JPH11135060A - 飛行時間型質量分析計 - Google Patents
飛行時間型質量分析計Info
- Publication number
- JPH11135060A JPH11135060A JP9300257A JP30025797A JPH11135060A JP H11135060 A JPH11135060 A JP H11135060A JP 9300257 A JP9300257 A JP 9300257A JP 30025797 A JP30025797 A JP 30025797A JP H11135060 A JPH11135060 A JP H11135060A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- electric field
- potential
- closed orbit
- sector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/408—Time-of-flight spectrometers with multiple changes of direction, e.g. by using electric or magnetic sectors, closed-loop time-of-flight
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 閉じた軌道に対するイオンの打ち込み法及び
取り出し法を備えた飛行時間型質量分析計を提供する 【解決手段】 複数の扇形電場によって構成された閉軌
道に、イオンを打ち込むための入射軌道とイオンを取り
出すための出射軌道を設けた。また、閉軌道を構成して
いる扇形電場の電極部に、イオン入射及びイオン出射の
ための孔を設けた。また、入出射軌道を構成している扇
形電場の電極部に、閉軌道を周回中のイオンを通過させ
るための孔を設けた。また、閉軌道へのイオン打ち込み
の際には、イオン打ち込み用の孔を有する扇形電場の電
極の電位をオフ（ゼロポテンシャル）またはイオン入射
軌道を構成している扇形電場の電極の電位をオンにし、
閉軌道からのイオン取り出しの際には、イオン取り出し
用の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ（ゼロポテ
ンシャル）またはイオン出射軌道を構成している扇形電
場の電極の電位をオンにするようにした。
取り出し法を備えた飛行時間型質量分析計を提供する 【解決手段】 複数の扇形電場によって構成された閉軌
道に、イオンを打ち込むための入射軌道とイオンを取り
出すための出射軌道を設けた。また、閉軌道を構成して
いる扇形電場の電極部に、イオン入射及びイオン出射の
ための孔を設けた。また、入出射軌道を構成している扇
形電場の電極部に、閉軌道を周回中のイオンを通過させ
るための孔を設けた。また、閉軌道へのイオン打ち込み
の際には、イオン打ち込み用の孔を有する扇形電場の電
極の電位をオフ（ゼロポテンシャル）またはイオン入射
軌道を構成している扇形電場の電極の電位をオンにし、
閉軌道からのイオン取り出しの際には、イオン取り出し
用の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ（ゼロポテ
ンシャル）またはイオン出射軌道を構成している扇形電
場の電極の電位をオンにするようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、飛行時間型質量分
析計の閉じた軌道におけるイオンの打ち込み法、及び、
イオンの取り出し法に関する。
析計の閉じた軌道におけるイオンの打ち込み法、及び、
イオンの取り出し法に関する。
【０００２】
【従来の技術】飛行時間型質量分析計は、イオンが電場
によって加速される際、質量の小さなイオンほど加速さ
れやすく、質量の大きなイオンほど加速されにくいこと
を利用して、イオンがイオン検出器に到達するまでに要
する時間（飛行時間）の差を測定することによって、イ
オンの質量分析を行なう装置である。
によって加速される際、質量の小さなイオンほど加速さ
れやすく、質量の大きなイオンほど加速されにくいこと
を利用して、イオンがイオン検出器に到達するまでに要
する時間（飛行時間）の差を測定することによって、イ
オンの質量分析を行なう装置である。
【０００３】飛行時間型質量分析計においては、イオン
の飛行距離が長いほど、イオンの質量差が飛行時間の違
いとなって現れやすいので、飛行距離を長くすることが
装置の分解能を高める一つの方法となっている。
の飛行距離が長いほど、イオンの質量差が飛行時間の違
いとなって現れやすいので、飛行距離を長くすることが
装置の分解能を高める一つの方法となっている。
【０００４】図１は、扇形電場を利用した飛行時間型質
量分析計の閉じた軌道を示したものである。旋回角度が
１８０゜よりも大きなふたつの扇形電場を対向して配置
することにより、電場内でイオンを８の字状に多数回周
回させることができる。その結果、飛行距離と飛行時間
が長くなり、原理的には、飛行時間型質量分析計の分解
能を高めることができる。
量分析計の閉じた軌道を示したものである。旋回角度が
１８０゜よりも大きなふたつの扇形電場を対向して配置
することにより、電場内でイオンを８の字状に多数回周
回させることができる。その結果、飛行距離と飛行時間
が長くなり、原理的には、飛行時間型質量分析計の分解
能を高めることができる。
【０００５】ところが、実際には、上述のような扇形電
場で作られた閉じた軌道は、イオンの打ち込みや取り出
