JPH11110532A - 画像表示方法及び装置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - Google Patents
画像表示方法及び装置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡Info
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- JPH11110532A JPH11110532A JP9281401A JP28140197A JPH11110532A JP H11110532 A JPH11110532 A JP H11110532A JP 9281401 A JP9281401 A JP 9281401A JP 28140197 A JP28140197 A JP 28140197A JP H11110532 A JPH11110532 A JP H11110532A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数種の特性の2次元分布の関係を容易に把
握する。 【解決手段】 計測部2は、試料1の同一領域から得ら
れた複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データを得る。画像表示装置3の処理部21
は、この複数の2次元分布データに基づいて、表示画像
データを生成する。表示画像データは、各々の画像が色
を決定する3成分のうちの互いに異なる1成分による画
像である複数の画像を互いに位置を対応させながら重ね
合わせた合成画像であって、当該合成画像中の各表示単
位領域の色が、当該表示単位領域の位置に応じた同一位
置に対応する前記複数種の特性の各値に応じて定められ
た合成画像を示す。表示制御部23は、表示画像データ
が示す合成画像をディスプレイ24に表示させる。
握する。 【解決手段】 計測部2は、試料1の同一領域から得ら
れた複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データを得る。画像表示装置3の処理部21
は、この複数の2次元分布データに基づいて、表示画像
データを生成する。表示画像データは、各々の画像が色
を決定する3成分のうちの互いに異なる1成分による画
像である複数の画像を互いに位置を対応させながら重ね
合わせた合成画像であって、当該合成画像中の各表示単
位領域の色が、当該表示単位領域の位置に応じた同一位
置に対応する前記複数種の特性の各値に応じて定められ
た合成画像を示す。表示制御部23は、表示画像データ
が示す合成画像をディスプレイ24に表示させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、走査型プローブ顕
微鏡などにおいて用いられる画像表示方法及び装置、並
びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡に関するもので
ある。
微鏡などにおいて用いられる画像表示方法及び装置、並
びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】走査型プローブ顕微鏡(Scanning Probe
Microscope; SPM)は、試料表面の形状だけでなく、試
料表面の同一領域の摩擦力、磁気力、静電気力、静電気
容量、吸着力などの様々な特性値を計測することがで
き、空間分解能も高いため、試料表面の微小領域の研究
に対して非常に注目を集めている。
Microscope; SPM)は、試料表面の形状だけでなく、試
料表面の同一領域の摩擦力、磁気力、静電気力、静電気
容量、吸着力などの様々な特性値を計測することがで
き、空間分解能も高いため、試料表面の微小領域の研究
に対して非常に注目を集めている。
【0003】走査型プローブ顕微鏡のうちでも、走査型
力顕微鏡(Scanning Force Microscope)は、現在派生
している様々な走査型プローブ顕微鏡の基礎をなす最も
基本的な走査型プローブ顕微鏡である。
力顕微鏡(Scanning Force Microscope)は、現在派生
している様々な走査型プローブ顕微鏡の基礎をなす最も
基本的な走査型プローブ顕微鏡である。
【0004】走査型力顕微鏡では、鋭利な探針の先端
と、試料と探針(プローブ)を数オングストロームから
数百ナノメートル程度に近づけると、試料と探針先端と
の間隔に対して非常に敏感な原子間力(van der Waals
力)等の相互作用力が働くことを利用した顕微鏡であ
る。特に原子間力を利用したものを原子間力顕微鏡とい
う。
と、試料と探針(プローブ)を数オングストロームから
数百ナノメートル程度に近づけると、試料と探針先端と
の間隔に対して非常に敏感な原子間力(van der Waals
力)等の相互作用力が働くことを利用した顕微鏡であ
る。特に原子間力を利用したものを原子間力顕微鏡とい
う。
【0005】例えば、走査型力顕微鏡により表面形状を
観察する場合は、次のように行う。まず、試料と探針を
ある一定の距離まで近づけて、試料と探針との間に原子
間力が働く状態にする。次に、原子間力が一定になるよ
うに試料と探針との間の距離にフィードバックを掛けな
がら、試料面上に走査していくと、原子間力が一定、す
なわち、探針と試料は等間隔を保ったまま移動するの
で、探針の位置は試料の形状をそのまま追跡しているこ
とになり、試料の表面形状を計測することができる。
観察する場合は、次のように行う。まず、試料と探針を
ある一定の距離まで近づけて、試料と探針との間に原子
間力が働く状態にする。次に、原子間力が一定になるよ
うに試料と探針との間の距離にフィードバックを掛けな
がら、試料面上に走査していくと、原子間力が一定、す
なわち、探針と試料は等間隔を保ったまま移動するの
で、探針の位置は試料の形状をそのまま追跡しているこ
とになり、試料の表面形状を計測することができる。
【0006】ここで、探針の先端を原子レベルで非常に
先鋭にしておくと、探針の先端の原子が原子間力を受け
て試料表面の原子と相互作用することから、探針の先端
の大きさ程度の原子レベルの横分解能で表面の形状を得
ることができる。
先鋭にしておくと、探針の先端の原子が原子間力を受け
て試料表面の原子と相互作用することから、探針の先端
の大きさ程度の原子レベルの横分解能で表面の形状を得
ることができる。
【0007】走査型力顕微鏡における探針先端と試料と
の間に働く力の測定は、例えば、カンチレバーの撓みを
検出することによって行われる。カンチレバーとして
は、非常に柔らかい板バネの先に、先端の鋭利な探針が
付設されたものが用いられる。そして、探針と試料表面
との間で働く力によって生じるカンチレバーの撓みを検
出して、この撓みから、探針先端と試料との間に働く力
を測定している。
の間に働く力の測定は、例えば、カンチレバーの撓みを
検出することによって行われる。カンチレバーとして
は、非常に柔らかい板バネの先に、先端の鋭利な探針が
付設されたものが用いられる。そして、探針と試料表面
との間で働く力によって生じるカンチレバーの撓みを検
出して、この撓みから、探針先端と試料との間に働く力
を測定している。
【0008】この走査型力顕微鏡をベースにして、探針
に電荷を付与したり、磁気を付与したりすることによ
り、原子間力だけでなく、静電気力や磁気力を測定する
静電気力顕微鏡や、磁気力顕微鏡のような様々な走査型
プローブ顕微鏡を実現することができる。
に電荷を付与したり、磁気を付与したりすることによ
り、原子間力だけでなく、静電気力や磁気力を測定する
静電気力顕微鏡や、磁気力顕微鏡のような様々な走査型
プローブ顕微鏡を実現することができる。
【0009】さらに近年、この原子間力などの試料表面
と探針との間に働く相互作用力を利用して、試料表面を
詳細に調べることにより、試料表面の物性がさらに詳細
に理解されつつある。
と探針との間に働く相互作用力を利用して、試料表面を
詳細に調べることにより、試料表面の物性がさらに詳細
に理解されつつある。
【0010】試料表面と探針との間の相互作用力を調べ
る方法には、単純には、フォースカーブを取るという方
法がある。フォースカーブは、試料表面に探針を接近さ
せたり、離したりしたときに得られるカンチレバーの撓
みを利用した力計測信号を記録したものである。このフ
ォースカーブを解析すれば、試料表面と探針との間隔に
対して、どの程度の相互作用力が作用しているかを調べ
ることができる。
る方法には、単純には、フォースカーブを取るという方
法がある。フォースカーブは、試料表面に探針を接近さ
せたり、離したりしたときに得られるカンチレバーの撓
みを利用した力計測信号を記録したものである。このフ
ォースカーブを解析すれば、試料表面と探針との間隔に
対して、どの程度の相互作用力が作用しているかを調べ
ることができる。
【0011】このような構成の場合は、探針を試料面上
に近づけていくと、初めのうちは、試料と探針との間で
は引力が働き、カンチレバーは、試料面側に撓んで、そ
の先端が傾く。探針をさらに近づけていくと斥力が働
き、前記引力が働く場合と逆向きに傾く。カンチレバー
の先端の傾き(すなわち、カンチレバーのレバー部の撓
み)は、探針が受けた力に対応している。したがって、
光てこ法等により検出したカンチレバーの撓みから、探
針と試料表面との間に働く相互作用力の大きさおよび向
きを知ることができる。
に近づけていくと、初めのうちは、試料と探針との間で
は引力が働き、カンチレバーは、試料面側に撓んで、そ
の先端が傾く。探針をさらに近づけていくと斥力が働
き、前記引力が働く場合と逆向きに傾く。カンチレバー
の先端の傾き(すなわち、カンチレバーのレバー部の撓
み)は、探針が受けた力に対応している。したがって、
光てこ法等により検出したカンチレバーの撓みから、探
針と試料表面との間に働く相互作用力の大きさおよび向
きを知ることができる。
【0012】図8(a)は、探針と試料表面との間の距
離と、探針に働く原子間力の大きさ及びカンチレバーの
レバー部のバネの力の大きさとの関係を示す図である。
図8(b)に典型的なフォースカーブを模式的に示す図
である。すなわち、図8(b)は、試料表面に対するカ
ンチレバーの支持体の高さ方向の相対位置(図8(b)
の例では、レバー部が撓んでいないと仮定した場合の、
探針と試料表面との間の距離として示している。)と、
カンチレバーのレバー部の撓み量との関係を示す図であ
る。図8(a)中のA〜Gと図8(b)中のA〜Gと
は、それぞれ同じ位置を表す。また、図8(b)の経路
A→B→C→Dは、探針を試料表面に接近させたときに
得られるフォースカーブであり、経路D→E→F→G
は、探針を試料表面から遠ざけたときに得られるフォー
スカーブである。
離と、探針に働く原子間力の大きさ及びカンチレバーの
レバー部のバネの力の大きさとの関係を示す図である。
図8(b)に典型的なフォースカーブを模式的に示す図
である。すなわち、図8(b)は、試料表面に対するカ
ンチレバーの支持体の高さ方向の相対位置(図8(b)
の例では、レバー部が撓んでいないと仮定した場合の、
探針と試料表面との間の距離として示している。)と、
カンチレバーのレバー部の撓み量との関係を示す図であ
る。図8(a)中のA〜Gと図8(b)中のA〜Gと
は、それぞれ同じ位置を表す。また、図8(b)の経路
A→B→C→Dは、探針を試料表面に接近させたときに
得られるフォースカーブであり、経路D→E→F→G
は、探針を試料表面から遠ざけたときに得られるフォー
スカーブである。
【0013】図8(a)の縦軸は、力の大きさで、正の
方向は斥力、負の方向は引力を表している。図8(a)
の横軸は、探針と試料表面との間の距離である。試料表
面と探針との間に働く力は、探針が試料表面に対して遠
く離れたところから近づくにつれて原子間力による引力
が働き、あるところから斥力が働く。また、カンチレバ
ーのバネの力は、探針が引力を受けると、カンチレバー
が試料表面側に撓むので、試料表面と探針との間の距離
は短くなり、斥力を受けると逆に試料表面と探針との間
の距離は長くなる。また、試料表面と探針とが相互作用
をしているときは、試料表面と探針との間に働く力とカ
ンチレバーのレバー部が受ける力とは釣り合っているの
で、図8(a)中の試料表面と探針との間で働く力とバ
ネの力との交点、すなわちA、B、C、・・・の位置に
探針は安定して存在することができる。一方、図8
(b)の縦軸は試料表面と探針との間で働く力として検
出したカンチレバーのレバー部の撓み量であり、図8
(b)の横軸は試料表面に対するカンチレバーの支持体
の高さ方向の相対位置である。この相対位置は、レバー
部が撓んでいないと仮定したときの探針と試料表面との
間の距離として示してあり、図8(a)のバネの力がゼ
ロの位置に対応する。以下、この相対位置をカンチレバ
ーの位置という。したがって、カンチレバーを試料表面
に近づけるというのは、図8(a)のバネの力に対応す
る直線を左から右に近づけていくことに対応し、交点の
位置での力の大きさが、カンチレバーのレバー部の撓み
となって図8(b)のように検出される。
方向は斥力、負の方向は引力を表している。図8(a)
の横軸は、探針と試料表面との間の距離である。試料表
面と探針との間に働く力は、探針が試料表面に対して遠
く離れたところから近づくにつれて原子間力による引力
が働き、あるところから斥力が働く。また、カンチレバ
ーのバネの力は、探針が引力を受けると、カンチレバー
が試料表面側に撓むので、試料表面と探針との間の距離
は短くなり、斥力を受けると逆に試料表面と探針との間
の距離は長くなる。また、試料表面と探針とが相互作用
をしているときは、試料表面と探針との間に働く力とカ
ンチレバーのレバー部が受ける力とは釣り合っているの
で、図8(a)中の試料表面と探針との間で働く力とバ
ネの力との交点、すなわちA、B、C、・・・の位置に
探針は安定して存在することができる。一方、図8
(b)の縦軸は試料表面と探針との間で働く力として検
出したカンチレバーのレバー部の撓み量であり、図8
(b)の横軸は試料表面に対するカンチレバーの支持体
の高さ方向の相対位置である。この相対位置は、レバー
部が撓んでいないと仮定したときの探針と試料表面との
間の距離として示してあり、図8(a)のバネの力がゼ
ロの位置に対応する。以下、この相対位置をカンチレバ
ーの位置という。したがって、カンチレバーを試料表面
に近づけるというのは、図8(a)のバネの力に対応す
る直線を左から右に近づけていくことに対応し、交点の
位置での力の大きさが、カンチレバーのレバー部の撓み
となって図8(b)のように検出される。
【0014】このようなフォースカーブを利用すると、
試料表面の物性を詳細に理解することができる。具体的
には、フォースカーブを解析することにより、試料の弾
性や試料と探針の吸着力などが計測できる。すなわち、
図8(b)中のC−D間あるいはD−E間の直線の傾き
は、試料に探針を押し込んだときの斥力を示しており、
これは、試料の弾性を表している。また、Eの地点で
は、表面の吸着力とカンチレバーの撓み力とが釣り合っ
ているところであるので、E−F間の距離は、試料と探
針との最大吸着力を示している。このように、フォース
カーブを解析すれば、様々な表面の物性を計測すること
ができる。
試料表面の物性を詳細に理解することができる。具体的
