JPH11145260A - 基板の保持装置 - Google Patents

基板の保持装置

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Publication number
JPH11145260A
JPH11145260A JP32951397A JP32951397A JPH11145260A JP H11145260 A JPH11145260 A JP H11145260A JP 32951397 A JP32951397 A JP 32951397A JP 32951397 A JP32951397 A JP 32951397A JP H11145260 A JPH11145260 A JP H11145260A
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JP
Japan
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groove
tapered surface
substrate
wafer
entrance
Prior art date
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Application number
JP32951397A
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English (en)
Inventor
Osamu Kuroda
黒田  修
Nobuaki Takano
宣明 高野
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 将来的な基板の使用の変化に対応し,溝に基
板が挿入されても基板が倒れず,発塵しない基板の保持
装置を提供する。 【解決手段】 入口部35と中間部36と先端部37か
ら構成される溝46において,入口部35の幅をウェハ
Wの厚さtよりも十分に広くすると共に,入口部35近
傍と先端部37近傍とを先端部37に行くほど幅が狭く
なるテーパ面に形成する。先端部37近傍のテーパ面を
略V形状とすることで,挿入されたウェハWの周縁部は
先端部37近傍の内壁の間で横方向からもしっかりと保
持される。入口部35と中間部36との境界付近の溝幅
kはウェハWの厚さtよりも広く,ウェハWの2倍の厚
さ2tよりも狭く形成するため溝46に複数枚のウェハ
Wが挿入されない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,例えば半導体ウェ
ハやLCD用ガラス等の基板を保持する基板の保持装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば,半導体デバイスの製造工程にお
いては,半導体ウェハ(以下,「ウェハ」という)を処
理槽において洗浄液に浸漬させて洗浄を行い,ウェハに
付着したパーティクル,有機汚染物,金属不純物等のコ
ンタミネーションを除去する洗浄システムが使用されて
いる。
【0003】かかる洗浄システムにおいては,例えば2
5枚のウェハをキャリア単位でロードするロード機構
と,このロード機構によってロードされたウェハを所定
枚数,例えば50枚ずつ搬送するウェハ搬送装置と,こ
のウェハ搬送装置によって搬送されたウェハを一括して
洗浄するように配列された複数の処理槽と,各処理槽に
よって洗浄されたウェハをアンロードするアンロード機
構とを備えて構成されている。
【0004】この洗浄システムのロード機構は,通常突
き上げ装置がキャリアの底部から進入し,キャリア内に
収納されている未洗浄ウェハを突き上げて保持する。こ
の突き上げ装置の上部には,例えば25枚のウェハを一
括して保持するためのハンドが形成されている。
【0005】そして上記突き上げ装置のハンド上に保持
されたウェハを,各処理槽へ搬送するために,洗浄シス
テムのウェハ搬送装置に備えられたウェハチャックと呼
ばれる把持装置により一括して把持される。このウェハ
チャックは通常,略水平方向に対向する一対の把持部材
が相互に接近することによって,例えばキャリア2個分
の50枚のウェハを一括して把持するように構成されて
いる。またウェハが上記ウェハチャックにより,この洗
浄システムの処理槽に搬送されると,ここで洗浄処理が
行われるが,この処理槽内にはウェハを保持するための
ボートと呼ばれる保持具が設けられている。この保持具
は,前記ウェハチャックによって把持された状態のウェ
ハを一括して受け取り,保持するように構成されてい
る。
【0006】従来からウェハチャックとボート間でのウ
ェハの授受は,ウェハチャックが処理槽内に下降し,処
