JPH1098647A - 緻密な画素ピッチを有するx−yアドレス指定可能な能動画素センサおよびその製法 - Google Patents

緻密な画素ピッチを有するx−yアドレス指定可能な能動画素センサおよびその製法

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JPH1098647A
JPH1098647A JP9127603A JP12760397A JPH1098647A JP H1098647 A JPH1098647 A JP H1098647A JP 9127603 A JP9127603 A JP 9127603A JP 12760397 A JP12760397 A JP 12760397A JP H1098647 A JPH1098647 A JP H1098647A
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JP9127603A
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Paul P Lee
ピー リー ポール
Robert M Guidash
エム グイダッシュ ロバート
Timothy J Kenney
ジェイ ケニイ ティモシー
Teh-Hsuang Lee
リー テエ−シュアン
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Eastman Kodak Co
Original Assignee
Eastman Kodak Co
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/40Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
    • H04N25/44Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by partially reading an SSIS array
    • H04N25/443Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by partially reading an SSIS array by reading pixels from selected two-dimensional [2D] regions of the array, e.g. for windowing or digital zooming
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    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 緻密な画素ピッチおよびサブウィンドウ作成
能力を有するX−Yアドレス指定可能な画素センサの提
供。 【解決手段】 能動画素センサ20は、X−Yアドレス
指定可能であり、逐次シフトレジスタ23、28を使用
しサブウィンドウ画像13を選択し、その結果、先行技
術のデコーディング技術に比較して小さい半導体面積で
良い。また、能動画素センサ20は、XおよびYの両方
向の信号ラインを有するアドレス指定可能なイメージ素
子12と、X−Yイメージ素子12に使用する必要のあ
る信号ラインを選択するためにXおよびY方向のそれぞ
れに少なくともひとつの逐次シフトレジスタ23、28
が存在するようにX−Yイメージ素子12に作用するよ
うに接続される少なくとも一対の逐次シフトレジスタ2
3、28と、シフトレジスタにビットパターンを入力す
るためのローディング手段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、広くは能動画素セ
ンサ及びその製法に関し、特に、センサアレイの画素は
いずれもすべて選択されることが可能でありまたひとつ
ずつまたはグループとして読み出されることが可能であ
るX−Yアドレス指定可能な能動画素センサ及びその製
法に関する。
【0002】
【従来の技術】能動画素センサ(active pix
el sensor)(APS)のようなX−Yアドレ
ス指定可能なイメージ素子においては、読み出す必要の
ある画素を選択する従来の方法は、2進法コード化アド
レスを特定のX−Y信号ラインに変換する全アドレスデ
コーディング回路を使用することによる。アドレスを所
定の様式で変更することによって、いかなる任意の方形
ウィンドウ、または単一の画素も、出力のために選択す
ることができる。この方法は、XおよびYの各信号ライ
ンに対してデコーダを必要とするので、イメージ素子の
画素ピッチに適合する回路を備える必要がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】X−Yアドレスを生成
する比較的簡単な方法は、アドレスデコーダの代わりに
逐次シフトレジスタを使用することである。逐次シフト
レジスタ設計は、実現が比較的簡単であり、画素間の間
隔を比較的小さくできるが、サブウィンドウを作る機能
を実行できない。
【0004】前述の説明より、X−Yアドレス指定可能
な画素センサに関する技術においては、画素間の間隔を
比較的小さくできると同時に、サブウィンドウ作成能力
を持った技術が必要とされている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、サブウィンド
ウの読み出しが実行できるようにシフトレジスタをプレ
ロードするための追加回路を使用することによって、先
行技術の前述の欠陥を解消するものである。その結果、
本発明によって、センサアレイの画素はいずれもすべて
選択されることが可能であり、またひとつずつまたはグ
ループとして読み出されることが可能であるアドレス指
定可能な特徴を能動画素センサ(APS)に与えること
