JPH11149467A - 規則検査のためのフレームワーク - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】構造物又はシステムの品質を保証するための規
則検査方法を提供する。 【解決手段】この規則検査方法は、構造物の要素とノー
ドを検査し、提供されるパラメータ、すなわち規則に従
ってその構造物の品質に関する判定を行う。本発明の規
則検査方法の第１のステップは、解析する構造物の内部
表現を生成すること（１０）である。構造物の要素の予
測される配列が、既知のトポロジを探索して抽出するこ
と（２０）によって見出される。次に、構造物の要素と
ノードの解析が実行される（３０、４０）。構造物の特
定の要素またはノードがそのために確立されたある基準
を満足するかどうかを判定するために、その要素または
ノードに対して、その要素またはノードに関するすべて
の規則が適用される。最後に、構造物の要素及びノード
の解析中にコンパイルされた統計を示すレポートが利用
可能になる（５０）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、一般に規則検査
（rules checking）に関し、さらに詳細には、１つまた
は複数の構造体（ここでは構造要素）、および要素への
接続点として働く１つまたは複数のノードを有する構造
物の規則検査の方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】設計段階および実施段階中に試験しなけ
ればならない電気的構造物、機械構造物、ソフトウエア
構造物、土木工学構造物など多くのタイプのシステムま
たは構造物がある。このシステムまたは構造物はそれぞ
れ、１つまたは複数の要素、およびこの要素への接続点
として働く１つまたは複数のノードを有するものと考え
ることができる。たとえば、１つのノードは２つ以上の
要素間の相互接続として働く。たとえば、電子回路で
は、１つまたは複数の電気要素が、これらの電気要素を
相互接続するノードによって接続される。同様に、橋は
通常、ボルトによって相互接続されるいくつかの梁から
構成される。さらにノードは、要素をなにか他のものに
接続する接続点であると考えられる。たとえば、ノード
は、構造物がその中に設置される外部環境への接続点と
して働く。または、ノードは、要素の入力点または出力
点としての働きもする。このノードの定義に照らせば、
１要素と１ノードのみを有する構造物、２つ以上の要素
と１つまたは複数のノードを有する構造物、１つまたは
複数の要素と２つ以上のノードを有する構造物などがあ
り得る。

【０００３】構造物の要素およびノードについての構造
情報および挙動情報を、この構造物の設計段階中に何ら
かの形で解析することが、この構造物を成功裏に実現す
ることにとって極めて重要である。構造情報は、要素お
よびノードが互いにどのように相互作用するかに関係す
る。１要素もしくは１ノードの構造、または１群の要素
およびノードの構造が、他の複数要素もしくは複数ノー
ドの挙動、または複数群の要素およびノードの挙動に影
響を与える可能性がある。挙動情報は、複数要素および
複数ノード、または複数群の要素およびノードが、これ
らが受ける刺激にどう反応するかに関係する。刺激は、
電気的構造物中の熱電子や機械構造物中のさびの場合の
ような長期間の刺激、あるいは電圧、温度、負荷条件の
変化などの短期間の刺激である可能性がある。たとえ
ば、橋の負荷条件は、人が車で橋を渡るにつれて変化す
るが、この変化は一時的なものであり、したがって短期
間の刺激である。

【０００４】要素およびノードの構造情報および挙動情
報は、もちろん解析される構造のタイプに応じて変わ
る。たとえば、電子回路の種々のノードでの電圧および
容量は、一般的には、この回路の適正な動作を示す重要
な指標である。電子回路の場合、ネットリスト、または
回路の外部表現は、電気要素間の物理的相互接続すなわ
ちノードを単に指定し、これらのノードにおける種々の
電気パラメータまたは測定値についての情報を提供する
ことはない。したがって、ネットリストは、電子回路の
ノードについての必要な情報を提供するのに、それだけ
では不十分である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】したがって、システム
または構造物の設計段階中に、このシステムまたは構造
物の要素およびノードについての構造情報および挙動情
報を取得し解析できることが、当技術分野で求められて
いる。

【０００６】

【課題を解決するための手段】したがって、システムま
たは構造物の設計段階中に、このシステムまたは構造物
の要素およびノードについての構造情報および挙動情報
を取得し解析できることが、本発明の目的である。