には、フォースカーブを解析することにより、試料の弾
性や試料と探針の吸着力などが計測できる。すなわち、
図8(b)中のC−D間あるいはD−E間の直線の傾き
は、試料に探針を押し込んだときの斥力を示しており、
これは、試料の弾性を表している。また、Eの地点で
は、表面の吸着力とカンチレバーの撓み力とが釣り合っ
ているところであるので、E−F間の距離は、試料と探
針との最大吸着力を示している。このように、フォース
カーブを解析すれば、様々な表面の物性を計測すること
ができる。
【0015】さらに、特開平9−72925号には、試
料表面上を2次元状に走査しながら、各測定点でフォー
スカーブを計測し、フォースカーブから様々な物理量を
抽出し、抽出した物理量毎にマッピングを行うことによ
り、試料の局所的な特性値の分布を画像化することが開
示されている。すなわち、試料表面上を2次元状に走査
しながら、各測定点でフォースカーブを計測し、この各
測定点でのフォースカーブから各測定点での様々な物理
量(特性)の値を抽出することによって、試料の同一領
域から得られた複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示
す複数の2次元分布データを得、各2次元分布データに
よる画像を表示することにより、試料の局所的な領域の
特性値の分布を画像化することができる。
料表面上を2次元状に走査しながら、各測定点でフォー
スカーブを計測し、フォースカーブから様々な物理量を
抽出し、抽出した物理量毎にマッピングを行うことによ
り、試料の局所的な特性値の分布を画像化することが開
示されている。すなわち、試料表面上を2次元状に走査
しながら、各測定点でフォースカーブを計測し、この各
測定点でのフォースカーブから各測定点での様々な物理
量(特性)の値を抽出することによって、試料の同一領
域から得られた複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示
す複数の2次元分布データを得、各2次元分布データに
よる画像を表示することにより、試料の局所的な領域の
特性値の分布を画像化することができる。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、走査
型プローブ顕微鏡は、非常に高い空間分解能を持ち、試
料表面の微小領域の様々な物理的な特性(試料表面形状
も含む)を調べることができることから、注目を集めて
いる。
型プローブ顕微鏡は、非常に高い空間分解能を持ち、試
料表面の微小領域の様々な物理的な特性(試料表面形状
も含む)を調べることができることから、注目を集めて
いる。
【0017】しかしながら、従来の走査型プローブ顕微
鏡では、以下のような問題が生じていた。
鏡では、以下のような問題が生じていた。
【0018】前述したように、走査型プローブ顕微鏡で
は、試料表面の様々な種類の特性の値を計測し、マッピ
ングすることで、試料表面の様々な種類の特性の分布が
明らかとなる。
は、試料表面の様々な種類の特性の値を計測し、マッピ
ングすることで、試料表面の様々な種類の特性の分布が
明らかとなる。
【0019】従来の走査型プローブ顕微鏡では、これら
の特性の値は、計測される特性の種類毎にグレースケー
ルあるいは疑似カラースケールで別々の画像として表示
し、これらの複数の画像を1画面上に並べて表示する。
の特性の値は、計測される特性の種類毎にグレースケー
ルあるいは疑似カラースケールで別々の画像として表示
し、これらの複数の画像を1画面上に並べて表示する。
【0020】これらの画像は、試料の同一領域から得ら
れた画像であり、これらの複数の画像の位置関係を見比
べることにより、所定領域の性質を一応知ることができ
る。
れた画像であり、これらの複数の画像の位置関係を見比
べることにより、所定領域の性質を一応知ることができ
る。
【0021】しかしながら、従来の走査型プローブ顕微
鏡のように、特性の種類毎にグレースケールで表示され
た複数の画像を並べただけでは、それぞれの画像が重要
な意味を持ってはいるが、画像が幾種類も得られる場合
には、試料の対応点がわかりにくく、各種類の特性の2
次元分布の関係を把握することが困難であるという問題
点があった。例えば、ある種類の特性の値が大きいと同
時に他の種類の特性の値が小さい試料表面上の箇所が物
理的に重要な意味を持っていた場合、当該箇所がいずれ
の箇所であるかを一目で把握することは極めて困難であ
った。
鏡のように、特性の種類毎にグレースケールで表示され
た複数の画像を並べただけでは、それぞれの画像が重要
な意味を持ってはいるが、画像が幾種類も得られる場合
には、試料の対応点がわかりにくく、各種類の特性の2
次元分布の関係を把握することが困難であるという問題
点があった。例えば、ある種類の特性の値が大きいと同
時に他の種類の特性の値が小さい試料表面上の箇所が物
理的に重要な意味を持っていた場合、当該箇所がいずれ
の箇所であるかを一目で把握することは極めて困難であ
った。
【0022】また、これらの様々な種類の特性の値は、
計測技術の進歩と共に精度良く計測できるようになって
きてはいるが、走査型プローブ顕微鏡を用いて計測を行
う場合は、相互作用する探針先端の作用面積が非常に狭
いため、計測値がノイズを含みやすく、画像化してもノ
イズに埋もれてしまうことも多いと言う問題点もあっ
た。この点について、図9を参照して具体的に説明す
る。
計測技術の進歩と共に精度良く計測できるようになって
きてはいるが、走査型プローブ顕微鏡を用いて計測を行
う場合は、相互作用する探針先端の作用面積が非常に狭
いため、計測値がノイズを含みやすく、画像化してもノ
イズに埋もれてしまうことも多いと言う問題点もあっ
た。この点について、図9を参照して具体的に説明す
る。
【0023】例えば、A領域とB領域とを有する試料に
対して特性pと特性qの2つ種類の特性を計測すること
ができる走査型プローブ顕微鏡で観察を行うと、A領域
及びB領域のそれぞれで、図9に示すような特性p,q
の計測値が得られる。
対して特性pと特性qの2つ種類の特性を計測すること
ができる走査型プローブ顕微鏡で観察を行うと、A領域
及びB領域のそれぞれで、図9に示すような特性p,q
の計測値が得られる。
【0024】図9において、横軸は特性pの値を示し、
縦軸は特性qの値を示す。図9中の黒丸はA領域での計
測値であり、白丸はB領域での計測値である。A領域と
B領域とを特性pの計測値あるいは特性qの計測値で識
別しようとすると、A領域では、特性pの計測値は小さ
く、特性の計測値qは大きく計測される傾向にある。一
方、B領域は、特性pの計測値は大きく、特性qの計測
値は小さく計測される傾向にある。
縦軸は特性qの値を示す。図9中の黒丸はA領域での計
測値であり、白丸はB領域での計測値である。A領域と
B領域とを特性pの計測値あるいは特性qの計測値で識
別しようとすると、A領域では、特性pの計測値は小さ
く、特性の計測値qは大きく計測される傾向にある。一
方、B領域は、特性pの計測値は大きく、特性qの計測
値は小さく計測される傾向にある。
【0025】しかしながら、このような状況で、試料表
面にA領域とB領域が混在している場合に、特性pの計
測値をマッピングした特性pの2次元分布を示す画像
と、特性qの計測値をマッピングした特性qの2次元分
布を示す画像とを並べて表示するだけでは、A領域とB
領域を明瞭に識別することは非常に困難である。
面にA領域とB領域が混在している場合に、特性pの計
測値をマッピングした特性pの2次元分布を示す画像
と、特性qの計測値をマッピングした特性qの2次元分
布を示す画像とを並べて表示するだけでは、A領域とB
領域を明瞭に識別することは非常に困難である。
【0026】これは、A領域とB領域とで、計測される
特性pの値あるいは特性qの値に差が現れる傾向がある
としても、A領域及びB領域で計測される特性p,qの
値の差に比べて、計測される特性p,qの値のばらつき
の方が大きいので、特性pの値の画像と特性qの値の画
像をそれぞれ別々に表示したとしても、これらの画像は
非常にノイズの多い画像となるため、A領域とB領域の
差を識別することは困難になるためである。
特性pの値あるいは特性qの値に差が現れる傾向がある
としても、A領域及びB領域で計測される特性p,qの
値の差に比べて、計測される特性p,qの値のばらつき
の方が大きいので、特性pの値の画像と特性qの値の画
像をそれぞれ別々に表示したとしても、これらの画像は
非常にノイズの多い画像となるため、A領域とB領域の
差を識別することは困難になるためである。
【0027】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、複数種の特性の2次元分布の関係を容易に把
握することができるとともに、各特性の計測値のばらつ
きが大きい場合であってもそのばらつきの影響が低減し
た試料の性質の把握が可能である画像表示方法及び装
置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡を提供す
ることを目的とする。
たもので、複数種の特性の2次元分布の関係を容易に把
握することができるとともに、各特性の計測値のばらつ
きが大きい場合であってもそのばらつきの影響が低減し
た試料の性質の把握が可能である画像表示方法及び装
置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡を提供す
ることを目的とする。
【0028】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明の第1の態様による画像表示方法は、試料の
同一領域から得られた複数種の特性の2次元分布をそれ
ぞれ示す複数の2次元分布データに基づいて、前記複数
種の特性の2次元分布の関係を示す画像を表示する画像
表示方法であって、前記画像中の各表示単位領域の色
を、当該表示単位領域の位置と対応する前記試料の位置
における前記複数種の特性に応じて、定めたものであ
る。
め、本発明の第1の態様による画像表示方法は、試料の
同一領域から得られた複数種の特性の2次元分布をそれ
ぞれ示す複数の2次元分布データに基づいて、前記複数
種の特性の2次元分布の関係を示す画像を表示する画像
表示方法であって、前記画像中の各表示単位領域の色
を、当該表示単位領域の位置と対応する前記試料の位置
における前記複数種の特性に応じて、定めたものであ
る。
【0029】この第1の態様による画像表示方法によれ
ば、表示される画像中の各表示単位領域の色が、当該表
示単位領域の位置と対応する試料の位置における複数種
の特性に応じて定められている。したがって、表示され
る画像中の各表示単位領域の色が、当該表示単位領域の
位置と対応する試料の位置における複数種の特性の組み
合わせによって異なることとなり、複数種の特性の2次
元分布の関係が位置合わせされた上で色によって表示さ
れることとなる。すなわち、例えば、複数種の特性が試
料表面の高さ(説明の便宜上、その値をaとする。)及
び吸着力(説明の便宜上、その値をbとする。)である
場合、値aが大きく値bが大きい位置に応じた位置の表
示単位領域の色と、値aが大きく値bが小さい位置に応
じた位置の表示単位領域の色と、値aが小さく値bが大
きい位置に応じた位置の表示単位領域の色と、値aが小
さく値bが小さい位置に応じた位置の表示単位領域の色
とは、互いに異なることとなる。このため、各種類の特
性の2次元分布の関係が一目瞭然であり、各種類の特性
の2次元分布の関係を極めて容易に把握することがで
き、試料の所定領域の性質を容易に知ることができる。
また、このように各種類の特性の2次元分布の関係が一
目瞭然であるため、複数種の特性の値から試料の性質を
総合的に解析できることとなる。したがって、各特性の
計測値のばらつきが大きい場合であっても、そのばらつ
きの影響をさほど受けずに試料の性質を把握することが
できる。
ば、表示される画像中の各表示単位領域の色が、当該表
示単位領域の位置と対応する試料の位置における複数種
の特性に応じて定められている。したがって、表示され
る画像中の各表示単位領域の色が、当該表示単位領域の
位置と対応する試料の位置における複数種の特性の組み
合わせによって異なることとなり、複数種の特性の2次
元分布の関係が位置合わせされた上で色によって表示さ
れることとなる。すなわち、例えば、複数種の特性が試
料表面の高さ(説明の便宜上、その値をaとする。)及
び吸着力(説明の便宜上、その値をbとする。)である
場合、値aが大きく値bが大きい位置に応じた位置の表
示単位領域の色と、値aが大きく値bが小さい位置に応
じた位置の表示単位領域の色と、値aが小さく値bが大
きい位置に応じた位置の表示単位領域の色と、値aが小
さく値bが小さい位置に応じた位置の表示単位領域の色
とは、互いに異なることとなる。このため、各種類の特
性の2次元分布の関係が一目瞭然であり、各種類の特性
の2次元分布の関係を極めて容易に把握することがで
き、試料の所定領域の性質を容易に知ることができる。
また、このように各種類の特性の2次元分布の関係が一
目瞭然であるため、複数種の特性の値から試料の性質を
総合的に解析できることとなる。したがって、各特性の
計測値のばらつきが大きい場合であっても、そのばらつ
きの影響をさほど受けずに試料の性質を把握することが
できる。
【0030】本発明の第2の態様による画像表示装置
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、前記複数の2次元分布
データに基づいて、各々の画像が色を決定する3成分の
うちの互いに異なる1成分による画像である複数の画像
を互いに位置を対応させながら重ね合わせた合成画像で
あって、当該合成画像中の各表示単位領域の色が、当該
表示単位領域の位置に応じた同一位置に対応する前記複
数種の特性の各値に応じて定められた合成画像を示す表
示画像データを生成する画像データ生成手段と、前記画
像データ生成手段により生成された前記表示画像データ
に基づいて、当該表示画像データが示す前記合成画像を
表示する画像表示出力手段と、を備えたものである。前
記画像表示出力手段は、例えば、CRTや液晶表示装置
や投射装置のような発光表示装置であってもよいし、プ
リンタのように紙などに画像を表示する装置であっても
よい。
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、前記複数の2次元分布
データに基づいて、各々の画像が色を決定する3成分の
うちの互いに異なる1成分による画像である複数の画像
を互いに位置を対応させながら重ね合わせた合成画像で
あって、当該合成画像中の各表示単位領域の色が、当該
表示単位領域の位置に応じた同一位置に対応する前記複
数種の特性の各値に応じて定められた合成画像を示す表
示画像データを生成する画像データ生成手段と、前記画
像データ生成手段により生成された前記表示画像データ
に基づいて、当該表示画像データが示す前記合成画像を
表示する画像表示出力手段と、を備えたものである。前
記画像表示出力手段は、例えば、CRTや液晶表示装置
や投射装置のような発光表示装置であってもよいし、プ
リンタのように紙などに画像を表示する装置であっても
よい。
【0031】この第2の態様による画像表示装置は、前
記第1の態様による画像表示方法を実現する画像表示装
置の一例である。
