JPH1114864A - 光部品の調心時のコア位置認定方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光部品２側の代表とする光通路９ａに対する
光部品１側の対応する光通路５ａのＸ方向のコア位置を
自動的に認定する装置を提供する。 【解決手段】 光部品２の光通路９ａに光入射手段18か
ら光を入射し、光部品２側を光通路５ａを横断するＸ方
向に走査移動する。光部品１の光通路５ａからは出射光
の画像パターンを全走査区間にわたりＣＣＤカメラ21で
取り込む。データ加工部23は画像パターンの面積と高さ
幅の一方又は両方の値を画像パターン加工データとして
求める。２次関数近似部24は走査区間を細分割した連続
５点の分割点の画像パターン加工データ値を近似的に通
る２次関数を、１個ずつ分割点をずらした５点単位毎に
全走査区間にわたり求める。コア位置認定部25は各２次
関数の２次係数がピークとなる走査区間の位置を走査方
向の光通路５ａのコア位置として認定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、１個以上の光通路
を有する光部品同士の調心を行う際に、一方側の光部品
を代表する光通路に対して、他方側の光部品の対応する
光通路のコア位置を自動的に認定する光部品の調心時の
コア位置認定方法およびその装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図６には従来の一般的な光部品１，２同
士の接続手法が示されている。光部品１は光分波素子、
光合波素子、光フィルタ素子等の内部に光通路（光導波
路）が形成されたチップ素子であり、その光部品１の長
さ方向の両端側は接続端面４となっており、各接続端面
４に光通路の複数の端末５が露出されている。

【０００３】前記光通路は、図７に示すように、光を導
く中心部のコア３の周りを該コア３よりも屈折率の小さ
いクラッド６で囲んだ通路構成となっており、クラッド
６はコア３を通る光を封じ込める役割を担っている。

【０００４】光部品２は光コネクタであり、この光コネ
クタは、光ファイバ７の端末側にフェルール８を接続固
定して光ファイバ７の接続端をブロック化したものであ
る。

【０００５】光ファイバ７は図８に示すように、帯状の
テープ線やリボン線の形態を呈し、ほぼ等ピッチ間隔で
配列された複数の裸光ファイバ９を被覆材10で被覆した
構造となっている。

【０００６】フェルール８は合成樹脂等によって形成さ
れており、このフェルール８には前記光通路端末５と同
ピッチ間隔の光ファイバ挿通孔が形成されており、この
各光ファイバ挿通孔に、光ファイバ７の接続端側の被覆
材10が除去されて露出した裸光ファイバ９が挿通され、
この裸光ファイバ９とフェルール８とが接着剤等を用い
て一体的に固定されている。フェルール８の接続端面11
は裸光ファイバ９の端面と共に研磨された面となってい
る。なお、裸光ファイバ９の光通路も、中心部のコア13
を該コア13よりも屈折率の小さいクラッド16で周りを囲
んだ構造となっている。

【０００７】光部品１と２の接続端面４，11同士の接続
は、次のように行われている。例えば、光部品１と光部
品２のフェルール８を調心台にセットし、光部品１の接
続端面４に、フェルール８の接続端面11を向き合わせ、
その状態で、例えば光ファイバ７側から光を入射し、光
部品１の光通路を通った光をその出射端末側で受光し、
その光強度を測定する。この状態で、調心台を操作し、
光部品１に対してフェルール７を相対的にＸ，Ｙ，Ｚの
３軸方向と、光部品１の長さ方向であるＺ軸に対する回
転θ_Z の移動量を調整し、受光の強度が予め設定した所
定の値となる位置を光部品１の光通路と光部品２の調心
位置とし、この調心位置で光部品１と光部品２のフェル
ール８とを接着剤を用いて一体的に固定し、両光部品
１，２の接続を達成している。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光部品
１と光部品２のフェルール８とを調心台の上に手作業で
セットし、さらに光部品１と光部品２の光通路との調心
を手作業で行い、光部品１と光部品２とをその調心位置
で手作業により接着する作業はその作業効率が悪く、光
部品１と２の接続製品を量産するには適さない。

