバス配線、前記ドレイン電極、ソース電極及
び前記半導体層上に保護層を形成し、 前記ドレイン電極を露出させるコンタクトホールを形成
するために前記保護層を選択的に除去し、 前記保護層上に、前記コンタクトホールを通して前記ド
レイン電極と接触するように画素電極を形成する段階を
含むことを特徴とする、アクティブマトリクス液晶表示
装置の製造方法。 - 【請求項11】前記保護層を形成する前記段階におい
て、 前記保護層として大体に平面の保護層を形成することを
特徴とする、請求項10記載の液晶表示装置の製造方
法。 - 【請求項12】前記保護層は、有機物質を含み、 前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinated p
olyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated parylen
e)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリール
エーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobutan
e(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくとも
一つを含むことを特徴とする、請求項11記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項13】前記保護層は、有機物質を含み、 前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinated p
olyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated parylen
e)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリール
エーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobutan
e(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくとも
一つを含むことを特徴とする、請求項10記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項14】アクティブマトリクス液晶表示装置の製
造方法において、 基板上にゲートバス配線及びゲート電極を形成し、 前記ゲートバス配線、前記ゲート電極及び前記基板の上
にゲート絶縁層を形成し、 前記ゲート絶縁層上に半導体層を形成し、 前記半導体層上にオーミック接触層を形成し、 前記ソース電極、前記ドレイン電極をエッチングマスク
として前記オーミック接触層をエッチングし、 前記ソースバス配線、前記ドレイン電極、前記ソース電
極、前記半導体層及び前記基板の上に大体に平面の保護
層を形成し、 前記ドレイン電極を露出させるコンタクトホールを形成
するために前記保護層を選択的に除去し、 前記コンタクトホールを通して前記ドレイン電極と接触
する画素電極を形成する段階を含むことを特徴とする、
アクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項15】基板と、 前記基板上に形成されたゲートバス配線及びゲート電極
と、 前記基板、前記ゲートバス配線及び前記ゲート電極上に
形成されたゲート絶縁層と、 前記ゲート絶縁層上に形成された半導体層と、 前記半導体層上に形成されたオーミック接触層と、 前記オーミック接触層上に形成されたソースバス配線、
ソース電極及びドレイン電極と、 前記半導体層、前記ソースバス配線、前記ソース電極及
び前記ドレイン電極を覆う第1保護層と、 前記第1保護層と前記基板とを覆う第2保護層と、又前
記第1、第2保護層は、前記ドレイン電極を露出させる
ために形成されたコンタクトホールを有し、 前記コンタクトホールを通して少なくとも前記ドレイン
電極上に形成された画素電極と、 から構成されることを特徴とする、アクティブマトリク
ス液晶表示装置。 - 【請求項16】前記オーミック接触層上に保持容量部の
保持電極とが加えて構成され、 又、該保持容量電極上に前記画素電極が重畳され構成さ
れることを特徴とする、請求項15記載のアクティブマ
トリクス液晶表示装置。 - 【請求項17】前記第2保護層は、有機物質であり、 前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinated p
olyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated parylen
e)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリール
エーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobutan
e(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくとも
一つを含むことを特徴とする、請求項15記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置。 - 【請求項18】前記画素電極は、前記第2保護層上まで
延ばして形成されたことを特徴とする、請求項15記載
のアクティブマトリクス液晶表示装置。 - 【請求項19】前記第2保護層は、大体に平面であるこ
とを特徴とする、請求項18記載のアクティブマトリク
ス液晶表示装置。 - 【請求項20】前記第2保護層は、有機物質であり、 前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinated p
olyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated parylen
e)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリール
エーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobutan
e(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくとも
一つを含むことを特徴とする、請求項19記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置。 - 【請求項21】前記第2保護層は、大体に平面であるこ
とを特徴とする、請求項15記載のアクティブマトリク
ス液晶表示装置。 - 【請求項22】前記第2保護層は、有機物質であり、 前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinated p
olyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated parylen
e)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリール
エーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobutan
e(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくとも
一つを含むことを特徴とする、請求項21記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置。 - 【請求項23】基板と、 前記基板上に形成されたゲートバス配線、ゲート電極
