JPH1098096A - 半導体ウェハ用カセット - Google Patents
半導体ウェハ用カセットInfo
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- JPH1098096A JPH1098096A JP25340696A JP25340696A JPH1098096A JP H1098096 A JPH1098096 A JP H1098096A JP 25340696 A JP25340696 A JP 25340696A JP 25340696 A JP25340696 A JP 25340696A JP H1098096 A JPH1098096 A JP H1098096A
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- cassette
- semiconductor wafer
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 φ300の半導体ウェハをカセット本体に収
容する場合に、ウェハの周縁部とカセット本体との接触
面積を極力小さくして保持することができ、また搬送の
停止時等におけるウェハの飛び出しを防止し、さらに
は、1つのウェハが保持されていた溝から脱落してしま
っても、下位に収容されたウェハが傷付くことのない半
導体ウェハ用カセットを提供する。 【解決手段】ウェハ分離用のリブ21を、前記カセット
本体の両側壁13および枠状体15に形成するととも
に、前記両側壁のウェハ分離用のリブ13と前記枠状体
15のウェハ分離用のリブ33との間に、これらのリブ
より若干低い位置に脱落防止用のリブ26を形成した。
容する場合に、ウェハの周縁部とカセット本体との接触
面積を極力小さくして保持することができ、また搬送の
停止時等におけるウェハの飛び出しを防止し、さらに
は、1つのウェハが保持されていた溝から脱落してしま
っても、下位に収容されたウェハが傷付くことのない半
導体ウェハ用カセットを提供する。 【解決手段】ウェハ分離用のリブ21を、前記カセット
本体の両側壁13および枠状体15に形成するととも
に、前記両側壁のウェハ分離用のリブ13と前記枠状体
15のウェハ分離用のリブ33との間に、これらのリブ
より若干低い位置に脱落防止用のリブ26を形成した。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特に外径がφ30
0ほどある大口径の半導体ウェハを収容して運搬するの
に好適な半導体ウェハ用カセットに関する。
0ほどある大口径の半導体ウェハを収容して運搬するの
に好適な半導体ウェハ用カセットに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェハは汚染を極度に嫌うので、
製造工程においては、半導体ウェハ用カセット(以下、
単にカセットと称す)に収納され、周囲から隔絶した状
態で搬送され、その後、各種の化学洗浄、乾燥等が行な
われている。
製造工程においては、半導体ウェハ用カセット(以下、
単にカセットと称す)に収納され、周囲から隔絶した状
態で搬送され、その後、各種の化学洗浄、乾燥等が行な
われている。
【0003】また、半導体ウェハとカセットとの接触面
積は極力小さい方が好ましく、したがって、カセットは
ウェハの周縁部のみの狭い範囲を保持する構造となって
いる。
積は極力小さい方が好ましく、したがって、カセットは
ウェハの周縁部のみの狭い範囲を保持する構造となって
いる。
【0004】ここで、従来の半導体ウェハを搬送するカ
セットは、図10に示したように、カセット本体1の両
側壁2、2の内面2aに所定幅lの溝3が形成されるよ
うに、内方向に向かって突設された複数のウェハ分離用
のリブ4を有し、このリブ4によりウェハW相互を分離
し、それぞれ独立して保持するようになっている。ま
た、カセット本体1を用いてウェハWの運搬等を行なう
場合は、図10の状態、つまりウェハWを立てた状態で
行なっていることが多い。
セットは、図10に示したように、カセット本体1の両
側壁2、2の内面2aに所定幅lの溝3が形成されるよ
うに、内方向に向かって突設された複数のウェハ分離用
のリブ4を有し、このリブ4によりウェハW相互を分離
し、それぞれ独立して保持するようになっている。ま
た、カセット本体1を用いてウェハWの運搬等を行なう
場合は、図10の状態、つまりウェハWを立てた状態で
行なっていることが多い。
【0005】ウェハWはカセット本体1から、図11に
示したような自動出し入れ装置5を用いて自動的に出し
入れされる。このウェハの自動出し入れ装置5では、前
記ウェハWが上下方向に積み重ねられた状態となるよう
にカセット本体1を昇降台6上に立設し、一方のカセッ
ト本体1内のウェハWを搬送体7により一枚ずつ取り出
し、他方の昇降台8上に載置された他方のカセット本体
1まで搬送し、その溝部3内に収納するようにしてい
る。この場合、前記昇降台6、8はウェハを一枚ずつ取
り出す毎に1ピッチ分昇降と下降を行ない、一方のカセ
ット1内のウェハWを他方のカセット1内に全て収容す
ることができる。
示したような自動出し入れ装置5を用いて自動的に出し
入れされる。このウェハの自動出し入れ装置5では、前
記ウェハWが上下方向に積み重ねられた状態となるよう
にカセット本体1を昇降台6上に立設し、一方のカセッ
ト本体1内のウェハWを搬送体7により一枚ずつ取り出
し、他方の昇降台8上に載置された他方のカセット本体
1まで搬送し、その溝部3内に収納するようにしてい
る。この場合、前記昇降台6、8はウェハを一枚ずつ取
り出す毎に1ピッチ分昇降と下降を行ない、一方のカセ
ット1内のウェハWを他方のカセット1内に全て収容す
ることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年では、
φ300ほどの大口径の半導体ウェハが市場に出始めよ
うとしており、この半導体ウェハの搬送に使用されるウ
ェハ用カセットの仕様も規格化が進められている。
φ300ほどの大口径の半導体ウェハが市場に出始めよ
うとしており、この半導体ウェハの搬送に使用されるウ
ェハ用カセットの仕様も規格化が進められている。
【0007】それによると、この種の半導体ウェハを搬
送する場合は、今までの半導体ウェハWを搬送する場合
と異なって、図11に示したように、カセット本体1は
ウェハWを出し入れする開口部9を横にした状態のまま
搬送するように規定されており、その場合、ウェハWは
そのままの姿勢、ななわち、水平状態で搬送される。
送する場合は、今までの半導体ウェハWを搬送する場合
と異なって、図11に示したように、カセット本体1は
ウェハWを出し入れする開口部9を横にした状態のまま
搬送するように規定されており、その場合、ウェハWは
そのままの姿勢、ななわち、水平状態で搬送される。
【0008】しかしながら、φ300もあるウェハWを
開口部9を横にして水平状態でのみ搬送すると、搬送の
発進時、停止時等に、カセット本体1の開口部9からウ
ェハWが飛び出してしまうことも考えられる。
開口部9を横にして水平状態でのみ搬送すると、搬送の
発進時、停止時等に、カセット本体1の開口部9からウ
ェハWが飛び出してしまうことも考えられる。
【0009】しかも、このような半導体ウェハWを従来
のようなカセット本体1に保持させると、半導体ウェハ
Wとカセット本体1との接触面積が大きくなり、接触し
た部分の摩擦によってウェハWの表面に傷が付く恐れが
あった。
のようなカセット本体1に保持させると、半導体ウェハ
Wとカセット本体1との接触面積が大きくなり、接触し
た部分の摩擦によってウェハWの表面に傷が付く恐れが
あった。
【0010】本発明はこのような実情に鑑み、特にφ3
00ほどの大口径の半導体ウェハをカセット本体に収容
する場合に、ウェハの周縁部とカセット本体との接触面
積を極力小さくして保持することができ、また搬送の停
止時等におけるウェハの飛び出しを防止し、さらには、
1つのウェハが所定の溝から脱落してしまっても、下位
に収容されたウェハが傷付くことのない半導体ウェハ用
カセットを提供することを目的としている。
00ほどの大口径の半導体ウェハをカセット本体に収容
する場合に、ウェハの周縁部とカセット本体との接触面
積を極力小さくして保持することができ、また搬送の停
止時等におけるウェハの飛び出しを防止し、さらには、
1つのウェハが所定の溝から脱落してしまっても、下位
に収容されたウェハが傷付くことのない半導体ウェハ用
カセットを提供することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明では、一枚の半導
体ウェハの下面を例えば4カ所に設けたリブで保持する
ようにしており、さらに、このうちの先端側の2カ所の
リブから半導体ウェハが外れてしまったときに直ぐに係
止できるように、脱落防止用の他のリブを前記2カ所の
リブの近傍に設けている。
体ウェハの下面を例えば4カ所に設けたリブで保持する
ようにしており、さらに、このうちの先端側の2カ所の
リブから半導体ウェハが外れてしまったときに直ぐに係
止できるように、脱落防止用の他のリブを前記2カ所の
リブの近傍に設けている。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の半導体ウェハを保持する
リブは両側壁に各1つずつと、ウェハを出し入れする開
口部の反対側の奥壁柱に2つを設けている。また、奥壁
柱の2つのリブから半導体ウェハの周縁部が外れてしま
った場合に、その脱落した周縁部が他のウェハに衝突す
るより前に脱落防止用のリブに係止されるように、この
脱落防止用のリブを形成する位置を定める必要がある。
リブは両側壁に各1つずつと、ウェハを出し入れする開
口部の反対側の奥壁柱に2つを設けている。また、奥壁
柱の2つのリブから半導体ウェハの周縁部が外れてしま
った場合に、その脱落した周縁部が他のウェハに衝突す
るより前に脱落防止用のリブに係止されるように、この
脱落防止用のリブを形成する位置を定める必要がある。
【0013】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例に
ついて説明する。図1は本発明の一実施例による半導体
ウェハ用カセット10を示したものである。
ついて説明する。図1は本発明の一実施例による半導体
ウェハ用カセット10を示したものである。
【0014】このウェハ用カセット10は、フッ素樹
脂、あるいはABS樹脂などの耐薬品性に優れた合成樹
脂あるいは汎用の合成樹脂からなり、インジェクション
成形、または組み立てなどによって形成される。
脂、あるいはABS樹脂などの耐薬品性に優れた合成樹
脂あるいは汎用の合成樹脂からなり、インジェクション
成形、または組み立てなどによって形成される。
【0015】このウェハ用カセット10は、上下に対向
して配置される一対の天板11および底板12の間に、
円弧状の側壁13、14および四角い枠状体15が立設
されて、カセット本体16が形成されている。カセット
本体16の前面部には、ウェハWを水平方向に出し入れ
するための開口部17が形成され、後方部、すなわち枠
状体15の両側には、光センサの光路となる開口18、
19が形成されている。また、ウェハ自動出し入れ装置
のアームのためのスペースを確保するために、枠状体1
5の中央に略矩形の開口15aが形成されている。
して配置される一対の天板11および底板12の間に、
円弧状の側壁13、14および四角い枠状体15が立設
されて、カセット本体16が形成されている。カセット
本体16の前面部には、ウェハWを水平方向に出し入れ
するための開口部17が形成され、後方部、すなわち枠
状体15の両側には、光センサの光路となる開口18、
19が形成されている。また、ウェハ自動出し入れ装置
のアームのためのスペースを確保するために、枠状体1
5の中央に略矩形の開口15aが形成されている。
【0016】両側壁13、14の開口部17近傍の各内
面には、図2ないし図4に示したように、それぞれ所定
幅lの溝20が形成されるように、複数のウェハ分離用
のリブ21が上下方向に一列に突設されている。
面には、図2ないし図4に示したように、それぞれ所定
幅lの溝20が形成されるように、複数のウェハ分離用
のリブ21が上下方向に一列に突設されている。
【0017】このウェハ分離用のリブ21は、径内方が
径外方に比べて高くなるようにαだけ上向き傾斜で形成
されている。したがって、このような傾斜を設けること
により、このリブ21上に例えば角が尖っている未処理
ウェハを保持するような場合であっても、ウェハの周端
面よりやや径中央よりの部分にリブが接触するようにな
るので、ウェハの角部によってカセットが削れてしまう
ことがなく、パーティクルの発生が防止される。また、
ウェハに傷がつくことも防止される。
径外方に比べて高くなるようにαだけ上向き傾斜で形成
されている。したがって、このような傾斜を設けること
により、このリブ21上に例えば角が尖っている未処理
ウェハを保持するような場合であっても、ウェハの周端
面よりやや径中央よりの部分にリブが接触するようにな
るので、ウェハの角部によってカセットが削れてしまう
ことがなく、パーティクルの発生が防止される。また、
ウェハに傷がつくことも防止される。
【0018】また、リブ21には、上面に略円弧状の段
部22が形成されている。段部22を構成する上段面2
3は、図2および図3に示したように、開口部17に近
づく程、その幅Mが広く形成されている。したがって、
溝20内でリブ21の上方からウェハWが案内される
と、ウェハWの周縁部は円弧状の段部22に当接される
ことになり、開口部17側への飛び出しが防止される。
一方、段部22を構成する下段面24には、膨出部25
が形成されており、これにより、ウェハ下面との接触面
積が小さくされている。なお、段部22の上段面23
は、膨出部25より高くなっている必要がある。
部22が形成されている。段部22を構成する上段面2
3は、図2および図3に示したように、開口部17に近
づく程、その幅Mが広く形成されている。したがって、
溝20内でリブ21の上方からウェハWが案内される
と、ウェハWの周縁部は円弧状の段部22に当接される
ことになり、開口部17側への飛び出しが防止される。
一方、段部22を構成する下段面24には、膨出部25
が形成されており、これにより、ウェハ下面との接触面
積が小さくされている。なお、段部22の上段面23
は、膨出部25より高くなっている必要がある。
【0019】側壁13、14の開口部17より枠状体1
5に近接する内面には、各々脱落防止用のリブ26、2
6が所定のピッチで縦方向に一列に形成されている。こ
のリブ26も図5に示したように、傾斜角αの上向き傾
斜で形成されている。
5に近接する内面には、各々脱落防止用のリブ26、2
6が所定のピッチで縦方向に一列に形成されている。こ
のリブ26も図5に示したように、傾斜角αの上向き傾
斜で形成されている。
【0020】図6に示したように、この脱落防止用のリ
ブ26は、前記ウェハ分離用のリブ21と同じ数だけ形
成されているが、それぞれ対応する前記ウェハ分離用ウ
ェハ21に比べて若干低い位置に形成され、この間に段
差dが確保されている。
ブ26は、前記ウェハ分離用のリブ21と同じ数だけ形
成されているが、それぞれ対応する前記ウェハ分離用ウ
ェハ21に比べて若干低い位置に形成され、この間に段
差dが確保されている。
【0021】図7にも示したように、カセット本体16
の背面側に形成された枠状体15は、2本平行に立設さ
れた奥壁柱31、32と、これを上下で連結する水平板
部33、34とから構成されている。この奥壁柱31、
32には、前記側壁13、14に形成されたウェハ分離
用リブ21と同一高さにウェハ分離用リブ33が形成さ
れている。また、このリブ33は、中央部が両端部に比
べて膨出して形成されている。これらのリブ33によ
り、前記溝20と同一ピッチの溝35が縦方向に一列に
形成されている。このような奥壁柱31、32が具備さ
れることにより、ウェハWが開口部17から所定距離挿
入されると、それ以上の進入が規制される。
の背面側に形成された枠状体15は、2本平行に立設さ
れた奥壁柱31、32と、これを上下で連結する水平板
部33、34とから構成されている。この奥壁柱31、
32には、前記側壁13、14に形成されたウェハ分離
用リブ21と同一高さにウェハ分離用リブ33が形成さ
れている。また、このリブ33は、中央部が両端部に比
べて膨出して形成されている。これらのリブ33によ
り、前記溝20と同一ピッチの溝35が縦方向に一列に
形成されている。このような奥壁柱31、32が具備さ
れることにより、ウェハWが開口部17から所定距離挿
入されると、それ以上の進入が規制される。
【0022】本実施例のウェハ用カセット10は、上記
のように形成されているが、以下に図8および図9を参
照しながらその作用について説明する。今、このウェハ
用カセット10は、ウェハWの搬送用として使用され、
ウェハWが自動出し入れ装置等で挿入された後、搬送ベ
ルト上に載置されて、自動的に搬送される。口径φ30
0の半導体ウェハWは、図8の右方すなわち開口部17
側から隣接する2つのリブ21間の溝20の中央部付近
を通って図の左方側に挿入される。このとき、ウェハW
は上下のウェハ分離用リブ21から離反した状態で奥壁
柱31、32すなわち枠状体15に近づくように自動出
し入れ装置等で挿入される。そして、ウェハWが開口部
17から所定距離内部に挿入されると、ウェハWの先端
周縁部Waは図7においてリブ33の上に差し掛かり、
ここで、ウェハWは出し入れ装置から離反され、少しの
距離下方に移動する。すると、ウェハWは、二点鎖線で
示すように、片側二点がリブ33、21により保持され
る。すなわち、両側が計4つのリブで保持されることに
なる。このとき、ウェハWは多少撓んだとしても脱落防
止用のリブ26と何ら接触することはない。
のように形成されているが、以下に図8および図9を参
照しながらその作用について説明する。今、このウェハ
用カセット10は、ウェハWの搬送用として使用され、
ウェハWが自動出し入れ装置等で挿入された後、搬送ベ
ルト上に載置されて、自動的に搬送される。口径φ30
0の半導体ウェハWは、図8の右方すなわち開口部17
側から隣接する2つのリブ21間の溝20の中央部付近
を通って図の左方側に挿入される。このとき、ウェハW
は上下のウェハ分離用リブ21から離反した状態で奥壁
柱31、32すなわち枠状体15に近づくように自動出
し入れ装置等で挿入される。そして、ウェハWが開口部
17から所定距離内部に挿入されると、ウェハWの先端
周縁部Waは図7においてリブ33の上に差し掛かり、
ここで、ウェハWは出し入れ装置から離反され、少しの
距離下方に移動する。すると、ウェハWは、二点鎖線で
示すように、片側二点がリブ33、21により保持され
る。すなわち、両側が計4つのリブで保持されることに
なる。このとき、ウェハWは多少撓んだとしても脱落防
止用のリブ26と何ら接触することはない。
【0023】このように、一枚のウェハWの周縁部が4
つのリブ21、33で保持された状態では、ウェハWと
リブとの接触面積が小さく、また、リブ21、33は内
方に向かって上向きに傾斜しているので、特に周端縁部
が尖っている未処理ウェハを収納したときでもウェハカ
セットが削られることもなく、多数のウェハWを縦方向
に整然と収容することができる。
つのリブ21、33で保持された状態では、ウェハWと
リブとの接触面積が小さく、また、リブ21、33は内
方に向かって上向きに傾斜しているので、特に周端縁部
が尖っている未処理ウェハを収納したときでもウェハカ
セットが削られることもなく、多数のウェハWを縦方向
に整然と収容することができる。
【0024】ここで、ウェハWを収容したカセット本体
10は、開口部17を横方向すなわち水平方向にして搬
送ベルト等の搬送系により搬送されるが、搬送の発進
時、停止時等には、大きな速度変化により比較的大きな
振動が生じ、ウェハWの挿入側先端Waが先端のリブ3
3から外れ易くなる。あるいは、挿入側後端がカセット
本体16から一部、飛び出してしまう恐れがあるが、本
実施例によれば、先端周縁部Waは脱落防止用のリブ2
6に直ちに当接し係止されるので、ウェハWが下方に脱
落することが防止される。したがって、図9に示したよ
うに、姿勢を崩したウェハWが下方に位置する他のウェ
ハWに衝突することが防止される。
10は、開口部17を横方向すなわち水平方向にして搬
送ベルト等の搬送系により搬送されるが、搬送の発進
時、停止時等には、大きな速度変化により比較的大きな
振動が生じ、ウェハWの挿入側先端Waが先端のリブ3
3から外れ易くなる。あるいは、挿入側後端がカセット
本体16から一部、飛び出してしまう恐れがあるが、本
実施例によれば、先端周縁部Waは脱落防止用のリブ2
6に直ちに当接し係止されるので、ウェハWが下方に脱
落することが防止される。したがって、図9に示したよ
うに、姿勢を崩したウェハWが下方に位置する他のウェ
ハWに衝突することが防止される。
【0025】本実施例によれば、ウェハWの下面は常に
4つのリブにより点接触で保持され、他の部分は何ら接
触されていないので、ベルトコンベアなどの振動が加わ
っても、擦れ傷などができることはない。
4つのリブにより点接触で保持され、他の部分は何ら接
触されていないので、ベルトコンベアなどの振動が加わ
っても、擦れ傷などができることはない。
【0026】また、ウェハWを水平方向から挿入する場
合に、先端周縁部Waがリブ21間の溝lにより案内さ
れるので、段違いに挿入されてしまうこともない。な
お、上記実施例では、2本の奥壁柱31、32の同じ高
さに、一つずつリブ33を形成しているが、枠状体15
に3つの奥壁柱を設ける場合は、それぞれにリブを設
け、3つのリブとして形成しても良く、あるいは中央の
奥壁柱には形成しなくても良い。このように、枠状体1
5にリブをいくつ設けるかは実施例に限定されない。
合に、先端周縁部Waがリブ21間の溝lにより案内さ
れるので、段違いに挿入されてしまうこともない。な
お、上記実施例では、2本の奥壁柱31、32の同じ高
さに、一つずつリブ33を形成しているが、枠状体15
に3つの奥壁柱を設ける場合は、それぞれにリブを設
け、3つのリブとして形成しても良く、あるいは中央の
奥壁柱には形成しなくても良い。このように、枠状体1
5にリブをいくつ設けるかは実施例に限定されない。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る半導
体ウェハ用カセットでは、ウェハの下面が両側壁に設け
たウェハ分離用リブと、奥壁柱に設けたウェハ分離用の
リブのみで保持されているので、接触面積を小さくする
ことができる。
体ウェハ用カセットでは、ウェハの下面が両側壁に設け
たウェハ分離用リブと、奥壁柱に設けたウェハ分離用の
リブのみで保持されているので、接触面積を小さくする
ことができる。
【0028】また、このウェハ分離用のリブの他に脱落
防止用のリブが形成されているので、ウェハ先端部がウ
ェハ分離用の2つのリブから脱落してしまった場合であ
っても、下方のウェハに衝突する以前に脱落防止用のリ
ブと当接し、それ以上下方に落下するのを防止するの
で、他のウェハが破損されたりすることはない。
防止用のリブが形成されているので、ウェハ先端部がウ
ェハ分離用の2つのリブから脱落してしまった場合であ
っても、下方のウェハに衝突する以前に脱落防止用のリ
ブと当接し、それ以上下方に落下するのを防止するの
で、他のウェハが破損されたりすることはない。
【0029】また、カセット本体の両側壁に形成された
ウェハ分離用のリブには、半導体ウェハの周縁部が当接
しストッパ片となる略円弧状の段部が形成されているの
で、このウェハが搬送の途中でカセット本体から飛び出
してしまうことを防止できる。
ウェハ分離用のリブには、半導体ウェハの周縁部が当接
しストッパ片となる略円弧状の段部が形成されているの
で、このウェハが搬送の途中でカセット本体から飛び出
してしまうことを防止できる。
【0030】また、カセット本体の両側壁に形成された
ウェハ分離用のリブは、半導体ウェハの下面が点接触し
て保持されるように、その上面が膨出して形成されてい
るのでウェハとリブとの接触面積を小さくすることがで
きるとともに、例え、未処理ウェハを搬送するような場
合であっても、角ばった未処理ウェハの周端縁によって
削られてしまうことがなく、これにより、パーティクル
の発生を防止できる。また、半導体ウェハが、搬送途中
にこすれて傷がつくことを防止できる。
ウェハ分離用のリブは、半導体ウェハの下面が点接触し
て保持されるように、その上面が膨出して形成されてい
るのでウェハとリブとの接触面積を小さくすることがで
きるとともに、例え、未処理ウェハを搬送するような場
合であっても、角ばった未処理ウェハの周端縁によって
削られてしまうことがなく、これにより、パーティクル
の発生を防止できる。また、半導体ウェハが、搬送途中
にこすれて傷がつくことを防止できる。
【図1】図1は本発明の一実施例に係る半導体ウェハ用
カセットを天板を外した状態で示す斜視図である。
カセットを天板を外した状態で示す斜視図である。
【図2】図2は同実施例に係る半導体ウェハ用カセット
の側壁部を拡大して示す破断斜視図である。
の側壁部を拡大して示す破断斜視図である。
【図3】図3は図2に示した側壁部の水平断面図であ
る。
る。
【図4】図4は図2に示した側壁部の縦断面図である。
【図5】図5は図1に示した半導体ウェハ用カセットの
他の部分の縦断面図である。
他の部分の縦断面図である。
【図6】図6は図2に示した側壁部の正面図である。
【図7】図7(a)は図1に示した半導体ウェハ用カセ
ットの奥壁柱の正面図,図7(b)は同奥壁柱の側面図
である。
ットの奥壁柱の正面図,図7(b)は同奥壁柱の側面図
である。
【図8】図8は同実施例のウェハ用カセットにウェハを
実際に挿入する際の斜視図である。
実際に挿入する際の斜視図である。
【図9】図9は同実施例によるウェハ用カセットにウェ
ハが挿入された状態から先端部が脱落したときの状態を
示す側面図である。
ハが挿入された状態から先端部が脱落したときの状態を
示す側面図である。
【図10】図10は従来のウェハ用カセットの斜視図で
ある。
