JPH11203863A - 信号遅延装置及び半導体記憶装置 - Google Patents
信号遅延装置及び半導体記憶装置Info
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Abstract
を実現する。 【解決手段】 シンクロナスDRAM等のバーストモー
ドを持つ半導体記憶装置において、パイプライン動作を
行う構成とする。メモリセルアレイ1の読出回路と出力
バッファ8との間に、入力制御信号DSEL0,DSE
L1により入力が制御され出力制御信号OSEL0,O
SEL1により出力が制御される記憶回路を複数並列に
接続したFIFOバッファ2を配置する。カウンタ9は
同期信号ICLKを計数する。入力制御部6はカウント
信号OCNT0,OCNT1に基づいて信号DSEL
0,DSEL1を生成する。出力制御部7は信号OCN
T0,OCNT1に基づいて信号OSEL0,OSEL
1を生成する。
Description
の回路が出力するまで一時的に蓄える信号遅延装置及
び、この信号遅延装置を読み出された記憶データを出力
バッファが出力するまで一時的に蓄える回路として使用
する、シンクロナスDRAM等のバーストモードを具備
した半導体記憶装置に関するものである。
(ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ)の速度
差が問題となっている。飛躍的に高速化したCPUの要
求に対して、速度の改善が少ないDRAMは答えられな
い(即ち速度差に対応できない)。このため、高速なC
PUを用いたコンピュータシステムでは、主記憶(メイ
ンメモリ)のメモリ容量と比較して小容量ではあるが、
高速なキャッシュメモリをCPUチップ内または外付け
にて接続し、この速度差を吸収している。キャッシュメ
モリは主記憶のうち、一部のデータのコピー(写し)を
保持している。このデータのコピーは連続したアドレス
を持つ複数のデータを単位とし、この単位を「ページ」
と呼ぶ。
アクセスを行う。そして、キャッシュメモリ内に所望の
データがないときには主記憶から新たに所望のデータを
キャッシュメモリにコピーする。この際、コピーはペー
ジ単位で行われる。このため、このようなシステムの主
記憶を構成するメモリ素子には、キャッシュメモリに対
し連続したアドレスを持つデータ列を高速に入出力でき
る機能をもつことが要求される。この場合、メモリにお
いて、先頭アドレスを指定するのみで、これを含むデー
タ列を外部から入力される基準クロック信号に同期して
入出力する方法が採用されている。これを「バースト転
送」と呼び、1つのアドレスを指定することにより入力
されるデータ列の長さを「バースト長」と呼ぶ。バース
ト転送を行うメモリの典型的な例としてシンクロナスD
RAMがある。
ドを持つDRAM)は、アドレスを指定してからデータ
が外部に出力されるまでの間、すなわちアドレスアクセ
ス時間が高速なもので20ns(=50MHz)程度で
ある。シンクロナスDRAMにおいては、1つのデータ
の処理に掛かる時間は、基本的には汎用DRAMと同一
であるが、内部の処理を多重化し、複数のデータを同時
に内部処理することにより、1データ当たりの見かけ上
の処理時間を短縮し、入出力を高速化して100MHz
以上の速度を得ることを可能としている。このときのデ
ータ入出力の周波数、すなわち基準クロックの周波数を
「バースト転送周波数」と呼ぶ。ただし、シンクロナス
DRAMも汎用DRAMも、基本的に、アドレスアクセ
ス時間は同一、すなわち、1つのデータに注目すれば、
内部処理時間は汎用DRAMと基本的に同一であるた
め、読み出し指示のコマンド入力からデータ出力までは
通常複数の基準クロック周期を要する。
ら、出力データが外部に出力されるまでの基準クロック
のクロック数を「CAS(カス)レイテンシ」と呼ぶ。
シンクロナスDRAMでは、通常、「モードレジスタ」
と呼ばれる動作条件設定用の記憶回路を具備しており、
外部から入力される所定のモードレジスタセットコマン
ドにより、CASレイテンシ等を設定することができ
る。外部からCASレイテンシが設定できるようになっ
ているのは、そのシンクロナスDRAMの最高バースト
転送周波数の基準クロックで、他の回路または基板配線
が動作しないために、シンクロナスDRAMのバースト
転送周波数、すなわち基準クロックの周波数を下げて使
用する場合、基準クロック周期とCASレイテンシとの
関係がアドレスアクセス時間を満足する範囲で、CAS
レイテンシを低くすることによって、1番目のデータの
出力までの時間を短くできるからである(基準クロック
周波数が低い場合には、CASレイテンシを小さくする
必要がない。逆に、アドレスアクセス時間が一定の条件
下で、最高バースト転送周波数を高めるためには、CA
Sレイテンシを大きくする必要がある)。
として、パイプライン方式とプリフェッチ方式とがあ
る。図13は、従来の典型的なパイプライン方式の読み
出し動作を説明するためのタイミングチャート図であ
る。図13では、パイプラインのステージ数は「4」と
され、CASレイテンシは「4」、バースト長は「4」
の読み出しを2回行う場合のタイミング波形の1例が示
されている。パイプライン方式は、内部の一連の処理を
いくつかのステージに分割し、1つのデータに関する情
報を各ステージで基準クロックに従い順次処理する。
レスYADDを生成する第1のステージ、内部カラムア
ドレスYADDをプリデコードしてプリデコードカラム
アドレス信号PYADDを生成する第2のステージ、信
号PYADDで指定されるアドレスのデータをデータ入
出力線IOBUSに読み出す第3のステージ、及びデー
タ入出力線IOBUS上のデータをDQピンからチップ
外部に出力する第4のステージの計4ステージからなる
4段パイプライン方式である。すなわち、基準クロック
ICLK(外部クロック信号CLKから生成される内部
クロック)のサイクルT1〜T2において、内部カラム
アドレスYADD信号を生成するための第1のステージ
で処理された第1のデータのアドレスAaO(入力され
たアドレス信号ADD参照)は、基準クロックICLK
の次のサイクルT2〜T3において第2のステージで処
理される。それと同時に第2のデータのアドレスAa1
は第1のステージで処理される。各ステージは並列に同
時にその処理動作が行われるため、ステージ数分のデー
タが並列処理されることになる。各ステージはそれぞれ
基準クロックICLKにより制御されているので、複数
のデータに関する情報が1つのステージに同時に存在す
ることはなく、結果として、各データは内部で衝突する
ことなく基準クロックICLKに同期して出力される。
出し動作を説明するためのタイミングチャート図であ
る。図14においては、並列数(プリフェッチ数)は
「2」、/CASレイテンシは「3」、バースト長は
「4」の読み出しを2回行う場合のタイミング波形図が
示されている。プリフェッチ方式は、内部処理を並列に
行い、入出力でデータをプリフェッチし、パラレル−シ
リアル変換を行う。すなわち、データの内部処理の経路
を複数設け、複数のデータに対し同一の処理を実質的に
同時に行う。ただし、出力は同時には行い得ないため、
それ以前に、同時処理された複数のデータに対しパラレ
ル−シリアル変換を施し、シリアルデータを順次基準ク
ロックに従い出力する。すなわち、変換後のデータを出
力するには、変換前の並列数と同じだけの基準クロック
数を要する。したがって、パラレル−シリアル変換前の
処理は並列数と同じだけの基準クロック数で行えば、デ
ータを間断なく出力することができる。図14を参照し
て、基準クロックICLKをT1〜T3の2サイクル
で、外部アドレスADDの取り込みから、データ入出力
線IOBUSへのデータ読み出しを行っている。このと
き、読み出されるデータはDa0、Da1の2ビットで
あり、このうち、データDa0は基準クロックのT3〜
T4のサイクルで外部に出力され、データDa1はT4
〜T5のサイクルで外部に出力される。
ナスDRAM等、バースト動作を行う半導体記憶装置の
バースト転送周波数の最高動作周波数を上げるための方
式として、パイプライン方式とプリフェッチ方式があ
る。そして、パイプライン方式において、最高バースト
転送周波数を向上させるためには、パイプラインのステ
ージ数を増し、各ステージの処理を短縮して、並列度を
上げるようにしている。ただし、DRAM内部の処理の
関係で、各ステージを区切れる箇所は限られている。ま
た、最小基準クロック周期は、最も時間の掛かるステー
ジに合わせなければならない。さらに、各ステージ間を
接続する回路でのオーバーヘッドも増加するため、事実
上ステージ数は3〜4程度に制限される。すなわち、デ
ータの多重度も3〜4に制限される。また、プリフェッ
チ方式で最高バースト転送周波数を向上させるために
は、並列に処理するデータの数を増加させる。このため
には、同一の回路が並列分だけ必要とされ、回路規模が
大きくなり、これを実現するためにはチップ面積が増大
する。また、プリフェッチ方式では、データの入出力は
並列分を単位として行われなければならず、並列分を下
回る単位のデータの入出力はできない。このため、並列
度を上げると、機能上の自由度が低下し、これを用いた
コンピュータシステムの性能低下を招く。これらの理由
により並列度つまり多重度は2程度に制限される。この
ように、上記2方式はどちらもデータの多重度を上げる
ことにより、高速化することができるが、それぞれの理
由により多重度には限界がある。すなわち、最高バース
ト転送周波数に限界があるという問題点があった。本発
明は、上記課題を解決するためになされたもので、バー
ストモードにおいて高速な読み出し動作を実現する半導
体記憶装置、及びこの半導体記憶装置において、読み出
された記憶データを出力バッファが出力するまで一時的
に蓄える信号遅延装置を提供することを目的とする。
は、請求項1に記載のように、入力制御信号によりデー
タの入力が制御されると共に、出力制御信号によりデー
タの出力が制御されるデータレジスタを複数並列に接続
し、入力制御信号と出力制御信号とを同一の信号発生回
路の出力を基に生成するようにしたものである。また、
請求項2に記載のように、上記データレジスタは、入力
が信号入力端子に接続され、制御入力に上記入力制御信
号が与えられる第1のトランスファゲートと、入力が第
1のトランスファゲートの出力に接続された第1のイン
バータと、入力が第1のインバータの出力に接続され、
出力が第1のトランスファゲートの出力に接続された第
2のインバータと、入力が第1のインバータの出力及び
第2のインバータの入力に接続され、出力が信号出力端
子に接続され、制御入力に上記出力制御信号が与えられ
る第2のトランスファゲートとを有するものである。ま
た、請求項3に記載のように、上記データレジスタは、
入力が信号入力端子に接続され、上記入力制御信号がク
ロック端子に接続され、上記入力制御信号に同期して入
力を保持するフリップフロップ回路と、入力が該フリッ
プフロップ回路の出力端子に接続され、制御入力に上記
出力制御信号が与えられる第2のトランスファゲートと
を有するものである。また、請求項4に記載のように、
上記信号発生回路は、クロック信号を計数するカウンタ
と、該カウンタのカウント値をデコードするデコーダと
