JPH11142321A - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
- Publication number
- JPH11142321A JPH11142321A JP32948397A JP32948397A JPH11142321A JP H11142321 A JPH11142321 A JP H11142321A JP 32948397 A JP32948397 A JP 32948397A JP 32948397 A JP32948397 A JP 32948397A JP H11142321 A JPH11142321 A JP H11142321A
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- JP
- Japan
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- optical measuring
- cooling
- measuring device
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- Pending
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】簡易な構成で、より効果的な冷却が可能な光学
的測定装置を提供することである。 【解決手段】発熱光源を有する光学的測定装置におい
て、冷媒が通過する冷却経路を組み込んだ良熱伝導材よ
りなる必要な基体１と、この基体の内側に設けられた発
熱光源２と、基体の外側に着脱可能に設けられた必要な
放熱体３とを備えるようにした光学的測定装置である。
的測定装置を提供することである。 【解決手段】発熱光源を有する光学的測定装置におい
て、冷媒が通過する冷却経路を組み込んだ良熱伝導材よ
りなる必要な基体１と、この基体の内側に設けられた発
熱光源２と、基体の外側に着脱可能に設けられた必要な
放熱体３とを備えるようにした光学的測定装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、発熱光源を有す
る光学的測定装置にするものである。
る光学的測定装置にするものである。
【０００２】
【従来の技術】光学的測定装置には、その内部にランプ
等の発熱光源を有し、測定物に投光し反射してきた光量
により、その性状を測定するものがある。この場合、発
熱光源の熱を外部に逃がし、他の光学部品や半導体等の
電子部品の温度を下げ、装置としての性能、信頼性を向
上させる必要がある。このため、高温環境に装置を設置
する場合は、水冷板を、別途、装置に取り付けたり、あ
るいは、装置全体を冷却ボックスに収納し、装置全体の
冷却を行う方式がある。
等の発熱光源を有し、測定物に投光し反射してきた光量
により、その性状を測定するものがある。この場合、発
熱光源の熱を外部に逃がし、他の光学部品や半導体等の
電子部品の温度を下げ、装置としての性能、信頼性を向
上させる必要がある。このため、高温環境に装置を設置
する場合は、水冷板を、別途、装置に取り付けたり、あ
るいは、装置全体を冷却ボックスに収納し、装置全体の
冷却を行う方式がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、水冷板
を、いちいち別途設けるのは、繁雑なものとなり、又、
装置を冷却ボックスに収納すると全体として大型で高価
なものになる問題点があった。
を、いちいち別途設けるのは、繁雑なものとなり、又、
装置を冷却ボックスに収納すると全体として大型で高価
なものになる問題点があった。
【０００４】この発明の目的は、以上の点に鑑み、簡易
な構成で、より効果的な冷却が可能な光学的測定装置を
提供することである。
な構成で、より効果的な冷却が可能な光学的測定装置を
提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、発熱光源を
有する光学的測定装置において、冷媒が通過する冷却経
路を組み込んだ良熱伝導材よりなる必要な基体と、この
基体の内側に設けられた発熱光源と、基体の外側に着脱
可能に設けられた必要な放熱体とを備えるようにした光
学的測定装置である。
有する光学的測定装置において、冷媒が通過する冷却経
路を組み込んだ良熱伝導材よりなる必要な基体と、この
基体の内側に設けられた発熱光源と、基体の外側に着脱
可能に設けられた必要な放熱体とを備えるようにした光
学的測定装置である。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１（ａ）、（ｂ）は、この発明
の光学的測定装置の一実施例を示す正面説明図、側面説
明図である。図において、１は、内部に、冷媒が通過す
る冷却経路１０を組み込んだ良熱伝導材よりなる金属ブ
ロック等よりなる基本光学ベースとしての基体で、この
基体１の内側に発熱光源２が設けられ、基体１の外側に
複数の放熱フィン等を有する放熱体３が着脱可能に熱的
に密着して設けられている。又、発熱光源２を含んで、
カバー４が設けられ、そして、発熱光源２の光Ｌは、ミ
ラー等の光学部品５を介し、基体１の穴部１ａ、放熱体
３の穴部３ａを通して外部の測定物に投光され、反射、
透過等され、測定物の性質、状態の測定が実施される。
の光学的測定装置の一実施例を示す正面説明図、側面説
