JPH1090201A - 比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方法 - Google Patents

比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方法

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JPH1090201A
JPH1090201A JP26233496A JP26233496A JPH1090201A JP H1090201 A JPH1090201 A JP H1090201A JP 26233496 A JP26233496 A JP 26233496A JP 26233496 A JP26233496 A JP 26233496A JP H1090201 A JPH1090201 A JP H1090201A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 プローブ近傍の測定感度をより均一にするこ
とができる比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率
測定方法を提供すること。 【解決手段】 時間領域反射率法によって被測定物質の
比誘電率を測定するための被測定物質に設置され、パル
ス電圧が印加される一対の電極を備えたプローブ1にお
いて、電極が一定間隔をあけて対向配置される2枚の導
電性板状部材2、3から成り、導電性板状部材2、3の
幅Bと間隔Sとの比S/Bを0.2から2の範囲内の値
とした。これにより、2枚の導電性板状部材の間におけ
るエネルギー密度分布が均一となり、測定感度を均一に
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、時間領域反射率
(TDR)法によって物質の比誘電率を測定するのに好
適な比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】物質中を伝搬する電磁波の速度とその物
質の比誘電率との間には密接な関係があることが知られ
ており、この関係は各種の分野において利用されてい
る。例えば石油探査工学の分野においては、地盤中の電
磁波の速度から得られるそこでの比誘電率より地盤中の
石油の含有量を推定している。また、最近、地盤の比誘
電率あるいは電磁波速度より、土質の違いによる影響を
受けることなく、従来の中性子水分計以上の精度で土壌
水分を計測することができることが明らかにされてお
り、この分野での応用も有望である。
【0003】ところで、電磁波の伝搬速度を計測するこ
とによって試料の比誘電率を求めるための従来の測定シ
ステムは、例えば、図12(A)に示されるように、プ
ローブ100を構成する2本の棒状電極101、102
を平行にして試料103に差し込んだ状態で棒状電極1
01、102間にパルス電圧を印加するように構成さ
れ、プローブ100の棒状電極101、102のパルス
電圧印加端101A、102Aにパルス電圧が印加され
てから、このパルス電圧が棒状電極101、102の先
端101B、102Bで反射してそこまで戻ってくるま
でのパルスの往復時間TWを計測することによって、試
料103の比誘電率を求めている。
【0004】このパルスの往復時間TWは、たとえば棒
状電極101、102にメモリ機能付のオシロスコープ
の如き電圧波形観測用の機器を接続し、そこでの電圧波
形のレベルの時間的変化を観察することにより求めるこ
とができる。
【0005】図12(B)には、上述の如くして測定し
た電圧波形の一例が示されている。ここでは、時間T1
においてパルス電圧印加端101A、102Aに印加さ
れたパルス電圧が棒状電極101、102の先端101
B、102Bで反射し、時間T2においてパルス電圧印
加端101A、102Aに戻ったことが判る。したがっ
て、パルスの往復時間TWはT2ーT1との計測結果を
得、試料103中における電磁波の伝搬速度を計算する
ことができる。そして、このようにして得られた電磁波
の伝搬速度から、v=c/ε1/2 (ここで、vは速度、
cは光速、εは比誘電率)の関係を用いて試料103の
比誘電率が求められる。
【0006】上述した測定系において使用される従来の
プローブは、棒状電極を2本用いる構成のほか、図13
に示される如き構成のプローブが用いられている。図1
3(A)に示される同軸セル形のプローブは、周辺から
のノイズを遮断し、電気信号の損失が一番小さいという
点では理想的な形状である。しかし、この形状では試料
に設置するのが困難であるため、これを2本の金属製ロ
ッドで置き換えたものが図12に示されたプローブ10
0である。その後、これを前記のような理由で同軸セル
に近付けるため図13の(B)、(C)に示されるよう
なロッド本数が3本以上のものも使用されている。この
ように、従来の比誘電率測定用プローブは金属製の棒状
電極を2〜3本用いた構成のものが主流であった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図13
の(B)、(C)又は図12に示したような棒状電極を
用いて構成されたプローブでは,棒状電極の表面のごく