記第1の態様による画像表示方法を実現する画像表示装
置の一例である。
【0032】この第2の態様では、前記3成分は、後述
する第5の態様のようにRGBモデルによる赤、緑及び
青であってもよいし、後述する第6の態様のようにCM
Yモデルによるシアン、マゼンタ及びイエローであって
もよいし、後述する第7の態様のようにHSBモデルに
よる色相、彩度及び明度であってもよいし、他のモデル
によるものであってもよい。
する第5の態様のようにRGBモデルによる赤、緑及び
青であってもよいし、後述する第6の態様のようにCM
Yモデルによるシアン、マゼンタ及びイエローであって
もよいし、後述する第7の態様のようにHSBモデルに
よる色相、彩度及び明度であってもよいし、他のモデル
によるものであってもよい。
【0033】この第2の態様では、重ね合わせるべき複
数の画像(表示画像ではなく、仮想的なものである)
は、後述する第3の態様からわかるように、全てがそれ
ぞれ特性の2次元分布を示す2次元分布データが示す画
像であってもよい。この場合、各特性を3成分のうちの
互いに異なる1成分に割り当てることになるので、表示
画像中に2次元分布の関係を示す特性の種類の数は最大
で3つ(勿論、2つでもよい。)となる。また、前記第
2の態様では、重ね合わせるべき複数の画像は、後述す
る第4の態様からわかるように、全てがそれぞれ、複数
種の特性の2次元分布を示す2次元分布データに基づい
て所定の変換により得た所定パラメータの2次元分布デ
ータが示す画像であってもよい。この場合、表示画像中
に2次元分布の関係を示す特性の種類の数は、何ら制限
されず、4つ以上も可能である。さらに、前記第2の態
様では、重ね合わせるべき複数の画像は、後述する第3
及び第4の態様からわかるように、一部が、特性の2次
元分布を示す2次元分布データが示す画像であるととも
に、残りが、複数種の特性の2次元分布を示す2次元分
布データに基づいて所定の変換により得た所定パラメー
タの2次元分布データが示す画像であってもよい。この
場合にも、表示画像中に2次元分布の関係を示す特性の
種類の数は、何ら制限されず、4つ以上も可能である。
数の画像(表示画像ではなく、仮想的なものである)
は、後述する第3の態様からわかるように、全てがそれ
ぞれ特性の2次元分布を示す2次元分布データが示す画
像であってもよい。この場合、各特性を3成分のうちの
互いに異なる1成分に割り当てることになるので、表示
画像中に2次元分布の関係を示す特性の種類の数は最大
で3つ(勿論、2つでもよい。)となる。また、前記第
2の態様では、重ね合わせるべき複数の画像は、後述す
る第4の態様からわかるように、全てがそれぞれ、複数
種の特性の2次元分布を示す2次元分布データに基づい
て所定の変換により得た所定パラメータの2次元分布デ
ータが示す画像であってもよい。この場合、表示画像中
に2次元分布の関係を示す特性の種類の数は、何ら制限
されず、4つ以上も可能である。さらに、前記第2の態
様では、重ね合わせるべき複数の画像は、後述する第3
及び第4の態様からわかるように、一部が、特性の2次
元分布を示す2次元分布データが示す画像であるととも
に、残りが、複数種の特性の2次元分布を示す2次元分
布データに基づいて所定の変換により得た所定パラメー
タの2次元分布データが示す画像であってもよい。この
場合にも、表示画像中に2次元分布の関係を示す特性の
種類の数は、何ら制限されず、4つ以上も可能である。
【0034】ここでは、説明の便宜上、重ね合わせるべ
き複数の画像の全てがそれぞれ特性の2次元分布を示す
2次元分布データが示す画像であるものとして、前記第
2の態様について説明する。この場合、複数種の特性を
それぞれ各色成分に対応させ、各特性の値の大きさによ
って、それぞれの色成分の成分量を変化させ、各特性の
種類毎の色成分を合成して各特性の値によって変化する
色で、複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を表
示することになる。したがって、複数種の特性の値が位
置合わせされた上で1枚の画像に重なって表示され、特
性の種類の違い及び複数種の特性の2次元分布の関係は
色の違いによって表示される。
き複数の画像の全てがそれぞれ特性の2次元分布を示す
2次元分布データが示す画像であるものとして、前記第
2の態様について説明する。この場合、複数種の特性を
それぞれ各色成分に対応させ、各特性の値の大きさによ
って、それぞれの色成分の成分量を変化させ、各特性の
種類毎の色成分を合成して各特性の値によって変化する
色で、複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を表
示することになる。したがって、複数種の特性の値が位
置合わせされた上で1枚の画像に重なって表示され、特
性の種類の違い及び複数種の特性の2次元分布の関係は
色の違いによって表示される。
【0035】例えば、試料表面の高さを赤成分に対応さ
せるとともに吸着力を緑成分に対応させて、試料表面の
高さの2次元分布を示す画像と吸着力の2次元分布を示
す画像とを合成し、カラー表示する。
せるとともに吸着力を緑成分に対応させて、試料表面の
高さの2次元分布を示す画像と吸着力の2次元分布を示
す画像とを合成し、カラー表示する。
【0036】このような場合では、表示される画像中の
各表示単位領域の色は、試料表面の高さの高い位置に応
じた位置の表示単位領域ほど赤成分が強く、吸着力が大
きい位置に応じた位置の表示単位領域ほど緑成分が強く
なり、これらの赤成分と緑成分とが合成された色で表示
される。つまり、高さが高く吸着力が大きい領域は、赤
と緑の合成として、黄色で表示される。また、高さが高
く吸着力が小さい領域は赤く表示され、高さが低く吸着
力が大きい領域は緑色で表示される。高さが低く吸着力
が弱い領域は黒く表示される。したがって、例えば、黄
色い領域は高さが高く吸着力が弱い領域であることが、
はっきりと識別できる。
各表示単位領域の色は、試料表面の高さの高い位置に応
じた位置の表示単位領域ほど赤成分が強く、吸着力が大
きい位置に応じた位置の表示単位領域ほど緑成分が強く
なり、これらの赤成分と緑成分とが合成された色で表示
される。つまり、高さが高く吸着力が大きい領域は、赤
と緑の合成として、黄色で表示される。また、高さが高
く吸着力が小さい領域は赤く表示され、高さが低く吸着
力が大きい領域は緑色で表示される。高さが低く吸着力
が弱い領域は黒く表示される。したがって、例えば、黄
色い領域は高さが高く吸着力が弱い領域であることが、
はっきりと識別できる。
【0037】このため、前記第2の態様によれば、各種
類の特性の2次元分布の関係が一目瞭然であり、各種類
の特性の2次元分布の関係を極めて容易に把握すること
ができ、試料の所定領域の性質を容易に知ることができ
る。また、このように各種類の特性の2次元分布の関係
が一目瞭然であるため、複数種の特性の値から試料の性
質を総合的に解析できることとなる。したがって、各特
性の計測値のばらつきが大きい場合であっても、そのば
らつきの影響をさほど受けずに試料の性質を把握するこ
とができる。
類の特性の2次元分布の関係が一目瞭然であり、各種類
の特性の2次元分布の関係を極めて容易に把握すること
ができ、試料の所定領域の性質を容易に知ることができ
る。また、このように各種類の特性の2次元分布の関係
が一目瞭然であるため、複数種の特性の値から試料の性
質を総合的に解析できることとなる。したがって、各特
性の計測値のばらつきが大きい場合であっても、そのば
らつきの影響をさほど受けずに試料の性質を把握するこ
とができる。
【0038】本発明の第3の態様による画像表示装置
は、前記第2の態様による画像表示装置において、前記
複数の画像のうちの少なくとも1つの画像は、前記複数
の2次元分布データのうちの1つの2次元分布データが
示す画像であるものである。
は、前記第2の態様による画像表示装置において、前記
複数の画像のうちの少なくとも1つの画像は、前記複数
の2次元分布データのうちの1つの2次元分布データが
示す画像であるものである。
【0039】本発明の第4の態様による画像表示装置
は、前記第2又は第3のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記画像データ生成手段は、前記複数の
2次元分布データのうちの複数の2次元分布データに基
づいて所定パラメータの2次元分布データを生成する2
次元分布データ生成手段であって、前記所定パラメータ
の2次元分布データは、前記複数の2次元分布データの
うちの前記複数の2次元分布データの同一位置に対応す
る複数種の特性の各値から所定の変換により得た値を当
該位置に対応する前記所定パラメータの値として有す
る、2次元分布データ生成手段を含み、前記複数の画像
のうちの少なくとも1つは、前記2次元分布データ生成
手段により生成された前記所定パラメータの2次元分布
データが示す画像であるものである。
は、前記第2又は第3のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記画像データ生成手段は、前記複数の
2次元分布データのうちの複数の2次元分布データに基
づいて所定パラメータの2次元分布データを生成する2
次元分布データ生成手段であって、前記所定パラメータ
の2次元分布データは、前記複数の2次元分布データの
うちの前記複数の2次元分布データの同一位置に対応す
る複数種の特性の各値から所定の変換により得た値を当
該位置に対応する前記所定パラメータの値として有す
る、2次元分布データ生成手段を含み、前記複数の画像
のうちの少なくとも1つは、前記2次元分布データ生成
手段により生成された前記所定パラメータの2次元分布
データが示す画像であるものである。
【0040】前述した第2の態様に関する説明におい
て、この第4の態様についても既に説明したが、ここで
は、複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データに基づいて生成された所定パラメータの
2次元分布データの意義について説明する。
て、この第4の態様についても既に説明したが、ここで
は、複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データに基づいて生成された所定パラメータの
2次元分布データの意義について説明する。
【0041】この所定パラメータの2次元分布データ
は、複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データの同一位置に対応する複数種の特性の各
値から所定の変換により得た値を当該位置に対応する前
記所定パラメータの値として有するものであるので、当
該複数種の特性の2次元分布の関係を示す2次元分布を
示すこととなる。
は、複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データの同一位置に対応する複数種の特性の各
値から所定の変換により得た値を当該位置に対応する前
記所定パラメータの値として有するものであるので、当
該複数種の特性の2次元分布の関係を示す2次元分布を
示すこととなる。
【0042】したがって、前記第2の態様のような場合
においては、3つの色成分のうちの少なくとも1つに所
定パラメータの2次元分布データを割り当てることによ
って、色成分が3つしかないのに、4つ以上の種類の特
性の2次元分布の関係を表示することが可能となるので
ある。
においては、3つの色成分のうちの少なくとも1つに所
定パラメータの2次元分布データを割り当てることによ
って、色成分が3つしかないのに、4つ以上の種類の特
性の2次元分布の関係を表示することが可能となるので
ある。
【0043】なお、前記所定の変換の方法(内容)は、
試料の性質に応じて、当該所定パラメータの2次元分布
データを生成する元となった複数の2次元分布データに
対応する複数種の特性の2次元分布の、表示しようとす
る関係を考慮して、適宜定めればよい。
試料の性質に応じて、当該所定パラメータの2次元分布
データを生成する元となった複数の2次元分布データに
対応する複数種の特性の2次元分布の、表示しようとす
る関係を考慮して、適宜定めればよい。
【0044】例えば、試料のA領域とB領域のそれぞれ
で前述した図9に示すような特性p,qの計測値が得ら
れる状況で、試料表面にA領域とB領域が混在している
場合には、A領域とB領域とで特性pの値と特性qの値
との間に図9に示すように一定の関係があることを利用
し、この関係(あるいは特徴)を示すのに最適な変換方
法を採用すればよい。具体的には、この場合には、図9
に示すように、座標軸ξ、ηを想定し、特性pの値及び
特性qの値をパラメータηの値(座標軸ηに射影した
値)に変換すればよい。図9からわかるように、このパ
ラメータηの値によってA領域とB領域とを容易に識別
することが可能となり、特性pの値及び特性qの値をパ
ラメータηの値に変換する変換方法は、特性pの2次元
分布と特性qの2次元分布との関係を表示する場合にお
いて最適である。
で前述した図9に示すような特性p,qの計測値が得ら
れる状況で、試料表面にA領域とB領域が混在している
場合には、A領域とB領域とで特性pの値と特性qの値
との間に図9に示すように一定の関係があることを利用
し、この関係(あるいは特徴)を示すのに最適な変換方
法を採用すればよい。具体的には、この場合には、図9
に示すように、座標軸ξ、ηを想定し、特性pの値及び
特性qの値をパラメータηの値(座標軸ηに射影した
値)に変換すればよい。図9からわかるように、このパ
ラメータηの値によってA領域とB領域とを容易に識別
することが可能となり、特性pの値及び特性qの値をパ
ラメータηの値に変換する変換方法は、特性pの2次元
分布と特性qの2次元分布との関係を表示する場合にお
いて最適である。
【0045】本発明の第5の態様による画像表示装置
は、前記第2乃至第4のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記3成分が、赤、緑及び青であるもの
である。
は、前記第2乃至第4のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記3成分が、赤、緑及び青であるもの
である。
【0046】本発明の第6の態様による画像表示装置
は、前記第2乃至第4のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記3成分が、シアン、マゼンタ及びイ
エローであるものである。
は、前記第2乃至第4のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記3成分が、シアン、マゼンタ及びイ
エローであるものである。
【0047】本発明の第7の態様による画像表示装置
は、前記第2乃至第4のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記3成分が、色相、彩度及び明度であ
るものである。
は、前記第2乃至第4のいずれかの態様による画像表示
装置において、前記3成分が、色相、彩度及び明度であ
るものである。
【0048】本発明の第8の態様による画像表示装置
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、前記複数の2次元分布
