JPH11109219A - 焦点検出装置および光学機器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 温度センサーによる再結像レンズブロックの
温度を正確に測定でき、かつ焦点検出ユニット内に温度
センサーを効率よく配置できる焦点検出装置を提供す
る。 【解決手段】 対物レンズによって得られる一次物体像
を分離する少なくとも一対のレンズが集合するレンズ部
が一体的に形成された再結像レンズブロック１１と、前
記再結像レンズブロック１１の取付け面が形成された壁
部を有する基体１６と、前記基体に取付けられ前記再結
像レンズブロックによる二次物体像が投影される光電変
換素子１３とを有する焦点検出装置において、前記基体
の壁部をはさんで前記再結像レンズブロック１１に対向
して前記基体１６に温度検出手段を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カメラなどの光学
機器に設けられる焦点検出装置の改良に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】今日の数多くの一眼レフカメラには、ラ
インセンサーを用いた位相差検知方式による自動焦点装
置が搭載されており、近年では、位相差検知方式を拡大
して２次元的にもうけられた焦点検出範囲の自由な位置
で焦点検出が可能な、いわゆるエリア型オートフォーカ
ス（以降エリアＡＦと称する）の提案も数多くなされい
る。

【０００３】図１０はエリアＡＦを実現するための焦点
検出光学系を示すカメラのミラーボックスの中央断面図
である。１０１はレンズマウントであり、この左方に不
図示の対物レンズが取りつけられる。１０３はメインミ
ラー受板１１４に固定され、対物レンズの光軸１０２上
に配置される半透過性の領域を有するメインミラー、１
０４は同様にサブミラー受板１１５に固定され、対物レ
ンズの光軸１０２上に斜めに配置されたサブミラー、１
０６はサブミラー１０４による撮像面１０５に共役な近
軸的結像面である。

【０００４】以降は焦点検出装置の基体であるＡＦ本体
ブロック１１６に取付けられる部品で、１０７はサブミ
ラー１０４からの光束を折返す平面鏡である第一ＡＦミ
ラー、１０８は前記第一ＡＦミラーの不要な光線の反射
を防ぐためのマスク部材、１０９は焦点検出の精度を低
下させる要因となる赤外線を除去する赤外線カットフィ
ルタ、１１０は少なくとも一対の絞り開口を有する金属
製あるいは樹脂製の遮光性薄板よりなる絞り板、１１１
は前記絞り開口に対応して少なくとも一対のレンズ部を
有する再結像レンズブロック、１１２は再結像レンズブ
ロック１１１からの光束を直角に折返す第二ＡＦミラ
ー、１１３は再結像レンズブロックによる少なくとも一
対の二次物体像が投影される受光部を有する光電変換素
子であるＡＦセンサー、１１７はＡＦセンサー１１３お
よびその周辺回路（不図示）を搭載し、メイン基板（不
図示）に接続されるＡＦフレキシブル基板である。な
お、以上のＡＦ本体ブロック１６を主に構成されるユニ
ットを以降単に焦点検出ユニットと称する。

【０００５】上記構成により位相差検知方式を用いてエ
リアＡＦを実現させた場合、ＡＦセンサーは対となって
投影される二次物体像が２次元的に大きく拡がりを持つ
ために大型化する恐れがある。そこで上記のようなＺ型
の光学系を採用することによって結像面１０６からＡＦ
センサー１１３までの光路長と、上記再結像レンズブロ
ック１１１とエリアセンサー１１３の距離の比を極力大
きく設定し、エリアセンサー１４への再結像倍率を小さ
くしてカメラに収納可能な小型のＡＦセンサーを用いる
ことを可能としている。従って上記のエリアＡＦを可能
とする焦点検出装置の測距精度を従来と同じとするなら
ば、ＡＦセンサーにはより微少な画素が必要となり、Ａ
Ｆセンサー１３上の二次物体像位置の変化はたとえ微少
でも焦点検出に大きな影響を及ぼす。

