JPH1074419A - チップ抵抗体の端子電極用導電性ペースト組成物 - Google Patents
チップ抵抗体の端子電極用導電性ペースト組成物Info
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- JPH1074419A JPH1074419A JP9183216A JP18321697A JPH1074419A JP H1074419 A JPH1074419 A JP H1074419A JP 9183216 A JP9183216 A JP 9183216A JP 18321697 A JP18321697 A JP 18321697A JP H1074419 A JPH1074419 A JP H1074419A
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ag系導体成分を用いた導電性ペースト組成
物であっても、導電性および接着力が充分で、はんだ濡
れ性と耐はんだ食われ性などの特性の総てがバランス良
く得られるチップ抵抗体の端子電極を形成することがで
きる導体ペースト組成物を提供することにある。 【解決手段】 導電成分として優れた導通抵抗、良好な
はんだ濡れ性および酸化焼成可能なAg系導体成分と、
はんだメッキ工程における耐メッキ液性を有したガラス
結合剤と、スズ、イリジウム。ロジウム。ルテニウム、
およびレニウムから選ばれる金属酸化物、パイロクロル
またはホウ化物を単独、または2種以上の導電性無機フ
ィラーを含有することを特徴とするチップ抵抗体の端子
電極用導電性ペースト組成物。
物であっても、導電性および接着力が充分で、はんだ濡
れ性と耐はんだ食われ性などの特性の総てがバランス良
く得られるチップ抵抗体の端子電極を形成することがで
きる導体ペースト組成物を提供することにある。 【解決手段】 導電成分として優れた導通抵抗、良好な
はんだ濡れ性および酸化焼成可能なAg系導体成分と、
はんだメッキ工程における耐メッキ液性を有したガラス
結合剤と、スズ、イリジウム。ロジウム。ルテニウム、
およびレニウムから選ばれる金属酸化物、パイロクロル
またはホウ化物を単独、または2種以上の導電性無機フ
ィラーを含有することを特徴とするチップ抵抗体の端子
電極用導電性ペースト組成物。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チップ部品の端子電極
材料に用いられる導電成分および無機結合剤を有機ベヒ
クルに分散した導電性ペーストに関し、特に導電成分と
して貴金属を用いてもチップ部品の回路基板への実装時
に良好な耐はんだ食われ性を有し、チップ抵抗体の電極
用組成物として好適な導電性ペーストに関するものであ
る。
材料に用いられる導電成分および無機結合剤を有機ベヒ
クルに分散した導電性ペーストに関し、特に導電成分と
して貴金属を用いてもチップ部品の回路基板への実装時
に良好な耐はんだ食われ性を有し、チップ抵抗体の電極
用組成物として好適な導電性ペーストに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、電子回路の高密度実装化に伴い、
小形化されたチップ抵抗、チップコンデンサといった小
形化された回路部品(チップ部品という)を同時に多
数、回路基板上に実装するチップマウントが広く行われ
ている。これらのチップ部品には、回路基板への実装上
の引出端子電極が必ず設けられている。この端子電極材
料として従来から広く使用されている厚膜導電性ペース
ト組成物は、主要成分として導電成分、結合剤および有
機ベヒクルを含有する。導電成分としては貴金属である
パラジウム(Pd)、白金(Pt)または銀(Ag)またはそ
れらの混合物または合金、パラジウムおよび銀の酸化物
またはそれらの混合物の微細粉末が広く用いられてい
る。結合剤としては、ガラス結合剤、有機ベヒクルに
は、不活性有機液体が用いられている。導電成分とガラ
ス結合剤と不活性有機ベヒクルと混合し、そして機械的
混合によって分散させて得られる適当なコンシステンシ
ーおよびレオロジーを有するペースト状組成物として生
成される。
小形化されたチップ抵抗、チップコンデンサといった小
形化された回路部品(チップ部品という)を同時に多
数、回路基板上に実装するチップマウントが広く行われ
