JPH11117068A - 円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方法 - Google Patents
円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方法Info
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- JPH11117068A JPH11117068A JP27703197A JP27703197A JPH11117068A JP H11117068 A JPH11117068 A JP H11117068A JP 27703197 A JP27703197 A JP 27703197A JP 27703197 A JP27703197 A JP 27703197A JP H11117068 A JPH11117068 A JP H11117068A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 円筒状部材に密着性よく硬質カーボン膜を形
成することが可能な硬質カーボン膜の被膜形成方法を提
供する。 【解決手段】 接地電位と接続する補助電極23を円筒
状部材の開口内面に挿入するように円筒状部材を真空槽
13内に配置し、真空槽13内を初期到達圧力に排気す
る処理工程と、そののち円筒状部材11に直流電圧を印
加しアノード31に直流電圧を印加しフィラメント33
に交流電圧を印加する処理工程と、しかるのちガス導入
口から炭素を含むガスを真空槽内に導入してプラズマを
発生させ、円筒状部材に硬質カーボン膜を被膜形成圧力
にて形成する処理工程とを有する。
成することが可能な硬質カーボン膜の被膜形成方法を提
供する。 【解決手段】 接地電位と接続する補助電極23を円筒
状部材の開口内面に挿入するように円筒状部材を真空槽
13内に配置し、真空槽13内を初期到達圧力に排気す
る処理工程と、そののち円筒状部材11に直流電圧を印
加しアノード31に直流電圧を印加しフィラメント33
に交流電圧を印加する処理工程と、しかるのちガス導入
口から炭素を含むガスを真空槽内に導入してプラズマを
発生させ、円筒状部材に硬質カーボン膜を被膜形成圧力
にて形成する処理工程とを有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は中心開口を有する円
筒状部材の内周面への硬質カーボン膜の形成方法にかん
し、とくに各種のブッシュや、チャックや、ピストンリ
ングや、リニアベアリングなどの円筒状部材の内周面に
形成する硬質カーボン膜の形成方法にかんする。
筒状部材の内周面への硬質カーボン膜の形成方法にかん
し、とくに各種のブッシュや、チャックや、ピストンリ
ングや、リニアベアリングなどの円筒状部材の内周面に
形成する硬質カーボン膜の形成方法にかんする。
【0002】
【従来の技術】この硬質カーボン膜は黒色状の被膜で、
ダイヤモンドによく似た性質をもつ。すなわち硬質カー
ボン膜は、機械的硬度が高く、ほかの部材と接触したと
きの摩擦係数が小さく、電気的絶縁性が高く、熱伝導率
が高く、さらに耐腐食性も高いという優れた特性を備え
ている。そのため装飾品や医療機器や磁気ヘッドや工具
になどに硬質カーボン膜を被覆することが提案されてい
る。
ダイヤモンドによく似た性質をもつ。すなわち硬質カー
ボン膜は、機械的硬度が高く、ほかの部材と接触したと
きの摩擦係数が小さく、電気的絶縁性が高く、熱伝導率
が高く、さらに耐腐食性も高いという優れた特性を備え
ている。そのため装飾品や医療機器や磁気ヘッドや工具
になどに硬質カーボン膜を被覆することが提案されてい
る。
【0003】そしてこの硬質カーボン膜は水素化アモル
ファス・カーボン膜であり、前述のようにダイヤモンド
とよく似た性質をもつため、ダイヤモンド・ライク・カ
ーボン膜(DLC)と呼ばれたり、あるいはi−カーボ
ン膜ともよばれている。
ファス・カーボン膜であり、前述のようにダイヤモンド
とよく似た性質をもつため、ダイヤモンド・ライク・カ
ーボン膜(DLC)と呼ばれたり、あるいはi−カーボ
ン膜ともよばれている。
【0004】そこで自動旋盤に装着されて棒状の被加工
物を摺動および回転可能に支持するガイドブッシュなど
の各種のブッシュや、チャックや、ピストンリングや、
リニアベアリングなどの中心開口を有する円筒状部材の
内周面に、この硬質カーボン膜を形成することによっ
て、そのほかの部材と接触する内周面の耐摩耗性を飛躍
的に高めることができる。
物を摺動および回転可能に支持するガイドブッシュなど
の各種のブッシュや、チャックや、ピストンリングや、
リニアベアリングなどの中心開口を有する円筒状部材の
内周面に、この硬質カーボン膜を形成することによっ
て、そのほかの部材と接触する内周面の耐摩耗性を飛躍
的に高めることができる。
【0005】そこでこの硬質カーボン膜を、従来技術に
おけるプラスマ化学気相成長法を用いて、円筒状部材の
内周面に硬質カーボン膜を形成する方法を、図10を用
いて説明する。図10は従来技術における硬質カーボン
膜の形成方法を説明するための断面図である。
おけるプラスマ化学気相成長法を用いて、円筒状部材の
内周面に硬質カーボン膜を形成する方法を、図10を用
いて説明する。図10は従来技術における硬質カーボン
膜の形成方法を説明するための断面図である。
【0006】図10に示すように、ガス導入口15と排
気口17とを有する真空槽13内部に、その内周面11
bに硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置す
る。そして、真空槽13の内部を、図10に図示しない
排気手段によって、その真空度が3×10-5torr以
下の圧力になるように、真空排気する。このはじめに真
空排気によって到達する圧力を、これ以降、「初期到達
圧力」と呼ぶことにする。
気口17とを有する真空槽13内部に、その内周面11
bに硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置す
る。そして、真空槽13の内部を、図10に図示しない
排気手段によって、その真空度が3×10-5torr以
下の圧力になるように、真空排気する。このはじめに真
空排気によって到達する圧力を、これ以降、「初期到達
圧力」と呼ぶことにする。
【0007】その後、ガス導入口15から炭素を含むガ
スを真空槽13内に導入して、真空槽13内部の圧力を
5×10-3torrになるように調整する。
スを真空槽13内に導入して、真空槽13内部の圧力を
5×10-3torrになるように調整する。
【0008】そしてこの円筒状部材11には、直流電源
25から直流電圧を印加する。さらに円筒状部材11に
対向するように配置するアノード31にはアノード電源
27から直流電圧を印加し、さらにフィラメント33に
はフィラメント電源29から交流電圧を印加する。この
とき直流電源25から円筒状部材11に印加する直流電
圧はマイナス3kVを印加し、さらにアノード電源27
からアノード31に印加する直流電圧はプラス50Vを
印加する。さらにフィラメント電源29からフィラメン
ト33に印加する電圧は30Aの電流が流れるように1
0Vの交流電圧を印加する。
25から直流電圧を印加する。さらに円筒状部材11に
対向するように配置するアノード31にはアノード電源
27から直流電圧を印加し、さらにフィラメント33に
はフィラメント電源29から交流電圧を印加する。この
とき直流電源25から円筒状部材11に印加する直流電
圧はマイナス3kVを印加し、さらにアノード電源27
からアノード31に印加する直流電圧はプラス50Vを
印加する。さらにフィラメント電源29からフィラメン
ト33に印加する電圧は30Aの電流が流れるように1
0Vの交流電圧を印加する。
【0009】これらによって、円筒状部材11の中心開
口11aを含む真空槽13の内部にプラズマを発生させ
て、円筒状部材11の内周面11bを含む全表面に硬質
カーボン膜を形成している。このとき真空槽13内部の
圧力は、5×10-3torrにて硬質カーボン膜を形成
しており、硬質カーボン膜を被膜形成する圧力を、これ
以降、「被膜形成圧力」と呼ぶことにする。
口11aを含む真空槽13の内部にプラズマを発生させ
て、円筒状部材11の内周面11bを含む全表面に硬質
カーボン膜を形成している。このとき真空槽13内部の
圧力は、5×10-3torrにて硬質カーボン膜を形成
しており、硬質カーボン膜を被膜形成する圧力を、これ
以降、「被膜形成圧力」と呼ぶことにする。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図10を用いて説明し
たプラスマ化学的気相成長法による硬質カーボン膜の形
成方法でにおいては、円筒状部材11の周囲領域に発生
するプラズマが主になって、炭素を含むガスを分解して
硬質カーボン膜を形成している。このため円筒状部材1
1の外周部には、硬質カーボン膜を均一性よく形成する
ことができるが、円筒状部材11の内周面に形成する硬
質カーボン膜は密着性が悪く、しかも硬度などの膜質が
劣るという問題点がある。
たプラスマ化学的気相成長法による硬質カーボン膜の形
成方法でにおいては、円筒状部材11の周囲領域に発生
するプラズマが主になって、炭素を含むガスを分解して
硬質カーボン膜を形成している。このため円筒状部材1
1の外周部には、硬質カーボン膜を均一性よく形成する
ことができるが、円筒状部材11の内周面に形成する硬
質カーボン膜は密着性が悪く、しかも硬度などの膜質が
劣るという問題点がある。
【0011】この原因は、円筒状部材11の中心開口1
1aは、同電位の電極どうしが対向している空間となっ
ているため、その中心開口11a内でのプラズマはホロ
ー放電と呼ばれる以上放電を発生するからである。
1aは、同電位の電極どうしが対向している空間となっ
ているため、その中心開口11a内でのプラズマはホロ
ー放電と呼ばれる以上放電を発生するからである。
【0012】このホロー放電によって被膜形成される硬
質カーボン膜は、ポリマーライクな密着性が悪い被膜で
あり、円筒状部材11の内周面11bから剥離しやす
く、その硬度も低い。
質カーボン膜は、ポリマーライクな密着性が悪い被膜で
あり、円筒状部材11の内周面11bから剥離しやす
く、その硬度も低い。
【0013】また、前述の硬質カーボン膜の形成方法に
おいては、被膜形成圧力である5×10-3torrに
て、円筒状部材11に直流電源25からマイナス3kV
の直流電圧を印加している。
おいては、被膜形成圧力である5×10-3torrに
て、円筒状部材11に直流電源25からマイナス3kV
の直流電圧を印加している。
【0014】このような真空槽13内の圧力が5×10
-3torr程度の状態では、真空槽13内の空間に電子
などの電荷が多い状態となり、空間インピーダンスが低
い。このためプラズマ放電が開始する瞬間に、円筒状部
材11に異常放電であるアーク放電が発生しやすい。
-3torr程度の状態では、真空槽13内の空間に電子
などの電荷が多い状態となり、空間インピーダンスが低
い。このためプラズマ放電が開始する瞬間に、円筒状部
材11に異常放電であるアーク放電が発生しやすい。
【0015】さらに、このプラズマ放電の開始時という
のは、硬質カーボン膜の被膜形成初期でもある。したが
って、この被膜形成初期に形成される膜質によって、円
筒状部材11との密着性が左右される。
のは、硬質カーボン膜の被膜形成初期でもある。したが
って、この被膜形成初期に形成される膜質によって、円
筒状部材11との密着性が左右される。
【0016】このように、プラズマ放電の最初期に、異
常放電であるアーク放電が発生すると、硬質カーボン膜
の膜質の劣化および密着性が低下し、円筒状部材11の
内周面11bから剥離するという問題が発生する。
常放電であるアーク放電が発生すると、硬質カーボン膜
の膜質の劣化および密着性が低下し、円筒状部材11の
内周面11bから剥離するという問題が発生する。
【0017】〔発明の目的〕本発明の目的は、上記課題
点を解決して、円筒状部材の内周面に密着性よく硬質カ
ーボン膜を形成することが可能な硬質カーボン膜の被膜
形成方法を提供することである。
点を解決して、円筒状部材の内周面に密着性よく硬質カ
ーボン膜を形成することが可能な硬質カーボン膜の被膜
形成方法を提供することである。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の円筒状部材への硬質カーボン膜の形成方法
においては、下記記載の手段を採用する。
に、本発明の円筒状部材への硬質カーボン膜の形成方法
においては、下記記載の手段を採用する。
【0019】本発明の円筒状部材の内周面への硬質カー
ボン膜形成方法においては、排気口およびガス導入口を
有し、内部にアノードとフィラメントを設ける真空槽内
に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口内に
接地電位と接続する補助電極を挿入するように配置する
第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真空度以下
の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その後、円筒
状部材に直流電圧を印加するとともに、アノードに直流
電圧を印加し、フィラメントに交流電圧を印加する第3
の工程と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガ
スを真空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部
材の内周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内
の圧力を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるよう
に制御する第4の工程とを有することを特徴とする。
ボン膜形成方法においては、排気口およびガス導入口を
有し、内部にアノードとフィラメントを設ける真空槽内
に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口内に
接地電位と接続する補助電極を挿入するように配置する
第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真空度以下
の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その後、円筒
状部材に直流電圧を印加するとともに、アノードに直流
電圧を印加し、フィラメントに交流電圧を印加する第3
の工程と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガ
スを真空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部
材の内周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内
の圧力を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるよう
に制御する第4の工程とを有することを特徴とする。
【0020】本発明の円筒状部材の内周面への硬質カー
ボン膜形成方法では、排気口およびガス導入口を有する
真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心
開口内に接地電位と接続する補助電極を挿入するように
配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真
空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その