と、 前記基板、前記ゲートバス配線及び前記ゲート電極上に
形成されたゲート絶縁層と、 前記ゲート絶縁層上に形成された半導体層と、 前記半導体層上に形成されたオーミック接触層と、 前記オーミック接触層上に形成されたソースバス配線、
ソース電極及びドレイン電極と、 前記半導体層、前記ソースバス配線、前記ソース電極及
びドレイン電極を覆う保護層と、又、前記保護層は、前
記ドレイン電極を露出させるために形成されたコンタク
トホールを有し、 前記ドレイン電極と前記保護層上に形成された画素電極
と、 から構成されることを特徴とする、アクティブマトリク
ス液晶表示装置。 - 【請求項24】前記保護層は、大体に平面であることを
特徴とする、請求項23記載のアクティブマトリクス液
晶表示装置。 - 【請求項25】前記保護層は、有機物質を含み、 又、前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinat
ed polyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated pary
lene)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリー
ルエーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobut
ane(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくと
も一つを含むことを特徴とする、請求項24記載のアク
ティブマトリクス液晶表示装置。 - 【請求項26】前記保護層は、有機物質を含み、 前記有機物質は、フッ素添加ポリイミド(fluorinated p
olyimide)、フッ素添加パリレン(fluorinated parylen
e)、テフロン(teflon)、Cytop、フルオロポリアリール
エーテル(fluoropolyarylether)、Perfluorocyclobutan
e(PFCB)、又は、Benzocyclobutane(BCB)中の少なくとも
一つを含むことを特徴とする、請求項23記載のアクテ
ィブマトリクス液晶表示装置。 - 【請求項27】前記オーミック接触層上に保持容量部の
保持電極が加えて構成され、、 又、該保持電極上に前記画素電極が重畳され構成される
ことを特徴とする、請求項23記載のアクティブマトリ
クス液晶表示装置。 - 【請求項28】基板と、 前記基板上に形成されたゲートバス配線及びゲート電極
と、 前記基板、前記ゲートバス配線及び前記ゲート電極上に
形成されたゲート絶縁層と、 前記ゲート絶縁層上に形成された半導体層と、 前記半導体層上に形成されたオーミック接触層と、 前記オーミック接触層上に形成されたソースバス配線、
ソース電極及びドレイン電極と、 前記半導体層、前記ソースバス配線、前記ソース電極及
び前記ドレイン電極を覆う大体に平面の保護層と、又前
記保護層は、前記ドレイン電極を露出させるために形成
されたコンタクトホールを有し、 前記コンタクトホールを通して少なくとも前記ドレイン
電極上に形成された画素電極と、 から構成されることを特徴とする、アクティブマトリク
ス液晶表示装置。 - 【請求項29】前記オーミック接触層上に保持容量部の
保持電極が加えて構成され、又、該保持電極上に前記画
素電極が重畳され構成されることを特徴とする、請求項
28記載のアクティブマトリクス液晶表示装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1996-17813 | 1996-05-23 | ||
| KR1019960017813A KR100223153B1 (ko) | 1996-05-23 | 1996-05-23 | 액티브 매트릭스 액정표시장치의 제조방법 및 액티브매트릭스액정표시장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1068971A true JPH1068971A (ja) | 1998-03-10 |
| JP4275201B2 JP4275201B2 (ja) | 2009-06-10 |
Family
ID=19459722
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15049497A Expired - Lifetime JP4275201B2 (ja) | 1996-05-23 | 1997-05-23 | アクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5926235A (ja) |
| JP (1) | JP4275201B2 (ja) |
| KR (1) | KR100223153B1 (ja) |
| DE (1) | DE19721451C2 (ja) |
| FR (1) | FR2749963B1 (ja) |
| GB (1) | GB2313466B (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000003758A (ko) * | 1998-06-29 | 2000-01-25 | 김영환 | 박막 트랜지스터 액정표시소자 |
| JP2001356372A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-12-26 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示装置用薄膜トランジスタ基板及びその製造方法 |
| US6515719B2 (en) | 2000-06-12 | 2003-02-04 | Nec Corporation | Liquid crystal display apparatus and manufacturing method for the same |
| US6674093B1 (en) | 1999-10-26 | 2004-01-06 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | Active matrix substrate and manufacturing method therefor |
| US6862070B1 (en) | 1999-12-16 | 2005-03-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display and manufacturing method thereof |
| JP2007086197A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板の製造方法、その製造方法により製造されたアクティブマトリクス基板を備えた表示装置 |
| US7489369B2 (en) | 2002-11-11 | 2009-02-10 | Lg Display Co. Ltd. | Array substrate for liquid crystal display device and method of manufacturing the same |
| JP2009276792A (ja) * | 2001-10-11 | 2009-11-26 | Samsung Electronics Co Ltd | ビジュアルインスペクション手段を備えた薄膜トランジスタ基板及びビジュアルインスペクション方法 |