【０００６】二次物体像位置が変化する要因として避け
ることができないものに再結像レンズブロックの温度膨
張によるレンズ間隔の変化がある。従来より温度センサ
ーＩＣ等の温度検出手段を用いてカメラ内の、特に焦点
検出ユニットまわりの温度の検知を行い、ＡＦセンサー
によって検出された二次物体像の相対関係に対して温度
補正を行うことが提案され実施されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来、温
度検出手段である温度センサーは、焦点検出以外の用途
にも用いられていることから焦点検出ユニットとは別の
場所に設けられている場合があった。そのため、測定し
た温度と、焦点検出装置内の再結像レンズの温度が異な
り正確な温度補正ができなかった。また、温度センサー
をＡＦセンサーに内蔵する方法も提案されているが、そ
うするとＡＦセンサー自体の発熱により再結像レンズの
正確な温度測定ができない恐れがある。

【０００８】上記の点を鑑みて特公平８−３３５１１号
公報では再結像レンズの近傍の温度を測定するとの記載
がなされているが、焦点検出装置の内部にある再結像レ
ンズに対して具体的にどのように温度センサーを配置す
るのが有効であるのかを示唆するものではない。

【０００９】本出願に係る発明の目的は、温度センサー
による再結像レンズブロックの温度を正確に測定でき、
かつ焦点検出ユニット内に温度センサーを効率よく配置
できる焦点検出装置およびカメラを提供しようとするも
のである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本出願に係る発明の目的
を実現する焦点検出装置の構成は、対物レンズによって
得られる一次物体像を分離する少なくとも一対のレンズ
が集合するレンズ部が一体的に形成された再結像レンズ
ブロックと、前記再結像レンズブロックの取付け面が形
成された壁部を有する基体と、前記基体に取付けられ前
記再結像レンズブロックによる二次物体像が投影される
光電変換素子とを有する焦点検出装置において、前記基
体の壁部をはさんで前記再結像レンズブロックに対向し
て前記基体に温度検出手段を設けたものである。

【００１１】また、前記再結像レンズブロックには、前
記レンズ部より外側へ延び、前記基体へ取付けるための
フランジ部が一体形成されており、前記温度検出手段
は、前記フランジ部と、前記レンズ部より前記光電変換
素子へ至るまでの有効光束の領域と、前記光電変換素子
に囲まれた位置に配置されている。

【００１２】本出願に係る発明の目的を実現する光学機
器の構成は、上記した構成の焦点検出装置を有するもの
である。

【００１３】

【発明の実施の形態】

（第１の実施の形態）図１は本発明を適用したカメラの
ミラーボックスの中央断面図で、エリアＡＦを実現させ
るための焦点検出光学系を示し、図２は図１の焦点検出
光学系のうち基体であるＡＦ本体ブロック１６を主とし
て再結像レンズブロック及びＡＦセンサー等から構成さ
れる焦点検出ユニットの構成を示す斜視図である。

【００１４】図において、１はレンズマウントであり、
この左方に不図示の対物レンズが取りつけられる。３は
メインミラー受板１４に固定され、対物レンズの光軸２
上に配置される半透過性の領域を有するメインミラー、
４は同様にサブミラー受板１５に固定され、対物レンズ
の光軸２上に斜めに配置されたサブミラー、６はサブミ
ラー４による撮像面５に共役な近軸的結像面である。

【００１５】以降は焦点検出装置の基体であるＡＦ本体
ブロック１６に取付けられる部品で、７はサブミラー４
からの光束を折返す平面鏡である第１ＡＦミラー、８は
前記第１ＡＦミラー７の不要な光線の反射を防ぐための
マスク部材、９は焦点検出の精度を低下させる要因とな
る赤外線を除去する赤外線カットフィルタ、１０は直交
する２対の絞り開口１０ｅ、１０ｇ、１０ｆ、１０ｈを
有する金属製あるいは樹脂製の遮光性薄板よりなる絞り
板である。

【００１６】１１は前記絞り開口１０ｅ〜１０ｈに対応
して２対のレンズ部１１ｅ、１１ｇ、１１ｆ、１１ｈを
有する再結像レンズブロック、１２は再結像レンズブロ
ック１１からの光束を直角に折返す第２ＡＦミラー、１
３は再結像レンズブロック１１による直交する２対の二
次物体像が投影される受光部１３ｅ、１３ｇ、１３ｆ、
１３ｈを有する光電変換素子であるＡＦセンサー、１７
はＡＦセンサー１３およびその周辺回路（不図示）を搭
載するＡＦフレキシブル基板、さらに２１は再結像レン
ズブロック１１の温度をモニターする温度センサーであ
る。

