JPH11142458A - 終端装置 - Google Patents
終端装置Info
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- JPH11142458A JPH11142458A JP9308895A JP30889597A JPH11142458A JP H11142458 A JPH11142458 A JP H11142458A JP 9308895 A JP9308895 A JP 9308895A JP 30889597 A JP30889597 A JP 30889597A JP H11142458 A JPH11142458 A JP H11142458A
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- electrode
- distributed constant
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/07—Non contact-making probes
- G01R1/071—Non contact-making probes containing electro-optic elements
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Non-Reversible Transmitting Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電気光学サンプリングプローブを利用して、
その分布定数伝送路に印加される信号電位を安定的にか
つ高精度に検出可能にする。 【解決手段】 分布定数伝送路の終端に、分布定数伝送
路のインピーダンス相当のインピーダンスを持った終端
回路１６を接続し、分布定数伝送路および終端回路１６
を結ぶ回路に、電気光学サンプリングプローブＢの接触
子２に電気的に接触される電極１１を接続する。
その分布定数伝送路に印加される信号電位を安定的にか
つ高精度に検出可能にする。 【解決手段】 分布定数伝送路の終端に、分布定数伝送
路のインピーダンス相当のインピーダンスを持った終端
回路１６を接続し、分布定数伝送路および終端回路１６
を結ぶ回路に、電気光学サンプリングプローブＢの接触
子２に電気的に接触される電極１１を接続する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電気光学サンプ
リングプローブによって分布定数伝送路の信号測定を行
うのに利用する終端装置に関する。
リングプローブによって分布定数伝送路の信号測定を行
うのに利用する終端装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、変化の速い電気現象の波形測
定にはオシロスコープが広く用いられている。かかるオ
シロスコープでは、今日の高速化が進む情報通信システ
ムの点検，保守，測定のために被測定回路に擾乱を与え
ずに回路信号の電位等を高精度に検出する必要が生じて
いる。しかし、現在のところ、十分に高いインピーダン
スで高周波信号、たとえば５ＧＨｚにも及ぶ高い周波数
を測定できる高精度のオシロスコープが提供されていな
い。
定にはオシロスコープが広く用いられている。かかるオ
シロスコープでは、今日の高速化が進む情報通信システ
ムの点検，保守，測定のために被測定回路に擾乱を与え
ずに回路信号の電位等を高精度に検出する必要が生じて
いる。しかし、現在のところ、十分に高いインピーダン
スで高周波信号、たとえば５ＧＨｚにも及ぶ高い周波数
を測定できる高精度のオシロスコープが提供されていな
い。
【０００３】一方、前記情報通信システムのプリントボ
ード上の前記被測定回路に擾乱を与えずに、これの回路
信号の電位を測定するため、ハンディタイプの電気光学
サンプリングプローブが提供されている。この電気光学
サンプリングプローブは、導電路である例えばマイクロ
ストリップラインに接触させる接触子を、誘電ミラーが
取り付けられたＢＳＯ（Ｂｉ12ＳｉＯ20）などの電気光
学材料の一端に取り付けたものからなる。そして、その
接触子を通して得られる前記マイクロストリップライン
上の信号を、その電気光学材料の両端での電位差として
検出し、この電位差として得られる電界強度の変化に応
