JPH1090196A - 透明保護層の検査方法およびその検査装置 - Google Patents
透明保護層の検査方法およびその検査装置Info
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- JPH1090196A JPH1090196A JP8271871A JP27187196A JPH1090196A JP H1090196 A JPH1090196 A JP H1090196A JP 8271871 A JP8271871 A JP 8271871A JP 27187196 A JP27187196 A JP 27187196A JP H1090196 A JPH1090196 A JP H1090196A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 透明保護層の安定した品質管理を確立するの
が容易でなく、また品質管理のための人件費の増大を招
き、さらに透明保護層の効率的な品質管理を実現するの
が容易でない課題があった。 【解決手段】 紫外光などの特定波長域に感応する透明
保護層１ｂが形成されたカード１へ前記特定波長域にピ
ークを有する光を照射すると、前記照射された光により
得られる前記カード１に形成された透明保護層１ｂの光
の強度分布に透明保護層の良、不良の状態に応じたムラ
が生じることから、この光の強度分布のムラを検出し、
前記カード１に形成された透明保護層１ｂの品質の良否
を判定検査し、透明保護層１ｂの安定した品質管理およ
び透明保護層の品質管理の効率化を実現する。
が容易でなく、また品質管理のための人件費の増大を招
き、さらに透明保護層の効率的な品質管理を実現するの
が容易でない課題があった。 【解決手段】 紫外光などの特定波長域に感応する透明
保護層１ｂが形成されたカード１へ前記特定波長域にピ
ークを有する光を照射すると、前記照射された光により
得られる前記カード１に形成された透明保護層１ｂの光
の強度分布に透明保護層の良、不良の状態に応じたムラ
が生じることから、この光の強度分布のムラを検出し、
前記カード１に形成された透明保護層１ｂの品質の良否
を判定検査し、透明保護層１ｂの安定した品質管理およ
び透明保護層の品質管理の効率化を実現する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカード表面
にプリントされた文字や画を保護するため、前記カード
表面に形成された透明保護層の品質を検査する透明保護
層の検査方法およびその検査装置に関するものである。
にプリントされた文字や画を保護するため、前記カード
表面に形成された透明保護層の品質を検査する透明保護
層の検査方法およびその検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、社員証、学生証、免許証などはカ
ードとしての形態を有しているものが多い。このような
身分を明らかにするための証明書として用いられている
カードには、本人の顔写真や本人に関する各種情報がプ
リントされており、一般に常時携帯されるものであり、
カード表面が摩耗してカード表面にプリントされた本人
の顔写真や本人に関する各種情報が判別でなくなってし
まう恐れがある。このため、本人の顔写真や本人に関す
る各種情報がプリントされたカード表面には、摩耗を防
ぐために透明保護層を形成する場合が多い。また、透明
保護層の耐摩耗性を向上させるために透明保護層を複数
層形成する場合もある。このような透明保護層は均一な
厚さで形成されているのが理想的であるが、透明保護層
の形成が均一に行われず、不均一になったり、部分的に
透明保護層が形成されていない部分が生じたり、不必要
な部分にも透明保護層が形成されたり、キズや気泡が発
生する可能性があるため、形成された透明保護層の品質
管理を行う重要性が増大している。しかしながら、この
ような透明保護層の品質管理を行うための従来の透明保
護層の検査方法は専ら目視検査が主であり、また一日に
検査する検査対象の数にも限界がある。
ードとしての形態を有しているものが多い。このような
身分を明らかにするための証明書として用いられている
カードには、本人の顔写真や本人に関する各種情報がプ
リントされており、一般に常時携帯されるものであり、
カード表面が摩耗してカード表面にプリントされた本人
の顔写真や本人に関する各種情報が判別でなくなってし
まう恐れがある。このため、本人の顔写真や本人に関す
る各種情報がプリントされたカード表面には、摩耗を防
ぐために透明保護層を形成する場合が多い。また、透明
保護層の耐摩耗性を向上させるために透明保護層を複数
層形成する場合もある。このような透明保護層は均一な
厚さで形成されているのが理想的であるが、透明保護層
の形成が均一に行われず、不均一になったり、部分的に
透明保護層が形成されていない部分が生じたり、不必要
な部分にも透明保護層が形成されたり、キズや気泡が発
生する可能性があるため、形成された透明保護層の品質
管理を行う重要性が増大している。しかしながら、この
ような透明保護層の品質管理を行うための従来の透明保
護層の検査方法は専ら目視検査が主であり、また一日に
検査する検査対象の数にも限界がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の透明保護層の検
査方法およびその検査装置は以上のように構成されてい
るので、管理される透明保護層の品質は検査員の経験に
左右されることになり、また透明保護層が形成されたカ
ードを大量生産する場合には多くの検査員が必要となる
ため、透明保護層の安定した品質管理を確立するのが容
易でなく、また品質管理のための人件費の増大を招き、
さらに透明保護層の効率的な品質管理を実現するのが容
易でない課題があった。
査方法およびその検査装置は以上のように構成されてい
るので、管理される透明保護層の品質は検査員の経験に
左右されることになり、また透明保護層が形成されたカ
ードを大量生産する場合には多くの検査員が必要となる
ため、透明保護層の安定した品質管理を確立するのが容
易でなく、また品質管理のための人件費の増大を招き、
さらに透明保護層の効率的な品質管理を実現するのが容