ある。
【図11】図11は従来のウェハ用カセットにウェハを
挿入する自動出し入れ装置の概略図である。
挿入する自動出し入れ装置の概略図である。
13,14 側壁 15 枠状体 16 カセット本体 17 開口部 20 溝 21,26 ウェハ分離用リブ 22 段部 31,32 奥壁柱 33 脱落防止用リブ
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体ウェハを水平方向に挿入するため
の開口部を前面部に形成したカセット本体の両側壁の内
面に、縦方向に所定幅の溝が形成されるように複数のウ
ェハ分離用のリブを具備し、前記開口部から前記溝内に
水平状態に収容された半導体ウェハを搬送する半導体ウ
ェハ用カセットであって、 前記複数のウェハ分離用のリブを、前記カセット本体の
両側壁の各内面に、それぞれ縦方向に一列に形成すると
ともに、前記開口部と対向する前記半導体ウェハの先端
周縁部が当接して該半導体ウェハのそれ以上の進入を規
制する位置に設けられた奥壁柱に、複数のウェハ分離用
のリブを所定距離離して縦方向に形成し、さらに前記両
側壁のウェハ分離用のリブと前記奥壁柱のウェハ分離用
のリブとの間に、これらのリブより所定高さ低くなるよ
うに脱落防止用のリブを形成し、前記両側壁に形成した
ウェハ分離用のリブと前記奥壁柱に形成したウェハ分離
用のリブとで一枚の前記半導体ウェハの下面を保持する
とともに、この半導体ウェハの一部が前記開口部から外
方に一部はみ出したときに、この半導体ウェハが前記脱
落防止用のリブと前記両側壁に形成した前記ウェハ分離
用のリブとにより保持されるようにしたことを特徴とす
る半導体ウェハ用カセット。 - 【請求項2】 前記カセット本体の両側壁に形成された
ウェハ分離用のリブには、半導体ウェハの周縁部が当接
しストッパ片となる略円弧状の段部が形成されているこ
とを特徴とする請求項1に記載の半導体ウェハ用カセッ
ト。 - 【請求項3】 前記カセット本体の両側壁および奥壁柱
に形成されたウェハ分離用のリブは、半導体ウェハの下
面が点接触して保持されるように、その上面が膨出して
形成されていることを特徴とする請求項1および請求項
2に記載の半導体ウェハ用カセット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25340696A JPH1098096A (ja) | 1996-09-25 | 1996-09-25 | 半導体ウェハ用カセット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25340696A JPH1098096A (ja) | 1996-09-25 | 1996-09-25 | 半導体ウェハ用カセット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1098096A true JPH1098096A (ja) | 1998-04-14 |
Family
ID=17250947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25340696A Withdrawn JPH1098096A (ja) | 1996-09-25 | 1996-09-25 | 半導体ウェハ用カセット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1098096A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG81942A1 (en) * | 1997-10-20 | 2001-07-24 | Fluoroware Inc | Wafer carrier with minimal contact |
-
1996
- 1996-09-25 JP JP25340696A patent/JPH1098096A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG81942A1 (en) * | 1997-10-20 | 2001-07-24 | Fluoroware Inc | Wafer carrier with minimal contact |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20031202 |