じて光の複屈折率を変化させ、この複屈折率の変化にと
もなう電気光学材料に入射したレーザ光の偏光変化を前
記誘電ミラーを介して、プローブモジュールの偏光検出
光学系に取り出して処理し、信号電圧の測定を行う。
ード上の前記被測定回路に擾乱を与えずに、これの回路
信号の電位を測定するため、ハンディタイプの電気光学
サンプリングプローブが提供されている。この電気光学
サンプリングプローブは、導電路である例えばマイクロ
ストリップラインに接触させる接触子を、誘電ミラーが
取り付けられたＢＳＯ（Ｂｉ12ＳｉＯ20）などの電気光
学材料の一端に取り付けたものからなる。そして、その
接触子を通して得られる前記マイクロストリップライン
上の信号を、その電気光学材料の両端での電位差として
検出し、この電位差として得られる電界強度の変化に応
じて光の複屈折率を変化させ、この複屈折率の変化にと
もなう電気光学材料に入射したレーザ光の偏光変化を前
記誘電ミラーを介して、プローブモジュールの偏光検出
光学系に取り出して処理し、信号電圧の測定を行う。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来の電気光学サンプリングプローブにあっては、例え
ば５ＧＨｚ以上の高い周波数の信号電圧を測定できるも
のの、その測定点が前記接触子をマイクロストリップラ
インなどの裸の導電部に直接接触させて行うものである
ため、例えば回路間を結ぶ同軸ケーブルの芯線を通過す
る信号の電位を直接測定することができないという課題
があった。
従来の電気光学サンプリングプローブにあっては、例え
ば５ＧＨｚ以上の高い周波数の信号電圧を測定できるも
のの、その測定点が前記接触子をマイクロストリップラ
インなどの裸の導電部に直接接触させて行うものである
ため、例えば回路間を結ぶ同軸ケーブルの芯線を通過す
る信号の電位を直接測定することができないという課題
があった。
【０００５】また、前記電気光学サンプリングプローブ
では、接触子の導電部位への接触操作状態が不完全であ
る場合などには、入力インピーダンスが著しく高いこと
も相俟って、精度の高い電位検出が行えなくなったり、
測定値が不安定かつ不正確になる場合があるという課題
があった。
では、接触子の導電部位への接触操作状態が不完全であ
る場合などには、入力インピーダンスが著しく高いこと
も相俟って、精度の高い電位検出が行えなくなったり、
測定値が不安定かつ不正確になる場合があるという課題
があった。
【０００６】この発明は、前記のような課題を解決する
ものであり、同軸ケーブル等の分布定数伝送路を終端処
理した上で、電気光学サンプリングプローブを利用し
て、その分布定数伝送路に印加される信号電位を安定的
にかつ高精度に検出可能にするための終端装置を提供す
ることを目的とする。
ものであり、同軸ケーブル等の分布定数伝送路を終端処
理した上で、電気光学サンプリングプローブを利用し
て、その分布定数伝送路に印加される信号電位を安定的
にかつ高精度に検出可能にするための終端装置を提供す
ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的達成のため、請
求項１の発明にかかる終端装置は、分布定数伝送路の終
端に、該分布定数伝送路のインピーダンス相当のインピ
ーダンスを持った終端回路を接続し、前記分布定数伝送
路および終端回路を結ぶ回路に、電気光学サンプリング
プローブの接触子に電気的に接触される電極を接続した
ものである。
求項１の発明にかかる終端装置は、分布定数伝送路の終
端に、該分布定数伝送路のインピーダンス相当のインピ
ーダンスを持った終端回路を接続し、前記分布定数伝送
路および終端回路を結ぶ回路に、電気光学サンプリング
プローブの接触子に電気的に接触される電極を接続した
ものである。
【０００８】また、請求項２の発明にかかる終端装置
は、前記終端回路および電極を、前記電気光学サンプリ
ングプローブの先端部に対し着脱自在に装着されるアダ
プタケース内に設置したものである。
は、前記終端回路および電極を、前記電気光学サンプリ
ングプローブの先端部に対し着脱自在に装着されるアダ
プタケース内に設置したものである。
【０００９】また、請求項３の発明にかかる終端装置
は、前記終端回路および電極を、オシロスコープのパネ
ル内に設置し、該パネルには前記電気光学サンプリング