易でない課題があった。
【０００４】そこで本発明の目的は、形成された透明保
護層の品質管理の安定化、透明保護層の品質管理に要す
る経費削減、透明保護層の品質管理の効率化、さらに透
明保護層の定量的な品質管理を実現できる透明保護層の
検査方法およびその検査装置を提供することにある。
護層の品質管理の安定化、透明保護層の品質管理に要す
る経費削減、透明保護層の品質管理の効率化、さらに透
明保護層の定量的な品質管理を実現できる透明保護層の
検査方法およびその検査装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の透明保護層の検査方法は、特定波長域に感
応する特性を有した透明保護層が形成された基材面へ前
記特定波長域にピークを有する光を照射し、前記照射さ
れた光と前記透明保護層の前記特性とにより前記透明保
護層の形成についての良、不良の状態に応じて得られる
前記基材面における光の強度分布を検出し、前記検出し
た光の強度分布をもとに前記基材面に形成された透明保
護層の品質を検査するようにしたことを特徴とする。ま
た本発明は、前記透明保護層は、特定波長域の光を吸収
する吸収材を含むことを特徴とする。また本発明は、前
記特定波長域の光は紫外光であり、前記光の強度分布は
前記紫外光の波長域の透明保護層からの反射光で得られ
ることを特徴とする。また本発明は、前記透明保護層は
特定波長域の光に感応して発光するマーカ材を含み、前
記光の強度分布はマーカ材の発光により得られることを
特徴とする。また本発明は、前記特定波長域の光は紫外
光であり、前記マーカ材は紫外光の波長域に感応して発
光することを特徴とする。
め、本発明の透明保護層の検査方法は、特定波長域に感
応する特性を有した透明保護層が形成された基材面へ前
記特定波長域にピークを有する光を照射し、前記照射さ
れた光と前記透明保護層の前記特性とにより前記透明保
護層の形成についての良、不良の状態に応じて得られる
前記基材面における光の強度分布を検出し、前記検出し
た光の強度分布をもとに前記基材面に形成された透明保
護層の品質を検査するようにしたことを特徴とする。ま
た本発明は、前記透明保護層は、特定波長域の光を吸収
する吸収材を含むことを特徴とする。また本発明は、前
記特定波長域の光は紫外光であり、前記光の強度分布は
前記紫外光の波長域の透明保護層からの反射光で得られ
ることを特徴とする。また本発明は、前記透明保護層は
特定波長域の光に感応して発光するマーカ材を含み、前
記光の強度分布はマーカ材の発光により得られることを
特徴とする。また本発明は、前記特定波長域の光は紫外
光であり、前記マーカ材は紫外光の波長域に感応して発
光することを特徴とする。
【０００６】また本発明の透明保護層の検査装置は、特
定波長域に感応する特性を有した透明保護層が形成され
た基材面へ前記特定波長域にピークを有する光を照射す
る照射手段と、前記照射手段により照射された光と前記
透明保護層の前記特性とにより前記透明保護層の良、不
良の状態に応じて得られる前記透明保護層における光の
強度分布を検出する受光手段と、前記受光手段により検
出した光の強度分布をもとに前記基材面に形成された透
明保護層の品質の良否を判定する判定手段とを備えたこ
とを特徴とする。また本発明は、前記透明保護層は特定
波長域の光を吸収する吸収材を含み、前記受光手段は照
射手段により照射された光の前記基材面からの反射光を
受光し、前記判定手段による透明保護層の品質の良否を
判定は、前記受光手段により受光した反射光の光強度を
電気信号に変換し、その電気信号と基準信号との比較結
果をもとになされることを特徴とする。また本発明は、
前記透明保護層は特定波長域の光に感応して発光するマ
ーカ材を含み、前記受光手段は、前記照射手段により照
射された光に感応した前記マーカ材から発せられる光を
受光し、前記判定手段による透明保護層の品質の良否の
判定は、前記受光手段により受光した光の光強度を電気
信号に変換し、その電気信号と基準信号との比較結果を
もとになされることを特徴とする。また本発明は、前記
特定波長域にピークを有する光は紫外光であることを特
徴とする。また本発明は、前記照射手段は、特定波長域
と異なる波長域にピークを有する光源を有し、前記受光
手段は前記波長域の光に対する光学系および撮像素子な
らびに前記波長域の光を通過させるフィルタを備え、更
に、前記フィルタにより前記特定波長域の画像と前記基
材面にプリントされた文字や画についての画像とを選別
可能にして、前記プリントされた文字や画を検出する基
材面画像検出手段が設けられていることを特徴とする。
定波長域に感応する特性を有した透明保護層が形成され
た基材面へ前記特定波長域にピークを有する光を照射す
る照射手段と、前記照射手段により照射された光と前記
透明保護層の前記特性とにより前記透明保護層の良、不
良の状態に応じて得られる前記透明保護層における光の
強度分布を検出する受光手段と、前記受光手段により検
出した光の強度分布をもとに前記基材面に形成された透
明保護層の品質の良否を判定する判定手段とを備えたこ
とを特徴とする。また本発明は、前記透明保護層は特定
波長域の光を吸収する吸収材を含み、前記受光手段は照
射手段により照射された光の前記基材面からの反射光を
受光し、前記判定手段による透明保護層の品質の良否を
判定は、前記受光手段により受光した反射光の光強度を
電気信号に変換し、その電気信号と基準信号との比較結
果をもとになされることを特徴とする。また本発明は、
前記透明保護層は特定波長域の光に感応して発光するマ
ーカ材を含み、前記受光手段は、前記照射手段により照
射された光に感応した前記マーカ材から発せられる光を
受光し、前記判定手段による透明保護層の品質の良否の
判定は、前記受光手段により受光した光の光強度を電気
信号に変換し、その電気信号と基準信号との比較結果を
もとになされることを特徴とする。また本発明は、前記
特定波長域にピークを有する光は紫外光であることを特
徴とする。また本発明は、前記照射手段は、特定波長域
と異なる波長域にピークを有する光源を有し、前記受光
手段は前記波長域の光に対する光学系および撮像素子な
らびに前記波長域の光を通過させるフィルタを備え、更
に、前記フィルタにより前記特定波長域の画像と前記基
