JPH1075940A - 位相シフト測定方法、位相シフト補正方法およびmri装置 - Google Patents

位相シフト測定方法、位相シフト補正方法およびmri装置

Info

Publication number
JPH1075940A
JPH1075940A JP9061528A JP6152897A JPH1075940A JP H1075940 A JPH1075940 A JP H1075940A JP 9061528 A JP9061528 A JP 9061528A JP 6152897 A JP6152897 A JP 6152897A JP H1075940 A JPH1075940 A JP H1075940A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gradient
phase
applying
data
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9061528A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3384944B2 (ja
Inventor
Takao Goto
隆男 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GE Healthcare Japan Corp
Original Assignee
GE Yokogawa Medical System Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GE Yokogawa Medical System Ltd filed Critical GE Yokogawa Medical System Ltd
Priority to JP06152897A priority Critical patent/JP3384944B2/ja
Priority to US08/858,378 priority patent/US6127825A/en
Priority to EP97305106A priority patent/EP0818689B1/en
Priority to DE69737898T priority patent/DE69737898T2/de
Priority to BR9704412-1A priority patent/BR9704412A/pt
Priority to KR1019970034039A priority patent/KR100533432B1/ko
Priority to CNB971146691A priority patent/CN100536768C/zh
Publication of JPH1075940A publication Critical patent/JPH1075940A/ja
Priority to US09/483,989 priority patent/US6218834B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3384944B2 publication Critical patent/JP3384944B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/44Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
    • G01R33/48NMR imaging systems
    • G01R33/54Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
    • G01R33/56Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
    • G01R33/565Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
    • G01R33/56518Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities due to eddy currents, e.g. caused by switching of the gradient magnetic field
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/081Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/44Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
    • G01R33/48NMR imaging systems
    • G01R33/54Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; Generation or control of pulse sequences; Operator console
    • G01R33/56Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques, e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
    • G01R33/565Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities
    • G01R33/56563Correction of image distortions, e.g. due to magnetic field inhomogeneities caused by a distortion of the main magnetic field B0, e.g. temporal variation of the magnitude or spatial inhomogeneity of B0

