JPH11148878A - Drift reduction circuit of pressure sensor and reset system - Google Patents
Drift reduction circuit of pressure sensor and reset systemInfo
- Publication number
- JPH11148878A JPH11148878A JP31330797A JP31330797A JPH11148878A JP H11148878 A JPH11148878 A JP H11148878A JP 31330797 A JP31330797 A JP 31330797A JP 31330797 A JP31330797 A JP 31330797A JP H11148878 A JPH11148878 A JP H11148878A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- reset
- voltage
- sensor unit
- pressure sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 48
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 8
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000009530 blood pressure measurement Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ABS油圧制御シ
ステム等に使用される圧力センサに係り、特に圧力セン
サのドリフト低減回路及びリセット方式に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pressure sensor used in an ABS hydraulic control system and the like, and more particularly, to a drift reduction circuit and a reset method of a pressure sensor.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、圧電素子に印加された圧力に
よる歪みで発生した電荷を電圧に変換するタイプの圧電
式圧力センサが知られている。特に、圧電素子に水晶を
用いた圧電式圧力センサでは、水晶自体の特性により温
度特性や安定度が高く、特別な駆動回路も不要という優
れた特徴を有する。図9は従来の圧電式圧力センサユニ
ットの回路図である。圧電式圧力センサユニット1f
は、圧電素子となる水晶2、水晶2の両端に生じた電荷
を電圧に変換する積分回路3、積分回路3をリセットす
るためのリセット回路4から構成されている。この圧電
式圧力センサユニット1fの出力は相対出力のため、様
々な誤差が累積される。リセット回路4は、この累積誤
差を最小限に留めるために、圧力測定直前に電界効果ト
ランジスタ(FET)23をオンにして、積分回路3の
リセットを行い、累積誤差をキャンセルするものであ
る。リセット回路4を付加することにより、測定時間が
比較的長い計測や疑似絶対値計測が可能となる。2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a piezoelectric pressure sensor of a type that converts charges generated by distortion caused by pressure applied to a piezoelectric element into a voltage. In particular, a piezoelectric pressure sensor using crystal as a piezoelectric element has excellent characteristics in that temperature characteristics and stability are high due to characteristics of the crystal itself, and a special drive circuit is not required. FIG. 9 is a circuit diagram of a conventional piezoelectric pressure sensor unit. Piezoelectric pressure sensor unit 1f
Comprises a crystal 2 serving as a piezoelectric element, an integration circuit 3 for converting charges generated at both ends of the crystal 2 into a voltage, and a reset circuit 4 for resetting the integration circuit 3. Since the output of the piezoelectric pressure sensor unit 1f is a relative output, various errors are accumulated. The reset circuit 4 turns on the field effect transistor (FET) 23 immediately before the pressure measurement, resets the integrating circuit 3, and cancels the accumulated error in order to minimize the accumulated error. The addition of the reset circuit 4 enables measurement with a relatively long measurement time and pseudo absolute value measurement.
【0003】しかし、水晶2に発生する電荷が1気圧当
たり数pクーロンという微少量で、積分回路3のコンデ
ンサ22から流出するFET23の漏れ電流及びコンデ
ンサ22自身の漏れ電流が存在することから、図9の圧
力センサユニット1fにはドリフトが発生する。よっ
て、ドリフトを低減して高精度のセンサに仕上げるに
は、各々の素子自体の特性で、漏れ電流を数十〜数百n
Aオーダーレベル以下に抑えなければならない。したが
って、非常に高価なセンサになってしまうという問題点
があった。However, since the charge generated in the crystal 2 is as small as several p-coulombs per atmosphere, there is a leakage current of the FET 23 flowing out of the capacitor 22 of the integration circuit 3 and a leakage current of the capacitor 22 itself. A drift occurs in the pressure sensor unit 1f of No. 9. Therefore, in order to finish the sensor with high accuracy by reducing the drift, it is necessary to reduce the leakage current by several tens to several hundreds n depending on the characteristics of each element itself.
It must be kept below the A order level. Therefore, there is a problem that the sensor becomes very expensive.
【0004】これに対し、測定時間が短い計測、コンデ
ンサ22が自然放電する程測定間隔が長い計測、あるい
はドリフトの誤差を吸収可能な程検出レベルが高い計測
の場合には、部品精度の簡略化とリセット回路の省略に
より、センサの構成を簡単にすることができる。ただ
し、このような構成では、電源投入直後からドリフト等
の誤差が累積されるため、測定時間が長い計測、測定間
隔が短い計測、あるいは絶対値計測は不可能である。一
方、図9の圧電式圧力センサユニット1fを例えば自動
車用のABS(Antilock Braking System )油圧検出シ
ステムに組み込む場合には、図10に示すように、セン
サユニット1fからのセンサ出力信号SEN−OUTを
コントロールユニット13a内のMPU14aが受け取
り、MPU14aがリセット回路4を作動させるリセッ
ト信号REを出力していた。On the other hand, in the case of measurement in which the measurement time is short, the measurement interval is long as the capacitor 22 discharges spontaneously, or the detection level is high enough to absorb a drift error, the accuracy of parts is simplified. By omitting the reset circuit, the configuration of the sensor can be simplified. However, in such a configuration, since errors such as drift are accumulated immediately after the power is turned on, it is impossible to perform measurement with a long measurement time, short measurement interval, or absolute value measurement. On the other hand, when the piezoelectric pressure sensor unit 1f of FIG. 9 is incorporated in, for example, an ABS (Antilock Braking System) oil pressure detection system for an automobile, as shown in FIG. 10, the sensor output signal SEN-OUT from the sensor unit 1f is output. The MPU 14a in the control unit 13a has received the signal, and the MPU 14a has output the reset signal RE for operating the reset circuit 4.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
圧力センサでは、測定精度を上げようとすると、非常に
高価なセンサになってしまうという問題点があった。ま
た、リセット回路を省いた簡単な構成にすると、測定時
間が長い計測、測定間隔が短い計測、あるいは絶対値計
測が不可能になるという問題点があった。また、圧力セ
ンサを組み込むシステムでは、センサ出力信号受け渡し
用の信号線とリセット信号受け渡し用の信号線の2本の
信号線で圧力センサユニットとコントロールユニット間
を接続しなければならないという問題点があった。本発
明は、上記課題を解決するためになされたもので、圧力
センサのドリフトを安価に補正することができるドリフ
ト低減回路、及び圧力センサユニットとコントロールユ
ニット間の信号線の数を削減できるリセット方式を提供
することを目的とする。As described above, the conventional pressure sensor has a problem that if the accuracy of measurement is to be increased, the sensor becomes very expensive. Further, if a simple configuration without the reset circuit is used, there is a problem that measurement with a long measurement time, measurement with a short measurement interval, or absolute value measurement becomes impossible. Also, in a system incorporating a pressure sensor, there is a problem that the pressure sensor unit and the control unit must be connected by two signal lines, a signal line for transferring a sensor output signal and a signal line for transferring a reset signal. Was. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and has a drift reduction circuit capable of inexpensively correcting drift of a pressure sensor, and a reset method capable of reducing the number of signal lines between a pressure sensor unit and a control unit. The purpose is to provide.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の圧力センサのド
リフト低減回路は、請求項1に記載のように、印加圧力
による歪みに応じて電荷が発生する圧電素子と、圧電素
子の両端に生じた電荷を電圧に変換する積分回路と、積
分回路をリセットするリセット回路と、上記圧電素子と
積分回路の入力端子との接続点に付加された逆バイアス
状態のダイオードとを有するものである。このように、
圧電素子と積分回路の入力端子との接続点に逆バイアス
状態のダイオードを設けることにより、ドリフトの原因
となるセンサの漏れ電流と同じ大きさで、流れる向きが
反対の補正電流をダイオードから供給するので、補正電
流でセンサの漏れ電流を打ち消すことができ、見かけ上
ドリフトを打ち消すことができる。また、請求項2に記
載のように、上記リセット回路内のトランジスタのオフ
バイアスを調整するためのオフバイアス調整回路と、上
記ダイオードの逆バイアスを調整するための逆バイアス
調整回路とを有するものである。このように、オフバイ
アス調整回路及び逆バイアス調整回路を設けることによ
り、上記トランジスタのオフバイアス値を変更するか、
ダイオードの逆バイアス値を変更するか、あるいはその
両方を変更し、ドリフトの原因となるセンサの漏れ電流
の特性に合わせ込むことができる。また、請求項3に記
載のように、周囲温度を検出する温度検出回路と、各温
度における上記トランジスタのオフバイアス値及びダイ
オードの逆バイアス値を記憶している記憶装置と、上記
温度検出回路によって検出された現在の周囲温度に応じ
て、この温度に対応するオフバイアス値及び逆バイアス
値を記憶装置から読み出し、上記オフバイアス調整回路
及び逆バイアス調整回路を制御する制御回路とを有する
ものである。このように、記憶装置から読み出したオフ
バイアス値及び逆バイアス値に基づいて、制御回路がオ
フバイアス調整回路及び逆バイアス調整回路を制御する
ことにより、周囲温度が変化してもドリフトを打ち消す
ことができる。According to a first aspect of the present invention, there is provided a drift reducing circuit for a pressure sensor, comprising: a piezoelectric element which generates an electric charge in response to a strain caused by an applied pressure; And a reset circuit for resetting the integration circuit, and a diode in a reverse bias state added to a connection point between the piezoelectric element and the input terminal of the integration circuit. in this way,
By providing a reverse-biased diode at the connection point between the piezoelectric element and the input terminal of the integrating circuit, a correction current having the same magnitude as the leakage current of the sensor causing drift and flowing in the opposite direction is supplied from the diode. Therefore, the leakage current of the sensor can be canceled by the correction current, and the apparent drift can be canceled. According to another aspect of the present invention, the semiconductor device includes an off-bias adjustment circuit for adjusting an off-bias of a transistor in the reset circuit, and a reverse-bias adjustment circuit for adjusting a reverse bias of the diode. is there. Thus, by providing the off-bias adjustment circuit and the reverse bias adjustment circuit, the off-bias value of the transistor is changed,
The reverse bias value of the diode, or both, can be changed to match the characteristics of the sensor leakage current that causes drift. According to a third aspect of the present invention, there is provided a temperature detection circuit for detecting an ambient temperature, a storage device for storing an off-bias value of the transistor and a reverse bias value of a diode at each temperature, and the temperature detection circuit. A control circuit that reads an off-bias value and a reverse bias value corresponding to the detected current ambient temperature from a storage device and controls the off-bias adjustment circuit and the reverse bias adjustment circuit. . As described above, the control circuit controls the off-bias adjustment circuit and the reverse bias adjustment circuit based on the off-bias value and the reverse bias value read from the storage device, so that the drift can be canceled even when the ambient temperature changes. it can.
