JPH11204831A - 発光装置 - Google Patents
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- JPH11204831A JPH11204831A JP32499997A JP32499997A JPH11204831A JP H11204831 A JPH11204831 A JP H11204831A JP 32499997 A JP32499997 A JP 32499997A JP 32499997 A JP32499997 A JP 32499997A JP H11204831 A JPH11204831 A JP H11204831A
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Abstract
れと異なる半導体からなる第2のLEDチップを共に配
置させ、各LEDチップの駆動電源を共通化し、小型簡
素化、低消費電力化が可能な発光装置を提供する。 【解決手段】第1のLEDチップと第2のLEDチップ
をそれぞれ配置した発光部と、それら第1及び第2のL
EDチップを駆動制御する駆動手段とを備える発光装置
である。第1のLEDチップは基板201と活性層20
6間に基板側から順にn型不純物が1×1017/cm3
以下である第1窒化物半導体層203、n型不純物を有
しn電極が形成された第2窒化物半導体層204、n型
不純物が1×1017/cm3以下である第3窒化物半導
体層205を有し、第2窒化物半導体層のn型不純物量
が第1及び第3の窒化物半導体層の不純物量よりも多い
と共に、駆動手段が第1及び第2のLEDチップにそれ
ぞれ実質的に同一電圧で印加する発光装置である。
Description
いたLEDチップと、窒化物半導体とは異なる半導体材
料を用いたLEDチップとをそれぞれ駆動させるLED
ドットマトリックス表示器、バックライトや光センサー
などに利用される発光装置に係わり、特に、各LEDチ
ップに供給される駆動電圧を共通にし小型化や簡素化が
可能な発光装置に関する。
として色の3原色に相当するRGB(赤色、緑色、青
色)の各種発光色が1000mcd以上にも及ぶ超高輝
度に発光可能な発光ダイオードが開発された。これに伴
い、テレビジョン画像やコンピュータ表示などが表示で
きる各種フルカラーLEDディスプレイやフルカラー画
像を読みとる或いは印刷できるフルカラーセンサーやフ
ルカラー光プリンタヘッドなどに急速に普及してきてい
る。
ップの半導体材料は、その組成により紫外から赤外域ま
で発光させることができることが知られている。具体的
材料として、現在のところ、緑色及び青色を高輝度発光
するLEDチップとして発光色のバンドギャップなどと
の関係から窒化物半導体材料(InaGabAl
1-a-bN、0≦a、0≦b、a+b≦1)が実用化され
ている。他方、赤色を高輝度に発光するLEDチップの
材料としては、GaAsP、GaAlAs、AlGaI
nPが実用化されている。これら半導体材料を用いたL
EDチップをそれぞれドットマトリックス状に配置し所
望に駆動させることにより、屋内外でも使用できる高輝
度フルカラーディスプレイなどとしてLEDドットマト
リックス表示器を構成することができる。
プや結晶性などとの関係上GaAsP、GaAlAs、
AlGaInPなどの材料とは異なり駆動電圧が高い。
図3に各半導体材料を用いたLEDチップの順電圧−順
電流特性(Ta=25℃)をそれぞれ比較して示してある。
窒化物半導体材料を用いた現在実用化されているLED
チップは、図3に示す如くそれ以外のLEDチップと比
べ順電流が増加するにつれ順電圧の上昇率が高い。(な
お、図3中、bは窒化物半導体を利用した図6に示す構
造のLEDチップ、cにGaAlAsを利用した図2
(C)に示す構造のLEDチップ、dにAlGaInP
を利用した図2(D)に示す構造のLEDチップをそれ
ぞれ示してある。)図3のb、c、dから明らかなよう
に順電流が増加するに従って、窒化物半導体を利用した
LEDチップとそれ以外の材料を用いたLEDチップと
の順電圧の差が大きくなる。
以外の半導体材料を用いたLEDチップとを同時に使用
したLEDドットマトリックス表示器を高デューティレ
シオで使用する場合、高輝度を得るためLEDチップに
瞬間的に大電流を流す必要がある。そのため窒化物半導
体を用いたLEDチップと、それ以外のLEDチップと
の駆動電圧差が顕著になる。また、外光の明るさにより
LEDドットマトリックス表示器の明るさを種々変化さ
せる調光手段を持っている場合、順電流−順電圧特性の
曲線形状が窒化物半導体を用いたLEDチップと、他の
半導体材料を用いたLEDと大きく異なることにより窒
化物半導体を用いたLEDチップで消費される電力と、
それ以外の半導体材料を用いたLEDチップとの電力が
大きく異なる。そのため、LEDチップの消費電力を大
きく設定する場合においては、窒化物半導体を用いたL
EDチップの消費電力が大きくなり、LEDチップの寿
命が短くなるか、或いは同一電源に接続されたLEDチ
ップを駆動する駆動回路の消費電力が大きくなり駆動回
路の寿命を短くするかの何れかの問題がある。
のLEDドットマトリックス表示器の画素単位の部分的
回路図の如き構成とせざるを得ない。図5(A)、
(B)は、何れもセグメント側の駆動電源を各半導体材
料が異なるLEDチップごとに分けて構成してある。L
EDドットマトリックス表示器に使用されるLEDチッ
プの数は極めて多いため個々のLEDチップごとに駆動
電源を分けると回路構成が極めて複雑化する。
窒化物半導体以外のLEDチップに抵抗を追加し電圧差
分を熱として消費させることが考えられる。しかしなが
ら、LEDチップとは別途抵抗を設ける場合、余分な電
力の消費となる。また、抵抗により生じた熱により各L
EDチップの輝度の低下や波長シフトなど半導体特性の
違いにより発光特性などがさらに異なってくるという問
題を有する。さらに、電圧駆動方式では単に窒化物半導