【０００９】そこで、出願人は、光部品同士の連続接続
装置の発明を別途特許出願の対象としている。光部品１
と光部品２を装置により自動的に調心して接続する場
合、光部品１と光部品２に複数の光通路が形成されてい
る場合には、各光部品１，２の配列ピッチ間隔等に相対
的なずれが生じている虞があり、このようなずれが生じ
ていると、複数の光通路のうち、１つの光通路同士を確
実に調心できたとしても、他の光通路の組は調心ずれが
大きくなってしまう場合があり、光部品１側の複数の光
通路と光部品２側の複数の光通路とを総合的に見て最適
位置で調心するには、互いに接続相手となる各組の光通
路の軸ずれが例えば最小二乗法の演算により最小となる
位置を調心位置として認定する等の手法が採用され、こ
のような調心手法を行う場合には、まず、前記最小二乗
法による調心処理を行う前に、光部品１の代表的な１つ
の光通路のコアと、これに対応する光部品２の光通路の
コアとの位置関係を最初に求めることが必要となる。

【００１０】しかしながら、一方側の光部品の代表とす
る光通路に対する他方側の光部品の対応する光通路のコ
ア位置を求める場合、例えば、一方側の光部品の代表と
する光通路に光を入射し、この光通路に対応する他方側
の光部品の光通路の出射パワーをパワーメータで測定
し、光部品１と２を相対的に直交２軸方向（Ｘ，Ｙ方
向）に微小移動しながら出射パワーが最大となる位置を
探し求めることも考えられるが、このような方法は、一
方側の光部品の光通路に対する他方側の光部品の光通路
のコア位置、つまり、調心を行う前の光部品１と光部品
２の調心用の基準位置を求めるのに時間が掛かりすぎ、
光部品１と光部品２の調心接続作業の効率を高めること
ができず、光部品１，２の連続接続の自動化のメリット
を生かせないという問題が生じる。

【００１１】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものであり、その目的は、光部品同士を互いに調心す
る際に、一方側の光部品の代表とする光通路に対する他
方側の光部品の対応する光通路のコア位置、つまり、調
心用の基準位置を迅速、かつ、正確に自動的に求めるこ
とが可能な光部品の調心時のコア位置認定方法およびそ
の装置を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、次のような手段を講じている。すなわち、
コア位置認定方法の第１の発明は、コアの周りがクラッ
ドで囲まれた１個以上の光通路を有する光部品同士を互
いにその光通路端面を対向させて配置し、一方側の光部
品の１個の光通路に測定光を入射し、この入射側の光部
品を他方側の出射側光部品の対応する光通路の接続端面
を横切る方向に走査して出射側光部品の光通路出射端か
ら出射する出射光の画像パターンを取り込み、この画像
パターンから走査区間を細分割した各点での画像パター
ンの面積と画像パターンの前記走査方向に直交する方向
の高さ幅との一方又は両方を画像パターン加工データと
して求め、然る後に、走査方向に連続した複数の設定個
数の各点位置の画像パターン加工データ値を近似的に通
る２次関数を走査区間の細分割点位置を順にずらした設
定個数単位で全走査区間にわたって求め、次に各２次関
数の２次係数のピークとなる走査区間の位置を出射側光
部品の前記走査方向のコア位置として認定する構成をも
って課題を解決する手段としている。

【００１３】また、コア位置認定方法の第２の発明は、
前記第１の発明の構成を備えたものにおいて、２次関数
は５個の各点位置の画像パターン加工データ値を近似的
に通る曲線を近似することによって求める構成をもって
課題を解決する手段としている。