近傍に測定感度が非常に高い部分が集中するという特性
のために、電極と被測定物質との間に隙間があるとその
影響を受けて正しい測定を行うことができず、信頼性の
高い測定を困難にするという問題点を有している。
【0008】このことを、図14〜図19を参照して2
本の棒状電極を用いた構造のプローブの場合について具
体的に説明する。図14は、平行に配置された2つの棒
状電極101、102の軸と直交する平面内におけるこ
れらの棒状電極101、102の周辺の電磁場の様子を
示す図であり、複数の等ポテンシャル線P、及びこれと
直交する一方の棒状電極101から他方の棒状電極10
2へ向かう複数の電気力線Fの様子が示されている。こ
こで、図14において等ポテンシャル線Pとそれに直交
する電気力線Fとによって囲まれる各領域を紙面と直角
方向に通過するエネルギーは、その領域の大小に拘らず
一定となる。この結果、例えば斜線を付した領域A1に
おけるエネルギー密度は、同じく斜線を付した他の領域
A2におけるエネルギー密度より大きいということにな
る。しかるに、棒状電極101、102の表面に近づく
に従ってエネルギー密度は急速に高くなり、測定感度も
また棒状電極101、102の表面に近づくに従って急
速に高くなるのである。
【0009】図15は、2つの棒状電極を用いて構成し
た従来の比誘電率測定用プローブの感度分布を実験によ
り調べた結果の一例を示すグラフである。ここで、2つ
の棒状電極は所定値だけ離されて平行に配置されてい
る。図15から判るように、2つの棒状電極のごく近傍
において測定感度(エネルギー密度)の高い部分が集中
していることが判る。
【0010】図16〜図18はプローブが棒状電極2
本、3本、4本の各場合における測定感度分布の数値解
析結果を示す図であり、図19はプローブが同軸セルの
場合における測定感度分布の数値解析結果を示す図であ
る。図16〜図19において棒状電極には斜線が付され
ている。いずれの図においても、各形状のプローブの特
性を相対的に比較できるように、エネルギー密度はその
最大値で除して無次元化して表示してある。よって、表
示の最大値は1である。測定感度Vを示す等密度線は、
1.0、0.6、0.4、0.2、0.1、0.01、
0.001、0.0001の順に引いてある。そして無
次元化された測定感度Vの値により以下のように7つの
領域に分けて示されている。 1.0≧V>0.6 領域R1 0.6≧V>0.4 領域R2 0.4≧V>0.2 領域R3 0.2≧V>0.1 領域R4 0.1≧V>0.01 領域R5 0.01≧V>0.001 領域R6 0.001≧V>0.0001 領域R7 図16〜図19から、いずれの場合においても、測定感
度が0.2より大きい領域が棒状電極のごく近傍にのみ
形成され、極めて不均一な測定感度分布となっているこ
とが判る。
【0011】このように、従来のプローブによると棒状
電極の周辺にのみ測定感度の高い領域が形成され、実際
にプローブを設置したときに棒状電極の表面近傍に乱さ
れた部分やプローブと被測定物質との間に隙間が発生し
た場合、その影響を受けやすく、正しい測定結果を得る
ことができないという問題があった。
【0012】本発明の目的は、したがって、従来技術に
おける上述の問題点を解決することができるようにし
た、プローブ近傍の測定感度をより均一にすることがで
きる比誘電率測定用プローブの構造及び比誘電率測定方
法を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の特徴は、時間領域反射率法によって被測定物
質の比誘電率を測定するため被測定物質に設置される一
対の電極を備えたプローブの構造であって、該一対の電
極が一定間隔をあけて対向配置される2枚の導電性板状
部材から成り、該導電性板状部材の幅Bと前記一定間隔
Sとの比S/Bが0.2から2の範囲内の値に設定され
ている点にある。電極として板状のものを2枚対にして
用い、且つS/Bの値を0.2〜2の範囲内の値に設定
すると、2枚の導電性板状部材の間におけるエネルギー
密度分布が均一となり、測定感度を均一にすることがで
きる。
【0014】また、本発明の他の特徴によれば、被測定
物質に設置されたプローブにパルス電圧を印加して時間
領域反射率法によって該被測定物質の比誘電率を測定す
るための測定方法において、前記プローブの一対の電極
として2枚の導電性板状部材を用意し、該導電性板状部
材間の一定間隔Sが、前記導電性板状部材の幅をBとし
たときS/Bの値が0.2〜2の範囲内の値となるよう
に、前記導電性板状部材を前記被測定物質に設置して前
記プローブを構成するようにした点にある。導電性板状
部材の厚みは、実際の使用に際して被測定物質内に打ち
込み等により設置可能な剛性を得ることができるような
適宜の値とすることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態の一例を詳細に説明する。
【0016】図1には、時間領域反射率法によって物質
の比誘電率を測定するための、本発名によるプローブの
構造の実施の形態の一例が示されている。本発明による
プローブ1は、例えば銅の如き導電性に富む適宜の材料
から作られた導電性プレート2、3を一対の電極部材と
して有している。導電性プレート2は、厚さT、長さ
L、幅Bの長方形の板部材であり、もう一方の導電性プ