プローブの先端部を着脱自在に支持するプローブ支持部
材を取り付けられたものである。
は、前記終端回路および電極を、オシロスコープのパネ
ル内に設置し、該パネルには前記電気光学サンプリング
プローブの先端部を着脱自在に支持するプローブ支持部
材を取り付けられたものである。
【００１０】また、請求項４の発明にかかる終端装置
は、前記終端回路および電極が、電気光学オシロスコー
プの校正端子を構成するようにしたものである。
は、前記終端回路および電極が、電気光学オシロスコー
プの校正端子を構成するようにしたものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
図について説明する。図２および図３はこの発明の終端
装置Ａと電気光学サンプリングプローブＢとの結合状態
および結合解除状態を示す斜視図であり、このうち電気
光学サンプリングプローブＢは、突出部１の先端に形成
された接触子２を、ケース３内に収納された電気光学材
料（図示しない）の一端に取り付け、その接触子２を通
して得られた電界強度の変化に応じて、外部入射のレー
ザ光の偏光変化をプローブモジュールの偏光検出光学系
に取り出して処理し、再び電気信号に変換することで、
接触子２に接触している後述の電極に印加される信号電
位値を測定するように機能する。
図について説明する。図２および図３はこの発明の終端
装置Ａと電気光学サンプリングプローブＢとの結合状態
および結合解除状態を示す斜視図であり、このうち電気
光学サンプリングプローブＢは、突出部１の先端に形成
された接触子２を、ケース３内に収納された電気光学材
料（図示しない）の一端に取り付け、その接触子２を通
して得られた電界強度の変化に応じて、外部入射のレー
ザ光の偏光変化をプローブモジュールの偏光検出光学系
に取り出して処理し、再び電気信号に変換することで、
接触子２に接触している後述の電極に印加される信号電
位値を測定するように機能する。
【００１２】一方、終端装置Ａは、図１に示すように構
成されている。同図において、４は一端側内周のリング
切欠５内にリング状の弾性材６が装着されているアダプ
タケースとしての筒部材である。この筒部材４は例えば
金属材料からなる。また、弾性部材６の内径は、前記突
出部１の外周に弾接してケース３の全体を水平に安定支
持可能にし、かつ着脱自在な所定寸法に設定されてい
る。また、筒部材４の他端側の側面には、中心孔７を有
するコネクタ取付板８が取り付けられている。
成されている。同図において、４は一端側内周のリング
切欠５内にリング状の弾性材６が装着されているアダプ
タケースとしての筒部材である。この筒部材４は例えば
金属材料からなる。また、弾性部材６の内径は、前記突
出部１の外周に弾接してケース３の全体を水平に安定支
持可能にし、かつ着脱自在な所定寸法に設定されてい
る。また、筒部材４の他端側の側面には、中心孔７を有
するコネクタ取付板８が取り付けられている。
【００１３】このコネクタ取付板８の中心孔７付近の側
面には、絶縁材からなる支持リング９、および周辺に絶
縁リング１０を有する円板状の電極１１が互いに重なる
ように取り付けられている。なお、１２は電極１１の中
央部に凹設された円錐断面形の接触子受部であり、これ
が前記弾性部材６内に挿し込まれた突出部１先端の接触
子２を確実に接触支持するように機能する。
面には、絶縁材からなる支持リング９、および周辺に絶
縁リング１０を有する円板状の電極１１が互いに重なる
ように取り付けられている。なお、１２は電極１１の中
央部に凹設された円錐断面形の接触子受部であり、これ
が前記弾性部材６内に挿し込まれた突出部１先端の接触
子２を確実に接触支持するように機能する。
【００１４】さらに、１３はコネクタ取付板８の外側面
に取り付けられた、分布定数伝送路である同軸ケーブル
の一端を接続するためのコネクタであり、このコネクタ
１３の中心電極１４はその同軸ケーブルに接続されて分
布定数伝送路の一部とされ、中心孔７内を貫通して、こ
の中心電極１４と電極１１との間に接続線１５が半田付
けなどにより接続されている。１６は前記分布定数伝送
路の終端とされる、該分布定数伝送路のインピーダンス
相当の終端回路としての終端抵抗であり、中心電極１４
とコネクタ１３の接地電位側との間に接続され、例えば
５０Ωの抵抗器が用いられる。
に取り付けられた、分布定数伝送路である同軸ケーブル