ている。これらのチップ部品には、回路基板への実装上
の引出端子電極が必ず設けられている。この端子電極材
料として従来から広く使用されている厚膜導電性ペース
ト組成物は、主要成分として導電成分、結合剤および有
機ベヒクルを含有する。導電成分としては貴金属である
パラジウム(Pd)、白金(Pt)または銀(Ag)またはそ
れらの混合物または合金、パラジウムおよび銀の酸化物
またはそれらの混合物の微細粉末が広く用いられてい
る。結合剤としては、ガラス結合剤、有機ベヒクルに
は、不活性有機液体が用いられている。導電成分とガラ
ス結合剤と不活性有機ベヒクルと混合し、そして機械的
混合によって分散させて得られる適当なコンシステンシ
ーおよびレオロジーを有するペースト状組成物として生
成される。
【0003】また、一般にこのようなチップ部品の回路
基板のパターン表面への取り付けには、はんだ付けが採
用され、印刷回路用銅張り積層板の回路パターンにおい
て、チップ部品の端子が位置するランド部分に溶融した
はんだを以って持続固定を行うものである。したがっ
て、この導電性ペースト組成物は端子電極形成後の接着
強度および導電性は勿論のこと、はんだ付け性が要求さ
れている。この端子電極のはんだ付け性とは、チップ部
品の回路基板への実装あるいは補修時の端子電極に対す
るはんだ処理から要求される良好なはんだ濡れ性と耐は
んだ食われ性である。
基板のパターン表面への取り付けには、はんだ付けが採
用され、印刷回路用銅張り積層板の回路パターンにおい
て、チップ部品の端子が位置するランド部分に溶融した
はんだを以って持続固定を行うものである。したがっ
て、この導電性ペースト組成物は端子電極形成後の接着
強度および導電性は勿論のこと、はんだ付け性が要求さ
れている。この端子電極のはんだ付け性とは、チップ部
品の回路基板への実装あるいは補修時の端子電極に対す
るはんだ処理から要求される良好なはんだ濡れ性と耐は
んだ食われ性である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明者は、前記従来
の技術を検討した結果、以下の問題点を見出した。これ
らチップ部品の端子電極材料である導電性ペースト組成
物において、導電成分として導通抵抗が小さく、はんだ
濡れ性が良好であって、酸化焼成が可能なAg系導体成
分を用いることが実用的に有利である。しかし、Ag系
導体成分を使用した導電性ペースト組成物を用いて端子
電極を形成した場合には、耐はんだ食われ性が不良とな
る問題があった。更に酸化雰囲気で焼成する必要のある
RuO2系またはパイロクロア系のチップ抵抗体の端子
電極を形成する場合、電極形成後に抵抗値の変動が生じ
る問題もあった。
の技術を検討した結果、以下の問題点を見出した。これ
らチップ部品の端子電極材料である導電性ペースト組成
物において、導電成分として導通抵抗が小さく、はんだ
濡れ性が良好であって、酸化焼成が可能なAg系導体成
分を用いることが実用的に有利である。しかし、Ag系
導体成分を使用した導電性ペースト組成物を用いて端子
電極を形成した場合には、耐はんだ食われ性が不良とな
る問題があった。更に酸化雰囲気で焼成する必要のある
RuO2系またはパイロクロア系のチップ抵抗体の端子
電極を形成する場合、電極形成後に抵抗値の変動が生じ
る問題もあった。
【0005】前述の第1の問題点は、従来の導電性ペー
スト組成物をチップ部品の端子電極形成に使用し電極に
直接はんだ付けを行う場合、端子電極の主な導電成分で
あるAgがはんだ中に拡散する、いわゆるはんだ食われ
と、はんだの成分の一つである錫(Sn)が電極中に拡散
する。部品の実装時に電極のはんだ食われが起きると、
接続不良による信頼性の低下が起きる。また、部品の補
修時に電極のはんだ食われが起きると、電極にはほとん
どはんだが濡れなくなり、部品が実装できなくなる問題
があった。電極中への錫の拡散は電極とチップ部品本体
の界面の接着を破壊する。これを避けるために、電極の
導電成分として銀とパラジウムを用い、合金化して銀の
はんだ中への拡散を抑制する方法が採用されることもあ
るが、はんだの温度が高い場合、はんだの種類によって
は上記はんだ食われを防ぐことができず、使用できる条
件が限られる問題もあった。
スト組成物をチップ部品の端子電極形成に使用し電極に