【００１７】上記した実施の形態において、図４に示す
ように、サブミラー４は回転楕円面である略小判状の反
射部４ａとサブミラー受板１５に固定するためのフラン
ジ部４ｂで構成される。サブミラー４の反射部４ａ以外
には反射防止の塗装が施されたサブミラーマスク２３が
掛けられており、これによってサブミラー４は焦点検出
領域を制限する視野マスクの役割を兼ねることになる。

【００１８】再結像レンズブロック１１の光入射側には
サブミラーによって偏向した対物レンズの光軸上に中心
を持つ単一の凹状球面１１ａが、射出側には互いに反対
方向に偏芯した２対の凸レンズ１１ｅ〜１１ｈが集合す
るレンズ部が一体形成されている。ここで、凹状球面１
１ａの中心はサブミラーによって形成される対物レンズ
の近軸的結像面６に、また、前記２対のレンズ部１１ｅ
〜１１ｈの中心は前記絞り板１０の絞り開口の近傍にほ
ぼ等しく設定してある。またレンズ部１１ｅ〜１１ｈの
両側にはフランジ部１１ｂ、１１ｃが一体成型されてお
り、それぞれに取付穴１１ｉ、１１ｊが形成されてい
る。

【００１９】絞り１０にも再結像レンズブロック１１の
取付け穴１１ｉ、１１ｊと同様の取付け穴１０ｉ、１０
ｊが設けられており、再結像レンズブロック１１ととも
にＡＦ本体ブロック１６の再結像レンズブロック取付け
面１６ｃ上に突出する軸１６ｉ、１６ｊに嵌合し、赤外
線カットフィルタ９を含めてＡＦ本体ブロック１６に接
着固定される。

【００２０】ＡＦ本体ブロック１６の２つの穴部１６ａ
には上下方向に摺動可能なアジャスター１９が取りつけ
られており、それぞれのアジャスター１９に一体形成さ
れたヒンジ部１９ａには金属板からなるＡＦセンサー保
持部材１８の円弧状の摺動部１８ａが当接する。そし
て、ＡＦセンサー保持部材１８の下面にはＡＦセンサー
１３の受光面側に張りつけられたカバーガラス１３ａの
表面が当接する。

【００２１】前記アジャスター１９およびＡＦセンサー
保持部材１８は、光軸を含んだ直交する３軸についてＡ
Ｆセンサー１３の傾き調整を行う機構であり、焦点検出
装置を構成する各部品の精度や組み立ての誤差などによ
り生ずる光軸のずれに対して、ＡＦセンサー１３の受光
面を適切に配置するためのものである。ＡＦセンサー１
３の固定は、それぞれ左右２箇所のアジャスター１９の
ヒンジ部１９ａのまわりの、ＡＦ本体ブロック１６、Ａ
Ｆセンサー保持部材１８そしてＡＦセンサー１３を含め
た範囲に接着剤を塗布して行う。この時接着剤には主に
ＵＶ接着剤（紫外線硬化型接着剤）を用いる。

【００２２】温度センサー２１はＣ−ＭＯＳ温度センサ
ーＩＣ等を用いており、不図示の部分でＡＦフレキ１７
と接続される温度センサーフレキシブル基板２２上には
んだ付けされた状態で、ＡＦ本体ブロック１６の壁部１
６ｂに両面テープ等を用いて貼り付けられる。図３は図
１においてＡＦ本体ブロックを断面Ａ−Ａの方向から見
た図であり、図１および図３からわかるように、ＡＦ本
体ブロック１６の温度センサー２１が取付けられる位置
は、再結像レンズブロック１１のフランジ部１１ｂに対
してＡＦ本体ブロック１６の壁部１６ｂを挟んでほぼ対
向する位置となる。

【００２３】さらに、壁部１６ｂの温度センサー２１が
取付けられる側の空間は、再結像レンズブロック１１の
フランジ部１１ｂと再結像レンズブロック１１のレンズ
部から第二ＡＦミラー１２を経てＡＦセンサーに至るま
での有効光束が通る領域とＡＦセンサー１３に囲まれ
た、ＡＦ本体ブロック１６上ではいわばデッドスペース
となる部分である。