しが困難であるため、このようなタイプの飛行時間型質
量分析計は利用されることがないのが現状である。
場で作られた閉じた軌道は、イオンの打ち込みや取り出
しが困難であるため、このようなタイプの飛行時間型質
量分析計は利用されることがないのが現状である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の技術では、閉じた軌道から成る飛行時間型質量分析
計の実用化は、イオンの打ち込みや取り出しの方法がな
いため困難であった。
来の技術では、閉じた軌道から成る飛行時間型質量分析
計の実用化は、イオンの打ち込みや取り出しの方法がな
いため困難であった。
【０００７】本発明の目的は、上述した点に鑑み、閉じ
た軌道に対するイオンの打ち込み法及び取り出し法を備
えた飛行時間型質量分析計を提供することにある。
た軌道に対するイオンの打ち込み法及び取り出し法を備
えた飛行時間型質量分析計を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の飛行時間型質量分析計は、複数の扇形電場
によって構成された閉軌道に、イオンを打ち込むための
入射軌道とイオンを取り出すための出射軌道を設けたこ
とを特徴としている。
め、本発明の飛行時間型質量分析計は、複数の扇形電場
によって構成された閉軌道に、イオンを打ち込むための
入射軌道とイオンを取り出すための出射軌道を設けたこ
とを特徴としている。
【０００９】また、閉軌道を構成している扇形電場の電
極部に、イオン入射及びイオン出射のための孔を設けた
ことを特徴としている。
極部に、イオン入射及びイオン出射のための孔を設けた
ことを特徴としている。
【００１０】また、閉軌道への入出射軌道を構成してい
る扇形電場の電極部に、閉軌道を周回中のイオンを通過
させるための孔を設けたことを特徴としている。
る扇形電場の電極部に、閉軌道を周回中のイオンを通過
させるための孔を設けたことを特徴としている。
【００１１】また、複数の扇形電場によって構成された
閉軌道へのイオン打ち込みの際には、イオン打ち込み用
の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ（ゼロポテン
シャル）またはイオン入射軌道を構成している扇形電場
の電極の電位をオンにし、該閉軌道からのイオン取り出
しの際には、イオン取り出し用の孔を有する扇形電場の
電極の電位をオフ（ゼロポテンシャル）またはイオン出
射軌道を構成している扇形電場の電極の電位をオンにす
るようにしたことを特徴としている。
閉軌道へのイオン打ち込みの際には、イオン打ち込み用
の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ（ゼロポテン
シャル）またはイオン入射軌道を構成している扇形電場
の電極の電位をオンにし、該閉軌道からのイオン取り出
しの際には、イオン取り出し用の孔を有する扇形電場の
電極の電位をオフ（ゼロポテンシャル）またはイオン出
射軌道を構成している扇形電場の電極の電位をオンにす
るようにしたことを特徴としている。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図２は本発明の一実施例である。
閉じた軌道は、対向して配置された、旋回角度が１８０
゜よりも大きいふたつの扇形電場１及び２と、両扇形電
場間を８の字状に軌道を交差させてイオンが飛行する自
由飛行空間３及び４で構成されている。イオンは、イオ
ン源５からパルス的に出射され、イオン検出器６に向か
って飛行する。ゲート７は、予め決められた速度範囲の
イオンのみを通過できるようにするために設けられてい
る。
施の形態を説明する。図２は本発明の一実施例である。
閉じた軌道は、対向して配置された、旋回角度が１８０
゜よりも大きいふたつの扇形電場１及び２と、両扇形電
場間を８の字状に軌道を交差させてイオンが飛行する自
由飛行空間３及び４で構成されている。イオンは、イオ
ン源５からパルス的に出射され、イオン検出器６に向か
って飛行する。ゲート７は、予め決められた速度範囲の
イオンのみを通過できるようにするために設けられてい
る。
【００１３】ゲート７を出たイオンは、通常の状態では
扇形電場１の電極に衝突してしまうが、本発明の場合
は、イオンが通過できるように電極に孔が開けられてい
る。さらに、これらイオンの運動方向が扇形電場１によ
って曲げられないように、イオン通過時の扇形電場１の
電極電位はオフ（ゼロポテンシャル）になっている。目
的のイオンが孔を通過した後、そのイオンが再び扇形電
場１に達する前に、扇形電場１の電位はオンになり、正
常な値の電圧が設定される。このようにして、イオンは
閉じた軌道内に入射され、８の字状の周回軌道を回り始
める。
扇形電場１の電極に衝突してしまうが、本発明の場合
は、イオンが通過できるように電極に孔が開けられてい
る。さらに、これらイオンの運動方向が扇形電場１によ
って曲げられないように、イオン通過時の扇形電場１の
電極電位はオフ（ゼロポテンシャル）になっている。目
的のイオンが孔を通過した後、そのイオンが再び扇形電
場１に達する前に、扇形電場１の電位はオンになり、正
常な値の電圧が設定される。このようにして、イオンは
閉じた軌道内に入射され、８の字状の周回軌道を回り始
める。
【００１４】こうして閉軌道に導入されたイオンが、必
要な回数だけ８の字状の周回を終えると、扇形電場２の
電極の電位がオフ（ゼロポテンシャル）に設定される。
その結果、周回中のイオンは扇形電場２の電極に開けら
れた孔を通って、閉軌道の外に取り出され、イオン検出