レート3も全く同様の寸法形状に作られている。これら
の導電性プレート2、3は、一定の間隔Sをあけて対向
しており、したがって導電性プレート2と導電性プレー
ト3とは平行状態になっている。
【0017】符号4で示されるのは同軸ケーブルであ
り、同軸ケーブル4の外部導体4Aが導電性プレート2
に電気的に接続され、同軸ケーブル4の内部導体4Bが
導電性プレート3に電気的に接続されている。同軸ケー
ブル4の他端は図示しないパルス電圧発生器の出力端子
に接続することにより、測定のために必要なパルス電圧
を同軸ケーブル4を介して導電性プレート2、3間に印
加することができる構成である。
【0018】図1に示したプローブ1では、導電性プレ
ート2、3は、機械的に独立して分離された状態になっ
ているが、適宜の電気的絶縁材料を用いて導電性プレー
ト2と導電性プレート3とをその端部において機械的に
連結した一体構成としてもよいことは勿論である。
【0019】図2には、図1に示したプローブ1のA−
A線断面における電磁場の様子が示されている。図2に
おいて、一方の導電性プレート3から直角に出て他方の
導電性プレート2に直角に入るように示されているのが
電気力線Fであり、これらの電気力線Fと直交するする
ように示されているのが等ポテンシャル線Pである。図
2から判るように、電気力線Fと等ポテンシャル線Pと
で図示された各領域の面積は導電性プレート2、3間に
おいては略均一となっている。したがって、導電性プレ
ート2、3間にあってはエネルギー密度分布が略均一と
なり、測定感度も均一となる。
【0020】電導性プレート2、3間におけるエネルギ
ー密度の分布の状態は一定間隔Sの値によって変化する
ことが予想される。しかるに、導電性プレート2、3の
幅Bとその一定間隔Sとの比S/Bを種々変化させて導
電性プレート2、3間の測定感度分布がどのように変化
するのかを数値解析によって求め、その結果を図3〜図
7に示した。図3〜図7においても、図16〜図19の
場合と同じく、測定感度Vの最大値を1として各部の測
定感度を正規化し、Vの値によって領域R1〜R7に分
けて測定感度分布の様子が示されている。
【0021】図3〜図7から判るように、棒状電極を用
いたロッドタイプのプローブに比べて、板状電極を用い
たプレートタイプのプローブでは、ある範囲の感度
(0.4〜0.6)の部分でほとんどが占められること
がわかる。また、プレートの両端部のごく狭い範囲で感
度が高い部分がみられるが、全体のエネルギー量に比べ
るとその割合は非常に小さい。さらに、S/Bの値が
0.2〜2の範囲にある場合には導電性プレート2、3
間の感度は0.1以上の値であって略均一に保たれてい
るので、実際に使用した場合良好な測定を行うことがで
きる。なお、S/Bの値が0.2より小さくなると、導
電性プレート2、3間の感度分布はより一層均一化され
るが、実際の設置を考えた場合、導電性プレート2、3
間が狭すぎないS/B=0.2程度までが適切であると
考えられる。図3〜図7から、導電性板状部材を用いた
プレートタイプのプローブにあっては、プレートに挟ま
れた部分以外の感度が低いという特徴を有していること
が判った。
【0022】ここで、導電性プレート2、3の材質は銅
に限定されるものではなく、導電性に富む材料であれば
特に制限はない。なお、TDR法の性格上、導電性プレ
ート2、3の各長さLは原則的に等しくなければならな
いが、これらの厚さTは実際の使用に際して設置できる
だけの剛性をもつ程度の厚さであればよく、これは特に
制限がない。
【0023】図8は、本発明によるプレートタイプのプ
ローブと従来型のプローブとの性能を比較するために示
したエネルギー加積曲線である。図8のグラフは、エネ
ルギー密度が高い方からエネルギーを累積した結果を示
すもので、横軸に正規化したエネルギー密度をとり、縦
軸に正規化した累積エネルギー量をとって示してある。
すなわち、このグラフは、各エネルギー密度レベルが占
める面積と密度レベルとを掛け合わせてエネルギー量を
もとめ、密度レベルの値が大きいほうから累積した図で
あり、曲線の勾配が大きいほど、その密度レベルの部分
が占める面積が大きく密度(感度)のバラツキが小さい
ことを示す。全てのプローブにおいて、密度値0.01
程度までで総エネルギーの約90%を占め、それ以下で
は曲線の傾きは小さくなる。これは、密度値0.01程
度以下の範囲は測定値にあまり影響しないことを示して
いる。
【0024】図8では、本発明によるプローブはS/B
=0.5の場合が示されており、従来型のプローブの例
として、2ロッド、3ロッド、4ロッド及び同軸セルの
場合の例が示されている。図8に示す各曲線の勾配の様
子から、本発明によるプレートタイプのプローブの感度
のバラツキが従来型のプローブのそれに比べて極めて小
さくなっていることが判る。
【0025】なお、導電性プレート2、3を横切る方向
に水などの物質の移動がある場合においては、導電性プ
レート2、3に穴をあけたり、多数のロッドを並べるこ
とによりプレートを近似する構成としてもよい。
【0026】次に、図9〜図11を参照して、図1に示
した本発明によるプローブ1を用いて地盤の含水量を測
定するための方法の実施の形態の例について説明する。
【0027】図9は、降雨時等における地山11の斜面