データに基づいて所定パラメータの2次元分布データを
生成する2次元分布データ生成手段であって、前記所定
パラメータの2次元分布データは、前記複数の2次元分
布データの同一位置に対応する複数種の特性の各値から
所定の変換により得た値を当該位置に対応する前記所定
パラメータの値として有する、2次元分布データ生成手
段を含む画像データ生成手段であって、前記2次元分布
データ生成手段により生成された前記所定パラメータの
2次元分布データに応じた表示画像データを生成する画
像データ生成手段と、前記画像データ生成手段により生
成された前記表示画像データに基づいて、当該表示画像
データが示す画像を表示する画像表示出力手段と、を備
えたものである。
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、前記複数の2次元分布
データに基づいて所定パラメータの2次元分布データを
生成する2次元分布データ生成手段であって、前記所定
パラメータの2次元分布データは、前記複数の2次元分
布データの同一位置に対応する複数種の特性の各値から
所定の変換により得た値を当該位置に対応する前記所定
パラメータの値として有する、2次元分布データ生成手
段を含む画像データ生成手段であって、前記2次元分布
データ生成手段により生成された前記所定パラメータの
2次元分布データに応じた表示画像データを生成する画
像データ生成手段と、前記画像データ生成手段により生
成された前記表示画像データに基づいて、当該表示画像
データが示す画像を表示する画像表示出力手段と、を備
えたものである。
【0049】前述した第4の態様に関して説明したよう
に、複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データに基づいて生成された所定パラメータの
2次元分布データは、当該複数種の特性の2次元分布の
関係を示す2次元分布を示すこととなる。
に、複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2
次元分布データに基づいて生成された所定パラメータの
2次元分布データは、当該複数種の特性の2次元分布の
関係を示す2次元分布を示すこととなる。
【0050】したがって、前記第8の態様のように、生
成された1つの所定パラメータの2次元分布データに応
じた表示画像データを生成し、当該表示画像データが示
す画像を表示すれば、当該所定パラメータの2次元分布
データを生成する元となった複数の2次元分布データに
対応する複数種の特性の2次元分布の関係を表示するこ
とができる。この場合、従来の画像表示と同様に、グレ
ースケールあるいは疑似カラースケールで表示すること
ができる。
成された1つの所定パラメータの2次元分布データに応
じた表示画像データを生成し、当該表示画像データが示
す画像を表示すれば、当該所定パラメータの2次元分布
データを生成する元となった複数の2次元分布データに
対応する複数種の特性の2次元分布の関係を表示するこ
とができる。この場合、従来の画像表示と同様に、グレ
ースケールあるいは疑似カラースケールで表示すること
ができる。
【0051】この第8の態様によっても、各種類の特性
2次元分布のの関係が一目瞭然であり、各種類の特性の
2次元分布の関係を極めて容易に把握することができ、
試料の所定領域の性質を容易に知ることができる。ま
た、このように各種類の特性の2次元分布の関係が一目
瞭然であるため、複数種の特性の値から試料の性質を総
合的に解析できることとなる。したがって、各特性の計
測値のばらつきが大きい場合であっても、そのばらつき
の影響をさほど受けずに試料の性質を把握することがで
きる。
2次元分布のの関係が一目瞭然であり、各種類の特性の
2次元分布の関係を極めて容易に把握することができ、
試料の所定領域の性質を容易に知ることができる。ま
た、このように各種類の特性の2次元分布の関係が一目
瞭然であるため、複数種の特性の値から試料の性質を総
合的に解析できることとなる。したがって、各特性の計
測値のばらつきが大きい場合であっても、そのばらつき
の影響をさほど受けずに試料の性質を把握することがで
きる。
【0052】本発明の第9の態様による画像表示方法
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示方法であって、前記画像中の各表示単
位領域を前記複数種の特性にそれぞれ対応する複数の副
表示単位領域に分割し、当該各表示単位領域の各副表示
単位領域の色を対応する特性の種類に応じて定めるとと
もに、各副表示単位領域の明度又は輝度を、当該副表示
単位領域が属する表示単位領域の位置に応じた位置に対
応する当該対応する特性の値に応じて、定めたものであ
る。
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示方法であって、前記画像中の各表示単
位領域を前記複数種の特性にそれぞれ対応する複数の副
表示単位領域に分割し、当該各表示単位領域の各副表示
単位領域の色を対応する特性の種類に応じて定めるとと
もに、各副表示単位領域の明度又は輝度を、当該副表示
単位領域が属する表示単位領域の位置に応じた位置に対
応する当該対応する特性の値に応じて、定めたものであ
る。
【0053】この第9の態様による画像表示方法によれ
ば、表示される画像中の各表示単位領域が前記複数種の
特性にそれぞれ対応する複数の副表示単位領域に分割さ
れ、当該各表示単位領域の各副表示単位領域の色が対応
する特性の種類に応じて定められるとともに、各副表示
単位領域の明度又は輝度が、当該副表示単位領域が属す
る表示単位領域の位置に応じた位置に対応する当該対応
する特性の値に応じて定められている。したがって、前
述した従来の画像表示によるグレースケールによる複数
種の特性の2次元分布を示す画像が、互いに色を変え
て、同一位置に対応する表示単位領域(第9の態様の副
表示単位領域に相当)がずれて並ぶように、重ね合わさ
れたような表示画像が得られる。このため、試料の対応
点が一目瞭然となり、各種類の特性の2次元分布の関係
を容易に把握することができ、試料の所定領域の性質を
容易に知ることができる。また、このように各種類の特
性の2次元分布の関係を容易に把握することができるた
め、複数種の特性の値から試料の性質を総合的に解析で
きることとなる。したがって、各特性の計測値のばらつ
きが大きい場合であっても、そのばらつきの影響をさほ
ど受けずに試料の性質を把握することができる。
ば、表示される画像中の各表示単位領域が前記複数種の
特性にそれぞれ対応する複数の副表示単位領域に分割さ
れ、当該各表示単位領域の各副表示単位領域の色が対応
する特性の種類に応じて定められるとともに、各副表示
単位領域の明度又は輝度が、当該副表示単位領域が属す
る表示単位領域の位置に応じた位置に対応する当該対応
する特性の値に応じて定められている。したがって、前
述した従来の画像表示によるグレースケールによる複数
種の特性の2次元分布を示す画像が、互いに色を変え
て、同一位置に対応する表示単位領域(第9の態様の副
表示単位領域に相当)がずれて並ぶように、重ね合わさ
れたような表示画像が得られる。このため、試料の対応
点が一目瞭然となり、各種類の特性の2次元分布の関係
を容易に把握することができ、試料の所定領域の性質を
容易に知ることができる。また、このように各種類の特
性の2次元分布の関係を容易に把握することができるた
め、複数種の特性の値から試料の性質を総合的に解析で
きることとなる。したがって、各特性の計測値のばらつ
きが大きい場合であっても、そのばらつきの影響をさほ
ど受けずに試料の性質を把握することができる。
【0054】本発明の第10の態様による画像表示装置
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、当該画像中の各表示単
位領域を前記複数種の特性にそれぞれ対応する複数の副
表示単位領域に分割し、当該各表示単位領域の各副表示
単位領域の色を対応する特性の種類に応じて定めるとと
もに、各副表示単位領域の明度又は輝度を、当該副表示
単位領域が属する表示単位領域の位置に応じた位置に対
応する当該対応する特性の値に応じて定めた画像を示す
表示画像データを、前記複数の2次元分布データに基づ
いて生成する画像データ生成手段と、前記画像データ生
成手段により生成された前記表示画像データに基づい
て、当該表示画像データが示す前記画像を表示する画像
表示出力手段と、を備えたことを特徴とする画像表示装
置。
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、当該画像中の各表示単
位領域を前記複数種の特性にそれぞれ対応する複数の副
表示単位領域に分割し、当該各表示単位領域の各副表示
単位領域の色を対応する特性の種類に応じて定めるとと
もに、各副表示単位領域の明度又は輝度を、当該副表示
単位領域が属する表示単位領域の位置に応じた位置に対
応する当該対応する特性の値に応じて定めた画像を示す
表示画像データを、前記複数の2次元分布データに基づ
いて生成する画像データ生成手段と、前記画像データ生
成手段により生成された前記表示画像データに基づい
て、当該表示画像データが示す前記画像を表示する画像
表示出力手段と、を備えたことを特徴とする画像表示装
置。
【0055】この第10の態様による画像表示装置は、
前記第9の態様による画像表示方法を実現する画像表示
装置の一例である。
前記第9の態様による画像表示方法を実現する画像表示
装置の一例である。
【0056】本発明の第11の態様による画像表示装置
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、前記複数の2次元分布
データに基づいて、当該画像中の各表示単位領域の色
が、当該表示単位領域の位置と対応する前記試料の位置
における前記複数種の特性に応じて、定められた画像を
示す表示画像データを生成する画像データ生成手段と、
前記画像データ生成手段により生成された前記表示画像
データに基づいて、当該表示画像データが示す前記画像
を表示する画像表示出力手段と、を備えたものである。
は、試料の同一領域から得られた複数種の特性の2次元
分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データに基づい
て、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す画像を
表示する画像表示装置であって、前記複数の2次元分布
データに基づいて、当該画像中の各表示単位領域の色
が、当該表示単位領域の位置と対応する前記試料の位置
における前記複数種の特性に応じて、定められた画像を
示す表示画像データを生成する画像データ生成手段と、
前記画像データ生成手段により生成された前記表示画像
データに基づいて、当該表示画像データが示す前記画像
を表示する画像表示出力手段と、を備えたものである。
【0057】この第11の態様による画像表示装置は、
前記第1の態様による画像表示方法を実現する画像表示
装置の一例である。
前記第1の態様による画像表示方法を実現する画像表示
装置の一例である。
【0058】本発明の第12の態様による画像表示装置
は、第11の態様による画像表示装置が有する画像デー
タ生成手段内に、複数の2次元分布データに基づいて画
像の各表示単位領域毎に表示する色を決定し、画像表示
出力手段に接続されたデータ処理部を備えたもので、こ
のデータ処理部は、表示単位領域に表示される色を3成
分のパラメータによって定めている。
は、第11の態様による画像表示装置が有する画像デー
タ生成手段内に、複数の2次元分布データに基づいて画
像の各表示単位領域毎に表示する色を決定し、画像表示
出力手段に接続されたデータ処理部を備えたもので、こ
のデータ処理部は、表示単位領域に表示される色を3成
分のパラメータによって定めている。
【0059】この第12の態様による画像表示装置は、
前記第1の態様による画像表示方法を実現する画像表示
装置の一例である。
前記第1の態様による画像表示方法を実現する画像表示
装置の一例である。
【0060】ところで、第12の態様で示す3成分は、
先に説明した第2の態様と同様のものであり、その詳細
な説明については、ここでは省略することにする。
先に説明した第2の態様と同様のものであり、その詳細
な説明については、ここでは省略することにする。
【0061】本発明の第13の態様による走査型プロー
ブ顕微鏡は、前記第2乃至8、10、11及び12のい
ずれかの態様による画像表示装置と、前記試料の同一領
域から、前記複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す
前記複数の2次元分布データを得る計測部と、を備えた
ものである。
ブ顕微鏡は、前記第2乃至8、10、11及び12のい
ずれかの態様による画像表示装置と、前記試料の同一領
域から、前記複数種の特性の2次元分布をそれぞれ示す
前記複数の2次元分布データを得る計測部と、を備えた
ものである。
【0062】本発明の第14の態様による走査型プロー
ブ顕微鏡は、第13の態様による走査型プローブ顕微鏡
の計測部について、探針と、探針と試料とを極近接させ
かつ探針と試料とを相対的に走査する駆動部と、探針と
試料との間に生ずる相互作用から、試料の同一領域にお
ける複数種の特性を取得し、かつ複数種の特性について
の2次元分布データを得る検出部を備えていることとし
た。そして、検出部については、画像表示装置内の画像
データ生成手段に接続されているとした。
ブ顕微鏡は、第13の態様による走査型プローブ顕微鏡
の計測部について、探針と、探針と試料とを極近接させ
かつ探針と試料とを相対的に走査する駆動部と、探針と
試料との間に生ずる相互作用から、試料の同一領域にお
ける複数種の特性を取得し、かつ複数種の特性について
の2次元分布データを得る検出部を備えていることとし
た。そして、検出部については、画像表示装置内の画像
データ生成手段に接続されているとした。
【0063】この第13及び14の態様は、前記第2乃
至8、10、11及び12の態様による画像表示装置を
走査型プローブ顕微鏡の構成要素の一部として適用した
例であるが、前記第2乃至8、10、11及び12の態
様による画像表示装置は、単独で又は他の装置において
用いることができる。当該画像表示装置を単独で用いる
場合には、例えば、予め光磁気ディスク等の記憶媒体に
記憶された、試料の同一領域から得られた複数種の特性
の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データ
を、読み出して利用するようにすれば、試料の性質の解
析装置として利用することができる。
至8、10、11及び12の態様による画像表示装置を
走査型プローブ顕微鏡の構成要素の一部として適用した
例であるが、前記第2乃至8、10、11及び12の態
様による画像表示装置は、単独で又は他の装置において
用いることができる。当該画像表示装置を単独で用いる
場合には、例えば、予め光磁気ディスク等の記憶媒体に
記憶された、試料の同一領域から得られた複数種の特性
の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データ
を、読み出して利用するようにすれば、試料の性質の解