器６に到達する。
要な回数だけ８の字状の周回を終えると、扇形電場２の
電極の電位がオフ（ゼロポテンシャル）に設定される。
その結果、周回中のイオンは扇形電場２の電極に開けら
れた孔を通って、閉軌道の外に取り出され、イオン検出
器６に到達する。
【００１５】図３は、入出射軌道が閉軌道の内側にある
場合の例を示している。８の字状の閉軌道は、対向して
配置された、旋回角度が１８０゜よりも大きいふたつの
扇形電場８及び９で構成され、入射軌道及び出射軌道は
両扇形電場間のイオンの自由飛行空間に設けられた別の
扇形電場１０及び１１で構成されている。
場合の例を示している。８の字状の閉軌道は、対向して
配置された、旋回角度が１８０゜よりも大きいふたつの
扇形電場８及び９で構成され、入射軌道及び出射軌道は
両扇形電場間のイオンの自由飛行空間に設けられた別の
扇形電場１０及び１１で構成されている。
【００１６】イオン源１２からパルス的に出射されたイ
オンは、ゲート１３を通って、入射軌道である扇形電場
１０に入る。このとき、扇形電場１０は電極の電位がオ
ンの状態であり、正常な値の電圧が設定されている。扇
形電場１０を電極の曲面に沿って飛行したイオンは、電
極の電位がオフ（ゼロポテンシャル）の状態にある扇形
電場１１の電極に開けられた孔を通って、扇形電場８及
び９で形成された閉軌道を８の字状に周回し始める。
オンは、ゲート１３を通って、入射軌道である扇形電場
１０に入る。このとき、扇形電場１０は電極の電位がオ
ンの状態であり、正常な値の電圧が設定されている。扇
形電場１０を電極の曲面に沿って飛行したイオンは、電
極の電位がオフ（ゼロポテンシャル）の状態にある扇形
電場１１の電極に開けられた孔を通って、扇形電場８及
び９で形成された閉軌道を８の字状に周回し始める。
【００１７】イオンが再び扇形電場１０に接近する時ま
でには、扇形電場１０の電極の電位はオフ（ゼロポテン
シャル）の状態になっており、イオンは扇形電場１０の
電極に開けられた孔を通り抜けて、閉軌道内の周回を続
けることができる。
でには、扇形電場１０の電極の電位はオフ（ゼロポテン
シャル）の状態になっており、イオンは扇形電場１０の
電極に開けられた孔を通り抜けて、閉軌道内の周回を続
けることができる。
【００１８】こうして閉軌道に導入されたイオンが、必
要な回数だけ周回を終えると、扇形電場１１の電極の電
位がオンになり、正常な値の電圧が設定される。そし
て、周回中に扇形電場１１に到達したイオンは、扇形電
場１１の電極の曲面に沿って飛行し、閉軌道の外に取り
出され、イオン検出器１４に到達する。
要な回数だけ周回を終えると、扇形電場１１の電極の電
位がオンになり、正常な値の電圧が設定される。そし
て、周回中に扇形電場１１に到達したイオンは、扇形電
場１１の電極の曲面に沿って飛行し、閉軌道の外に取り
出され、イオン検出器１４に到達する。
【００１９】図４は、扇形電場が閉軌道と入出射軌道で
共用される場合の例を示している。閉軌道は扇形電場１
５、１６、１７、及び１８で構成され、入出射軌道は扇
形電場１６と１８で構成されている。
共用される場合の例を示している。閉軌道は扇形電場１
５、１６、１７、及び１８で構成され、入出射軌道は扇
形電場１６と１８で構成されている。
【００２０】イオン源１９からパルス的に出射されたイ
オンは、ゲート２０を通って、入射軌道である扇形電場
１６に入る。このとき、扇形電場１６の電極の電位はオ
フ（ゼロポテンシャル）の状態であり、イオンは扇形電
場１６の電極に開けられた孔を通って閉軌道に入射され
る。この直後、扇形電場１６の電極の電位はオンの状態
になり、入射されたイオンは、扇形電場１５、１６、１
７、及び１８で構成された閉軌道を周回し始める。
オンは、ゲート２０を通って、入射軌道である扇形電場
１６に入る。このとき、扇形電場１６の電極の電位はオ
フ（ゼロポテンシャル）の状態であり、イオンは扇形電
場１６の電極に開けられた孔を通って閉軌道に入射され
る。この直後、扇形電場１６の電極の電位はオンの状態
になり、入射されたイオンは、扇形電場１５、１６、１
７、及び１８で構成された閉軌道を周回し始める。
【００２１】扇形電場１５と１７の間には、ゲート２１
が設けられているが、これは、周回中に速度の速いイオ
ンが速度の遅いイオンを追い越すことを防ぐために挿入
されているものである。ゲートは、必ずしも必要でない
が、周回中に速度の速いイオンが速度の遅いイオンを追
い越して、スペクトルが複雑になることを防止する意味
で有用なものである。
が設けられているが、これは、周回中に速度の速いイオ
ンが速度の遅いイオンを追い越すことを防ぐために挿入
されているものである。ゲートは、必ずしも必要でない
が、周回中に速度の速いイオンが速度の遅いイオンを追
い越して、スペクトルが複雑になることを防止する意味
で有用なものである。
【００２２】閉軌道に導入されたイオンが、必要な回数
だけ周回を終えると、扇形電場１８の電極の電位がオフ
（ゼロポテンシャル）になり、目的のイオンは扇形電場
１８に開けられた孔を通って閉軌道から取り出される。
こうして取り出されたイオンは、イオン検出器２２に到
達する。
だけ周回を終えると、扇形電場１８の電極の電位がオフ
（ゼロポテンシャル）になり、目的のイオンは扇形電場
１８に開けられた孔を通って閉軌道から取り出される。
こうして取り出されたイオンは、イオン検出器２２に到
達する。
【００２３】以上のように、入出射軌道にはさまざまな
ものが工夫可能である。従って、飛行時間型質量分析計
を構成できるものであれば、例えば、リフレクトロンの
