JPH11148806A - 三次元物体及びその表面画像の読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】被計測物の距離情報及び輝度情報を得るに際し
て読み取り死角を低減し、各情報の対応付けを正確に行
うことが可能な三次元物体及びその表面画像の読取装置
を得る。 【解決手段】被計測物１１にスリット光を照射するスリ
ット光投光部２０と、被計測物の表面を撮像する撮像部
３０とを有し、撮像部が被計測物の周囲を相対的に移動
する回転機構（回転部１２）を備えた三次元物体及びそ
の表面画像の読取装置であって、撮像部は、被計測物の
正面部分からの可視光反射光を第一の撮像素子により受
光して表面の輝度画像を読み取り、被計測物の正面部分
と同じ領域に照射されたスリット光のスリット光反射光
を第二の撮像素子により受光して表面形状（距離画像）
を計測することにより、各画像情報を同時に読み取って
高品質な画像データを得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、パーソナルコンピ
ュータ、エンジニアリングワークステーション等におい
て、被計測物の表面を撮像してデータを得る読取装置に
係り、特に、被計測物の距離情報及び被計測物の表面の
濃淡情報やカラー情報等の輝度情報を同時に読み取るこ
とが可能な三次元物体及びその表面画像の読取装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来、被計測物の三次元形状（距離画
像）を得るためには、スリット投光法を使用して測定す
ることが一般的に行われている。スリット投光法は、図
１０に示すように、投光器１からの光をスリット２を介
してスリット光３とし、スリット光３を被計測物４に照
射し、その反射光を距離画像検出用カメラ５で読み取る
ものである（特開平１−１９５３０３号公報参照）。

【０００３】被計測物４における一方向からの三次元形
状を測定する場合には、図１１に示すように、スリット
光源からのスリット光３を照射方向を支持体５の回転を
制御（又は、スリット光源内に配置されたミラー（図示
せず）の角度制御）することにより調整し、被計測物上
でのスリット光の照射位置を変更して順次走査し、スリ
ット光が照射可能な被計測物部分の全体についての距離
画像を距離画像検出用カメラ５で読み取るようにしてい
る。

【０００４】したがって、被計測物の三次元形状（距離
画像）と物体表面の輝度情報（輝度画像）を同時に読み
取る装置としては、三次元形状を測定するためのスリッ
ト光源及び距離画像検出用カメラ、輝度情報を得るため
の光源及び画像撮像素子を備える構成により実現でき
る。この場合、輝度画像を得るための光源（図示せず）
は別に配置され、画像撮像素子（図示せず）の光軸の向
きを固定し、被計測物全体を１フレームで撮像し、その
後に前記距離画像とのマッピングを行うことにより、各
画素における輝度画像と距離画像を得ることができる。

【０００５】上記読取装置では、輝度画像を得る光源と
距離画像を得るための光源はそれぞれ別光源が用いら
れ、例えば、スリット光の光源としては半導体レーザ
光、輝度画像の光源としては可視光が用いられる。した
がって、それぞれの画像を得るためには、光源を切り換
えてそれぞれ被計測物を撮像する必要がある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述の読取装置によれ
ば、被計測物におけるスリット光の照射位置を変更して
順次照射するに際して、被計測物の一端から他端までス
リット光を走査した場合、被計測物の左右の位置関係
で、スリット光源から被計測物上の照射位置までの光路
長が異なる。そのため、計測すべき奥行き方向の位置の
誤差が、被計測物の照射位置によって異なるという測定
精度上の問題点が存在する。その結果、３次元形状測定
の際の計測領域における左右の位置で、中心部から離れ
両端に近づくほど計測精度が低下するという問題点があ
った。

【０００７】また、スリット光源及び距離画像検出用カ
メラの位置が固定されているので、被計測物の形状によ
っては死角が生じ易く、測定不可能な部分が生じる可能
性が高い。すなわち、光学系の光軸が、被計測物のスリ
ット光が照射された計測点上の法線に対して角度が大き
くなるほど、被計測物の形状によっては計測不可能な部
分が生じるという問題点があった。

【０００８】また、計測不可能な部分や奥行き方向に段
差が生じた部分では、その側面における画像の濃淡情報
は得られず、周囲の画像情報から類推して補間する必要
があり、現実の画像の濃淡情報とは異なるものとなって
しまう。

