JPH11163211A - Electronic component, printed board, and checking method for printed board - Google Patents

Electronic component, printed board, and checking method for printed board

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Publication number
JPH11163211A
JPH11163211A JP9331719A JP33171997A JPH11163211A JP H11163211 A JPH11163211 A JP H11163211A JP 9331719 A JP9331719 A JP 9331719A JP 33171997 A JP33171997 A JP 33171997A JP H11163211 A JPH11163211 A JP H11163211A
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JP
Japan
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circuit board
printed circuit
printed board
semiconductor device
electronic component
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JP9331719A
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Japanese (ja)
Inventor
Ryosuke Akita
良輔 秋田
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NEC Data Terminal Ltd
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NEC Data Terminal Ltd
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable circuits and parts mounted on a printed board in which electronic components such as semiconductor devices mounted thereon to be enhanced in mounting density. SOLUTION: Plural lead terminals 2 are formed on the four sides of a plate- like body 3 of a semiconductor device 1, and all the lead terminals 2 are partly arranged on the same plane as with one surface of the body 3. The one surface of the body 3 comes into contact with the printed board is to become the semiconductor device 1 mounted on a printed board. Check pads 4 are formed on both the opposite sides of the body 3, where one of the opposite sides of the body 3 comes into contact with the printed board. The semiconductor device 1 is equipped with signal wires, and the signal wires are each electrically connected to corresponding check pads 4 inside the semiconductor device 1. After the semiconductor device 1 has been mounted on the printed board, a current is made to flow through the circuit of the printed board via the check pads 4 so as to check the printed board. Since checking pads are not formed on a printed board, circuits and parts mounted on the printed board can be made high in density in mounting density.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板に実
装される電子部品、その電子部品が実装されたプリント
基板、およびそのプリント基板の検査方法に関する。
The present invention relates to an electronic component mounted on a printed circuit board, a printed circuit board on which the electronic component is mounted, and a method of inspecting the printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、情報処理分野だけでなく、パーソ
ナルコンピュータなどを使用する機会が一般に広がって
おり、今では、個人専用の携帯端末機が普及している。
特に市場では、携帯端末機として、ノート型のパーソナ
ルコンピュータよりサイズが小さいものは、ポケットに
入るなどの携帯性を重視されることが多い。また、携帯
端末機の機能および性能には、従来のパーソナルコンピ
ュータ以上の能力が要求されている。
2. Description of the Related Art In recent years, the opportunity to use not only the information processing field but also a personal computer has been generally widened, and personal portable terminals have now become widespread.
In particular, in the market, when a portable terminal is smaller in size than a notebook personal computer, portability such as insertion into a pocket is often emphasized. In addition, the functions and performance of the portable terminal are required to have more capabilities than conventional personal computers.

【0003】上記のような要求に応えるためには、プリ
ント基板への部品の実装が高密度にならざるをえない。
従って、プリント基板に実装される部品の密度が、プリ
ント基板の貴重な面積と、性能および機能とのトレード
オフとなることが多い。
[0003] In order to meet the above-mentioned demands, the mounting of components on a printed circuit board has to be increased.
Therefore, the density of components mounted on a printed circuit board often makes a trade-off between the valuable area of the printed circuit board and its performance and function.