体を用いたLEDチップと、それ以外の半導体材料を用
いたLEDチップで順電圧−順電流特性が大きく異なる
ので一定の抵抗では一定の駆動電流を維持できないとい
う問題がある。したがって、本発明は上記問題を解決し
て比較的簡単な回路構成により消費電力を増加させるこ
となくLEDチップに接続される電源を共通にすること
ができる発光装置を提供することにある。
らなる第1のLEDチップと窒化物半導体とは異なる半
導体材料からなる第2のLEDチップをそれぞれ配置し
た発光部と、発光部の第1のLEDチップ及び第2のL
EDチップを駆動制御する駆動手段とを有する発光装置
である。特に、第1のLEDチップが基板(201)と活性
層(206)との間に、基板側から順にn型不純物が1×1
017/cm3以下である第1の窒化物半導体層(203)、n
型不純物がドープされn電極が形成される第2の窒化物
半導体層(204)、n型不純物が1×1017/cm3以下で
ある第3の窒化物半導体層(205)を有し第2の窒化物半
導体層(204)のn型不純物が第1の窒化物半導体層(203)
及び第3の窒化物半導体層(205)よりも多いと共に、駆
動手段が第1のLEDチップ及び第2のLEDチップに
それぞれ実質的に同一電圧で印加する発光装置である。
1の窒化物半導体層がアンドープである。
2の窒化物半導体層のn型不純物が3×1018/cm3
以上ドープされている。
3の窒化物半導体層がアンドープである。
1のLEDチップ及び第2のLEDチップをそれぞれド
ットマトリックス状に配置してなるものである。
2のLEDチップの発光層が少なくともガリウム・ヒ素
・燐、ガリウム・アルミニウム・ヒ素、アルミニウム・
ガリウム・インジウム・燐から選択される半導体材料か
らなるものである。
窒化物半導体からなるLEDチップと窒化物半導体とは
異なる半導体材料からなるLEDチップとをそれぞれ同
時に用いる発光装置において、窒化物半導体からなるL
EDチップが特定構造をとることにより、低消費電力、
簡単な駆動回路かつ単一電源を達成することができるこ
とを見出し本発明を成すに到った。
のLEDチップ構造を基板(201)と活性層(206)との間
に、基板側から順にn型不純物が1×1017/cm3以
下である第1の窒化物半導体層(203)、n型不純物がド
ープされn電極が形成される第2の窒化物半導体層(20
4)、n型不純物が1×1017/cm3以下である第3の
窒化物半導体層(205)を有し第2の窒化物半導体層(204)
のn型不純物が第1の窒化物半導体層(203)及び第3の
窒化物半導体層(205)よりも多い少なくとも3層構造と
してある。この窒化物半導体を用いた第1のLEDチッ
プは結晶性良く低抵抗化を図ることができ、図3aの如
き、順電圧-順電流特性を示す。
LEDチップの順電圧−順電流特性(図3中c、d)と
の曲率差が順電流が大きい領域においても少ない。した
がって、窒化物半導体を用いたLEDチップと、これと
異なる半導体材料を用いたLEDチップとを比較的簡単
な回路構成にしつつ低消費電力で同一電圧により駆動さ
せることができる。
ットマトリックス表示器の斜視図を図1に示す。図1で
は、1画素としてRGBがそれぞれ発光することができ
るLEDチップをそれぞれ用いた発光ダイオード(101)
を使用してある。
トリックス状に配置させてある。基板の銅箔パターンと
発光ダイオード(101)の各リードとをそれぞれ自動半田
付け装置により半田付けした。発光ダイオード(101)が
配置された基板と駆動回路が配置された基板とをピンに
より半田付けした。駆動回路内のロジック回路から単一
電源で各発光ダイオード内に配置されたLEDチップと
コモンドライバーを介して電気的に接続させてある。ま
た、各発光ダイオードの他方の電極は駆動回路のセグメ
ントドライバーと接続させてある。
な第1のLEDチップとして、サファイア基板(201)上
にGaNのバッファ層(202)、アンドープであり第1の
窒化物半導体であるn型GaN層(203)と、n電極が形
成されn型不純物がドープされた第2の窒化物半導体で
あるn型GaN層(204)と、アンドープであり第3の窒
化物半導体であるn型GaN層(205)、アンドープであ
りInGaNの活性層(206)、p型のGa0.9Al0.1N
のクラッド層(207)、p型のGaNのコンタクト層(208)
を形成させたダブルへテロ構造としてある。なお、第1
のLEDチップは、活性層のInの組成を変えることに
より緑色と青色の発光波長を調節させてある。
Dチップとしては、ガリウム・アルミニウム・ヒ素を用
いた。具体的には、p型Ga0.35Al0.65As基板(25
2)上に発光層としてp型Ga0.65Al0.35As層(25
3)、n型Ga0.35Al0.65As層(254)を形成したダブ
ルへテロ構造としてある。
クス表示器の駆動手段(102)へ表示データを入力すると
駆動手段(102)の演算回路が各発光ダイオード(101)の点
灯時間を演算し、セグメントドライバー及びコモンドラ
イバーを駆動させることにより所望の発光色に発光させ
るべく各発光ダイオード(101)をダイナミック駆動させ
ることができる。本発明のLEDドットマトリックス表
示器は、各LEDチップの半導体が異なっていても順電
圧−順電流特性が極めて似ており駆動回路電圧等の許容
範囲内となりLEDチップごとに駆動電圧を分ける必要
がない。また、各LEDチップの駆動電圧差分を別途設
けた抵抗により消費させる必要もなく形成することがで
きる。以下、本発明の各構成について詳述する。
れる発光ダイオード(101)としては少なくとも第1のL
EDチップと第2のLEDチップの2種類のLEDチッ
プを用いる。発光ダイオードは、砲弾型やチップタイプ
LEDなど種々のものが挙げられる。
LEDチップは、発光層が窒化物半導体であり、第2の
LEDチップは少なくとも発光層が窒化物半導体とは異
なる半導体材料である。第1のLEDチップとしては紫