後、円筒状部材に高周波電力を印加する第3の工程と、
さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
の内部に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内
周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力
を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御
する第4の工程とを有することを特徴とする。
ボン膜形成方法では、排気口およびガス導入口を有する
真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心
開口内に接地電位と接続する補助電極を挿入するように
配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真
空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その
後、円筒状部材に高周波電力を印加する第3の工程と、
さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
の内部に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内
周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力
を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御
する第4の工程とを有することを特徴とする。
【0021】本発明の円筒状部材の内周面への硬質カー
ボン膜形成方法では、排気口およびガス導入口を有する
真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心
開口内に接地電位と接続する補助電極を挿入するように
配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真
空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その
後、円筒状部材に直流電圧を印加する第3の工程と、さ
らにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽内
に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面に
硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初期
到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する第
4の工程とを有することを特徴とする。
ボン膜形成方法では、排気口およびガス導入口を有する
真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心
開口内に接地電位と接続する補助電極を挿入するように
配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真
空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その
後、円筒状部材に直流電圧を印加する第3の工程と、さ
らにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽内
に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面に
硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初期
到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する第
4の工程とを有することを特徴とする。
【0022】本発明の円筒状部材の内周面への硬質カー
ボン膜形成方法においては、排気口およびガス導入口を
有し、内部にアノードとフィラメントを設ける真空槽内
に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口内に
直流正電圧と接続する補助電極を挿入するように配置す
る第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真空度以
下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その後、円
筒状部材に直流電圧を印加するとともに、アノードに直
流電圧を印加し、フィラメントに交流電圧を印加する第
3の工程と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含む
ガスを真空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状
部材の内周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽
内の圧力を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるよ
うに制御する第4の工程とを有することを特徴とする。
ボン膜形成方法においては、排気口およびガス導入口を
有し、内部にアノードとフィラメントを設ける真空槽内
に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口内に
直流正電圧と接続する補助電極を挿入するように配置す
る第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の真空度以
下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、その後、円
筒状部材に直流電圧を印加するとともに、アノードに直
流電圧を印加し、フィラメントに交流電圧を印加する第
3の工程と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含む
ガスを真空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状
部材の内周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽
内の圧力を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるよ
うに制御する第4の工程とを有することを特徴とする。
【0023】本発明の円筒状部材の内周面への硬質カー
ボン膜形成方法では、排気口およびガス導入口を有する
真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心
開口内に直流正電圧と接続する補助電極を挿入するよう
に配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の
真空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、そ
の後、円筒状部材に高周波電力を印加する第3の工程
と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真
空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内
周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力
を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御
する第4の工程とを有することを特徴とする。
ボン膜形成方法では、排気口およびガス導入口を有する
真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心
開口内に直流正電圧と接続する補助電極を挿入するよう
に配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を所定の
真空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程と、そ
の後、円筒状部材に高周波電力を印加する第3の工程
と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真
空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内
周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力
を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御
する第4の工程とを有することを特徴とする。
【0024】本発明の円筒状部材の内周面への硬質カー
ボン膜形成方法においては、排気口およびガス導入口を
有する真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材
の中心開口内に直流正電圧と接続する補助電極を挿入す
るように配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を
所定の真空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程
と、その後、円筒状部材に直流電圧を印加する第3の工
程と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを
真空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の
内周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧
力を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制
御する第4の工程とを有することを特徴とする。
ボン膜形成方法においては、排気口およびガス導入口を
有する真空槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材
の中心開口内に直流正電圧と接続する補助電極を挿入す
るように配置する第1の工程と、そののち、真空槽内を
所定の真空度以下の初期到達圧力に排気する第2の工程
と、その後、円筒状部材に直流電圧を印加する第3の工
程と、さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを
真空槽内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の
内周面に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧
力を初期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制
御する第4の工程とを有することを特徴とする。
【0025】〔作用〕本発明の円筒状部材への硬質カー
ボン膜の形成方法においては、炭素を含むガスを真空槽
内部に導入するまえに、円筒状部材に直流負電圧または
高周波電力を印加する手段を採用する。このような手段
においては、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放
電が開始する。
ボン膜の形成方法においては、炭素を含むガスを真空槽
内部に導入するまえに、円筒状部材に直流負電圧または
高周波電力を印加する手段を採用する。このような手段
においては、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放
電が開始する。
【0026】すなわちプラズマ放電開始が被膜形成圧力
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜の被膜形成初期には、異常放
電であるアーク放電は発生しない。したがって、プラズ
マ放電の最初期の膜質を左右するときに、円筒状部材で
異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カーボン膜
の密着性の低下は発生しない。このために本発明の硬質
カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が円
筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜の被膜形成初期には、異常放
電であるアーク放電は発生しない。したがって、プラズ
マ放電の最初期の膜質を左右するときに、円筒状部材で
異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カーボン膜
の密着性の低下は発生しない。このために本発明の硬質
カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が円
筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
【0027】さらに本発明の円筒状部材への硬質カーボ
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面の開
口の中央部に、接地電位に接続する補助電極を配置して
硬質カーボン膜を形成する。そして円筒状部材には、負
の直流電圧あるいは高周波電圧を印加する。
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面の開
口の中央部に、接地電位に接続する補助電極を配置して
硬質カーボン膜を形成する。そして円筒状部材には、負
の直流電圧あるいは高周波電圧を印加する。
【0028】その結果、同電位の電極どうしが対向して
いる円筒状部材開口内面に、接地電位に接続する補助電
極を設けることとなり、同電位どうしが対向することが
なくなる。このような電位状態は、プラスマ化学的気相
成長法にとって最も望ましい状態であり、異常放電であ
るホロー放電は発生しない。そのため、密着性の良好な
硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することができる。
いる円筒状部材開口内面に、接地電位に接続する補助電
極を設けることとなり、同電位どうしが対向することが
なくなる。このような電位状態は、プラスマ化学的気相
成長法にとって最も望ましい状態であり、異常放電であ
るホロー放電は発生しない。そのため、密着性の良好な
硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することができる。
【0029】そのうえ本発明の円筒状部材への硬質カー
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
の開口内面に補助電極を配置しており、円筒状部材の長
手方向の開口内面で、電位特性が均一になる。この結
果、円筒状部材の開口内面に形成する硬質カーボン膜の
膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一な
膜厚を形成することができるという効果ももつ。
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
の開口内面に補助電極を配置しており、円筒状部材の長
手方向の開口内面で、電位特性が均一になる。この結
果、円筒状部材の開口内面に形成する硬質カーボン膜の
膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一な