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 エンコード勾配等に起因する渦電流や残留磁
化の影響による位相シフトを正確に測定する。 【解決手段】 励起パルスRを送信し、反転パルスP1
を送信し、エンコード勾配gynを位相軸に印加し、通
常のリード勾配の前半分のリード勾配gxrをリード軸
に印加し、補償用パルスpypnを組み込んだリワインド勾
配gyrnを位相軸に印加し、反転パルスP2を送信し、デ
フェーザ勾配gywdnを位相軸に印加し、リードアウト勾
配gywnを位相軸に印加しながらエコーecho2からデータ
を収集し、そのデータを1次元フーリエ変換して得られ
た位相データを基にエンコード勾配gynやリワインド
勾配gyrnの影響によるエコーecho2の位相シフト量を求
める。求めた位相シフト量から補正値を決定し、それに
より補償用パルスpypnを更新する。これをエンコード勾
配gynを変えて、必要な回数だけ繰り返す。 【効果】 エンコード勾配等に起因する渦電流や残留磁
化の影響による位相シフトを高精度に補正でき、イメー
ジの画質を改善できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、位相シフト測定方
法、位相シフト補正方法およびMRI(Magnetic Res
onance Imaging)装置に関する。さらに詳しくは、先行
するエンコード勾配等に起因する渦電流や残留磁化の影
響による後続のエコーの位相シフトを測定する位相シフ
ト測定方法、その位相シフトを補正する位相シフト補正
方法およびそれらの方法を実施するMRI装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】スプリットエコートレイン(split echo
train)法は、一つのエコートレイン中の複数のエコー
を前半エコーと後半エコーとに分け、前半エコーから第
1のイメージ(proton weighted image)を生成し、後
半エコーから第2のイメージ(T2 weighted image)を
生成するものである。図37は、スプリットエコートレ
イン法のパルスシーケンス図である。このパルスシーケ
ンスでは、まず、励起パルスRとスライス勾配ssを印
加する。次に、前半の第1の反転パルスP1とスライス
勾配ssを印加する。次に、エンコード勾配gy1iを位相
軸に印加する。次に、リード勾配gxwを印加しなが
ら、エコーecho1からNMR信号を受信する。その後、
前記エンコード勾配gy1iと時間積分値が等しく逆極性の
リワインド勾配gyr1iを位相軸に印加する。なお、iは
繰り返し番号であり、i=1,2,…,I(たとえばI
=256)である。
【0003】次に、前半の第2の反転パルスP2とスラ
イス勾配ssを印加し、エンコード勾配gy2iを位相軸に
印加し、リード勾配gxwを印加しながらエコーecho2
からNMR信号を受信し、その後、前記エンコード勾配
gy2iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド勾配gyr
2iを位相軸に印加する。
【0004】次に、後半の第1の反転パルスP’1とス
ライス勾配ssを印加し、エンコード勾配gy'1iを位相
軸に印加し、リード勾配gxwを印加しながらエコーec
ho’1からNMR信号を受信し、その後、前記エンコー
ド勾配gy'1iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド
勾配gyr'1iを位相軸に印加する。
【0005】次いで、後半の第2の反転パルスP’2と
スライス勾配ssを印加し、エンコード勾配gy'2iを位
相軸に印加し、リード勾配gxwを印加しながらエコー
echo’2からNMR信号を受信し、その後、前記エンコ
ード勾配gy'2iと時間積分値が等しく逆極性のリワイン
ド勾配gyr'2iを位相軸に印加する。
【0006】このように前半の反転パルスPの送信から
リワインド勾配gyrの印加までをN/2(Nは、エコー
トレイン数。図37ではN=4)回反復し、次いで後半
の反転パルスP’の送信からリワインド勾配gyr'の印加
までをN/2(図37ではN=4)回反復した後、横磁
化をスポイル(spoil)するためのキラー勾配Kilを印
加する。なお、図37では、図示の都合上、N=4とし
たが、一般には、N>4とする。さらに、上記パルスシ
ーケンスを繰返し時間TRでi=1,2,…,Iについ
て実行し、前半のエコーechoから図38に示すK−空間
KSPのデータを収集し、後半のエコーecho’から図38
に示すK−空間KSP’のデータを収集する。エンコード
勾配gyによってK−空間KSPにおけるデータの位相軸
方向の位置が決まり、エンコード勾配gy’によってK
−空間KSP’におけるデータの位相軸方向の位置が決ま
る。位相軸のエンコード数は、I(N/2)となる。そ
して、K−空間KSPのデータから第1のイメージを作成
し、K−空間KSP’のデータから第2のイメージを作成
する。
【0007】図39は、従来の高速SE(Spin Ech
o)法のパルスシーケンスである。このパルスシーケン
スでは、まず、励起パルスRとスライス勾配ssを印加
する。次に、第1の反転パルスP1とスライス勾配ss
を印加する。次に、エンコード勾配gy1iを位相軸に印加
する。次に、リード勾配gxwを印加しながら、第1エ
コーecho1からNMR信号を受信する。その後、前記エ
ンコード勾配gy1iと時間積分値が等しく逆極性のリワイ
ンド勾配gyr1iを位相軸に印加する。なお、iは繰返し
番号であり、i=1,2,…,I(例えばI=128)
である。
【0008】次に、第2の反転パルスP2とスライス勾
配ssを印加し、エンコード勾配gy2iを位相軸に印加
し、リード勾配gxwを印加しながら第2エコーecho2
からNMR信号を受信し、その後、前記エンコード勾配
gy2iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド勾配gyr
2iを位相軸に印加する。
【0009】次に、第3の反転パルスP3とスライス勾
配ssを印加し、エンコード勾配gy3iを位相軸に印加
し、リード勾配gxwを印加しながら第3エコーecho3
からNMR信号を受信し、その後、前記エンコード勾配
gy3iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド勾配gyr
3iを位相軸に印加する。
【0010】次に、第4の反転パルスP4とスライス勾
配ssを印加し、エンコード勾配gy4iを位相軸に印加
し、リード勾配gxwを印加しながら第4エコーecho4
からNMR信号を受信し、その後、前記エンコード勾配
gy4iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド勾配gyr
4iを位相軸に印加する。
【0011】このように反転パルスPの送信からリワイ
ンド勾配gyrの受信までをN(図39ではN=4)回反
復した後、キラー勾配Kilを印加する。なお、図39で
は、図示の都合上、N=4としたが、実際は、N>4と
するのが普通である。さらに、上記パルスシーケンスを
繰返し時間TRでi=Iまで繰り返し、エコーechoによ
り図40に示すK−空間KSPのデータを収集する。エン
コード勾配gyによってK−空間KSPにおけるデータの
位相軸方向の位置が決まる。位相軸のエンコード数はI
・Nとなる。そして、K−空間KSPのデータからイメー
ジを作成する。
【0012】図37に示すスプリットエコートレイン法
のパルスシーケンスでは、繰返し時間TRを短縮するた
めに、エンコード勾配gy,gy’の波形の振幅を大き
くし、それに合せて時間幅tgyを短くしている。また、
図39に示す高速SE法のパルスシーケンスでも、繰返
し時間TRを短縮するために、エンコード勾配gyの波
形の振幅を大きくし、それに合せて時間幅tgyを短くし
ている。ところが、勾配パルスの振幅を大きくし時間幅
を短くするほど、勾配コイルの周辺の導体に渦電流を生
じる。そして、渦電流を生じると、それらの影響により
エコー毎の位相シフトが大きくなる。そして、位相シフ
トは、イメージ上に位相軸方向のゴーストとなって現わ
れ、アーチファクトを発生させる。このようなゴースト
を低減させる従来技術として、プリスキャンでエンコー
ド勾配を印加せずにプリスキャンデータを収集し、その
プリスキャンデータをK−空間の周波数軸方向に1次元
フーリエ変換して位相データを得て、その位相データを
基にリード勾配や反転パルスPのオフセット位相を補正
してイメージ作成用の本スキャンを行なう方法(「R.Sc
ott Hinks, et al., Proc.SMR, 1995, p634」参照)
が提案されている。また、イメージ作成用の本スキャン
を行った後に、エンコード勾配を印加せずに補正用デー
タを収集し、画像再構成計算時に前記補正用データを基
に位相補正処理を行う方法(「Xin Wan, Dennis L.Park
er, etal., Mag. Reso. in Med., 34, pp632-638, 199
5」参照)も提案されている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】永久磁石型MRI装置
においても、上記渦電流による位相シフトの問題がある
が、渦電流の外に残留磁化による位相シフトの問題も生
じる。すなわち、パルスの振幅を大きくするほど、例え
ば整磁板に残留磁化を生じ、この残留磁化が位相シフト
に大きな影響を与える。しかし、上述の従来技術では、
エンコード勾配を印加せずに補正用データを収集するた
め、その補正用データは残留磁化の影響を含んでおら
ず、残留磁化の影響による位相シフトを補正することが
できない問題点がある。そこで、本発明の第1の目的
は、先行するエンコード勾配等に起因する渦電流や残留
磁化の影響による後続のエコーの位相シフトを測定する
位相シフト測定方法を提供することにある。また、本発
明の第2の目的は、その位相シフトを補正して、エンコ
ード勾配等に起因する渦電流や残留磁化の影響によるイ
メージの画質の劣化を防止することが出来る位相シフト
補正方法を提供することにある。さらに、本発明の第3
の目的は、上記位相シフト測定方法および位相シフト補
正方法を実施しうるMRI装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】第1の観点では、本発明
は、励起パルスを送信し、反転パルスを送信し、エンコ
ード勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリード軸に印
加し、リワインド勾配を位相軸に印加することを1回以
上行い、続いて、反転パルスを送信し、デフェーザ(de
phaser)勾配を位相軸に印加し、リードアウト(read o
ut)勾配を位相軸に印加しながらエコーからデータを収
集し、そのデータを1次元フーリエ変換して得られた位
相データを基に前記エンコード勾配の影響による位相シ
フト量を求めることを特徴とする位相シフト測定方法を
提供する。
【0015】上記第1の観点による位相シフト測定方法
では、リード勾配を印加せずに、デフェーザ勾配および
リードアウト勾配を位相軸に印加しながらエコーからデ
ータを収集する。このデータは、K−空間における位相
軸に沿った軌跡(trajectory)上のデータになってい
る。そこで、このデータを1次元フーリエ変換して得ら
れた位相データから1次の位相シフト(K−空間の位相
軸に沿って位相シフト量が1次の変化を示す位相シフト
成分)を正確に知ることが出来る。従って、エンコード
勾配,リード勾配およびリワインド勾配を印加した後、
これを行えば、エンコード勾配等に起因する渦電流や残
留磁化の影響による位相シフトを正確に測定できること
になる。
【0016】第1の変形として、本発明は、上記第1の
観点による位相シフト測定方法において、前記デフェー
ザ勾配と前記リードアウト勾配の極性を反転してデータ
を収集し、そのデータを1次元フーリエ変換して得られ
た位相データと極性を反転する前に得られた位相データ
とを基に前記エンコード勾配の影響による位相シフト量
を求めることを特徴とする位相シフト測定方法を提供す
る。デフェーザ勾配によっても渦電流が生じるので、そ
の影響を除去しないと本スキャンの場合と異なる測定結
果が出かねない。ところで、デフェーザ勾配の極性を逆
にしても、それによる渦電流の作用は1次の位相シフト
については同方向に作用する。一方、先行するエンコー
ド勾配等による位相シフトは、デフェーザ勾配の極性を
逆にすると、1次の位相シフトについては逆方向に作用
する。そこで、デフェーザ勾配の極性を反転したときの
データと反転していないときのデータの差をとれば、デ
フェーザ勾配による渦電流の影響を除去でき、先行する
エンコード勾配等による位相シフトを正確に測定でき
る。
【0017】第2の観点では、本発明は、励起パルスを
送信し、反転パルスを送信し、エンコード勾配を位相軸
に印加し、リード勾配をリード軸に印加し、リワインド
勾配を位相軸に印加することを2回以上繰り返し、続い
て、反転パルスを送信し、デフェーザ勾配を位相軸に印
加し、リードアウト勾配を位相軸に印加しながらエコー
から第1のデータを収集し、リフェーザ(rephaser)勾
配を位相軸に印加し、続いて、反転パルスを送信し、デ
フェーザ勾配を位相軸に印加し、リードアウト勾配を位
相軸に印加しながらエコーから第2のデータを収集し、
前記第1のデータを1次元フーリエ変換して得られた位
相データと前記第2のデータを1次元フーリエ変換して
得られた位相データとを基に前記エンコード勾配の影響
による位相シフト量を求めることを特徴とする位相シフ
ト測定方法を提供する。エンコード勾配が“0”でも位
相シフトは“0”でなく、オフセットの位相シフト分が
存在する。このオフセットの位相シフト分は、第1のデ
ータでも第2のデータでも同方向である。一方、第1の
データと第2のデータを収集する間には反転パルスがあ
るので、先行するエンコード勾配等による位相シフト
は、第1のデータと第2のデータとで逆方向になる。そ
こで、第1のデータと第2のデータの差をとれば、オフ
セットの位相シフト分を除去でき、先行するエンコード
勾配等による位相シフトを正確に測定できる。
【0018】第2の変形として、本発明は、上記第2の
観点による位相シフト測定方法において、前記デフェー
ザ勾配と前記リードアウト勾配と前記リフェーザ勾配の
極性を反転して第1のデータおよび第2のデータを収集
し、それらのデータを1次元フーリエ変換して得られた
各位相データと極性を反転する前に得られた各位相デー
タとを基に前記エンコード勾配の影響による位相シフト
量を求めることを特徴とする位相シフト測定方法を提供
する。デフェーザ勾配とリフェーザ勾配によっても渦電
流が生じるので、その影響を除去しないと本スキャンの
場合と異なる測定結果が出かねない。ところで、デフェ
ーザ勾配とリフェーザ勾配の極性を逆にしても、それに
よる渦電流の作用は1次の位相シフトについては同方向
に作用する。一方、先行するエンコード勾配等による位
相シフトは、デフェーザ勾配の極性を逆にすると、1次
の位相シフトについては逆方向に作用する。そこで、デ
フェーザ勾配とリフェーザ勾配の極性を反転したときの
データと反転していないときのデータの差をとれば、デ
フェーザ勾配とリフェーザ勾配による渦電流の影響を除
去でき、先行するエンコード勾配等による位相シフトを
正確に測定できる。
【0019】第3の変形として、本発明は、上記第1の
観点から第2の観点の変形までの構成の位相シフト測定
方法において、スティミュレーティッドエコー(stimul
atedecho)を除去するためのクラッシャ(crusher)勾
配をスライス軸に印加することを特徴とする位相シフト
測定方法を提供する。位相シフトを測定したいエコーに
対して、スティミュレーティッドが重なると、位相シフ
トを正確に測定する妨げとなる。そこで、クラッシャ勾
配をスライス軸に印加してスティミュレーティッドエコ
ーを除去すれば、位相シフトを正確に測定できるように
なる。
【0020】第3の観点では、本発明は、励起パルスを
送信し、反転パルスを送信し、エンコード勾配を位相軸
に印加し、リード勾配をリード軸に印加し、リワインド
勾配を位相軸に印加することを1回以上行い、続いて、
反転パルスを送信し、位相軸には勾配を印加せず、リー
ド勾配をリード軸に印加しながらエコーからデータを収
集し、そのデータを1次元フーリエ変換して得られた位
相データを基に前記エンコード勾配の影響による0次の
