JPH11176721A - 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 - Google Patents
照明装置及びそれを用いた投影露光装置Info
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- JPH11176721A JPH11176721A JP9361944A JP36194497A JPH11176721A JP H11176721 A JPH11176721 A JP H11176721A JP 9361944 A JP9361944 A JP 9361944A JP 36194497 A JP36194497 A JP 36194497A JP H11176721 A JPH11176721 A JP H11176721A
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
均一に照明することができ、半導体デバイスの製造に好
適な照明装置及びそれを用いた投影露光装置を得るこ
と。 【解決手段】 光源と該光源からの光束を一定の発散角
度で射出する射出角度保存光学素子と、該射出角度保存
光学素子からの光束を集光する集光光学系と、該集光光
学系からの光束を用いて所定面上に所望の照度分布を形
成する回折光学素子及びリレー光学系と、該所定面上の
照度分布を多光束発生手段の入射面に所望の倍率で投影
するズーム光学系、そして該多光束発生手段の射出面か
らの光束を照射面上に重ね合わせて照射する照明手段と
を有していること。
Description
用いた投影露光装置に関し、例えばIC、LSI、CC
D、液晶パネル、磁気ヘッド等の各種のデバイスの製造
装置である、所謂ステッパーにおいて、照明装置からの
真空紫外域の露光光で均一照明したフォトマスクやレチ
クル等の原版(以下「レチクル」という)上の回路パタ
ーンを感光剤を塗布したウエハ面上に投影転写し、デバ
イスを製造する際に好適なものである。
は、照明系からの光束で電子回路パターンを形成したレ
チクルを照射し、該パターンを投影光学系でウエハ面上
に投影露光している。この際、高解像力化を図る為の一
要件としてウエハ面上を均一に照射することがある。
置では、従来より照射面(レチクル面又はウエハ面)を
均一に照射するための種々の方法がとられている。例え
ば、ステッパーと呼ばれる投影露光装置では、コリメー
タレンズと複数の微小レンズを所定のピッチで配列した
オプティカルインテグレータとを組み合わせた照明系を
用いて、被照射面を均一に照射している。
テグレータを用いることにより、微小レンズの個数に相
当するだけの複数の2次光源を形成し、該2次光源から
の光束で被照射面を複数の方向から重畳して照明して、
照度分布の均一化を図っている。
インテグレータと振幅分割型のインテグレータとを用い
て向上させた照明装置が、例えば、特開昭64−193
号公報や特開平1−295216号公報や特開平1−2
71718号公報や特開平2−48627号公報等で提
案されている。
1号で提案した内面反射型及び振幅分割型の各インテグ
レータを用いる照明装置の部分的概略図である。
たレーザー光は、レンズ系107により内面反射型イン
テグレータである光パイプ110の光入射面のわずか手
前に一旦収束した後、発散して光パイプ110に、その
内面反射面に所定の発散角度を成して入射する。
ー光は光パイプ110の内面で反射しながら伝播するの
で、光パイプ110は光軸と垂直な平面、例えば平面1
13にレーザー光源101に関する虚像を複数個形成す
る。
複数の虚像即ち見掛け上の複数の光源から恰も射出した
かのように見える複数のレーザー光束が重ね合わされ
る。従って、光パイプ110の光射出面110’には強
度分布が均一な面光源が形成される。
とフィールドレンズ112とにより光パイプ110の光
射出面110’と振幅分割型インテグレータであるフラ
イアイレンズ114の光入射面106とが光学的に共役
関係になっている。これによって光射出面110’の均
一な強度分布の面光源をフライアイレンズ114の光入
射面106上に結像して、フライアイレンズ114の光
入射面106に断面の強度分布が均一な光を入射してい
る。フライアイレンズ114は、その光射出面に複数の
光源(2次光源)を形成し、不図示のコンデンサーレン
ズ系が複数の光源からの光束を不図示のレチクル上に重
ね合わせて該レチクルのパターン全体を均一な光強度で
照明している。
角度及び光パイプ110の長さと幅を考慮して光パイプ
110の形状を決定して、各光源から光入射面106の
各点に進む個々のレーザ光の光路長差がレーザ光の有す
るコヒーレンズ長以上になるようにしている。これより
時間的コヒーレンズを低下させて、光入射面106上で
のスペックルの発生を抑えている。
集積化を図った半導体素子の製造には、回路パターンの
焼き付けの際に要求される照度分布の均一性に極めて高
いものが要求されている。
射出面において均一な面光源を形成するためには、発散
光束の内面反射回数が多いほどよい。そのためには径を
固定して光パイプの長さを長くすれば良いが、長くする
と吸収により透過率が低下してくる。このためにある程