を有するものである。また、請求項5に記載のように、
上記信号発生回路は、クロック信号を計数し、バイナリ
形式でカウント値を出力するカウンタで構成され、上記
バイナリ形式のカウント値につながる信号をデコードし
て入力制御信号または出力制御信号とするようにしたも
のである。また、請求項6に記載のように、2つの上記
データレジスタを有し、上記デコーダは、上記入力制御
信号を入力とする第3のインバータと、上記出力制御信
号を入力とする第4のインバータとを有し、一方のデー
タレジスタには上記入力制御信号、出力制御信号が与え
られ、他方のデータレジスタには第3のインバータの出
力が入力制御信号として与えられると共に第4のインバ
ータの出力が出力制御信号として与えられるようにした
ものである。また、請求項7に記載のように、同一レジ
スタ内の入力制御信号と出力制御信号とは活性化する期
間が所望の時間差を有するものである。また、請求項8
に記載のように、同一レジスタ内の入力制御信号と出力
制御信号とに与える信号をそれぞれカウンタの異なるデ
コード出力と接続することで所望の時間差を持たせたも
のである。また、請求項9に記載のように、所望の時間
差を選択する手段を設けたものである。また、請求項1
0に記載のように、所望の時間差を選択する手段は、同
一レジスタ内の入力制御信号と出力制御信号とに与える
信号をそれぞれカウンタの異なるデコード出力と接続す
るスイッチ網を複数を設けておき、該スイッチ網を切り
替えることで所望の時間差を選択できるようにしたもの
である。
11に記載のように、外部入力信号に応じて記憶データ
の読み出しを行う読み出し回路と、入力制御信号により
データの入力が制御されると共に、出力制御信号により
データの出力が制御されるデータレジスタが複数並列に
接続された、上記読み出し回路によって読み出された記
憶データを一時的に蓄える信号遅延装置と、基準クロッ
クに基づいてクロックを計数してカウント信号を出力す
るカウンタと、カウント信号に基づいて上記入力制御信
号を出力する入力制御部と、カウント信号に基づいて上
記出力制御信号を出力する出力制御部とを備え、上記入
力制御部と出力制御部が、同一の記憶データの処理に関
して、上記基準クロックの異なるエッジに応じてそれぞ
れ動作するようにしたものである。このように、読み出
し回路は、同一サイクルに複数の処理動作を行うパイプ
ライン方式に従って構成される。また、信号遅延装置内
の各データレジスタは、互いに異なる複数の入力制御信
号、複数の出力制御信号で制御されるか、あるいは共通
の入力制御信号、出力制御信号で制御される。
上記信号遅延装置の出力に接続され、信号遅延装置から
出力された記憶データを基準クロックに同期して外部に
出力する出力バッファを備え、上記読み出し回路と出力
バッファ回路が、同一の記憶データの処理に関して、上
記基準クロックの異なるエッジに応じてそれぞれ動作す
るようにしたものである。また、請求項13に記載のよ
うに、上記読み出し回路を動作させる基準クロックのエ
ッジと上記出力バッファ回路を動作させる基準クロック
のエッジとの間の周期数のうち、最大数と同じ個数のデ
ータレジスタで上記信号遅延装置を構成するようにした
ものである。また、請求項14に記載のように、上記信
号遅延装置内の各データレジスタは、入力が信号入力端
子に接続され、制御入力に上記入力制御信号が与えられ
る第1のトランスファゲートと、入力が第1のトランス
ファゲートの出力に接続された第1のインバータと、入
力が第1のインバータの出力に接続され、出力が第1の
トランスファゲートの出力に接続された第2のインバー
タと、入力が第1のインバータの出力及び第2のインバ
ータの入力に接続され、出力が信号出力端子に接続さ
れ、制御入力に上記出力制御信号が与えられる第2のト
ランスファゲートとを有するものである。また、請求項
15に記載のように、上記カウンタから出力されるカウ
ント値をデコードする手段を入力制御部又は出力制御部
と信号遅延装置との間に設けたものである。また、請求
項16に記載のように、上記信号遅延装置は、2つの上
記データレジスタを有し、上記カウント値をデコードす
る手段は、上記入力制御信号を入力とする第3のインバ
ータと、上記出力制御信号を入力とする第4のインバー
タとを有し、一方のデータレジスタには上記入力制御信
号、出力制御信号が与えられ、他方のデータレジスタに
は第3のインバータの出力が入力制御信号として与えら
れると共に第4のインバータの出力が出力制御信号とし
て与えられるようにしたものである。
ウンタは、上記基準クロックに応じて状態変化する、上
記信号遅延装置内のデータレジスタと同じ数の状態を持
ち、その状態を複数の上記カウント信号で表すものであ
り、上記入力制御部は、上記カウンタから出力されるカ
ウント信号をそれぞれ遅延させる複数の遅延回路と、各
遅延回路の出力をリード用クロックに応じてラッチし、
入力制御信号として出力する複数のラッチ回路とからな
るものであり、上記出力制御部は、上記カウンタから出
力されるカウント信号を上記出力制御信号とするもので
ある。また、請求項18に記載のように、上記カウンタ
は、上記基準クロックに応じて状態変化する、上記信号
遅延装置内のデータレジスタと同じ数の状態を持ち、そ
の状態を1つの上記カウント信号で表すものであり、上
記入力制御部は、上記カウンタから出力されるカウント
信号を遅延させる遅延回路と、遅延回路の出力に接続さ
れたインバータと、インバータの出力をリード用クロッ
クに応じてラッチし、入力制御信号として出力するラッ
チ回路とからなるものであり、上記出力制御部は、上記
カウンタから出力されるカウント信号を上記出力制御信
号とするものである。また、請求項19に記載のよう
に、上記カウンタは、上記基準クロックに応じて状態変
化する、上記信号遅延装置内のデータレジスタと同じ数
の状態を持ち、その状態を複数の上記カウント信号で表
すものであり、上記入力制御部は、上記カウンタから出
力される出力制御信号をそれぞれ遅延させる複数の遅延
回路と、入力信号をリード用クロックに応じてラッチ
し、入力制御信号として出力する複数のラッチ回路と、
上記遅延回路とラッチ回路の間に設けられ、複数の遅延
回路の出力と複数のラッチ回路の入力の接続制御を行う
切替回路とからなるものであり、上記出力制御部は、上
記カウンタから出力されるカウント信号を上記出力制御
信号とするものである。また、請求項20に記載のよう
に、上記基準クロックに基づいて読み出し期間中出力さ
れる上記リード用クロックを生成するリード用クロック
生成回路と、上記基準クロックと読み出し期間中である
ことを示すイネーブル信号との論理積をとり、この結果
を基準クロックとして上記カウンタに与える論理積回路
とを備え、上記出力制御部は、カウンタの出力とイネー
ブル信号との論理積をとり、この結果を出力制御信号と
する論理積回路を有し、上記入力制御部及び出力制御部
が読み出し期間中だけ動作するものである。
の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
図1は本発明の第1の実施の形態を示す半導体記憶装置
のブロック図、図2は図1の半導体記憶装置のうち信号
遅延装置となるファーストインファーストアウト(以
下、FIFOと略する)バッファ2の構成を示すブロッ
ク図である。また、図3は図1の半導体記憶装置の動作
を説明するためのタイミングチャート図である。
「3」とし、バースト長を「4」として説明するが、C
ASレイテンシやバースト長についてはこれに限定され
るものでなく、他の値でもよい。
セルがマトリクス状に配置されたメモリセルアレイ1を
有する。列アドレスデコーダ(不図示)は、内部列アド
レス信号に従って、各列のメモリセルに対応してそれぞ
れ設けられた複数のデジット線のうちの1本を選択レベ
ルとする。これにより、選択デジット線に接続されてい
るメモリセルの記憶データがメモリセルアレイ1内のセ
ンスアンプ(不図示)を介して出力線RWBUSに出力
される。
の高速化のため、読み出しコマンド入力以降からFIF
Oバッファ2までの処理を基準クロックである内部同期
信号ICLKに非同期で行っている。ただし、メモリセ
ルアレイ1から読み出された記憶データを半導体記憶装
置の外部に出力する出力バッファ8は内部同期信号IC
LK(ICLKOE)に同期しているので、FIFOバ
ッファ2によりデータの追突を解決している。
FIFOバッファ2は、CASレイテンシの最高値−1
(本実施の形態では、3−1=2)個の未出力データを
保持できればよい。なぜなら、これ以上のデータをメモ
りセルアレイ1から読み出すために内部同期信号ICL
Kを入力すれば、半導体記憶装置外への出力が必ず行わ
れ、結局、出力されたデータの保持の必要がなくなり、
この保持に使用していたレジスタをメモリセルアレイ1
から新たに読み出されたデータの保持に使用すればよい
からである。
ファ2は、2個のレジスタ2−0,2−1を有してい
る。各レジスタは内部同期信号ICLKに同期してサイ
クリック(0→1→0→・・・)に使用される。
ス又はドレインの一方)がFIFOバッファ2の信号入
力端子に接続され、制御入力(ゲート)にFIFOバッ
ファ入力制御信号DSEL(DSEL0,DSEL1)
が与えられたNchトランジスタからなる第1のトラン
スファゲート21−0,21−1と、入力が第1のトラ
ンスファゲート21−0,21−1の出力(ソース又は
ドレインの他方)に接続された第1のインバータ22−
0,22−1と、入力が第1のインバータ22−0,2
2−1の出力に接続され、出力が第1のトランスファゲ
ート21−0,21−1の出力に接続された第2のイン
バータ23−0,23−1と、入力(ソース又はドレイ
ンの一方)が第1のインバータ22−0,22−1の出
力及び第2のインバータ23−0,23−1の入力に接
続され、出力がFIFOバッファ2の信号出力端子に接
続され、制御入力(ゲート)にFIFOバッファ出力制
御信号OSEL(OSEL0,OSEL1)が与えられ
たNchトランジスタからなる第2のトランスファゲー
ト24−0,24−1とから構成されている。
ァゲート21−0,21−1の入力をFIFOバッファ
2の信号入力端子に接続し、第2のトランスファゲート
24−0,24−1の出力をFIFOバッファ2の信号
出力端子に接続することで、並列に接続されている。
FOを使用していたので、CASレイテンシを変更する
と、ラッチ回路の段数を変更したり、制御動作を工夫す
るなどして対応しなければならなかった。例えば、ラッ
チ回路が4段直列に接続されたいるものを、2段分のラ
ッチ回路だけで動作させようとしても、不要な回路が途
中に入るので、データがFIFOを通過するのに要する
時間が長くなっていた。これに対し、本発明では、レジ
スタ2−0,2−1を並列に並べることにより、従来の
パイプライン方式のようにレイテンシが増加してもアク
セスパスの段数が増加することがなく、データがFIF
Oを通過するのに要する時間は一定となるので、アクセ
スタイムの高速化が可能となる。
FOバッファ入力制御信号DSEL(DSEL0,DS
EL1)によっていずれか1つが選択されるように制御
され、活性化されたFIFOバッファ入力制御信号DS
ELによって制御されるレジスタのみに出力線RWBU
Sのデータがラッチされる。
FOバッファ出力制御信号OSEL(OSEL0,OS