【0007】また、請求項4に記載のように、印加圧力
による歪みに応じて電荷が発生する圧電素子、圧電素子
の両端に生じた電荷を電圧に変換する積分回路、及び積
分回路をリセットするリセット回路からなるセンサユニ
ットと、センサユニットからのセンサ出力信号を受ける
と共にセンサユニットに対してリセット指令信号を出力
するコントロールユニットとを備えたシステムにおい
て、上記コントロールユニットは、センサユニットから
のセンサ出力信号を受ける信号線とリセット指令信号を
出力する信号線を共通化し、この信号線によりセンサユ
ニットとの接続を行うものであり、上記センサユニット
は、上記信号線に直列に挿入された抵抗と、この抵抗の
両端の電圧をそれぞれ検出してリセット回路を作動させ
るべきか否かを判定するリセット検出回路とを有するも
のである。このように、センサ出力信号受け渡し用の信
号線とリセット指令信号受け渡し用の信号線を共通化
し、センサユニットに抵抗及びリセット検出回路を設け
ることにより、センサユニットとコントロールユニット
間の信号線の数を削減できる。また、請求項5に記載の
ように、上記コントロールユニットは、センサユニット
をリセットするとき、Hレベルの信号とLレベルの信号
を1組とするリセット指令信号を出力するものであり、
上記センサユニット内のリセット検出回路は、ゲート回
路からなり、上記抵抗のセンサユニット側の電圧がゲー
ト回路のHレベル検出電圧で、コントロールユニット側
の電圧がLレベルの場合、あるいはセンサユニット側の
電圧がゲート回路のLレベル検出電圧で、コントロール
ユニット側の電圧がHレベルの場合、上記リセット回路
を作動させるものである。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a piezoelectric element which generates an electric charge in response to a strain caused by an applied pressure, an integrating circuit for converting electric charges generated at both ends of the piezoelectric element into a voltage, and resetting the integrating circuit. In a system including a sensor unit including a reset circuit and a control unit that receives a sensor output signal from the sensor unit and outputs a reset command signal to the sensor unit, the control unit includes a sensor output signal from the sensor unit. The signal line receiving the signal and the signal line outputting the reset command signal are shared, and the signal line is used to connect to the sensor unit. The sensor unit includes a resistor inserted in series with the signal line, Determines whether to activate the reset circuit by detecting the voltage across the resistor That is one having a reset detection circuit. In this way, the number of signal lines between the sensor unit and the control unit can be reduced by sharing the signal line for passing the sensor output signal and the signal line for transmitting the reset command signal and providing the resistor and the reset detection circuit in the sensor unit. Can be reduced. According to a fifth aspect of the present invention, when resetting the sensor unit, the control unit outputs a reset command signal including a pair of an H level signal and an L level signal,
The reset detection circuit in the sensor unit includes a gate circuit. When the voltage of the resistor on the sensor unit side is the H level detection voltage of the gate circuit and the voltage on the control unit side is L level, or the voltage on the sensor unit side Is the L level detection voltage of the gate circuit, and when the voltage on the control unit side is H level, the reset circuit is operated.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】実施の形態の1.次に、本発明の
実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。図
1は本発明の第1の実施の形態を示す圧電式圧力センサ
ユニットの回路図である。圧電式圧力センサユニット1
は、一端が後記積分回路の第1の入力端子に接続され他
端が接地された水晶2、第1の入力端子が水晶2の一端
に接続され第2の入力端子が接地された積分回路3、積
分回路3をリセットするためのリセット回路4、アノー
ドが積分回路3の第1の入力端子に接続されカソードが
電源に接続されたドリフト低減用のダイオード5を備え
ている。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit according to a first embodiment of the present invention. Piezoelectric pressure sensor unit 1
Is a crystal 2 having one end connected to a first input terminal of an integration circuit described later and the other end grounded, and an integration circuit 3 having a first input terminal connected to one end of the crystal 2 and a second input terminal grounded. , A reset circuit 4 for resetting the integrating circuit 3, and a drift reducing diode 5 whose anode is connected to the first input terminal of the integrating circuit 3 and whose cathode is connected to the power supply.
【0009】積分回路3は、第1の入力端子が水晶2の
一端に接続され第2の入力端子が接地されたオペアンプ
21、オペアンプ21の第1の入力端子と出力端子との
間に設けられたコンデンサ22から構成されている。そ
して、リセット回路4は、ドレイン又はソースの一方が
オペアンプ21の第1の入力端子に接続されドレイン又
はソースの他方がオペアンプ21の出力端子に接続され
た電界効果トランジスタ(以下、FETとする)23、
エミッタが電源に接続されコレクタがFET23のゲー
トに接続されたPNPトランジスタ24、一端がトラン
ジスタ24のベースに接続された抵抗25、一端が電源
に接続され他端がトランジスタ24のベースに接続され
た抵抗26、一端がトランジスタ24のコレクタに接続
され他端が電源(負)に接続された抵抗27から構成さ
れている。The integrating circuit 3 has an operational amplifier 21 having a first input terminal connected to one end of the crystal 2 and a second input terminal grounded, and is provided between a first input terminal and an output terminal of the operational amplifier 21. And a condenser 22. The reset circuit 4 includes a field effect transistor (hereinafter, referred to as FET) 23 having one of a drain and a source connected to the first input terminal of the operational amplifier 21 and the other of a drain and a source connected to the output terminal of the operational amplifier 21. ,
A PNP transistor 24 having an emitter connected to the power supply and a collector connected to the gate of the FET 23, a resistor 25 having one end connected to the base of the transistor 24, and a resistor having one end connected to the power supply and the other end connected to the base of the transistor 24. 26, a resistor 27 having one end connected to the collector of the transistor 24 and the other end connected to a power supply (negative).
【0010】このような圧電式圧力センサユニット1で
は、印加圧力による歪みに応じて水晶2の両端に電荷が
生じる。積分回路3は、水晶2の両端に生じた電荷を電
圧に変換しセンサ出力信号SEN−OUTとして出力す
る。また、「L」レベルのリセット信号REが抵抗25
の他端に入力されると、トランジスタ24がオン状態と
なり、トランジスタ24のエミッタ−コレクタを介して
FET23のゲートにしきい値以上の電圧が印加され
る。これにより、FET23がオン状態となり、積分回
路3のコンデンサ22が強制放電される。こうして、積
分回路3がリセットされ、累積誤差がキャンセルされ
る。In such a piezoelectric pressure sensor unit 1, electric charges are generated at both ends of the quartz crystal 2 in accordance with the distortion caused by the applied pressure. The integrating circuit 3 converts the charges generated at both ends of the crystal 2 into a voltage and outputs the voltage as a sensor output signal SEN-OUT. Also, the “L” level reset signal RE is
, The transistor 24 is turned on, and a voltage higher than the threshold value is applied to the gate of the FET 23 via the emitter-collector of the transistor 24. As a result, the FET 23 is turned on, and the capacitor 22 of the integration circuit 3 is forcibly discharged. Thus, the integration circuit 3 is reset, and the accumulated error is cancelled.
【0011】以上のような圧電式圧力センサにおけるド
リフトの主な原因は、積分用コンデンサ22から流出す
るFET23の漏れ電流Ia及びコンデンサ22自身の
漏れ電流Ibの存在である。The main causes of the drift in the piezoelectric pressure sensor described above are the leakage current Ia of the FET 23 flowing out of the integrating capacitor 22 and the leakage current Ib of the capacitor 22 itself.
