JPH11118439A - 実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法 - Google Patents
実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法Info
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- JPH11118439A JPH11118439A JP9278382A JP27838297A JPH11118439A JP H11118439 A JPH11118439 A JP H11118439A JP 9278382 A JP9278382 A JP 9278382A JP 27838297 A JP27838297 A JP 27838297A JP H11118439 A JPH11118439 A JP H11118439A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数の外観検査装置によって検査された場合
でもリペアに際して重複した手間を要しない実装基板の
外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査
方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 複数の外観検査装置２Ａ、２Ｂ、２Ｃと
管理コンピュータとしてのパソコン４をＬＡＮシステム
３によって接続した実装基板の外観検査ラインにおい
て、特定の外観検査装置２Ａに、当該外観検査装置２Ａ
による検査結果とともに他の外観検査装置２Ｂ、２Ｃに
よる検査結果を最終検査結果として記憶させ、この最終
検査結果を同一の実装基板についての単一の最終検査結
果としてパソコン４のモニタ画面に表示させる。これに
により、同一基板については単一の最終検査結果に基づ
いて、同一タイミングですべての必要なリペアを行うこ
とができる。
でもリペアに際して重複した手間を要しない実装基板の
外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査
方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 複数の外観検査装置２Ａ、２Ｂ、２Ｃと
管理コンピュータとしてのパソコン４をＬＡＮシステム
３によって接続した実装基板の外観検査ラインにおい
て、特定の外観検査装置２Ａに、当該外観検査装置２Ａ
による検査結果とともに他の外観検査装置２Ｂ、２Ｃに
よる検査結果を最終検査結果として記憶させ、この最終
検査結果を同一の実装基板についての単一の最終検査結
果としてパソコン４のモニタ画面に表示させる。これに
により、同一基板については単一の最終検査結果に基づ
いて、同一タイミングですべての必要なリペアを行うこ
とができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品実装後の
基板の外観検査を行う実装基板の外観検査装置および外
観検査システムならびに外観検査方法に関するものであ
る。
基板の外観検査を行う実装基板の外観検査装置および外
観検査システムならびに外観検査方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】チップなどの電子部品を実装した後の実
装基板は、外観検査ラインにて電子部品の位置ずれや半
田付けの良否などを検査するための検査が行われる。こ
の実装基板の外観検査において、同一実装基板について
検査対象項目が多数存在する場合には、１つの実装基板
の検査処理時間が過大にならないよう、これらの検査項
目を分割して複数の外観検査装置に振り分けることが行
われる。この場合、実装基板は複数の外観検査装置によ
って順次検査され、検査結果は各外観検査装置から管理
コンピュータに転送される。そしてオペレータは外観検
査後に管理コンピュータにより出力される検査結果に従
って不良箇所のリペアを行う。
装基板は、外観検査ラインにて電子部品の位置ずれや半
田付けの良否などを検査するための検査が行われる。こ
の実装基板の外観検査において、同一実装基板について
検査対象項目が多数存在する場合には、１つの実装基板
の検査処理時間が過大にならないよう、これらの検査項
目を分割して複数の外観検査装置に振り分けることが行
われる。この場合、実装基板は複数の外観検査装置によ
って順次検査され、検査結果は各外観検査装置から管理
コンピュータに転送される。そしてオペレータは外観検
査後に管理コンピュータにより出力される検査結果に従
って不良箇所のリペアを行う。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記に
おいて、各外観検査装置からは、それぞれ当該外観検査
装置により行われた検査項目についてのみ検査結果が出
力される。即ち、同一の実装基板の不良箇所であって
