JPH11127459A - 固体撮像装置の検査方法 - Google Patents

固体撮像装置の検査方法

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JPH11127459A
JPH11127459A JP9290629A JP29062997A JPH11127459A JP H11127459 A JPH11127459 A JP H11127459A JP 9290629 A JP9290629 A JP 9290629A JP 29062997 A JP29062997 A JP 29062997A JP H11127459 A JPH11127459 A JP H11127459A
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JP
Japan
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pulse
waveform
signal
solid
charge
Prior art date
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Pending
Application number
JP9290629A
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English (en)
Inventor
Yuji Miyata
裕二 宮田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 OB部(光学的黒)領域の1画素目に現れる
信号電荷の転送取り残し信号の波形が劣化し、精度良く
測定できない。 【解決手段】 画素毎に出力された信号波形にクランプ
回路5でクランプパルスを印加し、S/H回路6でS/
Hパルスを印加し、サンプリングする際に、クランプ回
路5の時定数の影響を受けないようにOB部11の1画
素目から数画素前にS/Hパルスを停止させ、ローレベ
ルに近づけてS/Hパルスを再び印加することで、S/
H後の波形の劣化を防ぐ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はファックスやイメー
ジスキャナ等、もしくは一体型ビデオカメラの固体撮像
素子等に応用されるイメージセンサとしての固体撮像装
置の検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、固体撮像装置は一体型ビデオカメ
ラの撮像部等やファックスやイメージスキャナの画像認
識センサーとして広く用いられており、特に、ノイズ特
性に優れたCCD型固体撮像装置(CCD:Charge Cou
pled Device)が最も多く用いられている。また、検査
の高精度化が強く望まれている。
【0003】図3に従来の固体撮像装置の電荷転送部の
転送劣化(以下、転送効率と称する)の検査方法を示
す。
【0004】図3において、21は撮像素子の受光領域
を示す。フォトダイオード22で光電変換され、発生し
た信号電荷を電荷転送部23で転送し、出力部24で信
号電圧に変換して出力する。この画素ごとに出力された
信号出力波形にクランプ回路25でクランプパルスを印
加し、S/H(サンプルホールド)回路26でS/Hパ
ルスを印加し、アンプ27を経てA/Dコンバータ28
でデジタル化し、フレームメモリ29に記憶し、画素情
報を基に演算処理部30で、非受光領域であるOB部3
1の1画素目を転送残しとして測定し、転送効率を演算
していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、S/H
回路で信号出力波形にS/Hパルスを印加する際、すべ
ての信号出力波形にパルス印加すると、パルス間はホー
ルドされるが信号出力と比べて、非受光領域であるOB
部の1画素目の転送残し信号は微少な信号のため、クラ
ンプ回路の時定数(C・R)の影響で信号波形が劣化す
る問題があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の固体撮像装置の
検査方法は、受光部と、受光部で発生した信号電荷を転
送する電荷転送部と、電荷転送部から転送された電荷を
検出する電荷検出部とを備えた固体撮像装置の検査方法
であって、電荷検出部から出力された波形をサンプリン
グする際に、S/Hパルスを一定期間停止させて非受光
領域であるOB部の1画素目の転送残し、信号にS/H
パルスを再び印加することを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態を図面に基づいて説明する。
【0008】図1に本発明の一実施の形態である固体撮
像装置の検査方法の平面模式図を示す。
【0009】図1において、1は撮像素子の受光領域を
示す。フォトダイオード2で光電変換され、発生した信
号電荷を電荷転送部3で転送し、出力部4で信号電圧に
変換して出力する。この画素ごとに出力された信号出力
波形にクランプ回路5でクランプパルスを印加し、S/
H(サンプルホールド)回路6でS/Hパルスを印加
し、アンプ7を経てA/Dコンバータ8でデジタル化
し、フレームメモリ9に記憶し、画素情報を基に演算処
理部10で、非受光領域であるOB部11の1画素目を
転送残しとして測定し、転送効率を演算する。
【0010】ここにおいてS/Hパルス波形のようにパ
ルスを印加しサンプリングする際に、クランプ回路5の
時定数(C・R)の影響を受けないように非受光領域で
あるOB部11の1画素目から数画素前にS/Hパルス
を停止させ、ローレベルに近づけてOB部11の1画素
目の転送残し信号にS/Hパルスを再び印加することで
S/H後の波形で劣化をなくすることができる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の固体撮像
装置の検査方法によれば、S/Hパルスを一定期間停止
することで水平電荷転送部の水平電荷転送効率を高精度
に測定することができる。もちろん2次元の固体撮像装
置にも適用できることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の固体撮像装置の検査方
法を示す平面模式図
【図2】本発明の一実施の形態の固体撮像装置の検査方
法の信号処理タイミングを説明する図
【図3】従来の固体撮像装置の検査方法を示す平面模式
【図4】従来の固体撮像装置の検査方法の信号処理タイ
ミングを説明する図
【符号の説明】
1 撮像素子の受光領域 2 フォトダイオード 3 電荷転送部 4 出力部 5 クランプ回路 6 S/H(サンプルホールド)回路 7 アンプ 8 A/Dコンバータ 9 フレームメモリ 10 演算処理部 11 OB部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1次元もしくは2次元に配列された受光
    部と、前記受光部で発生した信号電荷を転送する電荷転
    送部と、前記電荷転送部から転送された電荷を検出する
    電荷検出部とを備えた固体撮像装置の検査方法であっ
    て、前記電荷検出部の出力をサンプリングする際に、パ
    ルスを一定期間停止させ、前記電荷転送部の転送劣化を
    測定することを特徴とする固体撮像装置の検査方法。
JP9290629A 1997-10-23 1997-10-23 固体撮像装置の検査方法 Pending JPH11127459A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007336196A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Konica Minolta Business Technologies Inc 画像読取装置、および画像読取装置の制御方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007336196A (ja) * 2006-06-14 2007-12-27 Konica Minolta Business Technologies Inc 画像読取装置、および画像読取装置の制御方法

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