JPH11150295A - 半導体発光素子、半導体発光素子の製造方法および表示装置 - Google Patents
半導体発光素子、半導体発光素子の製造方法および表示装置Info
- Publication number
- JPH11150295A JPH11150295A JP31557997A JP31557997A JPH11150295A JP H11150295 A JPH11150295 A JP H11150295A JP 31557997 A JP31557997 A JP 31557997A JP 31557997 A JP31557997 A JP 31557997A JP H11150295 A JPH11150295 A JP H11150295A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- light emitting
- layer
- type semiconductor
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/85—Packages
- H10H20/857—Interconnections, e.g. lead-frames, bond wires or solder balls
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/85—Packages
- H10H20/855—Optical field-shaping means, e.g. lenses
- H10H20/856—Reflecting means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07251—Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07554—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature changes in dispositions
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/536—Shapes of wire connectors the connected ends being ball-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/547—Dispositions of multiple bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
- H10W72/5522—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Led Device Packages (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】発光層より発生した光の取り出し効率を向上さ
せることができる半導体発光素子、半導体発光素子の製
造方法および表示装置を提供する。 【解決手段】P型半導体層とN型半導体層とを積層させ
て形成され、P型半導体層とN型半導体層の間に所定の
電圧を印加することにより光を発する発光層Jと、P型
半導体層とN型半導体層にそれぞれ接続するP電極およ
びN電極を有する半導体チップ3と、表面5、5’が発
光層Jの発する光の反射面となっている半導体チップ用
凹部を有し、互いに絶縁するように分割されている1対
の電極リード1、2と、1対の電極リードとP電極ある
いはN電極を接続するように1対の電極リードとP電極
あるいはN電極の間に配置されている導電層12、13
とを有する構成とする。
せることができる半導体発光素子、半導体発光素子の製
造方法および表示装置を提供する。 【解決手段】P型半導体層とN型半導体層とを積層させ
て形成され、P型半導体層とN型半導体層の間に所定の
電圧を印加することにより光を発する発光層Jと、P型
半導体層とN型半導体層にそれぞれ接続するP電極およ
びN電極を有する半導体チップ3と、表面5、5’が発
光層Jの発する光の反射面となっている半導体チップ用
凹部を有し、互いに絶縁するように分割されている1対
の電極リード1、2と、1対の電極リードとP電極ある
いはN電極を接続するように1対の電極リードとP電極
あるいはN電極の間に配置されている導電層12、13
とを有する構成とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体発光素子、半
導体発光素子の製造方法および前記半導体発光素子を用
いた表示装置に関する。
導体発光素子の製造方法および前記半導体発光素子を用
いた表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば高輝度を必要とする屋外用
の表示装置の用いる発光ダイオードのうち、青色および
緑色の発光ダイオードは例えば図9に示す構造を有す
る。例えばGaNのPN接合による発光層を有する半導
体チップ23のN電極とN電極リード21が例えば金か
らなる細いワイヤ25により接続されている。一方、半
導体チップ23のP電極とP電極リード22もまた金の
細いワイヤ26により接続されている。上記の半導体チ
ップ23とN電極リード21およびP電極リード22と
の接続部は、酸化アルミニウムあるいは酸化マグネシウ
ムなどのフィラーを含有する可視光透過性のエポキシ樹
脂などからなり、レンズの役割を有する封止樹脂24に
より封止されている。また、図面と平行な方向と図面と
垂直な方向とで封止樹脂24によるレンズの度は異なっ
て設定されており、例えば図面と平行な方向のほうが度
が弱くなっている。
の表示装置の用いる発光ダイオードのうち、青色および
緑色の発光ダイオードは例えば図9に示す構造を有す
る。例えばGaNのPN接合による発光層を有する半導
体チップ23のN電極とN電極リード21が例えば金か
らなる細いワイヤ25により接続されている。一方、半
導体チップ23のP電極とP電極リード22もまた金の
細いワイヤ26により接続されている。上記の半導体チ
ップ23とN電極リード21およびP電極リード22と
の接続部は、酸化アルミニウムあるいは酸化マグネシウ
ムなどのフィラーを含有する可視光透過性のエポキシ樹
脂などからなり、レンズの役割を有する封止樹脂24に
より封止されている。また、図面と平行な方向と図面と
垂直な方向とで封止樹脂24によるレンズの度は異なっ
て設定されており、例えば図面と平行な方向のほうが度
が弱くなっている。
【0003】上記の発光ダイオードの要部を拡大した平
面図を図10(a)に、図10(a)中のB−B’にお
ける断面図を図10(b)に示す。N電極リード21に
はリフレクタ面27、27’が形成されており、リフレ
クタ面27、27’で形成される凹部内に半導体チップ
23が樹脂などの接着層36により接着されている。半
導体チップ23は例えばサファイア基板28とその上層
に形成されたGaNのPN接合体Jにより構成されてお
り、その上面に形成されたN電極30はワイヤ25によ
りN電極リード21へ、P電極34はワイヤ26により
P電極リード22へそれぞれ接続される。半導体チップ
23のうち、N電極30を除く領域が発光領域Eとなっ
ている。
面図を図10(a)に、図10(a)中のB−B’にお
ける断面図を図10(b)に示す。N電極リード21に
はリフレクタ面27、27’が形成されており、リフレ
クタ面27、27’で形成される凹部内に半導体チップ
23が樹脂などの接着層36により接着されている。半
導体チップ23は例えばサファイア基板28とその上層
に形成されたGaNのPN接合体Jにより構成されてお
り、その上面に形成されたN電極30はワイヤ25によ
りN電極リード21へ、P電極34はワイヤ26により
P電極リード22へそれぞれ接続される。半導体チップ
23のうち、N電極30を除く領域が発光領域Eとなっ
ている。
【0004】上記の半導体チップ23をさらに拡大した
断面図を図11に示す。例えばサファイア基板28の上
層にN型GaN層29が形成されており、その上層に例
えばアルミニウムからなるN電極30が形成されてお
り、さらにN電極リードに接続するワイヤ25が接続し
ている。一方、N電極30を除く領域では、N型GaN
層29の膜厚が厚く形成されており、その上層に活性層
31を介してP型GaN層32が形成され、PN接合を
形成している。その上層には例えば半透明の薄膜である
金からなる第1P電極33と、第1P電極33よりも厚
く形成された同じく金からなる第2P電極34が形成さ
れており、P電極リードに接続するワイヤ26が接続し
ている。また、チップ表面には例えば酸化シリコンある
いは酸化アルミニウムなどからなる保護絶縁膜35が形
成されている。
断面図を図11に示す。例えばサファイア基板28の上
層にN型GaN層29が形成されており、その上層に例
えばアルミニウムからなるN電極30が形成されてお
り、さらにN電極リードに接続するワイヤ25が接続し
ている。一方、N電極30を除く領域では、N型GaN
層29の膜厚が厚く形成されており、その上層に活性層
31を介してP型GaN層32が形成され、PN接合を
形成している。その上層には例えば半透明の薄膜である
金からなる第1P電極33と、第1P電極33よりも厚
く形成された同じく金からなる第2P電極34が形成さ
れており、P電極リードに接続するワイヤ26が接続し
ている。また、チップ表面には例えば酸化シリコンある
いは酸化アルミニウムなどからなる保護絶縁膜35が形
成されている。
【0005】上記の発光ダイオードは封止樹脂により封
止されているが、例えば室内用の表示装置に用いる場合
には画素密度を上げるためにリフレクタやレンズを用い
ずにプリント基板上に例えばGaNのPN接合による発
光層を有する半導体チップを直接導電接着して形成する
こともある。
止されているが、例えば室内用の表示装置に用いる場合
には画素密度を上げるためにリフレクタやレンズを用い
ずにプリント基板上に例えばGaNのPN接合による発
光層を有する半導体チップを直接導電接着して形成する
こともある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の発光ダイオードは、発光層の上層に電極が形成さ
れているために、光の透過率を下げてしまう。特に全発
光面積の約1/3を占めるワイヤボンディング部は全く
光を直接取り出すことができない。このため、光透過率
で35〜62%分しか光を直接取り出すことができな
い。一部の光はリフレクタにより反射されて全面に出て
くるが、それでも発生した光を有効に取り出していると
は言えない。
従来の発光ダイオードは、発光層の上層に電極が形成さ
れているために、光の透過率を下げてしまう。特に全発
光面積の約1/3を占めるワイヤボンディング部は全く
光を直接取り出すことができない。このため、光透過率
で35〜62%分しか光を直接取り出すことができな