EL1)によっていずれか1つが選択されるように制御
され、活性化されたFIFOバッファ出力制御信号OS
ELによって制御されるレジスタのみがデータ出力を行
う。
定時間遅延して、遅延後の信号を同期信号ICLK1と
して出力する。この遅延回路3は、出力線RWBUSへ
のデータ出力に見合う分の時間だけ内部同期信号ICL
Kを遅らせるものである。
ネーブル信号READENが活性化レベル(本実施の形
態では、「H」レベル)であるとき、遅延回路3から入
力された同期信号ICLK1をリード用同期信号YRD
として出力し、リードイネーブル信号READENが不
活性化レベル(本実施の形態では、「L」レベル)であ
るとき、遅延回路3から入力された同期信号ICLK1
を出力しない。
とリードイネーブル信号READENとの論理積をと
り、この論理積の結果、すなわちリードイネーブル信号
READENが「H」レベルのとき内部同期信号ICL
Kを後述するカウンタ9の基準クロックとなるカウント
アップ信号OCNTCKとして出力する。
TCKに同期してこの信号を計数する。カウンタ9のカ
ウント数はFIFOバッファ数2のレジスタ数と同じ数
をサイクリックにカウントする。本実施の形態では、レ
ジスタ数は「2」であるので、カウント値は0→1→0
→・・・のようになる。カウンタ9は、カウント値をデ
コードしてFIFOバッファ数2のレジスタ数分のカウ
ント信号OCNT0、OCNT1を出力する。ここで、
複数のカウント信号OCNT0、OCNT1のうちの1
つだけが「H」レベルで、他は「L」レベルになる。つ
まり、カウンタ9は、カウント値「0」をとるとき、カ
ウント信号OCNT0を「H」レベル、OCNT1を
「L」レベルとし、カウント値「1」をとるとき、カウ
ント信号OCNT0を「L」レベル、OCNT1を
「H」レベルとする。なお、カウント値は「0」又は
「1」の何れから始まってもよい。
Oバッファ2の各レジスタ2−0,2−1の入力を制御
する。
は、それぞれの状態に対応するFIFOバッファ入力制
御信号DSEL(DSEL0,DSEL1)を活性化す
る。したがって、FIFOバッファ2では、活性化され
たFIFOバッファ入力制御信号DSELによって制御
されるレジスタのみに出力線RWBUSのデータがラッ
チされる。
述するカウンタ9から出力されるカウント信号OCNT
1を一定時間遅延し、この遅延した信号を入力制御用カ
ウント信号DCNT0として出力する遅延回路61−0
と、カウンタ9から出力されるカウント信号OCNT0
を一定時間遅延し、この遅延した信号を入力制御用カウ
ント信号DCNT1として出力する遅延回路61−1
と、遅延回路61−0から出力された入力制御用カウン
ト信号DCNT0をリード用同期信号YRDの立ち上が
りでラッチし、この結果をFIFOバッファ入力制御信
号DSEL0として出力するラッチ回路62−0と、遅
延回路61−1から出力された入力制御用カウント信号
DCNT1をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラ
ッチし、この結果をFIFOバッファ入力制御信号DS
EL1として出力するラッチ回路62−1とから構成さ
れている。
Oバッファ2の各レジスタ2−0,2−1の出力を制御
する。
は、それぞれの状態に対応するFIFOバッファ出力制
御信号OSEL(OSEL0,OSEL1)を活性化す
る。したがって、FIFOバッファ2では、活性化され
たFIFOバッファ出力制御信号OSELによって制御
されるレジスタのみがデータ出力を行う。
ウント信号OCNT0とリードイネーブル信号READ
ENとの論理積をとり、この論理積の結果をFIFOバ
ッファ出力制御信号OSEL0として出力するANDゲ
ート72−0と、カウント信号OCNT1とリードイネ
ーブル信号READENとの論理積をとり、この論理積
の結果をFIFOバッファ出力制御信号OSEL1とし
て出力するANDゲート72−1とから構成されてい
る。
ら出力されたデータを出力用同期信号ICLKOEに同
期して半導体記憶装置外に出力する。ここで、出力用同
期信号ICLKOEは、内部同期信号ICLKと同期し
ており、データ出力時のみ同期信号を出力するようにし
たもので、内部同期信号ICLKとリードイネーブル信
号READENを所望期間遅延した信号とを論理積する
ことで得られる。なお、本実施の形態では、出力バッフ
ァ8専用の出力用同期信号ICLKOEを使用している
が、内部同期信号ICLKを使用してもよい。
作を説明する。外部からの入力信号は、公知の一般的な
シンクロナスDRAMと同一である。図示しない列アド
レスバッファ回路には外部入力信号である外部アドレス
信号が与えられる。読み出しコマンド入力時の外部アド
レス信号は、バースト先頭データのアドレスを示してい
る。このアドレスは、内部で、行アドレスと列アドレス
に分けて保持される。
ある読み出しコマンドが入力されると、行アドレスバッ
ファ回路は、外部アドレス信号をラッチして、デコード
し、ワード線のうちの1つを選択・活性化する。列アド
レスバッファ回路は、外部アドレス信号をラッチして、
これを内部列アドレス信号として出力する。行アドレス
と列アドレスとが時分割で入力される方式のメモリで
は、このときの内部列アドレス信号の値は外部アドレス
信号の値と同一であり、バースト先頭データの列アドレ
スを示している。
れると、図示しないバーストカウンタは、バースト期間
(内部同期信号ICLKのバースト長分のサイクル数の
期間)の間、読み出し期間中であることを示す「H」レ
ベルのリードイネーブル信号READENを出力し続け
る(図3(b))。なお、バースト長とCASレイテン
シは、モード設定コマンドで初期設定されている。
Nの有効期間中、列アドレスバッファ回路は、読み出し
コマンド入力時(時刻t1)の内部同期信号ICLKよ
り後の同期信号ICLK(時刻t2,t3・・・)に応
じて、バーストデータの2ビット目以降の列アドレスを
示す内部列アドレス信号を順次生成する。
レスバッファ回路からの内部列アドレス信号に従って、
各列のメモリセルに対応してそれぞれ設けられた複数の
デジット線のうちの1本を選択レベルとする。デジット
線は、センスアンプに接続され、メモリセルの記憶情報
を読み書きするものである。
から出力された内部行アドレス信号が行アドレスデコー
ダ(不図示)に入力されることにより、行アドレスデコ
ーダが各行のメモリセルに対応してそれぞれ設けられた
複数のワード線のうちの1本を選択レベルとする。
線に接続されているメモリセルのデータがメモリセルア
レイ1内のセンスアンプ(不図示)を介して出力線RW
BUSに出力される(図3(e)のDATA0)。
目の内部同期信号ICLK(時刻t2)に応じて、バー
ストデータの2ビット目のデータ(図3(e)のDAT
A1)が出力線RWBUSに出力され、3番目の内部同
期信号ICLK(時刻t3)に応じて、バーストデータ
の3ビット目のデータ(図3(e)のDATA2)が出
力線RWBUSに出力される。以降のデータについても
同様である。
2の入力端までのデータパスの制御は、バースト先頭の
データに関しては、全て読み出しコマンド入力時(時刻
t1)の内部同期信号ICLKのエッジのみに基づいて
行われ、読み出しコマンド入力時以降(時刻t2,t3
・・・)に入力される内部同期信号ICLKの有無には
無関係(非同期)に伝達される。
関しては、読み出しコマンド入力時以降(時刻t2,t
3・・・)の対応する内部同期信号ICLKのエッジの
みに基づいて行われ、対応する内部同期信号ICLKの
後に入力される内部同期信号ICLKの有無には無関係
に伝達される。
出し制御のうち、以上説明した部分については、CAS
レイテンシには依存しない。また、本実施の形態では、
ある1つの時間(サイクルタイム)で複数のデータに関
する情報を処理していることからパイプライン方式を採
用している。
数が高くなると、内部処理のある部分で前のデータの処
理終了前に次のデータがやってくる場合がある。例え
ば、出力線RWBUSに出力されるデータが確定しない
時間に内部列アドレス信号が次のデータのアドレスに変
化する場合等である。
が、前記従来例においてもこれらの条件の場合には誤動
作を起こすので、本実施の形態の欠点にはならない。む
しろ、従来例のステージ間の内部同期信号ICLK同期
動作に対する、オーバーヘッドがない分、最高動作周波
数を高くできる。
タは、FIFOバッファ入力制御部6によって指定され
るFIFOバッファ2のレジスタ2−0又は2−1に取
り込まれる。レジスタ2−0,2−1に取り込まれたデ
ータは、FIFOバッファ出力制御部7の制御により、
バッファ出力線OUTに出力され、出力バッファ8に送
られる。
FIFOバッファ出力制御部7によるFIFOバッファ
2の制御について説明する。まず、遅延回路3は、内部
同期信号ICLKを一定時間遅延して、遅延後の信号を
同期信号ICLK1として出力する。遅延回路3は、メ
モリセルアレイ1から読み出したデータをFIFOバッ
ファ2内のレジスタにラッチするタイミングを決めるた
めのものであり、タイミングが合っていればなくてもよ
い。
ネーブル信号READENが活性化レベル(本実施の形
態では、「H」レベル)であるとき、遅延回路3から入
力された同期信号ICLK1をリード用クロックである
リード用同期信号YRDとして出力する(図3
(d))。
CLKとリードイネーブル信号READENとの論理積
をとり、この論理積の結果、すなわちリードイネーブル
信号READENが「H」レベルのとき内部同期信号I
CLKをカウントアップ信号OCNTCKとして出力す
る(図3(c))。
路61−0は、カウンタ9から出力されるカウント信号
OCNT1を一定時間遅延し、この遅延した信号を入力
制御用カウント信号DCNT0として出力する(図3
(h))。
遅延回路61−1は、カウンタ9から出力されるカウン
ト信号OCNT0を一定時間遅延し、この遅延した信号
を入力制御用カウント信号DCNT1として出力する
(図3(i))。なお、遅延回路61−0,61−1
は、同期信号ICLK1に同期したリード用同期信号Y
RDとのタイミングを調整するためのものであり、タイ
ミングが合っていればなくてもよい。
回路62−0は、遅延回路61−0から出力された入力
制御用カウント信号DCNT0をリード用同期信号YR
Dの立ち上がりでラッチし、これをFIFOバッファ入
力制御信号DSEL0として出力する(図3(j))。
は、遅延回路61−1から出力された入力制御用カウン
ト信号DCNT1をリード用同期信号YRDの立ち上が
りでラッチし、これをFIFOバッファ入力制御信号D
SEL1として出力する(図3(k))。
の複数の出力DSEL0,DSEL1は、リードイネー
ブル信号READENが活性化レベルであるとき、リー
ド用同期信号YRDの立ち上がりエッジに同期していず
れか1つが「H」レベルとなる。
は、カウンタ9のカウント値が「0」をとるとき、FI
FOバッファ入力制御信号DSEL0を「H」レベル、
DSEL1を「L」レベルとし、カウント値が「1」を
とるとき、FIFOバッファ入力制御信号DSEL0を
「L」レベル、DSEL1を「H」レベルとする。
0内の第1のトランスファゲート21−0は、FIFO
バッファ入力制御信号DSEL0が「H」レベルのとき
オンとなり、「L」レベルのときオフとなる。同様に、