の一端を接続するためのコネクタであり、このコネクタ
１３の中心電極１４はその同軸ケーブルに接続されて分
布定数伝送路の一部とされ、中心孔７内を貫通して、こ
の中心電極１４と電極１１との間に接続線１５が半田付
けなどにより接続されている。１６は前記分布定数伝送
路の終端とされる、該分布定数伝送路のインピーダンス
相当の終端回路としての終端抵抗であり、中心電極１４
とコネクタ１３の接地電位側との間に接続され、例えば
５０Ωの抵抗器が用いられる。
【００１５】かかる構成になる終端抵抗１６および電極
１１を持った終端装置において、分布定数伝送路として
の同軸ケーブルに印加されている信号電位を測定しよう
とする場合には、その同軸ケーブルの一端を前記コネク
タ１３に接続する。また、この接続操作に前後して、筒
部材４に取り付けられたリング状の弾性部材６内に電気
光学サンプリングプローブＢの突出部１を圧入して、接
触子２を筒部材４内の電極１１の接触子受部１２に接触
せしめる。
１１を持った終端装置において、分布定数伝送路として
の同軸ケーブルに印加されている信号電位を測定しよう
とする場合には、その同軸ケーブルの一端を前記コネク
タ１３に接続する。また、この接続操作に前後して、筒
部材４に取り付けられたリング状の弾性部材６内に電気
光学サンプリングプローブＢの突出部１を圧入して、接
触子２を筒部材４内の電極１１の接触子受部１２に接触
せしめる。
【００１６】このようにすることで、前記同軸ケーブル
の一端は、コネクタ１３の中心電極１４を介して終端抵
抗１６により終端される。このため、同軸ケーブルの前
記一端における電気信号の反射や干渉，損失を回避でき
る。また、中心電極１４の信号電位は接続線１５を介し
て電極１１に伝えられ、この電極１１に接触している電
気光学サンプリングプローブＢの接触子２を通して、電
界強度変化に伴うレーザ光の偏光変化から、前記信号電
位の測定を高精度かつ安定的に実施できる。
の一端は、コネクタ１３の中心電極１４を介して終端抵
抗１６により終端される。このため、同軸ケーブルの前
記一端における電気信号の反射や干渉，損失を回避でき
る。また、中心電極１４の信号電位は接続線１５を介し
て電極１１に伝えられ、この電極１１に接触している電
気光学サンプリングプローブＢの接触子２を通して、電
界強度変化に伴うレーザ光の偏光変化から、前記信号電
位の測定を高精度かつ安定的に実施できる。
【００１７】図４はこの発明の実施の他の形態を示す。
これは終端装置を構成する終端抵抗１６および電極１１
を、オシロスコープのパネル２１内に設置した場合を示
し、同軸ケーブルの芯線２２と、これが絶縁材（図示し
ない）を介して貫通するアースリング２３との間に、終
端抵抗１６が接続されている。なお、電極１１はオシロ
スコープが本来有する校正電極として用いることもでき
る。
これは終端装置を構成する終端抵抗１６および電極１１
を、オシロスコープのパネル２１内に設置した場合を示
し、同軸ケーブルの芯線２２と、これが絶縁材（図示し
ない）を介して貫通するアースリング２３との間に、終
端抵抗１６が接続されている。なお、電極１１はオシロ
スコープが本来有する校正電極として用いることもでき
る。
【００１８】また、電極１１が設けられる部位付近のパ
ネル２１には、取付孔２４が形成されており、この取付
孔２４には電気光学サンプリングプローブＢの支持部材
としての弾性部材６が固定されている。また、かかる弾
性部材６に対する前記突出部１の挿入および支持時に
は、電気光学サンプリングプローブＢの接触子２が、前
記同様に、電極１１の接触子受部１２内に嵌まり込むよ
うに接触する。
ネル２１には、取付孔２４が形成されており、この取付
孔２４には電気光学サンプリングプローブＢの支持部材
としての弾性部材６が固定されている。また、かかる弾
性部材６に対する前記突出部１の挿入および支持時に
は、電気光学サンプリングプローブＢの接触子２が、前
記同様に、電極１１の接触子受部１２内に嵌まり込むよ
うに接触する。
【００１９】従って、かかる構成になる終端装置では、
オシロスコープ内の出力用の同軸ケーブルの終端を適正
に行うことができ、電気光学サンプリングプローブＢに
よるその同軸ケーブルに印加された信号電位の測定を高
精度に実施できる。なお、ここで用いる電極１１は、同
軸ケーブル端に接続された例えば校正用電極として利用
することができる。