度以上の長さにすることができない。
結果的に均一な面光源を得るのが難しくなってくる。
ると被照射面(106)への光束入射角度が変動してく
る。そうすると被照射面106での照度ムラが発生して
くる。
を更に改良し、光束内の光強度分布の均一性を高め、被
照射面上の照度分布の均一化を図るとともに、集光効率
の向上を図った半導体デバイスの製造装置に好適な照明
装置及びそれを用いた投影露光装置の提供を目的とす
る。
射出する射出角度保存光学素子と、該射出角度保存光学
素子からの光束を集光する集光光学系と、該集光光学系
からの光束を用いて所定面上に所望の照度分布を形成す
る回折光学素子及びリレー光学系と、該所定面上の照度
分布を多光束発生手段の入射面に所望の倍率で投影する
ズーム光学系、そして該多光束発生手段の射出面からの
光束を照射面上に重ね合わせて照射する照明手段とを有
していることを特徴としている。
らの光束を前記多光束発生手段の入射面へ投影するとき
の投影倍率の変化に基づいて、発散角度の異なる射出角
度保存光学素子に切り替えて、前記多光束発生手段への
入射光束の開口数を調整していること。
有し、これらの中から1つを光路中に選択配置すること
により前記多光束発生手段の入射面上における照度分布
を変化させていること。
は複数の微小レンズを2次元的に配列したハエの目レン
ズより成っていること。
又は振幅型の計算機ホログラムより成っていること。
の微小レンズを2次元的に配列したハエの目レンズより
成り、入射光束を多光束に分割して射出させていること
等を特徴としている。
て照明された被照射面上に設けた第1物体面上のパター
ンを投影光学系により第2物体面上に投影していること
を特徴としている。
レチクル面上のパターンを照明し、該パターンを投影光
学系によりウエハ面上に投影し、露光した後に該ウエハ
を現像処理工程を介してデバイスを製造していることを
特徴としている。
態1の要部概略図である。同図は照明装置を例として半
導体素子(デバイス)製造用の、所謂ステッパーと称さ
れる縮小型の投影露光装置に適用したときを示してい
る。
高輝度の超高圧水銀灯やエキシマレーザ等の光源(光源
手段)である。
束を射出角度を一定にして射出している。3は集光光学
系であり、射出角度保存光学素子2から所望の射出角度
2aで出射した光束を集光して回折光学素子4に導光し
ている。
4からの光束をアパーチャ42に導光している。これに
よってアパーチャ42上に後述するように種々の形状の
照度分布が形成している。尚、リレー光学系41を用い
ずに回折光学素子4からの光束を直接アパーチャ42に
導光して、その面上に所望の照度分布を形成しても良
い。
からの光束をハエの目レンズ等の多光束発生手段7の入
射面7aに種々の倍率で投影結像している。多光束発生
手段7はその射出面7bに均一な照度分布の光源像を形
成している。8はコンデンサーレンズ等を含む照射手段
であり、多光束発生手段7からの光束を集光してマスク
あるいはレチクル等(以下「レチクル」という)の被照
射面9を照明している。
パターンを投影光学系(不図示)により感光基板(ウエ
ハ)上に縮小投影している。
そして照射手段8は光学手段の一要素を構成している。
明する。
すようにアパーチャ(絞り)21とレンズ系22から構
成している。そして入射光束が例えば光束27(光軸2
7aa)から光束28(光軸28a)と光軸と直交する
方向に微小変動して入射したとしても、それより射出さ
れる光束の射出角度29aが一定となる光学性質をもっ
ている。
(B)に示すように、複数の微小レンズ23より成るハ
エの目レンズで構成してもよく、この場合は光束の射出
角度29bはハエの目レンズ23の形状により決定され
る。この場合も入射光束の光軸が微小変動して光束27
(光軸27a)又は、光束28(光軸28a)の状態で
入射したとしても、射出される光束の射出角度29bが
一定となっている。
レー光学系41を介してアパーチャ42の位置に円形や
輪帯等の所望の照度分布を発生させるようにあらかじめ
設計された、計算機ホログラム等から成り、振幅分布型
や位相分布型のキノフォーム等を用いている。
の説明図である。図3(A)に示す回折光学素子は位相
型の計算機ホログラム(Computer Generated Hologramu,
CGH)を用いた例であり、位相分布を濃淡分布として表現
してある。計算機ホログラムとは、物体光と参照光との
干渉による干渉縞パターンを計算して描画装置により直
接出力することで作られるホログラムである。再生光と
して所望の照度分布を得るための干渉縞形状はコンピュ
ータによる反復計算を用いて最適化することで容易に求
めている。図3(B)に示す回折光学素子は、位相型C
GHを用いた例であり、その断面形状の例を模式的に示
している。このように断面を階段状とし、その作製に半
導体素子の製造技術が適用できるようにして、微細なピ
ッチも比較的容易に実現している。
42の位置に所望の照度分布を発生させるということ
は、例えば図4(A)に示す円形照度分布、又は図4
(B)に示す輪帯照度分布、又は図4(C)に示す四重
極と呼ばれる照度分布等、露光に好的な分布を含む。こ
れらは後述するズーム光学系5により多光束発生光学系
7の入射面7aに投影されることで、所謂露光装置の照
