JPH1093471A - 信号切換えスイッチ - Google Patents

信号切換えスイッチ

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JPH1093471A
JPH1093471A JP8263536A JP26353696A JPH1093471A JP H1093471 A JPH1093471 A JP H1093471A JP 8263536 A JP8263536 A JP 8263536A JP 26353696 A JP26353696 A JP 26353696A JP H1093471 A JPH1093471 A JP H1093471A
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JP
Japan
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terminal
circuit
impedance
changeover switch
impedance conversion
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Application number
JP8263536A
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English (en)
Inventor
Takahiro Katamata
貴博 片又
Yoshizumi Kawaoka
良積 河岡
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Waveguide Switches, Polarizers, And Phase Shifters (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スイッチング用半導体素子の低電圧動作にお
けるスイッチング性能を向上させる。 【解決手段】 半導体素子Q1〜Q4がスイッチング素子
として用いられたスイッチ回路12と、複数の入出力端
子ANT,RX,TX端子を備え、スイッチ回路12に
よって各入出力端子ANT,RX,TX端子を互いに接
続したり、切り離したりするための信号切換えスイッチ
11において、前記入出力端子ANT,RX,TX端子
と前記スイッチ回路12との間にインピーダンス変換回
路M1〜M3を設け、スイッチ回路12からインピーダ
ンス変換回路M1〜M3をみたインピーダンスZSWを、
入出力端子ANT,RX,TX端子から外部回路をみた
インピーダンスZ0より小さくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は信号切換えスイッチ
に関する。例えば、携帯電話の送受信切り換え等に使用
される高周波用の信号切換えスイッチに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】
(第1の従来例)図1は、従来の携帯電話の送受信切り
換え等に使用される高周波用の信号切換えスイッチ1を
示す回路図である。一般に、この種の回路はSPDT
(Single-Pole-Dual-Throw)スイッチと呼ばれている。
【0003】このSPDTスイッチは、入出力端子とし
て、送受信用アンテナが接続されるANT端子(図では
ANTで示す)と、送信用電力増幅器が接続されるTX
端子(図ではTXで示す)と、受信用低雑音増幅器が接
続されるRX端子(図ではRXで示す)とを備えてい
る。
【0004】この信号切換えスイッチ1は4つのスイッ
チング用半導体素子(以下、スイッチング用素子とい
う)Q1〜Q4を有しており、スイッチング用素子として
GaAs MESFET(GaAs Metal-Semiconducto
r FET)が用いられている。ANT端子−RX端子間
には、スイッチング用素子Q1のソース・ドレインが直
列に接続され、RX端子−グランド(以下、GNDと記
す)間には、スイッチング用素子Q2のソース・ドレイ
ンが直列に接続され、ANT端子−TX端子間には、ス
イッチング用素子Q3のソース・ドレインが直列に接続
され、TX端子−GND間には、スイッチング用素子Q
4のソース・ドレインが直列に接続されている。
【0005】各スイッチング用素子Q1〜Q4のゲート
は、それぞれ抵抗R1〜R4を介して制御電圧端子に接続
されている。V1〜V4は、各スイッチング用素子Q1
4のゲートに印加する制御電圧(ゲートバイアス
GB)である。各スイッチング用素子Q1〜Q4は、ゲー
トにピンチオフ電圧VP以上の電圧VONを印加する(V1
〜V4≧VON)ことによりON(導通)状態となり、逆
に、ゲートにピンチオフ電圧VP以下の電圧VOFFを印加
する(V1〜V4≦VOFF)ことによりOFF(遮断)状
態となる。
【0006】しかして、信号切換えスイッチ1を通して
送信する場合には、スイッチング用素子Q1,Q4の制御
電圧V1,V4をVOFFにし、スイッチング用素子Q2,Q
3の制御電圧V2,V3をVONにすると、ANT端子−R
X端子間がOFFとなり、ANT端子−TX端子間がO
Nとなり、送信側の電力増幅器からアンテナに送信信号
が出力される。
【0007】また、信号切換えスイッチ1を通して受信
する場合には、スイッチング用素子Q2,Q3の制御電圧
2,V3をVOFFにし,スイッチング用素子Q1,Q4
制御電圧V1,V4をVONにすると、ANT端子−TX端
子間はOFFとなり、ANT端子−RX端子間はONと
なり、アンテナから受信側の低雑音増幅器に受信信号が
入力される。
【0008】RX端子−GND間のスイッチング用素子
2は、スイッチング用素子Q1がOFF状態となってい
る場合にON状態となり、OFF状態にあるスイッチン
グ用素子Q1のOFF容量を通してRX端子側に漏れて
きた信号電力をGNDに落とすことにより、RX端子の
アイソレーション特性を高める効果がある。同様に、T
X端子−GND間のスイッチング用素子Q4は、スイッ
チング用素子Q3がOFF状態となっている場合にON
状態となり、OFF状態にあるスイッチング用素子Q3
のOFF容量を通してTX端子側に漏れてきた信号電力
をGNDに落とすことにより、TX端子のアイソレーシ
ョン特性を高める効果がある。
【0009】図2はスイッチング用素子(GaAs M
ESFET)Q1〜Q4の特性を表わし、さらに、OFF
状態のスイッチング用素子とON状態のスイッチング用
素子のゲート・ソース間に加わっている信号電圧波形を
表わす図であって、横軸はゲート・ソース間電圧VGS
縦軸はドレイン電流IDSを示している。なお、スイッチ
ング用素子Q1〜Q4はデプレッション型であり、IDSS
はゲート・ソース間電圧VGS=0のときの飽和ドレイン
電流、VTHはゲート順方向電流の立ち上がり電圧、VP
はピンチオフ電圧、IFmaxはゲート順方向電流の立ち上
がり電圧VTHが印加されたときの飽和ドレイン電流、V
Bはゲート逆方向耐圧である。例えば、ピンチオフ電圧
がVP1=VP2=VP3=VP4=−1.5Vであり、スイッ
チング用素子Q1〜Q4の制御電圧をVON=0V、VOFF
=−3V、信号切換えスイッチから外部回路をみたイン
ピーダンスがZ0=50Ωとすると、ON状態となった
スイッチング用素子Q1〜Q4に入力可能な最大電圧波の
振幅は3Vとなり、線形最大伝送可能電力は、90mW
(19.5dBm)程度となる。
【0010】しかして、従来の高周波用信号切換えスイ
ッチ1においては、ANT端子とRX端子又はTX端子
の間を伝搬する信号電圧ΔVGSが各スイッチング用素子
1〜Q4のゲートバイアスVGB(VON又はVOFF)を中
心としてゲート・ソース間電圧VGSに重畳されるので、
送信時にTX端子から大電力の信号が入力された場合、
ゲート・ソース間電圧VGSがスイッチング用素子Q1
4のピンチオフ電圧VPに達する。このとき、送信時に
はON状態であるはずのスイッチング用素子Q3は、ゲ
ート・ソース間電圧VGS(=VON+ΔVGS)がピンチオ
フ電圧VP以下となる毎に一時的にOFF状態となるの
で、送信電力波形がクリッピングされて波形歪が生じ
る。すなわち、送信時にTX端子から大電力の信号が入
力された場合、スイッチング用素子の歪み特性が劣化し
てしまう。
【0011】また、TX端子から大電力の信号が入力さ
れた場合には、OFF状態であるはずのスイッチング用
素子Q1は、ゲート・ソース間電圧VGS(=VOFF+ΔV
GS)がピンチオフ電圧VP以上となる毎に一時的にON
状態となるので、送信電力の一部がRX端子へ漏れ、R
X端子のアイソレーションが悪化する。
【0012】さらに、TX端子から大電力の信号が入力
された場合には、OFF状態であるはずのスイッチング
用素子Q4は、ゲート・ソース間電圧VGSがピンチオフ
電圧VP以上となる毎に一時的にONとなるので、送信
電力の一部がGNDに落ち、挿入損失が増加する。