析装置として利用することができる。
【0064】
【発明の実施の形態】以下、本発明による画像表示方法
及び装置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡に
ついて、図面を参照して説明する。
及び装置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡に
ついて、図面を参照して説明する。
【0065】(第1の実施の形態)まず、本発明の第1
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
1及び図2を参照して説明する。
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
1及び図2を参照して説明する。
【0066】本実施の形態は、フォースカーブマッピン
グを行うことができる走査型プローブ顕微鏡の画像表示
装置において、本発明の一例による画像表示装置を用い
た例である。
グを行うことができる走査型プローブ顕微鏡の画像表示
装置において、本発明の一例による画像表示装置を用い
た例である。
【0067】図1は、本実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡を示す概略構成図である。図2は、図1中の画
像表示装置3の処理部21の動作の一例を示すフローチ
ャートである。
ブ顕微鏡を示す概略構成図である。図2は、図1中の画
像表示装置3の処理部21の動作の一例を示すフローチ
ャートである。
【0068】本実施の形態による走査型プローブ顕微鏡
は、試料1の同一領域から、複数種の特性の2次元分布
をそれぞれ示す複数の2次元分布データを得る計測部2
と、計測部2により得られた複数の2次元分布データに
基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す
画像を表示する画像表示装置3と、を備えている。
は、試料1の同一領域から、複数種の特性の2次元分布
をそれぞれ示す複数の2次元分布データを得る計測部2
と、計測部2により得られた複数の2次元分布データに
基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示す
画像を表示する画像表示装置3と、を備えている。
【0069】計測部2は、探針4aをレバー部4bの先
端に有するカンチレバー4と、該カンチレバー4の支持
体4cを保持するレバーホルダー5と、試料1を載せる
試料ホルダー6と、試料1をその表面と略垂直な方向
(Z方向)に上下させて探針4aと試料1とを接触させ
たり離したりするためのピエゾ素子7と、試料1をその
表面と略平行な方向(Z方向と垂直な平面の方向であ
り、この平面内において互いに直交する方向をX方向及
びY方向とする。)に2次元状に走査させるXY走査機
構8と、ピエゾ素子7の駆動制御を行うピエゾ駆動制御
装置9と、XY走査機構8を制御するXY走査機構制御
装置10と、半導体レーザー11と、2分割フォトダイ
オード12と、これらの全体を制御するとともに計測デ
ータを得る制御・処理装置13と、を備えている。
端に有するカンチレバー4と、該カンチレバー4の支持
体4cを保持するレバーホルダー5と、試料1を載せる
試料ホルダー6と、試料1をその表面と略垂直な方向
(Z方向)に上下させて探針4aと試料1とを接触させ
たり離したりするためのピエゾ素子7と、試料1をその
表面と略平行な方向(Z方向と垂直な平面の方向であ
り、この平面内において互いに直交する方向をX方向及
びY方向とする。)に2次元状に走査させるXY走査機
構8と、ピエゾ素子7の駆動制御を行うピエゾ駆動制御
装置9と、XY走査機構8を制御するXY走査機構制御
装置10と、半導体レーザー11と、2分割フォトダイ
オード12と、これらの全体を制御するとともに計測デ
ータを得る制御・処理装置13と、を備えている。
【0070】半導体レーザー11及び2分割フォトダイ
オード12はいわゆる光てこ法によるカンチレバー4の
撓み検出手段を構成しており、2分割フォトダイオード
12から得られる撓み検出信号は制御・処理装置13に
供給される。
オード12はいわゆる光てこ法によるカンチレバー4の
撓み検出手段を構成しており、2分割フォトダイオード
12から得られる撓み検出信号は制御・処理装置13に
供給される。
【0071】制御・処理装置13は、図面には示してい
ないが記憶装置及び演算処理装置を含むものであり、試
料1の表面上に予め設定されている2次元状に位置する
複数の測定点(XY座標で表される)のそれぞれに、探
針4aが順次配置されるようにXY走査機構制御装置1
0を制御するとともに、各測定点において、探針4aが
試料1に対して相対的にZ方向に上下するように、ピエ
ゾ駆動制御装置9を制御する。
ないが記憶装置及び演算処理装置を含むものであり、試
料1の表面上に予め設定されている2次元状に位置する
複数の測定点(XY座標で表される)のそれぞれに、探
針4aが順次配置されるようにXY走査機構制御装置1
0を制御するとともに、各測定点において、探針4aが
試料1に対して相対的にZ方向に上下するように、ピエ
ゾ駆動制御装置9を制御する。
【0072】また、制御・処理装置13は、各測定点の
XY位置を示す情報(制御・処理装置13からピエゾ駆
動制御装置9に与えられる制御信号に相当)と、当該測
定点において得られたZ位置(制御・処理装置13から
ピエゾ素子7に与えられる制御信号に相当)及びこれに
応じたカンチレバー4の撓み量(2分割フォトダイオー
ド12からの検出信号に相当)を計測データとして取得
する。すなわち、制御・処理装置13は、各測定点のX
Y位置を示す情報と、当該測定点におけるフォースカー
ブを取得する。
XY位置を示す情報(制御・処理装置13からピエゾ駆
動制御装置9に与えられる制御信号に相当)と、当該測
定点において得られたZ位置(制御・処理装置13から
ピエゾ素子7に与えられる制御信号に相当)及びこれに
応じたカンチレバー4の撓み量(2分割フォトダイオー
ド12からの検出信号に相当)を計測データとして取得
する。すなわち、制御・処理装置13は、各測定点のX
Y位置を示す情報と、当該測定点におけるフォースカー
ブを取得する。
【0073】さらに、制御・処理装置13は、これらの
計測データから、演算により、各測定点における試料表
面の表面形状(高さ)の値topo[i][j]、吸着
力adf[i][j]の値及び弾性elast[i]
[j]の値を求める。勿論、計測する特性はこの3種類
に限定されるものではない。ここで、変数iは測定点の
X座標に対応して0〜n−1の整数値をとり、変数jは
測定点のY座標に対応して0〜n−1の整数値をとる。
すなわち、本実施の形態では、n×n個の測定点につい
て計測を行う。本実施の形態では、topo[i]
[j]、adf[i][j]及びelast[i]
[j]は、それぞれ全体として、試料1の同一領域から
得られた表面形状、吸着力及び弾性の3種類の特性の2
次元分布をそれぞれ示す3つの2次元分布データとなっ
ている。
計測データから、演算により、各測定点における試料表
面の表面形状(高さ)の値topo[i][j]、吸着
力adf[i][j]の値及び弾性elast[i]
[j]の値を求める。勿論、計測する特性はこの3種類
に限定されるものではない。ここで、変数iは測定点の
X座標に対応して0〜n−1の整数値をとり、変数jは
測定点のY座標に対応して0〜n−1の整数値をとる。
すなわち、本実施の形態では、n×n個の測定点につい
て計測を行う。本実施の形態では、topo[i]
[j]、adf[i][j]及びelast[i]
[j]は、それぞれ全体として、試料1の同一領域から
得られた表面形状、吸着力及び弾性の3種類の特性の2
次元分布をそれぞれ示す3つの2次元分布データとなっ
ている。
【0074】制御・処理装置13は、3つの2次元分布
データtopo[i][j]、adf[i][j]及び
elast[i][j]が全て得られると、これらをま
とめて画像表示装置3の処理部21に転送する。
データtopo[i][j]、adf[i][j]及び
elast[i][j]が全て得られると、これらをま
とめて画像表示装置3の処理部21に転送する。
【0075】画像表示装置3は、処理部21と、メモリ
22と、表示制御部23と、画像表示出力手段としての
CRT等のディスプレイ24とから構成されている。画
像表示出力手段としては、ディスプレイ24に代えてカ
ラープリンタ等を用いてもよい。
22と、表示制御部23と、画像表示出力手段としての
CRT等のディスプレイ24とから構成されている。画
像表示出力手段としては、ディスプレイ24に代えてカ
ラープリンタ等を用いてもよい。
【0076】処理部21は、制御・処理装置13から転
送された3つの2次元分布データtopo[i]
[j]、adf[i][j]及びelast[i]
[j]を、一旦メモリ22内に格納する。その後、処理
部21は、図2に示す動作を行う。
送された3つの2次元分布データtopo[i]
[j]、adf[i][j]及びelast[i]
[j]を、一旦メモリ22内に格納する。その後、処理
部21は、図2に示す動作を行う。
【0077】まず、処理部21は、測定点の位置(XY
座標)に対応した変数i、j(測定点のXY座標に対
応)を初期化してそれぞれ0にセットする(ステップS
1,S2)。次に、処理部21は、制御・処理装置13
から転送されてメモリ22内に格納されている各2次元
分布データうちの現在セットされている変数i、jによ
り決定される各値topo[i][j]、adf[i]
[j]及びelast[i][j]に応じた各値をそれ
ぞれ、現在セットされている変数i、jに対応した合成
画像中の位置の表示単位領域の赤成分col[i]
[j].rの値、緑成分col[i][j].gの値、
青成分col[i][j].bの値とし、これらをメモ
リ22内に格納する(ステップS3)。すなわち、現在
セットされている変数i、jにより決定される各値to
po[i][j]、adf[i][j]及びelast
[i][j]を現在設定されている変数i、jに対応し
た合成画像中の位置の表示単位領域の色彩情報に変換す
る。つまり、得られた特性毎にそれぞれ色成分を割り当
てる。本実施の形態では、色彩を赤、緑、青の3成分に
分割し、それぞれ試料表面の高さ(試料表面形状)、吸
着力及び弾性に割り当てて合成する例を示しているが、
勿論これだけに限られるものではなく、例えば、色彩を
明度、彩度、色相に分けてもよいし、割り当てる特性
は、試料によって最適なものを選択する。また、必ずし
も3つの特性の全てを使う必要はなく、重要な2つの特
性だけを選択してもよい。
座標)に対応した変数i、j(測定点のXY座標に対
応)を初期化してそれぞれ0にセットする(ステップS
1,S2)。次に、処理部21は、制御・処理装置13
から転送されてメモリ22内に格納されている各2次元
分布データうちの現在セットされている変数i、jによ
り決定される各値topo[i][j]、adf[i]
[j]及びelast[i][j]に応じた各値をそれ
ぞれ、現在セットされている変数i、jに対応した合成
画像中の位置の表示単位領域の赤成分col[i]
[j].rの値、緑成分col[i][j].gの値、
青成分col[i][j].bの値とし、これらをメモ
リ22内に格納する(ステップS3)。すなわち、現在
セットされている変数i、jにより決定される各値to
po[i][j]、adf[i][j]及びelast
[i][j]を現在設定されている変数i、jに対応し
た合成画像中の位置の表示単位領域の色彩情報に変換す
る。つまり、得られた特性毎にそれぞれ色成分を割り当
てる。本実施の形態では、色彩を赤、緑、青の3成分に
分割し、それぞれ試料表面の高さ(試料表面形状)、吸
着力及び弾性に割り当てて合成する例を示しているが、
勿論これだけに限られるものではなく、例えば、色彩を
明度、彩度、色相に分けてもよいし、割り当てる特性
は、試料によって最適なものを選択する。また、必ずし
も3つの特性の全てを使う必要はなく、重要な2つの特
性だけを選択してもよい。
【0078】処理部21は、このようなステップS33
の動作を全ての変数i、jに対して行う(ステップS4
〜S7)。これにより、全ての変数i、jについてのc
ol[i][j].r、col[i][j].g及びc
ol[i][j].bの集合である合成画像を示す表示
画像データcol[i][j]が、メモリ22内に格納
されることになる。
の動作を全ての変数i、jに対して行う(ステップS4
〜S7)。これにより、全ての変数i、jについてのc
ol[i][j].r、col[i][j].g及びc
ol[i][j].bの集合である合成画像を示す表示
画像データcol[i][j]が、メモリ22内に格納
されることになる。
【0079】処理部21は、ステップS3の動作を全て
の変数i、jに対して完了すると、表示制御部23に表
示指令を与える(ステップS8)。表示制御部23は、
メモリ22内に格納されている表示画像データcol
[i][j]を読み出し、このデータが示す合成画像を
ディスプレイ24に表示させる。
の変数i、jに対して完了すると、表示制御部23に表
示指令を与える(ステップS8)。表示制御部23は、
メモリ22内に格納されている表示画像データcol
[i][j]を読み出し、このデータが示す合成画像を
ディスプレイ24に表示させる。
【0080】以上の説明からわかるように、本実施の形
態では、前記ステップS3が、3つの2次元分布データ
topo[i][j]、adf[i][j]及びela
st[i][j]に基づいて、各々の画像が色を決定す
る3成分のうちの互いに異なる1成分による画像である
複数の画像を互いに位置を対応させながら重ね合わせた
合成画像であって、当該合成画像中の各表示単位領域の
色が、当該表示単位領域の位置に応じた同一位置に対応
する前記複数種の特性の各値に応じて定められた合成画
像を示す表示画像データを生成する画像データ生成手段
に相当している。
態では、前記ステップS3が、3つの2次元分布データ
topo[i][j]、adf[i][j]及びela
st[i][j]に基づいて、各々の画像が色を決定す
る3成分のうちの互いに異なる1成分による画像である
複数の画像を互いに位置を対応させながら重ね合わせた
合成画像であって、当該合成画像中の各表示単位領域の
色が、当該表示単位領域の位置に応じた同一位置に対応
する前記複数種の特性の各値に応じて定められた合成画
像を示す表示画像データを生成する画像データ生成手段
に相当している。
【0081】本実施の形態によれば、例えば、平面上に
ある試料1に対して、表示画像において、試料1の存在
は表面形状に相当する色の部分から明らかとなり、なお
かつ、試料表面の化学的な情報は吸着力に相当する色の
部分、試料表面の機械的な情報は試料表面の弾性に相当
する部分によって得られる。
ある試料1に対して、表示画像において、試料1の存在
は表面形状に相当する色の部分から明らかとなり、なお
かつ、試料表面の化学的な情報は吸着力に相当する色の
部分、試料表面の機械的な情報は試料表面の弾性に相当
する部分によって得られる。
【0082】本実施の形態による走査型プローブ顕微鏡
を用い、Siの基板上に高分子の付着物とセラミックス
の粒子が載ったものを試料1として、前記計測部2によ