【0004】従来、半導体装置などの電子部品が実装さ
れたプリント基板の機能や性能を検査するために、プリ
ント基板に導電性の検査用パッドが形成されている。検
査用パッドが形成されるプリント基板では、プリント基
板を設計する時点で、プリント基板に実装される複数の
電子部品の間を結ぶ配線の一部を延長し、延長された配
線と検査用パッドとを電気的に接続する。このようなプ
リント基板では、プリント基板の検査用パッドにテスト
ピンを接触させ、検査用パッドを介してプリント基板の
回路に電流を流すことで、プリント基板の検査が行われ
る。
Conventionally, conductive test pads are formed on a printed circuit board in order to test the function and performance of the printed circuit board on which electronic components such as semiconductor devices are mounted. In the printed circuit board on which the inspection pads are formed, at the time of designing the printed circuit board, a part of wiring connecting between a plurality of electronic components mounted on the printed circuit board is extended, and the extended wiring and the inspection pad are used. Are electrically connected. In such a printed circuit board, the printed circuit board is inspected by bringing test pins into contact with the test pads of the printed circuit board and flowing current through the circuit of the printed circuit board through the test pads.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電子部
品が実装された従来のプリント基板には、検査のとき以
外に通常使用されない検査用パッドが部品として形成さ
れており、その検査用パッドが、プリント基板の部品お
よび回路の高密度化をする際の制約となるという問題点
がある。
However, on a conventional printed circuit board on which electronic components are mounted, inspection pads that are not normally used except for inspection are formed as components, and the inspection pads are printed. There is a problem that it becomes a restriction when increasing the density of components and circuits on the substrate.

【0006】また、プリント基板を設計する段階でプリ
ント基板に検査用パッドを部品として配置するため、プ
リント基板を再度設計し直す場合は、検査用パッドも新
たに配置し直さなければならなく、時間がかかってしま
うという問題点がある。
In addition, since the inspection pads are arranged as components on the printed circuit board at the stage of designing the printed circuit board, when the printed circuit board is redesigned, the inspection pads must be newly arranged again, which takes time. Is a problem.

【0007】本発明の目的は、プリント基板の回路や部
品の高密度化を図ることができるようにプリント基板に
実装される電子部品や、回路および部品を高密度化する
ことができるプリント基板、およびそのプリント基板の
検査方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an electronic component mounted on a printed circuit board so as to increase the density of circuits and components on the printed circuit board, and a printed circuit board capable of increasing the density of circuits and components. And a method of inspecting the printed circuit board.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、複数の信号線を有し、プリント基板に実
装される電子部品において、プリント基板に実装された
際にプリント基板側となる面と反対側の面に、前記複数
の信号線のそれぞれと対応して電気的に接続された導電
性の検査用パッドが複数形成されている。
In order to achieve the above object, the present invention relates to an electronic component having a plurality of signal lines and mounted on a printed circuit board. A plurality of conductive test pads electrically connected to each of the plurality of signal lines are formed on the surface opposite to the surface to be formed.

【0009】上記のように、電子部品の、プリント基板
側となる面と反対側の面に、検査用パッドが複数形成さ
れることにより、複数の検査用パッドおよび、電子部品
の信号線を介してプリント基板の回路に電流を流してプ
リント基板の検査が行われる。この場合、プリント基板
には検査用パッドを形成しないので、プリント基板に検
査用パッドが形成されていた従来の場合と比較して、プ
リント基板の回路や部品の高密度化を図ることができ
る。
As described above, by forming a plurality of test pads on the surface of the electronic component opposite to the surface on the printed circuit board side, the plurality of test pads and the signal lines of the electronic component are interposed. Then, a current is supplied to the circuit of the printed circuit board to inspect the printed circuit board. In this case, since the inspection pads are not formed on the printed circuit board, it is possible to increase the density of circuits and components on the printed circuit board as compared with the conventional case where the inspection pads are formed on the printed circuit board.

【0010】また、本発明のプリント基板は、上記の発
明による電子部品が実装されたものである。このような
プリント基板では、前述したようにプリント基板に検査
用パッドを形成する必要がなく、プリント基板の回路や
部品を高密度化することができる。
A printed board according to the present invention has the electronic component according to the above-mentioned invention mounted thereon. In such a printed board, it is not necessary to form an inspection pad on the printed board as described above, and the density of circuits and components on the printed board can be increased.

【0011】さらに、本発明のプリント基板の検査方法
は、複数の信号線を有し、プリント基板に実装される電
子部品の、プリント基板側となる面と反対側の面に、前
記複数の信号線のそれぞれと対応して電気的に接続され
る導電性の検査用パッドを複数形成する段階と、プリン
ト基板に前記電子部品を実装する段階と、前記電子部品
の複数の検査用パッドを介してプリント基板に電流を流
し、プリント基板を検査する段階とを有する。
Further, the method for inspecting a printed circuit board according to the present invention has a plurality of signal lines. Forming a plurality of conductive test pads electrically connected to each of the lines; mounting the electronic component on a printed circuit board; and via the plurality of test pads of the electronic component. Applying a current to the printed circuit board and inspecting the printed circuit board.