【００１４】さらに、コア位置認定装置の発明は、コア
の周りがクラッドで囲まれた１個以上の光通路を有する
第１の光部品と第２の光部品とを調心する際に前記第１
の光部品の特定の光通路に対応する第２の光部品の光通
路のコア位置を自動認定する装置であって、第２の光部
品を載置するベースステージと、前記第２の光部品に対
し光通路端面を互いに対向させて前記第１の光部品を載
置し少なくとも光通路を横断する方向の移動が可能な移
動ステージと、前記第１の光部品の１個の光通路に測定
光を入射する光入射手段と、前記第２の光部品の出射光
の画像パターンを取り込むカメラ手段と、前記移動ステ
ージを光通路の横断方向に走査移動するスキャン制御部
と、前記第１の光部品の１個の光通路に測定光が入射さ
れた状態での第１の光部品の前記移動ステージによる走
査移動によって取り込まれた画像パターンから走査区間
を細分割した各点での画像パターンの面積と画像パター
ンの前記走査方向に直交する方向の高さ幅との一方又は
両方を画像パターン加工データとして求めるデータ加工
部と、このデータ加工部によって求められた画像パター
ン加工データを用い走査方向に連続した複数の設定個数
の各点位置の画像パターン加工データ値を近似的に通る
２次関数を走査区間の細分割点位置を順にずらした設定
個数単位で全走査区間にわたって求める２次関数近似部
と、この２次関数近似部で求められた各２次関数の２次
係数のピークとなる走査区間の位置を光が入射された第
１の光部品の光通路に対応する第２の光部品の光通路の
前記走査方向におけるコア位置として認定するコア位置
認定部とを有する構成をもって課題を解決する手段とし
ている。

【００１５】本発明では、一方側の光部品と他方側の光
部品を調心する際、一方側の光部品の代表とする１つの
光通路に測定光を入射し、接続相手の他方側の光部品の
対応する光通路の出射光の画像パターンをカメラ手段に
より取り込む。

【００１６】この状態で、入射側の光部品を相手側の対
応する光部品の光通路を横断する方向に走査（スキャン
移動）し、その走査区間の出射光の画像パターンが前記
カメラ手段により取り込み記憶される。

【００１７】そして、データ加工部により、走査区間を
例えばデジタル的に細分割した各点での画像パターンの
面積と画像パターンの前記走査方向に直交する方向の高
さ幅との一方又は両方が画像パターン加工データとして
求められる。

【００１８】そして、２次関数近似部により、前記走査
区間を細分割した設定個数、例えば連続した５点の各点
の画像パターン加工データ値を近似的に通る２次関数が
細分割点位置を例えば１個ずつ順にずらした５点単位で
前記２次関数が全走査区間にわたって求められる。そし
て、これら求められた各２次関数の２次係数が、それぞ
れコア位置認定部の演算処理により求められ、各２次関
数の２次係数のうち、ピークが最大となる走査区間の位
置が入射側の光部品の代表とする光通路に対する出射側
の光部品の対応する光通路のコア位置として認定され、
接続し合う互いの光部品の調心用の基準位置が自動的に
求まる。

【００１９】この発明では、前記走査区間の細分割の複
数点（５点）毎に求められる画像パターン加工データ値
を近似的に通る各２次関数の２次係数のピーク位置を入
射側の代表とする光通路に対する出射側光部品の対応す
る光通路のコア位置として認定する。前記画像パターン
加工データを２値化レベルの信号処理で求める場合に、
その２値化レベルを可変してデータ処理を行うと、例え
ば画像パターン加工データが画像パターンの面積のデー
タである場合、２値化レベルが25の場合は、出射側光部
品のコア位置が低いレベルとして現れるのに対し、２値
化レベルを202でデータ処理すると、その出射側光部品
のコア位置が高レベルの形態で現れるという如く、２値
化レベルが異なることによって求められるコア位置のレ
ベルが逆になるという現象が生じ、データ処理する２値
化レベルによって結果が異なるため、出射側光部品のコ
ア位置を正確に求めることができないという問題が生じ
る。この点に関し、本発明では、画像パターン加工デー
タの設定個数（５点）を通る２次関数の２次係数を求め
るようにしているので、データ処理する２値化レベルが
異なっても、求める出射側光部品のコア位置は必ず２次
係数がピークレベルの形態で現れるため、データ処理の
２値化レベルの如何に影響を受けず、一方側光部品の代
表とする光通路に対する他方側光部品の対応する光通路
のコア位置、すなわち、調心用の基準位置が正確に求め
られるものである。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態例を図面
に基づき説明する。図１には本発明に係るコア位置認定
装置の一実施形態例の要部構成が示されている。このコ
ア位置認定装置は光部品１と光部品２の調心装置に組み
込まれて構成される。この実施形態例の調心対象の光部
品は、前記図６に示すものと同様に内部に光通路（光導
波路）が形成されたチップ素子の光部品１とフェルール
８に光ファイバ７が接続された光コネクタの光部品２が
代表例として示されており、これらの光部品１，２の構
成は前記図６に示すものと同様であり、図６と同一の部
分には同一符号を使用してその重複説明は省略する。