膜厚を形成することができるという効果ももつ。
【0030】さらに本発明の円筒状部材への硬質カーボ
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面に配
置する補助電極に直流の正電圧を印加して硬質カーボン
膜を形成する手段を採用する。このように直流正電圧を
補助電極に印加すると、補助電極の周囲領域に電子を集
める効果を生じ、補助電極の周囲領域は電子密度が高く
なる。
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面に配
置する補助電極に直流の正電圧を印加して硬質カーボン
膜を形成する手段を採用する。このように直流正電圧を
補助電極に印加すると、補助電極の周囲領域に電子を集
める効果を生じ、補助電極の周囲領域は電子密度が高く
なる。
【0031】このように電子密度が高くなると、必然的
に炭素を含むガスと電子との衝突確率が増えて、ガス分
子のイオン化が促進されて、その補助電極の周囲領域の
プラズマ密度が高くなる。このため硬質カーボン膜の被
膜形成速度は補助電極に直流正電圧を印加しないときと
較べて高くなる。
に炭素を含むガスと電子との衝突確率が増えて、ガス分
子のイオン化が促進されて、その補助電極の周囲領域の
プラズマ密度が高くなる。このため硬質カーボン膜の被
膜形成速度は補助電極に直流正電圧を印加しないときと
較べて高くなる。
【0032】さらに円筒状部材の開口寸法が小さくな
り、開口内面と補助電極との隙間寸法が小さくなると、
補助電極に直流の正電圧を印加しないで硬質カーボン膜
を形成すると、円筒状部材の開口内面にプラズマが発生
せず、硬質カーボン膜が形成できない。
り、開口内面と補助電極との隙間寸法が小さくなると、
補助電極に直流の正電圧を印加しないで硬質カーボン膜
を形成すると、円筒状部材の開口内面にプラズマが発生
せず、硬質カーボン膜が形成できない。
【0033】これにたいして補助電極に直流正電圧を印
加して硬質カーボン膜を形成する本発明では、開口内面
に配置する補助電極に直流電源から正電圧を印加して電
子を強制的に補助電極の周囲領域に集めることができ、
補助電極周囲にプラズマを発生させることができる。し
たがって直流正電圧を印加しないで硬質カーボン膜を形
成できない開口寸法が小さな円筒状部材にも、本発明の
形成方法を適用すれば、硬質カーボン膜を形成すること
ができる。
加して硬質カーボン膜を形成する本発明では、開口内面
に配置する補助電極に直流電源から正電圧を印加して電
子を強制的に補助電極の周囲領域に集めることができ、
補助電極周囲にプラズマを発生させることができる。し
たがって直流正電圧を印加しないで硬質カーボン膜を形
成できない開口寸法が小さな円筒状部材にも、本発明の
形成方法を適用すれば、硬質カーボン膜を形成すること
ができる。
【0034】そのうえさらに円筒状部材内周面に形成す
る硬質カーボン膜は、黒色状の被膜であり、ダイヤモン
ドによく似た性質をもつ。すなわち硬質カーボン膜は、
高い機械的硬度や低い摩擦係数や良好な電気的絶縁性や
高い熱伝導率や高い耐腐食性という優れた特性をもつ。
このため本発明の円筒状部材は、ほかの部材と接触する
内周面の摩耗を抑えることができ、キズの発生を抑える
ことが可能となる。
る硬質カーボン膜は、黒色状の被膜であり、ダイヤモン
ドによく似た性質をもつ。すなわち硬質カーボン膜は、
高い機械的硬度や低い摩擦係数や良好な電気的絶縁性や
高い熱伝導率や高い耐腐食性という優れた特性をもつ。
このため本発明の円筒状部材は、ほかの部材と接触する
内周面の摩耗を抑えることができ、キズの発生を抑える
ことが可能となる。
【0035】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明を実施
するための最良の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の被膜形成方法を説明する。
するための最良の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の被膜形成方法を説明する。
【0036】〔第1の実施形態:図1および図7〕円筒
状部材11内周面への硬質カーボン膜の形成方法におけ
る第1の実施形態を、図1および図7を用いて説明す
る。図1は本発明の実施形態における円筒状部材への硬
質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図7は本
発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間との関
係を示すグラフである。以下、図1と図7とを交互に参
照して説明する。
状部材11内周面への硬質カーボン膜の形成方法におけ
る第1の実施形態を、図1および図7を用いて説明す
る。図1は本発明の実施形態における円筒状部材への硬
質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図7は本
発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間との関
係を示すグラフである。以下、図1と図7とを交互に参
照して説明する。
【0037】図1に示すように、ガス導入口15と排気
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、接地
電位に接続する補助電極23を挿入するように設ける。
このとき補助電極23は円筒状部材11の開口中央部に
なるように配置する。
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、接地
電位に接続する補助電極23を挿入するように設ける。
このとき補助電極23は円筒状部材11の開口中央部に
なるように配置する。
【0038】そののち、図7に示すように、真空槽13
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図1に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図1に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
【0039】その後、円筒状部材11には直流電源25
から直流電圧を印加し、さらにアノード31にはアノー
ド電源27から直流電圧を印加し、さらにフィラメント
33にはフィラメント電源29から交流電圧を印加す
る。このとき、直流電源25から円筒状部材11に印加
する直流電圧はマイナス3kVを印加し、さらにアノー
ド電源27からアノード31に印加する直流電圧はプラ
ス50Vを印加する。さらにフィラメント電源29から
フィラメント33に印加する電圧は30Aの電流が流れ
るように10Vの交流電圧を印加する。
から直流電圧を印加し、さらにアノード31にはアノー
ド電源27から直流電圧を印加し、さらにフィラメント
33にはフィラメント電源29から交流電圧を印加す
る。このとき、直流電源25から円筒状部材11に印加
する直流電圧はマイナス3kVを印加し、さらにアノー
ド電源27からアノード31に印加する直流電圧はプラ
ス50Vを印加する。さらにフィラメント電源29から
フィラメント33に印加する電圧は30Aの電流が流れ
るように10Vの交流電圧を印加する。
【0040】その後、ガス導入口15から炭素を含むガ
スとしてベンゼン(C6 H6 )を真空槽13内に導入し
て、真空槽13内の圧力を5×10-3torrの被膜形
成圧力になるように制御する。すると真空槽13内の円
筒状部材11の周囲領域に、5×10-3torrの被膜
形成圧力より低い圧力の1×10-3torrにてプラズ
マ放電が開始した。そして、円筒状部材11の内周面1
1bと補助電極23とのあいだに形成されるプラズマの
作用を利用するプラズマ化学的気相成長法により、硬質
カーボン膜15を円筒状部材11に形成している。
スとしてベンゼン(C6 H6 )を真空槽13内に導入し
て、真空槽13内の圧力を5×10-3torrの被膜形
成圧力になるように制御する。すると真空槽13内の円
筒状部材11の周囲領域に、5×10-3torrの被膜
形成圧力より低い圧力の1×10-3torrにてプラズ
マ放電が開始した。そして、円筒状部材11の内周面1
1bと補助電極23とのあいだに形成されるプラズマの
作用を利用するプラズマ化学的気相成長法により、硬質
カーボン膜15を円筒状部材11に形成している。
【0041】このように本発明の円筒状部材への硬質カ
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。
【0042】このような手段においては、被膜形成圧力
よりも低い圧力でプラズマ放電が開始する。すなわちプ
ラズマ放電開始が被膜形成圧力より空間インピーダンス
の高い状態であるので、異常放電であるアーク放電は発
生しない。このようにプラズマ放電開始の硬質カーボン
膜15の被膜形成初期には、異常放電であるアーク放電
は発生しない。したがって、プラズマ放電の最初期の膜
質を左右するときに、異常放電であるアーク放電が円筒
状部材で発生せず、硬質カーボン膜の密着性の低下は発
生しない。このため本発明の硬質カーボン膜の形成方法
においては、硬質カーボン膜が円筒状部材から剥離する
という現象は発生しない。
よりも低い圧力でプラズマ放電が開始する。すなわちプ
ラズマ放電開始が被膜形成圧力より空間インピーダンス
の高い状態であるので、異常放電であるアーク放電は発
生しない。このようにプラズマ放電開始の硬質カーボン
膜15の被膜形成初期には、異常放電であるアーク放電
は発生しない。したがって、プラズマ放電の最初期の膜
質を左右するときに、異常放電であるアーク放電が円筒
状部材で発生せず、硬質カーボン膜の密着性の低下は発
生しない。このため本発明の硬質カーボン膜の形成方法
においては、硬質カーボン膜が円筒状部材から剥離する
という現象は発生しない。
【0043】さらに本発明の円筒状部材への硬質カーボ
ン膜の形成方法においては、円筒状部材11の開口中心
11aに、接地電位に接続する補助電極23を配置して
硬質カーボン膜15を形成している。そして円筒状部材
11には、負の直流電圧を印加する。その結果、同電位
の電極どうしが対向している円筒状部材11開口内面
に、接地電位に接続する補助電極23を設けることとな
り、同電位どうしが対向することがなくなる。このよう
な電位状態は、プラスマ化学的気相成長法にとって最も
望ましい状態であり、異常放電であるホロー放電は発生
しない。そのため、密着性の良好な硬質カーボン膜を円
筒状部材に形成することができる。
ン膜の形成方法においては、円筒状部材11の開口中心
11aに、接地電位に接続する補助電極23を配置して
硬質カーボン膜15を形成している。そして円筒状部材
11には、負の直流電圧を印加する。その結果、同電位
の電極どうしが対向している円筒状部材11開口内面
に、接地電位に接続する補助電極23を設けることとな
り、同電位どうしが対向することがなくなる。このよう
な電位状態は、プラスマ化学的気相成長法にとって最も
望ましい状態であり、異常放電であるホロー放電は発生
しない。そのため、密着性の良好な硬質カーボン膜を円
筒状部材に形成することができる。
【0044】そのうえ本発明の円筒状部材への硬質カー
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
11の開口中心11aに補助電極23を配置しており、
円筒状部材11の長手方向の開口内面で、電位特性が均
一になる。この結果、円筒状部材11の開口内面に形成
する硬質カーボン膜15の膜厚分布の発生がなく、開口
端面と開口奥側とで均一な膜厚を形成することができる
という効果ももつ。
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
11の開口中心11aに補助電極23を配置しており、
円筒状部材11の長手方向の開口内面で、電位特性が均
一になる。この結果、円筒状部材11の開口内面に形成
する硬質カーボン膜15の膜厚分布の発生がなく、開口
端面と開口奥側とで均一な膜厚を形成することができる
という効果ももつ。
【0045】この補助電極23は、円筒状部材11内周
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径寸法と円筒状部材11の
内周面11bの径寸法との寸法比を、1/10以下にす
ることが望ましく、補助電極23を細くする場合は線状
にすることもできる。そしてこの補助電極23は、ステ
ンレス(SUS)のような金属材料やタングステン
(W)またはタンタル(Ta)のような高融点の金属材
料で作成する。
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径寸法と円筒状部材11の
内周面11bの径寸法との寸法比を、1/10以下にす
ることが望ましく、補助電極23を細くする場合は線状
にすることもできる。そしてこの補助電極23は、ステ
ンレス(SUS)のような金属材料やタングステン
(W)またはタンタル(Ta)のような高融点の金属材
料で作成する。
【0046】さらにこの補助電極23の断面形状は円形
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
【0047】〔第2の実施形態:図2および図8〕つぎ
にこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜の形成方
法における第2の実施形態を、図2および図8を用いて
説明する。図2は本発明の実施形態における円筒状部材
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図
8は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間
との関係を示すグラフである。以下、図2と図8とを交
互に参照して説明する。
にこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜の形成方
法における第2の実施形態を、図2および図8を用いて
説明する。図2は本発明の実施形態における円筒状部材
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図
8は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間
との関係を示すグラフである。以下、図2と図8とを交
互に参照して説明する。
【0048】図2に示すように、ガス導入口15と排気
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、接地
電位に接続する補助電極23を挿入するように設ける。
このとき補助電極23は円筒状部材11の開口中央部に
なるように配置する。
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、接地
電位に接続する補助電極23を挿入するように設ける。
このとき補助電極23は円筒状部材11の開口中央部に
なるように配置する。
【0049】そののち、図8に示すように、真空槽13
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図2に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図2に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
【0050】その後、この円筒状部材11には、マッチ
ング回路19を介して、発振周波数が13.56MHz
を有する高周波電源21から400Wの高周波電力を印