い。一部の光はリフレクタにより反射されて全面に出て
くるが、それでも発生した光を有効に取り出していると
は言えない。
【0007】本発明は上記の問題点を鑑みてなされたも
のであり、従って、本発明の目的は、発光層より発生し
た光を有効に取り出すことができる半導体発光素子、半
導体発光素子の製造方法および前記半導体発光素子を用
いた表示装置を提供することである。
のであり、従って、本発明の目的は、発光層より発生し
た光を有効に取り出すことができる半導体発光素子、半
導体発光素子の製造方法および前記半導体発光素子を用
いた表示装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の半導体発光素子は、P型半導体層とN型半
導体層とを積層させて形成され、前記P型半導体層と前
記N型半導体層の間に所定の電圧を印加することにより
光を発する発光層と、前記P型半導体層と前記N型半導
体層にそれぞれ接続するP電極およびN電極を有する半
導体チップと、表面が前記発光層の発する光の反射面と
なっている前記半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁
するように分割されている1対の電極リードと、前記1
対の電極リードと前記P電極あるいは前記N電極を接続
するように前記1対の電極リードと前記P電極あるいは
前記N電極の間に配置されている導電層とを有する。
め、本発明の半導体発光素子は、P型半導体層とN型半
導体層とを積層させて形成され、前記P型半導体層と前
記N型半導体層の間に所定の電圧を印加することにより
光を発する発光層と、前記P型半導体層と前記N型半導
体層にそれぞれ接続するP電極およびN電極を有する半
導体チップと、表面が前記発光層の発する光の反射面と
なっている前記半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁
するように分割されている1対の電極リードと、前記1
対の電極リードと前記P電極あるいは前記N電極を接続
するように前記1対の電極リードと前記P電極あるいは
前記N電極の間に配置されている導電層とを有する。
【0009】上記の半導体発光素子においては、P型半
導体層とN型半導体層とを積層させた発光層と、P型半
導体層とN型半導体層にそれぞれ接続するP電極および
N電極を有する半導体チップが1対の電極リードの凹部
に装着されており、1対の電極リードとP電極あるいは
N電極の間に配置された導電層により1対の電極リード
とP電極あるいはN電極が接続されている。発光層はP
型半導体層とN型半導体層の間に所定の電圧を印加する
ことにより光を発し、この光の一部は電極リードの凹部
表面で反射されるようになっている。
導体層とN型半導体層とを積層させた発光層と、P型半
導体層とN型半導体層にそれぞれ接続するP電極および
N電極を有する半導体チップが1対の電極リードの凹部
に装着されており、1対の電極リードとP電極あるいは
N電極の間に配置された導電層により1対の電極リード
とP電極あるいはN電極が接続されている。発光層はP
型半導体層とN型半導体層の間に所定の電圧を印加する
ことにより光を発し、この光の一部は電極リードの凹部
表面で反射されるようになっている。
【0010】上記の半導体発光素子によれば、半導体チ
ップと電極リードとがその間に配置された導電層により
接続されており、従来の発光ダイオードのような発光層
からの光を遮るワイヤボンディングや半透明の薄膜電極
がないために光の取り出し効率が向上する。
ップと電極リードとがその間に配置された導電層により
接続されており、従来の発光ダイオードのような発光層
からの光を遮るワイヤボンディングや半透明の薄膜電極
がないために光の取り出し効率が向上する。
【0011】また、P電極およびN電極の膜厚は十分に
厚くすることができるので、電極部分での光の反射率が
高まるので光の取り出し効率が向上し、電極リードの凹
部底面における光の反射率を高める必要性が少なくな
り、凹部底面を鏡面としないでよくなるので電極リード
の製造コストを抑えることができる。
厚くすることができるので、電極部分での光の反射率が
高まるので光の取り出し効率が向上し、電極リードの凹
部底面における光の反射率を高める必要性が少なくな
り、凹部底面を鏡面としないでよくなるので電極リード
の製造コストを抑えることができる。
【0012】また、発光層は通電により発熱するが、従
来の半導体発光素子においては、この熱は主としてサフ
ァイア基板および接着層を介して、あるいは細い金のワ
イヤを介して電極リードへ伝導され、放熱される。この
ため、放熱は不十分であったが、本発明の半導体発光素
子においては、導電層として金属などの熱伝導性の材料
を用いることにより、発光層の通電による発熱を直接電
極リードへ伝導し、放熱することが可能となり、放熱効
率を向上させることができる。また、P電極およびN電
極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電極部分
の電気抵抗が下げることが可能となり、電極部分での発
熱量を少なくすることができる。さらに半導体チップと
電極リードの凹部底面との熱膨張率の違いによる熱スト
レスを吸収するアンダーフィル封止剤に、通常の半導体
装置で実績のある不透明で熱抵抗の小さい材料を用いる
ことが可能となる。
来の半導体発光素子においては、この熱は主としてサフ
ァイア基板および接着層を介して、あるいは細い金のワ
イヤを介して電極リードへ伝導され、放熱される。この
ため、放熱は不十分であったが、本発明の半導体発光素
子においては、導電層として金属などの熱伝導性の材料
を用いることにより、発光層の通電による発熱を直接電
極リードへ伝導し、放熱することが可能となり、放熱効
率を向上させることができる。また、P電極およびN電
極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電極部分
の電気抵抗が下げることが可能となり、電極部分での発
熱量を少なくすることができる。さらに半導体チップと
電極リードの凹部底面との熱膨張率の違いによる熱スト
レスを吸収するアンダーフィル封止剤に、通常の半導体
装置で実績のある不透明で熱抵抗の小さい材料を用いる
ことが可能となる。
【0013】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
発光層が光透過性の絶縁基板に形成されている。これに
より、発光層の発する光が絶縁基板を透過してくること
となるので、発光層の発する光の取り出し効率を向上さ
せることができる。
発光層が光透過性の絶縁基板に形成されている。これに
より、発光層の発する光が絶縁基板を透過してくること
となるので、発光層の発する光の取り出し効率を向上さ
せることができる。
【0014】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
1対の電極リードがほぼ面対称形状である。また、好適
には、前記半導体チップの対角線位置で前記1対の電極
リードが分割されている。電極リードをこのような構造
とすることで凹部形成が容易となり、部品のコストを下
げることが可能となり、さらに半導体チップと電極リー
ドの位置合わせが容易になるので光軸の取り方が容易と
なる。
1対の電極リードがほぼ面対称形状である。また、好適
には、前記半導体チップの対角線位置で前記1対の電極
リードが分割されている。電極リードをこのような構造
とすることで凹部形成が容易となり、部品のコストを下
げることが可能となり、さらに半導体チップと電極リー
ドの位置合わせが容易になるので光軸の取り方が容易と
なる。
【0015】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
1対の電極リードの前記凹部の底面形状が前記半導体チ
ップの形状と略相似形である。また、好適には、前記半
導体チップが略方形形状であり、前記一方の電極リード
の前記凹部の底面形状が三角形形状であり、前記三角形
の頂角の角度が、前記半導体チップの頂角のなす角度と
同じである。電極リードの凹部の底面形状を半導体チッ
プの形状に合わせることにより、半導体チップと電極リ
ードの位置合わせが容易になる。
1対の電極リードの前記凹部の底面形状が前記半導体チ
ップの形状と略相似形である。また、好適には、前記半
導体チップが略方形形状であり、前記一方の電極リード
の前記凹部の底面形状が三角形形状であり、前記三角形
の頂角の角度が、前記半導体チップの頂角のなす角度と
同じである。電極リードの凹部の底面形状を半導体チッ
プの形状に合わせることにより、半導体チップと電極リ
ードの位置合わせが容易になる。
【0016】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
電極リードの前記凹部の深さと前記半導体チップの厚さ
がほぼ同じである。電極リードの凹部側壁の傾斜面での
反射により半導体チップの側面からの光を有効に取り出
すことができ、また、凹部側壁が高すぎて半導体チップ
を保持する治具が側壁にぶつかるということがなく、位
置合わせを正確に行うことができる。
電極リードの前記凹部の深さと前記半導体チップの厚さ
がほぼ同じである。電極リードの凹部側壁の傾斜面での
反射により半導体チップの側面からの光を有効に取り出
すことができ、また、凹部側壁が高すぎて半導体チップ
を保持する治具が側壁にぶつかるということがなく、位
置合わせを正確に行うことができる。
【0017】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
電極リードの前記凹部表面が実質的に前記発光層の発す
る光を反射する鏡面に形成されている。また、好適に
は、前記電極リードの凹部表面の側壁面が、開口側ほど
広がっているテーパ形状である。電極リードの凹部表面
を鏡面とすることで、実質的に発光層の発する光のほと
んどを反射することになり、また、側壁面を上方ほど広
がっているテーパ形状とすることで発光層の発する光を
有効に一方向に反射させることができ、半導体チップか
らの光の取り出し効率を向上させることができる。
電極リードの前記凹部表面が実質的に前記発光層の発す
る光を反射する鏡面に形成されている。また、好適に
は、前記電極リードの凹部表面の側壁面が、開口側ほど
広がっているテーパ形状である。電極リードの凹部表面
を鏡面とすることで、実質的に発光層の発する光のほと
んどを反射することになり、また、側壁面を上方ほど広
がっているテーパ形状とすることで発光層の発する光を
有効に一方向に反射させることができ、半導体チップか
らの光の取り出し効率を向上させることができる。
【0018】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
電極リードの前記凹部の底面に前記半導体チップの位置
決め用孔が開孔されており、前記孔が前記P電極あるい
は前記N電極に接続する導電体で埋め込まれている。こ
れにより、半導体チップと電極リードの位置合わせが容
易になる。
電極リードの前記凹部の底面に前記半導体チップの位置
決め用孔が開孔されており、前記孔が前記P電極あるい
は前記N電極に接続する導電体で埋め込まれている。こ
れにより、半導体チップと電極リードの位置合わせが容
易になる。
【0019】上記の半導体発光素子は、好適には、導電
体により前記電極リードと接続する領域を除いて前記P
電極と前記N電極が導電体に対するぬれ性が悪い絶縁体
で被覆されている。これにより、P電極とN電極を保護
することが可能となり、エレクトロマイグレーションな
どの効果を防ぐことができ、さらにハンダなどの溶融金
属を用いて半導体チップと電極リードを接続するときに
自己整合的に位置決めを行うことが可能となる。
体により前記電極リードと接続する領域を除いて前記P
電極と前記N電極が導電体に対するぬれ性が悪い絶縁体
で被覆されている。これにより、P電極とN電極を保護
することが可能となり、エレクトロマイグレーションな
どの効果を防ぐことができ、さらにハンダなどの溶融金
属を用いて半導体チップと電極リードを接続するときに
自己整合的に位置決めを行うことが可能となる。
【0020】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
凹部底面と前記半導体チップのP型半導体層とN型半導
体層の接合面とを略平行に位置決めするための少なくと
も三個の突起が前記1対の電極リードの凹部底面に形成
されている。製造上のばらつきにより、半導体チップと
凹部表面(リフレクタ)の軸がずれたり、半導体チップ
と封止樹脂のレンズとの軸がずれたりするために最大輝
度となる方向のばらつきを発生させ、最大輝度となる方
向にばらつきのある発光ダイオードを用いて表示装置を
組み立てると、画面の一様性を損なうこととなるが、位
置決めするため突起を凹部底面に形成することで、半導
体チップと凹部表面(リフレクタ)、あるいは封止樹脂
のレンズとの軸合わせ(軸角度合わせ)が容易となり、
最大輝度となる方向のばらつきを抑えることができる。
凹部底面と前記半導体チップのP型半導体層とN型半導
体層の接合面とを略平行に位置決めするための少なくと
も三個の突起が前記1対の電極リードの凹部底面に形成
されている。製造上のばらつきにより、半導体チップと
凹部表面(リフレクタ)の軸がずれたり、半導体チップ
と封止樹脂のレンズとの軸がずれたりするために最大輝
度となる方向のばらつきを発生させ、最大輝度となる方
向にばらつきのある発光ダイオードを用いて表示装置を
組み立てると、画面の一様性を損なうこととなるが、位
置決めするため突起を凹部底面に形成することで、半導
体チップと凹部表面(リフレクタ)、あるいは封止樹脂
のレンズとの軸合わせ(軸角度合わせ)が容易となり、
最大輝度となる方向のばらつきを抑えることができる。
【0021】上記の半導体発光素子は、好適には、前記
導電層が、異方性導電物質である。異方性導電フィル
ム、あるいは異方性導電材料の塗布層を1対の電極リー
ドとP電極あるいはN電極を接続する導電層とすること
ができる。この場合、電極リードへの半導体チップの接
続、位置決め、固定を同時に行うことができるので、工
程を簡略化して容易に製造することができる。
導電層が、異方性導電物質である。異方性導電フィル
ム、あるいは異方性導電材料の塗布層を1対の電極リー
ドとP電極あるいはN電極を接続する導電層とすること
ができる。この場合、電極リードへの半導体チップの接
続、位置決め、固定を同時に行うことができるので、工
程を簡略化して容易に製造することができる。
【0022】また、上記の目的を達成するため、本発明
の半導体発光素子の製造方法は、光透過性の絶縁性ウェ
ハ上に、N型半導体層とP型半導体層との接合体であ
り、前記P型半導体層と前記N型半導体層の間に所定の
電圧を印加することにより光を発する発光層を形成する
工程と、前記P型半導体層に接続するP電極を形成する
工程と、前記N型半導体層に接続するN電極を形成する
工程と、前記P電極および前記N電極を被覆して異方性
導電層を形成する工程と、前記ウェハをダイシングして
個々の半導体チップに分割する工程と、表面が前記発光
層の発する光の反射面となっている前記半導体チップ用
凹部を有し、互いに絶縁するように分割されている1対
の電極リードに、前記1対の電極リードと前記P電極あ
るいは前記N電極を前記異方性導電層を介して接続する
ように、前記半導体チップを固定する工程とを有する。
の半導体発光素子の製造方法は、光透過性の絶縁性ウェ
ハ上に、N型半導体層とP型半導体層との接合体であ
り、前記P型半導体層と前記N型半導体層の間に所定の
電圧を印加することにより光を発する発光層を形成する
工程と、前記P型半導体層に接続するP電極を形成する
工程と、前記N型半導体層に接続するN電極を形成する
工程と、前記P電極および前記N電極を被覆して異方性
導電層を形成する工程と、前記ウェハをダイシングして
個々の半導体チップに分割する工程と、表面が前記発光
層の発する光の反射面となっている前記半導体チップ用
凹部を有し、互いに絶縁するように分割されている1対
の電極リードに、前記1対の電極リードと前記P電極あ
るいは前記N電極を前記異方性導電層を介して接続する
ように、前記半導体チップを固定する工程とを有する。
【0023】上記の本発明の半導体発光素子の製造方法
は、光透過性の絶縁性ウェハ上に、N型半導体層とP型
半導体層との接合体であり、P型半導体層とN型半導体
層の間に所定の電圧を印加することにより光を発する発
光層を形成し、P型半導体層に接続するP電極を形成
し、N型半導体層に接続するN電極を形成する。その
後、P電極およびN電極を被覆して異方性導電層を形成
し、ウェハをダイシングして個々の半導体チップに分割
する。次に、表面が発光層の発する光の反射面となって
いる半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように
分割されている1対の電極リードに、1対の電極リード
とP電極あるいはN電極を異方性導電層を介して接続す
るように、半導体チップを固定する。
は、光透過性の絶縁性ウェハ上に、N型半導体層とP型
半導体層との接合体であり、P型半導体層とN型半導体
層の間に所定の電圧を印加することにより光を発する発
光層を形成し、P型半導体層に接続するP電極を形成
し、N型半導体層に接続するN電極を形成する。その
後、P電極およびN電極を被覆して異方性導電層を形成
し、ウェハをダイシングして個々の半導体チップに分割
する。次に、表面が発光層の発する光の反射面となって
いる半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように
分割されている1対の電極リードに、1対の電極リード
とP電極あるいはN電極を異方性導電層を介して接続す
るように、半導体チップを固定する。
【0024】上記の本発明の半導体発光素子の製造方法
によれば、半導体チップと電極リードとを異方性導電層
により接続するので、従来のような発光層からの光を遮
るワイヤや半透明の薄膜電極がなく、さらにP電極およ
びN電極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電
極部分での光の反射率が高まり、光の取り出し効率を向
上させた半導体発光素子を製造することができる。電極
リードの凹部底面における光の反射率を高める必要性が
少なくなるので、凹部底面を鏡面としないでよくなるの
で電極リードの製造コストを抑えることができる。ま
た、ウェハのダイシング工程の前に異方性導電層を形成
するので製造が容易であり、さらに電極リードへの半導
体チップの接続、位置決め、固定を同時に行うことがで
きるので、工程を簡略化して容易に製造することができ
る。
によれば、半導体チップと電極リードとを異方性導電層
により接続するので、従来のような発光層からの光を遮
るワイヤや半透明の薄膜電極がなく、さらにP電極およ
びN電極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電
極部分での光の反射率が高まり、光の取り出し効率を向
上させた半導体発光素子を製造することができる。電極
リードの凹部底面における光の反射率を高める必要性が
少なくなるので、凹部底面を鏡面としないでよくなるの
で電極リードの製造コストを抑えることができる。ま
た、ウェハのダイシング工程の前に異方性導電層を形成
するので製造が容易であり、さらに電極リードへの半導
体チップの接続、位置決め、固定を同時に行うことがで
きるので、工程を簡略化して容易に製造することができ
る。
【0025】また、上記の目的を達成するため、本発明
の半導体発光素子の製造方法は、光透過性の絶縁性ウェ
ハ上に、N型半導体層とP型半導体層との接合体であ
り、前記P型半導体層と前記N型半導体層の間に所定の
電圧を印加することにより光を発する発光層を形成する
工程と、前記P型半導体層に接続するP電極を形成する
工程と、前記N型半導体層に接続するN電極を形成する
工程と、前記ウェハに格子状のスリットを入れる工程
と、前記P電極および前記N電極を被覆して異方性導電
層を形成する工程と、前記ウェハのスリット部を拡げて
個々の半導体チップに分割する工程と、表面が前記発光
層の発する光の反射面となっている前記半導体チップ用
凹部を有し、互いに絶縁するように分割されている1対
の電極リードに、前記1対の電極リードと前記P電極あ
るいは前記N電極を前記異方性導電層を介して接続する
ように、前記半導体チップを固定する工程とを有する。
の半導体発光素子の製造方法は、光透過性の絶縁性ウェ
ハ上に、N型半導体層とP型半導体層との接合体であ
り、前記P型半導体層と前記N型半導体層の間に所定の
電圧を印加することにより光を発する発光層を形成する
工程と、前記P型半導体層に接続するP電極を形成する
工程と、前記N型半導体層に接続するN電極を形成する
工程と、前記ウェハに格子状のスリットを入れる工程
と、前記P電極および前記N電極を被覆して異方性導電
層を形成する工程と、前記ウェハのスリット部を拡げて
個々の半導体チップに分割する工程と、表面が前記発光
層の発する光の反射面となっている前記半導体チップ用
凹部を有し、互いに絶縁するように分割されている1対
の電極リードに、前記1対の電極リードと前記P電極あ
るいは前記N電極を前記異方性導電層を介して接続する
ように、前記半導体チップを固定する工程とを有する。
【0026】光透過性の絶縁性ウェハ上に、N型半導体
層とP型半導体層との接合体であり、P型半導体層とN
型半導体層の間に所定の電圧を印加することにより光を
発する発光層を形成し、P型半導体層に接続するP電極
を形成し、N型半導体層に接続するN電極を形成する。
その後、ウェハに格子状のスリットを入れ、P電極およ
びN電極を被覆して異方性導電層を形成した後、ウェハ
のスリット部を拡げて個々の半導体チップに分割する。
次に、表面が発光層の発する光の反射面となっている半