【００２１】光部品１は固定ステージ12上に着脱自在に
固定され、光部品２のフェルール８は移動ステージ14上
にクランプ手段（図示せず）等を用いて着脱自在に固定
されている。光部品１の接続端面４と光部品２の接続端
面11は互いに対向する向きにセットされており、移動ス
テージ14は光ファイバ７の長さ方向であるＺ方向と、こ
のＺ方向に対して水平直交方向のＸ方向（フェルール８
の接続端面11における裸光ファイバ９の配列方向）と、
前記ＸおよびＺの各方向に対して直交する上下のＹ方向
の３軸Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の移動が自在となっており、ま
た、光ファイバ７の長さ方向Ｚ軸に対する回転θｚの移
動が自在となっており、これらの移動は駆動機構15によ
って行われており、この駆動機構15の各移動方向の制御
は制御装置17によって制御されている。

【００２２】光ファイバ７の自由端末側は光入射手段18
に着脱自在に接続されており、この光入射手段18には光
源が設けられ、この光源光を光ファイバ７の指定される
裸光ファイバ９に個別に入射可能となっている。

【００２３】前記光部品２の出射端側にはミラー20が設
けられており、光部品１の出射端から出射した光をミラ
ー20で反射してカメラ手段として機能するＣＣＤカメラ
21に導くように構成されている。

【００２４】前記制御装置17には本発明の特徴的なデー
タ処理回路が構成されており、この特徴的なデータ処理
回路は、スキャン制御部22と、データ加工部23と、２次
関数近似部24と、コア位置認定部25とを有して構成され
ている。

【００２５】前記スキャン制御部22は、前記駆動機構15
を介して移動ステージ14を光部品１の光通路を横断する
方向、この実施形態例ではフェルール８の裸光ファイバ
９の配列方向であるＸ方向への走査移動（スキャン移
動）を制御する回路構成を備えており、この実施形態例
ではほぼ裸光ファイバ９の直径に等しい240 μｍの走査
区間を走査移動する構成としてある。

【００２６】データ加工部23は、前記ＣＣＤカメラ21で
取り込まれる前記光部品１の出射光の画像パターンを基
礎データとして画像パターンの面積と画像パターンの前
記走査方向に直交する方向の高さ幅との一方又は両方を
画像パターン加工データとして求めるものであり、この
実施形態例では画像パターンの面積と前記高さ幅との両
方を画像パターン加工データとして求めている。

【００２７】前記ＣＣＤカメラ21で取り込まれる出射光
の画像パターンは図４に示すようなパターンとして得ら
れる。図４の（ａ）は光部品１と光部品２のコアの軸が
合った場合のパターンであり、この場合は、光部品２側
から供給される測定光は光部品１の光通路のコアを通る
ことで、画像パターンは円形を呈する形態となり、ま
た、光部品１と光部品２の互いの光通路のコアがずれて
いる場合には、光部品２側から供給される測定光は光部
品１の光通路のクラッドを通るため、その画像パターン
は図４の（ｂ）に示すように走査方向に扁平した形態の
パターンとして得られる。

【００２８】データ加工部23では、前記図４に示すよう
な画像パターンの面積と走査方向に直交する方向の高さ
幅、つまり、図４のＹ方向のパターンの高さ幅をそれぞ
れ画像パターン加工データとして求める。この実施形態
例では、これらの画像パターン加工データは、走査区間
を細分割した各点で求められ、この実施形態例ではその
走査区間をデジタル的に203 に分割している。

【００２９】図２の（ａ）と図３の（ａ）はこれら面積
の画像パターン加工データと高さ幅の画像パターン加工
データをそれぞれ示すものであり、図２は２値化レベル
を25としたときのデータであり、図３は２値化レベルを
202 としたときのデータである。これら図２（ａ）およ
び図３（ａ）中、Ａのデータは面積の画像パターン加工
データを示し、Ｂは高さ幅の画像パターン加工データを
それぞれ示している。なお、これら図の横軸はスキャン
位置を示しており、この横軸の数値は走査区間の細分割
点の番号をデジタル数値で示すものであり、番号203 は
最初の基準位置から240 μｍ移動した位置を示す。

【００３０】２次関数近似部24は、前記データ加工部23
で求められた面積と高さ幅のそれぞれの連続した細分割
点の５点位置での画像パターン加工データ値を近似的に
通る２次曲線を求める。この２次曲線は、細分割点を１
個ずつずらした連続した５点単位毎に全走査区間にわた
って求められる。例えば、図５に示す如く、画像パター
ン加工データ値が５点の連続した細分割点でＰ₁ ，
Ｐ₂ ，Ｐ₃ ，Ｐ₄ ，Ｐ₅ が得られたとき、これらＰ₁ 〜
Ｐ₅ を近似的に通る２次曲線が実線で示すように求めら
れる。そして、細分割点を１個ずらして、次の連続した
５点の細分割点の画像パターン加工データ値Ｐ₂ 〜Ｐ₆
を近似的に通る２次曲線が破線で示す如く求められる。
このように、細分割点を１個ずつずらして連続した細分
割点の５点の画像パターン加工データ値を近似的に結ん
で得られる２次関数が全走査区間にわたって次々と求め
られるのである。

【００３１】コア位置認定部25は、まず、前記２次関数
近似部24で得られる各２次関数の２２次係数を２次関数
近似部24より受け取る。図２の（ｂ）と図３の（ｂ）は
これら面積の画像パターン加工データ値の２次関数と高
さ幅の画像パターン加工データ値の２次関数の２次係数
を各細分割点で求めてプロットしたものである。図２の
（ｂ）は同図の（ａ）の画像パターンデータによって得
られる２次関数の２次係数を示しており、図３の（ｂ）
は同図の（ａ）の画像パターンデータ値に基づいて得ら
れる２次関数の２次係数を示している。これら図２の
（ｂ）および図３の（ｂ）において、Ａは面積の画像パ
ターン加工データによる２次関数の２次係数を示してお
り、Ｂは高さ幅の画像パターン加工データにより得られ
る２次関数の２次係数を示している。

【００３２】コア位置認定部25は、各２次曲線の２次係
数を比較し、最大ピークとなる２次係数の細分割点位置
を、光部品２の光が入射される代表光通路に対応する光
部品１側の光通路のコア位置として認定し、そのコア認
定位置を記憶し、必要に応じ表示部（図示せず）に表示
したり、そのデータをプリントアウトする。

【００３３】本実施形態例のコア位置認定装置は上記の
ように構成されており、次に、この装置を使用したコア
位置認定方法をより具体的に説明する。まず、固定ステ
ージ12に光部品１をクランプ固定し、移動ステージ14に
光部品２をクランプ固定する。光部品１と２は互いにそ
の接続端面を対向状態に配置し、この実施形態例では光
部品２の代表とする１本の光通路（裸光ファイバ）を９
ａとし、これに対応する光部品１の光通路を５ａとする
（図１参照）。そして、光入射手段18側では、光通路９
ａのみに光源の測定光を入射する。

【００３４】本実施形態例では、光部品２側の光通路９
ａと光部品１側の光通路５ａの上下のＹ方向の位置は予
め合わせてあり、この状態で、Ｘ方向の光通路９ａに対
する光通路５ａのコア位置を以下の動作により求める。

【００３５】光部品１と２の接続端面４，11同士を互い
に対向した状態で、スキャン制御部22のスキャン制御に
より、移動ステージ14をＸ方向に走査区間（この実施形
態例では240 μｍ）だけ光部品１の光通路５ａを横切る
Ｘ方向に走査移動する。この走査移動の開始時には、光
通路９ａと５ａのコア位置が一致していないため、光通
路９ａから光部品１の光通路５ａに入り込む光は光通路
５ａのクラッド６を透過するため、光通路５ａの出射端
の画像パターンは図４の（ｂ）の如くパターンとなる。

【００３６】光通路９ａと５ａのコア軸が次第に一致す
るにつれ、光通路５ａのコアを通る光量が多くなるた
め、光通路５ａからの出射光の画像パターンは次第に丸
みを帯びて行き、光通路９ａと５ａの軸があったときに
図４の（ａ）に示す円形の画像パターンとなる。さらに
光部品２側が走査移動して行くと、再び光通路９ａと５
ａの光軸のずれが大きくなるため、光通路５ａの出射光
の画像パターンは図４の（ｂ）のようになる。

【００３７】この光部品２側のＸ方向の走査区間にわた
って、光部品１側の光通路５ａの出射光の画像パターン
はミラー20を介してＣＣＤカメラ21に取り込まれる。

【００３８】データ加工部23は、このＣＣＤカメラ21で
取り込まれた画像パターンのデータをもとに、走査区間
の各細分割位置での画像パターンの面積と高さ方向（Ｙ
方向）の高さ幅を画像パターン加工データとして求め、
これを記憶する。

【００３９】２次関数近似部24では、前記データ加工部
23で求められた面積と高さ幅のぞれぞれの画像パターン
加工データの連続した５点の細分割点位置のデータ値を
近似的に結んで得られる２次関数を前述した如く、１個
ずつ細分割点位置をずらして５点単位毎の２次関数を全
走査区間にわたり求める。

【００４０】コア位置認定部25では、前記２次関数近似
部24で求められた各２次関数の２次係数を比較し、最大
ピークとなる２次係数の位置を走査方向（Ｘ方向）の光
部品１における光通路５ａのコア位置として認定し、そ
の値を記憶する。

【００４１】本実施形態例における面積および高さ幅の
２次関数の２次係数は、図２の（ａ）や図３の（ａ）に
示される画像パターン加工データの面積や高さ幅の画像
パターン加工データの変化の傾きを意味し、画像パター
ンが図４の（ｂ）に示される状態から、光通路９ａと５
ａの光軸が合うときには、ほぼ瞬間的に図４の（ａ）に
示すパターンとなり、画像パターンの面積と高さ幅はコ
ア軸が一致するときに急激に変化する。この変化が２次
係数のピークとして得られることとなり、この部分値の
ピーク位置を走査方向（Ｘ方向）のコア位置として認定
することにより、コア位置を正確に求めることができ
る。

【００４２】しかも、この光部品１の光通路５ａのコア
位置の認定は光部品２側を１回走査するだけでよいの
で、そのコア位置の認定を迅速に行うことが可能とな
る。このコア認定位置、つまり、光部品２側の光通路９
ａに対する光部品１側の光通路５ａのコア位置を調心用
の基準位置として、光部品２の複数の光通路と光部品１
の複数の光通路との調心を適宜に採用されるアナゴリズ
ムを用いて正式な調心動作に移行することが可能とな
り、光部品１と２の調心作業を効率的に行うことが可能
となるものである。

【００４３】また、例えば、面積の画像パターン加工デ
ータを２値化レベルによって求める場合、レベル25の場
合には、光部品１における光通路５ａのコア位置は負の
値となり、２値化レベルが202 の場合には図３の（ａ）
に示す如く正の値になるという如く、コア位置の面積の
画像パターン加工データの値は２値化レベルによって変
化してしまうこととなり、２値化レベルを切り換えて測
定が行われると、そのコア位置のレベルの値が異なる結
果となるので、そのコア位置を見出すことが困難になる
という問題が生じる。

【００４４】これに対し、本実施形態例の如く、画像パ
ターン加工データを２次関数で近似し、その２次関数の
２次係数のピーク位置をコア位置として認定することに
より、図２の（ｂ）および図３の（ｂ）に示す如く、面
積の画像パターン加工データによる２次係数のピークＰ
_s は２値化レベルが異なっていても、同じ正側のピーク
値となり、また、高さ幅の２次係数のピーク値Ｐ_h は２
値化レベルが異なっても共に負側のピーク値となり、２
値化レベルが変化しても２次係数のピーク値は正負が同
じ側となり、これにより、２値化レベルを切り換えて測
定された場合においても、２次係数のピークは常に同じ
結果となり、光通路９ａに対応する光通路５ａのコア位
置を確実、かつ正確に求めることができるのである。し
かも、２値化レベルに影響を受けずにコア位置の認定が
行い得るので、測定に適した２値化レベルを使用してコ
ア位置の測定を行うことができるので、その測定がし易
く使い勝手は抜群となる。

【００４５】なお、本発明は上記実施形態例に限定され
ることはなく、様々な実施の形態を採り得る。例えば、
上記実施形態例では、光部品１の光通路と光部品２の光
通路は共に複数のものを用いたが、その一方又は両方の
光部品の光通路は１個であってもよい。

【００４６】また、上記実施形態例では、導波路チップ
の光部品１と光コネクタの光部品２の調心時のコア位置
認定を行う例を対象にして説明したが、互いに調心を行
う光部品の組み合わせはこれに限定されず、例えば光コ
ネクタ同士の調心や光導波路チップ同士の調心等、様々
な光部品を組み合わせた調心時のコア位置認定方法およ
びその装置として適用されるものである。

【００４７】さらに、上記実施形態例では、５点の画像
パターン加工データ値を近似的に通る２次関数を求めた
が、３点の画像パターン加工データを近似的に通る２次
関数を求めてもよいし、あるいは４点、７点等の他の設
定された複数点の画像パターン加工データ値を近似的に
通る２次曲線を求めるようにしてもよい。ただ、本発明
者の実験による検討では、５点の画像パターン加工デー
タ値を近似的に通る２次関数を求める構成とした方が、
２次関数の正確さとその２次関数を求める演算処理のス
ピードとを総合的に考慮した場合、最も適したものとの
確信を得ている。

【００４８】さらに、上記実施形態例では、ＣＣＤカメ
ラ21によって取り込まれる画像パターンから面積の画像
パターン加工データと高さ幅の画像パターン加工データ
を共に求めたが、これらの一方の画像パターン加工デー
タを求めてコア位置を認定するようにしてもよい。この
ように、面積と高さ幅の一方の画像パターン加工データ
を求めてコア位置を認定することにより、面積と高さ幅
の両方の画像パターン加工データを求める場合に比べ、
信号処理の簡易化が図れ、装置構成をより簡易化でき、
装置の低コスト化を達成できるという効果が得られる。

【００４９】これに対し、本実施形態例の如く、面積と
高さ幅の両方の画像パターン加工データを求めてコア位
置の認定を行う構成とする場合には、面積と高さ幅の両
方のデータを参照してコア位置の認定を行うことができ
るので、そのコア位置認定の精度をより高めることがで
きるという効果が得られる。

【００５０】さらに、上記実施形態例では、上下のＹ方
向の光通路９ａと５ａの位置を予め合わせた状態で光部
品２側をＸ方向に走査移動してＸ方向の光通路９ａに対
応する光通路５ａのコア位置を認定したが、上下のＹ方
向に対しても光部品２側を走査移動し、Ｘ方向と同様に
光通路９ａに対する光通路５ａのＹ方向のコア位置を認
定するようにしてもよい。

【００５１】

【発明の効果】本発明は一方側の光部品の１個の光通路
に光を入射し、調心相手の光部品の対応する光通路を横
断する方向に入射側の光部品を走査移動し、出射側光部
品の対応する光通路から出射する出射光の画像パターン
を取り込み、走査区間にわたってその取り込んだ画像パ
ターンの面積と高さ幅の一方又は両方の画像パターン加
工データを求め、これらの画像パターン加工データから
走査区間を細分割した例えば５点等の設定個数の各点位
置毎の画像パターン加工データ値を通る２次関数を求め
てその各２次関数の２次係数がピークとなる走査区間の
位置を入射側光部品の入射光の光通路に対応する出射側
光通路のコア位置として認定するように構成したもので
あるから、入射側の光部品を出射側の光部品の光通路を
横断する方向に１回走査するだけで、入射側の光部品の
代表とする光通路に対する出射側の光部品の対応する光
通路の走査方向のコア位置が認定できることとなり、こ
のコア位置の認定動作を迅速に行うことができ、それ以
降の入射側と出射側の両光部品の調心作業を効率的に進
めることが可能となる。

【００５２】また、本発明は画像パターン加工データに
基づき得られる２次関数の２次係数のピークをコア位置
として認定するようにしたので、画像パターン加工デー
タを求める２値化レベルが切り換えられても、２次関数
の２次係数のピークは、２値化レベルの如何にかかわら
ず正負が同じ側となり、２値化レベルの切り換えに影響
を受けずにコア位置認定を正確に行うことができるとい
う画期的な効果が得られる。

【００５３】しかも、コア位置認定を行う２値化レベル
に影響を受けないので、測定し易い２値化レベルを適宜
選択してコア位置認定を行うことができるので、その使
い勝手も抜群であり、実用的価値は頗る大である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態例の要部構成図である。

【図２】２値化レベル25による画像パターン加工データ
とそのデータにより得られる２次関数の２次係数データ
を示すグラフである。

【図３】２値化レベルを202 としたときの画像パターン
加工データと、その画像パターン加工データにより得ら
れる２次関数の２次係数のデータを示すグラフである。

【図４】出射側光部品の光通路から出射される画像パタ
ーンの説明図である。

【図５】連続した５点の画像パターン加工データから近
似的な２次関数を求める説明図である。

【図６】従来の光部品同士の調心動作の説明図である。

【図７】チップ素子の光部品１における光通路の構成説
明図である。

【図８】一般的な多心タイプの光ファイバの説明図であ
る。

【符号の説明】

１，２ 光部品 12 固定ステージ 14 移動ステージ 18 光入射手段 22 スキャン制御部 23 データ加工部 24 ２次関数近似部 25 コア位置認定部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 寿彦 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コアの周りがクラッドで囲まれた１個以
   上の光通路を有する光部品同士を互いにその光通路端面
   を対向させて配置し、一方側の光部品の１個の光通路に
   測定光を入射し、この入射側の光部品を他方側の出射側
   光部品の対応する光通路の接続端面を横切る方向に走査
   して出射側光部品の光通路出射端から出射する出射光の
   画像パターンを取り込み、この画像パターンから走査区
   間を細分割した各点での画像パターンの面積と画像パタ
   ーンの前記走査方向に直交する方向の高さ幅との一方又
   は両方を画像パターン加工データとして求め、然る後
   に、走査方向に連続した複数の設定個数の各点位置の画
   像パターン加工データ値を近似的に通る２次関数を走査
   区間の細分割点位置を順にずらした設定個数単位で全走
   査区間にわたって求め、その２次関数の２次係数のピー
   クとなる走査区間の位置を出射側光部品の前記走査方向
   のコア位置として認定する光部品の調心時のコア位置認
   定方向。
2. 【請求項２】 ２次関数は５個の各点位置の画像パター
   ン加工データ値を近似的に通る曲線を近似することによ
   って求める請求項１記載の光部品の調心時のコア位置認
   定方法。
3. 【請求項３】 コアの周りがクラッドで囲まれた１個以
   上の光通路を有する第１の光部品と第２の光部品とを調
   心する際に前記第１の光部品の特定の光通路に対応する
   第２の光部品の光通路のコア位置を自動認定する装置で
   あって、第２の光部品を載置するベースステージと、前
   記第２の光部品に対し光通路端面を互いに対向させて前
   記第１の光部品を載置し少なくとも光通路を横断する方
   向の移動が可能な移動ステージと、前記第１の光部品の
   １個の光通路に測定光を入射する光入射手段と、前記第
   ２の光部品の出射光の画像パターンを取り込むカメラ手
   段と、前記移動ステージを光通路の横断方向に走査移動
   するスキャン制御部と、前記第１の光部品の１個の光通
   路に測定光が入射された状態での第１の光部品の前記移
   動ステージによる走査移動によって取り込まれた画像パ
   ターンから走査区間を細分割した各点での画像パターン
   の面積と画像パターンの前記走査方向に直交する方向の
   高さ幅との一方又は両方を画像パターン加工データとし
   て求めるデータ加工部と、このデータ加工部によって求
   められた画像パターン加工データを用い走査方向に連続
   した複数の設定個数の各点位置の画像パターン加工デー
   タ値を近似的に通る２次関数を走査区間の細分割点位置
   を順にずらした設定個数単位で全走査区間にわたって求
   める２次関数近似部と、この２次関数近似部で求められ
   た各２次関数の２次係数のピークとなる走査区間の位置
   を光が入射された第１の光部品の光通路に対応する第２
   の光部品の光通路の前記走査方向におけるコア位置とし
   て認定するコア位置認定部とを有する光部品の調心時の
   コア位置認定装置。