レジスタ2−1内の第1のトランスファゲート21−1
は、FIFOバッファ入力制御信号DSEL1が「H」
レベルのときオンとなり、「L」レベルのときオフとな
る。
御信号DSEL0は図3(j)に示すように「H」レベ
ルなので、トランスファゲート21−0はオン状態とな
る。こうして、図3(l)に示すように、トランスファ
ゲート21−0の出力RBUS0に出力線RWBUS上
の先頭データDATA0が出力され、インバータ22−
0と23−0で構成されるデータ保持部にDATA0が
保持され、このデータDATA0がレジスタ2−0に取
り込まれたことになる。
入力制御信号DSEL1は図3(k)に示すように
「L」レベルなので、トランスファゲート21−1はオ
フ状態である。したがって、図3(m)に示すように、
トランスファゲート21−1の出力RBUS1は不定の
ままであり、データDATA0はレジスタ2−1には取
り込まれない。
入力制御信号DSEL0は「L」レベルなので、トラン
スファゲート21−0はオフ状態となる。よって、出力
線RWBUSに出力された2ビット目のデータDATA
1はレジスタ2−0には取り込まれず、トランスファゲ
ート21−0の出力RBUS0は先にラッチされたデー
タDATA0のままである。
入力制御信号DSEL1は「H」レベルなので、トラン
スファゲート21−1はオン状態となる。こうして、図
3(m)に示すように、トランスファゲート21−1の
出力RBUS1に出力線RWBUS上のデータDATA
1が出力され、インバータ22−1と23−1で構成さ
れるデータ保持部にDATA1が保持され、このデータ
DATA1がレジスタ2−1に取り込まれたことにな
る。
ト目のデータDATA2がレジスタ2−0に取り込ま
れ、時刻t5では、4ビット目のデータDATA3がレ
ジスタ2−1に取り込まれる。
ANDゲート72−0は、カウント信号OCNT0とリ
ードイネーブル信号READENとの論理積をとり、こ
の論理積の結果をFIFOバッファ出力制御信号OSE
L0として出力する。
1は、カウント信号OCNT1とリードイネーブル信号
READENとの論理積をとり、この論理積の結果をF
IFOバッファ出力制御信号OSEL1として出力す
る。
出力制御部7の複数の出力OSEL0,OSEL1は、
リードイネーブル信号READENが活性化レベルであ
るとき、カウントアップ信号OCNTCKの立ち上がり
エッジに同期して、OSEL0,OSEL1のいずれか
1つが「H」レベルとなる。
は、カウンタ9のカウント値が「0」をとるとき、FI
FOバッファ出力制御信号OSEL0を「H」レベル、
OSEL1を「L」レベルとし、カウント値が「1」を
とるとき、FIFOバッファ出力制御信号OSEL0を
「L」レベル、OSEL1を「H」レベルとする。
0内の第2のトランスファゲート24−0は、FIFO
バッファ出力制御信号OSEL0が「H」レベルのとき
オンとなり、「L」レベルのときオフとなる。同様に、
レジスタ2−1内の第2のトランスファゲート24−1
は、FIFOバッファ出力制御信号OSEL1が「H」
レベルのときオンとなり、「L」レベルのときオフとな
る。
御信号OSEL0は図3(n)に示すように「H」レベ
ルなので、トランスファゲート24−0はオン状態とな
る。こうして、図3(p)に示すように、レジスタ2−
0に保持されていたデータDATA0がバッファ出力線
OUTに出力される。
出力制御信号OSEL1は図3(o)に示すように
「L」レベルなので、トランスファゲート24−1はオ
フ状態である。したがって、レジスタ2−1に保持され
ているデータDATA1はバッファ出力線OUTには出
力されない。
出力制御信号OSEL0は「L」レベルなので、トラン
スファゲート24−0はオフ状態となる。よって、レジ
スタ2−0に保持されているデータDATA2はバッフ
ァ出力線OUTには出力されない。
出力制御信号OSEL1は「H」レベルなので、トラン
スファゲート24−1はオン状態となる。こうして、図
3(p)に示すように、レジスタ2−1に保持されてい
たデータDATA1がバッファ出力線OUTに出力され
る。
タ2−0に保持されていたデータDATA2がバッファ
出力線OUTに出力される。出力バッファ8は、FIF
Oバッファ2から出力されたデータを図3(q)に示す
出力用同期信号ICLKOEに同期して出力端子DQに
出力する(図3(r))。
時(時刻t1)の内部同期信号ICLKから3クロック
目(t1のクロック含まず)の時刻t4で、先頭データ
DATA0が出力され、以下、順にデータDATA1,
DATA2,・・・が出力される。これで、CASレイ
テンシ「3」の動作が実現される。
バッファ2に、CASレイテンシ−1(本実施の形態で
は、2)個分のレジスタ2−0,2−1を設けている
が、正しいデータフロー制御を保証するためには、1つ
のデータをFIFOバッファ入力制御信号DSELによ
って特定のレジスタに入力し、この特定のレジスタから
レイテンシ後にFIFOバッファ出力制御信号OSEL
によってデータを出力させなければならない。
号DSELとFIFOバッファ出力制御信号OSEL
は、常に一定の関係を保つ必要がある。この関係を図4
に示す。なお、図4では、FIFOバッファ入力制御信
号DSELとFIFOバッファ出力制御信号OSELを
上述したカウント値「0」又は「1」で表記している。
のようなFIFOバッファ入力制御信号DSELとFI
FOバッファ出力制御信号OSELの関係を保つため
に、本実施の形態では、遅延回路61−0で一定時間遅
延したカウント信号OCNT1をラッチ回路62−0に
与えてFIFOバッファ入力制御信号DSEL0を生成
し、遅延回路61−1で一定時間遅延したカウント信号
OCNT0をラッチ回路62−1に与えてFIFOバッ
ファ入力制御信号DSEL1を生成している。
信号READENが活性化レベルとなった後のFIFO
バッファ入力制御信号DSELとFIFOバッファ出力
制御信号OSELは、内部同期信号ICLKの周波数、
クロックサスペンド等に無関係に常に一定の関係に保た
れる。
Oバッファ出力制御部7の構成としては、本実施の形態
の構成とは別に、カウンタ9のようなサイクリックのカ
ウンタを制御部6,7にそれぞれ設ける構成が考えられ
る。
イテンシ「3」の場合、FIFOバッファ入力制御信号
DSELを「1」にして、FIFOバッファ出力制御信
号OSELを「0」にするリセットを行わなければなら
ず、かつリセット後は図4で説明した関係がずれないよ
うに2つのカウンタを管理しなければならない。また、
2つのカウンタのずれを防止するために、いったんリセ
ットした後は、カウンタを常に動作させなければならな
い。このような複雑な制御回路が必要であった。
成をとることにより、FIFOバッファ入出力制御部
6,7に共通のカウンタ9を1つ設ければよいので、チ
ップ面積を削減することができる。また、FIFOバッ
ファ入力制御信号DSELとFIFOバッファ出力制御
信号OSELの関係は常に一定に保たれるので、FIF
Oバッファ入力制御部6及びFIFOバッファ出力制御
部7を常に動作させておく必要がなく、リードイネーブ
ル信号READENが活性化レベルとなったときだけ動
作させればよいので、スタンバイ電流を削減することが
できる。
IFOバッファ2の入力/出力共に同一のカウンタを使
用し、正しいデータフロー制御が行われることが保証さ
れる。したがって、FIFOバッファ2のレジスタ選択
に関し、読み出しコマンド入力に起因するリセット回路
などの制御系は全く存在しない。
周波数およびCASレイテンシが与えられたアクセスタ
イムの限界では、出力線RWBUSのデータおよび同一
レジスタのDSELとOSELが重なり合ったタイミン
グとなる。
を単純に通過し、出力バッファ8に達する。このため、
データ出力を外部からの同期信号に同期させるための、
アドレスアクセス時間に対するオーバーヘッドは、デー
タがFIFOバッファ2を通過する際の遅延のみであ
り、非常に短い。
たデータは出力バッファ8により半導体記憶装置外部に
出力され、一連の読み出し動作を終了する。そして、外
部では、データを読み出すために入力した内部同期信号
ICLK(時刻t1)のエッジからCASレイテンシ後
の内部同期信号ICLK(時刻t4)のエッジのタイミ
ングで、このデータを使用することになる。
では、データパスに関しては最小限の回路を挿入するの
みであるので、パイプライン動作をしているにも拘わら
ず、これによるアドレスアクセス時間に対するオーバー
ヘッドがほとんどない、高速な読み出し方式を実現する
ことができる。
ラインの境界制御のタイミングを変化させる必要がな
く、どのCASレイテンシにおいても内部同期信号IC
LKの最高周波数は純粋にDRAMコア部分の動作周波
数のみであり、最高バースト転送周波数も上げられる。
また、以上の理由により回路も簡略化され、チップ面積
も減少する。本実施の形態では、2つのインバータ2
2、23でデータを保持するようにしているが、これに
限定されるものではなく、フリップフロップ回路や、D
SELの同期してRWBUSをラッチするデータ保持回
路でもよい。 また、入力の制御にNチャネルトランジ
スタをトランスファゲート21を使用した例を示した
が、DSELとRWBUSを入力とする論理積回路で実
現してもよい。また、出力側についても、入力側と同様
にANDゲートやNANDゲートなどの論理積回路でも
よい。
施の形態を示す半導体記憶装置のブロック図、図6は図
5の半導体記憶装置のうち信号遅延装置となるFIFO
バッファ2aの構成を示すブロック図であり、図1、図
2と同様の構成には同一の符号を付してある。また、図
7は図5の半導体記憶装置の動作を説明するためのタイ
ミングチャート図である。
イ1から出力線RWBUSにデータが出力されるまでの
動作は実施の形態の1と同様である。また、遅延回路
3、リード用同期信号生成回路4、ANDゲート5、出
力バッファ8の動作も実施の形態の1と同様である。
a、FIFOバッファ入力制御部6a及びFIFOバッ
ファ出力制御部7aについて説明する。FIFOバッフ
ァ2aは、CASレイテンシの最高値(本実施の形態で
は、3)−1個のレジスタ2a−0,2a−1を有して
いる。各レジスタは内部同期信号ICLKに同期してサ
イクリック(2a−0→2a−1→2a−0→・・・)
に使用される。
実施の形態の1と同様であり、第1のトランスファゲー
ト21−0,21−1の入力をFIFOバッファ2aの
信号入力端子に接続し、第2のトランスファゲート24
−0,24−1の出力をFIFOバッファ2aの信号出
力端子に接続することで、並列に接続されている。
ファ入力制御信号DSEL1は存在せず、FIFOバッ
ファ入力制御信号DSEL0を実施の形態の1と同様に
トランスファゲート21−0の制御入力に与えると共
に、第3のインバータ25を介してトランスファゲート
21−1の制御入力にも与えている。
EL1は存在せず、FIFOバッファ出力制御信号OS
EL0を実施の形態の1と同様にトランスファゲート2
4−0の制御入力に与えると共に、第4のインバータ2
6を介してトランスファゲート24−1の制御入力にも
与えている。
NTCKに同期してこの信号を計数する。カウンタ9a
のカウント数はFIFOバッファ数2aのレジスタ数と
同じ数をサイクリックにカウントする。本実施の形態で