位相シフト量を求めることを特徴とする位相シフト測定
方法を提供する。前記第1の観点から第3の変形までの
位相シフト測定方法でも0次の位相シフトを測定しうる
が、デフェーザ勾配やリードアウト勾配が0次の位相シ
フトに影響を与えてしまう可能性がある。上記第3の観
点による位相シフト測定方法では、位相軸に勾配を印加
せずにデータを収集するため、0次の位相シフト量を正
確に求めることが出来る。
【0021】第4の観点では、本発明は、励起パルスを
送信し、反転パルスを送信し、エンコード勾配を位相軸
に印加し、リード勾配をリード軸に印加し、リワインド
勾配を位相軸に印加することを2回以上繰り返し、続い
て、反転パルスを送信し、位相軸には勾配を印加せず、
リード勾配をリード軸に印加しながらエコーから第1の
データを収集し、続いて、反転パルスを送信し、位相軸
には勾配を印加せず、リード勾配をリード軸に印加しな
がらエコーから第2のデータを収集し、前記第1のデー
タを1次元フーリエ変換して得られた位相データと前記
第2のデータを1次元フーリエ変換して得られた位相デ
ータとを基に前記エンコード勾配の影響による0次の位
相シフト量を求めることを特徴とする位相シフト測定方
法を提供する。エンコード勾配が“0”でも0次の位相
シフトは“0”でなく、オフセットの位相シフト分が存
在する。このオフセットの位相シフト分は、第1のデー
タでも第2のデータでも同方向である。一方、第1のデ
ータと第2のデータを収集する間には反転パルスがある
ので、先行するエンコード勾配等による位相シフトは、
第1のデータと第2のデータとで逆方向になる。そこ
で、第1のデータと第2のデータの差をとれば、オフセ
ットの位相シフト分を除去でき、先行するエンコード勾
配等による位相シフトを正確に測定できる。また、前記
第1の変形による位相シフト測定方法でも0次の位相シ
フトを測定しうるが、デフェーザ勾配やリードアウト勾
配が0次の位相シフトに影響を与えてしまう可能性があ
る。上記第4の観点による位相シフト測定方法では、位
相軸に勾配を印加せずにデータを収集するため、0次の
位相シフト量を正確に求めることが出来る。
【0022】第5の観点では、本発明は、励起パルスを
送信し、第jの反転パルスを送信し、第jのエンコード
勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリード軸に印加し
ながら第jのエコーからデータを収集し、第jのリワイ
ンド勾配を位相軸に印加することを、j=1〜Nについ
て繰り返し、前半のエコーから収集したデータを基に第
1のイメージを作成し、後半のエコーから収集したデー
タを基に第2のイメージを作成するスプリットエコート
レイン法において、前半のエンコード勾配およびリワイ
ンド勾配の影響による後半のエコーの1次の位相シフト
を補正するための補償用パルスを、前半の最後のエコー
の前のエンコード勾配に組み込むか、そのエンコード勾
配の直前または直後の一方または両方に付加するか、前
半の最後のエコーの後のリワインド勾配に組み込むか、
そのリワインド勾配の直前または直後の一方または両方
に付加することを特徴とする位相シフト補正方法を提供
する。上記第5の観点による位相シフト補正方法では、
前半の最後のエンコード勾配やリワインド勾配のところ
に補償用パルスを入れるため、前半のエンコード勾配等
の作るデフェーズ分が後半のエコーの間に大きな位相シ
フトを生じることを防止できる。従って、第2のイメー
ジの画質の劣化を防止することが出来る。
【0023】第4の変形として、本発明は、上記第5の
観点の位相シフト補正方法において、上記第1の観点か
ら第3の変形による位相シフト測定方法により測定した
位相シフト量を基に、前記補償用パルスによる補正値を
決定することを特徴とする位相シフト補正方法を提供す
る。上記第4の変形による位相シフト補正方法では、上
記第1の観点から第3の変形による位相シフト測定方法
により正確に測定した位相シフト量を基に補正値を決め
るから、前半のエンコード勾配の作るデフェーズ分が後
半のエコーの間に大きな位相シフトを生じることを高精
度に防止できる。従って、第2のイメージの画質の劣化
を好適に防止することが出来る。
【0024】第5の変形として、本発明は、上記第4の
変形の位相シフト補正方法において、前半のエンコード
勾配の極性のパターンの種類が異なるものは少なくとも
別のグループとし、各グループを代表する1以上のエン
コード勾配についての補正値は、前記第1の観点から第
3の変形による位相シフト測定方法により位相シフト量
を測定して決定し、各グループを代表しないエンコード
勾配についての補正値は、同じグループに属するエンコ
ード勾配についての前記決定した補正値を基に計算で求
めるか又は前記決定した補正値をそのまま流用すること
を特徴とする位相シフト補正方法を提供する。前半のエ
ンコード勾配の極性のパターンの種類が異なると、それ
に起因する渦電流や残留磁化の発生具合も異なり、その
影響による位相シフトも異なってくる。そこで、上記第
5の変形による位相シフト補正方法では、前半のエンコ
ード勾配の極性のパターンの種類が異なるものについて
は、それぞれ別個に上記第1の観点から第3の変形によ
る位相シフト測定方法により位相シフト量を測定する。
一方、前半のエンコード勾配の極性のパターンの種類が
同じものについては、実際の測定を行った結果を基に計
算(例えば比例計算)するか又はそのまま流用する。こ
れにより、プリスキャン時間の短縮と補正の精度を調和
させることが出来る。
【0025】第6の観点では、本発明は、励起パルスを
送信し、第jの反転パルスを送信し、第jのエンコード
勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリード軸に印加し
ながら第jのエコーからデータを収集し、第jのリワイ
ンド勾配を位相軸に印加することを、j=1〜Nについ
て繰り返し、前半のエコーから収集したデータを基に第
1のイメージを作成し、後半のエコーから収集したデー
タを基に第2のイメージを作成するスプリットエコート
レイン法において、前半のエンコード勾配およびリワイ
ンド勾配の影響による後半のエコーの0次の位相シフト
を補正するためのオフセット位相を、後半の反転パルス
に与えるか、エコーの検波位相に与えるか、両方に与え
ることを特徴とする位相シフト補正方法を提供する。上
記第6の観点による位相シフト補正方法では、後半の反
転パルスにオフセット位相を与えて送信するか、受信後
のエコーの位相検波時にオフセット位相を与えてか、両
方を行うことにより、後半のエコーに0次の位相シフト
を生じることを防止できる。従って、第2のイメージの
画質の劣化を防止することが出来る。
【0026】第6の変形として、本発明は、前記第6の
観点の位相シフト補正方法において、前記第3の観点ま
たは第4の観点による位相シフト測定方法により測定し
た0次の位相シフト量を基に、オフセット位相を決定す
ることを特徴とする位相シフト補正方法を提供する。上
記第6の変形による位相シフト補正方法では、上記第3
の観点または第4の観点の位相シフト測定方法により正
確に測定した位相シフト量を基にオフセット位相を決め
るから、後半のエコーに0次の位相シフトを生じること
を高精度に防止できる。従って、第2のイメージの画質
の劣化を好適に防止することが出来る。
【0027】第7の変形として、本発明は、上記第6の
変形の位相シフト補正方法において、前半のエンコード
勾配の極性のパターンの種類が異なるものは少なくとも
別のグループとし、各グループを代表する1以上のエン
コード勾配についてのオフセット位相は、前記第3の観
点または第4の観点の位相シフト測定方法により0次の
位相シフト量を測定して決定し、各グループを代表しな
いエンコード勾配についてのオフセット位相は、同じグ
ループに属するエンコード勾配についての前記決定した
オフセット位相を基に計算で求めるか又は前記決定した
オフセット位相をそのまま流用することを特徴とする位
相シフト補正方法を提供する。前半のエンコード勾配の
極性のパターンの種類が異なると、それに起因する渦電
流や残留磁化の発生具合も異なり、その影響による0次
の位相シフトも異なってくる。そこで、上記第7の変形
による位相シフト補正方法では、前半のエンコード勾配
の極性のパターンの種類が異なるものについては、それ
ぞれ別個に上記第3の観点または第4の観点の位相シフ
ト測定方法により0次の位相シフト量を測定する。一
方、前半のエンコード勾配の極性のパターンの種類が同
じものについては、実際の測定を行った結果を基に計算
(例えば比例計算)するか又はそのまま流用する。これ
により、プリスキャン時間の短縮と補正の精度を調和さ
せることが出来る。
【0028】第7の観点では、本発明は、励起パルスを
送信した後、反転パルスを送信し、エンコード勾配を位
相軸に印加し、リード勾配をリード軸に印加しながらエ
コーからデータを収集し、リワインド勾配を位相軸に印
加することを、複数回繰り返し、収集したデータをイメ
ージを作成する高速スピンエコー法において、先行する
エンコード勾配およびリワインド勾配の影響による後続
のエコーの1次の位相シフトを補正するための補償用パ
ルスを、各エンコード勾配に組み込むか、各エンコード
勾配の直前または直後の一方または両方に付加するか、
各リワインド勾配に組み込むか、各リワインド勾配の直
前または直後の一方または両方に付加することを特徴と
する位相シフト補正方法を提供する。上記第7の観点に
よる位相シフト補正方法では、高速スピンエコー法にお
ける複数のエンコード勾配やリワインド勾配のそれぞれ
のところに補償用パルスを入れるため、先行するエンコ
ード勾配等の作るデフェーズ分が後続のエコーに位相シ
フトを生じることを防止できる。従って、イメージの画
質の劣化を防止することが出来る。
【0029】第8の変形として、本発明は、前記第7の
観点の位相シフト補正方法において、前記第1の観点ま
たは第1の変形の位相シフト測定方法により測定した位
相シフト量を基に、前記補償用パルスによる補正値を決
定することを特徴とする位相シフト補正方法を提供す
る。上記第8の変形による位相シフト補正方法では、上
記第1の観点または第1の変形の位相シフト測定方法に
より正確に測定した位相シフト量を基に補正値を決める
から、位相シフトを高精度に防止できる。従って、イメ
ージの画質の劣化を好適に防止することが出来る。
【0030】第9の変形として、本発明は、上記第8の
変形の位相シフト補正方法において、エンコード勾配の
極性のパターンの種類が異なるものは少なくとも別のグ
ループとし、各グループを代表する1以上のエンコード
勾配についての補正値は、前記第1の観点または第1の
変形のいずれかに記載の位相シフト測定方法により位相
シフト量を測定して決定し、各グループを代表しないエ
ンコード勾配についての補正値は、同じグループに属す
るエンコード勾配についての前記決定した補正値を基に
計算で求めるか又は前記決定した補正値をそのまま流用
することを特徴とする位相シフト補正方法を提供する。
エンコード勾配の極性のパターンの種類が異なると、そ
れに起因する渦電流や残留磁化の発生具合も異なり、そ
の影響による位相シフトも異なってくる。そこで、上記
第9の変形による位相シフト補正方法では、エンコード
勾配の極性のパターンの種類が異なるものについては、
それぞれ別個に上記第1の観点または第1の変形による
位相シフト測定方法により位相シフト量を測定する。一
方、エンコード勾配の極性のパターンの種類が同じもの
については、実際の測定を行った結果を基に計算(例え
ば比例計算)するか又はそのまま流用する。これによ
り、プリスキャン時間の短縮と補正の精度を調和させる
ことが出来る。
【0031】第10の変形として、本発明は、上記第8
の観点または第9の変形の位相シフト補正方法におい
て、イメージを作成する高速スピンエコー法のパルスシ
ーケンスの2番目のリード勾配を印加せず、その代り
に、前記デフェーザ勾配を位相軸に印加し、前記リード
アウト勾配を位相軸に印加しながらエコーからデータを
収集し、そのデータにより2番目のエコーのための補償
用パルスを決定し、これを3番目以降のリード勾配につ
いても1つ1つ行って、各エコーのための補償用パルス
を決定することを特徴とする位相シフト補正方法を提供
する。上記第10の変形による位相シフト補正方法で
は、イメージ作成用の本スキャンのパルスシーケンスと
最小限異なるプリスキャンのパルスシーケンスを用い
て、各エコーのための補償用パルスを1つ1つ決定する
ため、プリスキャン時間は長くなるが、補正の精度を高
くすることが出来る。
【0032】第8の観点では、本発明は、RFパルス送
信手段と、勾配磁場印加手段と、NMR信号受信手段と
を備えたMRI装置において、励起パルスを送信し、反
転パルスを送信し、エンコード勾配を位相軸に印加し、
リード勾配をリード軸に印加し、リワインド勾配を位相
軸に印加することを1回以上行い、続いて、反転パルス
を送信し、デフェーザ勾配を位相軸に印加し、リードア
ウト勾配を位相軸に印加しながらNMR信号を受信して
データを収集し、そのデータを1次元フーリエ変換し、
得られた位相データを基に前記エンコード勾配の影響に
よる位相シフトを補正するための補正値を決定する位相
シフト補正値決定手段を具備し、前記決定した補正値を
基に、1次の位相シフトを補正するための補償用パルス
を、イメージ作成用のパルスシーケンスのエンコード勾
配に組み込むか、エンコード勾配の直前または直後の一
方または両方に付加するか、リワインド勾配に組み込む
か、リワインド勾配の直前または直後の一方または両方
に付加することを特徴とするMRI装置を提供する。上
記第8の観点のMRI装置では、前記第1の観点から第
3の変形による位相シフト測定方法を好適に実施でき
る。また、前記第5の観点から第5の変形または第7の
観点から第10の変形による位相シフト補正方法を好適
に実施できる。従って、位相シフトによるアーチファク
トのないイメージを得ることが出来る。
【0033】第9の観点では、本発明は、RFパルス送
信手段と、勾配磁場印加手段と、NMR信号受信手段と
を備えたMRI装置において、励起パルスを送信し、反
転パルスを送信し、エンコード勾配を位相軸に印加し、
リード勾配をリード軸に印加し、リワインド勾配を位相
軸に印加することを1回以上行い、続いて、反転パルス
を送信し、位相軸には勾配を印加せず、リード勾配をリ
ード軸に印加しながらエコーからデータを収集し、その
データを1次元フーリエ変換して得られた位相データを
基に前記エンコード勾配の影響による0次の位相シフト
を補正するための補正値を決定する位相シフト補正値決
定手段を具備し、前記決定した補正値を基に、0次の位
相シフトを補正するためのオフセット位相を、反転パル
スに与えるか、エコーの検波位相に与えるか、両方に与
えることを特徴とするMRI装置を提供する。上記第9
の観点のMRI装置では、前記第3の観点または第4の
観点による位相シフト測定方法を好適に実施できる。ま
た、前記第6の観点から第7の変形による位相シフト補
正方法を好適に実施できる。従って、位相シフトによる
アーチファクトのないイメージを得ることが出来る。
【0034】第10の観点では、本発明は、RFパルス
送信手段と、勾配磁場印加手段と、NMR信号受信手段
とを備えたMRI装置において、励起パルスを送信し、
第1の反転パルスを送信し、位相軸には勾配を印加せ
ず、リード勾配をリード軸に印加しながら第1のエコー
からデータを収集し、そのデータを1次元フーリエ変換
して得られた位相データを基に第1の0次項φ0を求め
ると共に、励起パルスを送信し、第1の反転パルスを送
信し、エンコード勾配を位相軸に印加し、リード勾配を
リード軸に印加し、リワインド勾配を位相軸に印加し、
続いて、第2の反転パルスを送信し、位相軸には勾配を
印加せず、リード勾配をリード軸に印加しながら第2の
エコーからデータを収集し、そのデータを1次元フーリ
エ変換して得られた位相データを基に第2の0次項φ1
を求め、前記第1の0次項φ0と前記第2の0次項φ1
を基に前記エンコード勾配の影響による0次の位相シフ
トを補正するための補正値を決定する位相シフト補正値
決定手段を具備し、前記決定した補正値を基に、0次の
位相シフトを補正するためのオフセット位相を、第2の
反転パルス以降の反転パルスに与えるか、エコーの検波
位相に与えるか、両方に与えることを特徴とするMRI
装置を提供する。なお、第1のエコーからデータを収集
する代りに第2のエコーからデータを収集し、そのデー
タを1次元フーリエ変換して得られた位相データを基に
前記第1の0次項φ0を求めても等価であり、本発明の
範囲に含まれる。デフェーザ勾配とリフェーザ勾配を加