【０００７】したがって、本発明によれば、規則検査方
法は、要素への接続点としての１つまたは複数のノード
を備えた、１つまたは複数の要素を有するものとして特
徴づけられる構造物またはシステムを解析する。本発明
の規則検査方法の第１ステップは、解析する構造物の内
部表現を生成することである。この構造物の要素の予想
される構成は、既知のトポロジタイプを探索し抽出する
ことによって判明する。次に、この構造物の要素および
ノードの解析が実行される。この構造物の特定の要素ま
たはノードが、それに対して確立されたある基準を満足
するかどうかを判定するために、この要素またはノード
に関連するすべての規則が、この要素およびノードに適
用される。最後に、構造要素および構造ノードの解析中
にコンパイルされた統計を示すレポートが利用可能にな
る。

【０００８】本発明の特徴を示すと考えられる新規な特
徴が特許請求の範囲に記載されている。しかし、本発明
自体、ならびに好ましい使用態様、および本発明のその
他の目的および利点は、例示的実施形態についての以下
の詳しい説明を、添付の図面と併せ読めば最もよく理解
されるであろう。

【０００９】

【発明の実施の形態】解析するどの構造物も、ノードに
よって相互接続されるいくつかの構造要素を有する、ま
たは少なくとも１つの構造要素およびその構造要素への
接続点として働く少なくとも１つの構造ノードを有する
ものとして特徴づけることができる。この構造物は、電
子回路、または橋、または他の土木工学構造物および機
械式伝達装置（これらだけに限定されるものではない
が）を含むいくつかの物でもよい。これら例の構造物は
それぞれ、ノードによって相互接続される要素を有する
ものとして特徴づけられる。たとえば、橋はボルトと呼
ばれるノードによって相互接続された木の梁などいくつ
かの支持部材から構成される。

【００１０】図１を参照すると、本発明に基づく規則検
査方法の最上位レベルの流れ図が示されている。ブロッ
ク１０によって示される本発明の方法の第１ステップ
は、解析する構造物の内部表現を生成することである。
この解析される構造物は、構造物全体、あるいはシステ
ム全体でもよく、またより大きい構造物またはシステム
の単なるサブセットでもよい。たとえば、この規則検査
方法は電気システム全体を解析するために使用すること
ができ、また電気システム内の回路などの電気システム
全体の一部のみを検査するために使用することもでき
る。どちらの場合も、解析されるものを構造物と呼ぶ。

【００１１】次のステップは、既知のトポロジタイプを
探索して抽出することによって、ブロック２０で構造物
の要素の既知の配置（構成）および予想される配置（構
成）を探索することである。たとえば、解析される構造
物が電子回路である場合、この回路の電子要素間のある
経路セットを知ることができるであろう。この経路セッ
ト中に問題がある場合、それはこの電子回路のネットリ
ストまたは外部表現に問題があることを示す。その場
合、ネットリスト中の問題を訂正することができる。既
知のトポロジタイプの電子回路は、静的ゲート出力、動
的な事前充電（precharge、プリチャージ）ノード、動
的ゲート入力、ブロック入力、ブロック出力、およびラ
ッチ（これらのみに限定されるものではないが）を含む
ことができる。本発明の規則検査ソフトウエアによっ
て、図２のブロック２４に関して後で述べるように、ユ
ーザが、ソフトウエアにラッチノードのリストを与える
など、そのソフトウエアにヒントを提供することも更に
可能になる。

【００１２】オプションとして、トポロジの抽出に関す
る情報を設計者に提供することもできる。この情報は、
トポロジを見つけ抽出するために使用される仮定のリス
トを含むことができる。さらに、この情報は、見つかり
抽出されたすべてのトポロジのリストでもよい。この情
報に基づいて、設計者はトポロジを見つけて抽出するた
めに使用される仮定に調整を加え、あるいは図２のブロ
ック２４に記載の外部情報ファイルを介して規則検査ソ
フトウエアに他のヒントを与えることができる。

【００１３】電子回路のネットリストのトポロジタイプ
を抽出することの代替策は、この電子回路のあらゆるノ
ードおよび要素ごとに、すべての規則をやみくもに適用
することであることに留意されたい。しかし、ブロック
３０およびブロック４０に関してさらに詳しく論じる
が、この手法では検査の限界を広げることが非常に困難
である。というのは、この構造物のすべての要素および
ノードに適用できるように限界を設定しなければならな
いからである。たとえば、動的ゲートのパラメータは、
静的ゲートを検査するために使用されるパラメータとは
全く異なる可能性がある。トポロジタイプを抽出するこ
とのさらに別の代替策は、構造物設計者を頼りにして、
この構造物のあらゆる要素およびノードごとにすべての
属性を割り当てることである。これは、設計者が規則検
査のあらゆる仮定を知っているという利点をもたらす。
しかし、この手法では、設計者および、規則検査コード
中にこれらの規則をすべて入力する人のかなり多くの時
間が必要になる。

【００１４】次に、ブロック３０およびブロック４０
で、この構造物の要素およびノードの解析が実行され
る。ブロック３０で、この構造物のすべての要素に対し
て検査が実行され、次いで、特定の要素に関連するすべ
ての規則がその要素に適用されて、その要素が、そのた
めに確立されたある基準に合格するかそれとも失格する
かが判定される。たとえば、橋の耐荷重用の梁要素は、
Ｘ量の重量を支えるものと期待され、この規則が耐荷重
用の梁要素に適用されて、それがこの要件を満足するか
どうか確認される。ブロック４０では、試験される構造
物の要素を相互結合するすべてのノードに対して検査が
実行される。最後に、この構造物の要素およびノードの
解析中にコンパイルされた統計を示すレポートがブロッ
ク５０で利用可能になる。次に、本発明の方法のこれら
のステップをさらに詳しく述べる。

【００１５】図２の流れ図を参照すると、解析する構造
物の内部表現を生成するために取るブロック１０のステ
ップが図示されている。最初に、ブロック１２で、デー
タベースのバージョン、データベースの大きさ、構造物
の要素数、構造物のノード数、構造物のポインタなどの
オーバヘッド情報を追跡するために使用されるデータ構
造を作成することによって、解析する構造物の内部表現
が初期設定される。次に、ブロック１４で、この構造物
の基準点が定義される。基準点とは、この構造物を十分
に解析するために知らなければならない構造物中の接続
点、すなわちノードである。たとえば、電子回路構造物
では、基準点は接地およびＶCCなどの電源電位である。
橋構造物では、目標塔が定義されなければならない基準
点である。ブロック１６で、データ構造が各要素ごとに
生成され、各要素のデータが、この要素に対するデータ
構造中に読み込まれる。同様に、ブロック１８で、デー
タ構造が各ノードごとに作成され、各ノードのデータ
が、このノードに対するデータ構造中に読み込まれる。
所望の場合、ブロック１６とブロック１８の順序を反転
して、要素データ構造生成の前にノードデータ構造が生
成できることに留意されたい。ブロック２２で、この構
造物の要素およびノードの間のポインタがプログラムの
コード中に割り当てられる。最後に、ブロック２４で、
外部情報ファイルの前処理が実行される。ブロック２４
で、ユーザによって提供される外部情報ファイルは、こ
の構造物の解析に役立つこの構造物についての追加の情
報を含む。追加の情報は、外部の解析ツールよって実行
される解析の結果であってもよく、また単に、構造解析
を改善するために設計者が提供するヒントでもよい。た
とえば、外部情報ファイルは、解析される電子回路のラ
ッチノードおよび事前充電ノードのリストを含むことが
できる。

【００１６】次に、図３の流れ図を参照すると、解析す
る構造物の要素に対して検査を実行するために図１のブ
ロック３０中で取るステップが図示されている。ブロッ
ク３２で、この構造物の要素のループが初期設定され
る。次に、ブロック３４で、解析される要素が選択され
る。次いで、この要素の１つまたは複数の特性が、ブロ
ック３６〜３８で検査される。検査される特性は、ブロ
ック３６ａのような構造特性、またはブロック３７ａの
ような挙動特性である。要素の検査に伴う時間を短縮す
ることが望ましい場合、要素の多くの特性の検査を同時
に並列に実行することもできる。

【００１７】構造特性は、要素およびノードが互いに相
互作用する方法に関係する。１要素もしくは１ノードの
構造、または１群の要素およびノードの構造が、他の複
数要素もしくは他の複数ノードの挙動、または数群の要
素および数群のノードの挙動に影響を与える可能性があ
る。要素の寸法は、構造特性の例であり、特定の関心が
ある要素の、任意の適切な特徴でよい。たとえば、この
要素が電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）などのトランジ
スタである場合、この寸法はこのトランジスタのゲート
幅でよい。また、要素が橋の梁である場合、検査される
寸法はこの梁の断面、またはこの梁の材料でよい。別の
例として、要素が動力伝達装置のギアである場合を考え
ると、その寸法はギアの厚さである。挙動特性は、複数
要素および複数ノード、または複数群の要素およびノー
ドが、それが受ける刺激にどう反応するかに関係する。
刺激は、電気構造物中の熱電子や機械構造物中のさびの
場合のような長期間の刺激でも、また電圧、温度、ある
いは、負荷条件の変化などの短期間の刺激でもよい。

【００１８】ブロック３６ａで検査される構造特性が受
け入れ可能な限界内にない場合、ブロック３６ｂで違反
が報告される。同様に、ブロック３７ａで検査される挙
動特性が受け入れ可能な限界内にない場合、ブロック３
７ｂで違反が報告される。限界は、当技術分野で既知の
種々の形式で表現することができる。線形の限界は、下
限、上限または±限界内として表現される。非線形の測
定では、多項式係数およびルックアップテーブルが使用
できる。さらに、寸法の受入れ可能限界は、本発明のユ
ーザが任意の所望値にセットすることもできる。要素が
橋の梁である場合、この梁の断面が４つの測定値のうち
の１つの測定値に合致しなければならないとすることが
できる。試験される梁の断面が、４つの受入れ可能な測
定値以外にある場合、ブロック３７ｂで違反が報告され
ることになる。図示のように、要素の追加の構造特性ま
たは挙動特性が、ブロック３８ａで検査され、ブロック
３８ｂで追加の特性違反が報告される。最後に、判定ブ
ロック３９で、まだ検査すべき要素がある場合は、プロ
セスはブロック３４に戻り、解析すべきすべての要素が
検査された場合は、プロセスは図１の全体の流れのブロ
ック４０に戻る。

【００１９】図３の流れと同様に、図４では、解析する
構造物のノードに対して検査を実行するために図１のブ
ロック４０中で取るステップが図示されている。ブロッ
ク４２で、この構造物のノードのループが初期設定され
る。次に、ブロック４４で、解析されるノードが選択さ
れる。選択されたノードの負荷または他の特性が、ブロ
ック４６ａで検査される。この負荷が受入れ可能な限界
内にない場合、ブロック４６ｂで違反が報告される。負
荷の受入れ可能な限界は、本発明のユーザが、任意の適
当な値に設定することができる。たとえば、あるノード
の電圧が測定される電子回路の例を考えてみる。電圧の
受入れ可能な値は、５±０．５ボルトである。試験され
るノードでの電圧が４．５ボルト未満または５．５ボル
トを超える場合、ブロック４６ｂで違反が報告されるこ
とになる。ブロック４８ａで、特定のノードについて追
加のノード特性が検査され、追加の特性違反があればブ
ロック４８ｂで報告される。最後に、判定ブロック４９
で、まだ検査すべきノードがある場合は、プロセスはブ
ロック４４に戻り、解析すべきすべてのノードが検査さ
れた場合は、プロセスは図１の全体の流れのブロック５
０に戻る。

【００２０】ノード負荷に関する語は、ここでは特有の
ものである。ノード負荷は、ノードにおける任意の測定
可能な重要な特性と考えることができる。たとえば、電
子回路では、電気要素を相互接続する特定のノードに存
在する容量または電圧を知ることが重要である。同様
に、この回路中のノードにおける信号の振幅または周波
数が重要であることもある。また、橋では、２つ以上の
梁間の支点の耐荷重特性が検査される。土木工学の試み
では、所定の位置に梁を配置するために、梁に前もって
負荷をかけることがまれではなく、この前もって負荷を
かけられた梁は、ほかのタイプの梁とは異なって解析さ
れる。さらに、検査されるノードには様々なタイプのも
のがある。貯蔵ノード（storage node）を考えてみる。
電子回路では、ラッチノードなどの貯蔵ノードは、容量
または電圧を記憶することができる。機械システムで
は、貯蔵ノードはエネルギーを貯蔵するスプリングであ
る。貯蔵ノードおよび事前充電ノードは、電子回路中に
普通に見られる。

【００２１】ノードの検査に伴う時間を短縮することが
望ましい場合、ノードの多くの特性または負荷の検査
を、同時に並列に実行することができる。さらに、図３
に示す１つまたは複数の要素の特性の検査を、図４の１
つまたは複数のノードの特性の検査と同時に実行するこ
とができる。

【００２２】要素またはノードの解析が開始されると、
その要素またはノードの解析は、図３および図４に示す
ように、解析が完了するまで継続することに留意するこ
とは重要である。たとえば、プログラムが単一の処理装
置を使用する場合、要素またはノードの解析が逐次方式
で行われるので、特定の要素またはノードの解析が開始
すると、この要素またはノードについて解析が完了する
まで、この解析が継続する。別の要素またはノードの規
則および特性の解析は、前の要素またはノードの解析が
完了するまで開始しない。一方、プログラムが並列方式
で動作する２つ以上のプロセッサを使用する場合、各プ
ロセッサは任意のプロセッサと同時に動作することがで
き、特定のプロセッサによる特定の要素またはノードの
解析は、同じプロセッサによる別の要素またはノードの
解析が開始する前に、完了する。このプロセッサは、マ
イクロプロセッサ、電気機械式装置、あるいは人など任
意の電気的データ処理装置、機械式データ処理装置、あ
るいは生物学的データ処理装置でもよく、これらに限定
されるものではない。特定の要素またはノードのすべて
の規則または特性を同時に検査するために順序づけて解
析をするこの手法の重要な利点は、要素およびノードに
ついての構造データの局所性がこの解析で維持され、そ
れによってこの解析が高速化され、さらに効率がよくな
ることである。

【００２３】図５を参照すると、電子回路に対する図４
のさらに詳しい流れの例が提供されている。類似のノー
ド解析を、機械構造物、土木工学構造物などの他のタイ
プの構造物に対して同様に実行することができる。様々
なタイプのノード解析を包含するブロック４６の可能性
がとくに強調される。判定ブロック５２で、検査される
ノードでの容量が容量限界内にあるかどうか照会する。
この容量が限界内にない場合、ブロック５４でこの特定
のノードについての受入れ可能な容量の違反が報告され
る。次に、判定ブロック５６、判定ブロック６０、およ
び判定ブロック６４でノードのタイプについて照会し、
適切な試験を実行する。判定ブロック５６では、このノ
ードがラッチノードであるかどうかを照会する。検査さ
れるノードがラッチノードである場合、ブロック５８で
ラッチノードの照会が実行される。ブロック６０で、こ
のノードがクロック信号として特徴づけられているかど
うかの問い合わせを行う。そうである場合、ブロック６
２でクロック信号についての照会が実行される。最後
に、判定ブロック６４で、このノードが事前充電ノード
である場合は、この流れは事前充電ノード試験のために
ブロック６６に送られる。

【００２４】ノード負荷の検査が、ブロック４６では時
間順に逐次方式で実行されるが、ブロック５２からブロ
ック６４までの照会は互いに並列に実行することがで
き、ノード試験を完了するのに必要な実行時間が短縮さ
れることを当業者なら容易に理解するであろう。たとえ
ば、ブロック５２およびブロック５４の容量試験は、ブ
ロック５６およびブロック５８のラッチノード試験なら
びにブロック６０およびブロック６２のクロック信号試
験と同時に実行することができる。一例として、１，０
００個以上のノードを有する構造物を試験するために、
たとえば、各マイクロプロセッサ装置（処理装置）がこ
の構造物の１００個の異なるノードを同時に試験するよ
うにして、１０台のマイクロプロセッサ装置を有するシ
ステムの中で、この並列試験を使用することができる。

【００２５】図６を参照すると、本発明の方法を使用す
ることができるＲＣ遅延回路の簡略化した電子回路図が
示されている。インバータ７２は入力信号ＩＮ１を受け
取り、この入力信号を反転してNode１で信号ＮＩＮ１を
生成する。抵抗器７４の値は２００オームであり、コン
デンサー７６の値は１ｐｆ（ピコファラッド）である。
Node２での信号はインバータ７８に供給され、そこで反
転されて出力信号Ｏｕｔを形成する。

【００２６】抵抗器７４、コンデンサー７６、及びイン
バータ７８の電気接続によって形成されるNode２でのＲ
Ｃ遅延は、抵抗器７４の抵抗に、コンデンサー７６で表
されるNode２の容量を乗ずることによって計算される。
図６の例では、ＲＣ遅延は２００ピコ秒である。次に、
図１中のブロック１０で具体化される本発明の方法を適
用すると、図６のＲＣ遅延回路の内部表現が生成され
る。最初に、ブロック１２に関して論じたオーバヘッド
情報のタイプを追跡する構造物が生成される。次に、ブ
ロック１４でＲＣ遅延回路の基準点が定義される。たと
えば、Node２がコンデンサー７６を介して接続される接
地電位が定義される。

【００２７】次に、ブロック１６およびブロック１８に
示すように、要素すなわちインバータ７２、７８、およ
び抵抗器７４のデータ構造と、ノードすなわちNode１お
よびNode２のデータ構造が生成される。要素またはノー
ドに関して生成されるデータ構造は、この要素またはノ
ードそれ自体であってもよく、また全体としてこの要素
またはノードを定義するサブ要素であってもよいことに
留意しなければならない。たとえば、インバータ７２を
考えてみる。インバータ７２のデータ構造は、インバー
タ構造、または全体でインバータに等しい２個の電界効
果トランジスタである。要素およびノードのデータ構造
を形成すると、要素７２、要素７４、および要素７８と
Node１およびNode２を表すデータが読み込まれ、形成さ
れたデータ構造内に置かれる。たとえば、２００オーム
の抵抗は抵抗器７４のデータ構造に関連するデータであ
り、同様に、１ピコファラッドの容量は、Node２のデー
タ構造を満たすNode２の属性である。コンデンサー７６
によって表される容量は、この回路の別々の要素と見な
すこともできるし、見なさないこともできることに留意
されたい。この場合は、この容量は別々の要素と見なさ
れず、Node２の属性と見なされる。次に、ブロック２２
で、ポインタが、図６の要素およびノード間に割り当て
られる。

【００２８】図１の概観を再度参照すると、ブロック２
０でＲＣ遅延回路の要素の既知の配置についての探索が
行われる。次に、ブロック３０およびブロック４０で、
ＲＣ遅延回路の要素およびノードが解析される。図６の
ＲＣ遅延回路では、この回路の重要部分はNode２でのＲ
Ｃ遅延である。したがって、ブロック４６ａおよびブロ
ック４６ｂを参照すると、Node１とNode２の間のＲＣ遅
延が検査される。この例では、Node１とNode２の間のＲ
Ｃ遅延は、２００ピコ秒である。次に、受入れ可能な上
限は１００ピコ秒だけであると仮定する。Node１とNode
２の間のＲＣ遅延が受入れ可能なＲＣ遅延を超えている
ので、ブロック４６ｂでこの違反が報告される。違反報
告の形式は、所望の任意の形式をとることができ、任意
の重要な情報を含むことができる。たとえば、エラーメ
ッセージは次のようになる。

【００２９】 「ＲＣ遅延 ノード：Node２ ｒｃ＿遅延：２００ピコ
秒 限界：１００ピコ秒 失敗率％：１００．０」 最後に、ブロック５０で、図６のＲＣ遅延回路の統計が
報告される。

【００３０】本発明の規則検査方法は、１つまたは複数
の要素、およびこの要素への接続点として働く１つまた
は複数のノードを有する構造物またはシステムの品質を
保証する。この規則検査方法は、構造物の要素およびノ
ードを検査し、構造物設計者によって提供されるパラメ
ータに従って構造物の品質に関する判断を行う。たとえ
ば、電子回路の場合、パラメータは、容量、抵抗、およ
びトランジスタの大きさを含むことができる。さらに、
勾配データ、遅延データおよび信号有効性デ−タを提供
するタイミング解析器などの解析装置から、および配線
長データを提供する自動ルータから抽出される情報を本
発明の規則検査方法で使用することができる。電子回路
の品質検査を用いて、この電子回路が雑音、温度、電圧
およびプロセス変動の影響を受けないということを検証
できる。電子回路に対して実行される大部分の検査は、
たとえば電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）の大きさの検
査のような、挙動特性および構造特性の限界検査である
が、この規則検査方法を用いて、例えば、雑音の影響を
受けやすい回路のブロック入力の検査などの様々のタイ
プの特性に対する存在検査を実行することもできる。

【００３１】以上本発明を好ましい実施態様に関して具
体的に図示し説明したが、本発明の精神および範囲から
逸脱することなく、形態および細部において様々な変更
を行うことができることが当業者には明らかである。

【００３２】以下においては、本発明の種々の構成要件
の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。

【００３３】１．構造物またはシステムを解析するため
の方法であって、複数の構造体を有し、前記複数の構造
体の一つの構造体が１つの要素、または１つの要素への
接続点である１つのノードとして定義され、さらに前記
複数の構造体が少なくとも１つの要素および少なくとも
１つのノードを備えたことからなる構造物、の内部表現
を生成するステップと、前記複数の構造体を解析して、
前記複数の構造体の各構造体が確立された基準を満足す
るかどうかを判定するステップであって、前記複数の構
造体の第１の構造体のプロセッサによる解析が開始され
ると、前記第１の構造体の解析が完了するまで、前記複
数の構造体の第２の構造体の前記プロセッサによる解析
が開始しないことからなるステップとからなる方法。

【００３４】２．構造物またはシステムを解析するため
の方法であって、複数の構造体を有し、前記複数の構造
体の一つの構造体が１つの要素、または１つの要素への
接続点である１つのノードとして定義され、さらに前記
複数の構造体が少なくとも１つの要素および少なくとも
１つのノードを備えたことからなる構造物、の内部表現
を生成するステップと、前記構造物の１つまたは複数の
既知のトポロジのうちの既知の各トポロジを探索し抽出
するステップと、前記複数の構造体を解析して、前記複
数の構造体の各構造体が確立された基準を満足するかど
うかを判定するステップであって、前記複数の構造体の
第１の構造体のプロセッサによる解析が開始されると、
前記第１の構造体の解析が完了するまで、前記複数の構
造体の第２の構造体の前記プロセッサによる解析が開始
しないことからなるステップとからなる方法。

【００３５】３．複数の構造体を有し、前記複数の構造
体の一つの構造体が１つの要素、または１つの要素への
接続点である１つのノードとして定義され、さらに前記
複数の構造体が少なくとも１つの要素および少なくとも
１つのノードを備えたことからなる構造物、の内部表現
を生成するステップであって、前記構造物の１つまたは
複数の基準点を定義するステップと、前記複数の構造体
の各構造体に関するデータ構造を生成し、前記データ構
造をデータで満たすステップと、前記構造物の前記複数
の構造体間にポインタを割り当てるステップとから構成
されるステップと、そして、前記複数の構造体の第１の
構造体のプロセッサによる解析が開始されると、前記第
１の構造体の解析が完了するまで、前記複数の構造体の
第２の構造体の前記プロセッサによる解析が開始しない
ことからなる、前記複数の構造体を解析して、前記複数
の構造体の各構造体が確立された基準を満足するかどう
かを判定するステップであって、前記複数の構造体の各
構造体の少なくとも１つの特性を検査して、各構造体の
各特性が受入れ可能な限界内にあるかどうかを判定する
ステップから構成されるステップとからなる構造物また
はシステムを解析するための方法。

【００３６】４．構造物またはシステムを解析するため
のコンピュータプログラムを備える記憶媒体であって、
複数の構造体を有し、前記複数の構造体の一つの構造体
が１つの要素、または１つの要素への接続点である１つ
のノードとして定義され、さらに前記複数の構造体が少
なくとも１つの要素および少なくとも１つのノードを備
えたことからなる構造物、の内部表現を生成するための
命令と、前記複数の構造体を解析して、前記複数の構造
体の各構造体が確立された基準を満足するかどうかを判
定するための命令であって、前記複数の構造体の第１の
構造体のプロセッサによる解析が開始されると、前記第
１の構造体の解析が完了するまで、前記複数の構造体の
第２の構造体の前記プロセッサによる解析が開始しない
ことからなる命令とを備える記憶媒体。

【００３７】５．構造物またはシステムを解析するため
のコンピュータプログラムを備える記憶媒体であって、
複数の構造体を有し、前記複数の構造体の一つの構造体
が１つの要素、または１つの要素への接続点である１つ
のノードとして定義され、さらに前記複数の構造体が少
なくとも１つの要素および少なくとも１つのノードを備
えたことからなる構造物、の内部表現を生成するための
命令と、前記構造物の１つまたは複数の既知のトポロジ
のうちの既知の各トポロジを探索し抽出するための命令
と、前記複数の構造体を解析して、前記複数の構造体の
各構造体が確立された基準を満足するかどうかを判定す
るための命令であって、前記複数の構造体の第１の構造
体のプロセッサによる解析が開始されると、前記第１の
構造体の解析が完了するまで、前記複数の構造体の第２
の構造体の前記プロセッサによる解析が開始しないこと
からなる命令とを備える記憶媒体。

【００３８】６．複数の構造体を有し、前記複数の構造
体の一つの構造体が１つの要素、または１つの要素への
接続点である１つのノードとして定義され、さらに前記
複数の構造体が少なくとも１つの要素および少なくとも
１つのノードを備えたことからなる構造物、の内部表現
を生成するための命令であって、前記構造物の１つまた
は複数の基準点を定義するための命令と、前記複数の構
造体の各構造体に関するデータ構造を生成し、前記デー
タ構造をデータで満たすための命令と、前記構造物の前
記複数の構造体間にポインタを割り当てるための命令と
から構成される命令と、そして、前記複数の構造体の第
１の構造体のプロセッサによる解析が開始されると、前
記第１の構造体の解析が完了するまで、前記複数の構造
体の第２の構造体の前記プロセッサによる解析が開始し
ないことからなる、前記複数の構造体を解析して、前記
複数の構造体の各構造体が、確立された基準を満足する
かどうかを判定するための命令であって、前記複数の構
造体のうちの各構造体の少なくとも１つの特性を検査し
て、各構造体の各特性が受入れ可能な限界内にあるかど
うかを判定するための命令から構成される命令とからな
る構造物またはシステムを解析するためのコンピュータ
プログラムを備える記憶媒体。

【００３９】

【発明の効果】本発明によれば、システムまたは構造物
の設計段階中に、そのシステムまたは構造物の要素およ
びノードについての構造情報および挙動情報を取得し解
析できる。従って、構造物またはシステムの所望の品質
が保証された設計を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に基づく規則検査コードの最上位レベル
の流れ図を示す。

【図２】本発明に基づく、解析する構造物の内部表現を
生成するために図１のブロック１０中で行うステップを
示す図である。

【図３】本発明に基づく、解析する構造物の要素につい
て検査を実行するために図１のブロック３０中で行うス
テップを示す図である。

【図４】本発明に基づく、解析する構造物のノードにつ
いて検査を実行するために図１のブロック４０中で行う
ステップを示す図である。

【図５】本発明に基づく、電子回路に対する図４の流れ
図のさらに詳細な例を示す図である。

【図６】本発明に基づく、本発明の方法が使用できるＲ
Ｃ遅延回路の簡略化した電子回路図である。

【符号の説明】

７２、７８ インバータ ７４ 抵抗器、 ７６ コンデンサー

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】構造物またはシステムを解析するための方
   法であって、 複数の構造体を有し、前記複数の構造体の一つの構造体
   が１つの要素、または１つの要素への接続点である１つ
   のノードとして定義され、さらに前記複数の構造体が少
   なくとも１つの要素および少なくとも１つのノードを備
   えたことからなる構造物、の内部表現を生成するステッ
   プと、 前記複数の構造体を解析して、前記複数の構造体の各構
   造体が確立された基準を満足するかどうかを判定するス
   テップであって、前記複数の構造体の第１の構造体のプ
   ロセッサによる解析が開始されると、前記第１の構造体
   の解析が完了するまで、前記複数の構造体の第２の構造
   体の前記プロセッサによる解析が開始しないことからな
   るステップとからなる方法。