は、レジスタ数は「2」であるので、カウント値は0→
1→0→・・・のようになる。実施の形態の1と異な
り、カウンタ9aはデコードする前のカウント値をその
まま出力する。本実施の形態では、FIFO2aのレジ
スタ数が「2」であるので、カウンタ9aの出力線は1
本でよい。レジスタ数が「4」までであれば2本、レジ
スタ数が「8」まであれば3本でよい。一般にレジスタ
数をmとすると、カウンタの出力線の数はlog2 mで
表される。このように、本実施の形態では、カウンタ9
aと各制御部6a、7aやFIFOバッファ2aとの配
線数を減らすことができるので、配線に要する面積を低
減できる。本実施の形態では、カウンタ9aは、カウン
ト信号OCNT0だけを出力し、カウント値「0」をと
るとき、カウント信号OCNT0を「H」レベルとし、
カウント値「1」をとるとき、カウント信号OCNT0
を「L」レベルとする。なお、カウント値は「0」又は
「1」の何れから始まってもよい。
は、カウンタ9aから出力されるカウント信号OCNT
0を一定時間遅延する遅延回路61aと、遅延回路61
aの出力を論理反転し、この反転結果を入力制御用カウ
ント信号DCNT0として出力するインバータ63a
と、インバータ63aから出力された入力制御用カウン
ト信号DCNT0をリード用同期信号YRDの立ち上が
りでラッチし、この結果をFIFOバッファ入力制御信
号DSEL0として出力するラッチ回路62aとから構
成されている。
Dゲート72aから構成され、カウント信号OCNT0
とリードイネーブル信号READENとの論理積をと
り、この論理積の結果をFIFOバッファ出力制御信号
OSEL0として出力する。
ッファ入力制御部6a及びFIFOバッファ出力制御部
7aの動作を説明する。
回路61aは、カウンタ9aから出力されるカウント信
号OCNT0を一定時間遅延し、インバータ63aは、
遅延回路61aの出力を論理反転して、入力制御用カウ
ント信号DCNT0として出力する(図7(g))。
チ回路62aは、インバータ63aから出力された入力
制御用カウント信号DCNT0をリード用同期信号YR
Dの立ち上がりでラッチし、これをFIFOバッファ入
力制御信号DSEL0として出力する(図7(h))。
aの出力DSEL0は、リードイネーブル信号READ
ENが活性化レベルであるとき、リード用同期信号YR
Dの立ち上がりエッジに同期して0→1→0→・・・の
値を出力する。
は、カウンタ9aのカウント値が「0」をとるとき、F
IFOバッファ入力制御信号DSEL0を「H」レベル
とし、カウント値が「1」をとるとき、FIFOバッフ
ァ入力制御信号DSEL0を「L」レベルとする。
a−0内の第1のトランスファゲート21−0は、FI
FOバッファ入力制御信号DSEL0が「H」レベルの
ときオンとなり、「L」レベルのときオフとなる。ま
た、レジスタ2a−1内の第1のトランスファゲート2
1−1は、第3のインバータ25により、FIFOバッ
ファ入力制御信号DSEL0が「L」レベルのときオン
となり、「H」レベルのときオフとなる。
御信号DSEL0は図7(h)に示すように「H」レベ
ルなので、トランスファゲート21−0はオン状態とな
る。こうして、図7(j)に示すように、トランスファ
ゲート21−0の出力RBUS0に出力線RWBUS上
の先頭データDATA0が出力され、インバータ22−
0,23−0で構成されるデータ保持部に保持され、こ
のデータDATA0がレジスタ2a−0に取り込まれた
ことになる。
EL0が「H」レベルなので、トランスファゲート21
−1はオフ状態である。したがって、図7(k)に示す
ように、トランスファゲート21−1の出力RBUS1
は不定のままであり、データDATA0はレジスタ2a
−1には取り込まれない。
入力制御信号DSEL0は「L」レベルなので、トラン
スファゲート21−0はオフ状態となる。よって、出力
線RWBUSに出力された2ビット目のデータDATA
1はレジスタ2a−0には取り込まれず、トランスファ
ゲート21−0の出力RBUS0は先にラッチされたデ
ータDATA0のままである。
EL0が「L」レベルなので、トランスファゲート21
−1はオン状態となる。こうして、図7(k)に示すよ
うに、トランスファゲート21−1の出力RBUS1に
出力線RWBUS上のデータDATA1が出力され、イ
ンバータ22−1,23−1で構成されるデータ保持部
に保持され、このデータDATA1がレジスタ2a−1
に取り込まれたことになる。
ト目のデータDATA2がレジスタ2a−0に取り込ま
れ、時刻t5では、4ビット目のデータDATA3がレ
ジスタ2a−1に取り込まれる。
のANDゲート72aは、カウント信号OCNT0とリ
ードイネーブル信号READENとの論理積をとり、こ
の論理積の結果をFIFOバッファ出力制御信号OSE
L0として出力する。
出力制御部7aの出力OSEL0は、リードイネーブル
信号READENが活性化レベルであるとき、カウント
アップ信号OCNTCKの立ち上がりエッジに同期して
0→1→0→・・・の値をとる。
は、カウンタ9aのカウント値が「0」をとるとき、F
IFOバッファ出力制御信号OSEL0を「H」レベル
とし、カウント値が「1」をとるとき、FIFOバッフ
ァ出力制御信号OSEL0を「L」レベルとする。
a−0内の第2のトランスファゲート24−0は、FI
FOバッファ出力制御信号OSEL0が「H」レベルの
ときオンとなり、「L」レベルのときオフとなる。ま
た、レジスタ2a−1内の第2のトランスファゲート2
4−1は、第4のインバータ26により、FIFOバッ
ファ出力制御信号OSEL0が「L」レベルのときオン
となり、「H」レベルのときオフとなる。
御信号OSEL0は図7(l)に示すように「H」レベ
ルなので、トランスファゲート24−0はオン状態とな
る。こうして、図7(n)に示すように、レジスタ2a
−0に保持されていたデータDATA0がバッファ出力
線OUTに出力される。
EL0が「H」レベルなので、トランスファゲート24
−1はオフ状態である。したがって、レジスタ2a−1
に保持されているデータDATA1はバッファ出力線O
UTには出力されない。
出力制御信号OSEL0は「L」レベルなので、トラン
スファゲート24−0はオフ状態となる。よって、レジ
スタ2−0に保持されているデータDATA2はバッフ
ァ出力線OUTには出力されない。
EL0が「L」レベルなので、トランスファゲート24
−1はオン状態となる。こうして、図7(n)に示すよ
うに、レジスタ2a−1に保持されていたデータDAT
A1がバッファ出力線OUTに出力される。
タ2a−0に保持されていたデータDATA2がバッフ
ァ出力線OUTに出力される。
ト値をカウンタ9a内でデコードするのではなく、FI
FOバッファ2a内のインバータ25、26でデコード
するようにした。このため、実施の形態の1と同様の動
作を実現すると共に、FIFOバッファ入力制御部6a
及びFIFOバッファ出力制御部7aの構成を実施の形
態よりも簡略化することができ、さらに、カウンタ9a
と各制御部6a、7aやFIFOバッファ2aとの間を
接続する配線数を減らすことができるので、配線に要す
る面積を低減できる。
施の形態を示す半導体記憶装置のブロック図、図9は図
8の半導体記憶装置のうち信号遅延装置となるFIFO
バッファ2bの構成を示すブロック図であり、図1、図
2と同様の構成には同一の符号を付してある。また、図
10は図8の半導体記憶装置のレイテンシ「3」のとき
の動作を説明するためのタイミングチャート図、図11
は図8の半導体記憶装置のレイテンシ「4」のときの動
作を説明するためのタイミングチャート図である。
シを「3」に固定していたが、本実施の形態では、CA
Sレイテンシ「3」または「4」を選択することができ
る。本実施の形態においても、メモリセルアレイ1から
出力線RWBUSにデータが出力されるまでの動作は実
施の形態の1と同様である。また、遅延回路3、リード
用同期信号生成回路4、ANDゲート5、出力バッファ
8の動作も実施の形態の1と同様である。
b、FIFOバッファ入力制御部6b及びFIFOバッ
ファ出力制御部7bについて説明する。FIFOバッフ
ァ2bは、CASレイテンシの最高値(本実施の形態で
は、4)−1個のレジスタ2b−0,2b−1,2b−
2を有している。各レジスタ2b−0,2b−1,2b
−2は内部同期信号ICLKに同期してサイクリック
(2b−0→2b−1→2b−2→2b−0→・・・)
に使用される。
の構成は、実施の形態の1と同様であり、第1のトラン
スファゲート21−0,21−1,21−2の入力をF
IFOバッファ2bの信号入力端子に接続し、第2のト
ランスファゲート24−0,24−1,24−2の出力
をFIFOバッファ2bの信号出力端子に接続すること
で、並列に接続されている。
ファ入力制御信号DSEL2が新たに追加されているの
で、このFIFOバッファ入力制御信号DSEL2をレ
ジスタ2b−2内の第1のトランスファゲート21−2
の制御入力に与える。また、FIFOバッファ出力制御
信号OSEL2が新たに追加されているので、このFI
FOバッファ出力制御信号OSEL2をレジスタ2b−
2内の第2のトランスファゲート24−2の制御入力に
与える。
号OCNTCKに同期してこの信号を計数する。カウン
タ9bのカウント数はFIFOバッファ数2aのレジス
タ数と同じ数をサイクリックにカウントする。本実施の
形態では、レジスタ数は「3」であるので、カウント値
は0→1→2→0→・・・のようになる。また、カウン
タ9bは、カウント値をデコードしてFIFOバッファ
2bのレジスタ数分(本実施の形態では「3」)のカウ
ント信号OCNT0〜OCNT3の3本を出力する。こ
こで、複数のカウント信号OCNT0〜OCNT2のう
ちの1つだけが「H」レベルで、他は「L」レベルにな
る。次に、FIFOバッファ入力制御部6bは、カウン
タ9bから出力されるカウント信号OCNT2,OCN
T1,OCNT0をそれぞれ一定時間遅延する遅延回路
61b−0,61b−1,61b−2と、入力(ソース
又はドレインの一方)が遅延回路61b−0,61b−
1,61b−2に接続され、制御入力(ゲート)にレイ
テンシ3イネーブル信号MDCLT3が与えられたNc
hトランジスタからなるトランスファゲート64b−
0,64b−1,64b−2と、入力(ソース又はドレ
インの一方)が遅延回路61b−1,61b−0,61
b−2に接続され出力(ソース又はドレインの他方)が
トランスファゲート64b−0,64b−1,64b−
2の出力と接続され、制御入力(ゲート)にレイテンシ
4イネーブル信号MDCLT4が与えられたNchトラ
ンジスタからなるトランスファゲート65b−0,65
b−1,65b−2と、トランスファゲート64b−0
または65b−0の出力である入力制御用カウント信号
DCNT0をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラ
ッチし、この結果をFIFOバッファ入力制御信号DS
EL0として出力するラッチ回路62b−0と、トラン
スファゲート64b−1または65b−1の出力である
入力制御用カウント信号DCNT1をリード用同期信号
YRDの立ち上がりでラッチし、この結果をFIFOバ
ッファ入力制御信号DSEL1として出力するラッチ回