加する。
ング回路19を介して、発振周波数が13.56MHz
を有する高周波電源21から400Wの高周波電力を印
加する。
【0051】しかるのち、ガス導入口15から炭素を含
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマの作用を利用するプラズマ化学
的気相成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材
11に形成している。
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマの作用を利用するプラズマ化学
的気相成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材
11に形成している。
【0052】このように本発明の円筒状部材への硬質カ
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に高周波電力を
印加する手段を採用している。
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に高周波電力を
印加する手段を採用している。
【0053】このような被膜形成手段においては、被膜
形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始する。す
なわちプラズマ放電開始が被膜形成圧力より空間インピ
ーダンスの高い状態であるので、異常放電であるアーク
放電は発生しない。このようにプラズマ放電開始の硬質
カーボン膜15の被膜形成初期には、異常放電であるア
ーク放電は発生しない。したがってプラズマ放電の最初
期の膜質を左右するときに、円筒状部材に異常放電であ
るアーク放電が発生せず、硬質カーボン膜の密着性の低
下は発生しない。このため本発明の硬質カーボン膜の形
成方法においては、硬質カーボン膜が円筒状部材11か
ら剥離するという現象は発生しない。
形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始する。す
なわちプラズマ放電開始が被膜形成圧力より空間インピ
ーダンスの高い状態であるので、異常放電であるアーク
放電は発生しない。このようにプラズマ放電開始の硬質
カーボン膜15の被膜形成初期には、異常放電であるア
ーク放電は発生しない。したがってプラズマ放電の最初
期の膜質を左右するときに、円筒状部材に異常放電であ
るアーク放電が発生せず、硬質カーボン膜の密着性の低
下は発生しない。このため本発明の硬質カーボン膜の形
成方法においては、硬質カーボン膜が円筒状部材11か
ら剥離するという現象は発生しない。
【0054】さらに本発明の円筒状部材への硬質カーボ
ン膜の形成方法においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に、接地電位に接続する補助電極23を配置し
て硬質カーボン膜15を形成している。そして円筒状部
材11には、高周波電力を印加する。
ン膜の形成方法においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に、接地電位に接続する補助電極23を配置し
て硬質カーボン膜15を形成している。そして円筒状部
材11には、高周波電力を印加する。
【0055】その結果、同電位の電極どうしが対向して
いる円筒状部材11開口内面に、接地電位に接続する補
助電極23を設けることとなり、同電位どうしが対向す
ることがなくなる。このような電位状態は、プラスマ化
学的気相成長法にとって最も望ましい状態であり、異常
放電であるホロー放電は発生しない。そのため、密着性
の良好な硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することが
できる。
いる円筒状部材11開口内面に、接地電位に接続する補
助電極23を設けることとなり、同電位どうしが対向す
ることがなくなる。このような電位状態は、プラスマ化
学的気相成長法にとって最も望ましい状態であり、異常
放電であるホロー放電は発生しない。そのため、密着性
の良好な硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することが
できる。
【0056】そのうえ本発明の円筒状部材への硬質カー
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
11の開口中心11aに補助電極23を配置しており、
円筒状部材11の長手方向の開口内面で、電位特性が均
一になる。この結果、円筒状部材11の開口内面に形成
する硬質カーボン膜15の膜厚分布の発生がなく、開口
端面と開口奥側とで均一な膜厚を形成することができる
という効果ももつ。
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
11の開口中心11aに補助電極23を配置しており、
円筒状部材11の長手方向の開口内面で、電位特性が均
一になる。この結果、円筒状部材11の開口内面に形成
する硬質カーボン膜15の膜厚分布の発生がなく、開口
端面と開口奥側とで均一な膜厚を形成することができる
という効果ももつ。
【0057】この補助電極23は、円筒状部材11内周
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径寸法と円筒状部材11の
内周面11bの径寸法との寸法比を、1/10以下にす
ることが望ましく、補助電極23を細くする場合は線状
にすることもできる。そしてこの補助電極23は、ステ
ンレス(SUS)のような金属材料やタングステン
(W)またはタンタル(Ta)のような高融点の金属材
料で作成する。
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径寸法と円筒状部材11の
内周面11bの径寸法との寸法比を、1/10以下にす
ることが望ましく、補助電極23を細くする場合は線状
にすることもできる。そしてこの補助電極23は、ステ
ンレス(SUS)のような金属材料やタングステン
(W)またはタンタル(Ta)のような高融点の金属材
料で作成する。
【0058】さらにこの補助電極23の断面形状は円形
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
【0059】〔第3の実施形態:図3および図8〕つぎ
にこの円筒状部材11内周面への硬質カーボン膜の形成
方法における第3の実施形態を、図3および図8を用い
て説明する。図3は本発明の実施形態における円筒状部
材への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、
図8は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時
間との関係を示すグラフである。以下、図3と図8とを
交互に参照して説明する。
にこの円筒状部材11内周面への硬質カーボン膜の形成
方法における第3の実施形態を、図3および図8を用い
て説明する。図3は本発明の実施形態における円筒状部
材への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、
図8は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時
間との関係を示すグラフである。以下、図3と図8とを
交互に参照して説明する。
【0060】図3に示すように、ガス導入口15と排気
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、接地
電位に接続する補助電極23を挿入するように設ける。
このとき補助電極23は円筒状部材11の開口中央部に
なるように配置する。
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、接地
電位に接続する補助電極23を挿入するように設ける。
このとき補助電極23は円筒状部材11の開口中央部に
なるように配置する。
【0061】そののち、図8に示すように、真空槽13
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図3に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図3に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
【0062】その後、この円筒状部材11には、直流電
源25からマイナス600Vの直流電圧を印加する。
源25からマイナス600Vの直流電圧を印加する。
【0063】しかるのち、ガス導入口15から炭素を含
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマを利用するプラズマ化学的気相
成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材11に
形成している。
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマを利用するプラズマ化学的気相
成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材11に
形成している。
【0064】このように本発明の円筒状部材への硬質カ
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
【0065】すなわちプラズマ放電開始が被膜形成圧力
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、異
常放電であるアーク放電は発生しない。したがって、プ
ラズマ放電の最初期の膜質を左右するときに、異常放電
であるアーク放電が円筒状部材で発生せず、硬質カーボ
ン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の硬
質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が
円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、異
常放電であるアーク放電は発生しない。したがって、プ
ラズマ放電の最初期の膜質を左右するときに、異常放電
であるアーク放電が円筒状部材で発生せず、硬質カーボ
ン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の硬
質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が
円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
【0066】さらに本発明の円筒状部材への硬質カーボ
ン膜の形成方法においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に、接地電位に接続する補助電極23を配置し
て硬質カーボン膜15を形成している。そして円筒状部
材11には、負の直流電圧を印加する。
ン膜の形成方法においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に、接地電位に接続する補助電極23を配置し
て硬質カーボン膜15を形成している。そして円筒状部
材11には、負の直流電圧を印加する。
【0067】その結果、同電位の電極どうしが対向して
いる円筒状部材11開口内面に、接地電位に接続する補
助電極23を設けることとなり、同電位どうしが対向す
ることがなくなる。このような電位状態は、プラスマ化
学的気相成長法にとって最も望ましい状態であり、異常
放電であるホロー放電は発生しない。そのため、密着性
の良好な硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することが
できる。
いる円筒状部材11開口内面に、接地電位に接続する補
助電極23を設けることとなり、同電位どうしが対向す
ることがなくなる。このような電位状態は、プラスマ化
学的気相成長法にとって最も望ましい状態であり、異常
放電であるホロー放電は発生しない。そのため、密着性
の良好な硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することが
できる。
【0068】そのうえ本発明の円筒状部材への硬質カー
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
11の開口中心11aに補助電極23を配置しており、
円筒状部材11の長手方向の開口内面で、電位特性が均
一になる。この結果、円筒状部材11の開口内面に形成
する硬質カーボン膜15の膜厚分布の発生がなく、開口
端面と開口奥側とで均一な膜厚を形成することができる
という効果ももつ。
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
11の開口中心11aに補助電極23を配置しており、
円筒状部材11の長手方向の開口内面で、電位特性が均
一になる。この結果、円筒状部材11の開口内面に形成
する硬質カーボン膜15の膜厚分布の発生がなく、開口
端面と開口奥側とで均一な膜厚を形成することができる
という効果ももつ。
【0069】この補助電極23は、円筒状部材11内周
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径寸法と円筒状部材11の
内周面11bの径寸法との寸法比を、1/10以下にす
ることが望ましく、補助電極23を細くする場合は線状
にすることもできる。そしてこの補助電極23は、ステ
ンレス(SUS)のような金属材料やタングステン
(W)またはタンタル(Ta)のような高融点の金属材
料で作成する。
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径寸法と円筒状部材11の
内周面11bの径寸法との寸法比を、1/10以下にす
ることが望ましく、補助電極23を細くする場合は線状
にすることもできる。そしてこの補助電極23は、ステ
ンレス(SUS)のような金属材料やタングステン
(W)またはタンタル(Ta)のような高融点の金属材
料で作成する。
【0070】さらにこの補助電極23の断面形状は円形
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
【0071】〔第4の実施形態:図4、図7および図
9〕つぎにこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜
の形成方法における第4の実施形態を、図面を用いて説
明する。図4は本発明の実施形態における円筒状部材へ
の硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図7
は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間と
の関係を示すグラフであり、図9は補助電極に印加する
直流正電圧と円筒状部材開口内面に形成する硬質カーボ
ン膜厚との関係を示すグラフである。以下、図4と図7
と図9とを交互に参照して説明する。
9〕つぎにこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜
の形成方法における第4の実施形態を、図面を用いて説
明する。図4は本発明の実施形態における円筒状部材へ
の硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図7
は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間と