理槽中でウェハチャックが開脚又は閉脚することでボー
ト上にウェハを受け渡していた。
【0007】ところで,上記突き出し部材のハンドとウ
ェハチャックの把持部材,そして各処理槽のボートに
は,各々ウェハを保持するための所定数の保持溝が形成
されており,これら各保持溝内でウェハの周縁部が垂直
に受容され,ウェハは所定の保持位置にて保持されるよ
うに構成されている。従来からの保持溝は,図21
(a)に示すような,例えば2段テーパ型保持溝10
0,もしくは図21(b)に示すようなY字型保持溝1
01の形状を有していた。2段テーパ型保持溝100と
Y字型保持溝101は図21(a),(b)に示すよう
に,いずれも上から下に向けて,入口部102,10
3,中間部106,107,そして先端部110,11
1から夫々構成されており,各入口部102,103を
広く採ることでウェハWのスムーズな挿入を可能とする
と共に,各先端部110,111は上記各入口部10
2,103の幅よりも狭く採ることで各保持溝100,
101中にウェハWを保持するようにしていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら,このよ
うな2段テーパ型保持溝100とY字型保持溝101に
おける各先端部110,111は,従来から平坦に形成
されており,この平坦部分の幅Lは,ウェハWが各先端
部110,111まで挿入されるようにウェハWの厚さ
よりも広くなるように設計されている。そのため,2段
テーパ型保持溝100あるいはY字型保持溝101にウ
ェハWが挿入された場合には,各先端部110,111
近傍でウェハWの先端がしっかりと支えられず,これら
の保持溝に挿入されたウェハW自身の重みでウェハWが
傾倒し,隣接するウェハW同士が互いに接触するおそれ
が生じる。またウェハWの厚さと同程度に平坦部分の幅
Lを狭くすると,これらの保持溝100,101の内壁
にウェハWの先端が引っかかってしまい,各先端部11
0,111の奥まで挿入されなくなる。また,将来的に
ウェハWの仕様が変化することに備えて,幅Lの異なる
保持溝を何種類も形成しなくてはならなくなる。
【0009】さらにまた,2段テーパ型保持溝100で
は入口部102近傍のテーパ面の傾斜角度の方が各先端
部110近傍のテーパ面の傾斜角度よりも緩くなってお
り,これらの傾斜角度が異なる境界部分は,通常角部と
なっていた。そのため,ウェハWが2段テーパ型保持溝
100に挿入される場合には,この角部にウェハWの先
端部がぶつかり,上記角部が削れて発塵するおそれが生
じる。
【0010】本発明は上記の問題点に鑑み,例えばウェ
ハのような基板が挿入されても倒れることがなく,また
基板と保持溝間で生じる発塵を抑えることが可能であ
り,更に将来的な基板の厚さの変化にも対応可能な基板
の保持装置を提供することを目的としている。
【0011】
【発明を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
よれば,この基板の保持装置は,並列に並んだ複数枚の
基板の周縁をそれぞれ溝に入れた状態で保持する保持装
置において,少なくとも前記溝の先端部近傍を先端部に
行くほど次第に間隔が狭くなる略V形状のテーパ面に構
成し,前記溝の先端部の幅を基板の厚さよりも狭くした
ことを特徴としている。かかる構成によれば,基板の周
縁部は略V形状のテーパ面に形成された溝の先端部近傍
の内壁の間でしっかりと保持されるようになる。従っ
て,挿入された基板は自身の重みによって傾倒すること
がない。なお,溝の先端部近傍は基板の周縁部を内壁の
間でしっかりと固定する形状に形成されていればよく,
例えば溝の先端部は曲面に形成されていてもよい。
【0012】請求項2に記載の発明によれば,請求項1
に記載の基板の保持装置は前記溝の入口部の幅を基板の
厚さよりも十分に広く形成し,溝の入口部近傍を溝の内
部に行くに従って次第に狭くなるテーパ面に形成したこ
とを特徴としている。かかる構成によれば,溝の入口部
の幅を基板の厚さよりも十分に広く形成するため溝への
基板の挿入がスムーズに行えると共に,溝の入口部近傍
を溝の内部に行くに従って次第に狭くなるテーパ面に形
成することにより,挿入された基板が溝の内部へと誘導
されるようになる。
【0013】そして請求項3に記載の発明のように,請
求項2に記載の基板の保持装置では,前記溝の入口部の
幅を基板の厚さの2倍以上にするとよい。
【0014】さらに請求項4に記載の発明のように,請
求項1,2又は3のいずれかに記載の基板の保持装置
は,前記溝の入口部近傍に形成したテーパ面と前記溝の
先端部近傍に形成したテーパ面との間を平行面に形成し
てもよい。
【0015】また請求項5に記載の発明のように,請求
項4に記載の基板の保持装置は,前記平行面と入口部近