も、異なる外観検査装置によって検査され、発見された
不良箇所については別個の検査結果として管理コンピュ
ータに転送されることとなっていた。このため、同一の
実装基板に複数の検査結果が存在し、個別の検査結果と
して管理コンピュータ上で表示されるため、同一の実装
基板の利ペアを同一タイミングで行うことが困難で、リ
ペアに際して重複した手間を要するという問題点があっ
た。
おいて、各外観検査装置からは、それぞれ当該外観検査
装置により行われた検査項目についてのみ検査結果が出
力される。即ち、同一の実装基板の不良箇所であって
も、異なる外観検査装置によって検査され、発見された
不良箇所については別個の検査結果として管理コンピュ
ータに転送されることとなっていた。このため、同一の
実装基板に複数の検査結果が存在し、個別の検査結果と
して管理コンピュータ上で表示されるため、同一の実装
基板の利ペアを同一タイミングで行うことが困難で、リ
ペアに際して重複した手間を要するという問題点があっ
た。
【０００４】そこで本発明は、複数の外観検査装置によ
って検査された場合でもリペアに際して重複した手間を
要しない実装基板の外観検査装置および外観検査システ
ムならびに外観検査方法を提供することを目的とする。
って検査された場合でもリペアに際して重複した手間を
要しない実装基板の外観検査装置および外観検査システ
ムならびに外観検査方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の実装基板
の外観検査装置は、実装基板の外観検査を行う検査部
と、この検査結果を記憶する記憶部と、前記検査結果の
出力先を指定する出力先指定手段と、前記検査結果を外
部へ出力する出力手段と、他の外観検査装置による検査
結果を当該検査装置に入力する入力手段とを備え、前記
出力先指定手段により指定された出力先が他の外観検査
装置であるならば前記検査結果を出力手段により他の外
観検査装置へ出力し、前記出力先指定手段により指定さ
れた出力先が当該検査装置であるならば入力手段により
得た他の外観検査装置による検査結果と共に当該検査装
置による検査結果を最終検査結果記憶部に記憶させるよ
うにした。
の外観検査装置は、実装基板の外観検査を行う検査部
と、この検査結果を記憶する記憶部と、前記検査結果の
出力先を指定する出力先指定手段と、前記検査結果を外
部へ出力する出力手段と、他の外観検査装置による検査
結果を当該検査装置に入力する入力手段とを備え、前記
出力先指定手段により指定された出力先が他の外観検査
装置であるならば前記検査結果を出力手段により他の外
観検査装置へ出力し、前記出力先指定手段により指定さ
れた出力先が当該検査装置であるならば入力手段により
得た他の外観検査装置による検査結果と共に当該検査装
置による検査結果を最終検査結果記憶部に記憶させるよ
うにした。
【０００６】請求項２記載の実装基板の外観検査システ
ムは、生産ライン上に配置された複数の実装基板の外観
検査装置より構成され、これらの外観検査装置とネット
ワーク手段を介して接続された管理コンピュータを有
し、前記外観検査装置のいずれかに、当該外観検査装置
による検査結果とともに他の外観検査装置による検査結
果を記憶する最終検査結果記憶部を備え、この最終検査
結果記憶部に記憶された検査結果を同一の基板について
の単一の最終検査結果として前記管理コンピュータへ出
力し、この管理コンピュータの画面に表示するようにし
た。
ムは、生産ライン上に配置された複数の実装基板の外観
検査装置より構成され、これらの外観検査装置とネット
ワーク手段を介して接続された管理コンピュータを有
し、前記外観検査装置のいずれかに、当該外観検査装置
による検査結果とともに他の外観検査装置による検査結
果を記憶する最終検査結果記憶部を備え、この最終検査
結果記憶部に記憶された検査結果を同一の基板について
の単一の最終検査結果として前記管理コンピュータへ出
力し、この管理コンピュータの画面に表示するようにし
た。
【０００７】請求項３記載の実装基板の外観検査システ
ムは、生産ライン上に配置された複数の実装基板の外観
検査装置より構成され、これらの外観検査装置とネット
ワーク手段を介して接続された管理コンピュータを有
し、前記外観検査装置による検査結果をネットワーク手
段を介して前記管理コンピュータに出力し、この管理コ
ンピュータに備えられた検査結果合成手段によって前記
検査結果を合成し、同一の基板についての単一の最終検
査結果として管理コンピュータの画面に表示するように
した。
ムは、生産ライン上に配置された複数の実装基板の外観
検査装置より構成され、これらの外観検査装置とネット
ワーク手段を介して接続された管理コンピュータを有
し、前記外観検査装置による検査結果をネットワーク手
段を介して前記管理コンピュータに出力し、この管理コ
ンピュータに備えられた検査結果合成手段によって前記
検査結果を合成し、同一の基板についての単一の最終検