導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割さ
れている1対の電極リードに、1対の電極リードとP電
極あるいはN電極を異方性導電層を介して接続するよう
に、半導体チップを固定する。
層とP型半導体層との接合体であり、P型半導体層とN
型半導体層の間に所定の電圧を印加することにより光を
発する発光層を形成し、P型半導体層に接続するP電極
を形成し、N型半導体層に接続するN電極を形成する。
その後、ウェハに格子状のスリットを入れ、P電極およ
びN電極を被覆して異方性導電層を形成した後、ウェハ
のスリット部を拡げて個々の半導体チップに分割する。
次に、表面が発光層の発する光の反射面となっている半
導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割さ
れている1対の電極リードに、1対の電極リードとP電
極あるいはN電極を異方性導電層を介して接続するよう
に、半導体チップを固定する。
【0027】上記の本発明の半導体発光素子の製造方法
によれば、半導体チップと電極リードとを異方性導電層
により接続するので、従来のような発光層からの光を遮
るワイヤや半透明の薄膜電極がなく、さらにP電極およ
びN電極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電
極部分での光の反射率が高まり、光の取り出し効率を向
上させた半導体発光素子を製造することができる。電極
リードの凹部底面における光の反射率を高める必要性が
少なくなるので、凹部底面を鏡面としないでよくなるの
で電極リードの製造コストを抑えることができる。ま
た、ウェハの個々の半導体チップへの分割の前に異方性
導電層を形成するので製造が容易であり、さらに電極リ
ードへの半導体チップの接続、位置決め、固定を同時に
行うことができるので、工程を簡略化して容易に製造す
ることができる。
によれば、半導体チップと電極リードとを異方性導電層
により接続するので、従来のような発光層からの光を遮
るワイヤや半透明の薄膜電極がなく、さらにP電極およ
びN電極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電
極部分での光の反射率が高まり、光の取り出し効率を向
上させた半導体発光素子を製造することができる。電極
リードの凹部底面における光の反射率を高める必要性が
少なくなるので、凹部底面を鏡面としないでよくなるの
で電極リードの製造コストを抑えることができる。ま
た、ウェハの個々の半導体チップへの分割の前に異方性
導電層を形成するので製造が容易であり、さらに電極リ
ードへの半導体チップの接続、位置決め、固定を同時に
行うことができるので、工程を簡略化して容易に製造す
ることができる。
【0028】また、上記の目的を達成するため、本発明
の表示装置は、P型半導体層とN型半導体層とを積層さ
せて形成され、前記P型半導体層と前記N型半導体層の
間に所定の電圧を印加することにより光を発する発光層
と、前記P型半導体層と前記N型半導体層にそれぞれ接
続するP電極およびN電極を有する半導体チップと、表
面が前記発光層の発する光の反射面となっている前記半
導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割さ
れている1対の電極リードと、前記1対の電極リードと
前記P電極あるいは前記N電極を接続するように前記1
対の電極リードと前記P電極あるいは前記N電極の間に
配置されている導電層とを有する半導体発光素子をマト
リクス状に複数個並べて形成されている。
の表示装置は、P型半導体層とN型半導体層とを積層さ
せて形成され、前記P型半導体層と前記N型半導体層の
間に所定の電圧を印加することにより光を発する発光層
と、前記P型半導体層と前記N型半導体層にそれぞれ接
続するP電極およびN電極を有する半導体チップと、表
面が前記発光層の発する光の反射面となっている前記半
導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割さ
れている1対の電極リードと、前記1対の電極リードと
前記P電極あるいは前記N電極を接続するように前記1
対の電極リードと前記P電極あるいは前記N電極の間に
配置されている導電層とを有する半導体発光素子をマト
リクス状に複数個並べて形成されている。
【0029】上記の表示装置は、半導体発光素子をマト
リクス状に複数個並べて形成されていて、この半導体発
光素子は、P型半導体層とN型半導体層とを積層させた
発光層と、P型半導体層とN型半導体層にそれぞれ接続
するP電極およびN電極を有する半導体チップが1対の
電極リードの凹部に装着されており、1対の電極リード
とP電極あるいはN電極の間に配置された導電層により
1対の電極リードとP電極あるいはN電極が接続されて
おり、発光層はP型半導体層とN型半導体層の間に所定
の電圧を印加することにより光を発し、この光は電極リ
ードの凹部表面で反射されるようになっている。
リクス状に複数個並べて形成されていて、この半導体発
光素子は、P型半導体層とN型半導体層とを積層させた
発光層と、P型半導体層とN型半導体層にそれぞれ接続
するP電極およびN電極を有する半導体チップが1対の
電極リードの凹部に装着されており、1対の電極リード
とP電極あるいはN電極の間に配置された導電層により
1対の電極リードとP電極あるいはN電極が接続されて
おり、発光層はP型半導体層とN型半導体層の間に所定
の電圧を印加することにより光を発し、この光は電極リ
ードの凹部表面で反射されるようになっている。
【0030】上記の表示装置によれば、表示装置を構成
する各半導体発光素子は、半導体チップと電極リードと
がその間に配置された導電層により接続されており、従
来のような発光層からの光を遮るワイヤボンディングや
半透明の薄膜電極がないために光の取り出し効率が向上
する。
する各半導体発光素子は、半導体チップと電極リードと
がその間に配置された導電層により接続されており、従
来のような発光層からの光を遮るワイヤボンディングや
半透明の薄膜電極がないために光の取り出し効率が向上
する。
【0031】また、導電層として金属などの熱伝導性の
材料を用いることにより、発光層の通電による発熱を直
接電極リードへ伝導し、放熱することが可能となり、放
熱効率を向上させることができる。
材料を用いることにより、発光層の通電による発熱を直
接電極リードへ伝導し、放熱することが可能となり、放
熱効率を向上させることができる。
【0032】上記の表示装置は、好適には、前記複数個
の半導体発光素子のP電極とN電極の位置関係が一方向
に揃えられている。また、好適には、前記複数個の半導
体発光素子の発光中心が上側に揃えられている。また、
好適には、前記1対の電極リードの分割面が略水平方向
になるように揃えられている。これにより、表示装置の
画面の上方方向よりも下方方向、垂直方向よりも水平方
向の視野角を拡げることができる。
の半導体発光素子のP電極とN電極の位置関係が一方向
に揃えられている。また、好適には、前記複数個の半導
体発光素子の発光中心が上側に揃えられている。また、
好適には、前記1対の電極リードの分割面が略水平方向
になるように揃えられている。これにより、表示装置の
画面の上方方向よりも下方方向、垂直方向よりも水平方
向の視野角を拡げることができる。
【0033】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて、図面を参照して説明する。
いて、図面を参照して説明する。
【0034】第1実施形態 本実施形態にかかる半導体発光素子の断面図を図1に示
す。P電極リード1およびN電極リード2からなる1対
の電極リードに、半導体チップ用の凹部が設けられてお
り、例えばGaNのP型半導体層とN型半導体層のPN
接合による発光層を有する半導体チップ3が凹部内に装
着されており、P型半導体層とP電極リード1が接続さ
れて、一方、N型半導体層とN電極リード2が接続され
ている。上記の半導体チップ3とP電極リード1および
N電極リード2との接続部は、可視光透過性のエポキシ
樹脂などからなり、レンズの役割を有する封止樹脂4に
より封止されている。
す。P電極リード1およびN電極リード2からなる1対
の電極リードに、半導体チップ用の凹部が設けられてお
り、例えばGaNのP型半導体層とN型半導体層のPN
接合による発光層を有する半導体チップ3が凹部内に装
着されており、P型半導体層とP電極リード1が接続さ
れて、一方、N型半導体層とN電極リード2が接続され
ている。上記の半導体チップ3とP電極リード1および
N電極リード2との接続部は、可視光透過性のエポキシ
樹脂などからなり、レンズの役割を有する封止樹脂4に
より封止されている。
【0035】上記の半導体発光素子の要部を拡大した平
面図を図2(a)に、図2(a)中のA−A’における
断面図を図2(b)に示す。略面対称形状であり、対称
的に配置されたP電極リード1とN電極リード2からな
る1対の電極リードに、表面が半導体チップ3の発光層
の発する光の反射面となっている凹部が設けられてお
り、半導体チップ3が装着されている。凹部の底面5’
は略正方形形状の半導体チップ3と略相似形で半導体チ
ップ3よりも僅かに大きな形状であり、一方の電極リー
ドの底面形状は略二等辺直角三角形となっている。ま
た、電極リードの凹部の側壁面5は底面に対して約45
度に傾いた斜面で構成されており、開口側ほど広がって
いるテーパ形状となっている。電極リードの凹部の少な
くとも側壁面は、半導体チップ3の発光層の発する光を
ほとんど反射する鏡面となっていることが好ましい。個
々の電極リードの略二等辺直角三角形形状の底面の直角
の近傍には、半導体チップとの接続部に位置決め用の孔
H1、H2が開孔されており、また、底面の長辺近傍に
は位置決め用の突起15が1対の電極リードに対して少
なくとも3か所以上、図面上は個々の電極リードに対し
て2か所づつ(計4か所)形成されている。
面図を図2(a)に、図2(a)中のA−A’における
断面図を図2(b)に示す。略面対称形状であり、対称
的に配置されたP電極リード1とN電極リード2からな
る1対の電極リードに、表面が半導体チップ3の発光層
の発する光の反射面となっている凹部が設けられてお
り、半導体チップ3が装着されている。凹部の底面5’
は略正方形形状の半導体チップ3と略相似形で半導体チ
ップ3よりも僅かに大きな形状であり、一方の電極リー
ドの底面形状は略二等辺直角三角形となっている。ま
た、電極リードの凹部の側壁面5は底面に対して約45
度に傾いた斜面で構成されており、開口側ほど広がって
いるテーパ形状となっている。電極リードの凹部の少な
くとも側壁面は、半導体チップ3の発光層の発する光を
ほとんど反射する鏡面となっていることが好ましい。個
々の電極リードの略二等辺直角三角形形状の底面の直角
の近傍には、半導体チップとの接続部に位置決め用の孔
H1、H2が開孔されており、また、底面の長辺近傍に
は位置決め用の突起15が1対の電極リードに対して少
なくとも3か所以上、図面上は個々の電極リードに対し
て2か所づつ(計4か所)形成されている。
【0036】上記の突起上15に、半導体チップ3が配
置されている。半導体チップ3は例えばサファイア基板
6とGaNのPN接合体Jにより構成されており、例え
ばPN接合体中のP型半導体層に接続するようにはんだ
などの金属、あるいは導電性接着剤などからなり熱伝導
性である半球形状の導電層12が形成され、P電極リー
ド1の凹部底面の孔H1に埋め込まれている。同じく、
N型半導体層にも熱伝導性である半球形状の導電層13
が形成され、N電極リード2の凹部底面の孔H2に埋め
込まれている。導電層12、13以外の領域は、アンダ
ーフィル封止剤14により封止され、アンダーフィル封
止剤14を接着剤として半導体チップ3が凹部底面に固
定される。半導体チップ3のうち、N電極に接続する導
電層13を除く領域が発光領域Eとなっている。凹部の
深さと半導体チップ3の厚さがほぼ同じであり、半導体
チップの表面と電極リードの発光面側の表面の高さがほ
ぼ同じになっている。
置されている。半導体チップ3は例えばサファイア基板
6とGaNのPN接合体Jにより構成されており、例え
ばPN接合体中のP型半導体層に接続するようにはんだ
などの金属、あるいは導電性接着剤などからなり熱伝導
性である半球形状の導電層12が形成され、P電極リー
ド1の凹部底面の孔H1に埋め込まれている。同じく、
N型半導体層にも熱伝導性である半球形状の導電層13
が形成され、N電極リード2の凹部底面の孔H2に埋め
込まれている。導電層12、13以外の領域は、アンダ
ーフィル封止剤14により封止され、アンダーフィル封
止剤14を接着剤として半導体チップ3が凹部底面に固
定される。半導体チップ3のうち、N電極に接続する導
電層13を除く領域が発光領域Eとなっている。凹部の
深さと半導体チップ3の厚さがほぼ同じであり、半導体
チップの表面と電極リードの発光面側の表面の高さがほ
ぼ同じになっている。
【0037】上記の半導体チップ3近傍をさらに拡大し
た断面図を図3に示す。例えば光透過性である透明なサ
ファイア基板6の下層にN型GaNからなるN型半導体
層7が形成されており、その下層に例えば金からなるN
電極10が形成されており、導電層13を介してN電極
リード2の底面表面の孔H2において接続している。一
方、N電極10を除く領域では、N型半導体層7とP型
GaNのP型半導体層8が積層されている。P型半導体
層8の下層には、P型半導体層8に接続する例えば金か
らなるP電極9が一様な膜厚で厚く形成されており、導
電層12を介してP電極リード1の底面表面の孔H1に
おいて接続している。一様な厚い膜厚のP電極は、発光
層の下面を完全反射面とすることができる。また、P電
極9およびN電極13を例えば酸化シリコンあるいは酸
化アルミニウムなどからなる保護絶縁膜11が被覆して
形成されていて、エレクトロマイグレーションなどの効
果を防ぐことができる。さらに、半導体チップと電極リ
ードの間隙はアンダーフィル封止剤14により封止され
ている。
た断面図を図3に示す。例えば光透過性である透明なサ
ファイア基板6の下層にN型GaNからなるN型半導体
層7が形成されており、その下層に例えば金からなるN
電極10が形成されており、導電層13を介してN電極
リード2の底面表面の孔H2において接続している。一
方、N電極10を除く領域では、N型半導体層7とP型
GaNのP型半導体層8が積層されている。P型半導体
層8の下層には、P型半導体層8に接続する例えば金か
らなるP電極9が一様な膜厚で厚く形成されており、導
電層12を介してP電極リード1の底面表面の孔H1に
おいて接続している。一様な厚い膜厚のP電極は、発光
層の下面を完全反射面とすることができる。また、P電
極9およびN電極13を例えば酸化シリコンあるいは酸
化アルミニウムなどからなる保護絶縁膜11が被覆して
形成されていて、エレクトロマイグレーションなどの効
果を防ぐことができる。さらに、半導体チップと電極リ
ードの間隙はアンダーフィル封止剤14により封止され
ている。
【0038】上記の本実施形態の発光素子によれば、半
導体チップと電極リードとがその間に配置された導電層
により接続されており、従来のような発光層からの光を
遮るワイヤボンディングや半透明の薄膜電極がないため
に光の取り出し効率が向上する。また、電極リードと導
電層を接続する部位の電極リードの凹部底面に位置決め
用の孔が開孔されており、さらに底面に位置決め用の突
起が形成されているので、半導体チップと凹部表面(リ
フレクタ)、あるいは封止樹脂のレンズとの軸合わせが
容易となり、最大輝度となる方向のばらつきを抑えるこ
とができる。
導体チップと電極リードとがその間に配置された導電層
により接続されており、従来のような発光層からの光を
遮るワイヤボンディングや半透明の薄膜電極がないため
に光の取り出し効率が向上する。また、電極リードと導
電層を接続する部位の電極リードの凹部底面に位置決め
用の孔が開孔されており、さらに底面に位置決め用の突
起が形成されているので、半導体チップと凹部表面(リ
フレクタ)、あるいは封止樹脂のレンズとの軸合わせが
容易となり、最大輝度となる方向のばらつきを抑えるこ
とができる。
【0039】また、導電層として金属などの熱伝導性の
材料を用いることにより、発光層の通電による発熱を直
接電極リードへ伝導し、放熱することが可能となり、放
熱効率を向上させることができる。また、P電極および
N電極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電極
部分の電気抵抗が下げることが可能となり、電極部分で
の発熱量を少なくすることができる。さらに半導体チッ
プと電極リードの凹部底面との熱膨張率の違いによる熱
ストレスを吸収するアンダーフィル封止剤に、通常の半
導体装置で実績のある不透明で熱抵抗の小さい材料を用
いることが可能となる。
材料を用いることにより、発光層の通電による発熱を直
接電極リードへ伝導し、放熱することが可能となり、放
熱効率を向上させることができる。また、P電極および
N電極の膜厚は十分に厚くすることができるので、電極
部分の電気抵抗が下げることが可能となり、電極部分で
の発熱量を少なくすることができる。さらに半導体チッ
プと電極リードの凹部底面との熱膨張率の違いによる熱
ストレスを吸収するアンダーフィル封止剤に、通常の半
導体装置で実績のある不透明で熱抵抗の小さい材料を用
いることが可能となる。
【0040】また、従来の半導体発光素子において、半
導体チップの裏面側から出る光はエポキシ樹脂などの接
着剤層を介してリフレクタ面(電極リード凹部表面)で
反射し、凹部の開口側へ出るようにしていたが、半導体
チップの発光が接着剤層に照射して茶色などの色に変色
するため、特に青色の半導体発光素子は発光する光を接
着剤層に吸収されてしまい、寿命が短くなってしまう
が、上記の本実施形態の半導体発光素子はP電極および
N電極の発光層側表面が反射面となり、発光する光は接
着剤層あるいはアンダーフィル封止剤に実質的に到達し
なく、上記の問題を回避でき、寿命を従来よりものばす
ことができる。
導体チップの裏面側から出る光はエポキシ樹脂などの接
着剤層を介してリフレクタ面(電極リード凹部表面)で
反射し、凹部の開口側へ出るようにしていたが、半導体
チップの発光が接着剤層に照射して茶色などの色に変色
するため、特に青色の半導体発光素子は発光する光を接
着剤層に吸収されてしまい、寿命が短くなってしまう
が、上記の本実施形態の半導体発光素子はP電極および
N電極の発光層側表面が反射面となり、発光する光は接
着剤層あるいはアンダーフィル封止剤に実質的に到達し
なく、上記の問題を回避でき、寿命を従来よりものばす
ことができる。
【0041】第2実施形態 本実施形態にかかる半導体発光素子は、図1に示す第1
実施形態の半導体発光素子と実質的に同じである。本実
施形態の半導体発光素子の要部を拡大した平面図を図4
(a)に、図4(a)中のA−A’における断面図を図
4(b)に示す。第1実施形態の半導体発光素子と異な
り、個々の電極リード半導体チップとの接続部に位置決
め用の孔が開孔されておらず、また、底面の長辺近傍に
は位置決め用の突起も形成されていない。PN接合体中
のP型半導体層に接続するP電極にはP電極凸部16が
形成されており、また、N電極にはN電極凸部17が形
成されている。例えば異方性導電フィルムからなる異方
性導電層18を介して、P電極凸部16はP電極リード
1へ、N電極凸部17はN電極リード2へ、それぞれ接
続しており、P電極およびN電極間は異方性導電層18
により絶縁されている。また、異方性導電層18により
半導体チップ3が電極リードの凹部底面に固定されてい
る。
実施形態の半導体発光素子と実質的に同じである。本実
施形態の半導体発光素子の要部を拡大した平面図を図4
(a)に、図4(a)中のA−A’における断面図を図
4(b)に示す。第1実施形態の半導体発光素子と異な
り、個々の電極リード半導体チップとの接続部に位置決
め用の孔が開孔されておらず、また、底面の長辺近傍に
は位置決め用の突起も形成されていない。PN接合体中
のP型半導体層に接続するP電極にはP電極凸部16が
形成されており、また、N電極にはN電極凸部17が形
成されている。例えば異方性導電フィルムからなる異方
性導電層18を介して、P電極凸部16はP電極リード
1へ、N電極凸部17はN電極リード2へ、それぞれ接
続しており、P電極およびN電極間は異方性導電層18
により絶縁されている。また、異方性導電層18により
半導体チップ3が電極リードの凹部底面に固定されてい
る。
【0042】上記の半導体チップ3近傍をさらに拡大し
た断面図を図5に示す。例えば光透過性である透明なサ
ファイア基板6の下層にN型GaNからなるN型半導体
層7が形成されており、その下層に例えば金からなるN
電極10およびN電極凸部17が形成されている、一
方、N電極10を除く領域では、N型半導体層7とP型
GaNのP型半導体層8が積層されている。P型半導体
層8の下層には、P型半導体層8に接続する例えば金か
らなるP電極9が一様な膜厚で厚く形成されており、そ
の下層にP電極凸部16が形成されている。上記のP電
極9、P電極凸部16、N電極10およびN電極凸部1
7は例えば異方性導電フィルムからなる異方性導電層1
8に被覆されている。P電極凸部16下部およびN電極
凸部17下部の異方性導電層は押しつぶされて薄くなっ
ており、異方性導電層中の導電性粒子(図中黒い点で表
示)が、その下部にあるP電極リード1とP電極凸部1
6の間、あるいはN電極リード2とN電極凸部17の間
の導通をもたらす。
た断面図を図5に示す。例えば光透過性である透明なサ
ファイア基板6の下層にN型GaNからなるN型半導体
層7が形成されており、その下層に例えば金からなるN
電極10およびN電極凸部17が形成されている、一
方、N電極10を除く領域では、N型半導体層7とP型
GaNのP型半導体層8が積層されている。P型半導体
層8の下層には、P型半導体層8に接続する例えば金か
らなるP電極9が一様な膜厚で厚く形成されており、そ
の下層にP電極凸部16が形成されている。上記のP電
極9、P電極凸部16、N電極10およびN電極凸部1
7は例えば異方性導電フィルムからなる異方性導電層1
8に被覆されている。P電極凸部16下部およびN電極
凸部17下部の異方性導電層は押しつぶされて薄くなっ
ており、異方性導電層中の導電性粒子(図中黒い点で表
示)が、その下部にあるP電極リード1とP電極凸部1
6の間、あるいはN電極リード2とN電極凸部17の間
の導通をもたらす。
【0043】上記の本実施形態の半導体発光素子は、異
方性導電フィルム、あるいは異方性導電材料を塗布して
形成した異方性導電層を1対の電極リードとP電極ある
いはN電極を接続する導電層としており、電極リードへ
の半導体チップの接続、位置決め、固定を同時に行うこ
とができるので、工程を簡略化して容易に製造すること
ができる。また、第1実施形態の個々の電極リード半導
体チップとの接続部に形成する位置決め用の孔、あるい
は底面の長辺近傍などに形成される位置決め用の突起は
必要なく、容易に形成することができる半導体発光素子
である。
方性導電フィルム、あるいは異方性導電材料を塗布して
形成した異方性導電層を1対の電極リードとP電極ある
いはN電極を接続する導電層としており、電極リードへ
の半導体チップの接続、位置決め、固定を同時に行うこ
とができるので、工程を簡略化して容易に製造すること
ができる。また、第1実施形態の個々の電極リード半導
体チップとの接続部に形成する位置決め用の孔、あるい
は底面の長辺近傍などに形成される位置決め用の突起は
必要なく、容易に形成することができる半導体発光素子
である。
【0044】上記の半導体発光素子の製造方法について
説明する。まず、図6(a)に示すように、例えば光透
過性である透明なサファイアウェハ6上に例えばエピタ
キシャル成長によりN型GaNからなるN型半導体層7
を形成し、その上層にP型GaNのP型半導体層8を形
成する。P型半導体層8の上層には例えば金からなるP
電極9およびP電極凸部16を形成し、一方N型半導体
層7の上層にも同じく例えば金からなるN電極10およ
びN電極凸部17を形成する。
説明する。まず、図6(a)に示すように、例えば光透
過性である透明なサファイアウェハ6上に例えばエピタ
キシャル成長によりN型GaNからなるN型半導体層7
を形成し、その上層にP型GaNのP型半導体層8を形
成する。P型半導体層8の上層には例えば金からなるP
電極9およびP電極凸部16を形成し、一方N型半導体
層7の上層にも同じく例えば金からなるN電極10およ
びN電極凸部17を形成する。
【0045】次に、図6(b)に示すように、P電極
9、P電極凸部16、N電極10およびN電極凸部17
上に例えば異方性導電フィルムを被覆して、あるいは異
方性導電材料を塗布して、異方性導電層18を形成す
る。
9、P電極凸部16、N電極10およびN電極凸部17
上に例えば異方性導電フィルムを被覆して、あるいは異
方性導電材料を塗布して、異方性導電層18を形成す
る。
【0046】次に、図6(c)に示すように、ダイシン
グ工程により、1つのウェハを個々の半導体チップ(図
面上C1、C2)に分割する。以降の工程としては、各
半導体チップを電極凸部側から1対の電極リードに押し
つけて、異方性導電層18を押しつぶし、異方性導電層
18の接着力により固定する。このとき、P電極凸部1
6とP電極リード1との間、あるいは、N電極凸部17
とN電極リード2との間の異方性導電層18は薄く押し
つぶされ、異方性導電層18中の導電性粒子により、P
電極凸部16とP電極リード1との間およびN電極凸部
17とN電極リード2との間に導通がもたらされる。次
に、例えば封止樹脂で全体を封止するなどして半導体発
光素子とする。
グ工程により、1つのウェハを個々の半導体チップ(図
面上C1、C2)に分割する。以降の工程としては、各
半導体チップを電極凸部側から1対の電極リードに押し
つけて、異方性導電層18を押しつぶし、異方性導電層
18の接着力により固定する。このとき、P電極凸部1
6とP電極リード1との間、あるいは、N電極凸部17
とN電極リード2との間の異方性導電層18は薄く押し
つぶされ、異方性導電層18中の導電性粒子により、P
電極凸部16とP電極リード1との間およびN電極凸部
17とN電極リード2との間に導通がもたらされる。次
に、例えば封止樹脂で全体を封止するなどして半導体発
光素子とする。
【0047】次に、上記の製造方法と別の製造方法につ
いて説明する。まず、図7(a)に至るまでの工程は上
記の方法と同様である。次に、図7(b)に示すよう
に、ウェハの各半導体チップに分割位置に格子状のスリ
ットSを入れる。このとき、個々の半導体チップに完全
に分割しないように、スリットはウェハの途中まで入れ
て止める。
いて説明する。まず、図7(a)に至るまでの工程は上
記の方法と同様である。次に、図7(b)に示すよう
に、ウェハの各半導体チップに分割位置に格子状のスリ
ットSを入れる。このとき、個々の半導体チップに完全
に分割しないように、スリットはウェハの途中まで入れ
て止める。
【0048】次に、図7(c)に示すように、P電極
9、P電極凸部16、N電極10およびN電極凸部17
上に例えばロール転写印刷法などにより異方性導電材料
を塗布して、異方性導電層18を形成する。このとき、
スリット部Sには異方性導電層は形成しないようにす
る。
9、P電極凸部16、N電極10およびN電極凸部17
上に例えばロール転写印刷法などにより異方性導電材料
を塗布して、異方性導電層18を形成する。このとき、
スリット部Sには異方性導電層は形成しないようにす
る。
【0049】次に、図7(d)に示すように、ウェハに
図示しないエキスパンドフィルムを貼り付け、スリット
部Sを拡げるようにして分割し、1つのウェハを個々の
半導体チップ(図面上D1、D2)に分割する。以降の
工程としては、上記の方法と同様にして、例えば各半導
体チップを電極凸部側から1対の電極リードに押しつけ
て、P電極凸部16とP電極リード1との間、あるい
は、N電極凸部17とN電極リード2との間を異方性導
電層18中の導電性粒子により導通するようにして固定
し、封止樹脂で全体を封止するなどして半導体発光素子
とする。
図示しないエキスパンドフィルムを貼り付け、スリット
部Sを拡げるようにして分割し、1つのウェハを個々の
半導体チップ(図面上D1、D2)に分割する。以降の
工程としては、上記の方法と同様にして、例えば各半導
体チップを電極凸部側から1対の電極リードに押しつけ
て、P電極凸部16とP電極リード1との間、あるい
は、N電極凸部17とN電極リード2との間を異方性導
電層18中の導電性粒子により導通するようにして固定
し、封止樹脂で全体を封止するなどして半導体発光素子
とする。
【0050】上記の本実施形態の半導体発光素子の製造
方法によれば、半導体チップと電極リードとを異方性導
電層により接続するので、従来のような発光層からの光
を遮るワイヤや半透明の薄膜電極がなく、さらにP電極
およびN電極の膜厚は十分に厚くすることができるの
で、電極部分での光の反射率が高まり、光の取り出し効
率を向上させた半導体発光素子を製造することができ
る。電極リードの凹部底面における光の反射率を高める
必要性が少なくなるので、凹部底面を鏡面としないでよ
くなるので電極リードの製造コストを抑えることができ
る。また、ウェハの個々の半導体チップへの分割の前に
異方性導電層を形成するので製造が容易であり、さらに
電極リードへの半導体チップの接続、位置決め、固定を
同時に行うことができるので、工程を簡略化して容易に
製造することができる。
方法によれば、半導体チップと電極リードとを異方性導
電層により接続するので、従来のような発光層からの光
を遮るワイヤや半透明の薄膜電極がなく、さらにP電極
およびN電極の膜厚は十分に厚くすることができるの
で、電極部分での光の反射率が高まり、光の取り出し効
率を向上させた半導体発光素子を製造することができ
る。電極リードの凹部底面における光の反射率を高める
必要性が少なくなるので、凹部底面を鏡面としないでよ
くなるので電極リードの製造コストを抑えることができ
る。また、ウェハの個々の半導体チップへの分割の前に
異方性導電層を形成するので製造が容易であり、さらに
電極リードへの半導体チップの接続、位置決め、固定を
同時に行うことができるので、工程を簡略化して容易に
製造することができる。
【0051】第3実施形態 本実施形態にかかる表示装置の模式図を図8に示す。第
1実施形態あるいは第2実施形態にかかる半導体発光素
子を複数個マトリクス状に並べて形成した表示装置であ
る。図面上は3個の半導体発光素子(LED1、LED
2、LED3)で代表して示している。表示画面を垂直
に置いて用いられる表示装置としたときの表示画面の水
平方向を方向Hで、垂直方向を方向Vで示している。各
半導体発光素子のP電極12とN電極13の位置関係が
一方向に揃えられている。ここでは、各半導体発光素子
のP電極12が上側(図面上u側)となるように揃えら
れている。また、複数個の半導体発光素子3の発光中心
ECが上側に揃えられている。また、1対の電極リード
1、2の分割面が略水平方向(図面上H方向)になるよ
うに揃えられている。これにより、表示装置の画面の上
方方向よりも下方方向、垂直方向よりも水平方向の視野
角を拡げることができる。各半導体発光素子が高輝度で
あるので、屋外用の高輝度が必要な表示装置を提供する
ことができる。
1実施形態あるいは第2実施形態にかかる半導体発光素
子を複数個マトリクス状に並べて形成した表示装置であ
る。図面上は3個の半導体発光素子(LED1、LED
2、LED3)で代表して示している。表示画面を垂直
に置いて用いられる表示装置としたときの表示画面の水
平方向を方向Hで、垂直方向を方向Vで示している。各
半導体発光素子のP電極12とN電極13の位置関係が
一方向に揃えられている。ここでは、各半導体発光素子
のP電極12が上側(図面上u側)となるように揃えら
れている。また、複数個の半導体発光素子3の発光中心
ECが上側に揃えられている。また、1対の電極リード
1、2の分割面が略水平方向(図面上H方向)になるよ
うに揃えられている。これにより、表示装置の画面の上
方方向よりも下方方向、垂直方向よりも水平方向の視野
角を拡げることができる。各半導体発光素子が高輝度で
あるので、屋外用の高輝度が必要な表示装置を提供する
ことができる。
【0052】本発明は、上記の実施の形態に限定されな
い。例えば、半導体チップの基板はサファイア基板に限
らず、透明であればどんな基板でも用いることができ
る。また、半導体層もGaNの他の半導体を用いること
が可能である。P電極およびN電極は特に限定はない
が、膜厚を厚くすることで光を反射することができる材
料であることが望ましい。その他、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種々の変更を行うことができる。
い。例えば、半導体チップの基板はサファイア基板に限
らず、透明であればどんな基板でも用いることができ
る。また、半導体層もGaNの他の半導体を用いること
が可能である。P電極およびN電極は特に限定はない
が、膜厚を厚くすることで光を反射することができる材
料であることが望ましい。その他、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種々の変更を行うことができる。
【0053】
【発明の効果】本発明の半導体発光素子によれば、発光
層より発生した光を有効に取り出すことが可能な半導体
発光素子を提供することができる。
層より発生した光を有効に取り出すことが可能な半導体
発光素子を提供することができる。
【0054】本発明の半導体発光素子の製造方法によれ
ば、本発明の半導体発光素子を容易に製造可能で、光の
取り出し効率を向上させた半導体発光素子を製造するこ
とができる。
ば、本発明の半導体発光素子を容易に製造可能で、光の
取り出し効率を向上させた半導体発光素子を製造するこ
とができる。
【0055】また本発明の表示装置によれば、上記の本
発明の半導体発光素子をマトリクス状に複数個並べて形
成した、発光層より発生した光を有効に取り出すことが
可能な表示装置を提供することができる。
発明の半導体発光素子をマトリクス状に複数個並べて形
成した、発光層より発生した光を有効に取り出すことが
可能な表示装置を提供することができる。
【図1】図1は第1実施形態にかかる半導体発光素子の
模式図である。
模式図である。
【図2】図2(a)は第1実施形態にかかる半導体発光
素子の要部を拡大した平面図であり、図2(b)は図2
(a)のA−A’における断面図である。
素子の要部を拡大した平面図であり、図2(b)は図2
(a)のA−A’における断面図である。
【図3】図3は図2(b)の半導体チップ近傍をさらに
拡大した断面図である。
拡大した断面図である。
【図4】図4(a)は第2実施形態にかかる半導体発光
素子の要部の平面図であり、図4(b)は図4(a)の
A−A’における断面図である。
素子の要部の平面図であり、図4(b)は図4(a)の
A−A’における断面図である。
【図5】図5は図4(b)の半導体チップ近傍をさらに
拡大した断面図である。
拡大した断面図である。
【図6】図6は第2実施形態にかかる半導体発光素子の
製造方法の製造工程を示す断面図であり、(a)はN電
極凸部およびP電極凸部の形成工程まで、(b)は異方
性導電層の形成工程まで、(c)はダイシング工程まで
を示す。
製造方法の製造工程を示す断面図であり、(a)はN電
極凸部およびP電極凸部の形成工程まで、(b)は異方
性導電層の形成工程まで、(c)はダイシング工程まで
を示す。
【図7】図7は第2実施形態にかかる半導体発光素子の
製造方法の製造工程を示す断面図であり、(a)はN電
極凸部およびP電極凸部の形成工程まで、(b)はウェ
ハに格子状のスリットを入れる工程まで、(c)は異方
性導電層の形成工程まで、(d)は個々の半導体チップ
に分割する工程までを示す。
製造方法の製造工程を示す断面図であり、(a)はN電
極凸部およびP電極凸部の形成工程まで、(b)はウェ
ハに格子状のスリットを入れる工程まで、(c)は異方
性導電層の形成工程まで、(d)は個々の半導体チップ
に分割する工程までを示す。
【図8】図8は第3実施形態にかかる表示装置の模式図
である。
である。
【図9】図9は従来例にかかる半導体装置の模式図であ
る。
る。
【図10】図10(a)は従来例にかかる半導体装置の
要部拡大図であり、図10(b)は図10(a)のB−
B’における断面図である。
要部拡大図であり、図10(b)は図10(a)のB−
B’における断面図である。
【図11】図11は図10(b)の半導体チップ近傍を
さらに拡大した断面図である。
さらに拡大した断面図である。
1…P電極リード、2…N電極リード、3…半導体チッ
プ、4…封止樹脂(レンズ)、5…半導体チップ用凹部
側壁面、5’…半導体チップ用凹部底面、6…サファイ
ア基板、7…N型半導体層、8…P型半導体層、9…P
電極、10…N電極、11…保護絶縁膜、12、13…
導電層、14…アンダーフィル封止剤、15…位置決め
用突起、16…P電極凸部、17…N電極凸部、18…
異方性導電層、H1、H2…位置決め用孔、J…PN接
合体、E…発光領域、C1、C2、D1、D2…半導体
チップ、S…スリット、LED1〜LED3…半導体発
光素子、21…N電極リード、22…P電極リード、2
3…半導体チップ、24…封止樹脂(レンズ)、25、
26…ワイヤ、27…半導体チップ用凹部側壁面、2
7’…半導体チップ用凹部底面、28…サファイア基
板、29…N型半導体層、30…N電極、31…活性
層、32…P型半導体層、33…第1P電極、34…第
2P電極、35…保護絶縁膜、36…接着層。
プ、4…封止樹脂(レンズ)、5…半導体チップ用凹部
側壁面、5’…半導体チップ用凹部底面、6…サファイ
ア基板、7…N型半導体層、8…P型半導体層、9…P
電極、10…N電極、11…保護絶縁膜、12、13…
導電層、14…アンダーフィル封止剤、15…位置決め
用突起、16…P電極凸部、17…N電極凸部、18…
異方性導電層、H1、H2…位置決め用孔、J…PN接
合体、E…発光領域、C1、C2、D1、D2…半導体
チップ、S…スリット、LED1〜LED3…半導体発
光素子、21…N電極リード、22…P電極リード、2
3…半導体チップ、24…封止樹脂(レンズ)、25、
26…ワイヤ、27…半導体チップ用凹部側壁面、2
7’…半導体チップ用凹部底面、28…サファイア基
板、29…N型半導体層、30…N電極、31…活性
層、32…P型半導体層、33…第1P電極、34…第
2P電極、35…保護絶縁膜、36…接着層。
Claims (19)
- 【請求項1】P型半導体層とN型半導体層とを積層させ
て形成され、前記P型半導体層と前記N型半導体層の間
に所定の電圧を印加することにより光を発する発光層
と、前記P型半導体層と前記N型半導体層にそれぞれ接
続するP電極およびN電極を有する半導体チップと、 表面が前記発光層の発する光の反射面となっている前記
半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割
されている1対の電極リードと、 前記1対の電極リードと前記P電極あるいは前記N電極
を接続するように前記1対の電極リードと前記P電極あ
るいは前記N電極の間に配置されている導電層とを有す
る半導体発光素子。 - 【請求項2】前記発光層が光透過性の絶縁基板に形成さ
れている請求項1記載の半導体発光素子。 - 【請求項3】前記1対の電極リードがほぼ面対称形状で
ある請求項1記載の半導体発光素子。 - 【請求項4】前記半導体チップの対角線位置で前記1対
の電極リードが分割されている請求項1記載の半導体発
光素子。 - 【請求項5】前記1対の電極リードの前記凹部の底面形
状が前記半導体チップの形状と略相似形である請求項1
記載の半導体発光素子。 - 【請求項6】前記半導体チップが略方形形状であり、前
記一方の電極リードの前記凹部の底面形状が三角形形状
であり、前記三角形の頂角の角度が、前記半導体チップ
の頂角のなす角度と同じである請求項5記載の半導体発
光素子。 - 【請求項7】前記電極リードの前記凹部の深さと前記半
導体チップの厚さがほぼ同じである請求項1記載の半導
体発光素子。 - 【請求項8】前記電極リードの前記凹部表面が実質的に
前記発光層の発する光を反射する鏡面に形成されている
請求項1記載の半導体発光素子。 - 【請求項9】前記電極リードの凹部表面の側壁面が、開
口側ほど広がっているテーパ形状である請求項1記載の
半導体発光素子。 - 【請求項10】前記電極リードの前記凹部の底面に前記
半導体チップの位置決め用孔が開孔されており、前記孔
が前記P電極あるいは前記N電極に接続する導電体で埋
め込まれている請求項1記載の半導体発光素子。 - 【請求項11】導電体により前記電極リードと接続する
領域を除いて前記P電極と前記N電極が導電体に対する
ぬれ性が悪い絶縁体で被覆されている請求項1記載の半
導体発光素子。 - 【請求項12】前記凹部底面と前記半導体チップのP型
半導体層とN型半導体層の接合面とを略平行に位置決め
するための少なくとも三個の突起が前記1対の電極リー
ドの凹部底面に形成されている請求項1記載の半導体発
光素子。 - 【請求項13】前記導電層が、異方性導電物質である請
求項1記載の半導体発光素子。 - 【請求項14】光透過性の絶縁性ウェハ上に、N型半導
体層とP型半導体層との接合体であり、前記P型半導体
層と前記N型半導体層の間に所定の電圧を印加すること
により光を発する発光層を形成する工程と、 前記P型半導体層に接続するP電極を形成する工程と、 前記N型半導体層に接続するN電極を形成する工程と、 前記P電極および前記N電極を被覆して異方性導電層を
形成する工程と、 前記ウェハをダイシングして個々の半導体チップに分割
する工程と、 表面が前記発光層の発する光の反射面となっている前記
半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割
されている1対の電極リードに、前記1対の電極リード
と前記P電極あるいは前記N電極を前記異方性導電層を
介して接続するように、前記半導体チップを固定する工
程とを有する半導体発光素子の製造方法。 - 【請求項15】光透過性の絶縁性ウェハ上に、N型半導
体層とP型半導体層との接合体であり、前記P型半導体
層と前記N型半導体層の間に所定の電圧を印加すること
により光を発する発光層を形成する工程と、 前記P型半導体層に接続するP電極を形成する工程と、 前記N型半導体層に接続するN電極を形成する工程と、 前記ウェハに格子状のスリットを入れる工程と、 前記P電極および前記N電極を被覆して異方性導電層を
形成する工程と、 前記ウェハのスリット部を拡げて個々の半導体チップに
分割する工程と、 表面が前記発光層の発する光の反射面となっている前記
半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割
されている1対の電極リードに、前記1対の電極リード
と前記P電極あるいは前記N電極を前記異方性導電層を
介して接続するように、前記半導体チップを固定する工
程とを有する半導体発光素子の製造方法。 - 【請求項16】P型半導体層とN型半導体層とを積層さ
せて形成され、前記P型半導体層と前記N型半導体層の
間に所定の電圧を印加することにより光を発する発光層
と、前記P型半導体層と前記N型半導体層にそれぞれ接
続するP電極およびN電極を有する半導体チップと、 表面が前記発光層の発する光の反射面となっている前記
半導体チップ用凹部を有し、互いに絶縁するように分割
されている1対の電極リードと、 前記1対の電極リードと前記P電極あるいは前記N電極
を接続するように前記1対の電極リードと前記P電極あ
るいは前記N電極の間に配置されている導電層とを有す
る半導体発光素子をマトリクス状に複数個並べて形成さ
れている表示装置。 - 【請求項17】前記複数個の半導体発光素子のP電極と
N電極の位置関係が一方向に揃えられている請求項16
記載の表示装置。 - 【請求項18】前記複数個の半導体発光素子の発光中心
が上側に揃えられている請求項16記載の表示装置。 - 【請求項19】前記1対の電極リードの分割面が略水平
方向になるように揃えられている請求項16記載の表示
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31557997A JPH11150295A (ja) | 1997-11-17 | 1997-11-17 | 半導体発光素子、半導体発光素子の製造方法および表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31557997A JPH11150295A (ja) | 1997-11-17 | 1997-11-17 | 半導体発光素子、半導体発光素子の製造方法および表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11150295A true JPH11150295A (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=18067057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31557997A Pending JPH11150295A (ja) | 1997-11-17 | 1997-11-17 | 半導体発光素子、半導体発光素子の製造方法および表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11150295A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001274462A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-05 | Aiwa Co Ltd | 発光装置 |
| JP2002094128A (ja) * | 2000-09-20 | 2002-03-29 | Stanley Electric Co Ltd | 発光ダイオード及びその製造方法 |
| WO2002089221A1 (en) * | 2001-04-23 | 2002-11-07 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Light emitting device comprising led chip |
| WO2004051757A3 (de) * | 2002-11-29 | 2004-12-23 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches bauelement |
| EP1113506A3 (en) * | 1999-12-28 | 2005-03-16 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light emitting diode |
| JP2007049045A (ja) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子およびこれを備えた半導体装置 |
| WO2009047727A1 (en) * | 2007-10-09 | 2009-04-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Light emitting device package, light output system and light output method |
| JP2011258675A (ja) * | 2010-06-07 | 2011-12-22 | Toshiba Corp | 光半導体装置 |
| CN119181754A (zh) * | 2024-11-22 | 2024-12-24 | 华发科技(内蒙古)有限公司 | 一种稀土发光二极管及防蓝光智慧显示黑板 |
-
1997
- 1997-11-17 JP JP31557997A patent/JPH11150295A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1113506A3 (en) * | 1999-12-28 | 2005-03-16 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light emitting diode |
| US6906459B2 (en) | 1999-12-28 | 2005-06-14 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light emitting diode |
| JP2001274462A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-05 | Aiwa Co Ltd | 発光装置 |
| JP2002094128A (ja) * | 2000-09-20 | 2002-03-29 | Stanley Electric Co Ltd | 発光ダイオード及びその製造方法 |
| WO2002089221A1 (en) * | 2001-04-23 | 2002-11-07 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Light emitting device comprising led chip |
| US7271425B2 (en) | 2002-11-29 | 2007-09-18 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelectronic component |
| WO2004051757A3 (de) * | 2002-11-29 | 2004-12-23 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches bauelement |
| JP2007049045A (ja) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子およびこれを備えた半導体装置 |
| WO2009047727A1 (en) * | 2007-10-09 | 2009-04-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Light emitting device package, light output system and light output method |
| JP2011258675A (ja) * | 2010-06-07 | 2011-12-22 | Toshiba Corp | 光半導体装置 |
| US8754429B2 (en) | 2010-06-07 | 2014-06-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical semiconductor device and method for manufacturing same |
| US8981412B2 (en) | 2010-06-07 | 2015-03-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Optical semiconductor device and method for manufacturing same |
| CN119181754A (zh) * | 2024-11-22 | 2024-12-24 | 华发科技(内蒙古)有限公司 | 一种稀土发光二极管及防蓝光智慧显示黑板 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102812571B (zh) | 光学器件及其制造方法 | |
| US10355183B2 (en) | LED package | |
| US8866279B2 (en) | Semiconductor device | |
| US7842526B2 (en) | Light emitting device and method of producing same | |
| JP6323217B2 (ja) | 発光装置 | |
| KR102135763B1 (ko) | 발광 장치 | |
| JP3342322B2 (ja) | Led素子表示装置の製造方法 | |
| US20090050926A1 (en) | Light emitting device | |
| US20120169786A1 (en) | Light emitting device, illuminating device, and display device | |
| JP6936867B2 (ja) | 半導体モジュール、表示装置、及び半導体モジュールの製造方法 | |
| JP2009252898A (ja) | 光源装置 | |
| JP6703312B2 (ja) | 発光モジュールおよび面発光光源 | |
| JP5850036B2 (ja) | 発光装置 | |
| JPWO2010074288A1 (ja) | 高電圧駆動の発光ダイオードモジュール | |
| JP2008235867A (ja) | 表面実装型発光ダイオードおよびその製造方法 | |
| TW201810734A (zh) | 輻射發射組件 | |
| WO2011108664A1 (ja) | 光半導体装置 | |
| US20190035979A1 (en) | Light emitting diode, method for manufacturing light emitting diode, light emitting diode display device, and method for manufacturing light emitting diode display device | |
| JPH11150295A (ja) | 半導体発光素子、半導体発光素子の製造方法および表示装置 | |
| JP5286122B2 (ja) | 半導体発光装置および半導体発光装置の製造方法 | |
| TW201044651A (en) | Semiconductor light emitting device | |
| TWI472067B (zh) | 光學封裝及其製造方法 | |
| JP6825608B2 (ja) | 発光モジュールの製造方法 | |
| WO2025251467A1 (zh) | 发光模组 | |
| JP4846505B2 (ja) | 発光装置およびその製造方法 |