【0013】現在の状況では、高周波回路の電源電圧を
できるだけ小さくしたいという要求があるが、低電圧電
源によってスイッチング用素子を制御する低電圧動作を
行なう場合は、制御電圧VON,VOFFとピンチオフ電圧
Pの差が小さくなるため、スイッチング用素子に大き
な電圧の信号が流れることによるスイッチング性能の劣
化がより顕著になり、線形最大伝送可能電力は減少す
る。従って、上記問題に対して、大電力用のスイッチン
グ用素子を用い、電源電圧を大きくして対処することは
実際的でない。
【0014】(第2の従来例)そこで、低電圧電源で大
電力信号のスイッチングを良好に行なうため、特開平5
−199094号公報では、ピンチオフ電圧の異なる2
種類のスイッチング用素子を用いた高周波スイッチ回路
が開示されている。第1の従来例の信号切換えスイッチ
1に適用するには、送信時にON状態となるスイッチン
グ用素子Q2,Q3のピンチオフ電圧VP2、VP3を、他の
スイッチング用素子Q1、Q4のピンチオフ電圧VP1、V
P4より低く設定するとよい。
【0015】例えば、VP1=VP4=−0.8V、VP2
P3=−2.2Vとし、制御電圧をVON=0V、VOFF
−3V、信号切換えスイッチから外部回路をみたインピ
ーダンスがZ0=50Ωとすると、送信時にON状態と
なるスイッチング用素子Q3に入力可能な最大電圧波の
振幅は4.4Vとなり、送信時の線形最大伝送可能電力
は、200mW(23dBm)程度に増加する。
【0016】しかしながら、本従来例の高周波スイッチ
回路では、半導体集積回路に実装した場合、同一ウェハ
上にピンチオフ電圧の異なるスイッチング用素子を形成
しなければならないことからプロセスが複雑となり、コ
ストが高くなり、歩留りが低下するといった問題があ
る。
【0017】(第3の従来例)図3は、特開平6−33
4506号公報に開示されている信号切換えスイッチ2
を示す図である。この信号切換えスイッチ2にあって
は、スイッチング用素子が多段接続されている。この方
法では、例えば、第1の従来例の信号切換えスイッチ1
において、各スイッチング用素子Q1、Q2、Q3、Q4
加えさらに直列にスイッチング用素子Q1′、Q2′、Q
3′、Q4′を接続するとよい。これによって、各スイッ
チング用素子Q1、Q2、Q3、Q4、Q1′、Q2′、
3′、Q4′のゲート・ソース間に重畳される電圧波の
振幅は1段構成のときの半分になり、電源電圧を上げる
ことなく、線形最大伝送可能電力を増加させることが可
能となっている。
【0018】例えば、第1の従来例と同様のピンチオフ
電圧VP=−1.5V、制御電圧VON=0V、VOFF=−
3Vに設定されたスイッチング用素子を用い、信号切換
えスイッチから外部回路をみたインピーダンスがZ0
50Ωとすると、入力可能な最大電圧波の振幅は、2倍
の6Vとなり、送信時の線形最大伝送可能電力は、36
0mW(25.6dBm)程度に増加する。
【0019】しかしながら、この信号切換えスイッチ2
にあっては、スイッチング用素子の数が倍必要となり、
半導体集積回路に実装した場合、素子面積が2倍になる
ことからチップ面積が増大し、コストが増加するといっ
た問題がある。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】本発明は叙上の従来例
の欠点に鑑みてなされたものであり、その目的とすると
ころは、電源電圧を上げることなく線形最大伝送可能電
力を高め、スイッチング用素子のスイッチング性能を向
上することにある。
【0021】
【発明の開示】本発明の請求項1に記載の信号切換えス
イッチは、半導体素子がスイッチング素子として用いら
れたスイッチ回路と、複数の入出力端子を備え、スイッ
チ回路によって各入出力端子を互いに接続したり、切り
離したりするための信号切換えスイッチにおいて、前記
入出力端子と前記スイッチ回路との間にインピーダンス
変換回路を設け、スイッチ回路からインピーダンス変換
回路をみたインピーダンスを、入出力端子から外部回路
をみたインピーダンスより小さくしたを特徴としてい
る。ここで、入出力端子とは、入力端子、出力端子もし
くは入出力共用端子をさす。
【0022】請求項1に記載の信号切換えスイッチにあ
っては、スイッチ回路からインピーダンス変換回路をみ
たインピーダンスが、入出力端子から外部回路をみたイ
ンピーダンスより小さくなっているので、インピーダン
ス変換回路を設けたことにより、スイッチ回路内部を伝
搬する信号電力の電圧波の振幅が小さくなる。すなわ
ち、電源電圧を上げることなく、信号切換えスイッチの
最大伝送可能電力が増加する。
【0023】このように、半導体素子数を増やさないで
信号切換えスイッチの最大伝送可能電力を高めているの
で、安価に製造できるとともに、半導体集積回路に実装
したときに素子面積が大きくならない。さらに、ピンチ
オフ電圧の異なる異種の半導体素子を併用する必要がな
いので、低コストで半導体集積回路内にスイッチ回路を
形成することができ、半導体集積回路の製造プロセスが
複雑になったり、歩留りが低下したりすることがない。
【0024】また、半導体素子のスイッチング性能(信
号の波形がクリッピングされる等の歪み特性、半導体素
子が一時的に切り換わって信号がGNDに漏れることに
よる挿入損失、送信側と受信側のアイソレーション特
性)が向上するとともに、半導体素子を低電圧電源で安
定して動作させることが可能となる。すなわち、半導体
素子の制御電圧を中心としてゲート・ソース間電圧に重
畳される電圧波の振幅が小さくなるので、大電力の信号
を入力した場合においても、各半導体素子のスイッチン
グ状態を安定に保つことが可能となり、信号切換えスイ
ッチを低電圧電源で安定して動作させることが可能とな
る。
【0025】さらに、半導体素子のOFF時にゲート・
ソース間電圧がゲート逆方向耐圧に達して半導体素子が
破壊することを防止できるとともに、半導体素子のON
時にゲート・ソース間電圧がゲート順方向電流の立ち上
がり電圧に達しゲート大電流が流れてスイッチング性能
が劣化することを防止できる。
【0026】請求項2に記載の実施態様は、請求項1記
載の信号切換えスイッチにおいて、前記インピーダンス
変換回路が、前記スイッチ回路が形成された半導体集積
回路のボンディングワイヤもしくはリードのインダクタ
ンスと、前記半導体集積回路のストレーキャパシタンス
とを用いたものであることを特徴としている。
【0027】請求項2に記載の実施態様にあっては、ス
イッチ回路が形成されている半導体集積回路のボンディ
ングワイヤもしくはリードのインダクタンスとストレー
キャパシタンスをインピーダンス変換回路に利用してい
るので、信号切換えスイッチの構成部品点数を削減する
ことができる。また、スイッチ回路及びインピーダンス
変換回路を構成された半導体集積回路のチップ面積を小
さくすることができる。
【0028】従って、信号切換えスイッチを小型化する
ことができると共に製造コストも安価にすることができ
る。
【0029】請求項3に記載の実施態様は、請求項1又
は2記載の信号切換えスイッチにおいて、前記インピー
ダンス変換回路が、誘電体多層基板内に形成されたイン
ダクタンス、キャパシタンス及び伝送線路から構成され
ていることを特徴としている。
【0030】このように、インピーダンス変換回路を構
成するインダクタンス、キャパシタンス及びボンディン
グワイヤを誘電体多層基板内に積層することにより、イ
ンピーダンス変換回路を小面積に形成することができ、
信号切換えスイッチの小型化を図ることができる。
【0031】また、請求項3に記載の実施態様によれ
ば、インピーダンス変換回路のQ値を下げることがで
き、広帯域なインピーダンス変換が実現できる。よっ
て、広帯域にわたって信号切換えスイッチの性能を向上
させることができる。
【0032】請求項4に記載の実施態様は、請求項1〜
3記載の信号切換えスイッチにおいて、前記インピーダ
ンス変換回路が、単一正電源動作用の直流カット用キャ
パシタンスと高周波チョーク用インダクタンスとを含ん
でいることを特徴としている。
【0033】この実施態様によれば、単一正電源動作用
の高周波チョーク用インダクタンス及び直流カット用キ
ャパシタンスをインピーダンス変換回路の一部として利
用しているので、信号切換えスイッチの素子数を削減で
き、半導体集積回路として構成する場合にはチップ面積
を減少させることができる。従って、製造コストの削減
を図ることができる。
【0034】請求項5に記載の実施態様は、請求項1〜
4に記載の信号切換えスイッチにおいて、前記入出力端
子から各インピーダンス変換回路をみたインピーダンス
が前記各外部回路の要求する最適インピーダンスにほぼ
等しくなっていることを特徴としている。
【0035】請求項5に記載の実施態様にあっては、イ
ンピーダンス変換回路が入出力端子に接続する外部回路
との最適インピーダンスによる整合機能を有しているの
で、入出力端子と外部回路との間に整合回路を設ける必
要がなくなる。
【0036】各入出力端子と外部回路との間に整合回路
が不要になるので、信号切換えスイッチの性能を向上さ
せた状態で、通信システム等の全体における変換損失の
低減を図ることができる。さらに、素子数を減少させ、
半導体集積回路においてはチップ面積を減少させること
ができるので、信号切換えスイッチの製造コストの削減
を図ることができる。
【0037】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)図4は、本発明の一実施形態による
信号切換えスイッチ11を示す回路図である。この信号
切換えスイッチ11は、スイッチング用素子Q1〜Q4
してGaAs MESFETのような半導体素子を用い
たスイッチ回路12と、入出力端子であるANT端子、
RX端子及びTX端子と、インピーダンス変換回路M1
〜M3とから構成されている。ここで、スイッチ回路1
2は、従来例として説明した信号切換えスイッチ(SP
DTスイッチ)1と同じものであるので、同一構成要素
には同一符号を付して説明を省略する。インピーダンス
変換回路M1はANT端子とスイッチ回路12の間に接
続されており、スイッチ回路12からインピーダンス変
換回路M1をみたインピーダンスZSWがANT端子から
外部回路をみたインピーダンスZ0より小さくなるよう
にしている。同様に、インピーダンス変換回路M2はR
X端子とスイッチ回路12の間に接続され、インピーダ
ンス変換回路M3はTX端子とスイッチ回路12の間に
接続されており、いずれもインピーダンス変換回路M2
〜M3からRX端子又はTX端子をみたインピーダンス
ZSWがRX端子又はTX端子から外部回路をみたインピ
ーダンスZ0より小さくなるようにしている。
【0038】しかして、この信号切換えスイッチ11に
あっては、入出力端子であるANT端子、RX端子及び
TX端子とスイッチ回路12の間にそれぞれインピーダ
ンス変換回路M1〜M3を設け、スイッチ回路12から
インピーダンス変換回路M1〜M3をみたインピーダン
スZSWが、ANT端子、RX端子及びTX端子から外部
回路をみたインピーダンスZ0より小さくなるようにし
ているので、スイッチ回路12内部を伝搬する信号電力
の電圧波の振幅を小さくすることができる。よって、ス
イッチング用素子Q1〜Q4の制御電圧を中心としてゲー
ト・ソース間電圧に重畳される電圧波の振幅が小さくな
り、大電力の信号を入力した場合においても、各スイッ
チング用素子Q1〜Q4のスイッチング状態を安定に保つ
ことが可能となり、最大伝送可能電力が向上し、低電圧
動作におけるスイッチング性能(挿入損失、アイソレー
ション、歪み特性等)を向上させることができる。ま
た、スイッチング用素子Q1〜Q4のOFF時にゲート・
ソース間電圧がゲート逆方向耐圧VBに達して半導体素
子が破壊することを防止できる。さらに、半導体素子の
ON時にゲート・ソース間電圧がゲート順方向電流の立
ち上がり電圧VTHに達して、ゲート大電流が流れ、スイ
ッチング性能が劣化することを防止できる。
【0039】なお、本発明は、一般的にいうと、インピ
ーダンス変換回路M1〜M3によりスイッチ回路12か
ら外部回路をみたインピーダンスを減少させ、スイッチ
回路12に流れる信号の電圧振幅を減少させたものであ
る。すなわち、スイッチ回路12から外部回路をみたイ
ンピーダンスをZSWとすると、信号電力Pが送られてき
た場合、スイッチ回路12に伝送される電圧波の最大振
幅VSWはVSW=(2ZSWP)1/2で表わされるから、ス
イッチ回路12のインピーダンスZSWを小さくすること
により、スイッチ回路12を流れる信号電圧VSWを小さ
くすることができる。よって、スイッチング用素子Q1
〜Q4の低電圧動作におけるスイッチング性能の劣化を
防止することができる。本実施形態ではスイッチング用
素子Q1〜Q4としてGaAs MESFETを例として
用いたが、他の半導体素子、例えばPINダイオード等
を用いても、低電圧電源を用いたスイッチ回路に大きな
電圧の信号が発生するのを防止してスイッチング性能の
劣化を防止することが可能である(以下の実施形態にお
いても同様)。
【0040】(第2の実施形態)図5は、本発明の別な
実施形態による信号切換えスイッチ13を示す回路図で
ある。インピーダンス変換回路M1は、L型接続された
インダクタンスLANTとキャパシタンスCANTからなるL
型無損失回路であり、信号の周波数をfとするとき、イ
ンダクタンスLANTによるインピーダンスがj(2π
f)LANT=j25Ω、キャパシタンスCANTによるイン
ピーダンスが−j/(2πfCANT)=−j50Ωとな
っている。従って、ANT端子から外部回路をみたイン
ピーダンスがZ0=50Ωのとき、スイッチ回路12か
らインピーダンス変換回路M1をみたインピーダンスは
SW=25Ωになる。同様に、インピーダンス変換回路
M2,M3は、それぞれL型接続されたインダクタンス
RX、LTXとキャパシタンスCRX、CTXとからなるL型
無損失回路であり、インダクタンスLRX、LTXによるイ
ンピーダンスはj(2πf)LRX=j25Ω、j(2π
f)LTX=j25Ω、キャパシタンスCRX、CTXによる
インピーダンスは−j/(2πfCRX)=−j50Ω、
−j/(2πfCTX)=−j50Ωとなっている。従っ
て、RX端子又はTX端子から外部回路をみたインピー
ダンスがZ0=50Ωのとき、スイッチ回路12からR
X端子又はTX端子をみたインピーダンスもZSW=25
Ωになる。なお、インダクタンスLANT、LRX、LTX
キャパシタンスCANT、CRX、CTXの素子定数は回路を
流れる信号の周波数fによって定まり、1.9GHzに
おいては、LANT=LRX=LTX=2.094nH、CANT
=CRX=CTX=1.675pFとなっている。
【0041】図6、図7はそれぞれ、信号切換えスイッ
チ13に360mWの信号電力を入力したときの、入力
端子(すなわち、TX端子またはANT端子)、スイッ
チ回路12内部、出力端子(すなわち、ANT端子また
はRX端子)における電圧波形及び電流波形を示す図で
ある。但し、簡単のため、スイッチ回路12内部での抵
抗損失は0であるとして計算している。入出力端子であ
るANT端子、RX端子、TX端子はZ0=50Ω系で
あるから、電圧波の最大振幅は6V[=(2P
01/2]、電流波の最大振幅は120mA[=(2P
/Z01/2]となっているが、スイッチ回路12の内部
ではインピーダンス変換回路M1〜M3によりZSW=2
5Ω系となっているため、電圧波の最大振幅は4.24
V[=(2PZSW1/2]、電流波の最大振幅は170
mA[=(2P/ZSW1/2]となっている。
【0042】しかして、入出力端子であるANT端子、
RX端子、TX端子から360mWの信号電力を入力す
ると、スイッチ回路12を伝搬する電圧波の最大振幅は
インピーダンスZ0=50Ωにより、6Vに達するはず
であるが、インピーダンス変換回路M1〜M3によりイ
ンピーダンスZSWを25Ω(インピーダンスZ0の1/
2倍)とすれば、スイッチ回路12を伝搬する電圧波の
最大振幅は4.24V(1/√2倍)に下がる。そのか
わり、電流波の最大振幅は、Z0=50Ωでは120m
Aであったが、ZSW=25Ωでは170mAと√2倍に
増加する。
【0043】このように、入出力端子であるANT端
子、RX端子、TX端子とスイッチ回路12の間にイン
ピーダンス変換回路M1〜M3を設け、スイッチ回路1
2からインピーダンス変換回路M1〜M3をみたインピ
ーダンスZSWが、入出力端子であるANT端子、RX端
子、TX端子から外部回路をみたインピーダンスZ0
り小さくなるようにインピーダンス変換回路M1〜M3
を設計することで、スイッチ回路12内部を伝搬する信
号電力の電圧波の振幅を小さくすることができる。
【0044】従って、スイッチング用素子Q1〜Q4の制
御電圧を中心としてゲート・ソース間電圧に重畳される
電圧波の振幅が小さくなり、大電力の信号を入力した場
合においても、各スイッチング用素子Q1〜Q4のスイッ
チング状態を安定に保つことが可能となり、最大伝送可
能電力や、低電圧動作におけるスイッチング性能(挿入
損失、アイソレーション、歪み特性等)を向上させるこ
とができる。
【0045】また、図2に示すように、スイッチング用
素子Q1〜Q4のOFF時にゲート・ソース間電圧がスイ
ッチング用素子Q1〜Q4のゲート逆方向耐圧VBに達す
るとスイッチング用素子Q1〜Q4の破壊が生じるが、本
発明によれば、この耐圧制限も緩和することが可能とな
る。
【0046】さらに、スイッチング用素子Q1〜Q4のO
N時にゲート・ソース間電圧がゲート順方向電流の立ち
上がり電圧VTHに達するとゲート大電流が流れ、スイッ
チング性能が劣化するが、本発明では、この影響も緩和
することが可能である。
【0047】なお、これらの諸効果は、インピーダンス
変換回路M1〜M3によりスイッチ回路12内部のイン
ピーダンスを低下させ、電圧振幅を減少させたことによ
り、スイッチング用素子の電圧的な制限から生じるスイ
ッチング性能の劣化を緩和したものであって、本実施形
態では例としてスイッチング用素子にGaAsMESF
ETを用いたが、他のスイッチング用半導体素子、例え
ばPINダイオード等においても、耐圧等の電圧的な制
限を緩和することが可能である。
【0048】(第3の実施形態)図8は、本発明の別な
実施形態による信号切換えスイッチ14を示す平面図で
ある。この信号切換えスイッチ14においては、スイッ
チ回路12はIC(半導体集積回路)チップ15上に形
成されている。16、17、18はそれぞれ、ICチッ
プ15上に形成されているスイッチ回路12のANT側
端子電極、RX側端子電極、TX側端子電極である。ス
イッチ回路12を形成されたICチップ15は、ダイパ
ッド19上にダイボンドされている。ダイパッド19か
らは3本のグランド端子20が延出されている。また、
ICチップ15を封止しているモールドパッケージ21
には、ANT端子となるANTリード22と、RX端子
となるRXリード23と、TX端子となるTXリード2
4の各端部が埋めこまれている。ANTリード22とス
イッチ回路12のANT側端子電極16はボンディング
ワイヤ25により接続されており、RXリード23とス
イッチ回路12のRX側端子電極17はボンディングワ
イヤ26により接続されており、TXリード24とスイ
ッチ回路12のTX側端子電極18はボンディングワイ
ヤ27により接続されている。また、28、29、30
はそれぞれANT側端子電極16、RX側端子電極1
7、TX側端子電極18の近傍に設けられたグランド電
極であって、バイアホール31を介してダイパッド19
に導通している。そして、スイッチ回路12のANT端
子電極16aとグランド電極28はICチップ15上に
形成されたMIMキャパシタ32によって接続されてお
り、同様にRX端子電極17aとグランド電極29はM
IMキャパシタ33により接続されており、TX端子電
極18aとグランド電極30はMIMキャパシタ34に
より接続されている。
【0049】図9は上記信号切換えスイッチ14の等価
回路図である。この信号切換えスイッチ14にあって
は、ANT端子、RX端子、TX端子とスイッチ回路1
2の間に挿入されているインピーダンス変換回路M1〜
M3は、いずれもインダクタンスLL1,LL2,LL3とキ
ャパシタンスCS1,CS2,CS3からなるL型回路とイン
ダクタンスLW1,LW2とキャパシタンスCM1,CM2,C
M3からなるL型回路の2段構成となっている。
【0050】インピーダンス変換回路M1においては、
ANTリード22の先端がANT端子となっており、イ
ンダクタンスLL1はANTリード22のインダクタンス
により構成され、キャパシタンスCS1はANTリード2
2とグランド端子20の間のストレーキャパシタンスに
より構成され、インダクタンスLW1,LW2はボンディン
グワイヤ25のインダクタンスにより構成され、大容量
のキャパシタンスCM1はMIMキャパシタンス32によ
り構成されている。
【0051】同様に、インピーダンス変換回路M2にお
いては、RXリード23の先端がRX端子となってお
り、インダクタンスLL2はRXリード23のインダクタ
ンスにより構成され、キャパシタンスCS2はRXリード
23とグランド端子20の間のストレーキャパシタンス
により構成され、インダクタンスLW1,LW2はボンディ
ングワイヤ26のインダクタンスにより構成され、大容
量のキャパシタンスCM2はMIMキャパシタンス33に
より構成されている。
【0052】同じく、インピーダンス変換回路M3にお
いては、TXリード24の先端がTX端子となってお
り、インダクタンスLL3はTXリード24のインダクタ
ンスにより構成され、キャパシタンスCS3はTXリード
24とグランド端子20の間のストレーキャパシタンス
により構成され、インダクタンスLW1,LW2はボンディ
ングワイヤ27のインダクタンスにより構成され、大容
量のキャパシタンスCM3はMIMキャパシタンス34に
より構成されている。
【0053】本実施形態によれば、信号切換えスイッチ
14をモールドパッケージ21に納める際に問題とな
る、ANTリード22、RXリード23、TXリード2
4やボンディングワイヤ25,26,27の各インダク
タンスLL1,LL2,LL3やLW1,LW2、ANTリード2
2、RXリード23、TXリード24とグランド端子2
0の間のストレーキャパシタンスCS1,CS2,CS3をイ
ンピーダンス変換回路M1〜M3の一部として積極的に
利用することができ、ICチップ15のチップ面積を小
さくすることが可能となり、信号切換えスイッチ14の
性能を向上した状態で、ICチップ15の面積を小さく
でき、製造コストを低廉にできる。
【0054】(第4の実施形態)図10は、本発明のさ
らに別な実施形態による信号切換えスイッチ35を示す
斜視図、図11はその等価回路図である。この信号切換
えスイッチ35にあっては、インピーダンス変換回路M
1〜M3が構成された誘電体多層基板36の上面に、ス
イッチ回路12を形成されたICチップ15が実装さ
れ、ICチップ15と誘電体多層基板36とがボンディ
ングワイヤ37により接続されている。
【0055】インピーダンス変換回路M1〜M3は、図
11に示すように、誘電体多層基板36の内部に多段に
形成されたインダクタンスLA1,LA2,LA3;LB1,L
B2,LB3;LC1,LC2,LC3とキャパシタンスCA1,C
A2,CA3;CB1,CB2,CB3;CC1,CC2,CC3と伝送
線路MS1;MS2;MS3により構成されている。
【0056】インピーダンス変換回路M1においては、
ANT端子とスイッチ回路12間に直列にインダクタン
スLA1、キャパシタンスCA1、伝送線路MS1、インダ
クタンスLA3が接続され、インダクタンスLA1とキャパ
シタンスCA1の接続点がインダクタンスLA2を介してG
NDに接続され、キャパシタンスCA1と伝送線路MS1
の接続点がキャパシタンスCA2を介してGNDに接続さ
れ、伝送線路MS1とインダクタンスLA3の接続点がキ
ャパシタンスCA3を介してGNDに接続されている。
【0057】同様に、インピーダンス変換回路M2(M
3)においては、RX端子(TX端子)とスイッチ回路
12間に直列にインダクタンスLB1(LC1)、キャパシ
タンスCB1(CC1)、伝送線路MS2(MS3)、インダ
クタンスLB3(LC3)が接続され、インダクタンスLB1
(LC1)とキャパシタンスCB1(CC1)の接続点がイン
ダクタンスLB2(LC2)を介してGNDに接続され、キ
ャパシタンスCB1(CC1)と伝送線路MS2(MS3)の
接続点がキャパシタンスCB2(CC2)を介してGNDに
接続され、伝送線路MS2(MS3)とインダクタンスL
B3(LC3)の接続点がキャパシタンスCB3(CC3)を介
してGNDに接続されている。なお、ボンディングワイ
ヤ37のインダクタンスがインピーダンス変換回路M1
〜M3に利用されており、ボンデイングワイヤ37がイ
ンピーダンス変換回路M1〜M3の一部となっている。
【0058】このように、インピーダンス変換回路M1
〜M3を誘電体多層基板36に形成することにより、小
さな実装面積において、インピーダンス変換回路M1〜
M3をインダクタンスLA1〜LC3、キャパシタンスCA1
〜CC3、伝送線路MS1〜MS3及びボンディングワイヤ
37により多段に形成することができる。
【0059】従って、インピーダンス変換回路M1〜M
3のQ値を下げることができ、広帯域なインピーダンス
変換が実現できる。よって、広帯域にわたってスイッチ
回路12の性能を向上することができる。また、このイ
ンピーダンス変換回路M1〜M3は誘電体多層基板36
に形成しているため、実装面積が小さくて済み、信号切
換えスイッチ35を小型化することができる。
【0060】(第5の実施形態)図12は、本発明のさ
らに別な実施形態による信号切換えスイッチ38を示す
回路図である。この信号切換えスイッチ38は、単一正
電源動作を実現するために直流カット用キャパシタンス
DCと高周波チョーク用インダクタンスLRFを付加して
おり、この直流カット用キャパシタンスCDCと高周波チ
ョーク用インダクタンスLRFをインピーダンス変換回路
M1〜M3の一部としている。
【0061】すなわち、インピーダンス変換回路M1
は、ANT端子とスイッチ回路12の間に挿入された直
流カット用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キ
ャパシタンスCDCとANT端子間の接続点とGNDの間
に直列に挿入されたインダクタンスLGと、この直流カ
ット用キャパシタンスCDCとスイッチ回路12間の接続
点に接続されて定電圧VDDを印加された高周波チョーク
用インダクタンスLRFとから構成されている。
【0062】また、インピーダンス変換回路M2は、R
X端子とスイッチ回路12の間に挿入された直流カット
用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キャパシタ
ンスCDCとRX端子間の接続点とGNDの間に直列に挿
入されたインダクタンスLGと、スイッチング用素子Q2
とGNDの間に挿入された直流カット用キャパシタンス
DCと、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッ
チング用素子Q2の接続点に接続されて定電圧VDDを印
加された高周波チョーク用インダクタンスLRFとから構
成されている。
【0063】同様に、インピーダンス変換回路M3は、
TX端子とスイッチ回路12の間に挿入された直流カッ
ト用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キャパシ
タンスCDCとTX端子間の接続点とGNDの間に挿入さ
れたインダクタンスLGと、スイッチング用素子Q4とG
NDの間に挿入された直流カット用キャパシタンスCDC
と、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッチン
グ用素子Q4の接続点に接続され定電圧VDDを印加され
た高周波チョーク用インダクタンスLRF(インピーダン
ス変換回路M2と共用)とから構成されている。
【0064】この信号切換えスイッチ38は、上記のよ
うに単一正電源動作用の高周波チョーク用インダクタン
スLRF及び直流カット用キャパシタンスCDCをインピー
ダンス変換回路M1〜M3の一部として利用しているの
で、信号切換えスイッチ38の素子数を削減でき、半導
体集積回路として構成する場合にはチップ面積を減少さ
せることができる。
【0065】(第6の実施形態)図13は、本発明のさ
らに別な実施形態による信号切換えスイッチ39を外部
回路と共に示す図である。ANT端子には送受信アンテ
ナ40が接続され、RX端子には受信用低雑音増幅器
(LNA)41が接続され、TX端子には送信用電力増
幅器(PA)42が接続されている。
【0066】この信号切換えスイッチ39においては、
スイッチ回路12からインピーダンス変換回路M1〜M
3をみたインピーダンスZSWを、ANT端子、RX端子
及びTX端子から送受信アンテナ40、受信用低雑音増
幅器41、送信用電力増幅器42等の外部回路をみたイ
ンピーダンスZ0より小さくし、さらに、ANT端子、
RX端子及びTX端子から各インピーダンス変換回路M
1〜M3をみたインピーダンスを送受信アンテナ40、
受信用低雑音増幅器41、送信用電力増幅器42等の外
部回路が要求する最適インピーダンス(定格インピーダ
ンス)ZANT,ZLNA,ZPAとなるよう、各インピーダン
ス変換回路M1〜M3が設計されている。これによって
インピーダンス変換回路にANT端子、RX端子、TX
端子に接続する外部回路との最適インピーダンスによる
整合機能を持たせている。
【0067】ここで、最適インピーダンスとは、送受信
アンテナ40では、送信回路から送受信アンテナ40に
入力された送信電力が全て空中へ放射され、逆に空中か
ら入射した受信電力が全て受信回路へ出力されるような
インピーダンスZANTである。また、送信用電力増幅器
42では、最大出力電力が得られるインピーダンスZPA
である。また、受信用低雑音増幅器41では、最小雑音
指数が得られるインピーダンスZLNAである。
【0068】信号切換えスイッチ39が最適インピーダ
ンスによる整合機能を有しない場合には、送受信アンテ
ナ40、送信用電力増幅器42、受信用低雑音増幅器4
1等の外部回路をANT端子、TX端子、RX端子に接
続する場合には、別途整合回路を用いることにより、A
NT端子、TX端子及びRX端子における外部回路との
特性インピーダンス(例えば50Ω)を外部回路が要求
する最適インピーダンスに変換した後、整合回路を介し
てANT端子、TX端子及びRX端子に送受信アンテナ
40、送信用電力増幅器42、受信用低雑音増幅器41
等の外部回路を接続する必要がある。
【0069】これに対し、本実施形態による信号切換え
スイッチ39では、インピーダンス変換回路M1〜M3
に、ANT端子、TX端子、RX端子に接続する外部回
路との最適インピーダンスによる整合機能を持たせてい
るから、ANT端子、RX端子、TX端子と外部回路と
の間に整合回路が不要になり、外部回路と接続する際の
構成を簡単にすることができる。
【0070】さらに、ANT端子、RX端子、TX端子
と外部回路との間に接続される整合回路が不要になるの
で、信号切換えスイッチ39の性能を向上させた状態に
おいて、信号切換えスイッチ39や通信システムにおけ
る変換損失を低減でき、さらに素子数を減少させ、半導
体集積回路を用いる場合にはチップ面積を減少させるこ
とができ、信号切換えスイッチ39の製造コストを安価
にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の信号切換えスイッチを示す回路図であ
る。
【図2】スイッチング用素子の特性とスイッチング用素
子のゲートに印加される制御電圧に重畳された信号電圧
を示す図である。
【図3】別の従来例であって、スイッチング用素子が多
段接続された信号切換えスイッチを示す回路図である。
【図4】本発明の一実施形態による信号切換えスイッチ
を示す回路図である。
【図5】本発明の別な実施形態による信号切換えスイッ
チを示す回路図である。
【図6】同上の信号切換えスイッチに信号電力を入力し
たときの入力端子、出力端子及びスイッチ回路内部にお
ける電圧波形を示す図である。
【図7】同上の信号切換えスイッチに信号電力を入力し
たときの入力端子、出力端子及びスイッチ回路内部にお
ける電流波形を示す図である。
【図8】本発明のさらに別な実施形態による信号切換え
スイッチを示す平面図である。
【図9】同上の信号切換えスイッチの等価回路を示す回
路図である。
【図10】本発明のさらに別な実施形態による信号切換
えスイッチを示す外観斜視図である。
【図11】同上の信号切換えスイッチの等価回路を示す
回路図である。
【図12】本発明のさらに別な実施形態による信号切換
えスイッチを示す回路図である。
【図13】本発明のさらに別な実施形態による信号切換
えスイッチを示す回路ブロック図である。
【符号の説明】
1〜Q4 スイッチング用素子 M1〜M3 インピーダンス変換回路 LANT,LL1〜LL3,LW1,LW2,LA1〜LA3,LB1
B3,LC1〜LC3インダクタンス CANT,CS1〜CS3,CM1〜CM3,CA1〜CA3,CB1
B3,CC1〜CC3キャパシタンス MS1〜MS3 伝送線路 LRF 高周波チョーク用インダクタンス CDC 直流カット用キャパシタンス ANT ANT端子 RX RX端子 TX TX端子 GND グランド 12 スイッチ回路 15 ICチップ 36 誘電体多層基板

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子がスイッチング素子として用
    いられたスイッチ回路と、複数の入出力端子を備え、ス
    イッチ回路によって各入出力端子を互いに接続したり、
    切り離したりするための信号切換えスイッチにおいて、 前記入出力端子と前記スイッチ回路との間にインピーダ
    ンス変換回路を設け、スイッチ回路からインピーダンス
    変換回路をみたインピーダンスを、入出力端子から外部
    回路をみたインピーダンスより小さくしたことを特徴と
    する信号切換えスイッチ。
  2. 【請求項2】 前記インピーダンス変換回路は、前記ス
    イッチ回路が形成された半導体集積回路のボンディング
    ワイヤもしくはリードのインダクタンスと、前記半導体
    集積回路のストレーキャパシタンスとを用いたものであ
    ることを特徴とする、請求項1に記載の信号切換えスイ
    ッチ。
  3. 【請求項3】 前記インピーダンス変換回路は、誘電体
    多層基板内に形成されたインダクタンス、キャパシタン
    ス及び伝送線路から構成されていることを特徴とする、
    請求項1又は2に記載の信号切換えスイッチ。
  4. 【請求項4】 前記インピーダンス変換回路は、単一正
    電源動作用の直流カット用キャパシタンスと高周波チョ
    ーク用インダクタンスとを含んでいることを特徴とす
    る、請求項1〜3に記載の信号切換えスイッチ。
  5. 【請求項5】 前記入出力端子から各インピーダンス変
    換回路をみたインピーダンスが前記各外部回路の要求す
    る最適インピーダンスにほぼ等しくなっていることを特
    徴とする、請求項1〜4に記載の信号切換えスイッチ。
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Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003026058A1 (en) * 2001-09-14 2003-03-27 Japan Radio Co., Ltd. Switch and its usage
EP1156582A3 (en) * 2000-05-16 2004-04-28 Nokia Corporation Transmitter/receiver chain impedance optimization
WO2004059841A1 (ja) * 2002-12-25 2004-07-15 Nec Corporation 接地スイッチ回路
JP2005020140A (ja) * 2003-06-24 2005-01-20 Ngk Spark Plug Co Ltd アンテナスイッチモジュール及びそれを用いた無線電話通信装置
JP2005086248A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Toshiba Corp Rfフロントエンド回路
CN1316739C (zh) * 2002-08-30 2007-05-16 富士通量子器件有限公司 开关电路、开关模块和控制开关电路的方法
JP2008048450A (ja) * 2003-11-11 2008-02-28 Murata Mfg Co Ltd 高周波モジュール
JP2009005381A (ja) * 2003-11-11 2009-01-08 Murata Mfg Co Ltd 高周波モジュール
WO2010053131A1 (ja) * 2008-11-05 2010-05-14 日立金属株式会社 高周波回路、高周波部品、及びマルチバンド通信装置
JP2010219955A (ja) * 2009-03-17 2010-09-30 Nec Corp アンテナスイッチ回路及び通信端末
US7812687B2 (en) 2006-12-21 2010-10-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. High-frequency switching circuit module
US8954902B2 (en) 2005-07-11 2015-02-10 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US8994452B2 (en) 2008-07-18 2015-03-31 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US9024700B2 (en) 2008-02-28 2015-05-05 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in digitally tuning a capacitor in an integrated circuit device
US9030248B2 (en) 2008-07-18 2015-05-12 Peregrine Semiconductor Corporation Level shifter with output spike reduction
US20150130557A1 (en) * 2013-10-04 2015-05-14 Peregrine Semiconductor Corporation Optimized RF Switching Device Architecture for Impedance Control Applications
US9087899B2 (en) 2005-07-11 2015-07-21 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US9130564B2 (en) 2005-07-11 2015-09-08 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink
US9177737B2 (en) 2007-04-26 2015-11-03 Peregrine Semiconductor Corporation Tuning capacitance to enhance FET stack voltage withstand
US9190902B2 (en) 2003-09-08 2015-11-17 Peregrine Semiconductor Corporation Low noise charge pump method and apparatus
US9225378B2 (en) 2001-10-10 2015-12-29 Peregrine Semiconductor Corpopration Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US9264053B2 (en) 2011-01-18 2016-02-16 Peregrine Semiconductor Corporation Variable frequency charge pump
JP2016042669A (ja) * 2014-08-18 2016-03-31 パナソニックIpマネジメント株式会社 信号入出力装置、表示装置
US9369087B2 (en) 2004-06-23 2016-06-14 Peregrine Semiconductor Corporation Integrated RF front end with stacked transistor switch
US9406695B2 (en) 2013-11-20 2016-08-02 Peregrine Semiconductor Corporation Circuit and method for improving ESD tolerance and switching speed
US9419565B2 (en) 2013-03-14 2016-08-16 Peregrine Semiconductor Corporation Hot carrier injection compensation
US9590674B2 (en) 2012-12-14 2017-03-07 Peregrine Semiconductor Corporation Semiconductor devices with switchable ground-body connection
US9660590B2 (en) 2008-07-18 2017-05-23 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
WO2017199616A1 (ja) * 2016-05-17 2017-11-23 株式会社村田製作所 スイッチ部品、高周波モジュール及び通信装置
US9831857B2 (en) 2015-03-11 2017-11-28 Peregrine Semiconductor Corporation Power splitter with programmable output phase shift
US9948281B2 (en) 2016-09-02 2018-04-17 Peregrine Semiconductor Corporation Positive logic digitally tunable capacitor
US10236872B1 (en) 2018-03-28 2019-03-19 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10505530B2 (en) 2018-03-28 2019-12-10 Psemi Corporation Positive logic switch with selectable DC blocking circuit
US10790390B2 (en) 2005-07-11 2020-09-29 Psemi Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US10804892B2 (en) 2005-07-11 2020-10-13 Psemi Corporation Circuit and method for controlling charge injection in radio frequency switches
US10886911B2 (en) 2018-03-28 2021-01-05 Psemi Corporation Stacked FET switch bias ladders
USRE48965E1 (en) 2005-07-11 2022-03-08 Psemi Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US11476849B2 (en) 2020-01-06 2022-10-18 Psemi Corporation High power positive logic switch

Cited By (70)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1156582A3 (en) * 2000-05-16 2004-04-28 Nokia Corporation Transmitter/receiver chain impedance optimization
WO2003026058A1 (en) * 2001-09-14 2003-03-27 Japan Radio Co., Ltd. Switch and its usage
US9225378B2 (en) 2001-10-10 2015-12-29 Peregrine Semiconductor Corpopration Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US10790820B2 (en) 2001-10-10 2020-09-29 Psemi Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US10812068B2 (en) 2001-10-10 2020-10-20 Psemi Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US10622993B2 (en) 2001-10-10 2020-04-14 Psemi Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US10797694B2 (en) 2001-10-10 2020-10-06 Psemi Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
CN1316739C (zh) * 2002-08-30 2007-05-16 富士通量子器件有限公司 开关电路、开关模块和控制开关电路的方法
WO2004059841A1 (ja) * 2002-12-25 2004-07-15 Nec Corporation 接地スイッチ回路
JP2005020140A (ja) * 2003-06-24 2005-01-20 Ngk Spark Plug Co Ltd アンテナスイッチモジュール及びそれを用いた無線電話通信装置
JP2005086248A (ja) * 2003-09-04 2005-03-31 Toshiba Corp Rfフロントエンド回路
US10965276B2 (en) 2003-09-08 2021-03-30 Psemi Corporation Low noise charge pump method and apparatus
US9190902B2 (en) 2003-09-08 2015-11-17 Peregrine Semiconductor Corporation Low noise charge pump method and apparatus
US7904031B2 (en) 2003-11-11 2011-03-08 Murata Manufacturing Co., Ltd. High-frequency module for transmitting and receiving transmission-reception signals of at least three communication systems using a single antenna
JP2009005381A (ja) * 2003-11-11 2009-01-08 Murata Mfg Co Ltd 高周波モジュール
JP2008048450A (ja) * 2003-11-11 2008-02-28 Murata Mfg Co Ltd 高周波モジュール
US9369087B2 (en) 2004-06-23 2016-06-14 Peregrine Semiconductor Corporation Integrated RF front end with stacked transistor switch
US9680416B2 (en) 2004-06-23 2017-06-13 Peregrine Semiconductor Corporation Integrated RF front end with stacked transistor switch
US12520525B2 (en) 2005-07-11 2026-01-06 Psemi Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US9087899B2 (en) 2005-07-11 2015-07-21 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US10790390B2 (en) 2005-07-11 2020-09-29 Psemi Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US9130564B2 (en) 2005-07-11 2015-09-08 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink
US10680600B2 (en) 2005-07-11 2020-06-09 Psemi Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink
US8954902B2 (en) 2005-07-11 2015-02-10 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
USRE48944E1 (en) 2005-07-11 2022-02-22 Psemi Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETS using an accumulated charge sink
USRE48965E1 (en) 2005-07-11 2022-03-08 Psemi Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US9608619B2 (en) 2005-07-11 2017-03-28 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US10797172B2 (en) 2005-07-11 2020-10-06 Psemi Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US10818796B2 (en) 2005-07-11 2020-10-27 Psemi Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US10622990B2 (en) 2005-07-11 2020-04-14 Psemi Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink
US10797691B1 (en) 2005-07-11 2020-10-06 Psemi Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink
US10804892B2 (en) 2005-07-11 2020-10-13 Psemi Corporation Circuit and method for controlling charge injection in radio frequency switches
US7812687B2 (en) 2006-12-21 2010-10-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. High-frequency switching circuit module
US10951210B2 (en) 2007-04-26 2021-03-16 Psemi Corporation Tuning capacitance to enhance FET stack voltage withstand
US9177737B2 (en) 2007-04-26 2015-11-03 Peregrine Semiconductor Corporation Tuning capacitance to enhance FET stack voltage withstand
US9293262B2 (en) 2008-02-28 2016-03-22 Peregrine Semiconductor Corporation Digitally tuned capacitors with tapered and reconfigurable quality factors
US9197194B2 (en) 2008-02-28 2015-11-24 Peregrine Semiconductor Corporation Methods and apparatuses for use in tuning reactance in a circuit device
US9106227B2 (en) 2008-02-28 2015-08-11 Peregrine Semiconductor Corporation Devices and methods for improving voltage handling and/or bi-directionality of stacks of elements when connected between terminals
US9024700B2 (en) 2008-02-28 2015-05-05 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in digitally tuning a capacitor in an integrated circuit device
US11082040B2 (en) 2008-02-28 2021-08-03 Psemi Corporation Devices and methods for improving voltage handling and/or bi-directionality of stacks of elements when connected between terminals
US11671091B2 (en) 2008-02-28 2023-06-06 Psemi Corporation Devices and methods for improving voltage handling and/or bi-directionality of stacks of elements when connected between terminals
US9030248B2 (en) 2008-07-18 2015-05-12 Peregrine Semiconductor Corporation Level shifter with output spike reduction
US9660590B2 (en) 2008-07-18 2017-05-23 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US8994452B2 (en) 2008-07-18 2015-03-31 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
JP5316544B2 (ja) * 2008-11-05 2013-10-16 日立金属株式会社 高周波回路、高周波部品、及びマルチバンド通信装置
WO2010053131A1 (ja) * 2008-11-05 2010-05-14 日立金属株式会社 高周波回路、高周波部品、及びマルチバンド通信装置
US8803632B2 (en) 2008-11-05 2014-08-12 Hitachi Metals, Ltd. High-frequency circuit, high-frequency device, and multiband communications apparatus
JP2010219955A (ja) * 2009-03-17 2010-09-30 Nec Corp アンテナスイッチ回路及び通信端末
US9413362B2 (en) 2011-01-18 2016-08-09 Peregrine Semiconductor Corporation Differential charge pump
US9264053B2 (en) 2011-01-18 2016-02-16 Peregrine Semiconductor Corporation Variable frequency charge pump
US9590674B2 (en) 2012-12-14 2017-03-07 Peregrine Semiconductor Corporation Semiconductor devices with switchable ground-body connection
US9419565B2 (en) 2013-03-14 2016-08-16 Peregrine Semiconductor Corporation Hot carrier injection compensation
US10141927B2 (en) 2013-10-04 2018-11-27 Psemi Corporation Optimized RF switching device architecture for impedance control applications
US9667246B2 (en) * 2013-10-04 2017-05-30 Peregrine Semiconductor Corporation Optimized RF switching device architecture for impedance control applications
US20150130557A1 (en) * 2013-10-04 2015-05-14 Peregrine Semiconductor Corporation Optimized RF Switching Device Architecture for Impedance Control Applications
US9406695B2 (en) 2013-11-20 2016-08-02 Peregrine Semiconductor Corporation Circuit and method for improving ESD tolerance and switching speed
JP2016042669A (ja) * 2014-08-18 2016-03-31 パナソニックIpマネジメント株式会社 信号入出力装置、表示装置
US9831857B2 (en) 2015-03-11 2017-11-28 Peregrine Semiconductor Corporation Power splitter with programmable output phase shift
WO2017199616A1 (ja) * 2016-05-17 2017-11-23 株式会社村田製作所 スイッチ部品、高周波モジュール及び通信装置
US10855245B2 (en) 2016-05-17 2020-12-01 Murata Manufacturing Co., Ltd. Switch component, high-frequency module, and communication apparatus
US9948281B2 (en) 2016-09-02 2018-04-17 Peregrine Semiconductor Corporation Positive logic digitally tunable capacitor
US11018662B2 (en) 2018-03-28 2021-05-25 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10505530B2 (en) 2018-03-28 2019-12-10 Psemi Corporation Positive logic switch with selectable DC blocking circuit
US10236872B1 (en) 2018-03-28 2019-03-19 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US11418183B2 (en) 2018-03-28 2022-08-16 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10886911B2 (en) 2018-03-28 2021-01-05 Psemi Corporation Stacked FET switch bias ladders
US11870431B2 (en) 2018-03-28 2024-01-09 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10862473B2 (en) 2018-03-28 2020-12-08 Psemi Corporation Positive logic switch with selectable DC blocking circuit
US11476849B2 (en) 2020-01-06 2022-10-18 Psemi Corporation High power positive logic switch
US12081211B2 (en) 2020-01-06 2024-09-03 Psemi Corporation High power positive logic switch

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