傍のテーパ面との接続部における溝の幅kが,基板の厚
さtよりも大きく,基板の2倍の厚さ2tよりも小さい
ようにするとよい。
【0016】係る構成によれば,溝の平行面と入口部近
傍とのテーパ面の接続部に万一複数枚の基板が挿入され
ても,少なくとも1枚の基板はこの接続部から先には進
入しなくなる。
【0017】また請求項6に記載の発明のように,請求
項4又は5のいずれかに記載の基板の保持装置は,前記
平行面と入口部近傍のテーパ面との間を曲面にすること
により,平行面と入口部近傍のテーパ面との間に角部が
存在しないように構成するとよい。
【0018】そして請求項7に記載の発明のように,請
求項1,2又は3のいずれかに記載の基板の保持装置
は,前記溝の入口部近傍に形成したテーパ面と前記溝の
先端部近傍に形成したテーパ面との間を前記溝の内部に
行くに従って次第に狭くなる中間テーパ面に形成し,か
つ,この中間テーパ面の傾斜角度よりも入口部近傍のテ
ーパ面の傾斜角度が緩くなるように構成してもよい。
【0019】この時請求項8に記載の発明のように,請
求項7に記載の基板の保持装置は,前記中間テーパ面と
入口部近傍のテーパ面との接続部における溝の幅kが,
基板の厚さtよりも大きく,基板の2倍の厚さ2tより
も小さくするとよい。
【0020】さらに請求項9に記載の発明のように,請
求項7又は8のいずれかに記載の基板の保持装置は,前
記中間テーパ面と入口部近傍のテーパ面との間を曲面に
することにより,中間テーパ面と入口部近傍のテーパ面
との間に角部が存在しない構成とするとよい。
【0021】係る構成によれば,中間テーパ面と入口部
近傍のテーパ面との間が曲面に形成されているために,
ここに基板がぶつかっても,基板は先端部まで滑らかに
挿入される。また中間テーパ面と入口部近傍のテーパ面
との間には角部が存在しないために,ここに基板がぶつ
かっても削れることがない。従って,パーティクルの発
生を防止することが可能となる。
【0022】また,請求項10に記載の発明によれば,
この基板の保持装置は,並列に並んだ複数枚の基板の周
縁をそれぞれ溝に入れた状態で保持する保持装置におい
て,前記溝の入口部の幅を基板の厚さよりも十分に広く
形成し,前記溝の入口部近傍を溝の内部に行くほど次第
に狭くなるテーパ面に形成すると共に,前記溝の先端部
近傍を先端部に行くほど次第に狭くなるテーパ面に形成
し,かつ,入口部近傍のテーパ面の傾斜角度が先端部近
傍のテーパ面の傾斜角度よりも緩くなるように構成し,
更に,入口部近傍のテーパ面と先端部近傍のテーパ面の
間を曲面にすることにより,入口部近傍のテーパ面と先
端部近傍のテーパ面の間に角部が存在しない構成とした
ことを特徴としている。
【0023】係る構成によれば,入口部近傍のテーパ面
と先端部近傍のテーパ面との間に角部が存在しない曲面
に形成されているために,溝の内面に基板の先端部が衝
突せず,溝の内面が削れることがない。そのため,発塵
を防止することが可能となる。
【0024】また,請求項11に記載の発明のように,
請求項1,2,3,4,5,6,7,8,9又は10の
いずれかに記載の基板の保持装置は基板の周縁に沿って
円弧状に保持するようにしてもよい。
【0025】また,請求項12に記載の発明のように,
請求項1,2,3,4,5,6,7,8,9又は10の
いずれかに記載の基板の保持装置は,基板の周縁を複数
箇所において保持するようにしてもよい。
【0026】本発明によれば,基板の保持装置の保持溝
の先端部近傍を先端部に行くに従って,次第に間隔が狭
くなる略V形状に形成したため,基板の周縁部が保持溝
の先端部の内壁によって横方向からもしっかりと保持さ
れるようになる。そのため,基板は自身の重みによって
傾倒することなく,保持溝に対して直立して保持される
ようになる。更に,保持溝の入口部近傍のテーパ面と先
端部近傍のテーパ面との間を曲面としたため,保持溝の
内面が削れたり,基板表面が傷つくおそれがない。従っ
て,発塵による基板表面の汚染を防ぎ,歩留まりの低下
を防止することが可能となる。
【0027】
【発明の実施の形態】以下,本発明の好ましい実施の形
態を添付図面に基づいて説明すると,本実施の形態は,
50枚の半導体ウェハ(以下,「ウェハ」という)を一
括して洗浄する洗浄システム内に構成された,突き上げ
装置の支持ハンドや各処理槽のウェハ保持具の基板の保
持装置に用いられた例である。
【0028】先ず,この実施の形態にかかる基板の保持
装置を有する洗浄システム1全体について説明すると,
この洗浄システム1は図1に示したように,洗浄処理前
のウェハWをキャリアC単位で投入するための搬入部2
と,複数枚数のウェハW,即ち,この実施の形態におい
ては50枚のウェハWを一括して各種の洗浄処理が行わ
れる洗浄処理部3と,洗浄処理後のウェハWをキャリア