直接はんだ付けを行う場合、端子電極の主な導電成分で
あるAgがはんだ中に拡散する、いわゆるはんだ食われ
と、はんだの成分の一つである錫(Sn)が電極中に拡散
する。部品の実装時に電極のはんだ食われが起きると、
接続不良による信頼性の低下が起きる。また、部品の補
修時に電極のはんだ食われが起きると、電極にはほとん
どはんだが濡れなくなり、部品が実装できなくなる問題
があった。電極中への錫の拡散は電極とチップ部品本体
の界面の接着を破壊する。これを避けるために、電極の
導電成分として銀とパラジウムを用い、合金化して銀の
はんだ中への拡散を抑制する方法が採用されることもあ
るが、はんだの温度が高い場合、はんだの種類によって
は上記はんだ食われを防ぐことができず、使用できる条
件が限られる問題もあった。
【0006】第2の問題点は、チップ抵抗器などの製造
工程において、導電性ペースト組成物を用いて焼成によ
ってチップ抵抗器の端子電極を形成する際、抵抗体と端
子電極との間に相互拡散や熱ストレスが発生し、抵抗体
の抵抗値を大きく変動させるものである。
工程において、導電性ペースト組成物を用いて焼成によ
ってチップ抵抗器の端子電極を形成する際、抵抗体と端
子電極との間に相互拡散や熱ストレスが発生し、抵抗体
の抵抗値を大きく変動させるものである。
【0007】本発明の目的は、導電性ペースト組成物に
おいて、上記有効な特性を有するAgまたはAgと他の
貴金属との混合物または合金などのAg系導体成分を用
いて、端子電極として要求される導電性、接着性、上記
基板上にはんだ付けする際に要求されるはんだ濡れ性お
よび耐はんだ食われ性などのすべてがバランス良く得る
ことができ、チップ抵抗体の端子電極を形成することが
できる導電性ペースト組成物を提供することにある。本
発明の他の目的は、上記導電成分と、はんだメッキ工程
における耐メッキ液性を有したガラス結合剤と、スズ、
イリジウム、ロジウム、ルテニウム、およびレニウムか
ら選ばれる金属酸化物、パイロクロルまたはホウ化物を
単独、または2種以上の導電性無機フィラーとを含有す
ることによって、はんだ付け時の問題を解決したチップ
抵抗体の端子電極を形成することができる導電性ペース
ト組成物を提供することにある。
おいて、上記有効な特性を有するAgまたはAgと他の
貴金属との混合物または合金などのAg系導体成分を用
いて、端子電極として要求される導電性、接着性、上記
基板上にはんだ付けする際に要求されるはんだ濡れ性お
よび耐はんだ食われ性などのすべてがバランス良く得る
ことができ、チップ抵抗体の端子電極を形成することが
できる導電性ペースト組成物を提供することにある。本
発明の他の目的は、上記導電成分と、はんだメッキ工程
における耐メッキ液性を有したガラス結合剤と、スズ、
イリジウム、ロジウム、ルテニウム、およびレニウムか
ら選ばれる金属酸化物、パイロクロルまたはホウ化物を
単独、または2種以上の導電性無機フィラーとを含有す
ることによって、はんだ付け時の問題を解決したチップ
抵抗体の端子電極を形成することができる導電性ペース
ト組成物を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記Ag系導
体成分、耐メッキ液性を有したガラス結合剤および導電
性無機フィラーを含有する場合、上記導電性、接着性、
はんだ濡れ性および耐はんだ食われ性などのすべてがバ
ランス良く得られるチップ抵抗体の端子電極を形成する
ことができることを見出し本発明を完成した。本願の第
1の発明に従う金属粉末からなる導電成分と無機結合剤
とをベヒクル中に分散させたチップ抵抗体の端子電極用
導電性ペースト組成物は、銀単体、銀と他の貴金属粉末
の混合物および合金よりなる群から選ばれる少なくとも
1種を、50〜87重量%含有し、無機結合剤としてP
bOおよびSiO2を主成分として含有し、Bi2O3を
含まないガラス結合剤を、3〜10重量%、且つスズ、
イリジウム、ロジウム、ルテニウム、およびレニウムか
ら選ばれる金属酸化物、パイロクロルまたはホウ化物を
単独、または2種以上を0.1〜15重量%含有するこ
とを特徴とする。本願の第2の発明に従うチップ抵抗体
の端子電極用導電性ペースト組成物は、第1の発明に従
う導電性ペースト組成物において、ガラス結合剤の成分
に、更にB2O3を含有することを特徴とする。