| JP2011118422A (ja) * | 2011-03-01 | 2011-06-16 | Nec Lcd Technologies Ltd | 液晶表示装置、液晶表示装置用薄膜トランジスタアレイ基板及びその製造方法 |
| KR101201972B1 (ko) | 2006-06-30 | 2012-11-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 이의 제조 방법 |
| JP2013015866A (ja) * | 2012-10-09 | 2013-01-24 | Sony Corp | 表示装置 |
| JP2016122207A (ja) * | 2016-02-05 | 2016-07-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
| JP2017038078A (ja) * | 2011-12-23 | 2017-02-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| US9640630B2 (en) | 1999-08-12 | 2017-05-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the semiconductor device |
Families Citing this family (41)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100225098B1 (ko) | 1996-07-02 | 1999-10-15 | 구자홍 | 박막트랜지스터의 제조방법 |
| US5894136A (en) * | 1996-01-15 | 1999-04-13 | Lg Electronics Inc. | Liquid crystal display having a bottom gate TFT switch having a wider active semiconductor layer than a conductive layer on same |
| KR100255930B1 (ko) * | 1996-07-04 | 2000-05-01 | 구본준 | 박막트랜지스터 및 그 제조방법 |
| CN1148600C (zh) * | 1996-11-26 | 2004-05-05 | 三星电子株式会社 | 薄膜晶体管基片及其制造方法 |
| US6940566B1 (en) | 1996-11-26 | 2005-09-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Liquid crystal displays including organic passivation layer contacting a portion of the semiconductor layer between source and drain regions |
| TW477907B (en) * | 1997-03-07 | 2002-03-01 | Toshiba Corp | Array substrate, liquid crystal display device and their manufacturing method |
| KR100255592B1 (ko) * | 1997-03-19 | 2000-05-01 | 구본준 | 액정 표시 장치 구조 및 그 제조 방법 |
| TW375689B (en) * | 1997-03-27 | 1999-12-01 | Toshiba Corp | Liquid crystal display device and method for manufacturing the same |
| JP3656076B2 (ja) * | 1997-04-18 | 2005-06-02 | シャープ株式会社 | 表示装置 |
| KR100262953B1 (ko) | 1997-06-11 | 2000-08-01 | 구본준 | 액정 표시 장치 및 그 액정 표시 장치의 제조 방법 |
| KR100271037B1 (ko) * | 1997-09-05 | 2000-11-01 | 구본준, 론 위라하디락사 | 액정 표시 장치의 구조 및 그 액정 표시 장치의 제조 방법(liquid crystal display device and the method for manufacturing the same) |
| JP3019047B2 (ja) * | 1997-11-07 | 2000-03-13 | 日本電気株式会社 | アクティブマトリクス型tft素子アレイ |
| TW394986B (en) * | 1997-11-25 | 2000-06-21 | Nippon Electric Co | Active matrix liquid crystal display device and its manufacturing method |
| KR100354904B1 (ko) * | 1998-05-19 | 2002-12-26 | 삼성전자 주식회사 | 광시야각액정표시장치 |
| JP3592535B2 (ja) * | 1998-07-16 | 2004-11-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| KR100299683B1 (ko) * | 1998-09-03 | 2001-10-27 | 윤종용 | 액정표시장치 |
| US6493048B1 (en) * | 1998-10-21 | 2002-12-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel for a liquid crystal display and a method for manufacturing the same |
| US6335781B2 (en) * | 1998-12-17 | 2002-01-01 | Lg Electronics, Inc. | Method for manufacturing an LCD in which a photoresist layer is at least 1.2 times thicker than the passivation layer |
| KR100312259B1 (ko) * | 1999-02-05 | 2001-11-03 | 구본준, 론 위라하디락사 | 액정표시장치의 불량패턴 제거방법 및 액정표시장치 구조 |
| TWI255957B (en) * | 1999-03-26 | 2006-06-01 | Hitachi Ltd | Liquid crystal display device and method of manufacturing the same |
| NL1015202C2 (nl) | 1999-05-20 | 2002-03-26 | Nec Corp | Actieve matrixvormige vloeiend-kristal displayinrichting. |
| KR100498630B1 (ko) | 1999-09-01 | 2005-07-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 |
| CN1195243C (zh) * | 1999-09-30 | 2005-03-30 | 三星电子株式会社 | 用于液晶显示器的薄膜晶体管阵列屏板及其制造方法 |
| KR100632216B1 (ko) * | 1999-12-16 | 2006-10-09 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법 |