えると、それらによっても渦電流が生じるので、その影
響を除去しないと本スキャンの場合と異なる測定結果が
出かねない。そこで、上記第10の観点のMRI装置で
は、デフェーザ勾配とリフェーザ勾配を全く用いないよ
うにした。これにより、デフェーザ勾配とリフェーザ勾
配による渦電流の影響を除去でき、先行するエンコード
勾配等による位相シフトを正確に測定できる。従って、
位相シフト補正を好適に実施でき、位相シフトによるア
ーチファクトのないイメージを得ることが出来る。
【0035】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態により本
発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
【0036】図1は、本発明の第1の実施形態〜第9の
実施形態に共通するMRI装置のブロック図である。こ
のMRI装置100において、マグネットアセンブリ1
は、内部に被検体を挿入するための空間部分(孔)を有
し、この空間部分を取りまくようにして、被検体に一定
の主磁場を印加する永久磁石1pと、スライス軸,位相
軸,リード軸の勾配磁場を発生するための勾配磁場コイ
ル1gと、被検体内の原子核のスピンを励起するための
RFパルスを与える送信コイル1tと、被検体からのN
MR信号を検出する受信コイル1rとが配置されてい
る。前記勾配磁場コイル1g,送信コイル1tおよび受
信コイル1rは、それぞれ勾配磁場駆動回路3,RF電
力増幅器4および前置増幅器5に接続されている。
【0037】シーケンス記憶回路8は、計算機7からの
指令に従い、記憶しているパルスシーケンスに基づいて
勾配磁場駆動回路3を操作し、前記マグネットアセンブ
リ1の勾配磁場コイル1gから勾配磁場を発生させると
共に、ゲート変調回路9を操作し、RF発振回路10の
搬送波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパ
ルス状信号に変調し、それをRFパルスとしてRF電力
増幅器4に加え、RF電力増幅器4でパワー増幅した
後、前記マグネットアセンブリ1の送信コイル1tに印
加し、目的のスライス領域を選択励起する。
【0038】前置増幅器5は、マグネットアセンブリ1
の受信コイル1rで検出された被検体からのNMR信号
を増幅し、位相検波器12に入力する。位相検波器12
は、RF発振回路10の搬送波出力信号を参照信号と
し、前置増幅器5からのNMR信号を位相検波して、A
/D変換器11に与える。A/D変換器11は、位相検
波後のアナログ信号をディジタル信号に変換して、計算
機7に入力する。計算機7は、A/D変換器11からデ
ータを読み込み、画像再構成演算を行い、目的のスライ
ス領域のイメージを生成する。このイメージは、表示装
置6にて表示される。また、計算機7は、操作卓13か
ら入力された情報を受け取るなどの全体的な制御を受け
持つ。
【0039】−第1の実施形態− 第1の実施形態では、スプリットエコートレイン法にお
ける1次および0次の位相シフトを補正する。スプリッ
トエコートレイン法では、第1のイメージを生成するた
めに印加する前半のエンコード勾配gyの作るデフェー
ズ分が、第2のイメージを生成するための後半のエコー
収集時間(リード勾配gxwを印加する時間)内に加わ
り、後半のエコーecho’の間に大きな位相シフトを生じ
る。この位相シフトは、K−空間の位相軸に対して1次
の変化をする位相シフト量を持つので、1次の位相シフ
トと呼ぶ。また、RFシールドやコイル配置の不整合な
どにより勾配磁場が0次項(B0成分)を含む。その勾
配磁場の0次項は、場所依存性のない均一成分ではある
が、結果的に渦電流のような指数関数で落ちる時間特性
を有し、位相シフトの原因となる。この位相シフトを0
次の位相シフトと呼ぶ。
【0040】図2および図3は、スプリットエコートレ
イン法における1次および0次の位相シフトを補正する
ために加える補正値を決定するための位相シフト補正値
決定処理を示すフロー図である。
【0041】ステップS1では、図4,図6,図7,図
8に示すプリスキャンのパルスシーケンスにおける補償
用パルスgyp1iの振幅agyp1i の初期値を適当な値にセ
ットする。ここで、iは繰返し番号である。どのような
iを選ぶかについては後述する。
【0042】ステップS2では、エンコード勾配gyの
極性が正の場合は図4に示すプリスキャンのパルスシー
ケンスにより、エンコード勾配gyの極性が負の場合は
図7に示すプリスキャンのパルスシーケンスにより、後
半のエコーecho'1,echo'2からそれぞれデータを収集す
る。図4,図7に示すプリスキャンのパルスシーケンス
では、まず、励起パルスRとスライス勾配ssを印加す
る。次に、前半の第1の反転パルスP1とスライス勾配
ssを印加する。次に、エンコード勾配gy1iを位相軸に
印加する。次に、リード勾配gxwを印加する。その
後、前記エンコード勾配gy1iと時間積分値が等しく逆極
性のリワインド勾配gyr1iを位相軸に印加する。図4は
エコートレイン数N=4の場合であるが、N>4の場合
には、同様に、反転パルスPの送信からリワインド勾配
gyrの印加までを(N/2−1)回反復する。次に、前
半の最後の反転パルスP2とスライス勾配ssを印加
し、エンコード勾配gy2iを位相軸に印加する。次に、前
記リード勾配gxwの前半分のリード勾配gxrを印加
し、リード勾配をリフェーズ(rephase)する。この後
は、リード勾配は“0”とする。次いで、前記エンコー
ド勾配gy2iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド勾
配gyr2iを位相軸に印加する。なお、破線で示すよう
に、リード勾配gxrの代りに通常と同じリード勾配g
xwを印加し、その後で、リード勾配gxwの半分の面
積のリード軸リワインド勾配gxr’を印加しても等価
である。
【0043】次に、エンコード勾配gyと逆極性の補償
用パルスgyp1iを位相軸に印加する。続いて、スティミ
ュレーテッドエコーを取り除くためのクラッシャ勾配g
zi,gzriを前後に付けて、後半の第1の反転パルス
P’1とスライス勾配ssを印加する。次に、前記リワ
インド勾配gyr2iと等しいデフェーザ勾配gywd1iを位相
軸に印加する。次に、リードアウト勾配gyw1iを位相軸
に印加しながらエコーecho’1からNMR信号を受信
し、その後、前記デフェーザ勾配gywd1iと等しいリフェ
ーザ勾配gywr1iを位相軸に印加する。図5に、図4のパ
ルスシーケンスの前半の最後のエンコード勾配gy2iから
リードアウト勾配gyw1iまでのK−空間KSPでの軌跡を
示す。エコーecho’1からデータを収集する時には、K
y軸上のNMR信号成分のみを受信することになる。こ
の意味から、前記デフェーザ勾配gywd1i,リードアウト
勾配gyw1iおよびリフェーザ勾配gywr1iを位相軸プロジ
ェクション(Y projection)パルスYpg1iという。
【0044】次に、後半の第2の反転パルスP’2とス
ライス勾配ssを印加する。次に、前記位相軸プロジェ
クションパルスYpg1iと等しい位相軸プロジェクション
パルスYpg2iを位相軸に印加しながらエコーecho'2から
NMR信号を受信する。そして、最後に、横磁化をスポ
イルするためのキラー勾配Kilを印加する。
【0045】図4,図7におけるτi1,τi2は、リード
アウト勾配gywの中心とエコーecho’の中心の時間ずれ
である。この時間ずれτi1,τi2は、エンコード勾配gy
1i,gy2iに起因する渦電流および残留磁化の影響を表し
ている。フーリエ変換の性質から、収集したデータを1
次元フーリエ変換した結果の位相の1次項として、時間
ずれτi1,τi2を正確に知ることが出来る。すなわち、
エンコード勾配gy1i,gy2iに起因する渦電流および残留
磁化の影響を正確に知ることが出来る。
【0046】図3に戻り、ステップS3では、エコーec
ho’1,echo’2から得られた各データを1次元フーリ
エ変換し、その結果の位相データを最小二乗法等を用い
てフィッティング(curve fitting) し、その結果の各
1次項di1,di2と0次項B0i1,B0i2を求める。ス
テップS4では、次式により1次の位相シフト量φi+を
求める。 φi+={(di1−di2)/2}Xres・106/(γ・fov) …(1) ここで、(di1−di2)/2は、エンコード勾配gyが
“0”でも生じるオフセットの位相シフト分を打ち消す
操作である。また、Xres は、エコーecho’のサンプリ
ングポイント数である。また、γは、磁気回転比であ
る。また、fovは、撮像視野(field of view)の大き
さ(cm)である。
【0047】ステップS5では、次式により0次の位相
シフト量ΔB0i+を求める。 ΔB0i+=(B0i1−B0i2)/2 これは、エンコード勾配gyが“0”でも生じるオフセ
ットの位相シフト分を打ち消す操作である。
【0048】図3に進み、ステップS6では、エンコー
ド勾配gyの極性が正の場合は図6に示すプリスキャン
のパルスシーケンスにより、エンコード勾配gyの極性
が負の場合は図8に示すプリスキャンのパルスシーケン
スにより、後半のエコーecho'1,echo'2からそれぞれデ
ータを収集する。図6,図8に示すプリスキャンのパル
スシーケンスは、図4,図7に示すプリスキャンのパル
スシーケンスの位相軸プロジェクションパルスYpgの極
性を逆にしたものである。
【0049】図3に戻り、ステップS7では、エコーec
ho’1,echo’2から得られた各データを1次元フーリ
エ変換し、その結果の位相データを最小二乗法等を用い
てフィッティングし、その結果の各1次項di1,di2と
0次項B0i1,B0i2を求める。ステップS8では、次
式により1次の位相シフト量φi-を求める。 φi-={(di1−di2)/2}Xres・106/(γ・f
ov) ここで、(di1−di2)/2は、エンコード勾配gyが
“0”でも生じるオフセットの位相シフト分を打ち消す
操作である。また、Xres は、エコーecho’のサンプリ
ングポイント数である。また、γは、磁気回転比であ
る。また、fovは、撮像視野の大きさである。
【0050】ステップS9では、次式により0次の位相
シフト量ΔB0i-を求める。 ΔB0i-=(B0i1−B0i2)/2 これは、エンコード勾配gyが“0”でも生じるオフセ
ットの位相シフト分を打ち消す操作である。
【0051】ステップS10では、次式により1次の位
相シフト量φiを求める。 φi={(φi+)−(φi-)}/2 これは、位相軸プロジェクションパルスYpgにより発生
する渦電流の影響を除去する操作である。極性が逆の2
つの位相軸プロジェクションパルスYpgによる各渦電流
は、1次の位相シフト量については逆方向に作用するの
で、1次の位相シフト量φi+,φi-の差を1/2するこ
とにより影響を除去できる。
【0052】ステップS11では、次式により0次の位
相シフト量ΔB0iを求める。 ΔB0i={(ΔB0i+)−(ΔB0i-)}/2 これは、位相軸プロジェクションパルスYpgにより発生
する渦電流の影響を除去する操作である。
【0053】ステップS12では、補償用パルスgyp1i
の振幅agyp1i を次式により更新する。 new_gyp1i =(1+φi/gyp1iarea)old_gyp1i …(2) ここで、new_gyp1iは更新後の振幅であり、old_
gyp1iは更新前の振幅であり、gyp1iarea は更新前の補
償用パルスgyp1iの面積(デフェーズ量に相当する)で
ある。
【0054】ステップS13では、上記ステップS2〜
S12を設定回数繰り返す。その後、ステップS14へ
進む。ステップS14では、イメージ作成用の本スキャ
ンにおける全ての繰り返し番号iまたは適当なiについ
て上記ステップS1〜S13を繰り返す。その後、処理
を終了する。
【0055】イメージ作成用の本スキャンにおける全て
の繰り返し番号iについて上記ステップS1〜S13を
繰り返した場合は、多数のエンコード勾配について最適
の補償用パルスgyp1iを決定できる。但し、プリスキャ
ン時間が長くなる。
【0056】一方、適当なiについて上記ステップS1
〜S13を繰り返した場合は、プリスキャン時間を短く
出来る。但し、上記ステップS1〜S13を実行してい
ないiに対応するエンコード勾配についての補償用パル
スgyp1iは、決定した補償用パルスgyp1iから補間計算
で求めるか、決定した補償用パルスgyp1iの最近傍のも
のを流用する必要がある。適当なiの選択方法は、パル
スシーケンスの前半のエンコード勾配gyの極性のパタ
ーンの種類が同じものは1つのグループにしても,2以
上のグループに分けてもよいが、パルスシーケンスの前
半のエンコード勾配gyの極性のパターンの種類が異な
るものは少なくとも別のグループとし、各グループのう
ちの平均的なエンコード勾配に対応するiを選ぶように
する。
【0057】図9,図10は、K−空間KSPのセグメン
ト分割方法の説明図である。図9は、セントリックビュ
ーオーダリング(Centric View Ordering)と呼ばれ
る方法で、エンコード勾配gy1,gy2の極性を正にし
て、エコーecho1,echo’1によりセグメントSgp1の
データを収集し、エコーecho2,echo’2によりセグメ
ントSgp2のデータを収集する。また、エンコード勾配
gy1,gy2の極性を負にして、エコーecho1,echo’1
によりセグメントSgn1のデータを収集し、エコーecho
2,echo’2によりセグメントSgn2のデータを収集す
る。この場合、エンコード勾配の極性のパターンは2種
類である。図10は、シーケンシャルビューオーダリン
グ(Sequential View Ordering)と呼ばれる方法
で、エンコード勾配gy1の極性を正にし,gy2の極性
を負にして、エコーecho1,echo’1によりセグメント
Sgp1のデータを収集し、エコーecho2,echo’2によ
りセグメントSgn2のデータを収集する。また、エンコ
ード勾配gy1の極性を負,gy2の極性を正にして、エコ
ーecho1,echo’1によりセグメントSgn1のデータを
収集し、エコーecho2,echo’2によりセグメントSgp
2のデータを収集する。この場合、エンコード勾配の極
性のパターンは2種類である。
【0058】図9の場合(N=4でセントラルビューオ
ーダリング方法の場合)、エンコード勾配gyの極性が
正のパターンと、エンコード勾配gyの極性が負のパタ
ーンとを少なくとも別のグループにし、少なくとも各グ
ループを代表するiについて補正値を決定する必要があ
る。実際には、同一パターンでも2以上のグループに分
けてグループ数を増やし、各グループを代表するiにつ
いて補正値を決定するのが好ましい。図10の場合(N
=4でシーケンシャルビューオーダリング方法の場
合)、エンコード勾配gy1の極性が正,gy2の極性が負
のパターンと、エンコード勾配gy1の極性が負,gy2の
極性が正のパターンとを少なくとも別のグループにし、
各グループを代表するiについて補正値を決定する必要
がある。実際には、同一パターンでも2以上のグループ
に分けてグループ数を増やし、各グループを代表するi
について補正値を決定するのが好ましい。
【0059】図11は、第1のイメージおよび第2のイ
メージを得るための本スキャンのパルスシーケンスの第
1例である。このパルスシーケンスでは、前記位相シフ
ト補正値決定処理により決定した補償用パルスgyp1i
を、スプリットエコートレイン法のパルスシーケンスの
前半の最後のリワインド勾配gyr2iの後に付加して、1
次の位相シフトを補正する。また、前記位相シフト補正
値決定処理で求めた0次の位相シフト量ΔB0iに相当
する量だけオフセット位相を与えた反転パルスP”を送
信して、0次の位相シフトを補正する。図12は、第1
のイメージおよび第2のイメージを得るための本スキャ
ンのパルスシーケンスの第2例である。このパルスシー
ケンスでは、前記位相シフト補正値決定処理により決定
した補償用パルスgyp1iを、スプリットエコートレイン
法のパルスシーケンスの前半の最後のリワインド勾配g
yr2iの前に、リード勾配gxwとオーバラップしないよ
うに、付加して、1次の位相シフトを補正する。また、
前記位相シフト補正値決定処理で求めた0次の位相シフ
ト量ΔB0iに相当する量だけオフセット位相を与えた
反転パルスP”を送信して、0次の位相シフトを補正す
る。なお、図11と図12の組み合わせとして、補償用
パルスgyp1iを、リワインド勾配gyr2iの前後に分けて
付加してもよい。
【0060】図13は、第1のイメージおよび第2のイ
メージを得るための本スキャンのパルスシーケンスの第
3例である。このパルスシーケンスでは、前記位相シフ
ト補正値決定処理により決定した補償用パルスgyp1i
を、スプリットエコートレイン法のパルスシーケンスの
前半の最後のリワインド勾配gyr2iに組み込んで、1次
の位相シフトを補正する。また、前記位相シフト補正値
決定処理で求めた0次の位相シフト量ΔB0iに相当す
る量だけオフセット位相を与えた反転パルスP”を送信
して、0次の位相シフトを補正する。図14は、第1の
イメージおよび第2のイメージを得るための本スキャン
のパルスシーケンスの第4例である。このパルスシーケ
ンスでは、前記位相シフト補正値決定処理により決定し
た補償用パルスgyp1iを、スプリットエコートレイン法
のパルスシーケンスの前半の最後のエンコード勾配gy2i
に組み込んで、1次の位相シフトを補正する。また、前
記位相シフト補正値決定処理で求めた0次の位相シフト
量ΔB0iに相当する量だけオフセット位相を与えた反
転パルスP”を送信して、0次の位相シフトを補正す
る。
【0061】なお、ΔB0iに相当する量だけオフセッ
ト位相を与えた反転パルスP”を送信する代りに、位相
検波器12での検波位相にΔB0iに相当する量だけオ
フセット位相を与えて、0次の位相シフトを補正しても
よい。あるいは、オフセット位相を与えた反転パルスを
送信するのに加えて、位相検波器12での検波位相にオ
フセット位相を与えて、ΔB0iに相当する量だけ0次
の位相シフトを補正してもよい。
【0062】図15は、1次の位相シフトの補正の効果
の説明図である。図9のセグメントSgp1,Sgp2,S
gn1,Sgn2の中央に相当するiを選んで決定した各報
償用パルスgpy1iを各セグメントの1次の位相シフトの
補正に用いたため、各セグメントの中央では1次の位相
シフト量は“0”であるが、各セグメントの中央から離
れると位相シフトが残っている。
【0063】図16,図17は、0次の位相シフトの補
正の効果の説明図である。図16は、オフセット位相を
与えた反転パルスを送信することのみにより補正した場
合である。図17は、オフセット位相を与えた反転パル
スを送信するのに加えて、位相検波器12での検波位相
にオフセット位相を与えた場合である。0次の位相シフ
トは、ビューによる差が小さければよく、“0”でなく
ても構わない。
【0064】以上により、前半のエンコード勾配gyに
起因する渦電流または残留磁化の影響による第2のイメ
ージの画質の劣化を防止することが出来る。
【0065】−第2の実施形態− 上記第1の実施形態では、エンコード勾配gyが“0”
でも生じるオフセットの位相シフト分を打ち消すため、
2つの位相軸プロジェクションパルスYpg1i,Ypg2iを
用いてそれぞれ得た位相シフト量の差をとったが、1つ
の位相軸プロジェクションパルスYpg1iのみを用いても
よい。この場合でも、位相軸プロジェクションパルスY
pg1iの極性を逆転してそれぞれ得た位相シフト量の差を
とる時にオフセットの位相シフト分が打ち消される。
【0066】なお、エンコード勾配gyを“0”にした
時の1次項di0を測定すれば、それがオフセットの位相
シフト分であるから、それを引くようにしても、オフセ
ットの位相シフト分を打ち消すことが出来る。
【0067】−第3の実施形態− 第3の実施形態では、位相軸プロジェクションパルスY
pgを用いないで0次の位相シフト補正値を決定する。図
4,図6〜図8のプリスキャンのパルスシーケンスにお
ける位相軸プロジェクションパルスYpg(特に、デフェ
ーザ勾配gywdおよびリワインド勾配gywr)は、それ自身
が0次の位相シフトの要因となりうる。そこで、0次の
位相シフト補正値の決定に際しては、位相軸プロジェク
ションパルスYpgを用いないことが好ましい。
【0068】図18,図19は、0次位相シフト補正値
決定処理のフロー図である。ステップQ1では、図20
に示すプリスキャンのパルスシーケンスにより後半のエ
コーecho'1,echo'2から、それぞれデータを収集する。
図20に示すプリスキャンのパルスシーケンスは、従来
のスプリットエコートレイン法のパルスシーケンスで、
エンコード勾配gyの極性が正のものにおいて、パルス
シーケンスの後半は、エンコード勾配gy’を“0”に
し、オフセット位相を与えた反転パルスP”を送信する
ようにしたものである。
【0069】ステップQ2では、エコーecho’1,ech
o’2から得られた各データを1次元フーリエ変換し、
その結果の位相データを最小二乗法等を用いてフィッテ
ィングし、その結果の各0次項B0i1,B0i2を求め
る。ステップQ3では、次式により0次の位相シフト量
ΔB0i+を求める。 ΔB0i+=(B0i1−B0i2)/2 これは、エンコード勾配gyが“0”でも生じるオフセ
ットの位相シフト分を打ち消す操作である。ステップQ
4では、後半の反転パルスP”のオフセット位相をΔB
0i+にセットする。ステップQ5では、上記ステップQ
1〜Q4を設定回数繰り返す。その後、図19のステッ
プQ6へ進む。図19のステップQ6では、図21に示
すプリスキャンのパルスシーケンスにより後半のエコー
echo'1,echo'2から、それぞれデータを収集する。図2
1に示すプリスキャンのパルスシーケンスは、従来のス
プリットエコートレイン法のパルスシーケンスで、エン
コード勾配gyの極性が負のものにおいて、パルスシー
ケンスの後半は、エンコード勾配gy’を“0”にし、
オフセット位相を与えた反転パルスP”を送信するよう
にしたものである。
【0070】ステップQ7では、エコーecho’1,ech
o’2から得られた各データを1次元フーリエ変換し、
その結果の位相データを最小二乗法等を用いてフィッテ
ィングし、その結果の各0次項B0i1,B0i2を求め
る。ステップQ8では、次式により0次の位相シフト量
ΔB0i-を求める。 ΔB0i-=(B0i1−B0i2)/2 これは、エンコード勾配gyが“0”でも生じるオフセ
ットの位相シフト分を打ち消す操作である。ステップQ
9では、後半の反転パルスP”のオフセット位相をΔB
0i-にセットする。ステップQ10では、上記ステップ
Q6〜Q9を設定回数繰り返す。その後、ステップQ1
1へ進む。
【0071】ステップQ11では、全てのiまたは適当
なiについて上記ステップQ1〜QS10を繰り返す。
その後、ステップQ12へ進む。
【0072】ステップQ12では、センタービューの前
後のビューにおける0次の位相シフト量ΔB0i+とΔB
0i-の差ΔB00を求める。 ΔB00=(ΔB0i+)−(ΔB0i-) ステップQ13では、位相検波器12の検波位相にオフ
セット位相ΔB00を与える。そして、処理を終了す
る。
【0073】以上により決定した0次の位相シフトの補
正値により補正を行えば、0次の位相シフトに起因する
第2のイメージの画質の劣化を防止することが出来る。
【0074】−第4の実施形態− 第4の実施形態では、高速SE法における1次および0
次の位相シフトを補正する。高速SE法では、先に結像
したエコーに対して印加したエンコード勾配gyの作る
デフェーズ分が、次に観測するエコーに加わり、次に観
測するエコーに位相シフトを生じる。この位相シフト
は、場所の1次関数になるので、1次の位相シフトと呼
ぶ。また、RFシールドやコイル配置の不整合などによ
り勾配磁場が0次項(B0成分)を含む。その勾配磁場
の0次項は、場所依存性のない均一成分ではあるが、結
果的に渦電流のような指数関数で落ちる時間特性を有
し、位相シフトの原因となる。この位相シフトを0次の
位相シフトと呼ぶ。
【0075】図22および図23は、高速SE法におけ
る1次および0次の位相シフトを補正するために加える
補正値を決定するための位相シフト補正値決定処理を示
すフロー図である。
【0076】ステップF1では、図24〜図27に示す
プリスキャンのパルスシーケンスにおける補償用パルス
gyp(K-1)iの振幅agyp(K-1)iの初期値を適当な値にセッ
トする。ここで、Kは、位相シフトを補正するエコーの
番号であり、K=2,…,N(エコートレイン数)であ
る。iは繰返し番号である。どのようなiを選ぶかにつ
いては後述する。
【0077】ステップF2では、高速SE法のパルスシ
ーケンスの第Kエコーのエンコード勾配gyKiおよびリワ
インド勾配gyrKiの代りに位相軸プロジェクションパル
スYgpKiを挿入したプリスキャンのパルスシーケンスに
よりエコーechoKからデータを収集する。図24に、K
=2,N=4のときのプリスキャンのパルスシーケンス
を例示する。このプリスキャンのパルスシーケンスで
は、まず、励起パルスRとスライス勾配ssを印加す
る。次に、第1の反転パルスP1とスライス勾配ssを
印加する。次に、エンコード勾配gy1iを位相軸に印加す
る。次に、通常のリード勾配gxwの前半分のリード勾
配gxrを印加し、リード勾配をリフェーズ(rephase)
する。この後は、エコーecho3からNMR信号を受信す
る時までリード勾配を“0”とする。次に、前記エンコ
ード勾配gy1iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド
勾配gyr1iを位相軸に印加する。なお、破線で示すよう
に、リード勾配gxrの代りに通常と同じリード勾配g
xwを印加し、その後で、リード勾配gxwの半分の面
積のリード軸リワインド勾配gxr’を印加しても等価
である。
【0078】次に、エンコード勾配gy1iと逆極性の補償
用パルスgyp1iを位相軸に印加する。次に、スティミュ
レーテッドエコーを取り除くためのクラッシャ勾配gz
i,gzriを前後に付けて、第2の反転パルスP2とス
ライス勾配ssを印加する。
【0079】次に、前記リワインド勾配gyr1iと等しい
デフェーザ勾配gywd2iを位相軸に印加する。次に、リー
ドアウト勾配gyw2iを位相軸に印加しながらエコーecho
2からNMR信号を受信し、その後、前記デフェーザ勾
配gywd2iと等しいリフェーザ勾配gywr2iを位相軸に印加
する。前記デフェーザ勾配gywd2i,リードアウト勾配g
yw2iおよびリフェーザ勾配gywr2iを位相軸プロジェクシ
ョンパルスYpg2iという。
【0080】次に、第3の反転パルスP3とスライス勾
配ssを印加し、エンコード勾配gy3iを位相軸に印加
し、通常のリード勾配gxwの後半分のリード勾配gx
dを印加する。これは、次のエコーecho4を結像させる
ためである。なお、破線で示すように、リード勾配gx
wの半分の面積のリード軸デフェーズ勾配gxd’を印
加しておき、通常と同じリード勾配gxwを印加しても
等価である。その後、前記エンコード勾配gy3iと時間積
分値が等しく逆極性のリワインド勾配gyr3iを位相軸に
印加する。次いで、第4の反転パルスP4とスライス勾
配ssを印加し、エンコード勾配gy4iを位相軸に印加
し、リード勾配gxwを印加し、その後、前記エンコー
ド勾配gy4iと時間積分値が等しく逆極性のリワインド勾
配gyr4iを位相軸に印加する。そして、最後に、横磁化
をスポイルするためのキラー勾配Kilを印加する。
【0081】図24におけるτiは、リードアウト勾配
gyw2iの中心とエコーecho2の中心の時間ずれである。
この時間ずれτiは、エンコード勾配gy1iに起因する渦
電流および残留磁化の影響を表している。フーリエ変換
の性質から、収集したデータを1次元フーリエ変換した
結果の位相の1次項として、時間ずれτiを正確に知る
ことが出来る。すなわち、エンコード勾配gy1iに起因す
る渦電流および残留磁化の影響を正確に知ることが出来
る。
【0082】図22に戻り、ステップF3では、エコー
echoKから得られたデータを1次元フーリエ変換し、そ
の結果の位相データを最小二乗法等を用いてフィッティ
ングし、その結果の1次項di1と0次項B0i+を求め
る。ステップF4では、次式により1次の位相シフト量
φi+を求める。 φi+=di1・Xres・106/(γ・fov) ここで、Xres は、エコーechoKのサンプリングポイン
ト数である。また、γは、磁気回転比である。また、f
ovは、撮像視野の大きさ(cm)である。
【0083】ステップF5では、前記ステップF2で用
いたプリスキャンのパルスシーケンスの位相軸プロジェ
クションパルスの極性を反転したプリスキャンのパルス
シーケンスによりエコーechoKからデータを収集する。
図25に、図24のパルスシーケンスの位相軸プロジェ
クションパルスYgp2iの極性を反転したパルスシーケン
スを示す。
【0084】図22に戻り、ステップF6では、エコー
echoKから得られたデータを1次元フーリエ変換し、そ
の結果の位相データを最小二乗法等を用いてフィッティ
ングし、その結果の1次項di1と0次項B0i-を求め
る。ステップF7では、次式により1次の位相シフト量
φi-を求める。 φi-=di1・Xres・106/(γ・fov) ここで、Xres は、エコーecho’のサンプリングポイン
ト数である。また、γは、磁気回転比である。また、f
ovは、撮像視野の大きさである。
【0085】図23へ進み、ステップF8では、次式に
より1次の位相シフト量φiを求める。 φi={(φi+)−(φi-)}/2 これは、位相軸プロジェクションパルスYpgにより発生
する渦電流の影響を除去する操作である。極性が逆の2
つの位相軸プロジェクションパルスYpgによる各渦電流
は、1次の位相シフト量については逆方向に作用するの
で、1次の位相シフト量φi+,φi-の差を1/2するこ
とにより影響を除去できる。
【0086】ステップF9では、次式により0次の位相
シフト量ΔB0iを求める。 ΔB0i={(B0i+)−(B0i-)}/2 これは、位相軸プロジェクションパルスYpgにより発生
する渦電流の影響を除去する操作である。
【0087】ステップF10では、補償用パルスgyp(K
-1)iの振幅agyp(K-1)i を次式により更新する。new_gyp(K-1)i =(1+φi/gyp(K-1)iarea)old_
gyp(K-1)i ここで、new_gyp(K-1)iは更新後の振幅であり、old_
gyp(K-1)iは更新前の振幅であり、gyp(K-1)iarea は
更新前の補償用パルスgyp(K-1)iの面積(デフェーズ量
に相当する)である。
【0088】ステップF11では、上記ステップF2〜
F10を設定回数繰り返す。その後、ステップF12へ
進む。
【0089】ステップF12では、全てのKについて上
記ステップF2〜F11を繰り返す。図26に、K=
3,N=4のときのプリスキャンのパルスシーケンスを
例示する。また、図27に、K=4,N=4のときのプ
リスキャンのパルスシーケンスを例示する。K=Nまで
上記ステップF2〜F11を繰り返したら、ステップF
13へ進む。
【0090】ステップF13では、イメージ作成用の本
スキャンにおける全ての繰り返し番号iまたは適当なi
について上記ステップF1〜F12を繰り返す。その
後、処理を終了する。
【0091】イメージ作成用の本スキャンにおける全て
の繰り返し番号iについて上記ステップF1〜F12を
繰り返した場合は、多数のエンコード勾配について最適
の補償用パルスgyp1iを決定できる。但し、プリスキャ
ン時間が長くなる。
【0092】一方、適当なiについて上記ステップF1
〜F12を繰り返した場合は、プリスキャン時間を短く
出来る。但し、上記ステップF1〜F12を実行してい
ないiに対応するエンコード勾配についての補償用パル
スgyp1iは、決定した補償用パルスgyp1iから補間計算
で求めるか、決定した補償用パルスgyp1iの最近傍のも
のを流用する必要がある。適当なiの選択方法は、パル
スシーケンスのエンコード勾配gy1〜gyKの極性のパタ
ーンの種類が同じものは1つのグループにしても,2以
上のグループに分けてもよいが、パルスシーケンスのエ
ンコード勾配gy1〜gyKの極性のパターンの種類が異な
るものは少なくとも別のグループとし、各グループのう
ちの平均的なエンコード勾配に対応するiを選ぶように
する。
【0093】図28,図29は、K−空間KSPのセグメ
ント分割方法の説明図である。図28のセグメント分割
方法では、エンコード勾配gy1の極性を正,エンコード
勾配gy2の極性を正,エンコード勾配gy3の極性を負,
エンコード勾配gy4の極性を負にして、エコーecho1,
echo2,echo3,echo4により、セグメントSg1,S
g2,Sg3,Sg4のデータをそれぞれ収集する。こ
の場合、エンコード勾配の極性のパターンは1種類であ
る。図29のセグメント分割方法では、エンコード勾配
gy1の極性を正,エンコード勾配gy2の極性を負,エン
コード勾配gy3の極性を負,エンコード勾配gy4の極性
を正にして、エコーecho1,echo2,echo3,echo4に
より、セグメントSg11,Sg21,Sg31,Sg41のデ
ータをそれぞれ収集する。また、エンコード勾配gy1の
極性を正,エンコード勾配gy2の極性を正,エンコード
勾配gy3の極性を負,エンコード勾配gy4の極性を負に
して、エコーecho1,echo2,echo3,echo4により、
セグメントSg12,Sg22,Sg32,Sg42のデータを
それぞれ収集する。この場合、エンコード勾配の極性の
パターンは2種類である。
【0094】図28の場合、エンコード勾配gy1の極性
が正,エンコード勾配gy2の極性が正,エンコード勾配
gy3の極性が負,エンコード勾配gy4の極性が負のパタ
ーンについて補正値を決定すればよい。但し、実際に
は、2以上のグループに分けてグループ数を増やし、各
グループを代表するiについて補正値を決定するのが好
ましい。図29の場合、エンコード勾配gy1の極性が
正,エンコード勾配gy2の極性が負,エンコード勾配g
y3の極性が負,エンコード勾配gy4の極性が正のパター
ンと、エンコード勾配gy1の極性が正,エンコード勾配
gy2の極性が正,エンコード勾配gy3の極性が負,エン
コード勾配gy4の極性が負のパターンとを少なくとも別
のグループにし、各グループを代表するiについて補正
値を決定する必要がある。実際には、同一パターンでも
2以上のグループに分けてグループ数を増やし、各グル
ープを代表するiについて補正値を決定するのが好まし
い。
【0095】図30は、イメージ作成用の本スキャンの
パルスシーケンスの例である。このパルスシーケンスで
は、前記位相シフト補正値決定処理により決定した補償
用パルスgyp1i,gyp2i,gyp3iを、高速SE法のパル
スシーケンスのリワインド勾配gyr1i,gyr2i,gyr3i
の後に付加して、1次の位相シフトを補正する。また、
前記位相シフト補正値決定処理で求めた0次の位相シフ
ト量ΔB0iに相当する量だけオフセット位相を与えた
反転パルスP”を送信して、0次の位相シフトを補正す
る。
【0096】なお、前記第1の実施形態で説明したよう
に、補償用パルスgyp1i,gyp2i,gyp3iを、高速SE
法のパルスシーケンスのリワインド勾配gyr1i,gyr2
i,gyr3iの前に付加してもよい。また、補償用パルス
gyp1i,gyp2i,gyp3iを、高速SE法のパルスシーケ
ンスのリワインド勾配gyr1i,gyr2i,gyr3iの前後に
分けて付加してもよい。さらに、補償用パルスgyp1i,
gyp2i,gyp3iを、リワインド勾配gyr1i,gyr2i,g
yr3iに組み込んでもよい。また、補償用パルスgyp1i,
gyp2i,gyp3iを、エンコード勾配gy1i,gy2i,gy3iに
組み込んでもよい。
【0097】なお、ΔB0iに相当する量だけオフセッ
ト位相を与えた反転パルスP”を送信する代りに、位相
検波器12での検波位相にΔB0iに相当する量だけオ
フセット位相を与えて、0次の位相シフトを補正しても
よい。あるいは、オフセット位相を与えた反転パルスを
送信するのに加えて、位相検波器12での検波位相にオ
フセット位相を与えて、ΔB0iに相当する量だけ0次
の位相シフトを補正してもよい。
【0098】以上により、エンコード勾配gyに起因す
る渦電流または残留磁化の影響によるイメージの画質の
劣化を防止することが出来る。
【0099】−第5の実施形態− 前記第4の実施形態では、位相軸プロジェクションパル
スYpg(K-1)iの極性を逆転してそれぞれ得た位相シフト
量の差をとることで、エンコード勾配gyが“0”でも
生じるオフセットの位相シフト分を打ち消しているが、
エンコード勾配gyを“0”にした時の1次項di0を測
定すれば、それがオフセットの位相シフト分であるか
ら、それを引くようにしても、オフセットの位相シフト
分を打ち消すことが出来る。
【0100】−第6の実施形態− 前記実施形態では、イメージ作成用の本スキャンのパル
スシーケンスに準じたプリスキャンのパルスシーケンス
を用いたため、補正量を高精度に決定できたが、スキャ
ン時間が長くかかった。第6の実施形態では、精度を下
げる代りに、スキャン時間を短縮できるようにする。
【0101】図31は、第6の実施形態にかかる位相シ
フト補正値決定処理を示すフロー図である。ステップE
1では、図32に示すプリスキャンのパルスシーケンス
における補償用パルスgypnの振幅agypnの初期値を適当
な値にセットする。ここで、nは、補正値を決定したい
エンコード勾配の番号である。
【0102】ステップE2では、図32のパルスシーケ
ンスによりエコーecho2からデータを収集する。図32
のプリスキャンのパルスシーケンスでは、まず、励起パ
ルスRとスライス勾配ssを印加する。次に、第1の反
転パルスP1とスライス勾配ssを印加する。次に、補
正値を決定したいエンコード勾配gynを位相軸に印加
する。次に、通常のリード勾配gxwの前半分のリード
勾配gxrを印加する。この後は、リード勾配を“0”
とする。次に、前記エンコード勾配gynと時間積分値が
等しく逆極性のリワインド勾配gyrnに補償用パルスgypn
を組み込んだパルスを位相軸に印加する。次に、スティ
ミュレーテッドエコーを取り除くためのクラッシャ勾配
gz,gzrを前後に付けて第2の反転パルスP2とス
ライス勾配ssを印加する。次に、前記リワインド勾配
gyrnと等しいデフェーザ勾配gywdnを位相軸に印加す
る。次に、リードアウト勾配gywnを位相軸に印加しなが
らエコーecho2からNMR信号を受信し、その後、前記
デフェーザ勾配gywdnと等しいリフェーザ勾配gywrnを
位相軸に印加する。前記デフェーザ勾配gywdn,リード
アウト勾配gywnおよびリフェーザ勾配gywrnを位相軸プ
ロジェクションパルスYpgnという。図32におけるτi
は、リードアウト勾配gywnの中心とエコーecho2の中心
の時間ずれである。この時間ずれτiは、エンコード勾
配gynに起因する渦電流および残留磁化の影響を表して
いる。フーリエ変換の性質から、収集したデータを1次
元フーリエ変換した結果の位相の1次項として、時間ず
れτiを正確に知ることが出来る。すなわち、エンコー
ド勾配gynに起因する渦電流および残留磁化の影響を正
確に知ることが出来る。
【0103】図31に戻り、ステップE3では、エコー
echo2から得られたデータを1次元フーリエ変換し、そ
の結果の位相データを最小二乗法等を用いてフィッティ
ングし、その結果の1次項dnと0次項B0nを求め
る。ステップE4では、次式により1次の位相シフト量
φnを求める。 φn=dn・Xres・106/(γ・fov) ここで、Xres は、エコーecho2のサンプリングポイン
ト数である。また、γは、磁気回転比である。また、f
ovは、撮像視野の大きさ(cm)である。
【0104】ステップE5では、補償用パルスgypnの振
幅agypnを更新する。new_gypn=(1+φi/gypnarea)old_gypn ここで、new_gypnは更新後の振幅であり、old_gypn
は更新前の振幅であり、gypnareaは更新前の補償用パル
スgypnの面積(デフェーズ量に相当する)である。
【0105】ステップE6では、上記ステップE2〜E
5を設定回数繰り返す。その後、ステップE7へ進む。
ステップE7では、必要なnについて上記ステップE1
〜E7を繰り返す。その後、処理を終了する。以上によ
り、必要なエンコード勾配gynについて補正値を決定で
きる。
【0106】−第7の実施形態− 前記実施形態では、デフェーザ勾配gywdnおよびリフェ
ーザ勾配gywrnを用いたため、これらによる渦電流の影
響があり、本スキャンの場合と異なる測定結果が出かね
ない。そこで、第7の実施形態では、デフェーザ勾配g
ywdnおよびリフェーザ勾配gywrnを全く用いないで補正
値を決定できるようにする。
【0107】図33は、第7の実施形態にかかる位相シ
フト補正値決定処理を示すフロー図である。ステップQ
51では、図34に示すプリスキャンのパルスシーケン
スにより、第1のエコーecho1からデータを収集する。
図34のプリスキャンのパルスシーケンスでは、まず、
励起パルスRとスライス勾配ssを印加する。次に、第
1の反転パルスP1とスライス勾配ssを印加する。次
に、リード勾配gxwを印加しながら第1のエコーecho
1からデータを収集する。位相軸には、勾配を印加しな
い。図33に戻り、ステップQ52では、前記ステップ
Q51で収集したデータを一次元フーリエ変換し、得ら
れた位相データをフィッティングし、勾配磁場が“0”
の場所の位相を第1の0次項φ0とする。
【0108】ステップQ53では、図35に示すプリス
キャンのパルスシーケンスにより、第2のエコーecho2
からデータを収集する。図35のプリスキャンのパルス
シーケンスでは、まず、励起パルスRとスライス勾配s
sを印加する。次に、第1の反転パルスP1とスライス
勾配ssを印加する。次に、補正値を決定したいエンコ
ード勾配gynを位相軸に印加する。次に、リード勾配g
xwを印加する。次に、前記エンコード勾配gynと時間
積分値が等しく逆極性のリワインド勾配gyrnを位相軸に
印加する。次に、第2の反転パルスP2とスライス勾配
ssを印加する。次に、リード勾配gxwを印加しなが
ら第2のエコーecho2からデータを収集する。図33に
戻り、ステップQ54では、前記ステップQ53で収集
したデータを一次元フーリエ変換し、得られた位相デー
タをフィッティングし、勾配磁場が“0”の場所の位相
を第2の0次項φ1とする。
【0109】ステップQ55では、第1の0次項φ0と
第2の0次項φ1から補正値Φを求める。すなわち、Φ
=(φ0−φ1)/2とする。図36に、上記演算の原
理を示す。図34のプリスキャンのパルスシーケンスで
第1の反転パルスP1を印加した後の磁化Mxy_P1が、
何らかの原因で回転軸xに一致せず、回転軸xから反時
計回りにφ0だけ回転した位置になったと仮定する。さ
らに、図35のプリスキャンのパルスシーケンスで位相
軸に印加したエンコード勾配gynとリワインド勾配gyrn
の渦電流の影響により、回転軸xが回転軸x’へと移動
したとする。このとき、前記φ0は、前記第1の0次項
として観測される。また、図35のプリスキャンのパル
スシーケンスで第1の反転パルスP1を印加した後の磁
化もMxy_P1であるから、第2の反転パルスP2を印加
した後の磁化Mxy_P2は、回転軸x’の回りに前記磁化
Mxy_P1を回転させた位置にある。そして、前記第2の
0次項φ1は、回転軸xから時計回りに磁化Mxy_P2を
見た位相を意味することになる。そこで、(φ0−φ
1)は、磁化Mxy_P2から磁化Mxy_P1を時計回りに見
た位相になる。そして、図36から判るように、(φ0
−φ1)/2は、回転軸x’から磁化Mxy_P1を時計回
りに見た位相Φになる。よって、この位相Φを補正値と
すれば、エンコード勾配gynとリワインド勾配gyrnの渦
電流の影響により移動した回転軸x’が磁化Mxy_P1の
位置まで移動したことと等価となる。すると、回転軸が
磁化Mxy_P1に一致するから、反転パルスP2を加えた
後の磁化Mxy_P2は磁化Mxy_P1に一致することとな
り、エンコード勾配gynとリワインド勾配gyrnの渦電流
の影響が打ち消される。
【0110】図33に戻り、ステップQ56では、前記
補正量Φを図34,図35のプリスキャンパルスシーケ
ンスの第2の反転パルスP2以降の反転パルスにオフセ
ット位相として加える。ステップQ57では、上記ステ
ップQ51〜Q56を設定回数繰り返し、最適の補正値
Φに集束させる。その後、処理を終了する。以上によ
り、必要なエンコード勾配gynについて補正値を決定で
きる。
【0111】
【発明の効果】本発明の位相シフト測定方法によれば、
エンコード勾配等に起因する渦電流や残留磁化の影響に
よる1次および0次の位相シフトを正確に測定できる。
また、本発明の位相シフト補正方法によれば、エンコー
ド勾配等に起因する渦電流や残留磁化の影響による1次
および0次の位相シフトを高精度に補正でき、画質の劣
化のないイメージを得ることが出来る。また、本発明の
MRI装置によれば、上記位相シフト測定方法および位
相シフト補正方法を好適に実施できる。また、エンコー
ド勾配等に起因する渦電流または残留磁化の影響による
画質の劣化のないイメージを得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態にかかるMRI装置を示すブ
ロック図である。
【図2】第1の実施形態にかかる位相シフト補正値決定
処理を示すフロー図である。
【図3】図2の続きのフロー図である。
【図4】第1の実施形態にかかるプリスキャンのパルス
シーケンスの例示図である。
【図5】図4のパルスシーケンスにおけるK−空間上の
軌跡の説明図である。
【図6】図4のパルスシーケンスの位相軸プロジェクシ
ョンパルスを反転したパルスシーケンスの例示図であ
る。
【図7】第1の実施形態にかかるプリスキャンのパルス
シーケンスの別の例示図である。
【図8】図7のパルスシーケンスの位相軸プロジェクシ
ョンパルスを反転したパルスシーケンスの例示図であ
る。
【図9】セントラルビューオーダリングのセグメントと
エコーの関係説明図である。
【図10】シーケンシャルビューオーダリングのセグメ
ントとエコーの関係説明図である。
【図11】補償用パルスを後半の最後のリワインド勾配
の後に付加したスプリットエコートレイン法のパルスシ
ーケンスの例示図である。
【図12】補償用パルスを後半の最後のリワインド勾配
の前に付加したスプリットエコートレイン法のパルスシ
ーケンスの例示図である。
【図13】補償用パルスを後半の最後のリワインド勾配
に組み込んだスプリットエコートレイン法のパルスシー
ケンスの例示図である。
【図14】補償用パルスを後半の最後のエンコード勾配
に組み込んだスプリットエコートレイン法のパルスシー
ケンスの例示図である。
【図15】補償用パルスによる補正効果の説明図であ
る。
【図16】反転パルスにオフセット位相を与えることに
よる補正効果の説明図である。
【図17】反転パルスおよび検波位相にオフセット位相
を与えることによる補正効果の説明図である。
【図18】第3の実施形態にかかる0次位相シフト補正
値決定処理を示すフロー図である。
【図19】図18の続きのフロー図である。
【図20】第3の実施形態にかかるプリスキャンのパル
スシーケンスの例示図である。
【図21】第3の実施形態にかかるプリスキャンのパル
スシーケンスの別の例示図である。
【図22】第4の実施形態にかかる位相シフト補正値決
定処理を示すフロー図である。
【図23】図22の続きのフロー図である。
【図24】第4の実施形態にかかるプリスキャンのパル
スシーケンスの例示図である。
【図25】図24のパルスシーケンスの位相軸プロジェ
クションパルスを反転したパルスシーケンスの例示図で
ある。
【図26】第4の実施形態にかかるプリスキャンのパル
スシーケンスの別の例示図である。
【図27】第4の実施形態にかかるプリスキャンのパル
スシーケンスのさらに別の例示図である。
【図28】セグメントとエコーの関係説明図である。
【図29】セグメントとエコーの別の関係説明図であ
る。
【図30】補償用パルスを各リワインド勾配の後に付加
した高速SE法のパルスシーケンスの例示図である。
【図31】第6の実施形態にかかる位相シフト補正値決
定処理を示すフロー図である。
【図32】第6の実施形態にかかるプリスキャンのパル
スシーケンスの例示図である。
【図33】第7の実施形態にかかる位相シフト補正値決
定処理を示すフロー図である。
【図34】第6の実施形態にかかるプリスキャンのパル
スシーケンスの例示図である。
【図35】第6の実施形態にかかる別のプリスキャンの
パルスシーケンスの例示図である。
【図36】第6の実施形態にかかる補正値の演算の原理
を示す説明図である。
【図37】従来のスプリットエコートレイン法のパルス
シーケンスの例示図である。
【図38】スプリットエコートレイン法におけるK−空
間でのデータ収集軌跡の説明図である。
【図39】従来の高速SE法のパルスシーケンスの例示
図である。
【図40】高速SE法におけるK−空間でのデータ収集
軌跡の説明図である。
【符号の説明】
100 MRI装置 1 マグネットアセンブリ 1g 勾配磁場コイル 1t 送信コイル 1p 永久磁石 7 計算機 8 シーケンス記憶回路 12 位相検波器