材面にプリントされた文字や画についての画像とを選別
可能にして、前記プリントされた文字や画を検出する基
材面画像検出手段が設けられていることを特徴とする。
【０００７】本発明の透明保護層の検査方法によれば、
特定波長域に感応する透明保護層が形成された基材面へ
前記特定波長域にピークを有する光を照射すると、前記
照射された光により得られる前記基材面における光の強
度分布に前記透明保護層の良、不良の状態に応じたムラ
が生じるため、この光の強度分布のムラを検出し、前記
基材面に形成された透明保護層の良否を検査し、透明保
護層の安定した品質管理および透明保護層の品質管理の
効率化を実現する。
特定波長域に感応する透明保護層が形成された基材面へ
前記特定波長域にピークを有する光を照射すると、前記
照射された光により得られる前記基材面における光の強
度分布に前記透明保護層の良、不良の状態に応じたムラ
が生じるため、この光の強度分布のムラを検出し、前記
基材面に形成された透明保護層の良否を検査し、透明保
護層の安定した品質管理および透明保護層の品質管理の
効率化を実現する。
【０００８】また、本発明の透明保護層の検査装置によ
れば、特定波長域に感応する特性を有した透明保護層が
形成された基材面へ照射手段により前記特定波長域にピ
ークを有する光を照射したときの前記透明保護層におけ
る光の強度分布を受光手段により検出すると、前記透明
保護層の良、不良の状態に応じて光の強度分布にムラが
検出できるので、前記受光手段により検出した光の強度
分布をもとに前記基材面に形成された透明保護層の品質
の良否の定量的な判定を行うことが可能になり、前記透
明保護層の品質管理の自動化、透明保護層の品質管理の
安定化、透明保護層の品質管理に要する経費削減、透明
保護層の品質管理の効率化が実現する。
れば、特定波長域に感応する特性を有した透明保護層が
形成された基材面へ照射手段により前記特定波長域にピ
ークを有する光を照射したときの前記透明保護層におけ
る光の強度分布を受光手段により検出すると、前記透明
保護層の良、不良の状態に応じて光の強度分布にムラが
検出できるので、前記受光手段により検出した光の強度
分布をもとに前記基材面に形成された透明保護層の品質
の良否の定量的な判定を行うことが可能になり、前記透
明保護層の品質管理の自動化、透明保護層の品質管理の
安定化、透明保護層の品質管理に要する経費削減、透明
保護層の品質管理の効率化が実現する。
【０００９】
【発明の実施の形態】次に本発明による透明保護層の検
査方法およびその検査装置の実施の形態について説明す
る。図１は、本発明による透明保護層の検査方法が適用
される透明保護層の検査装置の一例を示すブロック図で
ある。この透明保護層の検査装置は、光源２で発生させ
た紫外光を吸収波長域が紫外光波長域である透明保護層
が形成されたカード１の表面に照射する投光部３と、カ
ード１上で反射した紫外光を撮像する紫外光に感応する
ＣＣＤを用いた撮像カメラ４と、撮像カメラ４により紫
外光で撮像されたカード１表面の画像データを取り込ん
で画像処理するデータ処理装置５を備えている。また、
投光部３および撮像カメラ４には必要に応じて所定の透
過特性を有した光学フィルタ６，７が用いられる。透明
保護層には紫外光吸収材が混入されており、これによる
吸収波長域が例えば３５０ｎｍ近辺であれば、この吸収
波長域の例えば２００ワット程度の紫外線光源２を使用
する。一方、カード１の構造は、図６に示すように例え
ば塩化ビニールを材料とするカード基材１０１の表面に
プリント画像１ａが形成され、さらにその上に透明保護
層１ｂが形成されている。あるいは、図７に示すように
カード基材１０１の表面にプリント画像１ａが形成さ
れ、さらにその上に紫外線吸収材による紫外線吸収層１
ｅが形成され、さらにその上に中間層１ｄが形成され、
さらにその上に剥離／保護層１ｃが形成されている。
査方法およびその検査装置の実施の形態について説明す
る。図１は、本発明による透明保護層の検査方法が適用
される透明保護層の検査装置の一例を示すブロック図で
ある。この透明保護層の検査装置は、光源２で発生させ
た紫外光を吸収波長域が紫外光波長域である透明保護層
が形成されたカード１の表面に照射する投光部３と、カ
ード１上で反射した紫外光を撮像する紫外光に感応する
ＣＣＤを用いた撮像カメラ４と、撮像カメラ４により紫
外光で撮像されたカード１表面の画像データを取り込ん
で画像処理するデータ処理装置５を備えている。また、
投光部３および撮像カメラ４には必要に応じて所定の透
過特性を有した光学フィルタ６，７が用いられる。透明
保護層には紫外光吸収材が混入されており、これによる
吸収波長域が例えば３５０ｎｍ近辺であれば、この吸収
波長域の例えば２００ワット程度の紫外線光源２を使用
する。一方、カード１の構造は、図６に示すように例え
ば塩化ビニールを材料とするカード基材１０１の表面に
プリント画像１ａが形成され、さらにその上に透明保護
層１ｂが形成されている。あるいは、図７に示すように
カード基材１０１の表面にプリント画像１ａが形成さ
れ、さらにその上に紫外線吸収材による紫外線吸収層１
ｅが形成され、さらにその上に中間層１ｄが形成され、
さらにその上に剥離／保護層１ｃが形成されている。
【００１０】図２は、本発明の一実施の形態例における
透明保護層の検査装置による透明保護層の検査方法を示
す説明図、図３は透明保護層に不良部分８が発生した検
査対象カードを示す斜視図である。図３に示すように、
走査ラインＬでカード１を走査する。この場合、図１に
示す投光部３と撮像カメラ４とカード表面との位置関係
を一定に保った状態にして、カード１を図示していない
カード駆動機構により２次元的に移動させることにより
透明保護層１ｂを走査してもよいし、また投光部３とカ
メラ４とをカード表面に対し移動することで透明保護層
１ｂを走査してもよい。このようにしてカード１の透明
保護層を走査ラインＬで走査したときの撮像カメラ４か
ら出力される画像データＶの示す紫外光の反射光強度
は、図２に示すように透明保護層が正常に形成されてい
る箇所では透明保護層に紫外光が吸収されて小さい値を
示し、また不良部分８ではカード表面で反射されて大き
い値を示す。データ処理装置５では、紫外光の反射光強