って、当該試料1の同一領域から、表面形状、吸着力及
び弾性の3種類の特性の2次元分布をそれぞれ示す3つ
の2次元分布データを得た。この試料1に対しては、高
分子は吸着力及び弾性共に小さいのに対し、セラミック
スの粒子は吸着力及び弾性共に大きい。したがって、前
記画像表示装置3により、前記3つの2次元分布データ
に基づいて、この試料1に対する前記合成画像を表示す
れば、同じ高さの高分子付着物とセラミックスの粒子
は、高分子の付着物は高さ成分だけが大きいため、赤く
表示されるが、セラミックスの粒子は高さ、吸着力、弾
性とも大きいため、白く表示され、表面形状と対応させ
て、どの領域に高分子付着物が付いていて、どの領域に
セラミックス粒子が付いているのかが容易に識別でき
る。
を用い、Siの基板上に高分子の付着物とセラミックス
の粒子が載ったものを試料1として、前記計測部2によ
って、当該試料1の同一領域から、表面形状、吸着力及
び弾性の3種類の特性の2次元分布をそれぞれ示す3つ
の2次元分布データを得た。この試料1に対しては、高
分子は吸着力及び弾性共に小さいのに対し、セラミック
スの粒子は吸着力及び弾性共に大きい。したがって、前
記画像表示装置3により、前記3つの2次元分布データ
に基づいて、この試料1に対する前記合成画像を表示す
れば、同じ高さの高分子付着物とセラミックスの粒子
は、高分子の付着物は高さ成分だけが大きいため、赤く
表示されるが、セラミックスの粒子は高さ、吸着力、弾
性とも大きいため、白く表示され、表面形状と対応させ
て、どの領域に高分子付着物が付いていて、どの領域に
セラミックス粒子が付いているのかが容易に識別でき
る。
【0083】したがって、本実施の形態によれば、いく
つもの画像を見比べることなく、1枚の画像で、各特性
の2次元分布の関係を色で識別することができる。この
ため、各種類の特性の2次元分布の関係が一目瞭然であ
り、各種類の特性の2次元分布の関係を極めて容易に把
握することができ、試料1の所定領域の性質を容易に知
ることができる。また、このように各種類の特性の2次
元分布の関係が一目瞭然であるため、複数種の特性の値
から試料1の性質を総合的に解析できることとなる。し
たがって、各特性の計測値のばらつきが大きい場合であ
っても、そのばらつきの影響をさほど受けずに試料の性
質を把握することができる。
つもの画像を見比べることなく、1枚の画像で、各特性
の2次元分布の関係を色で識別することができる。この
ため、各種類の特性の2次元分布の関係が一目瞭然であ
り、各種類の特性の2次元分布の関係を極めて容易に把
握することができ、試料1の所定領域の性質を容易に知
ることができる。また、このように各種類の特性の2次
元分布の関係が一目瞭然であるため、複数種の特性の値
から試料1の性質を総合的に解析できることとなる。し
たがって、各特性の計測値のばらつきが大きい場合であ
っても、そのばらつきの影響をさほど受けずに試料の性
質を把握することができる。
【0084】なお、本実施の形態では、計測部2におい
て3つの2次元分布データtopo[i][j]、ad
f[i][j]及びelast[i][j]が全て得ら
れた後に、これらをまとめて画像表示装置3の処理部2
1に転送していたが、1つの測定点に関するもの毎に画
像表示装置3に転送し、画像表示装置3は1表示単位領
域ごとに逐次画像表示するようにしてもよい。
て3つの2次元分布データtopo[i][j]、ad
f[i][j]及びelast[i][j]が全て得ら
れた後に、これらをまとめて画像表示装置3の処理部2
1に転送していたが、1つの測定点に関するもの毎に画
像表示装置3に転送し、画像表示装置3は1表示単位領
域ごとに逐次画像表示するようにしてもよい。
【0085】(第2の実施の形態)次に、本発明の第2
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
3を参照して説明する。
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
3を参照して説明する。
【0086】図3は、本実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置3の処理部21の動作の一例を
示すフローチャートである。
ブ顕微鏡の画像表示装置3の処理部21の動作の一例を
示すフローチャートである。
【0087】本実施の形態による走査型プローブ顕微鏡
が前記第1の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡と
異なる所は、画像表示装置3の処理部21の一部の動作
のみであり、主として、2つの2次元分布データadf
[i][j]及びelast[i][j]に基づいて所
定パラメータの2次元分布データη[i][j]を生成
し、この所定パラメータの2次元分布データη[i]
[j]と2次元分布データtopo[i][j]とから
表示画像データを生成している点である。
が前記第1の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡と
異なる所は、画像表示装置3の処理部21の一部の動作
のみであり、主として、2つの2次元分布データadf
[i][j]及びelast[i][j]に基づいて所
定パラメータの2次元分布データη[i][j]を生成
し、この所定パラメータの2次元分布データη[i]
[j]と2次元分布データtopo[i][j]とから
表示画像データを生成している点である。
【0088】本実施の形態では、処理部21は、制御・
処理装置13から転送された3つの2次元分布データt
opo[i][j]、adf[i][j]及びelas
t[i][j]を、一旦メモリ22内に格納する。その
後、処理部は、図3に示す処理を行う。
処理装置13から転送された3つの2次元分布データt
opo[i][j]、adf[i][j]及びelas
t[i][j]を、一旦メモリ22内に格納する。その
後、処理部は、図3に示す処理を行う。
【0089】まず、処理部21は、測定点の位置(XY
座標)に対応した変数i、j(測定点のXY座標に対
応)を初期化してそれぞれ0にセットする(ステップS
11,S12)。次に、処理部21は、制御・処理装置
13から転送されてメモリ22内に格納されている2つ
の2次元分布データうちの現在セットされている変数
i、jにより決定される各値adf[i][j]及びe
last[i][j]から、所定の変換により新たなパ
ラメータの値η[i][j]に変換する(ステップS1
3)。
座標)に対応した変数i、j(測定点のXY座標に対
応)を初期化してそれぞれ0にセットする(ステップS
11,S12)。次に、処理部21は、制御・処理装置
13から転送されてメモリ22内に格納されている2つ
の2次元分布データうちの現在セットされている変数
i、jにより決定される各値adf[i][j]及びe
last[i][j]から、所定の変換により新たなパ
ラメータの値η[i][j]に変換する(ステップS1
3)。
【0090】本実施の形態においても、前記第1の実施
の形態と同様に、Siの基板上に高分子の付着物とセラ
ミックスの粒子が載ったものを試料1とする。前述した
ように、この試料1に対しては、高分子は吸着力及び弾
性共に小さいのに対し、セラミックスの粒子は吸着力及
び弾性共に大きい。この点に鑑み、本実施の形態では、
パラメータの値η[i][j]への変換は、次の数1の
関係式を用いる。
の形態と同様に、Siの基板上に高分子の付着物とセラ
ミックスの粒子が載ったものを試料1とする。前述した
ように、この試料1に対しては、高分子は吸着力及び弾
性共に小さいのに対し、セラミックスの粒子は吸着力及
び弾性共に大きい。この点に鑑み、本実施の形態では、
パラメータの値η[i][j]への変換は、次の数1の
関係式を用いる。
【0091】
【数1】η[i][j]=α×adf[i][j]+β
×elast[i][j] この関係式によれば、高分子の付着物に対しては、吸着
力及び弾性共に小さいため、パラメータの値η[i]
[j]は小さく、セラミックスの粒子に対しては、吸着
力及び弾性共に大きいためη[i][j]は大きくな
る。
×elast[i][j] この関係式によれば、高分子の付着物に対しては、吸着
力及び弾性共に小さいため、パラメータの値η[i]
[j]は小さく、セラミックスの粒子に対しては、吸着
力及び弾性共に大きいためη[i][j]は大きくな
る。
【0092】したがって、本実施の形態では、処理部2
1は、次のステップS14において、試料表面の凹凸の
高さを明度とし、パラメータηを色相にして重ね合わせ
て表示する。特にパラメータη[i][j]の小さい側
を赤、大きい側を青に割り当てれば、基板の高さは低い
ために黒く表示されるのに対し、高分子の付着物は赤
く、セラミックスの粒子は青く表示され、基板上の付着
物と粒子を容易に識別することができる。
1は、次のステップS14において、試料表面の凹凸の
高さを明度とし、パラメータηを色相にして重ね合わせ
て表示する。特にパラメータη[i][j]の小さい側
を赤、大きい側を青に割り当てれば、基板の高さは低い
ために黒く表示されるのに対し、高分子の付着物は赤
く、セラミックスの粒子は青く表示され、基板上の付着
物と粒子を容易に識別することができる。
【0093】具体的には、処理部21は、ステップS1
4において、現在セットされている変数i、jにより決
定される試料表面の凹凸の高さの値topo[i]
[j]に応じた値を、現在セットされている変数i、j
に対応した合成画像中の位置の表示単位領域の明度co
l[i][j].bの値とし、現在セットされている変
数i、jに対応したパラメータη[i][j]の値に応
じた値を、現在セットされている変数i、jに対応した
合成画像中の位置の表示単位領域の色相col[i]
[j].cの値とし、これらをメモリ22内に格納す
る。特にパラメータη[i][j]の小さい側を赤、大
きい側を青に割り当てる。
4において、現在セットされている変数i、jにより決
定される試料表面の凹凸の高さの値topo[i]
[j]に応じた値を、現在セットされている変数i、j
に対応した合成画像中の位置の表示単位領域の明度co
l[i][j].bの値とし、現在セットされている変
数i、jに対応したパラメータη[i][j]の値に応
じた値を、現在セットされている変数i、jに対応した
合成画像中の位置の表示単位領域の色相col[i]
[j].cの値とし、これらをメモリ22内に格納す
る。特にパラメータη[i][j]の小さい側を赤、大
きい側を青に割り当てる。
【0094】処理部21は、このようなステップS1
3,S14の動作を全ての変数i、jに対して行う(ス
テップS15〜S18)。これにより、全ての変数i、
jについてのcol[i][j].b、col[i]
[j].cの集合である合成画像を示す表示画像データ
col[i][j]が、メモリ22内に格納されること
になる。
3,S14の動作を全ての変数i、jに対して行う(ス
テップS15〜S18)。これにより、全ての変数i、
jについてのcol[i][j].b、col[i]
[j].cの集合である合成画像を示す表示画像データ
col[i][j]が、メモリ22内に格納されること
になる。
【0095】処理部21は、ステップS13,14の動
作を全ての変数i、jに対して完了すると、表示制御部
23に表示指令を与える(ステップS19)。表示制御
部23は、メモリ22内に格納されている表示画像デー
タcol[i][j]を読み出し、このデータが示す合
成画像をディスプレイ24に表示させる。
作を全ての変数i、jに対して完了すると、表示制御部
23に表示指令を与える(ステップS19)。表示制御
部23は、メモリ22内に格納されている表示画像デー
タcol[i][j]を読み出し、このデータが示す合
成画像をディスプレイ24に表示させる。
【0096】以上の説明からわかるように、本実施の形
態では、前記ステップS13が、2つの2次元分布デー
タadf[i][j]及びelast[i][j]に基
づいて、所定パラメータの2次元分布データη[i]
[j]を生成する2次元分布データ生成手段であって、
前記所定パラメータの2次元分布データη[i][j]
は、2つの2次元分布データadf[i][j]及びe
last[i][j]の同一位置に対応する吸着力及び
弾性の各値から所定の変換により得た値を当該位置に対
応する前記所定パラメータの値として有する、2次元分
布データ生成手段に相当している。
態では、前記ステップS13が、2つの2次元分布デー
タadf[i][j]及びelast[i][j]に基
づいて、所定パラメータの2次元分布データη[i]
[j]を生成する2次元分布データ生成手段であって、
前記所定パラメータの2次元分布データη[i][j]
は、2つの2次元分布データadf[i][j]及びe
last[i][j]の同一位置に対応する吸着力及び
弾性の各値から所定の変換により得た値を当該位置に対
応する前記所定パラメータの値として有する、2次元分
布データ生成手段に相当している。
【0097】本実施の形態よっても、前記第1の実施の
形態と同様の利点が得られる。
形態と同様の利点が得られる。
【0098】(第3の実施の形態)次に、本発明の第3
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
4を参照して説明する。
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
4を参照して説明する。
【0099】図4は、本実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置3の処理部21の動作の一例を
示すフローチャートである。
ブ顕微鏡の画像表示装置3の処理部21の動作の一例を
示すフローチャートである。
【0100】本実施の形態による走査型プローブ顕微鏡
が前記第2の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡と
異なる所は、主として、画像表示装置3の処理部21の
一部の動作のみであり、前記第2の実施の形態では、表
面形状、吸着力及び弾性の3つの特性の2次元分布デー
タに基づいて表面形状、吸着力及び弾性の3つの特性の
2次元分布の関係を示す画像を表示していたのに対し、
本実施の形態では、吸着力及び弾性の2つの特性の2次
元分布データに基づいて、吸着力及び弾性の2つの特性
の2次元分布の関係を示す画像を表示する点である。
が前記第2の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡と
異なる所は、主として、画像表示装置3の処理部21の
一部の動作のみであり、前記第2の実施の形態では、表
面形状、吸着力及び弾性の3つの特性の2次元分布デー
タに基づいて表面形状、吸着力及び弾性の3つの特性の
2次元分布の関係を示す画像を表示していたのに対し、
本実施の形態では、吸着力及び弾性の2つの特性の2次
元分布データに基づいて、吸着力及び弾性の2つの特性
の2次元分布の関係を示す画像を表示する点である。
【0101】本実施の形態においても、前記第2の実施
の形態と同様に、Siの基板上に高分子の付着物とセラ
ミックスの粒子が載ったものを試料1としている。
の形態と同様に、Siの基板上に高分子の付着物とセラ
ミックスの粒子が載ったものを試料1としている。