明系における変形照明を達成している。又、これらの異
なる照度分布を形成する複数個の回折光学素子を、図1
には不図示のターレット等の切り替え手段により切り替
えることで、照明条件を種々と変更している。
れた振幅変調ないしは位相変調を受けて回折し、リレー
光学系41を介して、アパーチャ42の位置に分布内で
強度が均一な、図4で示したような所望の照度分布を形
成する。ここで回折光学素子4とアパーチャ42の位置
は、互いにフーリエ変換面の関係になるように配置して
いる。
べる。回折光学素子4により形成される均一な所望の照
度分布を持つ射出面4aを、ズーム光学系5により所望
の倍率で多光束発生光学系7の入射面7a上へ均一光源
像6として投影する。ここでいう所望の倍率とは、被照
射面9への照射光束の入射角度19が露光に最適な値に
なるように均一光源像6の大きさを設定する倍率であ
る。
への入射角度15により決まる入射側NAをNA’、射
出角度16により決まる射出側NAをNA”とすると、 NA’=m・NA” (1) が成立する。ここで射出角度16の大きさは多光束発生
手段7の入射NAを越えない範囲で、できるだけ近い値
であることが照明効率の観点から望ましいので、射出角
度16の値は多光束発生手段7に依存した最適角度に設
定している。従って(1)式により示されるように、あ
る条件における露光に最適な倍率が決まると、アパーチ
ャ42からの射出角度15の最適角度も決まることにな
る。
度15の値は、回折光学素子4へ入射する光束の照射領
域4bの大きさに依存しており、その大きさは射出角度
保存光学素子2の射出角度2aに依存していることを利
用して、射出角度保存光学素子2を照明条件を種々と切
り替えることにより、照射領域4bの大きさを変えるこ
とにより達成している。これについては図5を用いて後
述する。
なるハエの目レンズやファイバー束等からなり、その射
出面7bは複数の点光源からなる光源面を形成してい
る。尚、本実施形態において多光束発生手段7とは複数
の光学軸を有し、且つ、各々の光学軸を中心として有限
な面積の領域を有し、各々の領域において各々1つの光
束が特定できるような光学素子をいう。
源像6が投影されると、該入射面の照度分布はそのまま
射出面7bに転写される。そして多光束発生手段7の射
出面7bの各々の微小領域からの射出光束を、照射手段
8により被照射面9上に重畳して照射することで、被照
射面9上を全体的に均一な照度分布となるように照明し
ている。
射面9上に載置したレチクル面上のパターンをウエハ面
上に投影する投影レンズ(不図示)の入射瞳と共役とな
っている。
り換え制御について図5(A)、(B)を用いて詳細に
説明する。各図において、12aは射出角度12aaが
小さい射出角度保存光学素子であり、12bは射出角度
12baが大きい射出角度保存光学素子である。その他
については図1で説明したものと同様である。
る照明装置においては、被照射面9に入射する光束の入
射角度を所望の角度に設定することが要求される。本実
施形態においては射出角度保存光学素子2を複数個、用
意し、要求に応じてターレット等の手段を利用してこれ
を切り替えることにより被照射面への入射角度を所望の
角度に設定している。
の入射角度19aが比較的小さい場合(これをσ値が小
さいと称する)を示している。本実施形態においてσ値
を小さくするためには、多光束発生手段7の入射面7a
上に、アパーチャ42上に形成されている照度分布4a
の像6aを小さい倍率で結像する必要がある。これはズ
ーム光学系5の倍率を変えることにより達成している。
前述したように射出角度16aの値は多光束発生手段7
に依存した最適角度に設定される。
望のσ値を得るための倍率が決まると、回折光学素子4
により形成される照度分布4aに基づいてアパーチャ4
2から光束の発散角度15aも一意に決まる。発散角度
15aは回折光学素子4へ入射する光束の幅4abによ
って決まるので、これを射出角度保存光学素子12aに
切り替えて小さい射出角度12aaとすることで光束幅
14abが狭くなるように制御している。
19aの小さい(すなわちσ値の小さい)照明を行って
いる。
の実施形態を示している。この場合は、射出角度12b
aが大きな射出角度保存光学素子12bに切り換えるこ
とにより、射出角度12baを大きくし、これにより回
折光学素子4へ入射する光束の幅14bbを大きくし
て、回折光学素子4により形成される照度分布4aに基
づいてアパーチャ42から発散する光束の角度15bを
大きくする。そして照度分布4aの像6bを大きい倍率
で光束混合手段7に投影しても、(1)式の関係から射
出角度16bは前述の角度16aとほぼ同じにすること
が可能である。以上により照明効率が高く、且つ射出角
度19bの大きい(即ちσ値の大きい)照明を行ってい
る。
光束の発散角度については図5(A)における角度14
aと図5(B)における角度14bは同一であることか
ら、照度分布4aのサイズは射出角度保存光学素子2を
切り替えても変化しない。尚、このσ切り替えに応じて
所望の照度分布を得るために、必要ならば回折光学素子
4もターレット等の不図示の切り替え手段を用いて、角
度保存光学素子2の切替と同時に切り替えても良い。
レーザ光源1からの光束が外乱により微小変動したとし