度を示す画像データＶのレベルを良・不良判定基準値Ｄ
ｔｈと比較し、画像データＶのレベルが良・不良判定基
準値Ｄｔｈを越えた範囲に対応するカード表面の透明保
護層形成領域を不良部分と判定する。
透明保護層の検査装置による透明保護層の検査方法を示
す説明図、図３は透明保護層に不良部分８が発生した検
査対象カードを示す斜視図である。図３に示すように、
走査ラインＬでカード１を走査する。この場合、図１に
示す投光部３と撮像カメラ４とカード表面との位置関係
を一定に保った状態にして、カード１を図示していない
カード駆動機構により２次元的に移動させることにより
透明保護層１ｂを走査してもよいし、また投光部３とカ
メラ４とをカード表面に対し移動することで透明保護層
１ｂを走査してもよい。このようにしてカード１の透明
保護層を走査ラインＬで走査したときの撮像カメラ４か
ら出力される画像データＶの示す紫外光の反射光強度
は、図２に示すように透明保護層が正常に形成されてい
る箇所では透明保護層に紫外光が吸収されて小さい値を
示し、また不良部分８ではカード表面で反射されて大き
い値を示す。データ処理装置５では、紫外光の反射光強
度を示す画像データＶのレベルを良・不良判定基準値Ｄ
ｔｈと比較し、画像データＶのレベルが良・不良判定基
準値Ｄｔｈを越えた範囲に対応するカード表面の透明保
護層形成領域を不良部分と判定する。
【００１１】この場合、図４に示すように表面の一部に
透明保護層が形成されているカード、また、図５に示す
ように全面に透明保護層が形成されているカードいずれ
であっても、撮像カメラ４の視野内でカード１の位置決
めが正確に行われれば、カード１表面の透明保護層が形
成されている領域を走査して透明保護層の不良部分の判
定が可能であり、透明保護層に不良部分を有しているカ
ードを識別することが出来る。
透明保護層が形成されているカード、また、図５に示す
ように全面に透明保護層が形成されているカードいずれ
であっても、撮像カメラ４の視野内でカード１の位置決
めが正確に行われれば、カード１表面の透明保護層が形
成されている領域を走査して透明保護層の不良部分の判
定が可能であり、透明保護層に不良部分を有しているカ
ードを識別することが出来る。
【００１２】なお、以上説明した実施の形態例では吸収
波長域が紫外光波長域である透明保護層が形成されたカ
ード１の表面に紫外光を照射し、そのときの反射光強度
をもとに透明保護層の不良部分を識別するものであった
が、紫外光の代りに赤外光を用いることも可能である。
この場合には、光源２が赤外光を発生させる構成にし
て、透明保護層に赤外光を吸収する特性を付与するとと
もに、撮像カメラに用いられるＣＣＤは感度のピークが
赤外光波長にあるものを使用する。
波長域が紫外光波長域である透明保護層が形成されたカ
ード１の表面に紫外光を照射し、そのときの反射光強度
をもとに透明保護層の不良部分を識別するものであった
が、紫外光の代りに赤外光を用いることも可能である。
この場合には、光源２が赤外光を発生させる構成にし
て、透明保護層に赤外光を吸収する特性を付与するとと
もに、撮像カメラに用いられるＣＣＤは感度のピークが
赤外光波長にあるものを使用する。
【００１３】また、以上説明した実施の形態例では透明
保護層を形成したカード表面での反射光強度をもとに透
明保護層の不良部分を識別するものであったが、特定波
長の光線に感応して特定の発光色で発光するマーカ材を
透明保護層に混入し、この透明保護層へ前記特定波長の
光線を照射し、このときの透明保護層の発光ムラの存在
を検出することで透明保護層の不良部分を識別すること
も可能である。
保護層を形成したカード表面での反射光強度をもとに透
明保護層の不良部分を識別するものであったが、特定波
長の光線に感応して特定の発光色で発光するマーカ材を
透明保護層に混入し、この透明保護層へ前記特定波長の
光線を照射し、このときの透明保護層の発光ムラの存在
を検出することで透明保護層の不良部分を識別すること
も可能である。
【００１４】また、光源２では紫外光波長域および可視
光波長域の光を発生する各光源を備え、紫外光波長域お
よび可視光波長域の光の発生を切り換えられるように構
成し、さらに撮像カメラ４は感度のピークを紫外光波長
域に有した第１のＣＣＤおよび可視光波長域に感度のピ
ークを有した第２のＣＣＤを備え、カード表面での反射
光をハーフミラーで分割し、分割した各反射光によりカ
ード表面を前記第１のＣＣＤおよび前記第２のＣＣＤで
撮像する構成にする。そして、第１のＣＣＤでカード表
面を撮像する際にはカード表面へ紫外光を照射し、また
第２のＣＣＤでカード表面を撮像する際にはカード表面
へ可視光を照射し、前記第１のＣＣＤにより得られる画
像データをもとに吸収波長域が紫外光波長域である透明
保護層の不良箇所を検出し、さらに前記第２のＣＣＤに
より得られる画像データをもとにカード表面にプリント
された文字や画の検出、認識、不良判定などを行うこと
も可能である。また、光源２は紫外光波長域から可視光
波長域までの光を発生する構成にしてもよく、このよう
に構成したときには撮像カメラ４の構成としてはハーフ
ミラーで分割した反射光に対し一方では紫外光波長域透
過性のフィルタを介した反射光を前記第１のＣＣＤで受
けてカード表面を撮像し、他方では可視光波長域透過性
のフィルタを介した反射光を前記第２のＣＣＤで受けて
カード表面を撮像する。また、光源２が赤外光波長域と
可視光波長域の光を発生する場合についても、前記紫外
光と同様に撮像カメラ４の構成を赤外光波長域および可
視光波長域に対応可能な構成にする。なお、以上の説明
においてＣＣＤはラインＣＣＤを用いて画像の解像度に
応じたものを使用し、例えば１２ドット／ｍｍであれ
ば、モアレ防止のため４倍の４６ドット／ｍｍとなるよ
うにして、カードサイズ対象ならば５０００画素以上の
もので、解像度に応じて走査して画像を取り込む。この
とき撮像カメラ４とデータ処理装置５とのインターフェ
ースは高速処理が可能となるようにＰＣＩバスなどによ
り１ライン、１ｍｓｅｃ以内で高速に可像データをデー
タ処理装置５へ取り込むようにする。
光波長域の光を発生する各光源を備え、紫外光波長域お
よび可視光波長域の光の発生を切り換えられるように構