【００２４】次に本実施の形態の焦点検出装置の光学的
な説明を加える。

【００２５】前記サブミラー４の反射部４ａの楕円を定
義する二つの焦点は、対物レンズの光軸２上の光線がメ
インミラー３で屈折した後の光路を逆に対物レンズ側に
延長した線上と、その光線がサブミラーによって反射し
た後の光路を延長した線上にそれぞれ位置する。ここで
は一方の焦点を対物レンズの代表射出瞳位置の光学的な
等価点に、他方の焦点を絞り１０の光学的な等価点に設
定し、フィールドレンズとしての機能を持たせている。
対物レンズの代表射出瞳位置とは、カメラに装着される
種々の撮影レンズの射出窓の条件を勘案し総合的に決定
される焦点検出系固有の仮定瞳位置である。

【００２６】絞り１０の各開口部と再結像レンズブロッ
ク１１の各レンズ部とは同一の添え字で示したもの同士
が対応し、各絞り開口１０ｅ〜１０ｈを通過した光束は
第２ＡＦミラー１２を介してＡＦセンサー１３上の同一
の添え字で示した受光部１３ｅ〜１３ｈにそれぞれ二次
物体像を形成する。対となる添え字ｅ，ｇで示した要素
を通過する光束を用いる検出系は、対物レンズの射出瞳
を縦方向に分離し、もう一方の対となる添え字ｆ、ｈで
示した要素を通過する光束を用いる検出系は、対物レン
ズの射出瞳を横方向に分離する。ここで瞳を縦方向に分
離する検出系を第１の焦点検出系、瞳を横方向に分離す
る検出系を第２の焦点検出系と呼ぶことにする。

【００２７】図５はＡＦセンサー１３上の各受光部１３
ｅ〜１３ｈを拡大して示したものである。各受光部は前
述した瞳の分離方向に各画素３２、３４が並んだセンサ
ー列３１、３３が二次元的に配列されることによって構
成されていることがわかる。また各センサー列は長手方
向に適度に分割されており、同一のセンサー列上におい
て、例えば第一の焦点検出系では縦方向に複数の焦点検
出点を有することになる。

【００２８】即ち本実施の形態での焦点検出装置による
エリアＡＦは、従来よりある一対のラインセンサーを用
いる位相差検知方式を二次元的に拡大することによって
実現したものであり、任意に検出対象とした一対のセン
サー列上の像の相対的位置関係を検出することによって
対物レンズの焦点位置を検出する。

【００２９】なお、異なる添え字の要素を通過した光束
はＡＦセンサー１３上の所定の位置に到達しないため焦
点検出には寄与しない。また絞り開口１０ｅ、１０ｇの
間隔と、絞り開口１０ｆ、１０ｈの間隔とは異なってお
り、間隔の広い添え字ｆ、ｈによる焦点検出系は２次物
体像の移動が他方よりも敏感になり高精度な焦点検出を
可能としている。また間隔の狭い第１の焦点検出系では
前述したサブミラーの反射部４ａの大きさで決定される
領域にて焦点検出可能であるが、間隔の広い第２の焦点
検出系では第１ＡＦミラー７上のマスク部材８の開口部
８ａそして前述の代表瞳の大きさ等に光線が通ることの
できる領域が制限されるために、焦点検出範囲が異なっ
たものになる。

【００３０】ところで本実施の形態での焦点検出装置が
回転楕円面であるサブミラー４を含むＺ型の光学系を採
用している理由は、結像面６からＡＦセンサー１３まで
の光路長と、上記再結像レンズブロック１１とＡＦセン
サー１３の距離の比を大きく設定してＡＦセンサー１３
への再結像倍率を極力小さくし、カメラに収納可能な小
型のＡＦセンサーを用いることを可能とするためであ
る。従って本実施の形態での焦点検出装置では従来より
微少な画素を持つＡＦセンサーを使用しており、ＡＦセ
ンサー１３上の二次物体像位置の変化はたとえ微少でも
焦点検出に大きな影響を及ぼす。