オシロスコープ内の出力用の同軸ケーブルの終端を適正
に行うことができ、電気光学サンプリングプローブＢに
よるその同軸ケーブルに印加された信号電位の測定を高
精度に実施できる。なお、ここで用いる電極１１は、同
軸ケーブル端に接続された例えば校正用電極として利用
することができる。
【００２０】図５はオシロスコープ３１の校正電極を、
パネル３２の外部へ導出された同軸ケーブル３３端に接
続した終端装置Ａ内に設けたものを示す。すなわち、こ
の終端装置Ａは図１について説明したものと同一構成，
作用を持ち、このうち電極１１は前記同軸ケーブル３３
に接続された校正電極として利用される。従って、その
同軸ケーブル３３のパネル３２内における端部が、オシ
ロスコープ３１の校正回路に接続されている。
パネル３２の外部へ導出された同軸ケーブル３３端に接
続した終端装置Ａ内に設けたものを示す。すなわち、こ
の終端装置Ａは図１について説明したものと同一構成，
作用を持ち、このうち電極１１は前記同軸ケーブル３３
に接続された校正電極として利用される。従って、その
同軸ケーブル３３のパネル３２内における端部が、オシ
ロスコープ３１の校正回路に接続されている。
【００２１】ここで、この終端装置Ａは、図１に示した
ものと同様に、電気光学サンプリングプローブＢの先端
部に着脱自在に装着されるため、接触子２の保護を図る
ことができ、かかる装着時においては、電気光学サンプ
リングプローブＢの校正が自動的に行われる。例えばこ
の装着時に、電気光学サンプリングプローブＢが同軸ケ
ーブル３３の信号電位１Ｖを測定したとき、オシロスコ
ープ３１が正常と判断できる。従って、この電気光学サ
ンプリングプローブＢの接触子２の保護のために、専用
の保護具を別途用意する必要がなくなる。３４は電気光
学サンプリングプローブＢにより測定した信号を、オシ
ロスコープ３１内の測定端子に入力するためのプローブ
ケーブルである。
ものと同様に、電気光学サンプリングプローブＢの先端
部に着脱自在に装着されるため、接触子２の保護を図る
ことができ、かかる装着時においては、電気光学サンプ
リングプローブＢの校正が自動的に行われる。例えばこ
の装着時に、電気光学サンプリングプローブＢが同軸ケ
ーブル３３の信号電位１Ｖを測定したとき、オシロスコ
ープ３１が正常と判断できる。従って、この電気光学サ
ンプリングプローブＢの接触子２の保護のために、専用
の保護具を別途用意する必要がなくなる。３４は電気光
学サンプリングプローブＢにより測定した信号を、オシ
ロスコープ３１内の測定端子に入力するためのプローブ
ケーブルである。
【００２２】図６はこの発明の実施のさらに他の形態を
示す。これはパネル４１の外側に同軸ケーブル接続用の
コネクタ４２が取り付けられており、このコネクタ４２
の電極である中心電極４３の内端に、パネル４１内に設
けた金属部材４４が接触している。また、この金属部材
４４には電気光学材料４５が当接され、この金属部材４
４および電気光学材料４５は図示しない光学系とともに
電気光学サンプリング装置を構成している。また、前記
中心電極４３または金属部材４４と、パネル４１などの
アース電位との間には終端抵抗４６，４７が切換スイッ
チ４８を介して選択的に接続可能とされている。ここ
で、終端抵抗４６は例えば５０Ω、終端抵抗４７は１Ｍ
Ωとされている。
示す。これはパネル４１の外側に同軸ケーブル接続用の
コネクタ４２が取り付けられており、このコネクタ４２
の電極である中心電極４３の内端に、パネル４１内に設
けた金属部材４４が接触している。また、この金属部材
４４には電気光学材料４５が当接され、この金属部材４
４および電気光学材料４５は図示しない光学系とともに
電気光学サンプリング装置を構成している。また、前記
中心電極４３または金属部材４４と、パネル４１などの
アース電位との間には終端抵抗４６，４７が切換スイッ
チ４８を介して選択的に接続可能とされている。ここ
で、終端抵抗４６は例えば５０Ω、終端抵抗４７は１Ｍ
Ωとされている。
【００２３】かかる構成になる終端装置にあっては、外
部の同軸ケーブルをコネクタ４２に装着して、これの中
心電極４３との電気的接続を行うことで、終端抵抗４６
または４７がこの接続された同軸ケーブルの終端処理を
行うこととなり、前記電気光学サンプリング装置による
同軸ケーブル上の信号電位を高精度に検出することがで
きる。