成し、さらに撮像カメラ４は感度のピークを紫外光波長
域に有した第１のＣＣＤおよび可視光波長域に感度のピ
ークを有した第２のＣＣＤを備え、カード表面での反射
光をハーフミラーで分割し、分割した各反射光によりカ
ード表面を前記第１のＣＣＤおよび前記第２のＣＣＤで
撮像する構成にする。そして、第１のＣＣＤでカード表
面を撮像する際にはカード表面へ紫外光を照射し、また
第２のＣＣＤでカード表面を撮像する際にはカード表面
へ可視光を照射し、前記第１のＣＣＤにより得られる画
像データをもとに吸収波長域が紫外光波長域である透明
保護層の不良箇所を検出し、さらに前記第２のＣＣＤに
より得られる画像データをもとにカード表面にプリント
された文字や画の検出、認識、不良判定などを行うこと
も可能である。また、光源２は紫外光波長域から可視光
波長域までの光を発生する構成にしてもよく、このよう
に構成したときには撮像カメラ４の構成としてはハーフ
ミラーで分割した反射光に対し一方では紫外光波長域透
過性のフィルタを介した反射光を前記第１のＣＣＤで受
けてカード表面を撮像し、他方では可視光波長域透過性
のフィルタを介した反射光を前記第２のＣＣＤで受けて
カード表面を撮像する。また、光源２が赤外光波長域と
可視光波長域の光を発生する場合についても、前記紫外
光と同様に撮像カメラ４の構成を赤外光波長域および可
視光波長域に対応可能な構成にする。なお、以上の説明
においてＣＣＤはラインＣＣＤを用いて画像の解像度に
応じたものを使用し、例えば１２ドット／ｍｍであれ
ば、モアレ防止のため４倍の４６ドット／ｍｍとなるよ
うにして、カードサイズ対象ならば５０００画素以上の
もので、解像度に応じて走査して画像を取り込む。この
とき撮像カメラ４とデータ処理装置５とのインターフェ
ースは高速処理が可能となるようにＰＣＩバスなどによ
り１ライン、１ｍｓｅｃ以内で高速に可像データをデー
タ処理装置５へ取り込むようにする。
【００１５】以上説明したようにこの実施の形態例で
は、紫外光、赤外光をカード表面へ照射したときの反射
光の強度分布をもとに、カード表面における所定領域ま
たはカードプリント面の全面に形成された透明保護層の
良、不良の判定を行うことが可能になり、さらにカード
搬送機構と組み合わせることで透明保護層の良、不良の
判定の自動化および効率化を実現できる。また、マーカ
材による透明保護層形成領域の発光ムラ、マーカ材発光
による光の強度分布をもとに、カード表面における所定
領域またはカードプリント面の全面に形成された透明保
護層の良、不良の判定を行うことが可能になり、さらに
カード搬送機構と組み合わせることで透明保護層の良、
不良の判定の自動化および効率化を実現できる。また、
カード表面にプリントされた文字や画の検出、認識、不
良判定なども透明保護層の良、不良の判定と並行して行
うことが可能になる。
は、紫外光、赤外光をカード表面へ照射したときの反射
光の強度分布をもとに、カード表面における所定領域ま
たはカードプリント面の全面に形成された透明保護層の
良、不良の判定を行うことが可能になり、さらにカード
搬送機構と組み合わせることで透明保護層の良、不良の
判定の自動化および効率化を実現できる。また、マーカ
材による透明保護層形成領域の発光ムラ、マーカ材発光
による光の強度分布をもとに、カード表面における所定
領域またはカードプリント面の全面に形成された透明保
護層の良、不良の判定を行うことが可能になり、さらに
カード搬送機構と組み合わせることで透明保護層の良、
不良の判定の自動化および効率化を実現できる。また、
カード表面にプリントされた文字や画の検出、認識、不
良判定なども透明保護層の良、不良の判定と並行して行
うことが可能になる。
【００１６】図８は本発明の一実施の形態例における透
明保護層の検査装置を搭載したカード作成装置の概略を
示す概念図である。このカード作成装置はカードを１枚
ずつ送り出すカードホッパ部２１、カードプリント部２
２、カード表面の所定位置に透明保護層を形成する透明
保護層形成部２３、形成された透明保護層の不良検出を
行う透明保護層検査部２４、形成された透明保護層に不
良が検出されたカードを選別して排出する不良カード排
出部２５、良好な透明保護層が形成されたカードを収納
するカードスタッカー部２６を備えている。透明保護層
の検査装置は透明保護層検査部２４に配置されており、
カード１は１枚ずつ例えばステージ３２上の所定位置に
固定され、搬送レール３１上を移動するステージ３２に
より撮像カメラ４の直下に位置決めされ、形成された透
明保護層の良、不良の検査が図示していない画像データ
処理部で行われる。
明保護層の検査装置を搭載したカード作成装置の概略を
示す概念図である。このカード作成装置はカードを１枚
ずつ送り出すカードホッパ部２１、カードプリント部２
２、カード表面の所定位置に透明保護層を形成する透明
保護層形成部２３、形成された透明保護層の不良検出を
行う透明保護層検査部２４、形成された透明保護層に不
良が検出されたカードを選別して排出する不良カード排
出部２５、良好な透明保護層が形成されたカードを収納
するカードスタッカー部２６を備えている。透明保護層
の検査装置は透明保護層検査部２４に配置されており、
カード１は１枚ずつ例えばステージ３２上の所定位置に
固定され、搬送レール３１上を移動するステージ３２に
より撮像カメラ４の直下に位置決めされ、形成された透
明保護層の良、不良の検査が図示していない画像データ
処理部で行われる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の透明保護
層の検査方法は、特定波長域に感応する透明保護層が形
成された基材面へ特定波長域にピークを有する光を照射
したときに、前記照射された光と前記透明保護層の特性
とにより前記透明保護層の状態に応じて得られる前記基
材面における光の強度分布をもとに前記基材面に形成さ
れた透明保護層の品質を検査する構成を備えたので、前
記照射された光と前記透明保護層の特性とをもとに透明
保護層の正常な箇所と不良箇所とを光強度の差、光の強
度分布上のムラとして判別でき、透明保護層の検査を定
量的に行うことが可能になり、透明保護層の検査の安定
化および効率化を実現できる効果がある。また、本発明