| KR100673331B1 (ko) * | 2000-02-19 | 2007-01-23 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정 표시장치 제조방법 및 그 제조방법에 따른액정표시장치 |
| JP2001324725A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置およびその製造方法 |
| KR100623989B1 (ko) * | 2000-05-23 | 2006-09-13 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 기판 및 그의 수리 방법 |
| US6734924B2 (en) * | 2000-09-08 | 2004-05-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
| JP2002182243A (ja) * | 2000-12-15 | 2002-06-26 | Nec Corp | 液晶表示装置用トランジスタ基板及びその製造方法 |
| KR100721304B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2007-05-25 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치용 액정패널 및 그의 제조방법 |
| KR100773239B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2007-11-02 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 및 그 제조방법 |
| KR100650401B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2006-11-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그의 제조 방법 |
| KR100792466B1 (ko) * | 2001-05-21 | 2008-01-08 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치용 어레이 기판 및 그의 제조방법 |
| KR100436181B1 (ko) * | 2002-04-16 | 2004-06-12 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치용 어레이기판 제조방법 |
| KR100491821B1 (ko) * | 2002-05-23 | 2005-05-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법 |
| KR100971955B1 (ko) * | 2002-11-11 | 2010-07-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치용 어레이기판 제조방법 |
| KR100905017B1 (ko) * | 2002-12-27 | 2009-06-30 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
| US7023016B2 (en) * | 2003-07-02 | 2006-04-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel and manufacturing method thereof |
| KR20070039274A (ko) * | 2005-10-07 | 2007-04-11 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법 |
| CN100461433C (zh) * | 2007-01-04 | 2009-02-11 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种tft阵列结构及其制造方法 |
| JP5552753B2 (ja) * | 2008-10-08 | 2014-07-16 | ソニー株式会社 | 薄膜トランジスタおよび表示装置 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5032883A (en) * | 1987-09-09 | 1991-07-16 | Casio Computer Co., Ltd. | Thin film transistor and method of manufacturing the same |
| US5166085A (en) * | 1987-09-09 | 1992-11-24 | Casio Computer Co., Ltd. | Method of manufacturing a thin film transistor |
| JPH01217423A (ja) * | 1988-02-26 | 1989-08-31 | Seikosha Co Ltd | 非晶質シリコン薄膜トランジスタアレイ基板 |
| JP2530990B2 (ja) * | 1992-10-15 | 1996-09-04 | 富士通株式会社 | 薄膜トランジスタ・マトリクスの製造方法 |
| EP0603866B1 (en) * | 1992-12-25 | 2002-07-24 | Sony Corporation | Active matrix substrate |
| JP3098345B2 (ja) * | 1992-12-28 | 2000-10-16 | 富士通株式会社 | 薄膜トランジスタマトリクス装置及びその製造方法 |
| JPH06250210A (ja) * | 1993-02-23 | 1994-09-09 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置およびその製造方法 |
| DE4339721C1 (de) * | 1993-11-22 | 1995-02-02 | Lueder Ernst | Verfahren zur Herstellung einer Matrix aus Dünnschichttransistoren |
| US5621556A (en) * | 1994-04-28 | 1997-04-15 | Xerox Corporation | Method of manufacturing active matrix LCD using five masks |
| US5682211A (en) * | 1994-04-28 | 1997-10-28 | Xerox Corporation | Integrated dark matrix for an active matrix liquid crystal display with pixel electrodes overlapping gate data lines |
| JP3240858B2 (ja) * | 1994-10-19 | 2001-12-25 | ソニー株式会社 | カラー表示装置 |
| KR100303134B1 (ko) * | 1995-05-09 | 2002-11-23 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자및그제조방법. |