路62b−1と、トランスファゲート64b−2または
65b−2の出力である入力制御用カウント信号DCN
T2をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラッチ
し、この結果をFIFOバッファ入力制御信号DSEL
2として出力するラッチ回路62b−2とから構成され
ている。
64b−1,64b−2,65b−0,65b−1,6
5b−2がレイテンシ「3」とレイテンシ「4」の切替
回路10を構成している。この切替信号MDCTL3、
MDCTL4はCPUなど外部の制御装置からコマンド
信号として入力される。
ント信号OCNT0とリードイネーブル信号READE
Nとの論理積をとり、この論理積の結果をFIFOバッ
ファ出力制御信号OSEL0として出力するANDゲー
ト72b−0と、カウント信号OCNT1とリードイネ
ーブル信号READENとの論理積をとり、この論理積
の結果をFIFOバッファ出力制御信号OSEL1とし
て出力するANDゲート72b−1と、カウント信号O
CNT2とリードイネーブル信号READENとの論理
積をとり、この論理積の結果をFIFOバッファ出力制
御信号OSEL2として出力するANDゲート72b−
2とから構成されている。
ッファ入力制御部6b及びFIFOバッファ出力制御部
7bのCASレイテンシ「3」の場合の動作を図10を
用いて説明する。
とき、カウント信号OCNT0を「H」レベル、OCN
T1を「L」レベル、OCNT2を「L」レベルとし、
カウント値「1」をとるとき、カウント信号OCNT0
を「L」レベル、OCNT1を「H」レベル、OCNT
2を「L」レベルとし、カウント値「2」をとるとき、
カウント信号OCNT0を「L」レベル、OCNT1を
「L」レベル、OCNT2を「H」レベルとする。
CNT0,OCNT1,OCNT2をまとめてOCNT
iとし、「H」レベルであるものだけを表すようにして
いる(例えば、i=0であれば、カウント値「0」、す
なわちカウント信号OCNT0が「H」レベルであるこ
とを示している)。
回路61b−0は、カウンタ9bから出力されるカウン
ト信号OCNT2を一定時間遅延し、遅延回路61b−
1は、カウント信号OCNT1を一定時間遅延し、遅延
回路61b−2は、カウント信号OCNT0を一定時間
遅延する。
1,64b−2は、CASレイテンシ「3」の動作時に
活性化レベル(本実施の形態では、「H」レベル)とな
るレイテンシ3イネーブル信号MDCLT3に従って、
このレイテンシ3イネーブル信号MDCLT3が活性化
レベルのときオンとなり、レイテンシ3イネーブル信号
MDCLT3が不活性化レベルのときオフとなる。
1,65b−2は、CASレイテンシ「4」の動作時に
活性化レベル(本実施の形態では、「H」レベル)とな
るレイテンシ4イネーブル信号MDCLT4に従って、
レイテンシ4イネーブル信号MDCLT4が活性化レベ
ルのときオンとなり、レイテンシ4イネーブル信号MD
CLT4が不活性化レベルのときオフとなる。
であり、レイテンシ3イネーブル信号MDCLT3が活
性化レベルで、レイテンシ4イネーブル信号MDCLT
4が不活性化レベルなので、トランスファゲート64b
−0,64b−1,64b−2はオン状態、トランスフ
ァゲート65b−0,65b−1,65b−2はオフ状
態となる。
入力制御用カウント信号DCNT0となり、遅延回路6
1b−1の出力が入力制御用カウント信号DCNT2と
なり、遅延回路61b−2の出力が入力制御用カウント
信号DCNT1となる。
ント信号DCNT0,DCNT1,DCNT2をまとめ
てDCNTiとし、「H」レベルであるものだけを表す
ようにしている(例えば、i=0であれば、カウント値
「0」、すなわち入力制御用カウント信号DCNT0が
「H」レベルであることを示している)。
ート64b−0から出力された入力制御用カウント信号
DCNT0をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラ
ッチし、これをFIFOバッファ入力制御信号DSEL
0として出力する(図10(h))。
ート64b−1から出力された入力制御用カウント信号
DCNT1をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラ
ッチし、これをFIFOバッファ入力制御信号DSEL
1として出力する(図10(i))。
ート64b−2から出力された入力制御用カウント信号
DCNT2をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラ
ッチし、これをFIFOバッファ入力制御信号DSEL
2として出力する(図10(j))。
bは、リードイネーブル信号READENが活性化レベ
ルであるとき、リード用同期信号YRDの立ち上がりエ
ッジに同期してDSEL0→DSEL1→DSEL2→
DSEL0→・・・の順に「H」レベルを出力する。
は、カウンタ9bのカウント値が「0」をとるとき、F
IFOバッファ入力制御信号DSEL0を「H」レベ
ル、DSEL1を「L」レベル、DSEL2を「L」レ
ベルとし、カウント値が「1」をとるとき、FIFOバ
ッファ入力制御信号DSEL0を「L」レベル、DSE
L1を「H」レベル、DSEL2を「L」レベルとし、
カウント値が「2」をとるとき、FIFOバッファ入力
制御信号DSEL0を「L」レベル、DSEL1を
「L」レベル、DSEL2を「H」レベルとする。
b−0内の第1のトランスファゲート21−0は、FI
FOバッファ入力制御信号DSEL0が「H」レベルの
ときオンとなり、「L」レベルのときオフとなる。レジ
スタ2b−1内の第1のトランスファゲート21−1
は、FIFOバッファ入力制御信号DSEL1が「H」
レベルのときオンとなり、「L」レベルのときオフとな
る。
ンスファゲート21−2は、FIFOバッファ入力制御
信号DSEL2が「H」レベルのときオンとなり、
「L」レベルのときオフとなる。
制御信号DSEL0は図10(h)に示すように「L」
レベルなので、トランスファゲート21−0はオフ状態
である。したがって、図10(k)に示すように、トラ
ンスファゲート21−0の出力RBUS0は不定のまま
であり、データDATA0はレジスタ2b−1には取り
込まれない。
制御信号DSEL1は図10(i)に示すように「H」
レベルなので、トランスファゲート21−1はオン状態
となる。こうして、図10(l)に示すように、トラン
スファゲート21−1の出力RBUS1に出力線RWB
US上の先頭データDATA0が出力され、インバータ
22−1,23−1で構成されるデータ保持部に保持さ
れ、このデータDATA0がレジスタ2b−1に取り込
まれたことになる。
EL2が「L」レベルなので、トランスファゲート21
−2はオフ状態である。よって、図10(m)に示すよ
うに、トランスファゲート21−2の出力RBUS2は
不定のままであり、データDATA0はレジスタ2b−
2には取り込まれない。
入力制御信号DSEL0は「L」レベルなので、トラン
スファゲート21−0はオフ状態となる。よって、出力
線RWBUSに出力された2ビット目のデータDATA
1はレジスタ2b−0には取り込まれず、トランスファ
ゲート21−0の出力RBUS0は不定のままである。
入力制御信号DSEL1は「L」レベルなので、トラン
スファゲート21−1はオフ状態となる。したがって、
出力線RWBUSに出力された2ビット目のデータDA
TA1はレジスタ2b−1には取り込まれず、トランス
ファゲート21−1の出力RBUS1は先にラッチされ
たデータDATA0のままである。
ァ入力制御信号DSEL2が「H」レベルなので、トラ
ンスファゲート21−2はオン状態となる。こうして、
図10(m)に示すように、トランスファゲート21−
2の出力RBUS2に出力線RWBUS上のデータDA
TA1が出力され、インバータ22−2,23−2で構
成されるデータ保持部に保持され、このデータDATA
1がレジスタ2b−2に取り込まれたことになる。
ト目のデータDATA2がレジスタ2b−0に取り込ま
れ、時刻t5では、4ビット目のデータDATA3がレ
ジスタ2b−1に取り込まれる。
のANDゲート72b−0は、カウント信号OCNT0
とリードイネーブル信号READENとの論理積をと
り、この論理積の結果をFIFOバッファ出力制御信号
OSEL0として出力する。
−1は、カウント信号OCNT1とリードイネーブル信
号READENとの論理積をとり、この論理積の結果を
FIFOバッファ出力制御信号OSEL1として出力す
る。そして、制御部7b内のANDゲート72b−2
は、カウント信号OCNT2とリードイネーブル信号R
EADENとの論理積をとり、この論理積の結果をFI
FOバッファ出力制御信号OSEL2として出力する。
出力制御部7bは、リードイネーブル信号READEN
が活性化レベルであるとき、カウントアップ信号OCN
TCKの立ち上がりエッジに同期してOSEL0→OS
EL1→OSEL2→OSEL0→・・・の順に「H」
レベルの信号を出力する。
は、カウンタ9bのカウント値が「0」をとるとき、F
IFOバッファ出力制御信号OSEL0を「H」レベ
ル、OSEL1を「L」レベル、OSEL2を「L」レ
ベルとし、カウント値が「1」をとるとき、FIFOバ
ッファ出力制御信号OSEL0を「L」レベル、OSE
L1を「H」レベル、OSEL2を「L」レベルとし、
カウント値が「2」をとるとき、FIFOバッファ出力
制御信号OSEL0を「L」レベル、OSEL1を
「L」レベル、OSEL2を「H」レベルとする。
b−0内の第2のトランスファゲート24−0は、FI
FOバッファ出力制御信号OSEL0が「H」レベルの
ときオンとなり、「L」レベルのときオフとなる。レジ
スタ2b−1内の第2のトランスファゲート24−1
は、FIFOバッファ出力制御信号OSEL1が「H」
レベルのときオンとなり、「L」レベルのときオフとな
る。
ンスファゲート24−2は、FIFOバッファ出力制御
信号OSEL2が「H」レベルのときオンとなり、
「L」レベルのときオフとなる。
制御信号OSEL0は図10(n)に示すように「L」
レベルなので、トランスファゲート24−0はオフ状態
である。したがって、レジスタ2b−0に保持されてい
るデータ(不定)はバッファ出力線OUTには出力され
ない。
ァ出力制御信号OSEL1は図10(o)に示すように
「H」レベルなので、トランスファゲート24−1はオ
ン状態となる。こうして、図10(q)に示すように、
レジスタ2b−1に保持されていたデータDATA0が
バッファ出力線OUTに出力される。
ァ出力制御信号OSEL2は図10(p)に示すように
「L」レベルなので、トランスファゲート24−2はオ
フ状態である。よって、レジスタ2b−2に保持されて
いるデータDATA1はバッファ出力線OUTには出力
されない。
出力制御信号OSEL0は「L」レベルなので、トラン
スファゲート24−0はオフ状態である。したがって、
レジスタ2b−0に保持されているデータDATA2は
バッファ出力線OUTには出力されない。
SEL1も「L」レベルなので、トランスファゲート2
4−1はオフ状態である。よって、レジスタ2b−1に
保持されているデータDATA1はバッファ出力線OU
Tには出力されない。