外域から赤色系まで発光することができる。色の3原色
の1つとして第1のLEDチップを利用する場合、高輝
度に発光することができるものとして青色及び緑色に用
いられることが望ましい。具体的には、フルカラーLE
Dディスプレイなどとして緑色が495nmから565
nm、青色の発光波長が430nmから490nmの範
囲に主発光ピークがあることが好ましい。
れる半導体材料は、GaAsP、GaAlAs、AlG
aInPが好ましい。第2のLEDチップとしては赤外
域から黄緑色まで発光することができる。色の3原色の
1つとして第2のLEDチップを利用する場合、高輝度
に発光することができるものとして赤色や橙色など赤色
系に用いられることが望ましい。具体的には、LEDデ
ィスプレイ表示器用として赤色の発光波長が610nm
から700nmの範囲に主発光ピークがあることが好ま
しい。このような第1及び第2のLEDチップは所望に
応じてそれぞれ複数設けることができる。具体的には第
1のLEDチップの駆動電圧と第2のLEDチップの駆
動電圧との差を少なくし高輝度に発光させる目的で第1
のLEDチップと第2のLEDチップの個数を2:1の
比率で利用することもできる。
EDチップである発光素子は窒化物半導体よりなり、図
2(A)の如き、活性層(206)と基板(201)との間に少な
くとも3層構造を有する窒化物半導体層を有している。
まず第1の窒化物半導体層(203)はn型不純物を含む第
2の窒化物半導体層(204)を結晶性よく成長させるため
にn型不純物の濃度を1×1017/cm3以下、好まし
くは5×1016/cm3以下、より好ましくはアンドー
プとしている。下地となる第1の窒化物半導体層(203)
中のn型不純物濃度を小さくさせると、n型不純物濃度
の高い第2の窒化物半導体層(204)を結晶性良く成長さ
せることができる。上記不純物濃度の範囲を逸脱すると
結晶性の良い第2の窒化物半導体層を形成しにくい傾向
にある。
の濃度を第1の窒化物半導体層及び第3の窒化物半導体
層よりも多くドープする、好ましくはn型不純物濃度を
3×1018/cm3以上、より好ましくは5×1018/
cm3以上、さらに好ましくは8×1019/cm3以上に
する。これにより抵抗率が低くかつキャリア濃度が高い
n電極(211)を形成するためのn型コンタクト層として
作用する。したがって、第2の窒化物半導体層(204)の
抵抗率やキャリア濃度はn電極材料と好ましいオーミッ
ク接触を得るためにできるだけ小さくすることが望まし
く、好ましくは8×10-3Ω・cm未満、好ましいキャリ
ア濃度としては3×1018/cm3より大きいこととす
ることができる。キャリア濃度が少なければVfが低下
し難い傾向にある。n型不純物が高濃度にドープされた
窒化物半導体は一般に結晶性を良好に形成させることが
困難な傾向にあるが本発明の第2の窒化物半導体は第1
の窒化物半導体層上に形成されるので高濃度のn型不純
物を有しているにもかかわらず結晶性を良好に形成する
ことができる。
の濃度を1×1017/cm3以下、好ましくは5×10
16/cm3以下、更に好ましくはアンドープとする。こ
のようにn型不純物濃度を小さくすると、第3の窒化物
半導体層の結晶性が良好となり、この結晶性の良い第3
の窒化物半導体層上に活性層(206)、クラッド層(207)
等を成長させるとそれらの結晶性も良く形成することが
できる。上記不純物濃度の範囲を逸脱すると第3の窒化
物半導体層を結晶性良く形成しにくくなり、第3の窒化
物半導体層上に形成される活性層(206)、クラッド層
(207)等の結晶性をも低下する傾向がある。即ち、抵抗
率が小さくキャリア濃度の大きい第2の窒化物半導体層
(204)の結晶性は、n型不純物が低濃度な窒化物半導体
層などに比べて悪くなる傾向にある。第2の窒化物半導
体層(204)上にn型不純物が上記低不純物濃度であり結
晶性の比較的良い第3の窒化物半導体(205)を介在させ
ることにより、活性層(206)を成長させる前のバッファ
層として作用させることができる。
(206)と第2の窒化物半導体層(204)との間に介在させ
ることにより、n型不純物が高濃度にドープされた第2
の窒化物半導体層(204)から活性層(206)へのn型不純物
の拡散を抑制させることもできる。
プの窒化物半導体、好ましくはInGaNよりなる井戸
層を有する単一量子井戸構造、若しくは多重量子井戸構
造とすることが望ましい。n型不純物としては4族元素
が挙げられるが、好ましくはSi若しくはGe、さらに
好ましくはSiを用いることができる。(なお、本発明
でアンドープの窒化物半導体層とは、不純物を意図的に
ドープしない窒化物半導体層を示すが、例えば原料ガス
などに含まれる不純物、反応装置内のコンタミネーショ
ン、不純物をドープした他の層からの意図しない拡散に
より不純物が混入した層は含むものである。) (第1のLEDチップの基板201)窒化物半導体を形
成させる基板(201)としては、サファイアC面の他、R
面、A面を主面とするサファイア、スピネル(MgA1
2O4)のような絶縁性の透光性基板の他、SiC(6
H、4H、3Cを含む)、Si、ZnO、GaAs、G
aN等の半導体基板を用いることができる。特に、結晶
性や量産性を考慮するとサファイア基板が好ましい。
2)バッファ層(202)は基板(201)上に形成させる窒化物
半導体の結晶性を向上させるために、好適に用いられ
る。特に、バッファ層(202)を低温で形成させる低温バ
ッファ層と、それよりも高い温度で形成させるバッファ
層の多層構成とすることでよりその上に形成させる窒化
物半導体の結晶性をさらに向上させることができる。
化物半導体層(203)は、InXAlYGa1-X-YN(0≦
X、0≦Y、X+Y≦1)で構成でき、その組成は特に問う
ものではないが、好ましくはGaN、Y値が0.2以下
のAlYGa1-YNとすると結晶欠陥の少ない窒化物半導
体層が得られやすい。また膜厚は特に問うものではな
く、バッファ層(202)よりも厚膜で成長させ、通常0.