ようなものを用いてもよいし、四重極レンズかアインツ
エルレンズ等を含んでいてもよい。また、それらを適当
に組み合わせた物であってもよい。
ものが工夫可能である。従って、飛行時間型質量分析計
を構成できるものであれば、例えば、リフレクトロンの
ようなものを用いてもよいし、四重極レンズかアインツ
エルレンズ等を含んでいてもよい。また、それらを適当
に組み合わせた物であってもよい。
【００２４】以上、３つの実施例について記述したが、
これらから明らかになった本発明の最低必要な要件は次
のようなものである。
これらから明らかになった本発明の最低必要な要件は次
のようなものである。
【００２５】（１）イオン源とイオン検出器、及びその
間の自由飛行空間のみでも飛行時間型質量分析計と成り
うること。また、入出射軌道の一部と入出射しようとす
る閉軌道の一部が一致しているか、または、少なくとも
一点で接していること。
間の自由飛行空間のみでも飛行時間型質量分析計と成り
うること。また、入出射軌道の一部と入出射しようとす
る閉軌道の一部が一致しているか、または、少なくとも
一点で接していること。
【００２６】（２）入出射軌道と閉軌道において一方の
軌道が他方の軌道と重なる場合、軌道を構成する扇形電
場の重なり部分の電極に孔を開けていること。この孔
は、電場に影響がない場合は開けたままでよい。しか
し、電場を大きく乱す場合には、細かいメッシュ等を張
ることによって、イオンを通過可能にすると同時に電場
の乱れを小さくするようにしてもよい。
軌道が他方の軌道と重なる場合、軌道を構成する扇形電
場の重なり部分の電極に孔を開けていること。この孔
は、電場に影響がない場合は開けたままでよい。しか
し、電場を大きく乱す場合には、細かいメッシュ等を張
ることによって、イオンを通過可能にすると同時に電場
の乱れを小さくするようにしてもよい。
【００２７】（３）閉軌道への入射、または、閉軌道か
らの出射の際、適当なタイミングで扇形電場の電極の電
位のオン／オフを切り替える操作を必要とすること。
らの出射の際、適当なタイミングで扇形電場の電極の電
位のオン／オフを切り替える操作を必要とすること。
【００２８】
【発明の効果】本発明の結果、複数の扇形電場によって
構成される閉軌道は、入出射機構を備えたことによって
イオンの打ち込みと取り出しが容易に行なえるようにな
り、イオンの周回回数を増やして飛行距離を延ばすこと
ができ、飛行時間型質量分析計の分解能を向上させるこ
とが可能になった。
構成される閉軌道は、入出射機構を備えたことによって
イオンの打ち込みと取り出しが容易に行なえるようにな
り、イオンの周回回数を増やして飛行距離を延ばすこと
ができ、飛行時間型質量分析計の分解能を向上させるこ
とが可能になった。
【図１】 従来の例を示す図である。
【図２】 本発明の一実施例を示す図である。
【図３】 本発明の一実施例を示す図である。
【図４】 本発明の一実施例を示す図である。
１〜４・・・扇形電場、５・・・イオン源、６・・・イオン検出
器、７・・・ゲート、８〜１１・・・扇形電場、１２・・・イオ
ン源、１３・・・ゲート、１４・・・イオン検出器、１５〜１
８・・・扇形電場、１９・・・イオン源、２０〜２１・・・ゲー
ト、２２・・・イオン検出器。
器、７・・・ゲート、８〜１１・・・扇形電場、１２・・・イオ
ン源、１３・・・ゲート、１４・・・イオン検出器、１５〜１
８・・・扇形電場、１９・・・イオン源、２０〜２１・・・ゲー
ト、２２・・・イオン検出器。
Claims (8)
- 【請求項１】複数の扇形電場によって構成された閉軌道
に、イオンを打ち込むための入射軌道とイオンを取り出
すための出射軌道を設けたことを特徴とする飛行時間型
質量分析計。 - 【請求項２】閉軌道を構成している扇形電場の電極部
に、閉軌道へのイオン入射のための孔、及び、閉軌道か
らのイオン出射のための孔を設けたことを特徴とする飛
行時間型質量分析計。 - 【請求項３】閉軌道への入出射軌道を構成している扇形
電場の電極部に、閉軌道を周回中のイオンを通過させる
ための孔を設けたことを特徴とする飛行時間型質量分析
計。 - 【請求項４】前記イオン入射及びイオン出射のための
孔、または、前記周回中のイオンを通過させるための孔
に、細かいメッシュを張ったことを特徴とする請求項２
または３記載の飛行時間型質量分析計。 - 【請求項５】複数の扇形電場によって構成された閉軌道
へのイオン打ち込みの際には、イオン打ち込み用の孔を
有する扇形電場の電極の電位をオフ（ゼロポテンシャ
ル）またはイオン入射軌道を構成している扇形電場の電
極の電位をオンにし、該閉軌道からのイオン取り出しの
際には、イオン取り出し用の孔を有する扇形電場の電極
の電位をオフ（ゼロポテンシャル）またはイオン出射軌
道を構成している扇形電場の電極の電位をオンにするよ
うにしたことを特徴とする飛行時間型質量分析計。 - 【請求項６】１８０゜より大きい旋回角度を有する２つ
の扇形電場を対向配置して８の字状にイオンが飛行でき
る閉軌道を構成させ、該閉軌道を構成する扇形電場の電
極にイオン打ち込み用の孔とイオン取り出し用の孔を設
け、該閉軌道にイオンを打ち込む際にはイオン打ち込み
用の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ（ゼロポテ
ンシャル）にし、該閉軌道からイオンを取り出す際には
イオン取り出し用の孔を有する扇形電場の電極の電位を
オフ（ゼロポテンシャル）にするようにしたことを特徴
とする請求項１、２、４及び５記載の飛行時間型質量分
析計。 - 【請求項７】１８０゜より大きい旋回角度を有する２つ