C単位で取り出すための搬出部4の,計3つのゾーンに
よって構成されている。
【0029】洗浄システム1の搬入部2には,図1およ
び図2に示すように,これから洗浄処理を行うための,
この実施の形態においては25枚のウェハWを収納した
キャリアCを搬入,載置させるキャリア置台5が備えら
れている。このキャリア置台5上面のステージ12に
は,L字型の係止部材13が複数設けられており,洗浄
システム1外部から,例えば搬送ロボット(図示せず)
によって搬送されてきたキャリアCはこの係止部材13
によって位置決めがなされる。またキャリア置台5には
載置されたキャリアCを隣接する整列部6へと移送する
ための移送装置7が備えられている。この移送装置7
は,離隔接近自在に構成された一対のアーム20,21
と,これらのアーム20,21を水平に支持するリフタ
22が上下方向(Z方向)に移動するためのZベース2
3と,このZベース23自体が洗浄システム1の長手方
向(X方向)に移動するためのXベース24とによって
構成されており,前述のキャリア置台5において,係止
部材13によって位置決めされてステージ12上に載置
された2個のキャリアCをアーム20,21で同時に挟
持し,整列部6の所定の位置まで移送させるように構成
されている。
【0030】そして整列部6には上記のキャリアCを載
置させるテーブル40と,このキャリアCの底部から進
入して,キャリアC内部に収納されているウェハWを突
き上げる一対の突き上げ装置42,42が備えられてい
る。テーブル40は昇降自在に構成されている。突き上
げ装置42の上部には,本発明の実施の形態にかかる基
板の保持装置の1つである支持ハンド44,44がそれ
ぞれ備えられており,支持ハンド44,44の上面には
後述する溝46が形成されている。
【0031】各支持ハンド44はキャリアC底部に設け
られた開口部から進入可能な大きさに形成されており,
上記適宜の昇降機構(図示せず)を稼働させてテーブル
40を支持ハンド44,44に対して相対的に下降させ
ると,キャリアC内の25枚のウェハWを一括保持する
ことが可能となるように構成されている。即ち図3に示
すように,各支持ハンド44の上面には円弧状に穿設さ
れた25本の溝46が等間隔に形成されており,各ウェ
ハWの周縁部が各溝46に挿入されて保持される。従っ
て,各支持ハンド44上には最大25枚のウェハWの周
縁部が円弧状に一括保持されるように構成されている。
【0032】溝46は,図4に示すように入口部35と
中間部36および先端部37から構成されている。そし
て入口部35の溝幅は例えばウェハWの厚さtの2倍よ
りも広く形成されており,溝46内へのウェハWの挿入
がスムーズに行えるように構成されている。そして入口
部35近傍は入口部35から先端部37に行くに従い次
第に幅が狭くなるテーパ面の形状に形成されており,中
間部36も先端部37に行くほど次第に幅が狭くなる中
間テーパ面の形状に形成されている。そして,入口部3
5近傍のテーパ面の傾斜角度は中間テーパ面の傾斜角度
よりも緩くなるように形成されている。
【0033】さらに,中間部36における中間テーパ面
と入口部35近傍のテーパ面との接続部における溝幅k
は,ウェハWの厚さtよりも広く,かつ,ウェハWの2
倍の厚さ2tよりも狭くなるように形成されている。
【0034】さらに溝46の先端部37近傍も,先端部
37に行くに従って溝幅が次第に狭くなる略V形状のテ
ーパ面となっている。溝46にウェハWが挿入された場
合には,この溝46の先端部37近傍が略V形状となっ
ているため,ウェハWの周縁部が先端部37近傍の内壁
の間で両側から挟まれてしっかりと支持されるように構
成されている。
【0035】洗浄システム1の洗浄処理部3には,その
前面側(図1における手前側)に3つの搬送装置25,
26,27が配置されており,これら各搬送装置25,
26,27には夫々対応するウェハチャック28,2
9,30が設けられている。なお,これらのウェハチャ
ック28,29,30は,いずれも同様な構成を有して
いるため,以下ウェハチャック28を代表させてこれの
構成を説明する。
【0036】ウェハチャック28は図5に示すように,
例えば50枚のウェハWを一括して把持する左右一対の
把持部材50a,50bによって構成されており,この
ウェハチャック28を上下方向(Z方向)に昇降させる
と共に,前後方向(Y方向)にも移動させるY軸駆動機
構51と,このY軸駆動機構51を備えた駆動機構52
を洗浄処理部3の長手方向(X方向)に沿って移動させ
るための搬送ベース53(図1参照)とを有している。
またウェハチャック28を昇降させる際に,駆動機構5
2から突出,収納する摺動体は,ベローズシール54に
よって覆われており,洗浄処理部3内で発生したパーテ
ィクルがこの摺動体に直接付着しないように構成されて
いる。
【0037】そしてウェハチャック28における各把持
部材50a,50bは図6,7に示したように,夫々図
5における往復回動矢印M,Nで示されるように回動自
在に構成され,さらにその両側から下方に設けられた支
持体55,56間の上下に,各々把持棒57,58が水
平方向に渡されて固定されている。
【0038】さらに上側の把持棒57には把持溝PがP
1〜P50まで,下側の把持棒58にも把持溝QがQ1
〜Q50まで各々同一の一定間隔で合計50本ずつ設け
られている。そしてウェハチャック28の把持部材50
a,50bが相互に接近する方向に回動することによっ
て,50枚のウェハWの周縁部が各把持棒57,58の
各把持溝P1〜P50,Q1〜Q50内に挿入された状
態で,ウェハチャック28に把持されるように構成され
ている。
【0039】また洗浄処理部3には上記ウェハチャック
28,29,30によって搬送されるウェハWを処理す
る複数の処理槽,例えばウェハWの表面を薬液によって
洗浄処理する薬液洗浄処理槽15や,この薬液洗浄処理
槽15で洗浄されたウェハWを純水等で洗い流す2つの
水洗洗浄処理槽16,17等が配置されている。なお,
これらの処理槽は必要に応じて任意の組合わせで配置さ
れる。これらの各洗浄処理槽の底部には,本発明の実施
の形態にかかる他の基板の保持装置の1つであるウェハ
保持具が備えられている。ここで,各処理槽に設けられ
たウェハ保持具はいずれも同様な構成を備えているた
め,薬液洗浄処理槽15に設けられたウェハ保持具につ
いて説明する。
【0040】このウェハ保持具60には図6及び図7に
示したように,ボートとも呼ばれる3本の保持棒61,
62,63が薬液洗浄処理槽15の底部近傍に長手方向
(図5に示すY方向)に沿って,適宜のブラケットを介
して設置,固定されている。
【0041】また保持棒61には保持溝70が,中央に
位置する保持棒62には保持溝71が,保持棒63には
保持溝72が,それぞれウェハチャック28の把持溝
P,Qと同一の間隔で,合計50本ずつ設けられてい
る。これらの保持溝70,71,72は互いに略同一の
形状を有し,隣接する保持溝同士の間隔(以下,「溝ピ
ッチ」と称する。)が全て等間隔となるように形成され
ている。さらに各保持溝70,71,72の溝ピッチ
は,ウェハチャック28に設けられた把持溝P,Qの溝
ピッチとも等間隔となるように構成されている。なお,
保持溝70,71,72はいずれも同様な構成を備えて
いるため,保持溝70について説明する。
【0042】保持溝70は図8に示すように,支持ハン
ド44に備えられた溝46と同様に入口部75,中間部
76,先端部77から構成されている。そして,溝70
の入口部75近傍と先端部77近傍は先端部77に行く
ほど次第に狭くなるテーパ面に形成されている。
【0043】このうち入口部75近傍のテーパ面は,そ
の傾斜角度が先端部77近傍のテーパ面の傾斜角度より
緩やかになるように形成されている。さらに入口部75
近傍のテーパ面と先端部77近傍のテーパ面との間に形
成される中間部76は,角部のない滑らかな曲面に加工
形成されている。
【0044】さらに洗浄システム1の搬出部4には,前
記搬入部2のキャリア置台5とほぼ同様な構成を有する
キャリア置台8とアンローダ機構,そして移送装置(図
示せず)が設けられている。そして前記搬送装置25,
26,27のウェハチャック28,29,30によっ
て,キャリアC2つ分の複数枚のウェハW,即ち,この
実施の形態においては50枚のウェハWを,搬入部2の
整列部6から洗浄処理部3の各処理槽を経て,搬出部4
の整列部9まで一括して順次搬送していくように構成さ
れている。
【0045】本発明の実施の形態にかかる基板の保持装
置を有する洗浄システム1は以上のように構成されてい
る。次にこの洗浄システム1内に配置された本発明の実
施の形態にかかる基板の保持装置の作用,効果について
説明する。
【0046】先ず25枚の未洗浄ウェハWを収納したキ
ャリアCが,例えば搬送ロボット(図示せず)により搬
入部2のキャリア置台5上に2つ載置されると,これら
2つのキャリアCはステージ12上の係止部材13によ
って位置決めされた後に移送装置7によって整列部6へ
とキャリアCごと移送される。
【0047】整列部6に2つのキャリアCが移送される
と,適宜の昇降機構(図示せず)が稼働して図9の実線
で示した位置からテーブル40が下降する。2つのキャ
リアCはテーブル40と共に図9の1点鎖線の位置まで
下降して,全部で50枚のウェハWが2つの支持ハンド
44,44上に一括してそれぞれ保持される。
【0048】各支持ハンド44にウェハWが保持される
様子を図10の支持ハンド44上面の3点a,b,cを