ァ出力制御信号OSEL2が「H」レベルなので、トラ
ンスファゲート24−2はオン状態となる。こうして、
図10(q)に示すように、レジスタ2b−2に保持さ
れていたデータDATA1がバッファ出力線OUTに出
力される。
タ2b−0に保持されていたデータDATA2がバッフ
ァ出力線OUTに出力される。こうして、実施の形態の
1と同様の動作を実現することができる。
ッファ入力制御部6b及びFIFOバッファ出力制御部
7bのCASレイテンシ「4」の場合の動作を図11を
用いて説明する。図11(f)では、図10(f)と同
様にカウント信号OCNT0,OCNT1,OCNT2
をまとめてOCNTiとして記載している。
であり、レイテンシ3イネーブル信号MDCLT3が不
活性化レベルで、レイテンシ4イネーブル信号MDCL
T4が活性化レベルなので、トランスファゲート64b
−0,64b−1,64b−2はオフ状態、トランスフ
ァゲート65b−0,65b−1,65b−2はオン状
態となる。
入力制御用カウント信号DCNT1となり、遅延回路6
1b−1の出力が入力制御用カウント信号DCNT0と
なり、遅延回路61b−2の出力が入力制御用カウント
信号DCNT2となる。
入力制御用カウント信号DCNT0,DCNT1,DC
NT2をまとめてDCNTiとして記載している。ラッ
チ回路62b−0は、トランスファゲート65b−0か
ら出力された入力制御用カウント信号DCNT0をリー
ド用同期信号YRDの立ち上がりでラッチし、これをF
IFOバッファ入力制御信号DSEL0として出力する
(図11(h))。
ート65b−1から出力された入力制御用カウント信号
DCNT1をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラ
ッチし、これをFIFOバッファ入力制御信号DSEL
1として出力する(図11(i))。
ート65b−2から出力された入力制御用カウント信号
DCNT2をリード用同期信号YRDの立ち上がりでラ
ッチし、これをFIFOバッファ入力制御信号DSEL
2として出力する(図11(j))。
bは、リードイネーブル信号READENが活性化レベ
ルであるとき、リード用同期信号YRDの立ち上がりエ
ッジに同期してDSEL0→DSEL1→DSEL2→
DSEL0→・・・の順に「H」レベルを出力する。
制御信号DSEL0は図11(h)に示すように「L」
レベルなので、トランスファゲート21−0はオフ状態
となる。したがって、図11(k)に示すように、トラ
ンスファゲート21−0の出力RBUS0は不定のまま
であり、データDATA0はレジスタ2b−0には取り
込まれない。
ァ入力制御信号DSEL1は図11(i)に示すように
「L」レベルなので、トランスファゲート21−1はオ
フ状態となる。よって、図11(l)に示すように、ト
ランスファゲート21−1の出力RBUS1は不定のま
まであり、データDATA0はレジスタ2b−1には取
り込まれない。
ァ入力制御信号DSEL2は図10(j)に示すように
「H」レベルなので、トランスファゲート21−2はオ
ン状態となる。こうして、図11(m)に示すように、
トランスファゲート21−2の出力RBUS2に出力線
RWBUS上の先頭データDATA0が出力され、イン
バータ22−2,23−2で構成されるデータ保持部に
保持され、このデータDATA0がレジスタ2b−2に
取り込まれたことになる。
入力制御信号DSEL0が「H」レベルなので、トラン
スファゲート21−0はオン状態となる。こうして、図
11(k)に示すように、トランスファゲート21−0
の出力RBUS0に2ビット目のデータDATA1が出
力され、インバータ22−0,23−0で構成されるデ
ータ保持部に保持され、このデータDATA1がレジス
タ2b−0に取り込まれたことになる。
EL1は「L」レベルなので、トランスファゲート21
−1はオフ状態である。したがって、出力線RWBUS
に出力された2ビット目のデータDATA1はレジスタ
2b−1には取り込まれず、トランスファゲート21−
1の出力RBUS1は不定のままである。
ァ入力制御信号DSEL2は「L」レベルなので、トラ
ンスファゲート21−2はオフ状態である。よって、出
力線RWBUSに出力された2ビット目のデータDAT
A1はレジスタ2b−2には取り込まれず、トランスフ
ァゲート21−2の出力RBUS2は先にラッチされた
データDATA0のままである。
ト目のデータDATA2がレジスタ2b−1に取り込ま
れ、時刻t5では、4ビット目のデータDATA3がレ
ジスタ2b−2に取り込まれる。
出力制御信号OSEL0は図11(n)に示すように
「L」レベルなので、トランスファゲート24−0はオ
フ状態である。したがって、レジスタ2b−0に保持さ
れているデータDATA1はバッファ出力線OUTには
出力されない。
出力制御信号OSEL1は図11(o)に示すように
「H」レベルなので、トランスファゲート24−1はオ
ン状態となる。こうして、図11(q)に示すように、
バッファ出力線OUTにレジスタ2b−1に保持されて
いるデータが出力されるが、このときのデータは無効な
データ(不定)である。
出力制御信号OSEL2は図11(p)に示すように
「L」レベルなので、トランスファゲート24−2はオ
フ状態である。よって、レジスタ2b−2に保持されて
いるデータDATA0はバッファ出力線OUTには出力
されない。
出力制御信号OSEL0は「L」レベルなので、トラン
スファゲート24−0はオフ状態である。したがって、
レジスタ2b−0に保持されているデータDATA1は
バッファ出力線OUTには出力されない。
SEL1も「L」レベルなので、トランスファゲート2
4−1はオフ状態である。よって、レジスタ2b−1に
保持されているデータDATA2はバッファ出力線OU
Tには出力されない。
ァ出力制御信号OSEL2が「H」レベルなので、トラ
ンスファゲート24−2はオン状態となる。こうして、
図11(q)に示すように、レジスタ2b−2に保持さ
れていたデータDATA0がバッファ出力線OUTに出
力される。
タ2b−0に保持されていたデータDATA1がバッフ
ァ出力線OUTに出力される。こうして、CASレイテ
ンシ「4」の動作を実現することができる。
制御信号DSELとFIFOバッファ出力制御信号OS
ELの関係が実施の形態の1と異なる。この関係を図1
2に示す。図12(b)〜図12(d)は、CASレイ
テンシ「3」の場合を示し、図12(e)〜図12
(g)は、CASレイテンシ「4」の場合を示す。な
お、図12では、FIFOバッファ入力制御信号DSE
LとFIFOバッファ出力制御信号OSELを上述した
カウント値「0」,「1」又は「2」で表記している。
2(b)、図12(c)のようなFIFOバッファ入力
制御信号DSELとFIFOバッファ出力制御信号OS
ELの関係を保つために、レイテンシ「3」のとき、遅
延回路61b−0で一定時間遅延したカウント信号OC
NT2をトランスファゲート64b−0を介してラッチ
回路62b−0に与えてFIFOバッファ入力制御信号
DSEL0を生成し、遅延回路61b−1で一定時間遅
延したカウント信号OCNT1をトランスファゲート6
4b−1を介してラッチ回路62b−1に与えてFIF
Oバッファ入力制御信号DSEL1を生成し、遅延回路
61b−2で一定時間遅延したカウント信号OCNT0
をトランスファゲート64b−2を介してラッチ回路6
2b−2に与えてFIFOバッファ入力制御信号DSE
L2を生成している。このように、FIFOバッファ入
力制御用信号DSELとFIFOバッファ出力制御用信
号OSELとは1クロック分遅延している。このため、
MDCTL3を活性化レベルにしたときの緩衝回路は入
力信号を1クロック分遅延して出力する遅延装置として
機能させることができる。
る、図12(e)、図12(f)のようなFIFOバッ
ファ入力制御信号DSELとFIFOバッファ出力制御
信号OSELの関係を保つために、レイテンシ「4」の
とき、遅延回路61b−0で一定時間遅延したカウント
信号OCNT2をトランスファゲート65b−1を介し
てラッチ回路62b−1に与えてFIFOバッファ入力
制御信号DSEL1を生成し、遅延回路61b−1で一
定時間遅延したカウント信号OCNT1をトランスファ
ゲート65b−0を介してラッチ回路62b−0に与え
てFIFOバッファ入力制御信号DSEL0を生成し、
遅延回路61b−2で一定時間遅延したカウント信号O
CNT0をトランスファゲート65b−2を介してラッ
チ回路62b−2に与えてFIFOバッファ入力制御信
号DSEL2を生成している。このように、FIFOバ
ッファ入力制御用信号DSELとFIFOバッファ出力
制御用信号OSELとは2クロック分遅延している。こ
のため、MDCTL4を活性化レベルにしたときの緩衝
回路は入力信号を2クロック分遅延して出力する遅延装
置として機能させることができる。
ENが活性化レベルとなった後のFIFOバッファ入力
制御信号DSELとFIFOバッファ出力制御信号OS
ELは、内部同期信号ICLKの周波数、クロックサス
ペンド等に無関係に常に一定の関係に保たれ、実施の形
態の1と同様の効果が得られると共に、CASレイテン
シ「3」あるいはCASレイテンシ「4」の何れかの動
作を選択できるという効果が得られる。
0をラッチ回路62−0〜62−2と遅延回路65b−
0〜65b−2との間に設けた例を示すが、これに限定
されることはなく、カウンタ9bとFIFOバッファ2
bとの間のいずれに設けても同じ機能を実現できる。さ
らに、FIFOバッファ出力制御部7b、すなわち、A
NDゲート72b−0〜72b−2の入力とカウンタ9
bとの間、または出力とFIFOバッファ2bとの間に
設けても同じ機能を実現できる。つまり、FIFOバッ
ファ入力制御信号DSELが「H」レベルになる期間と
FIFOバッファ出力制御信号OSELが「H」レベル
になる期間とに一定の時間間隔を持たすことができれば
よい。
のラッチ回路62b−0〜62b−2は、入力制御用カ
ウント信号DCNT0〜2のいずれかとリード用同期信
号YRDとを入力とするANDゲートに置き換えても実
現できる。また、遅延回路61b−0〜62b−2およ
び3は、メモリセルアレイ1の出力をFIFOバッファ
2bのレジスタ2b−0〜2b−2でラッチするタイミ
ングを調整するたものであり、メモリセルアレイ1の出
力でタイミングが調整されていれば、必ずしも必要不可
欠のものではない。
ネルトランジスタで構成した例を示したが、Pチャネル
トランジスタをNチャネルトランジスタと並列に接続し
て、これらのゲート間にインバータを接続し、このイン
バータの入力に制御信号を入力するようにしたトランス
ファゲートでもよいし、また、Nチャネルトランジスタ
の入力信号とゲートの制御信号とを入力とするANDゲ
ートでもよい。
に、入力制御信号によりデータの入力が制御されると共
に、出力制御信号によりデータの出力が制御されるデー
タレジスタを複数並列に接続して信号遅延装置を構成す
ることにより、従来のパイプライン方式のようにレイテ
ンシが増加してもアクセスパスの段数が増加することが
なく、アクセスタイムの高速化が可能となる。
し回路、信号遅延装置、カウンタ、入力制御部及び出力
制御部を設けることにより、付加的なゲート遅延がほと
んどない高速なバーストモードを持つ半導体記憶装置を