【0012】上記のプリント基板の検査方法では、前述
したのと同様に、信号線と電気的に接続された検査用パ
ッドが電子部品に形成され、その検査用パッドを介して
プリント基板に回路に電流が流されるので、プリント基
板に検査用パッドを形成する必要がなく、プリント基板
の回路や部品を高密度化することができる。
In the above-described method of inspecting a printed board, similarly to the above, an inspection pad electrically connected to a signal line is formed on an electronic component, and the printed board is connected to a circuit via the inspection pad. Since the current flows, there is no need to form an inspection pad on the printed board, and the density of circuits and components on the printed board can be increased.

【0013】なお、電子部品として半導体装置が用いら
れていることが好ましい。
Preferably, a semiconductor device is used as the electronic component.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0015】図1は、本発明の一実施形態の電子部品を
示す斜視図である。本実施形態の電子部品としては、図
1に示すように、QFP(quad flat package)型の半
導体装置1が用いられている。半導体装置1では、シリ
コンチップがモールド部材で覆われて成る板状の本体3
の4つの側面に複数のリード端子2が形成されている。
複数のリード端子2は全てL字形に曲がっており、全て
のリード端子2の一部は、本体3の一方の面と同一の平
面内に配置されている。その本体3の一方の面が、プリ
ント基板に半導体装置1が実装された際にそのプリント
基板側となる面である。
FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, a QFP (quad flat package) type semiconductor device 1 is used as an electronic component of the present embodiment. In the semiconductor device 1, a plate-shaped main body 3 in which a silicon chip is covered with a mold member is provided.
A plurality of lead terminals 2 are formed on the four side surfaces.
The plurality of lead terminals 2 are all bent in an L shape, and a part of all the lead terminals 2 is arranged in the same plane as one surface of the main body 3. One surface of the main body 3 is a surface on the printed circuit board side when the semiconductor device 1 is mounted on the printed circuit board.

【0016】また、本体3の、プリント基板側となる面
と反対側の面には、複数の検査用パッド4が形成されて
いる。複数の検査用パッド4はマトリクス状に並べられ
ている。半導体装置1は複数の信号線を有しており、半
導体装置1のそれぞれの信号線と、それぞれの信号線に
対応する検査用パッド4とが半導体装置1の内部で電気
的に接続されている。
A plurality of inspection pads 4 are formed on the surface of the main body 3 opposite to the surface on the printed circuit board side. The plurality of inspection pads 4 are arranged in a matrix. The semiconductor device 1 has a plurality of signal lines, and each signal line of the semiconductor device 1 and a test pad 4 corresponding to each signal line are electrically connected inside the semiconductor device 1. .

【0017】この検査用パッド4は、プリント基板に半
導体装置1を実装した際にそのプリント基板を検査する
ためのものである。検査用パッド4にテストピン5を接
触させ、テストピン5および検査用パッド4を介して半
導体装置1やプリント基板の回路に電流を流すことによ
ってプリント基板の検査が行われる。
The inspection pads 4 are for inspecting the printed board when the semiconductor device 1 is mounted on the printed board. The printed circuit board is inspected by bringing the test pins 5 into contact with the test pads 4 and applying a current to the semiconductor device 1 and the printed circuit via the test pins 5 and the test pads 4.