査結果として管理コンピュータの画面に表示するように
した。
【０００８】請求項４記載の実装基板の外観検査方法
は、同一の実装基板を生産ライン上に配置された複数の
外観検査装置により順次検査する実装基板の外観検査方
法であって、前記外観検査装置のいずれかに、前記同一
の実装基板についての当該外観装置による検査結果とと
もに他の外観検査装置による検査結果を最終検査結果と
して記憶させ、この最終検査結果を前記同一の実装基板
についての単一の最終検査結果として出力手段により管
理コンピュータへ出力するようにした。
は、同一の実装基板を生産ライン上に配置された複数の
外観検査装置により順次検査する実装基板の外観検査方
法であって、前記外観検査装置のいずれかに、前記同一
の実装基板についての当該外観装置による検査結果とと
もに他の外観検査装置による検査結果を最終検査結果と
して記憶させ、この最終検査結果を前記同一の実装基板
についての単一の最終検査結果として出力手段により管
理コンピュータへ出力するようにした。
【０００９】各請求項記載の発明によれば、複数の外観
検査装置による検査結果を同一の実装基板についての単
一の最終検査結果として管理コンピュータのモニタ画面
に表示することにより、同一基板については単一の最終
検査結果に基づいて、同一タイミングですべての必要な
リペアを行うことができる。
検査装置による検査結果を同一の実装基板についての単
一の最終検査結果として管理コンピュータのモニタ画面
に表示することにより、同一基板については単一の最終
検査結果に基づいて、同一タイミングですべての必要な
リペアを行うことができる。
【００１０】
（実施の形態１）図１は本発明の実施の形態１の実装基
板の外観検査システムの構成を示す斜視図、図２は同外
観検査装置の構成を示すブロック図、図３は同外観検査
システムのブロック図である。まず図１を参照して外観
検査システムについて説明する。図１において電子部品
の外観検査ライン１は、複数（本実施の形態１では３）
の外観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃより構成されている。
それぞれの外観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃはネットワー
ク手段であるＬＡＮシステム３によって相互に接続され
ている。またＬＡＮシステム３には外観検査ライン１の
管理コンピュータであるパソコン４が接続されている。
パソコン４は、各外観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃから送
られる検査対象の実装基板ごとに検査結果の情報を受信
して記憶し、必要に応じてそれらの情報をモニタ画面に
表示する。
板の外観検査システムの構成を示す斜視図、図２は同外
観検査装置の構成を示すブロック図、図３は同外観検査
システムのブロック図である。まず図１を参照して外観
検査システムについて説明する。図１において電子部品
の外観検査ライン１は、複数（本実施の形態１では３）
の外観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃより構成されている。
それぞれの外観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃはネットワー
ク手段であるＬＡＮシステム３によって相互に接続され
ている。またＬＡＮシステム３には外観検査ライン１の
管理コンピュータであるパソコン４が接続されている。
パソコン４は、各外観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃから送
られる検査対象の実装基板ごとに検査結果の情報を受信
して記憶し、必要に応じてそれらの情報をモニタ画面に
表示する。
【００１１】次に図２を参照して外観検査装置２Ａにつ
いて説明する。なお外観検査装置２Ｂ，２Ｃも同様の構
成となっている。図２において、検査部２０にはカメラ
６および照明７が備えられており、カメラ６は位置決め
部８上に載置された実装後の基板５を撮像する。カメラ
６によって得られた撮像データは検査回路部２１によっ
て画像データに変換され、検査処理部２２に送られる。
検査処理部２２では画像データを画像処理し、検査対象
項目（例えば、基板５上の電子部品の位置ずれなど）に
ついて判定し、検査結果として出力する。出力されるデ
ータの内容は、当該検査対象の実装基板５を特定するデ
ータ、当該実装基板５の不良部品の番号、および不良種
類を示すデータである。
いて説明する。なお外観検査装置２Ｂ，２Ｃも同様の構
成となっている。図２において、検査部２０にはカメラ
６および照明７が備えられており、カメラ６は位置決め
部８上に載置された実装後の基板５を撮像する。カメラ
６によって得られた撮像データは検査回路部２１によっ
て画像データに変換され、検査処理部２２に送られる。
検査処理部２２では画像データを画像処理し、検査対象
項目（例えば、基板５上の電子部品の位置ずれなど）に
ついて判定し、検査結果として出力する。出力されるデ
ータの内容は、当該検査対象の実装基板５を特定するデ
ータ、当該実装基板５の不良部品の番号、および不良種
類を示すデータである。
【００１２】検査部２０から出力された検査結果は、検
査結果一時記憶部２３に一時的に記憶される。検査結果
出力先指定手段２４は、検査結果一時記憶部２３に記憶
されたデータを出力する出力先を指定する。ここで検査
結果の出力先として、選択により２通りの指定を行うこ
とができる。１つは、矢印ａに示すように検査結果出力
手段２５により検査結果をネットワーク手段であるＬＡ
Ｎシステム３を介して外部に出力する選択であり、他の
１つは矢印ｂで示すように当該外観検査装置２Ａに備え
られている検査結果記憶部２７にデータを転送する選択
である。
査結果一時記憶部２３に一時的に記憶される。検査結果
出力先指定手段２４は、検査結果一時記憶部２３に記憶
されたデータを出力する出力先を指定する。ここで検査
結果の出力先として、選択により２通りの指定を行うこ
とができる。１つは、矢印ａに示すように検査結果出力
手段２５により検査結果をネットワーク手段であるＬＡ
Ｎシステム３を介して外部に出力する選択であり、他の
１つは矢印ｂで示すように当該外観検査装置２Ａに備え
られている検査結果記憶部２７にデータを転送する選択
である。
【００１３】また、外観検査装置２Ａには、ＬＡＮシス
テム３を介して他の外観検査装置２Ｂ、２Ｃの検査結果
のデータを受け入れる検査結果入力手段２６を備えてい
る。これらの他の外観検査装置２Ｂ、２Ｃのデータは、
矢印ｃで示すように検査結果入力手段２６を介して検査
結果合成手段２８に送られ、ここで検査結果記憶部２７
に記憶されている当該検査装置２Ａによる検査結果のデ
ータと合成される。すなわち同一の基板５について、外
観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃに振り分けて行われた各検
査対象項目のデータを同一実装基板ごとにまとめて全検
査項目を網羅した最終検査結果とする。この最終検査結
果のデータは、最終検査結果記憶部２９に記憶され、必
要に応じて最終検査結果出力手段３０により、ＬＡＮシ
ステム３を介して外部に出力される。
テム３を介して他の外観検査装置２Ｂ、２Ｃの検査結果
のデータを受け入れる検査結果入力手段２６を備えてい
る。これらの他の外観検査装置２Ｂ、２Ｃのデータは、
矢印ｃで示すように検査結果入力手段２６を介して検査
結果合成手段２８に送られ、ここで検査結果記憶部２７
に記憶されている当該検査装置２Ａによる検査結果のデ
ータと合成される。すなわち同一の基板５について、外
観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃに振り分けて行われた各検
査対象項目のデータを同一実装基板ごとにまとめて全検
査項目を網羅した最終検査結果とする。この最終検査結
果のデータは、最終検査結果記憶部２９に記憶され、必
要に応じて最終検査結果出力手段３０により、ＬＡＮシ
ステム３を介して外部に出力される。
【００１４】次に図３に示すように、最終検査結果はパ
ソコン４の最終検査結果受信手段４１にて受信され、最
終検査結果記憶部４２に記憶される。ここで、最終検査
結果として出力される内容は、各実装基板５ごとに実装
基板５を特定するデータと不良部品の番号と不良の種類
（例えば、部品位置ずれ、半田不良など）を示すデータ
に限られている。したがってオペレータが実際に不良箇
所のリペアを行うにはこれらのデータのみでは不十分で
あるため、パソコン４に記憶されている検査基板情報４
４により当該実装基板５の詳細情報を読み出し、最終検
査結果とこの実装基板５の詳細情報により検査結果画面
を作成する。この検査結果画面は当該基板中にあるリペ
アを必要とする部品の位置および必要なリペアの種類を
示すものであり、検査結果情報画面出力手段４３によっ
てパソコン４のモニタ画面に表示される。これにより、
オペレータは実装基板５内でのリペア箇所の位置とリペ
アの種類を容易に理解することができ、リペア作業の効
率を向上させることができる。
ソコン４の最終検査結果受信手段４１にて受信され、最
終検査結果記憶部４２に記憶される。ここで、最終検査
結果として出力される内容は、各実装基板５ごとに実装
基板５を特定するデータと不良部品の番号と不良の種類
（例えば、部品位置ずれ、半田不良など）を示すデータ
に限られている。したがってオペレータが実際に不良箇
所のリペアを行うにはこれらのデータのみでは不十分で
あるため、パソコン４に記憶されている検査基板情報４
４により当該実装基板５の詳細情報を読み出し、最終検
査結果とこの実装基板５の詳細情報により検査結果画面
を作成する。この検査結果画面は当該基板中にあるリペ
アを必要とする部品の位置および必要なリペアの種類を
示すものであり、検査結果情報画面出力手段４３によっ
てパソコン４のモニタ画面に表示される。これにより、
オペレータは実装基板５内でのリペア箇所の位置とリペ
アの種類を容易に理解することができ、リペア作業の効
率を向上させることができる。
【００１５】このように、本実施の形態１は、外観検査
ライン１を構成する複数の外観検査装置２Ａ、２Ｂ、２
Ｃのうちの特定の一台（通常は最終検査項目を担当する
外観検査装置が選ばれる）に、他の外観検査装置による
検査結果を含めて単一の最終検査結果の取りまとめを行
わせるようにしたものである。これにより、オペレータ
は外観検査後の実装基板５のリペアを行うに際し、従来
のように複数の外観検査装置２Ａ、２Ｂ、２Ｃからそれ
ぞれ送られる検査結果を個別に参照する必要がなく、同
一の基板については単一の最終検査結果のみを参照して
必要なリペアをすべて同一タイミングで行うことができ
る。
ライン１を構成する複数の外観検査装置２Ａ、２Ｂ、２
Ｃのうちの特定の一台（通常は最終検査項目を担当する
外観検査装置が選ばれる）に、他の外観検査装置による
検査結果を含めて単一の最終検査結果の取りまとめを行
わせるようにしたものである。これにより、オペレータ
は外観検査後の実装基板５のリペアを行うに際し、従来
のように複数の外観検査装置２Ａ、２Ｂ、２Ｃからそれ
ぞれ送られる検査結果を個別に参照する必要がなく、同
一の基板については単一の最終検査結果のみを参照して
必要なリペアをすべて同一タイミングで行うことができ
る。
【００１６】（実施の形態２）図４は本発明の実施の形
態２の外観検査システムのブロック図である。図４にお
いて、外観検査装置２Ａの検査部２０から出力される検
査結果は検査結果一時記憶部２３に一時的に記憶され
る。その後、検査結果出力先指定手段２４により出力先
が外部に指定され、検査結果出力手段２５によりＬＡＮ
システム３に出力される。なお、外観検査装置２Ｂ，２
Ｃからも同様に検査結果がＬＡＮシステム３に出力され
る。
態２の外観検査システムのブロック図である。図４にお
いて、外観検査装置２Ａの検査部２０から出力される検
査結果は検査結果一時記憶部２３に一時的に記憶され
る。その後、検査結果出力先指定手段２４により出力先
が外部に指定され、検査結果出力手段２５によりＬＡＮ
システム３に出力される。なお、外観検査装置２Ｂ，２
Ｃからも同様に検査結果がＬＡＮシステム３に出力され
る。
【００１７】これらの各外観検査装置２Ａ，２Ｂ，２Ｃ
からの検査結果はパソコン４の検査結果入力手段４６に
入力される。これらの検査結果は、検査対象の実装基板
５ごとに集められ、検査結果合成手段４７により単一の
最終検査結果として合成され、最終検査結果記憶部４２
に記憶される。このように本実施の形態２は、検査結果
の合成を外観検査ライン１の管理コンピュータであるパ
ソコン４で行うものであり、検査結果の合成後について
は実施の形態１と同様である。
からの検査結果はパソコン４の検査結果入力手段４６に
入力される。これらの検査結果は、検査対象の実装基板
５ごとに集められ、検査結果合成手段４７により単一の
最終検査結果として合成され、最終検査結果記憶部４２
に記憶される。このように本実施の形態２は、検査結果
の合成を外観検査ライン１の管理コンピュータであるパ
ソコン４で行うものであり、検査結果の合成後について
は実施の形態１と同様である。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、複数の外観検査装置に
より構成される外観検査システムにおいて、同一の基板
の複数の外観検査装置による個別の検査結果を単一の最
終検査結果にまとめて出力するようにしているので、外
観検査後に実装基板のリペアを行うに際し、従来のよう
に各外観検査装置から出力された検査結果を個別に参照
する必要がなく、単一の最終検査結果のみに基いて必要
なリペアをすべて同一タイミングで行うことができ、リ
ペア時の作業性を向上させることができる。
より構成される外観検査システムにおいて、同一の基板
の複数の外観検査装置による個別の検査結果を単一の最
終検査結果にまとめて出力するようにしているので、外
観検査後に実装基板のリペアを行うに際し、従来のよう
に各外観検査装置から出力された検査結果を個別に参照
する必要がなく、単一の最終検査結果のみに基いて必要
なリペアをすべて同一タイミングで行うことができ、リ
ペア時の作業性を向上させることができる。
【図１】本発明の実施の形態１の実装基板の外観検査シ
ステムの構成を示す斜視図
ステムの構成を示す斜視図
【図２】本発明の実施の形態１の外観検査装置の構成を
示すブロック図
示すブロック図
【図３】本発明の実施の形態１の外観検査システムのブ
ロック図
ロック図
【図４】本発明の実施の形態２の外観検査システムのブ
ロック図
ロック図
１ 外観検査ライン ２Ａ、２Ｂ、２Ｃ 外観検査装置 ３ ＬＡＮシステム ４ パソコン ５ 実装基板 ６ カメラ ２０ 検査部 ２３ 検査結果一時記憶部 ２４ 検査結果出力先指定手段 ２５ 検査結果出力手段 ２６ 検査結果入力手段 ２９ 最終検査結果記憶部 ４１ 最終検査結果受信手段 ４２ 最終検査結果記憶部 ４３ 検査結果情報画面出力手段