部の同軸ケーブルをコネクタ４２に装着して、これの中
心電極４３との電気的接続を行うことで、終端抵抗４６
または４７がこの接続された同軸ケーブルの終端処理を
行うこととなり、前記電気光学サンプリング装置による
同軸ケーブル上の信号電位を高精度に検出することがで
きる。
【００２４】また、図７および図８は終端装置のさらに
他の形態を示す。これは筺体７１の一端に例えばＳＭＡ
コネクタなどの電気入力端子７２を取り付け、他端に終
端器７３を取り付けて、これらの間にマイクロストリッ
プライン７４を接続したものからなる。このような終端
装置では、マイクロストリップライン７４に電気光学サ
ンプリングプローブＢ先端の接触子を接触させるだけ
で、マイクロストリップライン７４の電位測定を高精度
に行える。この場合において、筺体は電気光学サンプリ
ングプローブＢを支持する保持具を兼用するものとして
構成することは任意である。
他の形態を示す。これは筺体７１の一端に例えばＳＭＡ
コネクタなどの電気入力端子７２を取り付け、他端に終
端器７３を取り付けて、これらの間にマイクロストリッ
プライン７４を接続したものからなる。このような終端
装置では、マイクロストリップライン７４に電気光学サ
ンプリングプローブＢ先端の接触子を接触させるだけ
で、マイクロストリップライン７４の電位測定を高精度
に行える。この場合において、筺体は電気光学サンプリ
ングプローブＢを支持する保持具を兼用するものとして
構成することは任意である。
【００２５】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、分布
定数伝送路の終端に、該分布定数伝送路のインピーダン
ス相当のインピーダンスを持った終端回路を接続し、前
記分布定数伝送路および終端回路を結ぶ回路に、電気光
学サンプリングプローブの接触子に電気的に接触される
電極を接続するように構成したので、同軸ケーブル等の
分布定数伝送路を終端処理した上で、電気光学サンプリ
ングプローブを利用して、その分布定数伝送路に印加さ
れる信号電位を、安定的にかつ高精度に検出できるとい
う効果が得られる。
定数伝送路の終端に、該分布定数伝送路のインピーダン
ス相当のインピーダンスを持った終端回路を接続し、前
記分布定数伝送路および終端回路を結ぶ回路に、電気光
学サンプリングプローブの接触子に電気的に接触される
電極を接続するように構成したので、同軸ケーブル等の
分布定数伝送路を終端処理した上で、電気光学サンプリ
ングプローブを利用して、その分布定数伝送路に印加さ
れる信号電位を、安定的にかつ高精度に検出できるとい
う効果が得られる。
【図１】 この発明の実施の一形態による終端装置を示
す断面図である。
す断面図である。
【図２】 図１に示す終端装置を装着した電気光学サン
プリングプローブを示す斜視図である。
プリングプローブを示す斜視図である。
【図３】 図２に示す終端装置を電気光学サンプリング
プローブから分離した状態を示す斜視図である。
プローブから分離した状態を示す斜視図である。
【図４】 この発明の実施の他の形態による終端装置を
示す要部の断面図である。
示す要部の断面図である。
【図５】 この発明の終端装置の他の利用例を示す概念
図である。
図である。
【図６】 この発明の実施の他の形態による終端装置を
示す要部の側面図である。
示す要部の側面図である。
【図７】 この発明の実施のさらに他の形態による終端
装置を示す正面図である。
装置を示す正面図である。
【図８】 図１に示す終端装置の平面図である。
Ａ終端装置 Ｂ 電気光学サンプリングプローブ ２ 接触子 ４ 筒部材（アダプタケース） ６ 弾性部材（プローブ支持部材） １１ 電極 １６ 終端抵抗（終端回路） ２１ パネル ３１ オシロスコープ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菊池 潤 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 遠藤 善雄 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 松広 一良 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 分布定数伝送路の終端に接続され、該分
布定数伝送路のインピーダンス相当のインピーダンスを