【０００９】その一方、画像撮像素子により得られた輝
度画像（二次元画像）は、被計測物を二次元平面に投影
したもので、距離画像の凹凸との対応が精度よくとれ
ず、被計測物の形状によっては、距離画像と輝度画像と
の位置がずれが生じてしまい、不自然な画像情報（輝度
画像付きの距離画像）となってしまうという問題点があ
った。

【００１０】更に、距離画像取得時と輝度画像取得時で
は、光源を切り替えて撮像する必要があり、読み取り全
体での処理時間を長くする要因となっていた。

【００１１】本発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、被計測物の距離情報及び被計測物の表面の輝度情報
を読み取る読取装置において、被計測物の距離情報及び
輝度情報を得るに際して読み取り死角を低減するととも
に、各情報を同時に読み取ることにより各情報の対応付
けを正確に行うことが可能な三次元物体及びその表面画
像の読取装置を提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、被計測物にスリット光を照射するスリット光
投光部と、前記被計測物の表面を撮像する撮像部とを有
し、前記撮像部が被計測物の周囲を相対的に移動する回
転機構を備えた三次元物体及びその表面画像の読取装置
であって、次の構成を含むことを特徴としている。前記
撮像部は、画像読取手段と三次元物体読取手段とから構
成されている。そして、画像読取手段は、被計測物の正
面部分からの可視光反射光を第一の撮像素子により受光
して表面の輝度情報を読み取るものである。三次元物体
読取手段は、被計測物の前記正面部分と同じ領域に照射
されたスリット光のスリット光反射光を第二の撮像素子
により受光して表面形状を計測するものである。

【００１３】また、撮像部が被計測物の周囲を相対的に
移動するとは、撮像部を固定し被計測物を回転可能なス
テージ上に配置することにより、撮像部に対して被計測
物が回転する場合、及び、被計測物を固定しその周囲を
撮像部が回転しながら移動することにより、被計測物に
対して撮像部が回転する場合を意味するものである。

【００１４】請求項２の三次元物体及びその表面画像の
読取装置は、請求項１において、前記第一の撮像素子の
受光面側に、可視光透過フィルタを備えたことを特徴と
している。

【００１５】請求項３の三次元物体及びその表面画像の
読取装置は、請求項１において、前記撮像部の第一の撮
像素子は、前記被計測物の正面部分に対峙するように配
置して成ることを特徴としている。

【００１６】本発明によれば、撮像部が被計測物の周囲
を相対的に回転する回転機構を備えているため、撮像部
に対する被計測物の撮像位置を一定角度分だけ順次回転
移動させた後に読み取ることにより、被計測物の周囲全
体についての輝度情報及び距離情報が得られる。撮像部
は、被計測物の正面部分からの可視光反射光及びスリッ
ト光反射光をそれぞれ検出しているので、被計測物の同
一領域の輝度情報及び距離情報を同時に読み取ることが
できる。

【００１７】また、撮像部における輝度画像読み取り用
の第一の撮像素子の受光面側に、可視光透過フィルタを
備えることにより、可視光のみを透過させて検出するこ
とができる。

【００１８】また、第一の撮像素子が被計測物の正面部
分に対峙するように配置することにより、被計測物の正
面部分に対する第一の撮像素子の位置が最も近接し、可
視光反射光の光路長を短くすることができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る三次元物体及
びその表面画像の読取装置に関する実施の形態の一例に
ついて、図面を参照しながら説明する。図１は読取装置
のブロック図、図２は読取装置の全体を示す平面説明
図、図３は読取装置の撮像部と被計測物の位置関係を示
す配置説明図である。

【００２０】この三次元物体及びその表面画像の読取装
置は、被計測物の輝度画像（濃淡情報やカラー情報）及
び距離画像（三次元形状）を同時に並行して読み取るも
ので、図１に示すように、被計測物１１を載置する被計
測部１０と、被計測物１１にスリット光を照射するスリ
ット光投光部２０と、被計測物１１からの可視光反射光
及びスリット光反射光を受光して検出する撮像部３０
と、被計測部１０，スリット光投光部２０，撮像部３０
の制御を行う制御部４０とから構成されている。

【００２０】被計測部１０は、被計測物１１が載置され
る円形状のステージ（回転部）１２を支持板１４の一端
側に設けて構成している（図２）。前記ステージ（回転
部）１２は、その中心１５を軸として回転する回転機構
を備え、この回転機構によるステージ（回転部）１２の
回転は、予め決められた一定角分だけ順次間欠的に回転
するように回転制御部１３で制御されている。