の透明保護層の検査方法は、特定波長域の光を吸収する
吸収材を含む透明保護層が形成された基材面へ前記特定
波長域にピークを有する光を照射したときに、前記照射
された光と前記透明保護層の特定波長域吸収特性とから
前記透明保護層の良、不良状態に応じて反射光の強度分
布に生じるムラをもとに、前記基材面に形成された透明
保護層を検査する構成を備えたので、前記照射された特
定波長域にピークを有する光と前記透明保護層の特定波
長域吸収特性とから、前記透明保護層の正常な箇所と不
良箇所とを反射光強度の差、反射光強度分布上のムラと
して判別でき、透明保護層の検査を定量的に行うことが
可能になり、透明保護層の検査の安定化および効率化を
実現できる効果がある。
層の検査方法は、特定波長域に感応する透明保護層が形
成された基材面へ特定波長域にピークを有する光を照射
したときに、前記照射された光と前記透明保護層の特性
とにより前記透明保護層の状態に応じて得られる前記基
材面における光の強度分布をもとに前記基材面に形成さ
れた透明保護層の品質を検査する構成を備えたので、前
記照射された光と前記透明保護層の特性とをもとに透明
保護層の正常な箇所と不良箇所とを光強度の差、光の強
度分布上のムラとして判別でき、透明保護層の検査を定
量的に行うことが可能になり、透明保護層の検査の安定
化および効率化を実現できる効果がある。また、本発明
の透明保護層の検査方法は、特定波長域の光を吸収する
吸収材を含む透明保護層が形成された基材面へ前記特定
波長域にピークを有する光を照射したときに、前記照射
された光と前記透明保護層の特定波長域吸収特性とから
前記透明保護層の良、不良状態に応じて反射光の強度分
布に生じるムラをもとに、前記基材面に形成された透明
保護層を検査する構成を備えたので、前記照射された特
定波長域にピークを有する光と前記透明保護層の特定波
長域吸収特性とから、前記透明保護層の正常な箇所と不
良箇所とを反射光強度の差、反射光強度分布上のムラと
して判別でき、透明保護層の検査を定量的に行うことが
可能になり、透明保護層の検査の安定化および効率化を
実現できる効果がある。
【００１８】また、本発明の透明保護層の検査方法は、
紫外光波長域の光を吸収する吸収材を含む透明保護層が
形成された基材面へ前記紫外光波長域にピークを有する
紫外光を照射したときに、前記照射された紫外光と前記
透明保護層の紫外光波長域吸収特性とから前記透明保護
層の良、不良状態に応じて反射紫外光の強度分布に生じ
るムラをもとに、前記基材面に形成された透明保護層を
検査する構成を備えたので、透明保護層の正常な箇所と
不良箇所とを紫外光の反射光強度分布上のムラとして判
別でき、透明保護層の検査を定量的に行うことが可能に
なり、透明保護層の検査の安定化および効率化を実現で
きる効果がある。また、本発明の透明保護層の検査方法
は、紫外光などの特定波長域の光に感応して発光するマ
ーカ材を含む透明保護層が形成された基材面へ前記特定
波長域にピークを有する光を照射したときに、前記マー
カ材が発光して得られる前記透明保護層における光の強
度分布をもとに前記基材面に形成された透明保護層を検
査する構成を備えたので、前記照射された光と前記マー
カ材の発光特性とをもとに透明保護層の正常な箇所と不
良箇所とをマーカ材の発光による光強度の差、光強度分
布上のムラとして判別でき、透明保護層の検査を定量的
に行うことが可能になり、透明保護層の検査の安定化お
よび効率化を実現できる効果がある。
紫外光波長域の光を吸収する吸収材を含む透明保護層が
形成された基材面へ前記紫外光波長域にピークを有する
紫外光を照射したときに、前記照射された紫外光と前記
透明保護層の紫外光波長域吸収特性とから前記透明保護
層の良、不良状態に応じて反射紫外光の強度分布に生じ
るムラをもとに、前記基材面に形成された透明保護層を
検査する構成を備えたので、透明保護層の正常な箇所と
不良箇所とを紫外光の反射光強度分布上のムラとして判
別でき、透明保護層の検査を定量的に行うことが可能に
なり、透明保護層の検査の安定化および効率化を実現で
きる効果がある。また、本発明の透明保護層の検査方法
は、紫外光などの特定波長域の光に感応して発光するマ
ーカ材を含む透明保護層が形成された基材面へ前記特定
波長域にピークを有する光を照射したときに、前記マー
カ材が発光して得られる前記透明保護層における光の強
度分布をもとに前記基材面に形成された透明保護層を検
査する構成を備えたので、前記照射された光と前記マー
カ材の発光特性とをもとに透明保護層の正常な箇所と不
良箇所とをマーカ材の発光による光強度の差、光強度分
布上のムラとして判別でき、透明保護層の検査を定量的
に行うことが可能になり、透明保護層の検査の安定化お
よび効率化を実現できる効果がある。
【００１９】また、本発明の透明保護層の検査装置は、
紫外光などの特定波長域の光を吸収する吸収材を含む透
明保護層が形成された基材面へ前記特定波長域にピーク
を有する光を照射手段から照射したときの前記基材面か
らの反射光を受光手段で受光し、受光した反射光の光強
度を電気信号に変換し、その電気信号と基準信号との比
較結果をもとに前記基材面に形成された透明保護層の品
質の良否を判定手段で判定する構成を備えたので、前記
照射された特定波長域にピークを有する光と前記透明保
護層の特定波長域吸収特性とから、前記透明保護層の正
常な箇所と不良箇所とを反射光強度の差、反射光強度分
布上のムラとして判別でき、透明保護層の検査を定量的
に行うことが可能になり、透明保護層の検査の安定化お
よび効率化を実現できる効果がある。また、本発明の透
明保護層の検査装置は、紫外光などの特定波長域の光に
感応して発光するマーカ材を含む透明保護層が形成され
た基材面へ、前記特定波長域にピークを有する光を照射
手段により照射したときに、前記マーカ材から発せられ
る光を受光手段で受光し、受光した光の光強度を電気信
号に変換し、その電気信号と基準信号との比較結果をも
とに前記基材面に形成された透明保護層の品質の良否を
判定手段で判定する構成を備えたので、前記照射された
光と前記マーカ材の発光特性とをもとに透明保護層の正
常な箇所と不良箇所とをマーカ材の発光による光強度の
差、光強度分布上のムラとして判別でき、透明保護層の