| US5737041A (en) * | 1995-07-31 | 1998-04-07 | Image Quest Technologies, Inc. | TFT, method of making and matrix displays incorporating the TFT |
| KR100338480B1 (ko) * | 1995-08-19 | 2003-01-24 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치및그제조방법 |
| US5731216A (en) * | 1996-03-27 | 1998-03-24 | Image Quest Technologies, Inc. | Method of making an active matrix display incorporating an improved TFT |
| KR100202231B1 (ko) * | 1996-04-08 | 1999-06-15 | 구자홍 | 액정표시장치의 제조방법 및 액정표시장치의 구조 |
-
1996
- 1996-05-23 KR KR1019960017813A patent/KR100223153B1/ko not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-05-21 US US08/861,315 patent/US5926235A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-21 FR FR9706186A patent/FR2749963B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-22 GB GB9710603A patent/GB2313466B/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-22 DE DE19721451A patent/DE19721451C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-23 JP JP15049497A patent/JP4275201B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000003758A (ko) * | 1998-06-29 | 2000-01-25 | 김영환 | 박막 트랜지스터 액정표시소자 |
| US9640630B2 (en) | 1999-08-12 | 2017-05-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing the semiconductor device |
| US6674093B1 (en) | 1999-10-26 | 2004-01-06 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | Active matrix substrate and manufacturing method therefor |
| US6891196B2 (en) | 1999-10-26 | 2005-05-10 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | Active matrix substrate and manufacturing method therefor |
| US6862070B1 (en) | 1999-12-16 | 2005-03-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display and manufacturing method thereof |
| JP2001356372A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-12-26 | Samsung Electronics Co Ltd | 液晶表示装置用薄膜トランジスタ基板及びその製造方法 |
| US6515719B2 (en) | 2000-06-12 | 2003-02-04 | Nec Corporation | Liquid crystal display apparatus and manufacturing method for the same |
| JP2009276792A (ja) * | 2001-10-11 | 2009-11-26 | Samsung Electronics Co Ltd | ビジュアルインスペクション手段を備えた薄膜トランジスタ基板及びビジュアルインスペクション方法 |
| US7489369B2 (en) | 2002-11-11 | 2009-02-10 | Lg Display Co. Ltd. | Array substrate for liquid crystal display device and method of manufacturing the same |
| US7763483B2 (en) | 2002-11-11 | 2010-07-27 | Lg Display Co., Ltd. | Array substrate for liquid crystal display device and method of manufacturing the same |
| JP2007086197A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板の製造方法、その製造方法により製造されたアクティブマトリクス基板を備えた表示装置 |
| KR101201972B1 (ko) | 2006-06-30 | 2012-11-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 이의 제조 방법 |
| JP2011118422A (ja) * | 2011-03-01 | 2011-06-16 | Nec Lcd Technologies Ltd | 液晶表示装置、液晶表示装置用薄膜トランジスタアレイ基板及びその製造方法 |
| JP2017038078A (ja) * | 2011-12-23 | 2017-02-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| US9923000B2 (en) | 2011-12-23 | 2018-03-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
| JP2013015866A (ja) * | 2012-10-09 | 2013-01-24 | Sony Corp | 表示装置 |
| JP2016122207A (ja) * | 2016-02-05 | 2016-07-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19721451A1 (de) | 1997-11-27 |
| KR970076040A (ko) | 1997-12-10 |
| FR2749963B1 (fr) | 2002-05-24 |
| DE19721451C2 (de) | 2002-03-14 |
| KR100223153B1 (ko) | 1999-10-15 |
| US5926235A (en) | 1999-07-20 |
| GB2313466A (en) | 1997-11-26 |
| JP4275201B2 (ja) | 2009-06-10 |