【0012】そこで、本実施の形態では、ドリフトの原
因となるセンサの全漏れ電流(Ia,Ib等の漏れ電流
の和)の特性に似通った漏れ電流特性を有するダイオー
ド5を選定し、このダイオード5をセンサの入力ライン
に図1のような逆バイアス状態で付加する。これによ
り、センサの漏れ電流と同じ大きさで、流れる向きが反
対の補正電流Icをダイオード5から供給する。こうし
て、補正電流Icでセンサの漏れ電流を打ち消すことに
より、見かけ上ドリフトを打ち消すことができ、ドリフ
トを簡易的に低減させることができる。Therefore, in the present embodiment, a diode 5 having a leakage current characteristic similar to the characteristic of the total leakage current (sum of leakage currents of Ia, Ib, etc.) of the sensor causing drift is selected. 5 is added to the input line of the sensor in a reverse bias state as shown in FIG. Thereby, the correction current Ic having the same magnitude as the leakage current of the sensor and flowing in the opposite direction is supplied from the diode 5. In this way, by canceling the sensor leakage current with the correction current Ic, apparent drift can be canceled, and the drift can be easily reduced.
【0013】実施の形態の2.図2は本発明の他の実施
の形態を示す圧電式圧力センサユニットの回路図であ
り、図1と同一の構成には同一の符号を付してある。補
正用ダイオードを1つ用いた実施の形態の1の回路では
補正電流が不足して補正しきれない場合、図2に示す圧
電式圧力センサユニット1aのように、補正用ダイオー
ド5−1〜5−nを複数使用する。ダイオード5−1〜
5−nの特性の和により、ドリフトの原因となるセンサ
の全漏れ電流の特性に合わせ込むことができ、見かけ上
ドリフトを打ち消すことができる。Embodiment 2 FIG. 2 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention, and the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. When the correction current cannot be corrected due to the shortage of the correction current in the circuit of one embodiment using one correction diode, the correction diodes 5-1 to 5-1 to 5-5 are used as in the piezoelectric pressure sensor unit 1a shown in FIG. Use multiple -n. Diodes 5-1 to 5-1
By the sum of the characteristics of 5-n, it is possible to match the characteristic of the total leakage current of the sensor which causes the drift, so that the drift can be apparently canceled.
【0014】実施の形態の3.図3は本発明の他の実施
の形態を示す圧電式圧力センサユニットの回路図であ
り、図1と同一の構成には同一の符号を付してある。補
正用ダイオードの複数使用でも補正しきれない場合、図
3に示す圧電式圧力センサユニット1bのように、リセ
ット回路4内のFET23のオフバイアスを調整するた
めのオフバイアス調整回路6、ダイオード5の逆バイア
スを調整するための逆バイアス調整回路7を付加する。Embodiment 3 FIG. 3 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention, and the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. If the correction cannot be completed even by using a plurality of correction diodes, the off-bias adjustment circuit 6 for adjusting the off-bias of the FET 23 in the reset circuit 4 and the diode 5 as in the piezoelectric pressure sensor unit 1b shown in FIG. A reverse bias adjustment circuit 7 for adjusting the reverse bias is added.
【0015】抵抗27の他端に接続されたオフバイアス
調整回路6は、出力電圧の調整によってFET23のオ
フバイアス値(オフ時のゲート電圧)を変更することが
可能で、これによりFET23の漏れ電流を変化させる
ことができる。ダイオード5のカソードに接続された逆
バイアス調整回路7は、出力電圧の調整によってダイオ
ード5の逆バイアス値を変更することが可能で、これに
よりダイオード5の漏れ電流を変化させることができ
る。The off-bias adjustment circuit 6 connected to the other end of the resistor 27 can change the off-bias value (gate voltage at the time of off) of the FET 23 by adjusting the output voltage. Can be changed. The reverse bias adjustment circuit 7 connected to the cathode of the diode 5 can change the reverse bias value of the diode 5 by adjusting the output voltage, thereby changing the leakage current of the diode 5.
【0016】こうして、FET23のオフバイアス値を
変更するか、補正用ダイオード5の逆バイアス値を変更
するか、あるいはその両方を変更することにより、ドリ
フトの原因となるセンサの全漏れ電流の特性に合わせ込
むことができ、見かけ上ドリフトを打ち消すことができ
る。In this manner, by changing the off-bias value of the FET 23, changing the reverse bias value of the correcting diode 5, or changing both of them, the characteristics of the total leakage current of the sensor causing drift may be reduced. They can be matched and apparently cancel the drift.
【0017】実施の形態の4.図4は本発明の他の実施
の形態を示す圧電式圧力センサユニットの回路図であ
り、図1と同一の構成には同一の符号を付してある。以
上の実施の形態では、補正用ダイオードの漏れ電流特性
に基本的に依存しているため、センサの全漏れ電流特性
のカーブに補正電流のカーブを精度よく合わせたり、温
度特性を改善したりする高精度なドリフト補正は困難で
ある。Embodiment 4 FIG. 4 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention, and the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. In the above embodiment, since the correction current curve basically depends on the leakage current characteristic of the correction diode, the curve of the correction current is accurately adjusted to the curve of the total leakage current characteristic of the sensor, or the temperature characteristic is improved. Highly accurate drift correction is difficult.
【0018】本実施の形態では、図4に示す圧電式圧力
センサユニット1cのように、実施の形態の3の回路に
温度検出回路8、制御回路9、EPROM等の記憶装置
10を付加している。記憶装置10には、各温度におけ
るFET23のオフバイアス値及びダイオード5の逆バ
イアス値が予め記憶されている。In the present embodiment, a temperature detecting circuit 8, a control circuit 9, and a storage device 10 such as an EPROM are added to the circuit of the third embodiment as in the piezoelectric pressure sensor unit 1c shown in FIG. I have. In the storage device 10, the off-bias value of the FET 23 and the reverse bias value of the diode 5 at each temperature are stored in advance.
【0019】制御回路9は、温度検出回路8によって検
出された現在の周囲温度に応じて、この温度に対応する
FET23のオフバイアス値及びダイオード5の逆バイ
アス値を記憶装置10から読み出す。そして、制御回路
9は、読み出したオフバイアス値をオフバイアス調整回
路6aに与え、逆バイアス値を逆バイアス調整回路7a
に与える。The control circuit 9 reads from the storage device 10 the off-bias value of the FET 23 and the reverse bias value of the diode 5 corresponding to the current ambient temperature detected by the temperature detection circuit 8. Then, the control circuit 9 supplies the read off-bias value to the off-bias adjustment circuit 6a, and outputs the reverse bias value to the reverse bias adjustment circuit 7a.
Give to.
【0020】オフバイアス調整回路6aは、出力電圧の
調整によってFET23のオフバイアス値を制御回路9
から入力された値に変更する。逆バイアス調整回路7a
は、出力電圧の調整によってダイオード5の逆バイアス
値を制御回路9から入力された値に変更する。以上の構
成により、周囲温度が変化してもドリフトを打ち消すこ
とができるので、より高精度なドリフト補正を行うこと
ができる。The off-bias adjusting circuit 6a controls the off-bias value of the FET 23 by adjusting the output voltage.
Change to the value entered from. Reverse bias adjustment circuit 7a
Changes the reverse bias value of the diode 5 to the value input from the control circuit 9 by adjusting the output voltage. With the above configuration, drift can be canceled even if the ambient temperature changes, so that more accurate drift correction can be performed.
【0021】実施の形態の5.図5は本発明の他の実施
の形態を示す圧電式圧力センサユニットの回路図であ
り、図1、図4と同一の構成には同一の符号を付してあ
る。本実施の形態では、図4の記憶装置10の代わり
に、OTP(one time programmable read onry memor
y)やEEPROM等の書き込み可能な不揮発性メモリ
である記憶装置10aを用いる。これにより、記憶装置
10aに記憶させる補正値の自動設定が可能となり、よ
り高精度なドリフト補正が可能となる。Embodiment 5 FIG. 5 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention, and the same components as those in FIGS. 1 and 4 are denoted by the same reference numerals. In the present embodiment, an OTP (one time programmable read only memory) is used instead of the storage device 10 of FIG.
y) or a storage device 10a which is a writable nonvolatile memory such as an EEPROM. This makes it possible to automatically set the correction value to be stored in the storage device 10a, and to perform more accurate drift correction.
【0022】まず、記憶装置10aへの補正値の設定
は、以下の手順で行われる。 (1)図示しない温度設定手段によって圧電式圧力セン
サユニット1dの周囲温度を設定する。 (2)図示しない圧力設定手段によって圧力センサユニ
ット1dの周囲圧力を設定する。 (3)圧力センサユニット1dの温度が設定された周囲
温度と等しくなるように所定の時間をおいた後、制御回
路9aにトリガ信号を与える。First, the setting of the correction value in the storage device 10a is performed according to the following procedure. (1) The ambient temperature of the piezoelectric pressure sensor unit 1d is set by temperature setting means (not shown). (2) The surrounding pressure of the pressure sensor unit 1d is set by pressure setting means (not shown). (3) After a predetermined time has passed so that the temperature of the pressure sensor unit 1d becomes equal to the set ambient temperature, a trigger signal is given to the control circuit 9a.