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 励起パルスを送信し、反転パルスを送信
    し、エンコード勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリ
    ード軸に印加し、リワインド勾配を位相軸に印加するこ
    とを1回以上行い、続いて、反転パルスを送信し、デフ
    ェーザ勾配を位相軸に印加し、リードアウト勾配を位相
    軸に印加しながらエコーからデータを収集し、そのデー
    タを1次元フーリエ変換して得られた位相データを基に
    前記エンコード勾配の影響による位相シフト量を求める
    ことを特徴とする位相シフト測定方法。
  2. 【請求項2】 励起パルスを送信し、反転パルスを送信
    し、エンコード勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリ
    ード軸に印加し、リワインド勾配を位相軸に印加するこ
    とを2回以上繰り返し、続いて、反転パルスを送信し、
    デフェーザ勾配を位相軸に印加し、リードアウト勾配を
    位相軸に印加しながらエコーから第1のデータを収集
    し、リフェーザ勾配を位相軸に印加し、続いて、反転パ
    ルスを送信し、デフェーザ勾配を位相軸に印加し、リー
    ドアウト勾配を位相軸に印加しながらエコーから第2の
    データを収集し、前記第1のデータを1次元フーリエ変
    換して得られた位相データと前記第2のデータを1次元
    フーリエ変換して得られた位相データとを基に前記エン
    コード勾配の影響による位相シフト量を求めることを特
    徴とする位相シフト測定方法。
  3. 【請求項3】 励起パルスを送信し、反転パルスを送信
    し、エンコード勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリ
    ード軸に印加し、リワインド勾配を位相軸に印加するこ
    とを1回以上行い、続いて、反転パルスを送信し、位相
    軸には勾配を印加せず、リード勾配をリード軸に印加し
    ながらエコーからデータを収集し、そのデータを1次元
    フーリエ変換して得られた位相データを基に前記エンコ
    ード勾配の影響による0次の位相シフト量を求めること
    を特徴とする位相シフト測定方法。
  4. 【請求項4】 励起パルスを送信し、反転パルスを送信
    し、エンコード勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリ
    ード軸に印加し、リワインド勾配を位相軸に印加するこ
    とを2回以上繰り返し、続いて、反転パルスを送信し、
    位相軸には勾配を印加せず、リード勾配をリード軸に印
    加しながらエコーから第1のデータを収集し、続いて、
    反転パルスを送信し、位相軸には勾配を印加せず、リー
    ド勾配をリード軸に印加しながらエコーから第2のデー
    タを収集し、前記第1のデータを1次元フーリエ変換し
    て得られた位相データと前記第2のデータを1次元フー
    リエ変換して得られた位相データとを基に前記エンコー
    ド勾配の影響による0次の位相シフト量を求めることを
    特徴とする位相シフト測定方法。
  5. 【請求項5】 励起パルスを送信し、第jの反転パルス
    を送信し、第jのエンコード勾配を位相軸に印加し、リ
    ード勾配をリード軸に印加しながら第jのエコーからデ
    ータを収集し、第jのリワインド勾配を位相軸に印加す
    ることを、j=1〜Nについて繰り返し、前半のエコー
    から収集したデータを基に第1のイメージを作成し、後
    半のエコーから収集したデータを基に第2のイメージを
    作成するスプリットエコートレイン法において、前半の
    エンコード勾配およびリワインド勾配の影響による後半
    のエコーの1次の位相シフトを補正するための補償用パ
    ルスを、前半の最後のエコーの前のエンコード勾配に組
    み込むか、そのエンコード勾配の直前または直後の一方
    または両方に付加するか、前半の最後のエコーの後のリ
    ワインド勾配に組み込むか、そのリワインド勾配の直前
    または直後の一方または両方に付加することを特徴とす
    る位相シフト補正方法。
  6. 【請求項6】 励起パルスを送信し、第jの反転パルス
    を送信し、第jのエンコード勾配を位相軸に印加し、リ
    ード勾配をリード軸に印加しながら第jのエコーからデ
    ータを収集し、第jのリワインド勾配を位相軸に印加す
    ることを、j=1〜Nについて繰り返し、前半のエコー
    から収集したデータを基に第1のイメージを作成し、後
    半のエコーから収集したデータを基に第2のイメージを
    作成するスプリットエコートレイン法において、前半の
    エンコード勾配およびリワインド勾配の影響による後半
    のエコーの0次の位相シフトを補正するためのオフセッ
    ト位相を、後半の反転パルスに与えるか、エコーの検波
    位相に与えるか、両方に与えることを特徴とする位相シ
    フト補正方法。
  7. 【請求項7】 励起パルスを送信した後、反転パルスを
    送信し、エンコード勾配を位相軸に印加し、リード勾配
    をリード軸に印加しながらエコーからデータを収集し、
    リワインド勾配を位相軸に印加することを、複数回繰り
    返し、収集したデータをイメージを作成する高速スピン
    エコー法において、先行するエンコード勾配およびリワ
    インド勾配の影響による後続のエコーの1次の位相シフ
    トを補正するための補償用パルスを、各エンコード勾配
    に組み込むか、各エンコード勾配の直前または直後の一
    方または両方に付加するか、各リワインド勾配に組み込
    むか、各リワインド勾配の直前または直後の一方または
    両方に付加することを特徴とする位相シフト補正方法。
  8. 【請求項8】 RFパルス送信手段と、勾配磁場印加手
    段と、NMR信号受信手段とを備えたMRI装置におい
    て、 励起パルスを送信し、反転パルスを送信し、エンコード
    勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリード軸に印加
    し、リワインド勾配を位相軸に印加することを1回以上
    行い、続いて、反転パルスを送信し、デフェーザ勾配を
    位相軸に印加し、リードアウト勾配を位相軸に印加しな
    がらNMR信号を受信してデータを収集し、そのデータ
    を1次元フーリエ変換し、得られた位相データを基に前
    記エンコード勾配の影響による位相シフトを補正するた
    めの補正値を決定する位相シフト補正値決定手段を具備
    し、 前記決定した補正値を基に、1次の位相シフトを補正す
    るための補償用パルスを、イメージ作成用のパルスシー
    ケンスのエンコード勾配に組み込むか、エンコード勾配
    の直前または直後の一方または両方に付加するか、リワ
    インド勾配に組み込むか、リワインド勾配の直前または
    直後の一方または両方に付加することを特徴とするMR
    I装置。
  9. 【請求項9】 RFパルス送信手段と、勾配磁場印加手
    段と、NMR信号受信手段とを備えたMRI装置におい
    て、 励起パルスを送信し、反転パルスを送信し、エンコード
    勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリード軸に印加
    し、リワインド勾配を位相軸に印加することを1回以上
    行い、続いて、反転パルスを送信し、位相軸には勾配を
    印加せず、リード勾配をリード軸に印加しながらエコー
    からデータを収集し、そのデータを1次元フーリエ変換
    して得られた位相データを基に前記エンコード勾配の影
    響による0次の位相シフトを補正するための補正値を決
    定する位相シフト補正値決定手段を具備し、 前記決定した補正値を基に、0次の位相シフトを補正す
    るためのオフセット位相を、反転パルスに与えるか、エ
    コーの検波位相に与えるか、両方に与えることを特徴と
    するMRI装置。
  10. 【請求項10】 RFパルス送信手段と、勾配磁場印加
    手段と、NMR信号受信手段とを備えたMRI装置にお
    いて、 励起パルスを送信し、第1の反転パルスを送信し、位相
    軸には勾配を印加せず、リード勾配をリード軸に印加し
    ながら第1のエコーからデータを収集し、そのデータを
    1次元フーリエ変換して得られた位相データを基に第1
    の0次項φ0を求めると共に、励起パルスを送信し、第
    1の反転パルスを送信し、エンコード勾配を位相軸に印
    加し、リード勾配をリード軸に印加し、リワインド勾配
    を位相軸に印加し、続いて、第2の反転パルスを送信
    し、位相軸には勾配を印加せず、リード勾配をリード軸
    に印加しながら第2のエコーからデータを収集し、その
    データを1次元フーリエ変換して得られた位相データを
    基に第2の0次項φ1を求め、前記第1の0次項φ0と
    前記第2の0次項φ1を基に前記エンコード勾配の影響
    による0次の位相シフトを補正するための補正値を決定
    する位相シフト補正値決定手段を具備し、 前記決定した補正値を基に、0次の位相シフトを補正す
    るためのオフセット位相を、第2の反転パルス以降の反
    転パルスに与えるか、エコーの検波位相に与えるか、両
    方に与えることを特徴とするMRI装置。
JP06152897A 1996-07-11 1997-03-14 Mri装置 Expired - Fee Related JP3384944B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06152897A JP3384944B2 (ja) 1996-07-11 1997-03-14 Mri装置
US08/858,378 US6127825A (en) 1996-07-11 1997-05-19 Method of phase shift measurement, method of phase correction, and MRI apparatus
DE69737898T DE69737898T2 (de) 1996-07-11 1997-07-10 Verfahren in der Bilderzeugung durch magnetische Resonanz zur Messung der Phasenverschiebung, zur Korrektur der Phasenverschiebung und Gerät für die Bilderzeugung durch magnetisch Resonanz, das diese Verfahren ausführt
EP97305106A EP0818689B1 (en) 1996-07-11 1997-07-10 MRI method of phase shift measurement, MRI method of phase shift correction, and MRI apparatus carrying out these methods
BR9704412-1A BR9704412A (pt) 1996-07-11 1997-07-11 Método de medida de mudança de fase, método de correção de mudança de fase e aparelho de mri
KR1019970034039A KR100533432B1 (ko) 1996-07-11 1997-07-11 위상시프트측정방법과위상시프트보정방법과자기공명촬상장치
CNB971146691A CN100536768C (zh) 1996-07-11 1997-07-11 相移测量方法,相移修正方法,和mri装置
US09/483,989 US6218834B1 (en) 1996-07-11 2000-01-18 Method of shift measurement, method of phase shift correction, and MRI apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18209996 1996-07-11
JP8-182099 1996-07-11
JP06152897A JP3384944B2 (ja) 1996-07-11 1997-03-14 Mri装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1075940A true JPH1075940A (ja) 1998-03-24
JP3384944B2 JP3384944B2 (ja) 2003-03-10