体成分、耐メッキ液性を有したガラス結合剤および導電
性無機フィラーを含有する場合、上記導電性、接着性、
はんだ濡れ性および耐はんだ食われ性などのすべてがバ
ランス良く得られるチップ抵抗体の端子電極を形成する
ことができることを見出し本発明を完成した。本願の第
1の発明に従う金属粉末からなる導電成分と無機結合剤
とをベヒクル中に分散させたチップ抵抗体の端子電極用
導電性ペースト組成物は、銀単体、銀と他の貴金属粉末
の混合物および合金よりなる群から選ばれる少なくとも
1種を、50〜87重量%含有し、無機結合剤としてP
bOおよびSiO2を主成分として含有し、Bi2O3を
含まないガラス結合剤を、3〜10重量%、且つスズ、
イリジウム、ロジウム、ルテニウム、およびレニウムか
ら選ばれる金属酸化物、パイロクロルまたはホウ化物を
単独、または2種以上を0.1〜15重量%含有するこ
とを特徴とする。本願の第2の発明に従うチップ抵抗体
の端子電極用導電性ペースト組成物は、第1の発明に従
う導電性ペースト組成物において、ガラス結合剤の成分
に、更にB2O3を含有することを特徴とする。
【0009】本発明の導電性ペースト組成物において
は、端子電極形成後にAg系導電成分がはんだに食われ
ても、導電性無機フィラーが端子電極を形成する導体厚
膜中に残ることによって、充分な導電性および接着力が
保持されるものであり、はんだ食われによる接続不良に
よる信頼性低下、及びはんだ濡れ性の劣化によるチップ
部品が実装できなくなることを防止することができる。
本発明に使用される導電成分は、低い導通抵抗、良好な
はんだ濡れ性を具備し、更には酸化焼成可能な銀、パラ
ジウムおよびそれらの混合物およびそれらの合金よりな
る群から選ばれる少なくとも1種が使用され得る。ま
た、これらと他の貴金属粉末と混合したものも使用でき
る。これら導電成分は微細粉末の形態で使用される。こ
の導電性金属粉末の粒径は適用される方法(通常はスク
リーン印刷である)に適したサイズであれば特に重要で
はないが、約0.1〜5ミクロンの範囲にあるのが好ま
しい。
は、端子電極形成後にAg系導電成分がはんだに食われ
ても、導電性無機フィラーが端子電極を形成する導体厚
膜中に残ることによって、充分な導電性および接着力が
保持されるものであり、はんだ食われによる接続不良に
よる信頼性低下、及びはんだ濡れ性の劣化によるチップ
部品が実装できなくなることを防止することができる。
本発明に使用される導電成分は、低い導通抵抗、良好な
はんだ濡れ性を具備し、更には酸化焼成可能な銀、パラ
ジウムおよびそれらの混合物およびそれらの合金よりな
る群から選ばれる少なくとも1種が使用され得る。ま
た、これらと他の貴金属粉末と混合したものも使用でき
る。これら導電成分は微細粉末の形態で使用される。こ
の導電性金属粉末の粒径は適用される方法(通常はスク
リーン印刷である)に適したサイズであれば特に重要で
はないが、約0.1〜5ミクロンの範囲にあるのが好ま
しい。
【0010】本発明において使用される無機結合剤とし
てのガラス結合剤は、その耐メッキ液性が高く、先に述
べた導電成分と反応せず、焼成工程における導電成分を
形成する金属粒子の焼結を助けるためその焼成温度で十
分な粘度とガラス流動性を有するものであれば使用でき
る。従って、慣用のガラス形成性およびガラス変性成分
を含有する広範な種類の酸化物ガラスが使用できるが、
特に鉛ボロシリケートおよび鉛シリケート自体のような
ガラスは、約450〜600℃の範囲の軟化点を具備
し、耐メッキ液性の見地から優れているので、このよう
なPbO−SiO2系ガラスフリットおよびPbO−S
iO2−B2O3系ガラスフリットを使用するのが好まし
い。ガラス組成にBi2O3を含有するガラス結合剤を使
用する場合、耐メッキ液性が低いものとなり、本発明に
おける導電性ペースト組成物に使用することはできな
い。ガラス結合剤の粒径は特に臨界値があるわけではな
い。しかしながらガラス粒子は0.1〜10ミクロン
(好ましくは0.5〜5ミクロン)の範囲で平均粒径は
2〜3ミクロンであるべきである。0.1ミクロン未満
の微細ガラスは表面が非常に大きく印刷用ペーストとし
て適当な流動性を得るには大量の有機媒体を必要とす
る。一方、10ミクロンより大きい粒子の場合、印刷の
障害となる。
てのガラス結合剤は、その耐メッキ液性が高く、先に述