ができる。この特徴によって、画素読み出しのアレイが
全イメージ素子の一部としてプログラムされることが可
能である場合は、サブウィンドウフォーマットによる画
像センサの読み出しが可能となる。サブウィンドウフォ
ーマットによって、読み出しのフレーム速度と画像出力
当たりの画素の数(解像度)を互いにトレードオフさせ
ることが可能であり、また電子ズームおよびパン操作が
可能になる。
【0006】
【発明の実施の形態】図1に、従来のX−Yアドレス指
定可能なイメージ素子を示す。これは、以下10と呼
び、イメージ素子12内に含有サブウィンドウ画像13
を有するX−Yアドレス指定可能なイメージ素子12、
行デコーダ15、列デコーダ17、および列信号処理部
19を備える。
【0007】図2に、本発明を具現するCMOS能動画
素センサ20を示す。センサ20は、サブウィンドウ画
像13を有するX−Yアドレス指定可能なイメージ素子
12を備える。XおよびY信号制御に追加される追加回
路は、シフトレジスタ23、28である。シフトレジス
タ23、28を使用し、行アドレス24および列アドレ
ス26が、それぞれイメージ素子にインタフェースされ
る。シフトレジスタ23、28によって、起動X−Yロ
ケーションを選択するために2値信号“1”がロードさ
れる各シフトレジスタの所定の起動ロケーションを定め
ることができる。続いて次に、シフトレジスタは、所定
数のロケーションを順次走査し、列信号処理部29によ
って読み出される必要があるサブウィンドウのサイズを
選択する。追加回路によって、2値信号“1”のシフテ
ィングが制御されるので、次の出力フレームの間、Xお
よびY方向の走査が繰り返される。XおよびY方向のそ
れぞれに対して、走査制御回路はひとつだけしか必要と
されないので、画素ピッチは、シフトレジスタを使用し
て実現される比較的小さいサイズに維持することができ
る。
【0008】代案の実施形態を図3に示し、以下30と
して示す。図3に示す代案の実施形態においては、走査
制御回路の代わりに切換可能回路34、36を使用し、
列信号処理回路29によって、所定のサブウィンドウ1
3のみを呼び出すことができる。切換可能回路は、行逐
次シフトレジスタ33および列逐次シフトレジスタ38
の関心のある行および列に所定の順序の2値信号群
“1”をロードすることによってセットアップされ、イ
メージ素子のこの部分のみが出力される。この方法の欠
点は、シフトレジスタによってすべての画素が走査され
るので、読み出しのフレーム速度に有効な改善が全くな
いことである。
【0009】逐次シフトレジスタを使用しXおよびYの
両方向の信号ラインを選択することによって、1行当た
りおよび1列当たりに必要とされる回路は、比較的大き
い面積を占めるアドレスデコーダと比較して簡単化され
る。これによって、イメージ素子の画素サイズを比較的
小さい寸法に縮小することができる。たとえば、従来の
APS画素設計は、集積回路製造技術の最小許容ライン
長さの20倍である。この20倍という限界は、アドレ
スデコーダのサイズに起因する。逐次シフトレジスタを
集積化することによって、この限界はライン長さのサイ
ズの7倍ないし15倍に減少させることができる。した
がって、イメージ素子の全体のサイズは、比較的費用の
かかる微細配列製造技術を使用することなく、25%な
いし67%削減できる。シフトレジスタ設計を使用し、
比較的小さい画素、したがって比較的小さいチップサイ
ズが実現される場合は、本発明によって、サブウィンド
ウ作成の重要な特徴が維持される。
【0010】以上、本発明の好適な実施形態について説
明した。しかし、通常の当業者は、本発明の範囲から逸
脱することなく異形および変形を実施できることを認識
されたい。
【0011】
【発明の効果】逐次シフトレジスタを使用し、Xおよび
Yの両方向における信号ラインを選択することによっ
て、1行当たりおよび1列当たりに必要とされる回路
は、比較的大きい面積を占める全アドレスデコーダから
シフトレジスタの設計へと簡単化される。これによっ
て、イメージ素子の画素サイズを比較的小さな寸法に縮
小することができる。たとえば、従来のAPS画素設計
は、集積回路製造技術の最小許容ライン長さの20倍で
ある。この20倍という限界は、アドレスデコーダのサ
イズに起因する。逐次シフトレジスタを集積化すること
によって、この限界はライン長さのサイズの7倍ないし
15倍に減少させることができる。したがって、イメー
ジ素子の全体のサイズは、比較的費用のかかる微細配列
製造技術を使用することなく、25%ないし67%削減
できる。シフトレジスタ設計を使用し、比較的小さい画
素、したがって比較的小さいチップサイズが実現される
場合は、本発明によって、サブウィンドウ作成の重要な
特徴が維持される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来のX−Yアドレス指定可能なイメージ素
子を示す図である。
【図2】 シフトレジスタを使用する本発明によるX−
Yアドレス指定可能なイメージ素子を示す図である。
【図3】 シフトレジスタを使用する本発明によるX−
Yアドレス指定可能なイメージ素子の別の実施形態を示
す図である。
【符号の説明】
10,12,20 X−Yアドレス指定可能なイメージ
素子、13 サブウィンドウ画像、15 行デコーダ、
17 列デコーダ、19 列信号処理部、23,28
シフトレジスタ、24 行アドレス、26 列アドレ
ス、29 列信号処理回路、30 代案の実施形態、3
3 行逐次シフトレジスタ、34,36切換可能回路、
38 列逐次シフトレジスタ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ティモシー ジェイ ケニイ アメリカ合衆国 ニューヨーク州 ピッツ フォード サンドパイパー レーン 23 (72)発明者 テエ−シュアン リー アメリカ合衆国 ニューヨーク州 ウェブ スター ハイタワー ウェイ 760