【0023】(4)トリガ信号を受けた制御回路9a
は、記憶装置10aに予め記憶された、設定周囲温度及
び設定周囲圧力における基準出力値よりセンサ出力信号
SEN−OUTが大きい場合、信号SEN−OUTが減
少するようにオフバイアス調整回路6a及び逆バイアス
調整回路7aを作動させる。 (5)また、制御回路9aは、上記基準出力値よりセン
サ出力信号SEN−OUTが小さい場合、信号SEN−
OUTが増加するようにオフバイアス調整回路6a及び
逆バイアス調整回路7aを作動させる。 (6)そして、制御回路9aは、上記基準出力値とセン
サ出力信号SEN−OUTが一致した場合、このときの
オフバイアス値と逆バイアス値を温度検出回路8による
検出温度と共に記憶装置10aに書き込む。(4) Control circuit 9a receiving trigger signal
When the sensor output signal SEN-OUT is larger than the reference output value at the set ambient temperature and the set ambient pressure stored in the storage device 10a in advance, the off-bias adjustment circuit 6a and the reverse bias adjustment circuit 6a reduce the signal SEN-OUT. The adjustment circuit 7a is operated. (5) When the sensor output signal SEN-OUT is smaller than the reference output value, the control circuit 9a outputs the signal SEN-OUT.
The off-bias adjustment circuit 6a and the reverse bias adjustment circuit 7a are operated so that OUT increases. (6) When the reference output value and the sensor output signal SEN-OUT match, the control circuit 9a writes the off-bias value and the reverse bias value at this time together with the temperature detected by the temperature detection circuit 8 to the storage device 10a. .
【0024】(7)上記の(2)〜(5)の動作を、使
用圧力範囲内で周囲圧力を変えながら数ポイント分繰り
返す。 (8)上記の(1)〜(7)の動作を、使用温度範囲内
で周囲温度を変えながら数ポイント分繰り返す。以上の
ような補正値の設定後、制御回路9aは、記憶装置10
aに記憶された補正値(オフバイアス値と逆バイアス
値)及び検出温度を基に、補正値の補間計算を行い、補
間計算後の補正値と温度を記憶装置10aに書き込む。(7) The above operations (2) to (5) are repeated for several points while changing the ambient pressure within the working pressure range. (8) The above operations (1) to (7) are repeated for several points while changing the ambient temperature within the operating temperature range. After setting the correction values as described above, the control circuit 9 a
Based on the correction values (off-bias value and reverse bias value) and the detected temperature stored in a, interpolation calculation of the correction value is performed, and the corrected correction value and temperature after the interpolation calculation are written in the storage device 10a.
【0025】実際のドリフト補正においては、制御回路
9aは、温度検出回路8によって検出された現在の周囲
温度に応じて、この温度に対応するFET23のオフバ
イアス値及びダイオード5の逆バイアス値を記憶装置1
0aから読み出し、読み出したオフバイアス値をオフバ
イアス調整回路6aに与え、逆バイアス値を逆バイアス
調整回路7aに与える。In the actual drift correction, the control circuit 9a stores the off-bias value of the FET 23 and the reverse bias value of the diode 5 corresponding to the current ambient temperature detected by the temperature detecting circuit 8 in accordance with the current ambient temperature. Apparatus 1
0a, the read off-bias value is applied to the off-bias adjustment circuit 6a, and the reverse bias value is applied to the reverse bias adjustment circuit 7a.
【0026】オフバイアス調整回路6aは、出力電圧の
調整によってFET23のオフバイアス値を制御回路9
aから入力された値に変更する。逆バイアス調整回路7
aは、出力電圧の調整によってダイオード5の逆バイア
ス値を制御回路9aから入力された値に変更する。The off-bias adjusting circuit 6a controls the off-bias value of the FET 23 by adjusting the output voltage.
Change to the value entered from a. Reverse bias adjustment circuit 7
“a” changes the reverse bias value of the diode 5 to the value input from the control circuit 9a by adjusting the output voltage.
【0027】以上のように本実施の形態では、記憶装置
10aへの補正値の設定を自動的に行うことができる。
通常、センサユニット1dに対して設定する周囲温度、
周囲圧力は前もって定められている。そこで、これらの
値と設定順序、そして設定周囲温度及び設定周囲圧力に
おける基準出力値(センサ出力信号SEN−OUTの真
値)を記憶装置10aに予め設定しておけば、各ポイン
トで周囲温度及び周囲圧力を設定し終わった時点でセン
サユニット1dにトリガ信号を与えることを繰り返すだ
けで、自動的に補正値の設定が行える。As described above, in this embodiment, the setting of the correction value in the storage device 10a can be automatically performed.
Normally, the ambient temperature set for the sensor unit 1d,
Ambient pressure is predetermined. Therefore, if these values, the setting order, and the reference output value (true value of the sensor output signal SEN-OUT) at the set ambient temperature and the set ambient pressure are preset in the storage device 10a, the ambient temperature and the When the setting of the ambient pressure is completed, the correction value can be automatically set only by repeatedly giving the trigger signal to the sensor unit 1d.
【0028】よって、複数の圧力センサユニットに対し
て同時に補正値設定を実施することができ、どんなに大
量の圧力センサユニットに対して設定を行う場合でも、
共通のトリガ信号1つを各圧力センサユニットに与える
だけで済む。また、大量の圧力センサユニットの設定を
同時に行えば、1ユニット当たりの補正値設定時間を短
縮することができる。これは、周囲圧力や周囲温度を変
更するのに必要な時間に比べて、補正値を記憶装置10
aに設定する時間は無視できる程短いので、10個のユ
ニットの補正値設定を10回繰り返して100個のユニ
ットの補正値設定を行っても、1000個のユニットの
補正値設定を10回繰り返して10000個のユニット
の補正値設定を行っても、所要時間はほとんど同じだか
らである。Therefore, the correction value can be set for a plurality of pressure sensor units at the same time, and no matter how many pressure sensor units are set,
It is only necessary to provide one common trigger signal to each pressure sensor unit. If a large number of pressure sensor units are set at the same time, the correction value setting time per unit can be reduced. This is because the correction value is stored in the storage device 10 as compared with the time required to change the ambient pressure and the ambient temperature.
Since the time set for a is negligibly short, even if the correction value setting for 10 units is repeated 10 times and the correction value setting for 100 units is performed, the correction value setting for 1000 units is repeated 10 times. This is because even if the correction values are set for 10,000 units, the required time is almost the same.
【0029】実施の形態の6.図6は本発明の他の実施
の形態となる圧電式圧力センサユニットを用いたABS
油圧検出システムのブロック図である。コントロールユ
ニット13は、圧電式圧力センサユニット1eから出力
されたセンサ出力信号SEN−OUTによりセンサユニ
ット1e(水晶2)に印加された圧力を検出し、この検
出圧力を基に各制御値を決定する。6. Embodiment 6 FIG. 6 shows an ABS using a piezoelectric pressure sensor unit according to another embodiment of the present invention.
It is a block diagram of a hydraulic pressure detection system. The control unit 13 detects the pressure applied to the sensor unit 1e (crystal 2) based on the sensor output signal SEN-OUT output from the piezoelectric pressure sensor unit 1e, and determines each control value based on the detected pressure. .
【0030】また、センサ出力信号SEN−OUTを受
けるMPU14の入力端子INに接続された信号線と、
リセット指令信号を出力するMPU14の出力端子OU
Tに接続された信号線は、一本化され圧力センサユニッ
ト1eとの接続に供される。圧力センサユニット1e内
では、コントロールユニット13と接続された上記信号
線にリセット検出用の抵抗11が直列に挿入されてい
る。リセット検出回路12は、抵抗11の両端の電圧を
それぞれ検出して、リセット回路4を作動させるべきか
否かを判定する。A signal line connected to the input terminal IN of the MPU 14 for receiving the sensor output signal SEN-OUT;
Output terminal OU of MPU 14 that outputs a reset command signal
The signal line connected to T is unified and provided for connection with the pressure sensor unit 1e. In the pressure sensor unit 1e, a reset detection resistor 11 is inserted in series with the signal line connected to the control unit 13. The reset detection circuit 12 detects the voltage across the resistor 11 and determines whether or not the reset circuit 4 should be operated.
【0031】コントロールユニット13は、通常、圧力
センサユニット1eからのセンサ出力信号SEN−OU
Tを受ける状態ではハイインピーダンスとなるため、抵
抗11にはほとんど電流は流れず、抵抗11の両端には
電位差も生じない。また、圧力センサユニット1eの出
力にはバッファ(オペアンプ21)が設けられているた
め、コントロールユニット13のリセット指令信号出力
による上記信号線のインピーダンス変化に対し、センサ
出力信号SEN−OUTのレベルはほとんど影響されな
い。The control unit 13 normally has a sensor output signal SEN-OU from the pressure sensor unit 1e.
Since the impedance becomes high in the state receiving T, almost no current flows through the resistor 11 and no potential difference occurs between both ends of the resistor 11. Further, since the output of the pressure sensor unit 1e is provided with a buffer (the operational amplifier 21), the level of the sensor output signal SEN-OUT almost changes with respect to the impedance change of the signal line due to the reset command signal output of the control unit 13. Not affected.
【0032】よって、コントロールユニット13は、リ
セット検出用抵抗11の追加の影響を受けることなく、
センサ出力信号SEN−OUTを受け取ることができ
る。そして、リセット検出回路12は、抵抗11の両端
の電圧のうち、センサユニット1e側の電圧(センサ出
力信号SEN−OUT)とコントロールユニット13側
の電圧MPU−OUTとを個別に検出でき、センサ出力
信号SEN−OUTとMPU14が出力したリセット指
令信号とを個別に検出できる。Therefore, the control unit 13 is not affected by the addition of the reset detection resistor 11,
The sensor output signal SEN-OUT can be received. Then, the reset detection circuit 12 can individually detect the voltage (sensor output signal SEN-OUT) on the sensor unit 1e side and the voltage MPU-OUT on the control unit 13 side among the voltages at both ends of the resistor 11, and output the sensor output. The signal SEN-OUT and the reset command signal output by the MPU 14 can be individually detected.
【0033】ここで、抵抗11のセンサユニット1e側
の電圧SEN−OUTが取り得る値は、以下の6つに分
類される。 (a)SEN−OUT<(1/5)VDD (b)(1/5)VDD≦SEN−OUT≦VIL (c)VIL<SEN−OUT<VIH ただし、各ゲートが「L」レベル検出をしている場合 (d)VIL<SEN−OUT<VIH ただし、各ゲートが「H」レベル検出をしている場合 (e)VIH≦SEN−OUT≦(4/5)VDD (f)SEN−OUT>(4/5)VDDHere, the possible values of the voltage SEN-OUT of the resistor 11 on the sensor unit 1e side are classified into the following six. (A) SEN-OUT <(1/5) VDD (b) (1/5) VDD ≦ SEN-OUT ≦ VIL (c) VIL <SEN-OUT <VIH However, each gate detects “L” level. (D) VIL <SEN-OUT <VIH However, when each gate detects "H" level. (E) VIH≤SEN-OUT≤ (4/5) VDD (f) SEN-OUT> (4/5) VDD
【0034】ただし、VDDは電源電圧である。また、
VILは各ゲートが「L」レベル入力と認識する最大値で
ある。よって、これ以下の電圧を印加すれば、入力電圧
が「L」レベルであることが保証される。同様に、VIH
は各ゲートが「H」レベル入力と認識する最小値であ
る。よって、これ以上の電圧を印加すれば、入力電圧が
「H」レベルであることが保証される。VILHは約0.
3VDD付近の電圧で、VIHは0.7VDD付近の電圧
である。Here, VDD is a power supply voltage. Also,
VIL is the maximum value that each gate recognizes as an "L" level input. Therefore, if a voltage lower than this is applied, it is guaranteed that the input voltage is at the “L” level. Similarly, VIH
Is the minimum value that each gate recognizes as an "H" level input. Therefore, if a voltage higher than this is applied, it is guaranteed that the input voltage is at the “H” level. VILH is about 0.
At a voltage near 3 VDD, VIH is a voltage near 0.7 VDD.
【0035】また、抵抗11のコントロールユニット1
3側の電圧MPU−OUTが取り得る値は、MPU14
からのリセット指令信号の出力の有無にかかわらず、以
下の3つに分類される。 (g)MPU−OUT<(1/5)VDD (h)(1/5)VDD≦MPU−OUT≦(4/5)
VDD (i)MPU−OUT>(4/5)VDDThe control unit 1 of the resistor 11
The value that the voltage MPU-OUT on the third side can take is MPU14
Irrespective of the presence or absence of the output of the reset command signal from the CPU, it is classified into the following three. (G) MPU-OUT <(1/5) VDD (h) (1/5) VDD ≦ MPU-OUT ≦ (4/5)
VDD (i) MPU-OUT> (4/5) VDD
【0036】したがって、抵抗11のセンサユニット1
e側の電圧SEN−OUTとコントロールユニット13
側の電圧MPU−OUTの組み合わせは、6×3=18
通り考えられるが、リセット検出回路12がリセット入
力と判定して、「L」レベルのリセット信号REを出力
するのは、下記の条件を満足した場合である。Therefore, the sensor unit 1 of the resistor 11
e-side voltage SEN-OUT and control unit 13
The combination of the side voltage MPU-OUT is 6 × 3 = 18
As described above, the reset detection circuit 12 determines that the input is the reset input and outputs the “L” level reset signal RE when the following condition is satisfied.
【0037】(イ)リセット検出用抵抗11のセンサユ
ニット1e側の電圧SEN−OUTがゲートICの
「H」レベル検出電圧以上で、コントロールユニット1
3側の電圧MPU−OUTが(1/5)VDD以下 (ロ)リセット検出用抵抗11のセンサユニット1e側
の電圧SEN−OUTがゲートICの「L」レベル検出
電圧以下で、コントロールユニット13側の電圧MPU
−OUTが(4/5)VDD以上(A) When the voltage SEN-OUT of the reset detection resistor 11 on the sensor unit 1e side is equal to or higher than the "H" level detection voltage of the gate IC, the control unit 1
The voltage MPU-OUT on the third side is equal to or less than (1/5) VDD. (B) The voltage SEN-OUT on the sensor unit 1e side of the reset detection resistor 11 is equal to or less than the "L" level detection voltage of the gate IC, and the control unit 13 side Voltage MPU
-OUT is more than (4/5) VDD
【0038】つまり、18通りの組み合わせのうち、リ
セット検出回路12がリセット入力と判定して、「L」
レベルのリセット信号REを出力するのは、条件(イ)
を満足する組み合わせとして、電圧SEN−OUTが条
件(d)で、電圧MPU−OUTが条件(g)の場合、
電圧SEN−OUTが条件(e)で、電圧MPU−OU
Tが条件(g)の場合、電圧SEN−OUTが条件
(f)で、電圧MPU−OUTが条件(g)の場合があ
る。That is, out of the 18 combinations, the reset detection circuit 12 determines that the input is a reset input,
The output of the reset signal RE of the level is based on the condition (a).
When the voltage SEN-OUT is the condition (d) and the voltage MPU-OUT is the condition (g),
If the voltage SEN-OUT is the condition (e) and the voltage MPU-OU
When T is the condition (g), the voltage SEN-OUT may be the condition (f) and the voltage MPU-OUT may be the condition (g).
【0039】また、条件(ロ)を満足する組み合わせと
して、電圧SEN−OUTが条件(a)で、電圧MPU
−OUTが条件(i)の場合、電圧SEN−OUTが条
件(b)で、電圧MPU−OUTが条件(i)の場合、
電圧SEN−OUTが条件(c)で、電圧MPU−OU
Tが(i)の場合がある。残りの12通りの組み合わせ
は、全てリセットと検出されない。As a combination that satisfies the condition (b), the voltage SEN-OUT is the condition (a) and the voltage MPU
When −OUT is the condition (i), the voltage SEN-OUT is the condition (b), and when the voltage MPU-OUT is the condition (i),
When the voltage SEN-OUT is the condition (c), the voltage MPU-OU
T may be (i). All the remaining twelve combinations are not detected as reset.
【0040】以上のような動作を実現するリセット検出
回路12の回路図を図7に示す。リセット検出回路12
は、反転入力端子に抵抗11のコントロールユニット1
3側の電圧MPU−OUTが入力されるコンパレータ3
1、非反転入力端子に電圧MPU−OUTが入力される
コンパレータ32、抵抗11のセンサユニット1e側の
電圧SEN−OUTを論理反転させるインバータゲート
33、コンパレータ31の出力と電圧SEN−OUTの
否定論理積をとるNANDゲート34、コンパレータ3
2の出力とインバータゲート33の出力の否定論理積を
とるNANDゲート35、NANDゲート34の出力と
NANDゲート35の出力の論理積をとるANDゲート
36、一端が電源に接続され他端がコンパレータ32の
反転入力端子に接続された抵抗37、一端がコンパレー
タ32の反転入力端子に接続され他端がコンパレータ3
1の非反転入力端子に接続された抵抗38、一端がコン
パレータ31の非反転入力端子に接続され他端が接地さ
れた抵抗39、一端が電源に接続され他端がコンパレー
タ32の出力に接続された抵抗40、一端が電源に接続
され他端がコンパレータ31の出力に接続された抵抗4
1から構成されている。FIG. 7 is a circuit diagram of the reset detection circuit 12 for realizing the above operation. Reset detection circuit 12
Is the control unit 1 with the resistor 11 connected to the inverting input terminal.
Comparator 3 to which voltage MPU-OUT on the 3 side is input
1, a comparator 32 in which the voltage MPU-OUT is input to the non-inverting input terminal, an inverter gate 33 for inverting the logic of the voltage SEN-OUT on the sensor unit 1e side of the resistor 11, a negative logic of the output of the comparator 31 and the voltage SEN-OUT NAND gate 34 for taking product, comparator 3
2 and the output of the inverter gate 33, a NAND gate 35, the AND gate 36 of the output of the NAND gate 34 and the output of the NAND gate 35, and one end connected to the power supply and the other end connected to the comparator 32 The resistor 37 is connected to the inverting input terminal of the comparator 32, one end is connected to the inverting input terminal of the comparator 32, and the other end is connected to the comparator 3.
1 is connected to the non-inverting input terminal, one end is connected to the non-inverting input terminal of the comparator 31, and the other end is grounded. The other end is connected to the power supply, and the other end is connected to the output of the comparator 32. A resistor 40 having one end connected to the power supply and the other end connected to the output of the comparator 31.
1 is comprised.
【0041】そして、コンパレータ31の非反転入力端
子の電圧V31は、(1/5)VDDに設定され、コンパ
レータ32の反転入力端子の電圧V32は、(4/5)V
DDに設定されている。The voltage V31 at the non-inverting input terminal of the comparator 31 is set to (1/5) VDD, and the voltage V32 at the inverting input terminal of the comparator 32 is set to (4/5) V
DD is set.
【0042】次に、リセット検出回路12の動作を説明
する。条件(イ)を満足した場合、抵抗11のコントロ
ールユニット13側の電圧MPU−OUTが(1/5)
VDD以下なので、コンパレータ31の出力は「H」レ
ベル、コンパレータ32の出力は「L」レベルとなる。
よって、NANDゲート34の第1の入力端子への入力
は「H」レベル、NANDゲート35の第1の入力端子
への入力は「L」レベルとなる。Next, the operation of the reset detection circuit 12 will be described. When the condition (A) is satisfied, the voltage MPU-OUT of the resistor 11 on the control unit 13 side becomes (1 /)
Since it is equal to or lower than VDD, the output of the comparator 31 becomes “H” level and the output of the comparator 32 becomes “L” level.
Therefore, the input to the first input terminal of the NAND gate 34 becomes “H” level, and the input to the first input terminal of the NAND gate 35 becomes “L” level.
【0043】また、条件(イ)を満足した場合、抵抗1
1のセンサユニット1e側の電圧SEN−OUTがゲー
トICの「H」レベル検出電圧以上なので、NANDゲ
ート34の第2の入力端子への入力は「H」レベル、N
ANDゲート35の第2の入力端子への入力はインバー
タゲート33によって論理反転されることにより「L」
レベルとなる。よって、NANDゲート34の出力は
「L」レベル、NANDゲート35の出力は「H」レベ
ルとなるので、ANDゲート36は、「L」レベルのリ
セット信号REを出力する。こうして、リセット回路4
が作動し、積分回路3がリセットされる。When the condition (a) is satisfied, the resistance 1
Since the voltage SEN-OUT on the sensor unit 1e side is equal to or higher than the “H” level detection voltage of the gate IC, the input to the second input terminal of the NAND gate 34 is “H” level, N
The input to the second input terminal of the AND gate 35 is “L” by being logically inverted by the inverter gate 33.
Level. Therefore, the output of NAND gate 34 is at "L" level and the output of NAND gate 35 is at "H" level, and AND gate 36 outputs "L" level reset signal RE. Thus, the reset circuit 4
Operates, and the integration circuit 3 is reset.
【0044】条件(ロ)を満足した場合、抵抗11のコ
ントロールユニット13側の電圧MPU−OUTが(4
/5)VDD以上なので、コンパレータ31の出力は
「L」レベル、コンパレータ32の出力は「H」レベル
となる。よって、NANDゲート34の第1の入力端子
への入力は「L」レベル、NANDゲート35の第1の
入力端子への入力は「H」レベルとなる。When the condition (b) is satisfied, the voltage MPU-OUT on the control unit 13 side of the resistor 11 becomes (4)
/ 5) Since it is equal to or higher than VDD, the output of the comparator 31 becomes “L” level and the output of the comparator 32 becomes “H” level. Therefore, the input to the first input terminal of the NAND gate 34 is at “L” level, and the input to the first input terminal of the NAND gate 35 is at “H” level.
【0045】また、条件(ロ)を満足した場合、抵抗1
1のセンサユニット1e側の電圧SEN−OUTがゲー
トICの「L」レベル検出電圧以下なので、NANDゲ
ート34の第2の入力端子への入力は「L」レベル、N
ANDゲート35の第2の入力端子への入力はインバー
タゲート33によって論理反転されることにより「H」
レベルとなる。よって、NANDゲート34の出力は
「H」レベル、NANDゲート35の出力は「L」レベ
ルとなるので、ANDゲート36は、「L」レベルのリ
セット信号REを出力する。こうして、リセット回路4
が作動し、積分回路3がリセットされる。When the condition (b) is satisfied, the resistance 1
Since the voltage SEN-OUT of the first sensor unit 1e is equal to or lower than the “L” level detection voltage of the gate IC, the input to the second input terminal of the NAND gate 34 is “L” level, N
The input to the second input terminal of the AND gate 35 is “H” by being logically inverted by the inverter gate 33.
Level. Therefore, the output of NAND gate 34 is at "H" level and the output of NAND gate 35 is at "L" level, and AND gate 36 outputs "L" level reset signal RE. Thus, the reset circuit 4
Operates, and the integration circuit 3 is reset.
【0046】上記以外の条件に対しては、ANDゲート
36の出力は「H」レベルとなり、センサユニット1e
はリセットされない。また、センサ出力信号SEN−O
UTのレペルがゲートICのしきい値付近では、NAN
Dゲート34の第2入力端子、インバータゲート33の
入力端子の値が不確定となるが、このときのコンパレー
タ31,32の出力は共に「L」レベルとなるので、N
ANDゲート34の第1入力端子及びNANDゲート3
5の第1入力端子の値が「L」レベルである。よって、
NANDゲート34の第2入力端子、インバータゲート
33の入力端子の値にかかわらず、ANDゲート36の
出力は「H」となり、センサユニット1eはリセットさ
れない。Under the conditions other than the above, the output of the AND gate 36 becomes "H" level and the sensor unit 1e
Is not reset. Also, the sensor output signal SEN-O
When the UT level is near the threshold of the gate IC, NAN
Although the value of the second input terminal of the D gate 34 and the value of the input terminal of the inverter gate 33 become uncertain, the outputs of the comparators 31 and 32 at this time both become "L" level.
First input terminal of AND gate 34 and NAND gate 3
5, the value of the first input terminal is at the “L” level. Therefore,
Regardless of the value of the second input terminal of the NAND gate 34 and the value of the input terminal of the inverter gate 33, the output of the AND gate 36 becomes "H" and the sensor unit 1e is not reset.
【0047】図8はリセット検出用抵抗11の両端の電
圧のうち、コントロールユニット13側の電圧MPU−
OUTの波形を示す図である。コントロールユニット1
3側の電圧MPU−OUTは、MPU14がリセット指
令信号を出力していないとき(図8のセンサ入力期
間)、センサ出力信号SEN−OUTのレベルとなり、
MPU14が出力端子OUTからリセット指令信号を出
力しているとき、リセット指令信号のレベルとなる。FIG. 8 shows the voltage MPU- on the control unit 13 side among the voltages across the reset detection resistor 11.
It is a figure showing a waveform of OUT. Control unit 1
The voltage MPU-OUT on the third side becomes the level of the sensor output signal SEN-OUT when the MPU 14 does not output the reset command signal (the sensor input period in FIG. 8),
When the MPU 14 is outputting a reset command signal from the output terminal OUT, the level becomes the level of the reset command signal.
【0048】ここで、MPU14は、センサユニット1
eをリセットするとき、図8に示すように、「H」レベ
ル((4/5)VDD以上)の信号と「L」レベル
((1/5)VDD以下)の信号を1組とするリセット
指令信号を出力する。このようなリセット指令信号がM
PU14から出力されると、上述の条件(イ)又は
(ロ)の何れかが成立するので、これによりセンサユニ
ット1eのリセットが実施される。Here, the MPU 14 includes the sensor unit 1
When resetting e, as shown in FIG. 8, a reset is performed in which a signal of an "H" level ((4/5) VDD or more) and a signal of an "L" level ((1/5) VDD or less) are paired. Outputs command signal. Such a reset command signal is M
When output from the PU 14, either of the above conditions (a) or (b) is satisfied, whereby the sensor unit 1e is reset.
【0049】以上のように、コントロールユニット13
から出力するリセット指令信号を「H」レベルの信号と
「L」レベルの信号を1組とする信号とし、リセット検
出回路12をゲート回路によって構成して、ゲート回路
のしきい値を利用することにより、コントロールユニッ
ト13及びリセット検出回路12の構成を複雑にするこ
となく、センサユニット1eとコントロールユニット1
3間の信号線の数を削減できる。As described above, the control unit 13
The reset command signal output from the controller is a signal that is a set of an "H" level signal and an "L" level signal, and the reset detection circuit 12 is configured by a gate circuit to use the threshold value of the gate circuit. Thereby, without complicating the configuration of the control unit 13 and the reset detection circuit 12, the sensor unit 1e and the control unit 1
The number of signal lines between the three can be reduced.
【0050】本実施の形態のようなリセット検出回路1
2を使用せずにセンサユニット1eとコントロールユニ
ット13間の信号線の数を削減するには、時分割多重、
AM変調、FM変調、パルス変調等の技術によって、1
つの信号線に2つの信号を多重することが必要になる。
しかし、このような技術では、リセット検出回路12及
びコントロールユニット13の構成が複雑になる。Reset detection circuit 1 according to this embodiment
To reduce the number of signal lines between the sensor unit 1e and the control unit 13 without using the
Using techniques such as AM modulation, FM modulation, and pulse modulation,
It is necessary to multiplex two signals on one signal line.
However, in such a technique, the configurations of the reset detection circuit 12 and the control unit 13 are complicated.
【0051】なお、本実施の形態では、コントロールユ
ニット13と組み合わせるセンサユニットの1例とし
て、実施の形態の1のセンサユニットを用いているが、
その他のセンサユニットを用いてもよいことは言うまで
もない。また、圧力センサユニットを組み込むシステム
は、ABS油圧検出システムに限らないことは言うまで
もない。In this embodiment, the sensor unit according to the first embodiment is used as an example of the sensor unit combined with the control unit 13.
It goes without saying that other sensor units may be used. Needless to say, the system incorporating the pressure sensor unit is not limited to the ABS oil pressure detection system.
【0052】[0052]
【発明の効果】本発明によれば、請求項1に記載のよう
に、圧電素子と積分回路の入力端子との接続点に逆バイ
アス状態のダイオードを設けることにより、ドリフトの
原因となるセンサの漏れ電流と同じ大きさで、流れる向
きが反対の補正電流をダイオードから供給するので、補
正電流でセンサの漏れ電流を打ち消すことができ、見か
け上ドリフトを打ち消すことができる。その結果、圧力
センサのドリフト補正を安価に実現できる。According to the present invention, by providing a diode in a reverse bias state at the connection point between the piezoelectric element and the input terminal of the integration circuit as described in claim 1, the sensor which causes drift may be provided. Since a correction current having the same magnitude as the leakage current and flowing in the opposite direction is supplied from the diode, the leakage current of the sensor can be canceled by the correction current, and apparent drift can be canceled. As a result, drift correction of the pressure sensor can be realized at low cost.
【0053】また、請求項2に記載のように、オフバイ
アス調整回路及び逆バイアス調整回路を設けることによ
り、リセット回路内のトランジスタのオフバイアス値を
変更するか、ダイオードの逆バイアス値を変更するか、
あるいはその両方を変更して、ドリフトの原因となるセ
ンサの漏れ電流の特性に合わせ込むことができ、より高
精度なドリフト補正を実現できる。また、圧力センサ自
体の個々のばらつきを補正できるので、部品精度や造り
込み精度を簡略化でき、圧力センサの部品特性でドリフ
ト低減を行うよりも安価に実現できる。Further, by providing an off-bias adjustment circuit and a reverse bias adjustment circuit, the off-bias value of the transistor in the reset circuit or the reverse bias value of the diode is changed. Or
Alternatively, both of them can be changed to match the characteristics of the leakage current of the sensor that causes the drift, and more accurate drift correction can be realized. In addition, since the individual variations of the pressure sensor itself can be corrected, the accuracy of the components and the accuracy of the fabrication can be simplified, and the cost can be realized at a lower cost than when the drift is reduced by the component characteristics of the pressure sensor.
【0054】また、請求項3に記載のように、温度検出
回路、記憶装置及び制御回路を設けることにより、周囲
温度が変化しても圧力センサのドリフトを打ち消すこと
ができるので、更に高精度なドリフト補正を安価に実現
できる。また、圧力センサ自体の個々のばらつきを補正
できるので、部品精度や造り込み精度を簡略化でき、圧
力センサの部品特性でドリフト低減を行うよりも安価に
実現できる。また、記憶装置に書き込み可能なタイプを
用いれば、記憶装置への補正値(オフバイアス値及び逆
バイアス値)設定を自動化することもでき、複数の圧力
センサに対して同時に補正値設定を実施することもでき
る。Further, by providing the temperature detection circuit, the storage device, and the control circuit as described in claim 3, the drift of the pressure sensor can be canceled even if the ambient temperature changes. Drift correction can be realized at low cost. In addition, since the individual variations of the pressure sensor itself can be corrected, the accuracy of the components and the accuracy of the fabrication can be simplified, and the cost can be realized at a lower cost than when the drift is reduced by the component characteristics of the pressure sensor. Further, if a type that can be written to the storage device is used, the correction value (off-bias value and reverse bias value) setting for the storage device can be automated, and the correction value setting is performed simultaneously for a plurality of pressure sensors. You can also.
【0055】また、請求項4に記載のように、センサ出
力信号受け渡し用の信号線とリセット指令信号受け渡し
用の信号線を共通化し、センサユニットに抵抗及びリセ
ット検出回路を設けることにより、センサユニットとコ
ントロールユニット間の信号線の数を削減できる。その
結果、信号線、コネクタ極数の削減により、ケースの小
型化が可能となり、アクチュエータ内部への実装が容易
となる。According to a fourth aspect of the present invention, a signal line for transferring a sensor output signal and a signal line for transferring a reset command signal are shared, and a resistor and a reset detecting circuit are provided in the sensor unit. The number of signal lines between the control unit and the control unit can be reduced. As a result, the number of signal lines and the number of connector poles is reduced, so that the case can be reduced in size and mounting inside the actuator becomes easy.
【0056】また、請求項5に記載のように、リセット
指令信号をHレベルの信号とLレベルの信号を1組とす
る信号とし、リセット検出回路をゲート回路から構成す
ることにより、リセット指令信号を出力するコントロー
ルユニット及びリセット検出回路の構成を複雑にするこ
となく、センサユニットとコントロールユニット間の信
号線の数を削減できる。また、センサ出力信号に対して
異なる判定基準を設けることにより、いかなるセンサ出
力信号レベルに対しても、リセット指令信号の検出が可
能となる。According to a fifth aspect of the present invention, the reset command signal is a signal in which the H-level signal and the L-level signal are paired, and the reset detection circuit is constituted by a gate circuit. The number of signal lines between the sensor unit and the control unit can be reduced without complicating the configurations of the control unit that outputs the signal and the reset detection circuit. Further, by providing different criteria for the sensor output signal, the reset command signal can be detected for any sensor output signal level.
【図1】 本発明の第1の実施の形態を示す圧電式圧力
センサユニットの回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit according to a first embodiment of the present invention.
【図2】 本発明の他の実施の形態を示す圧電式圧力セ
ンサユニットの回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention.
【図3】 本発明の他の実施の形態を示す圧電式圧力セ
ンサユニットの回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention.
【図4】 本発明の他の実施の形態を示す圧電式圧力セ
ンサユニットの回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention.
【図5】 本発明の他の実施の形態を示す圧電式圧力セ
ンサユニットの回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of a piezoelectric pressure sensor unit showing another embodiment of the present invention.
【図6】 本発明の他の実施の形態となる圧電式圧力セ
ンサユニットを使用したABS油圧検出システムのブロ
ック図である。FIG. 6 is a block diagram of an ABS oil pressure detection system using a piezoelectric pressure sensor unit according to another embodiment of the present invention.
【図7】 リセット検出回路の回路図である。FIG. 7 is a circuit diagram of a reset detection circuit.
【図8】 リセット検出用抵抗の両端の電圧のうちコン
トロールユニット側の電圧波形を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a voltage waveform on a control unit side among voltages at both ends of a reset detection resistor.
【図9】 従来の圧電式圧力センサユニットの回路図で
ある。FIG. 9 is a circuit diagram of a conventional piezoelectric pressure sensor unit.
【図10】 図9の圧電式圧力センサユニットを使用し
た従来のABS油圧検出システムのブロック図である。10 is a block diagram of a conventional ABS oil pressure detection system using the piezoelectric pressure sensor unit of FIG.
1、1a、1b、1c、1d、1e…圧電式圧力センサ
ユニット、2…水晶、3…積分回路、4…リセット回
路、5、5−1、5−2…ダイオード、6、6a…オフ
バイアス調整回路、7、7a…逆バイアス調整回路、8
…温度検出回路、9、9a…制御回路、10、10a…
記憶装置、11…抵抗、12…リセット検出回路、13
…コントロールユニット、14…MPU。1, 1a, 1b, 1c, 1d, 1e: Piezoelectric pressure sensor unit, 2: Crystal, 3: Integration circuit, 4, Reset circuit, 5, 5-1, 5-2: Diode, 6, 6a: Off bias Adjustment circuit, 7, 7a ... reverse bias adjustment circuit, 8
... Temperature detection circuit, 9, 9a ... Control circuit, 10, 10a ...
Storage device, 11: resistor, 12: reset detection circuit, 13
... Control unit, 14 ... MPU.
Claims (5)
する圧電素子と、 圧電素子の両端に生じた電荷を電圧に変換する積分回路
と、 積分回路をリセットするリセット回路と、 前記圧電素子と積分回路の入力端子との接続点に付加さ
れた逆バイアス状態のダイオードとを有することを特徴
とする圧力センサのドリフト低減回路。A piezoelectric element that generates an electric charge in response to a strain caused by an applied pressure; an integration circuit that converts an electric charge generated at both ends of the piezoelectric element into a voltage; a reset circuit that resets the integration circuit; A diode in a reverse bias state added to a connection point between the input terminal of the integration circuit and the input terminal of the integration circuit.
減回路において、 前記リセット回路内のトランジスタのオフバイアスを調
整するためのオフバイアス調整回路と、 前記ダイオードの逆バイアスを調整するための逆バイア
ス調整回路とを有することを特徴とする圧力センサのド
リフト低減回路。2. The drift reduction circuit for a pressure sensor according to claim 1, wherein an off-bias adjustment circuit for adjusting an off-bias of a transistor in the reset circuit, and a reverse bias for adjusting a reverse bias of the diode. A drift reduction circuit for a pressure sensor, comprising: an adjustment circuit.
減回路において、 周囲温度を検出する温度検出回路と、 各温度における前記トランジスタのオフバイアス値及び
ダイオードの逆バイアス値を記憶している記憶装置と、 前記温度検出回路によって検出された現在の周囲温度に
応じて、この温度に対応するオフバイアス値及び逆バイ
アス値を記憶装置から読み出し、前記オフバイアス調整
回路及び逆バイアス調整回路を制御する制御回路とを有
することを特徴とする圧力センサのドリフト低減回路。3. The drift reduction circuit for a pressure sensor according to claim 2, wherein a temperature detection circuit for detecting an ambient temperature, and a storage device for storing an off-bias value of the transistor and a reverse bias value of the diode at each temperature. Reading the off-bias value and the reverse bias value corresponding to the current ambient temperature from the storage device in accordance with the current ambient temperature detected by the temperature detection circuit, and controlling the off-bias adjustment circuit and the reverse bias adjustment circuit And a circuit for reducing the drift of the pressure sensor.
する圧電素子、圧電素子の両端に生じた電荷を電圧に変
換する積分回路、及び積分回路をリセットするリセット
回路からなるセンサユニットと、センサユニットからの
センサ出力信号を受けると共にセンサユニットに対して
リセット指令信号を出力するコントロールユニットとを
備えたシステムにおいて、 前記コントロールユニットは、センサユニットからのセ
ンサ出力信号を受ける信号線とリセット指令信号を出力
する信号線を共通化し、この信号線によりセンサユニッ
トとの接続を行うものであり、 前記センサユニットは、前記信号線に直列に挿入された
抵抗と、この抵抗の両端の電圧をそれぞれ検出してリセ
ット回路を作動させるべきか否かを判定するリセット検
出回路とを有するものであることを特徴とする圧力セン
サのリセット方式。4. A sensor unit comprising: a piezoelectric element that generates an electric charge in response to a strain caused by an applied pressure; an integrating circuit that converts electric charges generated at both ends of the piezoelectric element into a voltage; a reset circuit that resets the integrating circuit; A control unit that receives a sensor output signal from the unit and outputs a reset command signal to the sensor unit, wherein the control unit includes a signal line that receives the sensor output signal from the sensor unit and a reset command signal. The output signal line is shared, and the signal line is used to connect to the sensor unit. The sensor unit detects a resistor inserted in series with the signal line, and detects a voltage across the resistor. And a reset detection circuit for determining whether to activate the reset circuit. Reset method of the pressure sensor, characterized in that.
式において、 前記コントロールユニットは、センサユニットをリセッ
トするとき、Hレベルの信号とLレベルの信号を1組と
するリセット指令信号を出力するものであり、前記セン
サユニット内のリセット検出回路は、ゲート回路からな
り、前記抵抗のセンサユニット側の電圧がゲート回路の
Hレベル検出電圧で、コントロールユニット側の電圧が
Lレベルの場合、あるいはセンサユニット側の電圧がゲ
ート回路のLレベル検出電圧で、コントロールユニット
側の電圧がHレベルの場合、前記リセット回路を作動さ
せるものであることを特徴とする圧力センサのリセット
方式。5. The pressure sensor reset method according to claim 4, wherein the control unit outputs a reset command signal having a pair of an H level signal and an L level signal when resetting the sensor unit. The reset detection circuit in the sensor unit includes a gate circuit, and when the voltage of the resistor on the sensor unit side is the H level detection voltage of the gate circuit and the voltage on the control unit side is the L level, A reset circuit for activating the reset circuit when the voltage on the side is an L level detection voltage of a gate circuit and the voltage on the control unit is at an H level.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31330797A JPH11148878A (en) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | Drift reduction circuit of pressure sensor and reset system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31330797A JPH11148878A (en) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | Drift reduction circuit of pressure sensor and reset system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11148878A true JPH11148878A (en) | 1999-06-02 |
Family
ID=18039652
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31330797A Pending JPH11148878A (en) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | Drift reduction circuit of pressure sensor and reset system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11148878A (en) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004289278A (en) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Fuji Heavy Ind Ltd | Charge signal conversion amplifier |
| JP2009058290A (en) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Showa Sokki Corp | Charge amplifier, charge amplifier device, and bias current compensation method |
| JP2015087283A (en) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | セイコーエプソン株式会社 | Force detection device, robot, electronic component transport device, electronic component inspection device, and component processing device |
| US9381647B2 (en) | 2013-02-19 | 2016-07-05 | Seiko Epson Corporation | Force detection device, robot, and moving object |
| WO2016199626A1 (en) * | 2015-06-11 | 2016-12-15 | 株式会社村田製作所 | Pressing sensor and electronic device |
| JPWO2017164183A1 (en) * | 2016-03-24 | 2019-01-31 | シチズンファインデバイス株式会社 | Piezoelectric sensor |
| CN113395049A (en) * | 2020-03-12 | 2021-09-14 | 精工爱普生株式会社 | Charge amplifier, force sensor, and robot |
| US11268866B2 (en) | 2019-06-28 | 2022-03-08 | Seiko Epson Corporation | Charge amplifier, force sensor, and robot |
| CN117889995A (en) * | 2024-03-15 | 2024-04-16 | 杭州微纳核芯电子科技有限公司 | Piezoelectric sensor control method, circuit, piezoelectric sensing system and electronic cigarette |
-
1997
- 1997-11-14 JP JP31330797A patent/JPH11148878A/en active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004289278A (en) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Fuji Heavy Ind Ltd | Charge signal conversion amplifier |
| JP2009058290A (en) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Showa Sokki Corp | Charge amplifier, charge amplifier device, and bias current compensation method |
| US9873201B2 (en) | 2013-02-19 | 2018-01-23 | Seiko Epson Corporation | Force detection device, robot, and moving object |
| US9381647B2 (en) | 2013-02-19 | 2016-07-05 | Seiko Epson Corporation | Force detection device, robot, and moving object |
| JP2015087283A (en) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | セイコーエプソン株式会社 | Force detection device, robot, electronic component transport device, electronic component inspection device, and component processing device |
| US10352786B2 (en) | 2015-06-11 | 2019-07-16 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Pressing sensor and electronic device |
| JPWO2016199626A1 (en) * | 2015-06-11 | 2018-03-15 | 株式会社村田製作所 | Press sensor and electronic device |
| WO2016199626A1 (en) * | 2015-06-11 | 2016-12-15 | 株式会社村田製作所 | Pressing sensor and electronic device |
| JPWO2017164183A1 (en) * | 2016-03-24 | 2019-01-31 | シチズンファインデバイス株式会社 | Piezoelectric sensor |
| US11506555B2 (en) | 2016-03-24 | 2022-11-22 | Citizen Finedevice Co., Ltd. | Piezoelectric sensor |
| US11268866B2 (en) | 2019-06-28 | 2022-03-08 | Seiko Epson Corporation | Charge amplifier, force sensor, and robot |
| CN113395049A (en) * | 2020-03-12 | 2021-09-14 | 精工爱普生株式会社 | Charge amplifier, force sensor, and robot |
| CN113395049B (en) * | 2020-03-12 | 2024-04-16 | 精工爱普生株式会社 | Charge amplifier, force sensor and robot |
| US11979124B2 (en) | 2020-03-12 | 2024-05-07 | Seiko Epson Corporation | Charge amplifier, force sensor, and robot |
| CN117889995A (en) * | 2024-03-15 | 2024-04-16 | 杭州微纳核芯电子科技有限公司 | Piezoelectric sensor control method, circuit, piezoelectric sensing system and electronic cigarette |
| CN117889995B (en) * | 2024-03-15 | 2024-06-04 | 杭州微纳核芯电子科技有限公司 | Piezoelectric sensor control method, circuit, piezoelectric sensing system and electronic cigarette |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4818971B2 (en) | Temperature detection circuit | |
| US8390265B2 (en) | Circuit for generating reference voltage of semiconductor memory apparatus | |
| US7188040B2 (en) | Physical quantity sensor with trimming function | |
| WO2017193437A1 (en) | Display panel and over-current protection circuit of gate driver on array circuit thereof | |
| JPWO2004053507A1 (en) | Voltage applied current measuring device and current buffer with switch used therefor | |
| KR100260989B1 (en) | Input buffer circuit | |
| JP3463628B2 (en) | Semiconductor circuit having slew rate adjustable output circuit, method of adjusting the same, and automatic adjusting device | |
| US6727693B2 (en) | Circuit configuration and sensor device | |
| KR100514066B1 (en) | Sensor device and output characteristic switching method of sensor device | |
| EP0863611B1 (en) | A short-circuit detecting device | |
| US9331684B2 (en) | Semiconductor device for sensing physical quantity | |
| KR100601824B1 (en) | Semiconductor physical quantity sensing device | |
| JP2001245212A (en) | Photoelectric conversion device | |
| US7180798B2 (en) | Semiconductor physical quantity sensing device | |
| JP2018045583A (en) | Signal processing device | |
| JP3963115B2 (en) | Semiconductor physical quantity sensor device | |
| CN119854479A (en) | Detection circuit, image sensor, driving circuit of image sensor and electronic equipment | |
| JP2015215316A (en) | Hall element drive circuit | |
| US7345536B2 (en) | Amplifier circuit and control method thereof | |
| US20060132195A1 (en) | Controller for driving current of semiconductor device | |
| US8141425B2 (en) | Angular rate detection apparatus providing stable output | |
| US7362558B2 (en) | Protective device in a controller | |
| CN116413633B (en) | Load open circuit detection circuit and detection method | |
| KR200292008Y1 (en) | Resistance measuring device using current mirror | |
| KR20020034220A (en) | Circuit of gamma correction in lcd |