1μm以上20μm以下の膜厚で成長させることが好ま
しい。第1の窒化物半導体層(203)はn型不純物が低濃
度の層であるため、抵抗率は0.2Ω・cmよりも大きく
なる傾向にある。
化物半導体層(204)は、第1の窒化物半導体層(203)と同
様にInXAlYGa1-X-YN(0≦X、0≦Y、X+Y≦
1)で構成できる。第2の窒化物半導体層(204)は、Y値
が0.2以下のAlYGa1-YNが好ましく、特に好まし
くはGaNである。このような組成とすると結晶欠陥の
少ない窒化物半導体層が得られやすい。膜厚は特に問う
ものではないが、n電極(211)を形成する層であるので
1μm以上20μm以下の膜厚で成長させことが好まし
い。
いにバンドギャップエネルギーが異なる2種類の窒化物
半導体層が積層されてなるか、若しくは同一組成の窒化
物半導体層が積層されてなる超格子構造としても良い。
超格子層にすると第2の窒化物半導体層(204)の移動度
が大きくなって抵抗率がさらに低下することができる。
超格子構造とする場合には、超格子を構成する窒化物半
導体層の膜厚を100オングストローム以下、より好ま
しくは70オングストローム以下、最も好ましくは50
オングストローム以下とすることができる。
物半導体層にSi、Geを変調ドープしても良い。変調
ドープとは、超格子層を構成する窒化物半導体層の不純
物濃度が互いに異なるこという。この場合、一方の層は
不純物をドープしない状態、つまりアンドープでもよ
い。また、第2の窒化物半導体層を互いにバンドギャッ
プエネルギーの異なる層を積層した超格子構造として、
バンドギャップエネルギーが大きい窒化物半導体層にS
i、Geを多くドープしすることが望ましい。なお変調
ドープする場合には、不純物濃度差は1桁以上とするこ
とが望ましい。
化物半導体層(205)もInXAlYGa1-X-YN(0≦X、
0≦Y、X+Y≦1)で構成できる。その組成は特に問う
ものではないが、好ましくはX値が0.1以下のInXG
a1-XN又はY値が0.2以下のAlYGa1-YNあり、よ
り好ましくはGaNである。このような組成とすること
により結晶欠陥の少ない窒化物半導体層が得られやす
い。InGaNを成長させると、その上にAlを含む窒
化物半導体を成長させる場合に、Alを含む窒化物半導
体層にクラックが入るのを防止することができる。第3
の窒化物半導体層の膜厚は0.5μm以下が好ましく
0.2μm以下がより好ましく、0.15μm以下がさ
らに好ましい。下限は特に限定しないが10オングスト
ローム以上、より好ましくは50オングストローム以
上、更に好ましくは100オングストローム以上であ
る。第3の窒化物半導体はn型不純物が低濃度の層であ
り、抵抗率が通常1×10-1Ω・cm以上と高いため、
この層を厚膜の層で成長すると逆にVfが低下しにくい
傾向にある。なお第2の窒化物半導体層(204)を単一の
窒化物半導体で成長させる場合、第1の窒化物半導体層
(203)、第2の窒化物半導体層(204)及び第3の窒化物半
導体層(205)を同一組成の窒化物半導体により成長させ
ることが好ましい。
1のLEDチップの活性層(206)は、第1のLEDチッ
プの発光層として働くためその組成を変化させることに
より種々の発光色を得ることができる。このような活性
層(206)は発光中心となるZnなどをドープして発光さ
せることもできるし、活性層(206)を量子効果が生ずる
程度の薄膜とさせた単一量子井戸や多重量子井戸構造と
することもできる。活性層はシングルへテロ構造とする
ことができるし、発光効率を高めるために活性層を挟ん
で形成させたダブルへテロ構造とすることもできる。
の場合、発光波長λは1240/Egにおおよそ相当す
る。したがって、フルカラーディスプレイ用などに使用
する場合、Inの値を所望に調節して所望の青色や緑色
を発光する組成とすることができる。なおInXGa1-X
Nのバンドギャップエネルギー(Eg)は式Eg=1.
96・X+3.4(1−X)−X・(1−X)により算出する
ことができる。
活性層(206)上にはダブルへテロ構造とすべくp側クラ
ッド層(207)が好適に形成される。p側クラッド層(207)
はキャリア閉じ込め層として作用し、Alを含む窒化物
半導体、好ましくはAlYGa1-YN(0<Y<1)を成
長させることが望ましく、結晶性の良いp側クラッド層
を成長させるためにはY値が0.3以下のAlYGa1-Y
N層を0.5μm以下の膜厚で成長させることが望まし
い。
208)第1のLEDチップのp側コンタクト層(208)
もInXAlYGa1-X-YN(0≦X、0≦Y、X+Y≦1)
で構成することができる。組成は特に問うものではない
が、好ましくはGaNとすると結晶欠陥の少ない窒化物
半導体層が得られやすい。また、p電極(209)材料と好
ましいオーミック接触が得られやすい。窒化物半導体層
のp型層は、p型ドーパントをドープしただけではp型
化しにくいため400℃以上でアニール処理することで
p型層をより低抵抗化することができる。
の半導体ウエハーをエッチングして、p型電極(209)が
形成される窒化物半導体層(208)及びn型電極(211)が形
成される第2の窒化物半導体層(204)を形成する。エッ
チング後、p側コンタクト層のほぼ全面に透光性となる
金属薄膜や金属酸化物層をp電極(209)として形成する
ことができる。p電極(209)上にはワイヤーボンディン
グ用の電極としてpパッド電極(210)を形成することも
できる。一方エッチングにより露出させた第2の窒化物
半導体層(204)表面にはn電極(211)を形成する。こうし
て形成された窒化物半導体からなる半導体ウエハーをス
クライブやダイサーなどにより分離して第1のLEDチ
ップを形成することができる。
EDチップである発光素子は、窒化物半導体を用いた第
1のLEDチップとは異なる半導体材料を用いた発光素
子であり、少なくとも発光層がGaAsP、GaAlA
s、AlGaInPであることが好ましい。第2のLE
Dチップもシングルへテロ、ダブルへテロ構造とするこ
とができる。
リウム・ヒ素・燐系LEDが挙げられる。ガリウム・ヒ
素・燐系LEDチップの構造として図2(B)の如き、