の扇形電場を対向配置して８の字状にイオンが飛行でき
る閉軌道を構成させ、２つの扇形電場間の自由飛行空間
にイオン打ち込み用の扇形電場とイオン取り出し用の扇
形電場を設け、該イオン打ち込み用の扇形電場及びイオ
ン取り出し用の扇形電場には、閉軌道を周回中のイオン
を通過させるための孔を設け、該閉軌道にイオンを打ち
込む際には該イオン打ち込み用の扇形電場の電極の電位
をオンにし、該閉軌道からイオンを取り出す際には該イ
オン取り出し用の扇形電場の電極の電位をオンにするよ
うにしたことを特徴とする請求項１、３、４及び５記載
の飛行時間型質量分析計。 - 【請求項８】１８０゜より小さい旋回角度を有する４つ
の扇形電場を対向配置して８の字状にイオンが飛行でき
る閉軌道を構成させ、該閉軌道を構成する扇形電場の電
極にイオン打ち込み用の孔とイオン取り出し用の孔を設
け、該閉軌道にイオンを打ち込む際にはイオン打ち込み
用の孔を有する扇形電場の電極の電位をオフ（ゼロポテ
ンシャル）にし、該閉軌道からイオンを取り出す際には
イオン取り出し用の孔を有する扇形電場の電極の電位を
オフ（ゼロポテンシャル）にするようにしたことを特徴
とする請求項１、２、４及び５記載の飛行時間型質量分
析計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9300257A JPH11135060A (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 飛行時間型質量分析計 |
| US09/183,224 US6300625B1 (en) | 1997-10-31 | 1998-10-30 | Time-of-flight mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9300257A JPH11135060A (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 飛行時間型質量分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11135060A true JPH11135060A (ja) | 1999-05-21 |
Family
ID=17882616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9300257A Pending JPH11135060A (ja) | 1997-10-31 | 1997-10-31 | 飛行時間型質量分析計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6300625B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11135060A (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002175771A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Ulvac Japan Ltd | イオン注入装置 |
| US6906321B2 (en) | 2003-07-25 | 2005-06-14 | Shimadzu Corporation | Time-of-flight mass spectrometer |
| US6949736B2 (en) | 2003-09-03 | 2005-09-27 | Jeol Ltd. | Method of multi-turn time-of-flight mass analysis |
| JP2005347150A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計 |
| JP2006078470A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-03-23 | Fujitsu Ltd | ３次元微細領域元素分析方法及び３次元微細領域元素分析装置 |
| JP2006202582A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
| JP2006228435A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
| JP2007040966A (ja) * | 2005-06-28 | 2007-02-15 | Fujitsu Ltd | ３次元アトムレベル構造観察装置 |
| US7227131B2 (en) | 2003-09-02 | 2007-06-05 | Shimadzu Corporation | Time of flight mass spectrometer |
| US7361889B2 (en) | 2005-03-29 | 2008-04-22 | Shimadzu Corporation | Time of flight mass spectrometer |
| JP2008177114A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| JPWO2008139506A1 (ja) * | 2007-05-09 | 2010-07-29 | 株式会社島津製作所 | 荷電粒子分析装置 |
| US8164054B2 (en) | 2007-12-13 | 2012-04-24 | Shimadzu Corporation | Mass analysis method and mass analysis system |