持った終端回路と、 前記分布定数伝送路および終端回路を結ぶ回路に接続さ
れ、かつ電気光学サンプリングプローブの接触子に電気
的に接触される電極とを備えたことを特徴とする終端装
置。 - 【請求項２】 前記終端回路および電極が、前記電気光
学サンプリングプローブの先端部に対し着脱自在に装着
されるアダプタケース内に設置されていることを特徴と
する請求項１に記載の終端装置。 - 【請求項３】 前記終端回路および電極が、オシロスコ
ープのパネル内に設置され、該パネルには前記電気光学
サンプリングプローブの先端部を着脱自在に支持するプ
ローブ支持部材が取り付けられていることを特徴とする
請求項１に記載の終端装置。 - 【請求項４】 前記終端回路および電極が、電気光学オ
シロスコープの校正端子を構成していることを特徴とす
る請求項２または請求項３に記載の終端装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30889597A JP3437751B2 (ja) | 1997-11-11 | 1997-11-11 | 終端装置 |
| EP98309174A EP0921400A3 (en) | 1997-11-11 | 1998-11-10 | Terminal apparatus for electro-optic probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30889597A JP3437751B2 (ja) | 1997-11-11 | 1997-11-11 | 終端装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11142458A true JPH11142458A (ja) | 1999-05-28 |
| JP3437751B2 JP3437751B2 (ja) | 2003-08-18 |
Family
ID=17986567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30889597A Expired - Fee Related JP3437751B2 (ja) | 1997-11-11 | 1997-11-11 | 終端装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0921400A3 (ja) |
| JP (1) | JP3437751B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2042821C3 (de) * | 1970-08-28 | 1979-06-28 | Spinner-Gmbh Elektrotechnische Fabrik, 8000 Muenchen | Koaxialleitungsabschluß mittels Parallelkombination eines ohmschen Widerstandes mit einer Diode |
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| JPH06222087A (ja) * | 1993-01-27 | 1994-08-12 | Hamamatsu Photonics Kk | 電圧検出装置 |
-
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- 1997-11-11 JP JP30889597A patent/JP3437751B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-11-10 EP EP98309174A patent/EP0921400A3/en not_active Withdrawn
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|---|---|
| EP0921400A3 (en) | 1999-06-23 |
| JP3437751B2 (ja) | 2003-08-18 |
| EP0921400A2 (en) | 1999-06-09 |
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