【0018】図2は、半導体装置1が実装されたプリン
ト基板を検査する方法について説明するための図であ
る。図2に示すように、プリント基板5の部品面に半導
体基板1が実装されている。この場合、図1に示した検
査用パッド4は、本体3の、プリント基板5側と反対側
の面に位置する。そして、プリント基板5の半導体装置
1側の面側から、検査用パッド4にテストピン6を接触
させ、テストピン6および検査用パッド4を介して半導
体装置1やプリント基板5の回路に電流を流す。このよ
うにして、半導体装置1やプリント基板5の検査が行わ
れる。このプリント基板5の検査方法では、従来のプリ
ント基板の検査方法と比較して、検査用パッドがプリン
ト基板ではなく、半導体装置1に形成されている点のみ
が異なっており、その他は従来と変わっていない。従っ
て、従来のプリント基板の検査に用いられていた装置な
どをそのまま使用することができる。
FIG. 2 is a diagram for explaining a method of inspecting a printed circuit board on which the semiconductor device 1 is mounted. As shown in FIG. 2, the semiconductor substrate 1 is mounted on the component surface of the printed circuit board 5. In this case, the inspection pad 4 shown in FIG. 1 is located on the surface of the main body 3 opposite to the printed circuit board 5 side. Then, the test pins 6 are brought into contact with the test pads 4 from the side of the semiconductor device 1 side of the printed circuit board 5, and current is applied to the semiconductor device 1 and the circuit of the printed circuit board 5 via the test pins 6 and the test pads 4. Shed. In this way, the inspection of the semiconductor device 1 and the printed board 5 is performed. The method of inspecting the printed circuit board 5 differs from the conventional method of inspecting a printed circuit board only in that the inspection pads are not formed on the printed circuit board but on the semiconductor device 1. Not. Therefore, an apparatus used for inspection of a conventional printed circuit board can be used as it is.

【0019】図3は、半導体装置1を示す平面図であ
り、図4は、半導体装置1に形成された検査用パッド4
の配置について説明するための図である。半導体装置1
には合計256個のリード端子2が形成されており、本
体3の側面にそれぞれのリード端子2が0.4mmピッ
チで並べられている。図3に示すように、半導体装置1
の本体3の形状は長方形である。本体3の一辺の長さA
が27.85mmであり、その辺と直行する辺の長さB
が27.05mmである。図4に示すように、それぞれ
の検査用パッド4の形状は円形であり、検査用パッド4
の円の直径Dが1mmとなっている。検査用パッド4の
ピッチPは1.5mmである。このように、本体3の、
プリント基板5側となる面と反対側の面に、検査用パッ
ド4を配置することによって、検査用パッド4を、縦に
16個、横に16個並べ、合計256個の検査用パッド
4を半導体装置1に形成することができる。
FIG. 3 is a plan view showing the semiconductor device 1. FIG. 4 is a plan view showing the inspection pad 4 formed on the semiconductor device 1.
It is a figure for explaining arrangement of. Semiconductor device 1
, A total of 256 lead terminals 2 are formed, and the lead terminals 2 are arranged on the side surface of the main body 3 at a pitch of 0.4 mm. As shown in FIG.
The shape of the main body 3 is rectangular. Length A of one side of body 3
Is 27.85 mm, and the length B of the side orthogonal to that side is
Is 27.05 mm. As shown in FIG. 4, the shape of each test pad 4 is circular,
Has a diameter D of 1 mm. The pitch P of the inspection pads 4 is 1.5 mm. Thus, the body 3
By arranging the test pads 4 on the surface opposite to the surface on the side of the printed circuit board 5, 16 test pads 4 are arranged vertically and 16 horizontally, and a total of 256 test pads 4 are arranged. It can be formed in the semiconductor device 1.

【0020】上記の場合、半導体装置1における複数の
検査用パッド4の占有面積は、1.5×15+1=2
3.5mmを一辺とする正方形の面積に相当し、その面
積は、23.5×23.5=552.25mm2とな
る。従って、この場合、552.25mm2の面積だけ
プリント基板5から削減されたことになる。
In the above case, the area occupied by the plurality of test pads 4 in the semiconductor device 1 is 1.5 × 15 + 1 = 2.
This corresponds to an area of a square having 3.5 mm on one side, and the area is 23.5 × 23.5 = 552.25 mm 2 . Accordingly, in this case, the area of the printed circuit board 5 is reduced by 552.25 mm 2 .

【0021】以上で説明したように、本実施形態の電子
部品としての半導体装置1では、半導体装置1の、プリ
ント基板5側となる面と反対側の面に検査用パッド4が
形成されており、半導体装置1が実装されたプリント基
板5を、検査用パッド4にテストピン6を接触させて検
査する。従って、プリント基板5に検査用パッドを形成
せず、プリント基板5に検査用パッドのための面積を取
る必要がないので、プリント基板5の回路や部品を高密
度化することができる。また、プリント基板5を設計す
る際には、従来のような、プリント基板に検査用パッド
を配置するような設計を行う必要がなくなるので、プリ
ント基板5の設計が簡略化され、また、設計の時間が短
縮化される。さらに、プリント基板5を再度設計し直す
ときにも同様に、従来のプリント基板のように検査用パ
ッドの配置を新たに設計し直すという必要がなく、プリ
ント基板5の再設計の時間が短縮化される。
As described above, in the semiconductor device 1 as an electronic component of the present embodiment, the inspection pads 4 are formed on the surface of the semiconductor device 1 opposite to the surface on the printed circuit board 5 side. Then, the printed board 5 on which the semiconductor device 1 is mounted is inspected by bringing the test pins 6 into contact with the inspection pads 4. Therefore, no test pad is formed on the printed board 5 and there is no need to provide an area for the test pad on the printed board 5, so that the density of circuits and components on the printed board 5 can be increased. Further, when designing the printed circuit board 5, it is not necessary to design such that the inspection pads are arranged on the printed circuit board as in the related art, so that the design of the printed circuit board 5 is simplified, and Time is reduced. Further, when the printed circuit board 5 is redesigned, similarly, unlike the conventional printed circuit board, it is not necessary to redesign the arrangement of the test pads, and the redesign time of the printed circuit board 5 can be reduced. Is done.

【0022】本実施形態の電子部品としてQFP型の半
導体装置を用いたが、QFP型のものの代わりに、QF
J(quad flat J-lead)型、BGA(ball grid arra
y)型またはSOP(small outline non-leaded)型な
どのものを用いてもよい。また、本実施形態では、半導
体装置に検査用パッドを形成したが、半導体装置の代わ
りに別の電子部品に検査用パッドを形成してもよい。そ
の場合、電子部品の、プリント基板側となる面と反対側
の面が、検査用パッドを形成できる面積を有していれ
ば、どのような電子部品であってもよい。
Although a QFP type semiconductor device is used as the electronic component of this embodiment, a QF type semiconductor device is used instead of the QFP type semiconductor device.
J (quad flat J-lead) type, BGA (ball grid arra)
y) type or SOP (small outline non-leaded) type may be used. In the present embodiment, the test pad is formed on the semiconductor device. However, the test pad may be formed on another electronic component instead of the semiconductor device. In that case, any electronic component may be used as long as the surface of the electronic component opposite to the surface on the printed circuit board side has an area where an inspection pad can be formed.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、プリント
基板に実装される電子部品の、プリント基板側となる面
と反対側の面に、電子部品の信号線と電気的に接続され
た検査用パッドが形成されており、プリント基板には検
査用パッドを形成しないので、プリント基板の回路や部
品の高密度化を図ることができる。従って、高密度化さ
れたプリント基板を携帯端末機などの電子機器に用いる
ことで、小型で、かつ、性能が高い電子機器を得ること
ができるという効果がある。また、プリント基板に検査
用パッドを形成することがないので、プリント基板の設
計が簡略化され、プリント基板を設計する際の時間を短
縮化することができるという効果がある。さらに、プリ
ント基板を再度設計し直すときにも、検査用パッドの配
置を設計し直すことがないので、プリント基板の再設計
の時間を短縮化することができるという効果がある。
As described above, according to the present invention, an electronic component mounted on a printed circuit board is provided on a surface opposite to the surface on the printed circuit board side, which is electrically connected to a signal line of the electronic component. Since the test pads are formed and the test pads are not formed on the printed circuit board, the density of circuits and components on the printed circuit board can be increased. Therefore, by using a high-density printed circuit board for an electronic device such as a portable terminal, there is an effect that an electronic device that is small and has high performance can be obtained. Further, since no inspection pad is formed on the printed circuit board, the design of the printed circuit board is simplified, and the time required for designing the printed circuit board can be shortened. Further, even when the printed circuit board is redesigned, there is no need to redesign the arrangement of the inspection pads, so that the time required for redesigning the printed circuit board can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態の電子部品を示す斜視図で
ある。
FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示される半導体装置が実装されたプリン
ト基板を検査する方法について説明するための図であ
る。
FIG. 2 is a diagram for explaining a method of inspecting a printed circuit board on which the semiconductor device shown in FIG. 1 is mounted.