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X−Yアドレス指定可能である能動画素
    センサであって、 XおよびYの両方向の信号ラインを有するX−Yアドレ
    ス指定可能なイメージ素子と、 前記X−Yイメージ素子に供給される信号ラインを選択
    するために、XおよびY方向のそれぞれに少なくともひ
    とつの逐次シフトレジスタが配置されるように、前記X
    −Yイメージ素子に作用するように接続される少なくと
    も一対の逐次シフトレジスタと、 ビットパターンをシフトレジスタに入力するためのロー
    ディング手段と、を備えることを特徴とする能動画素セ
    ンサ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のセンサであって、前記
    ローディング手段が、さらに、XおよびY方向のそれぞ
    れに対して少なくともひとつのアドレス制御回路が配置
    されるように、少なくとも一対のアドレス制御回路を備
    えることを特徴とする能動画素センサ。
  3. 【請求項3】 X−Yアドレス指定可能である能動画素
    センサを製作する方法であって、 XおよびY両方向に信号ラインを有するX−Yアドレス
    指定可能なイメージ素子を生成する第一工程と、 前記X−Yイメージ素子に供給される信号ラインを選択
    するために、XおよびY方向のそれぞれに少なくともひ
    とつの逐次シフトレジスタが配置されるように、前記X
    −Yイメージ素子に作用するように接続される少なくと
    も一対の逐次シフトレジスタを生成する第二工程と、 ビットパターンを前記シフトレジスタに入力するための
    レジスタおよび制御回路を生成する第三工程と、を含む
    ことを特徴とする能動画素センサの製造方法。
JP9127603A 1996-05-22 1997-05-16 緻密な画素ピッチを有するx−yアドレス指定可能な能動画素センサおよびその製法 Pending JPH1098647A (ja)

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US60/018,128 1997-03-21

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000194839A (ja) * 1998-12-22 2000-07-14 Hyundai Electronics Ind Co Ltd イメ―ジセンサで画面をパニング及びスケ―リングするための装置
KR100344505B1 (ko) * 1998-11-30 2002-07-24 가부시끼가이샤 도시바 고체 이미징 장치
JP2006140549A (ja) * 2004-11-10 2006-06-01 Sony Corp 固体撮像装置