の関係を示すグラフであり、図9は補助電極に印加する
直流正電圧と円筒状部材開口内面に形成する硬質カーボ
ン膜厚との関係を示すグラフである。以下、図4と図7
と図9とを交互に参照して説明する。
【0072】図4に示すように、ガス導入口15と排気
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口内面には、補助電極電
源35から直流正電圧に接続する補助電極23を挿入す
るように設ける。このとき補助電極23は円筒状部材1
1の開口中央部になるように配置する。
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口内面には、補助電極電
源35から直流正電圧に接続する補助電極23を挿入す
るように設ける。このとき補助電極23は円筒状部材1
1の開口中央部になるように配置する。
【0073】そののち、図7に示すように、真空槽13
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図4に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図4に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
【0074】その後、円筒状部材11には直流電源25
から直流電圧を印加し、さらにアノード31にはアノー
ド電源27から直流電圧を印加し、さらにフィラメント
33にはフィラメント電源29から交流電圧を印加し、
補助電極23には補助電極電源35から直流正電圧を印
加する。このとき直流電源25から円筒状部材11に印
加する直流電圧はマイナス3kVを印加し、さらにアノ
ード電源27からアノード31に印加する直流電圧はプ
ラス50Vを印加する。さらにフィラメント電源29か
らフィラメント33に印加する電圧は30Aの電流が流
れるように10Vの交流電圧を印加する。さらにまた、
補助電極23にはプラス20Vの直流電圧を印加する。
から直流電圧を印加し、さらにアノード31にはアノー
ド電源27から直流電圧を印加し、さらにフィラメント
33にはフィラメント電源29から交流電圧を印加し、
補助電極23には補助電極電源35から直流正電圧を印
加する。このとき直流電源25から円筒状部材11に印
加する直流電圧はマイナス3kVを印加し、さらにアノ
ード電源27からアノード31に印加する直流電圧はプ
ラス50Vを印加する。さらにフィラメント電源29か
らフィラメント33に印加する電圧は30Aの電流が流
れるように10Vの交流電圧を印加する。さらにまた、
補助電極23にはプラス20Vの直流電圧を印加する。
【0075】その後、ガス導入口15から炭素を含むガ
スとしてベンゼン(C6 H6 )を真空槽13内に導入し
て、真空槽13内の圧力を5×10-3torrの被膜形
成圧力になるように制御する。すると真空槽13内の円
筒状部材11の周囲領域に、5×10-3torrの被膜
形成圧力より低い圧力の1×10-3torrにてプラズ
マ放電が開始した。そして、円筒状部材11の内周面1
1bと補助電極23とのあいだに形成されるプラズマを
利用するプラズマ化学的気相成長法により、硬質カーボ
ン膜15を円筒状部材11に形成している。
スとしてベンゼン(C6 H6 )を真空槽13内に導入し
て、真空槽13内の圧力を5×10-3torrの被膜形
成圧力になるように制御する。すると真空槽13内の円
筒状部材11の周囲領域に、5×10-3torrの被膜
形成圧力より低い圧力の1×10-3torrにてプラズ
マ放電が開始した。そして、円筒状部材11の内周面1
1bと補助電極23とのあいだに形成されるプラズマを
利用するプラズマ化学的気相成長法により、硬質カーボ
ン膜15を円筒状部材11に形成している。
【0076】このように本発明の円筒状部材への硬質カ
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
【0077】すなわちプラズマ放電開始が被膜形成圧力
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、異
常放電であるアーク放電は発生しない。したがって、プ
ラズマ放電の最初期の膜質を左右するときに、異常放電
であるアーク放電が円筒状部材に発生せず、硬質カーボ
ン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の硬
質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が
円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、異
常放電であるアーク放電は発生しない。したがって、プ
ラズマ放電の最初期の膜質を左右するときに、異常放電
であるアーク放電が円筒状部材に発生せず、硬質カーボ
ン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の硬
質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が
円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
【0078】このときの補助電極電源35を用いて補助
電極23に印加する直流正電圧と、円筒状部材11の内
周面11bに形成する硬質カーボン膜厚との関係を、図
9のグラフに示す。図9のグラフでは、補助電極23に
印加する直流の正電圧をゼロVから30Vまで変化さ
せ、さらに円筒状部材の内周面11bと補助電極23と
の間の隙間寸法が3mmと5mmのときの硬質カーボン
膜の膜厚を示す。なお曲線37が円筒状部材11の開口
内面と補助電極23との間の隙間が3mmのときの特性
を示し、曲線39が円筒状部材11の開口内面と補助電
極23との間の隙間が5mmのときの特性を示す。
電極23に印加する直流正電圧と、円筒状部材11の内
周面11bに形成する硬質カーボン膜厚との関係を、図
9のグラフに示す。図9のグラフでは、補助電極23に
印加する直流の正電圧をゼロVから30Vまで変化さ
せ、さらに円筒状部材の内周面11bと補助電極23と
の間の隙間寸法が3mmと5mmのときの硬質カーボン
膜の膜厚を示す。なお曲線37が円筒状部材11の開口
内面と補助電極23との間の隙間が3mmのときの特性
を示し、曲線39が円筒状部材11の開口内面と補助電
極23との間の隙間が5mmのときの特性を示す。
【0079】図9の曲線37、39に示すように、補助
電極電源35から補助電極23に印加する直流正電圧を
増加させると、硬質カーボン膜の膜形成速度は向上す
る。さらにまた円筒状部材11の内周面11bと補助電
極23との間の隙間寸法が大きいほど、硬質カーボン膜
の膜形成速度は向上している。そして曲線37、すなわ
ち円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間の隙
間寸法が3mmのときは、補助電極23に印加する電位
がゼロVの接地電圧では、円筒状部材11内周面11b
にはプラズマが発生せず、硬質カーボン膜は形成できな
い。
電極電源35から補助電極23に印加する直流正電圧を
増加させると、硬質カーボン膜の膜形成速度は向上す
る。さらにまた円筒状部材11の内周面11bと補助電
極23との間の隙間寸法が大きいほど、硬質カーボン膜
の膜形成速度は向上している。そして曲線37、すなわ
ち円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間の隙
間寸法が3mmのときは、補助電極23に印加する電位
がゼロVの接地電圧では、円筒状部材11内周面11b
にはプラズマが発生せず、硬質カーボン膜は形成できな
い。
【0080】しかしながら、円筒状部材11の内周面1
1bと補助電極23との間の隙間が3mmのときでも、
補助電極23に印加する補助電極電源35からの直流正
電圧を高くしていくと、補助電極23周囲の開口内面に
プラズマが発生し、硬質カーボン膜を形成することがで
きる。
1bと補助電極23との間の隙間が3mmのときでも、
補助電極23に印加する補助電極電源35からの直流正
電圧を高くしていくと、補助電極23周囲の開口内面に
プラズマが発生し、硬質カーボン膜を形成することがで
きる。
【0081】この図4に示す硬質カーボン膜の被膜形成
方法では、前述のように、円筒状部材11の開口中心1
1aに挿入するように配置し、しかも直流の正電圧を印
加する補助電極23によって、円筒状部材11の内周面
11bに硬質カーボン膜を形成している。この円筒状部
材11の開口内面に挿入するように配置し、直流正電圧
に接続する補助電極23により、その開口内面において
は同電位どうしが対向することがなくなる。したがって
異常放電であるホロー放電の発生はなく、硬質カーボン
膜の密着性が向上する。
方法では、前述のように、円筒状部材11の開口中心1
1aに挿入するように配置し、しかも直流の正電圧を印
加する補助電極23によって、円筒状部材11の内周面
11bに硬質カーボン膜を形成している。この円筒状部
材11の開口内面に挿入するように配置し、直流正電圧
に接続する補助電極23により、その開口内面において
は同電位どうしが対向することがなくなる。したがって
異常放電であるホロー放電の発生はなく、硬質カーボン
膜の密着性が向上する。
【0082】さらに、開口内に配置する補助電極23に
よって円筒状部材11の長手方向の開口内面で、その電
位特性が均一になり、開口内面に形成する硬質カーボン
膜の膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均
一な膜厚を形成することができる。
よって円筒状部材11の長手方向の開口内面で、その電
位特性が均一になり、開口内面に形成する硬質カーボン
膜の膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均
一な膜厚を形成することができる。
【0083】さらにまた本発明の硬質カーボン膜の形成
方法の実施形態においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に設ける補助電極23に、補助電極電源35か
らの直流の正電圧を印加して硬質カーボン膜を形成して
いる。このため直流正電圧を印加する補助電極23の周
囲領域に電子を集める効果が生じ、この補助電極23の
周囲領域は電子密度が高くなる。
方法の実施形態においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に設ける補助電極23に、補助電極電源35か
らの直流の正電圧を印加して硬質カーボン膜を形成して
いる。このため直流正電圧を印加する補助電極23の周
囲領域に電子を集める効果が生じ、この補助電極23の
周囲領域は電子密度が高くなる。
【0084】このように電子密度が高くなると、必然的
に炭素を含むガス分子と電子との衝突確率が増え、ガス
分子のイオン化が促進されて、円筒状部材11の開口内
面領域のプラズマ強度が高くなる。このため補助電極2
3に直流の正電圧を印加する本発明の硬質カーボン膜の
形成方法においては、硬質カーボン膜の膜形成速度は、
補助電極23に直流の正電圧を印加しないときと比らべ
て高くなる。
に炭素を含むガス分子と電子との衝突確率が増え、ガス
分子のイオン化が促進されて、円筒状部材11の開口内
面領域のプラズマ強度が高くなる。このため補助電極2
3に直流の正電圧を印加する本発明の硬質カーボン膜の
形成方法においては、硬質カーボン膜の膜形成速度は、
補助電極23に直流の正電圧を印加しないときと比らべ
て高くなる。
【0085】この補助電極23は、円筒状部材11内周
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径と円筒状部材11の内周
面11bの径との寸法比を、1/10以下にすることが
望ましく、補助電極23を細くする場合は線状にするこ
ともできる。そしてこの補助電極23は、ステンレス
(SUS)のような金属材料やタングステン(W)また
はタンタル(Ta)のような高融点の金属材料で作成す
る。
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径と円筒状部材11の内周
面11bの径との寸法比を、1/10以下にすることが
望ましく、補助電極23を細くする場合は線状にするこ
ともできる。そしてこの補助電極23は、ステンレス
(SUS)のような金属材料やタングステン(W)また
はタンタル(Ta)のような高融点の金属材料で作成す
る。
【0086】さらにこの補助電極23の断面形状は円形
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
【0087】〔第5の実施形態:図5、図8および図
9〕つぎにこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜
の形成方法における第5の実施形態を、図面を用いて説
明する。図5は本発明の実施形態における円筒状部材へ
の硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図8
は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間と
の関係を示すグラフであり、図9は補助電極に印加する
直流正電圧と円筒状部材開口内面に形成する硬質カーボ
ン膜厚との関係を示すグラフである。以下、図5と図8
と図9とを交互に参照して説明する。
9〕つぎにこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜
の形成方法における第5の実施形態を、図面を用いて説
明する。図5は本発明の実施形態における円筒状部材へ
の硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図8
は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間と
の関係を示すグラフであり、図9は補助電極に印加する
直流正電圧と円筒状部材開口内面に形成する硬質カーボ
ン膜厚との関係を示すグラフである。以下、図5と図8
と図9とを交互に参照して説明する。
【0088】図5に示すように、ガス導入口15と排気
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、補助
電極電源35から直流正電圧に接続する補助電極23を
挿入するように設ける。このとき補助電極23は円筒状
部材11の開口中央部になるように配置する。
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そしてこの円筒状部材11の開口中心11aには、補助
電極電源35から直流正電圧に接続する補助電極23を
挿入するように設ける。このとき補助電極23は円筒状
部材11の開口中央部になるように配置する。
【0089】そののち、図8に示すように、真空槽13
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図5に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図5に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
【0090】その後、この円筒状部材11には、マッチ
ング回路19を介して、発振周波数が13.56MHz
を有する高周波電源21から400Wの高周波電圧を印
加する。さらにまた補助電極23にはプラス20Vの直
流電圧を印加する。
ング回路19を介して、発振周波数が13.56MHz
を有する高周波電源21から400Wの高周波電圧を印