べた導電成分と反応せず、焼成工程における導電成分を
形成する金属粒子の焼結を助けるためその焼成温度で十
分な粘度とガラス流動性を有するものであれば使用でき
る。従って、慣用のガラス形成性およびガラス変性成分
を含有する広範な種類の酸化物ガラスが使用できるが、
特に鉛ボロシリケートおよび鉛シリケート自体のような
ガラスは、約450〜600℃の範囲の軟化点を具備
し、耐メッキ液性の見地から優れているので、このよう
なPbO−SiO2系ガラスフリットおよびPbO−S
iO2−B2O3系ガラスフリットを使用するのが好まし
い。ガラス組成にBi2O3を含有するガラス結合剤を使
用する場合、耐メッキ液性が低いものとなり、本発明に
おける導電性ペースト組成物に使用することはできな
い。ガラス結合剤の粒径は特に臨界値があるわけではな
い。しかしながらガラス粒子は0.1〜10ミクロン
(好ましくは0.5〜5ミクロン)の範囲で平均粒径は
2〜3ミクロンであるべきである。0.1ミクロン未満
の微細ガラスは表面が非常に大きく印刷用ペーストとし
て適当な流動性を得るには大量の有機媒体を必要とす
る。一方、10ミクロンより大きい粒子の場合、印刷の
障害となる。
【0011】本発明で用いる導電性無機フィラーとは、 (1) イリジウム酸化物:Ir2O3,IrO2(イリジ
ウム系パイロクロア:Pb2Ir2O7-x,Bi2Ir2O
7-x,Lu2Ir2O7) (2) ロジウム酸化物:Rh2O3,RhO2,RhO
3(ロジウム系パイロクロア:Pb2Rh2O7-x,Bi2
Rh2O7-x,Tl2Rh2O7) (3) ルテニウム酸化物:RuO2,RuO3,RuO4
(ルテニウム系パイロクロア:Pb2Ru2O7-x,Bi2
Ru2O7-x,Tl2Ru2O7) (4) レニウム酸化物:Re2O3,ReO3,Re2O7 (5) スズ酸化物:SnO2 (6) ホウ化物:LaB6,Ni3B,Ni2B である。
ウム系パイロクロア:Pb2Ir2O7-x,Bi2Ir2O
7-x,Lu2Ir2O7) (2) ロジウム酸化物:Rh2O3,RhO2,RhO
3(ロジウム系パイロクロア:Pb2Rh2O7-x,Bi2
Rh2O7-x,Tl2Rh2O7) (3) ルテニウム酸化物:RuO2,RuO3,RuO4
(ルテニウム系パイロクロア:Pb2Ru2O7-x,Bi2
Ru2O7-x,Tl2Ru2O7) (4) レニウム酸化物:Re2O3,ReO3,Re2O7 (5) スズ酸化物:SnO2 (6) ホウ化物:LaB6,Ni3B,Ni2B である。
【0012】本発明においては、導電性ペースト組成物
の全体重量を基準として、無機固型成分の導電成分を5
0〜87重量%、ガラス結合剤を3〜10重量%、導電
性無機フィラーを0.1〜15重量%含有する。本発明
においては、上記の導電性粉末ならびにガラス結合剤お
よびその他の無機フィラーとを有機ベヒクルに分散さ
せ、普通半流動性の軟度を具備する「ペースト」と称さ
れる分散物として製造することができる。本発明の厚膜
導電性ペースト組成物における有機ベヒクル:分散物中
の無機固形分の比は、ペーストの塗布方法および使用さ
れる有機媒体の種類に依存し、変動し得る。通常、良好
な被覆を得るには分散物は無機固形分50〜90重量%
およびベヒクル50〜10重量%を含有する。
の全体重量を基準として、無機固型成分の導電成分を5
0〜87重量%、ガラス結合剤を3〜10重量%、導電
性無機フィラーを0.1〜15重量%含有する。本発明
においては、上記の導電性粉末ならびにガラス結合剤お
よびその他の無機フィラーとを有機ベヒクルに分散さ
せ、普通半流動性の軟度を具備する「ペースト」と称さ
れる分散物として製造することができる。本発明の厚膜
導電性ペースト組成物における有機ベヒクル:分散物中
の無機固形分の比は、ペーストの塗布方法および使用さ
れる有機媒体の種類に依存し、変動し得る。通常、良好
な被覆を得るには分散物は無機固形分50〜90重量%
およびベヒクル50〜10重量%を含有する。
【0013】すべての不活性液体をベヒクルとして使用
することができる。濃厚化剤および/または安定剤およ
び/またはその他の一般的添加剤を加えたかまたはこれ
らを加えていない水または種々の有機液体のいずれか一
つをベヒクルとして使用することができる。使用しうる
有機液体の例は脂肪族アルコール、そのようなアルコー