明図である。図において、１は、内部に、冷媒が通過す
る冷却経路１０を組み込んだ良熱伝導材よりなる金属ブ
ロック等よりなる基本光学ベースとしての基体で、この
基体１の内側に発熱光源２が設けられ、基体１の外側に
複数の放熱フィン等を有する放熱体３が着脱可能に熱的
に密着して設けられている。又、発熱光源２を含んで、
カバー４が設けられ、そして、発熱光源２の光Ｌは、ミ
ラー等の光学部品５を介し、基体１の穴部１ａ、放熱体
３の穴部３ａを通して外部の測定物に投光され、反射、
透過等され、測定物の性質、状態の測定が実施される。
【０００７】つまり、基体１は、各種部材を保持する部
材であるとともに、その内部の冷却経路１０に流通する
水等の冷媒によりカバー４内にこもった熱も含めて発熱
光源２の熱を効果的に吸収し冷媒を通じ、かつ、基体１
から外方に熱放射し冷却できる。いっそう冷却効果を高
める場合に、基体１に着脱可能な表面積を高めたフィン
等の放熱体３を密着して設け、外部に放熱することがで
き、様々な場合に応じた冷却ができる。
材であるとともに、その内部の冷却経路１０に流通する
水等の冷媒によりカバー４内にこもった熱も含めて発熱
光源２の熱を効果的に吸収し冷媒を通じ、かつ、基体１
から外方に熱放射し冷却できる。いっそう冷却効果を高
める場合に、基体１に着脱可能な表面積を高めたフィン
等の放熱体３を密着して設け、外部に放熱することがで
き、様々な場合に応じた冷却ができる。
【０００８】又、外部環境温度が低い場合、基体１の経
路１０に温水を流すことにより、基体１の温度を上げる
ことができ、装置全体の温度を使用温度範囲まで上げる
ことが可能である。
路１０に温水を流すことにより、基体１の温度を上げる
ことができ、装置全体の温度を使用温度範囲まで上げる
ことが可能である。
【０００９】又、基体１やケース４内の温度、又は基体
１の経路１０に流れる冷媒の出口又は入口の温度を測定
し、水冷温度の制御を行ったり、又は外部へ警報信号を
発生し、光学的測定装置のシステム保全信号として用い
ることができる。
１の経路１０に流れる冷媒の出口又は入口の温度を測定
し、水冷温度の制御を行ったり、又は外部へ警報信号を
発生し、光学的測定装置のシステム保全信号として用い
ることができる。
【００１０】又、装置の使用環境や発熱光源２の発熱量
に応じて、次のような種々な組み合わせを選択して使用
することが可能で、順次冷却効果が高くなる。
に応じて、次のような種々な組み合わせを選択して使用
することが可能で、順次冷却効果が高くなる。
【００１１】 （１）冷却経路１０のない基体１（基体１のみで十分な
冷却できる場合） （２）冷却経路１０のある基体１（基体１に冷却経路１
０を組込んで冷却） （３）冷却経路１０のない基体１と放熱体３（放熱体を
付加） （４）冷却経路１０のある基体１と放熱体３（冷却経路
と放熱体） 図１の実施例は、（４）の場合について説明してある。
基体１に冷却経路１０を設けないで十分な場合が（１）
で、冷却経路１０のある基体１を用いたのが、（２）の
場合で、いずれも放熱体３を用いない。冷却経路１０の
ない基体１に放熱体３を用いたのが（３）の場合で、冷
却経路１０のある基体１に放熱体３を用いたのが（４）
の場合である。これらのブロック化された冷却手段とし
ての各部材を、あらかじめ用意しておき、必要に応じ、
選択して組合せて用いることができ、種々な場合にフレ
キシブルに対応することができる。又、冷却経路１０の
ある基体１を用い、冷却媒体を流さずに使用すると、
（１）、（３）の方式となる。
冷却できる場合） （２）冷却経路１０のある基体１（基体１に冷却経路１
０を組込んで冷却） （３）冷却経路１０のない基体１と放熱体３（放熱体を
付加） （４）冷却経路１０のある基体１と放熱体３（冷却経路
と放熱体） 図１の実施例は、（４）の場合について説明してある。
基体１に冷却経路１０を設けないで十分な場合が（１）
で、冷却経路１０のある基体１を用いたのが、（２）の
場合で、いずれも放熱体３を用いない。冷却経路１０の
ない基体１に放熱体３を用いたのが（３）の場合で、冷
却経路１０のある基体１に放熱体３を用いたのが（４）
の場合である。これらのブロック化された冷却手段とし
ての各部材を、あらかじめ用意しておき、必要に応じ、
選択して組合せて用いることができ、種々な場合にフレ
キシブルに対応することができる。又、冷却経路１０の
ある基体１を用い、冷却媒体を流さずに使用すると、
（１）、（３）の方式となる。
【００１２】
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、発熱光
源を有する光学的測定装置において、必要に応じて選択
された冷媒が通過する冷却経路を組み込んだ熱伝導材よ
りなる基体と、この基体の内側に設けられた発熱光源
と、必要に応じて選択された基体の外側に着脱可能に設
ける放熱体とを備えるようにした光学的測定装置であ
る。このため、基体は、各種部材を保持する手段と、そ
の内部の冷却経路に流通する水等の冷媒により発熱光源
の熱を吸収して冷却する手段とを兼ね、小型、簡素な構
造で効果的な冷却ができる。更に、冷却効果を高める場
合、基体に着脱可能な放熱体を設けて外部に放熱するこ
とができ、様々な場合に応じた冷却ができ、必要に応じ
た構成がとれる。又、外部環境温度が低い場合、基体の
経路に温水を流すことにより、基体の温度を上げること
ができ、装置全体の温度を使用温度範囲まで上げること