【0102】図4中のステップS21〜S23,S25
〜S28は、図3中のステップS11〜S13,S15
〜S18とそれぞれ同一である。
〜S28は、図3中のステップS11〜S13,S15
〜S18とそれぞれ同一である。
【0103】本実施の形態では、ステップS23の次
に、処理部21は、ステップS24において、現在セッ
トされている変数i、jにより決定されるパラメータη
[i][j]の値に応じた値を、現在セットされている
変数i、jに対応した合成画像中の位置の表示単位領域
の明度br[i][j]の値とし、この値をメモリ22
内に格納する。
に、処理部21は、ステップS24において、現在セッ
トされている変数i、jにより決定されるパラメータη
[i][j]の値に応じた値を、現在セットされている
変数i、jに対応した合成画像中の位置の表示単位領域
の明度br[i][j]の値とし、この値をメモリ22
内に格納する。
【0104】処理部21は、ステップS23,S24の
動作を全ての変数i、jに対して行う(ステップS25
〜S28)。これにより、全ての変数i、jについての
br[i][j]の集合である表示画像データbr
[i][j]が、メモリ22内に格納されることにな
る。
動作を全ての変数i、jに対して行う(ステップS25
〜S28)。これにより、全ての変数i、jについての
br[i][j]の集合である表示画像データbr
[i][j]が、メモリ22内に格納されることにな
る。
【0105】処理部21は、ステップS23,24の動
作を全ての変数i、jに対して完了すると、表示制御部
23に表示指令を与える(ステップS19)。表示制御
部23は、メモリ22内に格納されている表示画像デー
タbr[i][j]を読み出し、このデータが示す画像
をディスプレイ24に表示させる。すなわち、本実施の
形態では、表示画像は、グレースケールによる画像とな
る。代わりに、疑似カラースケールによる画像となるよ
うにしてもよい。
作を全ての変数i、jに対して完了すると、表示制御部
23に表示指令を与える(ステップS19)。表示制御
部23は、メモリ22内に格納されている表示画像デー
タbr[i][j]を読み出し、このデータが示す画像
をディスプレイ24に表示させる。すなわち、本実施の
形態では、表示画像は、グレースケールによる画像とな
る。代わりに、疑似カラースケールによる画像となるよ
うにしてもよい。
【0106】本実施の形態によっても、前記第2の実施
の形態と同様の利点が得られる。
の形態と同様の利点が得られる。
【0107】(第4の実施の形態)次に、本発明による
第4の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡につい
て、図5及び図6を参照して説明する。
第4の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡につい
て、図5及び図6を参照して説明する。
【0108】図5は、本実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置3の処理部21の動作の一例を
示すフローチャートである。図6は、本実施の形態によ
る走査型プローブ顕微鏡の画像表示装置3のディスプレ
イ24に表示される画像を示す図である。
ブ顕微鏡の画像表示装置3の処理部21の動作の一例を
示すフローチャートである。図6は、本実施の形態によ
る走査型プローブ顕微鏡の画像表示装置3のディスプレ
イ24に表示される画像を示す図である。
【0109】本実施の形態による走査型プローブ顕微鏡
が前記第1の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡と
異なる所は、画像表示装置3の処理部21の一部の動作
と、画像表示装置3のディスプレイ24に表示される画
像の表示単位領域のみである。
が前記第1の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡と
異なる所は、画像表示装置3の処理部21の一部の動作
と、画像表示装置3のディスプレイ24に表示される画
像の表示単位領域のみである。
【0110】本実施の形態では、図6に示すように、デ
ィスプレイ24に表示される画像は、前記第1乃至第3
の実施の形態と同じく、のマトリクス状に配列したn×
n個表示単位領域を有している。しかしながら、前記第
1乃至第3の実施の形態では、各表示単位領域は何ら分
割されておらず、個々の表示単位領域の色等はいずれの
箇所も同じに表示されていた。これに対し、本実施の形
態では、個々の表示単位領域は3つの副表示単位領域
a,b,cに分割されている。図6においては、4つの
表示単位領域のみを拡大して示している。なお、本実施
の形態では、各表示単位領域において、副表示単位領域
a,b,cが左右方向に左から順に並んでいる。したが
って、上下方向に並んだ各副表示単位領域aは上下に連
続している。
ィスプレイ24に表示される画像は、前記第1乃至第3
の実施の形態と同じく、のマトリクス状に配列したn×
n個表示単位領域を有している。しかしながら、前記第
1乃至第3の実施の形態では、各表示単位領域は何ら分
割されておらず、個々の表示単位領域の色等はいずれの
箇所も同じに表示されていた。これに対し、本実施の形
態では、個々の表示単位領域は3つの副表示単位領域
a,b,cに分割されている。図6においては、4つの
表示単位領域のみを拡大して示している。なお、本実施
の形態では、各表示単位領域において、副表示単位領域
a,b,cが左右方向に左から順に並んでいる。したが
って、上下方向に並んだ各副表示単位領域aは上下に連
続している。
【0111】図5中のステップS31,S32,S34
〜S37は、図2中のステップS1,S2,S4〜S7
とそれぞれ同一である。
〜S37は、図2中のステップS1,S2,S4〜S7
とそれぞれ同一である。
【0112】本実施の形態では、ステップS32の次
に、処理部21は、ステップS33において、現在セッ
トされている変数i、jにより決定される表面形状の値
topo[i][j]を現在セットされている変数i、
jに対応した合成画像中の表示単位領域内の副表示単位
領域aの赤色成分col[i][j][a].rの値と
し、現在セットされている変数i、jにより決定される
表面形状の値adf[i][j]を現在セットされてい
る変数i、jに対応した合成画像中の表示単位領域内の
副表示単位領域bの緑色成分col[i][j]
[b].gの値とし、現在セットされている変数i、j
により決定される表面形状の値elast[i][j]
を現在セットされている変数i、jに対応した合成画像
中の表示単位領域内の副表示単位領域cの赤色成分co
l[i][j][c].rの値とし、これらをメモリ2
2内に格納する(ステップS33)。
に、処理部21は、ステップS33において、現在セッ
トされている変数i、jにより決定される表面形状の値
topo[i][j]を現在セットされている変数i、
jに対応した合成画像中の表示単位領域内の副表示単位
領域aの赤色成分col[i][j][a].rの値と
し、現在セットされている変数i、jにより決定される
表面形状の値adf[i][j]を現在セットされてい
る変数i、jに対応した合成画像中の表示単位領域内の
副表示単位領域bの緑色成分col[i][j]
[b].gの値とし、現在セットされている変数i、j
により決定される表面形状の値elast[i][j]
を現在セットされている変数i、jに対応した合成画像
中の表示単位領域内の副表示単位領域cの赤色成分co
l[i][j][c].rの値とし、これらをメモリ2
2内に格納する(ステップS33)。
【0113】処理部21は、このようなステップS33
の動作を全ての変数i、jに対して行う(ステップS3
4〜S37)。これにより、全ての変数i、jについて
のcol[i][j[j]][a].r、col[i]
[j][b].g及びcol[i][j][c].bの
集合である合成画像を示す表示画像データcol[i]
[j]が、メモリ22内に格納されることになる。
の動作を全ての変数i、jに対して行う(ステップS3
4〜S37)。これにより、全ての変数i、jについて
のcol[i][j[j]][a].r、col[i]
[j][b].g及びcol[i][j][c].bの
集合である合成画像を示す表示画像データcol[i]
[j]が、メモリ22内に格納されることになる。
【0114】処理部21は、ステップS3の動作を全て
の変数i、jに対して完了すると、表示制御部23に表
示指令を与える(ステップS38)。表示制御部23
は、メモリ22内に格納されている表示画像データco
l[i][j]を読み出し、このデータが示す合成画像
をディスプレイ24に表示させる。
の変数i、jに対して完了すると、表示制御部23に表
示指令を与える(ステップS38)。表示制御部23
は、メモリ22内に格納されている表示画像データco
l[i][j]を読み出し、このデータが示す合成画像
をディスプレイ24に表示させる。
【0115】以上の説明からわかるように、本実施の形
態では、当該画像中の各表示単位領域を複数種の特性に
それぞれ対応する複数の副表示単位領域a,b,cに分
割し、当該各表示単位領域の各副表示単位領域a,b,
cの色を対応する特性の種類に応じて定めるとともに、
各副表示単位領域a,b,cの明度又は輝度を、当該副
表示単位領域a,b,cが属する表示単位領域の位置に
応じた位置に対応する当該対応する特性の値に応じて定
めた画像を示す表示画像データを、前記複数の2次元分
布データに基づいて生成する画像データ生成手段を構成
している。
態では、当該画像中の各表示単位領域を複数種の特性に
それぞれ対応する複数の副表示単位領域a,b,cに分
割し、当該各表示単位領域の各副表示単位領域a,b,
cの色を対応する特性の種類に応じて定めるとともに、
各副表示単位領域a,b,cの明度又は輝度を、当該副
表示単位領域a,b,cが属する表示単位領域の位置に
応じた位置に対応する当該対応する特性の値に応じて定
めた画像を示す表示画像データを、前記複数の2次元分
布データに基づいて生成する画像データ生成手段を構成
している。
【0116】本実施の形態では、混色されるわけではな
いが、試料の各位置に対応した各表示単位領域内におい
て各特性に対応した副表示単位領域a,b,cを並べる
ことにより試料の対応点を明示するものである。
いが、試料の各位置に対応した各表示単位領域内におい
て各特性に対応した副表示単位領域a,b,cを並べる
ことにより試料の対応点を明示するものである。
【0117】本実施の形態によっても、前記第1の実施
の形態と同様の利点が得られる。
の形態と同様の利点が得られる。
【0118】なお、個々の表示単位領域は2次元分布の
関係を表示しようとする特性の種類の数に応じて任意に
数に分割することができ、個々の表示単位領域内の副表
示単位領域の数は2つであっても4つ以上であってもよ
い。また、各副表示単位領域の色が対応する特性に応じ
て異なっていればよく、赤、緑、青等に限定されるもの
ではない。
関係を表示しようとする特性の種類の数に応じて任意に
数に分割することができ、個々の表示単位領域内の副表
示単位領域の数は2つであっても4つ以上であってもよ
い。また、各副表示単位領域の色が対応する特性に応じ
て異なっていればよく、赤、緑、青等に限定されるもの
ではない。
【0119】(第5の実施の形態)次に、本発明の第5
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
7を参照して説明する。
の実施の形態による走査型プローブ顕微鏡について、図
7を参照して説明する。
【0120】図7は、本実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置3のディスプレイ24に表示さ
れる画像を示す図である。図7おいては、8つの表示単
位領域のみを拡大して示している。
ブ顕微鏡の画像表示装置3のディスプレイ24に表示さ
れる画像を示す図である。図7おいては、8つの表示単
位領域のみを拡大して示している。
【0121】本実施の形態が前記第4の実施の形態と異
なる所は、個々の表示単位領域における副表示単位領域
a,b,cの並び方のみである。本実施の形態では、各
表示単位領域において、副表示単位領域a,b,cが上
下方向に上から順に並んでいる。したがって、左右方向
(ディスプレイ24の水平走査方向と一致する)に並ん
だ各副表示単位領域aは左右に連続している。このよう
に、同じ色を表示する副領域がディスプレイの24の水
平走査方向と一致しているので、表示制御が容易とな
る。
なる所は、個々の表示単位領域における副表示単位領域
a,b,cの並び方のみである。本実施の形態では、各
表示単位領域において、副表示単位領域a,b,cが上
下方向に上から順に並んでいる。したがって、左右方向
(ディスプレイ24の水平走査方向と一致する)に並ん
だ各副表示単位領域aは左右に連続している。このよう
に、同じ色を表示する副領域がディスプレイの24の水
平走査方向と一致しているので、表示制御が容易とな
る。
【0122】以上の本発明の各実施の形態について説明
したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるも
のではない。前述した各実施の形態では、走査型プロー
ブ顕微鏡のフォースカーブマッピングに対する実施の形
態のみを示したが、その他の走査型プローブ顕微鏡画像
においても、同様に利用することができる。
したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるも
のではない。前述した各実施の形態では、走査型プロー
ブ顕微鏡のフォースカーブマッピングに対する実施の形
態のみを示したが、その他の走査型プローブ顕微鏡画像
においても、同様に利用することができる。
【0123】たとえば、このようなフォースカーブマッ
ピングによる走査型プローブ顕微鏡以外の走査型プロー
ブ顕微鏡であっても、試料表面上を2次元状に走査しな
がら、各測定点で複数種の特性(例えば、試料表面の高
さ(試料表面の形状)と磁気力、試料表面の高さと吸着
力、試料表面の高さと試料表面の静電気力、試料表面の
高さと試料表面の温度など)の値を同時に計測し、試料
の同一領域から得られた複数種の特性の2次元分布をそ
れぞれ示す複数の2次元分布データを得、各2次元分布
データによる画像を表示することにより、試料の局所的
な領域の特性値の分布を画像化することができる。
ピングによる走査型プローブ顕微鏡以外の走査型プロー
ブ顕微鏡であっても、試料表面上を2次元状に走査しな
がら、各測定点で複数種の特性(例えば、試料表面の高
さ(試料表面の形状)と磁気力、試料表面の高さと吸着
力、試料表面の高さと試料表面の静電気力、試料表面の
高さと試料表面の温度など)の値を同時に計測し、試料
の同一領域から得られた複数種の特性の2次元分布をそ
れぞれ示す複数の2次元分布データを得、各2次元分布
データによる画像を表示することにより、試料の局所的
な領域の特性値の分布を画像化することができる。
【0124】以上のように、走査型プローブ顕微鏡を用
いれば、試料表面の同一領域で、複数種の特性の値を計
測することができるため、試料の複数種の特性の計測値
から、当該領域の試料表面の性質を深く理解することが
できる。