ルのエステル例えばアセテートおよびプロピオネート、
テルペン例えば松根油、テルピネオールその他、溶媒例
えば松根油およびエチレングリコールモノアセテートの
モノブチルエーテル中の樹脂例えば低級アルコールのポ
リメタクリレートの溶液またはエチルセルロースの溶液
である。ベヒクルには基板への適用後の迅速な固化を促
進させるための揮発性液体を含有させることができるし
またはベヒクルはこれより構成されていることもでき
る。好ましいベヒクルはエチルセルロースおよびβ−テ
ルピネオールをベースとするものである。
することができる。濃厚化剤および/または安定剤およ
び/またはその他の一般的添加剤を加えたかまたはこれ
らを加えていない水または種々の有機液体のいずれか一
つをベヒクルとして使用することができる。使用しうる
有機液体の例は脂肪族アルコール、そのようなアルコー
ルのエステル例えばアセテートおよびプロピオネート、
テルペン例えば松根油、テルピネオールその他、溶媒例
えば松根油およびエチレングリコールモノアセテートの
モノブチルエーテル中の樹脂例えば低級アルコールのポ
リメタクリレートの溶液またはエチルセルロースの溶液
である。ベヒクルには基板への適用後の迅速な固化を促
進させるための揮発性液体を含有させることができるし
またはベヒクルはこれより構成されていることもでき
る。好ましいベヒクルはエチルセルロースおよびβ−テ
ルピネオールをベースとするものである。
【0014】
【発明の実施の形態】次に本発明の一実施の形態を詳細
に説明するが、本発明はこの実施例に限定されるもので
はない。成分割合を表す数字は特記しない限り重量%で
ある。以下の実施例および比較例において無機結合剤と
して使用したガラスは、PbO−SiO2−B2O3系の
組成のガラスフリットを混合したものである。
に説明するが、本発明はこの実施例に限定されるもので
はない。成分割合を表す数字は特記しない限り重量%で
ある。以下の実施例および比較例において無機結合剤と
して使用したガラスは、PbO−SiO2−B2O3系の
組成のガラスフリットを混合したものである。
【0015】
実施例1〜12 Ag粉末(1μm以下の粒径に微粉砕したもの)、Pd
粉末、ガラス粉末、エチルセルロース、テルピネオール
を混練しペースト状とし、ミキサーによって混合した
後、ミル処理することによって、導体ペースト組成物を
調製した。各成分の割合は次の通りである
粉末、ガラス粉末、エチルセルロース、テルピネオール
を混練しペースト状とし、ミキサーによって混合した
後、ミル処理することによって、導体ペースト組成物を
調製した。各成分の割合は次の通りである
【0016】
【表1】
【0017】
比較例1〜3 次の成分を使用して実施例1と同様の方法で比較例1〜
3の導電性ペースト組成物を調製した。
3の導電性ペースト組成物を調製した。
【0018】
【表2】
【0019】これらの実施例および比較例の導電性ペー
スト組成物について、次の方法ではんだ付け時のはんだ
食われによる導電性(導通不良の発生有無)の評価を調
べた。実施例および比較例の導電性ペースト組成物を9
6%アルミナ基板1を用いて図1に示す導体ペースト組
成物を印刷、乾燥、焼成後のはんだ食われと導電性との
関係を評価するための測定用回路において、図示するパ
ターン2に150℃、10分間乾燥時、厚膜20〜24
ミクロンになるように印刷後、850℃、10分間保持
の条件で通常の電気式ベルト炉中で全焼成時間が30分
前後となるように酸化雰囲気焼成した。
スト組成物について、次の方法ではんだ付け時のはんだ
食われによる導電性(導通不良の発生有無)の評価を調
べた。実施例および比較例の導電性ペースト組成物を9
6%アルミナ基板1を用いて図1に示す導体ペースト組
成物を印刷、乾燥、焼成後のはんだ食われと導電性との
関係を評価するための測定用回路において、図示するパ
ターン2に150℃、10分間乾燥時、厚膜20〜24
ミクロンになるように印刷後、850℃、10分間保持
の条件で通常の電気式ベルト炉中で全焼成時間が30分
前後となるように酸化雰囲気焼成した。
【0020】このように焼成された実施例および比較例
の導電性ペースト組成物を約280℃に保たれた溶融共
晶はんだ(Sn:Pb=63:37)に、5秒、10
秒、15秒および20秒間浸漬したときの基板上に形成