Family

ID=26402568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06152897A Expired - Fee Related JP3384944B2 (ja) 1996-07-11 1997-03-14 Mri装置

Country Status (7)

Country Link
US (2) US6127825A (ja)
EP (1) EP0818689B1 (ja)
JP (1) JP3384944B2 (ja)
KR (1) KR100533432B1 (ja)
CN (1) CN100536768C (ja)
BR (1) BR9704412A (ja)
DE (1) DE69737898T2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001025463A (ja) * 1999-06-03 2001-01-30 General Electric Co <Ge> 磁気共鳴イメージング・システムのための高速スピン・エコーの位相補正法
KR100335782B1 (ko) * 1999-08-06 2002-05-09 이민화 Steam시퀀스를 이용하여 와전류를 측정하는 방법
US6483305B1 (en) 1999-08-20 2002-11-19 Ge Yokogawa Medical Systems, Limited Magnetic resonance method for reducing residual magnetization and adjusting the amplitude of gradient pulses
JP2006247380A (ja) * 2005-02-10 2006-09-21 Toshiba Corp 磁気共鳴イメージング装置およびその制御方法
US7323873B2 (en) 2004-12-01 2008-01-29 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Phase error measuring method, MR imaging method, and MRI system
JP2012213608A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Toshiba Corp 磁気共鳴イメージング装置
KR20130135776A (ko) * 2012-06-01 2013-12-11 지멘스 악티엔게젤샤프트 자기 공명 기법에서 측정 볼륨 내의 검사 대상의 대상-특정 b1 분포를 결정하는 방법, 자기 공명 시스템, 컴퓨터 프로그램, 및 전자적으로 판독가능한 데이터 매체

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3384944B2 (ja) * 1996-07-11 2003-03-10 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Mri装置
US6043656A (en) * 1998-11-23 2000-03-28 General Electric Company Method for compensating an MRI system for residual magnetization
JP2000157509A (ja) * 1998-11-23 2000-06-13 General Electric Co <Ge> Mriシステムの較正方法、mriシステム及びリセット勾配発生方法
JP3365983B2 (ja) * 1999-09-28 2003-01-14 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Mri装置
US6392411B1 (en) * 2000-01-03 2002-05-21 Ge Yokogawa Medical Systems, Limited MR imaging method, phase shift measuring method and MR imaging system
JP3440049B2 (ja) * 2000-02-25 2003-08-25 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Mri装置
US6603989B1 (en) * 2000-03-21 2003-08-05 Dmitriy A. Yablonskiy T2 contrast in magnetic resonance imaging with gradient echoes
JP3875479B2 (ja) * 2000-10-20 2007-01-31 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 磁気共鳴撮影装置
JP2002143115A (ja) * 2000-10-30 2002-05-21 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Mrイメージング方法、位相エラー測定方法およびmri装置
JP3858191B2 (ja) 2000-10-31 2006-12-13 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Mri装置
US20020073441A1 (en) 2000-12-13 2002-06-13 Ross Brian D. Compositions and methods for detecting proteolytic activity
JP3878429B2 (ja) * 2001-04-05 2007-02-07 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Mri装置
JP3884243B2 (ja) * 2001-06-21 2007-02-21 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 外部磁界測定方法、静磁界補正方法、外部磁界測定装置およびmri装置
US6628116B1 (en) * 2001-09-06 2003-09-30 Ge Medical Systems Global Technology Co., Llc Process and apparatus to remove stimulated echo artifacts caused by interactions of a preparation sequence with a gradient echo sequence in MR imaging
JP3720752B2 (ja) * 2001-10-26 2005-11-30 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 0次位相検出方法およびmri装置
JP3796446B2 (ja) * 2002-01-23 2006-07-12 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Mri装置
JP3796455B2 (ja) * 2002-02-22 2006-07-12 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Mri装置
US20030206019A1 (en) * 2002-05-02 2003-11-06 Boskamp Eddy B. Wireless RF module for an MR imaging system
JP4051301B2 (ja) * 2003-02-12 2008-02-20 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 円形ポールピースおよびmri装置
JP2004261585A (ja) * 2003-02-12 2004-09-24 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 円形ポールピース、積層ブロックの製造方法およびmri装置
DE10306017A1 (de) * 2003-02-13 2004-09-09 Siemens Ag Verfahren zum Ermitteln einer Kompensationseinstellung für ein Wirbelstromfeld
TWI331640B (en) * 2003-05-26 2010-10-11 Sekisui Chemical Co Ltd Fire retardant resin sash
CA2550900A1 (en) 2003-12-23 2005-07-07 Mount Sinai Hospital Methods for detecting markers associated with endometrial disease or phase
US7309989B2 (en) * 2005-04-06 2007-12-18 General Electric Company Wireless RF coil power supply
DE602006013302D1 (de) * 2005-04-15 2010-05-12 Koninkl Philips Electronics Nv Antennenvorrichtung zum empfang magnetischer resonanzsignale mit zugehöriger kommunikationseinheit
US7557575B2 (en) * 2006-04-04 2009-07-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic resonance imaging apparatus and magnetic resonance imaging method
JP5243421B2 (ja) * 2006-07-18 2013-07-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ マルチコイルmriのアーティファクト抑制
JP2008165894A (ja) * 2006-12-28 2008-07-17 Tdk Corp 磁気記録媒体、記録再生装置、磁気記録媒体磁化方法および磁気記録媒体磁化装置
CA2618163A1 (en) 2008-02-07 2009-08-07 K. W. Michael Siu Head and neck cancer biomarkers
DE102009014461B4 (de) * 2009-03-23 2011-06-22 Siemens Aktiengesellschaft, 80333 Verfahren, Magnetresonanzgerät und Computerprogramm zur Erstellung von Bildern mittels paralleler Akquistionstechnik
WO2010137900A2 (ko) 2009-05-27 2010-12-02 전남대학교 산학협력단 선택적 경색 조직 타겟팅 박테리아 및 그의 용도
JP5611882B2 (ja) * 2010-05-31 2014-10-22 株式会社東芝 磁気共鳴イメージング装置
KR101105352B1 (ko) * 2010-09-09 2012-01-16 (주)사이메딕스 적응적 셀프 캘리브레이션이 가능한 병렬 자기 공명 영상 장치, 그 영상 방법 및 그 기록 매체
US9791535B2 (en) 2012-05-16 2017-10-17 Wollin Ventures, Inc. Apparatus and method for mapping and measurement of spatially and temporally distributed induced small phase deviations in magnetic resonance utilizing deconvolution
CN103505208B (zh) * 2012-06-21 2015-07-29 西门子(深圳)磁共振有限公司 一种磁共振成像方法
DE102013201671B3 (de) 2013-02-01 2014-07-31 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum Erfassen von MR-Daten und zur Bestimmung eines B1-Magnetfelds sowie entsprechend ausgestaltete Magnetresonanzanlage
DE102013201670B3 (de) 2013-02-01 2014-07-03 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum Erfassen von MR-Daten und zur Bestimmung eines B1-Magnetfelds sowie entsprechend ausgestaltete Magnetresonanzanlage
KR101474757B1 (ko) * 2013-07-08 2014-12-19 삼성전자주식회사 자장 측정 방법 및 장치
CN104569882B (zh) * 2014-12-29 2017-08-22 苏州朗润医疗系统有限公司 磁共振成像系统快速自旋回波的相位校正方法及其应用
US11249163B2 (en) 2017-11-27 2022-02-15 Shenzhen Institutes Of Advanced Technology Eddy-current correction method and apparatus, mobile terminal and readable storage medium
CN107907846B (zh) * 2017-11-27 2020-05-01 深圳先进技术研究院 涡流校正方法、装置、移动终端及可读存储介质
EP3680680A1 (en) * 2019-01-11 2020-07-15 Siemens Healthcare GmbH Method for obtaining an optimised operating parameter, storage medium and magnetic resonance apparatus
CN109793518B (zh) * 2019-01-24 2022-08-26 奥泰医疗系统有限责任公司 一种磁共振b0场图测量方法
EP3995846A1 (en) * 2020-11-09 2022-05-11 Koninklijke Philips N.V. Spin echo mr imaging with spiral acquisition

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL9002842A (nl) * 1990-12-21 1992-07-16 Philips Nv Magnetische resonantie werkwijze en inrichting ter reductie van beeldfouten in een magnetisch resonantie beeld.
EP0577188B1 (en) * 1992-06-29 1999-09-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method and apparatus for magnetic resonance imaging
DE69326202T2 (de) * 1992-06-29 2000-04-13 Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven Verfahren und Gerät zur Kernresonanzabbildung
EP0595391B1 (en) * 1992-10-26 2001-01-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Eddy current compensation in magnetic resonance imaging
DE69329873T2 (de) * 1992-10-26 2001-09-13 Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven Kompensierung von Wirbelströmen in der Bilderzeugung mittels magnetischer Resonanz
US5353056A (en) * 1992-10-27 1994-10-04 Panasonic Technologies, Inc. System and method for modifying aberration and registration of images
JPH06245917A (ja) * 1993-02-23 1994-09-06 Yokogawa Medical Syst Ltd Mri装置
DE4432575C2 (de) * 1993-09-14 2003-04-10 Toshiba Kawasaki Kk Verfahren zur Bildgebung der Gehirnfunktion mittels einer Kernspinresonanz-Vorrichtung und hieran angepasste Kernspinresonanz-Vorrichtung
JP3505294B2 (ja) * 1995-03-28 2004-03-08 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Mri装置
JP3384944B2 (ja) * 1996-07-11 2003-03-10 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Mri装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001025463A (ja) * 1999-06-03 2001-01-30 General Electric Co <Ge> 磁気共鳴イメージング・システムのための高速スピン・エコーの位相補正法
KR100335782B1 (ko) * 1999-08-06 2002-05-09 이민화 Steam시퀀스를 이용하여 와전류를 측정하는 방법
US6483305B1 (en) 1999-08-20 2002-11-19 Ge Yokogawa Medical Systems, Limited Magnetic resonance method for reducing residual magnetization and adjusting the amplitude of gradient pulses
US7323873B2 (en) 2004-12-01 2008-01-29 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Phase error measuring method, MR imaging method, and MRI system
JP2006247380A (ja) * 2005-02-10 2006-09-21 Toshiba Corp 磁気共鳴イメージング装置およびその制御方法
JP2012213608A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Toshiba Corp 磁気共鳴イメージング装置
KR20130135776A (ko) * 2012-06-01 2013-12-11 지멘스 악티엔게젤샤프트 자기 공명 기법에서 측정 볼륨 내의 검사 대상의 대상-특정 b1 분포를 결정하는 방법, 자기 공명 시스템, 컴퓨터 프로그램, 및 전자적으로 판독가능한 데이터 매체

Also Published As

Publication number Publication date
CN100536768C (zh) 2009-09-09
EP0818689A1 (en) 1998-01-14
EP0818689B1 (en) 2007-07-11
KR100533432B1 (ko) 2006-05-04
KR980012936A (ko) 1998-04-30
US6218834B1 (en) 2001-04-17
CN1171921A (zh) 1998-02-04
DE69737898D1 (de) 2007-08-23
DE69737898T2 (de) 2008-04-03
US6127825A (en) 2000-10-03
BR9704412A (pt) 2000-06-06
JP3384944B2 (ja) 2003-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3384944B2 (ja) Mri装置
US5729139A (en) MRI apparatus
EP0644437B1 (en) Correction of read-gradient polarity in EPI and GRASE MRI
US7015696B2 (en) Magnetic resonance imaging apparatus and magnetic resonance imaging method
JP3796446B2 (ja) Mri装置
US20060116569A1 (en) Phase error measuring method, MR imaging method, and MRI system
KR100772737B1 (ko) 위상 오차 검출 방법 및 시스템
JPH04279148A (ja) 核磁気共鳴装置
US6172502B1 (en) Method of and device for imaging by means of magnetic resonance
JP3576641B2 (ja) Mri装置
JP3647444B2 (ja) Mri装置
JPH0838459A (ja) Mr画像再生方法
JP3447099B2 (ja) Mri装置
JP2616358B2 (ja) Mrイメージング装置
JP3385750B2 (ja) 核磁気共鳴イメージング装置
JP2000185023A (ja) Mrイメージング方法、位相シフト測定方法およびmrイメージング装置
JPH11221199A (ja) 磁気共鳴撮影装置
JPH0284939A (ja) Mriの電源非同期スキャン方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081227

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081227

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091227

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091227

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091227

Year of fee payment: 7

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091227

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091227

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101227

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101227

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111227

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111227

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121227

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121227

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131227

Year of fee payment: 11

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees