JPH1088352A - (フルオロアルコキシ)(アルコキシ)シラン化合物 と、その製造法およびフッ素含有シリコン酸化膜の製法 - Google Patents

(フルオロアルコキシ)(アルコキシ)シラン化合物 と、その製造法およびフッ素含有シリコン酸化膜の製法

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JPH1088352A
JPH1088352A JP27985196A JP27985196A JPH1088352A JP H1088352 A JPH1088352 A JP H1088352A JP 27985196 A JP27985196 A JP 27985196A JP 27985196 A JP27985196 A JP 27985196A JP H1088352 A JPH1088352 A JP H1088352A
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compd
silicon oxide
fluorine
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oxide film
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Yuko Hochido
雄幸 寶地戸
Hidekimi Kadokura
秀公 門倉
Masamichi Matsumoto
政道 松本
Hiroshi Matsumoto
浩 松本
Hidechika Yokoyama
英親 横山
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Kojundo Kagaku Kenkyusho KK
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Kojundo Kagaku Kenkyusho KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置の低誘電率層間絶縁膜として、フ
ッ素含有シリコン酸化膜をCVD法で安定してつくるた
めの新規な化合物を提供することにある。 【解決手段】 式[I] (RO)Si(O
4−n [式中、Rは炭素原子数2〜3の直鎖または分岐を有
するフルオロアルキル基を表し、Rはメチル基または
エチル基を表し、n=1〜3であることを表す]で表さ
れる(フルオロアルコキシ)(アルコキシ)シラン化合
物である。トリエトキシクロロシランと1.1当量の
1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロイソプロパノ
ールをアンモニアの共存下で反応させ、副生物を除いた
後、蒸留して(ヘキサフルオロイソプロポキシ)トリエ
トキシシランを得る。該化合物/テトラエトキシシラン
/オゾンの混合ガスを加熱基板上に送り、分解堆積して
フッ素含有シリコン酸化膜を作る。該化合物は、適度な
蒸気圧をもち、安定でかつ腐食性、危険性の低い液体化
合物で、安定して供給可能であるので、CVD法でフッ
素含有シリコン酸化膜を量産することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、新規な、フルオロ
アルコキシル基を有するアルコキシシラン化合物、その
製法、及びそれらの化合物と酸化剤ガスとを原料として
化学気相成長法によりフッ素含有シリコン酸化膜を製造
する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの高集積化に伴い、信号
遅延時間を低減させるために、層間絶縁膜に低誘電率化
が求められている。その中でフッ素含有シリコン酸化膜
(以下SiOF膜と表す)が有効でその製法、特性に関
して、盛んに検討されている。SiOF膜の製法として
は、従来、SiH/SiF/酸化剤ガス やSi
(OC/C/酸化剤ガス の系でプラ
ズマCVDを行う方法が主に検討されてきた。ここで酸
化剤ガスとしてはO、O、NOなどがあげられ
る。更に第43回応用物理学関係連合講演会講演予稿集
(平成8年3月26日)では、HSi(OC
/FSi(OC/O系のプラズマCVD
(26p−N−7,東亜合成、服部ら)やSi(OC
/(CFCHOH/O系の常圧CVD
(26p−N−4、NTT)池田ら)によるSiOF膜
の製法が開示されている。しかしCVDでも成膜の際、
堆積時のフロー特性や安定供給が期待されるSi(OC
H(CF)(OCなどの(フルオロア
ルコキシ)(アルコキシ)シランは未公知の化合物であ
り、かつ、これらを使ったCVDによるSiOF膜の製
法はまだない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】現在シリコン酸化膜を
つくるCVD原料として、最も一般的に用いられている
のはSi(OCである。この化合物に近い物
性をもち、取扱上安定な化合物でSiOF膜が作られれ
ば、その工業的価値は大きい。F源としてフロンのよう
なガスでなく、常温で液体で蒸気圧のある化合物が好ま
しい。しかもひとつの分子内にSiとFが含まれていれ
ば膜組成の制御も容易になり得る。この一つとして、S
i原子に直接F原子が結合した化合物、例えばFSi
(OCがあるが、これは湿気や空気と反応し
て変質しやすく、人体に対する影響も懸念されるので、
工業的に充分でなく、満足できるものではない。
【0004】本発明の目的は、半導体装置の低誘電率層
間絶縁膜として、フッ素含有シリコン酸化膜をCVD法
で安定してつくるための、新規な化合物を提供すること
である。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは長年、Si
(OCを用いたシリコン酸化膜の形成につい
て研究を続けてきた。Si(OCの一つのエ
トキシ基をフルオロアルコキシル基に置換した化合物
は、公知ではなかったが、上記課題を解決するのに、有
効であろうと考え、その化合物を合成し、物性を測定
し、CVDで膜を作ったところ、安定してSiOF膜が
できることを見いだし、本発明を完成するに至った。す
なわち本発明は、SiOF膜をCVD法でつくるための
原料化合物として、(RO)Si(OR4−n
[式中、Rは炭素原子数2〜3の直鎖または分岐を有
するフルオロアルキル基を表し、Rはメチル基または
エチル基を表し、n=1〜3であることを表す]で表さ
れる新規な(フルオロアルコキシ)(アルコキシ)シラ
ン化合物を提供することである。この新規化合物はF原
子が直接Si原子に結合していないので、湿気や空気に
対して、より安定である。また人体に対する影響も少な
いと考えられる。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明における式[I] (R
O)Si(OR4−n中で、Rで表される炭素
数2〜3の直鎖または分岐を有するフルオロアルキル基
としては、例えば、2,2,2−トリフルオロエチル
基、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロイソプロ
ピル基等があげられる。
【0007】本発明における式[I]で表される化合物
としては、具体的には、(2,2,2−トリフルオロエ
トキシ)トリエトキシシラン、ビス(2,2,2−トリ
フルオロエトキシ)ジエトキシシラン、(1,1,1,
3,3,3−ヘキサフルオロイソプロポキシ)トリエト
キシシラン、ビス(1,1,1,3,3,3−ヘキサフ
ルオロイソプロポキシ)ジエトキシシラン等があげられ
る。
【0008】本発明における式[I]で表される化合物
は、 ClSi(OR4−n [II] [式中、Rはメチル基またはエチル基を表し、n=1
〜3であることを表す]で表される化合物に、フルオロ
アルキルアルコールを、アンモニアの共存下で反応させ
ることにより製造することができる。
【0009】本発明によれば、化合物[II]とそのC
lの1〜1.2当量のフルオロアルキルアルコールと
を、トルエンなどの不活性溶媒中、アンモニアの共存
下、−20〜30℃の適当な温度で0.5〜5時間反応
させる。その後、常法によって、後処理し、蒸留するこ
とにより化合物[I]が得られる。
【0010】本発明の化合物[I]の化学式、理化学的
性質を下記に示す。なお、この化合物は実施例1で得ら
れた化合物である。 分子式 ((CFCHO)Si(OC 性状 無色透明な液体 融点 −20℃以下 沸点 165〜167℃(Si(OCの沸
点169℃に近似) H−NMRスペクトル;δ(CDCl): 1.2ppm(t,J=7.0Hz,メチルプロトン) 3.9ppm(q,J=7.0Hz,メチレンプロト
ン) 4.6ppm(sep,J=5.9Hz,メチンプロト
ン)19 F−NMRスペクトル:(C δ=16
2.9 外部基準) δ(CDCl):−76.8ppm(d,J=5.7
Hz,CF)。 FT−IRスペクトル;1298,1267,123
2,1109,974,878,797,687cm
−1 GC−MS(CI);(M+H)+331
【0011】上記化合物は液体であり、現在シリコン酸
化物層間絶縁膜を作るのによく使用されているテトラエ
トキシシランSi(OCに蒸気圧が近いの
で、テトラエトキシシランと混合して安定して供給する
ことも可能である。またF原子が直接Si原子に結合し
ているトリエトキシフルオロシランFSi(OC
に比べて、水や空気に対して安定であるので
取り扱い易い。また腐食性も少ないので好ましい。
【0012】本発明は、式[I]の化合物を用いて、C
VD法でSiOF膜をつくる方法でもある。本発明の化
合物[I]のガスと酸化剤ガスとを、加熱した基板上に
導き、分解反応を基板表面で起こさせることにより、S
iOF膜をつくることができる。希望する膜組成、構造
に応じて、Si(OCやSi(OCH
を同時供給してもよい。化合物[I]は液体であり、S
i(OCやSi(OCHと沸点、蒸気
圧が近く、化学的性質も似ているので、安定して化合物
[I]を基板上に送り、そこで分解堆積することができ
る。酸化剤ガスとしては酸素O、オゾンO、酸化二
窒素NOなどがあげられる。CVD法のうち、常圧C
VD、減圧CVD、プラズマCVDなどが使える。
【0013】
【実施例】
(実施例1) 式[I]の化合物(1,1,1,3,
3,3−ヘキサフルオロイソプロポキシ)トリエトキシ
シランの製造 リフラックスコンデンサー、ガス吹き込み管、温度計、
攪拌機を備えた11の4つ口フラスコにトルエン500
ml,トリエトキシクロロシランSi(OC
Cl 29.0g(沸点:156℃、0.146mo
l)、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロイソプ
ロパノール((CFCHOH)26.5g(沸
点:59℃、0.157mol)を仕込み、0℃に冷却
した。反応液を攪拌しながらフラスコを冷却しつつ、乾
燥アンモニアガスNH3.3Nl(0℃、1気圧状
態、0.147mol)を吹き込み管を通して吹き込ん
だ。吹き込み開始と同時に白色結晶が析出してきた。吹
き込み完了後、冷却を止め、25〜30℃で4時間攪
拌、保持した。反応液スラリーを濾過して副生した塩化
アンモニウムを除去し、溶媒トルエンを留去し、粗製液
30gを得た。小型精留装置にこの30gを仕込み、大
気圧下で蒸留を行い、初留をカットし、塔頂温度が16
5〜167℃を示した留分19.5gを得た。これをガ
スクロマトグラフィー(カラム:SE−30/クロモソ
ーブAW,検出器:TCD)で定量したところ、主成分
が91%で残りは主にSi(OCであった。
主成分の同定をH−NMR)19F−NMR、FT−
IR、GC−MSで行い、標記化合物であることを確認
した。収量17.7g(収率36%)
【0014】同定に用いた機器および条件は以下のとお
りである。 NMR 機器;BRUCKER AC300P 周波数;
300.13MHz19F 282.41MHz 溶
媒;CDCl 濃度:20mg/0.4ml パルス幅;H 6μs,19F 5μs 温度;室温 FT−IR 機器;SHIMADZU FTIR−8600 分解
能;4cm−1 波数;400−4000cm−1
法;液膜法 GC カラム;MEGABORE DB−1 0.53mm×
15m 注入温度;200℃ キャリヤーガス;He 30ml
/min カラム温度;120℃ MS 機器;HITACHI M−80B イオン加速電圧;
3kV イオン化方法;化学イオン化法(ポジティブ)
ガス;イソブタン 質量レンジ;M/Z=0−500
【0015】(実施例2) (1,1,1,3,3,
3−ヘキサフルオロイソプロポキシ)トリエトキシシラ
ンを用いたCVDによるSiOF膜の製造 化合物[I]/Si(OC/Oのガスを用
い、常圧CVD装置により2インチシリコン基板に成膜
した。 条件 供給ガスとその供給量 ((CFCHO)Si(OC 5sccm Si(OC 10sccm O/O 30/70sccm Ar 50sccm 基板温度 400℃ 得られた膜のFT−IRスペクトルにおいて、940c
−1の吸収から、SiF結合が生成していることがわ
かった。
【0016】
【発明の効果】本発明の式[I]の化合物は、CVD条
件下で、SiOF膜を安定してつくることができる。本
発明により、CVDで、SiOF膜をつくれる新規化学
物質を提供することができた。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (RO)Si(OR4−n [I] [式中、Rは炭素原子数2〜3の直鎖または分岐を有
    するフルオロアルキル基を表し、Rはメチル基または
    エチル基を表し、n=1〜3であることを表す]で表さ
    れる(フルオロアルコキシ)(アルコキシ)シラン化合
    物。
  2. 【請求項2】 Rが1,1,1,3,3,3−ヘキサ
    フルオロイソプロピルで、Rがエチルである請求項1
    記載の化合物。
  3. 【請求項3】 ClSi(OR4−n [II] [式中、Rはメチル基またはエチル基を表し、n=1
    〜3であることを表す]で表される化合物に、フルオロ
    アルキルアルコールを、アンモニアの共存下で反応させ
    ることによりなる請求項1記載の化合物(式[I])の
    製法。
  4. 【請求項4】 Rがエチルで、フルオロアルキルアル
    コールが1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロイソ
    プロパノールである請求項3記載の化合物の製法。
  5. 【請求項5】 フッ素含有シリコン酸化膜を化学気相成
    長により作る方法で、基板を揮発性シラン化合物及び酸
    化剤ガスと接触させる工程からなり、前記シラン化合物
    が請求項1記載の化合物(式[1])からなることを特
    徴とする方法。
  6. 【請求項6】 前記シラン化合物が(1,1,1,3,
    3,3−ヘキサフルオロイソプロポキシ)トリエトキシ
    シランであることを特徴とする請求項5記載の方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6583048B2 (en) 2001-01-17 2003-06-24 Air Products And Chemicals, Inc. Organosilicon precursors for interlayer dielectric films with low dielectric constants
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