ガリウム燐基板(232)上にn型勾配層となるn型ガリウ
ム・ヒ素・燐層(233)、n型発光層となるn型ガリウム
・ヒ素・燐層(234)、窒素が含有されたn型発光層とな
るn型ガリウム・ヒ素・燐層(235)、p型ガリウム・ヒ
素・燐部(238)により構成することができる。なお、p
型電極(237)は拡散マスク(236)を介してp型ガリウム・
ヒ素・燐部(238)に接続されている。また、ガリウム燐
基板(232)の裏面にn電極(231)が形成されている。
的には、ガリウム・アルミニウム・ヒ素系LEDが挙げ
られる。ガリウム・アルミニウム・ヒ素系LEDチップ
の構造として図2(C)の如き、p型ガリウム・アルミ
ニウム・ヒ素基板(252)上にp型ガリウム・アルミニウ
ム・ヒ素層(253)、n型ガリウム・アルミニウム・ヒ素
層(254)を形成させてある。なお、p型基板(252)及びn
型ガリウム・アルミニウム・ヒ素層(254)との間に発光
層がダブルへテロ構造となるp型ガリウム・アルミニウ
ム・ヒ素の組成とすることで高輝度に発光させることが
できる。また、ガリウム・アルミニウム・ヒ素基板(25
2)の裏面にp電極(251)、n型ガリウム・アルミニウム
・ヒ素(254)の表面にn電極(255)が形成されている。
具体的にはアルミニウム・ガリウム・インジウム・燐系
LEDが挙げられる。アルミニウム・ガリウム・インジ
ウム・燐系LEDチップの構造として図2(D)の如
き、n型ガリウム・ヒ素基板(272)上に、バッファ層(27
3)、クラッド層として働くn型アルミニウム・ガリウム
・インジウム・燐層(274)、活性層として働くアルミニ
ウム・ガリウム・インジウム・燐層(275)、p型のクラ
ッド層として働くアルミニウム・ガリウム・インジウム
・燐層(276)、p型のコンタクト層として働くインジウ
ム・ガリウム・燐層(277)を形成させてある。また、ガ
リウム・ヒ素基板(271)の裏面にn電極(271)、インジウ
ム・ガリウム・燐層(277)の表面にp電極(278)が形成さ
れている。
は、第1のLEDチップ、第2のLEDチップをそれぞ
れ、或いは第1及び第2のLEDチップを同時に用いて
砲弾型などの発光ダイオードを形成させるために好適に
用いられるものである。マウント・リードのカップは各
LEDチップが配置させ、ダイボンド機器などで積載す
るのに十分な大きさがあれば良い。第1及び第2のLE
Dチップを複数設置した場合、マウント・リードをLE
Dチップの共通電極として利用することができる。その
ため、十分な電気伝導性とボンディングワイヤーやAg
ペースト等との接続性がよいことが好ましい。
どの透光性絶縁基板の場合、マウント・リードのカップ
との接着は熱硬化性樹脂などによって好適に行うことが
できる。具体的には、エポキシ樹脂、アクリル樹脂やイ
ミド樹脂などが挙げられる。また、フリップチップ型と
した第1のLEDチップ、基板が導電性のGaN単結晶
基板やSiC基板などを用いた第1のLEDチップや基
板が導電性の第2のLEDチップなどによりマウント・
リードと接着させると共に電気的に接続させるためには
Agペースト、カーボンペースト、金属バンプ等を用い
ることができる。
ては300μΩ・cm以下が好ましく、より好ましく
は、3μΩ・cm以下である。また、マウント・リード
上に第1のLEDチップ及び第2のLEDチップを複数
配置する場合には、LEDチップからマウント・リード
に放熱される熱量が多くなるため熱伝導度がよいことが
求められる。具体的には0.01cal/(s)(cm
2)(℃/cm)以上が好ましく、より好ましくは 0.
5cal/(s)(cm2)(℃/cm)以上である。
これらの条件を満たす材料としては、鉄、銅、鉄入り
銅、錫入り銅、メタライズパターン付きセラミック等が
挙げられる。
は、マウント・リード上に配置されたLEDチップと導
電性ワイヤー等を介して電気的に接続をはかるために用
いられる。インナー・リードは、導電性ワイヤーである
ボンディングワイヤー等との接続性及び電気伝導性が良
いことが好ましい。具体的な電気抵抗としては、300
μΩ・cm以下が好ましく、より好ましくは3μΩ・c
m以下である。これらの条件を満たす材料としては、
鉄、銅、鉄入り銅、錫入り銅及び銅、金、銀をメッキし
たアルミニウム、鉄、銅等が挙げられる。
チップに供給される電圧差を小さくさせる抵抗を追加さ
せることなく第1及び第2のLEDチップ共に同一電源
に接続することができる。したがって、第1のLEDチ
ップと、第2のLEDチップとをコモン極性とさせたマ
ウント・リードに共に配置させた場合、特にLEDディ
スプレイ表示器の回路構成を簡略化することができる。
イオードの使用用途に応じてLEDチップ、導電性ワイ
ヤーなどを外部から保護するために設けることができ
る。モールド部材は、一般には樹脂を用いて形成させる
ことができる。また、モールド部材に拡散剤を含有させ
ることによってLEDチップからの指向性を緩和させ視
野角をさらに増やすことができる。第1及び第2のLE
Dチップを共に配置させている場合、混色性をも改善す
ることができる。更にまた、モールド部材を所望の形状
にすることによってLEDチップからの発光を集束させ
たり拡散させたりするレンズ効果を持たせることができ
る。したがって、モールド部材は複数積層した構造でも
よい。具体的には、凸レンズ形状、凹レンズ形状さらに
は、発光観測面から見て矩形、円形、楕円形状やそれら
を複数組み合わせたものである。モールド部材の具体的
材料としては、主としてエポキシ樹脂、ユリア樹脂、シ
リコーンなどの耐候性に優れた透明樹脂や硝子などが好
適に用いられる。また、拡散剤としては、チタン酸バリ
ウム、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化珪素等が好
適に用いられる。
1及び第2のLEDチップの電極とリードなどとを電気
的に接続させるために好適に用いられる。そのため導電
性ワイヤーと接続される第1及び第2のLEDチップの
電極のオーミック性、機械的接続性、電気伝導性及び熱
伝導性がよいものが求められる。熱伝導度としては0.