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2332585B (en) * 1997-12-18 2000-09-27 Simage Oy Device for imaging radiation
EP0994619A1 (en) * 1998-10-15 2000-04-19 Hewlett-Packard Company Readout method for sub-area of digital camera image sensor
WO2001065829A1 (de) * 2000-03-01 2001-09-07 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V. Verfahren und vorrichtung zum auslesen von bilddaten eines teilbereichs eines bildes
DE10022454B4 (de) * 2000-05-09 2004-12-09 Conti Temic Microelectronic Gmbh Bildaufnehmer und Bildaufnahmeverfahren, insbesondere zur dreidimensionalen Erfassung von Objekten und Szenen
EP1160725A3 (de) * 2000-05-09 2002-04-03 DaimlerChrysler AG Bildaufnehmer und Bildaufnahmeverfahren, insbesondere zur dreidimensionalen Erfassung von Objekten oder Szenen
US6795367B1 (en) * 2000-05-16 2004-09-21 Micron Technology, Inc. Layout technique for address signal lines in decoders including stitched blocks
DE10115342A1 (de) * 2001-03-28 2002-10-02 Philips Corp Intellectual Pty Einrichtung zum Abtasten von Filmen
DE10147807A1 (de) * 2001-09-27 2003-04-24 Conti Temic Microelectronic Verfahren zur dreidimensionalen Erfassung von Objekten oder Szenen
DE10208286A1 (de) * 2002-02-26 2003-09-18 Koenig & Bauer Ag Elektronische Bildauswerteeinrichtung und ein Verfahren zur Auswertung
ITUD20020084A1 (it) * 2002-04-12 2003-10-13 Neuricam Spa Dispositivo elettronico selezionatore per sensori elettro-ottici
US7598993B2 (en) * 2002-06-13 2009-10-06 Toshiba Teli Corporation Imaging apparatus and method capable of reading out a plurality of regions
US8040385B2 (en) * 2002-12-02 2011-10-18 Olympus Corporation Image pickup apparatus
US8462244B2 (en) * 2003-08-27 2013-06-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Adaptively reading one or more but fewer than all pixels of image sensor
EP1705902A4 (en) * 2003-12-26 2008-12-17 Olympus Corp ILLUSTRATION DEVICE
JP2006074168A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd カメラシステムおよびイメージセンサ
WO2006049605A1 (en) * 2004-10-29 2006-05-11 Altasens, Inc. Image sensor and method with multiple scanning modes
US7488926B2 (en) * 2006-01-06 2009-02-10 Microsoft Corporation Pixel array with shared pixel output lines
US7667746B2 (en) * 2006-07-11 2010-02-23 Aptina Imaging Corporation Method and apparatus for programmably setting a sampling delay in an image sensor device
GB2454744A (en) * 2007-11-19 2009-05-20 Selex Sensors & Airborne Sys Imaging device and method
JP5446738B2 (ja) * 2009-11-02 2014-03-19 ソニー株式会社 固体撮像素子およびカメラシステム
US8773543B2 (en) 2012-01-27 2014-07-08 Nokia Corporation Method and apparatus for image data transfer in digital photographing

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4117510A (en) * 1974-09-25 1978-09-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solid state color imaging apparatus
DE3200838C2 (de) * 1982-01-14 1984-09-06 Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn Vorrichtung zum Auslesen von Detektorzeilen in ein- oder zweidimensionaler Anordnung
US4658287A (en) * 1984-02-29 1987-04-14 Fairchild Camera And Instrument Corp. MOS imaging device with monochrome-color compatibility and signal readout versatility
JPH0642726B2 (ja) * 1985-10-18 1994-06-01 キヤノン株式会社 固体撮像装置
EP0251790A3 (en) * 1986-07-04 1989-11-23 Hitachi, Ltd. A solid state imaging device
JPS63153971A (ja) * 1986-07-04 1988-06-27 Hitachi Ltd 固体撮像装置
JP3046100B2 (ja) * 1991-07-22 2000-05-29 株式会社フォトロン 画像記録装置
JP3350073B2 (ja) * 1991-12-12 2002-11-25 株式会社フォトロン 高速度撮影装置
JP3013584B2 (ja) * 1992-02-14 2000-02-28 ソニー株式会社 固体撮像装置
JP3563743B2 (ja) * 1992-05-01 2004-09-08 オリンパス株式会社 撮像装置
US5841126A (en) * 1994-01-28 1998-11-24 California Institute Of Technology CMOS active pixel sensor type imaging system on a chip

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100344505B1 (ko) * 1998-11-30 2002-07-24 가부시끼가이샤 도시바 고체 이미징 장치
JP2000194839A (ja) * 1998-12-22 2000-07-14 Hyundai Electronics Ind Co Ltd イメ―ジセンサで画面をパニング及びスケ―リングするための装置
JP2006140549A (ja) * 2004-11-10 2006-06-01 Sony Corp 固体撮像装置

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Publication number Publication date
US20030193593A1 (en) 2003-10-16
EP0809395A2 (en) 1997-11-26
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