いれば、試料表面の同一領域で、複数種の特性の値を計
測することができるため、試料の複数種の特性の計測値
から、当該領域の試料表面の性質を深く理解することが
できる。
【0125】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数種の特性の2次元分布の関係を容易に把握すること
ができ、試料の所定領域の性質を容易に知ることができ
る。
複数種の特性の2次元分布の関係を容易に把握すること
ができ、試料の所定領域の性質を容易に知ることができ
る。
【0126】また、本発明によれば、各特性の計測値の
ばらつきが大きい場合であっても、そのばらつきの影響
をさほど受けずに試料の性質を把握することができる。
ばらつきが大きい場合であっても、そのばらつきの影響
をさほど受けずに試料の性質を把握することができる。
【図1】本発明の第1の実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡を示す概略構成図である。
ブ顕微鏡を示す概略構成図である。
【図2】図1中の画像表示装置の処理部の動作の一例を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図3】本発明の第2の実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置の処理部の動作の一例を示すフ
ローチャートである。
ブ顕微鏡の画像表示装置の処理部の動作の一例を示すフ
ローチャートである。
【図4】本発明の第3の実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置の処理部の動作の一例を示すフ
ローチャートである。
ブ顕微鏡の画像表示装置の処理部の動作の一例を示すフ
ローチャートである。
【図5】本発明の第4の実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置の処理部の動作の一例を示すフ
ローチャートである。
ブ顕微鏡の画像表示装置の処理部の動作の一例を示すフ
ローチャートである。
【図6】本発明の第4の実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置のディスプレイに表示される画
像を示す図である。
ブ顕微鏡の画像表示装置のディスプレイに表示される画
像を示す図である。
【図7】本発明の第5の実施の形態による走査型プロー
ブ顕微鏡の画像表示装置のディスプレイに表示される画
像を示す図である。
ブ顕微鏡の画像表示装置のディスプレイに表示される画
像を示す図である。
【図8】探針と試料表面との間の距離と力の大きさとの
関係及びフォースカーブを示す図である。
関係及びフォースカーブを示す図である。
【図9】試料表面の計測値の様子を模式的に示す図であ
る。
る。
1 試料 2 計測部 3 画像表示装置 4 カンチレバー 5 カンチレバーホルダー 6 試料ホルダー 7 ピエゾ素子 8 XY走査機構 9 ピエゾ駆動制御装置 10 XY走査制御装置 11 半導体レーザー 12 2分割フォトダイオード 13 制御・処理装置 21 処理部 22 メモリ 23 表示制御部 24 ディスプレイ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G09F 9/30 H01J 37/22 502H H01J 37/22 502 37/28 X 37/28 G06F 15/62 400
Claims (14)
- 【請求項1】 試料の同一領域から得られた複数種の特
性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データ
に基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示
す画像を表示する画像表示方法であって、 前記画像中の各表示単位領域の色を、当該表示単位領域
の位置と対応する前記試料の位置における前記複数種の
特性に応じて、定めたことを特徴とする画像表示方法。 - 【請求項2】 試料の同一領域から得られた複数種の特
性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データ
に基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示
す画像を表示する画像表示装置であって、 前記複数の2次元分布データに基づいて、各々の画像が
色を決定する3成分のうちの互いに異なる1成分による
画像である複数の画像を互いに位置を対応させながら重
ね合わせた合成画像であって、当該合成画像中の各表示
単位領域の色が、当該表示単位領域の位置に応じた同一
位置に対応する前記複数種の特性の各値に応じて定めら
れた合成画像を示す表示画像データを生成する画像デー
タ生成手段と、 前記画像データ生成手段により生成された前記表示画像
データに基づいて、当該表示画像データが示す前記合成
画像を表示する画像表示出力手段と、 を備えたことを特徴とする画像表示装置。 - 【請求項3】 前記複数の画像のうちの少なくとも1つ
の画像は、前記複数の2次元分布データのうちの1つの
2次元分布データが示す画像であることを特徴とする請
求項2記載の画像表示装置。 - 【請求項4】 前記画像データ生成手段は、前記複数の
2次元分布データのうちの複数の2次元分布データに基
づいて所定パラメータの2次元分布データを生成する2
次元分布データ生成手段であって、前記所定パラメータ
の2次元分布データは、前記複数の2次元分布データの
うちの前記複数の2次元分布データの同一位置に対応す
る複数種の特性の各値から所定の変換により得た値を当
該位置に対応する前記所定パラメータの値として有す
る、2次元分布データ生成手段を含み、 前記複数の画像のうちの少なくとも1つは、前記2次元
分布データ生成手段により生成された前記所定パラメー
タの2次元分布データが示す画像であることを特徴とす
る請求項2又は3記載の画像表示装置。 - 【請求項5】 前記3成分が、赤、緑及び青であること
を特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の画像表
示装置。 - 【請求項6】 前記3成分が、シアン、マゼンタ及びイ
エローであることを特徴とする請求項2乃至4のいずれ
かに記載の画像表示装置。 - 【請求項7】 前記3成分が、色相、彩度及び明度であ
ることを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の
画像表示装置。 - 【請求項8】 試料の同一領域から得られた複数種の特
性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データ
に基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示
す画像を表示する画像表示装置であって、 前記複数の2次元分布データに基づいて所定パラメータ
の2次元分布データを生成する2次元分布データ生成手
段であって、前記所定パラメータの2次元分布データ
は、前記複数の2次元分布データの同一位置に対応する
複数種の特性の各値から所定の変換により得た値を当該
位置に対応する前記所定パラメータの値として有する、
2次元分布データ生成手段を含む画像データ生成手段で
あって、前記2次元分布データ生成手段により生成され
た前記所定パラメータの2次元分布データに応じた表示
画像データを生成する画像データ生成手段と、 前記画像データ生成手段により生成された前記表示画像
データに基づいて、当該表示画像データが示す画像を表
示する画像表示出力手段と、 を備えたことを特徴とする画像表示装置。 - 【請求項9】 試料の同一領域から得られた複数種の特
性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布データ
に基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を示
す画像を表示する画像表示方法であって、 前記画像中の各表示単位領域を前記複数種の特性にそれ
ぞれ対応する複数の副表示単位領域に分割し、当該各表
示単位領域の各副表示単位領域の色を対応する特性の種
類に応じて定めるとともに、各副表示単位領域の明度又
は輝度を、当該副表示単位領域が属する表示単位領域の
位置に応じた位置に対応する当該対応する特性の値に応
じて、定めたことを特徴とする画像表示方法。 - 【請求項10】 試料の同一領域から得られた複数種の
特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布デー
タに基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を
示す画像を表示する画像表示装置であって、 当該画像中の各表示単位領域を前記複数種の特性にそれ
ぞれ対応する複数の副表示単位領域に分割し、当該各表
示単位領域の各副表示単位領域の色を対応する特性の種
類に応じて定めるとともに、各副表示単位領域の明度又
は輝度を、当該副表示単位領域が属する表示単位領域の
位置に応じた位置に対応する当該対応する特性の値に応
じて定めた画像を示す表示画像データを、前記複数の2
次元分布データに基づいて生成する画像データ生成手段
と、 前記画像データ生成手段により生成された前記表示画像
データに基づいて、当該表示画像データが示す前記画像
を表示する画像表示出力手段と、 を備えたことを特徴とする画像表示装置。 - 【請求項11】 試料の同一領域から得られた複数種の
特性の2次元分布をそれぞれ示す複数の2次元分布デー
タに基づいて、前記複数種の特性の2次元分布の関係を
示す画像を表示する画像表示装置であって、 前記複数の2次元分布データに基づいて、当該画像中の
各表示単位領域の色が、当該表示単位領域の位置と対応
する前記試料の位置における前記複数種に応じて、定め
られた画像を示す表示画像データを生成する画像データ
生成手段と、 前記画像データ生成手段により生成された前記表示画像
データに基づいて、当該表示画像データが示す前記画像
を表示する画像表示出力手段と、 を備えたことを特徴とする画像表示装置。 - 【請求項12】 前記画像データ生成手段は、更に前記
複数の2次元分布データに基づいて前記画像の各表示単
位領域毎に表示する色を決定し、前記画像表示出力手段
に接続されたデータ処理部を備えており、 前記データ処理部は、前記表示単位領域に表示される色
を、3成分のパラメータによって定めることを特徴とす
る請求項11記載の画像表示装置。 - 【請求項13】 請求項2、3、4、5、6、7、8、
10、11及び12のいずれかに記載の画像表示装置
と、 前記試料の同一領域から、前記複数種の特性の2次元分
布をそれぞれ示す前記複数の2次元分布データを得る計
測部と、 を備えたことを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 - 【請求項14】 前記計測部は、探針と、前記探針と前
記試料とを極近接させかつ前記探針と前記試料とを相対
的に走査する駆動部と、前記探針と前記試料との間に生
ずる相互作用から、前記試料の同一領域における前記複
数種の特性を取得し、かつ前記複数種の特性についての
2次元分布データを得る検出部を備えており、前記検出
部は、前記画像表示装置内の画像データ生成手段に接続
されていることを特徴とする請求項13記載の走査型プ
ローブ顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9281401A JPH11110532A (ja) | 1997-09-29 | 1997-09-29 | 画像表示方法及び装置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9281401A JPH11110532A (ja) | 1997-09-29 | 1997-09-29 | 画像表示方法及び装置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11110532A true JPH11110532A (ja) | 1999-04-23 |
Family
ID=17638639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9281401A Pending JPH11110532A (ja) | 1997-09-29 | 1997-09-29 | 画像表示方法及び装置、並びにこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11110532A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1061551A3 (en) * | 1999-06-14 | 2001-04-18 | Jeol Ltd. | Scanning charged-particle beam instrument and method of observing specimen image therewith |
| JP2010054420A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Shimadzu Corp | 分析装置用画像表示装置及び該装置を用いた表面分析装置 |
| US8571284B2 (en) | 2010-09-16 | 2013-10-29 | Shimadzu Corporation | Surface analyzer |
| CN109313215A (zh) * | 2016-06-24 | 2019-02-05 | 株式会社岛津制作所 | 扫描型探针显微镜用数据处理装置 |
-
1997
- 1997-09-29 JP JP9281401A patent/JPH11110532A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1061551A3 (en) * | 1999-06-14 | 2001-04-18 | Jeol Ltd. | Scanning charged-particle beam instrument and method of observing specimen image therewith |
| JP2010054420A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Shimadzu Corp | 分析装置用画像表示装置及び該装置を用いた表面分析装置 |
| US8571284B2 (en) | 2010-09-16 | 2013-10-29 | Shimadzu Corporation | Surface analyzer |
| CN109313215A (zh) * | 2016-06-24 | 2019-02-05 | 株式会社岛津制作所 | 扫描型探针显微镜用数据处理装置 |
| CN109313215B (zh) * | 2016-06-24 | 2021-06-29 | 株式会社岛津制作所 | 扫描型探针显微镜用数据处理装置 |
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