01cal/(s)(cm2)(℃/cm)以上が好ま
しく、より好ましくは0.5cal/(s)(cm2)
(℃/cm)以上である。また、作業性などを考慮して
導電性ワイヤーの直径は、好ましくは、Φ10μm以
上、Φ45μm以下である。このような導電性ワイヤー
として具体的には、金、銅、白金、アルミニウム等の金
属及びそれらの合金を用いた導電性ワイヤーが挙げられ
る。このような導電性ワイヤーは、各LEDチップの電
極と、インナー・リード及びマウント・リードなどとを
ワイヤーボンディング機器によって容易に接続させるこ
とができる。
灯回路などを有し発光ダイオード(101)をドットマトリ
ックス状などに配置したものと電気的に接続させること
ができる。駆動回路としては、入力される表示データを
一時的に記憶させるRAM(Random Access Memory)
と、RAMに記憶されるデータから発光ダイオード(10
1)を所定の明るさに点灯させるための階調信号を演算す
る階調制御回路と、階調制御回路の出力信号でスイッチ
ングされて、発光ダイオード(101)を点灯させるドライ
バーとにより構成することができる。また、駆動手段に
は、光センサーにより外光の光度を測定し外光が暗くな
るに従って、LEDドットマトリックス表示器の光度を
調節する調光手段を設けることもできる。
用いて比較的簡単に形成させることができる。階調制御
回路は、RAMなどに記憶されるデータから発光ダイオ
ード(101)の点灯時間を演算してパルス信号を出力す
る。階調制御回路から出力されるパルス信号である階調
信号は、発光ダイオード(101)のドライバーに入力され
てドライバーをスイッチングさせる。ドライバーがオン
になると発光ダイオード(101)が点灯され、オフになる
と消灯することができる。各発光ダイオード(101)の点
灯時間を制御することにより所望の映像データなどを表
示することができる。
は、各LEDチップに供給される電源を図4(A)や図
4(A)のLEDチップ部のみ変え示す図4(B)の如
き極めて簡単な構成で形成することができる。すなわ
ち、本発明に用いられるLEDチップの半導体材料が窒
化物半導体と、それ以外の半導体材料の順電圧−順電流
特性が極めて近似しているため駆動電源をそれぞれのL
EDチップごとに分離して構成する必要がない。特に、
フルカラーLEDドットマトリックス表示器の場合は、
画像を構成するために15万個以上にも及ぶ絵素を用い
る場合があり駆動回路の簡素化は小型化のみならず回路
構成の自由度を増やす意味でも極めて効果が大きい。
板上にマトリックス状など所望の形状に配置した発光ダ
イオード(101)や駆動手段(102)が配置された基板などを
外部から機械的に保護する物であって、所望の大きさに
形成させることができる。きょう体(103)の材料として
は成形のしやすさなどからポリカーボネート樹脂、AB
S樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂等が好ましい。
また、きょう体の内部表面を凹凸加工させて接着面積を
増やしたり、プラズマ処理して充填材との密着性を向上
させても良い。
ドットマトリックス状などに固定配置するために好適に
利用することができる。発光ダイオード(101)を配置す
る基板は、各発光ダイオード(101)をドットマトリック
ス状に配置し電気的に接続するためだけでなく、駆動手
段(102)が配置された基板と兼用しても良い。基板は、
機械的強度が高く熱変形の少ないものが好ましい。具体
的にはセラミックス、ガラス、アルミニウム合金等を用
いたプリント基板が好適に利用できる。発光ダイオード
が実装される基板表面はLEDドットマトリックス表示
器の表示面と一致するためコントラスト向上のために着
色してあることが好ましい。また、充填材(104)との密
着性向上のために凹凸加工させても良い。
外にLEDドットマトリックス表示器を配置する場合に
好適に用いられる。充填剤はきょう体(101)内部に水分
やゴミなどが入り込むことを防止するために好適に利用
される。したがって、きょう体(103)は発光ダイオード
(101)、きょう体(103)、発光ダイオードが配置された基
板及びルーバーなどとの密着性がよいことが求められ
る。また、内部回路を保護するために機械的強度及び耐
候性が要求される。このような充填材(104)として具体
的には、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、シリコン樹脂な
どが挙げられる。また、コントラスト比向上のためにこ
れらの樹脂中に黒色など暗色系の着色染料や着色顔料を
含有させても良い。さらに、熱伝導を向上させる目的で
熱伝導部材を含有させても良い。熱伝導部材としては発
光ダイオード間にも配されることから電気電導しないこ
とが求められる。具体的には酸化銅、酸化銀が挙げられ
る。
光素子となる第1及び第2のLEDチップが共に用いら
れるものであり、所望に応じてドットマトリックス状、
ライン状や千鳥足状など種々に配置することができる。
このような配置は基板上に発光ダイオードを半田付けす
ることなどにより比較的簡単に設置することができる。
以下、本発明の実施例について説明するが、本発明は具
体的実施例のみに限定されるものではないことは言うま
でもない。
が発光可能な窒化インジウム・ガリウムと、緑色が発光
可能な窒化インジウム・ガリウムとを用いて形成させ
た。第2のLEDチップとして赤色が発光可能なアルミ
ニウム・ガリウム・インジウム・燐を用いて形成させて
ある。第1のLEDチップの発光層のインジウムの組成
を変えることによりそれぞれ青色と緑色を発光するLE
Dチップとして形成させてある。以下、本発明の第1の
LEDチップの製造方法について述べる。
器内にセットし、容器内を水素で十分置換した後、水素
を流しながら、基板の温度を1050℃まで上昇させ、
基板のクリーニングを行う。
アガスに水素、原料ガスにアンモニアとTMG(トリメ
チルガリウム)とを用い、基板上にGaNよりなるバッ
ファ層を約200オングストロームの膜厚で成長させ
る。
度を1050℃まで上昇させる。1050℃になった
ら、原料ガスにTMG、アンモニアガスを用い、アンド
ープGaNよりなる第1の窒化物半導体層を1.5μm
の膜厚で成長させる。
アンモニアガス、不純物ガスにシリコン含有ガスとして
SiH4を用い、Siを6×1018/cm3ドープしたG