| GB2313466B (en) | 2001-01-17 |
| FR2749963A1 (fr) | 1997-12-19 |
| GB9710603D0 (en) | 1997-07-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4275201B2 (ja) | アクティブマトリクス液晶表示装置の製造方法 | |
| KR100886241B1 (ko) | 액정표시소자의 제조방법 | |
| US20010028071A1 (en) | Array substrate for use in LCD device and method of fabricating same | |
| US7064347B2 (en) | Thin film transistor substrate for display device and fabricating method thereof | |
| JP4238960B2 (ja) | 薄膜トランジスタの製造方法 | |
| US7019797B2 (en) | Array substrate for liquid crystal display device and manufacturing method thereof | |
| US20090091699A1 (en) | Liquid crystal display device and fabricating method thereof | |
| KR20020005968A (ko) | 액티브 매트릭스 기판, 표시 장치 및 액티브 매트릭스기판의 제조 방법 | |
| KR100870522B1 (ko) | 액정표시소자 및 그 제조방법 | |
| US20050130353A1 (en) | Method of fabricating liquid crystal display panel | |
| US20040066472A1 (en) | Liquid crystal display panel and method of fabricating the same | |
| JP4751305B2 (ja) | 液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法 | |
| KR101342500B1 (ko) | 박막트랜지스터 기판, 그 제조 방법 및 이를 갖는 표시패널 | |
| US20130114017A1 (en) | Array substrate and method for manufacturing the same, and display device | |
| US6958788B2 (en) | Liquid crystal display device and method of fabricating the same | |
| KR100773239B1 (ko) | 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
| KR102035004B1 (ko) | 액정표시장치용 어레이 기판 및 이의 제조방법 | |
| KR101490490B1 (ko) | 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 | |
| US8125585B2 (en) | Liquid crystal display device and fabricating method thereof | |
| KR100904268B1 (ko) | 액정표시소자 및 그의 제조방법 | |
| KR101023319B1 (ko) | 액정 표시 장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법 | |
| JPH0618922A (ja) | 液晶表示装置 | |
| KR100558712B1 (ko) | 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 그 제조 방법 | |
| KR101329447B1 (ko) | 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 그 제조 방법 | |
| KR20050067802A (ko) | 액정표시장치용 어레이 기판 및 그의 제조 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040427 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20040423 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060601 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060613 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20060912 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20060915 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061212 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070206 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070507 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070606 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20070727 |
|
| A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20070921 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20081205 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20081210 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20081212 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090107 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090108 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090203 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090304 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120313 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130313 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140313 Year of fee payment: 5 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |