JPH11119821A - 機能設計支援方式 - Google Patents
機能設計支援方式Info
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- JPH11119821A JPH11119821A JP28490797A JP28490797A JPH11119821A JP H11119821 A JPH11119821 A JP H11119821A JP 28490797 A JP28490797 A JP 28490797A JP 28490797 A JP28490797 A JP 28490797A JP H11119821 A JPH11119821 A JP H11119821A
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- JP
- Japan
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- test
- pattern
- function
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- graphical
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】システムの機能設計のうち、特に、制御ソフト
ウェアの設計、及び、システムテスト仕様の設計、実施
する方式を、システムの状態遷移の単位ごとにボックス
形状のグラフィカルパターンで表現、操作することで実
現する。 【解決手段】システムの機能仕様103は、複数のI/
Oサブシステムの信号パターンから構成される。しか
し、システムテストの段階では、システムの動作開始状
態と終了の状態を確認するテスト項目が多い。そこで、
システムの状態遷移の単位をグラフィカルなボックスパ
ターンで示し、テスト仕様をボックスパターンの配置で
作成する。ユーザは、パターン編集部104の持つウィ
ンドウ上に示された信号パターンに対し、マウス範囲指
定したする。指定部分はテスト仕様処理部105によ
り、テスト項目のボックスパターンとなる。このよう
に、対話的に、かつ、効率的にテスト仕様106を作成
することができる。また、ボックスパターンの配置でシ
ステム制御の全体像が簡潔に把握できるため、機能仕様
の検討にも効果がある。
ウェアの設計、及び、システムテスト仕様の設計、実施
する方式を、システムの状態遷移の単位ごとにボックス
形状のグラフィカルパターンで表現、操作することで実
現する。 【解決手段】システムの機能仕様103は、複数のI/
Oサブシステムの信号パターンから構成される。しか
し、システムテストの段階では、システムの動作開始状
態と終了の状態を確認するテスト項目が多い。そこで、
システムの状態遷移の単位をグラフィカルなボックスパ
ターンで示し、テスト仕様をボックスパターンの配置で
作成する。ユーザは、パターン編集部104の持つウィ
ンドウ上に示された信号パターンに対し、マウス範囲指
定したする。指定部分はテスト仕様処理部105によ
り、テスト項目のボックスパターンとなる。このよう
に、対話的に、かつ、効率的にテスト仕様106を作成
することができる。また、ボックスパターンの配置でシ
ステム制御の全体像が簡潔に把握できるため、機能仕様
の検討にも効果がある。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、システムの機能設
計のうち、特に、制御ソフトウェアの設計、及び、シス
テムテスト仕様の設計、実施を迅速化するのに好適であ
る。
計のうち、特に、制御ソフトウェアの設計、及び、シス
テムテスト仕様の設計、実施を迅速化するのに好適であ
る。
【0002】
【従来の技術】機能設計においては、単に仕様として設
計作業を行うだけでなく、その仕様を確認するための手
段が必要である。
計作業を行うだけでなく、その仕様を確認するための手
段が必要である。
【0003】システム制御のテスト工程では、制御され
るI/Oの状態を逐次計測することが重要となってい
る。そこで、実機のI/Oに測定装置を接続し、波形で
示される信号をもとにシステムの状況を確認している。
測定装置は、オシロスコープのようなハード装置もある
が、最近は、対象システムをコンピュータ上で測定する
ソフトウェアがいくつも見られるようになった。その代
表ソフトウェアである米国National Instruments Corp.
の「LabVIEW」は、入力した信号を、コンピュータのデ
ィスプレイにオシロスコープのように表示させることが
できる。また、信号の種類に応じたグラフィカルな表示
部品を用意しており、入力された信号の波形をユーザが
変換して表示させることもできる。しかし、このような
測定装置は、比較的微少な信号の測定を表示させるため
のものであり、実際のテスト仕様も、その表示形式にも
とづいて記述する必要があり、これはかなりの工数を必
要とする。システムテストの段階では、システムの状態
遷移の単位で動作開始状態と終了の状態を確認するテス
ト項目が多い。特定の波形だけでは、システム全体とし
ての動作のタイミングが分かりづらく、テスト仕様にも
とづく照合作業も熟練を必要としている。
るI/Oの状態を逐次計測することが重要となってい
る。そこで、実機のI/Oに測定装置を接続し、波形で
示される信号をもとにシステムの状況を確認している。
測定装置は、オシロスコープのようなハード装置もある
が、最近は、対象システムをコンピュータ上で測定する
ソフトウェアがいくつも見られるようになった。その代
表ソフトウェアである米国National Instruments Corp.
の「LabVIEW」は、入力した信号を、コンピュータのデ
ィスプレイにオシロスコープのように表示させることが
できる。また、信号の種類に応じたグラフィカルな表示
部品を用意しており、入力された信号の波形をユーザが
変換して表示させることもできる。しかし、このような
測定装置は、比較的微少な信号の測定を表示させるため
のものであり、実際のテスト仕様も、その表示形式にも
とづいて記述する必要があり、これはかなりの工数を必
要とする。システムテストの段階では、システムの状態
遷移の単位で動作開始状態と終了の状態を確認するテス
ト項目が多い。特定の波形だけでは、システム全体とし
ての動作のタイミングが分かりづらく、テスト仕様にも
とづく照合作業も熟練を必要としている。
【0004】テスト仕様を作成するための技術として、
「プログラムスライシング技術」がある。プログラムスラ
イシング技術は、プログラムの機能や構造を解析するこ
とによりテストデータを自動生成するものであるが、こ
の技術で生成されたテストデータは、プログラムの構造
にのみ依存しており、メカニカル装置の制御システムの
ような機械の状態をテストデータとして考慮することは
できない。また、このようなテストデータの生成方法で
は機能仕様に変更が生じた場合、変更に対応するプログ
ラムの情報も必要となる。
「プログラムスライシング技術」がある。プログラムスラ
イシング技術は、プログラムの機能や構造を解析するこ
とによりテストデータを自動生成するものであるが、こ
の技術で生成されたテストデータは、プログラムの構造
にのみ依存しており、メカニカル装置の制御システムの
ような機械の状態をテストデータとして考慮することは
できない。また、このようなテストデータの生成方法で
は機能仕様に変更が生じた場合、変更に対応するプログ
ラムの情報も必要となる。
【0005】一方、システムの機能仕様を部品化し、再
利用を図るシステムが見られるようになった。LSIの
機能設計の分野では、例えばGreen Mountain Comput
ingSysytem社の「Accolade Peak VHDL」システ
ムのように、特定の信号線をグラフィカルな波形で編集
し、これを合成するツールがいくつも見られる。しか
し、これらは特定の信号を論理処理するものであり、論
理的な信号数とタイミングの一致のみで部品の再利用が
行われている。システムの状態に順序性がある場合、各
部品の仕様からこの論理情報を判断するのは困難であ
り、システム全体としての論理情報が必要となる。
利用を図るシステムが見られるようになった。LSIの
機能設計の分野では、例えばGreen Mountain Comput
ingSysytem社の「Accolade Peak VHDL」システ
ムのように、特定の信号線をグラフィカルな波形で編集
し、これを合成するツールがいくつも見られる。しか
し、これらは特定の信号を論理処理するものであり、論
理的な信号数とタイミングの一致のみで部品の再利用が
行われている。システムの状態に順序性がある場合、各
部品の仕様からこの論理情報を判断するのは困難であ
り、システム全体としての論理情報が必要となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記問題点を解決する
ために、本発明の第一の目的は、システムテストの仕様
として、システム全体の状態遷移が把握でき、簡潔、か
つ、効率的にテスト仕様を作成することのできる機能設
計支援方式を提供することにある。
ために、本発明の第一の目的は、システムテストの仕様
として、システム全体の状態遷移が把握でき、簡潔、か
つ、効率的にテスト仕様を作成することのできる機能設
計支援方式を提供することにある。
【0007】また、本発明の第二の目的は、システムが
制御される微少な信号パターンからテストすべき情報を
解析し、テスト仕様との照合を容易に行うことのできる
機能設計支援方式を提供することにある。
制御される微少な信号パターンからテストすべき情報を
解析し、テスト仕様との照合を容易に行うことのできる
機能設計支援方式を提供することにある。
【0008】また、本発明の第三の目的は、システムの
機能設計の変更にともなうテスト仕様の修正作業を、効
率的に実施することのできる機能設計支援方式を提供す
ることにある。
機能設計の変更にともなうテスト仕様の修正作業を、効
率的に実施することのできる機能設計支援方式を提供す
ることにある。
【0009】また、本発明の第四の目的は、システムを
制御する信号パターンを部品化し、その組み合わせによ
ってシステムの機能仕様を作成することの容易な機能設
計支援方式を提供することにある。
制御する信号パターンを部品化し、その組み合わせによ
ってシステムの機能仕様を作成することの容易な機能設
計支援方式を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の機能設計支援方式は、(イ)システムの機
能仕様となる信号パターンの編集処理部を有する。この
編集処理部を利用して、システムの状態遷移の単位とな
る範囲をユーザと対話的に選択する。この選択範囲はボ
ックス形状のグラフィカルパターンとして表現される。
このボックスパターンをテスト仕様における1テスト項
目とする。テストすべき項目を、ボックスパターンの属
性として付加する。ボックスパターン内部の信号パター
ンの情報は、機能仕様と結びつけられる。
め、本発明の機能設計支援方式は、(イ)システムの機
能仕様となる信号パターンの編集処理部を有する。この
編集処理部を利用して、システムの状態遷移の単位とな
る範囲をユーザと対話的に選択する。この選択範囲はボ
ックス形状のグラフィカルパターンとして表現される。
このボックスパターンをテスト仕様における1テスト項
目とする。テストすべき項目を、ボックスパターンの属
性として付加する。ボックスパターン内部の信号パター
ンの情報は、機能仕様と結びつけられる。
【0011】また、本発明の機能設計支援方式は、
(ロ)システムが実行する信号パターンを、ボックスパ
ターンに変更する処理部を有する。システムの実行結果
が、(イ)におけるボックスパターンとして表示され
る。また、システム実行結果であるボックスパターン
と、テスト仕様におけるボックスパターンを照合する処
理部を有する。照合の結果は、この2つのボックスパタ
ーン単位で行われる。また、システム実行の結果と、テ
スト仕様を同時に表示する処理部を有する。この表示処
理部は、時間を軸に2つの表示部が連動してスクロール
する。
(ロ)システムが実行する信号パターンを、ボックスパ
ターンに変更する処理部を有する。システムの実行結果
が、(イ)におけるボックスパターンとして表示され
る。また、システム実行結果であるボックスパターン
と、テスト仕様におけるボックスパターンを照合する処
理部を有する。照合の結果は、この2つのボックスパタ
ーン単位で行われる。また、システム実行の結果と、テ
スト仕様を同時に表示する処理部を有する。この表示処
理部は、時間を軸に2つの表示部が連動してスクロール
する。
【0012】また、本発明の機能設計支援方式は、
(ハ)元の機能仕様と、変更された機能仕様を、信号パ
ターンの形状のレベルで比較する処理部を有する。ま
た、信号パターンの形状にもとづく差分抽出をもとに、
元のテスト仕様に修正を加える処理部を有する。
(ハ)元の機能仕様と、変更された機能仕様を、信号パ
ターンの形状のレベルで比較する処理部を有する。ま
た、信号パターンの形状にもとづく差分抽出をもとに、
元のテスト仕様に修正を加える処理部を有する。
【0013】また、本発明の機能設計支援方式は、
(ニ)(イ)におけるボックスパターンに対し規則を付
加する。この規則により、ボックスパターン間での関係
が定義できる。また、ボックスパターンを任意に配置す
る編集処理部を有する。また、ボックスパターンの配置
が、付加された規則に適合しているかを照合する処理部
を有する。また、ボックスパターンの配置の関係から、
ボックスパターンの内部の信号パターンを合成する処理
部を有する。
(ニ)(イ)におけるボックスパターンに対し規則を付
加する。この規則により、ボックスパターン間での関係
が定義できる。また、ボックスパターンを任意に配置す
る編集処理部を有する。また、ボックスパターンの配置
が、付加された規則に適合しているかを照合する処理部
を有する。また、ボックスパターンの配置の関係から、
ボックスパターンの内部の信号パターンを合成する処理
部を有する。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
により説明する。なお、この実施例により本発明が限定
されるものではない。
により説明する。なお、この実施例により本発明が限定
されるものではない。
【0015】図1は、本発明の機能設計支援装置の機能
構成図である。表示装置101は、情報をグラフィカル
に表示できる機能を有する。入力装置102は、キーボ
ード、マウスなどのデータ入力手段である。
構成図である。表示装置101は、情報をグラフィカル
に表示できる機能を有する。入力装置102は、キーボ
ード、マウスなどのデータ入力手段である。
【0016】図2は、機能仕様103の構成図である。
機能仕様103は対象システムを構成する全てのユニッ
トの一覧201と、それぞれのユニットを構成するI/
Oサブシステムの一覧202と、そのI/Oサブシステ
ムを制御するタイミング203を仕様の要素として持
つ。I/Oサブシステムの制御は、204に示されるよ
うに、システム制御の経過時刻におけるディジタル信号
の変化のパターンによって示される。
機能仕様103は対象システムを構成する全てのユニッ
トの一覧201と、それぞれのユニットを構成するI/
Oサブシステムの一覧202と、そのI/Oサブシステ
ムを制御するタイミング203を仕様の要素として持
つ。I/Oサブシステムの制御は、204に示されるよ
うに、システム制御の経過時刻におけるディジタル信号
の変化のパターンによって示される。
【0017】図1に戻り、パターン編集部104は、I
/Oサブシステムの信号の変化のパターンをグラフィカ
ルに表示したり、加工したりする機能を有する。
/Oサブシステムの信号の変化のパターンをグラフィカ
ルに表示したり、加工したりする機能を有する。
【0018】図3は、機能仕様103を入力例とした機
能仕様表示の例示図である。機能仕様表示ウィンドウ3
01ように、機能仕様は独立したウィンドウにより表示
され、垂直スクロールバー302、水平スクロールバー
303を操作することにより、仕様全体を観察すること
ができる。
能仕様表示の例示図である。機能仕様表示ウィンドウ3
01ように、機能仕様は独立したウィンドウにより表示
され、垂直スクロールバー302、水平スクロールバー
303を操作することにより、仕様全体を観察すること
ができる。
【0019】図1に戻り、テスト仕様106は、機能仕
様103にもとづき作成されたシステムの動作確認を行
うためのテスト項目を書き記したものである。ここで、
テスト仕様106におけるテスト項目がどのようなもの
かを示す。
様103にもとづき作成されたシステムの動作確認を行
うためのテスト項目を書き記したものである。ここで、
テスト仕様106におけるテスト項目がどのようなもの
かを示す。
【0020】図4は、ある制御システムにおける1テス
ト項目の例を示したものである。401は、グリップで
物をつかみ、上下左右に移動させるといったメカニカル
装置であり、4つのモータを制御することで動作する。
その制御は機能仕様103に示されるように、各I/O
サブシステムの信号パターンにより与えられる。実際、
機能仕様103で与えられた仕様が期待通りに動作した
ものか否かは、その信号パターンが仕様とおりに発生
し、かつ、モータの動作に連動してメカニカル装置が動
作することを確認しなければならない。しかし、I/O
サブシステムの信号パターン確認レベルの厳密なテスト
はあくまで単体テストの段階のものであり、システムの
開発工程が進んだ段階では効率を考えても実施すべきで
はない。システムテストの段階では、システムが、ある
意味のある状態遷移の単位で実施される。401でのメ
カニカル装置の動作は、「待避位置から物をつかむため
の所定位置に移動する」ということを例示しており、こ
れは、システムの初期状態から、物をつかむという制御
の状態遷移の1単位を示している。これは、システムテ
ストの段階では「待避位置の動作開始タイミングと、所
定位置への移動、及び、そのタイミング」を確認するレ
ベルで実施される。これは、402に示すように、機能
仕様103における特定の時間範囲と、それに付随する
I/Oサブシステムの状態、また、I/Oサブシステム
から算出される特定のシステムの値についての確認であ
ることと同値である。そこで、特定の時間範囲と、その
時刻に関連するデータの値を1テスト項目として表現す
ることとする。
ト項目の例を示したものである。401は、グリップで
物をつかみ、上下左右に移動させるといったメカニカル
装置であり、4つのモータを制御することで動作する。
その制御は機能仕様103に示されるように、各I/O
サブシステムの信号パターンにより与えられる。実際、
機能仕様103で与えられた仕様が期待通りに動作した
ものか否かは、その信号パターンが仕様とおりに発生
し、かつ、モータの動作に連動してメカニカル装置が動
作することを確認しなければならない。しかし、I/O
サブシステムの信号パターン確認レベルの厳密なテスト
はあくまで単体テストの段階のものであり、システムの
開発工程が進んだ段階では効率を考えても実施すべきで
はない。システムテストの段階では、システムが、ある
意味のある状態遷移の単位で実施される。401でのメ
カニカル装置の動作は、「待避位置から物をつかむため
の所定位置に移動する」ということを例示しており、こ
れは、システムの初期状態から、物をつかむという制御
の状態遷移の1単位を示している。これは、システムテ
ストの段階では「待避位置の動作開始タイミングと、所
定位置への移動、及び、そのタイミング」を確認するレ
ベルで実施される。これは、402に示すように、機能
仕様103における特定の時間範囲と、それに付随する
I/Oサブシステムの状態、また、I/Oサブシステム
から算出される特定のシステムの値についての確認であ
ることと同値である。そこで、特定の時間範囲と、その
時刻に関連するデータの値を1テスト項目として表現す
ることとする。
【0021】図5は、1テスト項目に関し、時間範囲を
ボックス形状のグラフィカルパターンで表現したもので
ある。ボックスパターン501は、機能仕様103にお
ける時間範囲を横方向に、I/Oサブシステムの構成を
縦方向に表現する。ボックスパターン501の左右の端
にあるトライアングルマーク502、503は、それぞ
れその時刻でのシステムに関連するデータの値をチェッ
クするタイミングを示す。ボックスパターン501のよ
うにグラフィカルな形状で表現することで、I/Oサブ
システムの構成や、その信号パターンは隠蔽される。し
かし、この隠蔽により、テスト項目で確認すべき項目だ
けが表示され、そのテストレベルに応じた、明快なテス
ト仕様書を作成できる。
ボックス形状のグラフィカルパターンで表現したもので
ある。ボックスパターン501は、機能仕様103にお
ける時間範囲を横方向に、I/Oサブシステムの構成を
縦方向に表現する。ボックスパターン501の左右の端
にあるトライアングルマーク502、503は、それぞ
れその時刻でのシステムに関連するデータの値をチェッ
クするタイミングを示す。ボックスパターン501のよ
うにグラフィカルな形状で表現することで、I/Oサブ
システムの構成や、その信号パターンは隠蔽される。し
かし、この隠蔽により、テスト項目で確認すべき項目だ
けが表示され、そのテストレベルに応じた、明快なテス
ト仕様書を作成できる。
【0022】このボックスパターンによるテスト項目の
編集は、パターン編集部104にて実施する。図6は、
パターン編集部104によるテスト仕様編集のフローチ
ャートである。ステップ601では、テストすべき1項
目の対象I/Oサブシステム、及び、時間範囲を指定す
る。この指定は、パターン編集部104によって示され
た機能仕様103の情報を入力装置102におけるマウ
スにより指定すればよい。ステップ602では、ステッ
プ601での指定範囲から、時刻の情報を取得する。こ
れは、ボックスパターン501における横方向の情報で
ある。ステップ603では、ステップ601での指定範
囲から、I/Oサブシステムの情報を取得する。これ
は、ボックスパターン501における縦方向の情報であ
る。ステップ604では、ステップ603でのI/Oサ
ブシステムの情報から、ユニットの情報を取得する。ス
テップ605では、ボックスパターン501の両端でチ
ェックすべき値を入力する。このとき、端にボックスパ
ターン501内部のI/Oサブシステムの値だけに限定
されない。ステップ606では、ボックスパターン50
1に対するテスト項目の識別としての名称を入力し、こ
れで1テスト項目としてのボックスパターン501が生
成される。ステップ607では、全てのテストすべき項
目を入力したか否かを判断し、Yesであればテスト仕様
の編集処理を終了し、Noであればステップ601に戻
り、テスト仕様の編集の残りの処理を続行する。
編集は、パターン編集部104にて実施する。図6は、
パターン編集部104によるテスト仕様編集のフローチ
ャートである。ステップ601では、テストすべき1項
目の対象I/Oサブシステム、及び、時間範囲を指定す
る。この指定は、パターン編集部104によって示され
た機能仕様103の情報を入力装置102におけるマウ
スにより指定すればよい。ステップ602では、ステッ
プ601での指定範囲から、時刻の情報を取得する。こ
れは、ボックスパターン501における横方向の情報で
ある。ステップ603では、ステップ601での指定範
囲から、I/Oサブシステムの情報を取得する。これ
は、ボックスパターン501における縦方向の情報であ
る。ステップ604では、ステップ603でのI/Oサ
ブシステムの情報から、ユニットの情報を取得する。ス
テップ605では、ボックスパターン501の両端でチ
ェックすべき値を入力する。このとき、端にボックスパ
ターン501内部のI/Oサブシステムの値だけに限定
されない。ステップ606では、ボックスパターン50
1に対するテスト項目の識別としての名称を入力し、こ
れで1テスト項目としてのボックスパターン501が生
成される。ステップ607では、全てのテストすべき項
目を入力したか否かを判断し、Yesであればテスト仕様
の編集処理を終了し、Noであればステップ601に戻
り、テスト仕様の編集の残りの処理を続行する。
【0023】図7にパターン編集部104におけるテス
ト仕様編集の例示図を示す。機能仕様表示ウィンドウ3
01上をステップ712のようにマウスで範囲指定する
と、ボックスパターン編集ウィンドウ701が現れる。
このとき、I/Oサブシステムの信号パターン表示の部
分だけでなく、ボックスパターンそのものを指定範囲に
含む事ができる。ボックスパターン編集ウィンドウ70
1内部には、ボックスパターン501を生成するために
必要な項目に対する入力欄がある。テスト名称入力欄7
02には、1システムテスト項目する名称を入力する。
動作名称入力欄703にはボックスパターン501の名
称を入力する。ユニット名称表示欄704は、ステップ
604で取得したボックスパターン501に含まれるユ
ニットが表示される。ユニット名称表示欄704にユー
ザが直接ユニットを入力し、ユニットの構成を変更する
ことも可能である。I/O構成表示欄705は、ステッ
プ603で取得したボックスパターン501に含まれる
ユニットが表示される。I/O構成表示欄705にユー
ザが直接I/Oサブシステムを入力し、I/O構成を変
更することも可能である。ユニット名称表示欄704
は、ステップ604で取得したボックスパターン501
に含まれるユニットが表示される。ユニット名称表示欄
704にユーザが直接ユニットを入力し、ユニットの構
成を変更することも可能である。時刻表示欄708、値
入力欄709、評価式入力欄710は、それぞれ開始時
刻706、終了時刻707における値を表現する。時刻
表示欄708はステップ602で取得したボックスパタ
ーン501の両端となる開始時刻、終了時刻が表示され
る。ユーザが直接時刻を入力することも可能である。値
入力欄709、評価式入力欄710には、テストすべき
値と、その値がシステムに関連する情報を評価式として
入力する。ボックスパターン編集ウィンドウ701内の
入力欄に全ての必要な値を入力すると、ボックスパター
ン711に示されるボックス形状のグラフィカルパター
ンが表示される。
ト仕様編集の例示図を示す。機能仕様表示ウィンドウ3
01上をステップ712のようにマウスで範囲指定する
と、ボックスパターン編集ウィンドウ701が現れる。
このとき、I/Oサブシステムの信号パターン表示の部
分だけでなく、ボックスパターンそのものを指定範囲に
含む事ができる。ボックスパターン編集ウィンドウ70
1内部には、ボックスパターン501を生成するために
必要な項目に対する入力欄がある。テスト名称入力欄7
02には、1システムテスト項目する名称を入力する。
動作名称入力欄703にはボックスパターン501の名
称を入力する。ユニット名称表示欄704は、ステップ
604で取得したボックスパターン501に含まれるユ
ニットが表示される。ユニット名称表示欄704にユー
ザが直接ユニットを入力し、ユニットの構成を変更する
ことも可能である。I/O構成表示欄705は、ステッ
プ603で取得したボックスパターン501に含まれる
ユニットが表示される。I/O構成表示欄705にユー
ザが直接I/Oサブシステムを入力し、I/O構成を変
更することも可能である。ユニット名称表示欄704
は、ステップ604で取得したボックスパターン501
に含まれるユニットが表示される。ユニット名称表示欄
704にユーザが直接ユニットを入力し、ユニットの構
成を変更することも可能である。時刻表示欄708、値
入力欄709、評価式入力欄710は、それぞれ開始時
刻706、終了時刻707における値を表現する。時刻
表示欄708はステップ602で取得したボックスパタ
ーン501の両端となる開始時刻、終了時刻が表示され
る。ユーザが直接時刻を入力することも可能である。値
入力欄709、評価式入力欄710には、テストすべき
値と、その値がシステムに関連する情報を評価式として
入力する。ボックスパターン編集ウィンドウ701内の
入力欄に全ての必要な値を入力すると、ボックスパター
ン711に示されるボックス形状のグラフィカルパター
ンが表示される。
【0024】図1に戻り、テスト仕様処理部105は、
パターン編集部104によるテスト仕様編集処理をもと
に、ファイルとしてのテスト仕様106を生成するもの
である。
パターン編集部104によるテスト仕様編集処理をもと
に、ファイルとしてのテスト仕様106を生成するもの
である。
【0025】図8に、テスト仕様106の構成図を示
す。テスト仕様106は、テスト項目欄801ごとに階
層化された構造を持ち、テスト内容802はポインタに
より参照できる。1テスト項目803は、そのテスト内
のボックスパターンの集合である。ボックスパターン情
報804が、テストすべき情報として記載されている。
ボックスパターン情報804内の欄の構成は、ボックス
パターン編集ウィンドウ701ものと同じである。
す。テスト仕様106は、テスト項目欄801ごとに階
層化された構造を持ち、テスト内容802はポインタに
より参照できる。1テスト項目803は、そのテスト内
のボックスパターンの集合である。ボックスパターン情
報804が、テストすべき情報として記載されている。
ボックスパターン情報804内の欄の構成は、ボックス
パターン編集ウィンドウ701ものと同じである。
【0026】図9に、テスト仕様106の例示図を示
す。テスト仕様表示ウィンドウ901に示されるよう
に、テストに必要な情報のみが表示される。
す。テスト仕様表示ウィンドウ901に示されるよう
に、テストに必要な情報のみが表示される。
【0027】以上の実施例で述べたように、システムの
機能仕様103からパターン編集部104により直接編
集画面を利用して対話的に、かつ、効率的にテスト仕様
106を作成することができる。また、システムの状態
遷移の単位で分割し、ボックスパターン501でテスト
項目を表現することで、システム制御の全体像が把握で
きる。また、ボックスパターン501によりテストに必
要な情報だけを取得できるため、テスト仕様106の構
成が明解になる。
機能仕様103からパターン編集部104により直接編
集画面を利用して対話的に、かつ、効率的にテスト仕様
106を作成することができる。また、システムの状態
遷移の単位で分割し、ボックスパターン501でテスト
項目を表現することで、システム制御の全体像が把握で
きる。また、ボックスパターン501によりテストに必
要な情報だけを取得できるため、テスト仕様106の構
成が明解になる。
【0028】しかし、上記実施例においては、テスト仕
様106の作成の支援の段階にとどまり、テスト実施に
関して支援するものではない。ボックスパターン501
は、テストで確認すべき情報のみを示したものであり、
テストの結果はユーザが手作業で行うものである。さら
に、テストの結果は、何が問題であるかを明確にしなけ
ればならず、システム設計者以外がテストを行った際、
どのように報告すべきかが明確にならない。
様106の作成の支援の段階にとどまり、テスト実施に
関して支援するものではない。ボックスパターン501
は、テストで確認すべき情報のみを示したものであり、
テストの結果はユーザが手作業で行うものである。さら
に、テストの結果は、何が問題であるかを明確にしなけ
ればならず、システム設計者以外がテストを行った際、
どのように報告すべきかが明確にならない。
【0029】ボックスパターン内には、機能仕様103
におけるI/Oサブシステムの信号パターンが隠蔽され
ている。この信号パターンを直接システムの実行状況と
比較することで、テスト実施の効率をさらに向上させる
事ができる。
におけるI/Oサブシステムの信号パターンが隠蔽され
ている。この信号パターンを直接システムの実行状況と
比較することで、テスト実施の効率をさらに向上させる
事ができる。
【0030】次に説明する本発明の第二の実施例は、こ
の問題を考慮したものである。
の問題を考慮したものである。
【0031】図10に、本発明の第二実施例における機
能構成図である。図1と同じ番号を付けたもの(101
〜104、106)は図1のものと同一である。制御プ
ログラムは、機能仕様103を元に作成したシステム制
御のためのプログラムである。システム実行装置100
2は対象システムのハードそのものに加え、テスト実施
のために、I/Oサブシステムの信号パターンの値を時
間経過にともなって取得する手段を備えており、パター
ン抽出部1003にその値が送られる。
能構成図である。図1と同じ番号を付けたもの(101
〜104、106)は図1のものと同一である。制御プ
ログラムは、機能仕様103を元に作成したシステム制
御のためのプログラムである。システム実行装置100
2は対象システムのハードそのものに加え、テスト実施
のために、I/Oサブシステムの信号パターンの値を時
間経過にともなって取得する手段を備えており、パター
ン抽出部1003にその値が送られる。
【0032】図11に、パターン抽出部1003による
パターン抽出のフローチャートを示す。ステップ110
1では、システム実行装置1002でのシステム実行中
の時刻を監視する。ステップ1102では、テスト仕様
106内に、ステップ1101で監視している時刻と同
時刻のパターンがあるか否かを判断し、あればステップ
1103に、なければステップ1101に移る。ステッ
プ1103では、ステップ1102で検索されたボック
スパターンの情報から動作時刻範囲を取得し、システム
実行装置1002から出力されるI/Oサブシステムの
出力パターンを実行ログ情報として内部的に記録してお
く。ステップ1104では、ステップ1102で検索さ
れたボックスパターンの情報から同動作時刻範囲におけ
る機能仕様103でのI/Oサブシステムの仕様情報を
取得する。ステップ1105では、ステップ1102で
記録された実行ログとステップ1104で取得したしよ
う情報を比較し、一致すればステップ1106に移り、
一致しなければステップ1107に移る。ステップ11
06では、一致した信号パターンの情報をパターン編集
部104に出力する。この時、パターン編集部104は
テスト仕様106を参照し、システム実行装置1002
の実行結果をボックスパターン501の形式で表示され
る。これにより、システム実行装置1002での実行結
果は、パターン編集が可能な状態となる。ステップ11
07では、システム実行装置1002が実行中であるか
否かを判断し、実行中であればステップ1101に移り
処理を繰り返し、実行中でなければ処理を終了する。
パターン抽出のフローチャートを示す。ステップ110
1では、システム実行装置1002でのシステム実行中
の時刻を監視する。ステップ1102では、テスト仕様
106内に、ステップ1101で監視している時刻と同
時刻のパターンがあるか否かを判断し、あればステップ
1103に、なければステップ1101に移る。ステッ
プ1103では、ステップ1102で検索されたボック
スパターンの情報から動作時刻範囲を取得し、システム
実行装置1002から出力されるI/Oサブシステムの
出力パターンを実行ログ情報として内部的に記録してお
く。ステップ1104では、ステップ1102で検索さ
れたボックスパターンの情報から同動作時刻範囲におけ
る機能仕様103でのI/Oサブシステムの仕様情報を
取得する。ステップ1105では、ステップ1102で
記録された実行ログとステップ1104で取得したしよ
う情報を比較し、一致すればステップ1106に移り、
一致しなければステップ1107に移る。ステップ11
06では、一致した信号パターンの情報をパターン編集
部104に出力する。この時、パターン編集部104は
テスト仕様106を参照し、システム実行装置1002
の実行結果をボックスパターン501の形式で表示され
る。これにより、システム実行装置1002での実行結
果は、パターン編集が可能な状態となる。ステップ11
07では、システム実行装置1002が実行中であるか
否かを判断し、実行中であればステップ1101に移り
処理を繰り返し、実行中でなければ処理を終了する。
【0033】図10に戻り、テスト照合部1004は、
システム実行装置1002による実行結果と、テスト仕
様106を照合するものである。
システム実行装置1002による実行結果と、テスト仕
様106を照合するものである。
【0034】図12にテスト照合部1004によるテス
ト照合のフローチャートを示す。ステップ1201で
は、パターン編集部104中に表示されているシステム
実行結果から、照合未処理の1ボックスパターンを選択
する。ステップ1202では、ステップ1201で選択
のボックスパターンに対応するボックスパターンをテス
ト仕様106から選択する。ステップ1203からステ
ップ1206では、ステップ1201での選択ボックス
パターンと、ステップ1202での選択ボックスパター
ンについて、確認すべき項目である、開始時刻、開始時
刻での値、終了時刻、終了時刻での値をそれぞれ比較
し、全て一致すればステップ1207に移る。1つでも
不一致なものがあれば、ステップ1208に移る。ステ
ップ1207ではテスト結果としてOKを記入する。ス
テップ1208では、テスト結果としてNGを記入す
る。ステップ1209では、全てのボックスパターンが
照合されたかを判断し、未処理のものがあればステップ
1201に移り処理を繰り返し、なければ終了する。
ト照合のフローチャートを示す。ステップ1201で
は、パターン編集部104中に表示されているシステム
実行結果から、照合未処理の1ボックスパターンを選択
する。ステップ1202では、ステップ1201で選択
のボックスパターンに対応するボックスパターンをテス
ト仕様106から選択する。ステップ1203からステ
ップ1206では、ステップ1201での選択ボックス
パターンと、ステップ1202での選択ボックスパター
ンについて、確認すべき項目である、開始時刻、開始時
刻での値、終了時刻、終了時刻での値をそれぞれ比較
し、全て一致すればステップ1207に移る。1つでも
不一致なものがあれば、ステップ1208に移る。ステ
ップ1207ではテスト結果としてOKを記入する。ス
テップ1208では、テスト結果としてNGを記入す
る。ステップ1209では、全てのボックスパターンが
照合されたかを判断し、未処理のものがあればステップ
1201に移り処理を繰り返し、なければ終了する。
【0035】図10に戻り、テスト結果1005には、
テスト照合部1004での処理結果が格納される。
テスト照合部1004での処理結果が格納される。
【0036】図13は、テスト結果1005における1
ボックスパターンのテスト結果の構成図である。テスト
結果1005全体の構成は、テスト仕様106と同等の
階層を持っており、ボックスパターン比較結果1301
とボックスパターン情報804が置き換わったものであ
る。動作名称欄1302には、ボックスパターンの名称
が表示される。時刻表示欄1305、時刻照合結果欄1
306、値表示欄1307、値照合結果欄1308は、
それぞれ開始時刻1303、終了時刻1304における
値を表現する。
ボックスパターンのテスト結果の構成図である。テスト
結果1005全体の構成は、テスト仕様106と同等の
階層を持っており、ボックスパターン比較結果1301
とボックスパターン情報804が置き換わったものであ
る。動作名称欄1302には、ボックスパターンの名称
が表示される。時刻表示欄1305、時刻照合結果欄1
306、値表示欄1307、値照合結果欄1308は、
それぞれ開始時刻1303、終了時刻1304における
値を表現する。
【0037】図14は、パターン編集部104に表示さ
れるテスト結果の例示図である。テスト結果表示ウィン
ドウ1401はテスト仕様表示画面1402と、実行結
果表示画面1403の2つの画面から構成される。この
2つの画面は、水平スクロールバー1405、垂直スク
ロールバー1406と連動し、2画面同時にスクロール
する。ボックスパターン1404は、照合の結果、開始
時刻における値がテスト仕様と異なっていることを示す
彩色がなされている。
れるテスト結果の例示図である。テスト結果表示ウィン
ドウ1401はテスト仕様表示画面1402と、実行結
果表示画面1403の2つの画面から構成される。この
2つの画面は、水平スクロールバー1405、垂直スク
ロールバー1406と連動し、2画面同時にスクロール
する。ボックスパターン1404は、照合の結果、開始
時刻における値がテスト仕様と異なっていることを示す
彩色がなされている。
【0038】以上の実施例で示したように、システムの
実行状況をボックスパターン501の形式で表示するこ
とで、テストの照合が容易になる。また、テスト項目と
してボックスパターン501に記載されている情報をキ
ーとしてシステム実行装置1002から出力される情報
を解析、照合することで、ボックスパターン単位での照
合が自動的に実施できる。また、テスト結果表示ウィン
ドウ1401はテスト仕様表示が面1402と、実行結
果表示画面1403の2つの画面でテスト結果を表示す
るため、どこが、どのように問題であるかが視覚的に明
確に報告できる。これにより、テスト実施の効率を高め
る事が可能である。
実行状況をボックスパターン501の形式で表示するこ
とで、テストの照合が容易になる。また、テスト項目と
してボックスパターン501に記載されている情報をキ
ーとしてシステム実行装置1002から出力される情報
を解析、照合することで、ボックスパターン単位での照
合が自動的に実施できる。また、テスト結果表示ウィン
ドウ1401はテスト仕様表示が面1402と、実行結
果表示画面1403の2つの画面でテスト結果を表示す
るため、どこが、どのように問題であるかが視覚的に明
確に報告できる。これにより、テスト実施の効率を高め
る事が可能である。
【0039】上記第一実施例、第二実施例においても、
テスト仕様106の作成、テスト照合は、新規の機能仕
様103を対象として検討されている。現実問題とし
て、システム開発中は機能仕様の変更が頻繁に発生す
る。そこで、変更された機能仕様と、変更前機能仕様の
差分を解析し、その差分情報からテスト仕様の変更を実
施、支援することで、テスト仕様変更の工数を削減する
ことができる。
テスト仕様106の作成、テスト照合は、新規の機能仕
様103を対象として検討されている。現実問題とし
て、システム開発中は機能仕様の変更が頻繁に発生す
る。そこで、変更された機能仕様と、変更前機能仕様の
差分を解析し、その差分情報からテスト仕様の変更を実
施、支援することで、テスト仕様変更の工数を削減する
ことができる。
【0040】次に説明する本発明の第三の実施例は、こ
の問題を考慮したものである。
の問題を考慮したものである。
【0041】図15は、本発明の第三実施例における機
能構成図である。なお、図1、図10と同一の番号を付
けたもの(101〜106、1004)は、それぞれ図
1、図10のものと同一である。差分抽出部1502
は、機能仕様103と変更機能仕様1501の差分を抽
出するものである。
能構成図である。なお、図1、図10と同一の番号を付
けたもの(101〜106、1004)は、それぞれ図
1、図10のものと同一である。差分抽出部1502
は、機能仕様103と変更機能仕様1501の差分を抽
出するものである。
【0042】図16に、差分抽出部1502による機能
仕様変更差分抽出のフローチャートを示す。ステップ1
601では、テスト仕様106から、1テスト項目とな
るボックスパターンを選択する。ステップ1602で
は、ステップ1601での選択ボックスパターンに対応
する機能仕様の範囲を、時刻をキーとして機能仕様10
3から抽出する。ステップ1603では、ステップ16
02での抽出機能仕様範囲の信号パターンから、変更機
能仕様1501での変更仕様個所を抽出可能か否かを判
断する。仕様の変更個所は、機械的に一意に判断できる
ものではない。そこで、このステップでは、信号パター
ンの上げ下げのパターンに注目した変更個所の抽出を実
施する。変更個所が機械的に抽出できた場合、ステップ
1604に移り、ステップ1601での選択ボックスパ
ターンに変更を加え、変更テスト仕様1503として出
力する。なお、ここでのテスト仕様の変更は、開始時
刻、開始時刻における値、終了時刻、終了時刻における
値に限定される。変更個所が機械的に抽出できない場
合、ステップ1605に移り、パターン編集部104で
表示されるウィンドウを利用して、手動による変更を加
える。このときの操作は、図7に示す機能仕様表示ウィ
ンドウ301に例示するように実施される。もちろん、
ステップ1604での処理であっても、パターン編集部
104を利用して手動で修正を加える事も可能である。
ステップ1606では、全てのボックスパターンへの変
更処理を終えた否かを判断し、変更処理が終われば差分
抽出部1502の処理を終了し、未処理のものがあれば
ステップ1601に移り、処理を繰り返す。
仕様変更差分抽出のフローチャートを示す。ステップ1
601では、テスト仕様106から、1テスト項目とな
るボックスパターンを選択する。ステップ1602で
は、ステップ1601での選択ボックスパターンに対応
する機能仕様の範囲を、時刻をキーとして機能仕様10
3から抽出する。ステップ1603では、ステップ16
02での抽出機能仕様範囲の信号パターンから、変更機
能仕様1501での変更仕様個所を抽出可能か否かを判
断する。仕様の変更個所は、機械的に一意に判断できる
ものではない。そこで、このステップでは、信号パター
ンの上げ下げのパターンに注目した変更個所の抽出を実
施する。変更個所が機械的に抽出できた場合、ステップ
1604に移り、ステップ1601での選択ボックスパ
ターンに変更を加え、変更テスト仕様1503として出
力する。なお、ここでのテスト仕様の変更は、開始時
刻、開始時刻における値、終了時刻、終了時刻における
値に限定される。変更個所が機械的に抽出できない場
合、ステップ1605に移り、パターン編集部104で
表示されるウィンドウを利用して、手動による変更を加
える。このときの操作は、図7に示す機能仕様表示ウィ
ンドウ301に例示するように実施される。もちろん、
ステップ1604での処理であっても、パターン編集部
104を利用して手動で修正を加える事も可能である。
ステップ1606では、全てのボックスパターンへの変
更処理を終えた否かを判断し、変更処理が終われば差分
抽出部1502の処理を終了し、未処理のものがあれば
ステップ1601に移り、処理を繰り返す。
【0043】以上の実施例で示したように、変更前の機
能仕様103と変更機能仕様1501の差分を抽出する
ことで、テスト仕様の変更を機械的に実施、支援し、テ
スト仕様変更の工数削減が可能となる。
能仕様103と変更機能仕様1501の差分を抽出する
ことで、テスト仕様の変更を機械的に実施、支援し、テ
スト仕様変更の工数削減が可能となる。
【0044】上記第一実施例、第二実施例、第三実施例
は、テスト実施に関する方式である。ボックスパターン
は501は、テストのための情報のみを表示するが、シ
ステム制御のためのI/Oサブシステムの信号パターン
の情報が隠蔽されている。この信号パターンの情報を機
能仕様の一部分として捉えると、信号パターンの組み合
わせによりシステムの機能仕様の作成も可能である。し
かし、システムの状態遷移は任意の遷移順序で実施され
ることはない。特定の規則にもとづいて、その状態遷移
が定義される。そこで、ボックスパターンにシステム状
態遷移のための規則を付加し、この規則を破らない範囲
内でボックスパターンを組み合わせる事で、隠蔽された
信号パターンを再構成し、新規機能仕様として作成す
る。規則にもとづく、効率的な機能仕様設計が可能とな
る。
は、テスト実施に関する方式である。ボックスパターン
は501は、テストのための情報のみを表示するが、シ
ステム制御のためのI/Oサブシステムの信号パターン
の情報が隠蔽されている。この信号パターンの情報を機
能仕様の一部分として捉えると、信号パターンの組み合
わせによりシステムの機能仕様の作成も可能である。し
かし、システムの状態遷移は任意の遷移順序で実施され
ることはない。特定の規則にもとづいて、その状態遷移
が定義される。そこで、ボックスパターンにシステム状
態遷移のための規則を付加し、この規則を破らない範囲
内でボックスパターンを組み合わせる事で、隠蔽された
信号パターンを再構成し、新規機能仕様として作成す
る。規則にもとづく、効率的な機能仕様設計が可能とな
る。
【0045】次に説明する本発明の第四の実施例は、こ
の課題を考慮したものである。
の課題を考慮したものである。
【0046】図17は本発明の第四実施例における機能
構成図である。なお、図1、図10と同一の番号を付け
たもの(101〜104、106、1004)は、それ
ぞれ図1、図10のものと同一である。規則付加処理1
701は、ボックスパターンに対する規則を付加し、機
能仕様のための部品であるパターンライブラリ1702
を生成するものである。
構成図である。なお、図1、図10と同一の番号を付け
たもの(101〜104、106、1004)は、それ
ぞれ図1、図10のものと同一である。規則付加処理1
701は、ボックスパターンに対する規則を付加し、機
能仕様のための部品であるパターンライブラリ1702
を生成するものである。
【0047】ここで、規則について述べる。システムの
状態遷移は特定の遷移順序を持つ。従って、順序に関す
る規則が必要である。次に、その遷移の順序がどのタイ
ミングで行われるのか、時間に関する規則が必要であ
る。最後に、システム機能は機能部品組み合せにより行
われる。従って、その機能部品がどのような構成を持つ
べきか、集合に関する規則が必要になる。これら規則
は、システムの機能部品、すなわち、ボックスパターン
間の規則として付加されるものである。また、これらの
規則は、任意に組み合わせて適用される。
状態遷移は特定の遷移順序を持つ。従って、順序に関す
る規則が必要である。次に、その遷移の順序がどのタイ
ミングで行われるのか、時間に関する規則が必要であ
る。最後に、システム機能は機能部品組み合せにより行
われる。従って、その機能部品がどのような構成を持つ
べきか、集合に関する規則が必要になる。これら規則
は、システムの機能部品、すなわち、ボックスパターン
間の規則として付加されるものである。また、これらの
規則は、任意に組み合わせて適用される。
【0048】図18に、ボックスパターン間規則「順
序」の意味を示す。表現1801は3つのボックスパタ
ーンA、B、Cに関し、順序規則を付加したものであ
る。順序規則は、矢印で示される。表現1801は、意
味1802に示されるように、「AはBより先に実施」
「CはBより先に実施」される。順序規則は2つのボッ
クスパターン間で適用される。これにより、複数のボッ
クスパターンの順序を無理なく定義することができる。
仕様作成適合例1803に示されるように、「AはBよ
り先に実施」であれば、「CはAより先に実施」されて
いなくともよい。従って、ボックスパターンAの配置は
「AはBより先に実施」規則に反しない限り、どのよう
に配置されてもよい。しかしながら、仕様作成非適合例
1804に示すように、「CはBより先に実施」されな
くてはならないため、ボックスパターンCをボックスパ
ターンBより後に配置してはならない。
序」の意味を示す。表現1801は3つのボックスパタ
ーンA、B、Cに関し、順序規則を付加したものであ
る。順序規則は、矢印で示される。表現1801は、意
味1802に示されるように、「AはBより先に実施」
「CはBより先に実施」される。順序規則は2つのボッ
クスパターン間で適用される。これにより、複数のボッ
クスパターンの順序を無理なく定義することができる。
仕様作成適合例1803に示されるように、「AはBよ
り先に実施」であれば、「CはAより先に実施」されて
いなくともよい。従って、ボックスパターンAの配置は
「AはBより先に実施」規則に反しない限り、どのよう
に配置されてもよい。しかしながら、仕様作成非適合例
1804に示すように、「CはBより先に実施」されな
くてはならないため、ボックスパターンCをボックスパ
ターンBより後に配置してはならない。
【0049】図19に、ボックスパターン間規則「時
間」の意味を示す。時間規則には3つの種類があり組み
合わせて利用することができる。表現1901は意味1
902に示すように、時刻を早めることが可能である。
この時、どこまで早めてよいのか、時間範囲を指定する
ことができる。また、表現1901では、終了時間を示
す右端には規則が適用されていないため、終了時刻は開
始時刻より早まらない限り、任意に設定できる事を意味
する。表現1903は、意味1904に示すように、時
刻を遅らせる事が可能である。この時、表現1901と
同様に、どこまで早めてよいのか、時間範囲を指定する
ことができる。表現1905は、意味1906に示すよ
うに、開始時刻、終了時刻の時間範囲が固定である。仕
様作成適合例1906に示されるように、ボックスパタ
ーンAの開始時刻は任意に変更する事ができる。しかし
ながら、仕様作成非適合例1907に示すように、開始
時刻を遅くすることはできない。
間」の意味を示す。時間規則には3つの種類があり組み
合わせて利用することができる。表現1901は意味1
902に示すように、時刻を早めることが可能である。
この時、どこまで早めてよいのか、時間範囲を指定する
ことができる。また、表現1901では、終了時間を示
す右端には規則が適用されていないため、終了時刻は開
始時刻より早まらない限り、任意に設定できる事を意味
する。表現1903は、意味1904に示すように、時
刻を遅らせる事が可能である。この時、表現1901と
同様に、どこまで早めてよいのか、時間範囲を指定する
ことができる。表現1905は、意味1906に示すよ
うに、開始時刻、終了時刻の時間範囲が固定である。仕
様作成適合例1906に示されるように、ボックスパタ
ーンAの開始時刻は任意に変更する事ができる。しかし
ながら、仕様作成非適合例1907に示すように、開始
時刻を遅くすることはできない。
【0050】図20に、ボックスパターン間規則「集
合」の意味を示す。表現2001は、意味2002に示
すように、ボックスパターンA、B、Cに関し、「Cは
A、Bを含む」ことを意味する。仕様作成適合例200
3に示すように、ボックスパターンCは、ボックスパタ
ーンA、Bを包含した形である。仕様作成非適合例20
04に示すように、ボックスパターンAの開始時間がボ
ックスパターンCより早く開始されている場合は、集合
規則は適合されない。
合」の意味を示す。表現2001は、意味2002に示
すように、ボックスパターンA、B、Cに関し、「Cは
A、Bを含む」ことを意味する。仕様作成適合例200
3に示すように、ボックスパターンCは、ボックスパタ
ーンA、Bを包含した形である。仕様作成非適合例20
04に示すように、ボックスパターンAの開始時間がボ
ックスパターンCより早く開始されている場合は、集合
規則は適合されない。
【0051】図21は、パターンライブラリ1702に
おける1ボックスパターンの構成図である。規則付きボ
ックスパターン情報2101は、ボックスパターン情報
804に対し、規則の欄を追加した形であるが、システ
ムを設計する部品となるため、ユニットに関する欄はな
い。2102は動作名称入力欄、2103はI/O構成
入力欄である。時刻入力欄2108、値入力欄211
0、評価式入力欄2111は、それぞれ開始時刻210
6、終了時刻2107における値を入力する。グループ
規則欄2104、順序規則欄2105、時刻規則欄21
09には、それぞれの規則が入力される。
おける1ボックスパターンの構成図である。規則付きボ
ックスパターン情報2101は、ボックスパターン情報
804に対し、規則の欄を追加した形であるが、システ
ムを設計する部品となるため、ユニットに関する欄はな
い。2102は動作名称入力欄、2103はI/O構成
入力欄である。時刻入力欄2108、値入力欄211
0、評価式入力欄2111は、それぞれ開始時刻210
6、終了時刻2107における値を入力する。グループ
規則欄2104、順序規則欄2105、時刻規則欄21
09には、それぞれの規則が入力される。
【0052】図22は、図17に示される方式による新
規機能仕様作成のフローチャートである。ステップ22
01では、パターンライブラリ1702から1ボックス
パターンを選択する。ステップ2202では、ステップ
2201での選択ボックスパターンをパターン編集部1
04上のウィンドウ内に配置する。ステップ2203で
は、ステップ2202で配置されたボックスパターン間
で規則を付加する。ステップ2204では、規則チェッ
ク部1703により、ステップ2203で付加された規
則に基づき、配置がなされているかをチェックする。規
則に適合していれば、ステップ2205に移り、適合し
てなければ、ステップ2203に戻り、配置と規則付加
をやり直す。ステップ2205では、機能仕様103か
ら配置に対応する範囲をパターン抽出部1004により
抽出する。ステップ2206では、ステップ2205で
の抽出範囲から信号パターンを合成し、新規機能仕様と
して1704に登録する。ステップ2207では、全て
のボックスパターンを配置したかを判断し、配置が終了
していれば、新規機能仕様1704の作成処理を終了
し、そうでなければ、ステップ2201に戻り、処理を
繰り返す。
規機能仕様作成のフローチャートである。ステップ22
01では、パターンライブラリ1702から1ボックス
パターンを選択する。ステップ2202では、ステップ
2201での選択ボックスパターンをパターン編集部1
04上のウィンドウ内に配置する。ステップ2203で
は、ステップ2202で配置されたボックスパターン間
で規則を付加する。ステップ2204では、規則チェッ
ク部1703により、ステップ2203で付加された規
則に基づき、配置がなされているかをチェックする。規
則に適合していれば、ステップ2205に移り、適合し
てなければ、ステップ2203に戻り、配置と規則付加
をやり直す。ステップ2205では、機能仕様103か
ら配置に対応する範囲をパターン抽出部1004により
抽出する。ステップ2206では、ステップ2205で
の抽出範囲から信号パターンを合成し、新規機能仕様と
して1704に登録する。ステップ2207では、全て
のボックスパターンを配置したかを判断し、配置が終了
していれば、新規機能仕様1704の作成処理を終了
し、そうでなければ、ステップ2201に戻り、処理を
繰り返す。
【0053】図23に、規則付きボックスパターンの配
置による新規機能作成の例示図を示す。規則付きボック
スパターン情報表示ウィンドウ2301は規則付きボッ
クスパターン情報2101と同じ構成である。パターン
編集部104上の機能仕様作成ウィンドウ2302にボ
ックスパターンを配置し、ハウスクリックにより規則を
追加していく。
置による新規機能作成の例示図を示す。規則付きボック
スパターン情報表示ウィンドウ2301は規則付きボッ
クスパターン情報2101と同じ構成である。パターン
編集部104上の機能仕様作成ウィンドウ2302にボ
ックスパターンを配置し、ハウスクリックにより規則を
追加していく。
【0054】
【発明の効果】本発明の機能設計支援方式では、システ
ムの状態遷移の単位で分割し、ボックスパターンでテス
ト項目を表現することで、システム制御の全体像が把握
でき、システムの機能設計の検討にも効果を発揮する。
また、ボックスパターンにもとづくテスト仕様の記述形
式はテストに必要な情報だけを取得できるため、テスト
仕様構成が明解になる。また、システムの機能仕様から
編集画面を利用して対話的に、かつ、効率的にテスト仕
様を作成することができる。
ムの状態遷移の単位で分割し、ボックスパターンでテス
ト項目を表現することで、システム制御の全体像が把握
でき、システムの機能設計の検討にも効果を発揮する。
また、ボックスパターンにもとづくテスト仕様の記述形
式はテストに必要な情報だけを取得できるため、テスト
仕様構成が明解になる。また、システムの機能仕様から
編集画面を利用して対話的に、かつ、効率的にテスト仕
様を作成することができる。
【0055】また、本発明の機能設計支援方式では、シ
ステム実行装置から出力される情報を、テスト仕様の記
述形式であるボックスパターンで表示、照合すること
で、テスト仕様との照合作業が容易に、かつ、効率的に
実施できる。また、システムの実行状況とテスト仕様を
2つの画面で同時に表示するため、どこが、どのように
問題があるかが視覚的に明確に報告できる。これによ
り、テスト実施の効率を高める事が可能である。
ステム実行装置から出力される情報を、テスト仕様の記
述形式であるボックスパターンで表示、照合すること
で、テスト仕様との照合作業が容易に、かつ、効率的に
実施できる。また、システムの実行状況とテスト仕様を
2つの画面で同時に表示するため、どこが、どのように
問題があるかが視覚的に明確に報告できる。これによ
り、テスト実施の効率を高める事が可能である。
【0056】また、本発明の機能設計支援方式では、変
更前の機能仕様と変更機能仕様の差分を抽出すること
で、テスト仕様の変更を機械的に実施、支援し、テスト
仕様変更の工数削減が可能となる。
更前の機能仕様と変更機能仕様の差分を抽出すること
で、テスト仕様の変更を機械的に実施、支援し、テスト
仕様変更の工数削減が可能となる。
【0057】また、本発明の機能設計支援方式では、テ
スト仕様であるボックスパターンが内部的に機能仕様で
ある信号パターンを参照できるため、機能仕様部品とし
て利用できる。また、ボックスパターン間に特定の規則
を付加できることにより、状態遷移を考慮しながら機能
仕様の構築が可能となり、機能仕様の設計に大きな効果
を発揮する。
スト仕様であるボックスパターンが内部的に機能仕様で
ある信号パターンを参照できるため、機能仕様部品とし
て利用できる。また、ボックスパターン間に特定の規則
を付加できることにより、状態遷移を考慮しながら機能
仕様の構築が可能となり、機能仕様の設計に大きな効果
を発揮する。
【図1】本発明の機能設計支援装置の機能構成図であ
る。
る。
【図2】機能仕様103の例示図である。
【図3】パターン編集部104による機能仕様表示の例
示図である。
示図である。
【図4】制御システムにおける1チェック項目の例示で
ある。
ある。
【図5】ボックスパターンによるテスト項目の例示図で
ある。
ある。
【図6】パターン編集部104によるテスト仕様編集の
フローチャートである。
フローチャートである。
【図7】パターン編集部104におけるテスト仕様編集
の例示図である。
の例示図である。
【図8】テスト仕様106の構成図である。
【図9】テスト仕様106の例示図である。
【図10】本発明の第二実施例における図1相当図であ
る。
る。
【図11】パターン抽出部1003によるパターン抽出
のフローチャートである。
のフローチャートである。
【図12】テスト照合部1004によるテスト照合のフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図13】テスト結果1005における1パターンのテ
スト結果の構成図である。
スト結果の構成図である。
【図14】テスト結果の例示図である。
【図15】本発明の第三実施例における図1相当図であ
る。
る。
【図16】差分抽出部1502による機能仕様変更差分
抽出のフローチャートである。
抽出のフローチャートである。
【図17】本発明の第四実施例における図1相当図であ
る。
る。
【図18】ボックスパターン間規則の1つである「順
序」の意味を示す図である。
序」の意味を示す図である。
【図19】ボックスパターン間規則の1つである「時
間」の意味を示す図である。
間」の意味を示す図である。
【図20】ボックスパターン間規則の1つである「集
合」の意味を示す図である。
合」の意味を示す図である。
【図21】パターンライブラリ1702における1ボッ
クスパターンの構成図である。
クスパターンの構成図である。
【図22】新規機能仕様作成のフローチャートである。
【図23】ボックスパターン配置による新規機能仕様作
成の例示図である。
成の例示図である。
101…表示装置、 102…入力装置、
103…機能仕様、104…パターン編集部、105…
テスト仕様処理部、106…テスト仕様、1001…制
御プログラム、1002…システム実行装置、1003
…パターン抽出部、1004…テスト照合部、1005
…テスト結果、 1501…変更機能仕様、1502
…差分抽出部、 1503…変更テスト仕様、170
1…規則付加処理、 1702…パターンライブラリ、
1703…規則チェック部、1704…新規機能仕様。
103…機能仕様、104…パターン編集部、105…
テスト仕様処理部、106…テスト仕様、1001…制
御プログラム、1002…システム実行装置、1003
…パターン抽出部、1004…テスト照合部、1005
…テスト結果、 1501…変更機能仕様、1502
…差分抽出部、 1503…変更テスト仕様、170
1…規則付加処理、 1702…パターンライブラリ、
1703…規則チェック部、1704…新規機能仕様。
Claims (11)
- 【請求項1】システムの機能設計を支援するための機能
設計支援方式であって、システムテストの1項目が、シ
ステムが持つ内部状態の単位で規定される手段と、上記
規定の単位が、ボックス形状のグラフィカルパターンで
表現するデータ表現手段と、上記グラフィカルパターン
がシステム実行中に動作する開始時刻と、その開始時刻
に確認すべき項目と、動作が終了する終了時刻と、その
終了時刻に確認すべき項目を有する手段と、上記グラフ
ィカルパターンから、システムテストを実施するための
テスト仕様を構築する手段から成ることを特徴とする機
能設計支援方式。 - 【請求項2】請求項1に記載の機能設計支援方式であっ
て、システムを制御するソフトウェアの設計書となる機
能仕様を、表示装置上にグラフィカルに表示する手段
と、上記表示装置が、表示装置上に表示された機能仕様
の形状に対し、グラフィカルパターンを構築するための
編集手段と、上記編集手段を利用して作成されたグラフ
ィカルパターンを、テスト仕様として作成処理する手段
を有することを特徴とする機能設計支援方式。 - 【請求項3】請求項1、または、2に記載の機能設計支
援方式であって、システムの実行状況を、サブシステム
の入出力単位で監視する手段と、上記監視手段から得ら
れたサブシステムの入出力の情報と、システムの機能仕
様におけるサブシステムの入出力仕様と、グラフィカル
パターンにより記述されたテスト仕様から、システムの
実行状況をグラフィカルパターンとして表示する手段を
有することを特徴とする機能設計支援方式。 - 【請求項4】請求項3に記載の機能設計支援方式であっ
て、システムの実行状況の表示画面と、テスト仕様の表
示画面を同時に表示する手段と、上記表示手段が、連動
して操作する機能を有することを特徴とする機能設計支
援方式。 - 【請求項5】請求項3または4に記載の機能設計支援方
式であって、グラフィカルパターンで表示されたシステ
ムの実行状況と、テスト仕様を照合する手段と、照合し
た結果、テスト結果として記録する手段を有することを
特徴とする機能設計支援方式。 - 【請求項6】請求項1から5のいずれかに記載の機能設
計支援方式であって、変更されたシステムの機能仕様
と、変更以前のシステムの機能仕様を比較し、その差分
を抽出する手段と、抽出された差分の情報と、変更以前
のシステムの機能仕様にもとづくテスト仕様から、グラ
フィカルパターンが有するテスト項目に関する情報を変
更する手段を有することを特徴とする機能設計支援方
式。 - 【請求項7】請求項1から6のいずれかに記載の機能設
計支援方式であって、グラフィカルパターンに対応する
機能仕様の範囲を抽出する手段と、グラフィカルパター
ンを任意に配置するための編集手段と、グラフィカルパ
ターンの配置の情報と、グラフィカルパターンに対応す
る機能仕様から、システム全体としての機能仕様を合
成、構築する手段を有することを特徴とする機能設計支
援方式。 - 【請求項8】請求項7に記載の機能設計支援方式であっ
て、グラフィカルパターンの配置に関し、複数のグラフ
ィカルパターン間で特定の配置規則を付加する手段と、
上記付加された配置規則の適用を判断する手段と、上記
適用の判断をもとに、グラフィカルパターンの配置の情
報と、グラフィカルパターンに対応する機能仕様から、
システム全体としての機能仕様を合成、構築する手段を
有することを特徴とする機能設計支援方式。 - 【請求項9】請求項8に記載の機能設計支援方式であっ
て、複数のグラフィカルパターン間で特定の配置規則に
関し、複数のグラフィカルパターンの配置の順序を、2
つのグラフィカルパターン間の順序規則の集合で表現す
る手段を有することを特徴とする機能設計支援方式。 - 【請求項10】請求項8に記載の機能設計支援方式であ
って、あるグラフィカルパターン配置規則が、そのグラ
フィカルパターンの持つ開始時刻、及び、終了時刻の情
報を規定する手段を有することを特徴とする機能設計支
援方式。 - 【請求項11】請求項8に記載の機能設計支援方式であ
って、あるグラフィカルパターン配置規則が、複数のグ
ラフィカルパターンを含んでいることを規定する手段を
有することを特徴とする機能設計支援方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28490797A JPH11119821A (ja) | 1997-10-17 | 1997-10-17 | 機能設計支援方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28490797A JPH11119821A (ja) | 1997-10-17 | 1997-10-17 | 機能設計支援方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11119821A true JPH11119821A (ja) | 1999-04-30 |
Family
ID=17684600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28490797A Pending JPH11119821A (ja) | 1997-10-17 | 1997-10-17 | 機能設計支援方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11119821A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007171100A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Fujitsu Ten Ltd | 信号パターン作成装置 |
| JP2008003767A (ja) * | 2006-06-21 | 2008-01-10 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | テスト仕様書作成支援システムおよび方法 |
-
1997
- 1997-10-17 JP JP28490797A patent/JPH11119821A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007171100A (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Fujitsu Ten Ltd | 信号パターン作成装置 |
| JP2008003767A (ja) * | 2006-06-21 | 2008-01-10 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | テスト仕様書作成支援システムおよび方法 |
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