11Aの含水状態を測定する場合の方法を説明するため
の図である。プローブ1は斜面11Aに適宜の間隔をあ
けて複数設けられる。図示の例ではプローブ1は3つ設
けられているが、プローブ1は必要な箇所に必要な数だ
け設置される。降雨時には、地山11の斜面11Aにお
いては水分の高飽和度領域11Bと低飽和度領域11C
とが形成されるが、各プローブ1は、導電性プレート
2、3の各先端2B、3Bが低飽和度領域にまで達する
ような状態に設置されることにより、地表面からどれだ
けの範囲が高飽和度になっているかを把握することがで
きる。
【0028】以上のようにしてプローブ1の設置が終了
したならば、TDR法により斜面11Aにおける比誘電
率の測定を行うため、測定装置10からパルス電圧を各
プローブ1へ順次印加する。プローブ1に印加されたパ
ルス電圧は、その導電性プレート2、3の各先端2B、
3Bにおいて反射して戻るので、そのパルス電圧の往復
時間TWを測定装置10において測定する。測定装置1
0における往復時間TWの測定方法は図12に基づいて
説明したのと同様である。
【0029】一般に、土壌は土粒子、空気及び間隙水の
三相の混合体であり、体積含水率0%の土壌の比誘電率
は3〜7程度であるのに対し、間隙水のそれは80と土
粒子や空気の値(約1)と比べてはるかに大きい。した
がって、三相の混合体としての土壌の比誘電率(見かけ
上の比誘電率)は含水量に極めて敏感に影響され、上述
の如くして測定された土壌の見かけ上の比誘電率から土
壌の含水量が求められる。測定により得られた比誘電率
から含水量を得るには、予め実験より求められた変換表
を用いることができる。このようにして、地山11の斜
面11Aの含水状態を把握することにより、造成地など
の斜面の安定性の確保に役立てることができる。
【0030】図10は、根切り工事等における地下水面
位置の把握のために、図1に示すプローブを用いて溝2
1の底部22の比誘電率を測定する場合の方法を説明す
るための図である。この場合には、底部22にプローブ
1を打ち込んで測定装置10を用いて比誘電率を測定す
る。地下水面23に達しているプローブ1による測定値
が地下水面23に達していないプローブ1による測定値
と大きく異なることから、地下水面の位置を把握するこ
とができ、地下水面をコントロールした情報化施工が可
能となる。
【0031】図11は、トンネル堀削時における周辺の
含水状態及び地下水挙動の把握のために、トンネル31
の周壁32及び床部33の含水状態を本発明の方法を利
用して測定する方法を説明するための図である。ここで
は、図1に示したプローブ1が周壁32及び床部33に
設置され、これらのプローブ1は測定装置10に接続さ
れている。測定装置10からのパルス電圧が各プローブ
1に順次印加され、これらのプローブ1の各導電性プレ
ート2、3の先端2B、3Bで反射されるパルス電圧の
往復時間が測定装置10において測定される。これによ
りプローブ1が設置されている各部の比誘電率が測定さ
れ、トンネル31内の各部の含水状態を把握することが
できる。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、導電性板状部材により
構成される2つの電極間の測定感度が均一となり、その
感度帯域がプローブによる感度帯域のほとんどを占め
る。この結果、プローブを設置する際に発生する可能性
のある被測定物質と電極との間の隙間の影響を減少さ
せ、測定範囲内を均一に測定することができる。
【0033】さらに、測定範囲が板状の電極間に集中す
るため、従来のようにロッドを設置するための小孔径の
穴をあける必要がなく、被測定物質をブロック状に加工
して板状の電極で挟むことにより精度よい設置が可能で
ある。また、被測定物質が土のような場合には、従来通
り打ち込みにより容易に設置することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による比誘電率測定用プローブの実施の
形態の一例を示す斜視図。
【図2】図1に示したプローブのA−A線断面における
電磁場の様子を示す図。
【図3】図1に示すプローブにおいてS/B=2とした
場合の数値解析による感度分布を示す図。
【図4】図1に示すプローブにおいてS/B=1とした
場合の数値解析による感度分布を示す図。
【図5】図1に示すプローブにおいてS/B=0.5と
した場合の数値解析による感度分布を示す図。
【図6】図1に示すプローブにおいてS/B=0.33
とした場合の数値解析による感度分布を示す図。
【図7】図1に示すプローブにおいてS/B=0.2と
した場合の数値解析による感度分布を示す図。
【図8】本発明によるプローブと従来のプローブとの性
能比較をするためのエネルギー加算曲線図。
【図9】降雨時の斜面の含水状態を本発明の方法を用い
て測定する場合の測定方法の説明のための図。
【図10】根切り工事等における地下水面位置の把握を
本発明の方法を用いて行う場合の説明のための図。
【図11】トンネル掘削時における周辺の含水状態の把
握を本発明の方法を用いて行う場合の説明のための図。
【図12】TDR法を用いた比誘電率測定のための従来
の測定システムを説明するための図。
【図13】TDR法による比誘電率測定のために用いら
れている従来のプローブを示す斜視図。