ても、射出角度保存光学素子2からの光束の射出角度は
保存されるので図1における回折光学素子4への入射光
束幅4bには変動が無く、多光束発生手段7の微小レン
ズ51の中の光源像全体をマクロに見たときの変動は殆
ど無い。従って、被照射面9上の照度分布への影響も無
視できる程度に小さくなる。
束の変動に対して非常に安定した系であるという利点を
示している。
バイス製造用の投影露光装置の実施形態2の要部概略図
である。同図において図1で示した要素と同一要素には
同符番を付している。
ヒーレントな光束を所望のビーム形状に整形するための
光束整形光学系である。92はコヒーレントなレーザ光
束をインコヒーレント化するためのインコヒーレント化
光学系である。また、93は露光装置の投影光学系であ
り、94はウエハ等の感光材を塗布した感光基板であ
る。図1と同じ番号のものについては説明を省略する。
ーやリレーレンズから成る光束引き回し光学系(不図
示)を経て、光束整形光学系91に入射される。この光
束整形光学系91は、複数のシリンドリカルレンズまた
は、ビームエクスパンダにより構成されており、光束断
面形状の縦横比率を所望の値に変換している。
た光束は、ウエハ面94にて光が干渉してスペックルを
生じることを防ぐ目的で、インコヒーレント化光学系9
2に入射され、インコヒーレントな光束に変換される。
は、例えば特開平3−215930号公報に開示されて
いるように、入射光束を光分割面で少なくとも2つの光
束(例えばp偏光とs偏光)に分岐した後、一方の光束
を光学部材を介して光束の可干渉距離以上の光路長差を
与えてから該分割面に再導光し、他方の光束に重ね合わ
せて射出されるようにした折り返し系を用いて複数の互
いにインコヒーレントな光束を形成する光学系を用いて
いる。
光束は射出角度保存光学素子2に入射している。
束発生手段7の各々の微小領域からの射出光束は、照射
手段8により被照射面9上のレチクルRに重畳して照射
され、被照射面9上は全体的に均一な照度分布となるよ
うに照明している。
R面上の回路パターン等の情報を有した光束は、投影光
学系93により露光に最適な倍率で感光基板94に投影
結像して、回路パターンの露光を行っている。
に真空吸着などで固定されており、紙面上で上下前後に
平行移動する機能を持ち、その移動はやはり不図示のレ
ーザ干渉計等の測長器で制御している。
半導体デバイスの製造方法の実施形態を説明する。
半導体チップ、或は液晶パネルやCCD等)の製造のフ
ローを示す。
スの回路設計を行う。ステップ2(マスク製作)では設
計した回路パターンを形成したマスクを製作する。
コン等の材料を用いてウエハを製造する。ステップ4
(ウエハプロセス)は前行程と呼ばれ、前記用意したマ
スクとウエハを用いてリソグラフィ技術によってウエハ
上に実際の回路を形成する。
れ、ステップ4によって作製されたウエハを用いて半導
体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシ
ング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封
入)等の工程を含む。
された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト
等の検査を行なう。こうした工程を経て半導体デバイス
が完成し、これが出荷(ステップ7)される。
を示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸化
させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶縁
膜を形成する。
電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオン打
込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ15
(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ステ
ップ16(露光)では前記説明した露光装置によってマ
スクの回路パターンをウエハに焼付露光する。
を現像する。ステップ18(エッチング)では現像した
レジスト以外の部分を削り取る。ステップ19(レジス
ト剥離)ではエッチングが済んで不要となったレジスト
を取り除く。これらのステップを繰り返し行なうことに
よってウエハ上に多重に回路パターンが形成される。本
実施形態の製造方法を用いれば、従来は製造が難しかっ
た高集積度の半導体デバイスを容易に製造することがで
きる。
定することにより、光束内の光強度分布の均一性を高
め、被照射面上の照度分布の均一化を図るとともに、集
光効率の向上を図った半導体デバイスの製造装置に好適
な照明装置及びそれを用いた投影露光装置を達成するこ
とができる。
射角度を所望の値に設定することができる、高効率な均
一照明を行なうことができる、レーザ光源に依存する光
束の変動があっても被照射面への光束入射角度が安定す
る、高効率が均一照明ができる、パイプの代わりに硝材
厚の薄い回折光学素子を用いることで、透明率の低い真
空紫外領域においても高効率な照明装置が得られる、等