された厚膜導体の抵抗値を、図1にあるように一般に使
用されている4端子法による抵抗値測定法を用いて測定
した。測定は、図1において、基板上に形成された厚膜
導体パターン2に電気的に接続された抵抗測定器(例え
ば、ADVANTEST R6871 DIGITAL MULTIMETER)3を使用し
た。結果を次の表3に示す。表3から、本発明に従った
Ag系導体成分を使用した導体ペースト組成物であっ
て、更に、導電性無機フィラーを含有するペーストがは
んだ食われによる導通不良を抑制することがわかる。も
ちろん、このような導電性ペースト組成物に求められる
他の基本的性能特性、例えば導電性、接着性、その他の
いずれもが実用上問題ない程度以上であることを確認し
ている。
の導電性ペースト組成物を約280℃に保たれた溶融共
晶はんだ(Sn:Pb=63:37)に、5秒、10
秒、15秒および20秒間浸漬したときの基板上に形成
された厚膜導体の抵抗値を、図1にあるように一般に使
用されている4端子法による抵抗値測定法を用いて測定
した。測定は、図1において、基板上に形成された厚膜
導体パターン2に電気的に接続された抵抗測定器(例え
ば、ADVANTEST R6871 DIGITAL MULTIMETER)3を使用し
た。結果を次の表3に示す。表3から、本発明に従った
Ag系導体成分を使用した導体ペースト組成物であっ
て、更に、導電性無機フィラーを含有するペーストがは
んだ食われによる導通不良を抑制することがわかる。も
ちろん、このような導電性ペースト組成物に求められる
他の基本的性能特性、例えば導電性、接着性、その他の
いずれもが実用上問題ない程度以上であることを確認し
ている。
【0021】
【表3】
【0022】
【発明の効果】本発明の代表的なものによって得られる
効果を簡単に説明すれば、以下の通りである。導電成分
の金属粉末と無機結合剤とベヒクルとを含むチップ抵抗
体の端子電極用導電性ペースト組成物に、Ag系導体成
分、はんだメッキ工程における耐メッキ液性を有したガ
ラス結合剤と、スズ、イリジウム、ロジウム、ルテニウ
ムおよびレニウムから選ばれる金属酸化物、パイロクロ
ルまたはホウ化物を単独、または2種以上の導電性無機
フィラーを含有させることによって、たとえAg系導電
成分がはんだに食われても導通を維持することができ
た。また、導電性ならびに接着力が十分で、はんだ濡れ
性および耐はんだ食われ性のすべての特性がバランスよ
く得られるチップ抵抗体の端子電極を形成することがで
きる導電性ペースト組成物が得られた。
効果を簡単に説明すれば、以下の通りである。導電成分
の金属粉末と無機結合剤とベヒクルとを含むチップ抵抗
体の端子電極用導電性ペースト組成物に、Ag系導体成
分、はんだメッキ工程における耐メッキ液性を有したガ
ラス結合剤と、スズ、イリジウム、ロジウム、ルテニウ
ムおよびレニウムから選ばれる金属酸化物、パイロクロ
ルまたはホウ化物を単独、または2種以上の導電性無機
フィラーを含有させることによって、たとえAg系導電
成分がはんだに食われても導通を維持することができ
た。また、導電性ならびに接着力が十分で、はんだ濡れ
性および耐はんだ食われ性のすべての特性がバランスよ
く得られるチップ抵抗体の端子電極を形成することがで
きる導電性ペースト組成物が得られた。
【図1】導電性ペースト組成物を印刷、乾燥、焼成後の
はんだ食われによる導電性の評価に用いられる測定用回
路を示す。
はんだ食われによる導電性の評価に用いられる測定用回
路を示す。
1 アルミナ基板 2 導電性ペースト組成物印刷、焼成パターン 3 4端子法による抵抗値測定装置
Claims (2)
- 【請求項1】 金属粉末からなる導電成分と無機結合剤
とをベヒクル中に分散させたチップ抵抗体の端子電極用
導電性ペースト組成物において、Ag単体、Agと他の
貴金属粉末の混合物および合金よりなる群から選ばれる
少なくとも1種を、50〜87重量%含有し、無機結合
剤としてPbOおよびSiO2を主成分として含有し、
Bi2O3を含まないガラス結合剤を、3〜10重量%、
且つスズ、イリジウム、ロジウム、ルテニウム、および
レニウムから選ばれる金属酸化物、パイロクロルまたは
ホウ化物を単独、または2種以上を0.1〜15重量%
含有することを特徴とするチップ抵抗体の端子電極用導