例に挙げて説明する。なお,点aおよび点cは支持ハン
ド44上面の両端部分に,点bは支持ハンド44の中央
部分にそれぞれ位置している。
【0049】先ず支持ハンド44の側面を図10の前方
側(即ち,点aの側)から見ると,溝46に挿入された
ウェハWは図11に示すように,ウェハWの周縁部が溝
46の略V形状に形成された先端部37の内壁に両側か
ら挟まれて保持される。またこの支持ハンド44の側面
を図10の後方側(即ち,点cの側)から見ても,図1
2に示すように,ウェハWの周縁部が図11の場合と同
様に溝46の先端部37の内壁に両側から挟まれてしっ
かりと保持される。更に点bにおいても,図10の支持
ハンド44のXーY断面矢視図である図13に示すよう
に,ウェハWの下端周縁部が溝46の先端部37の内壁
に両側からしっかりと挟まれて保持される。
【0050】ここで,点a,b,cの3箇所を例に挙げ
て説明したが,実際には支持ハンド44上面の点a〜点
cの間において,溝46に挿入されたウェハWの下方周
縁部全体が,溝46の先端部37の内壁によって両側か
らしっかりと挟まれて保持されるようになる。このため
溝46に挿入されたウェハWはきちんと直立した状態で
保持されると共にウェハW自身の重みによって傾倒する
ことがなくなる。従って,支持ハンド44の溝46すべ
てに25枚のウェハWが挿入された際には,各ウェハW
はいずれも垂直に立った姿勢となり,隣接するウェハW
同士がぶつかる心配がない。
【0051】また溝46の入口部35近傍のテーパ面と
中間テーパ面との接続部における溝幅kは,1枚のウェ
ハWの幅tよりも広く,2枚のウェハWの幅2tよりも
狭く構成されている。従って,溝46に2枚以上のウェ
ハWが万一挿入されたとしても,これらのウェハWのう
ち,少なくとも1枚のウェハWは中間部36より先には
進入しない。従って,これをジャンプスロットとして検
出することが可能である。
【0052】次いで,支持ハンド44上に一括保持され
た50枚の未洗浄ウェハWはウェハチャック28によっ
て把持される。この時合計50枚のウェハWは,ウェハ
チャック28の把持棒57に設けられた把持溝P1〜P
50と把持棒58に設けられた把持溝Q1〜Q50とに
よって,周縁部が挿入された状態で搬送される。
【0053】次いで,ウェハチャック28が洗浄処理部
3の例えば薬液洗浄処理槽15上方まで移動する。薬液
洗浄処理槽15の上方に移動したウェハチャック28は
駆動機構52の稼働によって,図14に示す実線の位置
から1点鎖線の位置まで下降する。次いで,この1点鎖
線の位置まで下降したウェハチャック28は図15の実
線で示すように開脚して,それまで把持していた50枚
のウェハWをウェハ保持具60に受け渡す。
【0054】ウェハチャック28からウェハ保持具60
に50枚のウェハWが受け渡されると,ウェハ保持具6
0の保持棒61,62,63に夫々設けられた保持溝7
0,71,72に50枚のウェハWの周縁が挿入されて
保持される。ウェハ保持具60の保持棒61,62,6
3にそれぞれ設けられた保持溝70,71,72は,入
口部75近傍のテーパ面と先端部77近傍のテーパ面と
の間が角部のない滑らかな曲面に形成されているためウ
ェハWが挿入されやすく,また挿入されたウェハWの先
端部が保持溝70,71,72の内面にぶつかってもこ
のウェハWは先端部77まで滑らかに誘導される。従っ
て,溝70,71,72の内面が削れて発塵することが
なく,ウェハWの表面はこの発塵によって汚染されるこ
とがない。
【0055】その後,このウェハチャック28を図15
の1点鎖線で示す位置まで開脚したままの状態で上昇さ
せ薬液洗浄処理槽15外部に退避させる。そしてウェハ
保持具60の保持棒61,62,63によって保持され
た50枚のウェハWは,薬液洗浄処理槽15の内部に所
定時間浸漬されると共に,薬液洗浄処理が施される。
【0056】こうして50枚のウェハWの薬液洗浄処理
が終了した後は,ウェハチャック28を開脚させた状態
で薬液洗浄処理槽15内に降下させると共に,図15の
実線で示した位置にて停止させ,今度はウェハ保持具6
0に保持されている50枚のウェハWの周縁部を同時に
一括して,把持部材50a,50bの把持棒57,58
に設けられた各把持溝P,Qに納める。
【0057】その後,ウェハチャック28を閉脚させて
50枚のウェハWを一括把持させると共に,ウェハチャ
ック28を上昇させる。こうして,ウェハチャック2
8,29,30を併用しながら洗浄処理部3に備えられ
た他の各処理槽へ50枚のウェハWが順次搬送されて行
き各洗浄処理が施こされた後,搬出部4のキャリア置台
8から洗浄システム1外部に搬出される。
【0058】以上,本発明の実施の形態に係る基板の保
持装置として支持ハンド44,44とウェハ保持具60
について例を挙げて説明してきたが,本発明はこのよう
な例に限定されず種々の態様を採りうるものである。例
えば,支持ハンド44に設けられた溝46において,入
口部35近傍のテーパ面と先端部37近傍のテーパ面と
の間を曲面に形成すれば,ここにウェハWの先端部が衝
突することがなくなる。従って,溝46が削れるおそれ
が一層なくなる。また図16に示すように,溝46は中
間テーパ面と入口部35近傍のテーパ面との間に角部が
存在しないように構成してもよい。
【0059】また,溝46の形状を図17に示すよう
に,入口部35近傍に形成したテーパ面と先端部37近
傍に形成したテーパ面との間の中間部36を平行面に形
成してもよい。この時には,平行面と入口部35近傍の
テーパ面との接続部の溝幅kを基板の厚さtより広くす
ると共に,基板の2倍の厚さ2tよりも狭くすればウェ
ハWのジャンプスロットを検出することも可能である。
さらにこの溝46を図18に示すように,中間部36の
平行面と入口部35近傍のテーパ面との間に角部が存在
しないように形成してもよい。
【0060】さらに支持ハンド44の溝46ではウェハ
Wを円弧状に保持する例を説明したが,図19に示すよ
うな支持ハンド80を使用して,ウェハWの周縁を例え
ば3点で保持するようにしてもよい。また図20に示す
ように溝46の形状を全体的に略V形状にした溝81も
考えられる。
【0061】また上記の実施の形態では,ウェハ保持具
60の各保持溝70,71,72が中間部76に曲面を
有する2段テーパ型の保持溝とした例を挙げて説明した
が,本発明は係る例には限定されず,各保持溝70,7
1,72は中間部76を平行に形成したY字型の保持溝
としてもよい。
【0062】そして,ウェハ保持具60の各保持棒6
1,62,63に夫々設けられた保持溝70,71,7
2の先端部77を略V形状に形成し,各保持溝70,7
1,72の入口部75と中間部76との境界部分の溝幅
を,ウェハWの厚さよりも広くすると共に,ウェハWの
厚さの2倍よりも狭くするように形成してもよい。
【0063】係る構成によれば,ウェハ保持具60にお
いてもウェハWの周縁部が先端部77近傍の内壁の間で
両側からしっかりと挟まれて直立して支持されるように
なる。そして,1つの保持溝に対して2枚以上のウェハ
Wが挿入されることがないため,スループットの低下を
防止することが可能となる。
【0064】
【発明の効果】本発明によれば,基板保持装置の溝の先
端部近傍を先端部に行くにしたがって次第に間隔が狭く
なる略V字型形状に構成したために,基板の周縁部が溝
の先端部を形成する内壁の間でしっかりと保持されるよ
うになる。従って,基板は自身の重みにより溝中で傾倒
することがなく直立して保持される。また,溝の入口部
近傍のテーパ面と先端部近傍のテーパ面との間を曲面に
したことで,ここに基板の先端部が衝突せず,溝の内面
が削れて発塵することがない。従って基板表面が汚染さ
れないため,歩留まりの低下を防止することが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかる基板の保持装置を
有する洗浄システムの斜視図である。
【図2】本発明の実施の形態にかかる基板の保持装置で
ある支持ハンドを有する突き上げ装置を説明するための
斜視図である。
【図3】図2の突き上げ装置の支持ハンドの斜視図であ
る。
【図4】図3の支持ハンドに備えられた溝の断面図であ
る。
【図5】ウェハチャックの構成を説明する斜視図であ
る。
【図6】図5のウェハチャックを構成する把持部材とウ
ェハ保持具とを説明する説明図である。
【図7】図6のウェハチャックとウェハ保持具との配置
を説明する説明図である。
【図8】図6のウェハ保持具に設けられた保持溝の断面
図である。
【図9】図3の支持ハンドがキャリアからウェハを抜き
取る様子を示す動作説明図である。
【図10】図3の支持ハンドの溝にウェハが挿入された
状態を説明する斜視図である。
【図11】図10の支持ハンドを前方側から見た様子を
示す拡大図である。
【図12】図10の支持ハンドを後方側から見た様子を
示す拡大図である。
【図13】図10における支持ハンドのX−Y断面矢視
拡大図である。
【図14】図6のウェハチャックとウェハ保持具とのウ
ェハの受け渡しを説明する第1の動作説明図である。
【図15】図6のウェハチャックとウェハ保持具とのウ
ェハの受け渡しを説明する第2の動作説明図である。
【図16】図4の溝の第1の変更例の説明図である。
【図17】図4の溝の第2の変更例の説明図である。
【図18】図4の溝の第3の変更例の説明図である。
【図19】図3の支持ハンドの変更例としての支持ハン
ドが基板を保持した様子を示す説明図である。
【図20】図4の溝の第4の変更例の説明図である。