加する。さらにまた補助電極23にはプラス20Vの直
流電圧を印加する。
【0091】しかるのち、ガス導入口15から炭素を含
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマの作用を利用するプラズマ化学
的気相成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材
11に形成している。
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマの作用を利用するプラズマ化学
的気相成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材
11に形成している。
【0092】このように本発明の円筒状部材への硬質カ
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に高周波電力を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に高周波電力を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
【0093】すなわちプラズマ放電開始が被膜形成圧力
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、円
筒状部材で異常放電であるアーク放電は発生しない。し
たがってプラズマ放電の最初期の膜質を左右するとき
に、異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カーボ
ン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の硬
質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が
円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、円
筒状部材で異常放電であるアーク放電は発生しない。し
たがってプラズマ放電の最初期の膜質を左右するとき
に、異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カーボ
ン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の硬
質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が
円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
【0094】このときの補助電極電源35を用いて補助
電極23に印加する直流正電圧と、円筒状部材開口内面
に形成する硬質カーボン膜厚との関係を、図9のグラフ
に示す。図9のグラフでは、補助電極23に印加する直
流の正電圧をゼロVから30Vまで変化させ、さらに円
筒状部材の内周面11bと補助電極23との間の隙間寸
法が3mmと5mmのときの硬質カーボン膜の膜厚を示
す。なお曲線37が円筒状部材11の開口内面と補助電
極23との間の隙間が3mmのときの特性を示し、曲線
39が円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間
の隙間が5mmのときの特性を示す。
電極23に印加する直流正電圧と、円筒状部材開口内面
に形成する硬質カーボン膜厚との関係を、図9のグラフ
に示す。図9のグラフでは、補助電極23に印加する直
流の正電圧をゼロVから30Vまで変化させ、さらに円
筒状部材の内周面11bと補助電極23との間の隙間寸
法が3mmと5mmのときの硬質カーボン膜の膜厚を示
す。なお曲線37が円筒状部材11の開口内面と補助電
極23との間の隙間が3mmのときの特性を示し、曲線
39が円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間
の隙間が5mmのときの特性を示す。
【0095】図9の曲線37、39に示すように、補助
電極電源35から補助電極23に印加する直流正電圧を
増加させると、硬質カーボン膜の膜形成速度は向上す
る。さらにまた円筒状部材11の内周面11bと補助電
極23との間の隙間寸法が大きいほど、硬質カーボン膜
の膜形成速度は向上している。そして曲線37、すなわ
ち円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間の隙
間寸法が3mmのときは、補助電極23に印加する電位
がゼロVの接地電圧では、円筒状部材11内周面11b
にはプラズマが発生せず、硬質カーボン膜は形成できな
い。
電極電源35から補助電極23に印加する直流正電圧を
増加させると、硬質カーボン膜の膜形成速度は向上す
る。さらにまた円筒状部材11の内周面11bと補助電
極23との間の隙間寸法が大きいほど、硬質カーボン膜
の膜形成速度は向上している。そして曲線37、すなわ
ち円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間の隙
間寸法が3mmのときは、補助電極23に印加する電位
がゼロVの接地電圧では、円筒状部材11内周面11b
にはプラズマが発生せず、硬質カーボン膜は形成できな
い。
【0096】しかしながら円筒状部材11の内周面11
bと補助電極23との間の隙間が3mmのときでも、補
助電極23に印加する補助電極電源35からの直流正電
圧を高くしていくと、補助電極23周囲の開口内面にプ
ラズマが発生し、硬質カーボン膜を形成することができ
る。
bと補助電極23との間の隙間が3mmのときでも、補
助電極23に印加する補助電極電源35からの直流正電
圧を高くしていくと、補助電極23周囲の開口内面にプ
ラズマが発生し、硬質カーボン膜を形成することができ
る。
【0097】この図5に示す硬質カーボン膜の被膜形成
方法では、前述のように、円筒状部材11の開口内面に
挿入するように配置し、しかも直流の正電圧を印加する
補助電極23によって、円筒状部材11の内周面11b
に硬質カーボン膜を形成している。この円筒状部材11
の開口内面に挿入するように配置し、直流正電圧に接続
する補助電極23により、その開口内面においては同電
位どうしが対向することがなくなる。したがって異常放
電であるホロー放電の発生はなく、硬質カーボン膜の密
着性が向上する。
方法では、前述のように、円筒状部材11の開口内面に
挿入するように配置し、しかも直流の正電圧を印加する
補助電極23によって、円筒状部材11の内周面11b
に硬質カーボン膜を形成している。この円筒状部材11
の開口内面に挿入するように配置し、直流正電圧に接続
する補助電極23により、その開口内面においては同電
位どうしが対向することがなくなる。したがって異常放
電であるホロー放電の発生はなく、硬質カーボン膜の密
着性が向上する。
【0098】さらに開口内に配置する補助電極23によ
って円筒状部材11の長手方向の開口内面で、その電位
特性が均一になり、開口内面に形成する硬質カーボン膜
の膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一
な膜厚を形成することができる。
って円筒状部材11の長手方向の開口内面で、その電位
特性が均一になり、開口内面に形成する硬質カーボン膜
の膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一
な膜厚を形成することができる。
【0099】さらにまた本発明の硬質カーボン膜の形成
方法の実施形態においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に設ける補助電極23に、補助電極電源35か
らの直流の正電圧を印加して硬質カーボン膜を形成して
いる。このため直流正電圧を印加する補助電極23の周
囲領域に電子を集める効果が生じ、この補助電極23の
周囲領域は電子密度が高くなる。
方法の実施形態においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に設ける補助電極23に、補助電極電源35か
らの直流の正電圧を印加して硬質カーボン膜を形成して
いる。このため直流正電圧を印加する補助電極23の周
囲領域に電子を集める効果が生じ、この補助電極23の
周囲領域は電子密度が高くなる。
【0100】このように電子密度が高くなると、必然的
に炭素を含むガス分子と電子との衝突確率が増え、ガス
分子のイオン化が促進されて、円筒状部材11の開口内
面領域のプラズマ強度が高くなる。このため補助電極2
3に直流の正電圧を印加する本発明の硬質カーボン膜の
形成方法においては、硬質カーボン膜の膜形成速度は、
補助電極23に直流の正電圧を印加しないときと比らべ
て高くなる。
に炭素を含むガス分子と電子との衝突確率が増え、ガス
分子のイオン化が促進されて、円筒状部材11の開口内
面領域のプラズマ強度が高くなる。このため補助電極2
3に直流の正電圧を印加する本発明の硬質カーボン膜の
形成方法においては、硬質カーボン膜の膜形成速度は、
補助電極23に直流の正電圧を印加しないときと比らべ
て高くなる。
【0101】この補助電極23は、円筒状部材11内周
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径と円筒状部材11の内周
面11bの径との寸法比を、1/10以下にすることが
望ましく、補助電極23を細くする場合は線状にするこ
ともできる。そしてこの補助電極23は、ステンレス
(SUS)のような金属材料やタングステン(W)また
はタンタル(Ta)のような高融点の金属材料で作成す
る。
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径と円筒状部材11の内周
面11bの径との寸法比を、1/10以下にすることが
望ましく、補助電極23を細くする場合は線状にするこ
ともできる。そしてこの補助電極23は、ステンレス
(SUS)のような金属材料やタングステン(W)また
はタンタル(Ta)のような高融点の金属材料で作成す
る。
【0102】さらにこの補助電極23の断面形状は円形
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
【0103】〔第6の実施形態:図6、図7および図
9〕つぎにこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜
の形成方法における第6の実施形態を、図面を用いて説
明する。図6は本発明の実施形態における円筒状部材へ
の硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図7
は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間と
の関係を示すグラフであり、図9は補助電極に印加する
直流正電圧と円筒状部材開口内面に形成する硬質カーボ
ン膜厚との関係を示すグラフである。以下、図6と図7
と図9とを交互に参照して説明する。
9〕つぎにこの円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜
の形成方法における第6の実施形態を、図面を用いて説
明する。図6は本発明の実施形態における円筒状部材へ
の硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図であり、図7
は本発明の実施形態における真空槽内部の圧力と時間と
の関係を示すグラフであり、図9は補助電極に印加する
直流正電圧と円筒状部材開口内面に形成する硬質カーボ
ン膜厚との関係を示すグラフである。以下、図6と図7
と図9とを交互に参照して説明する。
【0104】図6に示すように、ガス導入口15と排気
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そして、この円筒状部材11の開口中心11aには、補
助電極電源35からの直流正電圧に接続する補助電極2
3を挿入するように設ける。このとき補助電極23は円
筒状部材11の開口中央部になるように配置する。
口17とを有する真空槽13内に、その内周面11bに
硬質カーボン膜を形成する円筒状部材11を配置する。
そして、この円筒状部材11の開口中心11aには、補
助電極電源35からの直流正電圧に接続する補助電極2
3を挿入するように設ける。このとき補助電極23は円
筒状部材11の開口中央部になるように配置する。
【0105】そののち、図7に示すように、真空槽13
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図6に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
内を真空度が3×10-5torr以下の初期到達圧力に
なるように、図6に図示しない排気手段によって排気口
17から真空排気する。
【0106】その後、この円筒状部材11には、直流電
源25からマイナス600Vの直流電圧を印加する。さ
らに補助電極23には、補助電極電源35からプラス2
0Vの直流電圧を印加する。
源25からマイナス600Vの直流電圧を印加する。さ
らに補助電極23には、補助電極電源35からプラス2
0Vの直流電圧を印加する。
【0107】しかるのち、ガス導入口15から炭素を含
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマの作用を利用するプラズマ化学
的気相成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材
11に形成している。
むガスとしてメタンガス(CH4 )を真空槽13内に導
入して、真空度を0.5torrの被膜形成圧力になる
ように調整する。すると真空槽13内部の円筒状部材1
1に、0.5torrの被膜形成圧力より低い圧力の
0.2torrにてプラズマ放電が開始した。そして、
円筒状部材11の内周面11bと補助電極23とのあい
だに形成されるプラズマの作用を利用するプラズマ化学
的気相成長法により、硬質カーボン膜15を円筒状部材
11に形成している。
【0108】このように本発明の円筒状部材への硬質カ
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
ーボン膜の形成方法では、炭素を含むガスを真空槽13
内部に導入するまえに、円筒状部材11に直流負電圧を
印加する手段を採用している。このような手段において
は、被膜形成圧力よりも低い圧力でプラズマ放電が開始
する。
【0109】すなわち、プラズマ放電開始が被膜形成圧
力より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常
放電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズ
マ放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、
異常放電であるアーク放電は円筒状部材に発生しない。
したがって、プラズマ放電の最初期の膜質を左右すると
きに、異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カー
ボン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の
硬質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜
が円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
力より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常