ほとんど面積の増加なく実現することができる。
御部を複数の遅延回路、複数のラッチ回路、及び遅延回
路とラッチ回路の間に設けられた切替回路から構成する
ことにより、CASレイテンシの切り替えを行うことが
できる。
用クロック生成回路と論理積回路とを備え、出力制御部
に論理積回路を設けることにより、入力制御部及び出力
制御部が読み出し期間中だけ動作するので、スタンバイ
電流を低減することができる。
装置のブロック図である。
ァの構成を示すブロック図である。
のタイミングチャート図である。
IFOバッファ出力制御信号OSELの関係を示す図で
ある。
置のブロック図である。
ァの構成を示すブロック図である。
のタイミングチャート図である。
置のブロック図である。
ァの構成を示すブロック図である。
きの動作を説明するためのタイミングチャート図であ
る。
きの動作を説明するためのタイミングチャート図であ
る。
FIFOバッファ出力制御信号OSELの関係を示す図
である。
説明するためのタイミングチャート図である。
説明するためのタイミングチャート図である。
ファ、3…遅延回路、4…リード用同期信号生成回路、
5…ANDゲート、6、6a、6b…FIFOバッファ
入力制御部、7、7a、7b…FIFOバッファ出力制
御部、8…出力バッファ、9、9a、9b…カウンタ、
10…切替回路、2−0、2−1、2a−0、2a−
1、2b−0、2b−1、2b−2…レジスタ、61−
0,61−1、61a、61b−0、61b−1、61
b−2…遅延回路、62−0,62−1、62a、62
b−0、62b−1、62b−2…ラッチ回路、63a
…インバータ、64b−0、64b−1、64b−2、
65b−0、65b−1、65b−2…トランスファゲ
ート、71、71a、71b…カウンタ、72−0,7
2−1、72a、72b−0、72b−1、72b−2
…ANDゲート。
Claims (20)
- 【請求項1】 入力制御信号によりデータの入力が制御
されると共に、出力制御信号によりデータの出力が制御
されるデータレジスタを複数並列に接続し、 入力制御信号と出力制御信号とを同一の信号発生回路の
出力を基に生成するようにしたことを特徴とする信号遅
延装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の信号遅延装置において、 前記データレジスタは、入力が信号入力端子に接続さ
れ、制御入力に前記入力制御信号が与えられる第1のト
ランスファゲートと、 入力が第1のトランスファゲートの出力に接続された第
1のインバータと、 入力が第1のインバータの出力に接続され、出力が第1
のトランスファゲートの出力に接続された第2のインバ
ータと、 入力が第1のインバータの出力及び第2のインバータの
入力に接続され、出力が信号出力端子に接続され、制御
入力に前記出力制御信号が与えられる第2のトランスフ
ァゲートとを有することを特徴とする信号遅延装置。 - 【請求項3】 請求項1記載の信号遅延装置において、 前記データレジスタは、入力が信号入力端子に接続さ
れ、前記入力制御信号がクロック端子に接続され、前記
入力制御信号に同期して入力を保持するフリップフロッ
プ回路と、 入力が該フリップフロップ回路の出力端子に接続され、
制御入力に前記出力制御信号が与えられる第2のトラン
スファゲートとを有することを特徴とする信号遅延装
置。 - 【請求項4】 請求項1記載の信号遅延装置において、 前記信号発生回路は、クロック信号を計数するカウンタ
と、 該カウンタのカウント値をデコードするデコーダとを有
することを特徴とする信号遅延装置。 - 【請求項5】 請求項1記載の信号遅延装置において、 前記信号発生回路は、クロック信号を計数し、バイナリ
形式でカウント値を出力するカウンタで構成され、 前記バイナリ形式のカウント値につながる信号をデコー
ドして入力制御信号または出力制御信号とするようにし
たことを特徴とする信号遅延装置。 - 【請求項6】 請求項5記載の信号遅延装置において、 2つの前記データレジスタを有し、 前記デコーダは、前記入力制御信号を入力とする第3の
インバータと、 前記出力制御信号を入力とする第4のインバータとを有
し、 一方のデータレジスタには前記入力制御信号、出力制御
信号が与えられ、他方のデータレジスタには第3のイン
バータの出力が入力制御信号として与えられると共に第
4のインバータの出力が出力制御信号として与えられる
ことを特徴とする信号遅延装置。 - 【請求項7】 請求項1記載の信号遅延装置において、 同一レジスタ内の入力制御信号と出力制御信号とは活性
化する期間が所望の時間差を有することを特徴とする信
号遅延装置。 - 【請求項8】 請求項7記載の信号遅延装置において、 同一レジスタ内の入力制御信号と出力制御信号とに与え
る信号をそれぞれカウンタの異なるデコード出力と接続
することで所望の時間差を持たせたことを特徴とする信
号遅延装置。 - 【請求項9】 請求項7記載の信号遅延装置において、 所望の時間差を選択する手段を設けたことを特徴とする
信号遅延装置。 - 【請求項10】 請求項9記載の信号遅延装置におい
て、 所望の時間差を選択する手段は、同一レジスタ内の入力
制御信号と出力制御信号とに与える信号をそれぞれカウ
ンタの異なるデコード出力と接続するスイッチ網を複数
を設けておき、該スイッチ網を切り替えることで所望の
時間差を選択できるようにしたことを特徴とする信号遅
延装置。 - 【請求項11】 外部入力信号に応じて記憶データの読
み出しを行う読み出し回路と、 入力制御信号によりデータの入力が制御されると共に、
出力制御信号によりデータの出力が制御されるデータレ
ジスタが複数並列に接続された、前記読み出し回路によ
って読み出された記憶データを一時的に蓄える信号遅延
装置と、 基準クロックに基づいてクロックを計数してカウント信
号を出力するカウンタと、 カウント信号に基づいて前記入力制御信号を出力する入
力制御部と、 カウント信号に基づいて前記出力制御信号を出力する出
力制御部とを備え、 前記入力制御部と出力制御部が、同一の記憶データの処
理に関して、前記基準クロックの異なるエッジに応じて
それぞれ動作することを特徴とする半導体記憶装置。 - 【請求項12】 請求項11記載の半導体記憶装置にお
いて、 入力が前記信号遅延装置の出力に接続され、信号遅延装
置から出力された記憶データを基準クロックに同期して
外部に出力する出力バッファを備え、前記読み出し回路
と出力バッファ回路が、同一の記憶データの処理に関し
て、前記基準クロックの異なるエッジに応じてそれぞれ
動作することを特徴とする半導体記憶装置。 - 【請求項13】 請求項12記載の半導体記憶装置にお
いて、 前記読み出し回路を動作させる基準クロックのエッジと
前記出力バッファ回路を動作させる基準クロックのエッ
ジとの間の周期数のうち、最大数と同じ個数のデータレ
ジスタで前記信号遅延装置を構成することを特徴とする
半導体記憶装置。 - 【請求項14】 請求項11記載の半導体記憶装置にお
いて、 前記信号遅延装置内の各データレジスタは、入力が信号
入力端子に接続され、制御入力に前記入力制御信号が与
えられる第1のトランスファゲートと、 入力が第1のトランスファゲートの出力に接続された第
1のインバータと、 入力が第1のインバータの出力に接続され、出力が第1
のトランスファゲートの出力に接続された第2のインバ
ータと、 入力が第1のインバータの出力及び第2のインバータの
入力に接続され、出力が信号出力端子に接続され、制御
入力に前記出力制御信号が与えられる第2のトランスフ
ァゲートとを有するものであることを特徴とする半導体
記憶装置。 - 【請求項15】 請求項11記載の半導体記憶装置にお
いて、 前記カウンタから出力されるカウント値をデコードする
手段を入力制御部又は出力制御部と信号遅延装置との間
に設けたことを特徴とする半導体記憶装置。 - 【請求項16】 請求項15記載の半導体記憶装置にお
いて、 前記信号遅延装置は、2つの前記データレジスタを有
し、 前記カウント値をデコードする手段は、前記入力制御信
号を入力とする第3のインバータと、 前記出力制御信号を入力とする第4のインバータとを有
し、 一方のデータレジスタには前記入力制御信号、出力制御
信号が与えられ、他方のデータレジスタには第3のイン
バータの出力が入力制御信号として与えられると共に第
4のインバータの出力が出力制御信号として与えられる
ことを特徴とする半導体記憶装置。 - 【請求項17】 請求項11記載の半導体記憶装置にお
いて、 前記カウンタは、前記基準クロックに応じて状態変化す
る、前記信号遅延装置内のデータレジスタと同じ数の状
態を持ち、その状態を複数の前記カウント信号で表すも
のであり、 前記入力制御部は、前記カウンタから出力されるカウン
ト信号をそれぞれ遅延させる複数の遅延回路と、 各遅延回路の出力をリード用クロックに応じてラッチ
し、入力制御信号として出力する複数のラッチ回路とか
らなるものであり、 前記出力制御部は、前記カウンタから出力されるカウン
ト信号を前記出力制御信号とするものであることを特徴
とする半導体記憶装置。 - 【請求項18】 請求項11記載の半導体記憶装置にお
いて、 前記カウンタは、前記基準クロックに応じて状態変化す
る、前記信号遅延装置内のデータレジスタと同じ数の状
態を持ち、その状態を1つの前記カウント信号で表すも
のであり、 前記入力制御部は、前記カウンタから出力されるカウン
ト信号を遅延させる遅延回路と、 遅延回路の出力に接続されたインバータと、 インバータの出力をリード用クロックに応じてラッチ
し、入力制御信号として出力するラッチ回路とからなる
ものであり、 前記出力制御部は、前記カウンタから出力されるカウン
ト信号を前記出力制御信号とするものであることを特徴
とする半導体記憶装置。 - 【請求項19】 請求項11記載の半導体記憶装置にお
いて、 前記カウンタは、前記基準クロックに応じて状態変化す
る、前記信号遅延装置内のデータレジスタと同じ数の状
態を持ち、その状態を複数の前記カウント信号で表すも
のであり、 前記入力制御部は、前記カウンタから出力される出力制
御信号をそれぞれ遅延させる複数の遅延回路と、 入力信号をリード用クロックに応じてラッチし、入力制
御信号として出力する複数のラッチ回路と、 前記遅延回路とラッチ回路の間に設けられ、複数の遅延
回路の出力と複数のラッチ回路の入力の接続制御を行う
切替回路とからなるものであり、 前記出力制御部は、前記カウンタから出力されるカウン
ト信号を前記出力制御信号とするものであることを特徴
とする半導体記憶装置。 - 【請求項20】 請求項17〜19の何れかに記載の半
導体記憶装置において、 前記基準クロックに基づいて読み出し期間中出力される
前記リード用クロックを生成するリード用クロック生成
回路と、 前記基準クロックと読み出し期間中であることを示すイ
ネーブル信号との論理積をとり、この結果を基準クロッ
クとして前記カウンタに与える論理積回路とを備え、 前記出力制御部は、カウンタの出力とイネーブル信号と
の論理積をとり、この結果を出力制御信号とする論理積
回路を有し、 前記入力制御部及び出力制御部が読み出し期間中だけ動
作することを特徴とする半導体記憶装置。
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