JPH11207804A - フィルム厚み制御装置及び制御方法 - Google Patents

フィルム厚み制御装置及び制御方法

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JPH11207804A
JPH11207804A JP10013582A JP1358298A JPH11207804A JP H11207804 A JPH11207804 A JP H11207804A JP 10013582 A JP10013582 A JP 10013582A JP 1358298 A JP1358298 A JP 1358298A JP H11207804 A JPH11207804 A JP H11207804A
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thickness
roll
die
outer shape
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Yoji Nakasuji
陽二 中筋
Haruhiko Maki
春彦 牧
Yuzuru Kondo
譲 近藤
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 成形されたフィルムを巻き取って得られる巻
物の巻姿(外形)を、凹凸のない最適な状態に仕上げ
る。 【構成】 リップヒータ方式のダイより連続的に押出さ
れる原料溶液に、乾燥や熱処理などの後処理を施した
後、得られたフィルムをロール状に巻き取るフィルム成
形において、フィルムの幅方向の厚みを測定する厚み計
30と、ダイ22のダイリップ近傍部に埋設された複数
のヒータの温度を個別に調整する温度制御器40と、厚
み計30の測定値からロール状に巻き取られたフィルム
の完成外形を算出する外形演算器42と、外形演算器4
2の計算結果に基づいて温度制御器40を作動させる補
正判定器44とからフィルム厚み制御装置10を構成し
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、リップヒータ方式
のダイより連続的に押出される原料溶液に乾燥や熱処理
などの後処理を施して得られるフィルムの厚み制御装置
及び制御方法に関し、より詳しくは、フィルムを巻き取
って得られる巻物の巻姿(完成外形)をも最適な状態に
仕上げるフィルム厚み制御装置及び制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】リップヒータ方式のダイより連続的に押
出される原料溶液に乾燥や熱処理などの後処理を施して
得られるフィルムの厚みが、目的とする厚みになってい
るか監視し、目的とする厚みから所定範囲を超えた偏差
の箇所がある場合には、自動的に当該箇所の厚み補正を
行う厚み制御装置(制御方法)を用いたフィルム成形が
従来より行われている。これらのフィルム成形は、図4
及び図5に示すように、ダイ22より連続的に押出され
た原料溶液36に、図示しない連続処理装置により乾燥
や熱処理等の後処理を行った後、得られたフィルム26
を図示しない巻取り機によりロール状の巻物32とする
通常の工程において、フィルム26の幅方向に対して厚
み測定を行う厚み計30を設置して、厚み計30の測定
値に基づいて温度補正装置4によりフィルム厚さ補正を
行っている。
【0003】すなわち、ダイ22のダイリップ部近傍部
には、図6及び図7に示すように、押出される原料溶液
36の幅方向にヒータ28が等間隔に埋設されており、
厚み計30が測定した厚み値の中に目的とする厚みに対
して許容範囲を超えた偏差の箇所があれば、温度補正装
置4によりその個所に対応するヒータ28の温度調節を
行う。すると、その調節されたヒータ28付近を通って
押出される原料溶液36の粘度が変化することにより、
当該箇所のフィルム厚みが補正される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この厚
み制御装置2においては、フィルム1枚の厚さのみを制
御対象としており、巻姿(フィルムを巻き取って得られ
る巻物の完成外形)についての管理は全く行われていな
い。すなわち、フィルム1枚分の厚みが例え許容範囲内
に収まっていたとしても、それを巻き取ってフィルムを
ロール状に重ねていくうちに偏差が累積され、図8に示
すように、巻姿32に顕著な凹凸ができて外観が損なわ
れてしまうという問題が生じるのである。
【0005】そこで、本発明者は、このような課題を解
決するべく、鋭意研究を重ねた結果、本発明に至ったの