放電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズ
マ放電開始の硬質カーボン膜15の被膜形成初期には、
異常放電であるアーク放電は円筒状部材に発生しない。
したがって、プラズマ放電の最初期の膜質を左右すると
きに、異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カー
ボン膜の密着性の低下は発生しない。このため本発明の
硬質カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜
が円筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
【0110】このときの補助電極電源35を用いて補助
電極23に印加する直流正電圧と、円筒状部材開口内面
に形成する硬質カーボン膜厚との関係を、図9のグラフ
に示す。図9のグラフでは、補助電極23に印加する直
流の正電圧をゼロVから30Vまで変化させ、さらに円
筒状部材の内周面11bと補助電極23との間の隙間寸
法が3mmと5mmのときの硬質カーボン膜の膜厚を示
す。なお曲線37が円筒状部材11の開口内面と補助電
極23との間の隙間が3mmのときの特性を示し、曲線
39が円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間
の隙間が5mmのときの特性を示す。
電極23に印加する直流正電圧と、円筒状部材開口内面
に形成する硬質カーボン膜厚との関係を、図9のグラフ
に示す。図9のグラフでは、補助電極23に印加する直
流の正電圧をゼロVから30Vまで変化させ、さらに円
筒状部材の内周面11bと補助電極23との間の隙間寸
法が3mmと5mmのときの硬質カーボン膜の膜厚を示
す。なお曲線37が円筒状部材11の開口内面と補助電
極23との間の隙間が3mmのときの特性を示し、曲線
39が円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間
の隙間が5mmのときの特性を示す。
【0111】図9の曲線37、39に示すように、補助
電極電源35から補助電極23に印加する直流正電圧を
増加させると、硬質カーボン膜の膜形成速度は向上す
る。さらにまた円筒状部材11の内周面11bと補助電
極23との間の隙間寸法が大きいほど、硬質カーボン膜
の膜形成速度は向上している。そして曲線37、すなわ
ち円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間の隙
間寸法が3mmのときは、補助電極23に印加する電位
がゼロVの接地電圧では、円筒状部材11内周面11b
にはプラズマが発生せず、硬質カーボン膜は形成できな
い。
電極電源35から補助電極23に印加する直流正電圧を
増加させると、硬質カーボン膜の膜形成速度は向上す
る。さらにまた円筒状部材11の内周面11bと補助電
極23との間の隙間寸法が大きいほど、硬質カーボン膜
の膜形成速度は向上している。そして曲線37、すなわ
ち円筒状部材11の開口内面と補助電極23との間の隙
間寸法が3mmのときは、補助電極23に印加する電位
がゼロVの接地電圧では、円筒状部材11内周面11b
にはプラズマが発生せず、硬質カーボン膜は形成できな
い。
【0112】しかしながら、円筒状部材11の内周面1
1bと補助電極23との間の隙間が3mmのときでも、
補助電極23に印加する補助電極電源35からの直流正
電圧を高くしていくと、補助電極23周囲の開口内面に
プラズマが発生し、硬質カーボン膜を形成することがで
きる。
1bと補助電極23との間の隙間が3mmのときでも、
補助電極23に印加する補助電極電源35からの直流正
電圧を高くしていくと、補助電極23周囲の開口内面に
プラズマが発生し、硬質カーボン膜を形成することがで
きる。
【0113】この図6に示す硬質カーボン膜の被膜形成
方法では、前述のように、円筒状部材11の開口内面に
挿入するように配置し、しかも直流の正電圧を印加する
補助電極23によって、円筒状部材11の内周面11b
に硬質カーボン膜を形成している。
方法では、前述のように、円筒状部材11の開口内面に
挿入するように配置し、しかも直流の正電圧を印加する
補助電極23によって、円筒状部材11の内周面11b
に硬質カーボン膜を形成している。
【0114】この円筒状部材11の開口内面に挿入する
ように配置し、直流正電圧に接続する補助電極23によ
り、その開口内面においては同電位どうしが対向するこ
とがなくなる。したがって異常放電であるホロー放電の
発生はなく、硬質カーボン膜の密着性が向上する。
ように配置し、直流正電圧に接続する補助電極23によ
り、その開口内面においては同電位どうしが対向するこ
とがなくなる。したがって異常放電であるホロー放電の
発生はなく、硬質カーボン膜の密着性が向上する。
【0115】さらに開口内に配置する補助電極23によ
って円筒状部材11の長手方向の開口内面で、その電位
特性が均一になり、開口内面に形成する硬質カーボン膜
の膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一
な膜厚を形成することができる。
って円筒状部材11の長手方向の開口内面で、その電位
特性が均一になり、開口内面に形成する硬質カーボン膜
の膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一
な膜厚を形成することができる。
【0116】さらにまた本発明の硬質カーボン膜の形成
方法の実施形態においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に設ける補助電極23に、補助電極電源35か
らの直流の正電圧を印加して硬質カーボン膜を形成して
いる。このため直流正電圧を印加する補助電極23の周
囲領域に電子を集める効果が生じ、この補助電極23の
周囲領域は電子密度が高くなる。
方法の実施形態においては、円筒状部材11の開口内面
の中央部に設ける補助電極23に、補助電極電源35か
らの直流の正電圧を印加して硬質カーボン膜を形成して
いる。このため直流正電圧を印加する補助電極23の周
囲領域に電子を集める効果が生じ、この補助電極23の
周囲領域は電子密度が高くなる。
【0117】このように電子密度が高くなると、必然的
に炭素を含むガス分子と電子との衝突確率が増え、ガス
分子のイオン化が促進されて、円筒状部材11の開口内
面領域のプラズマ強度が高くなる。このため補助電極2
3に直流の正電圧を印加する本発明の硬質カーボン膜の
形成方法においては、硬質カーボン膜の膜形成速度は、
補助電極23に直流の正電圧を印加しないときと比らべ
て高くなる。
に炭素を含むガス分子と電子との衝突確率が増え、ガス
分子のイオン化が促進されて、円筒状部材11の開口内
面領域のプラズマ強度が高くなる。このため補助電極2
3に直流の正電圧を印加する本発明の硬質カーボン膜の
形成方法においては、硬質カーボン膜の膜形成速度は、
補助電極23に直流の正電圧を印加しないときと比らべ
て高くなる。
【0118】この補助電極23は、円筒状部材11内周
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径と円筒状部材11の内周
面11bの径との寸法比を、1/10以下にすることが
望ましく、補助電極23を細くする場合は線状にするこ
ともできる。そしてこの補助電極23は、ステンレス
(SUS)のような金属材料やタングステン(W)また
はタンタル(Ta)のような高融点の金属材料で作成す
る。
面11bの開口大きさより小さければよく、好ましくは
4mm程度の隙間であるプラズマ形成領域を設けるよう
にする。この補助電極23の径と円筒状部材11の内周
面11bの径との寸法比を、1/10以下にすることが
望ましく、補助電極23を細くする場合は線状にするこ
ともできる。そしてこの補助電極23は、ステンレス
(SUS)のような金属材料やタングステン(W)また
はタンタル(Ta)のような高融点の金属材料で作成す
る。
【0119】さらにこの補助電極23の断面形状は円形
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
状とし、円筒状部材11に補助電極23を挿入したと
き、円筒状部材11の開口端面と揃えるような長さとす
るか、あるいは円筒状部材11の開口端面から補助電極
23を突出すような長さとするか、あるいは円筒状部材
11の開口端面より突出せず開口端面から1mmから2
mm奥側になるような長さに構成する。
【0120】さらに以上説明した本発明の硬質カーボン
膜の形成方法における実施形態の説明においては、炭素
を含むガスとしてメタンガスやベンゼンガスを用いる実
施形態で説明したが、メタン以外にエチレンなどの炭素
を含むガスや、あるいはヘキサンなどの炭素を含む液体
の蒸発蒸気も使用することができる。
膜の形成方法における実施形態の説明においては、炭素
を含むガスとしてメタンガスやベンゼンガスを用いる実
施形態で説明したが、メタン以外にエチレンなどの炭素
を含むガスや、あるいはヘキサンなどの炭素を含む液体
の蒸発蒸気も使用することができる。
【0121】さらに硬質カーボン膜と円筒状部材とのあ
いだに中間層を設けてもよい。そのときは中間層として
は、周期律表第IVa族のシリコン(Si)やゲルマニ
ウム(Ge)や、あるいはシリコンやゲルマニウムの化
合物でもよい。あるいは中間層としてシリコンカーバイ
ト(SiC)やチタンカーバイト(TiC)のような炭
素を含む化合物でもよい。さらに中間層としてはチタン
(Ti)やクロム(Cr)と、シリコンやゲルマニウム
あるいはシリコンやゲルマニウムの炭化物との2層膜構
造としてもよい。このときは中間層下層のチタンやクロ
ムは円筒状部材との密着性を保つ役割をもち、中間層上
層のシリコンやゲルマニウムあるいはシリコンやゲルマ
ニウムの炭化物は硬質カーボン膜と共有結合して、この
硬質カーボン膜と強く結合する役割をもつ。
いだに中間層を設けてもよい。そのときは中間層として
は、周期律表第IVa族のシリコン(Si)やゲルマニ
ウム(Ge)や、あるいはシリコンやゲルマニウムの化
合物でもよい。あるいは中間層としてシリコンカーバイ
ト(SiC)やチタンカーバイト(TiC)のような炭
素を含む化合物でもよい。さらに中間層としてはチタン
(Ti)やクロム(Cr)と、シリコンやゲルマニウム
あるいはシリコンやゲルマニウムの炭化物との2層膜構
造としてもよい。このときは中間層下層のチタンやクロ
ムは円筒状部材との密着性を保つ役割をもち、中間層上
層のシリコンやゲルマニウムあるいはシリコンやゲルマ
ニウムの炭化物は硬質カーボン膜と共有結合して、この
硬質カーボン膜と強く結合する役割をもつ。
【0122】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
円筒状部材への硬質カーボン膜の形成方法においては、
炭素を含むガスを真空槽内部に導入するまえに、円筒状
部材に直流負電圧または高周波電力を印加する手段を採
用する。このような手段においては、被膜形成圧力より
も低い圧力でプラズマ放電が開始する。
円筒状部材への硬質カーボン膜の形成方法においては、
炭素を含むガスを真空槽内部に導入するまえに、円筒状
部材に直流負電圧または高周波電力を印加する手段を採
用する。このような手段においては、被膜形成圧力より
も低い圧力でプラズマ放電が開始する。
【0123】すなわちプラズマ放電開始が被膜形成圧力
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜の被膜形成初期には、異常放
電であるアーク放電は発生しない。したがって、プラズ
マ放電の最初期の膜質を左右するときに、円筒状部材で
異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カーボン膜
の密着性の低下は発生しない。このために本発明の硬質
カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が円
筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
より空間インピーダンスの高い状態であるので、異常放
電であるアーク放電は発生しない。このようにプラズマ
放電開始の硬質カーボン膜の被膜形成初期には、異常放
電であるアーク放電は発生しない。したがって、プラズ
マ放電の最初期の膜質を左右するときに、円筒状部材で
異常放電であるアーク放電が発生せず、硬質カーボン膜
の密着性の低下は発生しない。このために本発明の硬質
カーボン膜の形成方法においては、硬質カーボン膜が円
筒状部材から剥離するという現象は発生しない。
【0124】さらに本発明の円筒状部材への硬質カーボ
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面の開
口の中央部に、接地電位に接続する補助電極を配置して
硬質カーボン膜を形成する。そして円筒状部材には、負
の直流電圧あるいは高周波電圧を印加する。
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面の開
口の中央部に、接地電位に接続する補助電極を配置して
硬質カーボン膜を形成する。そして円筒状部材には、負
の直流電圧あるいは高周波電圧を印加する。
【0125】その結果、同電位の電極どうしが対向して
いる円筒状部材開口内面に、接地電位に接続する補助電
極を設けることとなり、同電位どうしが対向することが
なくなる。このような電位状態は、プラスマ化学的気相
成長法にとって最も望ましい状態であり、異常放電であ
るホロー放電は発生しない。そのため、密着性の良好な
硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することができる。
いる円筒状部材開口内面に、接地電位に接続する補助電
極を設けることとなり、同電位どうしが対向することが
なくなる。このような電位状態は、プラスマ化学的気相
成長法にとって最も望ましい状態であり、異常放電であ
るホロー放電は発生しない。そのため、密着性の良好な
硬質カーボン膜を円筒状部材に形成することができる。
【0126】そのうえ本発明の円筒状部材への硬質カー
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
の開口内面に補助電極を配置しており、円筒状部材の長
手方向の開口内面で、電位特性が均一になる。この結
果、円筒状部材の開口内面に形成する硬質カーボン膜の
膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一な
膜厚を形成することができるという効果ももつ。
ボン膜の形成方法においては、前述のように円筒状部材
の開口内面に補助電極を配置しており、円筒状部材の長
手方向の開口内面で、電位特性が均一になる。この結
果、円筒状部材の開口内面に形成する硬質カーボン膜の
膜厚分布の発生がなく、開口端面と開口奥側とで均一な
膜厚を形成することができるという効果ももつ。
【0127】さらに本発明の円筒状部材への硬質カーボ
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面に配
置する補助電極に直流の正電圧を印加して硬質カーボン
膜を形成する手段を採用する。このように直流正電圧を
補助電極に印加すると、補助電極の周囲領域に電子を集
める効果を生じ、補助電極の周囲領域は電子密度が高く
なる。
ン膜の形成方法においては、円筒状部材の開口内面に配
置する補助電極に直流の正電圧を印加して硬質カーボン
膜を形成する手段を採用する。このように直流正電圧を
補助電極に印加すると、補助電極の周囲領域に電子を集
める効果を生じ、補助電極の周囲領域は電子密度が高く