【図14】図12に示したプローブにおけるエネルギー
密度分布の状態を説明するための図。
【図15】図12に示したプローブにおける感度分布を
実験により調べた結果を示す図。
【図16】2本の棒状電極を用いた従来のプローブの数
値解折による感度分布図。
【図17】3本の棒状電極を用いた従来のプローブの数
値解折による感度分布図。
【図18】4本の棒状電極を用いた従来のプローブの数
値解折による感度分布図。
【図19】回転セル型の従来のプローブの数値解析によ
る感度分布図。
【符号の説明】
1 プローブ 2、3 導電性プレート B 幅 S 間隔 TW 往復時間

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 時間領域反射率法によって被測定物質の
    比誘電率を測定するため被測定物質に設置される一対の
    電極を備えたプローブの構造であって、該一対の電極が
    一定間隔をあけて対向配置される2枚の導電性板状部材
    から成り、該導電性板状部材の幅Bと前記一定間隔Sと
    の比S/Bが0.2から2の範囲内の値に設定されてい
    ることを特徴とする比誘電率測定用プローブの構造。
  2. 【請求項2】 被測定物質に設置されたプローブにパル
    ス電圧を印加して時間領域反射率法によって該被測定物
    質の比誘電率を測定するための測定方法において、前記
    プローブの一対の電極として2枚の導電性板状部材を用
    意し、該導電性板状部材間の一定間隔Sが、前記導電性
    板状部材の幅をBとしたときS/Bの値が0.2〜2の
    範囲内の値となるように、前記導電性板状部材を前記被
    測定物質に設置して前記プローブを構成するようにした
    ことを特徴とする比誘電率測定方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006133088A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Kyoto Prefecture 土壌中の水分分布測定方法及び水分分布測定システム
JP2014059176A (ja) * 2012-09-14 2014-04-03 Casio Comput Co Ltd 水分量判定装置及びプログラム
CN104820136A (zh) * 2015-04-17 2015-08-05 江苏大学 一种快速测量作物叶片介电常数的装置和方法
JPWO2021085198A1 (ja) * 2019-10-28 2021-05-06
US11428714B2 (en) 2017-06-02 2022-08-30 Sony Corporation Sensor device, water amount measurement device, water amount measurement method, information processing device, and information processing method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006133088A (ja) * 2004-11-05 2006-05-25 Kyoto Prefecture 土壌中の水分分布測定方法及び水分分布測定システム
JP2014059176A (ja) * 2012-09-14 2014-04-03 Casio Comput Co Ltd 水分量判定装置及びプログラム
CN104820136A (zh) * 2015-04-17 2015-08-05 江苏大学 一种快速测量作物叶片介电常数的装置和方法
US11428714B2 (en) 2017-06-02 2022-08-30 Sony Corporation Sensor device, water amount measurement device, water amount measurement method, information processing device, and information processing method
US12066461B2 (en) 2017-06-02 2024-08-20 Sony Group Corporation Sensor device, water amount measurement device, water amount measurement method, information processing device, and information processing method
JPWO2021085198A1 (ja) * 2019-10-28 2021-05-06
WO2021085198A1 (ja) * 2019-10-28 2021-05-06 ソニー株式会社 センサ装置および水分量測定装置
US12306115B2 (en) 2019-10-28 2025-05-20 Sony Group Corporation Sensor apparatus and water amount measurement apparatus

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