の効果が得られる。
施形態2の要部概略図
ト
Claims (8)
- 【請求項1】 光源と該光源からの光束を一定の発散角
度で射出する射出角度保存光学素子と、該射出角度保存
光学素子からの光束を集光する集光光学系と、該集光光
学系からの光束を用いて所定面上に所望の照度分布を形
成する回折光学素子及びリレー光学系と、該所定面上の
照度分布を多光束発生手段の入射面に所望の倍率で投影
するズーム光学系、そして該多光束発生手段の射出面か
らの光束を照射面上に重ね合わせて照射する照明手段と
を有していることを特徴とする照明装置。 - 【請求項2】 前記ズーム光学系によって前記所定面か
らの光束を前記多光束発生手段の入射面へ投影するとき
の投影倍率の変化に基づいて、発散角度の異なる射出角
度保存光学素子に切り替えて、前記多光束発生手段への
入射光束の開口数を調整していることを特徴とする請求
項1の照明装置。 - 【請求項3】 前記回折光学素子を複数個有し、これら
の中から1つを光路中に選択配置することにより前記多
光束発生手段の入射面上における照度分布を変化させて
いることを特徴とする請求項1の照明装置。 - 【請求項4】 前記射出角度保存光学素子は複数の微小
レンズを2次元的に配列したハエの目レンズより成って
いることを特徴とする請求項1の照明装置。 - 【請求項5】 前記回折光学素子は位相型、又は振幅型
の計算機ホログラムより成っていることを特徴とする請
求項1の照明装置。 - 【請求項6】 前記多光束発生手段は複数の微小レンズ
を2次元的に配列したハエの目レンズより成り、入射光
束を多光束に分割して射出させていることを特徴とする
請求項1の照明装置。 - 【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1項記載の照明
装置からの光束によって照明された被照射面上に設けた
第1物体面上のパターンを投影光学系により第2物体面
上に投影していることを特徴とする投影露光装置。 - 【請求項8】 請求項1〜6のいずれか1項記載の照明
装置からの光束によりレチクル面上のパターンを照明
し、該パターンを投影光学系によりウエハ面上に投影
し、露光した後に該ウエハを現像処理工程を介してデバ
イスを製造していることを特徴とするデバイスの製造方
法。
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|---|---|---|---|
| JP36194497A JP3392034B2 (ja) | 1997-12-10 | 1997-12-10 | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 |
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|---|---|---|---|
| JP36194497A JP3392034B2 (ja) | 1997-12-10 | 1997-12-10 | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 |
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|---|---|---|---|
| JP36194497A Expired - Fee Related JP3392034B2 (ja) | 1997-12-10 | 1997-12-10 | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 |
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Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001033875A (ja) * | 1999-07-26 | 2001-02-09 | Canon Inc | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 |
| JP2001284240A (ja) * | 2000-04-03 | 2001-10-12 | Canon Inc | 照明光学系、および該照明光学系を備えた投影露光装置と該投影露光装置によるデバイスの製造方法 |
| JP2003178970A (ja) * | 2001-10-18 | 2003-06-27 | Asml Us Inc | マイクロリソグラフィで利用される最新式照射システム |
| US6762823B2 (en) | 2000-06-15 | 2004-07-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination system and scanning exposure apparatus using the same |
| US6816234B2 (en) | 2000-03-30 | 2004-11-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system in exposure apparatus |