【００２１】スリット光投光部２０は、スリット光を発
生させるスリット光発生部２１と、スリット光の進行方
向を変化させるガルバノミラー２２ａ及び被計測物１１
からのスリット光反射光の進路を変化させるガルバノミ
ラー２２ｂと、各ガルバノミラーの角度を制御するミラ
ー制御部２３とから構成されている。スリット光発生部
２１は、レーザ光を出射する半導体レーザと、このレー
ザ光を鉛直方向に細長いスリット光に変換するシリンド
リカルレンズとから構成されている。また、半導体レー
ザに対して液晶シャッターを使用してスリット光を得る
ようにしてもよい。

【００２２】ガルバノミラー２２ａ，２２ｂ（図３）
は、その回転角をミラー制御部２３で制御可能とするこ
とにより、被計測物１１の正面部分（後述する２Ｄ画像
撮像部３２の輝度画像読取用の撮像素子（駆動処理回
路）３２１の光軸と被計測物１１とが交差する位置）に
スリット光を照射させるとともに、そのスリット光反射
光を３Ｄ形状計測部３１の距離画像読取用の撮像素子
（駆動処理回路）３１１へ入射させるものである。

【００２３】撮像部３０は、被計測物の輝度画像を読み
取る２Ｄ画像撮像部（画像読取手段）３２と、距離画像
を読み取る３Ｄ形状計測部（三次元物体読取手段）３１
とから構成されている。被計測物部１０と撮像部３０と
の位置関係を図２により説明すると、支持板１４の一端
側に設けられたステージ（回転部）１２に対して、長方
形状の撮像部３０は他端側の支持板１４上に設置され、
撮像部３０の長辺側に位置する光出射面及び受光面とス
テージ（回転部）１２上に載置された被計測物１１とが
対峙するように配置されている。したがって、ステージ
（回転部）１２が回転すると、撮像部３０が被計測物１
１の周囲を相対的に移動することになる。

【００２４】３Ｄ形状計測部（三次元物体読取手段）３
１は、被計測物１１からのスリット光反射光を受光する
撮像素子（駆動処理回路）３１１と、スリット光反射光
を撮像素子（駆動処理回路）３１１へ導くための光学結
像系３１２と、撮像素子３１１からの画像信号を入力し
画像内におけるスリット光の位置を検出するスリット光
検出回路３１３と、画像信号の各画素の奥行き方向の位
置を算出する３Ｄ座標算出回路３１４とから構成されて
いる。撮像素子（駆動処理回路）３１１は二次元撮像素
子を使用し、その撮像領域は、スリット光の照射範囲に
相当するように、水平方向に数画素を有し鉛直方向にス
リット光の幅に等しい画素を有する矩形領域としてい
る。

【００２５】制御部４０は、３Ｄ座標算出回路３１４か
らの距離画像データを記憶する画像メモリ４１と、撮像
素子（駆動処理回路）３２１からの輝度画像データを記
憶する画像メモリ４２と、マイクロコンピュータ４３と
から構成されている。マイクロコンピュータ４３は、画
像メモリ４１，４２からの距離画像データ及び輝度画像
データを画素毎に対応付け、輝度情報がマッピングされ
た距離情報としての画像信号を出力する。また、マイク
ロコンピュータ４３は、被計測物部１０の回転制御部１
３へ間欠回転のための回転制御信号，スリット光投光部
２０のミラー制御部２３へガルバノミラー２２の角度を
制御するための角度制御信号，２Ｄ画像撮像部３２の駆
動処理回路３２１へ２Ｄ画像読取制御信号，３Ｄ形状計
測部３１の駆動処理回路３１１へ３Ｄ画像読取制御信
号，スリット光検出回路３１３へスリット光検出信号，
３Ｄ座標算出回路３１４へガルバノミラー２２の設定角
度の情報をそれぞれ出力している。

【００２６】前記したスリット光検出回路３１３では、
２値化を行った画像信号の中のハイライト部分を抽出
し、細線化処理により撮像領域の画像内におけるスリッ
ト光の位置を決定する。３Ｄ座標算出回路３１４では、
画像内のスリット光の位置とマイクロコンピュータ４３
によって制御されたガルバノミラー２２ａ，２２ｂの設
定角度から、各画素における奥行き方向の位置が求めら
れる。奥行き方向の位置は、スリット光の上部から下部
にわたって撮像領域における一定間隔毎の画素において
算出される。

【００２７】したがって、スリット光発生部から出射さ
れたスリット光は、回転角度が制御されたガルバノミラ
ーで反射して被計測物の前記正面領域（輝度画像を読み
取った領域と同じ領域）を照射し、その反射光は受光側
のガルバノミラーで反射して撮像素子が受光し、前記正
面領域の距離画像を読み取ることができる。スリット光
は前記したように鉛直方向に幅を有する光であるので、
撮像素子（駆動処理回路）３１１による撮像領域も複数
画像を読み取る長方形の矩形領域となっている。

【００２８】２Ｄ画像撮像部３２は、被計測物１１から
の可視光反射光を受光するＣＣＤカメラ等の撮像素子
（駆動処理回路）３２１と、可視光反射光を撮像素子
（駆動処理回路）３２１へ導くための光学結像系３２２
と、撮像素子３２１の受光面側に配置された可視光透過
フィルタ（レーザ光除去フィルタ）３２３、照明光を出
射させる光源３２４とから構成されている。光源３２４
は、自然光や室内光による光を使用することにより省略
してもよい。したがって、光源３２４による可視光が被
計測物１１の正面部分を照射し、可視光反射光を撮像素
子３２１が受光することにより前記正面部分の輝度画像
を読み取ることができる。この撮像素子３２１は二次元
撮像素子を使用し、その撮像領域は、３Ｄ形状計測部３
１と同じ撮像領域を読み取るため、スリット光の照射範
囲に相当する矩形領域（水平方向に数画素を有し、鉛直
方向にスリット光の幅に等しい画素を有する領域）とし
ている。

【００２９】次に、上記読取装置による被計測物の輝度
画像及び距離画像の読み取り動作について、図４のフロ
ーチャートを参照しながら説明する。先ず、被計測物１
１を支持板１４のステージ（回転部）１２上に載置する
（図２）。この状態で、支持板１４上に装着されている
撮像部３０の２Ｄ画像撮像部３２の撮像素子３２１及び
可視光透過フィルタ３２３は、被計測物１１の正面に対
峙して位置している（図３）。ステージ（回転部）１２
は、微少角度で間欠的に回転するように制御され、被計
測物１１の正面位置に撮像部３０が位置する状態とな
る。

【００３０】読み取りの開始が選択されると、所定の角
度だけ回転部が回転して停止し（ステップ４０１）、マ
イクロコンピュータ４３からの２Ｄ画像読取制御信号及
び３Ｄ画像読取信号を受けて２Ｄ画像撮像部２１と３Ｄ
形状計測部３１による読み取りが同時に開始される。す
なわち、３Ｄ形状計測部３１においては、スリット光発
生部２１からスリット光が出射され（ステップ４０
２）、マイクロコンピュータ４３で回転角が制御される
照射側のガルバノミラー２２ａで反射し、前記被計測物
１１の正面部分にスリット光を照射する。

【００３１】正面部分で反射されたスリット光反射光
は、受光側のガルバノミラー２２ｂで反射され、光学結
像系３１２を介して撮像素子（駆動処理回路）３１１に
導かれ、スリット光の画像の読み取りが行われる（ステ
ップ４０３）。ガルバノミラー２２ａ，２２ｂを制御す
るミラー制御部２３へは、被計測物１１の正面部分にス
リット光が照射し、スリット光反射光が撮像素子（駆動
処理回路）３１１に導かれるように、マイクロコンピュ
ータ４３から制御信号が出力されている。

【００３２】撮像素子（駆動処理回路）３１１で読み取
られた画像データは、駆動処理回路内のＡ／Ｄ変換器に
よりデジタル画像に変換され、スリット光検出回路３１
３へと送出される。スリット光検出回路３１３では、２
値化された画像データの中のハイライト部分が抽出さ
れ、細線化処理により画像内におけるスリット光の位置
を決定する。例えば、撮像領域でのスリット光による画
像データ（撮像素子で読み取られる二次元画像）が、図
５に示すように、そのハイライト部分が複数画素にわた
っているような場合（斜線部分）、その内の一画素をス
リット光の位置として決めて実線ような画像データを得
る（細線化処理）。

【００３３】続いて、３Ｄ座標算出回路３１４では、画
像内のスリット光の位置とマイクロコンピュータ４３か
ら入力されるガルバノミラー２２ａ，２２ｂの設定角度
の情報から、一画素に対応する奥行き方向の位置を算出
する（ステップ４０４）。すなわち、ガルバノミラー２
２ａ，２２ｂの設定角度とスリット光検出回路３１３で
のスリット光の撮像位置から、図６におけるガルバノミ
ラー間の水平、垂直方向の距離ｌ，ｍ及び水平方向との
なす角α，βが求められる。したがって、図における幾
何学的形状より、求める奥行き方向の距離ｚは、次式
（式１）で算出することができる。そして、この奥行き
方向の位置は、スリット光の撮像領域の全ての画素にお
いて算出され、その結果は距離画像として画像メモリ４
１に出力され記憶される。

【００３４】

【式１】ｚ＝（ｌｔａｎα・ｔａｎβ−ｍｔａｎβ）／
（ｔａｎα＋ｔａｎβ）

【００３５】一方、２Ｄ画像撮像部３２においては、光
源３２４を点灯し（ステップ４０５）、被計測物１１に
対してスリット光と同じ位置（正面部分）に照明光を照
射する。そして、この照明光の反射光が可視光透過フィ
ルタ３２３を通過することで、レーザ波長成分が除去さ
れ、可視光反射光のみが２Ｄ画像撮像部３２の光学結像
系３２２を介して撮像素子（駆動処理回路）３２１に導
かれ、輝度画像の読み取りが行われる（ステップ４０
６）。撮像素子（駆動処理回路）３２１で検出される輝
度画像は駆動処理回路内でＡ／Ｄ変換され、ディジタル
画像の輝度画像として画像メモリ４２に出力され記憶さ
れる。記憶される画像領域は、スリット光の幅に相当す
る矩形領域（スリット光の撮像領域と同じ領域）であ
る。

【００３６】そして、マイクロコンピュータ４３におい
て、画像メモリ４１，４２からの距離画像データと輝度
画像データとを画素毎に対応付けを行い、３次元位置
（ｘ，ｙ，ｚ）に対して表面画像の輝度情報（Ｒ，Ｇ，
Ｂ）を有する輝度情報がマッピングされた距離情報とし
ての画像情報を出力する（ステップ４０７）。

【００３７】次に、ステージ（回転部）１２が一周した
かどうかの判断が行われ（ステップ４０８）、一周に満
たない場合には、所定の角度だけステージ（回転部）１
２が回転し、上述した３Ｄ形状計測部３１による計測及
び２Ｄ画像撮像部３２による読み取りが繰り返される。
被計測物１１に対してその表面一周の計測及び読み取り
が終了すると、計測及び読み取りされた各撮像領域（矩
形領域）の画像情報（輝度情報がマッピングされた距離
情報）についての接続処理が行われ（ステップ４０
９）、被計測物１１の表面全体についての画像情報を得
て処理は終了する。

【００３８】図７及び図８は、読取装置の実施の形態の
他の例を示すものである。すなわち、上記した読取装置
が撮像部３０側を固定し被計測物１１を回転可能なステ
ージ（回転部）１２上に配置した構成であるのに対し
て、この読取装置は、被計測物１１を固定しその周囲を
撮像部３０が回転しながら移動するように構成したもの
である。図７及び図８において、図１ないし図３の読取
装置と同一構成をとる部分については同一符号を付して
説明を省略するとともに、構成の異なる部分について説
明する。

【００３９】この読取装置では、ステージ１２は回転せ
ずその周囲を回転軸１５を中心として支持体１４が回転
するための回転機構５０を有している。この回転機構５
０は、マイクロコンピュータ４３からの制御信号を受け
た回転制御部５１によりステージ１２に対して支持部
（回転部）１４を回転させている。したがって、ステー
ジ１２上に載置された被計測物１１の周囲をスリット光
投光部２０及び撮像部３０が回転しながら輝度情報及び
距離情報を検出することになる。

【００４０】図９は読取装置の実施の形態の他の例を示
すもので、スリット光投光部からのスリット光と光源か
らの照明光の光路を一部共通としたものである。図３と
同様の構成をとる部分については同一符号を付してい
る。すなわち、投光装置６０は光軸の同じスリット光及
び照明光を出射させる光源６１を有し、出射されたスリ
ット光及び照明光はガルバノミラー２２ａを介した同一
光路で被計測物１１の撮像領域を照射して反射する。反
射光は、ハーフミラー７０によりスリット光反射光と照
明光反射光に分岐され（スリット光反射光は反射し、照
明光反射光は透過する）、照明光反射光は可視光透過フ
ィルタ３２３を通過して可視光反射光となり２Ｄ画像撮
像部３２の撮像素子３２１に導かれ、スリット光反射光
はガルバノミラー２２ｂで反射して光路を変更した後、
３Ｄ形状計測部３１の撮像素子３１１に導かれる。３Ｄ
形状計測部３１及び２Ｄ画像撮像部３２内での画像デー
タの処理は図１ないし図３に示した読取装置と同じであ
る。

【００４１】

【発明の効果】本発明によれば、回転機構を備えて撮像
部に対する被計測物の撮像位置を一定角度分だけ順次回
転移動させた後に読み取ることにより、被計測物の周囲
全体についての輝度情報及び距離情報が得られるので、
撮像部の死角となる部分を低減でき、奥行き方向の位置
精度の高い読み取りが可能となる。

【００４２】撮像部は、被計測物の正面部分に照射され
た可視光及びスリット光のそれぞれの反射光を読み取っ
ているので、被計測物の同一領域の輝度情報及び距離情
報を同時に読み取ることができ、距離画像と輝度画像と
の対応付けを正確に行うことができるとともに、同時に
行う読み取り処理により処理速度の高速化を図ることが
できる。

【００４３】また、第一の撮像素子と被計測物の正面部
分とが対峙するように配置し、被計測物の正面部分に対
する第一の撮像素子の位置が最も近接し、可視光の光路
長を短くすることができ、高精度な画像情報を得ること
ができる。

【００４４】したがって、本発明の読取装置によれば、
輝度画像と距離画像との対応付けが行われた高品位な画
像データを得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る読取装置の実施の形態の一例を示
すブロック図である。

【図２】図２の読取装置の外観説明図である。

【図３】読取装置における被計測物と撮像部及びスリッ
ト光投光部との位置関係を説明する配置説明図である。

【図４】読取装置における読み取り動作の流れを説明す
るためのフローチャート図である。

【図５】読取装置の３Ｄ形状計測部の撮像素子で検出さ
れた画像データ例の一部を示す撮像領域部分説明図であ
る。

【図６】ガルバノミラーの設定角度から画素の奥行きの
算出を説明するための光学光線説明図である。

【図７】読取装置の実施の形態の他の例を示すブロック
図である。

【図８】図７の読取装置の外観説明図である。

【図９】読取装置の実施の形態の他の例における被計測
物と撮像部及びスリット光投光部との位置関係を説明す
る配置説明図である。

【図１０】スリット投光法による距離画像を計測する読
取装置の原理説明図である。

【図１１】従来例の読取装置による被計測物と撮像部と
撮像素子との位置関係を説明する配置図である。

【符号の説明】

１０…被計測物部、 １１…被計測物、 １２…ステー
ジ（回転部）、 １３…回転制御部、 １４…支持体、
２０…スリット光投光部、 ２１…スリット光発生
部、 ２２ａ，２２ｂ…ガルバノミラー、 ２３…ミラ
ー制御部、 ３０…撮像部、 ３１…３Ｄ形状計測部、
３２…２Ｄ画像撮像部、 ４０…制御部、 ４１，４
２…画像メモリ、 ４３…マイクロコンピュータ、 ３
１１…第二の撮像素子（駆動処理回路）、 ３２１…第
一の撮像素子（駆動処理回路）、３２３…可視光透過フ
ィルタ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被計測物にスリット光を照射するスリット
   光投光部と、前記被計測物の表面を撮像する撮像部とを
   有し、前記撮像部が被計測物の周囲を相対的に移動する
   回転機構を備えた読取装置であって、 前記撮像部は、 被計測物の正面部分からの可視光反射光を第一の撮像素
   子により受光して表面の輝度情報を読み取る画像読取手
   段と、 被計測物の前記正面部分と同じ領域に照射されたスリッ
   ト光のスリット光反射光を第二の撮像素子により受光し
   て表面形状を計測する三次元物体読取手段と、を具備す
   ることを特徴とする三次元物体及びその表面画像の読取
   装置。
2. 【請求項２】前記第一の撮像素子の受光面側に、可視光
   透過フィルタを備えた請求項１に記載の三次元物体及び
   その表面画像の読取装置。
3. 【請求項３】前記第一の撮像素子は、前記被計測物の正
   面部分に対峙するように配置して成る請求項１に記載の
   三次元物体及びその表面画像の読取装置。