検査を定量的に行うことが可能になり、透明保護層の検
査の安定化および効率化を実現できる効果がある。ま
た、本発明の透明保護層の検査装置は、特定波長域と異
なる波長域にピークを有する光源を有した照射手段によ
り基材面を照射し、前記波長域の光に対する光学系およ
び撮像素子を有した受光手段側に設けられた前記波長域
の光を通過させるフィルタにより、前記特定波長域の光
により得られる画像と前記特定波長域と異なる波長域の
光により得られる前記基材面にプリントされた文字や画
についての画像とを選別可能にして、前記プリントされ
た文字や画を検出する基材面画像検出手段を備える構成
にしたので、透明保護層の検査を定量的に行うことが可
能になり、透明保護層の検査の安定化および効率化を実
現できるだけでなく、前記プリントされた文字や画の検
出、識別、不良判定が可能になる効果がある。
紫外光などの特定波長域の光を吸収する吸収材を含む透
明保護層が形成された基材面へ前記特定波長域にピーク
を有する光を照射手段から照射したときの前記基材面か
らの反射光を受光手段で受光し、受光した反射光の光強
度を電気信号に変換し、その電気信号と基準信号との比
較結果をもとに前記基材面に形成された透明保護層の品
質の良否を判定手段で判定する構成を備えたので、前記
照射された特定波長域にピークを有する光と前記透明保
護層の特定波長域吸収特性とから、前記透明保護層の正
常な箇所と不良箇所とを反射光強度の差、反射光強度分
布上のムラとして判別でき、透明保護層の検査を定量的
に行うことが可能になり、透明保護層の検査の安定化お
よび効率化を実現できる効果がある。また、本発明の透
明保護層の検査装置は、紫外光などの特定波長域の光に
感応して発光するマーカ材を含む透明保護層が形成され
た基材面へ、前記特定波長域にピークを有する光を照射
手段により照射したときに、前記マーカ材から発せられ
る光を受光手段で受光し、受光した光の光強度を電気信
号に変換し、その電気信号と基準信号との比較結果をも
とに前記基材面に形成された透明保護層の品質の良否を
判定手段で判定する構成を備えたので、前記照射された
光と前記マーカ材の発光特性とをもとに透明保護層の正
常な箇所と不良箇所とをマーカ材の発光による光強度の
差、光強度分布上のムラとして判別でき、透明保護層の
検査を定量的に行うことが可能になり、透明保護層の検
査の安定化および効率化を実現できる効果がある。ま
た、本発明の透明保護層の検査装置は、特定波長域と異
なる波長域にピークを有する光源を有した照射手段によ
り基材面を照射し、前記波長域の光に対する光学系およ
び撮像素子を有した受光手段側に設けられた前記波長域
の光を通過させるフィルタにより、前記特定波長域の光
により得られる画像と前記特定波長域と異なる波長域の
光により得られる前記基材面にプリントされた文字や画
についての画像とを選別可能にして、前記プリントされ
た文字や画を検出する基材面画像検出手段を備える構成
にしたので、透明保護層の検査を定量的に行うことが可
能になり、透明保護層の検査の安定化および効率化を実
現できるだけでなく、前記プリントされた文字や画の検
出、識別、不良判定が可能になる効果がある。
【図１】本発明による透明保護層の検査方法が適用され
る透明保護層の検査装置の一例を示すブロック図であ
る。
る透明保護層の検査装置の一例を示すブロック図であ
る。
【図２】本発明の一実施の形態例における透明保護層の
検査装置による透明保護層の検査方法を示す説明図であ
る。
検査装置による透明保護層の検査方法を示す説明図であ
る。
【図３】本発明の一実施の形態例における透明保護層の
検査装置における透明保護層に不良部分が発生した検査
対象カードを示す斜視図である。
検査装置における透明保護層に不良部分が発生した検査
対象カードを示す斜視図である。
【図４】本発明の一実施の形態例における透明保護層の
検査装置における表面の一部に透明保護層が形成されて
いる検査対象カードを示す平面図である。
検査装置における表面の一部に透明保護層が形成されて
いる検査対象カードを示す平面図である。
【図５】本発明の一実施の形態例における透明保護層の
検査装置における全面に透明保護層が形成されている検
査対象カードを示す平面図である。
検査装置における全面に透明保護層が形成されている検
査対象カードを示す平面図である。
【図６】本発明の一実施の形態例における透明保護層の
検査装置の検査対象カードを示す構造図である。
検査装置の検査対象カードを示す構造図である。
【図７】本発明の一実施の形態例における透明保護層の
検査装置の検査対象カードを示す構造図である。
検査装置の検査対象カードを示す構造図である。
【図８】本発明の一実施の形態例における透明保護層の
検査装置が搭載されたカード作成装置の概略を示す概念
図である。
検査装置が搭載されたカード作成装置の概略を示す概念
図である。
１ カード １ｂ 透明保護層 ２ 光源（照射手段） ３ 投光部（照射手段） ４ 撮像カメラ（受光手段，基材面画像検出手段） ５ データ処理装置（判定手段，基材面画像検出手段） ７ 光学フィルタ（フィルタ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 本間 信明 東京都台東区台東１丁目５番１号 凸版印 刷株式会社内 (72)発明者 横山 健一 東京都台東区台東１丁目５番１号 凸版印 刷株式会社内
Claims (10)
- 【請求項１】 特定波長域に感応する特性を有した透明
保護層が形成された基材面へ前記特定波長域にピークを
有する光を照射し、 前記照射された光と前記透明保護層の前記特性とにより
前記透明保護層の形成についての良、不良の状態に応じ
て得られる前記基材面における光の強度分布を検出し、 前記検出した光の強度分布をもとに前記基材面に形成さ
れた透明保護層の品質を検査するようにした、 ことを特徴とする透明保護層の検査方法。 - 【請求項２】 前記透明保護層は、特定波長域の光を吸
収する吸収材を含む請求項１記載の透明保護層の検査方
法。 - 【請求項３】 前記特定波長域の光は紫外光であり、前
記光の強度分布は前記紫外光の波長域の透明保護層から
の反射光で得られる請求項２記載の透明保護層の検査方
法。 - 【請求項４】 前記透明保護層は特定波長域の光に感応