【００３１】二次物体像位置が変化する要因として避け
ることができないものに再結像レンズブロックの温度膨
張によるレンズ間隔の変化があり、再結像レンズブロッ
ク１１の温度を正確にモニターしてＡＦセンサー１３に
よって検出された二次物体像の相対関係に対してレンズ
間隔変化分の補正いわゆる温度補正を加えなければなら
ない。温度補正の方法については特公平８−３３５１１
号公報をはじめとして公知の技術であるのでここでは詳
しく述べないが、本実施の形態において前述の位置に温
度センサー２１を配置した理由は以下の通りである。

【００３２】本実施の形態におけるエリアＡＦ用ＡＦセ
ンサー１３は数多くのセンサー列を保有している事から
その回路規模は従来の数対のラインセンサーを用いるも
のよりかなり大きく、さらに動作速度も速くなければな
らない。よって再結像レンズ１１に温度の影響を与える
要因はカメラの使用環境によるものよりも、ＡＦセンサ
ー１３の発熱によるところが大きい。

【００３３】図６は、ＡＦセンサー１３が動作しはじめ
てからの再結像レンズブロック１１の温度変化を示した
実験結果によるグラフであり、横軸が時間、縦軸が温度
である。

【００３４】また図７は、ＡＦセンサーが動作しはじめ
てからの温度補正を行わない状態での焦点検出エラーの
変化を示した実験結果によるグラフであり、横軸が時
間、縦軸が焦点検出エラー量（ピントずれ量）である。

【００３５】図６と図７より明らかなように、再結像レ
ンズブロック１１の温度変化と焦点検出エラーは時間に
対して同様に推移することから、再結像レンズブロック
１１の温度を知ることができれば焦点検出エラーを補正
することが可能であることがわかる。

【００３６】周囲の環境温度にもよるが再結像レンズブ
ロック１１の温度Ｔｅが安定する時間ｔｅはＡＦセンサ
ー１３が起動してから２０分程度かかることがわかって
いる。従ってカメラの実使用においては再結像レンズブ
ロック１１の温度は温度Ｔｅに至るまでの過度状態の中
にあり、再結像レンズブロック１１の温度をリアルタイ
ムにかつ正確にモニターすることが必須となる。

【００３７】図８はＡＦ本体ブロックまわりの熱伝導の
状態を現したモデル図であり、横軸はおよその距離、縦
軸は温度を示している。モデルで示したブロック５１は
ＡＦセンサー１３に、５２はＡＦセンサー保持部材１８
に、５３はＡＦ本体ブロック１６に、５４は再結像レン
ズブロック１１に、５５は再結像レンズブロックまわり
の空気に相当する。なお、空気の熱伝導率は他の固体に
比べて非常に低いので、ＡＦセンサー１３から再結像レ
ンズブロック１１への空気による熱伝導ついては無視し
ている。４本の太線による温度勾配のグラフはそれぞれ
前述の図６の時間ｔ０、ｔ１、ｔ２、ｔｅに対応してい
る。Ｔ０はＡＦセンサーが動作していない状態での環境
温度である。

【００３８】ＡＦセンサー１３自身の温度は起動直後か
ら急激に上昇しＴ０からＴａ、Ｔｂへと至って安定する
が、ＡＦセンサー１３（ブロック５１）内のＳ１の位置
で発生する熱は各部材の熱伝導率に従って徐々に再結像
レンズブロック１１（ブロック５４）へと伝達する。よ
って再結像レンズブロック１１の時間軸に対する温度上
昇は前述する図６の通りとなり、最終的に時間Ｔｅにお
いてＡＦセンサーの温度Ｔｂと環境温度Ｔ０との間で温
度Ｔｅにて平衡状態となる。

【００３９】以上のような過度状態にある再結像レンズ
ブロック１１の温度変化を各部材の熱伝導率をも考慮し
て再結像レンズブロック１１から離れた位置から正確に
検知するのは非常に困難である。

【００４０】そこで本実施の形態では、ＡＦ本体ブロッ
ク１６の再結像レンズブロック１１の取付け面１６ｃの
裏側の壁面１６ｂに温度センサー２１を貼り付けること
で、図９に示すように図８におけるブロック５４を再結
像レンズブロック１１から温度センサー２１へと置換え
る形とし、再結像レンズブロック１１と全く等価な状態
で温度を検知することを可能としている。