電性ペースト組成物。 - 【請求項2】 ガラス結合剤の成分は、更にB2O3を含
有することを特徴とする請求項1記載のチップ抵抗体の
端子電極用導電性ペースト組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9183216A JPH1074419A (ja) | 1996-06-25 | 1997-06-25 | チップ抵抗体の端子電極用導電性ペースト組成物 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18269996 | 1996-06-25 | ||
| JP8-182699 | 1996-06-25 | ||
| JP9183216A JPH1074419A (ja) | 1996-06-25 | 1997-06-25 | チップ抵抗体の端子電極用導電性ペースト組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1074419A true JPH1074419A (ja) | 1998-03-17 |
Family
ID=26501407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9183216A Pending JPH1074419A (ja) | 1996-06-25 | 1997-06-25 | チップ抵抗体の端子電極用導電性ペースト組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1074419A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001176327A (ja) * | 1999-12-14 | 2001-06-29 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性ペーストおよびこれを用いたセラミック電子部品 |
| KR100369564B1 (ko) * | 2000-09-04 | 2003-01-29 | 대주정밀화학 주식회사 | 칩 저항기 이차전극용 전도성 페이스트 조성물 |
| KR100581971B1 (ko) * | 2003-02-11 | 2006-05-22 | 주식회사 동진쎄미켐 | 미세 전극 형성용 고점도 Ag 페이스트 조성물 및 이를이용하여 제조된 미세 전극 |
| CN100385573C (zh) * | 2003-04-21 | 2008-04-30 | 上海宝银电子材料有限公司 | 一种氧化铟锡专用银浆料及其制造方法 |
| CN100409370C (zh) * | 2005-07-12 | 2008-08-06 | 中国印钞造币总公司 | 高温烧结银浆及其制备方法 |
-
1997
- 1997-06-25 JP JP9183216A patent/JPH1074419A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001176327A (ja) * | 1999-12-14 | 2001-06-29 | Murata Mfg Co Ltd | 導電性ペーストおよびこれを用いたセラミック電子部品 |
| KR100369564B1 (ko) * | 2000-09-04 | 2003-01-29 | 대주정밀화학 주식회사 | 칩 저항기 이차전극용 전도성 페이스트 조성물 |
| KR100581971B1 (ko) * | 2003-02-11 | 2006-05-22 | 주식회사 동진쎄미켐 | 미세 전극 형성용 고점도 Ag 페이스트 조성물 및 이를이용하여 제조된 미세 전극 |
| CN100385573C (zh) * | 2003-04-21 | 2008-04-30 | 上海宝银电子材料有限公司 | 一种氧化铟锡专用银浆料及其制造方法 |
| CN100409370C (zh) * | 2005-07-12 | 2008-08-06 | 中国印钞造币总公司 | 高温烧结银浆及其制备方法 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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