が可能で、低温下での測定も可能になる。又、基体やケ
ース内の温度、又は基体の経路に流れる冷媒の出口又は
入口の温度を測定し、水冷温度の制御を行ったり、又は
外部へ警報信号を発生し、光学的測定装置のシステム保
全信号として用いることができる。又、各部材はブロッ
ク構成とされ、冷却経路のある基体、冷却経路のない基
体、放熱体を必要に応じて、選択組合せて使用でき、場
合に応じた最適、効率的な冷却方法をフレキシブルに実
施できる。
源を有する光学的測定装置において、必要に応じて選択
された冷媒が通過する冷却経路を組み込んだ熱伝導材よ
りなる基体と、この基体の内側に設けられた発熱光源
と、必要に応じて選択された基体の外側に着脱可能に設
ける放熱体とを備えるようにした光学的測定装置であ
る。このため、基体は、各種部材を保持する手段と、そ
の内部の冷却経路に流通する水等の冷媒により発熱光源
の熱を吸収して冷却する手段とを兼ね、小型、簡素な構
造で効果的な冷却ができる。更に、冷却効果を高める場
合、基体に着脱可能な放熱体を設けて外部に放熱するこ
とができ、様々な場合に応じた冷却ができ、必要に応じ
た構成がとれる。又、外部環境温度が低い場合、基体の
経路に温水を流すことにより、基体の温度を上げること
ができ、装置全体の温度を使用温度範囲まで上げること
が可能で、低温下での測定も可能になる。又、基体やケ
ース内の温度、又は基体の経路に流れる冷媒の出口又は
入口の温度を測定し、水冷温度の制御を行ったり、又は
外部へ警報信号を発生し、光学的測定装置のシステム保
全信号として用いることができる。又、各部材はブロッ
ク構成とされ、冷却経路のある基体、冷却経路のない基
体、放熱体を必要に応じて、選択組合せて使用でき、場
合に応じた最適、効率的な冷却方法をフレキシブルに実
施できる。
【図１】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
１ 基体 ２ 発熱光源 ３ 放熱体 ４ カバー ５ 光学部品
Claims (3)
- 【請求項１】発熱光源を有する光学的測定装置におい
て、良熱伝導材よりなる基体と、この基体の内側に設け
られた発熱光源とを備えたことを特徴とする光学的測定
装置。 - 【請求項２】前記基体として、冷媒が通過する冷却経路
を組み込んだ良熱伝導材よりなる基体を用いたことを特
徴とする請求項１記載の光学的測定装置。 - 【請求項３】前記基体の外側に着脱可能に熱的に密着し
て設けられた放熱体を備えたことを特徴とする請求項１
又は請求項２記載の光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32948397A JPH11142321A (ja) | 1997-11-13 | 1997-11-13 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32948397A JPH11142321A (ja) | 1997-11-13 | 1997-11-13 | 光学的測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11142321A true JPH11142321A (ja) | 1999-05-28 |
Family
ID=18221887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32948397A Pending JPH11142321A (ja) | 1997-11-13 | 1997-11-13 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11142321A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006122426A1 (en) * | 2005-05-20 | 2006-11-23 | Tir Systems Ltd. | Light-emitting module |
| JP2009139136A (ja) * | 2007-12-04 | 2009-06-25 | Dkk Toa Corp | 赤外線ガス分析装置用光源ユニット |
-
1997
- 1997-11-13 JP JP32948397A patent/JPH11142321A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006122426A1 (en) * | 2005-05-20 | 2006-11-23 | Tir Systems Ltd. | Light-emitting module |
| JP2009139136A (ja) * | 2007-12-04 | 2009-06-25 | Dkk Toa Corp | 赤外線ガス分析装置用光源ユニット |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040325 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050628 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20050701 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20051024 |