| US6836365B2 (en) | 1999-04-15 | 2004-12-28 | Nikon Corporation | Diffractive optical element, method of fabricating the element, illumination device provided with the element, projection exposure apparatus, exposure method, optical homogenizer, and method of fabricating the optical homogenizer |
| WO2005027207A1 (en) * | 2003-09-12 | 2005-03-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system and exposure apparatus using the same |
| US7265816B2 (en) | 2004-06-21 | 2007-09-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method with modified illumination generator |
-
1997
- 1997-12-10 JP JP36194497A patent/JP3392034B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6836365B2 (en) | 1999-04-15 | 2004-12-28 | Nikon Corporation | Diffractive optical element, method of fabricating the element, illumination device provided with the element, projection exposure apparatus, exposure method, optical homogenizer, and method of fabricating the optical homogenizer |
| JP2001033875A (ja) * | 1999-07-26 | 2001-02-09 | Canon Inc | 照明装置及びそれを用いた投影露光装置 |
| US6816234B2 (en) | 2000-03-30 | 2004-11-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system in exposure apparatus |
| US7050154B2 (en) | 2000-03-30 | 2006-05-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system in exposure apparatus |
| JP2001284240A (ja) * | 2000-04-03 | 2001-10-12 | Canon Inc | 照明光学系、および該照明光学系を備えた投影露光装置と該投影露光装置によるデバイスの製造方法 |
| US6903801B2 (en) | 2000-04-03 | 2005-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system for use in projection exposure apparatus |
| US6762823B2 (en) | 2000-06-15 | 2004-07-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination system and scanning exposure apparatus using the same |
| JP2003178970A (ja) * | 2001-10-18 | 2003-06-27 | Asml Us Inc | マイクロリソグラフィで利用される最新式照射システム |
| WO2005027207A1 (en) * | 2003-09-12 | 2005-03-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system and exposure apparatus using the same |
| US7196773B2 (en) | 2003-09-12 | 2007-03-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system and exposure apparatus using the same |
| US7265816B2 (en) | 2004-06-21 | 2007-09-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method with modified illumination generator |
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