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のフィルム厚み制
御装置の要旨とするところは、リップヒータ方式のダイ
より連続的に押出される原料溶液に、乾燥や熱処理など
の後処理を施した後、得られたフィルムをロール状に巻
き取るフィルム成形に用いられ、該フィルムの幅方向の
厚みを測定する厚み計と、該ダイのダイリップ近傍部に
埋設された複数のヒータの温度を個別に調整する温度制
御器と、該厚み計の測定値から該ロール状に巻き取られ
たフィルムの完成外形を算出する外形演算器と、該外形
演算器の計算結果に基づいて該温度制御器を作動させる
補正判定器とを備えたことにある。
【0007】また、本発明のフィルム厚み制御方法の要
旨とするところは、リップヒータ方式のダイより連続的
に押出される原料溶液に、乾燥や熱処理などの後処理を
施した後、得られたフィルムをロール状に巻き取るフィ
ルム成形に用いられ、該フィルムの幅方向の厚みを測定
し、その測定値から該ロール状に巻き取られたフィルム
の完成外形を算出し、その計算結果に基づいて該ダイの
ダイリップ近傍部に埋設された複数のヒータの温度を個
別に補正することにある。
【0008】例えば、図9に示すように、巻物32の巻
芯34の半径をr,フィルム26の厚さをdとすると、
1層目を巻いた時点での巻物32の半径H( 1) はH(
1)=r+d,2層目を巻いた時点での巻物32の半径
H( 2) はH( 2) =r+2d,3層目を巻いた時点で
の巻物32の半径H( 3) はH( 3) =r+3dで表わ
せ、n層目を巻いた時点での巻物32の半径H( n) は H( n) =r+nd・・・・・(数1) と表わすことができる。
【0009】また、巻物32の1層目のフィルム長さL
( 1) はL( 1) =2π( r+d/2) ,2層目のフィ
ルム長さL( 2) はL( 2) =2π( r+3d/ 2) ,
3層目のフィルム長さL( 3) はL( 3) =2π( r+
5d/ 2) と近似することができ、n層目のフィルム長
さL( n) は L( n) =2π{r+( n−1/ 2) d}・・・・・(数2) と表わすことができる。そのため、1層目からn層目ま
でのフィルム長さ合計L(SUM) は L(SUM) =nπ{( 2r+d) +( n−1) d}・・・・・(数3) と表わすことができる。
【0010】また、フィルム26の平均巻取り速度をV
とすると、巻物32の1層目の巻取り所要時間T( 1)
はT( 1) =2π( r+d/ 2) /V,2層目の巻取り
所要時間T( 2) はT( 2) =2π( r+3d/ 2) /
V,3層目の巻取り所要時間T( 3) はT( 3) =2π
( r+5d/ 2) /Vと近似することができ、n層目の
巻取り所要時間T( n) は T( n) =2π{r+( n−1/ 2) d}/V・・・・・(数4) と表わすことができる。そのため、1層目からn層目ま
での巻取り所要時間合計T(SUM) は T(SUM) =nπ{( 2r+d) +( n−1) d}/V・・・・・(数5) と表わすことができる。
【0011】このように、フィルム厚さdを測定するこ
とにより、その時点より所要回数(所要時間,所要長
さ)フィルム26を巻き取った後の巻物32の巻姿(外
形)を演算により予想することができる。そのため、出
来上がる巻物32の形状を予想しながらフィルム26の
厚み補正を行うことができ、凹凸が目立たない外観の整
った巻姿(外形)の巻物32を生産することが可能とな
る。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係るフィルム厚み
制御装置及び制御方法の実施の形態について、図面に基
づいて詳しく説明する。
【0013】図1は、リップヒータ方式のダイより連続
的に押出される原料溶液に、乾燥や熱処理などの後処理
を施した後、得られたフィルムをロール状に巻き取るフ
ィルム成形に用いられる、本発明に係るフィルム厚み制
御装置10であり、フィルム26の幅方向の厚みを測定
する厚み計30と、ダイ22のダイリップ近傍部に埋設
された複数のヒータ28の温度を個別に調整する温度制
御器40と、厚み計30の測定値からロール状に巻き取
られたフィルム26(巻物32)の完成外形を算出する
外形演算器42と、外形演算器42の計算結果に基づい
て温度制御器40を作動させる補正判定器44とを備え
ている。
【0014】厚み計30は、フィルム26の幅方向に対
する厚みを所要の幅間隔で測定するものであり、β線,
X線,紫外線を利用したもの等、任意の厚み測定装置を
用いることができる。また、温度制御器40は、図6及
び図7に示すようなダイリップ近傍部に埋設された対向