aNよりなる第2の窒化物半導体層を3μmの膜厚で成
長させる。
同様にしてアンドープGaNよりなる第3の窒化物半導
体層を0.15μmの膜厚で成長させる。こうして、本
発明に用いられる第1のLEDチップの基板から活性層
までの半導体を形成させた。
スを窒素に切り替え、TMG、TMI(トリメチルイン
ジウム)、アンモニアを用いアンドープInGaN層を
30オングストロームの膜厚で成長させて単一量子井戸
構造を有する活性層を成長させる。なお、青色が発光可
能なものとしてIn0.4Ga0.6N層を用い、緑色が発光
可能なものとしてIn0.6Ga0.4N層を用いた以外は同
様に形成させてある。
TMA、アンモニア、Cp2Mg(シクロペンタジエニ
ルマグネシウム)を用い、Mgを1×1020/cm3ドー
プしたp型Al0.1Ga0.9Nよりなるp側クラッド層を
0.1μmの膜厚で成長させる。
ア、Cp2Mgを用い、Mgを1×1020/cm3ドープし
たp型GaNよりなるp側コンタクト層を0.1μmの
膜厚で成長させる。反応終了後、温度を室温まで下げ、
さらに窒素雰囲気中、半導体ウエハーを反応容器内にお
いて、700℃でアニーリングを行い、p型層をさらに
低抵抗化する。
器から取り出し、最上層のp側コンタクト層の表面に所
定の形状のマスクを形成し、RIE(反応性イオンエッ
チング)装置でp側コンタクト層側からエッチングを行
い、図2(A)に示すように第2の窒化物半導体層の表
面を露出させる。エッチング後、最上層にあるp側コン
タクト層のほぼ全面に膜厚200オングストロームのN
iとAuを含む透光性のp電極と、そのp電極の上にボ
ンディング用のAuよりなるpパッド電極を0.5μm
の膜厚で形成する。一方エッチングにより露出させた第
2の窒化物半導体層表面にはWとAlを含むn電極を形
成する。半導体ウエハーをダイシングとスクライブによ
り分離して350μm角の第1のLEDチップとして形
成させた。このLEDチップはいずれもほぼ図3のaに
示す如き、順電圧−順電流特性を示す。
(D)に示すLEDチップとして4元系のアルミニウム
・ガリウム・インジウム・燐系を用いたものを利用し
た。アルミニウム・ガリウム・インジウム・燐系で赤色
が発光可能なLEDチップの構造としてn型ガリウム・
ヒ素基板上に、バッファ層、クラッド層として働くn型
アルミニウム・ガリウム・インジウム燐層、活性層とし
て働くアルミニウム・ガリウム・インジウム・燐層、p
型のクラッド層として働くアルミニウム・ガリウム・イ
ンジウム・燐層、p型のコンタクト層として働くインジ
ウム・ガリウム・燐層を形成させてある。第2のLED
チップは、基板自体が導電性を持つためLEDチップの
両面に正極及び負極となるAuからなる電極が形成され
てある。半導体ウエハーをスクライブにより分離して3
50μm角の第2のLEDチップとして形成させた。第
2のLEDチップは図3のdに示す如き、順電圧−順電
流特性を示す。
色、緑色が発光可能な第1のLEDチップに第2のLE
Dチップが挟まれる形でマウント・リード上にダイボン
ダーを用いてAg含有のエポキシ樹脂によりそれぞれダ
イボンディングさせた。青色及び緑色が発光可能な第1
のLEDチップは、表面側に正極及び負極の電極が配置
されているためLEDチップの負電極をマウント・リー
ドと直径30μmの金線によりワイヤーボンディングさ
せた。同様に、第1及び第2のLEDチップの正電極
と、それぞれに設けられたインナー・リードとを直径3
0μmの金線によりワイヤーボンディングさせた。次
に、この状態のリードフレームを金型に入れインサート
成形で砲弾型の発光ダイオードを形成する。こうして形
成された発光ダイオードを16×16個ドットマトリッ
クス状にガラスエポキシ基板上に配置させる。自動半田
付け装置により基板に導通固定させた後、不要なリード
を切り取った。他方、駆動手段として個々の赤色、緑色
及び青色のLEDチップを図4(A)の如く単一の電源
を利用したロジック回路として形成させてある。駆動回
路には、入力された表示データを演算手段によって駆動
用データとして処理するCPUが配置されている。処理
されたデータに従って、RGBの各第1及び第2のLE
Dチップをダイナミック駆動させるコモンドライバー及
びセグメントドライバーが設けられている。発光ダイオ
ードがドットマトリックス状に配置された表示部と駆動
手段とをきょう体内に配置させ充填剤となるシリコーン
樹脂により封止してLEDドットマトリックス表示器を
構成させた。
クス表示器は、各LEDチップ間の順電圧−順電流特性
差が小さいためダイナミック駆動など高デューティレシ
オで駆動させる場合においても駆動ドライバーの損傷を
防ぐため別電源とすることなく回路構成を簡略化すると
共に、より低消費電力化することがことができる。
1と同様にして青色及び緑色が発光可能なLEDチップ
を形成させた。また、第2のLEDチップとして図2
(C)に示す一般的なLEDチップとして3元系のアル
ミニウム・ガリウム・ヒ素系を用いたものを利用した。
アルミニウム・ガリウム・ヒ素系で赤色が発光可能なL
EDチップの構造としてp型ガリウム・アルミニウム・
ヒ素(p型Ga0.35Al0.65As)基板上にp型ガリウ
ム・アルミニウム・ヒ素(p型Ga0.65Al0.35As)
層、n型ガリウム・アルミニウム・ヒ素(n型Ga0.35
Al0.65As)層を形成させてある。本実施例に用いら
れる第2のLEDチップも、基板自体が導電性を持つた
めLEDチップの両面に正極及び負極となるAuからな
る電極が形成されてある。半導体ウエハーをスクライブ
により分離して350μm角の第2のLEDチップとし
て形成させた。第2のLEDチップは図3のcに示す如
き、順電圧−順電流特性を示し、25℃、20mAにお
いて駆動電圧が約1.9Vであった。
ずつ鉄入り銅であるマウント・リードの上にエポキシ樹
脂によりダイボンディングすると共にワイヤーボンディ
ングさせそれぞれの色が発光可能な平面視楕円形のモー
ルド部材により発光ダイオードを形成させた。なお、ア
ルミニウム・ガリウム・ヒ素系で赤色が発光可能なLE
Dチップは、Ag入りのエポキシ樹脂によりダイボンド
と共にマウント・リードと電気的接続をもとってある。
ドを図4(B)の如き、直列に2個用いた以外は実施例
1と同様にして第1及び第2のLEDチップが封止され
た各発光ダイオードをそれぞれロジック回路を介して同
一電圧の電源に接続させてLEDドットマトリックス表