Claims (4)
- 【請求項１】実装基板の外観検査を行う検査部と、この
検査結果を記憶する記憶部と、前記検査結果の出力先を
指定する出力先指定手段と、前記検査結果を外部へ出力
する出力手段と、他の外観検査装置による検査結果を当
該検査装置に入力する入力手段とを備え、前記出力先指
定手段により指定された出力先が他の外観検査装置であ
るならば前記検査結果を出力手段により他の外観検査装
置へ出力し、前記出力先指定手段により指定された出力
先が当該検査装置であるならば入力手段により得た他の
外観検査装置による検査結果と共に当該検査装置による
検査結果を最終検査結果記憶部に記憶させることを特徴
とする実装基板の外観検査装置。 - 【請求項２】生産ライン上に配置された複数の実装基板
の外観検査装置より構成され、これらの外観検査装置と
ネットワーク手段を介して接続された管理コンピュータ
を有し、前記外観検査装置のいずれかに、当該外観検査
装置による検査結果とともに他の外観検査装置による検
査結果を記憶する最終検査結果記憶部を備え、この最終
検査結果記憶部に記憶された検査結果を同一の基板につ
いての単一の最終検査結果として前記管理コンピュータ
へ出力し、この管理コンピュータの画面に表示すること
を特徴とする実装基板の外観検査システム。 - 【請求項３】生産ライン上に配置された複数の実装基板
の外観検査装置より構成され、これらの外観検査装置と
ネットワーク手段を介して接続された管理コンピュータ
を有し、前記外観検査装置による検査結果をネットワー
ク手段を介して前記管理コンピュータに出力し、この管
理コンピュータに備えられた検査結果合成手段によって
前記検査結果を合成し、同一の基板についての単一の最
終検査結果として管理コンピュータの画面に表示するこ
とを特徴とする実装基板の外観検査システム。 - 【請求項４】同一の実装基板を生産ライン上に配置され
た複数の外観検査装置により順次検査する実装基板の外
観検査方法であって、前記外観検査装置のいずれかに、
前記同一の実装基板についての当該外観装置による検査
結果とともに他の外観検査装置による検査結果を最終検
査結果として記憶させ、この最終検査結果を前記同一の
実装基板についての単一の最終検査結果として出力手段
により管理コンピュータへ出力することを特徴とする実
装基板の外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27838297A JP3514087B2 (ja) | 1997-10-13 | 1997-10-13 | 実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27838297A JP3514087B2 (ja) | 1997-10-13 | 1997-10-13 | 実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11118439A true JPH11118439A (ja) | 1999-04-30 |
| JP3514087B2 JP3514087B2 (ja) | 2004-03-31 |
Family
ID=17596569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27838297A Expired - Fee Related JP3514087B2 (ja) | 1997-10-13 | 1997-10-13 | 実装基板の外観検査装置および外観検査システムならびに外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3514087B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006177887A (ja) * | 2004-12-24 | 2006-07-06 | Saki Corp:Kk | 被検査体の外観検査装置 |
| US7590279B2 (en) | 2004-12-24 | 2009-09-15 | Saki Corporation | Appearance inspection apparatus for inspecting inspection piece |
| WO2014069069A1 (ja) * | 2012-10-30 | 2014-05-08 | シャープ株式会社 | 欠陥修正装置、欠陥修正システム、および欠陥修正方法 |
-
1997
- 1997-10-13 JP JP27838297A patent/JP3514087B2/ja not_active Expired - Fee Related
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