するヒータ28に対して、一対づつ個別に温度調節を行
うものであり、ヒータ温度を上げるとそのヒータ近傍部
を通過する原料溶液の粘度が下がって流量が増加するよ
うに補正され、ヒータ温度を下げるとそのヒータ近傍部
を通過する原料溶液の粘度が上がって流量が減少するよ
うに補正される。
【0015】外形演算器42は、上述した数1から数5
などを用いて、厚み計30が測定したフィルム厚み値を
基に、完成したときの巻物32の外形(巻姿)を演算に
より求める。なお、ここでいう外形(巻姿)とは、巻物
32の幅方向に対する巻物外径(巻物厚さ)の違いより
生じる巻物32の凹凸を意味し、厚み計30の各測定位
置に対応した巻物外径(巻物厚さ)を演算により求めて
いる。
【0016】また、補正判定器44は、外形演算器42
の演算結果を基に、各厚み測定箇所に対応した完成時の
巻姿(巻物の外形)の偏差を求め、この偏差が許容範囲
を超えている箇所がある場合には、温度制御器40を作
動させてその箇所に対応するヒータ28の温度を調整し
てフィルム厚さの補正を行う。
【0017】次に、このようなフィルム厚み制御装置及
び制御方法を用いてフィルム厚み制御を行う場合につい
て、その作用を説明する。
【0018】まずは従来のフィルム厚み制御装置と同様
に、厚み計30により、所要の幅間隔でフィルム26の
幅方向の厚み測定を行う。そして、現在のフィルム厚み
が最後まで一定であると仮定して、現在から完成時まで
の残り巻回数分のフィルム26を巻き取った場合の巻姿
の予想計算を外形演算器42により行う。すると、完成
時の巻物32の巻姿(外形)がわかるので、補正判定器
44により、厚みが測定された各箇所に対応する巻物厚
み(巻物32の半径)の偏差を求める。そして、偏差が
許容範囲を超えている箇所がある場合には、温度制御器
40により、その箇所に対応したヒータ28の温度を調
節し、その温度調節箇所を通過する原料溶液36の粘度
(流量)を変化させてフィルム26厚み補正が行われ
る。
【0019】このように、フィルム1枚に対する偏差で
はなく、フィルムを巻き取って出来た巻姿の偏差を基に
厚み補正を行うことにより、凹凸の目立たない外観の優
れた巻物を得ることができる。なお、巻姿32の偏差の
求め方については、巻姿32の厚み(巻姿の半径)の平
均値を算出し、この平均値に対して決められた値(割
合)以上離れている箇所を補正候補としている。
【0020】また、本発明のフィルム厚み制御装置及び
制御方法においては、リップヒータ方式のダイ22が用
いられている。そして、リップヒータ方式のダイ22
は、ヒータ温度を変えて原料溶液36の粘度を調節する
ことにより厚み補正を行っているため、ヒートボルト方
式や押引ボルト方式や圧電素子方式等のダイ22のリッ
プ部を機械的に開閉して厚み調節を行う他の方式に比べ
て、より微細な厚み調節を行うことができる。さらに、
このような構造的な違いにより、リップヒータ方式のダ
イ22は他の方式に比べて調節間隔ピッチ(ヒータ28
間隔)を小さくすることができ、フィルム26の幅方向
に対してより細かな間隔で厚み調節を行うことができ
る。これにより、フィルム26の局所的な厚み調整も精
度良く行うことができ、上述した他の方式に比べてより
精度良くフィルム26の厚み調整を行うことができる。
【0021】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明に係るフィルム厚み制御装置及び制御方法は
その他の態様でも実施し得るものである。例えば、厚み
計によるフィルム厚み測定は任意の幅間隔で行うことが
できる。ただし、厚み計の測定間隔が狭い方が完成後の
巻姿の予想外形をより正確に行うことができる。
【0022】また、完成時の巻姿の偏差は、平均値から
のずれをもとに算出する以外にも、例えば、測定値の最
大値と最小値の中央値を基準にするなど、任意の方法で
偏差を求めることができる。さらに、厚み計による厚み
測定はリアルタイムに連続して行ってもよいし、所要の
時間間隔で行ってもよい。
【0023】また、上述した実施例においては、巻物の
巻姿を厚み制御対象としているが、従来のフィルム1枚
の厚さを制御対象とする装置及び方法と組み合わせて用
いることも勿論可能である。この場合は、フィルム1枚
分の厚みと巻物の巻姿の両方に対して厚み制御が行われ
る。
【0024】また、本発明に係るフィルム厚み制御装置
及び制御方法は、任意のフィルム成形に用いることがで
きるが、好ましくは反応硬化型樹脂フィルム、特に好ま
しくは、ポリアミド酸の有機溶媒溶液を用いてイミド化
したPIフィルムの製造に適用できる。
【0025】以上、本発明に係るフィルム厚み制御装置