【図3】図1に示される半導体装置を示す平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view showing the semiconductor device shown in FIG. 1;

【図4】図1に示される半導体装置に形成された検査用
パッドの配置について説明するための図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining an arrangement of test pads formed on the semiconductor device shown in FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体装置 2 リード端子 3 本体 4 検査用パッド 5 プリント基板 6 テストピン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor device 2 Lead terminal 3 Main body 4 Inspection pad 5 Printed circuit board 6 Test pin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H05K 3/00 G01R 31/28 U ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H05K 3/00 G01R 31/28 U

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の信号線を有し、プリント基板に実
装される電子部品において、 前記プリント基板に実装された際に前記プリント基板側
となる面と反対側の面に、前記複数の信号線のそれぞれ
と対応して電気的に接続された導電性の検査用パッドが
複数形成されていることを特徴とする電子部品。
An electronic component having a plurality of signal lines and mounted on a printed circuit board, wherein the plurality of signal lines are provided on a surface opposite to a surface on the printed circuit board side when mounted on the printed circuit board. An electronic component, comprising a plurality of conductive test pads electrically connected to respective lines.
【請求項2】 請求項1に記載の電子部品が実装されて
いるプリント基板。
2. A printed circuit board on which the electronic component according to claim 1 is mounted.
【請求項3】 前記電子部品として半導体装置が用いら
れている請求項2に記載のプリント基板。
3. The printed circuit board according to claim 2, wherein a semiconductor device is used as said electronic component.
【請求項4】 複数の信号線を有し、プリント基板に実
装される電子部品の、前記プリント基板側となる面と反
対側の面に、前記複数の信号線のそれぞれと対応して電
気的に接続される導電性の検査用パッドを複数形成する
段階と、 前記プリント基板に前記電子部品を実装する段階と、 前記電子部品の複数の前記検査用パッドを介して前記プ
リント基板に電流を流し、前記プリント基板を検査する
段階とを有するプリント基板の検査方法。
4. An electronic component, having a plurality of signal lines, mounted on a printed circuit board, and having an electrical surface corresponding to each of the plurality of signal lines on a surface opposite to a surface on the printed circuit board side. Forming a plurality of conductive test pads connected to the printed circuit board; mounting the electronic component on the printed board; flowing a current through the printed board via the plurality of test pads of the electronic component. Inspecting the printed circuit board.
【請求項5】 前記検査用パッドが、前記プリント基板
の検査に必要な特定の信号線の数分だけ形成されている
請求項4に記載のプリント基板の検査方法。
5. The printed circuit board inspection method according to claim 4, wherein the inspection pads are formed by the number of specific signal lines required for the inspection of the printed circuit board.
【請求項6】 前記電子部品として半導体装置が用いら
れている請求項4または5に記載のプリント基板の検査
方法。
6. The method according to claim 4, wherein a semiconductor device is used as the electronic component.
JP9331719A 1997-12-02 1997-12-02 Electronic component, printed board, and checking method for printed board Pending JPH11163211A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103675491A (en) * 2012-09-07 2014-03-26 神讯电脑(昆山)有限公司 Debugger for electronic component

Cited By (1)

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CN103675491A (en) * 2012-09-07 2014-03-26 神讯电脑(昆山)有限公司 Debugger for electronic component

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