| US8294085B2 (en) | 2008-12-22 | 2012-10-23 | Shimadzu Research Laboratory (Shanghai) Co. Ltd. | Mass spectrometric analyzer |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7332345B2 (en) * | 1998-01-22 | 2008-02-19 | California Institute Of Technology | Chemical sensor system |
| US6570152B1 (en) * | 2000-03-03 | 2003-05-27 | Micromass Limited | Time of flight mass spectrometer with selectable drift length |
| US6867414B2 (en) * | 2002-09-24 | 2005-03-15 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Electric sector time-of-flight mass spectrometer with adjustable ion optical elements |
| DE10248814B4 (de) * | 2002-10-19 | 2008-01-10 | Bruker Daltonik Gmbh | Höchstauflösendes Flugzeitmassenspektrometer kleiner Bauart |
| JP4182844B2 (ja) * | 2003-09-03 | 2008-11-19 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| JP4001100B2 (ja) * | 2003-11-14 | 2007-10-31 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| JP4033133B2 (ja) * | 2004-01-13 | 2008-01-16 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| JP2005322429A (ja) * | 2004-05-06 | 2005-11-17 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| GB0513047D0 (en) * | 2005-06-27 | 2005-08-03 | Thermo Finnigan Llc | Electronic ion trap |
| GB0607542D0 (en) * | 2006-04-13 | 2006-05-24 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer |
| GB2447195B (en) | 2006-04-13 | 2011-08-17 | Thermo Fisher Scient | Ion energy spread reduction for mass spectrometer |
| GB0622689D0 (en) * | 2006-11-14 | 2006-12-27 | Thermo Electron Bremen Gmbh | Method of operating a multi-reflection ion trap |
| US8013292B2 (en) * | 2007-05-09 | 2011-09-06 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
| WO2009066354A1 (ja) * | 2007-11-21 | 2009-05-28 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
| US7932487B2 (en) * | 2008-01-11 | 2011-04-26 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer with looped ion path |
| GB2476964A (en) | 2010-01-15 | 2011-07-20 | Anatoly Verenchikov | Electrostatic trap mass spectrometer |
| GB2478300A (en) | 2010-03-02 | 2011-09-07 | Anatoly Verenchikov | A planar multi-reflection time-of-flight mass spectrometer |
| GB201118279D0 (en) | 2011-10-21 | 2011-12-07 | Shimadzu Corp | Mass analyser, mass spectrometer and associated methods |
| GB201408392D0 (en) * | 2014-05-12 | 2014-06-25 | Shimadzu Corp | Mass Analyser |