示器を構成させた。また、駆動手段には外光の光度をシ
リコンによりなる光センサーにより測定し外光が暗くな
るに従って、RGBが接続された電圧を低くさせ発光ダ
イオードから放出される光が暗くなるように調光手段を
設けてある。発光ダイオードがドットマトリックス状に
配置された表示部と、駆動手段とをきょう体内に配置さ
せ充填剤となるシリコーン樹脂により封止してLEDド
ットマトリックス表示器を構成させた。
ドットマトリックス表示器は第2のLEDチップを直列
に2個接続させてあることにより第1のLEDチップの
順電圧−順電流特性が特に40mA以上では極めて近似
するため、消費電力がより少なく比較的簡単な回路構成
により実質的に同一電圧で駆動することができる。
の窒化物半導体形成時に不純物ガスとしてSi2H6を流
し第2の窒化物半導体形成時に流す不純物ガスとしてS
iH4の代わりにSi2H6を流す。n型不純物濃度とし
てSiを第1及び第3の窒化物半導体にそれぞれ8×1
016/cm3、第2の窒化物半導体に5×1018/cm3
ドープした以外は実施例1と同様にして発光装置を形成
させた。その結果、第1のLEDチップ自体のリーク電
流が実施例1に較べ増える傾向にあったが実施例1とほ
ぼ同様の発光装置を形成することができる。
の窒化物半導体形成時に不純物ガスとしてGeH 4を流
し第2の窒化物半導体形成時に流す不純物ガスとしてS
iH4の代わりにGeH4を流す。n型不純物濃度として
Geを第1及び第3の窒化物半導体にそれぞれ1×10
17/cm3、第2の窒化物半導体に8×1019/cm3ド
ープした以外は実施例1と同様にして発光装置を形成さ
せた。その結果、第1のLEDチップ自体のリーク電流
が実施例1及び実施例3に較べ増える傾向にあったが実
施例1とほぼ同様の発光装置を形成することができる。
なお、実施例において定電流駆動方式について詳述した
が電圧駆動方式においても本発明の効果が優れているこ
とは明らかである。
れた発光装置とすることにより比較的簡単な回路構成に
より単一電源で第1及び第2のLEDチップを駆動させ
ることができる。そのため、低消費電力且つ、比較的簡
単な回路構成とすることができる。
示器の模式的斜視図である。
の構造を示す模式的断面図であり、図2(A)は、第1
のLEDチップ、図2(B)、(C)、(D)は、第2
のLEDチップを示す。
LEDチップ及び第1のLEDチップと比較のために示
すLEDチップの電圧電流駆動特性を示す。aは本発明
の第1のLEDチップ、bはaは比較のために示す窒化
物半導体からなるLEDチップ、cはガリウム・アルミ
ニウム・ヒ素からなる第2のLEDチップ、dはアルミ
ニウム・ガリウム・インジウム・燐からなる第2のLE
Dチップの特性をそれぞれ示す。
された部分的な回路図を示し、図4(A)は、第1及び
第2のLEDチップがそれぞれ単一電源に並列接続され
た図を示し、図4(B)は、第2のLEDチップが2個
直列接続されたものと第1のLEDチップとを並列接続
された図を示してある。
明のと比較のために示すLEDチップが電源と接続され
た部分的な回路図を示す。
からなるLEDチップの構造を示す模式的断面図であ
る。
層 234・・・n型発光層となるn型ガリウム・ヒ素・燐
層 235・・・窒素が含有されたn型発光層となるn型ガ
リウム・ヒ素・燐層 236・・・拡散マスク 237・・・p型電極 238・・・p型ガリウム・ヒ素・燐部 251・・・p電極 252・・・p型ガリウム・アルミニウム・ヒ素基板 253・・・p型ガリウム・アルミニウム・ヒ素層 254・・・n型ガリウム・アルミニウム・ヒ素層 255・・・n電極 271・・・n電極 272・・・n型ガリウム・ヒ素基板 273・・・バッファ層 274・・・n型クラッド層となるアルミニウム・ガリ
ウム・インジウム・燐層 275・・・活性層となるアルミニウム・ガリウム・イ
ンジウム・燐層 276・・・p型クラッド層となるアルミニウム・ガリ
ウム・インジウム・燐層 277・・・p型コンタクト層となるインジウム・ガリ
ウム・燐層 278・・・p電極 601・・・基板 602・・・バッファ層となる窒化ガリウム層 603・・・n型コンタクト層となる窒化ガリウム層 604・・・活性層となる窒化インジウム・ガリウム層 605・・・p側クラッド層となる窒化ガリウム・アル
ミニウム層 606・・・p側コンタクト層となる窒化ガリウム層 607・・・p電極 608・・・pパッド電極 609・・・n電極
Claims (6)
- 【請求項1】窒化物半導体からなる第1のLEDチップ
と窒化物半導体とは異なる半導体材料からなる第2のL
EDチップをそれぞれ配置した発光部と、該発光部の第
1のLEDチップ及び第2のLEDチップを駆動制御す
る駆動手段とを有する発光装置であって、 前記第1のLEDチップが基板(201)と活性層(206)との
間に、基板側から順にn型不純物が1×1017/cm3
以下である第1の窒化物半導体層(203)、n型不純物が
ドープされn電極が形成される第2の窒化物半導体層(2
04)、n型不純物が1×1017/cm3以下である第3の
窒化物半導体層(205)を有し前記第2の窒化物半導体層
(204)のn型不純物が第1の窒化物半導体層(203)及び第
3の窒化物半導体層(205)よりも多いと共に、前記駆動
手段が第1のLEDチップ及び第2のLEDチップにそ
れぞれ実質的に同一電圧で印加することを特徴とする発
光装置。 - 【請求項2】前記第1の窒化物半導体層(203)がアンド
ープである請求項1記載の発光装置。 - 【請求項3】前記第2の窒化物半導体層(204)のn型不
純物が3×1018/cm3以上ドープされている請求項
1記載の発光装置。 - 【請求項4】前記第3の窒化物半導体層(205)がアンド
ープである請求項1記載の発光装置。 - 【請求項5】前記第1のLEDチップ及び第2のLED
チップをそれぞれドットマトリックス状に配置してなる
請求項1記載の発光装置。 - 【請求項6】前記第2のLEDチップの発光層が少なく
ともガリウム・ヒ素・燐、ガリウム・アルミニウム・ヒ
素、アルミニウム・ガリウム・インジウム・燐から選択
される半導体材料からなる請求項1記載の発光装置。
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1997
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