なる。
【0128】このように電子密度が高くなると、必然的
に炭素を含むガスと電子との衝突確率が増えて、ガス分
子のイオン化が促進されて、その補助電極の周囲領域の
プラズマ密度が高くなる。このため硬質カーボン膜の被
膜形成速度は補助電極に直流正電圧を印加しないときと
較べて高くなる。
に炭素を含むガスと電子との衝突確率が増えて、ガス分
子のイオン化が促進されて、その補助電極の周囲領域の
プラズマ密度が高くなる。このため硬質カーボン膜の被
膜形成速度は補助電極に直流正電圧を印加しないときと
較べて高くなる。
【0129】さらに円筒状部材の開口寸法が小さくな
り、開口内面と補助電極との隙間寸法が小さくなると、
補助電極に直流の正電圧を印加しないで硬質カーボン膜
を形成すると、円筒状部材の開口内面にプラズマが発生
せず、硬質カーボン膜が形成できない。
り、開口内面と補助電極との隙間寸法が小さくなると、
補助電極に直流の正電圧を印加しないで硬質カーボン膜
を形成すると、円筒状部材の開口内面にプラズマが発生
せず、硬質カーボン膜が形成できない。
【0130】これにたいして補助電極に直流正電圧を印
加して硬質カーボン膜を形成する本発明では、開口内面
に配置する補助電極に直流電源から正電圧を印加して電
子を強制的に補助電極の周囲領域に集めることができ、
補助電極周囲にプラズマを発生させることができる。し
たがって直流正電圧を印加しないで硬質カーボン膜を形
成できない開口寸法が小さな円筒状部材にも、本発明の
形成方法を適用すれば、硬質カーボン膜を形成すること
ができる。
加して硬質カーボン膜を形成する本発明では、開口内面
に配置する補助電極に直流電源から正電圧を印加して電
子を強制的に補助電極の周囲領域に集めることができ、
補助電極周囲にプラズマを発生させることができる。し
たがって直流正電圧を印加しないで硬質カーボン膜を形
成できない開口寸法が小さな円筒状部材にも、本発明の
形成方法を適用すれば、硬質カーボン膜を形成すること
ができる。
【0131】そのうえさらに円筒状部材内周面に形成す
る硬質カーボン膜は、黒色状の被膜であり、ダイヤモン
ドによく似た性質をもつ。すなわち硬質カーボン膜は、
高い機械的硬度や低い摩擦係数や良好な電気的絶縁性や
高い熱伝導率や高い耐腐食性という優れた特性をもつ。
このため本発明の円筒状部材は、ほかの部材と接触する
内周面の摩耗を抑えることができ、キズの発生を抑える
ことが可能となる。
る硬質カーボン膜は、黒色状の被膜であり、ダイヤモン
ドによく似た性質をもつ。すなわち硬質カーボン膜は、
高い機械的硬度や低い摩擦係数や良好な電気的絶縁性や
高い熱伝導率や高い耐腐食性という優れた特性をもつ。
このため本発明の円筒状部材は、ほかの部材と接触する
内周面の摩耗を抑えることができ、キズの発生を抑える
ことが可能となる。
【図1】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
【図2】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
【図3】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
【図4】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
【図5】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
【図6】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
への硬質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
【図7】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示し、真空槽内部の圧
力と時間との関係を示すグラフである。
への硬質カーボン膜の形成方法を示し、真空槽内部の圧
力と時間との関係を示すグラフである。
【図8】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示し、真空槽内部の圧
力と時間との関係を示すグラフである。
への硬質カーボン膜の形成方法を示し、真空槽内部の圧
力と時間との関係を示すグラフである。
【図9】本発明の実施形態における円筒状部材の内周面
への硬質カーボン膜の形成方法を示し、補助電極電圧と
被膜形成する硬質カーボン膜膜厚との関係を示すグラフ
である。
への硬質カーボン膜の形成方法を示し、補助電極電圧と
被膜形成する硬質カーボン膜膜厚との関係を示すグラフ
である。
【図10】従来技術における円筒状部材の内周面への硬
質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
質カーボン膜の形成方法を示す断面図である。
11 円筒状部材 11a 開口中心 11b 内周面 13 真空槽 15 ガス導入口 17 排気口 19 マッチング回路 21 高周波電源 23 補助電極 25 直流電源 27 アノード電源 29 フィラメント電源 31 アノード 33 フィラメント 35 補助電極電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 戸井田 孝志 埼玉県所沢市大字下富字武野840番地 シ チズン時計株式会社所沢事業所内 (72)発明者 関根 敏一 東京都田無市本町6丁目1番12号 シチズ ン時計株式会社田無製造所内
Claims (18)
- 【請求項1】 排気口およびガス導入口を有し、内部に
アノードとフィラメントを設ける真空槽内に円筒状部材
を配置し、この円筒状部材の中心開口内に接地電位と接
続する補助電極を挿入するように配置する第1の工程
と、 そののち、真空槽内を所定の真空度以下の初期到達圧力
に排気する第2の工程と、 その後、円筒状部材に直流電圧を印加するとともに、ア
ノードに直流電圧を印加し、フィラメントに交流電圧を
印加する第3の工程と、 さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面
に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初
期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する
第4の工程とを有することを特徴とする円筒状部材の内
周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項2】 第4の工程の炭素を含むガスは、 メタンまたはベンゼンであることを特徴とする請求項1
記載の円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方
法。 - 【請求項3】 円筒状部材の内周面に硬質カーボン膜の
密着性を高めるための中間層を介して硬質カーボン膜を
形成することを特徴とする請求項1記載の円筒状部材の
内周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項4】 排気口およびガス導入口を有する真空槽
内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口内
に接地電位と接続する補助電極を挿入するように配置す
る第1の工程と、 そののち、真空槽内を所定の真空度以下の初期到達圧力
に排気する第2の工程と、 その後、円筒状部材に高周波電力を印加する第3の工程
と、 さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面
に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初
期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する
第4の工程とを有することを特徴とする円筒状部材の内
周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項5】 第4の工程の炭素を含むガスは、 メタンまたはベンゼンであることを特徴とする請求項4
記載の円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方
法。 - 【請求項6】 円筒状部材の内周面に硬質カーボン膜の
密着性を高めるための中間層を介して硬質カーボン膜を
形成することを特徴とする請求項4記載の円筒状部材の
内周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項7】 排気口およびガス導入口を有する真空槽
内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口内
に接地電位と接続する補助電極を挿入するように配置す
る第1の工程と、 そののち、真空槽内を所定の真空度以下の初期到達圧力
に排気する第2の工程と、 その後、円筒状部材に直流電圧を印加する第3の工程
と、 さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面
に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初
期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する
第4の工程とを有することを特徴とする円筒状部材の内
周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項8】 第4の工程の炭素を含むガスは、 メタンまたはベンゼンであることを特徴とする請求項7
記載の円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方
法。 - 【請求項9】 円筒状部材の内周面に硬質カーボン膜の
密着性を高めるための中間層を介して硬質カーボン膜を
形成することを特徴とする請求項7記載の円筒状部材の
内周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項10】 排気口およびガス導入口を有し、内部
にアノードとフィラメントを設ける真空槽内に円筒状部
材を配置し、この円筒状部材の中心開口内に直流正電圧
と接続する補助電極を挿入するように配置する第1の工
程と、 そののち、真空槽内を所定の真空度以下の初期到達圧力
に排気する第2の工程と、 その後、円筒状部材に直流電圧を印加するとともに、ア
ノードに直流電圧を印加し、フィラメントに交流電圧を
印加する第3の工程と、 さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面
に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初
期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する
第4の工程とを有することを特徴とする円筒状部材の内
周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項11】 第4の工程の炭素を含むガスは、メタ
ンまたはベンゼンであることを特徴とする請求項10記
載の円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項12】 円筒状部材の内周面に硬質カーボン膜
の密着性を高めるための中間層を介して硬質カーボン膜
を形成することを特徴とする請求項10記載の円筒状部
材の内周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項13】 排気口およびガス導入口を有する真空
槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口
内に直流正電圧と接続する補助電極を挿入するように配
置する第1の工程と、 そののち、真空槽内を所定の真空度以下の初期到達圧力
に排気する第2の工程と、 その後、円筒状部材に高周波電力を印加する第3の工程
と、 さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面
に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初
期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する
第4の工程とを有することを特徴とする円筒状部材の内
周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項14】 第4の工程の炭素を含むガスは、 メタンまたはベンゼンであることを特徴とする請求項1
3記載の円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方
法。 - 【請求項15】 円筒状部材の内周面に硬質カーボン膜
の密着性を高めるための中間層を介して硬質カーボン膜
を形成することを特徴とする請求項13記載の円筒状部
材の内周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項16】 排気口およびガス導入口を有する真空
槽内に円筒状部材を配置し、この円筒状部材の中心開口
内に直流正電圧と接続する補助電極を挿入するように配
置する第1の工程と、 そののち、真空槽内を所定の真空度以下の初期到達圧力
に排気する第2の工程と、 その後、円筒状部材に直流電圧を印加する第3の工程
と、 さらにその後、ガス導入口から炭素を含むガスを真空槽
内に導入してプラズマを発生させ、円筒状部材の内周面
に硬質カーボン膜を形成しながら、真空槽内の圧力を初
期到達圧力より高い被膜形成圧力になるように制御する
第4の工程とを有することを特徴とする円筒状部材の内
周面への硬質カーボン膜形成方法。 - 【請求項17】 第4の工程の炭素を含むガスは、 メタンまたはベンゼンであることを特徴とする請求項1
6記載の円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方
法。 - 【請求項18】 円筒状部材の内周面に硬質カーボン膜
の密着性を高めるための中間層を介して硬質カーボン膜
を形成することを特徴とする請求項16記載の円筒状部
材の内周面への硬質カーボン膜形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27703197A JPH11117068A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27703197A JPH11117068A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11117068A true JPH11117068A (ja) | 1999-04-27 |
Family
ID=17577817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27703197A Pending JPH11117068A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 円筒状部材の内周面への硬質カーボン膜形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11117068A (ja) |
-
1997
- 1997-10-09 JP JP27703197A patent/JPH11117068A/ja active Pending
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