| US9761431B2 (en) * | 2015-09-21 | 2017-09-12 | NOAA Technology Partnerships Office | System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer |
| WO2018044253A1 (en) * | 2016-08-27 | 2018-03-08 | NOAA Technology Partnerships Office | System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer |
| GB2635290B (en) | 2020-09-03 | 2025-07-30 | HGSG Ltd | Mass spectrometer and method |
| GB2638099B (en) | 2021-04-07 | 2026-01-21 | HGSG Ltd | Mass spectrometer and method |
| GB2630649A (en) | 2023-06-02 | 2024-12-04 | HGSG Ltd | Mass spectrometer and method |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4754135A (en) * | 1987-03-27 | 1988-06-28 | Eastman Kodak Company | Quadruple focusing time of flight mass spectrometer |
| US4774408A (en) * | 1987-03-27 | 1988-09-27 | Eastman Kodak Company | Time of flight mass spectrometer |
| US5363008A (en) * | 1991-10-08 | 1994-11-08 | Hitachi, Ltd. | Circular accelerator and method and apparatus for extracting charged-particle beam in circular accelerator |
| US6013913A (en) * | 1998-02-06 | 2000-01-11 | The University Of Northern Iowa | Multi-pass reflectron time-of-flight mass spectrometer |
-
1997
- 1997-10-31 JP JP9300257A patent/JPH11135060A/ja active Pending
-
1998
- 1998-10-30 US US09/183,224 patent/US6300625B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002175771A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Ulvac Japan Ltd | イオン注入装置 |
| US6906321B2 (en) | 2003-07-25 | 2005-06-14 | Shimadzu Corporation | Time-of-flight mass spectrometer |
| US7227131B2 (en) | 2003-09-02 | 2007-06-05 | Shimadzu Corporation | Time of flight mass spectrometer |
| US6949736B2 (en) | 2003-09-03 | 2005-09-27 | Jeol Ltd. | Method of multi-turn time-of-flight mass analysis |
| JP2005347150A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Jeol Ltd | 飛行時間型質量分析計 |
| JP2006078470A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-03-23 | Fujitsu Ltd | ３次元微細領域元素分析方法及び３次元微細領域元素分析装置 |
| JP2006202582A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
| US7399960B2 (en) | 2005-01-20 | 2008-07-15 | Shimadzu Corporation | Time of flight mass spectrometer |
| JP2006228435A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Shimadzu Corp | 飛行時間型質量分析装置 |
| US7361889B2 (en) | 2005-03-29 | 2008-04-22 | Shimadzu Corporation | Time of flight mass spectrometer |
| JP2007040966A (ja) * | 2005-06-28 | 2007-02-15 | Fujitsu Ltd | ３次元アトムレベル構造観察装置 |