【００４１】なお、温度センサー２１とＡＦ本体ブロッ
ク１６の間には温度センサーフレキシブル基板２２、場
合によっては取付け用の両面テープが介在することにな
るが、それぞれの厚みが極端に厚くなければさほど影響
は無いことがわかっている。また、温度センサー２１の
固定方法については、温度センサー側を直接ＡＦ本体ブ
ロック１６に接着する方法でもかまわない。

【００４２】また、本発明は上記した実施の形態におけ
るエリアＡＦに限らず従来よりある数点の焦点検出点
（測距点）をもつ焦点検出装置に用いても良い。

【００４３】

【発明の効果】請求項１、３に係る発明によれば、再結
像レンズブロックの温度を検知する温度検出手段を、再
結像レンズブロックの取付け面が形成されたブロックの
壁部に、前記壁部をはさんで再結像レンズブロックと対
向するように取付けることによって、温度検出手段が再
結像レンズブロックとほぼ等価の条件で温度の影響を受
けるようになるので、ＡＦセンサーとしての光電変換素
子の発熱等により過度的に変化する再結像レンズブロッ
クの温度をリアルタイムでより正確に検知することがで
きる。よって微細な画素を持ったＡＦセンサーを備える
エリアＡＦを搭載したカメラなどの光学機器を、いかな
る環境でも焦点検出精度を損うことないものとして提供
することが可能となった。

【００４４】請求項２、３に係る発明によれば、壁部の
温度検出手段が取付けられる側は、再結像レンズブロッ
クに一体成型されたフランジ部と、レンズ部より前記光
電変換素子へ至るまでの有効光束の領域と、前記光電変
換素子に囲まれたＡＦ本体ブロック上においていわばデ
ッドスペースとなっている部分であり、焦点検出ユニッ
トを大型化することなく温度センサーを配置することが
可能であり、その結果、カメラなどの光学機器の大型化
をも防ぐことが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態を示すカメラの中央
断面図

【図２】図１の焦点検出ユニットの構成を示す斜視図

【図３】図２の焦点検出ユニットの断面図

【図４】図２の焦点検出ユニットのサブミラー受板の構
成を示す平面図

【図５】図２のＡＦセンサーの受光部の拡大図

【図６】時間軸に対する再結像レンズブロックの温度変
化示すグラフ

【図７】時間軸に対する焦点検出エラーの変化を示すグ
ラフ

【図８】焦点検出ユニット内の熱伝導の様子を示すモデ
ル図

【図９】第１の実施の形態の温度センサーの配置を図８
に対応させたモデル図

【図１０】従来の焦点検出光学系の一例を示すカメラの
中央断面図

【符号の説明】

３ メインミラー ４ サブミラー ４ａ 反射部 ６ 近軸的結像面 １０ 絞り板 １１ 再結像レンズブロック １３ ＡＦセンサー １４ メインミラー受板 １５ サブミラー受板 １６ ＡＦ本体ブロック １６ｂ 壁部 １６ｃ 再結像レンズブロック取付け面 １７ ＡＦフレキシブル基板 １８ ＡＦセンサー保持部材 ２１ 温度センサー ２２ 温度センサーフレキシブル基板

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 対物レンズによって得られる一次物体像
   を分離する少なくとも一対のレンズが集合するレンズ部
   が一体的に形成された再結像レンズブロックと、前記再
   結像レンズブロックの取付け面が形成された壁部を有す
   る基体と、前記基体に取付けられ前記再結像レンズブロ
   ックによる二次物体像が投影される光電変換素子とを有
   する焦点検出装置において、 前記基体の壁部をはさんで前記再結像レンズブロックに
   対向して前記基体に温度検出手段を設けたことを特徴と
   する焦点検出装置。
2. 【請求項２】 前記再結像レンズブロックには、前記レ
   ンズ部より外側へ延び、前記基体へ取付けるためのフラ
   ンジ部が一体形成されており、前記温度検出手段は、前
   記フランジ部と、前記レンズ部より前記光電変換素子へ
   至るまでの有効光束の領域と、前記光電変換素子に囲ま
   れた位置に配置されていることを特徴とする請求項１記
   載の焦点検出装置。
3. 【請求項３】 請求項１または２記載の焦点検出装置を
   有することを特徴とする光学機器。