して発光するマーカ材を含み、前記光の強度分布はマー
カ材の発光により得られる請求項１記載の透明保護層の
検査方法。 - 【請求項５】 前記特定波長域の光は紫外光であり、前
記マーカ材は紫外光の波長域に感応して発光する請求項
４記載の透明保護層の検査方法。 - 【請求項６】 特定波長域に感応する特性を有した透明
保護層が形成された基材面へ前記特定波長域にピークを
有する光を照射する照射手段と、 前記照射手段により照射された光と前記透明保護層の前
記特性とにより前記透明保護層の良、不良の状態に応じ
て得られる前記透明保護層における光の強度分布を検出
する受光手段と、 前記受光手段により検出した光の強度分布をもとに前記
基材面に形成された透明保護層の品質の良否を判定する
判定手段と、 を備えたことを特徴とする透明保護層の検査装置。 - 【請求項７】 前記透明保護層は特定波長域の光を吸収
する吸収材を含み、前記受光手段は照射手段により照射
された光の前記基材面からの反射光を受光し、前記判定
手段による透明保護層の品質の良否を判定は、前記受光
手段により受光した反射光の光強度を電気信号に変換
し、その電気信号と基準信号との比較結果をもとになさ
れる請求項６記載の透明保護層の検査装置。 - 【請求項８】 前記透明保護層は特定波長域の光に感応
して発光するマーカ材を含み、前記受光手段は、前記照
射手段により照射された光に感応した前記マーカ材から
発せられる光を受光し、前記判定手段による透明保護層
の品質の良否の判定は、前記受光手段により受光した光
の光強度を電気信号に変換し、その電気信号と基準信号
との比較結果をもとになされる請求項６記載の透明保護
層の検査装置。 - 【請求項９】 前記特定波長域にピークを有する光は紫
外光であることを特徴とする請求項６から請求項８のう
ちのいずれか１項記載の透明保護層の検査装置。 - 【請求項１０】 前記照射手段は、特定波長域と異なる
波長域にピークを有する光源を有し、前記受光手段は前
記波長域の光に対する光学系および撮像素子ならびに前
記波長域の光を通過させるフィルタを備え、更に、前記
フィルタにより前記特定波長域の画像と前記基材面にプ
リントされた文字や画についての画像とを選別可能にし
て、前記プリントされた文字や画を検出する基材面画像
検出手段が設けられている請求項請求項６から請求項９
のうちのいずれか１項記載の透明保護層の検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8271871A JPH1090196A (ja) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | 透明保護層の検査方法およびその検査装置 |
| US08/934,089 US5940173A (en) | 1996-09-19 | 1997-09-19 | Method and apparatus for inspecting the quality of transparent protective overlays |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8271871A JPH1090196A (ja) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | 透明保護層の検査方法およびその検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090196A true JPH1090196A (ja) | 1998-04-10 |
Family
ID=17506066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8271871A Pending JPH1090196A (ja) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | 透明保護層の検査方法およびその検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5940173A (ja) |
| JP (1) | JPH1090196A (ja) |
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| JP2009162728A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-23 | Omron Corp | 透明体検査装置、透明体検査方法、および透明体検査システム |
| JP2019138696A (ja) * | 2018-02-07 | 2019-08-22 | 上野精機株式会社 | 外観検査方法及び外観検査装置 |
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| WO2015099672A1 (en) * | 2013-12-23 | 2015-07-02 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Writing information on substrate displays |
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| CN109187575A (zh) * | 2018-08-16 | 2019-01-11 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置和探测方法 |
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| US12125195B2 (en) * | 2022-03-04 | 2024-10-22 | Ricoh Company, Ltd. | Inspection system, inspection method, and non-transitory recording medium |
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