| JP2008177114A (ja) * | 2007-01-22 | 2008-07-31 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| US7928372B2 (en) | 2007-01-22 | 2011-04-19 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
| JPWO2008139506A1 (ja) * | 2007-05-09 | 2010-07-29 | 株式会社島津製作所 | 荷電粒子分析装置 |
| JP4883176B2 (ja) * | 2007-05-09 | 2012-02-22 | 株式会社島津製作所 | 荷電粒子分析装置 |
| US8680479B2 (en) | 2007-05-09 | 2014-03-25 | Shimadzu Corporation | Charged particle analyzer |
| US8164054B2 (en) | 2007-12-13 | 2012-04-24 | Shimadzu Corporation | Mass analysis method and mass analysis system |
| US8294085B2 (en) | 2008-12-22 | 2012-10-23 | Shimadzu Research Laboratory (Shanghai) Co. Ltd. | Mass spectrometric analyzer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6300625B1 (en) | 2001-10-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH11135060A (ja) | 飛行時間型質量分析計 | |
| DE112007002747B4 (de) | Verfahren zum Betreiben einer Mehrfachreflektionsionenfalle | |
| DE60128419D1 (de) | Flugzeitmassenspektrometer mit auswählbarer Driftlänge | |
| EP2850648B1 (en) | Orthogonal acceleration coaxial cylinder time of flight mass analyser | |
| US7355168B2 (en) | Time of flight mass spectrometer | |
| JPWO2008139507A1 (ja) | 質量分析装置 | |
| GB2274197A (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
| US6072182A (en) | High-efficiency electron ionizer for a mass spectrometer array | |
| DE10325582B4 (de) | Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in Hochfrequenz-Ionenfallen mit magnetischer Führung der Elektronen | |
| Casares et al. | Multipass time-of-flight mass spectrometers with high resolving powers | |
| EP1051734B1 (en) | Method of trapping ions in an ion trapping device | |
| JP2000243345A (ja) | 飛行時間型質量分析計のイオン光学系 | |
| JP3683761B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
| JP3392345B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
| US9870910B2 (en) | High speed polarity switch time-of-flight spectrometer | |
| JP4229732B2 (ja) | 飛行時間型質量分析計 | |
| JP3761752B2 (ja) | 周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置 | |
| JPH11135061A (ja) | 飛行時間型質量分析計におけるイオン光学系 | |
| JP4533672B2 (ja) | 飛行時間型質量分析計 | |
| JP3830344B2 (ja) | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 | |
| WO2024161145A1 (en) | Multi-reflecting tof mass spectrometry | |
| CN212412000U (zh) | 适于质谱仪的质量分析器 | |
| JP4480515B2 (ja) | 質量分析方法 | |
| JPH05251036A (ja) | 荷電粒子のフィルタ方法、エネルギフィルタ装置、エネルギフィルタ装置を持つ分析器、電子衝撃イオン化源、および電子衝撃イオン化源を持つ分析器 | |
| JP7124976B2 (ja) | 多重周回飛行時間型質量分析装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040525 |