【図21】従来からの2段テーパ型保持溝とY字型保持
溝の構成を説明する説明図である。
【符号の説明】
1 洗浄システム 6 整列部 28 ウェハチャック 35 入口部 36 中間部 37 先端部 42 突き上げ装置 44 支持ハンド 46 溝 60 ウェハ保持具 70 保持溝 C キャリア W ウェハ

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 並列に並んだ複数枚の基板の周縁をそれ
    ぞれ溝に入れた状態で保持する保持装置において,少な
    くとも前記溝の先端部近傍を先端部に行くほど次第に間
    隔が狭くなる略V形状のテーパ面に構成し,前記溝の先
    端部の幅を基板の厚さよりも狭くしたことを特徴とする
    基板の保持装置。
  2. 【請求項2】 前記溝の入口部の幅を基板の厚さよりも
    十分に広く形成し,溝の入口部近傍を溝の内部に行くに
    従って次第に狭くなるテーパ面に形成したことを特徴と
    する請求項1に記載の基板の保持装置。
  3. 【請求項3】 前記溝の入口部の幅を基板の厚さの2倍
    以上にしたことを特徴とする請求項2に記載の基板の保
    持装置。
  4. 【請求項4】 前記溝の入口部近傍に形成したテーパ面
    と前記溝の先端部近傍に形成したテーパ面との間を平行
    面に形成した請求項1,2又は3のいずれかに記載の基
    板の保持装置。
  5. 【請求項5】 前記平行面と入口部近傍のテーパ面との
    接続部における溝の幅kが,基板の厚さtよりも大き
    く,基板の2倍の厚さ2tよりも小さいことを特徴とす
    る請求項4に記載の基板の保持装置。
  6. 【請求項6】 前記平行面と入口部近傍のテーパ面との
    間を曲面にすることにより,平行面と入口部近傍のテー
    パ面との間に角部が存在しない構成としたことを特徴と
    する請求項4又は5のいずれかに記載の基板の保持装
    置。
  7. 【請求項7】 前記溝の入口部近傍に形成したテーパ面
    と前記溝の先端部近傍に形成したテーパ面との間を前記
    溝の内部に行くに従って次第に狭くなる中間テーパ面に
    形成し,かつ,この中間テーパ面の傾斜角度よりも入口
    部近傍のテーパ面の傾斜角度が緩くなるように構成した
    ことを特徴とする請求項1,2又は3のいずれかに記載
    の基板の保持装置。
  8. 【請求項8】 前記中間テーパ面と入口部近傍のテーパ
    面との接続部における溝の幅kが,基板の厚さtよりも
    大きく,基板の2倍の厚さ2tよりも小さいことを特徴
    とする請求項7に記載の基板の保持装置。
  9. 【請求項9】 前記中間テーパ面と入口部近傍のテーパ
    面との間を曲面にすることにより,中間テーパ面と入口
    部近傍のテーパ面との間に角部が存在しない構成とした
    ことを特徴とする請求項7又は8のいずれかに記載の基
    板の保持装置。
  10. 【請求項10】 並列に並んだ複数枚の基板の周縁をそ
    れぞれ溝に入れた状態で保持する保持装置において,前
    記溝の入口部の幅を基板の厚さよりも十分に広く形成
    し,前記溝の入口部近傍を溝の内部に行くほど次第に狭
    くなるテーパ面に形成すると共に,前記溝の先端部近傍
    を先端部に行くほど次第に狭くなるテーパ面に形成し,
    かつ,入口部近傍のテーパ面の傾斜角度が先端部近傍の
    テーパ面の傾斜角度よりも緩くなるように構成し,更
    に,入口部近傍のテーパ面と先端部近傍のテーパ面の間
    を曲面にすることにより,入口部近傍のテーパ面と先端
    部近傍のテーパ面の間に角部が存在しない構成としたこ
    とを特徴とする基板の保持装置。
  11. 【請求項11】 基板の周縁に沿って円弧状に保持する
    ことを特徴とする請求項1,2,3,4,5,6,7,
    8,9又は10のいずれかに記載の基板の保持装置。
  12. 【請求項12】 基板の周縁を複数箇所において保持す
    ることを特徴とする請求項1,2,3,4,5,6,
    7,8,9又は10のいずれかに記載の基板の保持装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110634779A (zh) * 2019-09-19 2019-12-31 上海提牛机电设备有限公司 一种晶圆抓片机构
JP2024533650A (ja) * 2021-09-22 2024-09-12 インテグリス・インコーポレーテッド プロセスキャリア

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