及び制御方法の実施例について、図面に基づいて種々説
明したが、本発明は図示したフィルム厚み制御装置及び
制御方法に限定されるものではない。例えば、図2に示
すように、フィルム26の幅方向の厚みを測定する厚み
計30と、ダイ22のダイリップ近傍部に埋設された複
数のヒータ28の温度を個別に調整する温度制御器40
と、厚み計30の測定値からロール状に巻き取られたフ
ィルム26(巻物32)の完成外形を算出し、その計算
結果に基づいて温度制御器40を作動させる演算・補正
器46とを用いてフィルム厚み制御装置12を構成する
ことや、図3に示すように、フィルム26の幅方向の厚
みを測定する厚み計30と、厚み計30の測定値からロ
ール状に巻き取られたフィルム26(巻物32)の完成
外形を算出し、その計算結果に基づいてダイ22のダイ
リップ近傍部に埋設された複数のヒータ28の温度を個
別に調節する厚み補正器48とを用いてフィルム厚み制
御装置14を構成することができる。その他、本発明は
その趣旨を逸脱しない範囲で当業者の知識に基づき種々
なる改良,修正,変形を加えた態様で実施できるもので
ある。
【0026】
【発明の効果】本発明のフィルム厚み制御装置によれ
ば、外形演算器により、厚み計の測定値を基に、完成時
の巻物の巻姿を演算で求めることができる。これによ
り、フイルム1枚に対してのみでなく、完成する巻物の
巻姿に対してもフィルム厚み制御を行うことができる。
【0027】また、本発明のフィルム厚み制御方法によ
れば、フィルム1枚に対してだけでなく、完成した巻物
の巻姿に対してもフィルム厚み制御を行うことができ
る。これにより、例えフィルム1枚分の偏差が許容範囲
内に収まっていても、偏差が累積して巻姿に顕著な凹凸
が生じることを防止することができ、凹凸の目立たない
優れた巻姿の巻物を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るフィルム厚み制御装置及び制御方
法の一実施例を示すブロック線図である。
【図2】本発明に係るフィルム厚み制御装置及び制御方
法の他の実施例を示すブロック線図である。
【図3】本発明に係るフィルム厚み制御装置及び制御方
法の更に他の実施例を示すブロック線図である。
【図4】従来のフィルム厚み制御装置及び制御方法の概
要を示す側面図である。
【図5】図4に示すフィルム厚み制御装置及び制御方法
の上面図である。
【図6】図4に示すフィルム厚み制御装置及び制御方法
の要部拡大X−X線切断断面図である。
【図7】図4に示すフィルム厚み制御装置及び制御方法
の要部拡大Y−Y線切断断面図である。
【図8】従来の巻物の斜視図である。
【図9】図8に示す巻物のフィルム積層状態を示す説明
図である。
【符号の説明】
2:従来の厚み制御装置 4:温度補正装置 10,12,14:厚み制御装置 20:液供給装置 22:ダイ 24:ロール 26:フィルム 28:ヒータ 30:厚み計 32:巻物 34:巻芯 36:原料溶液 40:温度制御器 42:外形演算器 44:補正判定器 46:演算・補正器 48:厚み補正器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リップヒータ方式のダイより連続的に押
    出される原料溶液に、乾燥や熱処理などの後処理を施し
    た後、得られたフィルムをロール状に巻き取るフィルム
    成形に用いられる、該フィルムの幅方向の厚みを測定す
    る厚み計と、該ダイのダイリップ近傍部に埋設された複
    数のヒータの温度を個別に調整する温度制御器と、該厚
    み計の測定値から該ロール状に巻き取られたフィルムの
    完成外形を算出する外形演算器と、該外形演算器の計算
    結果に基づいて該温度制御器を作動させる補正判定器と
    を備えたことを特徴とするフィルム厚み制御装置。
  2. 【請求項2】 リップヒータ方式のダイより連続的に押
    出される原料溶液に、乾燥や熱処理などの後処理を施し
    た後、得られたフィルムをロール状に巻き取るフィルム
    成形に用いられる、該フィルムの幅方向の厚みを測定
    し、その測定値から該ロール状に巻き取られたフィルム
    の完成外形を算出し、その計算結果に基づいて該ダイの
    ダイリップ近傍部に埋設された複数のヒータの温度を個
    別に調節するフィルム厚み制御方法。
JP10013582A 1998-01-27 1998-01-27 フィルム厚み制御装置及び制御方法 Pending JPH11207804A (ja)

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